JP3193753B2 - 画像読み取り装置 - Google Patents
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- JP3193753B2 JP3193753B2 JP34872191A JP34872191A JP3193753B2 JP 3193753 B2 JP3193753 B2 JP 3193753B2 JP 34872191 A JP34872191 A JP 34872191A JP 34872191 A JP34872191 A JP 34872191A JP 3193753 B2 JP3193753 B2 JP 3193753B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばデジタル複写機
等に使用される画像読み取り装置に関し、詳しくは、複
数の電荷転送チャンネル間の出力信号レベルのばらつき
を補正して良好な画像信号を得ることができる画像読み
取り装置に関する。
等に使用される画像読み取り装置に関し、詳しくは、複
数の電荷転送チャンネル間の出力信号レベルのばらつき
を補正して良好な画像信号を得ることができる画像読み
取り装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般にデジタル複写機では、CCDイメ
ージセンサを用いて原稿の画像をアナログ電気信号に変
換し、この電気信号化された画像のデータをADコンバ
ータによってアナログ信号からデジタル信号に変換して
いるが、CCDイメージセンサの出力は、次の理由から
直接ADコンバータでデジタル値に変換することが出来
ない。
ージセンサを用いて原稿の画像をアナログ電気信号に変
換し、この電気信号化された画像のデータをADコンバ
ータによってアナログ信号からデジタル信号に変換して
いるが、CCDイメージセンサの出力は、次の理由から
直接ADコンバータでデジタル値に変換することが出来
ない。
【0003】第1の理由としては、CCDイメージセン
サの出力波形にはリセットノイズと呼ばれる特有の信号
部分があり、また部分的にCCDドライブのクロックノ
イズが出力に重畳しているからである。そこで、これら
と画像信号部分とを分離するために、次のような前処理
を行うことが必要となる。まず、CCDイメージセンサ
の出力における画像信号部分のサンプルホールドを行
う。すなわち、サンプルホールドではサンプル区間でC
CDイメージセンサの出力をホールドコンデンサに充電
し、ホールド区間ではホールドコンデンサは、CCDイ
メージセンサの出力から切り離されてコンデンサの時定
数で決まるドループレートでサンプルされた電圧を保持
する。次に、CCDイメージセンサの出力は直流電圧に
対する変化分として出てくるので、画像入力が黒のとき
のCCDイメージセンサの画像信号に基づいて、直流再
生と呼ばれる絶対的なゼロレベルを作る処理を行う必要
がある。
サの出力波形にはリセットノイズと呼ばれる特有の信号
部分があり、また部分的にCCDドライブのクロックノ
イズが出力に重畳しているからである。そこで、これら
と画像信号部分とを分離するために、次のような前処理
を行うことが必要となる。まず、CCDイメージセンサ
の出力における画像信号部分のサンプルホールドを行
う。すなわち、サンプルホールドではサンプル区間でC
CDイメージセンサの出力をホールドコンデンサに充電
し、ホールド区間ではホールドコンデンサは、CCDイ
メージセンサの出力から切り離されてコンデンサの時定
数で決まるドループレートでサンプルされた電圧を保持
する。次に、CCDイメージセンサの出力は直流電圧に
対する変化分として出てくるので、画像入力が黒のとき
のCCDイメージセンサの画像信号に基づいて、直流再
生と呼ばれる絶対的なゼロレベルを作る処理を行う必要
がある。
【0004】第2の理由としては、CCDイメージセン
サの出力電圧は0.1〜0.5Vと小さいので、ADコ
ンバータの入力電圧(2V〜4V)との整合が取れない
からであり、これをクリアするために、CCDイメージ
センサの出力電圧をADコンバータの入力電圧まで増幅
する回路が必要になる。以上の理由から、CCDイメー
ジセンサとADコンバータとの間には、従来よりアナロ
グ処理回路が介設されている。
サの出力電圧は0.1〜0.5Vと小さいので、ADコ
ンバータの入力電圧(2V〜4V)との整合が取れない
からであり、これをクリアするために、CCDイメージ
センサの出力電圧をADコンバータの入力電圧まで増幅
する回路が必要になる。以上の理由から、CCDイメー
ジセンサとADコンバータとの間には、従来よりアナロ
グ処理回路が介設されている。
【0005】図9は従来のアナログ処理回路の一例を示
すブロック図である。図9中1は、奇数番目の画素の電
荷出力端子Oと偶数番目の画素の電荷出力端子Eとを有
するCCDイメージセンサであり、互いに180°位相
がずれた転送クロック信号P1,P2及びリセット信号
RS1,RS2の入力に基づいて、前記電荷出力端子
O,Eから奇数番目の画素及び偶数番目の画素の電荷を
出力するものである。尚、CCDイメージセンサ1に
は、全画素転送毎に1回の周期でシフトゲート信号SH
も合わせて入力され、このシフトゲート信号SHの入力
に伴って、CCDイメージセンサ1の各フォトデテクタ
(図示せず)に蓄積された光による電荷がCCDに渡さ
れる。
すブロック図である。図9中1は、奇数番目の画素の電
荷出力端子Oと偶数番目の画素の電荷出力端子Eとを有
するCCDイメージセンサであり、互いに180°位相
がずれた転送クロック信号P1,P2及びリセット信号
RS1,RS2の入力に基づいて、前記電荷出力端子
O,Eから奇数番目の画素及び偶数番目の画素の電荷を
出力するものである。尚、CCDイメージセンサ1に
は、全画素転送毎に1回の周期でシフトゲート信号SH
も合わせて入力され、このシフトゲート信号SHの入力
に伴って、CCDイメージセンサ1の各フォトデテクタ
(図示せず)に蓄積された光による電荷がCCDに渡さ
れる。
【0006】前記出力端子O,Eから出力された奇数番
目、偶数番目の画素の電荷、すなわちCCD出力は、A
C結合でゲインAの反転アンプ2,5で増幅され、直流
再生回路3,6で黒レベルをゼロボルトとして直流再生
される。サンプルホールド回路4,7では、これらに入
力されるサンプルホールド信号SH1,SH2がハイレ
ベルである間は、直流再生回路3,6から出力された直
流再生後の画像信号のサンプルを行い、前記サンプルホ
ールド信号SH1,SH2がローレベルである間はサン
プルした値をホールドする。8は、入力されるセレクト
信号SELがハイレベルである間は前記サンプルホール
ド回路4の出力を選択し、ローレベルである間は前記サ
ンプルホールド回路7の出力を選択して、サンプルホー
ルド回路4,7でサンプルホールドされた、互いに位相
が180°ずれた奇数番目、偶数番目の画素の画像信号
を交互に切り換えつつ合成する合成回路である。9のア
ンプは直流結合であり、ADコンバータ10の入力電圧
に合うように、前記合成回路8から出力される画像信号
を増幅するものである。
目、偶数番目の画素の電荷、すなわちCCD出力は、A
C結合でゲインAの反転アンプ2,5で増幅され、直流
再生回路3,6で黒レベルをゼロボルトとして直流再生
される。サンプルホールド回路4,7では、これらに入
力されるサンプルホールド信号SH1,SH2がハイレ
ベルである間は、直流再生回路3,6から出力された直
流再生後の画像信号のサンプルを行い、前記サンプルホ
ールド信号SH1,SH2がローレベルである間はサン
プルした値をホールドする。8は、入力されるセレクト
信号SELがハイレベルである間は前記サンプルホール
ド回路4の出力を選択し、ローレベルである間は前記サ
ンプルホールド回路7の出力を選択して、サンプルホー
ルド回路4,7でサンプルホールドされた、互いに位相
が180°ずれた奇数番目、偶数番目の画素の画像信号
を交互に切り換えつつ合成する合成回路である。9のア
ンプは直流結合であり、ADコンバータ10の入力電圧
に合うように、前記合成回路8から出力される画像信号
を増幅するものである。
【0007】図10(a)〜(j)は、図9における各
信号のタイミング図であり、図10(a),(b)は前
記転送クロック信号P1,P2、(c),(d)は前記
