JP3211385B2 - Cream solder printing inspection method - Google Patents

Cream solder printing inspection method

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JP3211385B2
JP3211385B2 JP18075992A JP18075992A JP3211385B2 JP 3211385 B2 JP3211385 B2 JP 3211385B2 JP 18075992 A JP18075992 A JP 18075992A JP 18075992 A JP18075992 A JP 18075992A JP 3211385 B2 JP3211385 B2 JP 3211385B2
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solder
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【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、特に実装分野におい
て、回路基板へクリーム半田を印刷した後で部品を実装
する前のクリーム半田印刷検査方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cream solder printing inspection method, particularly in the mounting field, after printing cream solder on a circuit board and before mounting components.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、クリーム半田の印刷検査方法は下
記のように実施されている。図6(a)に示すように撮
像したカラー画像に対し、クリーム半田外形17を含む
ようにウィンドウ19を設定する。図6(b)に示すよ
うにウィンドウ19内のクリーム半田17を色抽出し、
クリーム半田17aを一つのパターン(色抽出し検出さ
れた2値パターン)として面積値と、位置を検出する。
検出された面積値と基準となる面積値、検出された位置
と基準となる位置との比較判定によりクリーム半田17
の良否判定を行っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, a printing inspection method for cream solder is carried out as follows. As shown in FIG. 6A, a window 19 is set so as to include the cream solder outline 17 for the color image taken. As shown in FIG. 6B, the color of the cream solder 17 in the window 19 is extracted,
The area value and the position are detected by using the cream solder 17a as one pattern (a binary pattern detected by color extraction).
The cream solder 17 is determined by comparing the detected area value with the reference area value, and comparing the detected position with the reference position.
Was determined.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら図7
(a)に示すように、回路基板電極部28におけるクリ
ーム半田の印刷状態によっては回路基板電極部28上に
形成されたクリーム半田が一部かすれて27bと27c
に分離した場合、図7(b)に示すようにウィンドウ2
9内クリーム半田27c,27dを色抽出し、抽出され
たクリーム半田27a,27bを一つのパターンとして
面積値と位置を検出する。検出された面積値と基準とな
る面積値、検出された位置と基準となる位置との比較判
定によりクリーム半田の良否判定を行っており、良品の
クリーム半田まで不良と判定していた。
However, FIG.
As shown in (a), depending on the printing state of the cream solder on the circuit board electrode part 28, the cream solder formed on the circuit board electrode part 28 is partially blurred and 27b and 27c
In the case where the window 2 is separated as shown in FIG.
The cream solders 27c and 27d in the 9 are color-extracted, and the extracted cream solders 27a and 27b are used as one pattern to detect the area value and the position. The quality of the cream solder was determined by comparing the detected area value with the reference area value, and comparing the detected position with the reference position, and the non-defective cream solder was determined to be defective.

【0004】本発明は印刷状態によりクリーム半田が部
分的にかすれて分離した場合にも、位置および面積を正
しく判定できるクリーム半田印刷検査方法を提供するこ
とを目的とする。
An object of the present invention is to provide a cream solder printing inspection method which can correctly determine the position and area even when the cream solder is partially blurred and separated depending on the printing state.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明のクリーム半田印刷検査方法の、 (1)手段1は、撮像装置を用いたカラー画像処理によ
り回路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行う
場合において、撮像した画像に対しクリーム半田にウィ
ンドウを設定する工程と、ウィンドウ内のクリーム半田
の色抽出を行い、あらかじめ設定した所定値以上の面積
を持つ全てのクリーム半田パターンを検出する工程と、
検出したクリーム半田パターンの面積比に応じた各クリ
ーム半田パターンの重心位置の和より位置を算出する工
程と、算出した位置と基準の位置との比較判定を行うこ
とによりクリーム半田の良否を判定する工程を備えたも
のである。
Means for Solving the Problems To achieve this object, a cream solder printing inspection method according to the present invention comprises the following steps. (1) Means 1 is for cream solder printed on a circuit board by color image processing using an imaging device. When performing print inspection, the process of setting a window on the cream solder for the captured image and the extraction of the color of the cream solder in the window are performed, and all cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value are detected. The process of
A step of calculating a position from the sum of the center of gravity of each cream solder pattern according to the area ratio of the detected cream solder pattern, and comparing the calculated position with a reference position to determine the quality of the cream solder. It has a process.

【0006】(2)手段2は、撮像装置を用いたカラー
画像処理により回路基板に印刷されたクリーム半田の印
刷検査を行う場合において、撮像した画像に対しクリー
ム半田にウィンドウを設定する工程と、ウィンドウ内の
クリーム半田の色抽出を行い、あらかじめ設定した所定
値以上の面積を持つ全てのクリーム半田パターンを検出
する工程と、前記検出した全てのクリーム半田パターン
の面積和よりクリーム半田面積を算出する工程と、前記
算出したクリーム半田面積値基準のクリーム半田面積
に対して面積許容値内であるか否か比較判定を行うこ
とによりクリーム半田の良否を判定する工程とを備えた
ものである。
(2) means 2 for setting a window in the cream solder for the picked-up image when performing a print inspection of the cream solder printed on the circuit board by color image processing using an imaging device; performs cream solder color extraction in the window, calculates a step of detecting all of the cream solder pattern having a predetermined value or more of the area preset, cream solder area than the sum of all of the cream solder pattern the detected comprising steps a, and determining the quality of the cream solder by performing the <br/> calculated whether the comparison determination cream solder area value is an area within a predetermined tolerance with respect to the reference of the cream solder area value It is a thing.

【0007】(3)手段3は、前記手段1と手段2を備
えたものである。 (4)手段4は、撮像装置を用いたカラー画像処理によ
り、回路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行
う場合において、回路基板電極部(以下、ランドとす
る)にウィンドウを設定する工程と、ウィンドウ内のラ
ンドの色抽出を行い、全てのランドパターンを検出する
工程と、検出したランドパターンよりあらかじめ設定し
た所定値以上の面積を持つ全ての擬似クリーム半田パタ
ーンを検出する工程と、検出した各擬似クリーム半田パ
ターンの面積比に応じた各擬似クリーム半田パターンの
重心位置の和より位置検出する工程と、算出した位置と
基準の位置との比較判定を行うことによりクリーム半田
の良否を判定する工程を備えたものである。
(3) The means 3 includes the means 1 and the means 2. (4) A step of setting a window in a circuit board electrode portion (hereinafter referred to as a land) when performing a print inspection of cream solder printed on a circuit board by color image processing using an imaging device. Detecting the color of the lands in the window and detecting all land patterns; detecting all pseudo cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value from the detected land patterns; A step of detecting the position from the sum of the center of gravity of each pseudo cream solder pattern according to the area ratio of each pseudo cream solder pattern thus determined, and determining the quality of the cream solder by comparing the calculated position with a reference position It is provided with the step of performing.

【0008】(5)手段5は、撮像装置を用いたカラー
画像処理により、回路基板に印刷されたクリーム半田の
印刷検査を行う場合において、ランドにウィンドウを設
定する工程と、ウィンドウ内のランドの色抽出を行い、
全てのランドパターンを検出する工程と、検出したラン
ドパターンより所定値以上の面積を持つ全ての擬似クリ
ーム半田パターンを検出する工程と、検出した全ての
似クリーム半田パターンの面積和よりクリーム半田面積
値を算出する工程と、算出したクリーム半田面積値
準のクリーム半田面積値に対して面積許容値内であるか
否か比較判定を行うことによりクリーム半田の良否を判
定する工程とを備えたものである。
(5) The means 5 includes a step of setting a window on a land and a step of setting a window in a land when performing a print inspection of cream solder printed on a circuit board by color image processing using an imaging device. Perform color extraction,
And detecting all of the land pattern, the area sum of all pseudo <br/> similar cream solder pattern and detecting any pseudo cream solder pattern, detected with an area larger than a predetermined value than the detected land pattern A step of calculating a cream solder area value, and whether the calculated cream solder area value is within an allowable area value with respect to a reference cream solder area value.
Determining whether the cream solder is good or not by performing a comparison determination as to whether the cream solder is good or not.

