JP3214886B2 - 時間分解フーリエ変換分光測定装置 - Google Patents
時間分解フーリエ変換分光測定装置Info
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- JP3214886B2 JP3214886B2 JP06136692A JP6136692A JP3214886B2 JP 3214886 B2 JP3214886 B2 JP 3214886B2 JP 06136692 A JP06136692 A JP 06136692A JP 6136692 A JP6136692 A JP 6136692A JP 3214886 B2 JP3214886 B2 JP 3214886B2
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は時間分解フ−リエ変換分
光測定装置、特に差分出力機構の改良に関する。
光測定装置、特に差分出力機構の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶や生体試料等の被測定試料に紫外
線、レ−ザ等の照射、或いは電圧印加等の刺激を与え、
その刺激から復帰する課程における該試料の物性変化を
測定するため、時間分解分光測定装置が周知であり、特
に現象が繰り返し可能なときには、サンプリング法が適
用される。ところで、これらのサンプリング型時間分解
分光測定装置の中で、特に良好なＳ／Ｎ比で広い波長域
のスペクトルデータを一度に得ることのできる装置とし
て時間分解フーリエ変換分光測定装置がある。
線、レ−ザ等の照射、或いは電圧印加等の刺激を与え、
その刺激から復帰する課程における該試料の物性変化を
測定するため、時間分解分光測定装置が周知であり、特
に現象が繰り返し可能なときには、サンプリング法が適
用される。ところで、これらのサンプリング型時間分解
分光測定装置の中で、特に良好なＳ／Ｎ比で広い波長域
のスペクトルデータを一度に得ることのできる装置とし
て時間分解フーリエ変換分光測定装置がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、時間分
解フーリエ変換分光測定装置にも、さらに各種のデータ
処理機能が要求されており、特に被測定試料の刺激から
復帰する過程における物性変化速度の測定なども注目さ
れている。ところが、従来の時間分解フーリエ変換分光
測定装置では、一回のスペクトル測定だけでは特性変化
速度を把握することが出来ず、刺激に対して順次時間差
を与えた複数個のインターフェログラムを採取し、その
比較を行なっていた。従って、測定には長時間要し、外
乱などの影響も大きくなる。さらに、スペクトル測定で
はリファレンス測定が必要であり、通常は試料スペクト
ルの測定に先立って測定しておくのであるが、時間的な
面で極めて効率が悪いと共に正確な差分スペクトルを得
ることは極めて困難であった。
解フーリエ変換分光測定装置にも、さらに各種のデータ
処理機能が要求されており、特に被測定試料の刺激から
復帰する過程における物性変化速度の測定なども注目さ
れている。ところが、従来の時間分解フーリエ変換分光
測定装置では、一回のスペクトル測定だけでは特性変化
速度を把握することが出来ず、刺激に対して順次時間差
を与えた複数個のインターフェログラムを採取し、その
比較を行なっていた。従って、測定には長時間要し、外
乱などの影響も大きくなる。さらに、スペクトル測定で
はリファレンス測定が必要であり、通常は試料スペクト
ルの測定に先立って測定しておくのであるが、時間的な
面で極めて効率が悪いと共に正確な差分スペクトルを得
ることは極めて困難であった。
【０００４】本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされ
たものであり、その目的は一の刺激に対して一定時間差
を有した２つのサンプリングパルスによりサンプリング
を行ない差分時間分解スペクトルを得、同時にリファレ
ンス測定が不要な時間分解フーリエ変換分光測定装置を
提供することにある。
たものであり、その目的は一の刺激に対して一定時間差
を有した２つのサンプリングパルスによりサンプリング
を行ない差分時間分解スペクトルを得、同時にリファレ
ンス測定が不要な時間分解フーリエ変換分光測定装置を
提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明にかかる時間分解フーリエ変換分光測定装置
