JP3217260U - Edge inspection device for irregular shaped substrate - Google Patents
Edge inspection device for irregular shaped substrate Download PDFInfo
- Publication number
- JP3217260U JP3217260U JP2018001808U JP2018001808U JP3217260U JP 3217260 U JP3217260 U JP 3217260U JP 2018001808 U JP2018001808 U JP 2018001808U JP 2018001808 U JP2018001808 U JP 2018001808U JP 3217260 U JP3217260 U JP 3217260U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- traveling body
- support member
- deformed substrate
- edge
- line sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【課題】異形基板のエッジの検査を行えるエッジ検査装置を提供する。【解決手段】数値制御の進退走行手段により左右方向に進退走行する第1走行体Cと、第1走行体Cの走行路の片側に数値制御の進退走行手段Eにより前後方向に進退走行する第2走行体Fと、第2走行体F上に供給異形基板Xを荷受けするテーブルGと、第1走行体上Cにフリー回転するよう軸承した旋回軸10の下端に固定した旋回支持部材11と、旋回支持部材11の下面に取り付けてテーブルG上の異形基板Xのエッジに焦点を合わせた2Dレーザー変位計12と、旋回支持部材11の片端にテーブルG上の異形基板Xのエッジに焦点を合わせたラインセンサー13と、旋回支持部材11のもう片端側の2Dレーザー変位計12とラインセンサー13の焦点を照らす照明装置14と、ラインセンサー13の焦点が法線方向に向くように旋回軸10を可逆駆動する駆動手段Hとからなる。【選択図】図2An edge inspection apparatus capable of inspecting an edge of a deformed substrate is provided. A first traveling body C that travels back and forth in the left-right direction by numerically controlled advancing / retreating means, and a first traveling body that travels back and forth in the front-rear direction by numerically controlled advancing / retreating means E on one side of the traveling path of the first traveling body C. Two traveling bodies F, a table G that receives the supplied deformed substrate X on the second traveling body F, and a turning support member 11 fixed to the lower end of the turning shaft 10 that is supported to freely rotate on the first traveling body C. The 2D laser displacement meter 12 attached to the lower surface of the swivel support member 11 and focused on the edge of the deformed substrate X on the table G, and the focus on the edge of the deformed substrate X on the table G at one end of the swivel support member 11 The combined line sensor 13, the 2D laser displacement meter 12 on the other end side of the swivel support member 11, the illumination device 14 that illuminates the focus of the line sensor 13, and the focus of the line sensor 13 are directed in the normal direction. The pivot 10 consists of a drive means H for reversible drive. [Selection] Figure 2
Description
この考案は、端材を折割分断したのちの異形基板のエッジを検査する装置に関する。 The present invention relates to an apparatus for inspecting the edge of a deformed substrate after splitting and cutting off the end material.
異形基板は、既知のように、基板に異形切断線を(端材分断のための半裁線も)スクライブしたのち、この切断線を折割(分断)して異形基板を得る(例えば、特許文献1参照)。 As is well known, after deforming a deformed substrate by scribing a deformed cutting line (also a half-cut line for cutting off the end material) on the substrate, the deformed substrate is broken (divided) to obtain a deformed substrate (for example, Patent Documents) 1).
ところで、特許文献1によって得られた異形基板のエッジには、チッピング(蛤状の欠損)や、分断にともないエッジから基板方向のクラックが入ることがあり、また、端子傷や端材の折割(分断)にともない折割縁に分断残渣片が存在することがある。
By the way, the edge of the deformed substrate obtained by
これらのチッピングやクラック、端子傷及び残渣片の検査は、作業者による目視のため、非能率的であった。 Inspection of these chippings, cracks, terminal scratches and residue pieces was inefficient due to visual inspection by the operator.
また、目視のため、完全に検知することができず、ともすれば、選別漏れで良品に不良品が混入する問題もあった。 Further, since it cannot be completely detected because of visual observation, there is a problem that defective products are mixed into non-defective products due to omission of sorting.
そこで、この考案は、上述の問題を解決するようにした検査装置を提供することにある。 Therefore, the present invention is to provide an inspection apparatus that solves the above-described problems.
上記の課題を解決するために、この考案は、走行ガイド手段により左右方向に走行すると共に、数値制御の進退走行手段により進退走行するように設けた第1走行体と、この第1走行体の走行路の片側に走行ガイド手段により前後方向に走行すると共に、数値制御の進退走行手段により進退走行するように設けた第2走行体と、この第2走行体上に供給異形基板を上面に荷受けすると共に、この荷受け上記異形基板を保持する吸引保持機能を有するように設けたテーブルと、前記第1走行体上に設けてある支持部材にフリー回転するように軸承した軸線が垂直な旋回軸と、この旋回軸の下端に両端間の中央を固定した水平な旋回支持部材と、この旋回支持部材の下面上記旋回軸の軸芯位置に取り付けて前記テーブル上の前記異形基板のエッジに焦点を合わせて設けた2Dレーザー変位計と、上記旋回支持部材の片端に前記テーブル上の前記異形基板のエッジに焦点を合わせて設けたラインセンサーと、上記旋回支持部材のもう片端側に前記2Dレーザー変位計及びラインセンサーの焦点を照らすように設けた照明装置と、前記ラインセンサーの焦点が法線方向に向くように前記旋回軸を可逆駆動するように設けた駆動手段と、前記第1走行体側に前記異形基板の板面のマークを読み取るように設けたカメラとからなり、前記2Dレーザー変位計及びラインセンサーによる検査を画像に取り入れて上記異形基板の良品、不良品を判定するようにした構成を採用する。 In order to solve the above-described problems, the present invention provides a first traveling body that is configured to travel in the left-right direction by the traveling guide means and to advance and retreat by numerically controlled advancing / retreating means, and the first traveling body. A second traveling body provided to travel in the front-rear direction by the traveling guide means on one side of the traveling path, and to advance and retreat by numerically controlled advancing / retreating means, and to receive the deformed substrate on the upper surface of the second traveling body And a table provided so as to have a suction holding function for holding the load receiving and the deformed substrate, and a pivot shaft whose axis is supported so as to freely rotate on a support member provided on the first traveling body, A horizontal swivel support member in which the center between both ends is fixed to the lower end of the swivel shaft, and the bottom surface of the swivel support member is attached to the axial center position of the swivel shaft and the edge of the deformed substrate on the table A 2D laser displacement meter provided in focus, a line sensor provided in focus on the edge of the deformed substrate on the table at one end of the swivel support member, and the 2D on the other end side of the swivel support member An illumination device provided so as to illuminate the focal point of the laser displacement meter and the line sensor; drive means provided so as to reversibly drive the turning shaft so that the focal point of the line sensor is in a normal direction; and the first traveling. The camera is provided on the body side so as to read the mark on the plate surface of the odd-shaped substrate, and the inspection by the 2D laser displacement meter and the line sensor is incorporated into the image to determine whether the irregular substrate is good or defective. Adopt the configuration.
