JP3239845U - 基板処理装置 - Google Patents

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孝彬 若松
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Abstract

Figure 0003239845000001
【課題】スピンドルカバーの内部空間における汚れの付着を抑制する基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、基板を加工する工具を駆動する駆動機構を備える。前記駆動機構は、モータと、前記モータによって回転させられる鉛直なスピンドル軸33と、前記スピンドル軸を取り囲むスピンドルカバー40と、を備える。前記スピンドルカバーは、前記スピンドル軸を取り囲む第1円筒部51と、前記第1円筒部を取り囲む第2円筒部62と、前記第1円筒部と前記第2円筒部との間に形成される内部空間63を上方から塞ぐリング状の天板部64と、を有する。前記天板部または前記第2円筒部の上部に、前記スピンドルカバーの外部空間から前記内部空間に気体を取り込む取込口66が設けられる。
【選択図】図3

Description

本開示は、基板処理装置に関する。
特許文献1には、スピンドルユニットを備える研削装置が開示されている。スピンドルユニットは、スピンドル軸を取り囲むスピンドルカバーを備える。スピンドルカバーは、2つ割りのカバーを有する。
特開2017-222003号公報
本開示の一態様は、スピンドルカバーの内部空間における汚れの付着を抑制する、技術を提供する。
本開示の一態様に係る基板処理装置は、基板を加工する工具を駆動する駆動機構を備える。前記駆動機構は、モータと、前記モータによって回転させられる鉛直なスピンドル軸と、前記スピンドル軸を取り囲むスピンドルカバーと、を備える。前記スピンドルカバーは、前記スピンドル軸を取り囲む第1円筒部と、前記第1円筒部を取り囲む第2円筒部と、前記第1円筒部と前記第2円筒部との間に形成される内部空間を上方から塞ぐリング状の天板部と、を有する。前記天板部または前記第2円筒部の上部に、前記スピンドルカバーの外部空間から前記内部空間に気体を取り込む取込口が設けられる。
本開示の一態様によれば、スピンドルカバーの内部空間における汚れの付着を抑制できる。
図1は、一実施形態に係る基板処理装置を示す平面図である。 図2は、駆動機構の一例を示す断面図である。 図3は、図2の一部を拡大した断面図である。 図4は、回転軸部とラッチ部の一例を示す斜視図である。 図5は、図4の回転軸部とラッチ部を示す平面図である。
以下、本開示の実施形態について図面を参照して説明する。なお、各図面において同一の又は対応する構成には同一の符号を付し、説明を省略することがある。本明細書において、X軸方向、Y軸方向、Z軸方向は互いに垂直な方向である。X軸方向およびY軸方向は水平方向、Z軸方向は鉛直方向である。
図1を参照して、一実施形態に係る基板処理装置1について説明する。基板処理装置1は、例えば基板Wを研削する。研削は、研磨を含む。基板処理装置1は、例えば、回転テーブル10と、基板Wを保持する4つのチャック20と、基板Wを加工する工具Dを駆動する3つの駆動機構30と、チャック20と工具Dを内部に収容する筐体80と、制御装置90と、備える。
回転テーブル10は、回転中心線R1の周りに4つのチャック20を等間隔で保持し、回転中心線R1を中心に回転する。4つのチャック20のそれぞれは、回転テーブル10と共に回転し、搬入出位置A0と、第1加工位置A1と、第2加工位置A2と、第3加工位置A3と、搬入出位置A0とにこの順番で移動する。
搬入出位置A0は、基板Wの搬入が行われる位置と、基板Wの搬出が行われる位置とを兼ねる。なお、本実施形態では搬入位置と搬出位置とは同じ位置であるが、搬入位置と搬出位置とは異なる位置であってもよい。
第1加工位置A1は、1次加工(例えば1次研削)が行われる位置である。第2加工位置A2は、2次加工(例えば2次研削)が行われる位置である。第3加工位置A3は、3次加工(例えば3次研削)が行われる位置である。
4つのチャック20は、それぞれの回転中心線R2(図2参照)を中心に回転自在に、回転テーブル10に取り付けられる。第1加工位置A1、第2加工位置A2および第3加工位置A3において、チャック20はそれぞれの回転中心線R2を中心に回転する。
1つの駆動機構30は、第1加工位置A1にて、基板Wを1次加工する。別の駆動機構30は、第2加工位置A2にて、基板Wを2次加工する。残りの駆動機構30は、第3加工位置A3にて、基板Wを3次加工研削する。
筐体80は、加工屑と加工液が外部に飛散するのを抑制する。加工屑は、基板Wの加工によって生じる粉又は破片である。粉は、基板Wから削り出される粉と、工具Dから脱離する砥粒とを含む。加工液は、例えば、DIW(Deionized Water)等の純水である。加工液は、工具Dと基板Wの間に入り込み、摩擦抵抗と摩擦熱を低減する。加工液は、ノズル50(図2参照)によって供給する。
筐体80は、チャック20の上方に位置する上面パネル81と、チャック20の側方に位置する側面パネル82と、を有する。上面パネル81は水平であり、側面パネル82は鉛直である。上面パネル81は、側面パネル82の上に位置する。上面パネル81には、工具Dなどが通過する通過口81a(図2参照)が設けられる。
図1に破線で示すように、上面パネル81は、例えば第1加工位置A1と第2加工位置A2と第3加工位置A3の上方を覆う。また、上面パネル81は、搬入出位置A0の上方を開放する。例えば、上面パネル81は、上方から見て、矩形の一角をL字状に切り欠いた形状を有する。
筐体80の内部は、仕切壁83で複数の部屋に仕切られる。仕切壁83は、上面パネル81の下面に固定される。仕切壁83は、例えば、十字状に設けられる。仕切壁83は、例えば搬入出位置A0と第1加工位置A1と第2加工位置A2と第3加工位置A3を仕切る。
制御装置90は、例えばコンピュータであり、CPU(Central Processing Unit)等の演算部91と、メモリ等の記憶部92とを備える。記憶部92には、基板処理装置1において実行される各種の処理を制御するプログラムが格納される。制御装置90は、記憶部92に記憶されたプログラムを演算部91に実行させることにより、基板処理装置1の動作を制御する。
基板処理装置1は、基板Wの片面を研削するが、基板Wの両面を研削してもよい。
基板処理装置1は、研削装置には限定されない。基板処理装置1は、切削装置などであってもよい。基板処理装置1が研削装置である場合、工具Dとして砥石などが用いられる。基板処理装置1が切削装置である場合、工具Dとしてエンドミルなどが用いられる。
次に、図2を参照して、駆動機構30の一例について説明する。駆動機構30は、工具Dを回転させたり、昇降させたりする。駆動機構30は、工具Dが装着される可動部31を含む。工具Dは、基板Wに押し当てられ、基板Wを加工する。工具Dは、例えば円盤状の研削ホイールD1と、研削ホイールD1の下面にリング状に配列される複数の砥石D2と、を含む。
可動部31は、モータ32と、モータ32によって回転させられる鉛直なスピンドル軸33と、スピンドル軸33の下端に設けられるフランジ34と、を有する。フランジ34は水平に配置され、その下面に工具Dが装着される。モータ32は、スピンドル軸33を回転し、フランジ34に装着された工具Dを回転させる。工具Dの回転中心線R3は、スピンドル軸33の回転中心線である。
駆動機構30は、更に、可動部31を昇降させる昇降部35を有する。昇降部35は、例えば、鉛直なZ軸ガイド36と、Z軸ガイド36に沿って移動するZ軸スライダ37と、Z軸スライダ37を移動させるZ軸モータ38と、を有する。Z軸スライダ37には、モータホルダ39を介してモータ32が固定される。
次に、主に図3を参照して、スピンドルカバー40の一例について説明する。駆動機構30は、スピンドル軸33を取り囲むスピンドルカバー40を備える。スピンドルカバー40は、加工屑と加工液がスピンドル軸33とフランジ34の上面に付着するのを抑制する。
スピンドルカバー40は、モータホルダ39に対してボルト41などで締結され、モータ32と共に昇降させられる。スピンドルカバー40は、第1円筒部51と、第1円筒部51の上端に設けられる上フランジ52と、第1円筒部51の上端と下端の間に設けられる中間フランジ53と、を有する。上フランジ52は、モータホルダ39に対してボルト41などで締結される。上フランジ52と中間フランジ53は、第1円筒部51と一体化されている。
スピンドルカバー40は、第1円筒部51を取り囲む第2円筒部62と、第1円筒部51と第2円筒部62との間に形成される内部空間63を上方から塞ぐリング状の天板部64と、を有する。天板部64は、第2円筒部62と一体化されており、中間フランジ53の下面に着脱可能にボルトなどで連結されている。なお、中間フランジ53は無くてもよく、天板部64は第1円筒部51と一体化されてもよい。天板部64は、第1円筒部51の上端と下端の間に設けられる。
第1円筒部51の外径は、フランジ34の外径よりも小さい。第1円筒部51の下端は、フランジ34の上面と接触しないように、フランジ34の上面よりも上方に配置される。
第2円筒部62は、第1円筒部51の外側に配置され、フランジ34を取り囲む。第2円筒部62の内径は、フランジ34の外径よりも大きい。第2円筒部62は、フランジ34の上面よりも下方まで延びている。第2円筒部62は、フランジ34の上面に加工屑が付着するのを抑制する。
フランジ34の上面には、ボルト11の頭部12が設けられる。ボルト11の頭部12は、内部空間63に配置される。ボルト11の頭部12は、フランジ34の上面から突出している。なお、フランジ34の上面には、ボルト11の頭部12を収容する凹部が設けられてもよい。
作業者は、ボルト11を締めたり緩めたりすることで、工具Dを着脱する。ボルト11の頭部12には、作業用の穴、例えば六角穴13が形成されている。作業者は、六角穴13に六角棒レンチの先端を挿入し、ボルト11の頭部12を回転操作し、ボルト11を締めたり緩めたりする。
スピンドルカバー40は、フランジ34の上面に加工屑が付着するのを抑制する。これにより、工具Dの着脱時に作業者が汚れるのを抑制できる。また、ボルト11の六角穴13に加工屑が堆積するのを抑制でき、六角穴13が加工屑で詰まるのを抑制できる。
本願発明者は、スピンドルカバー40の内部空間63に加工屑が入り込む原因を気流シミュレーションなどで検討した。モータ32がスピンドル軸33を回転させると、フランジ34が回転する。フランジ34又はボルト11の頭部12の回転に引きずられるように回転気流が生じ、内部空間63の一部に負圧が発生することを突き止めた。更に、図示しない障害物が内部空間63内に有る場合、回転気流の乱れが大きくなり、内部空間63に発生する負圧が大きくなることを突き止めた。
本実施形態では、スピンドルカバー40の外部空間65から内部空間63に気体(例えば空気)を取り込む取込口66が設けられる。取込口66は、天板部64または第2円筒部62の上部(図3では天板部64)に設けられる。取込口66は、外部空間65と内部空間63の差圧によって、外部空間65から内部空間63に気体を取り込む。
スピンドルカバー40の内部空間63において回転気流が乱れ、内部空間63の一部に負圧が発生したとしても、取込口66が内部空間63に気体を取り込むことで、内部空間63の下端に下向き又は斜め下向きの気流を形成でき、加工屑が内部空間63に入り込むのを制限できる。
基板処理装置1が筐体80を備える場合、取込口66は筐体80の上面パネル81よりも上方の外部空間65から内部空間63に気体を取り込む。清浄な気体を内部空間63に取り込むことができる。できるだけ清浄な気体を取り込むべく、できるだけ上方に取込口66が設けられることが好ましく、取込口66は天板部64に設けられることが好ましい。
取込口66は、例えば天板部64の周方向に間隔をおいて複数設けられる。複数の取込口66は、不等ピッチで設けられてもよいが、等ピッチで設けられることが好ましい。複数の取込口66を等ピッチで設けることで、内部空間63に均等に気体を取り込むことができる。
取込口66が設けられる天板部64の上には、中間フランジ53が載置される。中間フランジ53には、取込口66と重なる位置に、連通穴56が設けられる。気体は、連通穴56と取込口66を介して外部空間65から内部空間63に取り込まれる。なお、中間フランジ53には、取込口66を避けるように切り欠き57が形成されてもよい(図4及び図5参照)。
次に、図4及び図5を参照して、開閉カバー部68を回転自在に支持する回転軸部42の一例について説明する。図4において、回転軸部42を図示すべく、図5に示すアーム部69の図示を省略する。また、図4において、メンテナンス口67を図示すべく、開閉カバー部68の輪郭のみ破線で示す。
スピンドルカバー40は、工具Dの着脱に用いられるメンテナンス口67と、メンテナンス口67を開閉する開閉カバー部68と、開閉カバー部68を回転自在に支持する回転軸部42と、を有する。
メンテナンス口67は、第2円筒部62の周方向一部を切り欠いて設けられる。メンテナンス口67は、工具Dの着脱に用いられるものであって、作業者がボルト11にアクセスするためのものである。工具Dの着脱は、スピンドルカバー40及び工具Dを筐体80の上面パネル81よりも上方に抜き出した状態で行われる。
開閉カバー部68は、メンテナンス口67を開閉する。開閉カバー部68は、第2円筒部62とは同じ外径および同じ内径を有する。開閉カバー部68は、工具Dの着脱時にメンテナンス口67を開放し、基板Wの加工時にメンテナンス口67を閉塞する。開閉カバー部68は、加工液や加工屑が内部空間63に入り込むのを制限する。
開閉カバー部68は、円弧状のアーム部69の外縁に設けられ、その外縁から下方に突出している。開閉カバー部68がメンテナンス口67を閉塞する時、アーム部69は中間フランジ53の切り欠き57の内部に収容され、天板部64の上に載置される。天板部64の取込口66を塞がないように、アーム部69には切り欠き69aが設けられる。
回転軸部42は、メンテナンス口67を閉じる閉位置とメンテナンス口67を開く開位置との間で開閉カバー部68を回転自在に支持する。開閉カバー部68は、回転軸部42を中心に回転する。回転軸部42は、例えば天板部64から上方に突出しており、アーム部69の図示しない貫通穴に挿通されている。回転軸部42の上端には、アーム部69を押さえる円盤状のストッパ43が設けられる。
回転軸部42は、スピンドルカバー40の内部空間63の外に設けられる。回転軸部42を内部空間63に設ける場合に比べて、内部空間63における回転気流の乱れを抑制できる。これにより、内部空間63の一部に負圧が発生するのを抑制でき、加工屑が内部空間63に入り込むのを制限できる。
次に、図4及び図5を再度参照して、開閉カバー部68を閉位置で止めるラッチ部45の一例について説明する。スピンドルカバー40は、メンテナンス口67と開閉カバー部68に加えて、ラッチ部45を有する。ラッチ部45は、例えば板バネであって、弾性変形する水平部46と、水平部46の一端に設けられる突起部47とを有する。
水平部46は、中間フランジ53の上にボルト49で固定されると共に、ボルト49から中間フランジ53の切り欠き57の上に向けて張り出している。突起部47は、水平部46の一端に設けられ、切り欠き57の内部に設けられる。突起部47がアーム部69の嵌合穴69bに嵌合することで、開閉カバー部68が閉位置で止まる。
突起部47は、例えば、水平部46の一端から下方に突き出す垂直部47aと、垂直部47aの下端から上方に折り返す傾斜部47bと、を有する。傾斜部47bは、垂直部47aを基準として、第2円筒部62の径方向外方に設けられる。傾斜部47bは、上方に向かうほど垂直部47aから遠ざかる方向に傾斜する。
開閉カバー部68が開位置から閉位置に移動する途中で、アーム部69が傾斜部47bを斜め上に押し上げ、水平部46が弓なりに弾性変形する。その後、開閉カバー部68が閉位置に達すると、突起部47が嵌合穴69bに入り込み、水平部46が水平に戻る。
一方、開閉カバー部68が閉位置から開位置に向けて移動を開始すると、アーム部69が垂直部47aを斜め上に押し上げ、水平部46が弓なりに弾性変形する。その後、突起部47が嵌合穴69bから抜け出ると、水平部46が水平に戻る。
ラッチ部45は、スピンドルカバー40の内部空間63の外に設けられる。ラッチ部45を内部空間63に設ける場合に比べて、内部空間63における回転気流の乱れを抑制できる。これにより、内部空間63の一部に負圧が発生するのを抑制でき、加工屑が内部空間63に入り込むのを制限できる。
以上、本開示に係る基板処理装置について説明したが、本開示は上記実施形態などに限定されない。実用新案登録請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更、修正、置換、付加、削除、および組み合わせが可能である。それらについても当然に本開示の技術的範囲に属する。
1 基板処理装置
30 駆動機構
32 モータ
33 スピンドル軸
40 スピンドルカバー
51 第1円筒部
62 第2円筒部
63 内部空間
64 天板部
65 外部空間
66 取込口

Claims (5)

  1. 基板を加工する工具を駆動する駆動機構を備え、
    前記駆動機構は、モータと、前記モータによって回転させられる鉛直なスピンドル軸と、前記スピンドル軸を取り囲むスピンドルカバーと、を備え、
    前記スピンドルカバーは、前記スピンドル軸を取り囲む第1円筒部と、前記第1円筒部を取り囲む第2円筒部と、前記第1円筒部と前記第2円筒部との間に形成される内部空間を上方から塞ぐリング状の天板部と、を有し、
    前記天板部または前記第2円筒部の上部に、前記スピンドルカバーの外部空間から前記内部空間に気体を取り込む取込口が設けられる、基板処理装置。
  2. 基板を保持する基板保持部と、前記基板保持部と前記工具を収容する筐体と、を備え、
    前記筐体は、前記工具を通過させる通過口が形成される上面パネルを有し、
    前記取込口は、前記上面パネルよりも上方の前記外部空間から前記内部空間に気体を取り込む、請求項1に記載の基板処理装置。
  3. 前記取込口は、前記天板部に設けられる、請求項1または2に記載の基板処理装置。
  4. 前記スピンドルカバーは、前記第2円筒部に設けられたメンテナンス口を開閉する開閉カバー部と、前記メンテナンス口を閉じる閉位置と前記メンテナンス口を開く開位置との間で前記開閉カバー部を回転自在に支持する回転軸部と、を有し、
    前記回転軸部は、前記内部空間の外に設けられる、請求項1または2に記載の基板処理装置。
  5. 前記スピンドルカバーは、前記第2円筒部に設けられたメンテナンス口を開閉する開閉カバー部と、前記メンテナンス口を閉じる閉位置で前記開閉カバー部を止めるラッチ部と、を有し、
    前記ラッチ部は、前記内部空間の外に設けられる、請求項1または2に記載の基板処理装置。
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