JP3247711B2 - 導体接続装置 - Google Patents

導体接続装置

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JP3247711B2
JP3247711B2 JP00372792A JP372792A JP3247711B2 JP 3247711 B2 JP3247711 B2 JP 3247711B2 JP 00372792 A JP00372792 A JP 00372792A JP 372792 A JP372792 A JP 372792A JP 3247711 B2 JP3247711 B2 JP 3247711B2
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conductor
connection device
conductor connection
polyetherimide
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勲 板倉
和也 東畑
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  • Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
  • Processes Specially Adapted For Manufacturing Cables (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、A種およびE種絶縁
が施された電気機器等の導体同士をリン銅ろうでろう付
けし周囲を絶縁層で覆った導体接続装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図3は従来の導体接続装置の構造を示す
断面図である。図において、1は被覆絶縁層1aで被覆
され各先端部が裸にされた一対の導体、2はこれら一対
の導体1の先端が接続される部分に溶着されたリン銅ろ
う、3は両導体1の接続部を覆うように施された絶縁層
である。
【0003】上記のように構成された従来の導体接続装
置は、まず、導体1の接続される部分の被覆絶縁層1a
が除去され、導体1の先端間にろう材が装着されて溶着
により接続される。一般に導体1は銅材で成るため、ろ
う材としてはフラックスを使用しなくて良いリン銅ろう
(JISZ3264)が用いられる。ろう付後、導体接
続部は洗浄、清掃され、その周囲に絶縁層3が施され
る。この絶縁層3は、一般的には変圧器等のような油浸
電気機器では、幅切りされたコイル絶縁紙あるいはポリ
エチレンテレフタレートフィルム等のテープを重ね巻き
になるように、所定の回数巻き付けて構成され、導体1
と隣接する導電部とを電気的に絶縁する役目を果たして
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の導体接続装置は
以上のように構成されているので、ろう材としてのリン
銅ろう中にフラックスの役目をするために含まれている
リンが、五酸化リンとなって析出し絶縁層3に付着し
て、絶縁層3を変質させ絶縁性を低下させるという問題
点があった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、導体接続部から五酸化リンが析
出しても、絶縁層が侵されることなく絶縁性の低下を防
止することが可能な導体接続装置を提供することを目的
とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る導体接続
装置は、ろう付け部と絶縁層との間にポリフェニレンサ
ルファイドまたはポリエーテルイミドでなる保護絶縁層
を介挿したものである。
【0007】
【作用】この発明における導体接続装置の保護絶縁層
は、ろう付け部から析出される五酸化リンを封じて、五
酸化リンが絶縁層に付着するのを防止する。
【0008】
【実施例】
実施例1 以下、この発明の実施例を図について説明する。図1は
この発明の実施例1における導体接続装置の構造を示す
断面図である。図において、図1に示す従来装置と同様
な部分は同一符号を付して説明を省略する。4は一対の
導体1がリン銅ろう2によって溶着された接続部と絶縁
層3との間に介挿され、ポリフェニレンサルファイドま
たはポリエーテルイミドでなるフィルムを、テープ状に
して一層以上巻回して形成された保護絶縁層である。
【0009】なお、保護絶縁層4に用いる他の材料とし
て、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリエチレン等の
プラスチックフィルムが考えられるが、これらは耐熱性
が不足しているため、A種およびE種絶縁電気機器とし
て用いる場合は不適当である。その他に、高耐熱のポリ
イミド、ポリエチレンサルファイド、ポリエーテルエー
テルケトン、ふっ素系等のフィルムがあるが、これらの
フィルムは導体1に巻き付ける際の加工性、耐加水分解
性、油中においてはクレージング等、実用上不適当であ
る。その点、ポリフェニレンサルファイドおよびポリエ
ーテルイミドは、A種およびE種絶縁の耐熱性を有し、
テーピング性、耐加水分解性も良好であり、高耐熱性の
フィルムの中では経済性も良い材料である。
【0010】次に、保護絶縁層4を成すポリフェニレン
サルファイドおよびポリエーテルイミドの優れている点
を、引張強度および伸び試験を例に比較試料と比較して
図2に示す。試料1はポリフェニレンサルファイドのフ
ィルム、試料2はポリエーテルイミドのフィルム、試料
3は従来から絶縁層として良く用いられるポリエチレン
テレフタレートのフィルム、試料4は従来から絶縁層と
して用いられるコイル絶縁紙で、これらを厚さ50μm
、幅10mm 、長さ200mmに加工して試験片とし、そ
れぞれの試験片に五酸化リンを散布し、室温で10日間
放置した後、それぞれ引張強度および伸びを測定した。
【0011】測定結果は図から明らかなように、試料1
および試料2におけるポリフェニレンサルファイドおよ
びポリエーテルイミドは、引張強度および伸びともにほ
とんど低下が見られない。しかし、試料3におけるポリ
エチレンテレフタレートは、引張強度が半減し伸びは約
1/10に低下しており、試料4におけるコイル絶縁紙
は、引張強度および伸びともに測定できない状態まで低
下している。このように、ポリフェニレンサルファイド
およびポリエーテルイミドは、他の従来のものと比較し
五酸化リンに対する耐久性が非常に優れていることが明
らかである。
【0012】実施例2 なお、上記実施例1における保護絶縁層4は、フィルム
をテープ状として巻回するものについて説明している
が、チューブ状にして嵌合被覆するようにしても、同様
の効果を奏するものである。
【0013】
【発明の効果】以上のように、この発明によればろう付
け部と絶縁層との間にポリフェニレンサルファイドまた
はポリエーテルイミドでなる保護絶縁層を介挿したの
で、ろう付けされる導体接続部から五酸化リンが析出し
ても、絶縁層が侵されることなく絶縁性の低下を防止す
ることが可能な導体接続装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1における導体接続装置の構
造を示す断面図である。
【図2】図1における導体接続装置の保護絶縁層に適用
されるポリフェニレンサルファイドおよびポリエーテル
イミドの特性を示す図である。
【図3】従来の導体接続装置の構造を示す断面図であ
る。
【符号の説明】
1 導体 1a 被覆絶縁層 2 リン銅ろう 3 絶縁層 4 保護絶縁層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01R 4/70 H01R 4/04 H01B 13/06

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 A種およびE種絶縁が施された電気機器
    の導体の先端同士をリン銅ろうでろう付けし周囲を絶縁
    層で覆った導体接続装置において、上記ろう付部と上記
    絶縁層との間にポリフエニレンサルファイドまたはポリ
    エーテルイミドでなる保護絶縁層を介挿したことを特徴
    とする導体接続装置。
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