また、走行ガイド手段により左右方向に走行すると共に、数値制御の進退走行手段により進退走行するように設けた第3走行体と、この第3走行体上に走行ガイド手段により前後方向に走行すると共に、数値制御の進退走行手段により進退走行するように設けた第4走行体と、この第4走行体上に供給異形基板を上面に荷受けすると共に、この荷受け上記異形基板を保持する吸引保持機能を有するように設けたテーブルと、前記第3走行体の走行路の直上に設けてある定置支持部材にフリーに回転するように軸承した軸線が垂直な旋回軸と、この旋回軸の下端に両端間の中央を固定した水平な旋回支持部材と、この旋回支持部材の下面上記旋回軸の軸芯位置に取り付けて前記テーブル上の前記異形基板のエッジに焦点を合わせて設けた2Dレーザー変位計と、上記旋回支持部材の片端に前記テーブル上の前記異形基板のエッジに焦点を合わせて設けたラインセンサーと、上記旋回支持部材のもう片端側に前記2Dレーザー変位計及びラインセンサーの焦点を照らすように設けた照明装置と、前記ラインセンサーの焦点が法線方向に向くように前記旋回軸を可逆駆動するように設けた駆動手段と、前記支持部材側に前記異形基板の板面のマークを読み取るように設けたカメラとからなり、前記2Dレーザー変位計及びラインセンサーによる検査を画像に取り入れて上記異形基板の良品、不良品を判定するようにした構成を採用する。 Further, the vehicle travels in the left-right direction by the travel guide means, and travels in the front-rear direction by the travel guide means on the third travel body, and is provided so as to travel forward and backward by the numerically controlled advance / retreat travel means. A fourth traveling body provided to advance and retreat by numerically controlled advancing / retreating means, and a suction holding function for receiving the supplied deformed substrate on the upper surface of the fourth traveling body and holding the deformed substrate on the upper surface. A table provided so as to have, a swinging shaft whose axis line is perpendicular to the stationary support member provided directly above the traveling path of the third traveling body, and a lower end of the swinging shaft between both ends. A horizontal swivel support member with a fixed center, and a lower surface of the swivel support member attached to the axis position of the swivel shaft and focused on the edge of the deformed substrate on the table. A displacement sensor, a line sensor provided at one end of the swivel support member so as to focus on the edge of the deformed substrate on the table, and a 2D laser displacement meter and a line sensor disposed at the other end of the swivel support member. An illuminating device provided to illuminate a focal point; driving means provided to reversibly drive the swivel axis so that a focal point of the line sensor is in a normal direction; and a plate surface of the deformed substrate on the support member side The camera is provided so as to read the mark, and a configuration is adopted in which the inspection by the 2D laser displacement meter and the line sensor is incorporated into the image to determine whether the deformed substrate is non-defective or defective.
以上のように、この考案の異形基板のエッジ検査装置によれば、テーブル上に検査しようとする異形基板を載置して保持したのち、テーブルを移動(異形基板のエッジに沿って)させることで、通過するエッジを、2Dレーザー変位計及びラインセンサーで画像に取り込んで、取り込んだ画像によりエッジのチッピングやクラック、そして端材の分断にともなう分断残渣片の存在を知り、良品、不良品の判別を極めて容易に行うことができ、良品に不良品が混入する不都合をなくすることができる。 As described above, according to the deformed substrate edge inspection apparatus of the present invention, the deformed substrate to be inspected is placed and held on the table, and then the table is moved (along the edge of the deformed substrate). Then, the passing edge is captured in an image with a 2D laser displacement meter and a line sensor, and the captured image is used to know the presence of edge chipping and cracks, and the presence of fragmentation residues resulting from fragmentation of the end material. The discrimination can be performed very easily, and the inconvenience that a defective product is mixed with a non-defective product can be eliminated.
また、照明装置で微細なチッピングやクラックも鮮明に画像に取り入れて、判別をより正確に行うことができる。 Further, fine chipping and cracks can be clearly incorporated into the image by the lighting device, and the discrimination can be performed more accurately.
さらに、可逆駆動装置によりラインセンサーの焦点方向を異形基板のエッジに対し直角に交差する放線方向に常に向くようにしてあるので、エッジの正確な検査を行うこともできる。 Further, since the focus direction of the line sensor is always directed to the normal direction intersecting at right angles to the edge of the irregular substrate by the reversible drive device, the edge can be accurately inspected.
次に、この考案の実施形態を添付図面に基づいて説明する。
第1の実施形態では、図1から図4に示すように走行ガイド手段Aにより左右方向に走行ガイドされると共に、数値制御の進退走行手段Bにより進退走行する第1走行体Cが設けてある。
Next, an embodiment of the invention will be described with reference to the accompanying drawings.
In the first embodiment, as shown in FIGS. 1 to 4, a first traveling body C is provided that travels in the left-right direction by the traveling guide means A and that travels forward and backward by numerically controlled advance / retreat means B. .