リセット信号RS1,RS2、(i),(j)は前記サ
ンプルホールド信号SH1,SH2の波形を示すもので
ある。図9の回路の特徴は直流再生を各画素(偶数、奇
数)毎に行っていることであり、そのためCCDイメー
ジセンサから出力される信号波形には、フィードスルー
レベルと呼ばれる黒レベルに相当する部分が画像信号に
先がけてある。図10(g),(h)のクランプ信号C
LMPO,CLMPEは、図10(e),(f)に示す
ように、CCDイメージセンサ1の出力端子O,Eから
出力される奇数画素、偶数画素の信号のフィードスルー
レベルF部分をゼロボルトにするためのものであり、こ
のクランプ信号CLMPO,CLMPEが入力される前
記直流再生回路3,6は、前記フィードスルーレベルF
部分をゼロボルトにするように動作する。
信号のタイミング図であり、図10(a),(b)は前
記転送クロック信号P1,P2、(c),(d)は前記
リセット信号RS1,RS2、(i),(j)は前記サ
ンプルホールド信号SH1,SH2の波形を示すもので
ある。図9の回路の特徴は直流再生を各画素(偶数、奇
数)毎に行っていることであり、そのためCCDイメー
ジセンサから出力される信号波形には、フィードスルー
レベルと呼ばれる黒レベルに相当する部分が画像信号に
先がけてある。図10(g),(h)のクランプ信号C
LMPO,CLMPEは、図10(e),(f)に示す
ように、CCDイメージセンサ1の出力端子O,Eから
出力される奇数画素、偶数画素の信号のフィードスルー
レベルF部分をゼロボルトにするためのものであり、こ
のクランプ信号CLMPO,CLMPEが入力される前
記直流再生回路3,6は、前記フィードスルーレベルF
部分をゼロボルトにするように動作する。
【0008】この画素毎の直流再生はCCDイメージセ
ンサの出力にフィードスルーレベルがある場合には精度
よく直流再生することができるが、CCDのクロック周
波数が高くなってくると、CCD出力にでてくるリセッ
ト電圧の位相が遅れてくることや、波形がなまってくる
こと、或はCCDクロック信号の出力へのクロストーク
の影響でフィードスルー部分が確保できなくなってくる
といったことがあり、図9のような各画素(奇数、偶
数)毎の直流再生は、CCDのクロック周波数が高い場
合には適当でない。
ンサの出力にフィードスルーレベルがある場合には精度
よく直流再生することができるが、CCDのクロック周
波数が高くなってくると、CCD出力にでてくるリセッ
ト電圧の位相が遅れてくることや、波形がなまってくる
こと、或はCCDクロック信号の出力へのクロストーク
の影響でフィードスルー部分が確保できなくなってくる
といったことがあり、図9のような各画素(奇数、偶
数)毎の直流再生は、CCDのクロック周波数が高い場
合には適当でない。
【0009】図11は従来のアナログ処理回路の他の例
を示すブロック図である。回路全体を構成しているブロ
ックは図9の回路と略々同じものであり、図9と同一の
要素には図9で付したものと同一の引用符号を付してそ
の説明を省略するが、図9の回路との差は、サンプルホ
ールド回路4,7と直流再生回路3,6との順序が逆に
なっており、直流再生回路3,6が共に同一のクランプ
信号CLMPに基づいて作動することである。図12
(a)〜(c)は、前記CCDイメージセンサ1の出力
端子O,Eから出力される奇数画素、偶数画素の信号に
対する、クランプ信号CLMPのタイミング図である。
図12(a)に示すように、前記出力端子O,Eから出
力される奇数画素、偶数画素の信号には空送り部Xと光
シールド部Yとがある。空送り部Xはフォトセンサを持
たずCCDによるシフトレジスタだけを持っている。光
シールド部Yはアルミによって光入力を遮断されたフォ
トセンサ部を持っている。この2種の画素部分はちょう
ど黒レベルと同じと考えられるので、CCDイメージセ
ンサ1の出力をサンプルホールド回路4,7でサンプル
ホールドしてリセット部を取り除き画像信号部分だけに
した後、図12(b),(c)のクランプ信号CLMP
でゼロボルトにすれば直流再生をすることができる。
を示すブロック図である。回路全体を構成しているブロ
ックは図9の回路と略々同じものであり、図9と同一の
要素には図9で付したものと同一の引用符号を付してそ
の説明を省略するが、図9の回路との差は、サンプルホ
ールド回路4,7と直流再生回路3,6との順序が逆に
なっており、直流再生回路3,6が共に同一のクランプ
信号CLMPに基づいて作動することである。図12
(a)〜(c)は、前記CCDイメージセンサ1の出力
端子O,Eから出力される奇数画素、偶数画素の信号に
対する、クランプ信号CLMPのタイミング図である。
図12(a)に示すように、前記出力端子O,Eから出
力される奇数画素、偶数画素の信号には空送り部Xと光
シールド部Yとがある。空送り部Xはフォトセンサを持
たずCCDによるシフトレジスタだけを持っている。光
シールド部Yはアルミによって光入力を遮断されたフォ
トセンサ部を持っている。この2種の画素部分はちょう
ど黒レベルと同じと考えられるので、CCDイメージセ
ンサ1の出力をサンプルホールド回路4,7でサンプル
ホールドしてリセット部を取り除き画像信号部分だけに
した後、図12(b),(c)のクランプ信号CLMP
でゼロボルトにすれば直流再生をすることができる。
【0010】図12において、(b)と(c)のクラン
プ信号CLMPの位相の違いには次のような意味があ
る。一般にCCDイメージセンサには暗時出力電圧と呼
ばれるものがあり、これは画像信号に対してノイズとな
りS/N比劣化のもととなる。暗時出力電圧には2種類
考えられ、1つはフォトセンサで発生するもの、もう1
つはCCDシフトレジスタで発生するものである。すな
わち、前記空送り部Xはシフトレジスタで発生する暗時
出力電圧の成分だけであり、光シールド部Yはフォトセ
ンサとシフトレジスタの両方の成分を合成したものであ
る。一般的にはフォトセンサで発生する暗時出力電圧の
方が影響が大きい。また、暗時出力電圧には温度によっ
て変化し、温度が約8℃上昇する毎に2倍になる。それ
で、図12(c)のタイミングによるクランプ信号CL
MPで、前記光シールド部Yで直流再生すれば、ゼロボ
ルトも暗時出力電圧と共に変化するので、この影響をな
くすることができる。
プ信号CLMPの位相の違いには次のような意味があ
る。一般にCCDイメージセンサには暗時出力電圧と呼
ばれるものがあり、これは画像信号に対してノイズとな
りS/N比劣化のもととなる。暗時出力電圧には2種類
考えられ、1つはフォトセンサで発生するもの、もう1
つはCCDシフトレジスタで発生するものである。すな
わち、前記空送り部Xはシフトレジスタで発生する暗時
出力電圧の成分だけであり、光シールド部Yはフォトセ
ンサとシフトレジスタの両方の成分を合成したものであ
る。一般的にはフォトセンサで発生する暗時出力電圧の
方が影響が大きい。また、暗時出力電圧には温度によっ
て変化し、温度が約8℃上昇する毎に2倍になる。それ
で、図12(c)のタイミングによるクランプ信号CL
MPで、前記光シールド部Yで直流再生すれば、ゼロボ
ルトも暗時出力電圧と共に変化するので、この影響をな
くすることができる。
【0011】図13は図11の回路例における直流再生
回路の一例である。同図中12はコンデンサ、13はス
イッチング素子、14はフォロア、15は直流バイアス
回路、16はスイッチング素子13のドライバである。
図13においてスイッチング素子13が閉じると、図1
3中のA点における電圧はゼロボルトになる。スイッチ
ング素子13がオープンになった後も、直流的電流の流
入流出がなければ直流的なゼロボルトは一定となる。す
なわち、空送り部X或は光シールド部Yで直流再生され
ると、それ以降の画像信号は絶対的なゼロボルトを基準
にして変化することになる。しかし、実際の回路ではコ
ンデンサ12のリーク電流やスイッチング素子13のオ
フ時の漏れ電流、或はフォロア14のゲート電流などが
あるために、電流の流入流出はゼロにならない。それ
で、1主走査毎に1回、例えば図12(c)のタイミン
グによるクランプ信号CLMP信号で直流再生する必要
がある訳である。
回路の一例である。同図中12はコンデンサ、13はス
イッチング素子、14はフォロア、15は直流バイアス
回路、16はスイッチング素子13のドライバである。
