JP3213642B2 - Lens performance evaluation method and apparatus - Google Patents

Lens performance evaluation method and apparatus

Info

Publication number
JP3213642B2
JP3213642B2 JP29202392A JP29202392A JP3213642B2 JP 3213642 B2 JP3213642 B2 JP 3213642B2 JP 29202392 A JP29202392 A JP 29202392A JP 29202392 A JP29202392 A JP 29202392A JP 3213642 B2 JP3213642 B2 JP 3213642B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
pinhole
point
amount
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP29202392A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH06117966A (en
Inventor
金保 大川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optic Co Ltd filed Critical Olympus Optic Co Ltd
Priority to JP29202392A priority Critical patent/JP3213642B2/en
Publication of JPH06117966A publication Critical patent/JPH06117966A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3213642B2 publication Critical patent/JP3213642B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は顕微鏡の対物レンズ等に
用いるレンズの性能評価方法およびその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for evaluating the performance of a lens used for an objective lens of a microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】レンズ性能を評価する装置としては、M
TF測定機や、干渉計を用いた装置が一般的に用いられ
るが、これらはいずれも測定時間が長いため、組立調整
に適用することが不可能であるという欠点があった。こ
の欠点を解消し、短時間での評価を可能とした従来技術
として、特開昭63−147117号公報がある。図1
3ないし図15はこの評価方法に用いる構成を示す。図
13において、104は基準物面上に配置されたピンホ
ール、109は被検レンズ、110は被検レンズの基準
像面、100は測定用の光学系で投影レンズ125と瞳
4分割プリズム126とスクリーン127とを備える。
2. Description of the Related Art As an apparatus for evaluating lens performance, M
Although a TF measuring device and an apparatus using an interferometer are generally used, these methods have a drawback that they cannot be applied to assembly adjustment because of long measuring time. Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-147117 discloses a conventional technique which solves this drawback and enables evaluation in a short time. FIG.
3 to 15 show a configuration used for this evaluation method. 13, reference numeral 104 denotes a pinhole disposed on a reference object plane; 109, a test lens; 110, a reference image plane of the test lens; 100, an optical system for measurement; And a screen 127.

【0003】図14は、瞳4分割プリズム126を示
し、同プリズム126は4個の同一ウエッジ角を有する
ウエッジプリズム189を側面接合して形成される。こ
のような構成においてピンホール104の像が被検レン
ズ109により基準像面110と異なる点110′に形
成された場合、投影レンズ125と瞳4分割プリズム1
26により、スクリーン127上に形成される4個の点
像190の重心または中心を結ぶ四辺形が正方形となら
ず図15に示すように歪んだ形となる。すなわち、同図
に示す角度α0は90°より大きくなるため、この角度
α0を測定することにより、被検レンズ109の像点1
10′と基準像点110からの距離Δxを測定すること
ができる。また、被検レンズ109または測定用の光学
系100を回転させたときの4個の点像の最大回転角を
測定することにより、非点収差を測定することができ
る。この場合、距離Δxの測定基準となる基準像点11
0の位置の調整には調製調整を用いて行い、測定時には
これを外して使用するようになっている。基準像点の保
守についてはこの調整治具を用いて適時、行っている。
FIG. 14 shows a pupil quadrant prism 126. The prism 126 is formed by laterally joining four wedge prisms 189 having the same wedge angle. In such a configuration, when the image of the pinhole 104 is formed at a point 110 ′ different from the reference image plane 110 by the test lens 109, the projection lens 125 and the pupil-divided prism 1
Due to 26, the quadrilateral connecting the centers of gravity or centers of the four point images 190 formed on the screen 127 is not a square but a distorted shape as shown in FIG. That is, since the angle α 0 shown in the figure is larger than 90 °, by measuring this angle α 0 , the image point 1
The distance Δx from 10 ′ to the reference image point 110 can be measured. In addition, astigmatism can be measured by measuring the maximum rotation angle of the four point images when the test lens 109 or the measurement optical system 100 is rotated. In this case, a reference image point 11 serving as a measurement reference for the distance Δx
The adjustment of the position of 0 is performed by using a preparation adjustment , and is removed and used at the time of measurement. Maintenance of the reference image point is performed as needed using this adjustment jig.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た方法で、レンズ性能を測定する場合、基準像点110
の位置の調整および保守が難しく、この結果、距離Δx
の測定精度が悪くなるという問題がある。加えて軸外性
能を高精度で測定することが困難ともなっている。本発
明はこのような問題点を解決することにより、軸外性能
を含めたレンズ性能を高精度で評価し得るレンズ性能評
価方法および装置を提供することを目的とする。
However, when the lens performance is measured by the above-described method, the reference image point 110 is measured.
Is difficult to adjust and maintain, resulting in a distance Δx
There is a problem that the measurement accuracy of the measurement becomes poor. In addition, it is difficult to measure off-axis performance with high accuracy. An object of the present invention is to provide a lens performance evaluation method and apparatus capable of evaluating lens performance including off-axis performance with high accuracy by solving such problems.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段および作用】図1は本発明
の基本構成を示し、第1のピンホール板1、被検レンズ
2、第2のピンホール板3、結像レンズ4、瞳4分割プ
リズム5、受光素子6、画像計測部7および表示部8が
光路上に順に配置されて構成されている。第1のピンホ
ール板1には図2に示すように複数のピンホール1aが
形成されている。第2のピンホール板3は被検レンズ2
による第1のピンホール板1の点像位置に配置されてい
る。この第2のピンホール板3には図3に示すように、
ピンホール3aが形成されるが、このピンホール3aは
第1のピンホール板1のピンホール1aの点像よりも大
きくなるように設定されている。
FIG. 1 shows the basic structure of the present invention, in which a first pinhole plate 1, a test lens 2, a second pinhole plate 3, an imaging lens 4, and a pupil 4 are provided. A split prism 5, a light receiving element 6, an image measuring unit 7, and a display unit 8 are sequentially arranged on an optical path. The first pinhole plate 1 has a plurality of pinholes 1a as shown in FIG. The second pinhole plate 3 is the lens 2 to be inspected.
At the point image position of the first pinhole plate 1. As shown in FIG. 3, the second pinhole plate 3 has
The pinhole 3a is formed, and the pinhole 3a is set to be larger than the point image of the pinhole 1a of the first pinhole plate 1.

【0006】瞳4分割プリズム5は結像レンズ4の射出
瞳付近に配置されており、図4に示すように、ウエッジ
角が同一の2種のウエッジプリズム5aおよび5bを側
面接合することにより形成されている。そして、この瞳
4分割プリズム5および結像レンズ4により4分割結像
レンズAが構成され、この4分割結像レンズAの点像位
置に受光素子6が配置されている。画像計測部7はこの
受光素子6上に形成される4個の点像の各々の重心また
は中心の位置(図5参照)を計測し、この計測値から合
焦ずれ量またはこれに比例する量を算出する。表示部8
はこの画像計測部7からの出力を可視表示する。なお、
第2のピンホール板3、4分割結像レンズAおよび受光
素子6は第1のピンホール板1および被検レンズに対し
て光軸と直交した方向に相対移動可能となっている。
The pupil-four-split prism 5 is disposed near the exit pupil of the imaging lens 4, and is formed by laterally joining two types of wedge prisms 5a and 5b having the same wedge angle as shown in FIG. Have been. The pupil four-segment prism 5 and the imaging lens 4 form a four-segment imaging lens A, and a light receiving element 6 is arranged at a point image position of the four-segment imaging lens A. The image measuring unit 7 measures the position of the center of gravity or the center (see FIG. 5) of each of the four point images formed on the light receiving element 6, and calculates the amount of defocus or the amount proportional thereto from the measured value. Is calculated. Display 8
Displays the output from the image measuring unit 7 in a visible manner. In addition,
The second pinhole plate 3, the four-part imaging lens A and the light receiving element 6 can be relatively moved with respect to the first pinhole plate 1 and the lens to be inspected in a direction orthogonal to the optical axis.

【0007】上記構成において、受光素子6には図5に
示すように、ピンホール3aの4個の点像が結像し、画
像計測部7はこれらの点像の各々の重心または中心の位
置を計測することにより合焦ずれ量またはこれに比例す
る量を算出し、この量が0となるように調整する。この
調整後、第1のピンホール板1の軸上または軸外の任意
のピンホール1aの像を第2のピンホール板3のピンホ
ール3a付近に作成するが、この像はピンホール1aの
位置に対応した位置に形成する。
In the above configuration, four point images of the pinhole 3a are formed on the light receiving element 6 as shown in FIG.
The image measuring unit 7 calculates the position of the center of gravity or the center of each of these point images.
The amount of focus shift or an amount proportional thereto is calculated by measuring the position, and adjustment is made so that this amount becomes zero. this
After the adjustment , an image of an arbitrary pinhole 1a on or off the axis of the first pinhole plate 1 is created near the pinhole 3a of the second pinhole plate 3, and this image is located at the position of the pinhole 1a. Is formed at a position corresponding to.

