JP3161372B2 - 多角形描画方法及び装置 - Google Patents
多角形描画方法及び装置Info
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- JP3161372B2 JP3161372B2 JP18558197A JP18558197A JP3161372B2 JP 3161372 B2 JP3161372 B2 JP 3161372B2 JP 18558197 A JP18558197 A JP 18558197A JP 18558197 A JP18558197 A JP 18558197A JP 3161372 B2 JP3161372 B2 JP 3161372B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、図形をメモリ上
に描画し表示する画像表示装置等に適用され、エッジ部
分が滑らかになるように三角形等の多角形を描画する多
角形描画方法及び装置に関する。
に描画し表示する画像表示装置等に適用され、エッジ部
分が滑らかになるように三角形等の多角形を描画する多
角形描画方法及び装置に関する。
【０００２】図形をメモリ上に描画する場合、理想的な
線を縦横に等間隔で配置されたグリッド上の点によって
表現するため、図２３に示すように、通常は直線がジャ
ギと呼ばれるギザギザの線となってしまう。このジャギ
を軽減するために、アンチエイリアシングの手法が提案
されている。図２４は、この手法を説明するための図で
ある。この手法では、１ピクセルを１つの正方形と考え
た場合、同図（ａ）に示すように、直線が各ピクセルを
どの程度覆っているかによって、その輝度値が決定され
る。同図（ｂ）は、そのような基準によって各ピクセル
の輝度を決定した例を示している。この例のように、１
本の直線を輝度差をもって表現することにより、直線を
滑らかに描画することができる。
線を縦横に等間隔で配置されたグリッド上の点によって
表現するため、図２３に示すように、通常は直線がジャ
ギと呼ばれるギザギザの線となってしまう。このジャギ
を軽減するために、アンチエイリアシングの手法が提案
されている。図２４は、この手法を説明するための図で
ある。この手法では、１ピクセルを１つの正方形と考え
た場合、同図（ａ）に示すように、直線が各ピクセルを
どの程度覆っているかによって、その輝度値が決定され
る。同図（ｂ）は、そのような基準によって各ピクセル
の輝度を決定した例を示している。この例のように、１
本の直線を輝度差をもって表現することにより、直線を
滑らかに描画することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
アンチエイリアシングの手法は、理想的な直線が各ピク
セルをどの程度覆っているかを計算しなければならない
ので、計算が複雑である。また、三角形のエッジにおい
ては、エッジの部分だけ特別な処理をしなければならな
いので、三角形の描画速度が遅くなってしまうという問
題もある。
アンチエイリアシングの手法は、理想的な直線が各ピク
セルをどの程度覆っているかを計算しなければならない
ので、計算が複雑である。また、三角形のエッジにおい
ては、エッジの部分だけ特別な処理をしなければならな
いので、三角形の描画速度が遅くなってしまうという問
題もある。
【０００４】この発明は、このような問題点に鑑みなさ
れたもので、エッジを滑らかに描画するアンチエイリア
シングの手法を使用しながら、通常の描画処理と同様に
スキャンラインに沿って順番に画素のデータを生成する
ことができ、高速描画が可能な多角形描画方法及び装置
を提供することを目的としている。
れたもので、エッジを滑らかに描画するアンチエイリア
シングの手法を使用しながら、通常の描画処理と同様に
スキャンラインに沿って順番に画素のデータを生成する
ことができ、高速描画が可能な多角形描画方法及び装置
を提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明の多角形描画装
置は、描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度
値を与えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに
描画するようにした多角形描画装置において、前記描画
すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に
関するデータであって、前記スキャンラインのスキャン
方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交
点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに
対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側
交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前
記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少
率を含むライン交点データを各スキャンライン毎に求め
るエッジ計算手段と、このエッジ計算手段で求められた
前記各スキャンライン毎のライン交点データに基づい
て、各スキャンライン毎にスキャン方向に前記多角形の
内部の各輝度値をシーケンシャルに求めるスキャンライ
ン処理手段とを備え、前記エッジ計算手段は、前記描画
すべき多角形の頂点間を所定サイズのダイアモンドブロ
ックによってドラッグしたときに得られる所定幅を持っ
た各軌跡の両エッジとスキャンラインとの交点を求め、
前記スキャン方向上流側の前記軌跡の両エッジとスキャ
ンラインとの交点にそれぞれスキャン方向下流側で隣接
するグリッド上の位置をそれぞれ前記第１の外側交点及
び内側交点とし、前記スキャン方向下流側の前記軌跡の
両エッジとスキャンラインとの交点にそれぞれスキャン
方向上流側で隣接するグリッド上の位置をそれぞれ前記
第２の外側交点及び内側交点とするものであることを特
徴とする。
置は、描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度
値を与えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに
描画するようにした多角形描画装置において、前記描画
すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に
関するデータであって、前記スキャンラインのスキャン
方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交
点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに
対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側
交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前
記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少
率を含むライン交点データを各スキャンライン毎に求め
るエッジ計算手段と、このエッジ計算手段で求められた
前記各スキャンライン毎のライン交点データに基づい
て、各スキャンライン毎にスキャン方向に前記多角形の
内部の各輝度値をシーケンシャルに求めるスキャンライ
ン処理手段とを備え、前記エッジ計算手段は、前記描画
すべき多角形の頂点間を所定サイズのダイアモンドブロ
ックによってドラッグしたときに得られる所定幅を持っ
た各軌跡の両エッジとスキャンラインとの交点を求め、
前記スキャン方向上流側の前記軌跡の両エッジとスキャ
ンラインとの交点にそれぞれスキャン方向下流側で隣接
するグリッド上の位置をそれぞれ前記第１の外側交点及
び内側交点とし、前記スキャン方向下流側の前記軌跡の
両エッジとスキャンラインとの交点にそれぞれスキャン
方向上流側で隣接するグリッド上の位置をそれぞれ前記
第２の外側交点及び内側交点とするものであることを特
徴とする。
【０００６】また、この発明に係る媒体に記憶される多
角形描画プログラムは、描画平面上の各グリッドを覆う
面積に応じた輝度値を与えることにより、多角形のエッ
ジ部分を滑らかに描画するようにしたものにおいて、前
記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交
差部に関するデータであって、前記スキャンラインのス
キャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び
内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エ
ッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１
の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並
びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値
の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン毎
に求めるエッジ計算ステップと、このエッジ計算ステッ
プで求められた前記各スキャンライン毎のライン交点デ
ータに基づいて、各スキャンライン毎にスキャン方向に
前記多角形の内部の各輝度値をシーケンシャルに求める
スキャンライン処理ステップとを備え、前記エッジ計算
ステップは、前記描画すべき多角形の頂点間を所定サイ
ズのダイアモンドブロックによってドラッグしたときに
得られる所定幅を持った各軌跡の両エッジとスキャンラ
インとの交点を求め、前記スキャン方向上流側の前記軌
跡の両エッジとスキャンラインとの交点にそれぞれスキ
ャン方向下流側で隣接するグリッド上の位置をそれぞれ
前記第１の外側交点及び内側交点とし、前記スキャン方
