JP3199402B2 - Mach-Zehnder optical waveguide device - Google Patents
Mach-Zehnder optical waveguide deviceInfo
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はマッハツェンダー型光導
波路デバイスに関する。光通信の分野では、光スイッチ
や、変調器や、合分波器や、カプラ等の部品が必要であ
り、マッハツェンダー型光導波路デバイスはこのような
部品として使用可能なものとして期待されている。マッ
ハツェンダー型光導波路デバイスは、電界を印加すると
屈折率が変化する結晶材料の基板に光導波路を設けたも
のであり、非常に小型に製造でき、且つ量産性に優れて
いる。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a Mach-Zehnder type optical waveguide device. In the field of optical communication, components such as an optical switch, a modulator, a multiplexer / demultiplexer, and a coupler are required, and a Mach-Zehnder type optical waveguide device is expected to be usable as such a component. . The Mach-Zehnder type optical waveguide device has a structure in which an optical waveguide is provided on a substrate made of a crystal material whose refractive index changes when an electric field is applied, and can be manufactured very small and excellent in mass productivity.
【０００２】[0002]
【従来の技術】マッハツェンダー型光導波路デバイスの
光導波路は、入力導波路部と、出力導波路部と、該入力
導波路部及び該出力導波路部の間にそれぞれＹ字状分岐
部を介して接続される平行な中間導波路部とからなる。
マッハツェンダー型光導波路デバイスを例えば光変調器
として使用するときには、平行な中間導波路部に電極を
設け、印加電圧を制御することにより、出力導波路部か
らの光出力を変調する。図３は、印加電圧に対する光出
力を示す図である。例えば印加電圧が０のときに光出力
は１になり、印加電圧がＶ0 のときに光出力は０にな
り、電圧に応じて光出力はサイン関数状になる。2. Description of the Related Art An optical waveguide of a Mach-Zehnder type optical waveguide device includes an input waveguide section, an output waveguide section, and a Y-shaped branch section between the input waveguide section and the output waveguide section. And a parallel intermediate waveguide section connected in parallel.
When a Mach-Zehnder type optical waveguide device is used as, for example, an optical modulator, an electrode is provided on a parallel intermediate waveguide section, and an optical output from an output waveguide section is modulated by controlling an applied voltage. FIG. 3 is a diagram illustrating light output with respect to an applied voltage. For example, when the applied voltage is 0, the optical output becomes 1, when the applied voltage is V 0 , the optical output becomes 0, and the optical output becomes a sine function according to the voltage.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、マッハツェン
ダー型光導波路デバイスに応力や熱がかかったり、ＤＣ
ドリフト等が生じたりすると、特性が変動することがあ
るという問題点があった。例えば、図３を参照すると、
実線が所定の特性を示すのに対して、特性が破線で示す
ように変動することがあった。マッハツェンダー型光導
波路デバイスの応用によっては、所定の電圧値を印加し
たときに光出力が変化することは好ましくないことであ
り、そのような変動が発生したときには対策を施すこと
ができるようにしておくことが望まれる。However, stress or heat is applied to the Mach-Zehnder type optical waveguide device,
If a drift or the like occurs, there is a problem that characteristics may fluctuate. For example, referring to FIG.
While the solid line indicates a predetermined characteristic, the characteristic sometimes fluctuates as indicated by a broken line. Depending on the application of the Mach-Zehnder type optical waveguide device, it is not preferable that the light output changes when a predetermined voltage value is applied, so that when such a change occurs, measures can be taken. It is desired to keep.
【０００４】本発明の目的は、信頼性を高めるために特
性の変動をモニターすることができるようにしたマッハ
ツェンダー型光導波路デバイスを提供することである。[0004] It is an object of the present invention to provide a Mach-Zehnder type optical waveguide device capable of monitoring a change in characteristics in order to enhance reliability.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明によるマッハツェ
ンダー型光導波路デバイスは、入力導波路部と、出力導
波路部と、該入力導波路部及び該出力導波路部の間にそ
れぞれＹ字状分岐部を介して接続される平行な２つの中
間導波路部とからなる主光導波路を有する基板と、該主
光導波路の該出力導波路部の両側近傍に設けられて該中
間導波路部と該出力導波路部との接続部より放出される
放射光をガイドする２つの副光導波路１４と、該放射光
をガイドする２つの副導波路の光を検出する検出手段と
を備え、該検出手段の出力に応じて該主光導波路への印
加電圧を制御することを特徴とする。Mach-Zehnder type optical waveguide device according to the present invention, in order to solve the problems] includes input Chikarashirube waveguide section, and an output waveguide portion, respectively Y-shaped between the input waveguide section and said output Chikarashirube waveguide section A substrate having a main optical waveguide composed of two parallel intermediate waveguide portions connected via a bifurcated portion, and a substrate provided near both sides of the output waveguide portion of the main optical waveguide. the in
Is the release from the connecting portion and between the waveguide section and said output Chikarashirube waveguide section
Two Fukuhikarishirube waveguide 14 for guiding the radiation beam, the emitted light
Detecting means for detecting light of two sub-waveguides for guiding
A mark on the main optical waveguide according to the output of the detection means.
It is characterized in that the applied voltage is controlled .
【０００６】[0006]
【作用】上記したマッハツェンダー型光導波路デバイス
では、電圧を印加したときに出力導波路部１２ｂで利用
可能な光出力が入力光に対して低下する。本発明は、こ
のように光出力が低下したとき、入力光と出力光との差
に相当する光成分は、主光導波路の平行導波路部１２
ｃ，１２ｄと出力導波路部１２ｂとの接続部から基板内
へ放出されることに注目した。そこで、主光導波路の出
力導波路部１２ｂの近傍に副光導波路１４を設け、前記
放出光を所定の部位へガイドするようにした（図１で
は、基板の端面にガイドされる）。このようにしてガイ
ドされた放出光は適切な手段により検出され、この放出
光をモニターすることにより、特性の変動をモニターす
ることができる。In the above-described Mach-Zehnder optical waveguide device, when a voltage is applied, the optical output available in the output waveguide section 12b decreases with respect to the input light. According to the present invention, when the light output is reduced as described above, the light component corresponding to the difference between the input light and the output light is transmitted to the parallel waveguide portion 12
Attention was paid to emission into the substrate from the connection between c and 12d and the output waveguide portion 12b. Therefore, a sub optical waveguide 14 is provided near the output waveguide portion 12b of the main optical waveguide, and the emitted light is guided to a predetermined portion (in FIG. 1, it is guided by the end face of the substrate). The emitted light guided in this way is detected by an appropriate means, and by monitoring the emitted light, a change in characteristics can be monitored.
【０００７】[0007]
【実施例】図１を参照すると、マッハツェンダー型光導
波路デバイスは、ニオブ酸リチウム（ＬｉＮｂＯ3 ）の
結晶からなる基板１０に光導波路１２を設けたものであ
る。光導波路１２は、入力導波路部１２ａと、出力導波
路部１２ｂと、該入力導波路部及び該出力導波路部の間
にそれぞれＹ字状分岐部を介して接続される平行な中間
導波路部１２ｃ，１２ｄとからなる。入力導波路部１２
ａ及び出力導波路部１２ｂはそれぞれ基板１０の端面に
露出し、光ファイバ１６（図１では出力導波路部１２ｂ
側の光ファイバのみ示されている）に接続される。Referring to FIG. 1, a Mach-Zehnder type optical waveguide device has an optical waveguide 12 provided on a substrate 10 made of a crystal of lithium niobate (LiNbO 3 ). The optical waveguide 12 includes an input waveguide portion 12a, an output waveguide portion 12b, and a parallel intermediate waveguide connected between the input waveguide portion and the output waveguide portion via a Y-shaped branch portion. It consists of parts 12c and 12d. Input waveguide section 12
a and the output waveguide portion 12b are exposed at the end face of the substrate 10, respectively, and the optical fiber 16 (in FIG. 1, the output waveguide portion 12b
(Only the side optical fiber is shown).
【０００８】光導波路１２は、例えば、ニオブ酸リチウ
ムの結晶基板１０にチタン（Ｔｉ）を蒸着し、フォトリ
ソグラフィ及びエッチングによりパターン化し、それか
ら酸素を含む高温中で同基板１０中へ拡散させることに
より形成している。この光導波路１２は透明で、基板１
０よりも屈折率が高くなり、光を閉じこめるようにな
る。The optical waveguide 12 is formed, for example, by depositing titanium (Ti) on a crystal substrate 10 of lithium niobate, patterning it by photolithography and etching, and then diffusing it into the substrate 10 at a high temperature containing oxygen. Has formed. This optical waveguide 12 is transparent and the substrate 1
The refractive index becomes higher than 0, and light becomes confined.
【０００９】図１及び図２に示されるように、光導波路
１２の上にはＳｉＯ2 のバッファ層１８（図１では省略
してある）が設けられ、そしてバッファ層１８の上で中
間導波路部１２ｃ，１２ｄの位置に対応して電極２０，
２２が設けられる。電極２０，２２は電源２４に接続さ
れる。従って、電極２０，２２間に電圧を印加すること
により、中間導波路部１２ｃ，１２ｄの屈折率が変化
し、光の伝播特性を変化させる。As shown in FIGS. 1 and 2, a buffer layer 18 (not shown in FIG. 1) of SiO 2 is provided on the optical waveguide 12, and an intermediate waveguide is provided on the buffer layer 18. The electrodes 20, corresponding to the positions of the portions 12c and 12d,
22 are provided. The electrodes 20, 22 are connected to a power supply 24. Therefore, by applying a voltage between the electrodes 20 and 22, the refractive indexes of the intermediate waveguide portions 12c and 12d change, and the light propagation characteristics change.
【００１０】さらに、副光導波路１４が主光導波路１２
の出力導波路部１２ｂの近傍に設けられる。副光導波路
１４は出力導波路部１２ｂを挟んで平行導波路部１２
ｃ，１２ｄと出力導波路部１２ｂとの接続部から基板１
０の端面まで延びる。モニター用光ファイバ２６が基板
１０の端面と一致する副光導波路１４の端面に接続され
る。モニター用光ファイバ２６はフォトダイオード等の
光検出器を含む放出光検出手段２８に接続される。さら
に、この放出光検出手段２８は電源２４に制御信号を送
ることができる。Further, the sub optical waveguide 14 is connected to the main optical waveguide 12.
In the vicinity of the output waveguide section 12b. The sub optical waveguide 14 is formed between the parallel waveguide 12 and the output waveguide 12b.
The substrate 1 is connected from the connection portion between the output waveguide portion 12b and the output waveguide portion 12b.
0 end face. The monitoring optical fiber 26 is connected to the end face of the sub optical waveguide 14 which coincides with the end face of the substrate 10. The monitoring optical fiber 26 is connected to emission light detecting means 28 including a photodetector such as a photodiode. Further, the emitted light detecting means 28 can send a control signal to the power supply 24.
【００１１】このようなマッハツェンダー型光導波路デ
バイスでは、電源２４から電極２０，２２に印加する電
圧に応じて図３の実線で示されるような光出力が得られ
る。例えば印加電圧が０のときに光出力は１になり、印
加電圧がＶ0のときに光出力は０になり、電圧に応じて
光出力はサイン関数状になる。実線が所定の特性を示す
のに対して、特性が破線で示すように変動することがあ
る。副光導波路１４はそのような変動をモニターできる
ようにするために、平行導波路部１２ｃ，１２ｄと出力
導波路部１２ｂとの接続部から基板１０の内部へ放出さ
れる光をガイドするものである。In such a Mach-Zehnder type optical waveguide device, an optical output as shown by a solid line in FIG. 3 is obtained according to the voltage applied from the power supply 24 to the electrodes 20 and 22. For example, when the applied voltage is 0, the optical output becomes 1, when the applied voltage is V 0 , the optical output becomes 0, and the optical output becomes a sine function according to the voltage. While the solid line indicates the predetermined characteristic, the characteristic may fluctuate as indicated by the broken line. The sub optical waveguide 14 guides light emitted from the connection between the parallel waveguide sections 12c and 12d and the output waveguide section 12b into the substrate 10 so that such fluctuation can be monitored. is there.
【００１２】図４はマッハツェンダー型光導波路デバイ
スの光導波路１２を簡略化して示しており、（Ａ）は印
加電圧が０のときの光の伝播の様子を示し、（Ｂ）は印
加電圧がＶ0 のときの光の伝播の様子を示している。図
４において、１２ａは入力導波路部、１２ｂは出力導波
路部と、１２ｃ，１２ｄは中間導波路部である。各部に
は波形状の図形で伝播モードが示されている。このマッ
ハツェンダー型光導波路デバイスでは、入力導波路部１
２ａに示されたモードの光のみが伝播可能である。FIG. 4 schematically shows the optical waveguide 12 of the Mach-Zehnder type optical waveguide device. FIG. 4A shows the state of light propagation when the applied voltage is 0, and FIG. The state of light propagation at V 0 is shown. In FIG. 4, 12a is an input waveguide, 12b is an output waveguide, and 12c and 12d are intermediate waveguides. In each part, the propagation mode is indicated by a wave-shaped figure. In this Mach-Zehnder type optical waveguide device, the input waveguide section 1
Only the light of the mode shown in 2a can propagate.
【００１３】図４の（Ａ）においては、光は所定の入力
モードで入力導波路部１２ａに導入され、中間導波路部
１２ｃ，１２ｄに向かい、これらの中間導波路部１２
ｃ，１２ｄを入力モードと同じモードでそれぞれ伝播
し、そして同じモードで出力導波路部１２ｂから出力さ
れる。また、（Ｂ）においては、光は所定の入力モード
で入力導波路部１２ａに導入され、中間導波路部１２
ｃ，１２ｄに向かうが、このときに、中間導波路部１２
ｃ，１２ｄの屈折率が電圧０のときとは変化しているの
で、光の伝播速度が変化することになる。従って、これ
らの中間導波路部１２ｃ，１２ｄを伝播する光の位相に
相互に差ができ、平行導波路部１２ｃ，１２ｄと出力導
波路部１２ｂとの接続部においてこれらの位相の異なっ
た光が出会うと、出力導波路部１２ｂに入射すべきモー
ドが入力モードとは変わったものになる。このため、平
行導波路部１２ｃ，１２ｄと出力導波路部１２ｂとの接
続部に到達した光は、電圧の値に応じた程度（図３）
で、出力導波路部１２ｂに入射できなくなり、基板１０
の内部に放射されることになる。In FIG. 4A, light is introduced into an input waveguide section 12a in a predetermined input mode, and travels toward intermediate waveguide sections 12c and 12d.
c and 12d propagate in the same mode as the input mode, and are output from the output waveguide section 12b in the same mode. In (B), light is introduced into the input waveguide section 12a in a predetermined input mode, and the light is introduced into the intermediate waveguide section 12a.
c and 12d. At this time, the intermediate waveguide 12
Since the refractive indices of c and 12d are different from those when the voltage is 0, the light propagation speed is changed. Accordingly, the phases of the light propagating through the intermediate waveguide portions 12c and 12d are different from each other, and the lights having different phases are connected at the connection portion between the parallel waveguide portions 12c and 12d and the output waveguide portion 12b. When they meet, the mode to be incident on the output waveguide section 12b is different from the input mode. For this reason, the light reaching the connecting portion between the parallel waveguide portions 12c and 12d and the output waveguide portion 12b has a degree corresponding to the value of the voltage (FIG. 3).
As a result, the light cannot enter the output waveguide portion 12b and the substrate 10
Will be radiated inside.
【００１４】通常、平行導波路部１２ｃ，１２ｄと出力
導波路部１２ｂとの接続部で基板１０の内部に放射され
る光は、（Ｂ）に示されるように出力導波路部１２ｂの
両側で基板１０の端面に向かって斜めに進む。ただし、
この放出光は基板１０の表面に沿って進むのではなく、
（Ｃ）に示されるように基板１０の底部側に向かって進
む。このようにして進む放射光は、基板１０と基板の外
側の空気との界面において全反射を繰り返し、基板１０
のどの位置から出射するのか確かでない。Normally, the light radiated into the substrate 10 at the connection portion between the parallel waveguide portions 12c and 12d and the output waveguide portion 12b is, as shown in (B), on both sides of the output waveguide portion 12b. It proceeds diagonally toward the end face of the substrate 10. However,
This emitted light does not travel along the surface of the substrate 10,
As shown in (C), the light beam advances toward the bottom of the substrate 10. The radiation traveling in this manner repeats total reflection at the interface between the substrate 10 and the air outside the substrate, and the substrate 10
It is not certain from which position the light exits.
【００１５】本発明では、平行導波路部１２ｃ，１２ｄ
と出力導波路部１２ｂとの接続部で基板１０の内部に入
った光の多くは、この放射光の発生部の近くで副光導波
路１４に入射する。この副光導波路１４も主光導波路１
２と同様にして基板１０の表面に形成され、基板１０よ
りも屈折率が高い。そのため、副光導波路１４に入った
放射光は副光導波路１４に閉じ込められて副光導波路１
４内を進み、すなわち副光導波路１４内をガイドされ
る。副光導波路１４内を進む光は実質的に基板１０には
出射することなく、基板１０の端面と一致する端面から
出射する。従って、この端面に光ファイバ２６を接続す
れば、放射光を捕らえることができる。In the present invention, the parallel waveguide portions 12c and 12d
Most of the light that has entered the inside of the substrate 10 at the connection between the output waveguide section 12b and the output waveguide section 12b enters the sub optical waveguide 14 near the radiated light generation section. The sub optical waveguide 14 is also the main optical waveguide 1
2, formed on the surface of the substrate 10 and has a higher refractive index than the substrate 10. Therefore, the radiated light that has entered the sub optical waveguide 14 is confined in the sub optical waveguide 14 and
4, that is, guided in the sub optical waveguide 14. Light traveling in the sub optical waveguide 14 does not substantially exit to the substrate 10 but exits from an end surface that coincides with the end surface of the substrate 10. Therefore, if the optical fiber 26 is connected to this end face, the emitted light can be captured.
【００１６】このようにして、放出光検出手段２８は主
光導波路１２から漏れた放射光を検出し、それによっ
て、電源２４から印加した電圧値に対して、光出力が所
定のレベルになっているかどうかを判断することができ
る。すなわち、図３を参照すると、電源２４から印加し
た電圧値に対して、実線の特性の光出力が得られている
か、あるいは破線で示されるように特性が変動している
のかを判断することができる。このようなモニターの応
用として、放出光検出手段２８の出力に基づいて電源２
４に制御信号を送り、特性のずれを補正することができ
る。In this way, the emitted light detecting means 28 detects the emitted light leaking from the main optical waveguide 12, whereby the light output becomes a predetermined level with respect to the voltage value applied from the power supply 24. Can be determined. That is, referring to FIG. 3, it is possible to determine whether an optical output having a solid line characteristic is obtained or a characteristic fluctuates as indicated by a broken line with respect to a voltage value applied from the power supply 24. it can. As an application of such a monitor, a power source 2 based on the output of the emitted light detecting means 28
4, a control signal can be sent to correct the characteristic deviation.
【００１７】図５は、本発明の実施例を示し、基板１０
には図１の場合と同様に主光導波路１２を形成してある
（図５では平行導波路部１２ｃ，１２ｄと出力導波路部
１２ｂとの接続部の部分のみ示されている）。この主光
導波路１２の出力導波路部の近傍には副光導波路１４が
設けられている。さらに、この副光導波路１４の表面に
光散乱手段３０が設けられている。この光散乱手段３０
はグレーティングや、表面の粗面化処理等からなる。副
光導波路１４の表面に光散乱手段３０を設けることによ
って、平行導波路部１２ｃ，１２ｄと出力導波路部１２
ｂとの接続部で基板１０の内部に入った光のうち、副光
導波路１４に入射した光は光散乱手段３０で散乱して副
光導波路１４の表面から出射するようになる。従って、
副光導波路１４の表面にモニター用光ファイバ２６を設
けておけば、前述したのと同様にして放射光を捕らえる
ことができる。FIG. 5 shows an embodiment of the present invention.
The main optical waveguide 12 is formed in the same manner as in the case of FIG. 1 (FIG. 5 shows only the connection portion between the parallel waveguide portions 12c and 12d and the output waveguide portion 12b). A sub optical waveguide 14 is provided near the output waveguide of the main optical waveguide 12. Further, light scattering means 30 is provided on the surface of the sub optical waveguide 14. This light scattering means 30
Consists of a grating and a surface roughening treatment. By providing the light scattering means 30 on the surface of the sub optical waveguide 14, the parallel waveguide sections 12c and 12d and the output waveguide section 12 are provided.
Of the light that has entered the inside of the substrate 10 at the connection with b, the light that has entered the sub optical waveguide 14 is scattered by the light scattering means 30 and exits from the surface of the sub optical waveguide 14. Therefore,
If the monitoring optical fiber 26 is provided on the surface of the sub optical waveguide 14, the emitted light can be captured in the same manner as described above.
【００１８】図６は、本発明の別の実施例を示し、基板
１０には前の例と同様に主光導波路１２及び副光導波路
１４が設けられている。さらに、この副光導波路１４の
表面に光散乱手段３０が設けられ、そしてバッファ層１
８を介してミラー３２が設けられている。モニター用光
ファイバ２６は基板１０の底面側に配置される。従っ
て、副光導波路１４に入射した光が光散乱手段３０によ
って表面に出射し且つミラー３２で反射して光ファイバ
２６に捕らえられる。この構成によれば、モニター用光
ファイバ２６の設置位置の制限を緩和することができ
る。FIG. 6 shows another embodiment of the present invention, in which a substrate 10 is provided with a main optical waveguide 12 and a sub optical waveguide 14 as in the previous embodiment. Further, a light scattering means 30 is provided on the surface of the sub optical waveguide 14, and the buffer layer 1 is provided.
A mirror 32 is provided through the mirror 8. The monitoring optical fiber 26 is disposed on the bottom side of the substrate 10. Therefore, the light incident on the sub optical waveguide 14 is emitted to the surface by the light scattering means 30 and reflected by the mirror 32 to be captured by the optical fiber 26. According to this configuration, the restriction on the installation position of the monitor optical fiber 26 can be eased.
【００１９】[0019]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によるマッ
ハツェンダー型光導波路デバイスは、入力導波路部と、
出力導波路部と、該入力導波路部及び該出力導波路部の
間にそれぞれＹ字状分岐部を介して接続される平行な中
間導波路部とからなる主光導波路と、該主光導波路の該
出力導波路部の近傍に設けられて該平行導波路部と該出
力導波路部との接続部で放出される光をガイドする副光
導波路とを備えた構成であるので、主光導波路の平行導
波路部と出力導波路部との接続部から基板内へ放出され
る光を副光導波路により所定の部位へガイドすることが
でき、よって特性の変動をモニターして信頼性を高める
ことができる。As described above, the Mach-Zehnder type optical waveguide device according to the present invention has an input waveguide portion,
A main optical waveguide including an output waveguide portion, a parallel intermediate waveguide portion connected between the input waveguide portion and the output waveguide portion via a Y-shaped branch portion, and the main optical waveguide. The main optical waveguide is provided in the vicinity of the output waveguide portion and has a sub-optical waveguide that guides light emitted at the connection portion between the parallel waveguide portion and the output waveguide portion. The light emitted into the substrate from the connection portion between the parallel waveguide portion and the output waveguide portion can be guided to a predetermined portion by the sub-optical waveguide, so that a change in characteristics can be monitored to enhance reliability. Can be.
【図１】本発明の原理説明図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.
【図２】図１のデバイスの部分断面図である。FIG. 2 is a partial cross-sectional view of the device of FIG.
【図３】光出力の特性を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing characteristics of optical output.
【図４】放射光を説明する図であり、（Ａ）は電圧を印
加しないときを示す図、（Ｂ）は電圧を印加したときを
示す図、（Ｃ）は（Ｂ）のデバイスの断面図である。4A and 4B are diagrams for explaining emitted light, in which FIG. 4A shows a case where no voltage is applied, FIG. 4B shows a case where a voltage is applied, and FIG. FIG.
【図５】本発明の実施例を示す断面図である。FIG. 5 is a sectional view showing an embodiment of the present invention.
【図６】本発明の別の実施例を示す断面図である。FIG. 6 is a sectional view showing another embodiment of the present invention.
１０…基板 １２…主光導波路 １４…副光導波路 １６…光ファイバ ２０，２２…電極 ２４…電源 ２６…モニター用光ファイバ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Substrate 12 ... Main optical waveguide 14 ... Sub optical waveguide 16 ... Optical fiber 20, 22 ... Electrode 24 ... Power supply 26 ... Optical fiber for monitoring
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−145623（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−165117（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−28603（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02F 1/00 - 1/035 G02F 1/29 - 1/313 G02B 6/12 - 6/14 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-3-145623 (JP, A) JP-A-2-165117 (JP, A) JP-A-64-28603 (JP, A) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) G02F 1/00-1/035 G02F 1/29-1/313 G02B 6/12-6/14
Claims (2)
力導波路部及び該出力導波路部の間にそれぞれＹ字状分
岐部を介して接続される平行な２つの中間導波路部とか
らなる主光導波路を有する基板と、 該主光導波路の該出力導波路部の両側近傍に設けられて
該中間導波路部と該出力導波路部との接続部より放出さ
れる放射光をガイドする２つの副光導波路と、 該放射光をガイドする２つの副光導波路の光を検出する
検出手段とを備え、該検出手段の出力に応じて該主光導
波路への印加電圧を制御する マッハツェンダー型光導波
路デバイス。1. An input waveguide unit, an output waveguide unit, and two parallel intermediate waveguides connected between the input waveguide unit and the output waveguide unit via respective Y-shaped branches. a substrate having a main optical waveguide made of a part, the radiation beam provided near both sides of the output Chikarashirube waveguide portion of the main optical waveguide is released from the connecting portion between the intermediate waveguide portions and said output Chikarashirube waveguide section two and Fukuhikarishirubeha path for guiding, to detect light of two Fukuhikarishirube waveguide for guiding the emitted light
Detecting means, and the main light guide according to an output of the detecting means.
A Mach-Zehnder optical waveguide device that controls the voltage applied to the waveguide.
け、該検出手段を基板表面に設けた請求項１に記載のマ
ッハツェンダー型光導波路デバイス。2. The Mach-Zehnder optical waveguide device according to claim 1, wherein light scattering means is provided on a surface of said sub optical waveguide , and said detection means is provided on a substrate surface .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21735291A JP3199402B2 (en) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | Mach-Zehnder optical waveguide device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21735291A JP3199402B2 (en) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | Mach-Zehnder optical waveguide device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0553086A JPH0553086A (en) | 1993-03-05 |
| JP3199402B2 true JP3199402B2 (en) | 2001-08-20 |
Family
ID=16702832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21735291A Expired - Lifetime JP3199402B2 (en) | 1991-08-28 | 1991-08-28 | Mach-Zehnder optical waveguide device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3199402B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2649491B1 (en) * | 2010-12-10 | 2016-10-19 | Oclaro Technology Limited | Assembly for monitoring output characteristics of an optical modulator |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH10221664A (en) * | 1997-02-12 | 1998-08-21 | Fujitsu Ltd | Light modulator |
| JP3742477B2 (en) * | 1997-02-17 | 2006-02-01 | 富士通株式会社 | Light modulator |
| DE60132056T2 (en) | 2000-03-15 | 2008-12-18 | Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. | OPTICAL WAVE MODULATOR WITH OUTDOOR LIGHT MONITOR |
| JP3974792B2 (en) | 2002-02-07 | 2007-09-12 | 富士通株式会社 | Optical waveguide device and optical device |
| JP2003309273A (en) * | 2002-04-15 | 2003-10-31 | Ｈｏｙａ−Ｓｃｈｏｔｔ株式会社 | Light quantity detection means, and illuminator and sensor device having the same |
| JP4911529B2 (en) * | 2005-02-22 | 2012-04-04 | 日本碍子株式会社 | Light modulator |
| JP4874685B2 (en) * | 2005-03-25 | 2012-02-15 | 住友大阪セメント株式会社 | Light modulator |
| US7444039B2 (en) * | 2005-03-25 | 2008-10-28 | Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. | Optical modulator |
| JP4719135B2 (en) * | 2006-11-28 | 2011-07-06 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | Optical waveguide device and optical device |
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| JP4745415B2 (en) | 2009-03-31 | 2011-08-10 | 住友大阪セメント株式会社 | Light modulator |
| JP5369883B2 (en) * | 2009-05-14 | 2013-12-18 | 住友大阪セメント株式会社 | Light control element |
| JP2011164388A (en) | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Fujitsu Optical Components Ltd | Mach-zehnder optical modulator |
| JP5488226B2 (en) | 2010-06-10 | 2014-05-14 | 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 | Mach-Zehnder type optical modulator |
| WO2012115133A1 (en) * | 2011-02-23 | 2012-08-30 | 住友大阪セメント株式会社 | Light modulator |
| JP4977788B1 (en) * | 2011-02-23 | 2012-07-18 | 住友大阪セメント株式会社 | Light modulator |
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| JP5660095B2 (en) * | 2012-08-31 | 2015-01-28 | 住友大阪セメント株式会社 | Light modulator |
| JP2015191068A (en) | 2014-03-27 | 2015-11-02 | 日本電気株式会社 | Output monitoring method and output monitoring device for optical modulator |
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- 1991-08-28 JP JP21735291A patent/JP3199402B2/en not_active Expired - Lifetime
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| JPH0553086A (en) | 1993-03-05 |
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