JP3236907B2 - 水素吸蔵合金膜複合体 - Google Patents
水素吸蔵合金膜複合体Info
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Description
池の負極や燃料電池用の電源などの用途を有する水素吸
蔵合金膜を利用した複合体薄膜に関する。
水素二次電池は、電子機器のコードレス化に伴い、その
高容量が注目され、様々な技術開発が行われている。ま
た、小型、薄型化が求められ、そのため水素吸蔵合金膜
を電極として用いる技術が開発されている。
どの導電性基板に、不活性ガス又は不活性ガスに水素を
加えた雰囲気ガス中にて水素吸蔵合金をスパッタリン
グ、イオンプレーティング等により成膜して製造されて
いる。この場合、高容量を達成するため、水素吸蔵合金
膜の膜厚はできる限り厚いことが要望されている。
蔵合金は、水素の吸蔵・放出を繰り返すと、脆くなり、
粉末化する傾向がある。このため、水素吸蔵合金膜が、
基板から剥離、脱落し、充放電サイクルと共に、放電容
量が急激に低下し、充放電サイクル寿命が短いという問
題がある。この問題は、水素吸蔵合金膜の膜厚が厚くな
ると顕著になり、厚膜化の妨げになっていた。また、厚
膜化すると、水素吸蔵合金膜の導電性が低下し、水素の
吸蔵、脱離反応が進まず、電気化学的反応が円滑に進行
しないという問題もある。
で、水素吸蔵合金膜の基板からの剥離、脱落を可及的に
防止でき、かつ水素吸蔵合金膜の導電性が良好で、厚膜
化が可能な水素吸蔵合金膜複合体を提供することを目的
とする。
成するため、次の水素吸蔵合金膜複合体を提供する。 (1)導電性基板と、該導電性基板の表面に立設した導
電性仕切壁と、この導電性仕切壁間の間隙を埋める如く
形成された水素吸蔵合金層とを有し、前記導電性仕切壁
が水素透過性である水素吸蔵合金膜複合体。 (2)導電性基板の表面に立設した導電性仕切壁の上に
更に1層以上立設された上層導電性仕切壁と、該上層導
電性仕切壁間の間隙を埋めた水素吸蔵合金層とを更に有
し、前記上層導電性仕切壁が水素透過性である上記
(1)記載の水素吸蔵合金膜複合体。 (3)導電性仕切壁及び上層導電性仕切壁のいずれか一
方又は双方が格子状に形成された上記(1)又は(2)
記載の水素吸蔵合金膜複合体。 (4)導電性及び水素透過性の保護層で導電性仕切壁又
は上層導電性仕切壁と水素吸蔵合金層との外表面を被覆
する上記(1)乃至(3)いずれか記載の水素吸蔵合金
膜複合体。
に水素透過性の導電性仕切壁を好ましくは格子状に突設
して導電性基板を区画し、好ましくは導電性仕切壁に更
に1層以上の水素透過性の上層導電性仕切壁を突設し、
これらの仕切壁間の間隙を水素吸蔵合金層で埋めた構造
であるので、水素吸蔵合金が水素の吸蔵放出を繰り返し
て脆くなっても、仕切壁で区画された壁間に保持される
ので、基板からの剥離、脱落は可及的に少なくなり、こ
のため水素吸蔵合金層の厚膜化が可能となる。しかも、
仕切壁が基板と導通し、基板と水素吸蔵合金層との導電
性が高いので、水素の吸蔵、脱離反応が円滑に進行し、
この点でも、水素吸蔵合金層の厚膜化が可能となる。
区画する仕切壁とを導電性と水素透過性の保護層で覆う
ことによって、水素吸蔵合金層を密封することができる
ので、基板からの剥離脱落をより確実に防止することが
できると同時に、仕切壁を介して保護層が基板と導通す
るため、水素吸蔵合金層の基板との導電性がより向上
し、更に厚膜化が可能となる。
しながら具体的に説明する。図1は、本発明の水素吸蔵
合金膜複合体の一例を示す断面図、図2は、その平面図
である。
ル、銅などの金属その他の導電性基板2の表面に格子状
に導電性仕切壁3が突設され、この導電性仕切壁3で仕
切られた桝状の凹部空隙に水素吸蔵合金が充填されて水
素吸蔵合金層4が形成された構造を有する。
と同一のニッケル、銅などの金属またはその他の導電性
のものを採用することができる。好ましくは、銀・パラ
ジウム合金(銀30atm%程度)等の導電性と水素透
過性を有する材料が好適であり、これにより、導電性仕
切壁3が、水素吸蔵合金層4と基板2とを導通させる機
能に加えて、水素の通り道となり、より水素の吸蔵脱離
反応が円滑になる。
の範囲を採用することができるが、1μm程度が好まし
い。また、図のように格子状に形成することが好ましい
が、これに限られるものではない。格子の幅wは、5〜
50μmの範囲を採用することができるが、10μm程
度が好ましく、格子の高さhは、1〜50μm程度がよ
いが、5μm程度が好ましい。
えば、AB形としてTiFe、AB2 形としてZrMn
2 、ZrNi2 、AB5 形としてCaNi5 、LaNi
5 、MnNi5 、A2 B形としてMg2 Ni等が挙げら
れるがこれに限られるものではない。水素吸蔵合金層4
の厚さは、導電性仕切壁3の高さとほぼ同一程度とし、
導電性仕切壁3間の空隙を埋めるようにすることが好ま
しい。
吸蔵合金層が桝状の仕切壁で区画された基板上に形成さ
れ、水素吸蔵合金層が水素の吸蔵放出を繰り返して脆く
なっても、仕切壁で保持されるので、基板からの剥離、
脱落を可及的に防止することができると共に、厚膜化す
ると導電性が低下する水素吸蔵合金層に対して導電性仕
切壁が所定間隔で配置され、厚膜化しても水素吸蔵合金
層と基板との導通は確保されているので、水素の吸蔵、
放出が容易に進行する。
は、図3に示すように、銀・パラジウム合金のように導
電性と水素透過性の材料で導電性仕切壁3と水素吸蔵合
金層4とを被覆する保護膜5を形成することが好まし
い。これにより、水素吸蔵合金層4を導電性仕切壁3と
保護層5とで密封することができるので、水素吸蔵合金
層4の基板からの剥離、脱落をほぼ防止できると共に、
保護層5が導電性仕切壁3を介して基板2と導通してい
るので、水素吸蔵合金層4と基板2との導通がより良好
になり、水素の吸蔵脱離反応が円滑化し、電気化学反応
が円滑になる。
μm程度の範囲がよく、一般的には0.1μm程度であ
る。更に、図4、図5に示すように、(第1層)導電性
仕切壁3の上に第2層導電性仕切壁3aを、更に第2導
電性仕切壁3aの上に第3層導電性仕切壁3bを突設
し、仕切壁を2段、3段と積み重ね、これらの仕切壁の
空隙を水素吸蔵合金で充填する構造とすることもでき
る。これにより、水素吸蔵合金層の基板からの剥離脱落
を可及的に防止しながら、水素吸蔵合金層の更なる厚膜
化が可能となる。この場合、図4、図5に示すように、
第1層仕切壁3を互いに平行に形成し、第2層仕切壁3
aを第1層仕切壁3と直交方向に互いに平行に形成し、
更に、第3層仕切壁3bを第2層仕切壁3aと直交方向
に互いに平行に形成するような構造とすることができ、
これにより仕切壁の容積を少なくして水素吸蔵合金層の
容量を大きくしながら厚膜化し、かつ基板との導通を確
保することができる。また、このような構成とせずに、
桝状の導電性仕切壁をそのまま積み重ねて桝を深くする
構造としても勿論よい。
仕切壁3を構成する材料は水素透過性の材料を用いるこ
とができ、更に、保護層5を最上層に形成することもで
きる。次に、本発明の水素吸蔵合金膜複合体の製造方法
の一例について、図6、図7により、具体的に説明す
る。
板2の表面に例えばポリシリコンをCVDにより成膜す
る。このポリシリコン層20の厚さは、所望の導電性仕
切壁の高さとほぼ同じにする。次いで、図6(2)に示
すように、ポリシリコン層20の上に例えば酸化ケイ素
等のマスク層21をCVD又は熱酸化などで形成した
後、このマスク層21の上にレジスト膜Rを成膜する。
ト膜Rを露光した後、現像してレジスト膜Rをパターニ
ングし、次に、図6(4)に示すように、マスク層21
をエッチングしてマスク層21をパターニングした後、
レジスト膜Rをドライエッチングにより除去する。
ニングしたマスク層21をマスクとして、ポリシリコン
層20を反応性イオンエッチング(RIE)により垂直
にエッチングして、エッチング孔23を形成する。次
に、図7(6)に示すように、ニッケル、銅などの金属
をCVDなどにより堆積し、導電層24でポリシリコン
層20に形成された垂直なエッチング孔23を埋める。
更に、例えば化学的機械研磨(CMP)等の研磨によ
り、ポリシリコン層20の上に形成されている金属層2
4及びマスク層21を除去し、図7(7)に示すよう
に、表面が平滑なポリシリコン層20と上記エッチング
孔23を埋めて壁状に形成された導電性仕切壁3を得
る。
リコン層20を除去すると、図7(8)に示すように、
導電性仕切壁3が基板2から立設した状態で残存する。
そして、図7(9)に示すように、基板2上に水素吸蔵
合金を導電性仕切壁3間の間隙を埋めるように成膜す
る。この場合、例えばスパッタリング法、イオンプレー
ティング法等、イオンビーム法、蒸着法等物理的蒸着
法、あるいは化学的蒸着法を採用することができ、雰囲
気も、真空、不活性ガス、あるいは不活性ガスに水素ガ
スを混合したガスなど蒸着法、水素吸蔵合金膜等の性質
に応じて選択することができる。例えば、ニッケル基板
にLaNi5 膜をイオンプレーティング法で成膜する場
合、基板の温度は300〜600℃、基板のバイアスは
0〜−1000ボルト、雰囲気は大気、RFパワーは1
00〜500W、成膜レートはLaが14.4Å/s程
度、Niが22.32Å/s程度の条件を採用すること
ができる。
どで表面を平滑化して図1に示した本発明の水素吸蔵合
金膜複合体1を得ることができる。この後は、必要によ
り、同じ工程を繰り返して、2段、3段と積み重ねるこ
とができる。更に、必要により、最上層にスパッタ法、
イオンプレーティング法、蒸着法などにより銀・パラジ
ウム合金膜を成膜して保護層を形成することができる。
体は、長期の充放電サイクル特性に優れ、かつ水素の吸
蔵量を大きくすることができるので、例えばアルカリ二
次電池の負極や燃料電池用の電極などに好適に利用する
ことができる。本発明の水素吸蔵合金膜複合体は、上記
実施例に限定されるものではない。例えば、導電性仕切
壁の形状は、上記格子状ではなく、その他の形状であっ
てもよく、その他本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々
変更し得る。
性基板上に形成した水素吸蔵合金膜が、水素の吸蔵放出
を繰り返しても導電性基板から剥離、脱落し難く、この
ため繰り返し充放電による放電容量の低下を可及的に防
止し得、しかも、水素吸蔵合金膜を厚膜化しても、導電
性が低下しないので、厚膜化して水素吸蔵放出能力を大
きくすることができる。
す断面図である。
示す断面図である。
例を示す断面図である。
合体の平面図である。
(1)〜(5)を示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
Claims (4)
- 【請求項1】導電性基板と、該導電性基板の表面に立設
した導電性仕切壁と、この導電性仕切壁間の間隙を埋め
る如く形成された水素吸蔵合金層とを有し、 前記導電性仕切壁が水素透過性である 水素吸蔵合金膜複
合体。 - 【請求項2】導電性基板の表面に立設した導電性仕切壁
の上に更に1層以上立設された上層導電性仕切壁と、該
上層導電性仕切壁間の間隙を埋めた水素吸蔵合金層とを
更に有し、 前記上層導電性仕切壁が水素透過性である 請求項1記載
の水素吸蔵合金膜複合体。 - 【請求項3】導電性仕切壁及び上層導電性仕切壁のいず
れか一方又は双方が格子状に形成された請求項1又は2
記載の水素吸蔵合金膜複合体。 - 【請求項4】導電性及び水素透過性の保護層で導電性仕
切壁又は上層導電性仕切壁と水素吸蔵合金層との外表面
を被覆する請求項1乃至3いずれか記載の水素吸蔵合金
膜複合体。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP15064695A JP3236907B2 (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 水素吸蔵合金膜複合体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP15064695A JP3236907B2 (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 水素吸蔵合金膜複合体 |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH097584A JPH097584A (ja) | 1997-01-10 |
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ID=15501406
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JP15064695A Expired - Fee Related JP3236907B2 (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 水素吸蔵合金膜複合体 |
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Families Citing this family (2)
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-
1995
- 1995-06-16 JP JP15064695A patent/JP3236907B2/ja not_active Expired - Fee Related
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