JP2742128B2 - Method for adjusting plating solution concentration and plating method - Google Patents

Method for adjusting plating solution concentration and plating method

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JP2742128B2
JP2742128B2 JP2023467A JP2346790A JP2742128B2 JP 2742128 B2 JP2742128 B2 JP 2742128B2 JP 2023467 A JP2023467 A JP 2023467A JP 2346790 A JP2346790 A JP 2346790A JP 2742128 B2 JP2742128 B2 JP 2742128B2
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plating
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solution
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、めっき液の成分濃度調整方法およびめっき
方法に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for adjusting the component concentration of a plating solution and a plating method.

[従来の技術] 一般的に、金めっきは、はんだ付け性、ワイヤボンデ
ィング性等の接続性、耐エッチング性、防錆性、電気伝
導性に優れていることから、配線基板の製造において極
めて重要な技術とされている。
[Prior Art] Generally, gold plating is extremely important in the production of wiring boards because it has excellent solderability, connectivity such as wire bonding, etching resistance, rust prevention, and electrical conductivity. Technology.

無電解めっきに使用される金めっき液は、通常、めっ
き液の安定性に優れているという理由から、シアン系め
っき液が用いられていた。しかし、シアン系めっき液に
は公害対策上問題があるため、近年、金属成分として金
イオンと、金イオンと錯体を形成する配位子としてチオ
硫酸イオンおよび亜硫酸イオンと、還元剤であるチオ尿
素とを含む、非シアン系無電解金めっき液が提案されて
いる。
As a gold plating solution used for electroless plating, a cyan plating solution is usually used because of excellent stability of the plating solution. However, since the cyan plating solution has problems in pollution control, in recent years, gold ions as metal components, thiosulfate ions and sulfite ions as ligands forming complexes with gold ions, and thiourea as a reducing agent have been recently developed. And a non-cyanide electroless gold plating solution containing:

上記非シアン系めっき液を用いてめっきを行なった場
合の、成分濃度の経時変化およびめっき速度について、
第6図および第7図を用いて説明する。
When plating is performed using the above-described non-cyanide-based plating solution, the change over time in the component concentration and the plating rate are as follows:
This will be described with reference to FIGS. 6 and 7.

第6図はめっき液を構成する成分を補充液として加え
ずにめっきを進行させた場合の成分濃度変化を示す。一
方、第7図はめっきの進行と共に減少していく成分を補
充液として加え、めっき液成分の濃度を一定に保った場
合の成分濃度変化およびめっき速度を示す。
FIG. 6 shows a change in component concentration when plating is performed without adding a component constituting the plating solution as a replenisher. On the other hand, FIG. 7 shows the change in the component concentration and the plating rate when the component decreasing as the plating progresses is added as a replenisher and the concentration of the plating solution component is kept constant.

第6図は縦軸に成分濃度を、横軸にめっき時間を取っ
ている。
FIG. 6 shows the component concentration on the vertical axis and the plating time on the horizontal axis.

第6図より明らかなように、めっきが進行するにつれ
て、亜硫酸イオンとチオ硫酸イオンの濃度は変化しない
が、金イオンとチオ尿素の濃度が低下していることがわ
かる。このために、めっき速度は、次第に低下してい
く。
As is clear from FIG. 6, as the plating proceeds, the concentrations of sulfite ions and thiosulfate ions do not change, but the concentrations of gold ions and thiourea decrease. For this reason, the plating rate gradually decreases.

第7図もまた縦軸に成分濃度を、横軸にめっき時間を
取っている。さらに、めっき時間の経過と共にめっき速
度の変化も示している。
FIG. 7 also shows the component concentration on the vertical axis and the plating time on the horizontal axis. Further, changes in the plating rate with the passage of the plating time are also shown.

第7図に示したように、一定時間毎に、めっきの進行
にともなう金およびチオ尿素の消費量を測定して、消費
量分を補充すると、長時間めっき速度を一定範囲内に維
持することができる。
As shown in FIG. 7, by measuring the consumption of gold and thiourea with the progress of plating at regular time intervals, and supplementing the consumed amount, it is possible to maintain the plating speed within a certain range for a long time. Can be.

以上のように、無電解めっきは、めっきの進行に伴
い、めっき液成分のうちの金属成分と還元剤成分の両方
が消費される。しかも、無電解めっき速度はめっき液成
分の濃度に大きく依存することから、めっき速度を一定
に維持するためには、金属成分と還元剤成分の両方につ
いて濃度を測定し、その消費量分を逐次補充する必要が
ある。
As described above, in electroless plating, both the metal component and the reducing agent component of the plating solution components are consumed as plating proceeds. In addition, since the electroless plating rate greatly depends on the concentration of the plating solution components, in order to maintain a constant plating rate, the concentrations of both the metal component and the reducing agent component are measured, and the consumed amount is sequentially determined. Need to refill.

ここで、各成分の濃度の測定は、例えば、金属成分は
原子吸光光度計を使用し、還元剤のチオ尿素はニトロプ
ルシドナトリウム法を使用し、亜硫酸イオンとチオ硫酸
イオンはイオンクロマト法を使用して行なうことができ
る。
Here, the concentration of each component is measured, for example, using an atomic absorption spectrophotometer for a metal component, using a sodium nitroprusside method for thiourea as a reducing agent, and using an ion chromatography method for a sulfite ion and a thiosulfate ion. Can be done.

[発明が解決しようとする課題] しかし、前記非シアン系めっき液成分の定量分析方法
は、原子吸光法が高感度のために試料溶液を1回毎に希
釈する必要があり、また、チオ尿素を分析するニトロプ
ルシドナトリウムが分解しやすい。このため、測定に時
間がかかり、実験室レベルの解析には用いられるが、製
造工程の解析には適さない。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the method for quantitatively analyzing the components of the non-cyanide plating solution, it is necessary to dilute the sample solution each time because the atomic absorption method has high sensitivity. Analyze that sodium nitroprusside is easily decomposed. For this reason, the measurement takes time and is used for analysis at a laboratory level, but is not suitable for analysis of a manufacturing process.

また、無電解めっき液中の金属成分の濃度測定につい
ては、特開昭63−121668号公報に提案されているよう
に、金属イオン自身の着色を利用して、吸光光度法で測
定する方法、または、特開昭60−164239号公報記載のよ
うに、蛍光X線分析法を用いる方法、あるいは、特開昭
62−14053号公報に記載されているように、電位差滴定
を利用する方法などがある。
Further, as for the measurement of the concentration of the metal component in the electroless plating solution, as proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-121668, a method of measuring the concentration of a metal ion by an absorption spectrophotometry, Alternatively, as described in JP-A-60-164239, a method using X-ray fluorescence analysis,
As described in JP-A-62-14053, there is a method utilizing potentiometric titration and the like.

そして、無電解めっき液中のホルマリン等の還元剤成
分の濃度測定に関しては、特開昭53−9235号公報に記載
されているように、還元剤の酸化に要する電流量から測
定する方法がある。
As for the concentration measurement of the reducing agent component such as formalin in the electroless plating solution, as described in JP-A-53-9235, there is a method of measuring from the amount of current required for oxidation of the reducing agent. .

しかし、上述した従来技術のうち、金属成分の着色を
利用する方法や電位差滴定を利用する方法は、適用でき
る無電解めっき液の種類は限られており、汎用性に乏し
いという問題がある。
However, among the above-mentioned prior arts, the method using coloration of a metal component and the method using potentiometric titration have a problem that the types of applicable electroless plating solutions are limited and the versatility is poor.

一方、還元剤成分の濃度測定方法に関しては、還元剤
の他に、亜硫酸イオン,チオ硫酸イオン等の還元性イオ
ンを錯化剤として多量に含む無電解めっき液に対する配
慮が全くなされていない。
On the other hand, regarding the method of measuring the concentration of the reducing agent component, no consideration is given to an electroless plating solution containing a large amount of a reducing ion such as a sulfite ion or a thiosulfate ion as a complexing agent in addition to the reducing agent.

例えば、還元剤の濃度を、還元剤の酸化に要する電流
量から測定する場合には、亜硫酸イオン,チオ硫酸イオ
ンも同時に酸化されるために、還元剤の成分濃度を正確
に測定することができない。
For example, when measuring the concentration of the reducing agent from the amount of current required for the oxidation of the reducing agent, the sulfite ion and the thiosulfate ion are also oxidized at the same time, so that the component concentration of the reducing agent cannot be measured accurately. .

このように、従来、めっき技術、特に、無電解めっき
技術においては、めっき液の成分濃度を、製造工程にお
いて正確に測定できる技術がなく、従って、成分濃度制
御も適切に行なえないという問題があった。
As described above, conventionally, in the plating technology, particularly in the electroless plating technology, there is no technology capable of accurately measuring the component concentration of the plating solution in the manufacturing process, and therefore, there is a problem that the component concentration cannot be appropriately controlled. Was.

本発明は、非シアン系無電解金めっき液の成分濃度を
一定範囲内に制御するためのめっき液の成分濃度調整方
法と、該方法により成分濃度が一定範囲内に制御された
めっき液を用いるめっき方法とを提供することを目的と
する。
The present invention uses a plating solution component concentration adjusting method for controlling the component concentration of a non-cyanide electroless gold plating solution within a certain range, and uses a plating solution whose component concentration is controlled within a certain range by the method. An object of the present invention is to provide a plating method.

[課題を解決するための手段] 本発明の目的は、 金属成分、陰イオンおよび還元剤を含むめっき液の成
分濃度の測定方法であって、前記陰イオンを、前記還元
剤の濃度測定に妨害を与えない他の陰イオン種に置換し
た後、前記還元剤濃度を測定することを特徴とするめっ
き液の成分濃度測定法によって達成される。
[Means for Solving the Problems] An object of the present invention is a method for measuring a component concentration of a plating solution containing a metal component, an anion and a reducing agent, wherein the anion interferes with the concentration measurement of the reducing agent. This is achieved by a method for measuring the concentration of a component in a plating solution, wherein the concentration of the reducing agent is measured after substituting with another anionic species that does not give the following.

金属成分、陰イオンおよび還元剤を含むめっき液の成
分濃度の測定方法であって、前記陰イオンを、前記還元
剤の濃度測定に妨害を与えない他の陰イオン種に置換し
た後、前記還元剤濃度を測定し、さらに、原子吸光法ま
たはプラズマ発光分析法によって、前記金属成分の濃度
を測定することを特徴とするめっき液の成分濃度測定方
法によって達成される。
A method for measuring a component concentration of a plating solution containing a metal component, an anion, and a reducing agent, wherein the anion is replaced with another anion species that does not disturb the measurement of the concentration of the reducing agent, and then the reduction is performed. It is achieved by a component concentration measuring method of a plating solution, which comprises measuring the concentration of an agent and further measuring the concentration of the metal component by an atomic absorption method or a plasma emission analysis method.

前記還元剤濃度を、紫外吸収検出法または電気化学定
量法で測定することを特徴とすることが好ましい。
Preferably, the concentration of the reducing agent is measured by an ultraviolet absorption detection method or an electrochemical quantification method.

金属成分と、還元性イオンと、非イオン性還元剤とを
含むめっき液の成分濃度測定方法であって、前記還元性
イオンを非還元性イオンに置換した後、前記非イオン性
還元剤の濃度測定および前記金属成分の濃度測定を行な
うことを特徴とするめっき液の成分濃度測定方法によっ
ても達成される。
A method for measuring a component concentration of a plating solution comprising a metal component, a reducing ion, and a non-ionic reducing agent, wherein after replacing the reducing ion with a non-reducing ion, the concentration of the non-ionic reducing agent The present invention is also achieved by a method for measuring the concentration of a component in a plating solution, which comprises measuring and measuring the concentration of the metal component.

めっき液中の金属成分濃度の測定およびこの測定に用
いる金属成分濃度測定手段の較正と、めっき液中の還元
剤濃度の測定およびこの測定に用いる還元剤濃度測定手
段の較正と、めっき液中の陰イオンを前記還元剤の濃度
測定に妨害を与えない他の陰イオン種に置換する操作と
を、予め設定したシーケンスプログラムに従って、シー
ケンス制御で行ない、さらに、前記測定によって求めら
れた測定値と前記較正によって求められた較正値とか
ら、めっき液中の金属成分濃度と還元剤濃度を演算によ
って求めることを特徴とするめっき液の成分濃度測定方
法によっても達成される。
Measurement of metal component concentration in plating solution and calibration of metal component concentration measuring means used for this measurement, measurement of reducing agent concentration in plating solution and calibration of reducing agent concentration measuring means used for this measurement, The operation of replacing the anion with another anion species that does not disturb the concentration measurement of the reducing agent is performed by sequence control according to a preset sequence program, and further, the measured value obtained by the measurement and the measurement value The present invention is also achieved by a method for measuring a component concentration of a plating solution, wherein a metal component concentration and a reducing agent concentration in a plating solution are obtained by calculation from a calibration value obtained by calibration.