上記の走行ガイド手段Aは、図1、2に示すように、並行する2本のレール1と、このレール1にスライド自在に係合するように第1走行体Cの下面四隅に設けたスライダ2とで構成したが、その他の方式により左右方向に走行させるようにしてもよい。
As shown in FIGS. 1 and 2, the traveling guide means A includes two
上記の進退走行手段Bは、図1、2に示すように、レール1に並行して軸承した雄ネジ3と、この雄ネジ3を可逆駆動モーター4と、雄ネジ3にねじ込むと共に、第1走行体Cの下面に支持した雌ネジ5とで前記第1走行体Cを進退走行するようにしたが、限定されず、その他の方式により走行するようにすることもある。
As shown in FIGS. 1 and 2, the advancing / retreating means B includes a
また、第1走行体Cの走行路の片側には、走行ガイド手段Dにより前後方向に走行ガイドされると共に、数値制御の進退走行手段Eにより進退走行する第2走行体Fが設けてある。 Further, on one side of the travel path of the first traveling body C, a second traveling body F that is travel-guided in the front-rear direction by the travel guide means D and travels back and forth by the numerically controlled advance / retreat travel means E is provided.
上記の走行ガイド手段Dは、前記の走行ガイド手段Aと同様につき、また進退走行手段Eは、前記の進退走行手段Bと同様につき詳細な説明を省略する。 The travel guide means D is the same as the travel guide means A, and the forward / backward travel means E is the same as the forward / backward travel means B, and detailed description thereof is omitted.
なお、上記の走行ガイド手段Aは、定置式のベース6上に設けてあり、上記の走行ガイド手段Dは、ベース6上に設けてあるベース7上に設けた(図1、2に示すように)。
The travel guide means A is provided on a
さらに、第2走行体F上は、供給異形基板Xを上面に荷受けすると共に、この荷受け異形基板Xを保持する吸引保持機能としての多数の吸引孔8を有するテーブルGが設けてある。
Further, on the second traveling body F, a table G having a number of
上記の異形基板Xは、周知(例えば、実用新案登録第3216017号公報参照)のように、大判なサイズのパネルを小分けするように、分割スクライブし、この分割パネル毎に異形基板のための切断線をスクライブし、そして切断線の外側端材を折割分割して、異形基板を得る。 The odd-shaped substrate X is divided and scribed so as to subdivide a large-sized panel, as is well known (see, for example, Utility Model Registration No. 3216017), and cutting for the irregular substrate is performed for each divided panel. The line is scribed, and the outer end material of the cutting line is split to obtain a deformed substrate.
上記の吸引孔8を有するテーブルGとしては、扁平な中空ボックスの頂壁に多数の小孔を設けて、中空のボックス内を吸引することで、テーブルG上に異形基板Xを吸引するようになっている。
As the table G having the
また、第1走行体C上に支持部材9を設けて、この支持部材9には、軸線が垂直なフリーに回転する旋回軸10が設けてある。
Further, a
さらに、旋回軸10の下端に水平な旋回支持部材11の両端間の中央を固定すると共に、旋回支持部材11の下面旋回軸10の軸芯位置から下方に突出すると共に、テーブルG上の異形基板Xのエッジに焦点を合わせた2Dレーザー変位計12を設け、旋回支持部材11の異形基板Xのエッジ側片端にエッジに焦点を合わせたラインセンサー13を設け、旋回支持部材11のもう片端に2Dレーザー変位計12及びラインセンサー13を照らす照明装置14を設ける。
Furthermore, the center between both ends of the horizontal
上記の2Dレーザー変位計12は、異形基板Xのエッジの端子出しの形状の不良、良品の形状検査や外形形状を検査するもので、ラインセンサー13は、異形基板Xのエッジのチッピングや、分断にともないエッジにクラックの有無及び端材分断にともなう折割縁に残渣片が存在しているかの検査をするもので、ラインスキャンカメラを使用している。
そして、上述の検査を画像に取り込んで、異形基板Xの良品、不良品を判定する。
The 2D
And the above-mentioned inspection is taken in to an image, and a good article and a defective article of irregular substrate X are judged.
