JP2002062312A - Contact device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、コンタクト装置、
特に、配線、端子及び/又は電極を多数有する被コンタ
クト物、例えば被検査プリント基板の該配線、端子及び
/又は電極の少なくとも一部であるコンタクトを取るべ
き部分と対応する多数のプローブを有し、該各コンタク
トをとるべき部分を該各プローブを介して電気的に外
部、例えばテスター回路に導出するコンタクト装置に関
する。[0001] The present invention relates to a contact device,
In particular, an object to be contacted having a large number of wirings, terminals and / or electrodes, for example, a large number of probes corresponding to a portion to be contacted which is at least a part of the wirings, terminals and / or electrodes of the printed circuit board to be inspected The present invention also relates to a contact device for electrically leading a part to be contacted to each other, for example, to a tester circuit through each probe.
【0002】[0002]
【従来の技術】IC、LSI、トランジスタその他の電
子部品を用いた電子回路は、各種の装置、機器類に非常
に多く用いられており、その用途は拡大の一途を辿って
いるが、これらの電子回路は片面或いは両面に配線膜が
印刷されたプリント基板を用いて構成されるのが普通で
あり、該プリント基板にIC、LSI、トランジスタそ
の他の各種電子部品を搭載し、必要な半田付けを行うこ
とにより電子回路が構成されるようになっている。2. Description of the Related Art Electronic circuits using ICs, LSIs, transistors, and other electronic components are used in a large number of devices and equipment, and the applications thereof are steadily expanding. An electronic circuit is usually configured using a printed circuit board on which a wiring film is printed on one or both sides, and ICs, LSIs, transistors, and other various electronic components are mounted on the printed circuit board, and necessary soldering is performed. By doing so, an electronic circuit is configured.
【0003】そして、電子回路を用いた装置、機器類は
その多くが小型化、高機能化、高性能化が要求され、そ
れに伴って電子回路の回路構成が複雑化、高集積化を要
求されている。従って、プリント基板の配線も微細化、
高集積化の傾向があり、その結果、その検査が難しくな
る。というのは、配線の微細化、高集積化により検査用
プローブの配設密度、配置位置の精度を高くすることが
必要であるからである。それでいて、検査の重要性は高
まる一方である。というのは、配線の微細化、高集積化
が進むほど、ショート不良の発生率が高くなるからであ
る。[0003] Many of the devices and equipment using electronic circuits are required to be reduced in size, to have higher functions, and to have higher performance. As a result, the circuit configuration of electronic circuits is required to be more complicated and higher integration is required. ing. Therefore, the wiring of the printed circuit board is also miniaturized,
There is a tendency for high integration, which makes the inspection difficult. This is because it is necessary to increase the arrangement density and the accuracy of the arrangement position of the inspection probe by making the wiring finer and more highly integrated. Nevertheless, the importance of testing is growing. The reason for this is that the finer the wiring and the higher the integration, the higher the incidence of short-circuit defects.
【0004】そして、その検査には、テスター回路を備
えたテスターが用いられ、そのテスター回路へのプリン
ト基板の各配線膜、電極等の電気的導出にはコンタクト
装置が用いられる。このコンタクト装置はプレートに多
数のプローブを備え、各プローブの一端をプリント基板
の各配線膜等のテスター回路に電気的に接続すべき部分
に接触させ、他端をテスター回路に接続されたコードの
先端に接触させるようになっているものが多いが、これ
にはいくつかの種類がある。Then, a tester having a tester circuit is used for the inspection, and a contact device is used for electrically leading each wiring film, electrode, etc. of the printed circuit board to the tester circuit. This contact device has a large number of probes on a plate, one end of each probe is brought into contact with a portion to be electrically connected to a tester circuit such as each wiring film on a printed circuit board, and the other end of a cord connected to the tester circuit. Many are designed to contact the tip, but there are several types.
【0005】図3(A)〜(C)はその検査に用いられ
た従来のコンタクト装置の各別の例を示す断面図であ
る。図3(A)はリジットタイプのプリント基板測定用
コンタクト装置を示す。同図において、aはピンコンタ
クトbを収納するプレートで、2枚の板a1、a2を積
層してなる。cは板a1に形成された孔、dは板a2に
形成された孔で、この孔cと孔dによりピン収納孔が構
成され、該ピン収納孔に上記ピンコンタクトbがその両
端が上記プレートaの両表面から突出するように収納さ
れている。FIGS. 3A to 3C are cross-sectional views showing different examples of the conventional contact device used for the inspection. FIG. 3A shows a rigid-type printed circuit board measuring contact device. In the figure, a is a plate for accommodating a pin contact b and is formed by laminating two plates a1 and a2. c is a hole formed in the plate a1, d is a hole formed in the plate a2, and the pin c and the hole d constitute a pin storage hole, and the pin contact b is provided in the pin storage hole at both ends thereof. a so as to protrude from both surfaces.
【0006】図3(B)はフレキシブルタイプのプリン
ト基板にも対応可能なコンタクト装置を示す。図3
(B)において、aはピンコンタクトbの基部側半部を
収納するプレートで、2枚の板a1、a2を積層してな
る。a3は可動プレートで、上記プレートa上にスプリ
ングe、eを介して配設され、該スプリングe、eのば
ね力に抗して可動プレートa3をプレートa側に押圧す
ると上記ピンコンタクトbの先端が該可動プレートa3
の孔fを通して該可動プレートa3の表面(反プレート
a側表面)から適宜量突出するようになっており、この
ように、可動プレートa3をスプリングe、eを介して
設けることによりフレキシブルタイプのプリント基板の
配線膜、電極等にピンコンタクトbの先端を接触させて
電気的導出を支障無く行うことが可能となる。FIG. 3B shows a contact device which can be applied to a flexible type printed circuit board. FIG.
In (B), a is a plate for accommodating the base half of the pin contact b, and is formed by laminating two plates a1 and a2. Reference numeral a3 denotes a movable plate, which is disposed on the plate a via springs e and e. When the movable plate a3 is pressed against the plate a against the spring force of the springs e and e, the tip of the pin contact b Is the movable plate a3
The movable plate a3 protrudes from the surface of the movable plate a3 (surface on the side opposite to the plate a) by an appropriate amount through the hole f. Thus, by providing the movable plate a3 via the springs e and e, the flexible type printing is performed. The electrical derivation can be performed without any trouble by bringing the tip of the pin contact b into contact with a wiring film, an electrode, or the like of the substrate.
【0007】図3(C)はプリント基板と各ピンとのプ
レート平面方向における位置関係を微調整できるように
したタイプのプリント基板測定用コンタクト装置を示す
ものである。図3(C)において、aは3枚の板a1、
a2、a3からなるプレートで、中間の板a2はその上
下の板a1、a3に対してその平面方向に移動可能であ
る。gは該プレートaに収納されたプローブコンタクト
であり、バーレル内にスプリングを介してプランジャー
を収納し、該プランジャーの外端を端子とし、該端子を
プリント基板の配線等に接触させるようにしたものであ
り、上記スプリングのばね力により端子を配線等に弾接
させることができる。従って、フレキシブルタイプのプ
リント基板に対応することができるのである。FIG. 3C shows a contact device for measuring a printed circuit board of a type in which the positional relationship between the printed circuit board and each pin in the plate plane direction can be finely adjusted. In FIG. 3C, a is three plates a1,
In the plate composed of a2 and a3, the intermediate plate a2 is movable in the plane direction with respect to the upper and lower plates a1 and a3. g is a probe contact accommodated in the plate a, accommodates a plunger in a barrel via a spring, uses the outer end of the plunger as a terminal, and contacts the terminal to a wiring or the like of a printed circuit board. The terminal can be elastically contacted with a wiring or the like by the spring force of the spring. Therefore, it can correspond to a flexible type printed circuit board.
【0008】hはガイドピンで、板a1、a2に取り付
けられ、板a3の遊挿孔iに遊挿されている。板a2の
プローブコンタクトgの通る孔jは該プローブコンタク
トgの径よりも大きくされ、板a2を板a1、a3に対
して平面方向に移動させることができるようになってい
る。従って、板a2を動かすことによりガイドピンhを
動かすことができる。そして、このガイドピンhは被検
査プリント基板のガイドピン嵌合孔に嵌合されるもので
あるから、プローブコンタクトgに対する被検査プリン
ト基板の位置を微調整することができるのである。Reference numeral h denotes a guide pin which is attached to the plates a1 and a2 and is loosely inserted into the play insertion hole i of the plate a3. The hole j through which the probe contact g of the plate a2 passes is made larger than the diameter of the probe contact g, so that the plate a2 can be moved in a plane direction with respect to the plates a1 and a3. Therefore, the guide pin h can be moved by moving the plate a2. Since the guide pins h are fitted into the guide pin fitting holes of the printed circuit board to be inspected, the position of the printed circuit board relative to the probe contacts g can be finely adjusted.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3(A)
に示すコンタクト装置には、リジットタイプのプリント
基板測定用コンタクト装置にしか対応できないという問
題がある。最近はフレキシブルタイプのプリント基板が
多くなっており、リジットタイプのプリント基板測定用
コンタクト装置にしか対応できないことは好ましくない
のである。それに対して、図3(B)、(C)に示すコ
ンタクト装置はフレキシブルタイプのプリント基板にも
対応できるので、その点で優れていると言える。FIG. 3 (A)
The contact device described in (1) has a problem that it can be applied only to a rigid type printed circuit board measurement contact device. In recent years, the number of flexible type printed circuit boards has increased, and it is not preferable to be able to cope only with rigid type printed circuit board measuring contact devices. On the other hand, the contact devices shown in FIGS. 3B and 3C can be applied to a flexible type printed circuit board, and can be said to be superior in that respect.
【0010】しかし、図3(A)〜(C)に示すコンタ
クト装置はいずれも、ピンコンタクトb或いはプローブ
コンタクトgのプリント基板の配線膜、電極等と接する
先端の形状に関する変更、多様性に対する対応が難しい
という問題があった。即ち、最近の傾向として、プリン
ト基板の配線膜、電極等と接する、ピンコンタクトb或
いはプローブコンタクトgの先端の形状は、従来におい
て針形等少ない種類のものに限られていたが、最近は、
針形に限らず、王冠(クラウン)形等種々のものが現
れ、プリント基板メーカー側はプリント基板の種類など
により独自の技術的見地から検査に使用するプローブの
先端形状を指定し、また、プローブの先端形状をプリン
ト基板に応じて変更できるようにすることを要望するに
至っている。しかるに、図3(A)〜(C)に示すもの
はいずれも、その要請には充分に応えることができてい
ないのが実状である。However, the contact devices shown in FIGS. 3 (A) to 3 (C) all deal with changes and variations in the shape of the tip of the pin contact b or the probe contact g in contact with the wiring film, electrodes, etc. of the printed circuit board. There was a problem that was difficult. That is, as a recent trend, the shape of the tip of the pin contact b or the probe contact g that is in contact with the wiring film, the electrode, etc. of the printed board has been limited to a small type such as a needle shape in the past, but recently,
Not only the needle shape but also various shapes such as a crown shape appear, and the printed circuit board manufacturer specifies the tip shape of the probe used for inspection from a unique technical viewpoint according to the type of printed circuit board, etc. It has been demanded that the shape of the tip can be changed according to the printed circuit board. However, none of the arrangements shown in FIGS. 3 (A) to 3 (C) can sufficiently meet the demand.
【0011】本発明はこのような問題点を解決すべく為
されたものであり、リジットタイプの被検査物のみなら
ずフレキシブルタイプの被検査物にも対応できるコンタ
クト装置において、プローブの先端形状の多様性、変更
への対応を容易に為し得るようにすることを目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve such a problem. In a contact device which can cope with not only a rigid type test object but also a flexible type test object, the present invention provides a contact device having a probe tip shape. The purpose is to be able to easily respond to diversity and changes.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】請求項1のコンタクト装
置は、プローブ収納用の孔を複数互いに同じ位置に有す
る複数枚の板を上記各孔の中心同士が整合してプローブ
収納孔を構成するように重ね合わせたプレートと、該プ
レートの上記各プローブ収納孔に収納された各プローブ
と、からなり、上記各プローブは、一端が上記プレート
の一表面から突出するピンコンタクトと、一端が上記プ
レートの他表面から突出し、他端が上記ピンコンタクト
の他端と弾接するスプリング具備プローブコンタクトか
らなり、上記各プローブ収納孔はそれぞれピンコンタク
トを収納する部分において該ピンコンタクトの一部と係
合して上記プレートの上記一表面側への飛び出しを防止
するピンコンタクト係合段部と、上記スプリング具備プ
ローブコンタクトの一部と係合して上記プレートの上記
他表面側への飛び出しを防止するプローブコンタクト係
合段部とを有することを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, a plurality of plates having a plurality of holes for accommodating a probe at the same position are aligned with the centers of the holes to form a probe accommodating hole. And a probe accommodated in each probe accommodating hole of the plate, each probe having one end protruding from one surface of the plate, and one end enclosing the plate. A probe contact with a spring projecting from the other surface and having the other end elastically in contact with the other end of the pin contact. Each of the probe storage holes is engaged with a part of the pin contact at a portion for storing the pin contact. A pin contact engaging step for preventing the plate from protruding toward the one surface side, and the spring-provided probe contact Engaging a portion engaged with and having a probe contact engagement Godan portion for preventing the popping out to the other surface side of the plate.
【0013】従って、請求項1のコンタクト装置によれ
ば、プローブがピンコンタクトとスプリング具備プロー
ブコンタクトからなるので、スプリング具備プローブコ
ンタクトのスプリングによりプローブを被検査物等の配
線膜、電極等に弾接させることができる。依って、リジ
ットタイプの例えばプリント基板等のみならず、フレキ
シブルタイプのプリント基板等の被検査物にも対応でき
る。Therefore, according to the contact device of the first aspect, the probe is composed of the pin contact and the probe contact having the spring, so that the probe is elastically connected to the wiring film, the electrode or the like of the inspection object by the spring of the probe contact having the spring. Can be done. Therefore, not only a rigid type, for example, a printed circuit board, but also a test object, such as a flexible type printed circuit board, can be handled.
【0014】そして、被検査物等の配線膜、電極等と接
するプローブ先端の形状の多様性、変更への対応は、ピ
ンコンタクトとしてその先端形状の異なるものを種々用
意することにより、単にピンコンタクトのみ先端形状の
異なるものの間で交換することで極めて容易に為し得
る。In order to cope with the variety and change of the shape of the probe tip which comes into contact with the wiring film, the electrode, etc. of the object to be inspected, the pin contact is simply prepared by preparing various pin contacts having different tip shapes. This can be done very easily by exchanging only those having different tip shapes.
【0015】請求項2のコンタクト装置は、請求項1の
コンタクト装置において、上記ピンコンタト係合段部は
上記プレートを構成する最も上記一表面側の板により構
成されたことを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided the contact device according to the first aspect, wherein the pin contact engaging step is constituted by a plate on the one surface side constituting the plate.
【0016】従って、請求項2のコンタクト装置によれ
ば、単に上記プレートを構成する最も上記一表面側の板
を外すことによってピンコンタクトを簡単に取り外すこ
とができるので、ピンコンタクトを先端形状の異なるも
のに代え、最も上記一表面側の板を取り付けるだけで、
簡単にピンコンタクトの交換を為し得る。Therefore, according to the contact device of the second aspect, the pin contact can be easily removed simply by removing the plate on the one surface side that constitutes the plate. Instead of just attaching the plate on the most front side,
Easy replacement of pin contacts.
【0017】[0017]
【発明の実施の形態】本発明コンタクト装置は、基本的
には、プローブ収納用の孔を有する複数枚の板を重ね合
わせたプレートと、該プレートの上記各プローブ収納孔
に収納された各プローブと、からなり、上記各プローブ
は、一端が上記プレートの一表面から突出するピンコン
タクトと、一端が上記プレートの他表面から突出し、他
端が上記ピンコンタクトの他端と弾接するスプリング具
備プローブコンタクトとからなり、上記各プローブ収納
孔はそれぞれピンコンタクトを収納する部分において該
ピンコンタクトの一部と係合して上記プレートの上記一
表面側への飛び出しを防止するピンコンタクト係合段部
と、上記スプリング具備プローブコンタクトの一部と係
合して上記プレートの上記他表面側への飛び出しを防止
するプローブコンタクト係合段部を有するものであり、
上記プレートを構成する各板は、絶縁性と、或る程度以
上の剛性と、コンタクト装置が使用される通常の温度、
湿度条件下で撓み等の変形が生じないことが必要であ
り、また、加工性の高いことが望ましい。具体的には、
合成樹脂板は例えばベークライト等が好適であるといえ
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The contact device of the present invention basically comprises a plate in which a plurality of plates each having a hole for accommodating a probe are superimposed on each other, and each probe accommodated in each probe accommodating hole of the plate. Wherein each probe comprises a pin contact having one end protruding from one surface of the plate, and a probe contact having a spring having one end protruding from the other surface of the plate and the other end elastically contacting the other end of the pin contact. A pin contact engaging step for engaging the part of the pin contact at a portion for accommodating the pin contact and preventing the plate from jumping out to the one surface side, A probe connector which is engaged with a part of the probe contact having spring to prevent the plate from jumping out to the other surface side. Those having a transfected engagement Godan unit,
Each plate constituting the plate is insulative, has a certain degree of rigidity, a normal temperature at which the contact device is used,
It is necessary that deformation such as bending does not occur under the humidity condition, and high workability is desirable. In particular,
It can be said that, for example, bakelite is suitable for the synthetic resin plate.
【0018】プローブはピンコンタクトとプローブコン
タクトからなるが、プリント基板等の被検査物等と接す
る先端の形状の変更は単にその被検査物等と接する方の
ピンコンタクトのみを交換することを以て為し得る。プ
ローブコンタクトは、例えばバレルに、一端が例えばテ
スター回路のコード先端その他の端子と接するように成
形されたプランジャーをその他端と上記バレル内底面と
の間にスプリングを縮設状に介在させた状態で上記一端
が上記バレルから突出するように内蔵させたものがその
典型例であるが、しかし、必ずしもそれに限定されるも
のではない。プローブの先端を例えばプリント基板の配
線膜等に弾接させるに必要な弾力を持つスプリングを内
蔵していればそのような構造に必ずしも限定されるもの
ではない。Although the probe is composed of a pin contact and a probe contact, a change in the shape of the tip that comes into contact with an object to be inspected, such as a printed circuit board, is performed simply by exchanging only the pin contact that is in contact with the object to be inspected. obtain. The probe contact is, for example, a state in which a plunger formed such that one end thereof is in contact with, for example, the tip of a cord of a tester circuit or other terminals is interposed between the other end and the inner bottom surface of the barrel in a compressed state. A typical example is that the one end is built in such that it protrudes from the barrel, but the present invention is not necessarily limited to this. The structure is not necessarily limited to such a structure as long as a spring having a necessary elasticity for making the tip of the probe elastically contact a wiring film or the like of a printed circuit board is incorporated.
【0019】[0019]
【実施例】以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説
明する。図1(A)〜(C))は本発明コンタクト装置
の一つの実施例を示すもので、本実施例は本発明をプリ
ント基板測定用テスターと、被検査プリント基板との間
に介在するコンタクト装置に適用したものであり、
(A)はプローブを、(B)はのプレートを、(C)は
コンタクト装置を示すものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the illustrated embodiments. 1 (A) to 1 (C) show an embodiment of the contact device of the present invention. In this embodiment, the present invention relates to a contact device interposed between a tester for measuring a printed board and a printed board to be inspected. Applied to the device,
(A) shows a probe, (B) shows a plate, and (C) shows a contact device.
【0020】図面において、1はプローブで、ピンコン
タクト2とプローブコンタクト3からなる。該ピンコン
タクト2の一端(外端)4が被検査プリント基板の配線
膜等に接触せしめられてその接触点を電気的にテスター
側に導出するものであり、その形状は多様化しており、
本実施例においては、円錐形状に形成されているが、種
々のバリエーションがある。それについては後述する。
5はピンコンタクト2の他端(内端)で、上記プローブ
コンタクト3と接触せしめられる端子である。In the drawings, reference numeral 1 denotes a probe, which comprises a pin contact 2 and a probe contact 3. One end (outer end) 4 of the pin contact 2 is brought into contact with a wiring film or the like of a printed circuit board to be inspected, and the contact point is electrically led out to the tester side, and its shape is diversified.
In the present embodiment, it is formed in a conical shape, but there are various variations. This will be described later.
The other end (inner end) 5 of the pin contact 2 is a terminal that is brought into contact with the probe contact 3.
【0021】6はピンコンタクト2の中間の大径部であ
り、係合段部7及び8を形成すべく設けたものである。
該係合段部7、8はピンコンタクト2の後述するプレー
ト(13)からの抜け防止、その他可動範囲の限定のた
めに必要である。Reference numeral 6 denotes an intermediate large-diameter portion of the pin contact 2, which is provided to form the engaging steps 7 and 8.
The engaging step portions 7 and 8 are necessary for preventing the pin contact 2 from coming off the plate (13) described later and for limiting the movable range.
【0022】上記プローブコンタクト3はバレル9と、
プランジャー10と、該プランジャー10内端と該バレ
ル9内底面との間に縮設されたスプリング11からな
り、該プランジャー10の外端が上記バレル9の開口端
側から突出してテスター側のコードと接触される端子1
2を成している。そして、バレル9の外底面が上記ピン
コンタクト2の他端(内端)5と接触せしめられる。
尚、バレル9の開口端はスプリング11及びプランジャ
ー10の基部をバレル9内に収納した後内側に曲げられ
て係合片を成すようにされ、それとプランジャー10の
基部との係合によりプランジャー10のバレル9からの
離脱を阻止するようにされている。The probe contact 3 has a barrel 9
A plunger 10 and a spring 11 contracted between the inner end of the plunger 10 and the inner bottom surface of the barrel 9, and the outer end of the plunger 10 protrudes from the open end of the barrel 9 and faces the tester. Terminal 1 that comes in contact with the cord of
Two. Then, the outer bottom surface of the barrel 9 is brought into contact with the other end (inner end) 5 of the pin contact 2.
The open end of the barrel 9 is bent inward after accommodating the base of the spring 11 and the plunger 10 in the barrel 9 to form an engagement piece. The jar 10 is prevented from coming off the barrel 9.
【0023】13はプレートで、複数の板131、1
32、133、134、135を重ねてなる。該プレート1
3を構成する複数の板131、132、133、134、1
35はそれぞれ多数の孔141、142、143、144、
145を有し、これらの孔141、142、143、1
44、145はその中心が一致せしめられて一つのプロー
ブ収納孔14を構成する。板131の孔141は上部より
も下部が大径にされて下向きのピンコンタクト係合段部
15が構成されるようになっている。Reference numeral 13 denotes a plate, and a plurality of plates 13 1 , 1
3 2 , 13 3 , 13 4 , 13 5 are superposed. The plate 1
3, a plurality of plates 13 1 , 13 2 , 13 3 , 13 4 , 1
3 5 Each large number of holes 14 1, 14 2, 14 3, 14 4,
14 5 and these holes 14 1 , 14 2 , 14 3 , 1
The centers of 4 4 and 14 5 are made to coincide with each other to form one probe accommodating hole 14. Hole 14 1 of the plate 13 1 is as downward pin contact engagement Godan portion 15 lower than the top is larger in diameter is configured.
【0024】該係合段部15は上記ピンコンタクト2の
係合段部7と係合して該ピンコンタクト2の上側への離
脱を阻止する役割を果たす。板132の孔142は下部が
小径にされて上向きの係合段部16が構成されるように
されており、該係合段部15は上記ピンコンタクト2の
係合段部8と係合して該ピンコンタクト2の下側への移
動を規定し、以て可動範囲を規定する。そして、ピンコ
ンタクト2は、板13 1、132の孔141、142内に収
納され、その係合段部7が孔141の係合段部15と係
合する位置と、係合段部8が孔142の係合段部16と
係合する位置との間でプレート13の厚さ方向に移動可
能である。The engaging step 15 is provided on the pin contact 2
The pin contact 2 is disengaged upward by engaging with the engagement step 7.
Plays a role in preventing prolapse. Board 13TwoHole 14TwoIs at the bottom
So that the diameter thereof is reduced to form an upward engaging step 16
The engaging step 15 is provided with the pin contact 2.
The pin contact 2 is moved downward by engaging with the engagement step 8.
The movement is defined, and thus the movable range is defined. And Pinko
Contact 2 is board 13 1, 13TwoHole 141, 14TwoWithin
And the engaging step 7 is1And the engagement step 15
And the engaging step 8 is in the hole 14.TwoWith the engagement step 16
Moveable in the thickness direction of the plate 13 between the engaging positions
Noh.
【0025】板133、134、135の孔143、1
44、145にプローブコンタクト3が収納されるが、孔
145は下部が小径にされることにより上向きの係合段
部17を有しており、この係合段部17にプローブコン
タクト3のバレル9の開口側端部18が係合することに
よりプローブコンタクト3のプレート13からの抜けが
阻止されるようになっている。しかして、該プローブコ
ンタクト3はその内端がピンコンタクト2の内端と接
し、バレル9の開口側端部18が係合段部17と接する
状態で孔143、144、145内に納まっており、プラ
ンジャー10の外端部12が板135から下側へ突出し
てテスター側のコード先端面に接する端子を成してい
る。The holes 14 3 , 1 of the plates 13 3 , 13 4 , 13 5
4 4, 14 is 5 probe contact 3 is housed in the holes 14 5 has an upward engaging step portion 17 by the lower is the small diameter, the probe contacts 3 in the engagement step 17 The opening-side end 18 of the barrel 9 is engaged to prevent the probe contact 3 from coming off the plate 13. The probe contact 3 is inserted into the holes 14 3 , 14 4 , 14 5 with its inner end in contact with the inner end of the pin contact 2 and the open end 18 of the barrel 9 in contact with the engaging step 17. accommodated and the outer end portion 12 of the plunger 10 forms a terminal contact with the cord distal end surface of the tester-side projecting downwardly from the plate 13 5.
【0026】このようなコンタクト装置によれば、プロ
ーブ1がピンコンタクト2とスプリング具備プローブコ
ンタクト3からなり、該プローブコンタクト3のスプリ
ング11によりプローブ1を被検査物であるプリント基
板の配線膜、電極等とテスター側のケーブルとの間に弾
力を介して介在させることができ、延いてはそれら配線
膜、電極等をテスター側に電気的に導出することができ
る。従って、リジットタイプのプリント基板は勿論のこ
と、フレキシブルタイプのプリント基板の検査、測定も
可能である。According to such a contact device, the probe 1 comprises the pin contact 2 and the probe contact 3 having a spring, and the spring 11 of the probe contact 3 allows the probe 1 to connect the probe 1 to the wiring film and the electrode on the printed circuit board to be inspected. And the like and the cable on the tester side can be interposed via elasticity, and thus the wiring films, electrodes, and the like can be electrically led out to the tester side. Therefore, it is possible to inspect and measure not only a rigid printed board but also a flexible printed board.
【0027】そして、被検査物であるプリント基板の配
線膜、電極等と接するプローブ先端の形状の多様性への
対応は、ピンコンタクト2としてその先端形状の異なる
ものを種々用意することにより容易に為し得る。図2
(A)〜(D)はピンコンタクト2の先端4の形状の各
別の例を示す端面図及び正面図である。図2(A)に示
すものは先端4が三角錐状のもの、(B)に示すものは
王冠(クラウン)状のもの、(C)は先端4がR(アー
ル)状のもの、(D)は先端4が針状(円錐形状)のも
のであり、このような先端4の形状が異なる複数種のピ
ンコンタクト2を用意しておき、その中から顧客の注文
に応じたピンコンタクト2を選び、それとプローブコン
タクト3とを組み合わせてプローブコンタクト3を構成
してコンタクト装置をつくり、顧客に提供すれば顧客の
ピンコンタクト2の先端4の形状に関する要望に応える
ことができるのである。It is easy to cope with the variety of shapes of the probe tips that come into contact with the wiring film, electrodes, etc. of the printed circuit board to be inspected by preparing various pin contacts 2 having different tip shapes. Can do it. FIG.
4A to 4D are an end view and a front view showing another example of the shape of the tip 4 of the pin contact 2. 2A, the tip 4 has a triangular pyramid shape, FIG. 2B shows a crown shape, FIG. 2C shows an R (R) tip shape, and FIG. ) Has a tip 4 having a needle-like (conical) shape. A plurality of types of pin contacts 2 having different shapes of such tips 4 are prepared, and the pin contacts 2 according to a customer's order are prepared from among them. By selecting the probe contact 3 and combining it with the probe contact 3 to construct a probe contact 3 and providing the contact device to a customer, it is possible to meet the customer's request regarding the shape of the tip 4 of the pin contact 2.
【0028】その場合、プローブコンタクト3は他種類
用意する必要はなく、どのようなタイプのピンコンタク
ト2にも対応できる。但し、大きさ(径、長さ)の違い
によりプローブコンタクト3の種類は代えなければなら
ないことはいうまでもない。In this case, it is not necessary to prepare other types of probe contacts 3 and any type of pin contacts 2 can be used. However, it goes without saying that the type of the probe contact 3 must be changed depending on the difference in size (diameter, length).
【0029】また、コンタクト装置を構成し、納品した
後、ピンコンタクト2を交換することも容易である。即
ち、プリント基板等の種類によってピンコンタクト2の
先端4の形状を変える必要がある場合、コンタクト装置
と共に、他種類のコンタクト2を交換用として納品し、
プレート13を構成する一番上の板131を外し、ピン
コンタクト2を取り出し、代わりのピンコンタクト2を
孔141、142に収納し、板131 を板132に重ねて
取り付ければ、ピンコンタクト2の交換が終了し、交換
作業は簡単に済む。従って、検査するプリント基板機種
の違い等によるピンコンタクト2の交換ができる。It is also easy to replace the pin contact 2 after the contact device has been constructed and delivered. That is, when it is necessary to change the shape of the tip 4 of the pin contact 2 depending on the type of the printed circuit board or the like, the other type of contact 2 is delivered together with the contact device for replacement.
If the uppermost plate 13 1 constituting the plate 13 is removed, the pin contact 2 is taken out, the alternative pin contact 2 is stored in the holes 14 1 , 14 2 , and the plate 13 1 is mounted on the plate 13 2 by overlapping. The replacement of the pin contact 2 is completed, and the replacement work is easily completed. Therefore, the pin contact 2 can be replaced due to a difference in the type of printed circuit board to be inspected.
【0030】[0030]
【発明の効果】請求項1のコンタクト装置によれば、プ
ローブがピンコンタクトとスプリング具備プローブコン
タクトからなるので、スプリング具備プローブコンタク
トのスプリングによりプローブを被検査物等の配線膜、
電極等に弾接させることができる。依って、リジットタ
イプの例えばプリント基板等のみならず、フレキシブル
タイプのプリント基板等の被検査物にも対応できる。According to the contact device of the first aspect, since the probe is composed of the pin contact and the probe contact having the spring, the spring is used to connect the probe to the wiring film such as the object to be inspected.
It can be elastically contacted with an electrode or the like. Therefore, not only a rigid type, for example, a printed circuit board, but also a test object, such as a flexible type printed circuit board, can be handled.
【0031】そして、被検査物等の配線膜、電極等と接
するプローブ先端の形状の多様性、変更への対応は、ピ
ンコンタクトとしてその先端形状の異なるものを種々用
意する、ピンコンタクトのみ先端形状の異なるものの間
で交換することにより容易に為し得る。In order to cope with the variety and change of the shape of the probe tip in contact with the wiring film, the electrode, etc. of the object to be inspected, various types of pin contacts having different tip shapes are prepared. Can be easily accomplished by exchanging between different ones.
【0032】請求項2のコンタクト装置によれば、単に
上記プレートを構成する最も上記一表面側の板を外すこ
とによってピンコンタクトを簡単に取り外すことができ
るので、ピンコンタクトを先端形状の異なるものに代
え、最も上記一表面側の板を取り付けるだけで、簡単に
ピンコンタクトの交換を為し得る。According to the contact device of the second aspect, the pin contact can be easily removed simply by removing the plate on the one surface side constituting the plate. Instead, the pin contact can be easily replaced simply by attaching the plate on the most front surface side.
【図1】(A)〜(C))は本発明コンタクト装置の一
つの実施例を示す断面図で、(A)はプローブを、
(B)はプレートを、(C)はコンタクト装置を示すも
のである。1 (A) to 1 (C) are cross-sectional views showing one embodiment of a contact device of the present invention, wherein FIG.
(B) shows a plate, and (C) shows a contact device.
【図2】(A)〜(D)はピンコンタクト2の先端4の
形状の各別の例を示す端面図及び正面図である。FIGS. 2A to 2D are an end view and a front view showing another example of the shape of the tip end 4 of the pin contact 2. FIGS.
【図3】(A)〜(C)はその検査に用いられた従来の
コンタクト装置の各別の例を示す断面図である。FIGS. 3A to 3C are cross-sectional views showing another example of a conventional contact device used for the inspection.
1・・・プローブ、2・・・ピンコンタクト、3・・・
プローブコンタクト、4・・・ピンコンタクトの先端
(一端)、7・・・係合段部、11・・・スプリング、
12・・・プローブコンタクトの先端、13・・・プレ
ート、131 〜 5・・・板、14・・・プローブ収納孔、
141 〜 5・・・板の孔、15・・・ピンコンタクト係合
段部、17・・・プローブコンタクト係合段部、18・
・・プローブコンタクトの一部。1 ... probe, 2 ... pin contact, 3 ...
Probe contact, 4 ... tip (one end) of pin contact, 7 ... engagement step, 11 ... spring,
12: tip of probe contact, 13: plate, 13 1 to 5: plate, 14: probe housing hole,
14 1 to 5 ··· plate hole, 15 ··· pin contact engaging step, 17 ··· probe contact engaging step, 18 ·
..Part of the probe contact.
Claims (2)
置に有する複数枚の板を上記各孔の中心同士が整合して
プローブ収納孔を構成するように重ね合わせたプレート
と、 上記プレートの上記各プローブ収納孔に収納された各プ
ローブと、 からなり、 上記各プローブは、一端が上記プレートの一表面から突
出するピンコンタクトと、一端が上記プレートの他表面
から突出し、他端が上記ピンコンタクトの他端と弾接す
るスプリング具備プローブコンタクトとからなり、 上記各プローブ収納孔はそれぞれピンコンタクトを収納
する部分において該ピンコンタクトの一部と係合して上
記プレートの上記一表面側への飛び出しを防止するピン
コンタクト係合段部と、上記スプリング具備プローブコ
ンタクトの一部と係合して上記プレートの上記他表面側
への飛び出しを防止するプローブコンタクト係合段部を
有することを特徴とするコンタクト装置。1. A plate in which a plurality of plates each having a plurality of holes for accommodating a probe at the same position are overlapped so that the centers of the holes are aligned with each other to form a probe accommodating hole. Each probe accommodated in each probe accommodating hole, wherein each probe has one end protruding from one surface of the plate, one end protruding from the other surface of the plate, and the other end having the pin contact. Each of the probe storage holes is engaged with a part of the pin contact at a portion for storing the pin contact, so that the plate protrudes toward the one surface side. A pin contact engaging step to prevent, and a part of the above-mentioned plate by engaging with a part of the probe contact having spring. Contact apparatus characterized by having a probe contact engagement Godan portion for preventing the popping out to the side.
ートを構成する最も上記一表面側の板に形成されたこと
を特徴とする請求項1記載のコンタクト装置。2. The contact device according to claim 1, wherein the pin contact engaging step is formed on a plate on the one surface side that constitutes the plate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2000250413A JP2002062312A (en) | 2000-08-22 | 2000-08-22 | Contact device |
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Publication Number | Publication Date |
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Country | Link |
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- 2000-08-22 JP JP2000250413A patent/JP2002062312A/en active Pending
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