金属成分、陰イオンおよび還元剤を含むめっき液の濃
度調整方法であって、めっき液中の陰イオンを前記還元
剤の濃度測定に妨害を与えない他の陰イオン種に置換し
た後、前記金属成分を測定する金属成分濃度測定手段の
較正および前記還元剤成分を測定する還元剤濃度測定手
段の較正と、前記金属成分濃度測定手段による金属成分
濃度の測定および前記還元剤濃度測定手段による還元剤
濃度の測定とから求められた較正値および測定値によ
り、金属成分と還元剤成分との消費量を演算によって求
め、さらに、前記消費量に相当する還元剤および金属成
分を含む補充液をめっき液に補充することを特徴とする
めっき液の濃度調整方法によっても達成される。
A method for adjusting the concentration of a plating solution containing a metal component, an anion and a reducing agent, wherein the anion in the plating solution is replaced with another anion species that does not disturb the concentration measurement of the reducing agent, and then the metal is removed. Calibration of metal component concentration measuring means for measuring components and calibration of reducing agent concentration measuring means for measuring the reducing agent component, measurement of metal component concentration by the metal component concentration measuring means, and reducing agent by the reducing agent concentration measuring means Based on the calibration value and the measured value obtained from the measurement of the concentration, the consumption of the metal component and the reducing agent component is obtained by calculation, and further, a replenisher containing the reducing agent and the metal component corresponding to the consumption is plated with a plating solution. It can also be achieved by a method of adjusting the concentration of a plating solution characterized by replenishing the plating solution.

本発明の濃度調整方法は、金属成分、陰イオンおよび
還元剤を含むめっき液の成分濃度の調整装置であって、
前記陰イオンを、還元剤の濃度測定を妨害しない陰イオ
ン種に置換するイオン交換手段と、前記陰イオン種を含
む溶液を用いて前記イオン交換手段を再生する再生手段
と、前記還元剤濃度を測定するための還元剤濃度測定手
段と、前記金属成分濃度を測定する金属成分濃度測定手
段と、前記還元剤濃度測定手段および前記金属成分濃度
測定手段の較正と、還元剤濃度測定手段および前記金属
成分濃度測定手段によるめっき液成分の測定とを制御す
るシーケンス制御手段と、さらに、前記測定によって求
められた測定値と前記較正によって求められた較正値と
から、めっき液中の金属成分濃度と還元剤濃度濃度を演
算する演算制御手段とを有することを特徴とするめっき
液の成分濃度測定装置に適用することができる。
The concentration adjusting method of the present invention is a device for adjusting the component concentration of a plating solution containing a metal component, an anion and a reducing agent,
An anion exchange means for replacing the anion with an anion species which does not interfere with the measurement of the concentration of the reducing agent; a regeneration means for regenerating the ion exchange means using a solution containing the anion species; and Reducing agent concentration measuring means for measuring, metal component concentration measuring means for measuring the metal component concentration, calibration of the reducing agent concentration measuring means and the metal component concentration measuring means, reducing agent concentration measuring means and the metal Sequence control means for controlling the measurement of the plating solution component by the component concentration measuring means, and further, from the measured value obtained by the measurement and the calibration value obtained by the calibration, the concentration of the metal component in the plating solution and reduction The present invention can be applied to an apparatus for measuring the concentration of a component in a plating solution, which has a calculation control means for calculating the concentration of the agent.

本発明の濃度調整方法は、金属成分、陰イオンおよび
還元剤を含むめっき液の成分濃度の調整装置であって、
前記陰イオンを、還元剤の濃度測定を妨害しない陰イオ
ン種に置換するイオン交換手段と、前記陰イオン種を含
む溶液を用いて前記イオン交換手段を再生する再生手段
と、前記還元剤濃度を測定するための還元剤濃度測定手
段と、前記金属成分濃度を測定する金属成分濃度測定手
段と、前記還元剤濃度測定手段および前記金属成分濃度
測定手段の動作を制御するシーケンス制御手段と、前記
還元剤濃度および前記金属成分濃度の測定値と、それぞ
れの設定濃度との差から還元剤および金属成分の消費量
を算出する算出手段と、および、前記消費量に相当する
還元剤および金属成分を含む補充液を、めっき槽へ供給
する供給手段を備えた演算制御手段とを有することを特
徴とするめっき液の成分濃度調整装置に適用することが
できる。
The concentration adjusting method of the present invention is a device for adjusting the component concentration of a plating solution containing a metal component, an anion and a reducing agent,
An anion exchange means for replacing the anion with an anion species which does not interfere with the measurement of the concentration of the reducing agent; a regeneration means for regenerating the ion exchange means using a solution containing the anion species; and Reducing agent concentration measuring means for measuring, metal component concentration measuring means for measuring the metal component concentration, sequence controlling means for controlling operations of the reducing agent concentration measuring means and the metal component concentration measuring means, Calculating means for calculating the consumption of the reducing agent and the metal component from the difference between the measured values of the agent concentration and the metal component concentration, and the respective set concentrations; and the reducing agent and the metal component corresponding to the consumption. The present invention can be applied to an apparatus for adjusting the concentration of a component of a plating solution, comprising: an arithmetic control unit having a supply unit for supplying a replenisher to a plating tank.

また、本発明のめっき方法は、 金属成分、陰イオンおよび還元剤を含むめっき液を用
いてめっきを行なうめっき装置であって、前記めっき装
置は、めっき槽とめっき液濃度測定手段、めっき液補充
手段、シーケンス制御手段および演算制御手段を含み、
前記めっき液濃度測定手段は、前記陰イオンを還元剤の
濃度測定を妨害しない他の陰イオン種に置換するイオン
交換手段と、前記還元剤濃度を測定する還元剤濃度測定
手段と、前記金属成分濃度を測定する金属濃度測定手段
とを備え、前記シーケンス制御手段は、前記めっき液濃
度測定手段の動作を制御し、前記演算制御手段は、前記
還元剤濃度および金属成分濃度の測定値と、それぞれの
設定濃度との差から還元剤および金属成分の消費量を算
出する算出手段と、前記消費量に相当する還元剤および
金属成分を含む補充液を、前記めっき液補充部からめっ
き槽へ供給する供給手段とを備えたことを特徴とするめ
っき装置に適用することができる。
Further, the plating method of the present invention is a plating apparatus for performing plating using a plating solution containing a metal component, an anion and a reducing agent, wherein the plating device comprises a plating tank, a plating solution concentration measuring means, and a plating solution replenisher. Means, sequence control means and arithmetic control means,
The plating solution concentration measuring means is an ion exchange means for replacing the anion with another anion species which does not disturb the concentration measurement of the reducing agent, a reducing agent concentration measuring means for measuring the reducing agent concentration, and the metal component Metal concentration measuring means for measuring the concentration, the sequence control means controls the operation of the plating solution concentration measuring means, the arithmetic control means, the measured value of the reducing agent concentration and the metal component concentration, respectively Calculating means for calculating the consumption of the reducing agent and the metal component from the difference between the set concentration and the replenisher containing the reducing agent and the metal component corresponding to the consumption, and supplying the plating solution from the plating solution replenisher to the plating tank. The present invention can be applied to a plating apparatus having a supply unit.

また、本発明の濃度調整方法は、 溶液中に含まれる金属成分の濃度を測定する金属成分
濃度測定手段と、非金属成分濃度を測定する非金属成分
濃度測定手段とを備え、さらに、前記金属成分濃度測定
手段および前記非金属成分濃度測定手段の動作を測定す
る制御機能と、前記金属成分の濃度および前記非金属成
分の濃度の測定値と、それぞれの設定濃度との差から金
属成分と非金属成分の消費量に相当する、金属成分を含
む補充液と非金属成分を含む補充液を供給する供給機能
とを備えたことを特徴とする濃度管理装置に適用するこ
とができる。
Further, the concentration adjusting method of the present invention comprises: a metal component concentration measuring means for measuring the concentration of a metal component contained in a solution; and a non-metal component concentration measuring means for measuring a non-metal component concentration. A control function for measuring the operation of the component concentration measuring means and the non-metal component concentration measuring means; a measured value of the concentration of the metal component and the concentration of the non-metal component; The present invention can be applied to a concentration management device having a supply function of supplying a replenisher containing a metal component and a replenisher containing a non-metal component corresponding to the consumption of a metal component.

上記金属成分濃度測定手段は、原子吸光光度計または
プラズマ発光分光光度計であることを特徴とすることが
好ましい。
The metal component concentration measuring means is preferably an atomic absorption spectrophotometer or a plasma emission spectrophotometer.

上記非金属濃度測定手段は、陰イオン交換器、およ
び、紫外吸収検出器または電気化学的定量装置を有する
ことを特徴とすることがさらに好ましい。
More preferably, the non-metal concentration measuring means has an anion exchanger and an ultraviolet absorption detector or an electrochemical quantification device.

[作 用] 陰イオン交換器内の陰イオン交換物質を、再生液、例
えば、KCl(塩化カリウム)溶液を用いて塩素イオン型
に再生し、その中に一定量の無電解めっき液試料を流し
た場合、めっき液中の亜硫酸イオン,チオ硫酸イオン
や、それらが金属イオンに配位した錯イオン等や、塩素
イオンに比べて陰イオン交換物質に対する親和性が大き
いために、陰イオン交換物質に捕捉され、代りにそれと
等当量の塩素イオンが流出する。
[Operation] The anion exchange material in the anion exchanger is regenerated to a chloride ion type using a regenerating solution, for example, a KCl (potassium chloride) solution, and a certain amount of the electroless plating solution sample is poured into the regenerating solution. In this case, since the sulfite ion and thiosulfate ion in the plating solution, the complex ion coordinated to the metal ion, and the like, and the affinity for the anion exchange substance are larger than the chloride ion, the It is trapped and an equivalent amount of chloride ions elutes instead.

一方、無電解めっき液に含まれるチオ尿素、ホルマリ
ン等の還元剤は、非イオン性のために、陰イオン交換物
質に捕捉されず、そのまま陰イオン交換器から溶出す
る。
On the other hand, reducing agents such as thiourea and formalin contained in the electroless plating solution are not trapped by the anion exchange material because they are nonionic, and elute from the anion exchanger as they are.

こうして、めっき液中に含まれる還元性イオンを除去
することができる。
Thus, the reducing ions contained in the plating solution can be removed.

めっき液に含まれる還元剤が、例えば、チオ尿素のよ
うな紫外吸収を示す物質の場合には、陰イオン交換器の
後に設けた紫外吸収検出器でチオ尿素の濃度を測定する
ことができる。また、還元剤が、例えばホルマリンのよ
うに紫外吸収を示さない物質の場合には、ホルマリンの
酸化に要する電流量から濃度を算出することができる。
When the reducing agent contained in the plating solution is a substance exhibiting ultraviolet absorption such as thiourea, the concentration of thiourea can be measured by an ultraviolet absorption detector provided after the anion exchanger. When the reducing agent is a substance that does not exhibit ultraviolet absorption, for example, formalin, the concentration can be calculated from the amount of current required for the oxidation of formalin.

陰イオン交換物質としては、陰イオン交換樹脂カラ
ム、陰イオン交換膜等を用いることができる。陰イオン
交換物質の再生液としては、KCl溶液以外に塩素イオン
の他の塩、すなわち、NaCl,NH4Cl溶液を使用することも
できる。また、塩素イオン以外にも陰イオン交換物質に
対する親和性の小さい陰イオンの溶液、例えばNaHCO3
KHCO3溶液を用いてHCO3 -型に再生して使用することも可
能である。
As the anion exchange substance, an anion exchange resin column, an anion exchange membrane or the like can be used. As a regenerating solution for the anion exchange substance, other salts of chloride ions, that is, NaCl and NH 4 Cl solutions can be used in addition to the KCl solution. In addition to chloride ions, a solution of an anion having a small affinity for an anion exchange substance, such as NaHCO 3 or
It is also possible to regenerate and use the HCO 3 - type using a KHCO 3 solution.

一方、めっき液に含まれる金属成分濃度は、原子吸光
光度計により測定される。
On the other hand, the concentration of the metal component contained in the plating solution is measured by an atomic absorption spectrophotometer.

上記測定方法により、めっきの進行に伴い濃度低下を
起こす金属イオンおよび還元剤の濃度を測定することが
できる。
According to the above-described measuring method, the concentrations of the metal ions and the reducing agent, whose concentrations decrease as the plating proceeds, can be measured.

演算制御手段は、測定されためっき液の濃度と、前も
って設定されためっき液の管理合濃度との差から、めっ
きの進行に伴う、成分の消費量を求めて補充量を算出す
る。そして、消耗成分量の情報に従い、補充液槽から消
費量を逐次補給することにより、めっき液の成分濃度を
常に一定範囲内に管理する。この結果、めっき速度を一
定に保つことができる。
The arithmetic and control means calculates the replenishment amount by obtaining the consumption of the components accompanying the progress of the plating from the difference between the measured concentration of the plating solution and the preset management concentration of the plating solution. Then, by sequentially replenishing the consumption amount from the replenisher tank in accordance with the information on the amount of the consumable component, the component concentration of the plating solution is always managed within a certain range. As a result, the plating speed can be kept constant.

[実施例] 以下に本発明の実施例を挙げ、図面に基づいて、さら
に詳細に説明する。なお、本発明はこれに限定されるも
のではない。
Examples Examples of the present invention will be described below in more detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to this.

実施例−1 第1図は、KAuCl4,Na2SO3,Na2S2O3およびチオ尿素を
主成分とする無電解めっき液中のチオ尿素濃度の測定に
用いる装置の一例を示す説明図である。
Example 1 FIG. 1 is a diagram showing an example of an apparatus used for measuring the concentration of thiourea in an electroless plating solution containing KAuCl 4 , Na 2 SO 3 , Na 2 S 2 O 3 and thiourea as main components. FIG.

本実施例の濃度測定は、第1図に示すように、キャリ
ヤ液である水(H2O)を貯留する水槽1、再生液である
0.2N−KCl溶液を貯留する再生液槽2、定量ポンプ3,4、
六方バルブ5、サンプリングループ6、サンプル注入口
36、陰イオン交換器7、陰イオン交換膜チューブ8、紫
外吸収検出器9および記録計37を備えた測定装置を用い
て行なわれる。
In the concentration measurement of this embodiment, as shown in FIG. 1, a water tank 1 for storing water (H 2 O) as a carrier liquid and a regenerating liquid are used.
Regeneration tank 2 for storing 0.2N-KCl solution, metering pumps 3, 4,
6-way valve 5, sampling loop 6, sample inlet
36, an anion exchanger 7, an anion exchange membrane tube 8, an ultraviolet absorption detector 9, and a recorder 37.

陰イオン交換器7は、陰イオン交換膜チューブ8を内
側に備えた二重管になっている。陰イオン交換膜チュー
ブ8は、定量ポンプ4を用いて、2ml/分の流速で、0.2N
−KClの再生液が再生液槽2から陰イオン交換膜チュー
ブ8の外筒部分に送られて、常時塩素イオン型に再生さ
れている。キャリヤ液(H2O)は水槽1から2ml/分の流
速で、常時、陰イオン交換膜チューブ8内から、紫外吸
収検出器9へと送られている。
The anion exchanger 7 is a double tube having an anion exchange membrane tube 8 inside. The anion exchange membrane tube 8 is supplied at a flow rate of 2 ml / min using a metering pump 4 at a flow rate of 0.2 N.
The regenerating solution of -KCl is sent from the regenerating solution tank 2 to the outer cylinder portion of the anion exchange membrane tube 8, and is constantly regenerated to the chloride ion type. The carrier liquid (H 2 O) is constantly sent from the water tank 1 to the ultraviolet absorption detector 9 from inside the anion exchange membrane tube 8 at a flow rate of 2 ml / min.

六方バルブ5が、第1図に示す実線の接続状態である
時に、サンプル注入口36から50倍に希釈されためっき液
試料を注入すると、サンプリングループ6内に一定量の
めっき液試料が採取される。
When the plating solution sample diluted 50 times is injected from the sample injection port 36 while the hexagonal valve 5 is in the connection state of the solid line shown in FIG. 1, a certain amount of the plating solution sample is collected in the sampling loop 6. You.

次に、六方バルブ5を切換えて、同図に示す点線状態
に接続すると、キャリヤ液(H2O)は、サンプリングル
ープ6内を流れ、サンプリングループ6内に採取されて
いためっき液試料は陰イオン交換膜チューブ8から紫外
吸収検出器9へと運ばれる。
Next, when the six-way valve 5 is switched to be connected to a dotted line state shown in the figure, the carrier liquid (H 2 O) flows in the sampling loop 6 and the plating solution sample collected in the sampling loop 6 is shaded. It is carried from the ion exchange membrane tube 8 to the ultraviolet absorption detector 9.

めっき液試料中の亜硫酸イオン,チオ硫酸イオンや
[Au(S2O33-等の金の錯イオン類は、陰イオン交
換膜上に捕捉され、代りに塩素イオンが溶出されてキャ
リヤ液により紫外吸収検出器9へ送られる。還元剤であ
るチオ尿素は、非イオン性物質であるため、陰イオン交
換膜チューブ8内で捕捉されることなく紫外吸収検出器
9に運ばれる。
Gold complex ions such as sulfite ion, thiosulfate ion and [Au (S 2 O 3 ) 2 ] 3- in the plating solution sample are captured on the anion exchange membrane, and chloride ion is eluted instead. It is sent to the ultraviolet absorption detector 9 by the carrier liquid. Since thiourea, which is a reducing agent, is a nonionic substance, it is carried to the ultraviolet absorption detector 9 without being captured in the anion exchange membrane tube 8.

紫外吸収検出器9の測定波長は、240nmに設定されて
いる。この紫外吸収検出器9を用いて、以下に述べる原
理に基づき、めっき液中のチオ尿素濃度を測定すること
ができる。
The measurement wavelength of the ultraviolet absorption detector 9 is set to 240 nm. Using this ultraviolet absorption detector 9, the thiourea concentration in the plating solution can be measured based on the principle described below.

すなわち、チオ尿素の紫外吸収は第2図に示す吸収曲
線から明らかなように、235nmに極大吸収を示すのに対
して、亜硫酸イオン,チオ硫酸イオン等のイオン交換に
より溶出される塩素イオンは紫外吸収を示さない。
That is, as is apparent from the absorption curve shown in FIG. 2, the ultraviolet absorption of thiourea shows a maximum absorption at 235 nm, whereas chlorine ions eluted by ion exchange of sulfite ions, thiosulfate ions, etc. Shows no absorption.

また、めっきの進行に伴いチオ尿素が酸化されて尿素
が生成されるが、この尿素も第2図に示すように、紫外
吸収を示さない。
In addition, thiourea is oxidized with the progress of plating to generate urea, and this urea does not show ultraviolet absorption as shown in FIG.

したがって、紫外吸収検出器9の波長を235〜240nmに
設定すれば、めっき液中のチオ尿素のみの吸光度を測定
することができる。
Therefore, if the wavelength of the ultraviolet absorption detector 9 is set to 235 to 240 nm, the absorbance of only thiourea in the plating solution can be measured.

なお、めっき液中のチオ尿素濃度の算出は、設定濃度
のチオ尿素標準液を用いて、上記と同様の操作で吸光度
を測定し、それをもとに比例計算で求めることができ
る。
The thiourea concentration in the plating solution can be calculated by measuring the absorbance using the thiourea standard solution at the set concentration in the same manner as described above, and calculating the proportionality based on the measured absorbance.

また、陰イオン交換器7は、陰イオン交換膜チューブ
8を利用する方法の他に、平膜状の陰イオン交換膜を二
層重ね、内側に濃度を測定するめっき液試料、外側に再
生液であるKCl溶液を流す構造のものであってもよい。
In addition to the method using the anion exchange membrane tube 8, the anion exchanger 7 is composed of two layers of flat anion exchange membranes, a plating solution sample for measuring the concentration inside, and a regenerating solution outside the plating solution. It may have a structure in which a KCl solution is passed.

実施例−2 第3図は、無電解めっき液装置に適用した成分濃度調
整装置の一例の構成を示す。
Example 2 FIG. 3 shows a configuration of an example of a component concentration adjusting device applied to an electroless plating solution device.

本実施例は、上記装置を用いて、KAuCl4,Na2SO3,Na2S
2O3,チオ尿素などを主成分とする無電解めっき液の成分
濃度の調整を行なっている。
In this example, KAuCl 4 , Na 2 SO 3 , Na 2 S
The component concentration of the electroless plating solution mainly composed of 2 O 3 , thiourea and the like is adjusted.

本実施例の成分濃度調整装置は、第3図に示すよう
に、キャリヤ液である水を貯留する水槽1、再生液であ
る0.2N−KCl溶液を貯留する再生液槽2、定量ポンプ3,
4、六方バルブ5、サンプリングループ6、陰イオン交
換器7、陰イオン交換膜チューブ8および紫外吸収検出
器9を有する。なお、これらは、上述の第1図に示した
還元剤の濃度測定装置とほぼ同様の構成である。
As shown in FIG. 3, the component concentration adjusting device of this embodiment includes a water tank 1 for storing water as a carrier liquid, a regenerating liquid tank 2 for storing a 0.2 N-KCl solution as a regenerating liquid, a metering pump 3,
4. It has a six-way valve 5, a sampling loop 6, an anion exchanger 7, an anion exchange membrane tube 8, and an ultraviolet absorption detector 9. These have substantially the same configuration as the reducing agent concentration measuring apparatus shown in FIG.

本実施例の成分濃度調整装置は、さらに、めっき液の
金成分濃度の測定手段として原子吸光光度計35と、後述
する演算制御部10とを設けている。
The component concentration adjusting apparatus of the present embodiment further includes an atomic absorption spectrophotometer 35 as a means for measuring the gold component concentration of the plating solution, and an arithmetic control unit 10 described later.

本実施例の成分濃度調整装置は、めっき槽13中のめっ
き液の濃度調整手段として、水槽1と金補充液槽14とチ
オ尿素補充液槽15とを設けている。また、紫外吸収検出
器9と原子吸光光度計35とを較正するのに使用される較
正液を蓄える金標準液槽11とチオ尿素標準液槽12とを備
えている。
The component concentration adjusting apparatus of the present embodiment is provided with a water tank 1, a gold replenisher tank 14, and a thiourea replenisher tank 15 as means for adjusting the concentration of the plating solution in the plating tank 13. Further, a gold standard liquid tank 11 and a thiourea standard liquid tank 12 for storing a calibration liquid used for calibrating the ultraviolet absorption detector 9 and the atomic absorption photometer 35 are provided.

上記各槽と、紫外吸収検出器9および原子吸光光度計
35とを結ぶ配管系は、定量ポンプ3,4,25〜27,33と、サ
ンプリングループ6を備えた六方バルブ5と、サンプリ
ングループ29を備えた六方バルブ28と、電磁弁16〜22
と、マニホールド23,24と、希釈槽30とを備えて構成さ
れる。
Each of the above tanks, an ultraviolet absorption detector 9 and an atomic absorption spectrophotometer
A piping system connecting 35 is a metering pump 3, 4, 25 to 27, 33, a six-way valve 5 having a sampling loop 6, a six-way valve 28 having a sampling loop 29, and a solenoid valve 16 to 22.
, Manifolds 23 and 24, and a dilution tank 30.

以下、本実施例の配管系について説明する。 Hereinafter, the piping system of the present embodiment will be described.

水槽1は電磁弁16と結ばれ、金標準液槽11は電磁弁17
と結ばれ、チオ尿素標準液槽12は電磁弁18と結ばれ、め
っき槽13は電磁弁19と結ばれている。電磁弁16〜19はマ
ニホールド23を介して、定量ポンプ25の吸引側と接続さ
れている。そして、定量ポンプ25の吐出側は六方バルブ
28を切換えることにより、六方バルブ28のサンプルルー
プ29あるいは外部排出口に通ずるように配管されてい
る。
The water tank 1 is connected to the solenoid valve 16, and the gold standard solution tank 11 is connected to the solenoid valve 17.
The thiourea standard solution tank 12 is connected to a solenoid valve 18, and the plating tank 13 is connected to a solenoid valve 19. The solenoid valves 16 to 19 are connected to the suction side of the metering pump 25 via the manifold 23. The discharge side of the metering pump 25 is a six-way valve
By switching 28, the pipe is connected to the sample loop 29 of the six-way valve 28 or the external discharge port.

六方バルブ28の一つのポートは定量ポンプ27の吐出側
と接続されている。定量ポンプ27の吐出側は六方バルブ
28を切換えることにより、六方バルブ28のサンプルルー
プ29あるいは希釈槽30に通ずるように配管されている。
そして、定量ポンプ27の吸引側には水槽1が接続されて
いる。
One port of the six-way valve 28 is connected to the discharge side of the metering pump 27. The discharge side of metering pump 27 is a six-way valve
By switching 28, the pipe is connected to the sample loop 29 of the six-way valve 28 or the dilution tank 30.
The water tank 1 is connected to the suction side of the metering pump 27.

希釈槽30は、オートサンプラー34を備えた原子吸光光
度計35と結ばれている。さらに、希釈槽30は、電磁弁31
を介して窒素ボンベ32と結ばれ、希釈槽に送られた測定
液を窒素気流中で攪拌することができる。
The dilution tank 30 is connected to an atomic absorption photometer 35 having an autosampler 34. Further, the dilution tank 30 is provided with a solenoid valve 31.
The measurement liquid connected to the nitrogen tank 32 and sent to the dilution tank can be stirred in a nitrogen stream.

