JP3213113B2 - Automatic solder plating solution management system - Google Patents
Automatic solder plating solution management systemInfo
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- JP3213113B2 JP3213113B2 JP08002193A JP8002193A JP3213113B2 JP 3213113 B2 JP3213113 B2 JP 3213113B2 JP 08002193 A JP08002193 A JP 08002193A JP 8002193 A JP8002193 A JP 8002193A JP 3213113 B2 JP3213113 B2 JP 3213113B2
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明ははんだめっき液自動管理
装置に係り、特にはんだめっき工程中のはんだめっき液
の組成濃度を自動的に管理することができるはんだめっ
き液自動管理装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic solder plating solution management apparatus, and more particularly to an automatic solder plating solution management apparatus capable of automatically controlling the composition concentration of a solder plating solution during a solder plating process.
【0002】[0002]
【従来の技術】最近、電子部品に対してはんだめっきを
施すことが多く行われている。このはんだめっきを行う
はんだめっき浴には、ほうふつ酸浴及び有機スルホン酸
浴がある。ほうふつ酸浴で得られるはんだめっきは、得
られる皮膜の物性が良く、多く使用されているが、高電
流密度で良質なめっきが得られないこと、排水処理が難
しいこと或いは排水基準が厳しいことなどの理由で、有
機スルホン酸浴が最近用いられるようになってきた。し
かして、リードフレーム等の電子部品に必要な接着機能
を持つ電導性はんだめっき皮膜を得るには、はんだめっ
き浴を構成する組成濃度管理が必要とされている。この
場合、管理の対象となる組成は、めっき浴に電導性を与
える遊離酸、めっき皮膜を構成するSn2+、Pb2+、そ
して品質が安定しためっき皮膜を得るために使用される
添加剤等があり、それらの濃度を設定された管理濃度及
び標準管理幅で維持する必要がある。標準管理幅でめっ
き浴の組成濃度を管理するためには、はんだめっき工程
中にあるはんだめっき液の組成濃度を正確に分析する必
要があるが、従来は、多くの時間をかけて人手で分析し
ている。2. Description of the Related Art Recently, solder plating is often performed on electronic components. Solder plating baths for performing the solder plating include a boric acid bath and an organic sulfonic acid bath. Solder plating obtained in a boric acid bath has good physical properties of the resulting film and is often used.However, high current density and good quality plating cannot be obtained, wastewater treatment is difficult, or wastewater standards are strict. For this reason, organic sulfonic acid baths have recently been used. Thus, in order to obtain a conductive solder plating film having an adhesive function necessary for an electronic component such as a lead frame, it is necessary to control the composition concentration of the solder plating bath. In this case, the composition to be controlled is a free acid that gives conductivity to the plating bath, Sn 2+ and Pb 2+ that constitute the plating film, and additives that are used to obtain a plating film with stable quality. It is necessary to maintain those densities at the set control density and standard control width. In order to control the composition concentration of the plating bath with the standard control width, it is necessary to accurately analyze the composition concentration of the solder plating solution during the solder plating process, but conventionally, it takes a lot of time to manually analyze are doing.
【0003】また、分析された組成濃度に基づいて不足
成分の補給量の算出及び補給も全て人手を介して行って
いた。Further, the calculation and replenishment of the replenishment amount of the deficient component on the basis of the analyzed composition concentration have all been performed manually.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来の分析方法においては、Sn2+、遊離酸、Pb2+
を分析するために、三つの分析用容器を使用し、人手を
介して分析しなければならないという問題点があった。
また、有機スルホン酸浴の場合には添加剤の濃度につい
ても別途分析を行わなければならないという問題点があ
った。However, in the above-mentioned conventional analysis method, Sn 2+ , free acid, Pb 2+
There is a problem that three containers for analysis have to be used and the analysis has to be performed manually in order to analyze the water.
In addition, in the case of the organic sulfonic acid bath, there is a problem that the concentration of the additive must be separately analyzed.
【0005】さらに、前述したように分析された組成濃
度に基づいて不足成分の補給量の算出及び補給も全て人
手を介して行わなければならないという問題点があっ
た。Further, there is a problem that the calculation and the replenishment of the replenishment amount of the deficient component must be manually performed based on the composition concentration analyzed as described above.
【0006】本発明は上述の事情に鑑みてなされたもの
で、はんだめっき工程中にあるはんだめっき液のS
n2+、遊離酸、Pb2+及び添加剤濃度を分析することが
できるとともに分析結果に基づき各成分の補給量を演算
することができるはんだめっき液自動管理装置を提供す
ることを目的とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and has been developed in consideration of the S plating of the solder plating solution during the solder plating process.
It is an object of the present invention to provide a solder plating solution automatic management device capable of analyzing n 2+ , free acid, Pb 2+ and additive concentration and calculating a replenishing amount of each component based on the analysis result. .
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、本発明のはんだめっき液自動管理装置は、はんだめ
っき工程中のはんだめっき槽からはんだめっき液を常時
取り出すとともにこれをはんだめっき液槽に戻すように
したはんだめっき液分析用循環槽と、はんだめっき液中
のSn2+、遊離酸、Pb2+の濃度を分析できるようにし
た1つの分析用容器と、前記分析用容器内に設置された
電極と、添加剤濃度を分析できるようにした添加剤濃度
分析部と、前記はんだめっき液分析用循環槽からはんだ
めっき液を前記分析用容器にサンプリングするサンプリ
ング機構と、前記各濃度分析に必要な各種試薬を前記分
析用容器に供給する試薬供給部と、前記各濃度分析を行
う工程の間に前記分析用容器、電極及び添加剤濃度分析
部を洗浄する洗浄液供給部と、前記各機器部を制御する
とともに前記濃度分析で得られた結果から各成分の補給
量を演算する演算制御装置と、前記分析結果及び前記補
給量を表示する表示装置とを備えたことを特徴とするも
のである。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above-mentioned object, an automatic solder plating solution management apparatus according to the present invention always takes out a solder plating solution from a solder plating bath during a solder plating process and removes the solder plating solution from the bath. A circulating bath for analyzing the solder plating solution, which was returned to the above condition, a container for analysis capable of analyzing the concentrations of Sn 2+ , free acid, and Pb 2+ in the solder plating solution; The installed electrode, an additive concentration analysis unit capable of analyzing the additive concentration, a sampling mechanism for sampling the solder plating solution from the solder plating solution analyzing circulation tank to the analysis container, and the respective concentration analysis A reagent supply unit for supplying various reagents necessary for the analysis to the analysis container, and washing for washing the analysis container, the electrode, and the additive concentration analysis unit during the respective concentration analysis steps. A liquid supply unit, an arithmetic and control unit that controls each of the device units and calculates a replenishment amount of each component from a result obtained by the concentration analysis, and a display device that displays the analysis result and the replenishment amount. It is characterized by having.
【0008】[0008]
【作用】前述した構成からなる本発明によれば、はんだ
めっき工程中のはんだめっき槽からはんだめっき液を常
時はんだめっき液分析用循環槽に導き、このはんだめっ
き液分析用循環槽からサンプリング機構によってはんだ
めっき液をサンプリングして分析用容器に移し、S
n2+、遊離酸、Pb2+のいずれか一つの成分について定
量分析した後に、洗浄液供給部を稼働させて、分析用容
器及び電極等を洗浄する。上述の動作を繰り返すことに
>より他の二成分について分析を行い、1つの分析用容
器でSn2+、遊離酸、Pb2+の定量分析を行う。また、
添加剤濃度分析部において、添加剤濃度を分析する。一
方、各分析結果は演算制御装置に入力され、各成分の補
給量が求められ、これら補給量及び各分析結果は表示装
置に表示される。According to the present invention having the above-described structure, the solder plating solution is constantly guided from the solder plating bath during the solder plating process to the circulation bath for analyzing the solder plating solution, and is sampled from the circulation bath for analyzing the solder plating solution by the sampling mechanism. The solder plating solution is sampled and transferred to a container for analysis.
After quantitatively analyzing any one component of n 2+ , free acid, and Pb 2+ , the cleaning liquid supply unit is operated to wash the analysis container and the electrodes. To repeat the above operation
> Analyze the other two components, and perform quantitative analysis of Sn 2+ , free acid, and Pb 2+ in one analysis container. Also,
The additive concentration analysis section analyzes the additive concentration. On the other hand, each analysis result is input to the arithmetic and control unit, and the replenishment amount of each component is obtained, and the replenishment amount and each analysis result are displayed on the display device.
【0009】本発明の一態様によれば、前記演算された
補給量により、補給槽に設置された補給ポンプを制御
し、はんだめっき槽に不足成分を補給できる。また、外
部コンピュータに分析結果、補給量等を送ることができ
る。According to one aspect of the present invention, the replenishment pump installed in the replenishment tank is controlled based on the calculated replenishment amount, and the insufficient component can be replenished to the solder plating tank. Further, the analysis result, the supply amount, and the like can be sent to an external computer.
【0010】[0010]
【実施例】以下、本発明に係るはんだめっき液自動管理
装置の一実施例を図1を参照して説明する。はんだめっ
き液自動管理装置は筺体B(2点鎖線で示される)を備
え、この筺体B内にはんだめっき液分析用循環槽2が設
置されている。はんだめっき工程中にあるはんだめっき
槽1とはんだめっき液分析用循環槽2とは供給用配管3
a及び戻り配管3bにより接続されており、供給用配管
3aには循環用サンプリングポンプP1 及びバルブV1
が設置されており、循環用サンプリングポンプP1 を常
時運転することによって、はんだめっき工程中のはんだ
めっき槽1からはんだめっき液をはんだめっき液分析用
循環槽2に取り出すとともにこれをはんだめっき槽1に
戻すようになっている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an automatic solder plating solution management apparatus according to the present invention will be described below with reference to FIG. The automatic solder plating solution management apparatus includes a housing B (indicated by a two-dot chain line), and a circulation bath 2 for analyzing a solder plating solution is installed in the housing B. The supply pipe 3 is connected to the solder plating tank 1 and the circulation tank 2 for analyzing the solder plating solution during the solder plating process.
are connected by a and the return pipe 3b, the sampling pump circulation the supply pipe 3a P 1 and valve V 1
There are installed by operating the circulation sampling pump P 1 always plating tank 1 the solder which is taken out from the solder plating bath 1 in the solder plating step the plating solution analyzing circulation tank 2 solder the solder plating solution To return to.
【0011】また、はんだめっき液分析用循環槽2に隣
接して分析用容器4が設置されており、この分析用容器
4内にPH電極5及び酸化還元電極6が設置されてい
る。分析用容器4の外部には発光部7a及び受光部7b
からなる透過度測定器7が設置されている。分析用容器
4の底部外側にはマグネチックスターラ8が設置されて
おり、分析用容器4内の液が攪拌されるようになってい
る。また、分析用容器4の底部には廃液用配管3cが接
続され、この配管3cには電磁弁V2 が介装されてい
る。An analysis vessel 4 is installed adjacent to the solder plating solution analysis circulation tank 2, and a PH electrode 5 and an oxidation-reduction electrode 6 are installed in the analysis vessel 4. A light emitting unit 7a and a light receiving unit 7b are provided outside the analysis container 4.
Is installed. A magnetic stirrer 8 is installed outside the bottom of the analysis container 4 so that the liquid in the analysis container 4 is stirred. Further, the bottom of the analysis container 4 waste pipe 3c is connected, the solenoid valve V 2 is interposed in the pipe 3c.
【0012】前記はんだめっき液分析用循環槽2からは
んだめっき液をサンプリングして分析用容器4に移すた
めにサンプリング用容器10が設けられており、このサ
ンプリング容器10はサンプリング機構(図示せず)に
よってはんだめっき液分析用循環槽2と分析用容器4間
を破線によって示されるように移動可能になっている。A sampling vessel 10 is provided for sampling the solder plating solution from the solder plating solution analyzing circulation tank 2 and transferring it to the analysis vessel 4, and the sampling vessel 10 is provided with a sampling mechanism (not shown). As a result, the solder plating solution can be moved between the analysis circulation tank 2 and the analysis vessel 4 as indicated by a broken line.
【0013】サンプリング用容器10にはサンプリング
用配管3dが接続されており、この配管3dにサンプリ
ングポンプP2 が接続されている。これによって、サン
プリング機構によりサンプリング容器10をはんだめっ
き液分析用循環槽2内に挿入した後、サンプリングポン
プP2 を稼働させて所定量のはんだめっき液を吸引し、
その後サンプリング用容器10を分析用容器4まで移動
させ、サンプリング用容器10から分析用容器4内には
んだめっき液を移すようになっている。[0013] The sampling container 10 is connected sampling pipe 3d is the sampling pump P 2 is connected to the pipe 3d. Thus, after inserting the sampling vessel 10 solder plating solution analyzing circulation tank 2 by the sampling mechanism, by operating the sampling pump P 2 sucks a predetermined amount of solder plating solution,
Thereafter, the sampling container 10 is moved to the analysis container 4, and the solder plating solution is transferred from the sampling container 10 into the analysis container 4.
【0014】またサンプリング用容器10は分析用容器
4の位置にきたときに、純水用配管3eと接続されるよ
うになっている。純水用配管3eにはバルブV3 及び純
水ポンプP7 が設置されるとともにその端部は純水タン
クT1 に接続されており、サンプリング用容器10から
はんだめっき液を排出したのち、サンプリング用容器1
0の壁面に付着したはんだめっき液を純水によって洗浄
して取り除くようになっている。When the sampling vessel 10 reaches the position of the analysis vessel 4, it is connected to the pure water pipe 3e. Its end with the pure water pipe 3e valve V 3 and the pure water pump P 7 is installed is connected to the pure water tank T 1, after the sampling container 10 was discharged solder plating solution, sampling Container 1
The solder plating solution adhering to the wall of No. 0 is cleaned and removed with pure water.
【0015】前記分析用容器4内には吸込供給配管3f
が挿入されており、この配管3fは三方弁V4 を介して
添加剤濃度分析部12に接続されており、更にこの配管
3fは三方弁V5 を介して吸引ポンプP3 に接続されて
いる。なお、三方弁V5 のNOポートは廃液用配管3c
に接続されている。前記添加剤濃度分析部12はフロー
セル12a、発光部12b及び受光部12cから構成さ
れている。In the analysis container 4, a suction supply pipe 3f is provided.
There is inserted, the pipe 3f is connected to the additive concentration analyzer 12 via the three-way valve V 4, it is further connected to a suction pump P 3 the pipe 3f via the three-way valve V 5 . Incidentally, NO port of the three-way valve V 5 is waste pipe 3c
It is connected to the. The additive concentration analyzing section 12 includes a flow cell 12a, a light emitting section 12b, and a light receiving section 12c.
【0016】また純水タンクT1 に隣接して洗浄用試薬
タンクT2 、滴定用試薬タンクT3及び標準液用試薬タ
ンクT4 がそれぞれ設置されている。なお、図1におい
ては簡略化のために各試薬タンクT1 〜T4 を各1個ず
つ図示したが、実際はそれぞれ複数の試薬タンクから構
成されている。試薬タンクT2 には試薬ポンプP4 が設
置された試薬用配管3gが挿入され、滴定用試薬タンク
T3 には滴定ポンプP5 が設置された滴定用配管3hが
挿入され、更に標準液用試薬タンクT4 には標準液ポン
プP6 が設置された標準液用配管3iが挿入されてい
る。A cleaning reagent tank T 2 , a titration reagent tank T 3 and a standard solution reagent tank T 4 are provided adjacent to the pure water tank T 1 . Although FIG. 1 shows each of the reagent tanks T 1 to T 4 for simplicity, each is actually composed of a plurality of reagent tanks. The reagent tank T 2 is inserted reagents pipe 3g reagent pump P 4 is installed, titrated pipe 3h the titration pump P 5 is installed is inserted into the titration reagent tank T 3, further standard solution for standard solution pipe 3i standard pump P 6 is installed in the reagent tank T 4 is inserted.
【0017】はんだめっき液自動管理装置は、前述した
各機器(電極5,6、透過度測定器7、サンプリング機
構、ポンプP1 〜P7 、バルブV2 〜V5 及び添加剤濃
度分析部12)を制御するとともに濃度分析で得られた
結果から各成分の補給量を演算する演算制御装置14を
備えるとともに、分析結果及び前記演算された補給量を
表示する表示装置15を備えている。[0017] Solder plating solution automatic management apparatus, each apparatus (the electrodes 5 and 6 described above, permeability measuring instrument 7, a sampling mechanism, a pump P 1 to P 7, the valve V 2 ~V 5 and additive concentration analyzer 12 ) And an arithmetic control unit 14 for calculating the replenishment amount of each component from the result obtained by the concentration analysis, and a display device 15 for displaying the analysis result and the calculated replenishment amount.
【0018】次に上述のように構成されたはんだめっき
自動管理装置によるはんだめっき液の管理方法を説明す
る。循環用サンプリングポンプP1 は常時稼働してお
り、はんだめっき液ははんだめっき槽1から取り出さ
れ、はんだめっき液分析用循環槽2を循環して再びはん
だめっき槽1に戻るようになっている。まず、はんだめ
っき液分析用循環槽2内にサンプリング用容器10を挿
入した後、サンプリングポンプP2 を稼働させてサンプ
リング用容器10にはんだめっき液を所定量吸引し、次
にサンプリング機構を再び作動させて分析用容器4の位
置までもっていき、サンプリング用容器10内のはんだ
めっき液を排出して分析用容器4に移す。この際、サン
プリング用容器10の壁面にはんだめっき液が付着して
いるが、純水用ポンプP7 を稼働させるとともにバルブ
V3 を開き、配管3eを介して純水をサンプリング用容
器10内に供給してサンプリング用容器10内を洗浄
し、サンプリング用容器10に付着したはんだめっき液
を残らず分析用容器4に移す。Next, a description will be given of a method for managing a solder plating solution by the automatic solder plating management apparatus configured as described above. Circulation sampling pump P 1 is in operation at all times, the solder plating solution is removed from the solder plating bath 1 is again turned back to the solder plating tank 1 circulates the solder plating solution analyzing circulation tank 2. First, after inserting the sampling vessel 10 in a solder plating solution analyzing circulation tank 2, a solder plating solution and a predetermined amount sucked into the sampling container 10 by operating the sampling pump P 2, then the sampling mechanism again operates Then, the solder plating solution in the sampling container 10 is discharged to the position of the analysis container 4 and transferred to the analysis container 4. At this time, although solder plating solution on the wall of the sampling vessel 10 is attached, together with the Operating the pure water pump P 7 by opening the valve V 3, pure water through a pipe 3e in the sampling container 10 The inside of the sampling container 10 is supplied and washed, and all the solder plating solution adhering to the sampling container 10 is transferred to the analysis container 4.
【0019】次に、三方弁V4 を切り替えて純水ポンプ
P7 を稼働させ、純水を分岐配管3j、三方弁V4 及び
配管3fを介して分析用容器4内に供給し、前記はんだ
めっき液を希釈して所定量の分析液を生成する。そし
て、試薬ポンプP4 を稼働させて、滴定用試薬を加えた
後に滴定ポンプP5 を稼働させて滴定を行ないSn2+の
分析を行う。この際Sn2+の分析には規定ヨウ素液によ
る酸化還元滴定を使用し、終点の検出センサとして酸化
還元電極6を使用する。この滴定によりSn2+の定量分
析を終了したのち分析用容器4及び電極5,6の洗浄を
行う。即ち、試薬ポンプP4 を稼働させて試薬タンクT
2 から所定の洗浄用試薬を分析用容器4内に供給した後
排水し、次に純水ポンプP7 を稼働させて純水を分析用
容器4に供給し純水洗浄を行った後バルブV2 を開けて
純水を排出する。Next, by switching the three-way valve V 4 is operated with pure water pump P 7, pure water branch pipe 3j, and supplies to the analysis container 4 via a three-way valve V 4 and the pipe 3f, the solder The plating solution is diluted to generate a predetermined amount of the analysis solution. Then, by operating the reagent pump P 4, the analysis of Sn 2+ performs titration titration pump P 5 is operated after the addition of the titration reagent. At this time, oxidation / reduction titration with a specified iodine solution is used for the analysis of Sn 2+ , and the oxidation / reduction electrode 6 is used as a sensor for detecting the end point. After the quantitative analysis of Sn 2+ is completed by this titration, the analysis container 4 and the electrodes 5 and 6 are washed. That is, the reagent pump P 4 is operated to set the reagent tank T
The predetermined cleaning reagent from 2 drained after supplying the analysis container 4, then valve V after supplying pure water washed with pure water by running pure water pump P 7 to the analysis vessel 4 Open 2 to drain pure water.
【0020】次に、再びサンプリング機構を稼働させて
サンプリング用容器10によって新たなはんだめっき液
(所定量)のサンプリングを行い分析用容器4に移す。
このサンプリングの詳細は前述と同様に行われるため省
略する。そして純水ポンプP7 を稼働させて純水を分析
用容器4に供給し、はんだめっき液を希釈して所定量の
分析液を生成する。次に、滴定ポンプP5 を稼働させて
滴定を行い遊離酸の定量分析を行う。この際、遊離酸の
分析には規定水酸化ナトリウム液による中和滴定を使用
し、終点の検出センサとしてPH電極5を使用する。Next, the sampling mechanism is operated again to sample a new solder plating solution (predetermined amount) by the sampling container 10 and transfer it to the analysis container 4.
Details of this sampling are omitted because they are performed in the same manner as described above. And operate the pure water pump P 7 supplying pure water to the analysis vessel 4, to produce a predetermined amount of analysis is diluted solder plating solution. Then, a quantitative analysis of the free acid was titrated by running titration pump P 5. At this time, neutralization titration with a prescribed sodium hydroxide solution is used for the analysis of free acid, and the PH electrode 5 is used as an end point detection sensor.
【0021】この滴定により遊離酸の分析を終了したの
ち、分析用容器4及び電極5,6の洗浄を行う。即ち試
薬ポンプP4 を稼働させて試薬タンクT2 から所定の洗
浄用試薬を分析用容器4に供給した後排水し、次に純水
ポンプP7 を使用して純水洗浄を行う。After the analysis of free acid is completed by this titration, the analysis container 4 and the electrodes 5 and 6 are washed. That reagent pump P 4 is operated to drain after supplying from the reagent tank T 2 a predetermined cleaning reagent to the analysis vessel 4, perform washing with pure water and then using a pure water pump P 7.
【0022】上記の工程を経て遊離酸の分析が終了した
ら、再びサンプリング機構を稼働させて分析用容器4に
よってはんだめっき液分析用循環槽2から所定量のはん
だめっき液をサンプリングし分析用容器4に移す。そし
て純水ポンプP7 を稼働させて純水を分析用容器4に供
給し、はんだめっき液を希釈して所定量の分析液を生成
する。次に、試薬ポンプP4 を稼働させて滴定用試薬を
加えた後に滴定ポンプP5 を稼働させて滴定を行いPb
2+の定量分析を行う。この際、Pb2+の分析には規定E
DTA液によるキレート光度滴定を使用し終点の検出セ
ンサとして特定波長域の透過度測定器7を使用する。こ
の滴定が終了したのち、試薬ポンプP4を稼働させて洗
浄用試薬の供給を行い排水した後、純水ポンプP7 を稼
働させて純水洗浄を行う。When the analysis of the free acid is completed through the above steps, the sampling mechanism is operated again, and a predetermined amount of the solder plating solution is sampled from the circulation bath 2 for analyzing the plating solution by the analysis container 4, and the analysis container 4 Transfer to And operate the pure water pump P 7 supplying pure water to the analysis vessel 4, to produce a predetermined amount of analysis is diluted solder plating solution. Next, Pb was titrated with a titration pump P 5 is operated after the addition of the titration reagent not operate the reagent pump P 4
Perform quantitative analysis of 2+ . In this case, the analysis of Pb 2+ provisions E
A chelate photometric titration with a DTA solution is used, and a transmittance measuring device 7 in a specific wavelength range is used as a detection sensor for an end point. After the titration is finished, after draining perform the supply of cleaning reagent by operating the reagent pump P 4, perform washing with pure water by running pure water pump P 7.
【0023】以上の工程を経て、1つの分析用容器4で
Sn2+、遊離酸、Pb2+の分析を行った後に、添加剤濃
度の分析を行う。この添加剤分析工程は、まず純水ポン
プP7 を稼働させて配管3j、三方弁V 4 及び配管3f
を介して所定量の純水を分析用容器4に入れ、排水した
後、再び純水ポンプP7 を稼働させて所定量の純水を分
析用容器4に入れる。そして、吸引ポンプP3 を稼働さ
せて純水を添加剤濃度分析部12のフローセル12aに
導き、発光部12b及び受光部12cによって吸光度を
測定し、この純水の吸光度を零点とする。この純水を排
水した後、サンプリング機構を稼働させてサンプリング
用容器10により所定量のはんだめっき液をサンプリン
グして分析用容器4に移す。そして、純水ポンプP7 を
稼働させて純水を分析用容器4に供給し、はんだめっき
液を希釈して所定量の分析液を生成する。Through the above steps, one analysis container 4
Sn2+, Free acid, Pb2+After performing the analysis of
Perform a degree analysis. In this additive analysis process, first, a pure water pump
P7 To operate the pipe 3j and the three-way valve V Four And pipe 3f
A predetermined amount of pure water was put into the analysis container 4 through
Later, the pure water pump P again7 To separate a specified amount of pure water.
Put in the analysis container 4. And the suction pump PThree Operated
Pure water into the flow cell 12a of the additive concentration analyzer 12.
Guide and absorbance by the light emitting part 12b and the light receiving part 12c.
Measure, and set the absorbance of this pure water to zero. Drain this pure water
After watering, operate the sampling mechanism to sample
A predetermined amount of solder plating solution is sampled in
And transfer it to the container 4 for analysis. And the pure water pump P7 To
Operate and supply pure water to the container 4 for analysis and solder plating
The solution is diluted to generate a predetermined amount of the analysis solution.
【0024】次に、吸引用ポンプP3 を稼働して分析液
を添加剤濃度分析部12のフローセル12aに導き、発
光部12b及び受光部12cによって吸光度を測定した
後、分析液を分析用容器4及び添加剤濃度分析部12か
ら廃液する。そして純水ポンプP7 から純水を供給して
分析用容器4及び電極5,6及び添加剤濃度分析部12
を洗浄する。この後、塩酸及び純水によって前記分析用
容器4等の洗浄を行う。Next, running the suction pump P 3 guides the analysis solution into the flow cell 12a of the additive concentration analyzer 12, after measuring the absorbance by the light emitting unit 12b and the light receiving unit 12c, analytical vessel analysis liquid 4 and the additive concentration analysis unit 12 is drained. Then, pure water is supplied from the pure water pump P 7 to supply the analysis container 4, the electrodes 5 and 6, and the additive concentration analyzer 12.
Wash. Thereafter, the analysis container 4 and the like are washed with hydrochloric acid and pure water.
【0025】前述の方法によって得られた分析結果に基
づいて演算制御装置14は各成分の補給量を演算すると
ともに積算補給量を演算する。また、前記各値は表示装
置15に表示される。そして、演算された補給量に基づ
いて、補給槽16に設置された補給ポンプP8 を制御
し、不足成分をはんだめっき槽1に補充する。また、演
算制御装置14は前記分析結果、補給量及び演算補給量
を外部コンピュータ17に送信する。The arithmetic and control unit 14 calculates the replenishment amount of each component and the integrated replenishment amount based on the analysis result obtained by the above-described method. The values are displayed on the display device 15. Then, on the basis of the calculated supply amount, and controls the supply pump P 8 installed in supply tank 16 to replenish the plating tank 1 the solder shortage components. In addition, the arithmetic and control unit 14 transmits the analysis result, the supply amount and the calculated supply amount to the external computer 17.
【0026】前述した分析工程を所定回数繰り返した
後、分析用容器4、分析用容器4内の電極5,6及び添
加剤濃度分析部12に付着した分析生成物を除去するた
めに薬液洗浄による洗浄工程を行う。この洗浄工程は、
試薬ポンプP4 を稼働させて試薬タンクT2 から各洗浄
箇所に洗浄用試薬を供給し、所定時間(例えば60分)
浸漬した後、排液し、純水ポンプP7 を稼働させて純水
洗浄を複数回繰り返す。After the above-described analysis step is repeated a predetermined number of times, a chemical solution cleaning is performed to remove the analysis products attached to the analysis container 4, the electrodes 5 and 6 in the analysis container 4, and the additive concentration analyzer 12. Perform a cleaning step. This washing step
Operate the reagent pump P 4 supplies cleaning reagent to each washing portion from the reagent tank T 2 by a predetermined time (e.g. 60 minutes)
After immersion, drained, repeated several times washed with pure water by running pure water pump P 7.
【0027】上述したSn2+、遊離酸、Pb2+、添加剤
濃度の分析を所定回数繰り返すと、PH校正及び/又は
添加剤校正が必要になってくるが、本装置はPH校正及
び添加剤校正も可能になっている。次に、このPH校正
及び添加剤校正を説明する。まず分析用容器4内に残留
している液を排水した後、標準液ポンプP6 を稼働させ
ることによって所定量のPH7標準液を分析用容器4に
入れる。次に、この液を廃液し、再び所定量のPH7標
準液を分析用容器4に入れ、PHの測定を行いPH7の
校正を終了する。When the above analysis of Sn 2+ , free acid, Pb 2+ , and additive concentration is repeated a predetermined number of times, PH calibration and / or additive calibration becomes necessary. Agent calibration is also possible. Next, the PH calibration and the additive calibration will be described. After draining the liquid which initially remains in the analysis container 4 placed on the analysis vessel 4 PH7 standard solution of a predetermined amount by operating the standard pump P 6. Next, this solution is drained, and a predetermined amount of the PH7 standard solution is again put into the analysis container 4, the PH is measured, and the calibration of the PH7 is completed.
【0028】廃液したのち純水洗浄を行い、今度は所定
量のPH4標準液を分析用容器4に入れる。そして廃液
した後、所定量のPH4標準液を再び分析用容器4に入
れ、PHの測定を行いPH校正を終了する。最後に前記
液を廃液した後、純水洗浄を行う。After the waste liquid is washed with pure water, a predetermined amount of PH4 standard solution is put into the analysis container 4 this time. After draining, a predetermined amount of the PH4 standard solution is put into the analysis container 4 again, the pH is measured, and the PH calibration is completed. Finally, after the liquid is drained, pure water washing is performed.
【0029】一方、添加剤校正工程は、純水ポンプP7
を稼働させて分析用容器に所定量の純水を入れ、排水し
たのち再び所定量の純水を分析用容器4に入れた後、吸
引ポンプP3 を稼働させることによって純水を添加剤濃
度分析部12に導く。そして、純水の吸光度を測定した
後、排水し、今度は所定量の標準液を標準液ポンプP6
を稼働させて分析用容器4に入れる。そして純水ポンプ
P7 を稼働させて純水を分析用容器4に供給し前記標準
液を希釈して所定量の液を生成する。そして、この液を
添加剤濃度分析部12に導き吸光度測定を行い検量線の
作成を行う。最後に前記液を廃液した後に試薬ポンプP
4 を稼働して所定量の洗浄用試薬を添加剤濃度分析部1
2に導き、廃液したのち純水ポンプP7 を稼働させて純
水洗浄を行う。On the other hand, the additive calibration step is a pure water pump P 7
Put predetermined amount of pure water to the analysis vessel by running, was placed pure water drainage was later again a predetermined amount to the analysis vessel 4, the additive concentration of pure water by operating the suction pump P 3 It leads to the analysis unit 12. Then, after measuring the absorbance of the pure water, the water is drained. This time, a predetermined amount of the standard solution is supplied to the standard solution pump P 6.
Is operated and put into the analysis container 4. And by running pure water pump P 7 supplying pure water to the analysis vessel 4 to produce a liquid of a predetermined amount by diluting the standard solution. Then, this solution is led to the additive concentration analyzer 12 to measure the absorbance, and a calibration curve is created. Finally, after draining the liquid, the reagent pump P
4 to operate the specified amount of washing reagent for additive concentration analysis 1
2 guides, performing pure water cleaning by running pure water pump P 7 After waste.
【0030】以上説明した実施例においては、Sn2+、
遊離酸、Pb2+、添加剤濃度の順序ではんだめっき液の
分析を行う例を説明したが、この順序に限定されること
なく各組成濃度を分析することができる。また、本発明
を有機スルホン酸浴に適用する実施例を説明したが、本
発明はほうふつ酸浴にも勿論適用可能である。In the embodiment described above, Sn 2+ ,
Although an example has been described in which the analysis of the solder plating solution is performed in the order of free acid, Pb 2+ , and the concentration of the additive, the composition concentrations can be analyzed without being limited to this order. Further, the embodiment in which the present invention is applied to an organic sulfonic acid bath has been described. However, the present invention is of course applicable to a boric acid bath.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、は
んだめっき工程中のはんだめっき液をサンプリングして
分析用容器に移し、所定の成分について定量分析をし、
分析後に洗浄を行うことを順次繰り返すことにより、一
つの分析用容器でSn2+、遊離酸、Pb2+の分析を行う
ことが出来るとともに添加剤濃度分析部で添加剤濃度を
分析することができる。そして、これら分析結果に基づ
いて各成分の補給量を自動的に求めることができる。従
って、本発明によれば、有機スルホン酸浴からなるはん
だめっき浴のすべての成分を自動的に管理することがで
きる。As described above, according to the present invention, the solder plating solution during the solder plating step is sampled and transferred to an analysis container, and a predetermined component is quantitatively analyzed.
By sequentially repeating washing after analysis, Sn 2+ , free acid, and Pb 2+ can be analyzed in one analysis container, and the additive concentration can be analyzed in the additive concentration analysis section. it can. Then, the replenishment amount of each component can be automatically obtained based on these analysis results. Therefore, according to the present invention, all the components of the solder plating bath composed of the organic sulfonic acid bath can be automatically managed.
【0032】また、本発明の一態様によれば、前記演算
された補給量により、補給槽に設置された補給ポンプを
制御し、はんだめっき槽に不足成分を自動的に補給する
ことができる。Further, according to one aspect of the present invention, the replenishing pump installed in the replenishing tank can be controlled based on the calculated replenishing amount, and the insufficient component can be automatically replenished to the solder plating tank.
【図1】本発明に係るはんだめっき液自動管理装置の一
実施例を示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory view showing one embodiment of an automatic solder plating solution management apparatus according to the present invention.
1 はんだめっき槽 2 はんだめっき液分析循環槽 3 配管 4 分析用容器 5 PH電極 6 酸化還元電極 7 透過度測定器 8 マグネチックスターラ 10 サンプリング用容器 12 添加剤濃度分析部 14 演算制御装置 15 表示装置 16 補給槽 17 外部コンピュータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Solder plating tank 2 Solder plating solution analysis circulation tank 3 Piping 4 Analysis container 5 PH electrode 6 Redox electrode 7 Permeability measuring device 8 Magnetic stirrer 10 Sampling container 12 Additive concentration analyzer 14 Operation control device 15 Display device 16 Supply tank 17 External computer
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−73884(JP,A) 特開 平1−268878(JP,A) 特開 昭62−147304(JP,A) 特開 昭59−20462(JP,A) 特開 昭59−80768(JP,A) 特開 平4−276081(JP,A) 特開 平6−265510(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23C 18/00 - 18/54 G01N 1/10 G01N 33/20 Continuation of front page (56) References JP-A-61-73884 (JP, A) JP-A-1-268878 (JP, A) JP-A-62-147304 (JP, A) JP-A-59-20462 (JP, A) JP-A-59-80768 (JP, A) JP-A-4-276081 (JP, A) JP-A-6-265510 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB Name) C23C 18/00-18/54 G01N 1/10 G01N 33/20
Claims (3)
らはんだめっき液を常時取り出すとともにこれをはんだ
めっき液槽に戻すようにしたはんだめっき液分析用循環
槽と、はんだめっき液中のSn2+、遊離酸、Pb2+の濃
度を分析できるようにした1つの分析用容器と、前記分
析用容器内に設置された電極と、添加剤濃度を分析でき
るようにした添加剤濃度分析部と、前記はんだめっき液
分析用循環槽からはんだめっき液を前記分析用容器にサ
ンプリングするサンプリング機構と、前記各濃度分析に
必要な各種試薬を前記分析用容器に供給する試薬供給部
と、前記各濃度分析を行う工程の間に前記分析用容器、
電極及び添加剤濃度分析部を洗浄する洗浄液供給部と、
前記各機器部を制御するとともに前記濃度分析で得られ
た結果から各成分の補給量を演算する演算制御装置と、
前記分析結果及び前記補給量を表示する表示装置とを備
えたことを特徴とするはんだめっき液自動管理装置。1. A solder plating solution analyzing circulation tank was returned to the plating solution tank solder it is taken out of the solder plating solution continuously from the solder plating bath in the solder plating step, Sn 2+ in the solder plating solution, One analysis container capable of analyzing the concentration of free acid and Pb 2+ , an electrode provided in the analysis container, and an additive concentration analysis unit capable of analyzing the additive concentration; A sampling mechanism that samples the solder plating solution from the solder plating solution analysis circulation tank into the analysis container, a reagent supply unit that supplies various reagents necessary for the concentration analysis to the analysis container, and performs the concentration analysis. The analyzing container during the step of performing,
A cleaning liquid supply unit for cleaning the electrode and the additive concentration analysis unit,
An arithmetic and control unit that controls each of the device units and calculates a replenishment amount of each component from a result obtained by the concentration analysis,
A display device for displaying the analysis result and the replenishment amount; and a solder plating solution automatic management device.
記補給量及び積算補給量を外部コンピュータに送信する
機能をさらに備えることを特徴とする請求項1記載のは
んだめっき液自動管理装置。2. The automatic solder plating solution management apparatus according to claim 1, wherein the arithmetic and control unit further has a function of transmitting the analysis result, the replenishment amount and the integrated replenishment amount to an external computer.
給量に基づいて補給槽に設置された補給ポンプを制御す
ることを特徴とする請求項1記載のはんだめっき液自動
管理装置。3. The solder plating solution automatic management device according to claim 1, wherein the arithmetic and control unit controls a replenishing pump installed in a replenishing tank based on the calculated replenishing amount.
Priority Applications (1)
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---|---|
JPH06264251A JPH06264251A (en) | 1994-09-20 |
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JP5876767B2 (en) * | 2012-05-15 | 2016-03-02 | 株式会社荏原製作所 | Plating apparatus and plating solution management method |
JP7234954B2 (en) * | 2020-01-27 | 2023-03-08 | いすゞ自動車株式会社 | Cooling water replacement guide device and cooling water replacement guide method |
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