JP3200469B2 - 直線変位測定装置 - Google Patents

直線変位測定装置

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JP3200469B2
JP3200469B2 JP16127492A JP16127492A JP3200469B2 JP 3200469 B2 JP3200469 B2 JP 3200469B2 JP 16127492 A JP16127492 A JP 16127492A JP 16127492 A JP16127492 A JP 16127492A JP 3200469 B2 JP3200469 B2 JP 3200469B2
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    • G01B7/16Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. by resistance strain gauge

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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般的には相対変位を検
出する装置に関し、特に対象物の歪みを測定する装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】供試体や対象物における歪み(歪みのな
い単位長さ当りのある方向における対象物の長さの変
化)の測定は直接的あるいは間接的に実施しうる。直接
的な歪み測定に用いられた試みのあるものは結合ワイヤ
歪み計(歪み検出ワイヤの格子を供試体に接合させるこ
とにより、その供試体の歪みによる格子の長さの変化が
ワイヤの抵抗を変化させ、その変化を測定できるも
の)、機械的歪み計(光学的あるいは機械的レバー装置
を用いて歪みを増倍し、それを適当なスケールで読み取
ることができるもの)、磁気歪み計(空隙を有する磁気
回路を含み、空隙が供試体の歪みの結果として変動する
と回路のパーミアンスを変動させて発生した歪みを指示
するもの)、半導体歪み計(電圧材料の抵抗が、加えら
れた応力と、その結果圧電材料の歪みと共に変動するも
の)、キャパシタンス歪み計(供試体の歪みによる要素
の分離における変動によって生じるキャパシタンスの変
動を測定して歪みを読取りできるもの)、および電界に
基く歪みセンサ(弾性の基板が電界生成要素と、1個以
上の電界検出要素とを含み、電界生成要素に対する電界
検出要素の位置を検出して相対運動を測定し、そのため
前記基板を取り付けている対象物の歪みを読み取ること
のできるもの)の使用を含む。その他の直接的な歪み測
定装置は音響歪み計、脆性ラッカコーティングやフォト
グリッド法を含む。
【0003】供試体における歪みを間接的に測定するた
めの試みは変位ピックアップ装置、速度ピックアップ装
置および加速度検出装置の使用を含む。
【0004】歪みを測定するための従来の試みのあるも
のの欠点は、採用された装置が、その歪みを測定すべき
供試体に取り付けたり、あるいは供試体と共に使用する
のが困難なことが多い。また、そのような装置は典型的
には製造が難しく、かつ高価につく。最後に、前述のよ
うな装置の多くは本質的に軸線方向の剛性が高度のた
め、接着の不具合により外れるのを阻止するために装置
の供試体への接着は高品質のものを必要とするが、これ
により供試体の接着に対して時間のかかる、慎重な準備
を必要とする。
【0005】前述の電界に基く歪みセンサは前述の問題
の中にあるものを排除し、克服し、かつ極めてコンパク
トに、かつ安価に作ることができる(米国特許第4,9
64,306号を参照のこと)、しかしながら、ある用
途に対しては、さらに精密な歪み変換器が必要とされる
か、少なくとも所望される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は製作が
容易で、効率的で高度に精密な一軸歪み変換器を提供す
ることである。
【0007】本発明の別の目的は高解像力を有し、かつ
変換器のサイズに対してダイナミックレンジの大きい変
換器を提供することである。
【0008】本発明のさらに別の目的は変換器を構成
し、作動させるのに要するワイヤやワイヤ結線が比較的
少ない変換器を提供することである。
【0009】本発明の別の目的は極めて大規模の集積
(VLSI)を用いて製作するのに十分適した変換器を
提供することである。
【0010】さらに別の本発明の目的は好ましくない機
械的作用や環境作用に対して全体的に感じないように構
成された変換器を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の前述並びにその
他の目的は、その直線変位を測定すべき直線方向に運動
可能の要素と、前記運動可能要素に配置され、前記要素
が運動するにつれて運動し前記要素の運動方向において
エミッタ上で直線方向に変動する電界の所定のパターン
を発生させるエミッタと、前記エミットが運動する軌道
に隣接してエミッタの近傍に配置されエミッタが運動さ
れるにつれて電界パターンの変動を検出し電界パターン
の変動を示す出力信号を発生させる検出器とを含む直線
変位および歪み測定装置の一特定実施例において実現さ
れる。そのような変動は検出器に対するエミッタの位置
と変位とを示す。エミッタの一部はその歪みを測定すべ
き対象物に結合し、また検出器の一部を対象物に結合さ
せることにより、エミッタと検出器との間の相対運動が
対象物において発生している歪みを指示する。
【0012】本発明の一局面によれば、エミッタは直線
運動可能の要素に取り付けられた全体的に平坦なエミッ
タプレートであって、エミッタプレートによって画成さ
れた平面で運動し、電界を通常プレートの活性側から指
向するエミッタプレートからなる。検出器は活性側にあ
るエミッタプレートと全体的に平行の固定位置に配置さ
れることによりエミッタプレートが運動するにつれて電
界パターンの変動を検出する全体的に平坦な検出プレー
トを含む。
【0013】本発明の別の局面によれば、運動可能の要
素は、その歪みを検出すべき対象物に取り付けうる細長
いタブからなる。エミッタプレートはタブに取り付けら
れ、前記プレートの活性側において所定のパターンで形
成された複数のエミッタ要素セクションを含み電気入力