希釈槽30は、定量ポンプ33の吸引側と接続されてい
る。そして、定量ポンプ33の吐出側は六方バルブ5の一
つのポートと接続されている。定量ポンプ33の吐出側は
六方バルブ5を切換えることにより、六方バルブ5のサ
ンプルループ6あるいは外部排出口に通ずるように配管
されている。
The dilution tank 30 is connected to the suction side of the metering pump 33. The discharge side of the metering pump 33 is connected to one port of the six-way valve 5. The discharge side of the metering pump 33 is connected to the sample loop 6 of the six-way valve 5 or the external discharge port by switching the six-way valve 5.

六方バルブ5の他の一つのポートは定量ポンプ3の吐
出側と接続されている。定量ポンプ3の吐出側は六方バ
ルブ5を切換えることにより、六方バルブ5のサンプル
ループ6あるいは陰イオン交換器7に通じるように配管
されている。そして、定量ポンプ3の吸引側には水槽1
が接続されている。
Another port of the six-way valve 5 is connected to the discharge side of the metering pump 3. The discharge side of the metering pump 3 is connected to the sample loop 6 of the six-way valve 5 or the anion exchanger 7 by switching the six-way valve 5. A water tank 1 is provided on the suction side of the metering pump 3.
Is connected.

再生液槽2は定量ポンプ4の吸引側と接続され、定量
ポンプ4の吐出側は陰イオン交換器7と接続されてい
る。
The regenerating liquid tank 2 is connected to the suction side of the metering pump 4, and the discharge side of the metering pump 4 is connected to the anion exchanger 7.

金補充液槽14は電磁弁20と結ばれ、チオ尿素補充液槽
25は電磁弁21と結ばれ、水槽1は電磁弁22と結ばれてい
る。電磁弁20〜22はマニホールド24を介して、定量ポン
プ26の吸引側と接続されている。そして、定量ポンプ26
の吐出側には、めっき槽13が配置されている。すなわ
ち、金補充液槽14およびチオ尿素補充液槽15に蓄えられ
る各液は、定量ポンプ26により、めっき槽13に供給され
るように配管されている。
The gold replenisher tank 14 is connected to the solenoid valve 20, and the thiourea replenisher tank
25 is connected to the solenoid valve 21, and the water tank 1 is connected to the solenoid valve 22. The solenoid valves 20 to 22 are connected to the suction side of the metering pump 26 via the manifold 24. And the metering pump 26
The plating tank 13 is disposed on the discharge side of the plating tank 13. That is, each solution stored in the gold replenisher tank 14 and the thiourea replenisher tank 15 is connected to the plating tank 13 by the metering pump 26 so as to be supplied to the plating tank 13.

演算制御装置10は、定量ポンプ3,4,25〜27および33の
オン・オフ制御、電磁弁16〜22および31の開閉制御、六
方バルブ5,28の切換制御、紫外吸収検出器9および原子
吸光光度計35からのデータ信号の採取、濃度算出、補充
する補充液の液量の算出等の演算操作を行う。
The arithmetic and control unit 10 includes on / off control of the metering pumps 3, 4, 25 to 27 and 33, opening and closing control of the solenoid valves 16 to 22 and 31, switching control of the six-way valves 5, 28, the ultraviolet absorption detector 9 and the atomic Calculation operations such as collection of a data signal from the absorptiometer 35, calculation of concentration, calculation of the amount of replenisher to be replenished, and the like are performed.

さらに、演算制御装置10は、めっき槽13に、金補充液
槽14、チオ尿素補充液槽15から必要量の補充液を供給
し、めっき液の成分濃度を設定の範囲に調整する。
Further, the arithmetic and control unit 10 supplies a required amount of the replenisher to the plating tank 13 from the gold replenisher tank 14 and the thiourea replenisher tank 15, and adjusts the component concentration of the plating solution to a set range.

この演算制御装置は、図示しないが、例えば、中央処
理装置(CPU)と、このCPUの動作プログラムや、演算デ
ータ等を格納するメモリ、演算結果を可視表示する出力
装置、データ、制御信号等の入出力処理を行なうI/O、
インターフェース、外部から指示や評価を与える入力装
置等を備えて構成される。
Although not shown, the arithmetic and control unit includes, for example, a central processing unit (CPU), a memory for storing an operation program of the CPU, operation data and the like, an output device for visually displaying operation results, data, control signals, and the like. I / O for input / output processing,
It comprises an interface, an input device for giving instructions and evaluations from outside, and the like.

次に、めっき槽13内のめっき液成分濃度を調整する際
の各部の動作について説明する。
Next, the operation of each part when adjusting the concentration of the plating solution component in the plating tank 13 will be described.

まず、演算制御装置10からの指令により、電磁弁19を
開き、定量ポンプ25を駆動させて、めっき槽13からめっ
き板の一部を、六方バルブ28のサンプリングループ29内
に採取する。定量ポンプ27は、一定時間駆動して希釈槽
30に一定量のH2O(水)を送入するが、途中、六方バル
ブ28の切換えにより、サンプリングループ29内に採取し
ためっき液試料も同時に希釈槽30に送り込む。
First, in response to a command from the arithmetic and control unit 10, the electromagnetic valve 19 is opened, the metering pump 25 is driven, and a part of the plating plate is collected from the plating tank 13 into the sampling loop 29 of the hexagonal valve 28. The metering pump 27 is driven for a certain time and the dilution tank
A certain amount of H 2 O (water) is fed into 30, and the plating solution sample collected in the sampling loop 29 is simultaneously sent to the dilution tank 30 by switching the six-way valve 28 on the way.

その後、電磁弁31を開いて、短時間窒素ガスを希釈槽
30に流して液の攪拌を行い、めっき液を希釈槽30内で所
定倍率に希釈する。希釈めっき液試料の一部は、オート
サンプラー34で原子吸光光度計35に送られ、めっき液中
の金濃度の測定が行われる。
Then open the solenoid valve 31 and briefly dilute the nitrogen gas
The plating solution is agitated by flowing into the dilution tank 30 to dilute the plating solution in the dilution tank 30 at a predetermined magnification. A part of the diluted plating solution sample is sent to an atomic absorption spectrophotometer 35 by an autosampler 34, and the gold concentration in the plating solution is measured.

一方、定量ポンプ33の駆動により、希釈めっき液試料
の一部は、六方バルブ5のサンプリングループ6に分取
され、以下、第1図に示した還元剤の濃度測定装置にお
ける方法と同様の方法でめっき液中のチオ尿素の濃度が
測定される。
On the other hand, by driving the metering pump 33, a part of the diluted plating solution sample is collected in the sampling loop 6 of the six-way valve 5, and thereafter, the same method as the method in the reducing agent concentration measuring device shown in FIG. Is used to measure the concentration of thiourea in the plating solution.

なお、これら六方バルブの切換えおよび定量ポンプの
駆動等は、演算制御装置10を用いて自動制御によって行
われる。
The switching of these six-way valves, the driving of the metering pump, and the like are performed by automatic control using the arithmetic and control unit 10.

原子吸光光度計35および紫外吸収検出器9の較正は、
金標準液槽11に蓄えられた金の標準液およびチオ尿素標
準液槽12に蓄えられたチオ尿素の標準液を、めっき液中
の金,チオ尿素の管理(設定)濃度と等濃度に調整し、
最低1日1回、上記めっき液の成分濃度測定の場合と同
様の操作で実施する。
The calibration of the atomic absorption photometer 35 and the ultraviolet absorption detector 9 is as follows.
The gold standard solution stored in the gold standard solution tank 11 and the thiourea standard solution stored in the thiourea standard solution tank 12 are adjusted to the same concentration as the control (set) concentration of gold and thiourea in the plating solution. And
The operation is performed at least once a day in the same manner as in the measurement of the component concentration of the plating solution.

標準液を用いて得られた較正値を、演算制御装置10に
記憶させておき、それとの比例計算により、めっき液中
の金,チオ尿素濃度を算出し、さらに、管理濃度からの
ずれをもとに、それらの補充量を算出する。
The calibration value obtained using the standard solution is stored in the arithmetic and control unit 10, and the gold and thiourea concentrations in the plating solution are calculated by a proportional calculation with the calibration value. Then, the replenishment amounts are calculated.

そして、定量ポンプ26を用いて、金補充液槽14および
チオ尿素補充液槽15から、それぞれの補充液を上記算出
した補充量分、めっき槽13に補充する。
Then, using the metering pump 26, the replenisher is replenished from the gold replenisher bath 14 and the thiourea replenisher bath 15 to the plating bath 13 by the calculated replenishment amount.

すなわち、上記の方法で測定した金,チオ尿素の濃
度、金,チオ尿素の補充液の濃度、めっき槽13の液量,
定量ポンプ26の流速をもとに、金,チオ尿素の補充時間
を算出し、電磁弁20および21を順次所定時間開放するこ
とにより、必要量の補充液を補充することができる。
That is, the concentrations of gold and thiourea, the concentrations of replenishers of gold and thiourea, the volume of the plating tank 13,
The required amount of replenisher can be replenished by calculating the replenishment time of gold and thiourea based on the flow rate of the metering pump 26 and opening the solenoid valves 20 and 21 sequentially for a predetermined time.

なお、金補充後およびチオ尿素補充後には、電磁弁22
を開いて配管系を水で洗浄する。
After replenishment of gold and thiourea, the solenoid valve 22
Open and wash the piping system with water.

実施例−3 第4図は、第3図とは異なる濃度管理装置を用いた一
実施例を示す。
Embodiment 3 FIG. 4 shows an embodiment using a density control device different from that of FIG.

本実施例は、第3図で示す実施例と同様に、測定装置
として原子吸光光度計と紫外吸収検出器とを使用してい
るが、本実施例はあらたにpH電極を設け、さらに、原子
吸光光度計の較正方法と配管系とが異なる。
In this embodiment, as in the embodiment shown in FIG. 3, an atomic absorption spectrophotometer and an ultraviolet absorption detector are used as measuring devices. In this embodiment, a pH electrode is newly provided, and The calibration method of the absorptiometer and the piping system are different.

金成分としてKAuCl4を含み、還元性を有するNa2S2O3,
Na2SO3,チオ尿素を含む無電解めっき液の濃度を管理す
る例を説明する。
Na 2 S 2 O 3 , which contains KAuCl 4 as a gold component and has reducing properties
An example of controlling the concentration of the electroless plating solution containing Na 2 SO 3 and thiourea will be described.

本実施例の濃度管理装置は、めっき液中の金の成分濃
度を測定する原子吸光光度計102と、亜硫酸イオンとチ
オ硫酸イオンなどの還元性の陰イオンを、非還元性のイ
オン交換するイオンに交換膜チューブ201を備えた陰イ
オン交換器202と、めっき液中で還元剤として働く、チ
オ尿素の成分濃度を測定する紫外吸収検出器203と、pH
電極302およびpHメーター303と、各測定装置の較正およ
びめっき液成分の濃度測定を行なわせる制御機能を備え
たシーケンサ501と、めっき液成分の消費量を算出する
演算機能および消費された成分の供給を制御する供給制
御機能とを備えた演算制御手段401とを有する。
The concentration control device of the present embodiment includes an atomic absorption spectrophotometer 102 for measuring the concentration of gold components in the plating solution, and an ion for non-reducing ion exchange of reducing anions such as sulfite ions and thiosulfate ions. An anion exchanger 202 equipped with an exchange membrane tube 201, an ultraviolet absorption detector 203 for measuring the concentration of thiourea, which acts as a reducing agent in the plating solution,
A sequencer 501 having an electrode 302 and a pH meter 303, a control function for calibrating each measuring device and measuring the concentration of the plating solution component, and a calculation function for calculating the consumption of the plating solution component and supply of the consumed component And a calculation control means 401 having a supply control function for controlling the

演算制御装置401は、前述した実施例−2に示す演算
制御装置10とほぼ同様に構成される。
The arithmetic and control unit 401 has substantially the same configuration as the arithmetic and control unit 10 described in the second embodiment.

シーケンサ501は、あらかじめ設定したプログラム制
御手順をプログラムとして格納するメモリと、このメモ
リに格納されるプログラムに従って、電磁弁、定量ポン
プ、六方バルブ等の動作を、逐次、制御するCPUとを備
えて構成される。
The sequencer 501 includes a memory that stores a program control procedure set in advance as a program, and a CPU that sequentially controls the operations of the solenoid valve, the metering pump, the six-way valve, and the like according to the program stored in the memory. Is done.

シーケンサ501は、演算制御手段401の指示により作動
する。
The sequencer 501 operates according to an instruction from the arithmetic and control unit 401.

