JP3254947B2 - Method for preventing destruction of internal diode of MOSFET - Google Patents

Method for preventing destruction of internal diode of MOSFET

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JP3254947B2
JP3254947B2 JP00938395A JP938395A JP3254947B2 JP 3254947 B2 JP3254947 B2 JP 3254947B2 JP 00938395 A JP00938395 A JP 00938395A JP 938395 A JP938395 A JP 938395A JP 3254947 B2 JP3254947 B2 JP 3254947B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、例えば高周波インバ
ータ装置に使用され、上下アームのスイッチング素子と
してMOSFETを使用し、負荷への出力電流が出力電
圧に対して常に位相遅れで運転されるインバータ装置の
前記MOSFETの内部ダイオードの破壊防止方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used, for example, in a high-frequency inverter, and uses MOSFETs as switching elements for upper and lower arms, and the output current to a load is always operated with a phase delay with respect to the output voltage. And a method for preventing breakdown of the internal diode of the MOSFET.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4に従来のインバータ装置の回路構成
図を示す。図4において、6は直流電源、11〜14は
MOSFET、11a〜14aはMOSFET11〜1
4の内部に寄生するダイオード(以下においては、内部
タイオードと称する)、10は制御回路、7は電流検出
器、8はリアクトルとコンデンサとを直列接続した構成
の負荷、21〜24は逆流防止ダイオード、31〜34
は転流ダイオードである。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a circuit diagram of a conventional inverter device. In FIG. 4, 6 is a DC power supply, 11 to 14 are MOSFETs, and 11a to 14a are MOSFETs 11 to 1.
Reference numeral 4 denotes a parasitic diode (hereinafter referred to as an internal diode), 10 is a control circuit, 7 is a current detector, 8 is a load having a configuration in which a reactor and a capacitor are connected in series, and 21 to 24 are backflow prevention diodes. , 31-34
Is a commutation diode.

【0003】MOSFET11〜14は制御回路10か
らのゲート信号によって制御されるものであって、その
動作を図5の動作波形図を参照しつつ説明する。図5に
おいて、IO は負荷8に流れるインバータ装置の出力電
流を示し、VO は負荷8にかかるインバータ装置の出力
電圧を示している。図5において、区間51ではMOS
FET11,14がオン状態にあり、電流IO は直流電
源6→逆流防止ダイオード21→MOSFET11→電
流検出器7→負荷8→逆流防止ダイオード24→MOS
FET14→直流電源6のルートで流れ、区間52でM
OSFET11,14へのゲート信号はオフ、MOSF
ET12,13のをオンすると、電流IO は直流電源6
→転流ダイオード32→電流検出器7→負荷8→転流ダ
イオード33→直流電源6のルートで流れ(転流ダイオ
ードに流れる電流を転流電流とも言う)、転流ダイオー
ド32,33に流れていた電流IO は減衰して0にな
る。次の区間53では直流電源6→逆流防止ダイオード
23→MOSFET13→負荷8→電流検出器7→逆流
防止ダイオード22→MOSFET12→直流電源6の
ルートで流れ、区間54で、MOSFET12,13へ
のゲート信号はオフ、MOSFET11,14のをオン
すると、電流IO は直流電源6→転流ダイオード34→
負荷8→電流検出器7→転流ダイオード31→直流電源
6のルートで流れ、転流ダイオード31,34に流れて
いた電流IO は減衰して0になる。
The operation of the MOSFETs 11 to 14 is controlled by a gate signal from the control circuit 10, and the operation thereof will be described with reference to an operation waveform diagram of FIG. In FIG. 5, I O indicates an output current of the inverter device flowing through the load 8, and V O indicates an output voltage of the inverter device applied to the load 8. In FIG. 5, in section 51, MOS
The FETs 11 and 14 are in the ON state, and the current I O is supplied from the DC power supply 6 → backflow prevention diode 21 → MOSFET11 → current detector 7 → load 8 → backflow prevention diode 24 → MOS
Flow on the route from FET 14 to DC power supply 6,
Gate signals to OSFETs 11 and 14 are off, MOSF
When the ETs 12 and 13 are turned on, the current IO is applied to the DC power supply 6.
→ commutation diode 32 → current detector 7 → load 8 → commutation diode 33 → flows in the route of DC power supply 6 (current flowing through commutation diode is also called commutation current), and flows through commutation diodes 32 and 33. The current I O attenuates to zero. In the next section 53, the current flows through the route of DC power supply 6 → backflow prevention diode 23 → MOSFET 13 → load 8 → current detector 7 → backflow prevention diode 22 → MOSFET 12 → DC power supply 6. In section 54, the gate signal to MOSFETs 12 and 13 flows. When the MOSFETs 11 and 14 are turned on, the current I O is changed from the DC power supply 6 to the commutation diode 34 →
The current I O flowing through the route of the load 8 → the current detector 7 → the commutation diode 31 → the DC power supply 6, and the current I O flowing through the commutation diodes 31 and 34 attenuates to zero.

【0004】通常の動作では、上記区間51〜54繰り
返すことで負荷8に対し、区間50を周期とする交流電
力が供給され、また、制御回路10は、電流検出器7の
検出信号により負荷8への電流IO が電圧VO に対して
常に位相遅れとなるように、MOSFET11〜14へ
のゲート信号を出力している。
In a normal operation, by repeating the above sections 51 to 54, AC power having a cycle of section 50 is supplied to the load 8, and the control circuit 10 detects the load 8 based on a detection signal of the current detector 7. current I O to the way is always phase lag with respect to the voltage V O, and outputs a gate signal to the MOSFET11~14.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記のごとき構成にお
いて、例えば、負荷8を構成するリアクトルの一部また
は全部に渡って短絡し、負荷8の回路定数が急変して電
流IO の周波数が制御回路10で対応範囲をこえるほど
急激に上昇した場合に、次のような問題が発生する。
In the above configuration, for example, a short circuit occurs over a part or all of the reactor constituting the load 8, the circuit constant of the load 8 changes suddenly, and the frequency of the current IO is controlled. If the circuit 10 rises rapidly beyond the corresponding range, the following problem occurs.

【0006】電流IO の周波数が急激に上昇すると、電
流IO と電圧VO の関係は図5の区間55,56に示す
ようになり、区間55において電流IO は直流電源6→
逆流防止ダイオード21→MOSFET11→電流検出
器7→負荷8→逆流防止ダイオード24→MOSFET
14→直流電源6のルートで流れ、区間56において直
流電源6→転流ダイオード34→負荷8→電流検出器7
→転流ダイオード31→直流電源6のルートで流れる。
[0006] current I when the frequency of the O rises rapidly, the current I relationship O and the voltage V O is as shown in section 55 and 56 of FIG. 5, the current in the interval 55 I O is the DC power supply 6 →
Backflow prevention diode 21 → MOSFET 11 → Current detector 7 → Load 8 → Backflow prevention diode 24 → MOSFET
14 → flow along the route of the DC power supply 6, and in the section 56, the DC power supply 6 → commutation diode 34 → load 8 → current detector 7
→ flows through the route of the commutation diode 31 → the DC power supply 6.

【0007】しかしながら区間56ではMOSFETの
スイッチングが電流IO の周波数の急変に対応できてな
いため、制御装置10から通常のタイミング即ち転流ダ
イオードが逆回復しないタイミングで出力されるゲート
信号によりMOSFET11,14をオフ、MOSFE
T12,13をオンすると、直流電源6に対して転流ダ
イオード31→逆流防止ダイドード32→MOSFET
12の短絡回路ができ、転流ダイオード31に急峻な逆
回復電流が流れてしまい、同様に転流ダイオード34に
も急峻な逆回復電流が流れてしまい、また、オン・オフ
タイミングが逆の場合には転流ダイオード32,33に
急峻な逆回復電流が流れてしまうという問題があった。
However, in the section 56, the switching of the MOSFET cannot respond to the sudden change in the frequency of the current I O , so that the gate signal output from the control device 10 at a normal timing, that is, at a timing at which the commutation diode does not reversely recover, is used. 14 off, MOSFE
When T12 and T13 are turned on, commutation diode 31 → backflow prevention diode 32 → MOSFET for DC power supply 6
Twelve short circuits are formed, a steep reverse recovery current flows through the commutation diode 31, and a steep reverse recovery current also flows through the commutation diode 34, and the on / off timing is reversed. However, there is a problem that a steep reverse recovery current flows through the commutation diodes 32 and 33.

【0008】そこで、従来は転流ダイオード31〜34
には、急峻な逆回復電流に対して堅牢な構造の素子を用
い、またMOSFET11〜14に逆流防止ダイドード
21〜24を接続してMOSFETの内部ダイオード1
1a〜14aが上記の急峻な逆回復電流によって破壊さ
れないようにしていた。上記のごとき構成によれば、M
OSFETの内部ダイオード11a〜14aを破壊から
保護することができるものの、1つのMOSFETに対
して2つのダイオードを接続する必要があり、コスト
増,構成の大型化という問題があった。
Therefore, conventionally, commutation diodes 31 to 34 are used.
In this case, an element having a structure robust against a steep reverse recovery current is used, and reverse current prevention diodes 21 to 24 are connected to the MOSFETs 11 to 14 so that an internal diode 1 of the MOSFET is connected.
1a to 14a were prevented from being destroyed by the steep reverse recovery current. According to the above configuration, M
Although the internal diodes 11a to 14a of the OSFET can be protected from destruction, it is necessary to connect two diodes to one MOSFET, and there has been a problem that the cost is increased and the configuration is increased.

【0009】この発明は、上記従来技術の問題点に鑑み
てなされたものであって、MOSFETによってインバ
ータ装置を構成する際に、MOSFETの外部にダイド
ードを接続することなくその内部ダイオードを転流ダイ
オードとして用いても、MOSFETの内部ダイオード
が破壊されないようにするためのMOSFETの内部ダ
イオードの破壊防止方法の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and when an inverter device is constituted by a MOSFET, an internal diode is connected to the commutation diode without connecting a diode outside the MOSFET. An object of the present invention is to provide a method for preventing the internal diode of a MOSFET from being destroyed so as to prevent the internal diode of the MOSFET from being destroyed.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この第1の発明では、直流電源に、MOSFETか
らなる上下アームが接続され、この上アームと下アーム
の接続点に負荷を接続し、この負荷に前記MOSFET
のオン時間を調整して、前記負荷に対して常に電圧より
位相の遅れた交流電流を出力するフルブリッジまたはハ
ーフブリッジインバータ装置の前記MOSFETの内部
ダイオードの破壊防止方法において、前記インバータ装
置の出力電流の周波数が予め定めた周波数より高くなっ
たことを検知したときに前記MOSFETのゲート信号
を遮断する。
In order to solve the above-mentioned problems, in the first invention, an upper and lower arm composed of a MOSFET is connected to a DC power supply, and a load is connected to a connection point between the upper and lower arms. And the MOSFET is connected to this load.
A method for preventing the destruction of the internal diode of the MOSFET of the full-bridge or half-bridge inverter device, wherein the on-time of the full-bridge or half-bridge inverter device constantly outputs an alternating current having a phase delayed from the voltage to the load. The gate signal of the MOSFET is cut off when it is detected that the frequency becomes higher than a predetermined frequency.

【0011】第2の発明では、前記MOSFETの内部
ダイオードの破壊防止方法において、前記出力電流のゼ
ロクロス点を検出し、該ゼロクロス点が予め定めた時刻
より先に検出されたときに前記MOSFETのゲート信
号を遮断する。第3の発明では、前記MOSFETの内
部ダイオードの破壊防止方法において、前記インバータ
装置の動作の半周期のn倍(n=1,2,3,・・・)
毎に任意の時点でリセットされる1つまたは複数個のカ
ウンタによって前記出力電流のゼロクロス点を計測し、
カウント開始からリセットされるまでの期間に前記カウ
ンタのうち少なくとも1つの計測値がn+1回に達した
ときに前記MOSFETのゲート信号を遮断する。
According to a second aspect of the present invention, in the method for preventing destruction of an internal diode of a MOSFET, a zero-cross point of the output current is detected, and when the zero-cross point is detected earlier than a predetermined time, the gate of the MOSFET is detected. Cut off the signal. According to a third aspect, in the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET, n times (n = 1, 2, 3,...) A half cycle of the operation of the inverter device.
Measuring the zero-cross point of the output current by one or more counters reset at any time each time,
The gate signal of the MOSFET is cut off when at least one measured value of the counter reaches n + 1 times during a period from the start of counting to resetting.

【0012】第4の発明では、前記MOSFETの内部
ダイオードの破壊防止方法において、前記インバータ装
置の動作の半周期のn倍(n=1,2,3,・・・)毎
に任意の時点でリセットされ、かつリセットのタイミン
グが互いに異なる複数個のカウンタによって前記出力電
流のゼロクロス点を計測し、カウント開始からリセット
されるまでの期間に前記カウンタのうち少なくとも1つ
の計測値がn+1回に達したときに前記MOSFETの
ゲート信号を遮断する。
According to a fourth aspect of the present invention, in the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET, at an arbitrary time point every n times (n = 1, 2, 3,...) A half cycle of the operation of the inverter device. The zero cross point of the output current is measured by a plurality of counters that are reset and reset timings are different from each other, and at least one of the counters reaches n + 1 times during a period from the start of counting to the reset. Sometimes, the gate signal of the MOSFET is cut off.

【0013】第5の発明では、前記MOSFETの内部
ダイオードの破壊防止方法において、前記インバータ装
置の出力電流の絶対値の瞬時値が、該出力電流の周波数
の周期より十分長い周期で該絶対値のピーク値に比例,
追従する比較値を越えたことを検知したときに前記MO
SFETのゲート信号を遮断する。第6の発明では、前
記MOSFETの内部ダイオードの破壊防止方法におい
て、前記インバータ装置の出力電流の接線の傾きの絶対
値が該インバータ装置のスイッチング動作半周期前の同
絶対値よりも増加したことを検知したときに前記MOS
FETのゲート信号を遮断する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET, the instantaneous value of the absolute value of the output current of the inverter device is set at a period sufficiently longer than the cycle of the frequency of the output current. Proportional to the peak value,
When it is detected that the comparison value to be followed has been exceeded, the MO
Cut off the gate signal of the SFET. In a sixth aspect of the present invention, in the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET, the absolute value of the slope of the tangent of the output current of the inverter device is larger than the absolute value of the inverter device half a cycle before the switching operation. When the MOS is detected
Cut off the gate signal of the FET.

【0014】第7の発明では、前記MOSFETの内部
ダイオードの破壊防止方法において、前記インバータ装
置の出力電流の絶対値のピーク値を該出力電流の周波数
の周期より十分長い周期で保持し、この保持したピーク
値から前記絶対値を減算した値で充電し、この充電した
値の最大値を前記出力電流の周波数の周期の半分の期間
で零に放電する充放電回路の出力値に前記絶対値を加算
した値が、前記出力電流の周波数の周期より十分長い周
期で前記絶対値のピーク値に比例,追従する比較値を越
えたことを検知したときに前記MOSFETのゲート信
号を遮断する。
According to a seventh aspect of the present invention, in the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET, the peak value of the absolute value of the output current of the inverter device is held at a period sufficiently longer than the period of the frequency of the output current. The absolute value is charged to a value obtained by subtracting the absolute value from the peak value, and the maximum value of the charged value is output to a zero value during a half period of the frequency of the output current. The gate signal of the MOSFET is cut off when it is detected that the added value exceeds a comparison value proportional to and following the peak value of the absolute value in a cycle sufficiently longer than the cycle of the frequency of the output current.

【0015】[0015]

【作用】上記第1〜第4の発明によれば、通常動作では
負荷への出力電流が出力電圧に対して常に遅れた位相に
なるように制御回路からMOSFETのゲート信号をオ
ン・オフさせるのでMOSFETの内部ダイオードには
急峻な逆回復電流が流れることはなく、前記負荷を構成
するリアクトルの一部または全部が短絡される等によっ
て、前記負荷の回路定数が急変し、前記出力電流の周波
数が急激に上昇した場合には、このことを検知して速や
かに全てのMOSFETのゲート信号を遮断するので、
従来例のようにMOSFETの外部に逆流防止ダイドー
ドと転流ダイオードとを付加しなくても、急峻な逆回復
電流が流れずにインバータ装置は停止し、MOSFET
の急峻な逆回復電流による破壊が防止される。
According to the first to fourth aspects of the present invention, the gate signal of the MOSFET is turned on / off from the control circuit so that the output current to the load always has a phase delayed from the output voltage in the normal operation. The steep reverse recovery current does not flow through the internal diode of the MOSFET, and the circuit constant of the load changes abruptly, for example, when part or all of the reactor constituting the load is short-circuited, and the frequency of the output current decreases. In the case of a sharp rise, this is detected and the gate signals of all MOSFETs are immediately cut off.
Even if a reverse current prevention diode and a commutation diode are not added to the outside of the MOSFET as in the conventional example, a steep reverse recovery current does not flow and the inverter device stops and the MOSFET stops.
Is prevented from being destroyed by a steep reverse recovery current.

【0016】また、上記第5の発明によれば、前記負荷
を構成するリアクトルの一部または全部が短絡される等
によって、前記負荷の回路定数が急変し、前記出力電流
の絶対値が急激に上昇した場合には、このことを検知し
て速やかに全てのMOSFETのゲート信号を遮断する
ので、従来例のようにMOSFETの外部に逆流防止ダ
イドードと転流ダイオードとを付加しなくても、急峻な
逆回復電流が流れずにインバータ装置は停止し、MOS
FETの急峻な逆回復電流による破壊が防止される。
According to the fifth aspect of the present invention, the circuit constant of the load changes abruptly when a part or all of the reactor constituting the load is short-circuited, and the absolute value of the output current sharply changes. When the voltage rises, this is detected and the gate signals of all MOSFETs are immediately cut off. Therefore, even if a reverse current prevention diode and a commutation diode are not added to the outside of the MOSFET as in the conventional example, the temperature rises sharply. Inverter device stops without flowing reverse recovery current
Destruction of the FET due to a steep reverse recovery current is prevented.

【0017】さらに、上記第6,第7の発明によれば、
前記負荷を構成するリアクトルの一部または全部が短絡
される等によって、前記負荷の回路定数が急変し、前記
出力電流の周波数または絶対値が急激に上昇した場合に
は、このことを検知して速やかに全てのMOSFETの
ゲート信号を遮断するので、従来例のようにMOSFE
Tの外部に逆流防止ダイドードと転流ダイオードとを付
加しなくても、急峻な逆回復電流が流れずにインバータ
装置は停止し、MOSFETの急峻な逆回復電流による
破壊が防止される。
Further, according to the sixth and seventh aspects,
When a part or all of the reactor constituting the load is short-circuited, the circuit constant of the load changes suddenly, and when the frequency or the absolute value of the output current rises sharply, this is detected. Since the gate signals of all MOSFETs are immediately cut off, the MOSFE
Even without adding a backflow prevention diode and a commutation diode to the outside of T, a steep reverse recovery current does not flow and the inverter device stops, thereby preventing the MOSFET from being damaged by the steep reverse recovery current.

【0018】[0018]

【実施例】図1はこの発明の実施例を示すインバータ装
置の回路構成図であり、図2は図1の動作を示す動作波
形図である。以下において、図4と同一の機能を有する
ものには同一符号を付して説明を省略し、異なる機能の
ものを中心に説明する。ここで、図1において、9はイ
ンバータ装置を制御する制御回路であり、制御回路9
は、図2(a)に示すインバータ出力電流IO のゼロク
ロス点を示すゼロクロス点信号(図2(f))を生成す
る機能と、1つまたは複数のカウンタとを備えている。
1 is a circuit diagram of an inverter device showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an operation waveform diagram showing the operation of FIG. In the following, components having the same functions as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, description thereof will be omitted, and components having different functions will be mainly described. Here, in FIG. 1, reference numeral 9 denotes a control circuit for controlling the inverter device.
Has a function of generating a zero-cross point signal (FIG. 2 (f)) indicating a zero-cross point of the inverter output current I O shown in FIG. 2 (a), and one or more counters.

【0019】まず、この発明の第1の実施例として、前
記制御回路9が、インバータ動作の半周期毎にリセット
され互いにリセットタイミングの異なる2つのカウンタ
A,Bが備えている場合について説明する。該カウンタ
A,Bは、前記ゼロクロス点信号を図2(f),(h)
の如くカウントするのであるが、カウンタA,Bは共に
インバータ動作の半周期毎にリセットされるため、通常
はゼロクロス点信号を1つカウントして(カウント値
1)リセットされ、そのカウント値は「2」になること
はない。
First, as a first embodiment of the present invention, a case will be described in which the control circuit 9 is provided with two counters A and B which are reset every half cycle of the inverter operation and have different reset timings from each other. The counters A and B convert the zero-cross point signal into the signals shown in FIGS.
Since the counters A and B are reset every half cycle of the inverter operation, they are normally reset by counting one zero-crossing point signal (count value 1), and the count value is "1". No 2 ".

【0020】ここで、負荷8を構成するリアクトルの一
部または全部が短絡されるなどの異常が発生し、負荷8
の回路定数が急変して出力電流IO の周波数が急激に上
昇すると、異常発生直前のゼロクロス点から異常発生直
後のゼロクロス点までの時間は短くなるため、前記カウ
ンタA,Bのうち少なくとも一方のカウンタはリセット
タイミングが来る前に2つ目のゼロクロス点信号をカウ
ントしそのカウント値が「2」となる。
Here, an abnormality such as a short circuit of a part or all of the reactor constituting the load 8 occurs, and the load 8
When the circuit constant changes suddenly and the frequency of the output current IO sharply rises, the time from the zero crossing point immediately before the occurrence of the abnormality to the zero crossing point immediately after the occurrence of the abnormality becomes short, so that at least one of the counters A and B is used. The counter counts the second zero-cross point signal before the reset timing comes, and the count value becomes “2”.

【0021】制御回路9は、前記カウンタA,Bのうち
1つでもそのカウント値が「2」になった時点でMOS
FET11〜14に対する全てのゲート信号遮断(OF
F)し、MOSFET11〜14の内部ダイオードに急
峻な逆回復電流が流れるのを阻止する。また、前記負荷
8における異常が図5の如きタイミングで発生したとし
ても、この発明によれば区間55の終わりであるゼロク
ロス点を検出した時点でMOSFET11〜14に対す
る全てのゲート信号遮断し、同様に、MOSFET11
〜14の内部ダイオードに急峻な逆回復電流が流れるの
を阻止する。
When the count value of any one of the counters A and B becomes "2", the control circuit 9
All gate signal cutoffs (OF
F) to prevent a steep reverse recovery current from flowing through the internal diodes of the MOSFETs 11 to 14. According to the present invention, even when an abnormality occurs in the load 8 at the timing shown in FIG. 5, all gate signals to the MOSFETs 11 to 14 are cut off when the zero-cross point at the end of the section 55 is detected. , MOSFET11
Prevents a steep reverse recovery current from flowing through the internal diodes .about.14.

【0022】次に、この発明の第2の実施例として、制
御回路9が、インバータ動作の半周期のn倍周期毎(こ
こではn=2の場合)にリセットされ互いにリセットタ
イミングの異なる2つのカウンタC,Dを備えている場
合について説明する。図3は図2と同様の動作波形図で
あるが、カウンタのリセットタイミングが異なるため、
図3(i),(j)の波形が図2(g),(h)とは異
なっている。カウンタC,Dはインバータ動作の半周期
の2倍周期でリセットされるため、カウンタC,Dにお
いてゼロクロス点信号(図3(f))は図3(i),
(j)の如く、「2」まで(nまで)カウントされる。
Next, as a second embodiment of the present invention, the control circuit 9 is reset every n times the half cycle of the inverter operation (here, when n = 2) and resets at two reset timings different from each other. The case where the counters C and D are provided will be described. FIG. 3 is an operation waveform diagram similar to FIG. 2, but the reset timing of the counter is different.
The waveforms of FIGS. 3 (i) and (j) are different from those of FIGS. 2 (g) and 2 (h). Since the counters C and D are reset at twice the half cycle of the inverter operation, the zero-cross point signal (FIG. 3 (f)) in the counters C and D is as shown in FIG.
As shown in (j), counting is performed up to “2” (up to n).

【0023】ここで、負荷8を構成するリアクトルの一
部または全部が短絡されるなどの異常が発生し、負荷8
の回路定数が急変して出力電流IO の周波数が急激に上
昇すると、異常発生直前のゼロクロス点から異常発生直
後のゼロクロス点までの時間は短くなるため、前記カウ
ンタC,Dのうち少なくとも一方のカウンタはリセット
タイミングが来る前に3つ目のゼロクロス点信号をカウ
ントしそのカウント値が「3」即ち「n+1」となる。
Here, an abnormality such as a short circuit of a part or all of the reactor constituting the load 8 occurs, and the load 8
When the frequency of the output current IO rapidly increases due to a sudden change in the circuit constant of the above, the time from the zero-cross point immediately before the occurrence of the abnormality to the zero-cross point immediately after the occurrence of the abnormality becomes short, and at least one of the counters C and D is used. The counter counts the third zero-cross point signal before the reset timing comes, and the count value becomes "3", that is, "n + 1".

【0024】制御回路9は、前記カウンタC,Dのうち
1つでもそのカウント値が「3」になった時点でMOS
FET11〜14に対する全てのゲート信号遮断(OF
F)し、MOSFET11〜14の内部ダイオードに急
峻な逆回復電流が流れるのを阻止する。上記の如く、イ
ンバータ動作の半周期のn倍毎に任意の時点でリセット
される1つまたは複数個のカウンタを設け、あるいは、
インバータ動作の半周期のn倍毎に任意の時点でリセッ
トされ、かつリセットタイミングの異なる1つまたは複
数個のカウンタを設けることにより、出力電流IO の周
波数が急激に上昇するような異常がインバータ動作のど
のタイミングで発生してもこれを素早く検知できMOS
FET12〜14の内部ダイオードのに急峻な逆回復電
流が流れるのを阻止することができる。
When the count value of one of the counters C and D becomes "3", the control circuit 9 sets the MOS
All gate signal cutoffs (OF
F) to prevent a steep reverse recovery current from flowing through the internal diodes of the MOSFETs 11 to 14. As described above, one or a plurality of counters that are reset at any time every n times a half cycle of the inverter operation are provided;
By providing one or a plurality of counters that are reset at any time every n times the half cycle of the inverter operation and have different reset timings, an abnormality such as a sudden increase in the frequency of the output current IO can be prevented. MOS can be detected quickly regardless of the timing of the operation.
A steep reverse recovery current can be prevented from flowing through the internal diodes of the FETs 12 to 14.

【0025】また、この発明の第3の実施例として、制
御回路9が図6に示す絶対値変換回路91と比較値発生
回路92と比較器93とを備えている場合について、図
7に示す図6の回路の動作波形図を参照しつつ、以下に
説明する。すなわち図6の回路は、図7(a)に示す出
力電流IO を図7(b)に示す絶対値に変換する絶対値
変換回路91の出力と、前記出力電流IO の周波数の周
期より十分長い周期で該IO の絶対値のピーク値に比
例,追従する図7(c)に示す比較値を発生する比較値
発生回路92の出力とを比較する比較器93から構成さ
れる。
FIG. 7 shows a third embodiment of the present invention in which the control circuit 9 includes an absolute value conversion circuit 91, a comparison value generation circuit 92 and a comparator 93 shown in FIG. This will be described below with reference to the operation waveform diagram of the circuit of FIG. That circuit in FIG. 6, the output of the absolute value conversion circuit 91 which converts the absolute value shown in FIG. 7 (b) the output current I O shown in FIG. 7 (a), than the period of the frequency of the output current I O A comparator 93 for comparing the output of a comparison value generating circuit 92 for generating a comparison value shown in FIG. 7C which is proportional to and follows the peak value of the absolute value of I O in a sufficiently long cycle.

【0026】通常の動作状態では(図7(c),区間
(A))、出力電流IO の絶対値の瞬時値が、出力電流
O の周波数の周期より十分長い周期で該IO の絶対値
のピーク値の変化に比例,追従させた比較値を越えるこ
とはない。ここで、負荷8を構成するリアクトルの一部
または全部が短絡されるなどの異常が発生し、負荷8の
回路定数が急変して出力電流IO が急激に上昇すると
(図7(a))、出力電流IO の絶対値の瞬時値が、急
激な出力電流IO の変化には比例,追従しない前記比較
値を越えた時点で(図7(c),区間(B))、比較器
93が動作して(図7(d))、MOSFET11〜1
4に対する全てのゲート信号遮断(OFF)し、MOS
FET11〜14の内部ダイオードに急峻な逆回復電流
が流れるのを阻止する。
[0026] In the normal operation (FIG. 7 (c), the section (A)), the instantaneous value of the absolute value of the output current I O, a sufficiently longer period than the period of the frequency of the output current I O of the I O The absolute value does not exceed the comparison value proportional to and following the change in the peak value of the absolute value. Here, when an abnormality such as a short circuit of a part or all of the reactor constituting the load 8 occurs, the circuit constant of the load 8 changes suddenly, and the output current IO rapidly increases (FIG. 7A). , at the instantaneous value of the absolute value of the output current I O is the abrupt change of output current I O proportionality, exceeding the comparison value does not follow (FIG. 7 (c), the section (B)), the comparator 93 operates (FIG. 7D), and the MOSFETs 11 to 1
4 all gate signals are cut off (OFF) and MOS
This prevents a steep reverse recovery current from flowing through the internal diodes of the FETs 11 to 14.

【0027】さらに、この発明の第4の実施例として、
制御回路9が図8に示す絶対値変換回路91とピークホ
ールド回路94と充放電回路95と加算器96と比較値
発生回路97と比較器98とを備えている場合につい
て、図9に示す図8の回路の動作波形図を参照しつつ、
以下に説明する。すなわち図8の回路は、図9(a)に
示す出力電流IO を図9(b)に示す絶対値に変換する
絶対値変換回路91の出力と、この出力電流IO の絶対
値のピーク値を該出力電流の周波数の周期より十分長い
周期で保持するピークホールド回路94と、この保持し
たホールド値(図9(c))から前記絶対値を減算した
値で充電し、この充電した値の最大値を前記出力電流の
周波数の周期の半分の期間で零に放電する充放電回路9
5と、この充放電回路95の出力値(図9(c))に前
記IO の絶対値を加算する加算器96と、前記出力電流
O の周波数の周期より十分長い周期で前記絶対値のピ
ーク値に比例,追従する比較値を発生する比較値発生回
路97と、加算器96の出力値(図9(d))と比較値
発生回路97の出力値(図9(d))とを比較する比較
器98とから構成される。
Further, as a fourth embodiment of the present invention,
FIG. 9 shows a case where the control circuit 9 includes the absolute value conversion circuit 91, the peak hold circuit 94, the charge / discharge circuit 95, the adder 96, the comparison value generation circuit 97, and the comparator 98 shown in FIG. 8 with reference to the operation waveform diagram of the circuit of FIG.
This will be described below. That is, the circuit of FIG. 8 includes an output of the absolute value conversion circuit 91 for converting the output current I O shown in FIG. 9A into an absolute value shown in FIG. 9B, and a peak of the absolute value of the output current I O. A peak hold circuit 94 for holding the value in a cycle sufficiently longer than the cycle of the frequency of the output current; charging with a value obtained by subtracting the absolute value from the held hold value (FIG. 9C); Charging / discharging circuit 9 which discharges the maximum value to zero during a half period of the frequency cycle of the output current
5, an adder 96 for adding the absolute value of I O to the output value (FIG. 9 (c)) of the charge / discharge circuit 95, and the absolute value with a period sufficiently longer than the period of the frequency of the output current I O. , A comparison value generation circuit 97 for generating a comparison value proportional to and following the peak value of the comparison value, an output value of the adder 96 (FIG. 9D) and an output value of the comparison value generation circuit 97 (FIG. 9D). And a comparator 98 for comparing.

【0028】通常の動作状態では(図9(e),区間
(C))、前記加算器の出力値(図9(d))が、前記
出力電流IO の周波数の周期より十分大きな周期で該I
O の絶対値のピーク値の変化に比例,追従させた比較値
(図9(d))を越えることはない。ここで、負荷8を
構成するリアクトルの一部または全部が短絡されるなど
の異常が発生し、負荷8の回路定数が急変して出力電流
O の周波数が急激に上昇すると(図9(a))、充放
電回路95は出力は、前述の放電が終わらないうちに次
の充電が行われ(図9(c))、この充放電回路95は
出力値と前記IO の絶対値を加算する加算器96の出力
値(図9(d))は、増大し、この増大した値が前記比
較値を越えた時点で(図9(e),区間(D))、比較
器98が動作して(図9(e))、MOSFET11〜
14に対する全てのゲート信号遮断(OFF)し、MO
SFET11〜14の内部ダイオードに急峻な逆回復電
流が流れるのを阻止する。
In a normal operation state (FIG. 9 (e), section (C)), the output value of the adder (FIG. 9 (d)) has a period sufficiently larger than the period of the frequency of the output current IO. The I
The comparison value (FIG. 9D) does not exceed the comparison value proportional to and following the change in the peak value of the absolute value of O. Here, when an abnormality such as short-circuiting of a part or all of the reactor constituting the load 8 occurs, the circuit constant of the load 8 changes abruptly, and the frequency of the output current IO sharply increases (see FIG. 9A )), The charge / discharge circuit 95 performs the next charge before the above-mentioned discharge is completed (FIG. 9 (c)), and the charge / discharge circuit 95 adds the output value and the absolute value of the I O. The output value of the adder 96 (FIG. 9D) increases, and when the increased value exceeds the comparison value (FIG. 9E, section (D)), the comparator 98 operates. (FIG. 9 (e)), and the MOSFETs 11-
14 all gate signals are turned off (OFF), and MO
This prevents a sudden reverse recovery current from flowing through the internal diodes of the SFETs 11 to 14.

【0029】[0029]

【発明の効果】この発明によれば、インバータ装置の負
荷を構成するリアクトルの一部または全部が短絡される
等によって、前記負荷の回路定数が急変し、インバータ
装置の出力電流の周波数、又は絶対値が急激に上昇した
場合には、このことを検知して速やかに全てのMOSF
ETのゲート信号遮断するので、従来例のようにMOS
FETの外部に逆流防止ダイオードと転流ダイオードと
を付加しなくても、急峻な逆回復電流が流れずにインバ
ータ装置は停止し、MOSFETの急峻な逆回復電流に
よる破壊が防止されるので、インバータ装置の小型化,
コストダウンが計れる。
According to the present invention, the circuit constant of the load suddenly changes, for example, when a part or all of the reactor constituting the load of the inverter device is short-circuited. If the value rises sharply, this is detected and all MOSF
Since the gate signal of ET is cut off, the MOS
Even without adding a backflow prevention diode and a commutation diode outside the FET, the inverter device stops without a steep reverse recovery current flowing, and the MOSFET is prevented from being destroyed by the steep reverse recovery current. Equipment miniaturization,
Cost can be reduced.

【0030】さらに、MOSFETのみで上下アームが
構成できるので、従来の方法に比べて、インバータ装置
の電力用半導体素子の通電損失が減少し、インバータ装
置の変換効率が向上する。
Further, since the upper and lower arms can be constituted only by MOSFETs, the conduction loss of the power semiconductor element of the inverter device is reduced and the conversion efficiency of the inverter device is improved as compared with the conventional method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施例を示すインバータ装置の回路
構成図
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of an inverter device showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の動作を説明する波形図FIG. 2 is a waveform chart illustrating the operation of FIG.

【図3】図1の動作を説明する波形図FIG. 3 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 1;

【図4】従来例を示すインバータ装置の回路構成図FIG. 4 is a circuit configuration diagram of an inverter device showing a conventional example.

【図5】図4の動作を説明する波形図FIG. 5 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 4;

【図6】この発明の第3の実施例を説明する回路構成図FIG. 6 is a circuit diagram illustrating a third embodiment of the present invention.

【図7】図6の動作を説明する波形図FIG. 7 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 6;

【図8】この発明の第4の実施例を説明する回路構成図FIG. 8 is a circuit diagram illustrating a fourth embodiment of the present invention.

【図9】図8の動作を説明する波形図9 is a waveform chart illustrating the operation of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

6…直流電源、7…電流検出器、8…負荷、9,10…
制御回路、11〜14…MOSFET、11a〜14a
…MOSFETの内部ダイオード、21〜24…逆流防
止ダイオード、31〜34…転流ダイオード、I0 …出
力電流、V0 …出力電圧、91…絶対値変換回路、9
2,97…比較値発生回路、93,98…比較器、94
…ピークホールド回路、95…充放電回路。
6 DC power supply 7 Current detector 8 Load 9 and 10
Control circuit, 11 to 14 MOSFET, 11a to 14a
... MOSFET internal diodes, 21 to 24 backflow prevention diodes, 31 to 34 commutation diodes, I 0, output current, V 0, output voltage, 91, absolute value conversion circuit, 9
2, 97: comparison value generating circuit, 93, 98: comparator, 94
... peak hold circuit, 95 ... charge / discharge circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 清和 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−212163(JP,A) 特開 平4−296495(JP,A) 特開 平5−316749(JP,A) 特開 昭61−147780(JP,A) 特開 平1−126172(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H02M 7/537 H02M 1/00 H02M 7/5387 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Seiwa Nakamura 1-1, Tanabe-Shinda, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside Fuji Electric Co., Ltd. (56) References JP-A-3-212163 (JP, A) JP-A JP-A-4-296495 (JP, A) JP-A-5-316749 (JP, A) JP-A-61-147780 (JP, A) JP-A-1-126172 (JP, A) (58) Fields studied (Int) .Cl. 7 , DB name) H02M 7/537 H02M 1/00 H02M 7/5387

