JP3150318U - IC socket - Google Patents
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Abstract
【課題】ICパッケージをコンタクトに安定するように接続させるICソケットを提供する。【解決手段】複数のコンタクトを装着するためのソケット本体と、前記ソケット本体に対して上下動可能に設けられた枠形のカバー部材と、前記ソケット本体に回動可能に実装され、開放状態と閉鎖状態を有する加圧機構とを含み、ICパッケージと回路基板を接続するためのICソケットにおいて、前記加圧機構には、前記ICパッケージを押圧するための少なくともの二つの加圧部が形成されることを特徴とする。【選択図】図4An IC socket for stably connecting an IC package to a contact is provided. A socket main body for mounting a plurality of contacts, a frame-shaped cover member provided so as to be movable up and down with respect to the socket main body, and rotatably mounted on the socket main body. In an IC socket for connecting an IC package and a circuit board, the pressure mechanism includes at least two pressure portions for pressing the IC package. It is characterized by that. [Selection] Figure 4
Description
本考案は、半導体集積回路パッケージ(以下、ICパッケージと称す。)等の半導体装置としての電子部品が用いられるソケットに関して、特に、ICパッケージをその導電パッドとコンタクトとの所定の接触圧状態を維持しつつソケット本体に押圧して保持する加圧機構を備えたICパッケージ用ソケットに関する。 The present invention relates to a socket in which an electronic component as a semiconductor device such as a semiconductor integrated circuit package (hereinafter referred to as an IC package) is used. In particular, the IC package maintains a predetermined contact pressure state between its conductive pads and contacts. In particular, the present invention relates to an IC package socket provided with a pressurizing mechanism that presses and holds the socket body.
電子機器などに実装される半導体装置は、実装される以前の段階で種々の試験が行われその潜在的欠陥が除去される。その試験は、熱的および機械的環境試験などに対応した電圧ストレス印加、高温動作、高温保存などにより非破壊的に実施される。その種々の試験のうちで初期動作不良集積回路の除去に有効とされる試験としては、高温条件のもとで一定時間の動作試験を行うバーンイン(burn in)試験が行われている。 A semiconductor device mounted on an electronic device or the like is subjected to various tests at a stage before mounting to remove potential defects. The test is performed non-destructively by voltage stress application, high temperature operation, high temperature storage, etc. corresponding to thermal and mechanical environment tests. Of these various tests, a burn-in test is performed as an effective test for removing an initially malfunctioning integrated circuit. The burn-in test performs an operation test for a predetermined time under a high temperature condition.
このような試験に供される半導体装置用ソケットは、一般に、ICソケットと称され、例えば、特許文献1と特許文献2とに示すように、所定の試験電圧が供給されるとともに被検査物としての半導体装置からの短絡等をあらわす異常検出信号を送出する入出力部を有するプリント配線基板上に配される。 A semiconductor device socket used for such a test is generally called an IC socket. For example, as shown in Patent Document 1 and Patent Document 2, a predetermined test voltage is supplied and an object to be inspected is used. It is arranged on a printed wiring board having an input / output unit for sending an abnormality detection signal representing a short circuit or the like from the semiconductor device.
図1に示すような従来技術に係るICソケット100は、固定側のソケット本体10’と、該ソケット本体10’に対して上下動可能に設けられた枠形のカバー部材20’と、中央に前記ICパッケージ装着部(参照記号なし)を有して前記ソケット本体10’に取り外し自在に設けられた台座50’と、前記台座50’のICパッケージ装着部に装着された電子部材としてのICパッケージを加圧して保持する加圧機構30’と、ICパッケージの導電パッドに接続される複数のコンタクトとを含む。
An
従来のICソケット100においては、前記電子部品としてのICパッケージを加圧して保持する加圧機構30’は、加圧用のレバー部材を有しており、このレバー部材の先端部に加圧部31’が設けられる。電子部品としてのICパッケージが前記台座50’のICパッケージ装着部に装着された際に、前記加圧機構30’の加圧部31’がICパッケージを押圧して前記コンタクトに安定するように接続している。
In the
前記加圧機構30’の加圧部31’がICパッケージを押圧する際において、前記加圧部31’とICパッケージとの間において面で接触することで不安定に押圧する恐れがあるので、ICパッケージの導電パッドとICソケットのコンタクトとの間の接続が不安定になる恐れがある。そこで、新型のICソケットを開発することが必要である。
When the pressurizing
本考案は、ICパッケージをコンタクトに安定な接続させるICソケットを提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an IC socket for stably connecting an IC package to a contact.
本考案のICソケットは、複数のコンタクトを装着するためのソケット本体と、前記ソケット本体に対して上下動可能に設けられた枠形のカバー部材と、前記ソケット本体に回動可能に実装され、開放状態と閉鎖状態とを有する加圧機構とを含み、ICパッケージと回路基板を接続するためのICソケットにおいて、前記加圧機構には、前記ICパッケージを押圧するための少なくともの二つの加圧部が形成されることを特徴とする。 The IC socket of the present invention is mounted on a socket main body for mounting a plurality of contacts, a frame-shaped cover member provided to be movable up and down with respect to the socket main body, and rotatably mounted on the socket main body. An IC socket for connecting an IC package and a circuit board, wherein the pressurizing mechanism includes at least two pressurizations for pressing the IC package. A portion is formed.
従来技術に比べ、本考案のICソケットは以下の利点を有し、加圧機構にはICパッケージを押圧する少なくともの二つの加圧部が形成されることによって、加圧機構の加圧部が点で接触してICパッケージを安定するように押圧するので、ICパッケージをコンタクトに安定するように接続させる。 Compared with the prior art, the IC socket of the present invention has the following advantages, and the pressurizing mechanism is provided with at least two pressurizing sections that press the IC package. Since the IC package is pressed in a stable manner by contact at a point, the IC package is connected to the contact in a stable manner.
以下、図2〜図4を参照すると、本考案のICソケット200の好ましい実施形態について、添付図面を参照して説明する。本考案の実施状態のICソケット200は、ICパッケージ40を回路基板(図示せず)に接続するのに用いられ、複数のコンタクトを装着されるソケット本体10と、該ソケット本体10に対して上下動可能に設けられた枠形のカバー部材20と、中央にICパッケージ装着部52を有する台座50と、前記ICパッケージ装着部52に装着されたICパッケージ40を加圧して保持する加圧機構30とを含む。
2 to 4, a preferred embodiment of the
前記ソケット本体10の側壁11には複数のガイド溝14がそれぞれ形成され、ソケット本体10の四隅の底壁には回路基板(図示せず)の対応する固定孔に実装される第1コーナーポスト12がそれぞれ下向きに延出するように形成される。前記ソケット本体10の四隅の頂壁に前記第一コーナーポスト12に対応するコーナー孔13がそれぞれ形成され、各コーナー孔13にはコイルスプリングのようなバネ部材(図示せず)が収容される。
A plurality of
前記台座50には前記ソケット本体10の上方に位置し、その中央にはICパッケージ装着部52が窪んで設けられ、該ICパッケージ装着部52には前記複数のコンタクトを貫通する貫通孔54が形成される。勿論、該台座50はソケット本体10と一体または分離するように形成され得る。
The
前記カバー部材20は枠形状を呈し、前記ソケット本体10に対して上下動可能に設けられ、カバー部材20の四隅には、前記ソケット本体10のコーナー孔13にそれぞれ対応収容される第2コーナーポスト22が形成され、前記カバー部材20の側壁にはソケット本体10のガイド溝14に沿って移動可能的なガイド片24がそれぞれ突出するように形成され、これによって、ガイド片24が前記ガイド溝14に対して移動することを正確に位置決めする。
The
前記加圧機構30は、ソケット本体10に回動可能に実装され、対向するように配置される一対を有し、各加圧機構30には前記ICパッケージ装着部52に装着されたICパッケージ40を加圧するための両加圧部31が形成され、該両加圧部31が各加圧機構30の先端に分岐して設けられる。
The pressurizing
図3を参照すると、前記コーナー孔13でのバネ部材がカバー部材20を上向きに上下方向に弾性付勢している。外力によりカバー部材20を下向きに押圧する際において、前記加圧機構30が開放状態になると、前記ICパッケージ40をICパッケージ装着部52に装着されている。次に、図4を参照すると、外力を外す際にカバー部材20がバネ部材により常時状態に回復するとともに、加圧機構30が前記ICパッケージ40に加圧して保持する即ち閉鎖状態になり、加圧機構30の両加圧部31がICパッケージ40にそれぞれ当接している。
Referring to FIG. 3, the spring member in the
本考案に係るICソケット200は従来技術に比べて、加圧機構30の加圧部31が先端に分岐して設けられるために、ICパッケージ40に当接することになり、ICパッケージをコンタクトに安定するように接続させることになる。
Compared with the prior art, the
以上本考案について最良の実施の形態を参照して詳細に説明したが、実施形態はあくまでも例示的なものであり、これらに限定されない。また上述の説明は、本考案に基づきなしうる細部の修正或は変更など、いずれも本考案の請求範囲に属するものとする。 Although the present invention has been described in detail with reference to the best embodiment, the embodiment is merely illustrative and is not limited thereto. In addition, the above description is intended to be within the scope of the claims of the present invention, such as modification or change of details that can be made based on the present invention.
200 ICソケット
10 ソケット本体
11 側壁
12 第一コーナーポスト
13 コーナー孔
14 ガイド溝
20 カバー部材
22 第2コーナーポスト
24 ガイド片
30 加圧機構
31 加圧部
40 ICパッケージ
50 台座
52 ICソケット装着部
54 貫通孔
200
Claims (3)
前記ソケット本体に対して上下動可能に設けられた枠形のカバー部材と、
前記ソケット本体に回動可能に実装され、開放状態と閉鎖状態を有する加圧機構と
を含み、ICパッケージと回路基板を接続するためのICソケットにおいて、
前記加圧機構には、前記ICパッケージを押圧するための少なくともの二つの加圧部が形成されることを特徴とするICソケット。 A socket body for mounting a plurality of contacts;
A frame-shaped cover member provided to be movable up and down with respect to the socket body;
In the IC socket for connecting the IC package and the circuit board, including a pressurizing mechanism that is rotatably mounted on the socket body and has an open state and a closed state.
The IC socket according to claim 1, wherein at least two pressing portions for pressing the IC package are formed in the pressing mechanism.
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