なお、第4図において、実線は配管系であり、破線は
信号の伝達路である。シーケンサ501の伝達路は図示し
ていない。
In FIG. 4, a solid line is a piping system, and a broken line is a signal transmission path. The transmission path of the sequencer 501 is not shown.

さらに、本実施例の濃度管理装置は、原子吸光光度計
102を較正する標準液に用いられる金属成分標準液槽610
ならびに還元剤添加液槽618と、紫外吸収検出器203を較
正する標準液を蓄える還元剤標準液槽611と、pH電極302
を較正する標準液を蓄えるpH緩衝液槽612と、めっきに
よって消費された金属イオンを補充する金属成分補充液
槽614と、めっきによって消費された還元剤を補充する
還元剤補充液槽615と、pHを調整するpH調整液補充液槽6
16とを有する。
Further, the concentration control device of this embodiment is an atomic absorption spectrophotometer.
Metal component standard solution tank 610 used for the standard solution for calibrating 102
A reducing agent additive solution tank 618, a reducing agent standard solution tank 611 for storing a standard solution for calibrating the ultraviolet absorption detector 203, and a pH electrode 302.
PH buffer solution tank 612 storing a standard solution for calibrating, metal component replenishment solution tank 614 for replenishing metal ions consumed by plating, and reducing agent replenishment solution tank 615 for replenishing the reducing agent consumed by plating, pH adjusting solution replenisher tank 6 for adjusting pH
With 16.

陰イオン交換器202に流される陰イオンを供給する再
生溶液は、再生液槽619に蓄えられる。また、配管の洗
浄および試料溶液の希釈に使用される水は、水槽617に
蓄えられる。
The regenerating solution for supplying anions flowing to the anion exchanger 202 is stored in the regenerating solution tank 619. Further, water used for cleaning the pipe and diluting the sample solution is stored in the water tank 617.

演算制御手段401の指令により、めっき槽61〜65に補
充される補充液には、金属成分補充液槽614、還元剤補
充液槽615およびpH調整液補充液槽616に蓄えられる液が
使用される。
As the replenisher replenished to the plating tanks 61 to 65 by the instruction of the arithmetic control means 401, the liquid stored in the metal component replenisher tank 614, the reducing agent replenisher tank 615, and the pH adjusting liquid replenisher tank 616 is used. You.

第4図に図示されているめっき槽61〜65は、本実施例
の装置の中に組み込まれても、あるいは、装置外から配
管系によって結ばれていてもよい。また、めっき槽の数
は5個に限定されるものではない。
The plating tanks 61 to 65 shown in FIG. 4 may be incorporated in the apparatus of this embodiment, or may be connected by a piping system from outside the apparatus. Further, the number of plating tanks is not limited to five.

前記各測定装置および前記各溶液槽は配管系によって
結ばれており、各配管系には目的に応じて、電磁弁、マ
ニホールド、三方バルブ、六方バルブおよび定量ポンプ
が設けられている。
Each of the measuring devices and each of the solution tanks are connected by a piping system, and each piping system is provided with a solenoid valve, a manifold, a three-way valve, a six-way valve, and a metering pump according to the purpose.

めっき槽61〜65には、その一方に、各々、電磁弁626
〜630が接続されている。電磁弁625の一方は水槽617と
接続している。電磁弁626〜630の他方はマニホールド64
1を介して三方バルブ650の一方に接続している。
Each of the plating tanks 61 to 65 has an electromagnetic valve 626
~ 630 are connected. One side of the solenoid valve 625 is connected to the water tank 617. The other of solenoid valves 626 to 630 is manifold 64
It is connected to one of the three-way valves 650 through one.

前記金属成分標準液槽610と、還元剤標準液槽611と、
pH緩衝液槽612と、後述するNa2S2O3溶液槽613とは、そ
の一方に、各々、電磁弁621〜624が接続されている。電
磁弁620の一方は水槽617と接続している。電磁弁620〜6
24の他方は、マニホールド640を介して三方バルブ650の
一方に接続している。
The metal component standard liquid tank 610, a reducing agent standard liquid tank 611,
Electromagnetic valves 621 to 624 are connected to one of the pH buffer solution tank 612 and a Na 2 S 2 O 3 solution tank 613 described later. One side of the solenoid valve 620 is connected to the water tank 617. Solenoid valve 620-6
The other of the 24 is connected to one of the three-way valves 650 via a manifold 640.

三方バルブ650の残る一方は、試料採取用の定量ポン
プ651の吸入側に接続されており、試料採取用の定量ポ
ンプ651の吐出側は、サンプルループ661を持つ六方バル
ブ660の1つのポートに接続している。六方バルブ660の
別のポートにはpH電極302が挿入されたフローセル301が
接続している。フローセル301には、pH電極302が挿入さ
れており、そこで測定されるpHは、pHメータ303に表示
される。
The other side of the three-way valve 650 is connected to the suction side of a sampling pump 651 for sampling, and the discharge side of the metering pump 651 for sampling is connected to one port of a six-way valve 660 having a sample loop 661. doing. Another port of the six-way valve 660 is connected to a flow cell 301 into which a pH electrode 302 is inserted. A pH electrode 302 is inserted into the flow cell 301, and the pH measured there is displayed on a pH meter 303.

吸引側が水槽617に接続している定量ポンプ652は、そ
の吐出側を六方バルブ660を介して希釈槽670に接続して
いる。希釈槽670内には、窒素ガスボンベ680から電磁弁
681を介して窒素ガスが送り込まれる。電磁弁671は希釈
槽670内の溶液を廃棄する際に用いられる。
The metering pump 652, whose suction side is connected to the water tank 617, has its discharge side connected to the dilution tank 670 via a six-way valve 660. In the dilution tank 670, a solenoid valve is provided from a nitrogen gas cylinder 680.
Nitrogen gas is sent in via 681. The solenoid valve 671 is used when the solution in the dilution tank 670 is discarded.

定量ポンプ656の吸引側は、希釈槽670から、サンプル
ループ665を持つ六方バルブ664、および、サンプルルー
プ667を持つ六方バルブ666を通る希釈試料採取用の配管
がつながっている。
The suction side of the metering pump 656 is connected to the dilution tank 670 through a six-way valve 664 having a sample loop 665 and a diluting sample collection pipe passing through a six-way valve 666 having a sample loop 667.

定量ポンプ654の吸引側は、サンプルループ663を持つ
六方バルブ662を介して還元剤添加液槽618に接続されて
いる。定量ポンプ665の吸引側は水槽617に接続されてお
り、定量ポンプ655の吐出側は六方バルブ662および664
を介して希釈槽672に接続されている。
The suction side of the metering pump 654 is connected to a reducing agent addition liquid tank 618 via a six-way valve 662 having a sample loop 663. The suction side of the metering pump 665 is connected to the water tank 617, and the discharge side of the metering pump 655 is connected to the six-way valves 662 and 664.
Is connected to the dilution tank 672 via a.

希釈槽672からは、オートサンプラー101によって、測
定試料が原子吸光光度計102に送られる。希釈槽672内に
は、電磁弁682を介して窒素ガスが送られる。電磁弁673
は、溶液廃棄用の電磁弁である。
From the dilution tank 672, the measurement sample is sent to the atomic absorption spectrophotometer 102 by the autosampler 101. Nitrogen gas is sent into the dilution tank 672 via an electromagnetic valve 682. Solenoid valve 673
Is a solenoid valve for solution disposal.

定量ポンプ657の吸引側は、水槽617に接続している。
そして、定量ポンプ657の吐出側からは、六方バルブ666
を介してイオン交換膜チューブ201から紫外吸収検出器2
03へと、キャリヤー液(H2O)が定速で送られる。定量
ポンプ658は、再生液槽619から、再生溶液をイオン交換
器202の外筒に送る。
The suction side of the metering pump 657 is connected to the water tank 617.
Then, from the discharge side of the metering pump 657, the six-way valve 666
From the ion exchange membrane tube 201 through the ultraviolet absorption detector 2
To 03, the carrier liquid (H 2 O) is sent at a constant speed. The metering pump 658 sends the regenerating solution from the regenerating solution tank 619 to the outer cylinder of the ion exchanger 202.

金属成分補充液槽614は、電磁弁636を介して、還元剤
補充液槽615は、電磁弁637を介して、pH調整液補充液槽
616は、電磁弁638を介して、水槽617は、電磁弁639を介
して、マニホールド643と結ばれている。そして、マニ
ホールド643は、補充用の定量ポンプ653の吸引側に接続
している。補充用の定量ポンプ653の吐出側は、マニホ
ールド642を介して電磁弁631〜635の一方に接続してお
り、各電磁弁は、めっき槽61〜65に接続している。
The metal component replenisher tank 614 is connected via a solenoid valve 636, and the reducing agent replenisher tank 615 is connected via a solenoid valve 637.
616 is connected to the manifold 643 via the solenoid valve 638, and the water tank 617 is connected to the manifold 643 via the solenoid valve 639. And, the manifold 643 is connected to the suction side of the replenishing fixed quantity pump 653. The discharge side of the replenishing fixed quantity pump 653 is connected to one of the solenoid valves 631 to 635 via the manifold 642, and each solenoid valve is connected to the plating tanks 61 to 65.

pHメータの較正、原子吸光光度計102の較正、紫外吸
光検出器203の較正、めっき液のpH測定、めっき液の還
元剤成分の濃度測定およびめっき液の金成分の濃度測定
に必要な各操作は、演算制御手段401の指令によりシー
ケンサ501によって行なわれる。
Calibration of pH meter, calibration of atomic absorption spectrophotometer 102, calibration of ultraviolet absorption detector 203, measurement of plating solution pH, measurement of reducing agent component concentration of plating solution and measurement of gold component concentration of plating solution Is performed by the sequencer 501 in accordance with a command from the arithmetic control means 401.

すなわち、電磁弁620〜630,671,673,681,682、定量ポ
ンプ651,652,654〜658、三方バルブ650、六方バルブ66
0,662,664,666が、シーケンサ501からの指令によって順
次作動する。
That is, solenoid valves 620-630,671,673,681,682, metering pumps 651,652,654-658, three-way valve 650, six-way valve 66
0, 662, 664, and 666 are sequentially activated by a command from the sequencer 501.

シーケンサ501および演算制御手段401の操作の流れを
示す第5図を用いて、測定装置の較正法およびめっき液
成分の濃度測定法について説明する。第5図において、
二重枠に囲まれた操作は演算制御手段401が行ない、他
はシーケンサ501が行なう。
The calibration method of the measuring device and the method for measuring the concentration of the plating solution component will be described with reference to FIG. In FIG.
The operation enclosed by the double frame is performed by the arithmetic and control unit 401, and the others are performed by the sequencer 501.

pHメータの較正は、以下のようにして行なわれる。 Calibration of the pH meter is performed as follows.

電磁弁623と三方バルブ650と六方バルブ660とを経
て、フローセル301内に送りこむ流路を形成し、定量ポ
ンプ651を駆動させて、緩衝液槽612に入ったホウ酸ナト
リウム緩衝液(pH約9.2)を、フローセル301内に流し込
む。定量ポンプ651を一定時間駆動後に停止して、pH緩
衝液のpHを、フローセル301に挿入されたpH電極302を用
いて測定する。
A flow path to be fed into the flow cell 301 is formed through the solenoid valve 623, the three-way valve 650, and the six-way valve 660, and the metering pump 651 is driven to drive the sodium borate buffer solution (pH about 9.2) contained in the buffer solution tank 612. ) Is poured into the flow cell 301. The metering pump 651 is stopped after driving for a certain period of time, and the pH of the pH buffer solution is measured using the pH electrode 302 inserted into the flow cell 301.

pH測定後、電磁バルブ620を開き、定量ポンプ651を駆
動させ、pH電極セル等の洗浄を行う。
After the pH measurement, the electromagnetic valve 620 is opened, and the metering pump 651 is driven to wash the pH electrode cell and the like.

演算制御手段401には、予めくり返しの予備実験によ
り求めた較正値の変動許容範囲を記憶させておき、求め
た較正値の異常値検定を行う。
The arithmetic control means 401 stores in advance a permissible range of fluctuation of the calibration values obtained by repeated preliminary experiments, and performs an abnormal value test of the obtained calibration values.

許容範囲は、予めくり返しの予備実験により較正値の
変動巾を求め、適切な範囲に設定する。
The permissible range is set to an appropriate range by calculating the range of variation of the calibration value in advance through repeated preliminary experiments.

pHメータの較正、および、後述する紫外吸収検出器20
3の較正、原子吸光光度計102の較正、めっき液成分の濃
度測定では、pHメータ303、pH電極302、原子吸光光度計
102、紫外吸収検出器203の異常やイオン交換器のイオン
交換能の低下、各定量ポンプの異常、各配管系の液漏
れ、配管途中での気泡の発生などが直ちに測定器の較正
値、めっき液成分の濃度測定値に影響を与える。
Calibration of pH meter and UV absorption detector 20 described later
3 calibration, atomic absorption photometer 102 calibration, plating solution component concentration measurement, pH meter 303, pH electrode 302, atomic absorption photometer
102, Improper ultraviolet absorption detector 203, reduced ion exchange capacity of ion exchanger, abnormalities of each metering pump, liquid leaks in each piping system, generation of air bubbles in the piping, etc. Affects concentration measurements of liquid components.