信号に応答して電界を発生させる。本装置はさらに、電
気入力信号をエミッタ要素セクションへ供給する電気信
号発生器を含む。
【0014】最後に、本発明のさらに別の局面によれ
ば、エミッタプレートの活性側に複数の直線トラックが
形成され、各トラックが複数の隔置された導電性セクシ
ョンを含んでいる。導電性材料の層がエミッタプレート
の活性側に面した側で検出プレートに配置され、電界を
発生させ、前記層に電圧信号が供給されると前記層とト
ラックセクションとを静電結合する。このように導電性
セクションは検出器によって検出される電界を発生する
ようにされる。電圧供給源は検出プレートの導電性材料
層に電圧信号を供給する。
【0015】本発明の前述およびその他の目的、特徴お
よび利点は添付図面と関連して提供された以下の詳細説
明を検討すれば明らかとなる。
【0016】
【実施例】図1を参照すれば、それに変換器が取り付け
られる供試体の歪みを測定するために本発明によって作
られた直線変位および歪み測定変換器の一特定実施例の
分解図が示されている。変換器は、歪みを測定すべき供
試体に取り付けられるベースプレート4を含む。検出プ
レート8は固定位置においてベースプレート4に配置さ
れている。開口16を形成したスペーサ12はベースプ
レート4に配置され検出器8を囲み、弾性の回路盤20
がスペーサ12の開口16の内側でベースプレート4に
装着されている。弾性の回路盤20は例えばプラスチッ
クのような弾性材料から作られ、検出プレート8に接続
してそこへ信号を供給したり、かつそこから信号を搬送
するための導電体を担持している。スペーサ12には別
のスペーサ24が配置され、さらに第3のスペーサ28
がスペーサ24上に配置されている。スペーサ28の一
方の側に開口32が形成され、以下間もなく説明するよ
うにH字形支持板即ち構造体40のタブ36を囲む弾性
シールを収容する。
【0017】H字形構造体40はフレーム44と、脚4
8を介してフレームに結合された細長いタブ36とを含
みフレームに対するタブの運動を許容する弾性プレート
である。タブ36の下側には垂直力ばね34が取り付け
られ、前記の垂直力ばねの中央にはエミッタプレート即
ちチップ38が取り付けられている。これまで説明した
全ての部材が図示のように相互に接合されると、エミッ
タ38はスペーサ28、24の中央開口を通して突出し
検出プレート8と軽く接触する。スペーサ28と24の
厚さはエミッタチップ38が検出プレート8と丁度接触
できるように選定される。
【0018】H字形構造体40には、一方の側に開口5
6を有し、タブ36のための弾性シールを収容するスペ
ーサ52が取り付けられている。スペーサ52の頂部に
別のスペーサ60が配置され、カバープレート64がス
ペーサ60上に配置され組立体パッケージを覆い、かつ
その部材の汚染を阻止する。
【0019】既述のように、スペーサ28と52との開
口32と56とはそこを通してタブ36を突出させるこ
とができるようにそれぞれ形成されている。弾性シール
(図示せず)が開口32,56を充たし、タブ36の周
りをシールし、タブの運動を許容するのみならずパッケ
ージへ汚染物等が入らないようにする。
【0020】ベースプレート4とカバープレート64と
は例えばベリリウム銅のような金属で作ってよく、スペ
ーサ12,24,28,52および60も例えばベリリ
ウム銅のような金属から作ればよい。H字形構造体は、
垂直力ばね34と同様弾性金属から作られる。前記部材
は従来接合技術を用いて相互に接合される。
【0021】図2は、細長いタブ36を結合するプレー
トフレーム44を含む図1に示すH字形構造体40の上
面図を示す。タブ36はその自由端において、その歪み
を測定すべき供試体に取り付けられ、既述のように、ベ
ースプレート4(図1)も供試体に取り付けられ、ベー
スプレートとタブとの取り付け位置において供試体にお
いて発生している歪みがタブをベースプレートに対し
て、したがってフレーム44に対して運動させる。
【0022】フレーム44は、端レール108によって
端部の一方において接合された一対のサイドレール10
0,104を含む。サイドレール100,104の他端
にはそれぞれ大きいプレートセクション112,116
が形成されている。タブ36はプレートセクション11
2および116の間を延び、かつ大きくされた取付けセ
クション120で終っている。取付けセクション120
は一方の側において一対の脚124,128によりサイ
ドレール100に、他方の側において一対の脚132,
136によりサイドレール104に結合されている。フ
レーム44は例えばベリリウム銅のような弾性材から作
られ、脚124,128,132および136が撓み、
そして細長いタブ36がフレームに対して直線方向に運
動できるようにする。
【0023】大きくされた取付けセクション120のい
ずれかの側から横方向にタブ140,144が延びてお
り、該タブに垂直力ばねプレート34が取り付けられて
いる。プレートセクション112と116とはまた、タ
ブ148,152を含み、該タブは相互に向かって、か
つ細長いタブ36のそれぞれ切欠きセクション156,
160へ延びている。タブ148,152はタブ36の
直線方向運動を制限し、ある点を越えていずれかの方向
に運動するのを阻止する停止手段として作用する。即
ち、タブ148と152とは切欠きセクション156,
152の縁部と接触しある限度を越えたタブのそれ以上
の運動を阻止する。
【0024】垂直力ばねプレート34は、その上にエミ
ッタチップ38が取り付けられている中央セクション1
64を含む。垂直力ばねプレート34もまた、中央セク
ション164を画成し、かつ複数の脚172により該中
央セクションに接合された境界領域168を含む。垂直
力ばねプレート34は弾性材から作られ、中央セクショ
ン164を、したがってエミッタチップ38を、H字形
構造体40の大きくされた取付けセクションから垂直方
向外方に弾圧する。
【0025】垂直力ばねプレート34は点線176で示
す取付け脚によってタブ140,144に取り付けられ
ており、前記脚は垂直力ばねプレートを大きくした取付
けセクション120の上方で保持する。垂直力ばねプレ
ート34の弾性と取付け脚176の位置とを組み合わせ
ることによりエミッタ38をH字形構造体40から垂直
方向外方に、かつ検出器8(図1)に向かって前述のよ
うに弾圧するよう作用する。例えば窒化ケイ素のような
耐摩耗フィルムをエミッタ38および/または検出器8