向下流側の前記軌跡の両エッジとスキャンラインとの交
点にそれぞれスキャン方向上流側で隣接するグリッド上
の位置をそれぞれ前記第２の外側交点及び内側交点とす
る。
角形描画プログラムは、描画平面上の各グリッドを覆う
面積に応じた輝度値を与えることにより、多角形のエッ
ジ部分を滑らかに描画するようにしたものにおいて、前
記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交
差部に関するデータであって、前記スキャンラインのス
キャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び
内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エ
ッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１
の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並
びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値
の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン毎
に求めるエッジ計算ステップと、このエッジ計算ステッ
プで求められた前記各スキャンライン毎のライン交点デ
ータに基づいて、各スキャンライン毎にスキャン方向に
前記多角形の内部の各輝度値をシーケンシャルに求める
スキャンライン処理ステップとを備え、前記エッジ計算
ステップは、前記描画すべき多角形の頂点間を所定サイ
ズのダイアモンドブロックによってドラッグしたときに
得られる所定幅を持った各軌跡の両エッジとスキャンラ
インとの交点を求め、前記スキャン方向上流側の前記軌
跡の両エッジとスキャンラインとの交点にそれぞれスキ
ャン方向下流側で隣接するグリッド上の位置をそれぞれ
前記第１の外側交点及び内側交点とし、前記スキャン方
向下流側の前記軌跡の両エッジとスキャンラインとの交
点にそれぞれスキャン方向上流側で隣接するグリッド上
の位置をそれぞれ前記第２の外側交点及び内側交点とす
る。
【０００７】更に、この発明に係る多角形描画方法は、
描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度値を与
えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに描画す
るようにした多角形描画方法において、前記描画すべき
多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に関する
データであって、前記スキャンラインのスキャン方向上
流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、前
記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに対応す
る第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側交点か
ら内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前記第２
の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少率を含
むライン交点データを各スキャンライン毎に求めると共
に、この求められた前記各スキャンライン毎のライン交
点データに基づいて、各スキャンライン毎にスキャン方
向に前記多角形の内部の各輝度値をシーケンシャルに求
めるに際し、前記描画すべき多角形の頂点間を所定サイ
ズのダイアモンドブロックによってドラッグしたときに
得られる所定幅を持った各軌跡の両エッジとスキャンラ
インとの交点を求め、前記スキャン方向上流側の前記軌
跡の両エッジとスキャンラインとの交点にそれぞれスキ
ャン方向下流側で隣接するグリッド上の位置をそれぞれ
前記第１の外側交点及び内側交点とし、前記スキャン方
向下流側の前記軌跡の両エッジとスキャンラインとの交
点にそれぞれスキャン方向上流側で隣接するグリッド上
の位置をそれぞれ前記第２の外側交点及び内側交点とす
るようにしたことを特徴とする。
描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度値を与
えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに描画す
るようにした多角形描画方法において、前記描画すべき
多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に関する
データであって、前記スキャンラインのスキャン方向上
流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、前
記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに対応す
る第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側交点か
ら内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前記第２
の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少率を含
むライン交点データを各スキャンライン毎に求めると共
に、この求められた前記各スキャンライン毎のライン交
点データに基づいて、各スキャンライン毎にスキャン方
向に前記多角形の内部の各輝度値をシーケンシャルに求
めるに際し、前記描画すべき多角形の頂点間を所定サイ
ズのダイアモンドブロックによってドラッグしたときに
得られる所定幅を持った各軌跡の両エッジとスキャンラ
インとの交点を求め、前記スキャン方向上流側の前記軌
跡の両エッジとスキャンラインとの交点にそれぞれスキ
ャン方向下流側で隣接するグリッド上の位置をそれぞれ
前記第１の外側交点及び内側交点とし、前記スキャン方
向下流側の前記軌跡の両エッジとスキャンラインとの交
点にそれぞれスキャン方向上流側で隣接するグリッド上
の位置をそれぞれ前記第２の外側交点及び内側交点とす
るようにしたことを特徴とする。
【０００８】この発明によれば、エッジ計算によってス
キャンラインのスキャン方向上流側エッジに対応する第
１の外側交点及び内側交点、同じく下流側エッジに対応
する第２の外側交点及び内側交点、第１の外側交点から
内側交点までの輝度値の増加率、並びに第２の内側交点
から外側交点までの輝度値の減少率をそれぞれスキャン
ライン毎に求めているので、第１の外側交点から内側交
点まで前記増加率に基づいて徐々に輝度値を増加させ、
前記第２の内側交点から外側交点まで前記減少率に基づ
いて徐々に輝度値を減少させることにより、スキャンラ
インの上流側から下流側へかけて順番に輝度値を求めて
いくことができ、スキャンラインに沿ったシーケンシャ
ルな処理が可能になる。このため、高速描画処理が実現
できる。
キャンラインのスキャン方向上流側エッジに対応する第
１の外側交点及び内側交点、同じく下流側エッジに対応
する第２の外側交点及び内側交点、第１の外側交点から
内側交点までの輝度値の増加率、並びに第２の内側交点
から外側交点までの輝度値の減少率をそれぞれスキャン
ライン毎に求めているので、第１の外側交点から内側交
点まで前記増加率に基づいて徐々に輝度値を増加させ、
前記第２の内側交点から外側交点まで前記減少率に基づ
いて徐々に輝度値を減少させることにより、スキャンラ
インの上流側から下流側へかけて順番に輝度値を求めて
いくことができ、スキャンラインに沿ったシーケンシャ
ルな処理が可能になる。このため、高速描画処理が実現
できる。
【０００９】前記エッジ計算手段が、前記第１の外側交
点における輝度値及び前記第２の内側交点とスキャン方
向下流側で隣接するグリッド上の点における輝度値をそ
れぞれ初期値として算出するものであると、全ての処理
がグリッド上の輝度値の算出処理となるので、更に高速
な処理が可能である。
点における輝度値及び前記第２の内側交点とスキャン方
向下流側で隣接するグリッド上の点における輝度値をそ
れぞれ初期値として算出するものであると、全ての処理
がグリッド上の輝度値の算出処理となるので、更に高速
な処理が可能である。
【００１０】
【００１１】また、前記スキャンライン処理手段は、例
えば各スキャンライン毎に前記第１の外側交点から内側
交点まで前記増加率を累算して各輝度値を出力し、前記
第１の内側交点から前記第２の内側交点まで一定の輝度
値を出力し、且つ前記第２の内側交点から外側交点まで
前記減少率を累算して各輝度値を出力するというよう
に、加減算のみの処理で各スキャンライン上の輝度値を
算出していくことができるので、高速描画処理が可能に
なる。
えば各スキャンライン毎に前記第１の外側交点から内側
交点まで前記増加率を累算して各輝度値を出力し、前記
第１の内側交点から前記第２の内側交点まで一定の輝度
値を出力し、且つ前記第２の内側交点から外側交点まで
前記減少率を累算して各輝度値を出力するというよう
に、加減算のみの処理で各スキャンライン上の輝度値を
算出していくことができるので、高速描画処理が可能に
なる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の好ましい実施の形態について説明する。図１は、この
発明の一実施例に係る三角形描画装置の構成を示すブロ
ック図である。この装置は、エッジ計算回路１、水平ラ
イン処理回路２、ピクセル処理回路３及びメモリ４を備
えて構成されている。エッジ計算回路１は、与えられた
三角形の頂点座標（ＸA，ＹA），（ＸB，ＹB），
（ＸC，ＹC）から上記三角形と各スキャンラインとの交
差部に関するライン交点データを算出する。このライン
交点データは、この例では、ラインＮに対して、
（ＹN，ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ）という座標
値と、（Ｉ0Ｌ，ｄｄＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ）という輝
度値の情報からなる。水平ライン処理回路２は、これら
のライン交点データから、各スキャンラインについて、
例えば左から順に１ピクセル毎の座標値（ＸP，ＹP）
と、そのピクセルに対応する輝度値ＩPとを生成し、こ
れをピクセル処理回路３に供給する。ピクセル処理回路
３は、水平ライン処理部で求められたピクセル単位の座
標値（ＸP，ＹP）に対し、輝度値ＩPに対応するピクセ
ルデータを生成し、メモリ４に書き込む。なお、本願明
細書では、ピクセルの輝度値ＩPは、０〜１の値をとる
こととしている。これはそのまま輝度値としても良い
が、別途算出される輝度値を補正する輝度補正係数を、
ここで言う輝度値として処理しても良い。
の好ましい実施の形態について説明する。図１は、この
発明の一実施例に係る三角形描画装置の構成を示すブロ
ック図である。この装置は、エッジ計算回路１、水平ラ
イン処理回路２、ピクセル処理回路３及びメモリ４を備
えて構成されている。エッジ計算回路１は、与えられた
三角形の頂点座標（ＸA，ＹA），（ＸB，ＹB），
（ＸC，ＹC）から上記三角形と各スキャンラインとの交
差部に関するライン交点データを算出する。このライン
交点データは、この例では、ラインＮに対して、
（ＹN，ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ）という座標
値と、（Ｉ0Ｌ，ｄｄＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ）という輝
度値の情報からなる。水平ライン処理回路２は、これら
のライン交点データから、各スキャンラインについて、
例えば左から順に１ピクセル毎の座標値（ＸP，ＹP）
と、そのピクセルに対応する輝度値ＩPとを生成し、こ
れをピクセル処理回路３に供給する。ピクセル処理回路
３は、水平ライン処理部で求められたピクセル単位の座
標値（ＸP，ＹP）に対し、輝度値ＩPに対応するピクセ
ルデータを生成し、メモリ４に書き込む。なお、本願明
細書では、ピクセルの輝度値ＩPは、０〜１の値をとる
こととしている。これはそのまま輝度値としても良い
が、別途算出される輝度値を補正する輝度補正係数を、
ここで言う輝度値として処理しても良い。
【００１３】図２は、エッジ計算回路１で求められる各
座標値を示す図である。ここでは、クヌースのアルゴリ
ズム（ダイアモンドルール）によって、各頂点Ａ，Ｂ，
Ｃを、水平（Ｘ）、垂直（Ｙ）方向にそれぞれグリッド
幅の±０．５の幅を持つダイアモンド状のボックスを、
各頂点Ａ，Ｂ，Ｃ間でドラッグさせたときの図中破線で
示すボックスの軌跡を三角形のエッジとする。このエッ
ジと各水平（スキャン）ラインとの交点は、左右のエッ
ジそれぞれについて、その外側及び内側で、各ラインに
ついて４つずつ求められる。また、これらの交点は、実
際の交点ではなく、実際の交点のすぐ内側のグリッド上
の点が選択される。従って、ライン交点データに含まれ
る座標値をまとめると、次のようになる。
座標値を示す図である。ここでは、クヌースのアルゴリ
ズム（ダイアモンドルール）によって、各頂点Ａ，Ｂ，
Ｃを、水平（Ｘ）、垂直（Ｙ）方向にそれぞれグリッド
幅の±０．５の幅を持つダイアモンド状のボックスを、
各頂点Ａ，Ｂ，Ｃ間でドラッグさせたときの図中破線で
示すボックスの軌跡を三角形のエッジとする。このエッ
ジと各水平（スキャン）ラインとの交点は、左右のエッ
ジそれぞれについて、その外側及び内側で、各ラインに
ついて４つずつ求められる。また、これらの交点は、実
際の交点ではなく、実際の交点のすぐ内側のグリッド上
の点が選択される。従って、ライン交点データに含まれ
る座標値をまとめると、次のようになる。
【００１４】 ＹN ：ラインＮのＹ座標 ＸＬｅ： 〃 の左側エッジ外側Ｘ座標（グリッド上） ＸＬｉ： 〃 の左側エッジ内側Ｘ座標（グリッド上） ＸＲｉ： 〃 の右側エッジ内側Ｘ座標（グリッド上） ＸＲｅ： 〃 の右側エッジ外側Ｘ座標（グリッド上）
【００１５】このようにして求められた各座標値に基づ
き、図３に示すように、ＸＬｅからＸＬｉまで徐々に輝
度値Ｉが増加し、ＸＲｉからＸＲｅまで徐々に輝度値Ｉ
が減少していくように、三角形の内部の輝度値Ｉを決定
していくため、ＸＬｅでの輝度の初期値Ｉ0Ｌとその増
加率ｄｄＩＬ、ＸＲｉの次のＸ方向ピクセルでの輝度の
初期値Ｉ0Ｒとその減少率ｄｄＩＲとが求められる。
き、図３に示すように、ＸＬｅからＸＬｉまで徐々に輝
度値Ｉが増加し、ＸＲｉからＸＲｅまで徐々に輝度値Ｉ
が減少していくように、三角形の内部の輝度値Ｉを決定
していくため、ＸＬｅでの輝度の初期値Ｉ0Ｌとその増
加率ｄｄＩＬ、ＸＲｉの次のＸ方向ピクセルでの輝度の
初期値Ｉ0Ｒとその減少率ｄｄＩＲとが求められる。
【００１６】図４及び図５は、これらの各座標値及び輝
度値を求める方法を説明するための図であり、図４は左
側のエッジを求めるときの方法、図５は右側のエッジを
求めるときの方法である。いずれのエッジについても、
各頂点間のＹ方向距離に対するＸ方向距離（Ｙ座標が１
ライン分移動したときのＸ座標の移動量）をＸＤ、Ｘ方
向距離に対するＹ方向距離（Ｘ座標が１画素分移動した
ときのＹ座標の移動量）をＹＤとしたとき、｜ＹＤ｜＜
｜ＸＤ｜の場合（ａ）と、｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜の場合
（ｂ）とで求め方は多少異なってくる。
度値を求める方法を説明するための図であり、図４は左
側のエッジを求めるときの方法、図５は右側のエッジを
求めるときの方法である。いずれのエッジについても、
各頂点間のＹ方向距離に対するＸ方向距離（Ｙ座標が１
ライン分移動したときのＸ座標の移動量）をＸＤ、Ｘ方
向距離に対するＹ方向距離（Ｘ座標が１画素分移動した
ときのＹ座標の移動量）をＹＤとしたとき、｜ＹＤ｜＜
｜ＸＤ｜の場合（ａ）と、｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜の場合
（ｂ）とで求め方は多少異なってくる。
【００１７】・左側エッジが｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜（水平
に近い）の場合 図４（ａ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の外
側交点ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そし
て、真の外側交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの
小数点以下を切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側
交点ＸＬｅ及びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。
に近い）の場合 図４（ａ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の外
側交点ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そし
て、真の外側交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの
小数点以下を切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側
交点ＸＬｅ及びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。
【００１８】また、真の外側交点ＸＬｅｒでの輝度値Ｉ
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅ〜ＸＬｉまでの各ピクセルの輝度値Ｉを決定
するため、ｄｄＩＬ＝｜ＹＤ｜として、
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅ〜ＸＬｉまでの各ピクセルの輝度値Ｉを決定
するため、ｄｄＩＬ＝｜ＹＤ｜として、
【００１９】
【数１】Ｉ0Ｌ＝（ＸＬｅ−ＸＬｅｒ）＊ｄｄＩＬ ＩnＬ＝Ｉn-1Ｌ＋ｄｄＩＬ （ｎ≠０）
【００２０】とする。ＸＬｉ以降の輝度値Ｉは１とな
る。
る。
【００２１】・左側エッジが｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜（垂直
に近い）の場合 図４（ｂ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の外側交点
ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そして、真の外側
交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの小数点以下を
切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側交点ＸＬｅ及
びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。この場合、ＸＬ
ｅとＸＬｉとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
に近い）の場合 図４（ｂ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の外側交点
ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そして、真の外側
交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの小数点以下を
切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側交点ＸＬｅ及
びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。この場合、ＸＬ
ｅとＸＬｉとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
【００２２】また、真の外側交点ＸＬｅｒでの輝度値Ｉ
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｌを、
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｌを、
【００２３】
【数２】Ｉ0Ｌ＝ＸＬｅ−ＸＬｅｒ
【００２４】のように決定する。隣のＸＬｉの輝度値Ｉ
は１となる。この場合、ｄｄＩＬは、特に求める必要は
ない。
は１となる。この場合、ｄｄＩＬは、特に求める必要は
ない。
【００２５】・右側エッジが｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜（水平
に近い）の場合 図５（ａ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の内
側交点ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そし
て、真の内側交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの
小数点以下を切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側
交点ＸＲｉ及びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。
に近い）の場合 図５（ａ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の内
側交点ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そし
て、真の内側交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの
小数点以下を切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側
交点ＸＲｉ及びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。
【００２６】また、真の内側交点ＸＲｉｒでの輝度値Ｉ
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｉ＋１〜ＸＲｅまでの各ピクセルの輝度値Ｉを
決定するため、ｄｄＩＲ＝｜ＹＤ｜として、
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｉ＋１〜ＸＲｅまでの各ピクセルの輝度値Ｉを
決定するため、ｄｄＩＲ＝｜ＹＤ｜として、
【００２７】
【数３】Ｉ0Ｒ＝（ＸＲｅｒ−ＸＲｉ−１）＊ｄｄＩＲ ＩnＲ＝Ｉn-1Ｒ−ｄｄＩＲ （ｎ≠０）
【００２８】とする。ＸＲｅ＋１以降の輝度値Ｉは０と
なる。
なる。
【００２９】・右側エッジが｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜（垂直
に近い）の場合 図５（ｂ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の内側交点
ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そして、真の内側
交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの小数点以下を
切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側交点ＸＲｉ及
びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。この場合、ＸＲ
ｉとＸＲｅとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
に近い）の場合 図５（ｂ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の内側交点
ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そして、真の内側
交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの小数点以下を
切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側交点ＸＲｉ及
びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。この場合、ＸＲ
ｉとＸＲｅとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
【００３０】また、真の内側交点ＸＲｉｒでの輝度値Ｉ
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｒを、
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｒを、
【００３１】
【数４】Ｉ0Ｒ＝ＸＲｅｒ−ＸＲｅ
【００３２】のように決定する。隣のＸＲｉの輝度値Ｉ
は１となる。この場合、ｄｄＩＲは、特に求める必要は
ない。
は１となる。この場合、ｄｄＩＲは、特に求める必要は
ない。
【００３３】このようにライン交点データが求められれ
ば、図３に示すように、左側エッジの外側交点ＸＬｅか
ら輝度値Ｉ0Ｌを初期値とし、輝度の増分値をｄｄＩＬ
として、内側交点ＸＬｉにかけて輝度値を１まで徐々に
増加させ、右エッジの内側交点ＸＲｉの右隣りから輝度
値Ｉ0Ｒを初期値とし、輝度の増分値（減少値）をｄｄ
ＩＲとして、外側交点ＸＲｅにかけて輝度値を０まで徐
々に減少させることにより、通常のスキャンラインに沿
ったシーケンシャルな処理に基づいて各ピクセルの輝度
値Ｉを求めることができる。なお、図６に示すように、
頂点付近では、左右のエッジが近接するために、左エッ
ジの外側交点ＸＬｅと右エッジの内側交点ＸＲｉとの関
係及び左エッジの内側交点ＸＬｉと右エッジの外側交点
ＸＲｅとの関係がそれぞれＸ方向に逆転することがあ
る。このため、輝度値Ｉの描画は、ＸＬｅからＸＲｅま
でとし、この間にＸＬｉ及びＸＲｉが現れなかったとき
には、これを無視するような処理が必要となる。
ば、図３に示すように、左側エッジの外側交点ＸＬｅか
ら輝度値Ｉ0Ｌを初期値とし、輝度の増分値をｄｄＩＬ
として、内側交点ＸＬｉにかけて輝度値を１まで徐々に
増加させ、右エッジの内側交点ＸＲｉの右隣りから輝度
値Ｉ0Ｒを初期値とし、輝度の増分値（減少値）をｄｄ
ＩＲとして、外側交点ＸＲｅにかけて輝度値を０まで徐
々に減少させることにより、通常のスキャンラインに沿
ったシーケンシャルな処理に基づいて各ピクセルの輝度
値Ｉを求めることができる。なお、図６に示すように、
頂点付近では、左右のエッジが近接するために、左エッ
ジの外側交点ＸＬｅと右エッジの内側交点ＸＲｉとの関
係及び左エッジの内側交点ＸＬｉと右エッジの外側交点
ＸＲｅとの関係がそれぞれＸ方向に逆転することがあ
る。このため、輝度値Ｉの描画は、ＸＬｅからＸＲｅま
でとし、この間にＸＬｉ及びＸＲｉが現れなかったとき
には、これを無視するような処理が必要となる。
【００３４】次に、エッジ計算回路１の詳細について説
明する。図７は、エッジ計算回路１の構成例を示すブロ
ック図である。まず、三角形の頂点座標（Ｘ1，Ｙ1），
（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）が与えられると、Ｙ座標値
が最も小さい頂点をＡ（ＸA，ＹA）、残りの２つの頂点
のうち、頂点Ａと接続されたときエッジが左側に位置す
る頂点をＢ（ＸB，ＹB）、頂点Ａと接続されたときエッ
ジが右側に位置する頂点をＣ（ＸC，ＹC）とし、これが
エッジ傾き計算回路１１に与えられる。エッジ傾き計算
回路１１は、例えば図８に示すように構成され、セレク
タ２１，２２でＸ座標ＸA〜ＸCの一つをそれぞれ選択す
ると共に、セレクタ２３，２４でＹ座標ＹA〜ＹCの一つ
をそれぞれ選択し、セレクタ２１，２２の出力及びセレ
クタ２３，２４の出力をそれぞれ減算器２５，２６で減
算し、その減算結果を除算器２７で除算することによ
り、頂点座標から、下記数１で示される直線ＡＢ，Ａ
Ｃ，ＢＣの傾きをそれぞれ算出する。
明する。図７は、エッジ計算回路１の構成例を示すブロ
ック図である。まず、三角形の頂点座標（Ｘ1，Ｙ1），
（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）が与えられると、Ｙ座標値
が最も小さい頂点をＡ（ＸA，ＹA）、残りの２つの頂点
のうち、頂点Ａと接続されたときエッジが左側に位置す
る頂点をＢ（ＸB，ＹB）、頂点Ａと接続されたときエッ
ジが右側に位置する頂点をＣ（ＸC，ＹC）とし、これが
エッジ傾き計算回路１１に与えられる。エッジ傾き計算
回路１１は、例えば図８に示すように構成され、セレク
タ２１，２２でＸ座標ＸA〜ＸCの一つをそれぞれ選択す
ると共に、セレクタ２３，２４でＹ座標ＹA〜ＹCの一つ
をそれぞれ選択し、セレクタ２１，２２の出力及びセレ
クタ２３，２４の出力をそれぞれ減算器２５，２６で減
算し、その減算結果を除算器２７で除算することによ
り、頂点座標から、下記数１で示される直線ＡＢ，Ａ
Ｃ，ＢＣの傾きをそれぞれ算出する。
【００３５】
【数５】ＸＤ１＝（ＸB−ＸA）／（ＹB−ＹA） ＸＤ２＝（ＸC−ＸA）／（ＹC−ＹA） ＸＤ３＝（ＸC−ＸB）／（ＹC−ＹB） ＹＤ１＝（ＹB−ＹA）／（ＸB−ＸA） ＹＤ２＝（ＹC−ＹA）／（ＸC−ＸA） ＹＤ３＝（ＹC−ＹB）／（ＸC−ＸB）
【００３６】これらの傾きデータは、レジスタ２８にそ
れぞれ格納される。なお、セレクタ２９は、分子分母の
選択を行い、セレクタ３０は、計算結果をどのレジスタ
２８に格納するかを選択する。そして、セレクタ２１〜
２４，２９，３０は、セレクタコントローラ３１によっ
てコントロールされる。
れぞれ格納される。なお、セレクタ２９は、分子分母の
選択を行い、セレクタ３０は、計算結果をどのレジスタ
２８に格納するかを選択する。そして、セレクタ２１〜
２４，２９，３０は、セレクタコントローラ３１によっ
てコントロールされる。
【００３７】傾きデータＸＤ１〜ＸＤ３及び頂点データ
ＸA，ＸB，ＸC，ＹAは、エッジ座標算出回路１２に供給
され、ここで各スキャンラインについてのＹ座標値ＹN
と、真のエッジ位置ＸL，ＸRとが求められる。このエッ
ジ座標算出回路１２は、例えば図９に示すように構成さ
れている。まず、Ｙ座標値ＹNの初期値としてＹAがセレ
クタ４１によって選択され、ＹNレジスタ４２に格納さ
れる。以後、Ｙ座標値ＹNは、加算器４３によって１ず
つ加算されて更新される。また、各ラインにおいて、セ
レクタ４４，４６でまず頂点ＸAが選択され、セレクタ
４５，４７でそれぞれ傾きＸＤ１，ＸＤ２が選択され
る。そして、最初はセレクタ４８，４９によって頂点座
標ＸAがエッジ座標ＸL，ＸRとして選択されてＸLレジス
タ５０及びＸRレジスタ５１にそれぞれ格納され、以
後、加算器５２，５３によってこれらに傾きＸＤ１，Ｘ
Ｄ２が順次加算されてエッジ座標ＸL，ＸRが求められ
る。
ＸA，ＸB，ＸC，ＹAは、エッジ座標算出回路１２に供給
され、ここで各スキャンラインについてのＹ座標値ＹN
と、真のエッジ位置ＸL，ＸRとが求められる。このエッ
ジ座標算出回路１２は、例えば図９に示すように構成さ
れている。まず、Ｙ座標値ＹNの初期値としてＹAがセレ
クタ４１によって選択され、ＹNレジスタ４２に格納さ
れる。以後、Ｙ座標値ＹNは、加算器４３によって１ず
つ加算されて更新される。また、各ラインにおいて、セ
レクタ４４，４６でまず頂点ＸAが選択され、セレクタ
４５，４７でそれぞれ傾きＸＤ１，ＸＤ２が選択され
る。そして、最初はセレクタ４８，４９によって頂点座
標ＸAがエッジ座標ＸL，ＸRとして選択されてＸLレジス
タ５０及びＸRレジスタ５１にそれぞれ格納され、以
後、加算器５２，５３によってこれらに傾きＸＤ１，Ｘ
Ｄ２が順次加算されてエッジ座標ＸL，ＸRが求められ
る。
【００３８】ここで、図７のコントローラ１３は、ＹN
とＹB，ＹCとの大小関係に基づいてＹBが最初に現れた
ときにはコントロール信号Ｓ１を出力し、ＹCが最初に
現れたときにはコントロール信号Ｓ２を出力する。コン
トロール信号Ｓ１が出力された場合には、セレクタ４
４，４５がそれぞれＸB，ＸＤ３を選択し、コントロー
ル信号Ｓ２が出力された場合には、セレクタ４６，４７
がそれぞれＸC，ＸＤ３を選択する。これにより、直線
の切替が行われる。
とＹB，ＹCとの大小関係に基づいてＹBが最初に現れた
ときにはコントロール信号Ｓ１を出力し、ＹCが最初に
現れたときにはコントロール信号Ｓ２を出力する。コン
トロール信号Ｓ１が出力された場合には、セレクタ４
４，４５がそれぞれＸB，ＸＤ３を選択し、コントロー
ル信号Ｓ２が出力された場合には、セレクタ４６，４７
がそれぞれＸC，ＸＤ３を選択する。これにより、直線
の切替が行われる。
【００３９】求められたエッジ座標ＸL，ＸRは、傾きＸ
Ｄ１〜ＸＤ３と共にエッジ範囲算出回路１４に供給され
る。エッジ範囲算出回路１４は、例えば図１０に示すよ
うに構成されている。この回路のうち上側の回路は、左
側エッジの外側交点ＸＬｅ，及び内側交点ＸＬｉを算出
するための回路、下側の回路は、右側エッジの内側交点
ＸＲｉ及び外側交点ＸＲｅを算出するための回路であ
る。まず、セレクタ６１，６２は、傾きデータＸＤ１，
ＸＤ２を選択し、これを絶対値化回路６３，６４で絶対
値化すると共に、１／２回路６５，６６で１／２した値
を算出する。セレクタ６７，６８は、一方に１／２回路
６５，６６の出力を、また他方に“０．５”を導入し、
コントロール信号Ｓ３によっていずれか一方を選択す
る。このため、図７のコントローラ１３は、傾きデータ
ＹＤ１〜ＹＤ３に基づいて、エッジの傾斜が緩い傾斜で
あるか（｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜）、急な傾斜であるか（｜
ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜）を示すコントロール信号Ｓ３を出力
する。セレクタ６７，６８の出力は、減算器６９，７０
及び加算器７１，７２によってそれぞれエッジ座標
ＸL，ＸRと加減算され、左側エッジの場合には、切り上
げ回路７３，７４によって演算結果が切り上げられ、右
側エッジの場合には、切り捨て回路７５，７６によって
演算結果が切り捨てられることにより、交点座標ＸＬ
ｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅがそれぞれ算出され、これ
らがレジスタ７７，７８，７９，８０にそれぞれ格納さ
れる。また、切り捨て及び切り上げ前の途中の演算結果
から、真の外側交点ＸＬｅｒ，ＸＲｅｒが求められる。
新たなエッジに切り替わるときには、コントロール信号
Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ６１，６２がいずれか一方
の傾きデータをＸＤ３に切り替える。
Ｄ１〜ＸＤ３と共にエッジ範囲算出回路１４に供給され
る。エッジ範囲算出回路１４は、例えば図１０に示すよ
うに構成されている。この回路のうち上側の回路は、左
側エッジの外側交点ＸＬｅ，及び内側交点ＸＬｉを算出
するための回路、下側の回路は、右側エッジの内側交点
ＸＲｉ及び外側交点ＸＲｅを算出するための回路であ
る。まず、セレクタ６１，６２は、傾きデータＸＤ１，
ＸＤ２を選択し、これを絶対値化回路６３，６４で絶対
値化すると共に、１／２回路６５，６６で１／２した値
を算出する。セレクタ６７，６８は、一方に１／２回路
６５，６６の出力を、また他方に“０．５”を導入し、
コントロール信号Ｓ３によっていずれか一方を選択す
る。このため、図７のコントローラ１３は、傾きデータ
ＹＤ１〜ＹＤ３に基づいて、エッジの傾斜が緩い傾斜で
あるか（｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜）、急な傾斜であるか（｜
ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜）を示すコントロール信号Ｓ３を出力
する。セレクタ６７，６８の出力は、減算器６９，７０
及び加算器７１，７２によってそれぞれエッジ座標
ＸL，ＸRと加減算され、左側エッジの場合には、切り上
げ回路７３，７４によって演算結果が切り上げられ、右
側エッジの場合には、切り捨て回路７５，７６によって
演算結果が切り捨てられることにより、交点座標ＸＬ
ｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅがそれぞれ算出され、これ
らがレジスタ７７，７８，７９，８０にそれぞれ格納さ
れる。また、切り捨て及び切り上げ前の途中の演算結果
から、真の外側交点ＸＬｅｒ，ＸＲｅｒが求められる。
新たなエッジに切り替わるときには、コントロール信号
Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ６１，６２がいずれか一方
の傾きデータをＸＤ３に切り替える。
【００４０】求められた交点座標ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲ
ｉ，ＸＲｅ，ＸＬｅｒ．ＸＲｅｒは、傾きデータＹＤ１
〜ＹＤ３と共に輝度初期値・増分値算出回路１５に供給
される。輝度初期値・増分値算出回路１５は、例えば図
１１に示すように構成されている。傾きデータＹＤ１〜
ＹＤ３は、それぞれ絶対値化回路８５〜８８で絶対値化
されてセレクタ９２，９９にそれぞれ供給される。図１
１の回路のうち、上半分は左側エッジの輝度、下半分は
右側エッジの輝度を算出する回路である。即ち、左側エ
ッジの真の外側交点ＸＬｅｒとグリッド上の外側交点Ｘ
Ｌｅとの差分が減算器９１で求められ、この差分がセレ
クタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３｜と乗算
器９３において乗算される。セレクタ９４は、左側エッ
ジの傾きが緩やかな場合にこの乗算結果を輝度の初期値
Ｉ0Ｌとして選択するが、左側エッジの傾きが急な場合
には、乗算前の差分値を輝度の初期値Ｉ0Ｌとして選択
する。この初期値Ｉ0ＬがＩ0Ｌレジスタ９５に格納さ
れ、セレクタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３
｜がｄｄＩＬレジスタ９６に格納される。
ｉ，ＸＲｅ，ＸＬｅｒ．ＸＲｅｒは、傾きデータＹＤ１
〜ＹＤ３と共に輝度初期値・増分値算出回路１５に供給
される。輝度初期値・増分値算出回路１５は、例えば図
１１に示すように構成されている。傾きデータＹＤ１〜
ＹＤ３は、それぞれ絶対値化回路８５〜８８で絶対値化
されてセレクタ９２，９９にそれぞれ供給される。図１
１の回路のうち、上半分は左側エッジの輝度、下半分は
右側エッジの輝度を算出する回路である。即ち、左側エ
ッジの真の外側交点ＸＬｅｒとグリッド上の外側交点Ｘ
Ｌｅとの差分が減算器９１で求められ、この差分がセレ
クタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３｜と乗算
器９３において乗算される。セレクタ９４は、左側エッ
ジの傾きが緩やかな場合にこの乗算結果を輝度の初期値
Ｉ0Ｌとして選択するが、左側エッジの傾きが急な場合
には、乗算前の差分値を輝度の初期値Ｉ0Ｌとして選択
する。この初期値Ｉ0ＬがＩ0Ｌレジスタ９５に格納さ
れ、セレクタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３
｜がｄｄＩＬレジスタ９６に格納される。
【００４１】また、右側エッジの真の外側交点ＸＲｅｒ
とセレクタ９７で選択されたグリッド上の外側交点ＸＲ
ｅ又は内側交点ＸＲｉ＋１との差分が減算器９８で求め
られ、この差分がセレクタ９９で選択された｜ＹＤ２｜
又は｜ＹＤ３｜と乗算器１００において乗算される。セ
レクタ１０１は、左側エッジの傾きが緩やかな場合にこ
の乗算結果を輝度の初期値Ｉ0Ｒとして選択するが、左
側エッジの傾きが急な場合には、乗算前の差分値を輝度
の初期値Ｉ0Ｒとして選択する。この初期値Ｉ0ＲがＩ0
Ｒレジスタ１０２に格納され、セレクタ９９で選択され
た｜ＹＤ２｜又は｜ＹＤ３｜がｄｄＩＲレジスタ１０３
に格納される。
とセレクタ９７で選択されたグリッド上の外側交点ＸＲ
ｅ又は内側交点ＸＲｉ＋１との差分が減算器９８で求め
られ、この差分がセレクタ９９で選択された｜ＹＤ２｜
又は｜ＹＤ３｜と乗算器１００において乗算される。セ
レクタ１０１は、左側エッジの傾きが緩やかな場合にこ
の乗算結果を輝度の初期値Ｉ0Ｒとして選択するが、左
側エッジの傾きが急な場合には、乗算前の差分値を輝度
の初期値Ｉ0Ｒとして選択する。この初期値Ｉ0ＲがＩ0
Ｒレジスタ１０２に格納され、セレクタ９９で選択され
た｜ＹＤ２｜又は｜ＹＤ３｜がｄｄＩＲレジスタ１０３
に格納される。
【００４２】次に水平ライン処理回路について説明す
る。図１２は、水平ライン処理回路２の構成例を示すブ
ロック図である。この例では、ＹNの値はそのままピク
セルＹ座標ＹPとなる。１スキャンラインの処理の開始
時、ＸPレジスタ１１１には、スキャンライン上での最
初の処理ピクセルのＸ座標ＸPが格納される。このＸ座
標ＸPは、セレクタ１１２により選択され、初期値はＸ
Ｌｅである。また、ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ
は、それぞれ対応するレジスタ１１３，１１４，１１
５，１１６にセットされる。Ｘ座標ＸPは、加算器１１
０で“１”が順次加算されてスキャンラインに沿って１
つずつ右側に移動する。このＸ座標ＸPが比較器１１
７，１１８，１１９，１２０においてそれぞれＸＬｅ，
ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅと比較され、その比較結果に基
づいてコントローラ１２１が各部を制御する。
る。図１２は、水平ライン処理回路２の構成例を示すブ
ロック図である。この例では、ＹNの値はそのままピク
セルＹ座標ＹPとなる。１スキャンラインの処理の開始
時、ＸPレジスタ１１１には、スキャンライン上での最
初の処理ピクセルのＸ座標ＸPが格納される。このＸ座
標ＸPは、セレクタ１１２により選択され、初期値はＸ
Ｌｅである。また、ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ
は、それぞれ対応するレジスタ１１３，１１４，１１
５，１１６にセットされる。Ｘ座標ＸPは、加算器１１
０で“１”が順次加算されてスキャンラインに沿って１
つずつ右側に移動する。このＸ座標ＸPが比較器１１
７，１１８，１１９，１２０においてそれぞれＸＬｅ，
ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅと比較され、その比較結果に基
づいてコントローラ１２１が各部を制御する。
【００４３】即ち、ＸPがＸＬｅと等しいときには、セ
レクタ１２２でＩ0Ｌが選択され、これがＩP1レジスタ
１２３に格納され、ＸPがＸＬｅよりも大きくＸＬｉよ
りも小さいときには、ＩP1レジスタ１２３の値に加算器
１２４で増分値ｄｄＩＬを累積加算した値が選択されて
ＩP1レジスタ１２３に格納される。また、ＸPがＸＲｉ
を超えた場合には、セレクタ１２５でＩ0Ｒが選択さ
れ、これがＩP2レジスタ１２６に格納される。ＸPがＸ
Ｒｉ＋１よりも大きくＸＲｅ以下のときには、ＩP2レジ
スタ１２６の値に減算器１２７で増分値（減少値）ｄｄ
ＩＲを順次減算した値が選択されてＩP2レジスタ１２６
に格納される。レジスタ１２３，１２６の値及び“１”
がセレクタ１２８に供給され、ＸPがＸＬｅからＸＬｉ
−１までの間はレジスタ１２３の出力、ＸPがＸＬｉか
らＸＲｉまでは“１”、ＸPがＸＲｉ＋１からＸＲｅま
での間はレジスタ１２６の出力が輝度値ＩPとして選択
されることになる。また、コントローラ１２１は、前段
回路からのＳＴＡＲＴ信号によって１スキャンライン分
の動作を開始し、ＸPがＸＲｅを超えたことをもって前
段回路に処理終了を示すＥＮＤ信号を出力する。
レクタ１２２でＩ0Ｌが選択され、これがＩP1レジスタ
１２３に格納され、ＸPがＸＬｅよりも大きくＸＬｉよ
りも小さいときには、ＩP1レジスタ１２３の値に加算器
１２４で増分値ｄｄＩＬを累積加算した値が選択されて
ＩP1レジスタ１２３に格納される。また、ＸPがＸＲｉ
を超えた場合には、セレクタ１２５でＩ0Ｒが選択さ
れ、これがＩP2レジスタ１２６に格納される。ＸPがＸ
Ｒｉ＋１よりも大きくＸＲｅ以下のときには、ＩP2レジ
スタ１２６の値に減算器１２７で増分値（減少値）ｄｄ
ＩＲを順次減算した値が選択されてＩP2レジスタ１２６
に格納される。レジスタ１２３，１２６の値及び“１”
がセレクタ１２８に供給され、ＸPがＸＬｅからＸＬｉ
−１までの間はレジスタ１２３の出力、ＸPがＸＬｉか
らＸＲｉまでは“１”、ＸPがＸＲｉ＋１からＸＲｅま
での間はレジスタ１２６の出力が輝度値ＩPとして選択
されることになる。また、コントローラ１２１は、前段
回路からのＳＴＡＲＴ信号によって１スキャンライン分
の動作を開始し、ＸPがＸＲｅを超えたことをもって前
段回路に処理終了を示すＥＮＤ信号を出力する。
【００４４】このように、この回路によれば、スキャン
ラインに沿って順次ピクセルの輝度値を求めていくこと
ができるので、高速処理が可能になる。
ラインに沿って順次ピクセルの輝度値を求めていくこと
ができるので、高速処理が可能になる。
【００４５】ところで、上記実施例では、頂点のＹ座標
はライン上に存在することを前提として説明したが、例
えば図１３に示すように、各頂点Ａ，Ｂ，Ｃの座標（Ｘ
A，ＹA），（ＸB，ＹB），（ＸC，ＹC）がライン上に存
在しない場合には、Ｙ座標の小数部分（以下、ＹLSBと
呼ぶ）を考慮することにより、更に滑らかな表現が可能
になる。この場合、図１４に示すように、スキャンライ
ン間に頂点を含む場合、輝度値の基準となるΔＹを次の
ように設定し、前述した輝度値にΔＹを乗算した値をも
って輝度値ＩPとする。
はライン上に存在することを前提として説明したが、例
えば図１３に示すように、各頂点Ａ，Ｂ，Ｃの座標（Ｘ
A，ＹA），（ＸB，ＹB），（ＸC，ＹC）がライン上に存
在しない場合には、Ｙ座標の小数部分（以下、ＹLSBと
呼ぶ）を考慮することにより、更に滑らかな表現が可能
になる。この場合、図１４に示すように、スキャンライ
ン間に頂点を含む場合、輝度値の基準となるΔＹを次の
ように設定し、前述した輝度値にΔＹを乗算した値をも
って輝度値ＩPとする。
【００４６】 （ａ）スキャンライン間に上端の頂点を含む場合 ΔＹ＝１−ＹLSB （ｂ）スキャンライン間に頂点を含まない場合 ΔＹ＝ＹLSB＝１ （ｃ）スキャンライン間に下端の頂点を含む場合 ΔＹ＝ＹLSB
【００４７】このため、この実施例では、図９に示した
エッジ座標算出回路１２を、図１５のように構成する。
この回路では、頂点Ａ，Ｂ，ＣのＹ座標ＹA，ＹB，ＹC
をコントロール信号Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ１３１
で選択し、このセレクタ１３１の出力とこれを切り捨て
回路１３２で切り捨てた値とを減算器１３３で減算する
ことにより、頂点でのＹLSBを算出する。セレクタ１３
４は、減算器１３３の出力と“１”とを切り換えること
により、ＹLSBレジスタ１３５に、頂点では１よりも小
さい値、その他の部分では“１”となるＹLSBを格納す
る。また、切り捨て回路１３２の出力はセレクタ１３６
を介してＹNレジスタ１３７に初期値として格納され
る。ＹNレジスタ１３７には、加算器１３８で“１”が
順次加算された値が更新値として格納されていく。Ｙ
LSBレジスタ１３５に格納されたＹLSBは、減算器１３９
によって“１”から減算される。セレクタ１４０は、上
述した（ａ），（ｂ），（ｃ）の各場合に応じたΔＹの
値を出力する。
エッジ座標算出回路１２を、図１５のように構成する。
この回路では、頂点Ａ，Ｂ，ＣのＹ座標ＹA，ＹB，ＹC
をコントロール信号Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ１３１
で選択し、このセレクタ１３１の出力とこれを切り捨て
回路１３２で切り捨てた値とを減算器１３３で減算する
ことにより、頂点でのＹLSBを算出する。セレクタ１３
４は、減算器１３３の出力と“１”とを切り換えること
により、ＹLSBレジスタ１３５に、頂点では１よりも小
さい値、その他の部分では“１”となるＹLSBを格納す
る。また、切り捨て回路１３２の出力はセレクタ１３６
を介してＹNレジスタ１３７に初期値として格納され
る。ＹNレジスタ１３７には、加算器１３８で“１”が
順次加算された値が更新値として格納されていく。Ｙ
LSBレジスタ１３５に格納されたＹLSBは、減算器１３９
によって“１”から減算される。セレクタ１４０は、上
述した（ａ），（ｂ），（ｃ）の各場合に応じたΔＹの
値を出力する。
【００４８】エッジ交点のＸ座標ＸL，ＸRを求めるため
の回路は、基本的には図９に示した回路と同様である
が、ＸＤ１，ＸＤ２，ＸＤ３は、乗算器１５０，１５
１，１５２，１５３によってそれぞれΔＹが乗算される
ので、頂点の次のラインにおけるＸL，ＸRを決定する際
の増分値は、他のラインの増分値とは異なる値となる。
の回路は、基本的には図９に示した回路と同様である
が、ＸＤ１，ＸＤ２，ＸＤ３は、乗算器１５０，１５
１，１５２，１５３によってそれぞれΔＹが乗算される
ので、頂点の次のラインにおけるＸL，ＸRを決定する際
の増分値は、他のラインの増分値とは異なる値となる。
【００４９】図１６は、この実施例における水平ライン
処理回路２のブロック図であり、図１２と同一部分には
同一符号を付して詳しい説明は割愛する。この実施例で
は、左側エッジの処理と右側エッジの処理とを別々に行
った結果ＩP1，ＩP2を減算器１６４で減算することによ
り、頂点を含む部分の処理を簡素化させている。セレク
タ１６２，１６３には、ΔＹの値も与えられており、コ
ントローラ１６１は、ＸPがＸＬｉ以上になったときに
セレクタ１６２でΔＹを選択し、ＸPがＸＲｅを超えた
ときにセレクタ１６３でΔＹを選択する。Ｉ0Ｌ，ｄｄ
ＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲは、予めΔＹを基準とした値に
設定されている。また、この例では、Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ
がそれぞれ右側エッジの内側からの輝度の減少値の初期
値及び増加値である点が先の実施例とは異なっている。
勿論、ΔＹによる重み付けは、加算値ＩP1，ＩP2や最終
結果の輝度値ＩPに対して行うようにしてもよい。
処理回路２のブロック図であり、図１２と同一部分には
同一符号を付して詳しい説明は割愛する。この実施例で
は、左側エッジの処理と右側エッジの処理とを別々に行
った結果ＩP1，ＩP2を減算器１６４で減算することによ
り、頂点を含む部分の処理を簡素化させている。セレク
タ１６２，１６３には、ΔＹの値も与えられており、コ
ントローラ１６１は、ＸPがＸＬｉ以上になったときに
セレクタ１６２でΔＹを選択し、ＸPがＸＲｅを超えた
ときにセレクタ１６３でΔＹを選択する。Ｉ0Ｌ，ｄｄ
ＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲは、予めΔＹを基準とした値に
設定されている。また、この例では、Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ
がそれぞれ右側エッジの内側からの輝度の減少値の初期
値及び増加値である点が先の実施例とは異なっている。
勿論、ΔＹによる重み付けは、加算値ＩP1，ＩP2や最終
結果の輝度値ＩPに対して行うようにしてもよい。
【００５０】この回路では、最初に上の頂点が存在する
スキャンラインを次のように処理する。即ち、上側の頂
点につながる２本のエッジは、それらの傾きにより、図
１７に示すように３つのパターンに分けられる。同図
（ａ）は左右のエッジの傾きの符号が異なる場合、同図
（ｂ）は左右のエッジが共に負である場合、同図（ｃ）
は左右のエッジが共に正である場合である。各場合につ
いて、加算器１２４，１２７の出力ＩP1，ＩP2は、図１
８の各塗り潰し領域の面積で表される。従って、ＩP1か
らＩP2を減算器１６４で減算することにより、ライン間
に有する頂点部分の輝度ＩPを簡単に求めることができ
る。
スキャンラインを次のように処理する。即ち、上側の頂
点につながる２本のエッジは、それらの傾きにより、図
１７に示すように３つのパターンに分けられる。同図
（ａ）は左右のエッジの傾きの符号が異なる場合、同図
（ｂ）は左右のエッジが共に負である場合、同図（ｃ）
は左右のエッジが共に正である場合である。各場合につ
いて、加算器１２４，１２７の出力ＩP1，ＩP2は、図１
８の各塗り潰し領域の面積で表される。従って、ＩP1か
らＩP2を減算器１６４で減算することにより、ライン間
に有する頂点部分の輝度ＩPを簡単に求めることができ
る。
【００５１】スキャンライン内に頂点が存在しないとき
には、図１９に示すように、ΔＹ＝１となるが、上記と
全く同様の演算によって各ピクセルＸPでの輝度ＩPを算
出することができる。
には、図１９に示すように、ΔＹ＝１となるが、上記と
全く同様の演算によって各ピクセルＸPでの輝度ＩPを算
出することができる。
【００５２】更に、図２０に示すように、スキャンライ
ン間に端点Ｂが存在する場合には、スキャンラインを端
点Ｂの上側と下側とに分けて同様の処理を行う。まず、
図２１（ａ）に示すように、上側の部分の輝度ＩPを計
算し、次に、同図（ｂ）のように、下側の部分の輝度Ｉ
Pを計算する。このとき、Ｙ座標値は同じである。そし
て、これらの演算結果は、加算・混合され、同一の画素
に対する輝度値ＩPとして求められる。
ン間に端点Ｂが存在する場合には、スキャンラインを端
点Ｂの上側と下側とに分けて同様の処理を行う。まず、
図２１（ａ）に示すように、上側の部分の輝度ＩPを計
算し、次に、同図（ｂ）のように、下側の部分の輝度Ｉ
Pを計算する。このとき、Ｙ座標値は同じである。そし
て、これらの演算結果は、加算・混合され、同一の画素
に対する輝度値ＩPとして求められる。
【００５３】図２２に示すように、スキャンライン間に
下側の頂点が存在する場合も、上記と全く同様の手順に
より、各ピクセルの輝度値ＩPを求めることができる。
下側の頂点が存在する場合も、上記と全く同様の手順に
より、各ピクセルの輝度値ＩPを求めることができる。
【００５４】なお、以上の実施例では、三角形のエッジ
処理について説明したが、これを応用することにより、
更に多角形のエッジ処理にも応用可能であることは言う
までもない。また、上記実施例では、グリッド上の点の
輝度値を求めるようにしているが、実際の点の輝度値か
ら水平ライン描画時に補正を加えていくようにしても良
い。
処理について説明したが、これを応用することにより、
更に多角形のエッジ処理にも応用可能であることは言う
までもない。また、上記実施例では、グリッド上の点の
輝度値を求めるようにしているが、実際の点の輝度値か
ら水平ライン描画時に補正を加えていくようにしても良
い。
【００５５】また、上述した実施例は、各部の処理をハ
ードウェアにて実現したが、各部の処理をソフトウェア
によって実現することもできる。この場合には、多角形
描画処理プログラムは、適当な記録媒体に記録して提供
可能である。
ードウェアにて実現したが、各部の処理をソフトウェア
によって実現することもできる。この場合には、多角形
描画処理プログラムは、適当な記録媒体に記録して提供
可能である。
【００５６】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、エ
ッジ計算によってスキャンラインのスキャン方向上流側
エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、同じく
下流側エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、
第１の外側交点から内側交点までの輝度値の増加率、並
びに第２の内側交点から外側交点までの輝度値の減少率
をそれぞれスキャンライン毎に求めているので、第１の
外側交点から内側交点まで前記増加率に基づいて徐々に
輝度値を増加させ、前記第２の内側交点から外側交点ま
で前記減少率に基づいて徐々に輝度値を減少させること
により、スキャンラインの上流側から下流側へかけて順
番に輝度値を求めていくことができ、スキャンラインに
沿ったシーケンシャルな処理が可能になる。このため、
高速描画処理が実現できる。
ッジ計算によってスキャンラインのスキャン方向上流側
エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、同じく
下流側エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、
第１の外側交点から内側交点までの輝度値の増加率、並
びに第２の内側交点から外側交点までの輝度値の減少率
をそれぞれスキャンライン毎に求めているので、第１の
外側交点から内側交点まで前記増加率に基づいて徐々に
輝度値を増加させ、前記第２の内側交点から外側交点ま
で前記減少率に基づいて徐々に輝度値を減少させること
により、スキャンラインの上流側から下流側へかけて順
番に輝度値を求めていくことができ、スキャンラインに
沿ったシーケンシャルな処理が可能になる。このため、
高速描画処理が実現できる。
【図１】 この発明の一実施例に係る多角形描画装置の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】 同装置におけるエッジ計算回路の処理内容を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図３】 同装置における水平ライン処理回路の動作を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図４】 エッジ計算回路での右側エッジの各種データ
の算出方法を説明するための図である。
の算出方法を説明するための図である。
【図５】 エッジ計算回路での左側エッジの各種データ
の算出方法を説明するための図である。
の算出方法を説明するための図である。
【図６】 水平ライン処理回路での頂点部の処理を説明
するための図である。
するための図である。
【図７】 エッジ計算回路の詳細ブロック図である。
【図８】 同回路におけるエッジ傾き計算回路のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図９】 同回路におけるエッジ座標算出回路のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図１０】 同回路におけるエッジ範囲算出回路のブロ
ック図である。
ック図である。
【図１１】 同回路における輝度初期値・増分値算出回
路のブロック図である。
路のブロック図である。
【図１２】 水平ライン処理回路の詳細ブロック図であ
る。
る。
【図１３】 この発明の他の実施例に適用される多角形
を示す図である。
を示す図である。
【図１４】 同多角形のライン間のパターンを示す図で
ある。
ある。
【図１５】 同実施例のエッジ座標算出回路のブロック
図である。
図である。
【図１６】 同実施例の水平ライン処理回路のブロック
図である。
図である。
【図１７】 同多角形の頂点の態様を示す図である。
【図１８】 同各態様に対応した水平ライン処理回路の
動作を説明するための図である。
動作を説明するための図である。
【図１９】 同多角形の中間部での水平ライン処理回路
の動作を説明するための図である。
の動作を説明するための図である。
【図２０】 ライン間に多角形の端部を含む態様を示す
図である。
図である。
【図２１】 図２０の場合の水平ライン処理回路の動作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図２２】 多角形の下端部の処理を説明するための図
である。
である。
【図２３】 従来の直線描画方法を示す図である。
【図２４】 従来のアンチエイリアシング直線描画方法
を説明するための図である。
を説明するための図である。
１…エッジ計算回路、２…水平ライン処理回路、３…ピ
クセル処理回路、４…メモリ。
クセル処理回路、４…メモリ。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06T 11/20 G06T 11/00 G06T 15/00
Claims (5)
- 【請求項１】 描画平面上の各グリッドを覆う面積に応
じた輝度値を与えることにより、多角形のエッジ部分を
滑らかに描画するようにした多角形描画装置において、 前記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの
交差部に関するデータであって、前記スキャンラインの
スキャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及
び内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側
エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第
１の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、
並びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度
値の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン
毎に求めるエッジ計算手段と、 このエッジ計算手段で求められた前記各スキャンライン
毎のライン交点データに基づいて、各スキャンライン毎
にスキャン方向に前記多角形の内部の各輝度値をシーケ
ンシャルに求めるスキャンライン処理手段とを備え、 前記エッジ計算手段は、前記描画すべき多角形の頂点間
を所定サイズのダイアモンドブロックによってドラッグ
したときに得られる所定幅を持った各軌跡の両エッジと
スキャンラインとの交点を求め、前記スキャン方向上流
側の前記軌跡の両エッジとスキャンラインとの交点にそ
れぞれスキャン方向下流側で隣接するグリッド上の位置
をそれぞれ前記第１の外側交点及び内側交点とし、前記
スキャン方向下流側の前記軌跡の両エッジとスキャンラ
インとの交点にそれぞれスキャン方向上流側で隣接する
グリッド上の位置をそれぞれ前記第２の外側交点及び内
側交点とするものである ことを特徴とする多角形描画装
置。 - 【請求項２】 前記エッジ計算手段は、前記第１の外側
交点における輝度値及び前記第２の内側交点とスキャン
方向下流側で隣接するグリッド上の点における輝度値を
それぞれ初期値として算出するものであることを特徴と
する請求項１記載の多角形描画装置。 - 【請求項３】 前記スキャンライン処理手段は、各スキ
ャンライン毎に前記第１の外側交点から内側交点まで前
記増加率を累算して各輝度値を出力し、前記第１の内側
交点から前記第２の内側交点まで一定の輝度値を出力
し、且つ前記第２の内側交点から外側交点まで前記減少
率を累算して各輝度値を出力するものであることを特徴
とする請求項１又は２記載の多角形描画装置。 - 【請求項４】 描画平面上の各グリッドを覆う面積に応
じた輝度値を与えることにより、多角形のエッジ部分を
滑らかに描画するようにした多角形描画プログラムを記
憶した媒体において、 前記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの
交差部に関するデータであって、前記スキャンラインの
スキャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及
び内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側
エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第
１の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、
並びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度
値の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン
毎に求めるエッジ計算ステップと、 このエッジ計算ステップで求められた前記各スキャンラ
イン毎のライン交点データに基づいて、各スキャンライ
ン毎にスキャン方向に前記多角形の内部の各輝度値をシ
ーケンシャルに求めるスキャンライン処理ステップとを
備え、 前記エッジ計算ステップは、前記描画すべき多角形の頂
点間を所定サイズのダイアモンドブロックによってドラ
ッグしたときに得られる所定幅を持った各軌跡の両エッ
ジとスキャンラインとの交点を求め、前記スキャン方向
上流側の前記軌跡の両エッジとスキャンラインとの交点
にそれぞれスキャン方向下流側で隣接するグリッド上の
位置をそれぞれ前記第１の外側交点及び内側交点とし、
前記スキャン方向下流側の前記軌跡の両エッジとスキャ
ンラインとの交点にそれぞれスキャン方向上流側で隣接
するグリッド上の位置をそれぞれ前記第２の外側交点及
び内側交点と する多角形描画プログラムを記憶した媒
体。 - 【請求項５】 描画平面上の各グリッドを覆う面積に応
じた輝度値を与えることにより、多角形のエッジ部分を
滑らかに描画するようにした多角形描画方法において、 前記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの
交差部に関するデータであって、前記スキャンラインの
スキャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及
び内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側
エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第
１の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、
並びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度
値の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン
毎に求めると共に、この求められた前記各スキャンライ
ン毎のライン交点データに基づいて、各スキャンライン
毎にスキャン方向に前記多角形の内部の各輝度値をシー
ケンシャルに求めるに際し、 前記描画すべき多角形の頂点間を所定サイズのダイアモ
ンドブロックによってドラッグしたときに得られる所定
幅を持った各軌跡の両エッジとスキャンラインとの交点
を求め、前記スキャン方向上流側の前記軌跡の両エッジ
とスキャンラインとの交点にそれぞれスキャン方向下流
側で隣接するグリッド上の位置をそれぞれ前記第１の外
側交点及び内側交点とし、前記スキャン方向下流側の前
記軌跡の両エッジとスキャンラインとの交点にそれぞれ
スキャン方向上流側で隣接するグリッド上の位置をそれ
ぞれ前記第２の外側交点及び内側交点とする ようにした
ことを特徴とする多角形描画方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18558197A JP3161372B2 (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | 多角形描画方法及び装置 |
| US09/932,810 US7142224B2 (en) | 1997-07-10 | 2001-08-20 | Polygon drawing apparatus and method, and storage medium for implementing the same method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18558197A JP3161372B2 (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | 多角形描画方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1131233A JPH1131233A (ja) | 1999-02-02 |
| JP3161372B2 true JP3161372B2 (ja) | 2001-04-25 |
Family
ID=16173320
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18558197A Expired - Fee Related JP3161372B2 (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | 多角形描画方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3161372B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8520007B2 (en) | 2008-01-15 | 2013-08-27 | Mitsubishi Electronic Corporation | Graphic drawing device and graphic drawing method |
| JP4998386B2 (ja) | 2008-06-27 | 2012-08-15 | 富士通セミコンダクター株式会社 | ライン描画方法 |
| CN109389595B (zh) * | 2018-10-11 | 2022-02-15 | 广东工业大学 | 一种表格线交点检测方法、电子设备及可读存储介质 |
-
1997
- 1997-07-10 JP JP18558197A patent/JP3161372B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1131233A (ja) | 1999-02-02 |
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