較正値が後述する許容範囲をはずれたときは、警報で
作業者に知らせ、再び測定をするか、あるいは、測定を
終了するかの確認を行なう。こうして、誤った測定値を
もとでの、誤った管理を防ぐ。
When the calibration value deviates from an allowable range described later, the operator is notified by an alarm, and a confirmation is made as to whether to perform the measurement again or to terminate the measurement. In this way, erroneous management based on erroneous measured values is prevented.

紫外吸光光度計203の較正は、以下のようにして行な
われる。
The calibration of the ultraviolet absorption spectrophotometer 203 is performed as follows.

定量ポンプ651により、還元剤標準液槽611に蓄えられ
た還元剤標準液をサンプルループ661に取り込んだ後、
定量ポンプ652を一定時間駆動することにより、水槽617
から、希釈槽670に一定量の水を送入する。その途中で
六方バルブ660を切り換えて、サンプルループ661内の還
元剤標準液を同時に希釈槽670に送り込み、希釈槽670内
で還元剤標準液を、例えば50倍に希釈する。さらに、定
量ポンプ656を駆動して、サンプルループ667内に希釈標
準液を採取する。
After the reducing agent standard solution stored in the reducing agent standard solution tank 611 is taken into the sample loop 661 by the metering pump 651,
By driving the metering pump 652 for a certain period of time,
After that, a certain amount of water is fed into the dilution tank 670. The six-way valve 660 is switched on the way, and the reducing agent standard solution in the sample loop 661 is simultaneously sent to the dilution tank 670, and the reducing agent standard solution is diluted in the dilution tank 670, for example, by 50 times. Further, the metering pump 656 is driven to collect the diluted standard solution in the sample loop 667.

上記希釈標準液は、イオン交換膜チューブ201を経
て、測定波長が240nmに設定されている紫外吸収検出器2
03で測定される。
The diluted standard solution passes through an ion-exchange membrane tube 201, and an ultraviolet absorption detector 2 whose measurement wavelength is set to 240 nm.
Measured at 03.

50倍に希釈された還元剤標準液を、2回サンプリング
して測定を行なう。
The measurement is performed by sampling the reducing agent standard solution diluted 50 times twice.

演算制御手段401は、2回の測定の平均値を算出し、
異常値検定を行う。
The arithmetic control means 401 calculates an average value of two measurements,
Perform an outlier test.

異常値検定は、2回くり返して測定された値の平均値
およびばらつき(差の絶対値)の両方で行う。平均値又
はばらつきのいずれか一方が、あらかじめ入力された許
容範囲をはずれた場合は、警報で作業者に知らせ、再び
測定をするか、あるいは、測定を終了するかの確認を行
なう。
The abnormal value test is performed on both the average value and the variance (absolute value of the difference) of the values measured twice. If any one of the average value and the variation deviates from the previously input allowable range, the operator is notified by an alarm, and confirmation is made as to whether to perform the measurement again or to terminate the measurement.

このため、これら装置の異常を早急に発見できるよう
に、許容範囲は、予めくり返しの予備実験により適切な
範囲に設定する。
For this reason, the permissible range is set in advance to an appropriate range through repeated preliminary experiments so that abnormalities in these devices can be found immediately.

原子吸光光度計102の較正は、以下のようにして行な
われる。
Calibration of the atomic absorption photometer 102 is performed as follows.

標準液は、本実施例で使用するめっき液から還元剤で
あるチオ尿素を除去した金属成分標準液と、チオ尿素溶
液からなる還元剤添加液とを混合した液を用いて行なわ
れる。
The standard solution is a mixture of a metal component standard solution obtained by removing thiourea as a reducing agent from the plating solution used in the present embodiment and a reducing agent addition solution composed of a thiourea solution.

金属成分標準液槽610に蓄えられた金標準液を希釈槽6
70内で、紫外吸収検出器の標準液の作成と同様にして、
例えば50倍希釈する。
The gold standard solution stored in the metal component standard solution tank 610 is diluted with the dilution tank 6
Within 70, in the same way as the preparation of the standard solution for the UV absorption detector,
For example, dilute 50 times.

定量ポンプ656を駆動して、サンプルループ665内に上
記希釈標準液を採取する。この時、同時に定量ポンプ65
4を駆動して、サンプルループ663内に、還元剤添加液槽
618からチオ尿素溶液を採取する。そして、定量ポンプ6
55を一定時間駆動し、その途中で、六方バルブ664と六
方バルブ662とを同時に切換えて、サンプルループ663内
のチオ尿素溶液と、サンプルループ665内の希釈標準溶
液を同時に希釈槽672に送り、希釈槽672の混合溶液を、
例えば、100倍希釈する。
The metering pump 656 is driven to collect the diluted standard solution into the sample loop 665. At this time, the metering pump 65
Drive 4 to place the reducing agent additive liquid tank in the sample loop 663.
Take thiourea solution from 618. And metering pump 6
55 is driven for a certain time, and in the middle thereof, the six-way valve 664 and the six-way valve 662 are simultaneously switched, and the thiourea solution in the sample loop 663 and the dilution standard solution in the sample loop 665 are simultaneously sent to the dilution tank 672, The mixed solution in the dilution tank 672 is
For example, dilute 100 times.

標準液は、チオ尿素添加液濃度とサンプルループ663
の容積とを調整して、めっき液管理濃度の組成比に近い
ものにする。
The standard solution is based on the thiourea added solution concentration and the sample loop 663.
And adjust the composition ratio to be close to the composition ratio of the plating solution management concentration.

上記の方法で得られた標準液は、オートサンプラー10
1により採取された後、原子吸光光度計102で測定され
る。再び、希釈槽672内の標準液をサンプリングして測
定を行なう。
The standard solution obtained by the above method was
After being collected by 1, it is measured by the atomic absorption spectrophotometer 102. Again, the standard solution in the dilution tank 672 is sampled and measured.

測定後は、電磁弁671,673を開いて希釈試料を廃棄
し、定量ポンプ652,655でH2Oを送って、希釈槽670,672
の洗浄を行う。また、電磁バルブ620を開いて定量ポン
プ651を駆動させ、標準液採取用の配管系の水洗を行
う。
After the measurement, the solenoid valves 671 and 673 are opened to discard the diluted sample, H 2 O is sent by the metering pumps 652 and 655, and the dilution tank 670 and 672
Is washed. Further, the electromagnetic valve 620 is opened to drive the metering pump 651, and the piping system for collecting the standard solution is washed.

演算制御手段401は、2回の測定の平均値を算出し、
前述した紫外吸収検出器の異常検定と同様にして異常値
検定を行う。
The arithmetic control means 401 calculates an average value of two measurements,
An abnormal value test is performed in the same manner as the above-described abnormal test of the ultraviolet absorption detector.

異常値が測定された場合には、警報装置が鳴り作業者
に異常を知らせ、再び測定をするか、あるいは、測定を
終了するかの確認を行なう。
When an abnormal value is measured, an alarm device sounds and informs the operator of the abnormality, and it is confirmed whether to perform the measurement again or to terminate the measurement.

pHメータ303、原子吸光光度計102、紫外吸収検出器20
3は、最低1日1回較正を行うとよい。
pH meter 303, atomic absorption spectrophotometer 102, ultraviolet absorption detector 20
For the third, calibration should be performed at least once a day.

めっき液の成分濃度の測定および補正量の算出につい
て説明する。
The measurement of the component concentration of the plating solution and the calculation of the correction amount will be described.

めっき液のpH測定は、以下のようにする。 The pH of the plating solution is measured as follows.

例えばめっき槽61からめっき液を、定量ポンプ651を
駆動して、電磁弁626と三方バルブ650と六方バルブ660
とを経て、フローセル301へ送る。定量ポンプ651を停止
後、フローセル301内のめっき液のpHを、pH電極302で測
定する。その後、配管系の洗浄を行う。
For example, a plating solution is supplied from the plating tank 61, and a metering pump 651 is driven, so that a solenoid valve 626, a three-way valve 650, and a six-way valve 660 are provided.
Is sent to the flow cell 301. After stopping the metering pump 651, the pH of the plating solution in the flow cell 301 is measured by the pH electrode 302. After that, the piping system is cleaned.

めっき液の還元剤成分の濃度測定は、以下のようにす
る。
The concentration of the reducing agent component in the plating solution is measured as follows.

例えばめっき槽61からめっき液を、定量ポンプ651を
駆動して、電磁弁626と三方バルブ650とを経て、六方バ
ルブ660のサンプルループ661内に流し込む。
For example, a plating solution is poured from the plating tank 61 into the sample loop 661 of the six-way valve 660 via the solenoid valve 626 and the three-way valve 650 by driving the metering pump 651.

定量ポンプ652を駆動して、水槽617から、希釈槽670
に一定量の水を送入する。その途中、上述したサンプル
ループ661内のめっき液試料を、同時に希釈槽670に送り
込み、50倍に希釈する。
Driving the metering pump 652, from the water tank 617, to the dilution tank 670
A certain amount of water On the way, the plating solution sample in the sample loop 661 described above is simultaneously sent to the dilution tank 670 and diluted 50 times.

電磁弁681を開いて短時間、窒素ガスを希釈槽670に流
して液の攪拌を行う。
After opening the solenoid valve 681, nitrogen gas is flown into the dilution tank 670 for a short time to stir the liquid.

希釈槽670内の50倍希釈試料の一部を、サンプルルー
プ667に送りこめるように、六方バルブ666を切換え、定
量ポンプ656を駆動して、希釈試料をサンプルループ667
に送る。
The six-way valve 666 is switched so that a part of the 50-fold diluted sample in the dilution tank 670 is sent to the sample loop 667, and the metering pump 656 is driven to dilute the diluted sample into the sample loop 667.
Send to

陰イオン交換膜チューブ201には、定量ポンプ657によ
り2ml/分の流速でH2Oが常時送られている。また、六方
バルブ666の切換えにより、サンプルループ667内に採取
された希釈試料が、陰イオン交換膜チューブ201に送ら
れる。
H 2 O is constantly fed to the anion exchange membrane tube 201 at a flow rate of 2 ml / min by the metering pump 657. Further, by switching the six-way valve 666, the diluted sample collected in the sample loop 667 is sent to the anion exchange membrane tube 201.

陰イオン交換器202の陰イオン交換膜チューブ201の外
側には、定量ポンプ658により、再生液槽619に蓄えられ
ている例えば0.2N−KCl溶液が、例えば2ml/分の流速で
送られ、陰イオン交換膜チューブ201は常に塩素イオン
型に再生されている。この陰イオン交換膜チューブ201
内にめっき液試料が送られると、めっき液中の亜硫酸イ
オンとチオ硫酸イオンと金錯体等とは、陰イオン交換膜
上に捕捉され、代りに塩素イオンが溶出する。
Outside the anion exchange membrane tube 201 of the anion exchanger 202, for example, a 0.2 N-KCl solution stored in a regenerating solution tank 619 is sent at a flow rate of, for example, 2 ml / min by a metering pump 658. The ion-exchange membrane tube 201 is always regenerated to a chlorine ion type. This anion exchange membrane tube 201
When the plating solution sample is sent into the inside, the sulfite ion, thiosulfate ion, gold complex and the like in the plating solution are captured on the anion exchange membrane, and chloride ion is eluted instead.

一方、還元剤であるチオ尿素は、非イオン性物質のた
め、陰イオン交換膜チューブ201内で捕捉されることな
く、溶出した塩素イオンと共に紫外吸収検出器203に送
られる。
On the other hand, since thiourea as a reducing agent is a nonionic substance, it is sent to the ultraviolet absorption detector 203 together with the eluted chlorine ions without being captured in the anion exchange membrane tube 201.

紫外吸収検出器203の測定波長は、チオ尿素が吸収を
示す240nmに設定されている。塩素イオンは240nmで吸収
を示さないため、チオ尿素のみによる吸光度が測定され
る。
The measurement wavelength of the ultraviolet absorption detector 203 is set to 240 nm at which thiourea absorbs. Since chloride ions do not show absorption at 240 nm, the absorbance is measured only with thiourea.

再び、定量ポンプ657を駆動して、サンプルループ667
内に50倍希釈試料を採取し、同様の操作をくり返し、吸
光度を2回測定する。
By driving the metering pump 657 again, the sample loop 667
A 50-fold diluted sample is collected therein, and the same operation is repeated, and the absorbance is measured twice.

めっき液の金成分の濃度測定は、以下のようにする。 The measurement of the concentration of the gold component in the plating solution is performed as follows.