【0008】ここでピンホール3aの大きさはこの像の
大きさよりも大きいため、第2のピンホール板3、4分
割結像レンズAおよび受光素子6を一体として紙面内に
おける光軸と直交方向に移動することにより任意の位置
のピンホール1aの点像P1またはP2を形成する光束の
みが排除されることなくピンホール3aを通過し、他の
ピンホールからのノイズ光を受けることなく前述と同じ
量が検出される。この検出値は基準位置からの光軸方向
での点像のずれ量、または合焦ずれ量またはこれに比例
する量となる。基準像点の検出はピンホール3aを直接
照明することにより、この時の合焦ずれ量またはこれに
比例する量を測定できるため調製治具を必要としない調
整、保守が可能となる。
Here, since the size of the pinhole 3a is larger than the size of this image, the second pinhole plate 3, the four-part imaging lens A and the light receiving element 6 are integrated into a direction orthogonal to the optical axis in the plane of the drawing. passed through the pinhole 3a without only light flux is eliminated to form the point image P 1 or P 2 of pinholes 1a at any position by moving the, without receiving the noise light from the other pinhole The same amount as before is detected. This detected value is a shift amount of the point image in the optical axis direction from the reference position, or a focus shift amount or an amount proportional thereto. By detecting the reference image point by directly illuminating the pinhole 3a, the amount of defocus at this time or an amount proportional thereto can be measured, so that adjustment and maintenance that does not require a preparation jig can be performed.

【0009】[0009]

【実施例1】図6ないし図10は本発明の実施例1を示
し、図1と同一の要素は同一の符号で対応させてある。
図6において、9は光源としてのハロゲンランプ、10
はレンズ、11はミラー、12はレンズである。ハロゲ
ンランプ9はランプハウス13内に固定的に配置され、
レンズ10、ミラー11、レンズ12はこのランプハウ
ス13と連通した架台14に固定されることにより照明
光学系が構成されている。なお、架台14とはランプハ
ウス13とは相互に着脱自在となっている。また、架台
14の上部には、内側にマウントねじを有する第1の取
付マウント15が取り付けられており、この第1の取付
マウント15の上部には第2の取付マウント16が着脱
自在に取り付けられている。第2の取付マウント16の
上部には順次第1の回転機構部17、一軸直動機構部1
8、第2の回転機構部19および第3の取付マウント2
0が順次、取り付けられており、以下、これらを移動機
構ユニットと総称する。
Embodiment 1 FIGS. 6 to 10 show Embodiment 1 of the present invention, and the same elements as those in FIG. 1 are assigned the same reference numerals.
In FIG. 6, reference numeral 9 denotes a halogen lamp as a light source;
Denotes a lens, 11 denotes a mirror, and 12 denotes a lens. The halogen lamp 9 is fixedly arranged in the lamp house 13,
The illumination optical system is configured by fixing the lens 10, the mirror 11, and the lens 12 to a mount 14 communicating with the lamp house 13. The gantry 14 and the lamp house 13 are detachable from each other. A first mounting mount 15 having a mounting screw inside is mounted on an upper portion of the gantry 14, and a second mounting mount 16 is detachably mounted on the upper portion of the first mounting mount 15. ing. On the upper part of the second mounting mount 16, a first rotation mechanism 17 and a uniaxial linear movement mechanism 1 are sequentially arranged.
8, second rotation mechanism 19 and third mounting mount 2
0 are sequentially attached, and these are hereinafter collectively referred to as a moving mechanism unit.

【0010】第3の取付マウント20の上部には第4の
取付マウント21が着脱自在に取り付けられており、こ
の第4の取付マウント21には第2のピンホール板3、
結像レンズ4および瞳4分割プリズム5からなる4分割
結像レンズAが下方から順に配置されると共に、その上
部には受光素子6を有するCCDカメラ22が取り付け
られている。
A fourth mounting mount 21 is removably mounted on the upper part of the third mounting mount 20. The fourth mounting mount 21 has a second pinhole plate 3,
A four-division imaging lens A composed of an imaging lens 4 and a pupil four-segment prism 5 is arranged in order from the bottom, and a CCD camera 22 having a light receiving element 6 is mounted on the upper part thereof.

【0011】一方、第1の取付マウント15の内部には
被検レンズ2を保持した被検レンズ枠23が前記マウン
トねじにより取り付けられていると共に、第1の取付マ
ウント15の外側には5のピンホール1aを有する第
1のピンホール板1(図7参照)保持したピンホール
枠24が取り付けられている。25は基準測定値を保存
するための記憶部、26は測定値と基準測定値との差を
出力するための演算部である。
Meanwhile, five, along with the test lens frame 23 holding the sample lens 2 in the interior of the first mounting mount 15 is mounted by the mounting screws, the outer side of the first attachment mount 15 first with pinholes 1a of the pinhole plate 1 pinhole frame 24 which holds a (see FIG. 7) is attached. 25 is a storage unit for storing the reference measurement value, and 26 is a calculation unit for outputting the difference between the measurement value and the reference measurement value.