【0009】(6)手段6は前記手段4と手段5を備え
たものである。
(6) The means 6 includes the means 4 and the means 5 described above.

【0010】[0010]

【作用】この構成により、印刷状態によりクリーム半田
が部分的にかすれてクリーム半田が分離した場合にも位
置および面積を正しく判定できることとなる。
With this configuration, the position and area can be correctly determined even when the cream solder is partially blurred due to the printing state and the cream solder is separated.

【0011】[0011]

【実施例】以下本発明の実施例のクリーム半田印刷検査
方法について図面を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A method for inspecting cream solder printing according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】(実施例1)図2のフローチャートを図
1,図4を参照しながら説明する。図1,図2,図4に
おいて、あらかじめ、クリーム半田の個別面積の基準値
(Sk)、位置基準値(Xk,Yk)を画像認識装置4
に入力しメモリへセットする。また、ノイズパターンと
して判定する面積(SL)、クリーム半田不良と判定す
る位置ずれ許容値(DX,DY)、面積許容値(D
S)、クリーム半田の個別の外形サイズ(Wx,W
y)、ウィンドウ許容値(Cw)も画像認識装置4に入
力しメモリへセットしておく。
(Embodiment 1) The flowchart of FIG. 2 will be described with reference to FIGS. In FIG. 1, FIG. 2, and FIG. 4, the reference value (Sk) and the position reference value (Xk, Yk) of the individual area of the cream solder are previously stored in the image recognition device 4.
And set it in memory. Also, the area (SL) determined as a noise pattern, the allowable displacement (DX, DY), and the allowable area value (D
S), individual external size of cream solder (Wx, W
y), the window allowable value (Cw) is also input to the image recognition device 4 and set in the memory.

【0013】図1に示すように、撮像部3はクリーム半
田2を印刷した回路基板1を撮像する(ステップ1)。
図4(a)に示すように、撮像したカラー画像に対し、
ウィンドウ9をクリーム半田7にセットする。ただし、
ウィンドウ9のサイズはクリーム半田7の個別の外形サ
イズ(Wx,Wy)にウィンドウ許容値(Cw)を加え
たサイズで、ウィンドウ9の中心位置はクリーム半田7
の位置基準値(Xk,Yk)である(ステップ2)。図
4(b)に示すようにウィンドウ9内のカラー認識によ
り、クリーム半田7の色抽出を行い、あらかじめ設定し
た所定値(SL)以上の面積を持つ全てのクリーム半田
パターン(PC1,PC2・・・・PCn)を検出する
(ステップ3)。下記に示すように、検出したクリーム
半田パターンの面積比に応じた各パターンの重心位置の
和より位置を(数1)に示す判定式によって算出する
(ステップ4)。
As shown in FIG. 1, the image pickup section 3 picks up an image of the circuit board 1 on which the cream solder 2 is printed (step 1).
As shown in FIG. 4A, the captured color image is
The window 9 is set on the cream solder 7. However,
The size of the window 9 is the size obtained by adding the window allowable value (Cw) to the individual outer size (Wx, Wy) of the cream solder 7, and the center position of the window 9 is
(Xk, Yk) (step 2). As shown in FIG. 4B, the color of the cream solder 7 is extracted by the color recognition in the window 9, and all the cream solder patterns (PC1, PC2,...) Having an area equal to or larger than a predetermined value (SL) are set. .. PCn) is detected (step 3). As shown below, the position is calculated from the sum of the barycentric positions of the respective patterns according to the detected cream solder pattern area ratio by the determination formula shown in (Equation 1) (step 4).

【0014】[0014]

【数1】 (Equation 1)

【0015】算出した位置(X,Y)と、あらかじめメ
モリへセットしておいた基準の位置(Xk,Yk)、位
置ずれ許容値(DX,DY)より下記の判定式によって
位置ずれ判定を行う。
Based on the calculated position (X, Y), the reference position (Xk, Yk) set in the memory in advance, and the positional deviation allowable value (DX, DY), a positional deviation is determined by the following expression. .

【0016】判定式Xk>X+DX または Xk<X−DX または 判定式Yk>Y+DY または Yk<Y−DY が成立する場合はNGと判定し、成立したい場合はOK
と判定する(ステップ5)。また、検出した面積(S)
と、あらかじめメモリへセットしておいた面積基準値
(Sk)、面積許容値(DS)より下記の判定によって
面積判定を行う。
If the judgment formula Xk> X + DX or Xk <X-DX or the judgment formula Yk> Y + DY or Yk <Y-DY is satisfied, it is judged as NG, and if it is desired, the judgment is OK.
Is determined (step 5). Also, the detected area (S)
And the area reference value (Sk) and the allowable area value (DS) set in the memory in advance, the area is determined by the following determination.

【0017】Sk>S+DS または Sk<S−DS が成立する場合はNGと判定し、成立しない場合はOK
と判定する(ステップ6)。ステップ5、またはステッ
プ6でNGと判定した場合にクリーム半田を不良と判定
する(ステップ7)。
If Sk> S + DS or Sk <S-DS is satisfied, it is determined as NG, and if not, OK is determined.
Is determined (step 6). If it is determined as NG in step 5 or 6, the cream solder is determined to be defective (step 7).

【0018】なお図1において、5はキーボード、6は
表示器としての陰極線管(CRT)である。
In FIG. 1, reference numeral 5 denotes a keyboard, and 6 denotes a cathode ray tube (CRT) as a display.

【0019】(実施例2)図3のフローチャートを図
1,図5を参照しながら説明する。図1,図3,図5に
おいて、あらかじめ、クリーム半田7の個別面積の基準
値(Sk)、位置基準値(Xk,Yk)を画像認識装置
4に入力しメモリへセットする。また、ノイズパターン
として判定する面積(SL)、クリーム半田不良と判定
する位置ずれ許容値(DX,DY)、面積許容値(D
S)、個別回路基板電極部(以下、ランドとする)の外
形サイズ(Wx,Wy)、ウィンドウ許容値(Cw)も
画像認識装置4に入力しメモリへセットしておく。
(Embodiment 2) The flowchart of FIG. 3 will be described with reference to FIGS. 1, 3 and 5, a reference value (Sk) and a position reference value (Xk, Yk) of the individual area of the cream solder 7 are input to the image recognition device 4 and set in the memory in advance. Also, the area (SL) determined as a noise pattern, the allowable displacement (DX, DY), and the allowable area value (D
S), the outer size (Wx, Wy) of the individual circuit board electrode portion (hereinafter referred to as land), and the window allowable value (Cw) are also input to the image recognition device 4 and set in the memory.

【0020】図1に示すように、撮像部3はランド8に
クリーム半田2を印刷した回路基板1を撮像する(ステ
ップ1)。図5(a)に示すように、撮像したカラー画
像に対し、ウィンドウ9をランド8にセットする。ただ
し、ウィンドウ9は個別ランド8の外形サイズで、ウィ
ンドウ9の位置はランド8の外形そのものである(ステ
ップ2)。図5(b),(c)に示すように、ウィンド
ウ9内のカラー認識により、ランド8の色抽出を行い、
2値化された全てのランドパターン(PL1,PL2・
・・・)を検出する(ステップ3)。図5(d)に示す
ように検出したランドパターンを白黒反転し、擬似クリ
ーム半田パターン(PC1,PC2,・・・PCn)を
検出する(ステップ4)。下記に示すように、検出した
擬似クリーム半田パターンの面積比に応じた各擬似クリ
ーム半田パターンの重心位置の和より位置を(数1)に
示す判定式によって検出する(ステップ5)。
As shown in FIG. 1, the image pickup section 3 picks up an image of the circuit board 1 on which the cream solder 2 is printed on the lands 8 (step 1). As shown in FIG. 5A, a window 9 is set on a land 8 for a captured color image. However, the window 9 is the outer size of the individual land 8, and the position of the window 9 is the outer shape of the land 8 itself (step 2). As shown in FIGS. 5B and 5C, the color of the land 8 is extracted by the color recognition in the window 9,
All binarized land patterns (PL1, PL2
..) Are detected (step 3). As shown in FIG. 5D, the detected land pattern is inverted between black and white to detect a pseudo cream solder pattern (PC1, PC2,... PCn) (step 4). As shown below, the position is detected from the sum of the positions of the centers of gravity of the respective pseudo cream solder patterns according to the detected area ratio of the pseudo cream solder pattern by the determination formula shown in (Equation 1) (step 5).

【0021】検出した位置(X,Y)と、あらかじめメ
モリへセットしておいた基準の位置(Xk,Yk)、位
置ずれ許容値(DX,DY)より下記の判定式によって
位置ずれ判定を行う。
Based on the detected position (X, Y), the reference position (Xk, Yk) set in the memory in advance, and the positional deviation allowable value (DX, DY), the positional deviation is determined by the following expression. .

【0022】Xk>X+DX または Xk<X−DX または Yk>Y+DY または Yk<Y−DY が成立する場合はNGと判定し、成立しない場合はOK
と判定する(ステップ6)。
If Xk> X + DX or Xk <X-DX or Yk> Y + DY or Yk <Y-DY holds, it is judged as NG, and if it does not hold, it is OK.
Is determined (step 6).

【0023】また、検出した面積(S)と、あらかじめ
メモリへセットしておいた面積基準値(Sk)、面積許
容値(DS)を下記の判定式によって面積判定を行う。
Further, the detected area (S), the area reference value (Sk), and the area allowable value (DS) preset in the memory are determined by the following determination formula.

【0024】SK>S+DS または Sk<S−DS が成立する場合はNGと判定し、成立しない場合はOK
と判定する(ステップ7)。ステップ6、またはステッ
プ7でNGと判定した場合にクリーム半田を不良と判定
する(ステップ8)。
If SK> S + DS or Sk <S-DS is satisfied, it is determined as NG. If not, OK is determined.
Is determined (step 7). If it is determined as NG in step 6 or step 7, the cream solder is determined to be defective (step 8).

【0025】[0025]

【発明の効果】以上の実施例の説明により明らかなよう
に本発明のクリーム半田印刷検査方法によれば、印刷状
態によりクリーム半田が部分的にかすれてクリーム半田
が分離した場合にも位置および面積を正しく判定できる
という効果を有する。
As is apparent from the above description of the embodiment, according to the cream solder printing inspection method of the present invention, even if the cream solder is partially blurred depending on the printing state and the cream solder is separated, the position and area are also determined. Is determined correctly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例のクリーム半田印刷検査方法に
用いる装置の構成を示す略図
FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of an apparatus used in a cream solder print inspection method according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施例1のクリーム半田印刷検査方法を示す
フローチャート
FIG. 2 is a flowchart illustrating a cream solder printing inspection method according to the first embodiment.

【図3】同実施例2のクリーム半田印刷検査方法を示す
フローチャート
FIG. 3 is a flowchart illustrating a cream solder print inspection method according to the second embodiment.

【図4】図2に対応したクリーム半田印刷パターンの略
FIG. 4 is a schematic view of a cream solder printing pattern corresponding to FIG. 2;

【図5】図3に対応したクリーム半田印刷パターンの略
FIG. 5 is a schematic view of a cream solder printing pattern corresponding to FIG. 3;

【図6】従来のクリーム半田印刷検査方法においてクリ
ーム半田の一部がかすれて分離していない状態を説明す
る略図
FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a state in which a part of the cream solder is not separated due to blurring in the conventional cream solder printing inspection method.

【図7】同クリーム半田の一部がかすれて分離している
状態を説明する略図
FIG. 7 is a schematic view illustrating a state in which a part of the cream solder is slightly separated.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路基板 2,7 クリーム半田 3 撮像部 4 画像認識装置 8 回路基板電極部 9 ウィンドウ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 2, 7 Cream solder 3 Imaging part 4 Image recognition device 8 Circuit board electrode part 9 Window

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−257354(JP,A) 特開 昭61−293659(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 - 21/958 Continuation of the front page (56) References JP-A-3-257354 (JP, A) JP-A-61-293659 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 21 / 84-21/958

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 撮像装置を用いたカラー画像処理により
回路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行う場
合において、撮像した画像に対しクリーム半田にウィン
ドウを設定する工程と、ウィンドウ内のクリーム半田の
色抽出を行い、あらかじめ設定した所定値以上の面積を
持つ全てのクリーム半田パターンを検出する工程と、こ
の検出したクリーム半田パターンの面積比に応じた各ク
リーム半田パターンの重心位置の和よりクリーム半田の
位置を算出する工程と、この算出したクリーム半田の位
置と基準のクリーム半田位置との比較判定を行うことに
よりクリーム半田の良否を判定する工程とを備えたクリ
ーム半田印刷検査方法。
1. A step of setting a window in a cream solder for a captured image when performing a print inspection of cream solder printed on a circuit board by color image processing using an imaging device; And extracting all the cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value, and extracting the cream from the sum of the positions of the centers of gravity of the cream solder patterns according to the area ratio of the detected cream solder patterns. A cream solder printing inspection method, comprising: a step of calculating a solder position; and a step of comparing the calculated cream solder position with a reference cream solder position to determine the quality of the cream solder.
【請求項2】撮像装置を用いたカラー画像処理により回
路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行う場合
において、撮像した画像に対しクリーム半田にウィンド
ウを設定する工程と、このウィンドウ内のクリーム半田
の色抽出を行い、あらかじめ設定した所定値以上の面積
を持つ全てのクリーム半田パターンを検出する工程と、
前記検出した全てのクリーム半田パターンの面積和より
クリーム半田面積を算出する工程と、前記算出したクリ
ーム半田面積値基準のクリーム半田面積値に対して面
積許容値内であるか否か比較判定を行うことによりクリ
ーム半田の良否を判定する工程とを備えたクリーム半田
印刷検査方法。
2. A case of performing the printing inspection of solder cream is printed on the circuit board by the color image processing using an imaging device, and setting the window to the cream solder on the image captured, cream in the window A step of performing solder color extraction and detecting all cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value set in advance,
Calculating a cream solder area than the sum of all of the cream solder pattern the detected surface against cream solder area value of the cream solder area value the calculated reference
Determining whether the cream solder is good or not by performing a comparison determination as to whether the solder paste is within a product allowable value .
【請求項3】 撮像装置を用いたカラー画像処理により
回路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行う場
合において、撮像した画像に対しクリーム半田にウィン
ドウを設定する工程と、ウィンドウ内のクリーム半田の
色抽出を行い、あらかじめ設定した所定値以上の面積を
持つ全てのクリーム半田パターンを検出する工程と、検
出したクリーム半田パターンの面積比に応じた各クリー
ム半田パターンの重心位置の和よりクリーム半田の位置
を算出する工程と、この算出したクリーム半田の位置と
基準のクリーム半田の位置との比較判定を行うことによ
りクリーム半田の良否を判定する工程と、検出したクリ
ーム半田パターンの面積和よりクリーム半田面積を算出
する工程と、算出したクリーム半田面積値と基準のクリ
ーム半田面積値との比較判定を行うことによりクリーム
半田の良否を判定する工程とを備えたクリーム半田印刷
検査方法。
3. A step of setting a window in a cream solder for a captured image when performing a print inspection of cream solder printed on a circuit board by color image processing using an imaging device; And extracting all cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value, and extracting the cream solder from the sum of the center of gravity of each cream solder pattern according to the area ratio of the detected cream solder patterns. Calculating the position of the cream solder, determining the quality of the cream solder by comparing and determining the calculated position of the cream solder with the position of the reference cream solder, and cream based on the area sum of the detected cream solder pattern. The step of calculating the solder area, and calculating the calculated cream solder area value and the reference cream solder area value. A step of judging the quality of the cream solder by performing a comparison judgment.
【請求項4】 撮像装置を用いたカラー画像処理により
回路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行う場
合において、回路基板電極部にウィンドウを設定する工
程と、ウィンドウ内の回路基板電極部の色抽出を行い、
全ての回路基板電極部のパターンを検出する工程と、検
出した回路基板電極部のパターンよりあらかじめ設定し
た所定値以上の面積を持つ全ての擬似クリーム半田パタ
ーンを検出する工程と、この検出した各擬似クリーム半
田パターンの面積比に応じた各擬似クリーム半田パター
ンの重心位置の和よりクリーム半田の位置を算出する工
程と、算出したクリーム半田の位置と基準のクリーム半
田の位置との比較判定を行うことによりクリーム半田の
良否を判定する工程とを備えたクリーム半田印刷検査方
法。
4. A step of setting a window in a circuit board electrode section when performing a print inspection of cream solder printed on a circuit board by color image processing using an imaging device, and a step of setting a circuit board electrode section in the window. Perform color extraction,
A step of detecting patterns of all circuit board electrode portions, a step of detecting all pseudo cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value based on the detected pattern of circuit board electrode portions, A step of calculating the position of the cream solder from the sum of the positions of the centers of gravity of the pseudo cream solder patterns according to the area ratio of the cream solder pattern, and performing a comparison judgment between the calculated position of the cream solder and a reference cream solder position Solder cream printing inspection method, comprising:
【請求項5】撮像装置を用いたカラー画像処理により回
路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行う場合
において、回路基板電極部にウィンドウを設定する工程
と、このウィンドウ内の回路基板電極部の色抽出を行
い、全ての回路基板電極部のクリーム半田パターンを検
出する工程と、この検出した回路基板電極部のクリーム
半田パターンより所定値以上の面積を持つ全ての擬似ク
リーム半田パターンを検出する工程と、前記検出した
ての擬似クリーム半田パターンの面積和よりクリーム半
田面積値を算出する工程と、前記算出したクリーム半田
面積値基準のクリーム半田面積値に対して面積許容値
内であるか否か比較判定を行うことによりクリーム半田
の良否を判定する工程とを備えたクリーム半田印刷検査
方法。
5. A step of setting a window in a circuit board electrode portion when performing a print inspection of cream solder printed on a circuit board by color image processing using an image pickup device, and a circuit board electrode portion in the window. Detecting the cream solder patterns of all the circuit board electrode portions, and detecting all pseudo cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value from the detected cream solder patterns of the circuit board electrode portions. a step, total and the detected
Area tolerance calculating a cream solder area value than the area sum of the pseudo cream solder pattern for cream solder area value of the cream solder area value the calculated criteria Te
Determining whether the cream solder is good or not by performing a comparison determination as to whether or not the solder paste is within the cream solder print inspection method.
【請求項6】 撮像装置を用いたカラー画像処理により
回路基板に印刷されたクリーム半田の印刷検査を行う場
合において、撮像した画像に対し回路基板電極部にウィ
ンドウを設定する工程と、ウィンドウ内の回路基板電極
部の色抽出を行い、全ての回路基板電極部のパターンを
検出する工程と、検出した回路基板電極部のパターンよ
りあらかじめ設定した所定値以上の面積を持つ全ての擬
似クリーム半田パターンの面積比に応じた各擬似クリー
ム半田パターンの重心位置の和よりクリーム半田の位置
を算出する工程と、算出したクリーム半田の位置と基準
のクリーム半田の位置との比較判定を行うことによりク
リーム半田の良否を判定する工程と、検出した各擬似ク
リーム半田パターンの面積和よりクリーム半田面積値を
算出する工程と、算出したクリーム半田面積と基準のク
リーム半田面積の比較判定を行うことによりクリーム半
田の良否を判定する工程とを備えたクリーム半田印刷検
査方法。
6. A step of setting a window in a circuit board electrode portion with respect to a captured image when performing a print inspection of cream solder printed on a circuit board by color image processing using an imaging device; Extracting the color of the circuit board electrode portion and detecting the pattern of all the circuit board electrode portions, and extracting all the pseudo cream solder patterns having an area equal to or larger than a predetermined value from the detected pattern of the circuit board electrode portion. A step of calculating the position of the cream solder from the sum of the positions of the centers of gravity of the respective pseudo cream solder patterns according to the area ratio, and performing a comparison judgment between the calculated position of the cream solder and the position of the reference cream solder to determine A step of judging pass / fail, a step of calculating a cream solder area value from the sum of the areas of the detected pseudo cream solder patterns, Determining the quality of the cream solder by comparing and determining the output cream solder area with a reference cream solder area.
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