上記希釈槽670内にある50倍希釈試料の一部を、サン
プルループ665に送りこむように六方バルブ664を接続
し、定量ポンプ656を駆動して、希釈試料をサンプルル
ープ665に送る。
A six-way valve 664 is connected so that a part of the 50-fold diluted sample in the dilution tank 670 is sent to the sample loop 665, and the metering pump 656 is driven to send the diluted sample to the sample loop 665.

定量ポンプ655を一定時間駆動して、一定量の水を希
釈槽672に挿入する。その途中で六方バルブ664を切換え
て、サンプルループ665内の希釈試料を希釈槽672内に送
りこみ、例えば100倍に希釈する。電磁弁682を開いて、
窒素ガスで攪拌を行う。2段希釈された希釈槽672内の
試料の一部は、オートサンプラー101で原子吸光光度形1
02に送られ、金濃度の測定が行われる。
The metering pump 655 is driven for a certain period of time to insert a certain amount of water into the dilution tank 672. On the way, the six-way valve 664 is switched, and the diluted sample in the sample loop 665 is sent into the dilution tank 672, for example, diluted 100 times. Open solenoid valve 682,
Stir with nitrogen gas. A part of the sample in the dilution tank 672, which has been diluted in two steps, is analyzed by the autosampler 101 using an atomic absorption spectrophotometer.
It is sent to 02 to measure the gold concentration.

再び、オートサンプラー101を稼動し希釈液のサンプ
リングを行ない、金濃度測定を行なう。
Again, the autosampler 101 is operated to sample the diluent and measure the gold concentration.

測定後は、電磁弁671,673を開いて希釈試料を廃棄
し、定量ポンプ652,655でH2Oを送って希釈槽670,672の
洗浄を行う。また、電磁バルブ625を開いて定量ポンプ6
51を駆動させ、めっき液採取用の配管系の水洗を行う。
After the measurement, the solenoid valves 671 and 673 are opened to discard the diluted sample, and H 2 O is sent by the metering pumps 652 and 655 to wash the dilution tanks 670 and 672. Also open the solenoid valve 625 and open the metering pump 6
Drive 51 to wash the plating solution collection piping.

演算制御手段401は、2回の測定で得られためっき液
中の金成分濃度の測定値およびめっき液中の還元剤成分
濃度の測定値の平均値と、前記標準液を2回くり返して
測定した較正値の平均値との比例計算を、(1)式のよ
うにして行ない、めっき液中の金およびチオ尿素濃度を
算出する。
The arithmetic control means 401 measures the average value of the measured values of the concentration of the gold component in the plating solution and the measured value of the concentration of the reducing agent component in the plating solution obtained by the two measurements, and measures the standard solution twice. The proportional calculation with the average value of the calibration values thus performed is performed as in equation (1) to calculate the concentrations of gold and thiourea in the plating solution.

求めるめっき液の濃度 測定装置にバックグランドがある場合でも、標準液と
目標管理濃度とがほぼ同じ濃度であれば、この近傍での
誤差は極めて小さい。
Desired plating solution concentration Even when the measuring device has a background, if the standard solution and the target control concentration are substantially the same, the error in the vicinity of this is very small.

もちろん、濃度測定方法は上記方法に限ることはな
く、濃度違いの標準液を数種類用いて検量線を作成して
もよい。
Of course, the method for measuring the concentration is not limited to the above method, and a calibration curve may be created using several types of standard solutions having different concentrations.

演算制御手段401は、算出されためっき液の濃度およ
びpH値が設定濃度の許容範囲に入っているかを検定す
る。許容範囲からはずれている場合には、警報で作業者
に知らせ、再び測定をするか、あるいは、測定を終了す
るかの確認を行なう。こうして、誤った測定値をもとで
の、誤った管理を防ぐ。
The arithmetic control means 401 checks whether the calculated concentration and pH value of the plating solution are within the allowable range of the set concentration. If the value is out of the allowable range, the worker is notified by an alarm and the measurement is performed again or the measurement is confirmed. In this way, erroneous management based on erroneous measured values is prevented.

さらに、演算制御手段401は、算出されためっき液の
濃度と設定濃度との差から、めっきの進行に伴う、成分
の消費量を求めて、補給量を算出する。補充は、補充量
に応じて、電磁弁の開閉時間およびポンプの駆動時間を
変える必要があるので、演算制御手段401がその制御を
行なう。
Further, the arithmetic and control unit 401 calculates the replenishment amount by obtaining the consumption of the component accompanying the progress of the plating from the difference between the calculated concentration of the plating solution and the set concentration. In the replenishment, the operation time of the solenoid valve and the drive time of the pump need to be changed according to the replenishment amount.

前記金属成分補充液槽614、還元剤補充液槽615からめ
っき液槽への補充は、電磁バルブ631〜635を開き、定量
ポンプ653を稼動して行なわれる。
The replenishment from the metal component replenisher bath 614 and the reducing agent replenisher bath 615 to the plating bath is performed by opening the electromagnetic valves 631 to 635 and operating the metering pump 653.

金、チオ尿素の補充液の濃度、めっき槽の液量、定量
ポンプ653の流速などから金、チオ尿素の補給時間を算
出し、電磁弁636および637を順次所定時間開放して、必
要量を補充する。
The replenishment time of gold and thiourea is calculated from the concentration of the replenisher of gold and thiourea, the volume of the plating tank, the flow rate of the metering pump 653, etc., and the solenoid valves 636 and 637 are sequentially opened for a predetermined time to reduce the required amount. refill.

pH調整液の補充は、めっき液のpH測定値に応じて、予
め設定した補充時間だけ電磁弁638を開いてpH調整液の
補給を行う。
The replenishment of the pH adjusting solution is performed by opening the solenoid valve 638 for a preset replenishing time according to the measured value of the pH of the plating solution.

各補充液の補充後には、その都度電磁弁639を一定時
間開いて、配管系を水で洗浄する。
After replenishment of each replenisher, the solenoid valve 639 is opened for a certain time each time, and the piping system is washed with water.

さらに、本実施例の演算制御手段は、陰イオン交換器
202のイオン交換能をチェックするプログラムを備えて
いる。
Further, the arithmetic and control means of the present embodiment comprises an anion exchanger
It has a program to check 202 ion exchange capacity.

めっき液中のチオ尿素濃度のみが許容巾を上回った場
合、その原因として、陰イオン交換器202のイオン交換
能の低下が考えられる。この時、作業者のプログラム選
択により、以下の操作(自動)でチェックを行うことが
できる。
If only the thiourea concentration in the plating solution exceeds the allowable range, the cause may be a decrease in the ion exchange capacity of the anion exchanger 202. At this time, the check can be performed by the following operation (automatic) by the operator's selection of the program.

このプログラム選択は、演算制御手段401のキーボー
ド(図示せず)等の入力装置から指示することができ
る。
This program selection can be instructed from an input device such as a keyboard (not shown) of the arithmetic control means 401.

即ち、電磁弁624を開いて定量ポンプ651によりNa2S2O
3溶液をサンプルループ661に採取し、それを希釈槽670
内で希釈した後に、チオ尿素濃度測定と同様の方法で、
紫外吸光光度計203による吸光度の測定を行う。
That is, the solenoid valve 624 is opened and the Na 2 S 2 O
3 Collect the solution in the sample loop 661 and dilute it into the dilution tank 670.
After dilution in the same way, in the same manner as the thiourea concentration measurement,
The absorbance is measured by the ultraviolet absorption spectrophotometer 203.

もし、陰イオン交換器202のイオン交換能が正常であ
れば、チオ硫酸イオンはすべて陰イオン交換膜上に捕捉
され、代りに塩素イオンが溶出するため、紫外吸光度は
ゼロとなる。しかし、陰イオン交換能が低下した場合、
チオ硫酸イオンの一部または全部がそのまま紫外吸収検
出器203に送られるため、何らかの吸光度を示し、容易
に異常を発見することができる。
If the ion exchange capacity of the anion exchanger 202 is normal, all thiosulfate ions are captured on the anion exchange membrane, and chloride ions are eluted instead, so that the ultraviolet absorbance becomes zero. However, if the anion exchange capacity decreases,
Since part or all of the thiosulfate ions are sent to the ultraviolet absorption detector 203 as they are, they show some absorbance, and abnormalities can be easily found.

以下、これまで述べた実施例の作用について説明す
る。
Hereinafter, the operation of the embodiment described above will be described.

亜硫酸イオンやチオ硫酸イオン等の還元性イオンと、
亜硫酸イオンやチオ硫酸イオンを配位子とする金錯体と
を含むめっき液を、塩素イオンを吸着した陰イオン交換
膜に通すと、陰イオン交換物質に対する親和性の大きい
亜硫酸イオンやチオ硫酸イオンが陰イオン交換物質が捕
捉され、代りに等当量の塩素イオンが溶出される。
Reducing ions such as sulfite ions and thiosulfate ions;
When a plating solution containing a sulfite ion or a gold complex having a thiosulfate ion as a ligand is passed through an anion exchange membrane to which chloride ions are adsorbed, sulfite ions or thiosulfate ions having a high affinity for anion exchange substances are generated. Anion exchange material is trapped, and an equivalent amount of chloride ion is eluted instead.

こうして、めっき液中に含まれる還元性イオンを、め
っき液中に含まれる還元剤の定量分析の測定妨害をしな
い陰イオンに交換する。
Thus, the reducing ions contained in the plating solution are exchanged for anions which do not interfere with the measurement of the quantitative analysis of the reducing agent contained in the plating solution.

しかし、チオ尿素は、非イオン性のために陰イオン交
換膜には捕捉されず、そのまま陰イオン交換器から流出
する。チオ尿素の濃度は、塩素イオンが紫外吸収を示さ
ないために、陰イオン交換器の後に設けた紫外吸収検出
器で、正確に測定することができる。
However, thiourea is not trapped by the anion exchange membrane because of its nonionicity, and flows out of the anion exchanger as it is. The concentration of thiourea can be accurately measured by an ultraviolet absorption detector provided after the anion exchanger because chlorine ions do not show ultraviolet absorption.

もし、還元剤が、例えばホルムアルデヒドのように紫
外吸収を示さない物質の場合には、紫外吸収検出器では
なく、電気化学的定量装置、例えば電位差滴定装置を設
けると、ホルムアルデヒドの酸化に要する酸化剤量から
濃度を算出することができる。この時にも、塩素イオン
は測定の妨害を行なわない。電気化学的定量装置として
は、クーロメトリ装置やボルタンメトリ装置等も使用で
きる。
If the reducing agent is a substance that does not exhibit ultraviolet absorption, such as formaldehyde, for example, an electrochemical quantification device, for example, a potentiometric titration device is provided instead of an ultraviolet absorption detector. The concentration can be calculated from the amount. Also at this time, the chlorine ions do not interfere with the measurement. A coulometric device, a voltammetric device, or the like can also be used as the electrochemical quantitative device.

金成分の定量分析を行なうためには、原子吸光法では
なくプラズマ発光分光分析等の分析装置を用いてもよ
い。但し、一般的にプラズマ発光分光分析は原子吸光法
に比べ、測定装置が大型化してしまう。
In order to perform the quantitative analysis of the gold component, an analyzer such as plasma emission spectroscopy may be used instead of the atomic absorption method. However, in general, the plasma emission spectroscopy requires a larger measuring device than the atomic absorption method.

特に、実施例−3の濃度管理装置では、原子吸光光度
計の標準液として、金属成分のみでなく、金属成分と還
元剤成分を混合した標準液を用いて、原子吸光法で生じ
がちな測定値の変動を防止する。さらに、金属成分と還
元剤成分を測定直前に混合することにより、液分解を起
こしていない標準液を作り、精度の良い測定を行なうこ
とができる。
In particular, in the concentration control device of Example-3, not only the metal component but also the standard solution in which the metal component and the reducing agent component were mixed was used as the standard solution for the atomic absorption spectrophotometer, and the measurement which tends to occur by the atomic absorption method Prevent value fluctuations. Further, by mixing the metal component and the reducing agent component immediately before the measurement, a standard solution that does not undergo liquid decomposition can be prepared, and accurate measurement can be performed.

pHの測定は、1日1回行なわれるが、複数回行なわれ
てもよい。
The pH is measured once a day, but may be measured a plurality of times.

本実施例では、測定装置による測定および較正をシー
ケンサを用いて制御して、自動化を行なっているが、シ
ーケンサを用いることなく、演算制御手段を使用して、
測定装置による測定および較正の制御を行なってもよ
い。
In the present embodiment, the measurement and calibration by the measurement device are controlled by using a sequencer to perform automation, but without using a sequencer, using an arithmetic control unit,
Measurement and calibration control by the measurement device may be performed.