は、連続光源、固定鏡及び可動鏡を有し、可動鏡の走査
に伴いインターフェログラムを発生させるインターフェ
ログラム発生手段と、前記可動鏡の走査に対応して、被
測定試料に刺激を印加する刺激印加手段と、刺激印加よ
り一定時間遅延時の被測定試料の刺激から復帰する過程
の状態におけるインタ−フェログラムを検出する検出手
段と、前記検出手段により一定時間差を有して検出され
た、被測定試料の刺激から復帰する過程の状態における
二つのインターフェログラムを保持し、その差分を得る
差分手段と、前記差分手段より出力される差分アナログ
データをデジタルデータとするＡ／Ｄ変換手段と、Ａ／
Ｄ変換された差分デジタルデータよりフーリエ変換スペ
クトルを算出するデータ処理手段と、前記インタ−フェ
ログラム発生手段の操作に対応して、刺激印加、インタ
ーフェログラム検出を指示する同期手段と、前記インタ
ーフェログラム採取の一定時間差を設定するサンプルホ
ールドタイミング設定手段と、を備えたことを特徴とす
る。
に、本発明にかかる時間分解フーリエ変換分光測定装置
は、連続光源、固定鏡及び可動鏡を有し、可動鏡の走査
に伴いインターフェログラムを発生させるインターフェ
ログラム発生手段と、前記可動鏡の走査に対応して、被
測定試料に刺激を印加する刺激印加手段と、刺激印加よ
り一定時間遅延時の被測定試料の刺激から復帰する過程
の状態におけるインタ−フェログラムを検出する検出手
段と、前記検出手段により一定時間差を有して検出され
た、被測定試料の刺激から復帰する過程の状態における
二つのインターフェログラムを保持し、その差分を得る
差分手段と、前記差分手段より出力される差分アナログ
データをデジタルデータとするＡ／Ｄ変換手段と、Ａ／
Ｄ変換された差分デジタルデータよりフーリエ変換スペ
クトルを算出するデータ処理手段と、前記インタ−フェ
ログラム発生手段の操作に対応して、刺激印加、インタ
ーフェログラム検出を指示する同期手段と、前記インタ
ーフェログラム採取の一定時間差を設定するサンプルホ
ールドタイミング設定手段と、を備えたことを特徴とす
る。
【０００６】
【作用】本発明にかかる時間分解フーリエ変換分光測定
装置は、刺激の印加より一定時間遅延して、一定時間差
を有した二つのインターフェログラムを得、その差分の
フーリエ変換スペクトルを出力している。このため、一
の刺激印加に対する物性変化状態を適確に検出すること
が可能となる。また、同時にリファレンス測定も不要と
なる。
装置は、刺激の印加より一定時間遅延して、一定時間差
を有した二つのインターフェログラムを得、その差分の
フーリエ変換スペクトルを出力している。このため、一
の刺激印加に対する物性変化状態を適確に検出すること
が可能となる。また、同時にリファレンス測定も不要と
なる。
【０００７】
【実施例】以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を
説明する。図１には本発明の一実施例にかかる時間分解
フーリエ変換分光測定装置が示されている。同図に示す
時間分解フーリエ変換分光測定装置１０は、インターフ
ェログラム発生手段１２と、刺激印加手段１４と、検出
手段１６と、２つのサンプルホールド手段５４，５５を
含む差分手段１８と、Ａ／Ｄ変換手段２２と、データ処
理手段としてのコンピューター２４と、同期手段２６
と、設定手段２８とを含む。
説明する。図１には本発明の一実施例にかかる時間分解
フーリエ変換分光測定装置が示されている。同図に示す
時間分解フーリエ変換分光測定装置１０は、インターフ
ェログラム発生手段１２と、刺激印加手段１４と、検出
手段１６と、２つのサンプルホールド手段５４，５５を
含む差分手段１８と、Ａ／Ｄ変換手段２２と、データ処
理手段としてのコンピューター２４と、同期手段２６
と、設定手段２８とを含む。
【０００８】前記インターフェログラム発生手段１２
は、光源３０、ビームスプリッタ３２、固定鏡３４、可
動鏡３６及び駆動器３８を有する。そして、前記光源３
０より出射した光は、凹面鏡４０により反射され、さら
にビームスプリッタ３２を透過し固定鏡３４にいたる光
と、ビームスプリッタ３２により反射されて可動鏡３６
にいたる光とに分離され、それぞれ固定鏡３４及び可動
鏡３６により反射された光がビームスプリッタ３２によ
り合成されて被測定試料４２に照射される。
は、光源３０、ビームスプリッタ３２、固定鏡３４、可
動鏡３６及び駆動器３８を有する。そして、前記光源３
０より出射した光は、凹面鏡４０により反射され、さら
にビームスプリッタ３２を透過し固定鏡３４にいたる光
と、ビームスプリッタ３２により反射されて可動鏡３６
にいたる光とに分離され、それぞれ固定鏡３４及び可動
鏡３６により反射された光がビームスプリッタ３２によ
り合成されて被測定試料４２に照射される。
【０００９】前記駆動器３８は可動鏡３６を光軸方向
（図中矢印Ｉ）に走査可能に形成されている。従って、
可動鏡３６を駆動器３８により走査させると、それに伴
い被測定試料４２に照射される光は変調される。なお、
前記光源３０よりの出射光と平行して、Ｈｅ／Ｎｅレー
ザー４４より出射したレーザー光が反射鏡４６を介して
同様に干渉し、レーザー光検出器４８により検出され
る。このレーザー光検出器４８の出力は、同期手段２６
に入力され、同期用データとして用いられる。また、差
分手段１８は、同様の構成を有するサンプルホールド回
路４８，５０を有し、サンプルホールド回路４８はボル
テージフォロア５２、サンプルホールド手段５４の直列
回路よりなり、該サンプルホールド手段５４の他端はオ
ペレーショナルアンプ６２の非反転端子に接続されてい
る。
（図中矢印Ｉ）に走査可能に形成されている。従って、
可動鏡３６を駆動器３８により走査させると、それに伴
い被測定試料４２に照射される光は変調される。なお、
前記光源３０よりの出射光と平行して、Ｈｅ／Ｎｅレー
ザー４４より出射したレーザー光が反射鏡４６を介して
同様に干渉し、レーザー光検出器４８により検出され
る。このレーザー光検出器４８の出力は、同期手段２６
に入力され、同期用データとして用いられる。また、差
分手段１８は、同様の構成を有するサンプルホールド回
路４８，５０を有し、サンプルホールド回路４８はボル
テージフォロア５２、サンプルホールド手段５４の直列
回路よりなり、該サンプルホールド手段５４の他端はオ
ペレーショナルアンプ６２の非反転端子に接続されてい
る。
【００１０】一方、差分回路５０は、同じくボルタージ
フォロアー５６、サンプルホールド手段５８、及びサン
プルホールドタイミング設定回路６３よりなり、サンプ
ルホールド手段５８の一端は前記オペレーショナルアン
プ６２の反転端子に接続されている。そして、前記検出
手段１６からの出力はアンプ６４を介して差分手段１８
のオペレーショナルアンプ５２，５６の非反転端子に入
力されている。従って、サンプルホールド手段５４のス
イッチがＯＮ状態となれば、オペレーショナルアンプ５
２の出力はサンプルされオペレーショナルアンプ６２の
非反転端子に入力され、一方サンプルホールド手段５８
がＯＮ状態になれば、オペレーショナルアンプ５６の出
力はオペレーショナルアンプ６２の反転端子に入力さ
れ、オペレーショナルアンプ６２により両者の差分を得
ることが可能となる。
フォロアー５６、サンプルホールド手段５８、及びサン
プルホールドタイミング設定回路６３よりなり、サンプ
ルホールド手段５８の一端は前記オペレーショナルアン
プ６２の反転端子に接続されている。そして、前記検出
手段１６からの出力はアンプ６４を介して差分手段１８
のオペレーショナルアンプ５２，５６の非反転端子に入
力されている。従って、サンプルホールド手段５４のス
イッチがＯＮ状態となれば、オペレーショナルアンプ５
２の出力はサンプルされオペレーショナルアンプ６２の
非反転端子に入力され、一方サンプルホールド手段５８
がＯＮ状態になれば、オペレーショナルアンプ５６の出
力はオペレーショナルアンプ６２の反転端子に入力さ
れ、オペレーショナルアンプ６２により両者の差分を得
ることが可能となる。
【００１１】そして、サンプルホールドタイミング設定
回路６３で、サンプルホールド手段５４，５８のサンプ
ルタイミングを調整することにより、所望の一定時間差
を有する差分スペクトルを得ることができる。一方、同
期コントロール手段２０は、単安定回路６８，７０、遅
延回路７２及び遅延時間設定器７４よりなり、前記同期
手段２６の出力は単安定回路６８を介して刺激印加手段
１４に刺激印加信号を、又さらに遅延回路７２、単安定
回路７０を介してサンプルホールドタイミング設定回路
６３に信号を供給する。
回路６３で、サンプルホールド手段５４，５８のサンプ
ルタイミングを調整することにより、所望の一定時間差
を有する差分スペクトルを得ることができる。一方、同
期コントロール手段２０は、単安定回路６８，７０、遅
延回路７２及び遅延時間設定器７４よりなり、前記同期
手段２６の出力は単安定回路６８を介して刺激印加手段
１４に刺激印加信号を、又さらに遅延回路７２、単安定
回路７０を介してサンプルホールドタイミング設定回路
６３に信号を供給する。
【００１２】なお、遅延時間設定器７４は、遅延回路７
２に遅延時間を指示する。また、単安定回路７０の出力
パルス幅が時間分解能を決定し、時間分解能設定器２８
によって指示される。そして、検出手段１６のアナログ
信号はアンプ６４により増幅され、前記差分手段１８を
介してＡ／Ｄ変換手段２２によりデジタル信号に変換さ
れ、さらにインターフェイス７６を介してコンピュータ
ー２４に入力される。そして、コンピューター２４では
周知のフーリエ変換が行われ、所望の差分スペクトルを
得ることが出来る。
２に遅延時間を指示する。また、単安定回路７０の出力
パルス幅が時間分解能を決定し、時間分解能設定器２８
によって指示される。そして、検出手段１６のアナログ
信号はアンプ６４により増幅され、前記差分手段１８を
介してＡ／Ｄ変換手段２２によりデジタル信号に変換さ
れ、さらにインターフェイス７６を介してコンピュータ
ー２４に入力される。そして、コンピューター２４では
周知のフーリエ変換が行われ、所望の差分スペクトルを
得ることが出来る。
【００１３】本実施例にかかる時間分解フーリエ変換分
光測定装置１０は概略以上のように構成され、次にその
作用について説明する。まず、被測定試料４２を光路上
にセットしたのち、コンピューター２４を介して走査時
間、走査距離、サンプルホールド回路の積分時間、刺激
印加タイミング、インターフェログラム採取の刺激印加
よりの遅延時間、差分を得る時の微少時間差などの指示
を行う。そして、コンピューター２４からの指示に基づ
き、駆動器３８は可動鏡３６の走査を行い、干渉された
所定の光を順次出射する。
光測定装置１０は概略以上のように構成され、次にその
作用について説明する。まず、被測定試料４２を光路上
にセットしたのち、コンピューター２４を介して走査時
間、走査距離、サンプルホールド回路の積分時間、刺激
印加タイミング、インターフェログラム採取の刺激印加
よりの遅延時間、差分を得る時の微少時間差などの指示
を行う。そして、コンピューター２４からの指示に基づ
き、駆動器３８は可動鏡３６の走査を行い、干渉された
所定の光を順次出射する。
【００１４】同時に、この光の照射状態は、レーザー光
受光器４８によって監視され、同期手段２６は単安定回
路６８を介して刺激印加手段１４に所定タイミングでの
刺激印加を指示する。この結果、可動鏡３６の走査が開
始されてから所定時間ごとに電圧印加等の各種刺激が被
測定試料４２に印加される。そして、各状態でのインタ
ーフェログラムが検出手段１６により採取され、アンプ
６４により増幅されたのち、差分手段１８に入力され
る。差分手段１８では、サンプルホールドタイミング設
定手段６３が、前記単安定回路６８からの指示に基づき
サンプルホールド手段５４、５８のサンプルタイミング
を指令する。
受光器４８によって監視され、同期手段２６は単安定回
路６８を介して刺激印加手段１４に所定タイミングでの
刺激印加を指示する。この結果、可動鏡３６の走査が開
始されてから所定時間ごとに電圧印加等の各種刺激が被
測定試料４２に印加される。そして、各状態でのインタ
ーフェログラムが検出手段１６により採取され、アンプ
６４により増幅されたのち、差分手段１８に入力され
る。差分手段１８では、サンプルホールドタイミング設
定手段６３が、前記単安定回路６８からの指示に基づき
サンプルホールド手段５４、５８のサンプルタイミング
を指令する。
【００１５】そして、サンプルホールド手段５４をＯＮ
作動させてから一定時間遅延してサンプルホールド手段
５８をＯＮ作動することにより、オペーレションアンプ
６２には一定時間差を有したインターフェログラムデー
ターが入力され、その差分が出力される。
作動させてから一定時間遅延してサンプルホールド手段
５８をＯＮ作動することにより、オペーレションアンプ
６２には一定時間差を有したインターフェログラムデー
ターが入力され、その差分が出力される。
【００１６】図２に示されるようにレーザー光検出器４
８により光電変換された信号は、レーザー光が一定波長
であるところから、前記可動鏡３６の走査に応じて所定
の周期を正弦波状信号を出力する。そして、該正弦波状
信号は同期手段２６により波形成形されて、図２（Ａ）
に示されるように矩形波状に変換される。そして、前記
同期手段２６より出力される矩形波信号（Ａ）を単安定
回路６８により処理することで、図２（Ｃ）に示すよう
なパルス状信号となる。このパルス状信号に同期して刺
激手段１４による刺激印加を行う。この結果、検出手段
１６により出力される信号は、概念的には同図（Ｂ）に
示すような励起−減衰形状となる。ただし、実際の波形
はインターフェログラムが時間的にも変調されたものと
なり複雑である。
８により光電変換された信号は、レーザー光が一定波長
であるところから、前記可動鏡３６の走査に応じて所定
の周期を正弦波状信号を出力する。そして、該正弦波状
信号は同期手段２６により波形成形されて、図２（Ａ）
に示されるように矩形波状に変換される。そして、前記
同期手段２６より出力される矩形波信号（Ａ）を単安定
回路６８により処理することで、図２（Ｃ）に示すよう
なパルス状信号となる。このパルス状信号に同期して刺
激手段１４による刺激印加を行う。この結果、検出手段
１６により出力される信号は、概念的には同図（Ｂ）に
示すような励起−減衰形状となる。ただし、実際の波形
はインターフェログラムが時間的にも変調されたものと
なり複雑である。
【００１７】一方、図２（Ｃ）のパルス状信号に同期に
パルス状信号（Ｄ）が作成され遅延時間t1のパルス状信
号（Ｅ）が作成される。このパルス状信号（Ｅ）がサン
プルホールドタイミング設定手段６３に入力され、該サ
ンプルホールドタイミング設定手段６３はサンプルホー
ルド回路５４を時間ＴのみＯＮ作動し、さらにその後遅
延時間ｔ2遅延した時点でサンプルホールド回路５８を
時間ＴのみＯＮ作動する。この結果、オペレーショナル
アンプ６２からは刺激印加後ｔ1からｔ2への変化度合が
出力されることとなる。そして、差分手段１８により出
力される差分インターフェログラムデーターは、Ａ／Ｄ
変換手段２２によりデジタル化されることとなる。
パルス状信号（Ｄ）が作成され遅延時間t1のパルス状信
号（Ｅ）が作成される。このパルス状信号（Ｅ）がサン
プルホールドタイミング設定手段６３に入力され、該サ
ンプルホールドタイミング設定手段６３はサンプルホー
ルド回路５４を時間ＴのみＯＮ作動し、さらにその後遅
延時間ｔ2遅延した時点でサンプルホールド回路５８を
時間ＴのみＯＮ作動する。この結果、オペレーショナル
アンプ６２からは刺激印加後ｔ1からｔ2への変化度合が
出力されることとなる。そして、差分手段１８により出
力される差分インターフェログラムデーターは、Ａ／Ｄ
変換手段２２によりデジタル化されることとなる。
【００１８】なお、デジタル化された差分信号は、イン
ターフェイス７６を介してコンピューター２４に送ら
れ、フーリエ変換により所望の差分スペクトルを得るこ
とが出来る。以上のように本実施例にかかる時間分解フ
ーリエ変換分光測定装置によれば、差分手段１８を用い
ることにより、一の刺激に対して一定時間差を有したイ
ンターフェログラムを得て、その差分を出力することが
可能となる。また、この差分を得る一定時間差t2を０と
することにより、実質的に微分出力となり、被測定試料
の物性変化速度等を把握することが可能となる。
ターフェイス７６を介してコンピューター２４に送ら
れ、フーリエ変換により所望の差分スペクトルを得るこ
とが出来る。以上のように本実施例にかかる時間分解フ
ーリエ変換分光測定装置によれば、差分手段１８を用い
ることにより、一の刺激に対して一定時間差を有したイ
ンターフェログラムを得て、その差分を出力することが
可能となる。また、この差分を得る一定時間差t2を０と
することにより、実質的に微分出力となり、被測定試料
の物性変化速度等を把握することが可能となる。
【００１９】また、本実施例にかかる装置によれば、時
刻t1とt2時のスペクトル差が得られるので、リファレン
ス測定も不要となる。サンプルホールド手段２０を備え
ることで、誤差が減少し、Ａ／Ｄ変換のスピードや干渉
系の操作速度に影響されることが少なくなる。さらに、
既存のフーリエ分光器に対してＡ／Ｄ変換の時間的タイ
ミングやインターフェログラムの総データー点数等など
を変更することなく実行出来るので、ソフトウェアーは
従来のものがそのまま適用出来る。ハードウェアーの変
更は、サンプルホールド回路と適当なタイミング回路の
みの追加で容易に変更できる。
刻t1とt2時のスペクトル差が得られるので、リファレン
ス測定も不要となる。サンプルホールド手段２０を備え
ることで、誤差が減少し、Ａ／Ｄ変換のスピードや干渉
系の操作速度に影響されることが少なくなる。さらに、
既存のフーリエ分光器に対してＡ／Ｄ変換の時間的タイ
ミングやインターフェログラムの総データー点数等など
を変更することなく実行出来るので、ソフトウェアーは
従来のものがそのまま適用出来る。ハードウェアーの変
更は、サンプルホールド回路と適当なタイミング回路の
みの追加で容易に変更できる。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる時間
分解フーリエ変換分光測定装置によれば、一の刺激に対
して所定遅延時間経過後に微少時間差を有する二つのイ
ンターフェログラムデーターを得て、その差分を出力す
ることとしたので、リファレンス測定なしに被測定試料
の物性変化速度の測定などが極めて容易に把握される。
分解フーリエ変換分光測定装置によれば、一の刺激に対
して所定遅延時間経過後に微少時間差を有する二つのイ
ンターフェログラムデーターを得て、その差分を出力す
ることとしたので、リファレンス測定なしに被測定試料
の物性変化速度の測定などが極めて容易に把握される。
【図１】本発明の一実施例にかかる時間分解フーリエ変
換分光測定装置の概略構成の説明図である。
換分光測定装置の概略構成の説明図である。
【図２】前記図１に示した装置の各部における信号波形
図である。
図である。
１０ 時間分解フーリエ変換分光測定装置 １２ インターフェログラム発生手段 １４ 刺激印加手段 １６ 検出手段 １８ 差分手段 ２６ 同期手段 ２８ 設定手段
Claims (1)
- 【請求項１】 連続光源、固定鏡及び可動鏡を有し、可
動鏡の走査に伴いインターフェログラムを発生させるイ
ンターフェログラム発生手段と、 前記可動鏡の走査に対応して、被測定試料に刺激を印加
する刺激印加手段と、 前記刺激印加より一定時間遅延時の被測定試料の刺激か
ら復帰する過程の状態におけるインタ−フェログラムを
検出する検出手段と、 一定時間差を有して前記検出手段により検出された、被
測定試料の刺激から復帰する過程の状態における二つの
インターフェログラムを保持し、その差分を得る差分手
段と、 前記差分手段より出力される差分アナログデータをデジ
タルデータとするＡ／Ｄ変換手段と、 Ａ／Ｄ変換された差分デジタルデータよりフーリエ変換
スペクトルを算出するデータ処理手段と、 前記インタ−フェログラム発生手段の操作に対応して、
刺激印加、インターフェログラム検出を指示する同期手
段と、 前記インターフェログラム採取の時間差を設定するサン
プルホールドタイミング設定手段と、 を備 えたことを特徴とする時間分解フ−リエ変換分光測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06136692A JP3214886B2 (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 時間分解フーリエ変換分光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06136692A JP3214886B2 (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 時間分解フーリエ変換分光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05223640A JPH05223640A (ja) | 1993-08-31 |
| JP3214886B2 true JP3214886B2 (ja) | 2001-10-02 |
Family
ID=13169099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06136692A Expired - Fee Related JP3214886B2 (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 時間分解フーリエ変換分光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3214886B2 (ja) |
-
1992
- 1992-02-14 JP JP06136692A patent/JP3214886B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05223640A (ja) | 1993-08-31 |
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