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】直流電源に、MOSFETからなる上下ア
ームが接続され、この上アームと下アームの接続点に負
荷を接続し、この負荷に前記MOSFETのオン時間を
調整して、前記負荷に対して常に電圧より位相の遅れた
交流電流を出力するフルブリッジまたはハーフブリッジ
インバータ装置の前記MOSFETの内部ダイオードの
破壊防止方法において、 前記インバータ装置の出力電流の周波数が予め定めた周
波数より高くなったことを検知したときに前記MOSF
ETのゲート信号を遮断することを特徴とするMOSF
ETの内部ダイオードの破壊防止方法。
An upper and lower arm composed of a MOSFET is connected to a DC power supply, a load is connected to a connection point between the upper arm and the lower arm, and an on-time of the MOSFET is adjusted to the load so that the load is connected to the load. In the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET of a full-bridge or half-bridge inverter device that always outputs an alternating current having a phase delayed from the voltage, the frequency of the output current of the inverter device becomes higher than a predetermined frequency. When the MOSF is detected,
MOSF characterized by blocking a gate signal of ET
How to prevent breakdown of internal diode of ET.
【請求項2】直流電源に、MOSFETからなる上下ア
ームが接続され、この上アームと下アームの接続点に負
荷を接続し、この負荷に前記MOSFETのオン時間を
調整して、前記負荷に対して常に電圧より位相の遅れた
交流電流を出力するフルブリッジまたはハーフブリッジ
インバータ装置の前記MOSFETの内部ダイオードの
破壊防止方法において、 前記出力電流のゼロクロス点を検出し、該ゼロクロス点
が予め定めた時刻より先に検出されたときに前記MOS
FETのゲート信号を遮断することを特徴とするMOS
FETの内部ダイオードの破壊防止方法。
2. An upper and lower arm composed of a MOSFET is connected to a DC power supply. A load is connected to a connection point between the upper arm and the lower arm. In a method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET of a full-bridge or half-bridge inverter device that always outputs an alternating current having a phase delayed from a voltage, a zero-cross point of the output current is detected, and the zero-cross point is determined at a predetermined time. When the MOS is detected earlier,
MOS that cuts off the gate signal of FET
A method to prevent the destruction of the internal diode of the FET.
【請求項3】請求項2に記載のMOSFETの内部ダイ
オードの破壊防止方法において、 前記インバータ装置の動作の半周期のn倍(n=1,
2,3,・・・)毎に任意の時点でリセットされる1つ
または複数個のカウンタによって前記出力電流のゼロク
ロス点を計測し、カウント開始からリセットされるまで
の期間に前記カウンタのうち少なくとも1つの計測値が
n+1回に達したときに前記MOSFETのゲート信号
を遮断することを特徴とするMOSFETの内部ダイオ
ードの破壊防止方法。
3. The method for preventing destruction of an internal diode of a MOSFET according to claim 2, wherein n is a half cycle (n = 1, 1) of an operation of the inverter device.
The zero-crossing point of the output current is measured by one or a plurality of counters that are reset at any time every 2, 3,... A method for preventing breakdown of an internal diode of a MOSFET, wherein the gate signal of the MOSFET is cut off when one measured value reaches n + 1 times.
【請求項4】請求項2に記載のMOSFETの内部ダイ
オードの破壊防止方法において、 前記インバータ装置の動作の半周期のn倍(n=1,
2,3,・・・)毎に任意の時点でリセットされ、かつ
リセットのタイミングが互いに異なる複数個のカウンタ
によって前記出力電流のゼロクロス点を計測し、カウン
ト開始からリセットされるまでの期間に前記カウンタの
うち少なくとも1つの計測値がn+1回に達したときに
前記MOSFETのゲート信号を遮断することを特徴と
するMOSFETの内部ダイオードの破壊防止方法。
4. The method for preventing destruction of an internal diode of a MOSFET according to claim 2, wherein n times a half cycle of the operation of the inverter device (n = 1, 2).
Each of the counters is reset at an arbitrary point in time, and reset timings are different from each other. The zero-cross point of the output current is measured by a plurality of counters. A method for preventing breakdown of an internal diode of a MOSFET, wherein the gate signal of the MOSFET is cut off when at least one measured value of the counter reaches n + 1 times.
【請求項5】直流電源に、MOSFETからなる上下ア
ームが接続され、この上アームと下アームの接続点に負
荷を接続し、この負荷に前記MOSFETのオン時間を
調整して、前記負荷に対して常に電圧より位相の遅れた
交流電流を出力するフルブリッジまたはハーフブリッジ
インバータ装置の前記MOSFETの内部ダイオードの
破壊防止方法において、 前記インバータ装置の出力電流の絶対値の瞬時値が、該
出力電流の周波数の周期より十分長い周期で該絶対値の
ピーク値に比例,追従する比較値を越えたことを検知し
たときに前記MOSFETのゲート信号を遮断すること
を特徴とするMOSFETの内部ダイオードの破壊防止
方法。
5. An upper and lower arm composed of a MOSFET is connected to a DC power supply, a load is connected to a connection point between the upper arm and the lower arm, and an on-time of the MOSFET is adjusted to the load so that the load is connected to the load. In the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET of a full-bridge or half-bridge inverter device which always outputs an AC current delayed in phase from the voltage, the instantaneous value of the absolute value of the output current of the inverter device is A gate signal of the MOSFET is cut off when it is detected that a comparison value that is proportional to and follows a peak value of the absolute value is detected in a period sufficiently longer than a frequency period. Method.
【請求項6】直流電源に、MOSFETからなる上下ア
ームが接続され、この上アームと下アームの接続点に負
荷を接続し、この負荷に前記MOSFETのオン時間を
調整して、前記負荷に対して常に電圧より位相の遅れた
交流電流を出力するフルブリッジまたはハーフブリッジ
インバータ装置の前記MOSFETの内部ダイオードの
破壊防止方法において、 前記インバータ装置の出力電流の接線の傾きの絶対値が
該インバータ装置のスイッチング動作半周期前の同絶対
値よりも増加したことを検知したときに前記MOSFE
Tのゲート信号を遮断することを特徴とするMOSFE
Tの内部ダイオードの破壊防止方法。
6. An upper and lower arm composed of a MOSFET is connected to a DC power supply, a load is connected to a connection point between the upper arm and the lower arm, and an on-time of the MOSFET is adjusted to the load so that the load is connected to the load. In the method for preventing destruction of the internal diode of the MOSFET of a full-bridge or half-bridge inverter device which always outputs an alternating current having a phase delayed from the voltage, the absolute value of the slope of the tangent of the output current of the inverter device is determined by the absolute value of the inverter device. When it is detected that the absolute value has increased from the same absolute value one half cycle before the switching operation, the MOSFE
MOSFE characterized by blocking a gate signal of T
How to prevent breakdown of the internal diode of T.
【請求項7】請求項6に記載のMOSFETの内部ダイ
オードの破壊防止方法において、 前記インバータ装置の出力電流の絶対値のピーク値を該
出力電流の周波数の周期より十分長い周期で保持し、こ
の保持したピーク値から前記絶対値を減算した値で充電
し、この充電した値の最大値を前記出力電流の周波数の
周期の半分の期間で零に放電する充放電回路の出力値に
前記絶対値を加算した値が、前記出力電流の周波数の周
期より十分長い周期で前記絶対値のピーク値に比例,追
従する比較値を越えたことを検知したときに前記MOS
FETのゲート信号を遮断することを特徴とするMOS
FETの内部ダイオードの破壊防止方法。
7. The method for preventing destruction of an internal diode of a MOSFET according to claim 6, wherein a peak value of an absolute value of an output current of the inverter device is held at a period sufficiently longer than a frequency period of the output current. The absolute value is added to the output value of the charge / discharge circuit which charges the battery with a value obtained by subtracting the absolute value from the held peak value and discharges the maximum value of the charged value to zero in a half period of the frequency of the output current. When it is detected that the value obtained by adding the comparison value exceeds a comparison value proportional to and following the peak value of the absolute value in a cycle sufficiently longer than the cycle of the frequency of the output current,
MOS that cuts off the gate signal of FET
A method to prevent the destruction of the internal diode of the FET.
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US8391025B2 (en) 2008-05-02 2013-03-05 Advanced Energy Industries, Inc. Preemptive protection for a power convertor
JP5355756B2 (en) * 2011-09-30 2013-11-27 シャープ株式会社 Switching power supply and inverter, converter, air conditioner, solar power controller, and automobile using the same
JP2016136793A (en) 2013-05-14 2016-07-28 シャープ株式会社 Switching power supply device, and inverter, converter, solar power controller, using the same
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