演算制御手段は、測定装置から送られる測定値と較正
値とを取り込み、上述した(1)式に従い、濃度計算を
行なう。求められためっき液の濃度と設定濃度との差か
ら、めっきの進行に伴う、成分の消費量を求めて補充量
を算出する。そして、消耗成分量の情報に従い、補充液
槽から消費量分を逐次補給することにより、めっき液の
成分濃度を常に一定範囲内に管理する。この結果、めっ
き速度を一定に保つことができる。
The arithmetic control unit fetches the measured value and the calibration value sent from the measuring device, and calculates the concentration in accordance with the above equation (1). From the difference between the determined concentration of the plating solution and the set concentration, the amount of component consumption accompanying the progress of plating is determined to calculate the replenishment amount. Then, according to the information on the amount of the consumable component, the amount of the consumed component is successively replenished from the replenishing solution tank, so that the component concentration of the plating solution is always managed within a certain range. As a result, the plating speed can be kept constant.

さらに、演算制御手段は、較正値の異常検定およびめ
っき液の成分濃度の測定値の異常検定を行ない、較正値
および測定値によっては、再測定や装置のチェックを直
ちに行う。こうして、測定値の信頼性を向上させる。
Further, the arithmetic and control means performs an abnormality test of the calibration value and an abnormality test of the measured value of the component concentration of the plating solution. Depending on the calibration value and the measured value, remeasurement and checking of the apparatus are immediately performed. Thus, the reliability of the measured value is improved.

実施例−3の濃度管理装置を用いて、1時間毎にpHお
よび金、チオ尿素の濃度を測定し、pH調整液、金および
チオ尿素補充液の補充を行いつつ、1dm2/の負荷で約2
0時間のめっきを行った。
The concentration and the concentration of gold and thiourea were measured every hour by using the concentration control device of Example-3, and a replenishment of the pH adjusting solution, the gold and thiourea replenisher was performed, and the load was adjusted to 1 dm 2 /. About 2
The plating was performed for 0 hours.

この時、pHは9〜9.1、金濃度は設定濃度±5%、チ
オ尿素濃度は設定濃度±3%の範囲内に自動制御できた
ために、めっき速度を1.0〜0.85μm/時間の範囲に調整
することができた。
At this time, the plating rate was adjusted to the range of 1.0 to 0.85 μm / hour because the pH was 9 to 9.1, the gold concentration was automatically controlled to within the set concentration ± 5%, and the thiourea concentration was automatically controlled to within the set concentration ± 3%. We were able to.

ほぼ同様な結果を、実施例−2の濃度管理装置でも得
た。
Almost the same results were obtained with the concentration control device of Example-2.

以上のように、本発明の濃度管理装置は、めっき進行
中、めっき速度を一定に保つので、ムラのない均一なめ
っきを行なうことができる。即ち、本実施例の濃度管理
装置は、優れためっき装置として使用することができ
る。
As described above, since the concentration control device of the present invention keeps the plating speed constant during the progress of plating, uniform plating without unevenness can be performed. That is, the concentration control device of the present embodiment can be used as an excellent plating device.

さらに、本発明の濃度管理装置は、非シアン系無電解
めっき液以外の各種めっき液でも、補充液と標準液と
を、用いるめっき液成分によって適宜変更することによ
り、めっき液成分の濃度を管理することができる。ま
た、同様に、非シアン系無電解めっき装置にも適用する
こともできる。
Further, the concentration control apparatus of the present invention controls the concentration of the plating solution components by appropriately changing the replenisher and the standard solution depending on the plating solution components to be used in various plating solutions other than the non-cyanide electroless plating solution. can do. Similarly, the present invention can also be applied to a non-cyanide electroless plating apparatus.

実施例−2,3の濃度管理装置は、金成分の濃度分析に
原子吸光光度計を使用しているが、測定する金属成分に
合った分析装置を選択した金属成分濃度測定手段を設け
ることができる。同様に、還元剤成分の濃度分析に紫外
吸収検出器を使用しているが、還元剤以外の非金属成分
濃度を測定できるような非金属成分測定手段を設けるこ
とができる。
In the concentration control devices of Examples 2-3, an atomic absorption spectrophotometer is used for the concentration analysis of the gold component, but it is possible to provide a metal component concentration measuring means that selects an analyzer suitable for the metal component to be measured. it can. Similarly, although an ultraviolet absorption detector is used for the analysis of the concentration of the reducing agent component, a nonmetallic component measuring means capable of measuring the concentration of nonmetallic components other than the reducing agent can be provided.

上記のような金属成分測定手段および非金属成分測定
手段を備えた濃度管理装置の演算制御手段は、実施例−
2,3で述べたような演算制御手段を使用することができ
る。
The arithmetic and control unit of the concentration management device including the metal component measuring unit and the non-metal component measuring unit as described above is described in Example-
The arithmetic control means as described in 2 and 3 can be used.

例えば、金属成分測定手段としてポーラログラフを、
例えば、非金属成分測定手段として液体クロマトグラフ
を備えた濃度管理装置は、めっき槽ではなく、例えば、
工場排水等の廃液槽に連結することにより、金属成分測
定手段が、例えばカドミウムの濃度を、非金属成分測定
手段が、例えばケトン等の有機物の濃度を測定して、工
場排水の水質管理ができる。この時、工場排水に含まれ
る金属成分や非金属成分に従って、用いる標準液および
補充液は適宜変更される。
For example, a polarograph as a metal component measuring means,
For example, a concentration control device equipped with a liquid chromatograph as a nonmetallic component measuring means is not a plating tank, for example,
By connecting to a waste liquid tank such as a factory wastewater, the metal component measuring means measures, for example, the concentration of cadmium, and the nonmetallic component measuring means measures, for example, the concentration of an organic substance such as ketone, so that the water quality of the factory wastewater can be controlled. . At this time, the standard solution and the replenisher used are appropriately changed according to the metal component and the nonmetal component contained in the factory wastewater.

[発明の効果] 以上詳細に説明したごとく、本発明のめっき液の成分
濃度の調整方法では、めっき液中に共有する陰イオンを
還元剤の測定に妨害を示さない他の陰イオン種に変換し
て還元剤の濃度を測定することができるので、めっき液
中の還元剤の濃度の高精度測定ができる。
[Effects of the Invention] As described in detail above, in the method for adjusting the component concentration of the plating solution of the present invention, an anion shared in the plating solution is converted into another anion species that does not disturb the measurement of the reducing agent. Thus, the concentration of the reducing agent can be measured, so that the concentration of the reducing agent in the plating solution can be measured with high accuracy.

さらに、上記方法を用いた装置に、めっき液の消費量
を演算し、補給する機能を備えると、めっき液の成分濃
度を、常に一定範囲内に調整することができ、めっき液
の自動管理を達成することができる。
Furthermore, if the apparatus using the above method is provided with a function of calculating and replenishing the consumption of the plating solution, the component concentration of the plating solution can be constantly adjusted within a certain range, and automatic management of the plating solution can be performed. Can be achieved.

また、金属成分濃度測定部と非金属成分濃度測定部と
演算制御部とを有する、本発明の濃度調整方法を用いた
濃度管理装置は、溶液中の金属成分の濃度と非金属成分
の濃度を測定できる。各測定値が前もって決められてい
る管理範囲をはずれているときには、演算制御部が働
き、補充液槽に蓄えられた補充液が添加されることによ
り、溶液の各成分濃度を管理範囲に納めることができ
る。
Further, the concentration management device using the concentration adjustment method of the present invention, which has a metal component concentration measurement unit, a non-metal component concentration measurement unit, and an arithmetic control unit, measures the concentration of the metal component and the concentration of the non-metal component in the solution. Can be measured. When each measured value is out of the predetermined control range, the arithmetic and control unit operates to add the replenisher stored in the replenisher tank to keep the concentration of each component of the solution within the control range. Can be.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の濃度調整方法に用いられる濃度測定装
置の一実施例の構成を示す系統図、第2図はチオ尿素、
尿素およびKClの紫外吸収スペクトル図、第3図は本発
明の濃度調整に用いられる濃度調整装置の一実施例の構
成を示す系統図、第4図は本発明を適用してめっき液の
調整を行なうめっき装置の一実施例を示す系統図、第5
図は第4図に示した実施例に用いられる演算制御手段の
動作を示すフローチャート、第6図は補充液を加えず非
シアン系めっき液を用いてめっきを行なった場合の成分
の経時変化を示すグラフ、第7図はめっきの進行と共に
補充液を加えて非シアン系めっき液を用いてめっきを行
なった場合の成分の経時変化とめっき速度の経時変化を
示すグラフである。 7……陰イオン交換器、8……陰イオン交換膜チュー
ブ、9……紫外吸収検出器、10……演算制御装置、11…
…金標準液槽、12……チオ尿素標準液槽、13……めっき
槽、14……金補補充槽、15……チオ尿素補充液槽、35…
…原子吸光光度計、610……金属成分標準液槽、611……
還元剤標準液槽、612……pH緩衝液槽、613……Na2S2O3
溶液槽、614……金属成分補充液槽、615……還元剤補充
液槽、616……pH調整液補充液槽、618……還元剤添加液
槽、619……再生液槽、101……オートサンプラー、102
……原子吸光光度計、201……陰イオン交換膜チュー
ブ、202……陰イオン交換器、203……紫外吸収検出器、
301……フローセル、302……pH電極、303……pHメー
タ、401……演算制御手段。
FIG. 1 is a system diagram showing the configuration of an embodiment of a concentration measuring device used in the concentration adjusting method of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is an ultraviolet absorption spectrum diagram of urea and KCl, FIG. 3 is a system diagram showing a configuration of one embodiment of a concentration adjusting device used for concentration adjustment of the present invention, and FIG. 5 is a system diagram showing an embodiment of a plating apparatus to be performed, and FIG.
FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the arithmetic and control means used in the embodiment shown in FIG. 4. FIG. 6 shows the change over time of the components when plating is performed using a non-cyanide plating solution without adding a replenisher. FIG. 7 is a graph showing the change over time of the components and the change over time of the plating rate when plating is performed using a non-cyanide plating solution with the addition of a replenisher as the plating progresses. 7 ... anion exchanger, 8 ... anion exchange membrane tube, 9 ... ultraviolet absorption detector, 10 ... arithmetic and control unit, 11 ...
... gold standard solution tank, 12 ... thiourea standard solution tank, 13 ... plating tank, 14 ... gold supplementary replenishment tank, 15 ... thiourea replenishment solution tank, 35 ...
… Atomic absorption spectrophotometer, 610 …… Metal component standard liquid tank, 611 ……
Reducing agent standard solution tank, 612 …… pH buffer solution tank, 613 …… Na 2 S 2 O 3
Solution tank, 614 ... Metal component replenishment tank, 615 ... Reducing agent replenishment tank, 616 ... pH adjustment liquid replenishment tank, 618 ... Reducing agent addition liquid tank, 619 ... Regeneration liquid tank, 101 ... Autosampler, 102
…… Atomic absorption spectrometer, 201 …… Anion exchange membrane tube, 202 …… Anion exchanger, 203 …… UV absorption detector,
301: Flow cell, 302: pH electrode, 303: pH meter, 401: Operation control means.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】金属成分、陰イオンおよび還元剤を含むめ
っき液の成分濃度調整方法であって、 前記陰イオンを、前記還元剤の濃度測定に妨害を与えな
い他の陰イオン種に置換した後、前記還元剤濃度および
前記金属成分濃度を測定する工程と、 前記測定した還元剤濃度および金属成分濃度を基に、前
記還元剤と前記金属成分との消費量を求める工程と、 前記消費量に相当する還元剤および金属成分を含む補充
液をめっき液に補充する工程とを備え、 前記金属成分は金イオンであり、 前記陰イオンはチオ硫酸イオンおよび亜硫酸イオンの少
なくともいずれかであり、 前記還元剤はチオ尿素であり、 前記他のイオン種は、塩素イオンおよび炭酸イオンの少
なくともいずれかであることを特徴とするめっき液の成
分濃度調整方法。
1. A method for adjusting a component concentration of a plating solution containing a metal component, an anion and a reducing agent, wherein the anion is replaced by another anion species which does not interfere with the measurement of the concentration of the reducing agent. Thereafter, a step of measuring the reducing agent concentration and the metal component concentration; a step of calculating a consumption amount of the reducing agent and the metal component based on the measured reducing agent concentration and the metal component concentration; and Replenishing the plating solution with a replenisher containing a reducing agent and a metal component corresponding to the above, wherein the metal component is a gold ion, the anion is at least one of a thiosulfate ion and a sulfite ion, The method according to claim 1, wherein the reducing agent is thiourea, and the other ionic species is at least one of a chloride ion and a carbonate ion.
【請求項2】請求項1記載の成分濃度調整方法を用いて
成分濃度を調整しためっき液を用いて金めっきを行うこ
とを特徴とするめっき方法。
2. A plating method, wherein gold plating is performed using a plating solution whose component concentration has been adjusted using the component concentration adjusting method according to claim 1.
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