また、ラインセンサー13の焦点が法線方向に向くように旋回軸10を可逆駆動手段Hで旋回させるようにしてある。
Further, the turning
上述の可逆駆動手段Hとしては、図1〜図4に示すように、旋回軸10に設けたウォームホイール15と、このウォームホイール15に噛み合わされたウォームギヤー16と、このウォームギヤー16を可逆駆動する減速機17付きのモーター18とで構成したが、限定されず、その他の構成により目的を達成することもある。
As the reversible driving means H, as shown in FIGS. 1 to 4, a
さらに、第1走行体Cには、異形基板Xのマークを読み取るカメラ19が設けてある。
Further, the first traveling body C is provided with a
なお、前述の進退走行手段B、Eの数値制御は、パネルから異形基板Xを得る際の切断線をスクライブする際のX軸、Y軸のエンコーダバルスを入力とし、その合成ベクトルに対して異形基板Xの外形に沿って第1走行体C及び第2走行体FをX軸、Y軸方向に走行させるようにしてある。 The numerical control of the advancing / retreating means B, E described above takes the X-axis and Y-axis encoder pulses when scribing the cutting line for obtaining the irregular substrate X from the panel as an input, and deforms the composite vector. The first traveling body C and the second traveling body F are caused to travel in the X-axis and Y-axis directions along the outer shape of the substrate X.
上記のように構成すると、異形基板Xの図6に示す短辺の直線部分や、異形基板Xの図7に長辺の略直線に近い部分や、偉業基板Xの図8に示す短辺と長辺との間のコーナーのアール部分であってもラインセンサー13が常に法線方向(直角)に可逆駆動手段Hにより調整するので、いかなる部分での検査で最も必要な加工断面が絶えず画像上特定点(例えば中心)を通過するデータとして画像に取り込んで、良品、不良品の正確な判定を行うことができる。
When configured as described above, the short-side straight portion shown in FIG. 6 of the odd-shaped substrate X, the portion close to the long straight line in FIG. 7 of the odd-shaped substrate X, and the short side shown in FIG. Since the
すなわち、画像データと同時に取り込むため3次元画像データとして欠陥検査を行うものである。
図中20はラインセンサー13及び2Dレーザー変位計12の支持金具である。
That is, defect inspection is performed as three-dimensional image data in order to capture the image data at the same time.
In the figure,
なお、カメラ19により偉業基板X面のマークの読み取りを行う要因は、マークの読み取りにともなう位置演算後、ラインセンサー13及び2Dレーザー変位計12、中心位置に移動後演算装置に入力された異形基板Xのデーターに基づいて異形基板Xのエッジに沿って法線方向調整、X、Y軸データー線上位置で異形基板Xの外形を読み取り検査を行う。
The reason why the
上記検査の要点は、異形基板Xの外形に対して一定の精度でトリガを生成させてデーター取り込みを行い、異形基板Xの外形に対して2Dレーザー変位計を用いて一定精度で立体データー取り込みを行い、異形基板Xの外形に対して2Dレーザー変位計と同時に画像を取り込み、立体画像検査を行うことにある。 The main point of the above inspection is to capture the data by generating a trigger with a certain accuracy for the outer shape of the irregular substrate X, and capturing the three-dimensional data with a certain accuracy using a 2D laser displacement meter for the outer shape of the irregular substrate X. It is to perform a stereoscopic image inspection by capturing an image simultaneously with the 2D laser displacement meter with respect to the outer shape of the deformed substrate X.
なお、ラインセンサー13及び2Dレーザー変位計12によるエッジの検査の際、照明装置14の光源で鮮明な画像を取り込むことができる。
Note that when the edge is inspected by the
第2の実施形態では、図9、10に示すように、走行ガイド手段Jにより左右方向に走行ガイドされると共に、数値制御の進退走行手段Kにより進退走行する第3走行体Lを設ける。 In the second embodiment, as shown in FIGS. 9 and 10, a third traveling body L that is travel-guided in the left-right direction by the travel guide means J and travels back and forth by the numerically controlled advance / retreat travel means K is provided.
上記の走行ガイド手段Jは、第1の実施形態の走行ガイド手段Aと同様につき、また上記の進退走行手段Kは、第1の実施形態の進退走行手段Bと同様につき詳細な説明を省略する。 The travel guide means J is the same as the travel guide means A of the first embodiment, and the advance / retreat travel means K is the same as the travel guide means B of the first embodiment, and a detailed description thereof is omitted. .
また、第3走行体L上には、走行ガイド手段Mにより前後方向に走行ガイドされると共に、数値制御の進退走行手段Nにより前後方向に走行する第4走行体Oが設けてある。 Further, on the third traveling body L, a fourth traveling body O that travels in the front-rear direction by the traveling guide means M and travels in the front-rear direction by the numerically controlled advance / retreat means N is provided.
上記の走行ガイド手段Mは、第1の実施形態の走行ガイド手段Dと同様につき、また上記の進退走行手段Kは、第1の実施形態の進退走行手段Eと同様につき詳細な説明を省略する。 The travel guide means M is the same as the travel guide means D of the first embodiment, and the advance / retreat travel means K is the same as the travel guide means E of the first embodiment, and a detailed description thereof is omitted. .
さらに、第4走行体O上には、供給異形基板Xを上面に荷受けすると共に、吸引保持機能付のテーブルGが設けてある。
上記の吸引保持機能は、第1の実施形態と同様につき詳細な説明を省略する。
Further, on the fourth traveling body O, a table G with a suction holding function is provided while receiving the supply deformed substrate X on the upper surface.
The suction holding function is the same as in the first embodiment, and detailed description thereof is omitted.
また、テーブルGの走向路の直上には、定置式の支持部材9を設けて、この支持部材9には、第1実施形態と同様の旋回軸10、この旋回軸10の下端に旋回支持部材11、この旋回支持部材11に第1実施形態と同様の2Dレーザー変位計12、ラインセンサー13、照明装置14が設けてあり、そして旋回軸10を可逆駆動してラインセンサー13の焦点が法線方向に向く可逆駆動手段Hが設けてある。
In addition, a
上記の2Dレーザー変位計12、ラインセンサー13、照明装置14及び可逆駆動手段Hは、第1の実施形態と同様につき詳細な説明を、また進退走行手段K、Nの数値制御による走行は、第1の実施形態と同様につき詳細な説明を省略する。そして、支持部材9側には、第1の実施形態と同様のカメラ19が設置してあり、このカメラ19の使用目的は、第1の実施形態と同様につき説明を省略する。
The 2D
すると、第1の実施形態と同様に、異形基板Xのエッジの各種不具合を検査して、異形基板Xの良品、不良品を画像に取り込んで選別することができる。 Then, as in the first embodiment, various defects on the edge of the odd-shaped substrate X can be inspected, and non-defective products and defective products of the odd-shaped substrate X can be taken into an image and selected.
検査後の異形基板Xは、例えば、図12に示すように払い出し機Rの吸盤R′によりテーブルG上から取り上げて、良品、不良品別に払い出す。 The irregularly shaped substrate X after the inspection is picked up from the table G by the suction cup R ′ of the dispenser R as shown in FIG.
なお、異形基板Xのエッジの検査方式及び作用並びに効果は、第1の実施形態と同様ににつき詳細な説明を省略する。 Note that the edge inspection method, operation, and effect of the odd-shaped substrate X are the same as in the first embodiment, and detailed description thereof is omitted.
上記第1の実施形態及び第2の実施形態の可逆駆動手段Hのドライブは、前述のように異形切断スクライブのデータで3軸制御して作用するが、3軸制御以外の2軸制御で直線のライン(エッジ)検査もできる。 The drive of the reversible drive means H of the first embodiment and the second embodiment operates by controlling the three axes with the irregular cutting scribe data as described above. However, the drive is linear by the two-axis control other than the three-axis control. Line (edge) inspection is also possible.
