JP5095204B2 - Probe storage board and contact machine - Google Patents
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Description
本発明は、半導体素子等の電子部品の各電極とテスター回路等の電子回路とを電気的に接続するための中継に使用される同軸プローブと、プローブ収納ボードと、ケーブル保持ボードと、これ等を用いたコンタクト機と、上記ケーブル保持ボードの製造方法に関する。 The present invention relates to a coaxial probe used for relay for electrically connecting each electrode of an electronic component such as a semiconductor element and an electronic circuit such as a tester circuit, a probe storage board, a cable holding board, and the like The present invention relates to a contact machine using a cable and a method for manufacturing the cable holding board.
IC、LSI、トランジスタその他の電子部品を用いた電子回路は、各種の装置、機器類に非常に多く用いられており、その用途は拡大の一途を辿っているが、これらの電子回路は片面或いは両面に配線膜が印刷されたプリント基板を用いて構成されるのが普通であり、該プリント基板にIC、LSI、トランジスタその他の各種電子部品を搭載し、必要な半田付けを行うことにより電子回路が構成されるようになっている。 Electronic circuits using ICs, LSIs, transistors, and other electronic components are used in a large number of devices and devices, and their applications are steadily expanding. It is usually constructed using a printed circuit board with wiring films printed on both sides, and an electronic circuit is mounted by mounting various electronic components such as IC, LSI, transistor, etc. on the printed circuit board and performing necessary soldering. Is configured.
そして、電子回路を用いた装置、機器類はその多くが小型化、高機能化、高性能化が要求され、それに伴って電子回路の回路構成が複雑化、高集積化を要求されている。従って、プリント基板の配線も微細化、高集積化の傾向があり、その結果、その検査のための測定が難しくなる。というのは、配線の微細化、高集積化により測定用プローブの配設密度、配置位置の精度を高くすることが必要であるからである。 Many of devices and devices using electronic circuits are required to be downsized, highly functional, and high in performance, and accordingly, the circuit configuration of electronic circuits is complicated and high integration is required. Therefore, the wiring of the printed circuit board also tends to be miniaturized and highly integrated, and as a result, measurement for the inspection becomes difficult. This is because it is necessary to increase the arrangement density of the probes for measurement and the accuracy of the arrangement position by miniaturization and high integration of the wiring.
それでいて、検査の重要性は高まる一方である。
というのは、配線の微細化、高集積化が進むほど、ショート不良の発生率が高くなるからである。
そして、その検査には、測定回路を備えたテスターが用いられ、その測定回路へのプリント基板の各配線膜、電極等の電気的導出にはコンタクト機が用いられる。このコンタクト機はプレートに多数のプローブを備え、各プローブの一端をプリント基板の各配線膜等の測定回路に電気的に接続すべき部分に接触させ、他端を測定回路に接続されたコードの先端に接触させるようになっているものが多い。これに関しては、本願出願人会社は特願平7−61728、特願平8−183449、特願平10−66333等により各種提案を行っている。
Nevertheless, the importance of inspection is increasing.
This is because the incidence of short-circuit defects increases as the wiring becomes finer and more integrated.
A tester equipped with a measurement circuit is used for the inspection, and a contact machine is used for electrical derivation of each wiring film, electrode, etc. of the printed circuit board to the measurement circuit. This contact machine has a number of probes on a plate, one end of each probe is brought into contact with a portion to be electrically connected to a measurement circuit such as each wiring film of a printed circuit board, and the other end of a cord connected to the measurement circuit. Many are designed to come into contact with the tip. In this regard, the applicant company has made various proposals according to Japanese Patent Application No. 7-61728, Japanese Patent Application No. 8-183449, Japanese Patent Application No. 10-66333, and the like.
ところで、IC、LSI等の被測定体と、測定回路との間を同軸ケーブルにより接続する必要性が生じている。というのは、電子機器類の高性能化、高周波数化、多機能化に伴って測定精度をより高めたり、測定速度をより速めることが必要となり、測定精度を高めたり、測定速度を速めるためには、測定ライン(線路)へのノイズ侵入のより完全な防止やより完全なインピーダンス整合が必要となり、それには、被測定体・測定回路間の同軸ケーブルによる接続が好ましいからである。 Incidentally, there is a need to connect a device to be measured such as an IC or LSI and a measurement circuit by a coaxial cable. This is because electronic devices are required to have higher measurement accuracy and higher measurement speed along with higher performance, higher frequency, and multi-functionality, in order to increase measurement accuracy and increase measurement speed. This requires more complete prevention of noise intrusion into the measurement line (line) and more complete impedance matching because a coaxial cable connection between the device under test and the measurement circuit is preferable.
しかしながら、従来においては、コンタクト機として同軸ケーブル対応のものがなかった。というのは、テスター等の測定回路に接続されたケーブル芯線をプローブを成す棒状導電子により被測定素子、例えばIC、LSI、VLSI等側の端子に電気的に接続することができても、ケーブル外側導体を被測定素子側の端子に電気的に接続する手段がなかったからである。
即ち、従来、コンタクト機においては同軸ケーブル対応になっておらず、そのケーブル保持ボード部分においてノイズが侵入したり、必要なインピーダンス整合を充分にとることができないという問題があった。
However, conventionally, there is no contact machine compatible with a coaxial cable. This is because a cable core connected to a measurement circuit such as a tester can be electrically connected to a terminal to be measured, for example, an IC, LSI, VLSI, etc. by a rod-shaped conductor that forms a probe. This is because there is no means for electrically connecting the outer conductor to the terminal on the device under test side.
That is, conventionally, the contact machine is not compatible with the coaxial cable, and there is a problem that noise enters the cable holding board portion and necessary impedance matching cannot be sufficiently obtained.
本発明はこのような問題点を解決すべく為されたものであり、同軸プローブと、これを収納するプローブ収納ボードと、このプローブ収納ボードとでコンタクト機を構成するケーブル保持ボードと、これ等のプローブ収納ボード及びケーブル保持ボードを用いた同軸対応のコンタクト機と、上記ケーブル保持ボードの製造方法を提供し、以て、コンタクト機の同軸対応を図り、コンタクト機を中継手段として接続された電気回路素子等と測定回路等の回路とにより形成された回路へのノイズの侵入をより完全に防止することができ、更に、インピーダンス整合をより良好に取れるようにすることを目的とする。 The present invention has been made in order to solve such problems, such as a coaxial probe, a probe storage board that stores the coaxial probe, a cable holding board that forms a contact machine with the probe storage board, and the like. Coaxial-compatible contact machine using the probe storage board and the cable holding board, and a method for manufacturing the cable holding board, so that the contact machine can be coaxially connected and the contact machine is connected as a relay means. An object of the present invention is to more completely prevent noise from entering a circuit formed by a circuit element or the like and a circuit such as a measurement circuit, and to achieve better impedance matching.
請求項1のプローブ収納ボードは、同軸プローブを保持するプローブ保持孔が複数貫設されたプローブ保持板を有し、その各プローブ保持孔には、同軸プローブが、両端が上記プローブ保持板の両面から突出し、その両面に突出した全同軸プローブの棒状導電子と外側導電筒の先端が同一平面上に位置し、且つ抜け止めされた状態で収納されたことを特徴とする。
尚、上記同軸プローブとは、両端が他と接触して電気的導通をとる接触端とされた芯線を成す一つの棒状導電子と、この棒状導電子に、これを抜け止めした状態で外嵌された電気的絶縁性を有する絶縁筒と、一端が閉塞され、他端が開口し、その閉塞された一端に上記棒状導電子を非接触で通す導電子遊挿孔が形成され、その導電子遊挿孔の外周部に外側に突出する1又は複数の接触突起が形成され電気的導電性を有する一対の筒体を、上記開口した他端同士を対向させてなり、上記絶縁筒に外嵌された外側導電筒と、この外側導電筒を成す上記一対の筒体間に介在せしめられた導電性を有する圧縮スプリングと、上記外側導電筒を、それに外嵌され上記筒体間の距離を一定以上大きくならないように規制しつつ保持するバレルと、からなる同軸プローブである。
The probe storage board according to claim 1 has a probe holding plate in which a plurality of probe holding holes for holding the coaxial probe are provided, and each probe holding hole has a coaxial probe on both sides of the probe holding plate. The rod-shaped conductors of the all coaxial probes and the tips of the outer conductive tubes projecting from both sides of the coaxial probe and the tip of the outer conductive cylinder are located on the same plane and are stored in a state where they are prevented from coming off.
The coaxial probe is a rod-shaped conductor that forms a core wire whose both ends are in contact with each other and have electrical continuity, and the rod-shaped conductor is externally fitted in a state in which it is prevented from coming off. An insulating cylinder having electrical insulation, one end is closed, the other end is open, and a conductor loose insertion hole through which the rod-like conductor is passed in a non-contact manner is formed at the closed end. One or more contact protrusions projecting outward are formed on the outer peripheral portion of the loose insertion hole, and a pair of electrically conductive cylinders are opposed to each other at the other open ends, and are fitted onto the insulating cylinder. An outer conductive cylinder, a conductive compression spring interposed between the pair of cylindrical bodies forming the outer conductive cylinder, and the outer conductive cylinder are fitted on the outer conductive cylinder and the distance between the cylindrical bodies is constant. And a barrel that holds while regulating so as not to become larger It is an axial probe.
請求項2のコンタクト機は、請求項1に記載されたプローブ収納ボードと、複数のケーブル収納孔を形成したケーブルを有し該各ケーブル収納孔に、端面研磨されその面にケーブル芯線、ケーブル外部導体が露出せしめられた同軸ケーブルのその端面側の端部を、その端面と上記ケーブル保持板の表面とが同一平面上に位置するように挿入し固定したケーブル保持ボードを有し、上記プローブ収納ボードの各同軸プローブが上記ケーブル保持ボードの上記ケーブル保持板の上記表面に、各棒状導電子の一方の接触端がそれと対応する同軸ケーブルのケーブル芯線と、各外側導電筒の一方の側の接触突起がそれと対応する同軸ケーブルのケーブル外部導体と、それぞれ互いに接触し得るように位置合わせして臨まされ、上記同軸プローブを上記ケーブル保持ボードに近接して全同軸プローブとそれに対応する同軸プローブとが上記接触をする接触状態が生じたり、離間してその接触状態が解除されたりするようにしたことを特徴とする。
Contacts machine according to
請求項1のプローブ収納ボードによれば、複数の同軸ケーブルに接続される複数の同軸プローブを一つのケーブル保持板に、両端がこのケーブル保持板の両端から突出し、且つ抜け止めした状態で収納したので、IC等の多数の電極と、テスター回路等の多数の殿挙との間を同軸対応で接続することが可能になる。 According to the probe storage board of claim 1 , a plurality of coaxial probes connected to a plurality of coaxial cables are stored in one cable holding plate in a state where both ends protrude from both ends of the cable holding plate and are prevented from coming off. Therefore, a large number of electrodes such as an IC and a large number of elevations such as a tester circuit can be connected in a coaxial manner.
請求項2のコンタクト機によれば、請求項1に記載されたプローブ収納ボードと、複数のケーブル収納孔を形成したケーブルを有し該各ケーブル収納孔に、端面研磨されその面にケーブル芯線、ケーブル外部導体が露出せしめられた同軸ケーブルのその端面側の端部を、その端面と上記ケーブル保持板の表面とが同一平面上に位置するように挿入し固定したケーブル保持ボードとを、そのプローブ収納ボードの各同軸プローブがケーブル保持ボードの上記ケーブル保持板の上記表面に、各棒状導電子の一方の接触端がそれと対応する同軸ケーブルのケーブル芯線と、各外側導電筒の一方の側の接触突起がそれと対応する同軸ケーブルのケーブル外部導体と、それぞれ互いに接触し得るように位置合わせして臨ませ、上記同軸プローブを上記ケーブル保持ボードに近接して上記各接触状態が生じたり、離間してその接触状態が解除されたりするようにしたので、全部の同軸ケーブルのケーブル芯線、ケーブル外部導体を全部の同軸プローブの棒状導電子、外側導電筒により電気的に導出し、例えば同軸プローブのケーブル保持ボードと反対側に配置されるIC等に接続することができ、同軸対応の取れたコンタクト機を提供することができる。
According to the contact machine of
本発明の同軸プローブは、基本的に、棒状導電子と、それに抜け止めした状態で外嵌された電気的絶縁性を有する絶縁筒と、これに外嵌された外側導電筒と、上記外側導電筒を成す上記一対の筒体間に介在せしめられた導電性を有する圧縮スプリングと、上記外側導電筒を、それに外嵌され上記筒体間の距離を一定以上大きくならないように規制しつつ保持するバレルからなるが、上記絶縁筒の外周面の両端から稍内側の部分を適宜小径にすることにより段部を設け、更に、上記各外側導電筒の内周面の開口側の端面から上記段部と対応する部分に至って内径を適宜大径にすることにより段部を設け、その内径を大径にされた部分に密着スプリングを固定し、その密着スプリングの段部(外側導電筒の段部)から食み出た部分が上記絶縁筒の上記段部に係合して絶縁筒と各外側導電筒との位置関係を規定するようにすると良い。後述する実施例においては、そのようにされている。 The coaxial probe of the present invention basically includes a rod-shaped conductor, an electrically insulating insulating tube that is externally fitted in a state where it is prevented from coming off, an outer conductive tube that is externally fitted thereto, and the outer conductive material. A compression spring having conductivity interposed between the pair of cylinders forming the cylinder and the outer conductive cylinder are held while being fitted on the outer cylinder so as not to increase the distance between the cylinders beyond a certain level. Although it is a barrel, a step portion is provided by appropriately reducing the diameter of the inner portion of the outer cylinder from both ends of the outer peripheral surface of the insulating tube, and further, the step portion is formed from the end surface on the opening side of the inner peripheral surface of each outer conductive tube. A step portion is provided by appropriately increasing the inner diameter to the corresponding portion, and a contact spring is fixed to the portion whose inner diameter is increased, and the step portion of the contact spring (step portion of the outer conductive cylinder) The part that protrudes from the insulating cylinder Engage the Kidan portion may be adapted to define the positional relationship between the insulating tube and the outer conductive tube. This is the case in the examples described later.
また、各同軸プローブは、コンタクト機に使用され、測定時等のコンタクト時、即ち、同軸ケーブルと、IC等との間を電気的に接続した状態の時における、インピーダンスZoが所定の値、例えば50Ωになるようにすることが好ましい。 In addition, each coaxial probe is used in a contact machine, and impedance Zo at a predetermined value, for example, at the time of contact such as measurement, that is, when the coaxial cable is electrically connected to an IC or the like, for example, It is preferable to be 50Ω.
以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説明する。
図1(A)〜(C)は本発明同軸プローブの一つの実施例を示すもので、(A)は縦断面図、(B)は同軸プローブを左端から視た図、(B)は一端部を示す斜視図である。
2は同軸プローブ、4は後で説明する同軸ケーブルのケーブル芯線と接蝕せしめられる棒状導電子で、細い円柱体の両端面中心にそれより更に細い針状体が突出形成された形状を有する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail according to illustrated embodiments.
1A to 1C show one embodiment of the coaxial probe of the present invention. FIG. 1A is a longitudinal sectional view, FIG. 1B is a view of the coaxial probe viewed from the left end, and FIG. It is a perspective view which shows a part.
8はその棒状導電子4に外嵌された絶縁筒で、上記棒状導電子4の中間部を成す円柱体よりも稍長く、その円柱体の外径よりも稍大きな内径を有する。そして、絶縁筒8の両端部には内径が他の部分よりも小径にされたリング状の突起8、8が形成されており、この突起8、8が上記棒状導電子4の中間部を成す円柱体と係合してこの棒状導電子4を抜け止めするようにされている。
絶縁筒8の外周面の両端部には外径を中間部よりも大径にすることにより形成された突起10、10を有する。
The both ends of the outer peripheral surface of the insulating
12a、12aは外側導電筒12を構成する筒体であり、一方の端が開口し、他方が閉塞した形状を有し、14、14はその閉塞端を示す。16、16はその閉塞端14、14の中心部に形成された導電子遊挿孔であり、上記棒状導電子4の外径よりも充分に大きい内径を有する。18、18、・・・は外側導電筒12の上記導電子遊挿孔16、16の周部に配設された針状の接触突起であり、この接触突起18、18、・・・が被測定IC等、或いは同軸ケーブルのケーブル外部導体と接触して、電気的導通を取る役割を果たす。
20、20は外側導電筒12を構成する筒体12a、12aの内周面の開口側の端部から略中央部に至る部分を他の部分より内径を大径にすることにより形成された段部で、この段部20、20は上記絶縁筒8の突起10、10による内向きの段部と対応するところに位置されている。22、22は筒体12a、12aの外周面の開口側の端部から略中央部に至る部分を他の部分より外径を大径にすることにより形成された外向きの段部である。
20 and 20 are steps formed by increasing the inner diameter of the portion from the end of the inner peripheral surface of the
24、24は上記密着スプリング(隣接線輪間が固定され弾性がなくされたスプリング)で、上記外側導電筒12の内周面の上記内径を大径にされた部分に固着されており、その太さは段部20、20の段差よりも大きくされ、段部20、20から食み出た部分が上記絶縁筒6の突起10と係合する段部を成している。そして、その係合により、絶縁筒8とそれに外嵌された外側導電筒12との軸方向における位置関係が規定されるようになっている。
26は導電性の圧縮スプリングで、上記一対の外側導電筒12・12の開口側端部間に介在せしめられている。28は筒状のバレルで、両端部には内側に突出するリング状の突起30、30が形成されており、この筒状のバレル28が外側導電筒12を構成する一対の筒体12a・12に外嵌され、その突起30、30がその筒体12a、12aの段部22、22に係合せしめられて一対の筒体12a、12aからなる外側導電筒12を抜け止め状態で保持する。
A
このような同軸プローブ2によれば、棒状導電子4の一方の側の端子が同軸ケーブルのケーブル芯線と、一方の外側導電筒の接触突起18、18、・・・が同軸ケーブルのケーブル外側導体とそれぞれ接触し、図示しない被測定側素子の電極へ電気的に接続することができる。この同軸プローブ2のインピーダンスは、後述するように、コンタクト機に組み込んでコンタクト状態にした時において所定のインピーダンス、例えば50Ωになるように設定されている。
According to such a
図2(A)、(B)は本発明コンタクト機の一つの実施例を示すもので、(A)はコンタクト機の断面図、(B)はケーブル保持ボードに収納された同軸ケーブルを示す断面図である。
コンタクト機は、プローブ収納ボード40と、ケーブル保持ボード42からなる。ブローブ収納ボード40は、複数枚のプローブ保持用の板44a、44b、44bを積層したプローブ保持板44に形成されたプローブ収納用の孔46a、46b、46bからなるプローブ収納孔46を多数形成し、その各プローブ収納孔46、46、・・・に上記同軸プローブ2、2、・・・を抜け止めした状態で収納したものであり、各同軸プローブ2、2、・・・の両端部はプローブ収納板44の両表面から突出している。
2A and 2B show one embodiment of the contact machine of the present invention, where FIG. 2A is a cross-sectional view of the contact machine, and FIG. 2B is a cross-section showing a coaxial cable housed in a cable holding board. FIG.
The contact machine includes a
上記ケーブル保持ボード42は、ケーブル保持板48に多数のケーブル保持孔50、50、・・・を上記プローブ収納孔46、46、・・・に対応して形成し、該各ケーブル保持孔50、50、・・・に同軸ケーブル52の先端部を挿入し、接着してなる。
同軸ケーブル52は、ケーブル芯線54を絶縁体56で被覆し、その絶縁体56をケーブル外部導体58で被覆し、更に、このケーブル外部導体58をケーブル被覆体60で被覆してなるものである。
The
The
同軸ケーブル52の各ケーブル芯線54、54、・・・がプローブ収納ボード40のプローブ収納孔46、46、・・・に収納された各同軸プローブ2、2、・・・の棒状導電子4、4、・・・に接触し、各ケーブル外部導体58、58、・・・が各同軸プローブ2、2、・・・の外側導電筒12の接触突起18、18、・・・に接触し得るように、プローブ収納ボード40のプローブ収納孔46、46、・・・と、ケーブル保持ボード42のケーブル保持孔50、50、・・・の配置位置が設定され、ケーブル保持ボード42の上方に、プローブ収納ボード40が上下方向に移動可能に配置されている。
The
そして、ケーブル保持ボード42の各同軸ケーブル52、52、・・・は、その先端面にケーブル芯線54、ケーブル外部導体58が露出し、その先端面がケーブル保持板48の表面と同一平面上に位置するようにされている。この各同軸ケーブル52、52、・・・のケーブル保持ボード42に挿入、固定された側と反対側の端部は、例えば図示しないテスター回路に接続されている。
The
このコンタクト機は、上記プローブ収納ボード40を下降させることにより、それに収納された各同軸ケーブル2、2、・・・の棒状導電子4、4、・・・、外側導電筒12の接触突起18、18、・・・を、上記ケーブル保持ボード42に保持された同軸ケーブル52、52、・・・のケーブル芯線54、54、・・・、ケーブル外部導体58、58、・・・にそれぞれ接触させることができるようにしてコンタクト状態を形成し、上記プローブ収納ボード40を上昇させることにより、非コンタクト状態にすることができるようになっている。
In this contact machine, by lowering the
そして、上記プローブ収納ボード40の上に図示しないIC等の被測定体をロード(セット)し、その被測定体の電極と、同軸プローブ2、2、・・・の棒状導電子4、4、・・・及び外側導電筒12の接触突起18、18、・・・とを接触させることができるようになっている。
従って、コンタクト機により、IC等の被測定体の各電極と、それに対応する各同軸ケーブル52、52、・・・のケーブル芯線54、54、・・、ケーブル外部導体58、58、・・・とを電気的に接続した状態、即ちコンタクト状態を形成することができる。
Then, a measurement object such as an IC (not shown) is loaded (set) on the
Therefore, by the contact machine, each electrode of the measured object such as an IC and the corresponding
図3(A)、(B)は上記ケーブル保持ボード42の製造方法を工程順に示す断面図である。
(A)ケーブル保持板48の各ケーブル保持孔50、50、・・・に下側から同軸ケーブル52、52・・・をその先端がケーブル保持板48の上側表面から稍食み出すように挿入し、接着剤62で接着して固定する。図3(A)はその固定した状態を示す。
(B)次に、研磨機64を用いて、上記ケーブル保持板48の表面に平行な方向に研磨することにより同軸ケーブル52のケーブル保持板48から突出した部分を研磨する。
これにより、同軸ケーブル52の研磨面となった端面にケーブル芯線54及びケーブル外部導体58に露出した状態になり、ケーブル保持ボード42が出来上がる。
3A and 3B are cross-sectional views showing the method of manufacturing the
(A) Insert the
(B) Next, the portion protruding from the
As a result, the end surface of the
本発明は、半導体素子等の電子部品の各電極とテスター回路等の電子回路とを接続するための中継に使用される同軸プローブと、プローブ収納ボードと、ケーブル保持ボードと、コンタクト機と、ケーブル保持ボードの製造方法に一般的に利用可能性がある。 The present invention relates to a coaxial probe, a probe storage board, a cable holding board, a contact machine, a cable, and a relay used to connect each electrode of an electronic component such as a semiconductor element and an electronic circuit such as a tester circuit. There is general applicability to the manufacturing method of the holding board.
2・・・同軸プローブ、4・・・棒状導電子、6・・・絶縁筒、12・・・外側導電筒、14・・・閉塞端、16・・・導電子遊挿孔、18・・・接触突起、
26・・・導電性の圧縮スプリング、28・・・バレル、
40・・・プローブ収納ボード、42・・・ケーブル保持ボード、
44・・・プローブ収納板、46・・・プローブ収納孔、48・・・ケーブル保持孔、
52・・・同軸ケーブル、54・・・ケーブル芯線、58・・・ケーブル外部導体、
62・・・接着剤、64・・・研磨機。
2 ... Coaxial probe, 4 ... Bar-shaped conductor, 6 ... Insulating cylinder, 12 ... Outer conductive cylinder, 14 ... Closed end, 16 ... Conductor loose insertion hole, 18 ...・ Contact protrusion,
26 ... conductive compression spring, 28 ... barrel,
40: Probe storage board, 42: Cable holding board,
44 ... Probe storage plate, 46 ... Probe storage hole, 48 ... Cable holding hole,
52 ... Coaxial cable, 54 ... Cable core, 58 ... Cable outer conductor,
62: Adhesive, 64: Polishing machine.
Claims (2)
上記各プローブ保持孔には、
両端が他と接触して電気的導通をとる接触端とされた芯線を成す一つの棒状導電子と、
上記棒状導電子に、これを抜け止めした状態で外嵌された電気的絶縁性を有する絶縁筒と、
一端が閉塞され、他端が開口し、その閉塞された一端に上記棒状導電子を非接触で通す導電子遊挿孔が形成され、その導電子遊挿孔の外周部に外側に突出する1又は複数の接触突起が形成され電気的導電性を有する一対の筒体を、上記開口した他端同士を対向させてなり、上記絶縁筒に外嵌された外側導電筒と、
上記外側導電筒を成す上記一対の筒体間に介在せしめられた導電性を有する圧縮スプリングと、
上記外側導電筒を、それに外嵌され上記筒体間の距離を一定以上大きくならないように規制しつつ保持するバレルと、
からなる同軸プローブが、
両端が上記プローブ保持板の両面から突出し、その両面に突出した全同軸プローブの棒状導電子と外側導電筒の先端が同一平面上に位置し、且つ抜け止めされた状態で収納された
ことを特徴とするプローブ収納ボード。 A probe holding plate having a plurality of probe holding holes for holding a coaxial probe;
In each probe holding hole,
One rod-shaped conductor that forms a core wire that is a contact end that is in contact with the other and takes electrical continuity;
An insulating cylinder having an electrical insulation and fitted on the rod-shaped conductor in a state in which the rod-shaped conductor is prevented from coming off;
One end is closed, the other end is open, and a conductor loose insertion hole through which the rod-like conductor is passed in a non-contact manner is formed at the closed end, and protrudes outward from the outer periphery of the conductor loose insertion hole 1 Or a pair of cylinders having a plurality of contact protrusions and having electrical conductivity, the other open ends are opposed to each other, and an outer conductive cylinder externally fitted to the insulating cylinder,
A compression spring having conductivity interposed between the pair of cylinders forming the outer conductive cylinder;
A barrel that holds the outer conductive cylinder while being fitted to the outer conductive cylinder so as not to increase the distance between the cylindrical bodies more than a certain value;
A coaxial probe consisting of
Both ends protrude from both surfaces of the probe holding plate, and the rod-shaped conductors of all coaxial probes protruding from both surfaces and the tips of the outer conductive cylinders are located on the same plane and are stored in a state of being prevented from being detached. Probe storage board.
上記プローブ収納ボードの各同軸プローブが上記ケーブル保持ボードの上記ケーブル保持板の上記表面に、各棒状導電子の一方の接触端がそれと対応する同軸ケーブルのケーブル芯線と、各外側導電筒の一方の側の接触突起がそれと対応する同軸ケーブルのケーブル外部導体と、それぞれ互いに接触し得るように位置合わせして臨まされ、
上記同軸プローブを上記ケーブル保持ボードに近接して全同軸プローブとそれに対応する同軸プローブとが上記接触をする接触状態が生じたり、離間してその接触状態が解除されたりするようにした
ことを特徴とするコンタクト機。 A coaxial cable having a probe storage board according to claim 1 and a cable in which a plurality of cable storage holes are formed, each of the cable storage holes having an end polished and a cable core wire and a cable outer conductor exposed on the surface. A cable holding board which is inserted and fixed so that the end face side of the end face of the cable and the surface of the cable holding plate are located on the same plane,
Each coaxial probe of the probe storage board is connected to the surface of the cable holding plate of the cable holding board, one of the contact ends of each rod-shaped conductor is a cable core of the coaxial cable corresponding to it, and one of the outer conductive cylinders. The contact protrusions on the side face the cable outer conductor of the corresponding coaxial cable so that they can contact each other,
The coaxial probe is brought close to the cable holding board, and a contact state in which all the coaxial probes and the corresponding coaxial probe make the above-mentioned contact occurs or is separated and the contact state is released. Contact machine.
Priority Applications (1)
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JP2006354497A JP5095204B2 (en) | 2006-12-28 | 2006-12-28 | Probe storage board and contact machine |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006354497A JP5095204B2 (en) | 2006-12-28 | 2006-12-28 | Probe storage board and contact machine |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008166121A JP2008166121A (en) | 2008-07-17 |
JP5095204B2 true JP5095204B2 (en) | 2012-12-12 |
Family
ID=39695309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006354497A Active JP5095204B2 (en) | 2006-12-28 | 2006-12-28 | Probe storage board and contact machine |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5095204B2 (en) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101166126B1 (en) | 2011-03-31 | 2012-07-23 | (주)기가레인 | Connecter combined printed circuit board |
CN106468725A (en) * | 2015-08-14 | 2017-03-01 | 致茂电子股份有限公司 | Probe structure |
CN105067849A (en) * | 2015-09-02 | 2015-11-18 | 昆山周晋电子科技有限公司 | Coaxial probe |
CN111162419B (en) * | 2018-11-08 | 2022-07-12 | 上海雷迪埃电子有限公司 | Radio frequency connector and radio frequency connection structure between two circuit boards |
JP7334791B2 (en) * | 2019-10-18 | 2023-08-29 | 株式会社村田製作所 | Inspection connector and inspection unit |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0792474B2 (en) * | 1990-08-08 | 1995-10-09 | 日本発条株式会社 | Conductive contact |
JPH09152447A (en) * | 1995-12-01 | 1997-06-10 | Yokowo Co Ltd | Two end mobile type coaxial contact probe |
JP2002228682A (en) * | 2001-02-02 | 2002-08-14 | Tokyo Electron Ltd | Probe |
JP4444799B2 (en) * | 2004-11-18 | 2010-03-31 | 東洋電子技研株式会社 | Four-probe measuring probe for contact equipment |
JP4800804B2 (en) * | 2006-03-14 | 2011-10-26 | 日置電機株式会社 | Probes and measuring equipment |
-
2006
- 2006-12-28 JP JP2006354497A patent/JP5095204B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008166121A (en) | 2008-07-17 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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