図13においてスイッチング素子13が閉じると、図1
3中のA点における電圧はゼロボルトになる。スイッチ
ング素子13がオープンになった後も、直流的電流の流
入流出がなければ直流的なゼロボルトは一定となる。す
なわち、空送り部X或は光シールド部Yで直流再生され
ると、それ以降の画像信号は絶対的なゼロボルトを基準
にして変化することになる。しかし、実際の回路ではコ
ンデンサ12のリーク電流やスイッチング素子13のオ
フ時の漏れ電流、或はフォロア14のゲート電流などが
あるために、電流の流入流出はゼロにならない。それ
で、1主走査毎に1回、例えば図12(c)のタイミン
グによるクランプ信号CLMP信号で直流再生する必要
がある訳である。
【0012】今、仮に有効画素数5000画素のCCD
イメージセンサを15MHzの画素クロックで動作させ
たとすると、2つの転送チャンネルに対応する2相の転
送クロックは7.5MHzになり、1主走査の時間は約
350μSになるので、この間ゼロボルトを固定する必
要がある。コンデンサ12の値を大きくすると低周波ま
で通過することになるが、スイッチング素子13の電流
容量を大きくしなければならず、ドライバ16の負担も
増えるので、そのあたりを考慮してコンデンサ12の値
を決めなければならない。直流バイアス回路15の目的
は、フォロア14の出力オフセット電圧を調整するため
であり、具体的には基準電圧から可変抵抗器で分圧し
て、接地〜ドレイン間に入れたコンデンサに印加する。
なお、図11の回路における合成回路8及び直流結合の
アンプ9は、図9の回路における動作と同一の動作を行
う。
イメージセンサを15MHzの画素クロックで動作させ
たとすると、2つの転送チャンネルに対応する2相の転
送クロックは7.5MHzになり、1主走査の時間は約
350μSになるので、この間ゼロボルトを固定する必
要がある。コンデンサ12の値を大きくすると低周波ま
で通過することになるが、スイッチング素子13の電流
容量を大きくしなければならず、ドライバ16の負担も
増えるので、そのあたりを考慮してコンデンサ12の値
を決めなければならない。直流バイアス回路15の目的
は、フォロア14の出力オフセット電圧を調整するため
であり、具体的には基準電圧から可変抵抗器で分圧し
て、接地〜ドレイン間に入れたコンデンサに印加する。
なお、図11の回路における合成回路8及び直流結合の
アンプ9は、図9の回路における動作と同一の動作を行
う。
【0013】次に、一般的なCCDイメージセンサにつ
いて説明する。CCDイメージセンサが複数の電荷転送
チャンネルを持つ理由は、単一の電荷転送チャンネルで
は例えば15MHzという高速クロックでは作動しない
ため、全画素の電荷を複数の電荷転送チャンネルに分け
て伝送するようにし、CCDイメージセンサ全体を高速
動作させるためである。例えば、5000画素のフォト
デテクタ部を有するCCDイメージセンサでは、その画
素を奇数番目の画素と偶数番目の画素との2500ずつ
に分け、2分の1の7.5MHzの転送クロックで奇
数、偶数交互に伝送を行う。CCDはカプル・チャージ
・デバイスを略したもので、バケツリレーの要領で次々
に各画素の電荷を転送していく。転送された電荷は出力
回路で電圧に変換されて出力される。
いて説明する。CCDイメージセンサが複数の電荷転送
チャンネルを持つ理由は、単一の電荷転送チャンネルで
は例えば15MHzという高速クロックでは作動しない
ため、全画素の電荷を複数の電荷転送チャンネルに分け
て伝送するようにし、CCDイメージセンサ全体を高速
動作させるためである。例えば、5000画素のフォト
デテクタ部を有するCCDイメージセンサでは、その画
素を奇数番目の画素と偶数番目の画素との2500ずつ
に分け、2分の1の7.5MHzの転送クロックで奇
数、偶数交互に伝送を行う。CCDはカプル・チャージ
・デバイスを略したもので、バケツリレーの要領で次々
に各画素の電荷を転送していく。転送された電荷は出力
回路で電圧に変換されて出力される。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかし、高速で動作さ
せるために複数の電荷転送チャンネルを持つCCDイメ
ージセンサは、出力電圧が転送チャンネル毎にばらつく
という問題点を持っている。この理由としては、画素が
分割されて異なる電荷転送チャンネルを通過してくるた
めに転送効率が違うこと、また、出力回路の素子の定数
のばらつきによっても出力電圧が異なってくる。出力電
圧のばらつきは補正されなければならないが、仮にこの
補正を図9の回路における反転アンプ2,5で行うとす
ると、1つの方法としては、反転アンプ2,5のゲイン
を可変抵抗で調整できるようにし、オシロスコープで合
成回路8から出力される合成された画像信号の出力波形
を見ながら、各転送チャンネルの出力電圧が一定となる
ように可変抵抗の抵抗値を調整する。このようにすれ
ば、複数の電荷転送チャンネルを持つCCDイメージセ
ンサの転送チャンネル毎の出力電圧のばらつきを補正す
ることができる。ところが、この方式では各転送チャン
ネルの出力電圧を一定とするための調整作業が面倒でな
うえ、経時変化や温度ドリフトには対応することができ
ないという不具合があった。
せるために複数の電荷転送チャンネルを持つCCDイメ
ージセンサは、出力電圧が転送チャンネル毎にばらつく
という問題点を持っている。この理由としては、画素が
分割されて異なる電荷転送チャンネルを通過してくるた
めに転送効率が違うこと、また、出力回路の素子の定数
のばらつきによっても出力電圧が異なってくる。出力電
圧のばらつきは補正されなければならないが、仮にこの
補正を図9の回路における反転アンプ2,5で行うとす
ると、1つの方法としては、反転アンプ2,5のゲイン
を可変抵抗で調整できるようにし、オシロスコープで合
成回路8から出力される合成された画像信号の出力波形
を見ながら、各転送チャンネルの出力電圧が一定となる
ように可変抵抗の抵抗値を調整する。このようにすれ
ば、複数の電荷転送チャンネルを持つCCDイメージセ
ンサの転送チャンネル毎の出力電圧のばらつきを補正す
ることができる。ところが、この方式では各転送チャン
ネルの出力電圧を一定とするための調整作業が面倒でな
うえ、経時変化や温度ドリフトには対応することができ
ないという不具合があった。
【0015】本発明は上述の問題点に鑑みてなされたも
のであり、複数の転送チャンネルを持つイメージセンサ
の各転送チャンネル間の出力電圧のばらつきを簡略な構
成で容易に補正することができる画像読み取り装置を提
供することを目的としている。
のであり、複数の転送チャンネルを持つイメージセンサ
の各転送チャンネル間の出力電圧のばらつきを簡略な構
成で容易に補正することができる画像読み取り装置を提
供することを目的としている。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、複数の信号転送チャンネルを有するイメー
ジセンサと、前記各信号転送チャンネル毎に設けられ、
該転送チャンネルの出力信号に対して所定の処理を行っ
て画像信号を抽出する複数の信号処理回路と、前記抽出
された各転送チャンネル街の画像信号を所定周期ごとに
切リ換えつつ選択して合成する選択合成回路と、前記選
択合成回路から出力される合成画像信号をデジタル信号
に変換するA/Dコンバータとを備える画像読み取リ装
置であって、前記信号処理回路は、前記各転送チャンネ
ル毎に設けられて各転送チャンネルの出力信号のゲイン
調整を行う複数の増幅器と、前記各転送チャンネルの画
像信号レベルに基づいて該各転送チャンネル間の出力信
号レベルのばらつきを補正するように前記各増幅器にお
けるゲイン設定を行う設定手段とを有しており、前記選
択合成回路は、前記設定手段により前記各増幅器のゲイ
ン設定を行う際に、当該ゲイン設定中の増幅器に対応す
る特定の転送チャンネルの画像信号を連続して選択する
構成とした。
に本発明は、複数の信号転送チャンネルを有するイメー
ジセンサと、前記各信号転送チャンネル毎に設けられ、
該転送チャンネルの出力信号に対して所定の処理を行っ
て画像信号を抽出する複数の信号処理回路と、前記抽出
された各転送チャンネル街の画像信号を所定周期ごとに
切リ換えつつ選択して合成する選択合成回路と、前記選
