JP2002207049A - Contact pin for four-probe measurement, contact apparatus, device on side of object to be measured, and device on side of measuring circuit - Google Patents

Contact pin for four-probe measurement, contact apparatus, device on side of object to be measured, and device on side of measuring circuit

Info

Publication number
JP2002207049A
JP2002207049A JP2001002633A JP2001002633A JP2002207049A JP 2002207049 A JP2002207049 A JP 2002207049A JP 2001002633 A JP2001002633 A JP 2001002633A JP 2001002633 A JP2001002633 A JP 2001002633A JP 2002207049 A JP2002207049 A JP 2002207049A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
terminals
contact pin
contact
peripheral
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001002633A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukimori Shibui
志守 渋井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOYO DENSHI GIKEN KK
Original Assignee
TOYO DENSHI GIKEN KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOYO DENSHI GIKEN KK filed Critical TOYO DENSHI GIKEN KK
Priority to JP2001002633A priority Critical patent/JP2002207049A/en
Publication of JP2002207049A publication Critical patent/JP2002207049A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide contact pins 1 and 1a capable of four-probe measurement, a contact apparatus capable of four-probe measurement therefore, a device 16a on the side of an object to be measured constituting the contact apparatus, and a device 16b on the side of a measuring circuit. SOLUTION: The contact apparatus comprises at least an inside terminal 2 as the contact pin 1 for four-probe measurement and a tubular circumferential- side terminal 5 sheathing the inside terminal 2 in an electrically insulated state and comprises two electric paths of an electric path reaching one end of the inside terminal 2 from its other end and an electric path reaching one end of the circumferential-side terminal 5 from its other end. The inside terminal 2 is, for example, used as an I-terminal for four-probe measurement, and the circumferential-side terminal 5 is used as a V-terminal.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、四探針測定が可能
なコンタクト機器に用いられる四探針測定用コンタクト
ピン、該コンタクトピンを用いたコンタクト機器、該コ
ンタクト機器を構成する被測定物側装置及び該コンタク
ト機器を構成する測定回路側装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a four-probe measurement contact pin used for a contact device capable of four-probe measurement, a contact device using the contact pin, and an object to be measured which constitutes the contact device. The present invention relates to a device and a measuring circuit side device constituting the contact device.

【0002】[0002]

【従来の技術】IC、LSI、トランジスタその他の電
子部品を用いた電子回路は、各種の装置、機器類に非常
に多く用いられており、その用途は拡大の一途を辿って
いるが、これらの電子回路は片面或いは両面に配線膜が
印刷されたプリント基板を用いて構成されるのが普通で
あり、該プリント基板にIC、LSI、トランジスタそ
の他の各種電子部品を搭載し、必要な半田付けを行うこ
とにより電子回路が構成されるようになっている。
2. Description of the Related Art Electronic circuits using ICs, LSIs, transistors, and other electronic components are used in a large number of devices and equipment, and the applications thereof are steadily expanding. An electronic circuit is usually configured using a printed circuit board on which a wiring film is printed on one or both sides, and ICs, LSIs, transistors, and other various electronic components are mounted on the printed circuit board, and necessary soldering is performed. By doing so, an electronic circuit is configured.

【0003】そして、電子回路を用いた装置、機器類は
その多くが小型化、高機能化、高性能化が要求され、そ
れに伴って電子回路の回路構成が複雑化、高集積化を要
求されている。従って、プリント基板の配線も微細化、
高集積化の傾向があり、その結果、その検査のための測
定が難しくなる。というのは、配線の微細化、高集積化
により測定用プローブの配設密度、配置位置の精度を高
くすることが必要であるからである。それでいて、検査
の重要性は高まる一方である。というのは、配線の微細
化、高集積化が進むほど、ショート不良の発生率が高く
なるからである。
[0003] Many of the devices and equipment using electronic circuits are required to be reduced in size, to have higher functions, and to have higher performance. As a result, the circuit configuration of electronic circuits is required to be more complicated and higher integration is required. ing. Therefore, the wiring of the printed circuit board is also miniaturized,
There is a tendency for high integration, which makes the measurement for the inspection difficult. This is because it is necessary to increase the precision of the arrangement density and arrangement position of the measurement probes by miniaturization and high integration of wiring. Nevertheless, the importance of testing is growing. The reason for this is that the finer the wiring and the higher the integration, the higher the incidence of short-circuit defects.

【0004】そして、その検査には、測定回路を備えた
テスターが用いられ、その測定回路へのプリント基板の
各配線膜、電極等の電気的導出にはコンタクト機器が用
いられる。このコンタクト機器はプレートに多数のプロ
ーブを備え、各プローブの一端をプリント基板の各配線
膜等の測定回路に電気的に接続すべき部分に接触させ、
他端を測定回路に接続されたコードの先端に接触させる
ようになっているものが多い。これに関しては、本願出
願人会社は特願平7−61728、特願平8−1834
49、特願平10−66333等により各種提案を行っ
ている。
A tester provided with a measuring circuit is used for the inspection, and a contact device is used for electrically deriving each wiring film, electrodes, etc. of the printed circuit board to the measuring circuit. This contact device has a large number of probes on a plate, and one end of each probe is brought into contact with a portion to be electrically connected to a measurement circuit such as each wiring film of a printed circuit board,
In many cases, the other end is brought into contact with the tip of a cord connected to the measurement circuit. In this regard, the applicant company of the present application has filed Japanese Patent Application Nos. Hei 7-61728 and Hei 8-1834.
49 and Japanese Patent Application No. 10-66333.

【0005】図6はそのようなコンタクト機器の一つの
従来例を示す分解斜視図である。同図において、aはベ
ース板、b、b、・・・は該ベース板aに取り付けられ
た測定回路装着用コネクタで、該各コネクタb、b、・
・・には各々測定用回路が構成されたプリント基板が装
着される。
FIG. 6 is an exploded perspective view showing one conventional example of such a contact device. In the drawing, a is a base plate, b, b,... Are measuring circuit mounting connectors mounted on the base plate a, and the connectors b, b,.
A printed circuit board on which a measuring circuit is configured is mounted on.

【0006】cは中継ボードで、支柱d、d、d、dに
より上記ベース板aにその上方にてこれとほぼ並行に支
持されている。該中継ボードcには多数のケーブル装着
孔が設けられ、該ケーブル装着孔にはそれぞれ先端が絶
縁被覆を剥がされて芯線が露出せしめられたケーブル
e、e、・・・のその先端が下側から挿入固定され、そ
の芯線f、f、・・・の先端が該中継ボードcの上面か
ら一定長さ突出せしめられている。そして、該ケーブル
e、e、・・・の中継ボードcのケーブル装着孔に装着
された側と反対側の端部が上記測定回路装着用コネクタ
b、b、・・・の各端子と接続されている。
Reference numeral c denotes a relay board, which is supported on the base plate a by supports d, d, d, and d above and substantially parallel to the base plate a. The relay board c is provided with a large number of cable mounting holes, and the ends of the cables e, e,. Are inserted and fixed, and the ends of the core wires f, f,... Protrude from the upper surface of the relay board c by a certain length. The ends of the cables e, e,... On the side opposite to the side mounted on the cable mounting holes of the relay board c are connected to the terminals of the measurement circuit mounting connectors b, b,. ing.

【0007】hはコンタクトピン装着ボードで、複数枚
の板を重ねてなり、多数のコンタクトピン収納孔i、
i、・・・が形成され、該各コンタクトピン収納孔i、
i、・・・にはそれぞれコンタクトピンj、j、・・・
が装着されている。該各コンタクトピンj、j、・・・
はそれぞれ上端が尖り、上記コンタクトピン装着ボード
hの上面から稍突出せしめられ、下端が該ボードhの下
面から稍突出せしめられている。
[0007] h is a contact pin mounting board, which is formed by stacking a plurality of plates, and has a large number of contact pin storage holes
are formed, and the respective contact pin storage holes i,.
i,... have contact pins j, j,.
Is installed. Each of the contact pins j, j,...
Each has a sharp upper end, slightly projecting from the upper surface of the contact pin mounting board h, and a lower end slightly projecting from the lower surface of the board h.

【0008】そして、上記コンタクトピン装着ボードh
は上記中継ボードcの上面に位置決めして重ねられて固
定され、そのとき、上記各コンタクトピンj、j、・・
・はそれぞれケーブルe、e、・・・の芯線f、f、・
・・と確実に接触し、その間が電気的に接続されるよう
になっている。従って、各コンタクトピンj、j、・・
・はそれぞれ上記ケーブルe、e、・・・を介して測定
回路装着用コネクタb、b、・・・の各端子g、g、・
・・に接続された状態になる。
The contact pin mounting board h
Are positioned and overlapped on the upper surface of the relay board c, and are fixed. At this time, the contact pins j, j,.
Are the core wires f, f,... Of the cables e, e,.
・ ・ Be sure to be in contact with and electrically connected between them. Therefore, each contact pin j, j,.
Are the terminals g, g,... Of the measuring circuit mounting connectors b, b,... Via the cables e, e,.
・ ・ It will be connected to

【0009】依って、上記各測定回路装着用コネクタ
b、b、・・・に測定回路が構成されたプリント基板を
装着し、その状態で上記コンタクトピン装着ボードhの
上面に被測定プリント基板(図示しない)の測定面を、
各プローブポイントと上記各コンタクトピンj、j、・
・・の上端とを整合させて当てれば、測定ができるので
ある。
Therefore, a printed circuit board having a measuring circuit is mounted on each of the measuring circuit mounting connectors b, b,..., And in this state, a printed circuit board to be measured is mounted on the upper surface of the contact pin mounting board h. (Not shown)
Each probe point and each of the contact pins j, j,.
・ ・ Measurement can be performed by aligning the upper end with the target.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のコン
タクト機器はいずれも四探針測定が不可能であった。と
いうのは、四探針測定には、一つのプローブポイントに
対して二つの端子[I(電流)端子、V(電圧)端子]
で別々に電気的なコンタクトをとる必要があり、従来に
おいてはそれが不可能とされていたからである。そし
て、コンタクト機器が四探針測定に対応できないことが
大きな問題となってきている。そこで、この問題につい
て具体的に説明すると次のとおりである。
By the way, none of the conventional contact devices can measure four probes. That is, for four-probe measurement, two terminals [I (current) terminal and V (voltage) terminal] are provided for one probe point.
In this case, it is necessary to separately make electrical contacts, which is conventionally impossible. And it is becoming a big problem that the contact device cannot cope with the four-probe measurement. The following specifically describes this problem.

【0011】四探針測定による例えば抵抗測定は、測定
対象となる二つの点A・B間の寄生抵抗を測定する場合
を例に採ると、その二つの点A・B間に所定の電流を流
し、それによりそのA・B間に生じる電圧降下を求め、
この電圧降下を電流で割ることにより寄生抵抗を求める
ものであり、極めて測定精度が高い。しかし、それに
は、上述したように、その二つの点A、Bそれぞれに電
流を流すためのコンタクトピンと電圧降下を測定するた
めのコンタクトピンを同時に接触させなければならない
のであり、それは従来全く不可能であったのである。
For example, in the resistance measurement by the four probe measurement, taking a case where a parasitic resistance between two points A and B to be measured is measured as an example, a predetermined current is applied between the two points A and B. To determine the voltage drop between A and B,
The parasitic resistance is obtained by dividing the voltage drop by the current, and the measurement accuracy is extremely high. However, as described above, the contact pins for flowing current and the contact pins for measuring the voltage drop must be simultaneously contacted at each of the two points A and B, which is conventionally impossible at all. It was.

【0012】そして、プリント基板は集積化一途を辿
り、配線膜は薄く、細くなる傾向があり、更に、多層化
により配線膜同士が積層により電気的に接続され、そこ
にコンタクト抵抗が介在するケースが増える可能性があ
るので、寄生抵抗が大きくなりがちである。従って、そ
れが許容限度を越えるか否かを正確且つ確実に、そして
迅速(効率的)に測定、検査する必要が生じているので
ある。
The printed circuit board is becoming more and more integrated, and the wiring film tends to be thinner and thinner. In addition, the wiring films are electrically connected to each other by lamination due to the multi-layer structure, and a contact resistance intervenes there. , The parasitic resistance tends to increase. Therefore, a need has arisen to accurately and reliably and quickly (efficiently) measure and inspect whether or not it exceeds an allowable limit.

【0013】本発明はこのような問題点を解決すべく為
されたものであり、四探針測定が可能な四探針測定用コ
ンタクトピン、該コンタクトピンを用いたコンタクト機
器、該コンタクト機器を構成する被測定物側装置及び同
じく測定回路側装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and a four-probe measurement contact pin capable of four-probe measurement, a contact device using the contact pin, and a contact device It is an object of the present invention to provide a device under test and a circuit device on the measurement circuit side.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】請求項1の四探針測定用
コンタクトピンは、中側端子と、該中側端子に電気的に
絶縁された状態で外嵌された筒状の周側端子と、を少な
くとも有し、上記中側端子の一端から他端に至る電気経
路と、上記周側端子の一端から他端に至る電気経路との
二つの電気経路を有することを特徴とする。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a contact probe for measuring a four-point probe, comprising: a middle terminal; and a cylindrical peripheral terminal fitted to the middle terminal in a state of being electrically insulated. And at least two electric paths: an electric path from one end of the middle terminal to the other end, and an electric path from one end to the other end of the peripheral terminal.

【0015】従って、請求項1によれば、中側端子と周
側端子を一つのプローブポイントに当てることにより中
側端子と周側端子という二つの互いに電気的に絶縁され
た端子により上記一つのプローブポイントに対して二つ
の電気的コンタクトをとることができ、上記各別の電気
経路にてそのプローブポイントを各別に他への電気的導
出ができる。依って、四探針測定が可能になる。
Therefore, according to the first aspect, the middle terminal and the peripheral terminal are applied to one probe point, so that the one terminal is connected to the other by the two electrically insulated terminals of the middle terminal and the peripheral terminal. Two electrical contacts can be made to the probe points, and each of the probe points can be electrically led to the other through the separate electrical paths. Therefore, four-probe measurement can be performed.

【0016】請求項2の四探針測定用コンタクトピン
は、一対の中側端子と、該一対の中側端子が尖った一端
を外を向く向きで且つ該中側端子とは電気的に絶縁され
た状態で内嵌された筒状の一対の周側端子と、該一対の
中側端子間に介在せしめられた内側導電性スプリング
と、上記一対の周側端子間に縮設された外側導電性スプ
リングと、上記一対の中側端子間の間隔を、上記内側導
電性スプリングが弾力を蓄えて縮設された状態を保つよ
う規定する中側端子間隔規定手段と、を少なくとも有す
ることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a four-probe measuring contact pin having a pair of middle terminals, one end of which the pair of middle terminals are pointed outward and electrically insulated from the middle terminals. A pair of cylindrical peripheral terminals fitted inside in a state of being set, an inner conductive spring interposed between the pair of middle terminals, and an outer conductive contracted between the pair of peripheral terminals. And a gap between the pair of middle terminals, and at least middle terminal gap defining means for defining the inside conductive spring so as to maintain a contracted state by storing elasticity. I do.

【0017】従って、請求項2の四探針測定用コンタク
トピンによれば、一つの中側端子、内側導電性スプリン
グ及び他の中側端子により、内側の電気経路が形成さ
れ、該内側導電性スプリングがそのばね力により電気経
路の形成に必要な各中側端子との接触を確実に保つと共
に、二つの中側端子の外端間にかかる機械的な荷重を吸
収することができる。一方、一つの周側端子、外側導電
性スプリング及び他の周側端子により、外側の電気経路
が形成され、該外側導電性スプリングがそのばね力によ
り電気経路の形成に必要な各周側端子との接触を確実に
保つと共に、二つの周側端子の外端間にかかる機械的な
荷重を吸収することができる。
Therefore, according to the four-probe measuring contact pin of the second aspect, the inner electric path is formed by one middle terminal, the inner conductive spring and the other middle terminal, and the inner conductive is formed. The spring can reliably maintain contact with each of the middle terminals required for forming the electric path by the spring force, and can absorb a mechanical load applied between the outer ends of the two middle terminals. On the other hand, an outer electric path is formed by one peripheral terminal, the outer conductive spring and the other peripheral terminal, and the outer conductive spring is connected to each peripheral terminal necessary for forming the electric path by the spring force. And the mechanical load applied between the outer ends of the two peripheral terminals can be absorbed.

【0018】従って、コンタクトピン装着ボードにそれ
を貫通するように設けた各コンタクトピン収納孔に、コ
ンタクトピンをその両端が上記コンタクトピン装着ボー
ド両面に露出乃至両面から突出するように装着すること
により、一つの四探針測定用コンタクトピンで、該ボー
ド或いは接続具の一方の主表面側から他方の主表面側へ
の二つの電気経路を形成することができる。従って、一
つの四探針測定用コンタクトピンの中側端子及び周側端
子の被測定物側の端子を一つのプローブポイントに当て
ることにより中側端子と周側端子という二つの互いに電
気的に絶縁された端子により上記一つのプローブポイン
トに対して二つの電気的コンタクトをとることができ、
上記各別の電気経路にてそのプローブポイントを各別に
他へ電気的に導出することができる。依って、四探針測
定が可能になる。
Therefore, the contact pins are mounted in the respective contact pin receiving holes provided in the contact pin mounting board so as to penetrate the contact pin mounting board such that both ends thereof are exposed on both sides of the contact pin mounting board or project from both sides. With one four-probe measurement contact pin, two electric paths can be formed from one main surface side of the board or the connector to the other main surface side. Therefore, the two terminals, the middle terminal and the peripheral terminal, are electrically insulated from each other by contacting the middle terminal and the peripheral terminal of the four-probe measurement contact pin on the DUT side to one probe point. The terminal provided allows two electrical contacts to be made to the one probe point,
The probe point can be electrically led to each other separately in each of the above-mentioned different electric paths. Therefore, four-probe measurement can be performed.

【0019】請求項3の四探針測定用コンタクトピン
は、請求項2の四探針測定用コンタクトピンにおいて、
上記周側端子の一端部が、一部を接続端として残し切り
欠かれた形状に形成されてなることを特徴とする。
The four-probe measuring contact pin according to claim 3 is the four-probe measuring contact pin according to claim 2,
One end of the peripheral terminal is formed in a cutout shape, leaving a part as a connection end.

【0020】従って、請求項3の四探針測定用コンタク
トピンによれば、上記中側端子の上記周側端子の接続端
が設けられた側の端子へのケーブルの一端の接続が可能
になるので、中側端子及び周側端子の該接続端が形成さ
れた側の端子をそれぞれケーブル接続端とすることがで
きる。依って、後述するコンタクト機器の被測定物側接
続具、測定回路側接続具に装着して測定回路側ケーブル
と被測定物側ケーブルとの電気的接続手段として用いる
ことが可能となる。
Therefore, according to the four-probe measuring contact pin of the third aspect, it is possible to connect one end of the cable to the terminal provided with the connection end of the peripheral terminal of the middle terminal. Therefore, the terminal on the side where the connection end of the middle terminal and the peripheral terminal is formed can be used as the cable connection end. Therefore, it can be used as an electrical connection means between the measurement circuit side cable and the DUT side cable by being attached to the DUT side connection tool and the measurement circuit side connection tool of the contact device described later.

【0021】請求項4のコンタクト機器は、中側端子と
該中側端子に電気的に絶縁された状態で外嵌された筒状
の周側端子を少なくとも有し上記中側端子の一端から他
端に至る電気経路と、上記周側端子の一端から他端に至
る電気経路との二つの電気経路を有する複数個の四探針
測定用コンタクトピン各々を、コンタクトピン装着ボー
ドのこれを貫通するように形成された複数のコンタクト
ピン収納孔各々に、上記中側端子及び周側端子の外端が
上記コンタクトピン装着ボードの両主表面に露出乃至両
主面から突出するように装着し、上記コンタクトピン装
着ボードの一方の主表面に露出乃至両主面から突出する
各中側端子及び各周側端子の外端を、一又は複数の測定
回路装着用コネクタの端子に電気的に接続してなること
を特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a contact device having at least a middle terminal and a cylindrical peripheral terminal externally fitted to the middle terminal while being electrically insulated from the middle terminal. Each of a plurality of four-probe measurement contact pins having two electric paths, an electric path to an end and an electric path from one end of the peripheral terminal to the other end, passes through the contact pin mounting board. In each of the plurality of contact pin housing holes formed as described above, the outer ends of the middle terminal and the peripheral terminal are mounted on the main surfaces of the contact pin mounting board so as to be exposed or protrude from the main surfaces. The outer end of each middle terminal and each peripheral terminal that is exposed on one main surface of the contact pin mounting board or protrudes from both main surfaces is electrically connected to one or a plurality of terminals of the measuring circuit mounting connector. It is characterized by becoming.

【0022】従って、請求項4のコンタクト機器によれ
ば、各四探針測定用コンタクトピンの周側端子と中側端
子をそれぞれ被測定物の同一のプローブポイントに接触
させれば、各プローブポイント毎に二つの電気的コンタ
クトをとり、その各プローブポイントを測定回路装着用
コネクタの異なる二つの端子に接続することができ、延
いては四探針測定ができる。
Therefore, according to the contact device of the fourth aspect, if the peripheral terminal and the middle terminal of each four-probe measurement contact pin are respectively brought into contact with the same probe point of the DUT, each probe point Two electrical contacts are made each time, and each probe point can be connected to two different terminals of the connector for mounting the measuring circuit, and thus four probe measurement can be performed.

【0023】請求項5のコンタクト機器は、請求項4の
コンタクト機器において、前記コンタクトピン装着ボー
ドの一方の主表面に露出乃至両主面から突出する各中側
端子及び各周側端子の外端と前記測定回路装着用コネク
タの各端子との電気的接続が、上記各中側端子及び周側
端子の上記外端に一端を接続された被測定物側ケーブル
と、上記測定回路装着用コネクタの端子に一端を接続さ
れた測定回路側ケーブルと、上記各被測定物側ケーブル
の他端が接続された被測定物側接続具と、該被測定物側
接続具と着脱自在に接続され、上記各測定回路側ケーブ
ルの他端が接続された測定回路側接続具を介して為され
ることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the contact device of the fourth aspect, an outer end of each of the middle terminal and each of the peripheral terminals exposed on one main surface of the contact pin mounting board or protruding from both main surfaces. The electrical connection between each of the terminals of the connector for mounting a measuring circuit and the object-side cable having one end connected to the outer end of each of the middle terminal and the peripheral terminal, and the connection of the connector for mounting a measuring circuit. A measuring circuit-side cable having one end connected to the terminal, a DUT-side connector to which the other end of each of the DUT-side cables is connected, and a detachably connected to the DUT-side connector, The other end of each measurement circuit side cable is connected via a measurement circuit side connection tool connected thereto.

【0024】従って、請求項5記載のコンタクト機器に
よれば、着脱自在の被測定物側接続具と測定物側接続具
によって被測定物側の部分(被測定物側装置)と、測定
回路側の部分(測定回路側装置)とに着脱自在に二分す
ることができる。依って、被測定物側装置として例えば
四探針測定用のものと、普通測定用のものを用意すれ
ば、測定回路側装置と四探針測定用のものとを接続する
ことによりコンタクト機器を四探針測定に用い、測定回
路側装置と普通測定用のものとを接続することによりコ
ンタクト機器を普通測定に用いることができる。従っ
て、コンタクト機器のフレキシビリティを高めることが
できる。
Therefore, according to the contact device of the fifth aspect, the part on the DUT side (DUT side device) by the detachable DUT-side connector and the DUT-side connector, and the measurement circuit side (Measurement circuit-side device). Therefore, for example, if a device for measuring four probes and a device for normal measurement are prepared as the device on the device under test, the contact device can be connected by connecting the device on the measuring circuit side and the device for measuring four probes. The contact device can be used for ordinary measurement by connecting the measurement circuit side device and the one for ordinary measurement used for four probe measurement. Therefore, the flexibility of the contact device can be improved.

【0025】請求項6の被測定物側装置は、中側端子と
該中側端子に電気的に絶縁された状態で外嵌された筒状
の周側端子を少なくとも有し上記中側端子の一端から他
端に至る電気経路と、上記周側端子の一端から他端に至
る電気経路との二つの電気経路を有する複数個の四探針
測定用コンタクトピン各々を、コンタクトピン装着ボー
ドのこれを貫通するように形成された複数のコンタクト
ピン収納孔各々に、上記中側端子及び周側端子の外端が
上記コンタクトピン装着ボードの両主表面に露出乃至両
主面から突出するように装着し、上記コンタクトピン装
着ボードの一方の主表面に露出乃至両主面から突出する
各中側端子及び各周側端子の外端を、被測定物側ケーブ
ルを介して被測定物側接続具のコンタクトピン収納孔に
収納された四探針測定用コンタクトピンの中側端子或い
は周側端子に接続してなることを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, the device under test has at least a middle terminal and a cylindrical peripheral terminal externally fitted to the middle terminal while being electrically insulated from the middle terminal. Each of a plurality of four-probe measurement contact pins having two electric paths, an electric path from one end to the other end and an electric path from one end to the other end of the peripheral terminal, is connected to a contact pin mounting board. In each of a plurality of contact pin storage holes formed so as to penetrate through, the outer ends of the middle terminal and the peripheral terminal are exposed on both main surfaces of the contact pin mounting board or project from the both main surfaces. Then, the outer ends of each of the middle terminals and each of the peripheral terminals that are exposed on one main surface of the contact pin mounting board or protrude from both main surfaces are connected to the DUT side connector via the DUT side cable. Four probes stored in contact pin storage holes And characterized by being connected to the intermediate terminal or peripheral side terminal of the titration, the contact pins.

【0026】従って、請求項6の被測定物側装置によれ
ば、各四探針測定用コンタクトピン毎に中側端子と周側
端子にて一つのプローブポイントを各別に2つの電気経
路及び被測定物側ケーブルを介して被測定物側接続具に
電気的に導出でき、後述する請求項7の測定回路側装置
とで着脱自在(交換可能)にコンタクト機器を構成する
ことができる。
Therefore, according to the device under test according to the sixth aspect, one probe point is separately provided for each of the four probe measurement contact pins at the middle terminal and the peripheral terminal by using two electric paths and a probe. The contact device can be electrically led to the DUT-side connector via the DUT-side cable, and the contact device can be detachably (replaceable) with a measurement circuit-side device described later.

【0027】請求項7の測定回路側装置は、コンタクト
機器用の被測定物側接続具と着脱自在な測定回路側接続
具のコンタクトピン収納孔に収納された四探針測定用コ
ンタクトピンの中側端子或いは周側端子と、測定回路が
装着される測定回路装着用コネクタの各端子とを測定回
路側ケーブルを介して接続してなることを特徴とする。
従って、請求項7の測定回路側装置によれば、コンタク
ト機器用の被測定物側接続具と着脱自在な測定回路側接
続具と、測定回路が装着される測定回路装着用コネクタ
の各端子と測定回路側ケーブルにより接続してなるの
で、上記の請求項6の被測定物側装置とで着脱自在(交
換可能)にコンタクト機器を構成することができる。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a measuring circuit side device comprising: a four-probe measuring contact pin housed in a contact pin housing hole of a measuring object side connector which is detachable from a measuring object side connector for a contact device; The side terminal or the peripheral side terminal is connected to each terminal of a connector for mounting a measuring circuit to which the measuring circuit is mounted via a measuring circuit side cable.
Therefore, according to the measuring circuit side device of claim 7, the measuring object side connecting tool detachable from the DUT side connecting tool for the contact device, and each terminal of the measuring circuit mounting connector to which the measuring circuit is mounted, Since the connection is made by the measuring circuit side cable, the contact device can be configured to be detachable (replaceable) with the device under test according to the sixth aspect.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】本発明コンタクト機器は、基本的
には、中側端子と、該中側端子に電気的に絶縁された状
態で外嵌された筒状の周側端子と、を少なくとも有し、
上記中側端子の一端から他端に至る電気経路と、上記周
側端子の一端から他端に至る電気経路との二つの電気経
路を有するものであるが、具体的にコンタクトピン装着
ボードの装着するには、上記中側端子を二分して構成し
た一対の中側端子と、該一対の中側端子が尖った一端を
外を向く向きで且つ該中側端子とは電気的に絶縁された
状態で内嵌されたところの筒状の上記周側端子を二分し
て構成した一対の周側端子と、該一対の中側端子間に介
在せしめられた内側導電性スプリングと、上記一対の周
側端子間に縮設された外側導電性スプリングと、上記一
対の中側端子間の間隔を、上記内側導電性スプリングが
弾力を蓄えて縮設された状態を保つよう規定する中側端
子間隔規定手段と、を有するという構成が好ましいと言
える。尚、一対の中側端子の一対の周側端子からの抜け
を防止するために、抜け防止措置を講じると良いが、そ
の抜け防止は、中側端子と周側端子の軸方向における或
る程度の相対的な移動が可能なるようにかしめ等により
講じると良い。相対的移動を可能にしないと、内側導電
性スプリングのばね力により荷重を吸収し、且つ接触に
より電気的な接続を確実にとる働きが損なわれるおそれ
があるからである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The contact device of the present invention basically comprises at least a middle terminal and a cylindrical peripheral terminal which is externally fitted to the middle terminal while being electrically insulated. Have
It has two electric paths: an electric path from one end of the middle terminal to the other end, and an electric path from one end of the peripheral terminal to the other end. To form a pair of middle terminals formed by bisecting the middle terminal, the pair of middle terminals are pointed to one end with a sharp end facing outward, and the middle terminals are electrically insulated. A pair of peripheral terminals formed by bisecting the cylindrical peripheral terminal that has been internally fitted in a state, an inner conductive spring interposed between the pair of middle terminals, and the pair of peripheral terminals; An outer conductive spring contracted between the side terminals, and a distance between the pair of middle terminals, a middle terminal distance regulation that regulates the inner conductive spring to maintain a contracted state by storing elasticity. Means can be said to be preferable. Incidentally, in order to prevent the pair of middle terminals from coming off from the pair of peripheral terminals, it is preferable to take measures to prevent the middle terminal from coming off. It is advisable to take a measure such as caulking so that the relative movement can be made. If the relative movement is not allowed, the load may be absorbed by the spring force of the inner conductive spring, and the function of reliably making an electrical connection by contact may be impaired.

【0029】尚、四探針測定用コンタクトピンの上記各
周側端子の一端部を、一部を接続端として残し切り欠か
れた形状に形成すると、該四探針測定用コンタクトピン
を、被測定物、例えばプリント基板の各プローブポイン
トに直接に接して電気的コンタクトをとる四探針測定用
コンタクトピンとしてではなく、一端がケーブルに接続
され、測定具に装着される四探針測定用コンタクトピン
として用いるのに適する。この場合、該四探針測定用コ
ンタクトピンの他端は、その測定具と着脱自在に接続さ
れる測定具に装着された四探針測定用コンタクトピンの
他端と接触せしめられ、四探針測定用コンタクトピン
は、ケーブル間の電気的コンタクトをとることになる。
というのは、周側端子の一方の端部が一部を接続端とし
て残されて切り欠かれているので、中側端子にケーブル
の一端を接続することが可能なので、周側端子及び中側
端子にケーブルの一端を接続することが容易となるから
である。
If one end of each of the peripheral terminals of the four-probe measurement contact pin is formed in a cutout shape, leaving a part as a connection end, the four-probe measurement contact pin is covered. A four-probe measurement contact that is connected to a cable at one end and is attached to a measurement tool, not as a four-probe measurement contact pin that directly contacts and electrically contacts each probe point on a printed circuit board. Suitable for use as a pin. In this case, the other end of the four-probe measuring contact pin is brought into contact with the other end of the four-probe measuring contact pin attached to the measuring instrument detachably connected to the measuring instrument, The measuring contact pins make electrical contact between the cables.
This is because one end of the peripheral terminal is cut off, leaving a part as a connection end, so that one end of the cable can be connected to the middle terminal. This is because it is easy to connect one end of the cable to the terminal.

【0030】本発明コンタクト機器は、基本的には、中
側端子と該中側端子に電気的に絶縁された状態で外嵌さ
れた筒状の周側端子を少なくとも有し上記中側端子の一
端から他端に至る電気経路と、上記周側端子の一端から
他端に至る電気経路との二つの電気経路を有する複数個
の四探針測定用コンタクトピン各々を、コンタクトピン
装着ボードのこれを貫通するように形成された複数のコ
ンタクトピン収納孔各々に、上記中側端子及び周側端子
の外端が上記コンタクトピン装着ボードの両主表面に露
出乃至両主面から突出するように装着し、上記コンタク
トピン装着ボードの一方の主表面に露出乃至両主面から
突出する各中側端子及び各周側端子の外端を、一又は複
数の測定回路装着用コネクタの端子に電気的に接続して
なるが、その各四探針測定用コンタクトピンの中側端子
及び周側端子の外端と、測定回路装着用コネクタの端子
との電気的接続は、ケーブルを介して行うようにすると
良い。そして、ケーブルと中側端子及び周側端子の外端
との電気的接続は、ケーブルの一端部を中継ボードに通
し、絶縁被覆を剥がして露出させた芯線の先端をその中
継ボードから稍突出させ、コンタクトピン装着ボードを
中継ボードに位置決めして重ね、該コンタクトピン装着
ボードに装着された四探針測定用コンタクトピンの中側
端子及び周側端子の一端を各ケーブルの戦線の先端に接
触させることにより行うようにすると良い。
The contact device of the present invention basically has at least a middle terminal and a cylindrical peripheral terminal externally fitted to the middle terminal in an electrically insulated state. Each of a plurality of four-probe measurement contact pins having two electric paths, an electric path from one end to the other end and an electric path from one end to the other end of the peripheral terminal, is connected to a contact pin mounting board. In each of a plurality of contact pin storage holes formed so as to penetrate through, the outer ends of the middle terminal and the peripheral terminal are exposed on both main surfaces of the contact pin mounting board or project from the both main surfaces. Then, the outer ends of each of the middle terminals and each of the peripheral terminals that are exposed on one main surface of the contact pin mounting board or protrude from both main surfaces are electrically connected to the terminals of one or more measuring circuit mounting connectors. Connected, but each of the four Electrical connection of the outer end of the middle-side terminal and the peripheral terminal of the needle for measurement contact pins, the terminals of the measuring circuit mounting connector, it is preferable to be performed via a cable. Then, the electrical connection between the cable and the outer ends of the middle terminal and the peripheral terminal is made by passing one end of the cable through the relay board, peeling off the insulating coating, and slightly projecting the tip of the exposed core wire from the relay board. Then, the contact pin mounting board is positioned on the relay board and overlapped, and one end of the middle terminal and the peripheral terminal of the four-probe measurement contact pin mounted on the contact pin mounting board is brought into contact with the front end of the front line of each cable. It is good to do it by doing.

【0031】そして、上記各ケーブルの中間部に互いに
着脱自在に接続される一対の接続具を介在させ、コンタ
クト機器を被測定物側の部分、即ち被測定物側装置と、
測定回路側の部分、即ち測定回路側装置とに着脱自在に
二分できるようにすると良い。尚、互いに着脱自在に接
続される一対の接続具、即ち被測定物側の接続具と測定
回路側の接続具によるケーブル間の電気的接続は、ケー
ブルの一端に中側端子、周側端子が接続された四探針測
定用コンタクトピン、例えば上記請求項3の四探針測定
用コンタクトピンを装着し、その接続具同士を固定する
ことにより装着された四探針測定用コンタクトピンの中
側端子、周側端子同士を接触させることにより行うこと
ができる。
Then, a pair of connecting tools detachably connected to each other is interposed at the intermediate portion of each of the cables, and the contact device is connected to a portion on the device under test side, that is, a device on the device under test side,
It is preferable to be able to detachably divide into two parts on the measurement circuit side, that is, the measurement circuit side device. Note that the electrical connection between the cables by a pair of connectors that are detachably connected to each other, that is, the connector on the DUT side and the connector on the measurement circuit side, includes a middle terminal and a peripheral terminal at one end of the cable. The inside of the four-probe measurement contact pin, which is mounted by mounting the connected four-probe measurement contact pin, for example, the four-probe measurement contact pin according to claim 3 and fixing the connecting members. This can be performed by bringing the terminals and the peripheral terminals into contact with each other.

【0032】このようにすれば、一つの測定回路側装置
を例えば四探針測定用の被測定物側装置を接続すること
により四探針測定用コンタクト機器を構成し、普通測定
用被測定物側装置と接続することにより普通測定用コン
タクト機器を構成することができ、一つの測定回路側装
置を四探針測定用としても普通測定用としても使用でき
るのである。尚、本発明に係るコンタクト機器として、
現在の時点で、512個のプローブポイント各々に対し
て2つずつコンタクトをとることができ、従って、コン
タクト数が1024に達するものを製品化することがで
きたが、今後、このプローブポイント、コンタクト数を
増加する可能性が充分にある。
In this way, a contact device for four-probe measurement is constructed by connecting one device on the measurement circuit side to, for example, a device for four-probe measurement. By connecting to the side device, a contact device for ordinary measurement can be constituted, and one device on the measurement circuit side can be used for both four-probe measurement and ordinary measurement. Incidentally, as the contact device according to the present invention,
At the present time, two contacts can be made for each of the 512 probe points, and therefore, a product having the number of contacts reaching 1024 could be commercialized. There is a good chance of increasing the number.

【0033】[0033]

【実施例】以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説
明する。図1(A)、(B)及び図2は本発明四探針測
定用コンタクトピンの一つの実施例を示すもので、図1
(A)は分解斜視図、(B)は四探針測定用コンタクト
ピンの斜視図、図2は縦断面図である。本実施例の四探
針測定用コンタクトピンは図4、図5に示し後で詳細を
説明するコンタクト機器(本発明コンタクト機器の一つ
の実施例)に、被測定物であるプリント基板の各プロー
ブポイントから互いに独立した2つの電気経路を経て電
気的な導出を行う四探針測定用コンタクトピンとして用
いられるものであり、コンタクト機器のコンタクトピン
装着ボードに装着される。このコンタクトピン装着ボー
ドに装着される四探針測定用コンタクトピンの数は、例
えば512であるが、将来増える可能性がある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the illustrated embodiments. FIGS. 1A, 1B and 2 show one embodiment of the contact pin for four-probe measurement according to the present invention.
(A) is an exploded perspective view, (B) is a perspective view of a contact pin for four-probe measurement, and FIG. 2 is a longitudinal sectional view. The contact pins for four-probe measurement according to this embodiment are shown in FIGS. 4 and 5 and are described below in detail in a contact device (one embodiment of the contact device of the present invention). It is used as a four-probe measurement contact pin for conducting electrical derivation through two independent electric paths from a point, and is mounted on a contact pin mounting board of a contact device. The number of four-probe measurement contact pins mounted on the contact pin mounting board is, for example, 512, but may increase in the future.

【0034】1は四探針測定用コンタクトピン、2、2
は一対の中側端子で、導電性材料からなり、各中側端子
2、2の一端(外端)が尖った形状にされ、中間部が両
端部より小径にされており、この二つの中側端子2、2
の他端(内端)側部分が一つの中側端子保持筒3内に保
持され、該中側端子2・2間の間隔が所定以上にならな
いように規制されている。本実施例では該中側端子2が
I(電流)端子となる。
1 is a contact pin for four-probe measurement,
Is a pair of middle terminals made of a conductive material, one end (outer end) of each of the middle terminals 2 and 2 is pointed, and the middle part is smaller in diameter than both ends. Side terminals 2, 2
Is held in one middle terminal holding cylinder 3, and the distance between the middle terminals 2, 2 is regulated so as not to exceed a predetermined value. In this embodiment, the middle terminal 2 is an I (current) terminal.

【0035】上記の間隔の規制は中側端子保持筒3に各
中側端子2、2の内端側の部分を挿入し、該中側端子保
持筒3の両端部を内側に折り曲げ、この折り曲げ部分を
挿入された内端側の部分と係合させるようにすることに
より行われている。該中側端子保持筒3の外周面には絶
縁コーティングが為されている。中側端子2、2と、後
述する周側端子(5、5)との間を電気的に絶縁するた
めに必要であるからである。
The above-mentioned spacing is regulated by inserting the inner end portions of the middle terminals 2 and 2 into the middle terminal holding tube 3 and bending both ends of the middle terminal holding tube 3 inward. This is done by engaging the part with the inserted inner end part. The outer peripheral surface of the middle terminal holding cylinder 3 is coated with an insulating material. This is because it is necessary to electrically insulate between the middle terminals 2 and 2 and the peripheral terminals (5 and 5) described later.

【0036】また、中側端子2、2の後述する周側端子
(5、5)と直接接する部分にも絶縁コーティングが為
されている。4は該中側端子2・2間に縮設された内側
導電性スプリングであり、該中側端子2、2は上記中側
端子保持筒3により互いの距離を所定以上にならないよ
うに位置規制された状態で、スプリング4の弾力により
互いに離れる方向に付勢される。
Also, portions of the middle terminals 2 and 2 which are in direct contact with peripheral terminals (5, 5) described later are coated with an insulating material. Reference numeral 4 denotes an inner conductive spring contracted between the middle terminals 2. The position of the middle terminals 2 and 2 is regulated by the middle terminal holding cylinder 3 so that the distance between the middle terminals 2 and 2 does not exceed a predetermined value. In this state, the springs 4 are urged away from each other by the elastic force of the spring 4.

【0037】5、5は一対の周側端子で、両端が開口す
る導電性の筒状体からなり、該各周側端子5、5には上
記中側端子2、2が電気的に絶縁された状態で内嵌され
ている。具体的には、上述したように中側端子2、2の
大径部分の外周面に、そして上記中側端子保持筒3の外
周面に絶縁コーティングすることにより中側端子2、2
が周側端子5、5に電気的に絶縁された状態で内嵌され
ている。一方の周側端子5の外側端部には尖り部6が複
数6、6、・・・周方向に沿って複数配設された形状を
有し、その尖り部7が在る側が被測定物(プリント基
板)側となり、それとは反対側が測定回路側となる。本
実施例では周側端子5がV(電圧)端子として用いられ
る。
Reference numerals 5 and 5 denote a pair of peripheral terminals, each of which is formed of a conductive tubular body having both ends open. The peripheral terminals 5 and 5 are electrically insulated from the middle terminals 2 and 2 respectively. It is fitted in a state where it is set. Specifically, as described above, the outer peripheral surfaces of the large-diameter portions of the middle terminals 2 and 2 and the outer peripheral surface of the middle terminal holding cylinder 3 are insulated and coated to form the middle terminals 2 and 2.
Are internally fitted to the peripheral terminals 5, 5 in an electrically insulated state. At the outer end of one of the peripheral terminals 5, a plurality of sharp portions 6 are provided along the circumferential direction, and a plurality of sharp portions 6 are arranged along the circumferential direction. (Printed circuit board) side, and the opposite side is the measurement circuit side. In this embodiment, the peripheral terminal 5 is used as a V (voltage) terminal.

【0038】7は上記一対の周側端子5・5間に介在さ
れた外側導電性スプリングである。8、8は各周側端子
5、5の外径を内側より外側を小径にすることにより形
成された外向きの段部で、コンタクトピン装着ボード
(図2の2点鎖線、符号20)のコンタクトピン収納孔
21に収納される際にコンタクトピン装着ボード側の段
部22、22と係合することにより各周側端子5・5が
そのコンタクトピン収納孔21に収納された状態でその
間の間隔が所定以上にならないように規制される。そし
て、その周側端子5・5間には上述したように上記外側
導電性スプリング7が介在し、該スプリング7のばね力
により周側端子5、5は上記間隔を規制された状態で外
側に付勢されている。
Reference numeral 7 denotes an outer conductive spring interposed between the pair of peripheral terminals 5,5. Reference numerals 8 denote outwardly-facing steps formed by making the outer diameters of the peripheral terminals 5, 5 smaller on the outside than on the inside, and are provided on the contact pin mounting board (two-dot chain line in FIG. 2, reference numeral 20). When the peripheral terminals 5.5 are housed in the contact pin housing holes 21 by being engaged with the step portions 22 on the contact pin mounting board side when housed in the contact pin housing holes 21, respectively. The interval is regulated so as not to exceed a predetermined value. As described above, the outer conductive spring 7 is interposed between the peripheral terminals 5 and 5, and the peripheral terminals 5 and 5 are moved outward in a state where the interval is regulated by the spring force of the spring 7. Being energized.

【0039】そして、上記中側端子2、2は上記周側端
子5、5からの抜けが生じないように例えば周側端子
5、5を部分的にかしめられている。9、9、9、9は
そのかしめ部である。
The middle terminals 2, 2 are partially caulked, for example, so that the peripheral terminals 5, 5 do not come off from the peripheral terminals 5, 5. 9, 9, 9, 9 are the caulking portions.

【0040】このような四探針測定用コンタクトピン1
をコンタクトピン装着ボード20(2点鎖線で示す)の
各コンタクト収納孔21にセットすれば、四探針測定用
コンタクトピン1の段部8、8がコンタクト収納孔21
の段部22、22に係合して四探針測定用コンタクトピ
ン1のコンタクト収納孔21からの離脱が阻止される。
Such a contact pin 1 for four-probe measurement
Is set in each contact storage hole 21 of the contact pin mounting board 20 (indicated by a two-dot chain line), the step portions 8 of the four-probe measurement contact pin 1 are
Of the four-probe measuring contact pin 1 from the contact housing hole 21 is prevented.

【0041】そして、コンタクトピン装着ボード20の
一主表面側に被測定物である例えばプリント基板をあて
がい、該コンタクトピン装着ボード20の他方の主表面
側に例えば後述する中継ボード(24)の一方の主表面
をあてがい、各コンタクトピン1の一方の中側端子2と
一方の周側端子5の両外端を上記プリント基板の各プロ
ーブポイント(一つのプローブポイント)に接触させ、
他方の中側端子2と周側端子5の外端を中継ボード(2
4)の上記主表面に露出する一対のケーブル(25a)
の先端部の絶縁被覆を剥がされた芯線先端面に接触させ
る。
An object to be measured, for example, a printed circuit board is applied to one main surface of the contact pin mounting board 20, and one of relay boards (24) to be described later is mounted on the other main surface of the contact pin mounting board 20, for example. And the outer ends of one middle terminal 2 and one peripheral terminal 5 of each contact pin 1 are brought into contact with each probe point (one probe point) of the printed circuit board,
Connect the outer ends of the other middle terminal 2 and peripheral terminal 5 to the relay board (2
4) A pair of cables (25a) exposed on the main surface
Is brought into contact with the core wire distal end surface from which the insulating coating at the distal end of the core wire has been peeled off.

【0042】すると、各中側端子2・2間の内側導電性
スプリング4及び各周側端子5・5間の外側導電性スプ
リング7がプリント基板と中継ボード(24)とにより
受ける加圧的荷重を吸収し、スプリング4と中側端子
2、2との電気的コンタクト及びスプリング7と周側端
子5、5との電気的コンタクトを確実にとることがで
き、プリント基板の各プローブポイントをそれぞれ二つ
ずつ各別に電気的に中継ボード(24)のケーブル(2
5a)に導出することができる。
The inner conductive spring 4 between the middle terminals 2 and the outer conductive spring 7 between the peripheral terminals 5, 5 receive a pressurizing load received by the printed circuit board and the relay board (24). And the electrical contact between the spring 4 and the middle terminals 2 and 2 and the electrical contact between the spring 7 and the peripheral terminals 5 and 5 can be reliably established. The cables (2) of the relay board (24)
5a).

【0043】依って、中継ボード(24)のケーブル
(25a)が例えば間接的に電気的に接続された測定回
路によるプリント基板に対する四探針測定法による測定
が可能になるのである。尚、本四探針測定用コンタクト
ピン1を用いたコンタクト機器(15)については後で
詳細に説明する。
Accordingly, it is possible to perform the measurement by the four-probe measurement method on the printed board by the measurement circuit in which the cable (25a) of the relay board (24) is electrically connected indirectly, for example. The contact device (15) using the four-probe measurement contact pin 1 will be described later in detail.

【0044】図3(A)〜(C)は本発明四探針測定用
コンタクトピンの第2の実施例1aを示すものであり、
(A)は分解斜視図、(B)は斜視図、(C)は中側端
子及び周側端子を矢印Cに沿って視た矢視図である。本
四探針測定用コンタクトピン1aは図4に示すコンタク
ト機器に使用されるものであり、その点で図1、2に示
す本発明四探針測定用コンタクトピンの第1の実施例1
とは、共通するが、用途と構造の一部において異なる。
FIGS. 3A to 3C show a second embodiment 1a of a contact pin for four-probe measurement according to the present invention.
(A) is an exploded perspective view, (B) is a perspective view, and (C) is an arrow view of the middle terminal and the peripheral terminal viewed along arrow C. The four-probe measuring contact pin 1a is used in the contact device shown in FIG. 4, and in that respect, the first embodiment of the four-probe measuring contact pin of the present invention shown in FIGS.
Are common, but differ in some uses and structures.

【0045】先ず、用途について説明すると、後で詳述
する、コンタクト機器においては、上記中継ボード(2
0)と測定回路装着用コネクタ(27)の端子(30)
とを接続するケーブル(25)に着脱自在に互いに接続
される一対の接続具(17a、17b)を介在させるこ
ととしているが、その場合における、そのケーブル(2
5)の一端に接続され接続具に装着される四探針測定用
コンタクトピンとして該四探針測定用コンタクトピン1
aを使用するのである。その点で、被測定物であるプリ
ント基板のプローブポイントと直接コンタクトして電気
的導出を行うする四探針測定用コンタクトピン1とは異
なる。即ち、本四探針測定用コンタクトピン1aは電気
的中継を行うのである。
First, the application will be described. In the contact device, which will be described later in detail, in the relay board (2)
0) and the terminal (30) of the connector (27) for mounting the measuring circuit
A pair of connectors (17a, 17b) detachably connected to each other is interposed in a cable (25) for connecting the cable (25).
5) The contact pin 1 for four-probe measurement as a contact pin for four-probe measurement attached to one end of
Use a. In this respect, the contact pin is different from the four-probe measurement contact pin 1 which directly contacts the probe point of the printed circuit board to be measured and performs electrical derivation. That is, the four-probe measuring contact pin 1a performs electrical relay.

【0046】次に、構造的には2つの点で異なる。先
ず、第1に、一方の周側端子5の外端が一部を接続端1
0として残るように切り欠かれている。これは、中側端
子2の端部にケーブルの一端を半田付等による接続をし
易くするためである。本四探針測定用コンタクトピン1
aは、ケーブルとは直接接続されない四探針測定用コン
タクトピン1とはその点で構造的に異なる、そして、こ
の接続端10が形成された側がケーブルと接続される側
となり、上述した接続具にはケーブルが接続された側と
反対側から装着されることになる。
Next, the structure differs in two points. First, the outer end of one of the peripheral terminals 5 is partially connected to the connection end 1.
Notched to remain as 0. This is to make it easier to connect one end of the cable to the end of the middle terminal 2 by soldering or the like. Contact pin 1 for this four probe measurement
a is structurally different from the four-probe measurement contact pin 1 which is not directly connected to the cable, and the side where the connection end 10 is formed becomes the side to be connected to the cable, and Is mounted from the side opposite to the side where the cable is connected.

【0047】第2に、他方の周側端子5の外端に設けら
れた尖った部分6は、中側端子2を挟んで反対側に位置
するように(中側端子を中心として180°離間するよ
うに)一対6、6設けられ、該尖った部分6、6と中側
端子2が図3(C)に示すように一直線上に位置するよ
うにされており、尖った部分6の数、位置に制約のない
四探針測定用コンタクトピン1とはその点で異なってい
る。
Second, the pointed portion 6 provided at the outer end of the other peripheral terminal 5 is located on the opposite side of the middle terminal 2 (a distance of 180 ° around the middle terminal). 3), the sharp portions 6, 6 and the middle terminal 2 are arranged so as to be aligned with each other as shown in FIG. This is different from the four-probe measurement contact pin 1 in which the position is not restricted.

【0048】図4は上記四探針測定用コンタクトピン1
及び1aを多数用いた四探針測定対応のコンタクト機
器、即ち本発明コンタクト機器の第1の実施例15の概
略構成を示す斜視図である。該コンタクト機器15は、
被測定物側装置(本発明被測定物側装置の第1の実施
例)16aと測定回路側装置(本発明測定回路側装置の
第1の実施例)16bにより構成されており、該被測定
物側装置16aと測定回路側装置16bとは、互いに着
脱自在に接続される被測定物側接続具17aと測定回路
側接続具17bにより、互いに交換可能に構成されてい
る。
FIG. 4 shows the contact pin 1 for four-probe measurement.
FIG. 11 is a perspective view showing a schematic configuration of a contact device for four-probe measurement using a large number of samples and 1a, that is, a first embodiment 15 of the contact device of the present invention. The contact device 15
The device under test (the first embodiment of the device under test of the present invention) 16a and the device under test (the first embodiment of the device under test of the present invention) 16b comprise the device under test. The object-side device 16a and the measurement circuit-side device 16b are configured to be interchangeable with each other by an object-to-be-measured side connection tool 17a and a measurement circuit-side connection tool 17b that are detachably connected to each other.

【0049】先ず、被測定物側装置16aについて説明
する。20はコンタクトピン装着ボードで、複数の絶縁
性板を積層してなり、上記四探針測定用コンタクトピン
1を収納するコンタクトピン収納孔21(図2参照)が
多数形成されている。そして、各コンタクトピン収納孔
21にはそれぞれ1個ずつ上述したように四探針測定用
コンタクトピン1が装着されている。具体的には、四探
針測定用コンタクトピン1の図2における右側の中側端
子2、周側端子5の外端がコンタクトピン装着ボード2
0の上側の主表面、即ち上面20aから突出し、図2に
おける左側の中側端子2、周側端子5の外端がコンタク
トピン装着ボード20の下側の主表面、即ち下面20b
に露出或いは突出するように、各四探針測定用コンタク
トピン1がコンタクトピン装着ボード20に装着されて
いる。
First, the device under test 16a will be described. Reference numeral 20 denotes a contact pin mounting board, which is formed by laminating a plurality of insulating plates, and has a large number of contact pin storage holes 21 (see FIG. 2) for receiving the four-probe measurement contact pins 1. Each contact pin receiving hole 21 is provided with one contact pin 1 for four-probe measurement as described above. Specifically, the outer ends of the right-side middle terminal 2 and the peripheral terminal 5 of the four-probe measurement contact pin 1 in FIG.
2 protrudes from the upper main surface, that is, the upper surface 20a, and the outer ends of the left middle terminal 2 and the peripheral terminal 5 in FIG.
The four probe contact pins 1 are mounted on the contact pin mounting board 20 so as to be exposed or projected.

【0050】24は中継ボードで、該ボード24も例え
ば複数の絶縁性板を積層してなり、図面に現れないケー
ブル装着孔が上記各四探針測定用コンタクトピン1の中
側端子2、周側端子5に対応して貫設されている。そし
て、該各ケーブル装着孔には、それぞれ一端が絶縁被覆
を所定長さ剥がして芯線を露出させた被測定物側ケーブ
ル25aの上記一端が中継ボード24の下側から挿入さ
れ、芯線の先端が中継ボード24の上側の主表面、即ち
上面から稍突出するようにされて固定されている。
Reference numeral 24 denotes a relay board. The board 24 is also formed by laminating a plurality of insulating plates, for example. It penetrates in correspondence with the side terminal 5. Then, into the respective cable mounting holes, one end of the DUT side cable 25a, one end of which is stripped of the insulating coating to a predetermined length to expose the core wire, is inserted from below the relay board 24, and the tip of the core wire is inserted. The relay board 24 is fixed so as to slightly protrude from the upper main surface, that is, the upper surface thereof.

【0051】尚、中継ボード24の各ケーブル装着孔は
上部を下部より小径にすることにより下向きの段部が形
成されており、被測定物側ケーブル25aの先端を剥が
された絶縁被覆の端面がその段部に係合することにより
ケーブルの上下方向における位置が規定されるようにさ
れている。そして、全ケーブル25a、25a、・・・
装着固定後、中継ボード24の上面から突出する芯線を
ボード24と平行な面で研磨することにより各ケーブル
25aの芯線の突出量を一定にされている。
Each cable mounting hole of the relay board 24 is formed with a downward step by making the upper part smaller in diameter than the lower part, and the end surface of the insulating coating from which the tip of the object side cable 25a is peeled off is formed. The vertical position of the cable is defined by engaging the step. And all the cables 25a, 25a, ...
After the mounting and fixing, the core wire protruding from the upper surface of the relay board 24 is polished on a surface parallel to the board 24 so that the amount of protrusion of the core wire of each cable 25a is made constant.

【0052】そして、上記コンタクトピン装着ボード2
0の下面と、中継ボード24の上面とが互いに位置決め
して重ね合わせられ、その重ね合わせによりコンタクト
ピン装着ボード20の各コンタクトピン収納孔21に装
着されたコンタクトピン1の中側端子2及び周側端子5
とが、中継ボード24の各別のケーブル装着孔に装着さ
れた各別のケーブル25a、25aの芯線の先端面に接
触するようにされている。因みに、本実施例において
は、ケーブル装着孔の数は、コンタクトピン収納孔20
の数(例えば512)の2倍(例えば1024)であ
る。
Then, the contact pin mounting board 2
0 and the upper surface of the relay board 24 are positioned and overlapped with each other, and the middle terminal 2 and the peripheral terminals of the contact pins 1 mounted in the respective contact pin receiving holes 21 of the contact pin mounting board 20 by the overlapping. Side terminal 5
Are in contact with the end surfaces of the core wires of the respective cables 25a, 25a mounted in the respective cable mounting holes of the relay board 24. Incidentally, in the present embodiment, the number of cable mounting holes is
(For example, 1024) of the number (for example, 512).

【0053】上記各被測定物側ケーブル25aの他端、
即ち中継ボード24の各ケーブル装着孔に装着された側
と反対側の端は、芯線が図3に示したコンタクトピン1
aの中側端子2或いは周側端子5の接続端10に半田付
け等により接続されている。即ち、被測定物側ケーブル
25aの半数はコンタクトピン1aの中側端子2に、残
りの半数は周側端子5の接続端10に接続されている。
The other end of each of the DUT side cables 25a,
That is, the end of the relay board 24 on the side opposite to the side mounted on each cable mounting hole has the core wire having the contact pin 1 shown in FIG.
a is connected to the connection terminal 10 of the middle terminal 2 or the peripheral terminal 5 by soldering or the like. That is, half of the DUT side cable 25 a is connected to the middle terminal 2 of the contact pin 1 a, and the other half is connected to the connection end 10 of the peripheral terminal 5.

【0054】そして、周側端子5の接続端10及び中側
端子2にて2本のケーブル25a、25aと接続された
各四探針測定用コンタクトピン1aはそれぞれ上記被測
定物側接続具17aに装着される。この装着に関しては
後で図5を参照して詳細に説明する。
Each of the four probe measuring contact pins 1a connected to the two cables 25a, 25a at the connection end 10 of the peripheral terminal 5 and the middle terminal 2 is connected to the object-to-be-measured connector 17a, respectively. Attached to. This mounting will be described later in detail with reference to FIG.

【0055】次に、測定回路側装置16bについて説明
する。26はベース板で、それには測定回路装着用コネ
クタ27が複数設けられており(但し、1個しかない場
合もあり得る。)、更に、被測定物側装置16aを取り
付ける取付孔28、28、28、28が形成されてお
り、該取付孔28、28、28、28には被測定物側装
置16aの取付脚29、29、29、29が挿入固定さ
れるようになっている。
Next, the measuring circuit side device 16b will be described. Reference numeral 26 denotes a base plate, on which a plurality of measuring circuit mounting connectors 27 are provided (however, there may be only one connector), and mounting holes 28, 28 for mounting the device 16a to be measured are provided. 28, 28 are formed, and the mounting legs 29, 29, 29, 29 of the device 16a to be measured are inserted and fixed into the mounting holes 28, 28, 28, 28.

【0056】25b、25b、・・・は一端が上記測定
回路装着用コネクタ27、27、・・・の端子30、3
0、・・・に接続された測定回路側ケーブルで、それぞ
れ、他端は、芯線が図3に示した四探針測定用コンタク
トピン1aの中側端子2或いは周側端子5の接続端10
に半田付などにより接続されている。即ち、測定回路側
ケーブル25bは、被測定物側ケーブル25aの場合と
同様に、半数が四探針測定用コンタクトピン1aの中側
端子2に、残りの半数が周側端子5の接続端10に接続
されている。
One end of each of the terminals 30, 3 of the measuring circuit mounting connectors 27, 27,.
The other end of each of the connection terminals 10 is connected to the middle terminal 2 or the peripheral terminal 5 of the four-probe measurement contact pin 1a whose core is shown in FIG.
Are connected by soldering or the like. That is, as in the case of the DUT side cable 25a, half of the measurement circuit side cable 25b is connected to the middle terminal 2 of the four probe measurement contact pin 1a, and the other half is connected to the connection terminal 10 of the peripheral terminal 5. It is connected to the.

【0057】そして、周側端子5の接続端10及び中側
端子2にて2本のケーブル25b、25bと接続された
各四探針測定用コンタクトピン1aはそれぞれ上記測定
回路側接続具17bに装着される。この装着に関しては
後で図5を参照して詳細に説明する。また、該測定回路
側接続具17bは被測定物側接続具17aと着脱自在に
接続され、その接続により各測定回路側ケーブル17b
とそれに対応する被測定物側ケーブル17bとが四探針
測定用コンタクトピン1aを介して電気的に接続され、
四探針測定対応のコンタクト機器15が構成されるが、
その接続具17aと17bとの接続に関しても図5を参
照して説明する。
Each of the four-probe measurement contact pins 1a connected to the two cables 25b, 25b at the connection end 10 of the peripheral terminal 5 and the middle terminal 2 is connected to the measurement circuit side connector 17b. Be attached. This mounting will be described later in detail with reference to FIG. The measuring circuit side connection tool 17b is detachably connected to the DUT side connection tool 17a.
And the object-side cable 17b corresponding thereto are electrically connected via the four-probe measurement contact pin 1a,
A contact device 15 for four-probe measurement is configured,
The connection between the connectors 17a and 17b will also be described with reference to FIG.

【0058】図5は互いに接続された状態の被測定物側
接続具17aと測定回路側接続具17aを示す断面図で
あり、この二つの接続具17a、17bは全く同じ構造
であり、一方17bのみ説明する。40はコンタクトピ
ン収納本体で、複数の板体を積層してなり、これには四
探針測定用コンタクトピン1aを収納する多数のコンタ
クトピン収納孔41、41、・・・が形成されている。
そして、各コンタクトピン収納孔41にはそれぞれ四探
針測定用コンタクトピン1aが装着されている。具体的
には、コンタクトピン収納本体41に、周側端子5の接
続端10及び中側端子2にそれぞれ測定回路側ケーブル
25b、25bが接続された四探針測定用コンタクトピ
ン1aの該ケーブル25b、25bが接続された側と反
対側から挿入され、上記周側端子5、中側端子2と別の
周側端子5、中側端子2の先端がコンタクトピン収納本
体41の先端面から適宜量突出するするように装着され
る。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the DUT-side connector 17a and the measuring circuit-side connector 17a connected to each other. The two connectors 17a and 17b have exactly the same structure, while I will explain only. Reference numeral 40 denotes a contact pin storage main body, which is formed by stacking a plurality of plate bodies, and has a plurality of contact pin storage holes 41, 41,... For storing the four probe contact pins 1a. .
Each contact pin storage hole 41 is provided with a four-probe measurement contact pin 1a. Specifically, in the contact pin housing body 41, the connection pins 10 of the peripheral terminal 5 and the measurement circuit side cables 25b, 25b are connected to the middle terminal 2, respectively. , 25b are inserted from the side opposite to the side to which they are connected, and the peripheral terminal 5 and the intermediate terminal 2 are separated from the peripheral terminal 5 and the distal end of the intermediate terminal 2 by an appropriate amount from the distal end surface of the contact pin housing body 41. It is mounted to protrude.

【0059】42は上記コンタクトピン収納本体40に
外嵌された中間筒、43は該中間筒42に外嵌された外
筒で、先端部のフランジには複数の締め付け孔44、4
4、44、44が形成され、この締め付け孔44、4
4、44、44には、二つの接続具17aと17bを締
め付ける締め付けボルトが通される。そして、後端部外
周にはねじ溝(雄ねじ)45が形成されている。該コン
タクトピン収納孔40はピン46、46、46、46に
よりその後部のフランジ状部分にて外筒43に固定され
ている。47はコンタクトピン収納孔40の上記後部の
フランジ状部分と、上記中間筒42との間に縮設された
スプリングである。48は後部取付筒で、先端部内周面
にはねじ溝(雌ねじ)49が形成されており、該ねじ溝
49には上記外筒43外周面のねじ溝45が螺合されて
いる。このように、多数の四探針測定用コンタクトピン
1aが接続具17b内に保持される。
Reference numeral 42 denotes an intermediate cylinder externally fitted to the contact pin housing body 40, and reference numeral 43 denotes an external cylinder externally fitted to the intermediate cylinder 42, and a plurality of fastening holes 44, 4
4, 44, 44 are formed, and the fastening holes 44, 4
Tightening bolts for tightening the two connectors 17a and 17b are passed through 4, 44 and 44. A thread groove (male thread) 45 is formed on the outer periphery of the rear end. The contact pin housing hole 40 is fixed to the outer cylinder 43 at the rear flange portion by pins 46, 46, 46, 46. Reference numeral 47 denotes a spring contracted between the rear flange portion of the contact pin housing hole 40 and the intermediate cylinder 42. Reference numeral 48 denotes a rear mounting cylinder, which has a thread groove (female screw) 49 formed on the inner peripheral surface of the distal end portion. The thread groove 49 is screwed with the thread groove 45 on the outer peripheral surface of the outer cylinder 43. In this way, a large number of four-probe measurement contact pins 1a are held in the connection tool 17b.

【0060】このような被測定物側接続具17bは同じ
構造の接続具17aと先端面同士を対向配置され、位置
合わせして各測定回路側ケーブル25bと接続された各
四探針測定用コンタクトピン1aと、被測定物側ケーブ
ル25aと接続された各四探針測定用コンタクトピン1
aの互いに対応する中側端子2の先端どうし、周側端子
5同士が接するようにした状態で、固定され、そして、
中側端子2どうし、周側端子5同士が接するときにかか
る荷重は内側導電性スプリング4、外側導線性スプリン
グ7により吸収され、確実な電気的導通をとることがで
きる。これにより、二つの接続具17aと17bとが接
続されコンタクト機器15が構成されるのである。尚、
多数(例えば1024)のケーブル17、17、・・・
各々を二分し、それを着脱自在に接続することができる
ものであれば、接続具は必ずしも図5に示すものは限ら
ない。
Each of the four-probe measuring contacts 17b is disposed such that the tip end surfaces thereof are opposed to the connecting member 17a having the same structure, and are aligned and connected to the measuring circuit side cables 25b. Contact pin 1 for each four-probe measurement connected to the pin 1a and the DUT side cable 25a
a of the middle terminals 2 corresponding to each other, and fixed in a state where the peripheral terminals 5 are in contact with each other;
The load applied when the middle terminals 2 and the peripheral terminals 5 come into contact with each other is absorbed by the inner conductive spring 4 and the outer conductive spring 7, and reliable electrical conduction can be obtained. As a result, the two connecting members 17a and 17b are connected to form the contact device 15. still,
Many (eg, 1024) cables 17, 17,...
The connection tool is not necessarily limited to that shown in FIG. 5 as long as it can be divided into two parts and can be connected detachably.

【0061】このようなコンタクト機器によれば、被測
定物側装置16aのコンタクトピン装着ボード20の上
面に被測定物である図示しないプリント基板を位置決め
してあてがうところのセッティングを行えば、そのプリ
ント基板の各プローブポイントがそれぞれ中側端子2と
周側端子5により独立して電気的に測定回路装着コネク
タ27に装着された測定回路内蔵プリント基板に導出す
ることができる。従って、四探針測定が可能となるので
ある。
According to such a contact device, if a printed circuit board (not shown), which is a device to be measured, is positioned and applied to the upper surface of the contact pin mounting board 20 of the device 16a to be measured, the printing is performed. Each probe point of the board can be independently led out to the printed circuit board with a built-in measuring circuit mounted on the measuring circuit mounting connector 27 independently by the middle terminal 2 and the peripheral terminal 5. Therefore, four-probe measurement becomes possible.

【0062】尚、ケーブル25a、25bとして同軸ケ
ーブルを用い、芯となる導線を四探針測定用コンタクト
ピン1aの中側端子2に、外側のシールド線を四探針測
定用コンタクトピン1aの周側端子5に接続するように
しても良い。この場合は、ケーブルの使用本数は普通の
被覆電線タイプのケーブルを用いた場合の半分で済む。
即ち、普通の被覆電線タイプのケーブルを用いた場合に
おいて例えば1024本ケーブルを必要としたケースで
は、同軸ケーブルを用いた場合には、512本で良い、
ということになる。また、普通の測定用の被測定物側装
置と上記測定回路側装置17bとを組み合わせて、普通
の測定をするコンタクト機器を構成するようにしても良
い。従って、測定回路側装置17bは組み合わせる相手
により四探針測定用コンタクト機器を構成したり、普通
の測定用コンタクト機器を構成したりすることができ、
測定回路側装置17bのフレキシビリティを高めること
ができる。
Coaxial cables are used as the cables 25a and 25b. The core conductor is connected to the middle terminal 2 of the four-probe measurement contact pin 1a, and the outer shield wire is connected to the periphery of the four-probe measurement contact pin 1a. It may be connected to the side terminal 5. In this case, the number of cables used is half that of the case of using a cable of an ordinary coated electric wire type.
That is, in a case where a 1024 cable is required in a case where a cable of an ordinary insulated wire type is used, for example, in a case where a coaxial cable is used, 512 cables may be used.
It turns out that. Further, a contact device for performing ordinary measurement may be configured by combining the device under test for ordinary measurement and the above-described device 17b for measuring circuit. Therefore, the measurement circuit-side device 17b can configure a four-probe measurement contact device or a normal measurement contact device depending on the combination partner.
The flexibility of the measurement circuit side device 17b can be increased.

【0063】因みに、普通の測定用の被測定物側装置と
上記測定回路側装置17bとを組み合わせて、普通の測
定をするコンタクト機器を構成する場合、周側端子5を
通る電気経路は遊びとなり、中側端子2を通る電気経路
のみが機能するということになる。
Incidentally, when a normal measuring device and the above-mentioned measuring circuit side device 17b are combined to constitute a contact device for performing a normal measurement, the electric path passing through the peripheral terminal 5 becomes a play. , Only the electrical path passing through the middle terminal 2 functions.

【0064】[0064]

【発明の効果】請求項1によれば、中側端子と周側端子
を一つのプローブポイントに当てることにより中側端子
と周側端子という二つの互いに電気的に絶縁された端子
により上記一つのプローブポイントに対して二つの電気
的コンタクトをとることができ、上記各別の電気経路に
てそのプローブポイントを各別に他への電気的導出がで
きる。依って、四探針測定が可能になる。
According to the first aspect of the present invention, the middle terminal and the peripheral terminal are applied to one probe point so that the one terminal is connected to the other terminal by the two electrically insulated terminals of the middle terminal and the peripheral terminal. Two electrical contacts can be made to the probe points, and each of the probe points can be electrically led to the other through the separate electrical paths. Therefore, four-probe measurement can be performed.

【0065】請求項2の四探針測定用コンタクトピンに
よれば、一つの中側端子、内側導電性スプリング及び他
の中側端子により、内側の電気経路が形成され、該内側
導電性スプリングがそのばね力により電気経路の形成に
必要な各中側端子との接触を確実に保つと共に、二つの
中側端子の外端間にかかる機械的な荷重を吸収すること
ができる。一方、一つの周側端子、外側導電性スプリン
グ及び他の周側端子により、外側の電気経路が形成さ
れ、該外側導電性スプリングがそのばね力により電気経
路の形成に必要な各周側端子との接触を確実に保つと共
に、二つの周側端子の外端間にかかる機械的な荷重を吸
収することができる。
According to the four-probe measurement contact pin of the present invention, an inner electric path is formed by one middle terminal, the inner conductive spring and the other middle terminal, and the inner conductive spring is Due to the spring force, the contact with each of the middle terminals required for forming the electric path can be reliably maintained, and the mechanical load applied between the outer ends of the two middle terminals can be absorbed. On the other hand, an outer electric path is formed by one peripheral terminal, the outer conductive spring and the other peripheral terminal, and the outer conductive spring is connected to each peripheral terminal necessary for forming the electric path by the spring force. And the mechanical load applied between the outer ends of the two peripheral terminals can be absorbed.

【0066】従って、コンタクトピン装着ボードにそれ
を貫通するように設けた各コンタクトピン収納孔に、四
探針測定用コンタクトピンをその両端が上記コンタクト
ピン装着ボード両面に露出乃至両面から突出するように
装着することにより、一つの四探針測定用コンタクトピ
ンで、該ボード或いは接続具の一方の主表面側から他方
の主表面側への二つの電気経路を形成することができ
る。従って、一つの四探針測定用コンタクトピンの中側
端子及び周側端子の被測定物側の端子を一つのプローブ
ポイントに当てることにより中側端子と周側端子という
二つの互いに電気的に絶縁された端子により上記一つの
プローブポイントに対して二つの電気的コンタクトをと
ることができ、上記各別の電気経路にてそのプローブポ
イントを各別に他への電気的導出ができる。依って、四
探針測定が可能になる。
Accordingly, the contact pins for four-probe measurement are inserted into each contact pin receiving hole provided in the contact pin mounting board so as to penetrate the contact pin mounting board so that both ends thereof are exposed on both sides of the contact pin mounting board or project from both sides. By mounting the four contact points on one board, two electrical paths can be formed from one main surface side of the board or the connector to the other main surface side with one four-probe measurement contact pin. Therefore, the two terminals, the middle terminal and the peripheral terminal, are electrically insulated from each other by contacting the middle terminal and the peripheral terminal of the four-probe measurement contact pin on the DUT side to one probe point. The two terminals can make two electrical contacts to the one probe point, and the probe points can be electrically led to each other through the separate electrical paths. Therefore, four-probe measurement can be performed.

【0067】請求項3の四探針測定用コンタクトピンに
よれば、上記中側端子の上記周側端子の接続端が設けら
れた側の端子へのケーブルの一端の接続が可能になるの
で、中側端子及び周側端子の該接続端が形成された側の
端子をそれぞれケーブル接続端とすることができる。依
って、後述するコンタクト機器の被測定物側接続具、測
定回路側接続具に装着して測定回路側ケーブルと被測定
物側ケーブルとの電気的接続手段として用いることが可
能となる。
According to the four-probe measurement contact pin of the third aspect, one end of the cable can be connected to the terminal on the side of the middle terminal on which the connection end of the peripheral terminal is provided. The terminal on the side where the connection end of the middle terminal and the peripheral terminal is formed can be a cable connection end, respectively. Therefore, it can be used as an electrical connection means between the measurement circuit side cable and the DUT side cable by being attached to the DUT side connection tool and the measurement circuit side connection tool of the contact device described later.

【0068】請求項4のコンタクト機器によれば、各四
探針測定用コンタクトピンの周側端子と中側端子をそれ
ぞれ被測定物の同一のプローブポイントに接触させれ
ば、各プローブポイント毎に二つの電気的コンタクトを
とり、その各プローブポイントを測定回路装着用コネク
タの異なる二つの端子に接続することができる。従っ
て、四探針測定ができる。
According to the contact device of the fourth aspect, if the peripheral terminal and the middle terminal of each four-probe measuring contact pin are brought into contact with the same probe point of the object to be measured, respectively, Two electrical contacts can be made and each probe point can be connected to two different terminals of the measuring circuit mounting connector. Therefore, four-probe measurement can be performed.

【0069】請求項5記載のコンタクト機器によれば、
着脱自在の被測定物側接続具と測定物側接続具によって
被測定物側の部分(被測定物側装置)と、測定回路側の
部分(測定回路側装置)とに着脱自在に二分することが
できる。依って、被測定物側装置として例えば四探針測
定用のものと、普通測定用のものを用意すれば、測定回
路側装置と四探針測定用のものとを接続することにより
コンタクト機器を四探針測定に用い、測定回路側装置と
普通測定用のものとを接続することによりコンタクト機
器を普通測定に用いることができる。従って、コンタク
ト機器のフレキシビリティを高めることができる。
According to the contact device of the fifth aspect,
A part to be measured (device to be measured) and a part to be measured (device to be measured) are detachably divided into two parts by a removable object-side connector and the object-side connector. Can be. Therefore, for example, if a device for measuring four probes and a device for normal measurement are prepared as the device on the device under test, the contact device can be connected by connecting the device on the measuring circuit side and the device for measuring four probes. The contact device can be used for ordinary measurement by connecting the measurement circuit side device and the one for ordinary measurement used for four probe measurement. Therefore, the flexibility of the contact device can be improved.

【0070】請求項6の被測定物側装置によれば、各四
探針測定用コンタクトピン毎に中側端子と周側端子にて
一つのプローブポイントを各別に2つの電気経路及び被
測定物側ケーブルを介して被測定物側接続具に電気的に
導出でき、後述する請求項7の測定回路側装置とで着脱
自在(交換可能)にコンタクト機器を構成することがで
きる。
According to the device under test according to the sixth aspect, one probe point is separately provided for each four-probe measurement contact pin at the middle terminal and the peripheral terminal by two electric paths and the device under test. The contact device can be electrically led out to the DUT-side connector via the side cable, and the contact device can be detachably (replaceable) with a measurement circuit-side device according to claim 7 described later.

【0071】請求項7の測定回路側装置によれば、コン
タクト機器用の被測定物側接続具と着脱自在な測定回路
側接続具と、測定回路が装着される測定回路装着用コネ
クタの各端子と測定回路側ケーブルにより接続してなる
ので、上記の請求項6の被測定物側装置とで着脱自在
(交換可能)にコンタクト機器を構成することができ
る。
According to the measuring circuit side device of the present invention, the measuring object side connecting tool detachable from the measuring object side connecting tool for the contact device, and each terminal of the measuring circuit mounting connector to which the measuring circuit is mounted. And the measurement circuit side cable, the contact device can be configured to be detachable (replaceable) with the device under test according to the sixth aspect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(A)、(B)は本発明四探針測定用コンタク
トピンの第1の実施例を示すもので、(A)は分解斜視
図、(B)は斜視図である。
FIGS. 1A and 1B show a first embodiment of a four-probe measurement contact pin according to the present invention, wherein FIG. 1A is an exploded perspective view and FIG. 1B is a perspective view.

【図2】本発明四探針測定用コンタクトピンの第1の実
施例を示す縦断面図である。
FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a first embodiment of a four-probe measuring contact pin according to the present invention.

【図3】(A)〜(C)は本発明四探針測定用コンタク
トピンの第2の実施例を示すものであり、(A)は分解
斜視図、(B)は斜視図、(C)は中側端子及び周側端
子を矢印Cに沿って視た矢視図である。
3 (A) to 3 (C) show a second embodiment of the four-probe measuring contact pin of the present invention, wherein FIG. 3 (A) is an exploded perspective view, FIG. 3 (B) is a perspective view, and FIG. ) Is an arrow view of the middle terminal and the peripheral terminal viewed along arrow C.

【図4】本発明コンタクト機器の第1の実施例の概略構
成を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a schematic configuration of a first embodiment of the contact device of the present invention.

【図5】本発明コンタクト機器の第1の実施例の互いに
接続された状態の被測定物側接続具と測定回路側接続具
を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the DUT-side connection tool and the measurement circuit-side connection tool in a connected state according to the first embodiment of the contact device of the present invention.

【図6】コンタクト機器の従来例の一つの概略構成を示
す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing one schematic configuration of a conventional example of a contact device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、1a・・・四探針測定用コンタクトピン、2・・・
中側端子、3・・・中側端子間隔規定手段(中側端子保
持筒)、4・・・内側導電性スプリング、5・・・周側
端子、6・・・外側導電性スプリング、10・・・接続
端、15・・・コンタクト機器、16a・・・被測定物
側装置、16b・・・測定回路側装置、17a・・・被
測定物側接続具、17b・・・測定回路側接続具、20
・・・コンタクトピン装着ボード、21・・・コンタク
トピン収納孔、24・・・中継ボード、25a・・・被
測定物側ケーブル、25b・・・測定回路側ケーブル、
27・・・測定回路装着用コネクタ。
1, 1a ... contact pin for four-probe measurement, 2 ...
Middle terminal, 3 ... Middle terminal interval defining means (middle terminal holding cylinder), 4 ... Inner conductive spring, 5 ... Peripheral terminal, 6 ... Outer conductive spring, 10 · ..Connection end, 15 ... Contact device, 16a ... Device to be measured, 16b ... Measurement circuit side device, 17a ... Device to be connected, 17b ... Connection to measurement circuit Utensil, 20
... contact pin mounting board, 21 ... contact pin storage hole, 24 ... relay board, 25a ... object side cable, 25b ... measurement circuit side cable,
27 ··· Connector for mounting measurement circuit.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 中側端子と、 上記中側端子に電気的に絶縁された状態で外嵌された筒
状の周側端子と、 を少なくとも有し、 上記中側端子の一端から他端に至る電気経路と、上記周
側端子の一端から他端に至る電気経路との二つの電気経
路を有することを特徴とする四探針測定用コンタクトピ
ン。
An intermediate terminal, and at least a cylindrical peripheral terminal externally fitted in an electrically insulated state with respect to the intermediate terminal, from one end of the intermediate terminal to the other end. A contact pin for four-probe measurement, comprising two electric paths, namely, an electric path to reach and an electric path from one end to the other end of the peripheral terminal.
【請求項2】 少なくとも一端が尖った一対の中側端子
と、 上記一対の中側端子が上記一端を外を向く向きで且つ該
中側端子とは電気的に絶縁された状態で内嵌された筒状
の一対の周側端子と、 上記一対の中側端子間に介在せしめられた内側導電性ス
プリングと、 上記一対の周側端子間に介在せしめられた外側導電性ス
プリングと、 上記一対の中側端子間の間隔を、上記内側導電性スプリ
ングが弾力を蓄えて縮設された状態を保つよう規定する
中側端子間隔規定手段と、 を有することを特徴とする四探針測定用コンタクトピ
ン。
2. A pair of middle terminals having at least one end sharp, and the pair of middle terminals are fitted inside with the one ends facing outward and electrically insulated from the middle terminals. A pair of cylindrical peripheral terminals, an inner conductive spring interposed between the pair of middle terminals, an outer conductive spring interposed between the pair of peripheral terminals, and the pair of outer terminals. A middle terminal spacing defining means for defining a spacing between the middle terminals so that the inner conductive spring maintains a contracted state by accumulating elasticity, and a contact pin for four-probe measurement. .
【請求項3】 上記周側端子のうちの一方の周側端子の
一端部が、一部を接続端として残し切り欠かれた形状に
形成されてなることを特徴とする請求項2記載の四探針
測定用コンタクトピン。
3. The terminal according to claim 2, wherein one end of one of the peripheral terminals is formed in a cutout shape, leaving a part as a connection end. Contact pin for probe measurement.
【請求項4】 中側端子と該中側端子に電気的に絶縁さ
れた状態で外嵌された筒状の周側端子を少なくとも有し
上記中側端子の一端から他端に至る電気経路と、上記周
側端子の一端から他端に至る電気経路との二つの電気経
路を有する複数個の四探針測定用コンタクトピン各々
を、コンタクトピン装着ボードのこれを貫通するように
形成された複数のコンタクトピン収納孔各々に、上記中
側端子及び周側端子の外端が上記コンタクトピン装着ボ
ードの両主表面に露出乃至両主面から突出するように装
着し、 上記コンタクトピン装着ボードの一方の主表面に露出乃
至両主面から突出する各中側端子及び各周側端子の外端
を、一又は複数の測定回路装着用コネクタの端子に電気
的に接続してなることを特徴とするコンタクト機器。
4. An electric path extending from one end to the other end of the middle terminal, the middle terminal having at least a cylindrical peripheral terminal externally fitted in a state electrically insulated from the middle terminal. A plurality of four-probe measurement contact pins each having two electric paths, one from the one end of the peripheral terminal to the other end, and a plurality of four-probe measurement contact pins formed so as to penetrate the contact pin mounting board. And mounting the outer ends of the middle terminal and the peripheral terminal on both main surfaces of the contact pin mounting board so as to project from the two main surfaces of the contact pin mounting board. An outer end of each of the middle terminals and each of the peripheral terminals that are exposed on the main surface or protrude from both main surfaces are electrically connected to one or a plurality of terminals of the measurement circuit mounting connector. Contact equipment.
【請求項5】 前記コンタクトピン装着ボードの一方の
主表面に露出乃至両主面から突出する各中側端子及び各
周側端子の外端と、それに対応する前記測定回路装着用
コネクタの各端子との電気的接続が、 上記各中側端子及び周側端子の上記外端に一端を接続さ
れた被測定物側ケーブルと、上記測定回路装着用コネク
タの端子に一端を接続された測定回路側ケーブルと、上
記各被測定物側ケーブルの他端が接続された被測定物側
接続具と、該被測定物側接続具と着脱自在に接続され、
上記各測定回路側ケーブルの他端が接続された測定回路
側接続具を介して為されることを特徴とする請求項4記
載のコンタクト機器。
5. An outer end of each of the middle terminal and each of the peripheral terminals that are exposed on one main surface of the contact pin mounting board or protrude from both main surfaces, and corresponding terminals of the measuring circuit mounting connector. The electrical connection between the DUT side cable having one end connected to the outer end of each of the middle terminal and the peripheral terminal, and the measurement circuit side having one end connected to the terminal of the measurement circuit mounting connector The cable, the DUT-side connector to which the other end of each of the DUT-side cables is connected, and detachably connected to the DUT-side connector,
5. The contact device according to claim 4, wherein the contact is made via a measuring circuit side connection tool to which the other end of each of the measuring circuit side cables is connected.
【請求項6】 中側端子と該中側端子に電気的に絶縁さ
れた状態で外嵌された筒状の周側端子を少なくとも有し
上記中側端子の一端から他端に至る電気経路と、上記周
側端子の一端から他端に至る電気経路との二つの電気経
路を有する複数個の四探針測定用コンタクトピン各々
を、コンタクトピン装着ボードのこれを貫通するように
形成された複数のコンタクトピン収納孔各々に、上記中
側端子及び周側端子の外端が上記コンタクトピン装着ボ
ードの両主表面に露出乃至両主面から突出するように装
着し、 上記コンタクトピン装着ボードの一方の主表面に露出乃
至両主面から突出する各中側端子及び各周側端子の外端
を、被測定物側ケーブルを介して被測定物側接続具のコ
ンタクトピン収納孔に収納された四探針測定用コンタク
トピンの中側端子及び周側端子に接続してなることを特
徴とするコンタクト機器用の被測定物側装置。
6. An electric path extending from one end to the other end of at least one of a middle terminal and a cylindrical peripheral terminal externally fitted in a state electrically insulated from the middle terminal. A plurality of four-probe measurement contact pins each having two electric paths, one from the one end of the peripheral terminal to the other end, and a plurality of four-probe measurement contact pins formed so as to penetrate the contact pin mounting board. And mounting the outer ends of the middle terminal and the peripheral terminal on both main surfaces of the contact pin mounting board so as to project from the two main surfaces of the contact pin mounting board. The outer ends of each of the middle terminals and each of the peripheral terminals that are exposed on the main surface or protrude from both main surfaces are connected to the contact pin storage holes of the DUT-side connector via the DUT-side cable. Inside of contact pin for probe measurement DUT side device for contact device, characterized by comprising connecting the child and the peripheral-side terminals.
【請求項7】 測定回路が装着される測定回路装着用コ
ネクタの各端子を、コンタクト機器用の被測定物側接続
具と着脱自在な測定回路側接続具のコンタクトピン収納
孔に収納された四探針測定用コンタクトピンの中側端子
或いは周側端子に測定回路側ケーブルを介して接続して
なる、 ことを特徴とするコンタクト機器用の測定回路側装置。
7. The four terminals housed in the contact pin housing holes of the measuring circuit side connector which is detachable from the measuring object side connector for the contact device and the measuring object side connector for the contact device to which the measuring circuit is mounted. A measurement circuit side device for contact equipment, wherein the measurement circuit side device is connected to a middle terminal or a peripheral side terminal of the probe measurement contact pin via a measurement circuit side cable.
JP2001002633A 2001-01-10 2001-01-10 Contact pin for four-probe measurement, contact apparatus, device on side of object to be measured, and device on side of measuring circuit Pending JP2002207049A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001002633A JP2002207049A (en) 2001-01-10 2001-01-10 Contact pin for four-probe measurement, contact apparatus, device on side of object to be measured, and device on side of measuring circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001002633A JP2002207049A (en) 2001-01-10 2001-01-10 Contact pin for four-probe measurement, contact apparatus, device on side of object to be measured, and device on side of measuring circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002207049A true JP2002207049A (en) 2002-07-26

Family

ID=18871112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001002633A Pending JP2002207049A (en) 2001-01-10 2001-01-10 Contact pin for four-probe measurement, contact apparatus, device on side of object to be measured, and device on side of measuring circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002207049A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002228682A (en) * 2001-02-02 2002-08-14 Tokyo Electron Ltd Probe
WO2007116963A1 (en) * 2006-04-07 2007-10-18 Nidec-Read Corporation Contact for inspecting substrate and method for manufacturing the contact
JP2007309798A (en) * 2006-05-18 2007-11-29 Espec Corp Current/voltage probe
KR100898068B1 (en) * 2002-09-06 2009-05-18 삼성에스디아이 주식회사 Probe for testing secondary battery
WO2013055082A1 (en) * 2011-10-14 2013-04-18 (주)다솔이엔지 Four point probe

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002228682A (en) * 2001-02-02 2002-08-14 Tokyo Electron Ltd Probe
KR100898068B1 (en) * 2002-09-06 2009-05-18 삼성에스디아이 주식회사 Probe for testing secondary battery
WO2007116963A1 (en) * 2006-04-07 2007-10-18 Nidec-Read Corporation Contact for inspecting substrate and method for manufacturing the contact
JP5088504B2 (en) * 2006-04-07 2012-12-05 日本電産リード株式会社 Contact for board inspection and method for manufacturing the same
JP2007309798A (en) * 2006-05-18 2007-11-29 Espec Corp Current/voltage probe
WO2013055082A1 (en) * 2011-10-14 2013-04-18 (주)다솔이엔지 Four point probe

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5504698B2 (en) Inspection jig and contact for inspection
KR101897996B1 (en) Probe
KR101141206B1 (en) Inspection fixture
KR100864435B1 (en) The probe, the fixture, and apparatus for circuit board inspection
WO2013051675A1 (en) Probe unit
US8816710B2 (en) Inspection contact element and inspecting jig
US8901920B2 (en) Connector, probe, and method of manufacturing probe
JP2019138768A (en) probe
TW201447334A (en) Substrate inspecting apparatus, substrate inspecting method and jig for inspecting substrate
US7708607B2 (en) Precision printed circuit board testing tool
JP5095204B2 (en) Probe storage board and contact machine
JP2002207049A (en) Contact pin for four-probe measurement, contact apparatus, device on side of object to be measured, and device on side of measuring circuit
US10126328B1 (en) Electrical measurement test fixture
JP2004212233A (en) Contact pin pair for four-probe measurement, and contact apparatus
JP2977189B2 (en) Conductive contact pin
JP4444799B2 (en) Four-probe measuring probe for contact equipment
JP2002333453A (en) Probe contactor
JP5060913B2 (en) Probe for measurement
JP2005114547A (en) Contact probe and contact apparatus using the probe
JP2009250660A (en) Tool for substrate inspection and contact for inspection
JP2002062312A (en) Contact device
JP2009156720A (en) Substrate inspecting fixture and inspection contact element
KR102572320B1 (en) Adapter for test apparatus
JP2004273192A (en) Tool for inspection of connector
JPH1026646A (en) Contact device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050930

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070806

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070822

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071212