そしてラインセンサー13の法線方向に向く調整にともない美しい(乱れのない)画像を取り込んでエッジの残渣片の存在や、クラック、チッピング及び端子傷の有無の良好な検査ができる。
With the adjustment of the
A 走行ガイド手段
B 進退走行手段
C 第1走行体
D 走行ガイド手段
E 進退走行手段
F 第2走行体
G テーブル
H 可逆駆動手段
J 走行ガイド手段
K 進退走行手段
L 第3走行体
M 走行ガイド手段
N 進退走行手段
O 第4走行体
R 払い出し機
R′ 吸盤
X 異形基板
1 レール
2 スライダ
3 雄ネジ
4 モーター
5 雌ネジ
6 ベース
7 ベース
8 吸引孔
9 支持部材
10 旋回軸
11 旋回支持部材
12 2Dレーザー変位計
13 ラインセンサー
14 照明装置
15 ウォームホイール
16 ウォームギヤー
17 減速機
18 モーター
19 カメラ
20 支持金具
A travel guide means B advance / retreat means C first travel body D travel guide means E advance / retreat travel means F second travel body G table H reversible drive means J travel guide means K advance / retreat travel means L third travel body M travel guide means N Advancement / retraction means O Fourth traveling body R Dispenser R ′ Suction cup X Modified
Claims (2)
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018001808U JP3217260U (en) | 2018-05-18 | 2018-05-18 | Edge inspection device for irregular shaped substrate |
TW108201732U TWM581199U (en) | 2018-05-18 | 2019-02-01 | Irregular-shaped substrate edge inspection device |
CN201920239734.3U CN209727743U (en) | 2018-05-18 | 2019-02-25 | Edge inspection device for special-shaped substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018001808U JP3217260U (en) | 2018-05-18 | 2018-05-18 | Edge inspection device for irregular shaped substrate |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3217260U true JP3217260U (en) | 2018-07-26 |
Family
ID=62976454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018001808U Active JP3217260U (en) | 2018-05-18 | 2018-05-18 | Edge inspection device for irregular shaped substrate |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3217260U (en) |
CN (1) | CN209727743U (en) |
TW (1) | TWM581199U (en) |
-
2018
- 2018-05-18 JP JP2018001808U patent/JP3217260U/en active Active
-
2019
- 2019-02-01 TW TW108201732U patent/TWM581199U/en unknown
- 2019-02-25 CN CN201920239734.3U patent/CN209727743U/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWM581199U (en) | 2019-07-21 |
CN209727743U (en) | 2019-12-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4653500B2 (en) | Coordinate detection apparatus and subject inspection apparatus | |
KR100783618B1 (en) | Apparatus for inspecting flat display panel | |
CN101339143A (en) | Appearance inspecting device for substrate | |
CN203824934U (en) | Optical system for mirror appearance inspection of trademark | |
JP2007107945A (en) | Inspection device of substrate | |
TW201245701A (en) | Method for inspecting minute defect of translucent board-like body, and apparatus for inspecting minute defect of translucent board-like body | |
JP2007248292A (en) | Visual inspection device | |
KR20190114758A (en) | Machining system and machining method | |
CN106180880B (en) | Thin plate detects automatically and cutting system | |
CN108982509A (en) | A kind of rotary 360 degree of product burr detection devices | |
JP3217260U (en) | Edge inspection device for irregular shaped substrate | |
WO2017219448A1 (en) | Detection device and detection method | |
CN111707616B (en) | Multi-axis motion system and detection method for angle-resolved scatter detection device | |
KR100795400B1 (en) | Lighting Inspection Apparatus for Display Panel | |
WO2024051008A1 (en) | System and method for ultrafast and large-size scanning | |
JP5349352B2 (en) | Laser light state inspection method and apparatus, laser processing method and apparatus, and solar panel manufacturing method | |
JP4365603B2 (en) | Substrate inspection apparatus and substrate inspection method | |
US6859286B2 (en) | Precision video gauging machine for vertically oriented workpieces | |
JP2000266638A (en) | Substrate inspecting device | |
CN101859724B (en) | Table for transmission illumination | |
KR100380809B1 (en) | Substrate checking apparatus | |
JP2006275728A (en) | Component inspection device | |
JP3231222U (en) | Deformed cut glass substrate split edge inspection device | |
CN215656514U (en) | Surface defect and size detection device of workpiece | |
TWI647445B (en) | Bottle body detecting device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3217260 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |