JP3230639B2 - 地絡検出装置 - Google Patents

地絡検出装置

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JP3230639B2 JP28233294A JP28233294A JP3230639B2 JP 3230639 B2 JP3230639 B2 JP 3230639B2 JP 28233294 A JP28233294 A JP 28233294A JP 28233294 A JP28233294 A JP 28233294A JP 3230639 B2 JP3230639 B2 JP 3230639B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、動作を点検するテス
ト回路を備えた地絡検出装置に関するもので、特に、動
作点検用に使用される遠隔テストスイッチと地絡検出装
置を結ぶリード線の浮遊コンデンサ容量に起因する地絡
検出装置の誤動作を防止しようとするものである。
【0002】
【従来の技術】図6、図7は従来の地絡検出装置の構成
を示す回路図である。図において、1は交流電路、2は
零相変流器、2aはその2次巻線、3は2次巻線2aに
接続された地絡検出回路、4は上記地絡検出回路3の出
力端に接続されたサイリスタ、5はこのサイリスタ4の
導通により駆動される、例えば電磁リレー装置のような
出力装置、6は上記地絡検出回路3への電源供給回路に
接続された電圧降下抵抗、7は整流回路、8は人為的に
疑似漏電テストを行うテスト端子、9は遠隔テストスイ
ッチ、10はテスト端子8と遠隔テストスイッチ9とを
接続するリード線、11はインピーダンス素子、12は
上記零相変流器2に巻回されたテスト巻線、14は整流
回路7の直流を平滑化するコンデンサである。なお、図
6においては、テスト端子8とインピーダンス素子11
とによって、また、図7においてはテスト端子8とイン
ピーダンス素子11とテスト巻線12とによって、それ
ぞれテスト回路13を構成している。
【0003】このように構成された従来の地絡検出装置
の動作について説明する。交流電路1に漏電または地絡
が発生した場合、零相変流器2は、その2次巻線2aに
地絡検出信号を発生し、この信号は地絡検出回路3へ入
力される。地絡検出回路3は、地絡検出信号の大きさを
判別し、さらに所定の大きさを超える時間の長さ、及び
地絡検出信号の連続性を判定した後、地絡検出回路3の
出力でサイリスタ4を駆動し、出力装置5を動作させ
る。出力装置5の作動により接点出力等が出力される。
【0004】ここで、整流回路7は、交流電路1の電圧
を整流して地絡検出回路3の作動直流電源を得るもので
ある。また、電圧降下抵抗6は、交流電路1の高い電
圧、例えば100V、200V、400V等を、地絡検
出回路3の作動電源に必要な電圧、例えば12V、24
V等に分圧低下させる直列抵抗である。さらに、コンデ
ンサ14は、整流回路7で得た脈流を地絡検出回路3の
電源として必要な直流に平滑するものである。
【0005】図6において、遠隔テストスイッチ9を閉
路すると、交流電路1から交流電流が引き出され、これ
が遠隔テストスイッチ9とインピーダンス素子11を経
由して地絡検出回路3の入力端子へ直接加わり、この交
流電流がテスト信号として地絡検出回路3に検出され、
テストが行われる。
【0006】図7においては、インピーダンス素子11
には地絡検出回路3に電源を供給するための交流消費電
流が流れている。遠隔テストスイッチ9を閉路すると、
インピーダンス素子11に流れていた上記交流電流の一
部がテスト巻線12に分流し、零相変流器2を励磁し、
地絡検出回路3にテスト信号を供給し、地絡検出装置の
動作のテストを行うことができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図6の構成
においては、遠隔テストスイッチ9が開路している場
合、その両端には交流電路1の線間電圧が直接印加され
ているので、テスト回路13が発生するテスト信号の大
きさは、交流電路1の電圧に応じて変動する。このた
め、テスト回路13が発生するテスト信号の大きさは、
交流電路1の電圧に正比例し、図8のようになる。即
ち、図8において、(a)は交流電路1の電圧が400
Vのときのテスト信号の大きさを示す。同様に、(b)
は200V、(c)は100Vのときのテスト信号の大
きさである。(d)は地絡検出回路3の検出レベルで、
地絡検出信号がこのレベルを超えている時間が、地絡検
出回路3に設定されている規定の時間Tより長いとき、
地絡検出回路3に地絡検出信号がカウントされる。この
カウントが、例えば、負→正→負の順に3回連続したと
き、地絡検出回路3がサイリスタ4に動作信号を出す。
つまり、図8において、T1>T、T2>T、T3>T
のとき地絡検出回路3が動作信号を出す。なお、(e)
は地絡検出回路3で決められている基準電圧(正電圧)
である。
【0008】図6の回路では、T1、T2、T3の大き
さは、地絡検出レベル(d)と交流電路1の電圧によっ
て決定される。地絡検出レベルは一通りにしか設定でき
ないため、例えば、交流電路1の電圧が100Vのとき
に合わせて地絡検出レベルを設定したとき、交流電路1
の電圧が200V、400Vのときにはテスト信号が大
きすぎるため、地絡検出回路3が故障する恐れがある。
逆に、交流電路1の電圧が400Vのときに合わせて地
絡検出レベルを設定したとき、交流電路1の電圧が10
0V、200Vのときにはテスト信号が小さすぎるた
め、地絡検出回路3がこれを検出できなくなる恐れがあ
る。インピーダンス素子11のインピーダンス値を調整
することにより、これらの懸念はある程度解消される
が、それでも、交流電路1の電圧が100V、200
V、400Vのいずれにも対応できる装置を得ることは
困難である。
【0009】さらにまた、テスト端子8から遠隔テスト
スイッチ9までのリード線10の浮遊コンデンサ容量を
通ずる電流が、テスト回路を誤動作させるという問題点
があった。これは、近年、交流電路1に接続される負荷
にインバータを含む負荷が多くなり、インバータから生
じる高調波によりリード線10の浮遊コンデンサ容量を
通って流れる電流が、商用周波電流より増加し、遠隔テ
ストスイッチ9を閉路していないにもかかわらず、テス
ト回路13から出力が出て誤動作を引き起こすためであ
る。
【0010】一方、図7においては、テスト端子8から
遠隔テストスイッチ9までのリード線10の浮遊コンデ
ンサ容量の影響で、テスト巻線12に微小電流が流れ、
零相変流器2の2次巻線2aに微小な起電力が発生する
ため、地絡検出回路3の感度電流値が変化するという問
題点があった。
【0011】この発明は、かかる問題点を解消するため
になされたもので、テスト端子8から遠隔テストスイッ
チ9に至るリード線10の浮遊コンデンサ容量の影響で
の誤動作、または、感度電流値の変化を防止することを
目的としており、さらに、交流電路1の電圧に関係なく
安定したテスト動作が可能な地絡検出装置を得ることを
目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明に係る地絡検出
装置は、交流電路に挿入された零相変流器、この零相変
流器の2次巻線からの出力が所定値を超えるときに動作
する上記交流電路の地絡検出回路、上記交流電路の電圧
を整流して上記地絡検出回路に電源を供給する整流回
路、この整流回路から電源が供給され、疑似漏電信号を
上記地絡検出回路に出力する発振回路、上記整流回路か
ら上記発振回路への電源供給回路に挿入され、上記地絡
検出回路の動作を点検するテストスイッチを備えたもの
である。
【0013】また、発振回路は、スイッチング素子
ストスイッチとの直列体を介して整流回路から電源供給
を受け、上記スイッチング素子は、地絡検出回路の動作
出力により上記整流回路からの電源供給を低減するよう
制御されるよう構成されている。
【0014】
【作用】この発明における地絡検出装置は、そのテスト
回路に地絡検出回路電源用整流回路を電源とした発振回
路で疑似漏電電流を生成させるようにして、発振回路の
電源回路に直列にテストスイッチを設けることにより、
テストスイッチをリード線を延長して遠隔テストスイッ
チとした場合のリード線間に印加される電圧を低くし、
リード線の浮遊コンデンサ容量による漏れ電流を抑え、
発振回路の誤動作を防止する。
【0015】また、発振回路の電源入力側に直列にスイ
ッチング素子を挿入し、このスイッチング素子の制御端
子を地絡検出回路の動作出力で制御することにより、
絡検出回路の動作時に、整流回路からの電源供給を低減
するように制御し、テストスイッチを押し続けた場合の
発振回路及び電圧降下抵抗に流れる電流を抑制して、発
振回路及び電圧降下抵抗の焼損を防止する。
【0016】
【実施例】実施例1. 以下、この発明の実施例を図について説明する。図1に
おいて、1乃至10、及び14は上記従来装置で説明し
たものと同様である。19は整流回路7、電圧降下抵抗
6、及びコンデンサ14とともに交流電路1の電圧から
一定の直流電圧を得るためのインピーダンス素子で、こ
の例では、電圧降下抵抗6の出力側において、交流電路
1の電圧にかかわらず直流電圧24Vを得ている。15
は発振回路で、整流回路7からテスト端子8及び遠隔テ
ストスイッチ9を介して電源が供給され、地絡検出回路
3へ矩形波電圧を出力する。この発振回路15は、遠隔
テストスイッチ9により電源の供給が制御されるもの
で、遠隔テストスイッチ9を閉路することにより電源が
供給されて発振回路15が動作し、地絡検出回路3へ矩
形波の疑似漏電出力が加えられる。発振回路15で発生
した疑似漏電出力である矩形波電圧は、地絡検出回路3
の入力段にテスト信号として伝達される。従って、発振
回路15の出力電圧を図2のように適切に設定すること
により、地絡検出装置の動作のテストを行うことができ
る。なお、図2の(a)はテスト信号の大きさ、(b)
は地絡検出回路3の検出レベル、(c)は地絡検出回路
3の基準電圧をそれぞれ示している。
【0017】次にその動作を説明する。図1において、
漏電または地絡が発生した場合の地絡電流の検出から出
力装置5の動作までは従来の装置と同じである。また、
電圧降下抵抗6、整流回路7、コンデンサ14により地
絡検出回路3に電源を供給する動作も従来のものと同じ
であり、同時にテスト回路13にも電源を供給する。
【0018】発振回路15の電源には、地絡検出回路3
への供給電圧と同じ電圧、即ち、定電圧を使用している
ため、交流電路1の電圧がどのような大きさの電圧であ
っても、電圧降下抵抗6によって発振回路15の電源に
一定電圧が与えられる。従って、テスト信号の大きさ
は、交流電路1の電圧にかかわらず一定であり、図2に
おけるT1、T2の値を適切に設定した発振回路15を
構成すれば、交流電路1の電圧に関係なく、安定した地
絡検出装置の動作テストが可能になる。
【0019】一般に、テスト端子8から遠隔テストスイ
ッチ9に至るリード線10には浮遊コンデンサ容量があ
るが、この発明の構成では、リード線10には整流回路
7の出力側の低電圧が印加されており、遠隔テストスイ
ッチ9が開路の場合には浮遊コンデンサ容量を通して微
小電流が流れるが、その大きさは発振回路15を動作さ
せるには至らない。従って、リード線10の浮遊コンデ
ンサ容量に起因する誤動作、または感度電流値の変化は
発生しない。
【0020】なお、上記の例では、発振回路15の出力
電圧波形を矩形波にしているが、発振回路15の電源電
圧が一定であるので、適切な出力電圧の設定のもとで、
正弦波、三角波等の電圧波形を用いても同様の作用が期
待できる。つまり、三角波の場合、図3に示すように、
T1>T、T2>T、T3>T(ただし、Tは地絡検出
回路3によって決まっている規定時間である)となるよ
うに、振幅、周波数等を設定すれば、上記と同様な効果
を奏する。なお、図3において、(a)はテスト信号の
大きさ、(b)は地絡検出回路3の検出レベル、(c)
は地絡検出回路3の基準電圧をそれぞれ示している。
【0021】実施例2. 地絡が発生したとき、零相変流器2の2次巻線2aに起
電力が生じ、2次巻線2aと地絡検出回路3の間に電流
が流れるが、この電流が発振回路15を通して流出する
と、地絡検出回路3の感度電流値が変化する。実施例2
はこの感度電流値の変化を防止できる地絡検出装置を得
ようとするものである。
【0022】図4はこの発明の実施例2の地絡検出装置
を示す回路構成図である。図において、1乃至11、及
び13乃至15は上記実施例1と同様のものである。1
6はフォトトランジスタカプラ等のフォトカプラで、発
光側16aはテスト端子8と発振回路15の電源側の間
に挿入されており、受光側16bは発振回路15の出力
と地絡検出回路3の入力段との間に挿入されている。こ
れらテスト端子8、フォトカプラ16、及び発振回路1
5でテスト回路13を構成している。18はダイオード
であり、発振回路15から地絡検出回路3への疑似漏電
信号の出力を可能にして、零相変流器2の2次巻線2a
からの地絡信号の発振回路15への流入を阻止する。
【0023】次に動作について説明する。遠隔テストス
イッチ9を押して閉路した場合、発振回路15が疑似漏
電電流を出力する。このとき発振回路15への電源電流
がフォトカプラ16の発光側16aへ通電されているの
で、フォトカプラ16の受光側16bは導通状態にあ
り、疑似漏電電流は地絡検出回路3へ出力され、地絡検
出装置の動作テストを行うことができる。また、地絡検
出装置の実使用において地絡が発生したときは、遠隔テ
ストスイッチ9が開路状態にあり、フォトカプラ16の
発光側16aへの通電がなく、フォトカプラ16の受光
側16bは非導通状態にある。従って、実際の地絡によ
り、零相変流器2の2次巻線2aの出力が地絡検出回路
3と発振回路15に流れようとするが、フォトカプラ1
6の受光側16bが非導通状態であるので発振回路15
への流入は阻止される。
【0024】このように、フォトカプラ16の受光側1
6bを発振回路15と地絡検出回路3との間に接続する
ことにより、発振回路15への電流流入が防止できるた
め、地絡検出回路3の感度電流値の変化を防止すること
ができる。なお、遠隔テストスイッチ9が開路のとき、
発振回路15の出力段の電位を地絡検出回路3の入力段
の電位より低く設定して、ダイオード18により地絡検
出回路3への電流の流入を阻止している。
【0025】なお、上例では、フォトカプラ16とダイ
オード18により発振回路15と地絡検出回路3との伝
達制御をする構成を示したが、これをフォトトライアッ
クカプラ等の伝達素子に変えても{よくこの場合はダイ
オード18は省略しても}同様の動作が可能である。
【0026】実施例3. 上記実施例2では、遠隔テストスイッチ9を閉路し続け
ると、整流回路7に対し、遠隔テストスイッチ9→フォ
トカプラ16の発光側16a→発振回路15の閉回路が
形成され、電流が流れ続ける。この閉回路は抵抗が小さ
いのでその発熱により発振回路15または電圧降下抵抗
6が焼損する恐れがあった。実施例3は遠隔テストスイ
ッチを閉路し続けても、発振回路、電圧降下抵抗の焼損
を起こさない地絡検出装置に関するものである。
【0027】図5はこの発明の実施例3の地絡検出装置
を示す回路構成図である。図において1乃至11、及び
13乃至16は実施例2と同じである。17は例えばF
ET等のスイッチング素子で、その入力端子は遠隔テス
トスイッチ9を介して直流低電圧の電源電圧に接続さ
れ、出力端子はフォトカプラ16の発光側16aを介し
て発振回路15の電圧入力部に接続されている。スイッ
チング素子17の制御端子17aは出力装置5とサイリ
スタ4の中間の電位に設定されている。
【0028】次に動作について説明する。遠隔テストス
イッチ9が閉路された直後は、サイリスタ4が不動作の
状態にあり、制御端子17aは高電位である。従って、
遠隔テストスイッチ9の閉路によりスイッチング素子1
7は、フォトカプラ16の発光側16aと発振回路15
への通電を多くして発振回路15の疑似漏電電流により
地絡検出回路3を動作させ、サイリスタ4を導通して出
力装置5を動作させ、地絡検出テストが完了する。その
後も引き続き遠隔テストスイッチ9が閉路された状態で
は、サイリスタ4の導通により、制御端子17aの電位
が低電位に変わるので、スイッチング素子17はフォト
カプラ16の発光側16aから発振回路15へ流れる電
流を低減し、発振回路15、電圧降下抵抗6が焼損しな
い程度の値に制限できる。
【0029】なお、上記各実施例において、リード線1
0を介して遠隔スイッチ9を設けた例を説明したが、テ
スト端子8に直接テストスイッチを設けた場合にも同様
の効果を奏することは明白である。
【0030】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、遠隔
テストスイッチまでのリード線の浮遊コンデンサ容量の
影響による誤動作や、検出感度電流値の変化が少なく、
検出精度の高い地絡検出装置を得ることができる。
【0031】また、テスト回路を閉路し続けても回路素
子が焼損しない地絡検出装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施例1に係る地絡検出装置を示
す回路構成図である。
【図2】 実施例1の発振回路の出力波形の一例を示す
図である。
【図3】 実施例1の発振回路の出力波形の他の例を示
す図である。
【図4】 この発明の実施例2に係る地絡検出装置を示
す回路構成図である。
【図5】 この発明の実施例3に係る地絡検出装置を示
す回路構成図である。
【図6】 従来の地絡検出装置を示す回路構成図であ
る。
【図7】 従来の地絡検出装置を示す回路構成図であ
る。
【図8】 従来の地絡検出装置のテスト回路の動作を説
明する図である。
【符号の説明】
1 交流電路、2 零相変流器、2a 2次巻線、3
地絡検出回路、 4 サイリスタ、5 出力装置、6 電圧降下抵抗、7
整流回路、 8 テスト端子、9 遠隔テストスイッチ、10 リー
ド線、 11 インピーダンス素子、13 テスト回路、14
コンデンサ、 15 発振回路、16 フォトカプラ、16a フォト
カプラ発光部、 16b フォトカプラ受光部、17 スイッチング素
子、17a 制御端子、18 ダイオード。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H02H 3/347 H02H 3/34

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 交流電路に挿入された零相変流器、この
    零相変流器の2次巻線からの出力が所定値を超えるとき
    に動作する上記交流電路の地絡検出回路、上記交流電路
    の電圧を整流して上記地絡検出回路に電源を供給する整
    流回路、この整流回路から電源が供給され、疑似漏電信
    号を上記地絡検出回路に出力する発振回路、上記整流回
    路から上記発振回路への電源供給回路に挿入され、上記
    地絡検出回路の動作を点検するテストスイッチを備えた
    ことを特徴とする地絡検出装置。
  2. 【請求項2】 発振回路は、スイッチング素子テスト
    スイッチとの直列体を介して整流回路から電源供給を受
    け、上記スイッチング素子は、地絡検出回路の動作出力
    により上記整流回路からの電源供給を低減するように
    御されるよう構成されていることを特徴とする請求項
    記載の地絡検出装置。
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