に設け、これら2つの部材の間の摩擦と摩耗とを阻止す
る。エミッタ38と検出器8とを軽くこすって接触して
配置させることの代りに、エミッタは検出器との接触か
ら丁度外れた状態で機械的サポートによって保持されう
る。
【0026】図3は図1に示す検出プレート8とエミッ
タチップ38との概略的な上面図である。エミッタチッ
プ38の部分はチップの底側に位置され、チップは前述
のように検出チップ8上に配置される。
【0027】エミッタチップ38は矢印202で示す方
向に直線運動するように配置されている。チップ38は
サファイヤプレート203を含み、その上に、チップの
運動方向と全体的に平行に延びるよう並置関係で位置し
た複数の直線トラック204が形成されている。各トラ
ック204には交互に導電性セグメントと非導電性セグ
メントとが形成されており、導電性セグメント208は
陰をつけ、非導電性セグメントは陰をつけずに示してい
る。(トラック204は単にセグメント化の概念を示す
ために単純に描き、図8に示すような実際のパターンを
示すものと考えてはならない。)導電性セグメント20
8は電気的に相互に、かつプレート203の大部分の上
に来る導電性シート224に結合されている。導電性セ
グメント208と導電性層224とは、例えばアルミニ
ウムの層あるいはフィルムから作ることができる。後述
のように、導電性セグメント208は拡大して、トラッ
ク204上で直線方向に変化する電界パターンを生成す
るように付勢しうる。導電性セグメント208は全て相
互に電気的に接続されているので、導電性パターンは遮
断されていない領域と電気的に連続し、これも後述のよ
うに静電結合によりパターンを帯電することができる。
【0028】エミッタチップ38上のセクションの導電
性パターンはグレイコードを提供するように形成され、
そのため(そこに電界センサが位置する)点の横方向の
軌跡を通ってエミッタチップが運動することによりコー
ドの値を増分変化させることが有利である。勿論、もし
コードの値がエミッタチップが動くにつれて増分変化す
るとすれば、この値を検出して検出器に対するエミッタ
の直線変位、したがって歪みを示すことができる。
【0029】トラック204のグラフ表示を図5に示
す。トラックは、一対の各トラックが図8に示すよう
に、該対の他方のトラックから少なくとも1本のトラッ
クが離隔していることを除いて図示のように相補即ち共
役対252,256、等のように形成される。各対のト
ラックは、単に説明をしやすくするために図5において
は並置関係で位置したものとして示されている。各対の
トラックが相補即ち共役対とされている局面は一対のト
ラック252のセグメント252aおよび252bに関
して示されている。セグメント252aは図5において
陰をつけて示され、それが金属化されていること、即ち
導電性材料の層で形成されていることを示し、一方明る
い、即ち陰をつけていないセグメント252bはセグメ
ントが非導電性であることを示している。セグメント2
52aと252bとはエミッタプレート上であるが、も
っとも個別の離隔したトラックにおいて同じ横方向位置
を占める。同様に(セグメント252aおよび252b
より大きい)セグメント256aと256bとは、セク
ション256aが金属化され、セクション256bが金
属化されていないという点において共役性である。既述
のように、金属化されたセグメントは電界を生成するこ
とができ、一方金属化されていないセグメントは電界を
発生させることができず、このように、電界はエミッタ
チップ上で生成され、これがチップの運動方向において
直線的に変化する。
【0030】再び図3を参照すれば、アレイの軸線の横
方向に並置関係で位置した導電性フィンガ216のアレ
イ212が示されている。導電性フィンガ216は全て
導体220により導電性シート224に結合されること
によって、導電性シートを付勢させることにより導電性
フィンガを付勢して金属化されたセグメント206と正
に同様に電界を発生させる。
【0031】導電性フィンガのアレイ212はバーニャ
アレイに形成され、グレイコードトラック204の一方
の値から次の値までの増分即ち遷移の間のエミッタチッ
プ38の位置と運動とを検出する手段を提供する。即
ち、グレイコードトラック204に沿った一方の値から
別の値への遷移は運動のある間隔即ち距離にわたって発
生し、バーニャアレイ212がそのような間隔内での位
置と運動とを検出するように提供される。直線変位をバ
ーニャアレイで測定する方法は本明細書に参考のために
組み入れてある米国特許第4,964,306号に記載
され、同じ技術がここでも利用されている。このよう
に、グレイコードトラック204は本発明の変換器に対
して大きなダイナミックレンジを提供し、バーニャアレ
イ212が望ましい高解像度を提供する。
【0032】図3に示され、かつ例えばケイ素から作ら
れた検出プレート8は、エミッタチップ38が検出プレ
ート8の上方に配置されると、セグメント化したトラッ
ク204の横方向に延びるように位置された電界センサ
232のアレイを含む。詳細に後述するすように、アレ
イ232における各センサはセグメント化したトラック
の各々と対向して配置されている。検出プレート8に
は、エミッタプレート38と検出プレート8とが図1に
示すように組み立てられると導電性フィンガがアレイ2
12に対向して位置するよすうに位置した電界センサ2
36の第2のアレイが形成されている。アレイ236の
センサは、均等に隔置され下に位置する導電性フィンガ
212より正に僅かに広く離れて均等に離隔されている
横方向の検出要素260として図4に最良に示されてい
る。即ち、センサのアレイ236と導電性フィンガのア
レイ212との所定の距離にわたって、センサより1個
多い導体フィンガがあり、この形態によって変換器のバ
ーニヤ測定スケールを規定する。
【0033】図8は、直線アレイに配列され、グレイコ
ードを提供するように形成された相補トラックの配置列
を示す。トラックは右側に示され、金属化された部分は
陰をつけて示され「0」を示し、非金属化部分は「1」
を示す。トラックに沿って各増分進行に対する対応のコ
ード値は左側に示され、コード値は一ビットづつ増分
し、一方トラックの頂部から底部へ増分することが判
る。また、トラックの全ての金属化した部分は電気的に
連続しており、エッチングや写真製版技術を用いて容易
に作ることができる。
【0034】再び図3を参照すれば、検出プレート8の
約2/3を覆いセンサアレイ232を部分的に囲繞する
ように配置されている導電シート240が示されてい
る。また集積回路228が検出プレート8に形成され、
エミッタプレート38のセンサアレイ232,236に
よって検出された直線変位即ち歪みを計算するための処
理ロジックを提供する。集積回路228はまた、方形波
信号の形態で付勢信号を導電シート240に提供する。
導電シート240の方は、導電シート240をエミッタ
チップ38の導電シート224と容量的に結合する電界
を発生させ、そのため導電性セグメント208と導電性
フィンガ212とは付勢されて希望する電界パターンを
生成する。
【0035】図4は本発明のエミッタの代替実施例の上
面図を示す。この実施例においては、2組の相互に指状
化した導電性フィンガ241,242が提供され、各組
のフィンガは各々の導電性シート243,244に電気
的に結合されている。対応する検出プレートにおける2
個の個別の導電性シートは導電性シート243,244
を静電結合して導電性フィンガアレイ241,242を
180度位相をずらすよう駆動即ち付勢してバイポーラ
エミッタアレイを提供する。バイポーラエミッタアレイ
の利点は相互に指状化したフィンガによって放射された
電界のより良好なコントラストが得られることであり、
このため変換器の分解能を向上させる。
【0036】図6を参照すれば、複数のセグメント化し
たトラック308を示す、エミッタチップ304の一部
の概略図が示されている。トラック上には2列でセンサ
312の横アレイ(グレイコードアレイ)とセンサ31
6の共直線アレイ(バーニャアレイ)とが配置された状
態で示されている。
【0037】これらのセンサアレイは検出プレート(図
6には示さず)に位置する。バーニャアレイ316は図
3、図4および図5に関して説明したように導電性フィ
ンガから作られるよりもむしろ、代替的に一対の相補性
のセグメント化したトラック318から構成されてい
る。
【0038】前記アレイにおける各センサは、トラック
から発生される電界をさえぎる相補対の各トラック上に
それぞれ配置されている要素320,324のような2
個の電界検出要素を含む。前記アレイにおける各センサ
はまた、(例えば検出要素320,324のような)検
出要素に結合された再生差動増幅器を含む。この形態に
より、検出要素320,324は、それらがその上に位
置している2個のトラックが共役性であるため反対の状
態を検出する。即ち、一方の検出要素は帯電されたセク
ションからの電界を検出するとき、他方の検出要素は非
帯電セクションからの電界の不在を検出したり、あるい
はその逆を行う。このように(例えば高レベル信号と低
レベル信号のように)反対の信号が検出要素320,3
24により再生差動増幅器328に供給される。差動増
幅器328の方は入力信号の値の間の差を示す出力信号
を発生させる。再生差動増幅器は回路を内蔵しているた
め、ストローブされると、もし2個のセンサプレートの
中の最初の方の結合された電界の量が第2のプレートの
それより大きいとすれば第1の信号を提供し、もし第2
のプレートがより大きい結合された電界を受け取ったと
すれば第2の信号を提供する。電界を検出するために共
役性トラックと再生差動増幅器とを用いることの検出に
おける信頼性は単一のトラックを用いた場合に達成しう
るものに対して電界のある場合と電界の無い場合との間
で変移する。
【0039】バーニャアレイ316に対しては、センサ
の数は、バーニャアレイによって覆われるトラック31
8の部分上のセグメント遷移(あるいはもしフィンガが
用いられるとすれば、導電性フィンガ)の数より1個だ
け少ないことが有利である。この形態によれば、エミッ
タチップ304の極めて小さい直線変位であってもバー
ニャアレイ316における一連のセンサが遷移を検出す
ることにより小さい増分変位を読み取ったり、測定す
る。実際、バーニャアレイ316は、横アレイのセンサ
312によって検出される一連の増分の間の直線変位あ
るいはグレイコード値の変化を微細に読み取る。
【0040】検出要素と差動増幅器とを含むセンサは、
VLSI製造技術を利用して検出プレート上で作られ
る。センサの出力は、これもVLSI技術を用いて(図
3において集積回路228として識別している)検出プ
レート上で作られる解釈および計算ロジックに供給され
る。そのようなロジックはバーニャアレイ解釈ロジック
330を含み、該ロジックはバーニァアレイのセンサ3
16におけるセンサからの出力を受け取り、センサ出力
によって代表されるバーニャスケール読取りをバイナリ
コード化した値に変換する。このことはテーブル探索あ
るいは従来の組合せロジックあるいは統計的サンプリン
グにより実証しうる。このバイナリ値はロジック330
により組合せロジック回路333へ供給される。前記回
路333はバーニャアレイおよびグレイコードアレイか
らの情報を組み合わせて変位を示す出力デジタル値とす
る。
【0041】グレイコードセンサアレイ312における
センサからの出力は、センサの出力をグレイコードセン
サアレイが出合うグレイコードの値のバイナリ表示へ変
換する、グレイコードからバイナリへの変換器332へ
供給される。このバイナリ情報は組合せロジック回路3
33へ供給され、この回路は前記情報をロジック330
から受け取ったバイナリ情報と組み合わせ、それをシフ
トレジスタ314へ供給する。
【0042】シフトレジスタ334に記憶されたバイナ
リ情報は、最も有意でないビット位置を示すロジック3
30の情報とより有意のビット位置を示すコンバータ3
32からの情報と共に、エミッタチップ304の直線位
置即ち変位を、従って変換器がその上に取り付けられて
いる供試体において発生している歪みを指示する。
【0043】このように、チップを動かせながらグレイ
コードの変化を検出することによりエミッタチップ30
4のより粗い位置即ち変位が検出され、一方センサのバ
ーニァアレイ316は(グレイコードの値の各増分の間
の)エミッタチップの位置あるいは変位をより微細に検
出する。
【0044】シフトレジスタ334に記憶された情報は
カウンタ/比較器回路340から受け取られたシフト信
号に応答してレジスタからバストランシーバ338まで
選択的にシフトしうる。カウンタ/比較器回路340は
バストランシーバ338によって供給されたクロックパ
ルスを計数し、計数がアドレスレジスタ344に記憶さ
れているアドレスに対応する値に達すると、シフト信号
がシフトレジスタ334へ供給される。アドレスレジス
タ344に記憶されたアドレスは図6に示す回路がその
一部をなす特定の変換器を識別する。このように、アド
レスレジスタ344を用いることにより多くの変換器の
出力を図6に示すバス348のような単一の出力バス上
に多重化することができる。実際、バストランシーバ3
38によってカウンタ/比較器回路340へ供給された
クロックパルスはまた他の変換器の他のカウンタ/比較
器回路へ平行して供給され、それぞれの変換器を識別す
る特定のアドレスに対応するカウンタ/比較器が届く
と、対応するシフトレジスタに記憶されている変位即ち
歪み測定値がバス348へ供給され、最終的に利用ユニ
ット352へ供給される。このように、歪みの測定値は
バス348に多重化され、かつ利用ユニット352へ供
給され、該利用ユニットは情報を表示し、その中で歪み
が発生している供試体を調整する上でそれを使用するよ
うに処理したり、等々を行いうる。バス348と利用ユ
ニット352とは全ての変換器に対して共通であり、一
方各変換器は独自のバストランシーバ、シフトレジス
タ、カウンタ/比較器、アドレスレジスタ等を含んでい
る。そのような全てのロジックや回路はVLSI技術を
用いて、図3に示す集積回路セクション228において
検出プレート8上で製作しうる。
【0045】図6に示すロジックや回路を含むことの代
りに、センサの出力を処理して直線変位即ち歪みを検出
するための計算を行うようマイクロプロセッサを設ける
ことができる。このことは、図9に示すようにバーニァ
アレイのセンサの各々の出力をプロットすることにより
生成される波形の位相を決めるアルゴリズムを用いるこ
とを含む多数の方法で実施することができる。アレイに
おける最初のセンサに対するこの周期的な波形の位相が
エミッタと検出器との間の変位を示す。センサが単に2
つの可能な出力状態を有するストローブした再生差動増
幅器である場合、各センサに対するデータ点はセンサを
多数回ストローブし、かつストローブされた回数に対し
て、増幅器の2個のセンサプレートにおいて受け取られ
た電界強度の差を示すものとして受け取った最初の出力
状態の数の比を用いることにより生成する必要がある。
アルゴリズムによって検出された波形の位相は次にバイ
ナリ値に変換される。
【0046】検出要素と差動増幅器とを用いるセンサの
代りに、バーニャアレイの導電性フィンガから発出する
電界強度の変動を検出するために電界効果型トランジス
タを設けることができる。電界効果型トランジスタは、
周知のように、その値が検出された電界の強度と比例す
る出力信号を提供する。そのような出力は図7に示すア
ナログからデジタルへの変換器によってアナログ形態か
らデジタル形態に変換しうる。ここでは2個のアナログ
からデジタルへの変換器404,408が示されてい
る。各々のアナログからデジタルへの変換器はライン4
10a,410b、等にわたって異なる電界効果型トラ
ンジスタからの出力を受け取る。ランプ電圧は比較器4
20へ供給され、比較器の方は、ランプ電圧レベルが対
応する電界効果型トランジスタから受け取った信号のレ
ベルに達するとカウンタ424に信号を出す。クロック
パルス発生器416からのクロックパルスはカウンタ4
24に供給され、該カウンタは比較器420から信号が
受け取られるまでパルスを計数し、前記信号が受け取ら
れるとカウンタはその時にあった計数値を出力リード4
28へ供給し、例えば図6において説明したような解釈
および計算ロジック回路へ転送する。このように、各々
の電界効果型トランジスタからの出力信号のレベルは処
理のためにデジタル値に変換される。カウンタ424、
比較器420、ランプ電圧発生器412およびクロック
パルス発生器416は全て従来の装置である。
【0047】前述の装置は本発明の原理の適用を例示す
るのみであることを理解すべきである。本発明の精神と
範囲とから逸脱することなく当該技術の専門家は多数の
修正や代替装置を考案でき、したがって、特許請求の範
囲はそのような修正や代替装置を網羅する意図である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理に従って作った直線変位および歪
み測定装置の分解図。
【図2】図1に示すH字形構造体、垂直力ばね、および
エミッタの上面図。
【図3】図1に示す装置の検出器とエミッタとの上面
図。
【図4】本発明において使用されるエミッタの別の実施
例の上面図。
【図5】グレイコードトラックとバーニャアレイとを含
むように示された本発明のエミッタの一実施例の上面
図。
【図6】本発明のエミッタの一実施例の直線トラックに
対して位置した検出要素を示す上面図。
【図7】本発明において使用するに適したアナログ/デ
ジタル変換器の一実施例の概略図。
【図8】グレイコード形態を提供する直線相補トラック
の概略図。
【図9】本発明のバーニャアレイセンサの代表的な出力
をプロットしたグラフ。
【符号の説明】
4 ベースプレート 8 検出プレート 12 スペーサ 20 回路盤 24,28 スペーサ 34 ばね 36 タブ 38 エミッタプレート 40 支持プレート 44 フレーム 60,66 カバープレート 100,104 サイドレール 108 端レール 112,116 プレートセクション 120 取付けセクション 124,128 脚 132,136 脚 208 導電性セグメント 212 導電性フィンガ 224,240 導電性シート 232,236 センサアレイ 228 集積回路 241,242 導電性フィンガ 243,244 導電性シート 304 エミッタチップ 308 セグメント化したトラック 312 センサアレイ 316 センサアレイ 320,324 検出要素 328 差動増幅器 330 解釈ロジック 333 組合せロジック回路 334 シフトレジスタ 338 バストランシーバ 340 カウンタ/比較器 344 アドレスレジスタ 348 バス 352 利用ユニット 404,408 アナログ/デジタル変換器 412 ランプ電圧信号発生器 416 クロックパルス発生器 420 比較器 424 カウンタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイクル ジー.ムラデジョブスキー アメリカ合衆国ユタ州ソルト レイク シティー,イースト ハリウッド レー ン 2269 (56)参考文献 特表 平3−502132(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 7/00 - 7/34

Claims (40)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 その直線変位を測定すべき直線方向に運
    動可能の要素と、 前記運動可能要素に配置され前記要素が運動するにつれ
    て運動し、前記要素の運動方向においてエミッタ手段上
    で直線的に変動する電界の所定のパターンを生成するエ
    ミッタ手段と、 前記エミッタ手段が運動するにつれて電界パターンの変
    動を検出するように前記エミッタ手段が運動する軌道に
    隣接して前記エミッタ手段に近接して配置され、電界パ
    ターンの変化、したがって運動可能要素の直線変位の変
    動を示す出力信号を発生させる検出手段とを含むことを
    特徴とする直線変位測定装置。
  2. 【請求項2】 前記エミッタ手段が直線方向に運動可能
    の要素に取り付けられ、エミッタプレートにより画成さ
    れる平面を運動し、かつ前記プレートの活性側から直角
    に電界を指向する、全体的に平坦なエミッタプレートを
    含み、かつ前記検出手段が固定位置に配置され、その活
    性側のエミッタプレートと全体的に平行であって、エミ
    ッタプレートが運動するにつれて電磁界パターンの変動
    を検出する全体的に平坦な検出プレートを含むことを特
    徴とする請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】 前記運動可能の要素が細長いタブ手段を
    含み、前記エミッタプレートがタブ手段に取り付けら
    れ、前記プレートの活性側に所定のパターンで形成さ
    れ、電気入力信号に応答して電界を発生させる複数のエ
    ミッタ要素セクションを含み、さらに電気入力信号をエ
    ミッタ要素セクションに供給する手段をさらに含むこと
    を特徴とする請求項2に記載の装置。
  4. 【請求項4】 前記エミッタ手段がさらに、タブ手段と
    エミッタプレートとの間に配置され、前記プレートを検
    出プレートとの軽度のこすり接触となるように弾圧し、
    検出プレートが該検出プレート上に配置され、エミッタ
    プレートと軽度のこすり接触をする耐摩耗フイルムを含
    むことを特徴とする請求項3に記載の装置。
  5. 【請求項5】 前記弾圧手段が、 ばねプレートの平面に対して垂直の方向に弾性であっ
    て、エミッタプレートが取り付けられる中央セクション
    と、外側フレームセクションと、中央セクションをフレ
    ームセクションに接続する複数の脚とを有するばねプレ
    ートと、 前記ばねプレートのフレームセクションと、タブ手段と
    の間に配置され、ばねプレートをタブ手段の上方に保持
    する取付け脚とを含むことを特徴とする請求項4に記載
    の装置。
  6. 【請求項6】 前記電気入力信号供給手段が、 エミッタプレートの活性側に面する側で検出プレートに
    配置された導電性材料の層であって電圧信号が前記層に
    供給されると電界を生成し前記層とエミッタ要素セクシ
    ョンとを静電結合し、前記エミッタ要素セクションがそ
    のため電界を発生させる導電材料の層と、 導電材料層に電圧信号を供給する電圧供給手段とを含む
    ことを特徴とする請求項3に記載の装置。
  7. 【請求項7】 前記エミッタ要素セクションが電気的に
    相互に結合されることを特徴とする請求項6に記載の装
    置。
  8. 【請求項8】 前記エミッタ要素セクションが、トラッ
    クの方向にエミッタプレートに沿って直線的に連続して
    パターンを変えるように位置した複数の直線の、並置の
    選択的にセグメント化されたトラックに変えられること
    を特徴とする請求項7に記載の装置。
  9. 【請求項9】 前記検出手段が、トラックの全体的に横
    方向に、検出プレートのアレイに配置され、エミッタプ
    レートが運動するにつれて電界パターンの変化を検出す
    る第1の複数の電界センサを含むことを特徴とする請求
    項8に記載の装置。
  10. 【請求項10】 前記セグメント化されたトラックがデ
    ジタルグレイコードを提供するように形成され、エミッ
    タプレートが所定量の増分を運動すると、センサが少な
    くともコードにおける少なくとも1ビットの変動を検出
    することを特徴とする請求項9に記載の装置。
  11. 【請求項11】 グレイコードを示すトラックセグメン
    トが複数の対の相補トラックに形成され、対の各トラッ
    クは少なくとも1個のトラックが分離されて横方向に離
    隔されており、前記センサが複数の対のセンサからな
    り、各対が各対の相補トラックに隣接して位置されトラ
    ックから発出する電界を検出することを特徴とする請求
    項10に記載の装置。
  12. 【請求項12】 各対のセンサが、エミッタプレートが
    運動するにつれて導体が出合いうる電界を遮るために各
    対の相補トラックに隣接した一対の導電体と、前記導電
    体に結合され前記導電体が遮る電界の間の差を表わす出
    力信号を発生させる差動増幅器とを含むことを特徴とす
    る請求項11に記載の装置。
  13. 【請求項13】 前記センサが、各トラックが通過して
    運動するにつれてトランジスタにより検出される電界の
    強度を示す出力信号を発生させる電界効果型トランジス
    タからなることを特徴とする請求項11に記載の装置。
  14. 【請求項14】 前記エミッタプレートがさらに、全体
    的にトラックに対して平行のアレイにおいて並置関係で
    位置され、エミッタ要素セクションが電界を発生させる
    と電界を発生するようにエミッタ要素セクションに電気
    的に結合されている複数の均等間隔の導電性フインガを
    含み、前記検出手段がさらに、エミッタプレートの導電
    性フインガのアレイに対向して検出プレートのアレイに
    配置され、エミッタプレートがセンサに対して動くにつ
    れてフインガから発出する電界の強度の変化を検出する
    第2の複数の電界センサを含み、前記第2の複数のセン
    サが均等に離隔されることによって、ある範囲にわたる
    ある点における各センサがバーニャ形態で導電性フイン
    ガに直接対向して位置した唯一のセンサであることを特
    徴とする請求項10に記載の装置。
  15. 【請求項15】 一方の極性の電気信号によりアレイ中
    の導電性フインガを1個おきに付勢する手段と、別の極
    性の電気信号によりアレイ中の残りの導電性フインガを
    付勢する手段とを含むことを特徴とする請求項14に記
    載の装置。
  16. 【請求項16】 第2の複数のセンサの間隔が導電性フ
    インガの間隔と相違することを特徴とする請求項14に
    記載の装置。
  17. 【請求項17】 前記センサがそれぞれ、 センサアレイの方向において離隔された一対の導電体
    と、前記対の導電体に結合され、前記対の導体の一方が
    他方よりも導電性フインガに近接すると第1の信号を発
    生させ、かつ他方の導電体が前記一方の導電体より導電
    性フインガに近接すると第2の信号を発生させることに
    よりストローブ信号に応答する検出増幅器とを含み、 前記検出手段がさらに、ストローブ信号を前記検出増幅
    器に選択的に供給する手段と、前記検出増幅器から第1
    と第2の信号を受け取り、かつ検出増幅器に供給された
    所定数のストローブ信号に対して各検出増幅器から受け
    取った第1の信号の数を検出する手段とをさらに含むこ
    とを特徴とする請求項14に記載の装置。
  18. 【請求項18】 前記対の導電体と導電性フインガとが
    バーニャスケールを画成するように相互に対して位置し
    ていることを特徴とする請求項17に記載の装置。
  19. 【請求項19】 前記検出手段がさらに、 前記の結合された第1と第2の信号から、所定数のスト
    ローブ信号に対して各検出増幅器によって発生した第1
    の信号の数を示し、かつ前記導電性フインガと対の導電
    体との間の間隔の差に対応した周期を有する周期的なデ
    ータプロットを生成する手段と、 アレイにおける第1の検出増幅器に対する周期曲線の位
    相を検出することにより検出プレートに対するエミッタ
    プレートの変位を検出する手段とを含むことを特徴とす
    る請求項18に記載の装置。
  20. 【請求項20】 前記位相検出手段が曲線の零交差を計
    算し位相を現わす処理手段を含むことを特徴とする請求
    項19に記載の装置。
  21. 【請求項21】 前記位相検出手段が、所定の数理関数
    を曲線の少なくとも一部に方形適合させ位相を現わす処
    理手段を含むことを特徴とする請求項19に記載の装
    置。
  22. 【請求項22】 前記位相検出手段が零の平均値を有す
    る修正曲線を生成するに十分な量だけ曲線をオフセット
    し、修正した曲線のセクションを積分し、積分が零に最
    も近く、修正された曲線が正の遷移である、修正された
    曲線に沿った位置を検出することにより位相を現わす処
    理手段を含むことを特徴とする請求項19に記載の装
    置。
  23. 【請求項23】 前記センサが、その大きさが、それに
    対してトランジスタが露出されている電界の強度を表わ
    すアナログ信号を発生させる電界効果型トランジスタか
    らなることを特徴とする請求項14に記載の装置。
  24. 【請求項24】 前記検出手段が電界効果型トランジス
    タによって発生したアナログ信号をデジタル信号に変換
    するアナログ/デジタル変換手段をさらに含むことを特
    徴とする請求項23に記載の装置。
  25. 【請求項25】 前記アナログからデジタルへの変換手
    段が、 一連のランプ信号を発生させるランプ信号発生器と、 一連のクロックパルスを発生させるクロック手段と、 それぞれ異なる電界効果型トランジスタとランプ信号発
    生器とに結合され、対応する電界効果型トランジスタか
    らのアナログ信号をランプ信号と比較し、比較された信
    号が適合すると出力信号を発生させる複数の比較手段
    と、 それぞれ異なる比較手段とクロック手段とに結合され、
    対応する比較手段からの出力信号の受取りの間受け取ら
    れるクロックパルスの数を表わすデジタルカウントを提
    供する複数のカウンタとを含むことを特徴とする請求項
    24に記載の装置。
  26. 【請求項26】 第1の複数のセンサに結合され、第1
    の複数のセンサにより検出されたグレイコード値を表わ
    す第1のバイナリデータを生成する手段と、 第2の複数のセンサに結合され、第2の複数のセンサに
    より検出されたバーニャ測定値を表わす第2のバイナリ
    データを生成する手段と、 エミッタプレートの検出プレートに対する直線変位を示
    すバイナリワードにおいて第1と第2のバイナリデータ
    を組み合わせる手段とをさらに含むことを特徴とする請
    求項14に記載の装置。
  27. 【請求項27】 利用ユニットに結合されたデータバス
    と、 バイナリワードを一時的に記憶するシフトレジスタと、 本装置を識別するアドレス番号を記憶するアドレスレジ
    スタと、 アドレスレジスタに結合され、クロックパルスを受け取
    り、かつ計数し、クロックパルスのカウントがアドレス
    番号の値と等しくなるとその中味をデータバスへシフト
    するようにシフトレジスタに信号を出すカウンタ/比較
    器手段と、 クロックパルスをカウンタ/比較器手段に供給する手段
    とをさらに含むことを特徴とする請求項26に記載の装
    置。
  28. 【請求項28】 その歪みを測定すべき対象物に取り付
    け可能のフレームと、 一端においてフレームに接合され、該フレームに対して
    直線方向に運動可能であって、他端において対象物に取
    り付け可能の細長い要素と、 前記細長い要素に配置され、前記要素が運動するにつれ
    て運動するエミッタ手段であって、前記エミッタ手段の
    運動方向に延びトラックの長さにわたって変動する電界
    の所定パターンを生成する少なくとも1個の直線トラッ
    クを含むエミッタ手段と、 前記トラックの運動軌道に隣接してエミッタ手段に近接
    してフレームに配置され、前記トラックが検出手段に対
    して運動するにつれて電界パターンの変動を検出し、前
    記変動を、したがって検出手段に対するエミッタ手段の
    運動量を表わす出力信号を発生させる検出手段とを含む
    ことを特徴とする一軸歪み変換器。
  29. 【請求項29】 前記フレームが可撓性構造体を含み、
    前記可撓性構造体が、 第1と第2の離隔し、全体的に平行のサイドレールと、
    前記サイドレールの選択した端部を接合し、サイドレー
    ルに対して全体的に垂直の端レールと、 相互に対して全体的に平行に延び第1のサイドレールを
    一端において細長い要素の一方の側に接合する第1の対
    の横方向に可撓性の脚と、 相互に対して全体的に平行に延び第2のサイドレールを
    前記一端において細長い要素の他方の側に接合する第2
    の対の横方向に可撓性の脚とを含み、前記脚が前記の細
    長い要素をサイドレールに対して一軸運動できるように
    していることを特徴とする請求項28に記載の変換器。
  30. 【請求項30】 検出手段とエミッタ手段との間に配置
    された耐摩耗フイルムと、エミッタ手段と細長い要素と
    の間に配置され、エミッタ手段を、検出手段上のフイル
    ムと軽度のこすり接触するため細長い要素から離れる方
    向にエミッタ手段を弾圧する弾性の弾圧手段とをさらに
    含むことを特徴とする請求項29に記載の変換器。
  31. 【請求項31】 前記弾圧手段が、 ばねプレートの平面に対して直角の方向に弾性的であ
    り、その上にエミッタ手段が配置される中央セクション
    と、外側の支持セクションと、前記中央セクションを支
    持セクションに接合し、中央セクションを細長い要素か
    ら離れる方向に弾圧する複数の弾性脚とを有するばねプ
    レートと、 前記ばねプレートの支持セクションと細長い要素との間
    に配置され、ばねプレートを細長い要素の上方ある距離
    をおいて保持する取付けパッドとを含むことを特徴とす
    る請求項30に記載の変換器。
  32. 【請求項32】 前記フレームがさらに、 その上に前記検出手段が配置されるベースプレートであ
    って、対象物に取り付け可能のベースプレートと、 前記ベースプレート上に配置されエミッタ手段を囲む第
    1のスペーサであって、前記可撓性の構造体が第1のス
    ペーサ上にあって、そのためエミッタ手段が検出手段と
    の軽度の接触状態に配置されている第1のスペーサと、 前記可撓性構造体のサイドレールと端レールとに配置さ
    れた第2のスペーサと、 前記第2のスペーサ上に配置されたカバープレートとを
    含むことを特徴とする請求項31に記載の変換器。
  33. 【請求項33】 前記エミッタ手段が、その運動方向に
    延在する複数の平行で直線のトラックを含み、前記トラ
    ックの各々が付勢されると電界を生成する複数の離隔さ
    れた導電性セクションを画成するようにセグメント化さ
    れており、前記検出手段が、エミッタ手段がセンサに対
    して運動するにつれて各トラックの電界を検出し、かつ
    検出された電界を示す電気出力信号を発生させるように
    それぞれが各トラックに隣接して位置している複数のセ
    ンサを含み、前記変換器がさらに、前記導電性セクショ
    ンを付勢する手段と、検出手段に対するエミッタ手段の
    運動量を示す、電気出力信号からの利用情報を発生させ
    る手段とを含むことを特徴とする請求項30に記載の変
    換器。
  34. 【請求項34】 前記トラックのセクションが、検出手
    段上の固定の横方向軌跡を通るトラックの運動に対して
    その値が増分変化するグレイコードを画成するように形
    成され、かつ前記センサが前記横方向の軌跡と一致した
    アレイに位置していることを特徴とする請求項33に記
    載の変換器。
  35. 【請求項35】 前記検出手段が、選定されたトラック
    に隣接して直線配置され、選定されたトラックのセクシ
    ョンに対して位置され、第2の複数のセンサに対する選
    定されたトラックの運動のバーニャ測定値を提供する第
    2の複数のセンサをさらに含むことを特徴とする請求項
    34に記載の変換器。
  36. 【請求項36】 トラックが複数の対の相補トラックと
    して形成され、一対のトラックの中の一方のトラックの
    セクションがいずれかの所定の横方向位置において一対
    のトラックの中の他方のトラックのセクションと共役性
    であり、各センサが、 一対のトラックの各トラックに隣接して配置され各トラ
    ックのセクションによって生成された電界を検出する一
    対の検出要素と、 対の検出要素に結合され、検出要素によって検出される
    電界の間の差を示すセンサ信号を発生する再生差動増幅
    器とを含むことを特徴とする請求項35に記載の変換
    器。
  37. 【請求項37】 各対の相補トラックが少なくとも1個
    のトラック分、離隔して横方向に位置していることを特
    徴とする請求項36に記載の変換器。
  38. 【請求項38】 前記付勢手段が検出手段に配置され電
    圧信号に応答して電界を生成しエミッタ手段の導電性セ
    クションを付勢し、かつそれらが電界を生成するように
    させる導電性プレートと、電圧信号を導電性プレートへ
    供給する手段とを含み、前記導電性セクションが電気的
    に相互に結合されていることを特徴とする請求項33に
    記載の変換器。
  39. 【請求項39】 前記付勢手段が、検出手配に配置され
    電圧信号に応答して電界を生成することによってエミッ
    タ手段の導電性セクションを付勢し、かつそれらが電界
    を生成させるようにした導電性プレートと、電圧信号を
    導電性プレートへ供給する手段とを含み、前記導電性セ
    クションが電気的に相互に結合されていることを特徴と
    する請求項34に記載の変換器。
  40. 【請求項40】 前記エミッタ手段がさらに、トラック
    の前記導電性セクションに電気的に結合され、検出手段
    の導電性プレートにより生成された電界の少なくとも一
    部を遮る第2の導電性プレートを含むことを特徴とする
    請求項39に記載の変換器。
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