【0012】次に作用と共に測定手段を説明する。まず
測定に先立って図8に示すように、移動機構ユニット、
被検レンズ枠23およびピンホール枠24を外し、第1
の取付マウント15に第4の取付マウント21を直接に
取り付けて事前測定を行う。すなわち、ハロゲンランプ
9および照明光学系により第2のピンホール板3を直接
に、照明することにより図9に示すようにピンホール3
aの4分割像を受光素子6上に形成する。画像計測部7
はこれらの4個の点像の各々の重心位置を測定する。こ
の座標を図示のごとく(X1,Y1),(X2,Y2),
(X3,Y3),(X4,Y4し、数1を用いて基準位
置からの合焦ずれ量Fを算出し、表示部8でこの結果を
表示すると同時に記憶部25に記憶する。ここで、kは
被検レンズの像側開口数により定まる係数である。
Next, the operation and the measuring means will be described. First, prior to the measurement, as shown in FIG.
Remove the test lens frame 23 and the pinhole frame 24, and
The pre-measurement is performed by directly attaching the fourth mounting mount 21 to the mounting mount 15. That is, by directly illuminating the second pinhole plate 3 with the halogen lamp 9 and the illumination optical system, as shown in FIG.
The four-divided image a is formed on the light receiving element 6. Image measurement unit 7
Measures the position of the center of gravity of each of these four point images. These coordinates are represented as (X 1 , Y 1 ), (X 2 , Y 2 ),
(X 3 , Y 3 ), (X 4 , Y 4 ), and the amount of defocus F from the reference position is calculated using Equation 1, and this result is displayed on the display unit 8 and simultaneously stored in the storage unit 25. Remember. Here, k is a coefficient determined by the image-side numerical aperture of the test lens.

【0013】[0013]

【数1】 (Equation 1)

【0014】こうして算出された値は、4分割結像レン
ズAの配置上の誤差により生ずる測定誤差を除去するた
めに用いる。なお、この事前測定は、簡易的には図6の
状態から第1のピンホール板1のみを外しても可能であ
る。この事前測定後、図6に示す配置構成で測定を開始
する。すなわち、ハロゲンランプ10および照明光学系
で第1のピンホール板1を照明する。この第1のピンホ
ール板には図7に示すように、5個のピンホールが形成
されているので、これらのピンホールの像が被検レンズ
2により、第2のピンホール板3近傍に形成される。
The value calculated in this way is used to remove a measurement error caused by an error in the arrangement of the four-division imaging lens A. Note that this pre-measurement can be simply performed by removing only the first pinhole plate 1 from the state of FIG. After this preliminary measurement, the measurement is started with the arrangement shown in FIG. That is, the first pinhole plate 1 is illuminated by the halogen lamp 10 and the illumination optical system. As shown in FIG. 7, five pinholes are formed in the first pinhole plate, and the images of these pinholes are brought into the vicinity of the second pinhole plate 3 by the lens 2 to be measured. It is formed.

【0015】なお、説明の都合上、これらの点像のうち
3個の点像P1 ,P2 ,P3 のみについて説明する。こ
こでP1 は第1のピンホール板の中心(軸上)に位置す
るピンホール1aの像、P2 は中心より右側にあるピン
ホール1aの像、P3 はP2と反対側の中心より左側に
あるピンホール1aの像である。第2のピンホール板3
の中心(軸上)には点像P1 ,P2 ,P3 よりも大きな
ピンホール3aが形成されているため、図示のように点
像P1 を形成する光束は全てピンホール3aを通過し、
この光束により受光素子6上に4分割像が形成される。
一方、他の光束すなわち点像P2 ,P3 を形成する光束
は第2のピンホール板3で遮断されるため受光素子6に
は到達することがなく、これによるノイズが発生するこ
とがない。従って、第1のピンホール板1の中心のピン
ホールの4分割像が受光素子6上に形成されるため、前
述と同様に画像計測部7で4個の点像の各々の重心位置
を測定し、この座標(X1 ,Y1 ),(X2 ,Y2 ),
(X3 ,Y3 ),(X4 ,Y4 )を用いて数1により、
基準位置からの合焦ずれ量Fを算出し、このFの値と記
憶部25に記憶されている事前測定のFの値との差を演
算部26で算出し、これを表示部8で表示する。この表
示値は基準物点位置(第1のピンホール板1の位置)の
中心(軸上)に物点を配置した時に被検レンズにより形
成される像点の基準像点位置(第2ピンホール板3の位
置)からのずれ量、すなわち合焦ずれを正確に表すもの
である。
For convenience of explanation, only three of the point images P 1 , P 2 and P 3 will be described. Where P 1 is the image of the first image of the pinhole 1a located at the center (on the axis) of the pinhole plate, P 2 pinholes 1a in the center to the right, P 3 is the side opposite the center of the P 2 It is an image of the pinhole 1a on the further left side. Second pinhole plate 3
Point image P 1 in the center (on the axis) of, P 2, since a large pinholes 3a than P 3 are formed, passes through all the pinhole 3a, the light beam to form the point image P 1 as shown And
This light beam forms a four-divided image on the light receiving element 6.
On the other hand, other light beams, that is, light beams forming the point images P 2 and P 3 are cut off by the second pinhole plate 3 and do not reach the light receiving element 6, so that noise does not occur. . Therefore, since a four-divided image of the pinhole at the center of the first pinhole plate 1 is formed on the light receiving element 6, the center of gravity of each of the four point images is measured by the image measuring unit 7 as described above. And the coordinates (X 1 , Y 1 ), (X 2 , Y 2 ),
Using (X 3 , Y 3 ) and (X 4 , Y 4 ),
The amount of defocus F from the reference position is calculated, the difference between the value of F and the value of F measured in advance stored in the storage unit 25 is calculated by the calculation unit 26, and this is displayed on the display unit 8. I do. This display value is based on the reference image point position (second pin) of the image point formed by the test lens when the object point is arranged at the center (on the axis) of the reference object point position (the position of the first pinhole plate 1). The shift amount from the position of the hole plate 3), that is, the focus shift is accurately represented.

【0016】次に、第2の回転機構部19により、第2
のピンホール板3と4分割結像レンズAとCCDカメラ
22を1体として回転させながら、数2により、その時
の非点量Bを算出し、この値Bを表示部8で表示する。
Next, the second rotation mechanism 19 causes the second
While rotating the pinhole plate 3, the four-division imaging lens A, and the CCD camera 22 as a single body, the astigmatism B at that time is calculated by Expression 2, and this value B is displayed on the display unit 8.

【0017】[0017]

【数2】 (Equation 2)

【0018】回転に伴い、この値は変化するため、1回
転中の最大値が非点収差量となる。さらに、回転中の4
個の平均座標の回転半径を計測、表示することにより点
像の偏心量をも計測することができる。その後、一軸直
動機構部18を操作し、図10に示すように第2のピン
ホール板3と4分割結像レンズAとCCDカメラ22と
を1体として右方へ定められた距離だけ移動して点像P
2 を形成する光束のみをピンホール3aから通過させ
る。そして、この時の合焦ずれ量、非点収差量および偏
心量を計測する。
Since this value changes with rotation, the maximum value during one rotation becomes the amount of astigmatism. In addition, the rotating 4
The eccentricity of the point image can be measured by measuring and displaying the radius of gyration of the average coordinates of the individual images. Thereafter, the uniaxial linear motion mechanism 18 is operated to move the second pinhole plate 3, the four-division imaging lens A, and the CCD camera 22 as a single body as shown in FIG. And point image P
Only the luminous flux forming 2 passes through the pinhole 3a. Then, the amount of defocus, the amount of astigmatism, and the amount of eccentricity at this time are measured.

【0019】さらに、第1の回転機構部17より上に配
置されている部分を同回転機構部17により180°回
転させ、点像P3を形成する光束のみをピンホール3a
から通過させる。そして、この時の合焦ずれ量非収差
量および偏心量を計測する。他の点像すなわち点像
1,P2,P3に対応するピンホール1a以外の2つの
ピンホール1aの点像については90°および270°
の回転で同様にして測定することができる。
Further, the portion arranged above the first rotation mechanism 17 is rotated 180 ° by the rotation mechanism 17 .
Is rolling, pinholes 3a only light flux that forms a point image P 3
Let through. Then, the amount of defocus, the amount of non-aberration, and the amount of eccentricity at this time are measured. The point image of the other point images i.e. the point image P 1, P 2, other than the pinhole 1a corresponding to P 3 2 one pin holes 1a 90 ° and 270 °
The rotation can be measured in the same manner.

【0020】以上の説明は、ピンホール1aを5個用い
た場合であるが、この個数を増やすことにより正確な被
検レンズの評価ができる。すなわち、偏心量の測定群を
解析することにより歪曲収差を求めることができ、ま
た、合焦ずれ量の測定群を解析することにより像曲収差
を知ることができる。
In the above description, five pinholes 1a are used. By increasing the number of the pinholes, accurate evaluation of the lens to be inspected is possible. That is, the distortion can be obtained by analyzing the measurement group of the amount of eccentricity, and the image distortion can be known by analyzing the measurement group of the amount of defocus.

【0021】本実施例では上記構成に加えて、第1のピ
ンホール板1とハロゲンランプ9との間の適当な位置に
着脱可能な干渉フィルター(図示省略)を挿入すること
により色収差の測定も可能となる。なお、光源9および
照明光学系は、第1のピンホール板1を均一に照明でき
れば良く、図示の構成に限るものではない。
In the present embodiment, in addition to the above-described configuration, a chromatic aberration can be measured by inserting a removable interference filter (not shown) at an appropriate position between the first pinhole plate 1 and the halogen lamp 9. It becomes possible. The light source 9 and the illumination optical system need only be capable of uniformly illuminating the first pinhole plate 1 and are not limited to the illustrated configuration.

【0022】このような本実施例は、経時変化あるいは
環境変化に対しても常に測定装置の変化分を補償するこ
とになるため、保守が不要となる効果がある。
In this embodiment, since the change of the measuring device is always compensated for a change with time or an environmental change, there is an effect that maintenance is unnecessary.

【0023】[0023]

【実施例2】図11は、本発明の実施例2を示し、同図
において27は4分割結像レンズAと受光素子6との間
隔を調整するための調整枠、28は調整後に固定するた
めのクランプビスである。本実施例における移動機構ユ
ニットは第1の取付マウント15、第1の回転機構部1
7、一軸直動機構部18および第3の取付マウント20
のみで構成され、他の構成は実施例1と同様となってい
る。本実施例では、実施例1と同様に移動機構ユニッ
ト、被検レンズ枠23およびピンホール枠24を外し、
取付マウント15に直接に第4の取付マウント21を取
り付けて事前測定を行うが、実施例1と異なり、合焦ず
れ量Fが0になるように調整枠27を第4の取付マウン
ト21に対して回転させて、4分割結像レンズAと受光
素子6との間隔を調整し、その後にクランプビス28で
固定するものである。しかる後に図11に示すように配
置し、被検レンズ2による点像P1 を同様にして測定す
ることにより、差分演算をすることなくそのまま合焦ず
れ量となる。軸上の非点収差量および偏心量は第1の回
転機構部17によって回転させることにより、実施例1
と同様に求めることができる。
Second Embodiment FIG. 11 shows a second embodiment of the present invention. In FIG. 11, reference numeral 27 denotes an adjustment frame for adjusting the distance between the four-division imaging lens A and the light receiving element 6, and 28 is fixed after the adjustment. For the clamp screw. The moving mechanism unit in the present embodiment includes a first mounting mount 15 and a first rotating mechanism 1.
7. Uniaxial linear motion mechanism 18 and third mounting mount 20
The other configuration is the same as that of the first embodiment. In this embodiment, the moving mechanism unit, the lens frame 23 to be inspected, and the pinhole frame 24 are removed as in the first embodiment.
The pre-measurement is performed by directly attaching the fourth mounting mount 21 to the mounting mount 15, but unlike the first embodiment, the adjustment frame 27 is attached to the fourth mounting mount 21 so that the focus shift amount F becomes zero. To adjust the distance between the four-division imaging lens A and the light receiving element 6, and then fix it with the clamp screw 28. After that, by disposing as shown in FIG. 11 and measuring the point image P 1 by the test lens 2 in the same manner, the focus shift amount is directly obtained without performing the difference calculation. The astigmatism amount and the eccentric amount on the axis are rotated by the first rotation mechanism 17 to obtain the first embodiment.
Can be obtained in the same way as

【0024】次に一軸直動機構部18を操作し、第2の
ピンホール板3と4分割結像レンズAとCCDカメラ2
2を一体として右方へ定められた距離だけ、移動するこ
とにより、点像P2 を形成する光束のみをピンホール3
aから通過させることができ、この時の合焦ずれ量およ
び偏心量を知ることができる。また、サジタル方向とメ
リショナル方向の非点隔差を求めることができる。
Next, the one-axis linear motion mechanism 18 is operated, and the second pinhole plate 3, the four-division imaging lens A, the CCD camera 2
2 are moved to the right by a predetermined distance so that only the luminous flux forming the point image P 2 is pinhole 3.
The light can be passed through a, and the amount of defocus and the amount of eccentricity at this time can be known. Also, the astigmatic difference between the sagittal direction and the metrical direction can be obtained.

【0025】また、第1の回転機構部17より上方に配
置されている部分を同回転機構部17の回転で回転させ
ることにより、点像P3 を含む他の点像についてそれぞ
れ合焦ずれ量と偏心量と非点隔差を順次求めることがで
きる。歪曲収差と像面湾曲についても実施例1と同様に
して求めることができる。
Further, by rotating the portion disposed above the first rotary mechanism 17 by the rotation of the rotary mechanism 17, respectively focusing displacement amount for other point images including point image P 3 , The amount of eccentricity, and the astigmatic difference can be sequentially obtained. The distortion and the field curvature can be obtained in the same manner as in the first embodiment.

【0026】このような本実施例では、実施例1のよう
な事前測定が不要となるので、短時間に測定することが
できる。
In this embodiment, since the prior measurement as in the first embodiment is not required, the measurement can be performed in a short time.

【0027】[0027]

【実施例3】図12は本発明の実施例3を示す。本実施
例における移動機構ユニットは、第1の取付マウント1
5,二軸直動機溝部29および第3の取付マウント20
のみで構成され、他の構成は実施例2と同じである。本
実施例で、軸外測定をする場合には、回転しないため、
受光素子6の2つの座標軸間の非点隔差を求めることが
でき、この点が実施例2と相違する。なお、実施例2お
よび実施例3において、被検レンズ枠23を回転させる
ことにより、実施例1と同様に非点収差量を求めること
ができる。
Third Embodiment FIG. 12 shows a third embodiment of the present invention. The moving mechanism unit in the present embodiment includes a first mounting mount 1.
5, Double-axis linear motion groove 29 and third mounting mount 20
Only the configuration is the same as that of the second embodiment. In the present embodiment, when performing off-axis measurement, since it does not rotate,
The astigmatic difference between the two coordinate axes of the light receiving element 6 can be obtained, which is different from the second embodiment. In the second and third embodiments, the amount of astigmatism can be obtained by rotating the lens frame 23 in the same manner as in the first embodiment.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のとおり本発明は、軸外性能を含め
たレンズ性能を高精度で評価することができる。
As described above, according to the present invention, the lens performance including the off-axis performance can be evaluated with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の基本構成を示す光路図である。FIG. 1 is an optical path diagram showing a basic configuration of the present invention.

【図2】第1のピンホール板の正面図である。FIG. 2 is a front view of a first pinhole plate.

【図3】第2のピンホール板の正面図である。FIG. 3 is a front view of a second pinhole plate.

【図4】受光素子に結像した像の正面図である。FIG. 4 is a front view of an image formed on a light receiving element.

【図5】瞳4分割プリズムの斜視図である。FIG. 5 is a perspective view of a pupil quadrant prism.

【図6】本発明の実施例1の断面図である。FIG. 6 is a sectional view of Embodiment 1 of the present invention.

【図7】実施例1の第1のピンホール板の正面図であ
る。
FIG. 7 is a front view of a first pinhole plate according to the first embodiment.

【図8】実施例1の事前測定を示す断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view showing a preliminary measurement of Example 1.

【図9】実施例1の結像例の正面図である。FIG. 9 is a front view of an image forming example according to the first embodiment.

【図10】実施例1の測定時の断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view of Example 1 during measurement.

【図11】本発明の実施例2の断面図である。FIG. 11 is a sectional view of a second embodiment of the present invention.

【図12】本発明の実施例3の断面図である。FIG. 12 is a sectional view of a third embodiment of the present invention.

【図13】従来の評価方法を示す光路図である。FIG. 13 is an optical path diagram showing a conventional evaluation method.

【図14】従来の瞳4分割プリズムの斜視図である。FIG. 14 is a perspective view of a conventional pupil quadrant prism.

【図15】従来の結像例の正面図である。FIG. 15 is a front view of a conventional image forming example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1のピンホール板 2 被検レンズ 3 第2のピンホール板 4 結像レンズ 5 瞳4分割プリズム 6 受光素子 7 画像計測部 A 4分割結像レンズ REFERENCE SIGNS LIST 1 first pinhole plate 2 lens to be inspected 3 second pinhole plate 4 imaging lens 5 pupil quadrant prism 6 light receiving element 7 image measurement unit A quadrant imaging lens

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光点の被検レンズによる点像を結像レン
ズと瞳4分割素子とからなる4分割結像レンズによる4
個の2次点像として形成して、これらの点像のそれぞれ
の重心または中心の位置の計測値から合焦ずれ量または
その比例する量を算出するレンズ性能評価方法におい
て、 前記被検レンズの基準像点にピンホールを配置し、この
ピンホールと前記4分割結像レンズとを少なくとも一方
向に一体的に移動して、基準物面に配置された複数の光
点の被検レンズによる複数の点像のうちの任意の1個の
点像を形成する光束のみをピンホールから通過させるこ
とを特徴とするレンズ性能評価方法。
1. A point image formed by a lens to be inspected at a light spot is converted by a four-division imaging lens comprising an imaging lens and a pupil four-division element.
A plurality of secondary point images, and calculating the amount of defocus or a proportional amount thereof from the measured value of the position of the center of gravity or the center of each of these point images. A pinhole is disposed at a reference image point, and the pinhole and the four-division imaging lens are integrally moved in at least one direction, so that a plurality of light points disposed on the reference object surface are measured by the lens to be inspected. A lens performance evaluation method characterized by passing only a light beam forming an arbitrary one of the point images through a pinhole.
【請求項2】 前記ピンホールの合焦ずれ量を検出し、
この検出値を被検レンズにより像の合焦ずれ量から差し
引き、差し引いた値を被検レンズの真の合焦ずれ量とす
ることを特徴とする請求項1記載のレンズ性能評価方
法。
2. The method according to claim 1, wherein an amount of defocus of the pinhole is detected.
2. The lens performance evaluation method according to claim 1, wherein the detected value is subtracted from the defocus amount of the image by the test lens, and the subtracted value is used as a true defocus amount of the test lens.
【請求項3】 前記被検レンズにより形成される点像の
偏心量の測定群から歪曲収差を計測することを特徴とす
る請求項1記載のレンズ性能評価方法。
3. The lens performance evaluation method according to claim 1, wherein a distortion is measured from a group of measurement of eccentricity of a point image formed by the test lens.
【請求項4】 前記被検レンズにより形成される点像の
合焦ずれ量の測定群から像面湾曲を計測することを特徴
とする請求項1記載のレンズ性能評価方法。
4. The lens performance evaluation method according to claim 1, wherein a curvature of field is measured from a measurement group of a focus shift amount of a point image formed by the test lens.
【請求項5】 光点の被検レンズによる点像を4個の点
像として再結像するため射出瞳付近に配設された4個の
同一ウエッジ角を有するウエッジプリズムを側面接合し
て構成された瞳4分割のプリズムを備えた4分割結像レ
ンズと、 この4分割結像レンズの基準像面位置に配設された受光
素子と、 この受光素子上に形成される4個の点像のそれぞれの重
心または中心の位置を計測して合焦ずれ量またはこれを
比例した量と算出する画像計測部とを備え、 前記光点が被検レンズの基準物面に配設された複数のピ
ンホールと、被検レンズの基準像面の光軸上に配置され
たピンホールとで構成され、複数のピンホールの被検レ
ンズによる複数の点像の中から任意の一の点像を形成す
る光束のみを通過させるため前記ピンホール、4分割結
像レンズおよび受光素子が複数のピンホールを設けた被
検レンズに対して光軸と直交する方向に一体的に移動可
能となっていることを特徴とするレンズ性能評価装置。
5. A wedge prism having the same wedge angle disposed in the vicinity of an exit pupil, which is side-joined to re-form a point image of a light spot by a lens to be detected as four point images. Four-division imaging lens having a divided pupil four-division prism, a light receiving element arranged at a reference image plane position of the four-division imaging lens, and four point images formed on the light receiving element An image measuring unit that measures the position of the center of gravity or the center of each to calculate the amount of defocus or a proportional amount thereof, wherein the light spot is disposed on a reference object surface of the lens to be inspected. Consists of a pinhole and a pinhole arranged on the optical axis of the reference image plane of the lens to be inspected, and forms an arbitrary point image from a plurality of point images by the lens of the pinhole to be inspected. The pinhole, the four-division imaging lens, and the A lens performance evaluation device, wherein a light receiving element is integrally movable with respect to a test lens provided with a plurality of pinholes in a direction orthogonal to an optical axis.
JP29202392A 1992-10-06 1992-10-06 Lens performance evaluation method and apparatus Expired - Fee Related JP3213642B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29202392A JP3213642B2 (en) 1992-10-06 1992-10-06 Lens performance evaluation method and apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29202392A JP3213642B2 (en) 1992-10-06 1992-10-06 Lens performance evaluation method and apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06117966A JPH06117966A (en) 1994-04-28
JP3213642B2 true JP3213642B2 (en) 2001-10-02

Family

ID=17776537

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29202392A Expired - Fee Related JP3213642B2 (en) 1992-10-06 1992-10-06 Lens performance evaluation method and apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3213642B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008134794A (en) * 2006-11-28 2008-06-12 Oki Data Corp Power supply device, connection unit and electronic equipment

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06117966A (en) 1994-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4647867B2 (en) Apparatus and method used to evaluate a target larger than the sensor measurement aperture
JP4774332B2 (en) Eccentricity measurement method
JP3435019B2 (en) Lens characteristic measuring device and lens characteristic measuring method
CN110823531B (en) Digital optical bench
JPH06109582A (en) Integrated lens inspecting machine
JP3482013B2 (en) Optical system focus evaluation method, adjustment method, adjustment device, and chart device
JP3504746B2 (en) Image evaluation device
JPH02161332A (en) Device and method for measuring radius of curvature
JP3213642B2 (en) Lens performance evaluation method and apparatus
JPH0769219B2 (en) Interference fringe analysis method and apparatus therefor
JP2983673B2 (en) Method and apparatus for measuring radius of curvature
JPH06137995A (en) Lens performance evaluation method
JP2521736B2 (en) Microscope adjustment inspection device
JP2686146B2 (en) Interferometer
JP2001166202A (en) Focus detection method and focus detector
JP4245851B2 (en) Objective lens, combination of objective lenses, and method of adjusting optical system using objective lens
TWM583937U (en) Detection module
JP2672771B2 (en) Through hole inner diameter measuring device
JPH09243514A (en) Method and apparatus for measuring diopter of viewing lens
JPH1194700A (en) Measuring device and method for lens
EP0770848A1 (en) Projection inspecting machine
JP3268873B2 (en) Lens aberration measurement method
JP3118845B2 (en) Optical device having focus indicator
JP3118989B2 (en) Interferometer device
JPH02290536A (en) Microspectral measuring instrument

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010710

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080719

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees