JP3148943B2 - 磁束密度の測定方法及びその装置 - Google Patents
磁束密度の測定方法及びその装置Info
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- JP3148943B2 JP3148943B2 JP09332892A JP9332892A JP3148943B2 JP 3148943 B2 JP3148943 B2 JP 3148943B2 JP 09332892 A JP09332892 A JP 09332892A JP 9332892 A JP9332892 A JP 9332892A JP 3148943 B2 JP3148943 B2 JP 3148943B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＥＬＦ（Ｅｘｔｒｅｍ
ｅｌｙ Ｌｏｗ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）電磁界の磁束密
度、特に磁束密度の時間積分値を連続的に測定する方法
及びその装置に関する。
ｅｌｙ Ｌｏｗ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）電磁界の磁束密
度、特に磁束密度の時間積分値を連続的に測定する方法
及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は、磁界の直交する三軸（Ｘ軸、Ｙ
軸、Ｚ軸）の内、一軸方向の磁束密度を測定する従来の
測定方法を示すブロック図である。従来は、空心コイル
９及び検出回路１０及びＡ／Ｄ変換回路１１及び記憶回
路１２から構成される測定装置が用いられ、この空心コ
イルで検出した磁気、即ち磁束密度の瞬時値を次段の検
出回路１０で検出し、一定の電気信号に変換した後に、
次段のＡ／Ｄ変換回路１１でデジタル信号に変換し、次
段の記憶回路１２に記憶していた。また、他の二軸方向
の磁束密度のデータも同一方法で測定され、記憶回路１
２に記憶されていた。そして、測定装置の接続端子１３
を他の場所に設置されたコンピューター１５にインター
フェース１４を介して接続することによって、記憶され
ているデータを入力し、所定のプログラムによって三軸
方向の磁束密度の時間積分値を計算していた。
軸、Ｚ軸）の内、一軸方向の磁束密度を測定する従来の
測定方法を示すブロック図である。従来は、空心コイル
９及び検出回路１０及びＡ／Ｄ変換回路１１及び記憶回
路１２から構成される測定装置が用いられ、この空心コ
イルで検出した磁気、即ち磁束密度の瞬時値を次段の検
出回路１０で検出し、一定の電気信号に変換した後に、
次段のＡ／Ｄ変換回路１１でデジタル信号に変換し、次
段の記憶回路１２に記憶していた。また、他の二軸方向
の磁束密度のデータも同一方法で測定され、記憶回路１
２に記憶されていた。そして、測定装置の接続端子１３
を他の場所に設置されたコンピューター１５にインター
フェース１４を介して接続することによって、記憶され
ているデータを入力し、所定のプログラムによって三軸
方向の磁束密度の時間積分値を計算していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の測定方法では、
磁束密度の時間積分値を算出するためにコンピューター
が必要なため、非常に手間が掛かる。また、従来の装置
は空心コイルが用いられているため装置が大きく、携帯
に不便で、特に人体に装着した状態での測定は困難であ
る。而も、回路構成が複雑なため、扱い難く、メンテナ
ンスも困難である。さらに、測定時間が記憶回路のメモ
リ容量で制限されているため、測定時間を長くするため
には、高価なメモリ素子を追加しなければならない等、
コスト面にも問題があった。以上のように、従来のもの
は測定箇所が制限されるばかりか、コストも高いことか
ら、少ない装置で多くの測定を繰り返さなければならな
かった。
磁束密度の時間積分値を算出するためにコンピューター
が必要なため、非常に手間が掛かる。また、従来の装置
は空心コイルが用いられているため装置が大きく、携帯
に不便で、特に人体に装着した状態での測定は困難であ
る。而も、回路構成が複雑なため、扱い難く、メンテナ
ンスも困難である。さらに、測定時間が記憶回路のメモ
リ容量で制限されているため、測定時間を長くするため
には、高価なメモリ素子を追加しなければならない等、
コスト面にも問題があった。以上のように、従来のもの
は測定箇所が制限されるばかりか、コストも高いことか
ら、少ない装置で多くの測定を繰り返さなければならな
かった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記従来の諸
課題を解決するため開発されたもので、磁束密度の時間
積分値を容易に求めることができる磁束密度の測定方法
と、製造コストの掛からない測定装置を提供するもので
ある。即ち、その方法とは、磁界中に磁界検出コイルを
置き、その磁界検出コイルで検出された磁気の大きさに
比例した電圧の電気信号を出力する第一の変換手段と、
この第一の変換手段によって出力される電気信号を入力
して一定の電流値の電気信号に変換する第二の変換手段
と、この第二の変換手段から出力される電気信号を入力
して積分すると共に、その積分された電気信号の電位を
記憶する積分記憶手段と、この積分記憶手段によって出
力される電気信号の電圧値を基準にして磁束密度を求め
ることである。
課題を解決するため開発されたもので、磁束密度の時間
積分値を容易に求めることができる磁束密度の測定方法
と、製造コストの掛からない測定装置を提供するもので
ある。即ち、その方法とは、磁界中に磁界検出コイルを
置き、その磁界検出コイルで検出された磁気の大きさに
比例した電圧の電気信号を出力する第一の変換手段と、
この第一の変換手段によって出力される電気信号を入力
して一定の電流値の電気信号に変換する第二の変換手段
と、この第二の変換手段から出力される電気信号を入力
して積分すると共に、その積分された電気信号の電位を
記憶する積分記憶手段と、この積分記憶手段によって出
力される電気信号の電圧値を基準にして磁束密度を求め
ることである。
【０００５】また、その装置とは、磁界検出コイルと、
この磁界検出コイルで検出された磁気に比例した電圧の
電気信号に変換する第一の変換回路と、この第一の変換
回路から出力される電気信号を入力して一定の電流値の
電気信号に変換する第二の変換回路と、この第二の変換
回路から出力される電気信号を入力して積分すると共
に、その積分された電気信号の電位を記憶する積分記憶
手段とを備えたことにある。
この磁界検出コイルで検出された磁気に比例した電圧の
電気信号に変換する第一の変換回路と、この第一の変換
回路から出力される電気信号を入力して一定の電流値の
電気信号に変換する第二の変換回路と、この第二の変換
回路から出力される電気信号を入力して積分すると共
に、その積分された電気信号の電位を記憶する積分記憶
手段とを備えたことにある。
【０００６】
【作用】磁界検出コイルで検出された磁気は、第一の変
換手段において磁気の大きさに比例した電圧の電気信号
に変換されると共に、第二の変換手段において一定の電
流値の電気信号に変換され、積分記憶手段において積分
されると共に、その電位が記憶される。従って、その記
憶された電位を基準に磁束密度の時間積分値を求めるこ
とができる。
換手段において磁気の大きさに比例した電圧の電気信号
に変換されると共に、第二の変換手段において一定の電
流値の電気信号に変換され、積分記憶手段において積分
されると共に、その電位が記憶される。従って、その記
憶された電位を基準に磁束密度の時間積分値を求めるこ
とができる。
【０００７】また、磁束検出コイルは測定磁界の磁気を
検出し、第一の変換回路は磁界検出コイルが検出した磁
気をその大きさに比例した電気信号に変換する。第二の
変換回路は第一の変換回路から出力される電気信号を入
力し、一定の電流値の電気信号に変換する。そして、積
分記憶部は、第二の変換回路から出力される電気信号を
入力し、積分すると共に、その電位を記憶する。従っ
て、前記同様に磁束密度の時間積分値を求めることがで
きる。
検出し、第一の変換回路は磁界検出コイルが検出した磁
気をその大きさに比例した電気信号に変換する。第二の
変換回路は第一の変換回路から出力される電気信号を入
力し、一定の電流値の電気信号に変換する。そして、積
分記憶部は、第二の変換回路から出力される電気信号を
入力し、積分すると共に、その電位を記憶する。従っ
て、前記同様に磁束密度の時間積分値を求めることがで
きる。
【０００８】
【実施例】図１は、本発明に係る磁束密度の測定装置の
主な回路構成の内、Ｘ軸方向測定用の回路を示すブロッ
ク図である（Ｙ軸及びＺ軸方向測定用の回路も同じ回路
構成である）。以下、本発明を図面に基づいて説明す
る。１ａは磁界検出コイルの一例であるフェライト磁心
コイル（以下、コイルという）で、フェライトコアにエ
ナメル線が巻かれている。２は第一の変換回路の一例
で、差動増幅回路２ａ及び信号フィルタ回路２ｂ及理想
半波整流回路２ｃから構成される。３は第二の変換回路
の一例で、電圧／定電流変換回路３ａで構成される。４
は積分記憶部の一例で、固体電位記憶素子４ａで構成さ
れる。５，５は固体電位記憶素子に記憶された電位を測
定するための測定端子である。
主な回路構成の内、Ｘ軸方向測定用の回路を示すブロッ
ク図である（Ｙ軸及びＺ軸方向測定用の回路も同じ回路
構成である）。以下、本発明を図面に基づいて説明す
る。１ａは磁界検出コイルの一例であるフェライト磁心
コイル（以下、コイルという）で、フェライトコアにエ
ナメル線が巻かれている。２は第一の変換回路の一例
で、差動増幅回路２ａ及び信号フィルタ回路２ｂ及理想
半波整流回路２ｃから構成される。３は第二の変換回路
の一例で、電圧／定電流変換回路３ａで構成される。４
は積分記憶部の一例で、固体電位記憶素子４ａで構成さ
れる。５，５は固体電位記憶素子に記憶された電位を測
定するための測定端子である。
【０００９】図２は、本測定装置の概略図を示し、その
大きさは手のひらに乗せることができる程度である。図
示のように装置本体７内の三つの側面には、Ｘ軸，Ｙ
軸，Ｚ軸方向の磁界検出用のコイル１ａ，１ｂ，１ｃが
それぞれ取付けられている。８，８，８は前記各回路が
備えられた回路基盤、５，５・・は測定端子である。
大きさは手のひらに乗せることができる程度である。図
示のように装置本体７内の三つの側面には、Ｘ軸，Ｙ
軸，Ｚ軸方向の磁界検出用のコイル１ａ，１ｂ，１ｃが
それぞれ取付けられている。８，８，８は前記各回路が
備えられた回路基盤、５，５・・は測定端子である。
【００１０】次に、第一の変換手段として前記第一の変
換回路を、第二の変換手段として前記第二の変換回路を
それぞれ用い、磁束密度を測定する場合を説明する。先
ず、装置本体７内のコイル１ａをＸ軸、１ｂをＹ軸、１
ｃをＺ車方向の磁束密度測定用として選択し、測定地点
に装置本体を置く。すると、各コイルによって各軸方向
の磁気が検出され、各コイルのエナメル線には磁気誘導
による誘導電流が流れる。各誘導電流は、次段の各作動
増幅回路２へそれぞれ入力され、磁気に比例した電圧に
増幅された後に、次段の信号フィルタ回路３へそれぞれ
入力される。そして、各信号フィルタ回路において所定
の周波数成分の信号のみが検出され、次段の理想半波整
流回路において半波整流される。この半波整流された信
号は、次段の各電圧／定電流変換回路５へ入力され、一
定の電流値を有する信号に変換された後に、次段の固体
電位記憶素子において積分され、その電位が記憶され
る。このようにして、装置本体を測定地点に予め定めた
時間置くことによって、検出された磁気の時間積分値に
比例した電位が固体電位記憶素子に蓄積される。次に、
測定時間経過後に各コイルに設けられた測定端子５，５
に電圧計６を接続し、それぞれの電位（ＶＭＤ）を測定
する。そして、この各電位ＶＭＤ、測定磁界の周波数、
測定時間等の各データを所定の数式へ代入し、三軸方向
の磁束密度の時間積分値を求める。ここで、測定時間の
変更は、電圧／定電流変換回路内の例えば抵抗素子の抵
抗値を変更することによって行なうことができ、月日単
位の測定も可能である。以上のように、本発明を用いれ
ば、三軸方向の磁束密度の時間積分値を任意の時間に亙
って、同時に容易且つ迅速に求めることができる。
換回路を、第二の変換手段として前記第二の変換回路を
それぞれ用い、磁束密度を測定する場合を説明する。先
ず、装置本体７内のコイル１ａをＸ軸、１ｂをＹ軸、１
ｃをＺ車方向の磁束密度測定用として選択し、測定地点
に装置本体を置く。すると、各コイルによって各軸方向
の磁気が検出され、各コイルのエナメル線には磁気誘導
による誘導電流が流れる。各誘導電流は、次段の各作動
増幅回路２へそれぞれ入力され、磁気に比例した電圧に
増幅された後に、次段の信号フィルタ回路３へそれぞれ
入力される。そして、各信号フィルタ回路において所定
の周波数成分の信号のみが検出され、次段の理想半波整
流回路において半波整流される。この半波整流された信
号は、次段の各電圧／定電流変換回路５へ入力され、一
定の電流値を有する信号に変換された後に、次段の固体
電位記憶素子において積分され、その電位が記憶され
る。このようにして、装置本体を測定地点に予め定めた
時間置くことによって、検出された磁気の時間積分値に
比例した電位が固体電位記憶素子に蓄積される。次に、
測定時間経過後に各コイルに設けられた測定端子５，５
に電圧計６を接続し、それぞれの電位（ＶＭＤ）を測定
する。そして、この各電位ＶＭＤ、測定磁界の周波数、
測定時間等の各データを所定の数式へ代入し、三軸方向
の磁束密度の時間積分値を求める。ここで、測定時間の
変更は、電圧／定電流変換回路内の例えば抵抗素子の抵
抗値を変更することによって行なうことができ、月日単
位の測定も可能である。以上のように、本発明を用いれ
ば、三軸方向の磁束密度の時間積分値を任意の時間に亙
って、同時に容易且つ迅速に求めることができる。
【００１１】尚、各コイルの取付位置は、それぞれが三
軸方向を向く位置であれば、上記実施例に限定されるこ
となく適宜変更可能である。また、フェライトコアの透
磁率を高くしたり、エナメル線の巻数を増加することに
よって、測定感度を維持しながら小型化し、各回路をチ
ップ化することによって装置全体をさらに小型化するこ
ともできる。
軸方向を向く位置であれば、上記実施例に限定されるこ
となく適宜変更可能である。また、フェライトコアの透
磁率を高くしたり、エナメル線の巻数を増加することに
よって、測定感度を維持しながら小型化し、各回路をチ
ップ化することによって装置全体をさらに小型化するこ
ともできる。
【００１２】また、積分記憶部の次段に、電位
（ＶＭＤ）を入力して磁束密度の時間積分値を求めるマ
イコンチップ等を接続し、装置本体に求めた数値をＬＣ
ＤやＬＥＤ等で表示するように設計することもできる。
さらに、各信号フィルタ回路から出力される電気信号を
入力して合成し、そのベクトル実効値を出力できる合成
回路を各信号フィルタ回路の出力側に接続し、その合成
回路を第二の変換回路に接続することによって三軸方向
を合成した磁束密度の時間積分値を求めることができる
ように設計することもできる（この場合、各理想半波整
流回路は不要となる）。
（ＶＭＤ）を入力して磁束密度の時間積分値を求めるマ
イコンチップ等を接続し、装置本体に求めた数値をＬＣ
ＤやＬＥＤ等で表示するように設計することもできる。
さらに、各信号フィルタ回路から出力される電気信号を
入力して合成し、そのベクトル実効値を出力できる合成
回路を各信号フィルタ回路の出力側に接続し、その合成
回路を第二の変換回路に接続することによって三軸方向
を合成した磁束密度の時間積分値を求めることができる
ように設計することもできる（この場合、各理想半波整
流回路は不要となる）。
【００１３】
【発明の効果】本発明に係る磁束密度の測定方法及びそ
の装置を用いれば、任意の測定地点の磁束密度の時間積
分値を任意の時間に亙り、迅速且つ容易に求めることが
できる。而も、取扱いが簡単でメンテナンスも容易であ
る。更に、製造コストの低減を図ることができるため、
汎用性を向上させることができる。
の装置を用いれば、任意の測定地点の磁束密度の時間積
分値を任意の時間に亙り、迅速且つ容易に求めることが
できる。而も、取扱いが簡単でメンテナンスも容易であ
る。更に、製造コストの低減を図ることができるため、
汎用性を向上させることができる。
【図１】本発明に係る磁束密度の測定方法及びその装置
の説明図である。
の説明図である。
【図２】本発明に係る磁束密度の測定装置の概略図であ
る。
る。
【図３】従来の磁束密度の測定方法を示す説明図であ
る。
る。
１ａ，１ｂ，１ｃ・・フェライト磁心コイル、２・・第
一の変換回路、２ａ・・作動増幅回路、２ｂ・・信号フ
ィルタ回路、２ｃ・・理想半波整流回路、３・・第二の
変換回路、３ａ・・電圧／定電流変換回路、４・・積分
記憶部、４ａ．・固体電位記憶素子、５・・測定端子、
６・・電圧計、７・・装置本体、８・・回路基盤、９・
・空心コイル、１０・・検出回路、１１・・Ａ／Ｄ変換
回路、１２・・記憶回路、１３・・接続端子、１４・・
インターフェース、１５・・コンピューター。
一の変換回路、２ａ・・作動増幅回路、２ｂ・・信号フ
ィルタ回路、２ｃ・・理想半波整流回路、３・・第二の
変換回路、３ａ・・電圧／定電流変換回路、４・・積分
記憶部、４ａ．・固体電位記憶素子、５・・測定端子、
６・・電圧計、７・・装置本体、８・・回路基盤、９・
・空心コイル、１０・・検出回路、１１・・Ａ／Ｄ変換
回路、１２・・記憶回路、１３・・接続端子、１４・・
インターフェース、１５・・コンピューター。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−176682（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 33/00 - 33/18
Claims (2)
- 【請求項１】磁界中に磁界検出コイルを置き、その磁界
検出コイルで検出された磁気の大きさに比例した電圧の
電気信号を出力する第一の変換手段と、この第一の変換
手段によって出力される電気信号を入力して一定の電流
値の電気信号に変換する第二の変換手段と、この第二の
変換手段から出力される電気信号を入力して積分すると
共に、その積分された電気信号の電位を記憶する積分記
憶手段とを用い、この積分手段によって出力される電気
信号の電圧値を基準にして磁束密度を求めることを特徴
とする磁束密度の測定方法。 - 【請求項２】磁界検出コイルと、この磁界検出コイルで
検出された磁気に比例した電圧の電気信号に変換する第
一の変換回路と、この第一の変換回路から出力される電
気信号を入力して一定の電流値の電気信号に変換する第
二の変換回路と、この第二の変換回路から出力される電
気信号を入力して積分すると共に、その積分された電気
信号の電位を記憶する積分記憶部とを備えたことを特徴
とする磁束密度の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09332892A JP3148943B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 磁束密度の測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09332892A JP3148943B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 磁束密度の測定方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05264688A JPH05264688A (ja) | 1993-10-12 |
| JP3148943B2 true JP3148943B2 (ja) | 2001-03-26 |
Family
ID=14079211
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09332892A Expired - Fee Related JP3148943B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 磁束密度の測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3148943B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017020572A (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-26 | 有限会社アールストーン | 配管支持具 |
| JP2017032042A (ja) * | 2015-07-31 | 2017-02-09 | 有限会社アールストーン | 配管支持具 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP09332892A patent/JP3148943B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017020572A (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-26 | 有限会社アールストーン | 配管支持具 |
| JP2017032042A (ja) * | 2015-07-31 | 2017-02-09 | 有限会社アールストーン | 配管支持具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05264688A (ja) | 1993-10-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |