JP3221751B2 - X線回折装置の微回転ゴニオメータ - Google Patents
X線回折装置の微回転ゴニオメータInfo
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Description
オメータの試料台や検出器支持台を微小回転させるため
の微回転ゴニオメータに関する。
は、試料台を微小回転させるための特別なゴニオメータ
が使用される。このような微小回転を可能にするゴニオ
メータを、以下、微回転ゴニオメータと呼ぶ。
方式あるいはタンジェントバー方式(タンジェンシャル
スクリュー方式)を採用している。図7の(A)はサイ
ンバー方式の微回転ゴニオメータの原理を示した平面図
である。試料台の回転軸10に直角にアーム12が固定
され、アーム12の先端付近がマイクロメータ14のス
ピンドル16に押されるようになっている。スピンドル
16とは反対の側には、押圧ばね17に支持された支持
棒18がある。アーム12の先端付近には鋼球20が埋
め込まれていて、スピンドル16の端面(平坦面)は鋼
球20に接触する。基台22に固定されたマイクロメー
タ14を回転させると、スピンドル16が直線運動し
て、アーム12が微小角度だけ回転する。回転軸10の
回転中心から鋼球20の中心までの距離をL、スピンド
ル16の移動距離(すなわち鋼球20の中心がスピンド
ル16の移動方向に動く距離)をx、アーム12の回転
角をθとすると、これらの間には次の関係がある。
ニオメータはサインバー方式と呼ばれる。上記式(1)
において、θの単位をラジアンとし、θが十分小さいと
き(距離Lに対して移動距離xが十分短いとき)は、次
式のように近似できる。
ル16の変位xと、アーム12の角度θとは比例関係に
あり、ゴニオメータの回転軸10を微小角度だけ回転さ
せるには、その回転角度に比例した量だけスピンドル1
6を変位させている。例えば、L=206.3mmにす
ると、スピンドルの変位1μmが、アーム12(すなわ
ち回転軸10)の回転角度1秒に相当する。
回転ゴニオメータの原理を示した平面図である。この方
式では、マイクロメータ14bのスピンドル16bの先
端が尖っており、これでアーム12bの平坦面13を押
している。回転軸10の回転中心からスピンドル16b
の先端までの距離をL、スピンドル16の移動距離を
x、アーム12bの回転角をθとすると、これらの間に
は次の関係がある。
ニオメータはタンジェントバー方式と呼ばれる。上記式
(5)及び(6)においても、θの単位をラジアンと
し、θが十分小さいとき(距離Lに対して移動距離xが
十分短いとき)は、式(3)及び(4)と同様に近似で
きる。
ントバー方式の複合型の微回転ゴニオメータの原理を示
した平面図である。この方式では、マイクロメータ14
cのスピンドル16cの先端に鋼球20cを埋め込んで
あり、これでアーム12cの平坦面13cを押してい
る。
マイクロメータのスピンドルの変位を回転角度に変換す
ることによって、回転軸を微小角度だけ正確に回転させ
るようにしている。
するためには、図8の(A)に示すように、モータ5に
よるウォーム2の回転をウォームホイール4に伝える形
式のゴニオメータが用いられている。この広角ゴニオメ
ータでは、通常、0.001度(3.6秒)のステップ
サイズで回転できるが、そのステップ精度は±1秒程度
である。また、ウォーム軸の1回転はゴニオメータの回
転角で1度に相当するが、ウォーム軸の1回転の間に数
秒の酔歩が存在する。さらに、ゴニオメータ回転軸6と
ウォームホイール4との間の偏心ずれやウォームホイー
ル4の真円からのずれによる累積誤差は全振幅で20秒
程度ある。図8の(B)に示すように、ウォーム軸に減
速機8をつけてステップサイズを小さくする処理をした
ゴニオメータもあるが、この場合は、減速機8による誤
差も伴う。したがって、通常の広角ゴニオメータは、測
定の目的によっては、必要な精度が得られない場合があ
る。
ゴニオメータにおいては、回転角度θが小さい範囲では
精度の高い微小回転を実現できるが、θの角度が大きく
なるにしたがって、誤差が拡大する。すなわち、式
(4)の近似式と式(2)の理論式の間の誤差分だけ、
誤差が拡大する。したがって、回転角度θの広い範囲に
わたっての角度制御には従来の微回転ゴニオメータを用
いることができない。例えば、角度誤差をコンマ数秒以
内にしたいときには、θを±1度の範囲内で使用しなけ
ればならない。また、角度誤差を1秒以内とする場合
は、θを±2度の範囲内で使用しなければならない。
よる精密X線回折装置に用いられ、主としてロッキング
カーブの測定に用いられてきた。例えば、ロッキングカ
ーブの測定によって、基板結晶上にエピタキシャル成長
させた単結晶薄膜のミスマッチ量を求めることができ
る。このような場合の測角範囲は数百秒程度でよく、従
来の微回転ゴニオメータで何ら問題はなかった。しか
し、薄膜の構造も複雑になり、微回転ゴニオメータを超
格子の周期測定にも利用するようになってきた。超格子
の周期測定のためには、ブラッグ反射のまわりに出現す
るサテライト反射(衛星反射)の角度位置を測定する必
要があるが、この場合の測角範囲は5〜6度に及ぶこと
もある。また、小角領域にも超格子の周期に応じたピー
クが現れ、その角度位置により周期を決定することがで
きるが、この場合の測角範囲はやはり5〜8度程度にな
る。このような広い範囲の精密測定には、従来の微回転
ゴニオメータでは誤差が大きくて対応できなかった。
タの誤差を示したものである。この誤差Δθは次の式
(7)で計算できる。
オメータの誤差を示したものである。この誤差Δθは次
の式(8)で計算できる。
わたって精密な角度制御が可能な微回転ゴニオメータを
提供することにある。
タの回転軸にアームが固定され、このアームは前記回転
軸の回転中心から離れる方向に延び、前記アームの先端
付近は直線移動装置によって移動可能にされている、X
線回折装置の微回転ゴニオメータにおいて、前記アーム
及び前記直線移動装置の一方に突起部が形成され、他方
にインボリュート曲線の形状をした平滑面が形成され、
前記突起部と前記平滑面が互いにすべり接触しながら、
直線移動装置の移動によってアームが回転することを特
徴としている。
発明を適用する場合には、アームの先端付近に突起部と
して鋼球を埋め込み、直線移動装置の先端にインボリュ
ート曲線の形状をした平滑面を形成する。タンジェント
バー方式及び複合型の微回転ゴニオメータに本発明を適
用する場合には、アームの先端付近にインボリュート曲
線の形状をした平滑面を形成し、直線移動装置の先端に
は、尖った突起部を形成するか、鋼球を埋め込む。
面を構成することにより、直線移動装置の変位とアーム
の回転角とを常に比例関係に保っている。これにより、
直線移動装置の制御方法を従来の微回転ゴニオメータと
全く同じにしたままで、従来の微回転ゴニオメータと比
較して広い角度範囲で誤差を生じることなくゴニオメー
タの精密な角度制御が可能となる。
結晶法を用いた精密X線回折装置や、X線鏡面反射の反
射率測定装置などに利用すると効果的である。
ある。この実施例は、第1の発明をタンジェントバー方
式の微回転ゴニオメータに適用したものである。図1の
(A)において、ゴニオメータの回転軸24にはアーム
26が固定され、このアーム26は回転軸24の中心か
ら離れる方向に回転軸24に対して垂直に延びている。
アーム26の先端には平滑面28が形成されている。こ
の平滑面28はマイクロメータ30のスピンドル32に
押されるようになっている。スピンドル32の先端は針
状に尖っている。スピンドル32とは反対の側には、押
圧ばね34に支持された支持棒36がある。基台38に
固定されたマイクロメータ30を回転させると、スピン
ドル32が直線運動して、スピンドル32の先端とアー
ム26の平滑面28がすべり接触しながら、アーム26
が微小角度だけ回転する。マイクロメータ30はモータ
駆動による差動マイクロメータであり、そのスピンドル
32は回転することなく図面の上下方向に移動できる。
方向に回転した状態を示す。ここで、回転軸24の回転
中心からスピンドル32の中心までの距離をL、スピン
ドル32の移動距離をx、アーム26の回転角をθとす
る。
である。アーム26の平滑面28は、ゴニオメータの回
転軸に垂直な平面で切断したときの形状が、インボリュ
ート曲線となっている。このインボリュート曲線の基礎
円40はその直径がLに等しい。アーム26が実線の位
置にあるときに、スピンドル32は点aにおいて平滑面
28に接触している。スピンドル32が距離xだけ図面
の上方に移動すると、アーム26はθだけ回転し、アー
ム26上の点aは点bに移動する。一方、スピンドル3
2の先端は、平滑面28上を滑って、点aから点cに移
動する。平滑面28はインボリュート曲線で形成されて
いるので、円弧abの長さは、直線acの長さに等し
い。また、円弧abの長さは角度θに比例し、L×θと
なる(ただし、θの単位はラジアン)。したがって、ス
ピンドル32の移動距離x(すなわち直線acの長さ)
も、L×θとなる。これにより、スピンドル32の変位
xとアーム26の回転角度θとは常に厳密に比例関係を
保つことになる。その結果、従来の微回転ゴニオメータ
の欠点、すなわち回転角度が増大するに連れて誤差が増
大すること、が解消された。
は、アーム26が基準状態よりも反時計方向側にあると
きにのみ使用できる。したがって、この微回転ゴニオメ
ータを使用するときは、測定したい角度範囲のうちで最
も時計方向側の角度位置をアーム26の基準状態にもっ
てくる必要がある。このゴニオメータによれば、平滑面
28を構成するインボリュート曲線の長さに相当するす
べての角度範囲において精密な角度制御が可能となる。
この実施例では10°以上の角度範囲で精密な角度制御
が可能となった。その測角精度は、平滑面28のインボ
リュート曲線の加工精度にも依存するが、0.1〜0.
5秒程度である。平滑面28の加工は、数値制御の研磨
機により容易に実施できる。
計方向側にあるときにのみ使用できるタンジェントバー
方式の微回転ゴニオメータの、アームの先端付近の拡大
図である。平滑面28aは、図2に示したのと逆方向に
カーブするようなインボリュート曲線からなる。この場
合も、厳密にx=L×θとなる。
の発明を適用した実施例の、図2と同様の拡大平面図で
ある。この場合、スピンドル32bの先端には鋼球42
が埋め込まれている。平滑面28bは、図2と同じイン
ボリュート曲線で形成されている。インボリュート曲線
の性質から、アーム26bの回転角度θが変化しても、
スピンドル32bの中心線44と、平滑面28bとは、
常に垂直に交わる。したがって、鋼球42は、常に図面
の最上点の位置において平滑面28bと接触する。ゆえ
に、スピンドル32bの変位xは、x=[直線acの長
さ]=[円弧abの長さ]=L×θとなる。この複合型
の実施例においても、図3と同様に、時計方向回転に適
用できるような変更例が可能である。
ータにこの発明を適用した実施例の、図2と同様の拡大
平面図である。この場合、アーム26cの先端付近に鋼
球42cが埋め込まれている。一方、スピンドル32c
の先端には、インボリュート曲線からなる平滑面28c
が形成されている。回転軸の中心から鋼球42cの中心
までの距離(すなわち、回転軸の中心からスピンドル3
2cの中心線44cまでの距離)をLとすると、インボ
リュート曲線の基礎円40の直径はLに等しい。アーム
26cが実線の位置にあるときに、スピンドル32cの
平滑面28cは、点aにおいて鋼球42cに接触してい
る。スピンドル32cが距離xだけ図面の上方に移動す
ると、アーム26cはθだけ回転し、鋼球42c上の点
aは、平滑面28c上をすべって、点bに移動する。一
方、平滑面28c上の点aは、点cに移動する。インボ
リュート曲線の性質から、円弧abは常に平滑面28c
と垂直に交わる。したがって、鋼球42cが平滑面28
cに接触するときの鋼球42c上の接触点は常に一定で
ある。スピンドル32cの変位xは、x=[直線acの
長さ]=[円弧abの長さ]=L×θとなる。このゴニ
オメータは、アーム26cが基準状態よりも反時計方向
側にあるときにのみ使用できる。
計方向側にあるときのみ使用できるサインバー方式の微
回転ゴニオメータの、アームの先端付近の拡大図であ
る。平滑面28dは、図5に示したのと逆方向にカーブ
するようなインボリュート曲線からなる。この場合も、
厳密にx=L×θとなる。
ボリュート曲線を用いて平滑面を構成することにより、
直線移動装置の変位とアームの回転角度とを厳密に比例
関係に保つことができ、従来の微回転ゴニオメータと比
較して広い角度範囲でゴニオメータの精密な角度制御が
可能となる。
平面図である。
る。
大平面図である。
近の拡大平面図である。
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 ゴニオメータの回転軸にアームが固定さ
れ、このアームは前記回転軸の回転中心から離れる方向
に延び、前記アームの先端付近は直線移動装置によって
移動可能にされている、X線回折装置の微回転ゴニオメ
ータにおいて、 前記アーム及び前記直線移動装置の一方に突起部が形成
され、他方にインボリュート曲線の形状をした平滑面が
形成され、前記突起部と前記平滑面が互いにすべり接触
しながら、直線移動装置の移動によってアームが回転す
ることを特徴とする微回転ゴニオメータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30585192A JP3221751B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | X線回折装置の微回転ゴニオメータ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30585192A JP3221751B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | X線回折装置の微回転ゴニオメータ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06130194A JPH06130194A (ja) | 1994-05-13 |
JP3221751B2 true JP3221751B2 (ja) | 2001-10-22 |
Family
ID=17950132
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30585192A Expired - Fee Related JP3221751B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | X線回折装置の微回転ゴニオメータ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3221751B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008039436A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Rigaku Corp | X線回折測定における角度補正方法及びx線回折装置 |
-
1992
- 1992-10-21 JP JP30585192A patent/JP3221751B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008039436A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Rigaku Corp | X線回折測定における角度補正方法及びx線回折装置 |
JP4662370B2 (ja) * | 2006-08-01 | 2011-03-30 | 株式会社リガク | X線回折測定における角度補正方法及びx線回折装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06130194A (ja) | 1994-05-13 |
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