択合成回路から出力される合成画像信号をデジタル信号
に変換するA/Dコンバータとを備える画像読み取リ装
置であって、前記信号処理回路は、前記各転送チャンネ
ル毎に設けられて各転送チャンネルの出力信号のゲイン
調整を行う複数の増幅器と、前記各転送チャンネルの画
像信号レベルに基づいて該各転送チャンネル間の出力信
号レベルのばらつきを補正するように前記各増幅器にお
けるゲイン設定を行う設定手段とを有しており、前記選
択合成回路は、前記設定手段により前記各増幅器のゲイ
ン設定を行う際に、当該ゲイン設定中の増幅器に対応す
る特定の転送チャンネルの画像信号を連続して選択する
構成とした。
【0017】
【作用】上述した構成による本発明によれば、各転送チ
ャンネルの画像信号レベルに基づいて設定手段が各転送
チャンネル毎の増幅器によるゲインを設定し、各転送チ
ャンネルの出力信号レベルが先に設定されたゲインの値
となるように増幅器が出力信号を増幅するようにして、
複雑な調整作業を行うことなく各転送チャンネル間の出
力信号レベルのばらつきが補正されるようにしたので、
構成上有利であると共に容易にばらつきの補正を行える
ようになり、補正作業の効率化及び低コスト化を図るこ
とができる。また、各増幅器によるゲイン設定を行う際
に選択合成回路が、当該ゲイン設定中の増幅器に対応す
る特定の転送チャンネルの画像信号を連続して選択する
ようにしたので、特定の転送チャンネルに対応する増幅
器によるゲイン設定を容易に行えるようにすることがで
きる。
ャンネルの画像信号レベルに基づいて設定手段が各転送
チャンネル毎の増幅器によるゲインを設定し、各転送チ
ャンネルの出力信号レベルが先に設定されたゲインの値
となるように増幅器が出力信号を増幅するようにして、
複雑な調整作業を行うことなく各転送チャンネル間の出
力信号レベルのばらつきが補正されるようにしたので、
構成上有利であると共に容易にばらつきの補正を行える
ようになり、補正作業の効率化及び低コスト化を図るこ
とができる。また、各増幅器によるゲイン設定を行う際
に選択合成回路が、当該ゲイン設定中の増幅器に対応す
る特定の転送チャンネルの画像信号を連続して選択する
ようにしたので、特定の転送チャンネルに対応する増幅
器によるゲイン設定を容易に行えるようにすることがで
きる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明の第1実施例による画像読み取り装
置のアナログ処理回路の一例を示すブロック図である。
図1中21は、奇数番目の画素の電荷出力端子Oと偶数
番目の画素の電荷出力端子Eとを有するCCDイメージ
センサであり、互いに180°位相がずれた転送クロッ
ク信号φ1,φ2及びリセット信号RS1,RS2の入
力に基づいて、前記電荷出力端子O,Eから奇数番目の
画素及び偶数番目の画素の電荷を出力するものである。
尚、CCDイメージセンサ21には、全画素転送毎に1
回の周期でシフトゲート信号SHも合わせて入力され、
このシフトゲート信号SHの入力に伴って、CCDイメ
ージセンサ21の各フォトデテクタ(図示せず)に蓄積
された光による電荷がCCDに渡される。
する。図1は本発明の第1実施例による画像読み取り装
置のアナログ処理回路の一例を示すブロック図である。
図1中21は、奇数番目の画素の電荷出力端子Oと偶数
番目の画素の電荷出力端子Eとを有するCCDイメージ
センサであり、互いに180°位相がずれた転送クロッ
ク信号φ1,φ2及びリセット信号RS1,RS2の入
力に基づいて、前記電荷出力端子O,Eから奇数番目の
画素及び偶数番目の画素の電荷を出力するものである。
尚、CCDイメージセンサ21には、全画素転送毎に1
回の周期でシフトゲート信号SHも合わせて入力され、
このシフトゲート信号SHの入力に伴って、CCDイメ
ージセンサ21の各フォトデテクタ(図示せず)に蓄積
された光による電荷がCCDに渡される。
【0019】前記出力端子O,Eから出力された奇数番
目、偶数番目の画素の電荷、すなわちCCD出力は、A
C結合でゲインを外部からのゲイン設定信号G1,G2
で変更制御できる増幅回路22,25で増幅され、サン
プルホールド回路24,27に入力される。このサンプ
ルホールド回路24,27では、これらに入力されるサ
ンプルホールド信号SH1,SH2がハイレベルである
間は、増幅回路22,25から出力されたCCD出力信
号のサンプルを行い、前記サンプルホールド信号SH
1,SH2がローレベルである間はサンプルした値をホ
ールドする。23,26は直流再生回路であり、この直
流再生回路23,26では、前記サンプルホールド回路
24,27でサンプルホールドされたCCD信号が黒レ
ベルをゼロボルトとして直流再生され、CCD信号から
の画像信号部分の抽出が行われる。
目、偶数番目の画素の電荷、すなわちCCD出力は、A
C結合でゲインを外部からのゲイン設定信号G1,G2
で変更制御できる増幅回路22,25で増幅され、サン
プルホールド回路24,27に入力される。このサンプ
ルホールド回路24,27では、これらに入力されるサ
ンプルホールド信号SH1,SH2がハイレベルである
間は、増幅回路22,25から出力されたCCD出力信
号のサンプルを行い、前記サンプルホールド信号SH
1,SH2がローレベルである間はサンプルした値をホ
ールドする。23,26は直流再生回路であり、この直
流再生回路23,26では、前記サンプルホールド回路
24,27でサンプルホールドされたCCD信号が黒レ
ベルをゼロボルトとして直流再生され、CCD信号から
の画像信号部分の抽出が行われる。
【0020】28は、入力されるセレクト信号SELが
ハイレベルである間は前記直流再生回路23の出力を選
択し、ローレベルである間は前記直流再生回路26の出
力を選択して、直流再生回路23,26で直流再生され
た、互いに位相が180°ずれた奇数番目、偶数番目の
画素の画像信号を交互に切り換えつつ合成する合成回路
である。29のアンプは直流結合であり、ADコンバー
タ30の入力電圧に合うように、前記合成回路28から
出力される画像信号を増幅するものである。ここまでの
構成は、前記増幅回路22,25を除いて従来の図11
の回路構成と同様である。
ハイレベルである間は前記直流再生回路23の出力を選
択し、ローレベルである間は前記直流再生回路26の出
力を選択して、直流再生回路23,26で直流再生され
た、互いに位相が180°ずれた奇数番目、偶数番目の
画素の画像信号を交互に切り換えつつ合成する合成回路
である。29のアンプは直流結合であり、ADコンバー
タ30の入力電圧に合うように、前記合成回路28から
出力される画像信号を増幅するものである。ここまでの
構成は、前記増幅回路22,25を除いて従来の図11
の回路構成と同様である。
【0021】そして、図1の回路では、さらに次の機能
が追加されている。第1として、合成回路28の制御信
号を、直流再生回路23,26の出力信号を交互に選択
する平常状態における信号と、増幅回路22,25によ
るゲインを前記ゲイン信号G1,G2で変更制御するた
めに直流再生回路23,26の出力信号のうちどちらか
一方を連続して選択する状態における信号との2つから
選択する選択回路31である。この選択回路31は2つ
のアンドゲート31a,31bと1つのオアゲート31
cとから構成され、アンドゲート31aには、前記平常
状態ではハイレベル、前記連続選択状態ではローレベル
となる制御信号OPEの反転信号と、前記連続選択状態
において選択する直流再生回路23,26の出力信号が
いずれかを設定する(直流再生回路23の出力信号を選
択する場合はローレベル、直流再生回路26はハイレベ
ル)ゲイン設定選択信号O/Eとが入力される。アンド
ゲート31bには前記制御信号OPEとセレクト信号S
ELとが入力される。オアゲート31cは2つのアンド
ゲート31a,31bの論理和を出力する。そして、前
記オアゲート31cの出力信号がローレベルであるとき
には、前記合成回路28にて直流再生回路23の出力信
号が選択されてアンプ29に出力され、オアゲート31
cの出力信号がハイレベルであるときには、前記合成回
路28にて直流再生回路26の出力信号が選択されてア
ンプ29に出力される。
が追加されている。第1として、合成回路28の制御信
号を、直流再生回路23,26の出力信号を交互に選択
する平常状態における信号と、増幅回路22,25によ
るゲインを前記ゲイン信号G1,G2で変更制御するた
めに直流再生回路23,26の出力信号のうちどちらか
一方を連続して選択する状態における信号との2つから
選択する選択回路31である。この選択回路31は2つ
のアンドゲート31a,31bと1つのオアゲート31
cとから構成され、アンドゲート31aには、前記平常
状態ではハイレベル、前記連続選択状態ではローレベル
となる制御信号OPEの反転信号と、前記連続選択状態
において選択する直流再生回路23,26の出力信号が
いずれかを設定する(直流再生回路23の出力信号を選
択する場合はローレベル、直流再生回路26はハイレベ
ル)ゲイン設定選択信号O/Eとが入力される。アンド
ゲート31bには前記制御信号OPEとセレクト信号S
ELとが入力される。オアゲート31cは2つのアンド
ゲート31a,31bの論理和を出力する。そして、前
記オアゲート31cの出力信号がローレベルであるとき
には、前記合成回路28にて直流再生回路23の出力信
号が選択されてアンプ29に出力され、オアゲート31
cの出力信号がハイレベルであるときには、前記合成回
路28にて直流再生回路26の出力信号が選択されてア
ンプ29に出力される。
【0022】第2として、2つの増幅回路22,25の
うちゲインを変更制御する増幅回路に対応する転送チャ
ンネルの画像信号の最大値をホールドするピークホール
ド回路32が設けられている。さらに第3に、前記ピー
クホールド回路32のホールド値をAD変換するADコ
ンバータを内蔵或は外付けに持ち、このADコンバータ
で変換されたデジタルデータに基づいて設定される前記
ゲイン設定信号G1,G2と、前記制御信号OPEと、
ゲイン設定選択信号O/Eと、前記ピークホールド回路
32のホールド値をリセットするためのリセット信号R
Sとを出力し、前記ADコンバータで変換されたデジタ
ルデータに基づいて前記ゲイン設定信号G1,G2の値
を演算、設定することができる機能を備えたCPU33
が設けられている。
うちゲインを変更制御する増幅回路に対応する転送チャ
ンネルの画像信号の最大値をホールドするピークホール
ド回路32が設けられている。さらに第3に、前記ピー
クホールド回路32のホールド値をAD変換するADコ
ンバータを内蔵或は外付けに持ち、このADコンバータ
で変換されたデジタルデータに基づいて設定される前記
ゲイン設定信号G1,G2と、前記制御信号OPEと、
ゲイン設定選択信号O/Eと、前記ピークホールド回路
32のホールド値をリセットするためのリセット信号R
Sとを出力し、前記ADコンバータで変換されたデジタ
ルデータに基づいて前記ゲイン設定信号G1,G2の値
を演算、設定することができる機能を備えたCPU33
が設けられている。
【0023】図2(a)〜(j)は、図1における各信
号のタイミング図であり、図2(a),(b)は前記C
CDイメージセンサ21の出力端子O,Eから出力され
た奇数番目、偶数番目の画素のCCD出力、(c),
(d)は前記サンプルホールド信号SH1,SH2、
(g)は前記セレクト信号SEL、(h)は前記制御信
号OPE、(i)は前記ゲイン設定選択信号O/Eの波
形を示すものである。
号のタイミング図であり、図2(a),(b)は前記C
CDイメージセンサ21の出力端子O,Eから出力され
た奇数番目、偶数番目の画素のCCD出力、(c),
(d)は前記サンプルホールド信号SH1,SH2、
(g)は前記セレクト信号SEL、(h)は前記制御信
号OPE、(i)は前記ゲイン設定選択信号O/Eの波
形を示すものである。
【0024】次に、図1に示すアナログ処理回路の動作
について説明する。前記CCDイメージセンサ21の出
力端子O,Eから出力された奇数番目、偶数番目の画素
のCCD出力は、前記増幅回路22,25を経てサンプ
ルホールド回路24,27に入力される。このサンプル
ホールド回路24,27では、図2(c),(d)のサ
ンプルホールド信号SH1,SH2がハイレベルのとき
に、図2(a),(b)に示すCCD出力の画像信号部
分(図2(a),(b)の波形における立ち下がり以降
の平坦部分)をサンプルし、前記サンプルホールド信号
SH1,SH2がローレベルであるときにサンプルした
レベルをホールドする。図2(e),(f)に示す奇数
画素、偶数画素の画像信号O−SH,E−SHは、サン
プルホールド回路24,27にてサンプルホールドされ
た信号を直流再生回路23,26で直流再生した後の、
前記CCD出力から画像信号部分を抽出した信号に相当
する。
について説明する。前記CCDイメージセンサ21の出
力端子O,Eから出力された奇数番目、偶数番目の画素
のCCD出力は、前記増幅回路22,25を経てサンプ
ルホールド回路24,27に入力される。このサンプル
ホールド回路24,27では、図2(c),(d)のサ
ンプルホールド信号SH1,SH2がハイレベルのとき
に、図2(a),(b)に示すCCD出力の画像信号部
分(図2(a),(b)の波形における立ち下がり以降
の平坦部分)をサンプルし、前記サンプルホールド信号
SH1,SH2がローレベルであるときにサンプルした
レベルをホールドする。図2(e),(f)に示す奇数
画素、偶数画素の画像信号O−SH,E−SHは、サン
プルホールド回路24,27にてサンプルホールドされ
た信号を直流再生回路23,26で直流再生した後の、
前記CCD出力から画像信号部分を抽出した信号に相当
する。
【0025】前記画像信号O−SH,E−SHは前記合
成回路28において、図2(g)のセレクト信号SEL
に基づいて合成されるが、図2の[A]区間のように、
図2(h)の制御信号OPEがハイレベルとなって、前
記直流再生回路23,26の出力信号を交互に選択する
平常状態が指定されているときには、合成回路28から
出力される合成画像信号は図2(j)に示すように、前
記奇数画素の画像信号O−SHの部分と偶数画素の画像
信号E−SHの部分とで信号レベルが一致しない矩形波
状となってしまう。そこで、まず、図2の[B]区間の
ように、前記CPU33から出力される図2(h)の制
御信号OPEをローレベルとして、前記直流再生回路2
3,26の出力信号のうちどちらか一方を連続して選択
する連続選択状態を指定し、また、前記CPU33から
出力される図2(i)のゲイン設定選択信号O/Eをロ
ーレベルとして、直流再生回路23の出力信号を選択す
る状態を指定し、これにより、前記オアゲート31cか
らローレベルの信号を連続して出力させて、前記合成回
路28にて前記直流再生回路23の出力信号を連続して
選択させ、図2(e)に示す奇数画素の画像信号O−S
Hのレベル調整を行う。
成回路28において、図2(g)のセレクト信号SEL
に基づいて合成されるが、図2の[A]区間のように、
図2(h)の制御信号OPEがハイレベルとなって、前
記直流再生回路23,26の出力信号を交互に選択する
平常状態が指定されているときには、合成回路28から
出力される合成画像信号は図2(j)に示すように、前
記奇数画素の画像信号O−SHの部分と偶数画素の画像
信号E−SHの部分とで信号レベルが一致しない矩形波
状となってしまう。そこで、まず、図2の[B]区間の
ように、前記CPU33から出力される図2(h)の制
御信号OPEをローレベルとして、前記直流再生回路2
3,26の出力信号のうちどちらか一方を連続して選択
する連続選択状態を指定し、また、前記CPU33から
出力される図2(i)のゲイン設定選択信号O/Eをロ
ーレベルとして、直流再生回路23の出力信号を選択す
る状態を指定し、これにより、前記オアゲート31cか
らローレベルの信号を連続して出力させて、前記合成回
路28にて前記直流再生回路23の出力信号を連続して
選択させ、図2(e)に示す奇数画素の画像信号O−S
Hのレベル調整を行う。
【0026】前記奇数画素の画像信号O−SHのレベル
調整は、以下のような手順で行われる。まず、上述のよ
うにして前記合成回路28から連続して出力される、図
2(j)の[B]区間の合成画像信号、即ち前記奇数画
素の画像信号O−SHをアンプ29で増幅した後に、ピ
ークホールド回路32で画像信号O−SHの最大値、即
ち、白色基準板を読み込んだ時の画像信号O−SHの値
をホールドし、このホールド値をCPU33のADコン
バータでAD変換する。続いて、前記ホールド値のAD
変換値に基づいて、白色基準板を読み込んだ時の画像信
号O−SHの値が基準値となるように前記CPU33が
前記増幅回路22の増幅率を演算して前記ゲイン設定信
号G1の値を設定し、これを増幅回路22に対して出力
する。これにより、前記CCDイメージセンサ21の出
力端子Oから出力される奇数画素のCCD出力は、白色
基準板読込時の出力を基準値に合わせた状態に補正され
る。
調整は、以下のような手順で行われる。まず、上述のよ
うにして前記合成回路28から連続して出力される、図
2(j)の[B]区間の合成画像信号、即ち前記奇数画
素の画像信号O−SHをアンプ29で増幅した後に、ピ
ークホールド回路32で画像信号O−SHの最大値、即
ち、白色基準板を読み込んだ時の画像信号O−SHの値
をホールドし、このホールド値をCPU33のADコン
バータでAD変換する。続いて、前記ホールド値のAD
変換値に基づいて、白色基準板を読み込んだ時の画像信
号O−SHの値が基準値となるように前記CPU33が
前記増幅回路22の増幅率を演算して前記ゲイン設定信
号G1の値を設定し、これを増幅回路22に対して出力
する。これにより、前記CCDイメージセンサ21の出
力端子Oから出力される奇数画素のCCD出力は、白色
基準板読込時の出力を基準値に合わせた状態に補正され
る。
【0027】次に、図2の[C]区間のように、前記制
御信号OPEをローレベルのままとし、一方、前記ゲイ
ン設定選択信号O/Eをハイレベルとして、直流再生回
路26の出力信号を選択する状態を指定し、これによ
り、前記オアゲート25cからハイレベルの信号を連続
して出力させて、前記合成回路28にて前記直流再生回
路26の出力信号を連続して選択させ、図2(f)に示
す偶数画素の画像信号E−SHのレベル調整を行う。
御信号OPEをローレベルのままとし、一方、前記ゲイ
ン設定選択信号O/Eをハイレベルとして、直流再生回
路26の出力信号を選択する状態を指定し、これによ
り、前記オアゲート25cからハイレベルの信号を連続
して出力させて、前記合成回路28にて前記直流再生回
路26の出力信号を連続して選択させ、図2(f)に示
す偶数画素の画像信号E−SHのレベル調整を行う。
【0028】前記偶数画素の画像信号E−SHのレベル
調整は、以下のような手順で行われる。まず、上述のよ
うにして前記合成回路28から連続して出力される、図
2(j)の[C]区間の合成画像信号、即ち前記偶数画
素の画像信号E−SHをアンプ29で増幅した後に、ピ
ークホールド回路22で画像信号E−SHの最大値、即
ち、白色基準板を読み込んだ時の画像信号E−SHの値
をホールドし、このホールド値をCPU26のADコン
バータでAD変換する。続いて、前記ホールド値のAD
変換値に基づいて、白色基準板を読み込んだ時の画像信
号E−SHの値が基準値となるように前記CPU26が
前記増幅回路25の増幅率を演算して前記ゲイン設定信
号G2の値を設定し、これを増幅回路25に対して出力
する。これにより、前記CCDイメージセンサ21の出
力端子Eから出力される偶数画素のCCD出力は、白色
基準板読込時の出力を基準値に合わせた状態に補正され
る。
調整は、以下のような手順で行われる。まず、上述のよ
うにして前記合成回路28から連続して出力される、図
2(j)の[C]区間の合成画像信号、即ち前記偶数画
素の画像信号E−SHをアンプ29で増幅した後に、ピ
ークホールド回路22で画像信号E−SHの最大値、即
ち、白色基準板を読み込んだ時の画像信号E−SHの値
をホールドし、このホールド値をCPU26のADコン
バータでAD変換する。続いて、前記ホールド値のAD
変換値に基づいて、白色基準板を読み込んだ時の画像信
号E−SHの値が基準値となるように前記CPU26が
前記増幅回路25の増幅率を演算して前記ゲイン設定信
号G2の値を設定し、これを増幅回路25に対して出力
する。これにより、前記CCDイメージセンサ21の出
力端子Eから出力される偶数画素のCCD出力は、白色
基準板読込時の出力を基準値に合わせた状態に補正され
る。
【0029】以上の動作により、画像信号を取り込む前
に、白色基準板を読み込んだ時のCCD出力レベルが奇
数画素、偶数画素共に基準値となるように増幅回路2
2,25によるゲインが設定されるので、画像信号取込
時の奇数、偶数画素間のCCD出力のばらつきが補正さ
れ、信号転送チャンネル毎の出力のばらつきが補正され
た良好な画像信号を得ることができる。
に、白色基準板を読み込んだ時のCCD出力レベルが奇
数画素、偶数画素共に基準値となるように増幅回路2
2,25によるゲインが設定されるので、画像信号取込
時の奇数、偶数画素間のCCD出力のばらつきが補正さ
れ、信号転送チャンネル毎の出力のばらつきが補正され
た良好な画像信号を得ることができる。
【0030】次に、本発明の第2実施例について説明す
る。図3は本発明の第2実施例による画像読み取り装置
のアナログ処理回路の一例を示すブロック図である。図
3の回路において増幅回路22,25、サンプルホール
ド回路24,27、直流再生回路23,26、合成回路
28、アンプ29、及びADコンバータ30は図1の回
路と同じである。また、CCDイメージセンサ21、増
幅回路22,25、サンプルホールド回路24,27、
及び直流再生回路23,26における入出力信号、即
ち、CCDイメージセンサ21の出力端子O,Eから出
力された奇数番目、偶数番目の画素のCCD出力、サン
プルホールド信号SH1,SH2、及び奇数画素、偶数
画素の画像信号O−SH,E−SHはそれぞれ図4
(a)乃至(f)に示すように、図2(a)乃至(f)
と同一の波形であるが、図3の回路では、合成回路28
には、図4(g)に示すように図2(g)と同一波形の
セレクト信号SELが直接入力され、合成回路28が常
に奇数画素の画像信号O−SH、偶数画素の画像信号E
−SHを交互に選択するように構成されている。
る。図3は本発明の第2実施例による画像読み取り装置
のアナログ処理回路の一例を示すブロック図である。図
3の回路において増幅回路22,25、サンプルホール
ド回路24,27、直流再生回路23,26、合成回路
28、アンプ29、及びADコンバータ30は図1の回
路と同じである。また、CCDイメージセンサ21、増
幅回路22,25、サンプルホールド回路24,27、
及び直流再生回路23,26における入出力信号、即
ち、CCDイメージセンサ21の出力端子O,Eから出
力された奇数番目、偶数番目の画素のCCD出力、サン
プルホールド信号SH1,SH2、及び奇数画素、偶数
画素の画像信号O−SH,E−SHはそれぞれ図4
(a)乃至(f)に示すように、図2(a)乃至(f)
と同一の波形であるが、図3の回路では、合成回路28
には、図4(g)に示すように図2(g)と同一波形の
セレクト信号SELが直接入力され、合成回路28が常
に奇数画素の画像信号O−SH、偶数画素の画像信号E
−SHを交互に選択するように構成されている。
【0031】そして、図3に示す本第2実施例の回路で
は、さらに次の機能が追加されている。第1として、白
色基準板(図示せず)の1主走査分のデジタル画像信号
を記憶するための記憶素子42が追加され、第2とし
て、記憶素子42をアクセスして増幅回路22,25の
ゲインを演算する機能と3チャンネルのDAコンバータ
を内蔵したMPU43が追加されている。
は、さらに次の機能が追加されている。第1として、白
色基準板(図示せず)の1主走査分のデジタル画像信号
を記憶するための記憶素子42が追加され、第2とし
て、記憶素子42をアクセスして増幅回路22,25の
ゲインを演算する機能と3チャンネルのDAコンバータ
を内蔵したMPU43が追加されている。
【0032】さて、図3の回路における合成回路28か
ら出力される合成画像信号は図5に示すように奇数、偶
数画素の出力レベル差によって矩形波状になっているの
と同時に、出力レベルが周辺部分で落ち込み中央部分で
持ち上がっている。これは、シェーディングと呼ばれる
もので、光源が蛍光灯である場合に周辺部で光量が落ち
るために生じがちな現象である。そこで、図3の回路で
はシェーディングの補正を、ADコンバータ30で画像
信号をデジタルデータに変換して後で行う。ADコンバ
ータ30は基準電圧VHで入力電圧のフルスケールを設
定するが、一般に初期状態では、光源の光量が一定でな
いためADコンバータ30の基準電圧VHを一定値にす
ることができない。このため、アナログのピークホール
ド回路で1主走査中の入力電圧の最大値、つまりピーク
ホールド電圧Vpeakを検出し、MPU43付属のADコ
ンバータでMPU43内に取り込んで、入力電圧の最大
値Vpeakに余裕を見た係数k(k=1.1)を掛ける
(VH=k×Vpeak)演算を行い、ADコンバータ30
の基準電圧VHを設定する。
ら出力される合成画像信号は図5に示すように奇数、偶
数画素の出力レベル差によって矩形波状になっているの
と同時に、出力レベルが周辺部分で落ち込み中央部分で
持ち上がっている。これは、シェーディングと呼ばれる
もので、光源が蛍光灯である場合に周辺部で光量が落ち
るために生じがちな現象である。そこで、図3の回路で
はシェーディングの補正を、ADコンバータ30で画像
信号をデジタルデータに変換して後で行う。ADコンバ
ータ30は基準電圧VHで入力電圧のフルスケールを設
定するが、一般に初期状態では、光源の光量が一定でな
いためADコンバータ30の基準電圧VHを一定値にす
ることができない。このため、アナログのピークホール
ド回路で1主走査中の入力電圧の最大値、つまりピーク
ホールド電圧Vpeakを検出し、MPU43付属のADコ
ンバータでMPU43内に取り込んで、入力電圧の最大
値Vpeakに余裕を見た係数k(k=1.1)を掛ける
(VH=k×Vpeak)演算を行い、ADコンバータ30
の基準電圧VHを設定する。
【0033】なお、本実施例ではピークホールド回路を
使わないで、後で述べる奇数、偶数画素のバランス調整
に使うために用意された前記記憶素子42にADコンバ
ータ30からデジタルデータを取り込んで、MPU43
で入力電圧の最大値Vpeakを検出し、アナログのピーク
ホールド回路を省略している。
使わないで、後で述べる奇数、偶数画素のバランス調整
に使うために用意された前記記憶素子42にADコンバ
ータ30からデジタルデータを取り込んで、MPU43
で入力電圧の最大値Vpeakを検出し、アナログのピーク
ホールド回路を省略している。
【0034】図6は、図3の回路におけるMPU43の
処理の一例を示したゼネラルフローチャートである。以
下、図6に基づいて奇数、偶数画素間のCCD出力レベ
ルのばらつき補正処理を説明する。まず、ADコンバー
タ30の基準電圧Vhを入力電圧が飽和しない範囲で仮
に設定し、ゲイン可変の増幅回路22,25のゲインD
A2,DA3を仮に同じ値に設定する。次に、白色基準
板を1主走査(2×n画素)分読み込んで、そのAD変
換後のデジタルデータの最大値MAXを記憶素子42内
に記憶させ、この記憶された最大値MAXに基づいてA
Dコンバータ30の正式な基準電圧VHを設定する。こ
れを式で示すと、VH=Vh×k×MAX/255とな
る。
処理の一例を示したゼネラルフローチャートである。以
下、図6に基づいて奇数、偶数画素間のCCD出力レベ
ルのばらつき補正処理を説明する。まず、ADコンバー
タ30の基準電圧Vhを入力電圧が飽和しない範囲で仮
に設定し、ゲイン可変の増幅回路22,25のゲインD
A2,DA3を仮に同じ値に設定する。次に、白色基準
板を1主走査(2×n画素)分読み込んで、そのAD変
換後のデジタルデータの最大値MAXを記憶素子42内
に記憶させ、この記憶された最大値MAXに基づいてA
Dコンバータ30の正式な基準電圧VHを設定する。こ
れを式で示すと、VH=Vh×k×MAX/255とな
る。
【0035】続いて、白色基準板を1主走査(2×n画
素)分読み込んで、そのAD変換後のデジタルデータを
記憶素子42内に記憶させ、この記憶された2×n画素
分のにデジタルデータに基づいて、奇数、偶数、各n画
素分のデジタルデータの平均値Oav,Eavを次式より算
出する。 そして、本実施例の場合には図5に示すように偶数画素
のCCD出力レベルが奇数画素のCCD出力レベルより
も低いので、偶数画素のCCD出力レベルを奇数画素の
CCD出力レベルまで補正するために、MPU43が増
幅回路25の正式なゲインDA3をDA3=Oav/Eav
から算出して設定する。
素)分読み込んで、そのAD変換後のデジタルデータを
記憶素子42内に記憶させ、この記憶された2×n画素
分のにデジタルデータに基づいて、奇数、偶数、各n画
素分のデジタルデータの平均値Oav,Eavを次式より算
出する。 そして、本実施例の場合には図5に示すように偶数画素
のCCD出力レベルが奇数画素のCCD出力レベルより
も低いので、偶数画素のCCD出力レベルを奇数画素の
CCD出力レベルまで補正するために、MPU43が増
幅回路25の正式なゲインDA3をDA3=Oav/Eav
から算出して設定する。
【0036】次に、図7のゼネラルフローチャートによ
って、図3の回路におけるMPU43の他のばらつき補
正処理例を説明する。ここでは、正式なADコンバータ
30の基準電圧VHの算出後にデジタルデータを記憶素
子42内に記憶させるまでは上述と同様の流れである
が、図6の例が奇数、偶数、各n画素分のデジタルデー
タの平均値Oav,Eavを算出したのに対し、図7の例で
はn画素分のデジタルデータの最大値OMAX,EMAXを求
めている。そして、MPU43が増幅回路25の正式な
ゲインDA3をDA3=OMAX/EMAXから算出して設定
する。図7の最大値OMAX,EMAXを求める演算は図6の
平均値Oav,Eavを求める円座よりも短時間で実行でき
るが、より高速性を要求される場合には1主走査の中央
部分をとれば(光源が蛍光灯である場合)、略々最大値
を示すものと考えられる。
って、図3の回路におけるMPU43の他のばらつき補
正処理例を説明する。ここでは、正式なADコンバータ
30の基準電圧VHの算出後にデジタルデータを記憶素
子42内に記憶させるまでは上述と同様の流れである
が、図6の例が奇数、偶数、各n画素分のデジタルデー
タの平均値Oav,Eavを算出したのに対し、図7の例で
はn画素分のデジタルデータの最大値OMAX,EMAXを求
めている。そして、MPU43が増幅回路25の正式な
ゲインDA3をDA3=OMAX/EMAXから算出して設定
する。図7の最大値OMAX,EMAXを求める演算は図6の
平均値Oav,Eavを求める円座よりも短時間で実行でき
るが、より高速性を要求される場合には1主走査の中央
部分をとれば(光源が蛍光灯である場合)、略々最大値
を示すものと考えられる。
【0037】続いて、図8のゼネラルフローチャートに
よって、図3の回路におけるMPU43のさらに他のば
らつき補正処理例を説明する。まず、ADコンバータ3
0の基準電圧Vhを入力電圧の最大値に近い値に仮に設
定し、ゲイン可変の増幅回路22,25のゲインDA
2,DA3を仮に同じ値に設定する。次に、白色基準板
を1主走査(2×n画素)分読み込んで、そのAD変換
後のデジタルデータの最大値MAXを記憶素子42内に
記憶させ、この記憶された最大値MAXに基づいて、入
力電圧の最大値がADコンバータ30の基準電圧VHの
最大値の1/kとなるように、増幅回路22,25のゲ
インDA2,DA3を粗設定する。これを式で示すと、
DA2=DA3=255×MAX×(1/k)となる。
よって、図3の回路におけるMPU43のさらに他のば
らつき補正処理例を説明する。まず、ADコンバータ3
0の基準電圧Vhを入力電圧の最大値に近い値に仮に設
定し、ゲイン可変の増幅回路22,25のゲインDA
2,DA3を仮に同じ値に設定する。次に、白色基準板
を1主走査(2×n画素)分読み込んで、そのAD変換
後のデジタルデータの最大値MAXを記憶素子42内に
記憶させ、この記憶された最大値MAXに基づいて、入
力電圧の最大値がADコンバータ30の基準電圧VHの
最大値の1/kとなるように、増幅回路22,25のゲ
インDA2,DA3を粗設定する。これを式で示すと、
DA2=DA3=255×MAX×(1/k)となる。
【0038】続いて、白色基準板を1主走査(2×n画
素)分読み込んで、そのAD変換後のデジタルデータを
記憶素子42内に記憶させ、この記憶された2×n画素
分のにデジタルデータに基づいて、奇数、偶数、各n画
素分のデジタルデータの最大値OMAX,EMAXを求め、そ
して、MPU43が増幅回路25の正式なゲインDA3
をDA3=OMAX/EMAXから算出して設定する。以上の
ように、図8の処理例ではADコンバータ30の基準電
圧VHを高くとるので、精度よくAD変換することがで
きる。
素)分読み込んで、そのAD変換後のデジタルデータを
記憶素子42内に記憶させ、この記憶された2×n画素
分のにデジタルデータに基づいて、奇数、偶数、各n画
素分のデジタルデータの最大値OMAX,EMAXを求め、そ
して、MPU43が増幅回路25の正式なゲインDA3
をDA3=OMAX/EMAXから算出して設定する。以上の
ように、図8の処理例ではADコンバータ30の基準電
圧VHを高くとるので、精度よくAD変換することがで
きる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、各
転送チャンネルの画像信号レベルに基づいて設定手段が
各転送チャンネル毎の増幅器によるゲインを設定し、各
転送チャンネルの出力信号レベルが先に設定されたゲイ
ンの値となるように増幅器が出力信号を増幅するように
して、複雑な調整作業を行うことなく各転送チャンネル
間の出力信号レベルのばらつきが補正されるようにした
ので、構成上有利であると共に容易にばらつきの補正を
行えるようになり、補正作業の効率化及び低コスト化を
図ることができる。また、各増幅器によるゲイン設定を
行う際に選択合成回路が、当該ゲイン設定中の増幅器に
対応する特定の転送チャンネルの画像信号を連続して選
択するので、特定の転送チャンネルに対応する増幅器に
よるゲイン設定を容易に行えるようにすることができ
る。
転送チャンネルの画像信号レベルに基づいて設定手段が
各転送チャンネル毎の増幅器によるゲインを設定し、各
転送チャンネルの出力信号レベルが先に設定されたゲイ
ンの値となるように増幅器が出力信号を増幅するように
して、複雑な調整作業を行うことなく各転送チャンネル
間の出力信号レベルのばらつきが補正されるようにした
ので、構成上有利であると共に容易にばらつきの補正を
行えるようになり、補正作業の効率化及び低コスト化を
図ることができる。また、各増幅器によるゲイン設定を
行う際に選択合成回路が、当該ゲイン設定中の増幅器に
対応する特定の転送チャンネルの画像信号を連続して選
択するので、特定の転送チャンネルに対応する増幅器に
よるゲイン設定を容易に行えるようにすることができ
る。
【0040】
【0041】
【図1】本発明の第1実施例による画像読み取り装置の
アナログ処理回路の一例を示すブロック図である。
アナログ処理回路の一例を示すブロック図である。
【図2】図1の回路における各信号のタイミング図であ
る。
る。
【図3】本発明の第2実施例による画像読み取り装置の
アナログ処理回路の一例を示すブロック図である。
アナログ処理回路の一例を示すブロック図である。
【図4】図3の回路における各信号のタイミング図であ
る。
る。
【図5】図3に示す合成回路から出力される1主走査分
の画像信号を示す波形図である。
の画像信号を示す波形図である。
【図6】図3の回路におけるMPUの処理の一例を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図7】図3の回路におけるMPUの処理の一例を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図8】図3の回路におけるMPUの処理の一例を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図9】従来のアナログ処理回路の一例を示すブロック
図である。
図である。
【図10】図9の回路における各信号のタイミング図で
ある。
ある。
【図11】従来のアナログ処理回路の他の例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図12】図11に示すCCDイメージセンサの出力端
子から出力される偶数画素、奇数画素の信号と、この信
号に対するクランプ信号のタイミング図である。
子から出力される偶数画素、奇数画素の信号と、この信
号に対するクランプ信号のタイミング図である。
【図13】図11の回路例における直流再生回路の一例
である。
である。
21 CCDイメージセンサ(イメージセンサ) 22,25 増幅回路(増幅器) 23,26 直流再生回路(信号処理回路) 24,27 サンプルホールド回路(信号処理回路) 28 合成回路(選択合成回路) 30 ADコンバータ 33 CPU(設定手段、演算回路) 43 MPU(設定手段、演算回路)
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の信号転送チャンネルを有するイメ
ージセンサと、 前記各転送チャンネル毎に設けられ、該転送チャンネル
の出力信号に対して所定の処理を行って画像信号を抽出
する複数の信号処理回路と、 前記抽出された各転送チャンネル毎の画像信号を所定周
期ごとに切り換えつつ選択して合成する選択合成回路
と、 前記選択合成回路から出力される合成画像信号をデジタ
ル信号に変換するA/Dコンバータとを備える画像読み
取り装置であって、 前記信号処理回路は、前記各転送チャンネル毎に設けら
れて各転送チャンネルの出力信号のゲイン調整を行う複
数の増幅器と、前記各転送チャンネルの画像信号レベル
に基づいて該各転送チャンネル間の出力信号レベルのば
らつきを補正するように前記各増幅器におけるゲイン設
定を行う設定手段とを有しており、 前記選択合成回路は、前記設定手段により前記各増幅器
のゲイン設定を行う際に、当該ゲイン設定中の増幅器に
対応する特定の転送チャンネルの画像信号を連続して選
択する、 ことを特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項2】 前記設定手段は、特定の転送チャンネル
における画像信号の出力レベルに基づいて当該転送チャ
ンネルに対応する増幅器におけるゲイン設定値を演算す
る演算回路を有していることを特徴とする請求項1記載
の画像読み取り装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34872191A JP3193753B2 (ja) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | 画像読み取り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34872191A JP3193753B2 (ja) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | 画像読み取り装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05161008A JPH05161008A (ja) | 1993-06-25 |
JP3193753B2 true JP3193753B2 (ja) | 2001-07-30 |
Family
ID=18398924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34872191A Expired - Fee Related JP3193753B2 (ja) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | 画像読み取り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3193753B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000188670A (ja) | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Toshiba Corp | 画像読取装置 |
JP2004245851A (ja) * | 2004-05-17 | 2004-09-02 | Shimadzu Corp | 検出信号処理装置 |
-
1991
- 1991-12-05 JP JP34872191A patent/JP3193753B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05161008A (ja) | 1993-06-25 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |