JP3209162B2 - Semiconductor integrated circuit and design method thereof - Google Patents

Semiconductor integrated circuit and design method thereof

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JP3209162B2
JP3209162B2 JP27227397A JP27227397A JP3209162B2 JP 3209162 B2 JP3209162 B2 JP 3209162B2 JP 27227397 A JP27227397 A JP 27227397A JP 27227397 A JP27227397 A JP 27227397A JP 3209162 B2 JP3209162 B2 JP 3209162B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路及
びその設計方法に関し、特にクロックスキューを低減す
るクロックツリー回路を有する半導体集積回路及びその
設計方法に関する。
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit and a method for designing the same, and more particularly, to a semiconductor integrated circuit having a clock tree circuit for reducing clock skew and a method for designing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体集積回路の同期回路におい
て、複数のフリップ・フロップ(以下、単にF/Fと記
す。)に、同一のクロック供給源からクロックを供給す
る場合がある。この場合、配線長や、配線抵抗等のバラ
ツキによって発生するクロックスキューを解消するため
に、クロックツリー回路が用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a synchronous circuit of a semiconductor integrated circuit, a plurality of flip-flops (hereinafter simply referred to as F / F) may be supplied with a clock from the same clock supply source. In this case, a clock tree circuit is used to eliminate clock skew generated due to variations in wiring length, wiring resistance, and the like.

【0003】上述のクロックツリー回路を用いた半導体
集積回路においては、クロックツリー回路が通常数段の
インバータ、若しくは、バッファにより構成されてい
る。そして、自動配置配線プログラムが、入力から最終
段の各インバータ出力への遅延値差、すなわちクロック
スキューが極小になるように各インバータの配置及びイ
ンバータ間の配線を行う。各段のインバータは通常同一
種類のブロックが使用され、また段数は駆動する半導体
集積回路中の同期回路の規模に依存する。
In a semiconductor integrated circuit using the above-described clock tree circuit, the clock tree circuit is generally constituted by several stages of inverters or buffers. Then, the automatic arrangement and wiring program arranges the inverters and performs wiring between the inverters so that the delay value difference from the input to the output of each inverter at the final stage, that is, the clock skew is minimized. Usually, the same type of blocks are used for the inverters in each stage, and the number of stages depends on the scale of the synchronous circuit in the semiconductor integrated circuit to be driven.

【0004】従って、上述の従来のクロックツリー回路
を有する半導体集積回路においては、複数のF/Fが同
一のクロック供給源からクロックの供給を受けていたと
しても、配線長や、配線抵抗等のバラツキによって発生
するクロックスキューを効果的に低減することができる
としている。
Therefore, in the above-described semiconductor integrated circuit having the conventional clock tree circuit, even if a plurality of F / Fs are supplied with the clock from the same clock supply source, the wiring length, the wiring resistance, etc. It is stated that clock skew generated due to variations can be effectively reduced.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来の半導体集積回路においては、クロックツリー回路
を具備しているため、クロック入力から各クロック出力
のスキューが極力ゼロになるようになっており、そのた
めクロックのスイッチング時に、各段の、特に最終段の
多数のインバータが同時に動作する場合があり、この場
合、クロックによるスイッチングが行われた時に、短時
間に大電流が流れ、その影響として同一チップ内の他の
回路が誤動作を起こしたり、またチップ外部に対して、
Eleatro-Magnetic Inference(以下、EMIと記す。)
が発生するという問題点を有している。
However, in the above-described conventional semiconductor integrated circuit, since the clock tree circuit is provided, the skew of each clock output from the clock input is minimized. Therefore, at the time of clock switching, a large number of inverters in each stage, particularly the last stage, may operate at the same time. In this case, when switching is performed by the clock, a large current flows in a short time, and as a result, the same chip is used. Other circuits in the device may malfunction, and for the outside of the chip,
Eleatro-Magnetic Inference (hereinafter referred to as EMI)
Is generated.

【0006】本発明は上記事情に鑑みなされたもので、
半導体集積回路の同期回路の性能を損なわずに、クロッ
クのスイッチング時のクロックツリーの同時スイッチン
グの影響を緩和して回路の信頼性を高めることが可能な
半導体集積回路及びその設計方法を提供することを目的
とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances,
To provide a semiconductor integrated circuit capable of reducing the influence of simultaneous switching of a clock tree at the time of clock switching and improving circuit reliability without deteriorating the performance of a synchronous circuit of the semiconductor integrated circuit, and a method of designing the same. With the goal.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
クロックスキューを低減するために、クロック供給源か
ら供給されるクロックを分岐する、クロックツリーを構
成する少なくとも1以上のクロック分岐部と、前記クロ
ック分岐部からそれぞれクロックが供給される少なくと
以上のレジスタと、前記レジスタとの間においてデ
ータの授受を行う少なくとも1以上のランダムロジック
と、前記レジスタにクロックを供給するクロック分岐部
の間に設置され、前記レジスタにおけるホールドを保証
する範囲内の遅延を、入力した前記クロックに与えて出
力する少なくとも1以上の遅延素子とを有し、前記クロ
ック分岐部は、前記少なくとも2以上のレジスタに時間
差をつけて前記クロックを供給することを特徴とする。
According to the first aspect of the present invention,
In order to reduce clock skew, at least one or more clock branching units forming a clock tree that branch a clock supplied from a clock supply source, and at least two or more registers to each of which a clock is supplied from the clock branching unit And at least one or more random logic for transmitting and receiving data to and from the register, and a delay within a range that is provided between a clock branch unit that supplies a clock to the register and guarantees hold in the register, entered given to the clock and at least one or more delay elements to output, the black
The clock branch unit stores the time in the at least two or more registers.
The clock is supplied with a difference .

【0008】従って、この発明によれば、クロックスキ
ューを低減するために、クロックツリーを構成している
クロック分岐部の間に、レジスタにおけるホールドを保
証する範囲内において遅延を与える遅延素子を設置して
いるため、クロックの遅延によって各レジスタの同時作
動に起因した大電流の流入を防止することができると共
に、遅延素子による遅延が、レジスタのホールドを保証
する範囲内の遅延であるため、半導体集積回路の誤作動
を防止することができる。
Therefore, according to the present invention, in order to reduce clock skew, a delay element for providing a delay within a range in which holding in a register is guaranteed is provided between clock branching units constituting a clock tree. Therefore, it is possible to prevent a large current from flowing due to the simultaneous operation of each register due to the clock delay, and the delay by the delay element is a delay within a range that guarantees the hold of the register. Malfunction of the circuit can be prevented.

【0009】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記クロック分岐部が、インバータ、若し
くは、バッファであることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the clock branching unit is an inverter or a buffer.

【0010】従って、この発明によれば、請求項1記載
の発明の作用が得られると共に、クロック分岐部が、イ
ンバータ、若しくは、バッファであることから、クロッ
クツリーにおけるクロックスキューの調整をさらに正確
に実行することができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention described in claim 1 can be obtained, and the clock skew in the clock tree can be adjusted more accurately because the clock branching unit is an inverter or a buffer. Can be performed.

【0011】請求項3記載の発明は、請求項1又は2に
記載の発明において、前記遅延素子による、前記レジス
タにおけるホールドを保証する範囲内の遅延は、前記ラ
ンダムロジックとレジスタとの間の接続情報と、前記ラ
ンダムロジックのパス遅延解析により求められたランダ
ムロジックの最小パス遅延値を求めることにより与えら
れることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the delay within the range that guarantees hold in the register by the delay element is a connection between the random logic and the register. Information and a minimum path delay value of the random logic obtained by the path delay analysis of the random logic.

【0012】従って、この発明によれば、請求項1又は
2に記載の発明の作用が得られると共に、遅延素子によ
る、レジスタにおけるホールドを保証する範囲内の遅延
が、ランダムロジックとレジスタとの間の接続情報と、
ランダムロジックのパス遅延解析により求められたラン
ダムロジックの最小パス遅延値を求めることにより与え
られることから、さらに適切に、レジスタにおけるホー
ルドを保証することができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention described in claim 1 or 2 can be obtained, and the delay by the delay element within the range for guaranteeing the hold in the register is between the random logic and the register. Connection information,
Since it is given by obtaining the minimum path delay value of the random logic obtained by the path delay analysis of the random logic, it is possible to more appropriately guarantee the hold in the register.

【0013】請求項4記載の発明は、請求項1又は2に
記載の発明において、前記遅延素子による、前記レジス
タにおけるホールドを保証する範囲内の遅延は、遅延の
値を決定する遅延素子を注目遅延素子とし、該注目遅延
素子を挟んで接続されている前記クロック分岐部をそれ
ぞれ、第1のクロック分岐部、及び、第2のクロック分
岐部とし、前記第1のクロック分岐部によりクロックが
供給される前記レジスタを第1のレジスタとし、前記第
2のクロック分岐部によりクロックが供給される前記レ
ジスタを第2のレジスタとし、前記第1のレジスタ、及
び、第2のレジスタの間においてデータの授受を行う前
記ランダムロジックを第1のランダムロジックとし、前
記第1のクロック分岐部の遅延値をΔB1とし、前記第
2のクロック分岐部の遅延値をΔB2とし、前記第1の
ランダムロジックのパス遅延解析を行い、該パス遅延解
析の結果得られた最小パス遅延値をΔC2とし、前記注
目遅延素子における遅延値をΔA1とした場合、ΔB1
+ΔC1>ΔA1+ΔB2を満足する値であることを特
徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the delay within the range that guarantees hold in the register by the delay element focuses on the delay element that determines the value of the delay. A clock element is provided as a delay element, and the clock branch sections connected across the delay element of interest are respectively a first clock branch section and a second clock branch section, and a clock is supplied by the first clock branch section. The register to be supplied is a first register, the register to which a clock is supplied by the second clock branching unit is a second register, and data transfer between the first register and the second register is performed. The random logic to be exchanged is a first random logic, a delay value of the first clock branching unit is ΔB1, and the second clock branching is If the delay value of ΔB2 is set, the path delay analysis of the first random logic is performed, the minimum path delay value obtained as a result of the path delay analysis is set as ΔC2, and the delay value of the delay element of interest is set as ΔA1. ΔB1
+ ΔC1> ΔA1 + ΔB2.

【0014】従って、この発明によれば、請求項1又は
2に記載の発明の作用が得られると共に、第1のクロッ
ク分岐部における遅延をΔB1とし、第2のクロック分
岐部における遅延をΔB2とし、第1のランダムロジッ
クにおける最小パス遅延値をΔC1とし、遅延値を決定
する注目遅延素子の遅延値をΔA1とした場合におい
て、ΔB1+ΔC1>ΔA1+ΔB2を満足するように
ΔA1を決定しているため、第1のレジスタ、及び第2
のレジスタがホールドをさらに確実に実行することがで
きると共に、遅延されたクロックにより各レジスタにお
けるスイッチングが実行されているため、同時にONす
ることによる大電流の流入をさらに効果的に防止するこ
とができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention described in claim 1 or 2 can be obtained, and the delay in the first clock branching section is ΔB1, and the delay in the second clock branching section is ΔB2. When the minimum path delay value in the first random logic is ΔC1 and the delay value of the delay element of interest for determining the delay value is ΔA1, ΔA1 is determined so as to satisfy ΔB1 + ΔC1> ΔA1 + ΔB2. The first register and the second
Can more reliably execute the hold, and the switching in each register is executed by the delayed clock, so that the inflow of a large current due to the simultaneous ON can be more effectively prevented. .

【0015】請求項5記載の発明は、請求項1から4の
いずれかに記載の発明において、前記レジスタが少なく
とも1以上のフリップ・フロップにより構成されている
ことを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the register includes at least one flip-flop.

【0016】従って、この発明によれば、請求項1から
4のいずれかに記載の発明の作用が得られると共に、レ
ジスタが少なくとも1以上のフリップ・フロップにより
構成されていることから、クロックに同期して、レジス
タは確実にデータのラッチを行うことができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention according to any one of claims 1 to 4 can be obtained, and the register is constituted by at least one flip-flop, so that it is synchronized with the clock. Thus, the register can reliably latch the data.

【0017】請求項6記載の発明は、クロックスキュー
を低減するために、クロック供給源から供給されるクロ
ックを分岐する、クロックツリーを構成する少なくとも
1以上のクロック分岐部を配置するクロック分岐部配置
工程と、前記クロック分岐部配置工程において配置され
た、クロック分岐部からそれぞれクロックが供給される
少なくとも以上のレジスタを配置するレジスタ配置工
程と、前記レジスタ配置工程において配置された、前記
レジスタとの間においてデータの授受を行う少なくとも
1以上のランダムロジックを配置するランダムロジック
配置工程と、前記レジスタにクロックを供給するクロッ
ク分岐部の間に、前記レジスタにおけるホールドを保証
する範囲内の遅延を、入力した前記クロックに与えて出
力する少なくとも1以上の遅延素子を配置する遅延素子
配置工程とを有し、前記クロック分岐部配置工程により
配置されたクロック分岐部は、前記少なくとも2以上の
レジスタに時間差をつけて前記クロックを供給すること
を特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in order to reduce clock skew, at least one or more clock branching units forming a clock tree for branching a clock supplied from a clock supply source are arranged. A step of arranging at least two or more registers to which a clock is supplied from the clock branching unit, the register being arranged in the clock branching unit arranging step, and the register being arranged in the register arranging step. Between a random logic arranging step of arranging at least one or more random logics for exchanging data between the two, and a clock branching unit for supplying a clock to the register, a delay within a range that guarantees hold in the register, Given to the clock and output at least And a delay element arrangement step of arranging a further delay element, by the clock branch portion placement step
The arranged clock branching unit includes the at least two or more clock branching units.
The clock is supplied with a time difference between the registers .

【0018】従って、この発明によれば、クロック分岐
部の間に、レジスタにおけるホールドを保証する範囲内
の遅延を、入力したクロックに与えて出力する、少なく
とも1以上の遅延素子を配置する遅延素子配置工程を有
しているため、同時にスイッチングすることによる大電
流の流入を防止することができると共に、半導体集積回
路の誤動作を防止することができる。
Therefore, according to the present invention, at least one delay element is provided between clock branching units, the delay element being provided with a delay within a range that guarantees hold in a register to an input clock and output. Since the arrangement step is provided, it is possible to prevent a large current from flowing due to simultaneous switching and to prevent a malfunction of the semiconductor integrated circuit.

【0019】請求項7記載の発明は、請求項6記載の発
明において、前記クロック分岐部が、インバータ、若し
くは、バッファであることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, in the sixth aspect, the clock branching unit is an inverter or a buffer.

【0020】従って、この発明によれば、請求項6記載
の発明の作用が得られると共に、クロック分岐部が、イ
ンバータ、若しくは、バッファであることから、クロッ
クツリーにおけるクロックスキューの調整をさらに正確
に実行することができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention described in claim 6 can be obtained, and the clock skew in the clock tree can be adjusted more accurately because the clock branching unit is an inverter or a buffer. Can be performed.

【0021】請求項8記載の発明は、請求項6又は7に
記載の発明において、前記ランダムロジックとレジスタ
との間の接続情報を算出する接続情報算出工程と、前記
ランダムロジックのパス遅延解析に基づいて与えられる
ランダムロジックの最小パス遅延値を算出する最小パス
遅延値算出工程とを有し、前記遅延素子による、前記レ
ジスタにおけるホールドを保証する範囲内の遅延が、前
記接続情報と前記最小パス遅延値により与えられること
を特徴とする。
According to an eighth aspect of the present invention, in the invention of the sixth or seventh aspect, there is provided a connection information calculating step of calculating connection information between the random logic and the register, and a path delay analysis of the random logic. A minimum path delay value calculating step of calculating a minimum path delay value of random logic given based on the connection information and the minimum path by the delay element within a range that guarantees hold in the register. It is characterized by being given by a delay value.

【0022】従って、この発明によれば、請求項6又は
7に記載の発明の作用が得られると共に、遅延素子によ
る、レジスタにおけるホールドを保証する範囲内の遅延
は、ランダムロジックとレジスタとの間の接続情報を算
出する接続情報算出工程と、ランダムロジックのパス遅
延解析に基づいて与えられるランダムロジックの最小パ
ス遅延値を算出する最小パス遅延値算出工程とにより与
えられることから、さらに適切に遅延素子における遅延
を設定することができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention described in claim 6 or 7 can be obtained, and the delay by the delay element within the range for guaranteeing the hold in the register is between the random logic and the register. The connection information calculating step of calculating the connection information of the random logic and the minimum path delay value calculating step of calculating the minimum path delay value of the random logic given based on the path delay analysis of the random logic, so that the delay is more appropriately The delay in the element can be set.

【0023】請求項9記載の発明は、請求項6又は7に
記載の発明において、前記遅延の値を決定する遅延素子
を注目遅延素子とし、該注目遅延素子を挟んでいる前記
クロック分岐部をそれぞれ、第1のクロック分岐部、及
び、第2のクロック分岐部とし、前記第1のクロック分
岐部によりクロックが供給される前記レジスタを第1の
レジスタとし、前記第2のクロック分岐部によりクロッ
クが供給される前記レジスタを第2のレジスタとし、前
記第1のレジスタ、及び、第2のレジスタの間において
データの授受を行う前記ランダムロジックを第1のラン
ダムロジックとして認識する接続情報認識工程と、前記
第1のクロック分岐部の遅延値を算出し、該算出された
値をΔB1とする第1のクロック分岐部遅延値算出工程
と、前記第2のクロック分岐部の遅延値を算出し、該算
出された値をΔB2とする第2のクロック分岐部遅延値
算出工程と、前記第1のランダムロジックのパス遅延解
析を行い、該パス遅延解析の結果得られた最小パス遅延
値をΔC2とする最小パス遅延値算出工程とを有し、前
記遅延素子による、前記レジスタにおけるホールドを保
証する範囲内の遅延が、前記注目遅延素子における遅延
値をΔA1とした場合、ΔB1+ΔC1>ΔA1+ΔB
2を満足する値であることを特徴とする。
According to a ninth aspect of the present invention, in the invention according to the sixth or seventh aspect, the delay element for determining the value of the delay is a delay element of interest, and the clock branching unit sandwiching the delay element of interest is A first clock branch unit and a second clock branch unit, respectively, the register to which a clock is supplied by the first clock branch unit is a first register, and a clock is supplied by the second clock branch unit. A connection information recognizing step of recognizing, as a first random logic, the first register, and the first register, and the random logic for transmitting and receiving data between the second register and the first register. Calculating a delay value of the first clock branching unit, setting the calculated value to ΔB1, and calculating a delay value of the first clock branching unit; A second clock branching unit delay value calculating step of calculating the delay value of the clock branching unit and setting the calculated value to ΔB2; and performing a path delay analysis of the first random logic. A minimum path delay value calculating step of setting a minimum path delay value obtained as a result to ΔC2, wherein a delay within a range that guarantees hold in the register by the delay element is set to ΔA1 in the delay element of interest. Where ΔB1 + ΔC1> ΔA1 + ΔB
2 is a value that satisfies 2.

【0024】従って、この発明によれば、請求項6又は
7に記載の発明の作用が得られると共に、接続情報認識
工程において、遅延の値を決定する遅延素子を注目遅延
素子として認識し、第1のクロック分岐部、及び第2の
クロック分岐部を認識し、第1のレジスタ、及び第2の
レジスタを認識し、第1のランダムロジックを認識し、
第1のクロック分岐部における遅延をΔB1とし、第2
のクロック分岐部における遅延をΔB2とし、第1のラ
ンダムロジックにおける最小パス遅延値をΔC1として
算出し、遅延値を決定する注目遅延素子の遅延値をΔA
1とした場合において、ΔB1+ΔC1>ΔA1+ΔB
2を満足するようにΔA1を決定しているため、第1の
レジスタ、及び第2のレジスタがホールドをさらに確実
に実行することができると共に、遅延されたクロックに
より各レジスタにおけるスイッチングが実行されている
ため、同時にONすることによる大電流の流入をさらに
効果的に防止することができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention described in claim 6 or 7 is obtained, and in the connection information recognition step, the delay element for determining the delay value is recognized as the delay element of interest. Recognizing a first clock branch and a second clock branch, recognizing a first register and a second register, recognizing a first random logic,
Let the delay in the first clock branching unit be ΔB1,
Is calculated as ΔB2, the minimum path delay value in the first random logic is calculated as ΔC1, and the delay value of the delay element of interest for determining the delay value is ΔA.
In the case of 1, ΔB1 + ΔC1> ΔA1 + ΔB
Since ΔA1 is determined so as to satisfy 2, the first register and the second register can more reliably execute the hold, and the switching in each register is executed by the delayed clock. Therefore, it is possible to more effectively prevent the inflow of a large current due to the simultaneous turning on.

【0025】請求項10記載の発明は、請求項6から9
のいずれかに記載の発明において、前記レジスタが、少
なくとも1以上のフリップ・フロップにより構成されて
いることを特徴とする。
The invention according to claim 10 is the invention according to claims 6 to 9
In the invention described in any one of the above, the register is constituted by at least one or more flip-flops.

【0026】従って、この発明によれば、請求項6から
9のいすれかに記載の発明の作用が得られると共に、レ
ジスタが少なくとも1以上のフリップ・フロップにより
構成されていることから、クロックに同期して、レジス
タは確実にデータのラッチを行うことができる。
Therefore, according to the present invention, the operation of the invention described in any one of claims 6 to 9 can be obtained, and since the register is constituted by at least one or more flip-flops, Synchronously, the register can reliably latch data.

【0027】以下に、課題を解決するための手段につい
て、さらに詳細に説明する。本発明における半導体集積
回路及びその設計方法では、基本回路としては次に掲げ
る性質のものを使用する。 1.1つのパイプラインにおけるレジスタを構成するフ
リップフロップ群はクロックツリーの1つのクロック分
枝部により駆動される。 2.クロックツリーの各クロック分枝部の問に遅延素子
を挿入する。
Hereinafter, the means for solving the problems will be described in more detail. In the semiconductor integrated circuit and the method of designing the same according to the present invention, a basic circuit having the following properties is used. 1. The flip-flops that make up the registers in one pipeline are driven by one clock branch of the clock tree. 2. A delay element is inserted between each clock branch of the clock tree.

【0028】遅延素子の遅延時間を決める為には次のア
ルゴリズムを使用する。 1.ランダムロジック、及び、レジスタにより構成され
る上位レベル回路情報(RTL)を解析し、レジスタと
その間のランダムロジックとを切りわけて、認識する。 2.各ランダムロジックのパス遅延解析を行い、その最
小パス遅延値を求める。 3.上位レベル回路情報から挿入する遅延につき制約式
(ホールド保証)を作り、解を求める。 4.求まった遅延値にもとづき、実際にその遅延を持っ
た遅延素子を挿入する。
The following algorithm is used to determine the delay time of the delay element. 1. The random logic and the upper level circuit information (RTL) constituted by the register are analyzed, and the register and the random logic therebetween are separated and recognized. 2. The path delay analysis of each random logic is performed, and the minimum path delay value is obtained. 3. A constraint expression (hold guarantee) is created for the delay inserted from the upper level circuit information, and a solution is obtained. 4. Based on the obtained delay value, a delay element having the delay is actually inserted.

【0029】次に、本発明の作用について、さらに詳細
に説明する。まず、半導体集積回路が具備する同期回路
のクロックツリーの各クロック分岐問に遅延素子が挿入
されているので、クロックツリー内の全ブロック(イン
バータ)が同時にスイッチングするということを回避す
ることができる。
Next, the operation of the present invention will be described in more detail. First, since a delay element is inserted in each clock branch of the clock tree of the synchronous circuit included in the semiconductor integrated circuit, it is possible to avoid simultaneous switching of all blocks (inverters) in the clock tree.

【0030】さらに、挿入されている遅延素子による遅
延は、回路内のレジスタのタイミング制約(ホールド保
証)を保証できるような値になっている。そのために遅
延を挿入しても半導体集積回路が具備する同期回路が誤
動作を起こすことがない。
Further, the delay due to the inserted delay element has a value that can guarantee the timing constraint (hold guarantee) of the register in the circuit. Therefore, even if the delay is inserted, the synchronous circuit included in the semiconductor integrated circuit does not malfunction.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】次に、図面を参照して本発明に係
る半導体集積回路及びその設計方法の実施形態について
詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of a semiconductor integrated circuit and a method for designing the same according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0032】図1に、本発明に係る半導体集積回路が具
備する同期回路の一実施形態のブロック図を示す。図1
に示されるように、この同期回路は、クロックを出力す
る外部クロック端子Eと、この外部クロック端子Eから
出力されたクロックが入力し、第1段のクロック分岐部
となるクロックバッファB0と、クロックバッファB0
により分岐されたクロックが入力し、それぞれに接続さ
れたレジスタにクロックを出力する第2段のクロック分
岐部となるクロックバッファB1、B2、及びB3と、
クロックバッファB1から出力されたクロックを入力す
るレジスタD1と、クロックバッファB2から出力され
たクロックを入力するレジスタD2と、クロックバッフ
ァB3から出力されたクロックを入力するレジスタD3
と、レジスタD1とレジスタD2との間においてデータ
の授受を行うランダムロジックC1と、レジスタD2と
レジスタD3との間においてデータの授受を行うランダ
ムロジックC2と、レジスタD1とレジスタD3との間
においてデータの授受を行うランダムロジックC3と、
クロックバッファB1とクロックバッファB2との間に
配置された遅延素子A1と、クロックバッファB2とク
ロックバッファB3との間に配置された遅延素子A2と
から構成されている。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a synchronous circuit provided in a semiconductor integrated circuit according to the present invention. FIG.
As shown in FIG. 2, the synchronous circuit includes an external clock terminal E for outputting a clock, a clock buffer B0 that receives a clock output from the external clock terminal E and serves as a first-stage clock branching unit, Buffer B0
Clock buffers B1, B2, and B3, which serve as a second-stage clock branching unit that receives the clocks branched by and outputs clocks to the registers connected to the clocks,
A register D1 for inputting a clock output from the clock buffer B1, a register D2 for inputting a clock output from the clock buffer B2, and a register D3 for inputting a clock output from the clock buffer B3
A random logic C1 for transmitting and receiving data between the register D1 and the register D2, a random logic C2 for transmitting and receiving data between the register D2 and the register D3, and a data between the register D1 and the register D3. A random logic C3 for giving and receiving
It comprises a delay element A1 disposed between the clock buffer B1 and the clock buffer B2, and a delay element A2 disposed between the clock buffer B2 and the clock buffer B3.

【0033】次に、図1に示される半導体集積回路が具
備する同期回路の動作について説明する。少なくとも1
以上のF/Fにより構成されたレジスタD1、D2、及
びD3は、外部クロック端子Eから出力された外部クロ
ックによりクロッキングされる。
Next, the operation of the synchronous circuit provided in the semiconductor integrated circuit shown in FIG. 1 will be described. At least one
The registers D1, D2, and D3 configured by the F / F are clocked by the external clock output from the external clock terminal E.

【0034】また、ランダムロジックC1、C2、及び
C3は各レジスタ間に位置するランダムロジックであ
る。
The random logics C1, C2 and C3 are random logics located between the registers.

【0035】クロックは外部クロック端子Eから出力さ
れ、遅延素子A1または遅延素子A2を通り、最終的に
クロックバッファB1、B2、及びB3がそれぞれレジ
スタタD1、D2、及びD3のクロック端子を駆動す
る。
The clock is output from the external clock terminal E, passes through the delay element A1 or the delay element A2, and finally the clock buffers B1, B2, and B3 drive the clock terminals of the registers D1, D2, and D3, respectively.

【0036】遅延素子A1、及び遅延素子A2における
遅延値はランダムロジックC1、C2、及びC3の遅延
値に基づいて、以下のアルゴリズムにより決定される。
このアルゴリズムについて、次に説明する。
The delay values of the delay elements A1 and A2 are determined by the following algorithm based on the delay values of the random logics C1, C2 and C3.
This algorithm will be described next.

【0037】構成の説明で説明を行なった回路例に対し
て、本発明のアルゴリズムを説明する。 1.回路記述から、上位レベルの回路情報を解析して、
レジスタD1、D2、及びD3をランダムロジックC
1、C2、及びC3と切りわけた後、それぞれを認識す
る。 2.ランダムロジックC1、C2、及びC3のパス遅延
解析を行い、それぞれのその最小パス遅延値を△C1,
△C2,△C3とする。さらに、クロックバッファB
1、B2、及びB3の遅延値を求めて、それぞれのその
遅延値を△B1、△B2、及び△B3とする。 3.各レジスタのホールド時間を保証する制約式を2で
求めた△C1、△C2、△C3、△B1、△B2、及び
△B3の値と、1で求めたレジスタとランダムロジック
の接続情報とから作成する。具体的には、挿入する遅延
素子A1、及びA2の遅延値をそれぞれ△A1、△A2
とした場合に制約式は次の様になる。 レジスタD1,D2間に対して △B1+△C1>△A1+△B2 (1) レジスタD2,D3間に対して △B2+△C2>△A2+△B3 (2) レジスタD1,D3間に対して △B1+△C3>△A2+△B3 (3) 4.この制約式を解き、△A1、△A2の値を求める。
この値を持つ遅延素子を構成して、回路中に挿入する。
The algorithm of the present invention will be described with respect to the circuit example described in the description of the configuration. 1. From the circuit description, analyze the high-level circuit information,
Registers D1, D2 and D3 are set to random logic C
After cutting into 1, C2, and C3, each is recognized. 2. A path delay analysis of the random logic C1, C2, and C3 is performed, and each of the minimum path delay values is expressed as {C1,
ΔC2, ΔC3. Further, clock buffer B
The delay values of 1, B2, and B3 are obtained, and the respective delay values are set as △ B1, △ B2, and △ B3. 3. From the values of △ C1, △ C2, △ C3, △ B1, △ B2, and △ B3 obtained by the constraint expression that assures the hold time of each register in 2, and the connection information between the register and the random logic obtained in 1 create. More specifically, the delay values of the inserted delay elements A1 and A2 are respectively set to △ A1, △ A2
Then, the constraint expression is as follows. ΔB1 + ΔC1> ΔA1 + ΔB2 for register D1, D2 (1) ΔB2 + ΔC2> ΔA2 + ΔB3 for register D2, D3 (2) ΔB1 + for register D1, D3 ΔC3> ΔA2 + ΔB3 (3) 4. By solving this constraint equation, the values of △ A1 and △ A2 are obtained.
A delay element having this value is configured and inserted into the circuit.

【0038】上記制約式(1)、(2)、及び(3)に
より決定される遅延値A1、及びA2はレジスタのホー
ルドを保証する範囲内となる。従って、上記実施形態に
よれば、クロックツリーにおいてクロックスキューを極
力ゼロにする場合であっても、遅延素子A1、及び遅延
素子A2によりクロックを遅延させて入力しているた
め、半導体集積回路における誤動作を防止しつつ、同時
作動による大電流の流入を防止することができる。
The delay values A1 and A2 determined by the above constraints (1), (2) and (3) fall within a range that guarantees the hold of the register. Therefore, according to the above embodiment, even when the clock skew is reduced to zero as much as possible in the clock tree, the clock is delayed and input by the delay element A1 and the delay element A2. And inflow of a large current due to simultaneous operation can be prevented.

【0039】ここで、図1に示される半導体集積回路の
構成は、本発明に係る半導体集積回路及びその設計方法
を適用する際の好適な一例であるが、本発明は図1に示
されるような半導体集積回路に限定して適用されるもの
ではなく、例えばレジスタの個数や、ランダムロジック
の個数や、クロックツリーの段数、即ちクロックバッフ
ァの個数等は任意に変更することができる。
Here, the configuration of the semiconductor integrated circuit shown in FIG. 1 is a preferred example when the semiconductor integrated circuit and the design method thereof according to the present invention are applied, but the present invention is as shown in FIG. The present invention is not limited to the semiconductor integrated circuit, and the number of registers, the number of random logics, the number of clock tree stages, that is, the number of clock buffers, and the like can be arbitrarily changed.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、クロックツリーがいくつかの分枝に分けら
れ、各分枝問に遅延素子が挿入され、各分枝がその遅延
差を持ってスイッチングするため、クロックツリーを構
成する回路が同時にスイッチングを行なわず、大電流の
流入を防止することができ、チップ内外に対するスイッ
チングノイズやEMIの影響を軽減することが可能な半
導体集積回路及びその設計方法を提供することができ
る。
As is apparent from the above description, according to the present invention, the clock tree is divided into several branches, a delay element is inserted in each branch, and each branch has its delay difference. A semiconductor integrated circuit capable of preventing a large current from flowing into a circuit constituting a clock tree without switching at the same time, and reducing the influence of switching noise and EMI on and off a chip. And a method for designing the same.

【0041】また、回路の上位レベル情報とランダムロ
ジックのパス解析情報から得られるホールド保証の制約
式を満足するように分枝クロック間の遅延が決定されて
いるため、同期回路が挿入した遅延の為に誤動作するこ
とがなく、適切に大電流の流入を防止することが可能な
半導体集積回路及びその設計方法を提供することができ
る。
Further, since the delay between the branched clocks is determined so as to satisfy the constraint equation of the hold guarantee obtained from the upper level information of the circuit and the path analysis information of the random logic, the delay inserted by the synchronous circuit is determined. Therefore, it is possible to provide a semiconductor integrated circuit capable of appropriately preventing the inflow of a large current without causing a malfunction and a design method thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る半導体集積回路の一実施形態のブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of a semiconductor integrated circuit according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A1,A2 遅延素子 B0,B1,B2,B3 クロックバッファ C1,C2,C3 ランダムロジック D1,D2,D3 レジスタ(フリップフロップ群) E 外部クロック端子 A1, A2 Delay element B0, B1, B2, B3 Clock buffer C1, C2, C3 Random logic D1, D2, D3 Register (flip-flop group) E External clock terminal

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 クロックスキューを低減するために、ク
ロック供給源から供給されるクロックを分岐する、クロ
ックツリーを構成する少なくとも1以上のクロック分岐
部と、 前記クロック分岐部からそれぞれクロックが供給される
少なくとも以上のレジスタと、 前記レジスタとの間においてデータの授受を行う少なく
とも1以上のランダムロジックと、 前記レジスタにクロックを供給するクロック分岐部の間
に設置され、前記レジスタにおけるホールドを保証する
範囲内の遅延を、入力した前記クロックに与えて出力す
る少なくとも1以上の遅延素子とを有し、前記クロック分岐部は、前記少なくとも2以上のレジス
タに時間差をつけて前記クロックを供給する ことを特徴
とする半導体集積回路。
At least one or more clock branching units that form a clock tree for branching a clock supplied from a clock supply source to reduce clock skew, and a clock is supplied from the clock branching unit. At least two or more registers; at least one or more random logics for exchanging data with the registers; and a range provided between a clock branch unit for supplying a clock to the registers and guaranteeing hold in the registers And at least one or more delay elements for giving the delay in the clock to the input clock and outputting the clock.
A semiconductor integrated circuit that supplies the clock with a time difference between the clocks .
【請求項2】 前記クロック分岐部が、 インバータ、若しくは、バッファであることを特徴とす
る請求項1記載の半導体集積回路。
2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein said clock branching unit is an inverter or a buffer.
【請求項3】 前記遅延素子による、前記レジスタにお
けるホールドを保証する範囲内の遅延は、 前記ランダムロジックとレジスタとの間の接続情報と、 前記ランダムロジックのパス遅延解析により求められた
ランダムロジックの最小パス遅延値を求めることにより
与えられることを特徴とする請求項1又は2に記載の半
導体集積回路。
3. A delay within a range that guarantees hold in the register by the delay element, the connection information between the random logic and the register, and a random logic of a random logic obtained by a path delay analysis of the random logic. 3. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the value is obtained by obtaining a minimum path delay value.
【請求項4】 前記遅延素子による、前記レジスタにお
けるホールドを保証する範囲内の遅延は、 遅延の値を決定する遅延素子を注目遅延素子とし、 該注目遅延素子を挟んで接続されている前記クロック分
岐部をそれぞれ、第1のクロック分岐部、及び、第2の
クロック分岐部とし、 前記第1のクロック分岐部によりクロックが供給される
前記レジスタを第1のレジスタとし、 前記第2のクロック分岐部によりクロックが供給される
前記レジスタを第2のレジスタとし、 前記第1のレジスタ、及び、第2のレジスタの間におい
てデータの授受を行う前記ランダムロジックを第1のラ
ンダムロジックとし、 前記第1のクロック分岐部の遅延値をΔB1とし、 前記第2のクロック分岐部の遅延値をΔB2とし、 前記第1のランダムロジックのパス遅延解析を行い、該
パス遅延解析の結果得られた最小パス遅延値をΔC2と
し、 前記注目遅延素子における遅延値をΔA1とした場合、 ΔB1+ΔC1>ΔA1+ΔB2 を満足する値であることを特徴とする請求項1又は2に
記載の半導体集積回路。
4. A delay within a range that guarantees hold in the register by the delay element, wherein a delay element that determines a value of the delay is set as a target delay element, and the clock connected across the target delay element. A first clock branching unit and a second clock branching unit; a register supplied with a clock by the first clock branching unit as a first register; and a second clock branching unit. A register supplied with a clock by a unit as a second register; the first register, and the random logic for transmitting and receiving data between the second register as a first random logic; The delay value of the clock branch unit is ΔB1, the delay value of the second clock branch unit is ΔB2, and the delay value of the first random logic is When a minimum path delay value obtained as a result of the path delay analysis is set to ΔC2 and a delay value of the delay element of interest is set to ΔA1, the value satisfies ΔB1 + ΔC1> ΔA1 + ΔB2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1.
【請求項5】 前記レジスタが少なくとも1以上のフリ
ップ・フロップにより構成されていることを特徴とする
請求項1から4のいずれかに記載の半導体集積回路。
5. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein said register is constituted by at least one flip-flop.
【請求項6】 クロックスキューを低減するために、ク
ロック供給源から供給されるクロックを分岐する、クロ
ックツリーを構成する少なくとも1以上のクロック分岐
部を配置するクロック分岐部配置工程と、 前記クロック分岐部配置工程において配置された、クロ
ック分岐部からそれぞれクロックが供給される少なくと
以上のレジスタを配置するレジスタ配置工程と、 前記レジスタ配置工程において配置された、前記レジス
タとの間においてデータの授受を行う少なくとも1以上
のランダムロジックを配置するランダムロジック配置工
程と、 前記レジスタにクロックを供給するクロック分岐部の間
に、前記レジスタにおけるホールドを保証する範囲内の
遅延を、入力した前記クロックに与えて出力する少なく
とも1以上の遅延素子を配置する遅延素子配置工程とを
有し、前記クロック分岐部配置工程により配置されたクロック
分岐部は、前記少なくとも2以上のレジスタに時間差を
つけて前記クロックを供給する ことを特徴とする半導体
集積回路の設計方法。
6. A clock branch section arranging step of arranging at least one or more clock branch sections constituting a clock tree for branching a clock supplied from a clock supply source in order to reduce clock skew; A register arranging step of arranging at least two or more registers to each of which a clock is supplied from a clock branching unit arranged in the unit arranging step; and transmitting and receiving data to and from the registers arranged in the register arranging step. A random logic arranging step of arranging at least one or more random logics to be performed, and a clock branching unit for supplying a clock to the register, wherein a delay within a range that guarantees hold in the register is given to the input clock. Output at least one delay element And a delay element arranging step, wherein the clock is arranged by the clock branching section arranging step.
The branching unit adds a time difference to the at least two or more registers.
And supplying the clock to the semiconductor integrated circuit.
【請求項7】 前記クロック分岐部が、 インバータ、若しくは、バッファであることを特徴とす
る請求項6記載の半導体集積回路の設計方法。
7. The method of designing a semiconductor integrated circuit according to claim 6, wherein said clock branching unit is an inverter or a buffer.
【請求項8】 前記ランダムロジックとレジスタとの間
の接続情報を算出する接続情報算出工程と、 前記ランダムロジックのパス遅延解析に基づいて与えら
れるランダムロジックの最小パス遅延値を算出する最小
パス遅延値算出工程とを有し、 前記遅延素子による、前記レジスタにおけるホールドを
保証する範囲内の遅延が、前記接続情報と前記最小パス
遅延値により与えられることを特徴とする請求項6又は
7に記載の半導体集積回路の設計方法。
8. A connection information calculating step of calculating connection information between the random logic and a register, and a minimum path delay calculating a minimum path delay value of the random logic given based on a path delay analysis of the random logic. The method according to claim 6, further comprising a value calculating step, wherein a delay within a range that guarantees hold in the register by the delay element is given by the connection information and the minimum path delay value. Semiconductor integrated circuit design method.
【請求項9】 前記遅延の値を決定する遅延素子を注目
遅延素子とし、該注目遅延素子を挟んでいる前記クロッ
ク分岐部をそれぞれ、第1のクロック分岐部、及び、第
2のクロック分岐部とし、前記第1のクロック分岐部に
よりクロックが供給される前記レジスタを第1のレジス
タとし、前記第2のクロック分岐部によりクロックが供
給される前記レジスタを第2のレジスタとし、前記第1
のレジスタ、及び、第2のレジスタの間においてデータ
の授受を行う前記ランダムロジックを第1のランダムロ
ジックとして認識する接続情報認識工程と、 前記第1のクロック分岐部の遅延値を算出し、該算出さ
れた値をΔB1とする第1のクロック分岐部遅延値算出
工程と、 前記第2のクロック分岐部の遅延値を算出し、該算出さ
れた値をΔB2とする第2のクロック分岐部遅延値算出
工程と、 前記第1のランダムロジックのパス遅延解析を行い、該
パス遅延解析の結果得られた最小パス遅延値をΔC2と
する最小パス遅延値算出工程とを有し、 前記遅延素子による、前記レジスタにおけるホールドを
保証する範囲内の遅延が、 前記注目遅延素子における遅延値をΔA1とした場合、 ΔB1+ΔC1>ΔA1+ΔB2 を満足する値であることを特徴とする請求項6又は7に
記載の半導体集積回路の設計方法。
9. A delay element that determines the value of the delay is a delay element of interest, and the clock branch sections sandwiching the delay element of interest are a first clock branch section and a second clock branch section, respectively. Wherein the register supplied with a clock by the first clock branching unit is a first register, the register supplied by a clock by the second clock branching unit is a second register,
And a connection information recognizing step of recognizing, as first random logic, the random logic that exchanges data between the second register and the second register; and calculating a delay value of the first clock branching unit. A first clock branching unit delay value calculating step of setting the calculated value to ΔB1, a second clock branching unit delay calculating the delay value of the second clock branching unit and setting the calculated value to ΔB2 A value calculation step, and a minimum path delay value calculation step of performing a path delay analysis of the first random logic and setting a minimum path delay value obtained as a result of the path delay analysis to ΔC2. The delay within the range that guarantees hold in the register is a value that satisfies ΔB1 + ΔC1> ΔA1 + ΔB2 when the delay value of the delay element of interest is ΔA1. Method for designing a semiconductor integrated circuit according to claim 6 or 7, characterized in.
【請求項10】 前記レジスタが、少なくとも1以上の
フリップ・フロップにより構成されていることを特徴と
する請求項6から9のいずれかに記載の半導体集積回路
の設計方法。
10. The method of designing a semiconductor integrated circuit according to claim 6, wherein said register is constituted by at least one or more flip-flops.
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