JP3146932B2 - Manufacturing method of electronic component with bump - Google Patents

Manufacturing method of electronic component with bump

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ワークの電極に半田ボ
ールを搭載してバンプを形成するバンプ付電子部品の製
造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a bumped electronic component in which a solder ball is mounted on an electrode of a work to form a bump.

【0002】[0002]

【従来の技術】ワークの電極にバンプ(突出電極)を形
成してバンプ付電子部品を製造する方法として、半田ボ
ールを用いる方法が知られている。この方法は、ヘッド
の下面に多数形成された吸着孔に半田ボールを真空吸着
してワークの電極上に移送搭載した後、ワークを加熱炉
で加熱して半田ボールを溶融固化させ、バンプを生成す
る。この方法は、ワークの電極に多数個のバンプを一括
形成してバンプ付電子部品を製造できるので、作業能率
上きわめて有利である。
2. Description of the Related Art As a method of manufacturing a bumped electronic component by forming a bump (protruding electrode) on an electrode of a work, a method using a solder ball is known. According to this method, solder balls are vacuum-sucked in suction holes formed in a large number on the lower surface of the head, transferred and mounted on the electrodes of the work, and then the work is heated in a heating furnace to melt and solidify the solder balls to generate bumps. I do. This method is extremely advantageous in terms of work efficiency because an electronic component with bumps can be manufactured by simultaneously forming a large number of bumps on the electrodes of the work.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、ワークは一
般にきわめて小形であり、したがってワークは複数個づ
つキャリアに装着されて製造ラインを搬送されることが
多い。ところが従来のヘッドは、ワーク1個分の半田ボ
ールしか真空吸着できなかったため、後に図11(a)
を参照して説明するように、半田ボールの供給部とキャ
リアの間を繰り返し往復移動して各々のワーク毎に半田
ボールを搭載せねばならず、したがって全体のタクトタ
イムは長くなって作業能率がはかどらないという問題点
があった。
By the way, works are generally very small, so that a plurality of works are often mounted on a carrier one by one and conveyed on a production line. However, in the conventional head, only the solder ball for one work can be vacuum-sucked.
As described with reference to, the solder ball must be repeatedly reciprocated between the supply portion of the solder ball and the carrier to mount the solder ball for each work, so that the overall tact time becomes longer and the work efficiency becomes longer. There was a problem that it did not bounce.

【0004】そこで本発明は、複数個のワークに対して
作業能率よく半田ボールを搭載できるバンプ付電子部品
の製造方法を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention provides a bumped electronic component which can efficiently mount a solder ball on a plurality of works.
An object of the present invention is to provide a manufacturing method of.

【0005】[0005]

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】 本発明は、複数個のワー
クにそれぞれ対応する複数のブロックに分割され、かつ
各々のブロックに互いに独立した真空吸引手段を備えた
ヘッドが半田ボールの供給部に備えられた半田ボールを
真空吸着してピックアップする工程と、このヘッドが位
置決め部に位置決めされた複数個のワークの上方へ移動
する工程と、前記複数個のブロックが各々のワークの真
上に位置するように前記ヘッドを各々のワークに対して
相対的に水平移動させ、各々のワークに対応するブロッ
ク毎に半田ボールの真空吸着状態を解除して各々のワー
クに半田ボールを搭載する工程とからバンプ付電子部品
の製造方法を構成した。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a plurality of words.
Divided into a plurality of blocks corresponding to
A step in which a head provided with independent vacuum suction means in each block vacuum-suctions and picks up a solder ball provided in a supply section of the solder ball, and a step of picking up a plurality of works in which the head is positioned in a positioning section; Moving the head relatively horizontally with respect to each work so that the plurality of blocks are located directly above each work, and soldering each block corresponding to each work. The method of manufacturing the electronic component with bumps was constituted by the steps of releasing the vacuum suction state of the balls and mounting the solder balls on each work.

【0007】[0007]

【作用】上記構成によれば、ヘッドは半田ボールの供給
部において複数個のワーク分の半田ボールを一括してピ
ックアップし、キャリアの上方へ移動して、各ワークに
対して相対的に水平移動をしながら、各ワークに順に半
田ボールを搭載するので、全体のタクトタイムを大巾に
短縮することができる。
According to the above arrangement, the head collectively picks up solder balls for a plurality of works at the solder ball supply section, moves upward of the carrier, and moves horizontally relative to each work. However, since the solder balls are sequentially mounted on each work, the overall tact time can be greatly reduced.

【0008】[0008]

【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。図1は、本発明の一実施例のバンプ付電子部
品の製造工程図、図2は同バンプ付電子部品の製造装置
の平面図、図3は同側面図、図4は同ヘッドとキャリア
の斜視図、図5は同ヘッドの断面図、図6は同制御系の
ブロック図である。また図7は同半田ボールの下面にフ
ラックスを塗布中の要部断面図、図8は同半田ボールを
基板の電極に搭載中の要部断面図、図9は同ヘッドと第
1の光源の正面図、図10は同ヘッドと発光部および受
光部の正面図である。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a manufacturing process diagram of an electronic component with bumps according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a manufacturing apparatus of the electronic component with bumps, FIG. 3 is a side view thereof, and FIG. FIG. 5 is a sectional view of the head, and FIG. 6 is a block diagram of the control system. FIG. 7 is a cross-sectional view of a main part of the lower surface of the solder ball while a flux is being applied. FIG. FIG. 10 is a front view of the head, the light emitting unit and the light receiving unit.

【0009】まず図1を参照して、バンプ付電子部品の
全製造工程を簡単に説明する。図1(a)において、3
はワークとしての基板であり、図1(b)に示すように
その上面と下面に電極20を形成するとともに、電極2
0同士を電気的に接続するスルーホール3aを形成す
る。
First, with reference to FIG. 1, a brief description will be given of the entire manufacturing process of an electronic component with bumps. In FIG. 1A, 3
Is a substrate as a work, and has electrodes 20 formed on its upper and lower surfaces as shown in FIG.
Through holes 3a are formed to electrically connect the 0s.

【0010】次に基板3の上面にチップCを搭載し(図
1(c))、チップCの上面の電極と基板3の上面の電
極20をワイヤWで接続する(図1(d))。次いでチ
ップCとワイヤWを保護するモールド体Mを合成樹脂に
より形成する(図1(e))。次いで基板3を上下反転
させて電極20の上面に半田ボール5を搭載する(図1
(f))。次いで基板3を加熱炉へ送って加熱し、半田
ボール5を溶融固化させることによりバンプ5’を形成
する(図1(g))。
Next, the chip C is mounted on the upper surface of the substrate 3 (FIG. 1C), and the electrodes on the upper surface of the chip C and the electrodes 20 on the upper surface of the substrate 3 are connected by wires W (FIG. 1D). . Next, a mold body M for protecting the chip C and the wire W is formed of a synthetic resin (FIG. 1E). Next, the substrate 3 is turned upside down, and the solder balls 5 are mounted on the upper surfaces of the electrodes 20 (FIG. 1).
(F)). Next, the substrate 3 is sent to a heating furnace where it is heated, and the solder balls 5 are melted and solidified to form bumps 5 '(FIG. 1 (g)).

【0011】以上によりバンプ付電子部品が完成する。
次に、各図を参照して、図1(f)(g)の工程、すな
わちバンプ用の電極20に半田ボール5を搭載し、バン
プ5’を形成する工程について詳しく説明する。
Thus, the electronic component with bumps is completed.
Next, the steps of FIGS. 1F and 1G, that is, the steps of mounting the solder balls 5 on the bump electrodes 20 and forming the bumps 5 'will be described in detail with reference to the drawings.

【0012】図2において、3は図1(e)に示す基板
であり、その下面にはチップCをモールドするモールド
体Mが形成されている。基板3はキャリア10に4枚搭
載されている。
In FIG. 2, reference numeral 3 denotes a substrate shown in FIG. 1 (e), and a mold body M for molding a chip C is formed on a lower surface thereof. Four substrates 3 are mounted on the carrier 10.

【0013】図2において、1はテーブルであり、その
上面中央にはガイドレール2が2本配設されている。キ
ャリア10はガイドレール2に沿って搬送され、またガ
イドレール2にクランプされて所定の位置に位置決めさ
れる。本実施例では、ガイドレール2によるキャリア1
0の搬送方向をX方向、これに直交する方向をY方向と
する。テーブル1の隅部には半田ボールの供給部4が設
けられている。図3に示すように、半田ボールの供給部
4はボックスから成り、その内部には半田ボール5が大
量に貯溜されている。またガイドレール2の側部には、
半田ボール5の回収部19が設けられている。この回収
部19はボックスから成っている。
In FIG. 2, reference numeral 1 denotes a table, and two guide rails 2 are provided at the center of the upper surface thereof. The carrier 10 is transported along the guide rail 2 and is clamped by the guide rail 2 to be positioned at a predetermined position. In this embodiment, the carrier 1 by the guide rail 2 is used.
A transport direction of 0 is defined as an X direction, and a direction orthogonal thereto is defined as a Y direction. A solder ball supply unit 4 is provided at a corner of the table 1. As shown in FIG. 3, the supply portion 4 for solder balls is formed of a box, and a large amount of solder balls 5 are stored inside the box. Also, on the side of the guide rail 2,
A collecting section 19 for the solder balls 5 is provided. The collecting section 19 is made up of a box.

【0014】図2および図3において、テーブル1の他
方の隅部にはフラックスの塗布部6が設けられている。
フラックスの塗布部6は、皿状の容器7と平滑ヘッド8
を備えている。容器7にはフラックス9が浅く貯溜され
ている。平滑ヘッド8は、テーブル1にX方向へ摺動自
在に装着され、容器7の上方に架設された台板15を備
えている。台板15上にはシリンダ16が2個設置され
ており、そのロッド17の下端部にスキージ18a、1
8bが結合されている。シリンダ16のロッド17が突
没することにより、スキージ18a、18bは上下動す
る。
In FIGS. 2 and 3, a flux application section 6 is provided at the other corner of the table 1. FIG.
The flux application section 6 includes a dish-shaped container 7 and a smooth head 8.
It has. Flux 9 is stored shallowly in container 7. The smoothing head 8 is mounted on the table 1 so as to be slidable in the X direction, and includes a base plate 15 provided above the container 7. Two cylinders 16 are installed on the base plate 15, and squeegees 18a,
8b are coupled. The squeegees 18a and 18b move up and down by the rod 17 of the cylinder 16 protruding and retracting.

【0015】図2において、13は送りねじであり、モ
ータ14に駆動されて回転する。台板15の側部の下面
には送りねじ13に螺合するナット(図示せず)が設け
られており、モータ14が駆動して送りねじ13が回転
すると、平滑ヘッド8はX方向へ水平移動する。この場
合、図3に示すスキージ18aまたは18bが選択的に
フラックス9に着水して摺動し、フラックス9の上面を
平滑する。
In FIG. 2, a feed screw 13 is driven by a motor 14 to rotate. A nut (not shown) screwed to the feed screw 13 is provided on the lower surface of the side of the base plate 15, and when the motor 14 is driven to rotate the feed screw 13, the smooth head 8 is horizontally moved in the X direction. Moving. In this case, the squeegee 18a or 18b shown in FIG. 3 selectively lands on the flux 9 and slides to smooth the upper surface of the flux 9.

【0016】次に、半田ボールの移送手段としてのヘッ
ドとその移動手段について説明する。図2および図4、
図5において、ヘッド50は、箱形のヘッド本体51と
ヘッド部52から成っている。ヘッド部52は複数個の
ブロックA、B、C、Dに仕切壁53により仕切られて
おり、各々のブロックA〜Dの下面には半田ボール5を
真空吸着するための吸着孔54がマトリクス状に多数個
開孔されている。本実施例では、平面視して十字形の仕
切壁53により、4個の正方形のブロックA〜Dに仕切
られている。
Next, a description will be given of a head as a means for transferring solder balls and a moving means therefor. 2 and 4,
In FIG. 5, the head 50 comprises a box-shaped head main body 51 and a head portion 52. The head section 52 is divided into a plurality of blocks A, B, C, and D by a partition wall 53, and suction holes 54 for vacuum suction of the solder balls 5 are formed on the lower surface of each of the blocks A to D in a matrix. Many holes are opened. In the present embodiment, the partition wall 53 is partitioned into four square blocks A to D by a cross-shaped partition wall 53 in plan view.

【0017】各ブロックA〜Dは、互いに独立した吸引
空間Tを有しており、各々の吸引空間Tはチューブ55
を通じて真空ポンプ62やブロア63(後に図6を参照
して説明する)などの配管系に接続されている。また各
吸引空間Tの上部には、吸着孔54に真空吸着された半
田ボール5の有無を検出するための光学センサ56が設
けられている。真空ポンプ62が作動することにより、
吸引空間Tは真空引きされ、吸着孔54に半田ボール5
を真空吸着する。またブロア63を作動させて吸引空間
Tにエアを吹き込むことにより真空吸引による保持状態
は解除されて、半田ボール5は吸着孔54から落下す
る。ヘッド50の側面には、基板認識用のカメラ11が
一体的に設けられている(図2)。
Each of the blocks A to D has a suction space T independent of each other.
Through a piping system such as a vacuum pump 62 and a blower 63 (described later with reference to FIG. 6). An optical sensor 56 for detecting the presence or absence of the solder ball 5 vacuum-sucked in the suction hole 54 is provided above each suction space T. By operating the vacuum pump 62,
The suction space T is evacuated, and the solder balls 5
Is vacuum-adsorbed. By operating the blower 63 and blowing air into the suction space T, the holding state by vacuum suction is released, and the solder balls 5 fall from the suction holes 54. A camera 11 for board recognition is integrally provided on a side surface of the head 50 (FIG. 2).

【0018】図2において、テーブル1の上方には長尺
のフレーム24が架設されている。フレーム24には送
りねじ25とガイドレール26が平行に配設されてい
る。27は送りねじ25を回転させるモータである。ヘ
ッド50には、送りねじ25に螺合するナット28が結
合されている。したがってモータ27が駆動して送りね
じ25が回転すると、ナット28は送りねじ25に沿っ
てX方向へ水平移動し、ヘッド50もガイドレール26
に沿ってX方向へ水平移動する。
In FIG. 2, a long frame 24 is provided above the table 1. A feed screw 25 and a guide rail 26 are arranged on the frame 24 in parallel. 27 is a motor for rotating the feed screw 25. A nut 28 screwed to the feed screw 25 is connected to the head 50. Therefore, when the motor 27 is driven to rotate the feed screw 25, the nut 28 moves horizontally in the X direction along the feed screw 25, and the head 50 also moves to the guide rail 26.
Move horizontally in the X direction along.

【0019】フレーム24の両側端部は、ガイドレール
29、30上にスライド自在に設置されている。このガ
イドレール29、30は上記ガイドレール26と直交し
ている。またガイドレール29と平行に送りねじ31が
配設されている。フレーム24の下面にはこの送りねじ
31が螺合するナット(図示せず)が設けられている。
したがってモータ32が駆動して送りねじ31が回転す
ると、フレーム24およびこれに結合されたヘッド50
はガイドレール29、30に沿ってY方向に水平移動す
る。
Both ends of the frame 24 are slidably mounted on guide rails 29 and 30. The guide rails 29 and 30 are orthogonal to the guide rail 26. A feed screw 31 is provided in parallel with the guide rail 29. A nut (not shown) with which the feed screw 31 is screwed is provided on the lower surface of the frame 24.
Therefore, when the motor 32 is driven and the feed screw 31 is rotated, the frame 24 and the head 50 connected thereto are rotated.
Moves horizontally in the Y direction along the guide rails 29 and 30.

【0020】上述のように、送りねじ25、31、ガイ
ドレール26、29、30、モータ27、32などは、
ヘッド50をX方向やY方向へ水平移動させる移動手段
を構成しており、これによりヘッド50は半田ボールの
供給部4、回収部19、ガイドレール2に位置決めされ
たキャリア10の間を自由に移動する。
As described above, the feed screws 25, 31, the guide rails 26, 29, 30, the motors 27, 32, etc.
The moving means for horizontally moving the head 50 in the X direction or the Y direction is constituted, whereby the head 50 can freely move between the solder ball supply unit 4, the recovery unit 19, and the carrier 10 positioned on the guide rail 2. Moving.

【0021】次に検査手段について説明する。図2にお
いて、40は長尺の第1の光源である。この第1の光源
40は半田ボールの供給部4とフラックスの塗布部6の
間に設置されており、下方からヘッド50の下面へ向っ
て光を照射する(図9参照)。ヘッド50の内部には光
学センサ56が内蔵されている。したがってすべての吸
着孔54に半田ボール5が真空吸着されているときは、
吸着孔54は半田ボール5で完全に遮光されて光学セン
サ56には光は入射しないが、何れかの吸着孔54に半
田ボール5が真空吸着されていないときは、第1の光源
40から照射された光はその吸着孔54を通過して光学
センサ56に入射する。これにより、半田ボール5のピ
ックアップミスがあったことが判明する。すなわち第1
の光源40と光学センサ56はすべての吸着孔54に半
田ボール5が正しく真空吸着されているか否か、すなわ
ちピックアップミスの有無を検査する検査手段である。
Next, the inspection means will be described. In FIG. 2, reference numeral 40 denotes a long first light source. The first light source 40 is provided between the solder ball supply unit 4 and the flux application unit 6, and irradiates light from below to the lower surface of the head 50 (see FIG. 9). An optical sensor 56 is built in the head 50. Therefore, when the solder balls 5 are vacuum-sucked in all the suction holes 54,
The suction holes 54 are completely shielded from light by the solder balls 5 and no light enters the optical sensor 56. However, when the solder balls 5 are not vacuum-sucked in any of the suction holes 54, the light is emitted from the first light source 40. The emitted light passes through the suction hole 54 and enters the optical sensor 56. As a result, it is found that the pick-up of the solder ball 5 has occurred. That is, the first
The light source 40 and the optical sensor 56 are inspection means for inspecting whether or not the solder balls 5 are correctly vacuum-sucked in all the suction holes 54, that is, whether or not there is a pickup error.

【0022】図2において、フラックスの塗布部6とガ
イドレール2の間には、第2の光源42が設置されてい
る。第2の光源42は第1の光源40と同様に、ヘッド
50の下面へ向って光を照射し、すべての吸着孔54に
半田ボール5が正しく真空吸着されているか否か、すな
わち半田ボール5の落下の有無を検査する(図9を参
照)。
In FIG. 2, a second light source 42 is provided between the flux application section 6 and the guide rail 2. Similarly to the first light source 40, the second light source 42 emits light toward the lower surface of the head 50, and whether or not the solder balls 5 are correctly vacuum-sucked in all the suction holes 54, that is, whether the solder balls 5 A check is made to see if there is a drop (see FIG. 9).

【0023】この第2の光源42の設置理由は次のとお
りである。すなわち、ヘッド50を容器7の上方で上下
動作させて、その下面に真空吸着された半田ボール5を
フラックス9に着水させ、その下面にフラックス9を付
着させるが(図7(a)(b)を参照)、フラックス9
は粘性が大きいため、半田ボール5をフラックス9に着
水させると、その粘性のために半田ボール5は吸着孔5
4から落下することがある。このように半田ボール5が
脱落したヘッド50を基板3の上方へ移動させて、半田
ボール5を基板3に搭載すると、基板3は半田ボール5
が不足する不良品となってしまう。そこでヘッド50を
基板3へ移動させる途中において、第2の光源42と光
学センサ56により、すべての吸着孔54に半田ボール
5が正しく真空吸着されているか否かを検査する。すな
わち第2の光源42と光学センサ56は、半田ボール5
の落下の有無を検査する検査手段である。
The reason for installing the second light source 42 is as follows. That is, the head 50 is moved up and down above the container 7 so that the solder balls 5 that have been vacuum-adsorbed on the lower surface of the head 50 are brought into contact with the flux 9 and the flux 9 is attached to the lower surface (FIGS. 7A and 7B). )), Flux 9
Is so viscous that when the solder ball 5 is immersed in the flux 9, the viscosity of the solder ball 5 causes the suction hole 5
4 may fall. When the head 50 from which the solder balls 5 have fallen is moved above the substrate 3 and the solder balls 5 are mounted on the substrate 3, the substrate 3
Will be defective. Therefore, during the movement of the head 50 to the substrate 3, the second light source 42 and the optical sensor 56 inspect whether or not the solder balls 5 are correctly vacuum-sucked in all the suction holes 54. That is, the second light source 42 and the optical sensor 56
This is an inspection means for inspecting the presence or absence of a fall.

【0024】図2において、ガイドレール2と半田ボー
ルの供給部4の間には発光部43と受光部44が設けら
れている。図10に示すように、発光部43から受光部
44へ向って光が水平に照射される。ヘッド50は基板
3に半田ボール5を搭載した後、この発光部43と受光
部44の間をその光路に直交する方向へ移動して半田ボ
ールの供給部4上へ復帰するが、そのとき、ヘッド50
の下面に半田ボール5が残存付着していると光は遮ら
れ、受光部44は受光しない。また半田ボール5がすべ
て基板3に搭載され、ヘッド50の下面に半田ボール5
がまったく残存付着していないと、発光部43から照射
された光は受光部44に受光される。これにより、ヘッ
ド50の下面に半田ボール5が残存付着して保持してい
るか否か、すなわちヘッド50がすべての半田ボール5
を基板3に搭載したか否かの搭載ミスの有無を検査す
る。
In FIG. 2, a light emitting section 43 and a light receiving section 44 are provided between the guide rail 2 and the solder ball supply section 4. As shown in FIG. 10, light is emitted horizontally from the light emitting unit 43 to the light receiving unit 44. After the solder balls 5 are mounted on the substrate 3, the head 50 moves between the light emitting section 43 and the light receiving section 44 in a direction orthogonal to the optical path and returns to the solder ball supply section 4. Head 50
When the solder ball 5 remains on the lower surface of the device, the light is blocked and the light receiving section 44 does not receive the light. Also, all the solder balls 5 are mounted on the substrate 3, and the solder balls 5
Is not attached at all, the light emitted from the light emitting unit 43 is received by the light receiving unit 44. Thereby, whether or not the solder balls 5 remain and adhere to the lower surface of the head 50, that is, whether the head 50
A check is made to determine whether or not a mounting error has occurred on the substrate 3.

【0025】次に、図6を参照して制御系の説明を行
う。各ブロックA〜Dの各吸引空間Tに接続されたチュ
ーブ55は、バルブ60、61を介して真空ポンプ62
とブロア63に接続されている。各バルブ60、61は
バルブ駆動回路64で制御される。また光学センサ56
と受光部44は検出回路65に接続されている。66は
全体を制御する制御部であって、バルブ駆動回路64、
モータ駆動回路67、カメラ11に接続された位置検出
部68が接続されている。モータ駆動回路67は上記各
モータ14、27、32を制御する。図6から明らかな
ように、各ブロックA〜Dの各吸引空間Tは、互いに独
立したチューブ55、バルブ60、61などの配管系を
備えることにより、互いに独立して吸引・吸引解除の制
御が行われる。
Next, the control system will be described with reference to FIG. A tube 55 connected to each suction space T of each of the blocks A to D is connected to a vacuum pump 62 via valves 60 and 61.
And the blower 63. Each valve 60, 61 is controlled by a valve drive circuit 64. The optical sensor 56
And the light receiving section 44 are connected to a detection circuit 65. Reference numeral 66 denotes a control unit for controlling the whole, and a valve driving circuit 64
The motor drive circuit 67 and a position detection unit 68 connected to the camera 11 are connected. The motor drive circuit 67 controls the motors 14, 27, 32. As is clear from FIG. 6, each suction space T of each of the blocks A to D is provided with a piping system such as the tube 55 and the valves 60 and 61 which are independent of each other, so that the suction and suction release can be controlled independently of each other. Done.

【0026】このバンプ付電子部品の製造装置は上記の
ように構成されており、次に図1(f)に示す半田ボー
ル搭載を行うための動作を説明する。図2において、ヘ
ッド50は半田ボールの供給部4の上方へ移動する(矢
印イ)。そこでヘッド50は上下動作を行って、その4
つのブロックA〜Dのすべての下面の吸着孔54に複数
の半田ボール5を一括して真空吸着してピックアップす
る。なおヘッド50に上下動作を行わせる機構の説明は
省略している。
The manufacturing apparatus for an electronic component with bumps is constructed as described above. Next, the operation for mounting the solder balls shown in FIG. 1 (f) will be described. In FIG. 2, the head 50 moves above the solder ball supply unit 4 (arrow A). Then, the head 50 moves up and down, and
The plurality of solder balls 5 are collectively vacuum-sucked into the suction holes 54 on all lower surfaces of the blocks A to D and picked up. A description of a mechanism for causing the head 50 to perform the up-down operation is omitted.

【0027】図2において、次にヘッド50は左方(第
1の光源40の上方)へ移動し(矢印ロ)、図9を参照
しながら説明したように、半田ボール5のピックアップ
ミスの有無を検査する。ピックアップミスがあれば、ヘ
ッド50は半田ボールの供給部4の上方へ戻り(矢印
ハ)、そこで再度上下動作を行って、半田ボール5をピ
ックアップし、再度左方へ移動する(矢印ニ)。そして
第1の光源40の上方を通過してピックアップミスの有
無を再検査する。
In FIG. 2, the head 50 is then moved leftward (above the first light source 40) (arrow B), and as described with reference to FIG. To inspect. If there is a pick-up error, the head 50 returns above the solder ball supply unit 4 (arrow C), performs vertical movement again, picks up the solder ball 5, and moves leftward again (arrow d). Then, the light passes above the first light source 40 and is inspected again for the presence or absence of a pickup error.

【0028】ピックアップミスがなく、すべての吸着孔
54に半田ボール5が正しく真空吸着して保持されてい
るときは、ヘッド50は容器7の上方へ移動し、そこで
ヘッド50は上下動作を行って、その下面に真空吸着さ
れた半田ボール5の下面にフラックス9を付着させる。
図7(a)(b)は、その動作を示している。
When there is no pick-up error and the solder balls 5 are correctly held by vacuum suction in all the suction holes 54, the head 50 moves above the container 7, where the head 50 moves up and down. Then, the flux 9 is adhered to the lower surface of the solder ball 5 vacuum-adsorbed to the lower surface.
FIGS. 7A and 7B show the operation.

【0029】次に図2において、ヘッド50は容器7の
上方から第2の光源42の上方へ移動し(矢印ホ)、図
9を参照しながら説明したように、半田ボール5の落下
の有無を検査する。もし1個もしくはそれ以上の半田ボ
ール5がヘッド50の下面から落下していることが判明
したならば、ヘッド50は回収部19の上方へ移動し、
その下面に真空吸着している半田ボール5をすべて回収
部19に落下させる。すべての半田ボール5を落下させ
たヘッド50は、半田ボールの供給部4の上方へ移動
し、上述した動作をやり直す。
Next, in FIG. 2, the head 50 moves from above the container 7 to above the second light source 42 (arrow E), and as described with reference to FIG. To inspect. If it is found that one or more solder balls 5 are dropping from the lower surface of the head 50, the head 50 moves above the collecting unit 19,
All the solder balls 5 that are vacuum-adsorbed on the lower surface thereof are dropped into the collecting section 19. The head 50 having dropped all the solder balls 5 moves above the solder ball supply unit 4 and repeats the above operation.

【0030】さて、図2において、第2の光源42およ
び光学センサ56により半田ボール5の落下がなかった
ことが検出されたならば、ヘッド50は基板3の上方へ
移動し(矢印ヘ)、半田ボール5を基板3に搭載する。
次に、図4を参照して、キャリア10上の4枚の基板3
に対する半田ボール5の搭載動作を説明する。図4にお
いて、a、b、c、dは4つのブロックA〜Dにより半
田ボール5を搭載するときのキャリア10に対するヘッ
ド部52の位置を示している。すなわち、ヘッド部52
をa位置にすることにより、ブロックAの半田ボール5
を基板3の電極20上に搭載する。同様に、ヘッド部5
2をb位置、c位置、d位置にすることにより、ブロッ
クB、ブロックC、ブロックDの半田ボール5を基板3
に搭載する。この場合、ヘッド部52は矢印で示すよう
にキャリア10上をX方向やY方向へ水平移動する。勿
論、この移動はモータ27、32(図2)を駆動して行
う。
In FIG. 2, if it is detected by the second light source 42 and the optical sensor 56 that the solder ball 5 has not fallen, the head 50 moves above the substrate 3 (arrow F), The solder balls 5 are mounted on the substrate 3.
Next, with reference to FIG.
The mounting operation of the solder ball 5 for the above will be described. 4, a, b, c, and d show the position of the head 52 with respect to the carrier 10 when the solder balls 5 are mounted by the four blocks A to D. That is, the head 52
At the position a, the solder balls 5 of the block A
Is mounted on the electrode 20 of the substrate 3. Similarly, the head part 5
The solder balls 5 of the blocks B, C, and D are placed on the substrate 3 by setting the positions 2 to the positions b, c, and d.
To be mounted on. In this case, the head section 52 moves horizontally on the carrier 10 in the X direction and the Y direction as indicated by arrows. Of course, this movement is performed by driving the motors 27 and 32 (FIG. 2).

【0031】また例えばa位置において、ブロックAの
半田ボール5を基板3に搭載するときは、図6におい
て、ブロックAに接続された真空ポンプ62側のバルブ
60を閉じるとともに、ブロア63側のバルブ61を開
いてブロックAの吸引空間Tにエアを吹き込むことによ
り、ブロックAの吸着孔54に真空吸着されていた半田
ボール5の真空吸着状態を解除する。このとき他のブロ
ックB〜Dのバルブ60,61の状態はそのまま(真空
ポンプ62側のバルブ60は開、ブロア63側のバルブ
61は閉)であり、各ブロックB〜Dは半田ボール5の
真空吸着状態を保持する。以下同様にして、他のブロッ
クB〜Dの半田ボール5を基板3に搭載するときは、ブ
ロックAの場合と同様のバルブ60,61の開閉を行っ
ていく。このように、本装置は、半田ボールの供給部4
において、4つのブロックA〜Dに半田ボール5を一括
して同時に真空吸着したうえで、4個の基板3に次々に
半田ボール5を搭載していく。なお図8は、半田ボール
5を基板3の電極20に搭載している様子を示してい
る。
For example, when the solder ball 5 of the block A is mounted on the substrate 3 at the position a, the valve 60 on the vacuum pump 62 side connected to the block A is closed and the valve on the blower 63 side in FIG. By opening 61 and blowing air into the suction space T of the block A, the vacuum suction state of the solder ball 5 that has been vacuum suctioned to the suction hole 54 of the block A is released. At this time, the states of the valves 60 and 61 of the other blocks BD are unchanged (the valve 60 on the vacuum pump 62 side is open, and the valve 61 on the blower 63 side is closed). The vacuum suction state is maintained. Similarly, when the solder balls 5 of the other blocks B to D are mounted on the substrate 3, the valves 60 and 61 are opened and closed as in the case of the block A. As described above, the present apparatus is provided with the solder ball supply unit 4.
, The solder balls 5 are collectively vacuum-adsorbed simultaneously on the four blocks A to D, and then the solder balls 5 are mounted on the four substrates 3 one after another. FIG. 8 shows a state where the solder balls 5 are mounted on the electrodes 20 of the substrate 3.

【0032】図11は半田ボールの搭載動作のタイムチ
ャートであって、図11(a)は従来の半田ボールの搭
載動作のタイムチャート、図11(b)は上述した本実
施例の半田ボールの搭載動作のタイムチャートである。
図11(a)に示す従来方法では、「基板認識」「半田
ボールのピックアップ」「フラックス付着」「半田ボー
ルの基板への搭載」の一連の動作を、キャリア10上の
4枚の基板3について、一枚づつ個別に繰り返し行って
いたため、全体のタクトタイムが長くなり、作業能率が
あがらなかったものである。
FIG. 11 is a time chart of a solder ball mounting operation, FIG. 11 (a) is a time chart of a conventional solder ball mounting operation, and FIG. 11 (b) is a time chart of the solder ball of the present embodiment described above. It is a time chart of a mounting operation.
In the conventional method shown in FIG. 11A, a series of operations of “substrate recognition”, “pickup of solder balls”, “adhesion of flux”, and “mounting of solder balls on a substrate” are performed on four substrates 3 on a carrier 10. Since the repetition was performed individually one by one, the total tact time became longer, and the work efficiency was not improved.

【0033】これに対し本実施例では、図11(b)に
示すように、第1枚目の基板認識をした後、すべて(4
枚)の基板3についての半田ボールのピックアップとフ
ラックス付着を一括して行い、第1枚目の基板3に対す
る半田ボール5の搭載を行った後、第2枚目〜4枚目の
基板3については、基板認識と半田ボール5の搭載のみ
を行って次々に半田ボール5を搭載するので、図11
(a)に示す従来方法よりも、タクトタイムを大巾に短
縮できる。
On the other hand, in the present embodiment, as shown in FIG.
After picking up the solder balls and attaching the flux to the first substrate 3 at a time, and mounting the solder balls 5 on the first substrate 3, the second to fourth substrates 3 FIG. 11 shows that only the board recognition and the mounting of the solder balls 5 are performed and the solder balls 5 are mounted one after another.
Tact time can be greatly reduced as compared with the conventional method shown in FIG.

【0034】以上のようにして4枚の基板3に半田ボー
ルを搭載したならば、次にヘッド50は発光部43と受
光部44の手前へ移動し(図2矢印ト)、次に半田ボー
ルの供給部4へ向って移動する(矢印イ)。このとき、
図10を参照して説明したように、ヘッド50の下面に
半田ボール5が残存付着して保持していないか否かを検
査する。ここで、半田ボール5が残存付着しているのが
検出されたならば、この半田ボール5は基板3に搭載し
損ったもの、すなわち搭載ミスによるものであり、ヘッ
ド50は回収部19の上方へ移動してこの半田ボール5
を回収部19に落下させて回収する。なお半田ボール5
をヘッド50から回収部19へ落下させる場合には、図
6に示すバルブ60を閉じ、バルブ61を開いて、半田
ボール5の吸着状態を解除する。また上記基板3は、半
田ボール5が欠落しているので不良品であり、ライン外
へ除去される。次に、ヘッド50は半田ボールの供給部
4の上方へ移動し(矢印イ)、上述した動作が繰り返さ
れる。また半田ボール5が正しく搭載された基板3は、
ガイドレール2に沿って次の工程へ向って搬送される。
After the solder balls are mounted on the four substrates 3 as described above, the head 50 moves to a position short of the light emitting section 43 and the light receiving section 44 (arrow G in FIG. 2). To the supply unit 4 (arrow a). At this time,
As described with reference to FIG. 10, it is inspected whether the solder balls 5 remain on the lower surface of the head 50 and are not held. Here, if it is detected that the solder ball 5 is remaining attached, the solder ball 5 has failed to be mounted on the board 3, that is, due to a mounting error, and the head 50 This solder ball 5 moves upward.
Is dropped into the collection unit 19 and collected. Note that solder balls 5
Is dropped from the head 50 to the collection unit 19, the valve 60 shown in FIG. 6 is closed and the valve 61 is opened to release the suction state of the solder ball 5. The substrate 3 is defective because the solder balls 5 are missing, and is removed outside the line. Next, the head 50 moves above the solder ball supply unit 4 (arrow A), and the above-described operation is repeated. The board 3 on which the solder balls 5 are correctly mounted is
It is transported along the guide rail 2 toward the next step.

【0035】図12は、本発明の他の実施例のキャリア
の斜視図である。このキャリア70は多面取り基板であ
って、電極20上にバンプを形成した後、鎖線に沿って
切断することにより、4枚の基板3’が得られるもので
ある。上記キャリア10に替えて、このキャリア70を
ガイドレール2に位置決めすることにより、上述した実
施例と同様に、電極20上に半田ボール5を搭載する。
FIG. 12 is a perspective view of a carrier according to another embodiment of the present invention. The carrier 70 is a multiple-panel substrate. After forming bumps on the electrodes 20, the carrier 70 is cut along a chain line to obtain four substrates 3 '. By positioning the carrier 70 on the guide rail 2 instead of the carrier 10, the solder balls 5 are mounted on the electrodes 20 as in the above-described embodiment.

【0036】以上のようにこのバンプ付電子部品の製造
装置によれば、ヘッドが供給部の半田ボールをピックア
ップし、半田ボールにフラックスを付着させて複数枚の
基板に搭載するまでの一連の作業を自動的に連続して行
うことができる。また半田ボールのピックアップミスや
途中での落下、あるいは基板への搭載ミスの有無を各工
程の間においてその都度速かに検出し、もしもこれらの
ミスがあったときには、速かにリカバリー動作を行うこ
とができる。
As described above, according to the apparatus for manufacturing an electronic component with bumps, the head picks up the solder balls in the supply section, attaches the flux to the solder balls, and mounts the solder balls on a plurality of substrates. Can be automatically and continuously performed. In addition, the presence / absence of a solder ball pick-up error, a drop in the middle, or a mounting error on a substrate is quickly detected during each process, and if such a mistake is detected, a recovery operation is quickly performed. be able to.

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明によれば、ヘッドが半田ボールの
供給部の半田ボールをピックアップしてから複数個のワ
ークに搭載するまでの全工程を作業性よく行うことがで
き、タクトタイムを大巾に短縮できる。
According to the present invention, the whole process from picking up the solder ball of the supply portion of the solder ball by the head to mounting it on a plurality of works can be performed with good workability, and the tact time can be increased. Can be shortened to width.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造工
程図
FIG. 1 is a manufacturing process diagram of an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置の平面図
FIG. 2 is a plan view of an apparatus for manufacturing a bumped electronic component according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置の側面図
FIG. 3 is a side view of an apparatus for manufacturing a bumped electronic component according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置のヘッドとキャリアの斜視図
FIG. 4 is a perspective view of a head and a carrier of the apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to one embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置のヘッドの断面図
FIG. 5 is a cross-sectional view of a head of an apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置の制御系のブロック図
FIG. 6 is a block diagram of a control system of the apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to one embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置の半田ボールの下面にフラックスを塗布中の要部断面
FIG. 7 is a cross-sectional view of a main part of a device for manufacturing an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention, in which flux is applied to the lower surface of a solder ball;

【図8】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置の半田ボールを基板の電極に搭載中の要部断面図
FIG. 8 is a cross-sectional view of a main part of a manufacturing apparatus for an electronic component with bumps according to one embodiment of the present invention, in which a solder ball is being mounted on an electrode of a substrate.

【図9】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造装
置のヘッドと第1の光源の正面図
FIG. 9 is a front view of a head and a first light source of the apparatus for manufacturing an electronic component with bumps according to one embodiment of the present invention.

【図10】本発明の一実施例のバンプ付電子部品の製造
装置のヘッドと発光部および受光部の正面図
FIG. 10 is a front view of a head, a light emitting unit, and a light receiving unit of a manufacturing apparatus of an electronic component with bumps according to an embodiment of the present invention.

【図11】(a)従来の半田ボールの搭載動作のタイム
チャート (b)本発明の一実施例の半田ボールの搭載動作のタイ
ムチャート
11A is a time chart of a conventional solder ball mounting operation. FIG. 11B is a time chart of a solder ball mounting operation according to one embodiment of the present invention.

【図12】本発明の他の実施例のキャリアの斜視図FIG. 12 is a perspective view of a carrier according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 ガイドレール(ワークの位置決め部) 3、3’ 基板(ワーク) 4 半田ボールの供給部 5 半田ボール 6 フラックスの塗布部 7 容器 8 平滑ヘッド 9 フラックス 10、70 キャリア 11 ガイドレール 13 送りねじ 14 モータ 18a、18b スキージ 19 回収部 25 送りねじ 27 モータ 28 ナット 31 送りねじ 32 モータ 40 第1の光源 42 第2の光源 43 発光部 44 受光部 50 ヘッド 54 吸着孔 55 チューブ 60、61 バルブ 62 真空ポンプ 63 ブロア A、B、C、D ブロック T 吸引空間 2 Guide rail (work positioning part) 3, 3 'substrate (work) 4 Solder ball supply part 5 Solder ball 6 Flux application part 7 Container 8 Smooth head 9 Flux 10, 70 Carrier 11 Guide rail 13 Feed screw 14 Motor 18a, 18b Squeegee 19 Collection unit 25 Feed screw 27 Motor 28 Nut 31 Feed screw 32 Motor 40 First light source 42 Second light source 43 Light emitting unit 44 Light receiving unit 50 Head 54 Suction hole 55 Tube 60, 61 Valve 62 Vacuum pump 63 Blower A, B, C, D Block T Suction space

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 3/34 505 B23K 3/06 H01L 21/60 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H05K 3/34 505 B23K 3/06 H01L 21/60

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数個のワークにそれぞれ対応する複数の
ブロックに分割され、かつ各々のブロックに互いに独立
した真空吸引手段を備えたヘッドが半田ボールの供給部
に備えられた半田ボールを真空吸着してピックアップす
る工程と、このヘッドが位置決め部に位置決めされた複
数個のワークの上方へ移動する工程と、前記複数個のブ
ロックが各々のワークの真上に位置するように前記ヘッ
ドを各々のワークに対して相対的に水平移動させ、各々
のワークに対応するブロック毎に半田ボールの真空吸着
状態を解除して各々のワークに半田ボールを搭載する工
程と、を含むことを特徴とするバンプ付電子部品の製造
方法。
1. A head which is divided into a plurality of blocks respectively corresponding to a plurality of workpieces and has vacuum suction means independent of each other in each block vacuum-adsorbs a solder ball provided in a solder ball supply section. Picking up, moving the head over a plurality of works positioned at the positioning unit, and positioning the heads so that the plurality of blocks are positioned directly above each work. A step of horizontally moving relative to the work, releasing the vacuum suction state of the solder ball for each block corresponding to each work, and mounting the solder ball on each work. Of manufacturing electronic components
【請求項2】バンプ形成用の電極をワークに形成する工
程と、複数個のワークにそれぞれ対応する複数のブロッ
クに分割され、かつ各々のブロックに互いに独立した真
空吸引手段を備えたヘッドが半田ボールの供給部に備え
られた半田ボールを真空吸着してピックアップする工程
と、このヘッドが位置決め部に位置決めされた複数個の
ワークの上方へ移動する工程と、前記複数個のブロック
が各々のワークの真上に位置するように前記ヘッドを各
々のワークに対して相対的に水平移動させ、各々のワー
クに対応するブロック毎に半田ボールの真空吸着状態を
解除して各々のワークに半田ボールを搭載する工程と、
を含むことを特徴とするバンプ付電子部品の製造方法。
A step of forming an electrode for forming a bump on a workpiece; and a step of dividing a head into a plurality of blocks each corresponding to a plurality of workpieces, each of which being provided with vacuum suction means independent of each other. A step of vacuum-sucking and picking up a solder ball provided in a ball supply unit; a step of moving the head over a plurality of works positioned at a positioning unit; The head is moved horizontally relative to each work so as to be located directly above the work, the vacuum suction state of the solder balls is released for each block corresponding to each work, and the solder balls are applied to each work. Mounting process,
A method of manufacturing an electronic component with bumps, comprising:
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