JPH07307343A - Bonding equipment for solder balls and bonding method - Google Patents

Bonding equipment for solder balls and bonding method

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JPH07307343A
JPH07307343A JP9963594A JP9963594A JPH07307343A JP H07307343 A JPH07307343 A JP H07307343A JP 9963594 A JP9963594 A JP 9963594A JP 9963594 A JP9963594 A JP 9963594A JP H07307343 A JPH07307343 A JP H07307343A
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solder balls
solder ball
suction head
suction
solder
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Mitsuru Osono
満 大園
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3478Applying solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns

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  • Specific Conveyance Elements (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide bonding equipment for solder balls, which can judge whether solder balls in a vessel are surely vacuum-sucked and picked up by the suction holes of a suction head, and whether the picked up solder balls are surely transferred on a board or a chip, when the solder balls are bonded on the board or the chip and a bonding method. CONSTITUTION:Electrodes 70a which become electrically continuous or discontinuous according to whether solder balls exist are formed in the suction holes 4 of a suction head 3 which vacuum-sucks the solder balls. When the solder balls are vacuum-sucked in the suction holes 4, an electric current flows in the detector 73 of an electric circuit involving the electrodes 70a, and it is detected that the solder balls are vacuum-sucked.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、チップや基板などのワ
ークの表面に、バンプとなる半田ボールをボンディング
する半田ボールのボンディング装置およびボンディング
方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solder ball bonding apparatus and a bonding method for bonding solder balls to be bumps to the surface of a work such as a chip or a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】チップや基板の表面に半田ボールをボン
ディングし、次いで半田ボールを加熱して溶融固化させ
てバンプ(突出電極)を形成することが知られている。
図9は従来の半田ボールのボンディング装置の側面図で
ある。バンプの素材である半田ボール1が容器2に貯溜
されている。3は吸着ヘッドであって、昇降手段(図示
せず)に駆動されて昇降動作を行うことにより、その下
面に開孔された吸着孔に半田ボール1を真空吸着し、往
復移動手段(図示せず)に駆動されて水平移動すること
により、クランパ44でクランプして位置決めされた基
板45などのワークの上方へ移動し、そこで再度昇降動
作を行うことにより、半田ボール1を基板の所定位置に
ボンディングするようになっている。
2. Description of the Related Art It is known that solder balls are bonded to the surface of a chip or a substrate, and then the solder balls are heated to melt and solidify to form bumps (protruding electrodes).
FIG. 9 is a side view of a conventional solder ball bonding apparatus. Solder balls 1 that are the material of the bumps are stored in a container 2. Denoted at 3 is a suction head, which is driven by an ascending / descending means (not shown) to perform an ascending / descending operation so that the solder balls 1 are vacuum-sucked to the suction holes formed in the lower surface thereof and reciprocating means (not shown). Driven horizontally to move above the work such as the board 45 clamped and positioned by the clamper 44, and then moved up and down again to bring the solder ball 1 to a predetermined position on the board. It is designed to be bonded.

【0003】吸着ヘッド3の下面には吸着孔が多数開孔
されており、すべての吸着孔に半田ボール1を真空吸着
し、基板45にボンディングしなければならない。そこ
で従来は、吸着ヘッド3の移動路の下方にカメラ7を設
置し、カメラ7により吸着ヘッド3の下面を観察して、
すべての吸着孔に半田ボール1が真空吸着されているか
どうかを画像処理により判定し、OKであればそのまま
吸着ヘッド3は基板45の上方へ移動して半田ボール1
を基板45にボンディングしていた。
A large number of suction holes are formed on the lower surface of the suction head 3, and the solder balls 1 must be vacuum-sucked to all the suction holes and bonded to the substrate 45. Therefore, conventionally, a camera 7 is installed below the moving path of the suction head 3, and the lower surface of the suction head 3 is observed by the camera 7,
It is determined by image processing whether or not the solder balls 1 are vacuum-sucked in all the suction holes, and if OK, the suction head 3 moves directly above the substrate 45 to move the solder balls 1
Was bonded to the substrate 45.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
手段では、カメラ7の画像のちらつきやノイズなどのた
めに誤判定しやすいという問題点があた。また半田ボー
ル1はきわめて多数個(一般に数10個以上)真空吸着
される場合が多く、このためすべての吸着孔について半
田ボール1が真空吸着されているかどうかを検査するた
めにかなりの時間を要し、作業能率があがらないという
問題点があった。
However, the above-mentioned conventional means has a problem that an erroneous determination is likely to occur due to the flicker and noise of the image of the camera 7. In addition, an extremely large number (generally, several tens or more) of the solder balls 1 are vacuum-adsorbed in many cases. Therefore, it takes a considerable time to inspect whether or not the solder balls 1 are vacuum-adsorbed in all the adsorption holes. However, there was a problem that work efficiency did not increase.

【0005】また検査結果がNGの場合には、吸着ヘッ
ド3を容器2の上方へ復帰させ、そこで再度昇降動作を
行わせて、真空吸着ミスをした吸着孔に半田ボール1を
真空吸着させねばならないため、多大なロスタイムが生
じてしまい、益々作業能率があがらないものであった。
更には、カメラ7の設置スペースが必要なため、ボンデ
ィング装置全体が大型化し、また吸着ヘッド3は基板4
5の上方へ移動する前に、カメラ7の上方へ移動させね
ばならないため、吸着ヘッド3の移動ストロークはそれ
だけ長くなり、タクトタイムが長くなって作業能率があ
がらないものであった。
If the inspection result is NG, the suction head 3 is returned to the upper side of the container 2, and the raising / lowering operation is performed again there. Since this is not the case, a large amount of lost time is generated, and the work efficiency is not improved.
Furthermore, since the installation space for the camera 7 is required, the entire bonding apparatus becomes large, and the suction head 3 is attached to the substrate 4
Since the camera 7 must be moved above the camera 7 before it is moved above 5, the moving stroke of the suction head 3 becomes longer, and the takt time becomes longer, resulting in a poor work efficiency.

【0006】また吸着ヘッドがピックアップした半田ボ
ールは、必ずしもそのすべてがワークに移載されるもの
とは限らず、移載ミスによって吸着ヘッドの吸着孔に残
存付着したままになる半田ボールも生じるが、その場
合、ワークは半田ボールが欠落した不良品となる。とこ
ろが従来、このような移載ミスを自動検出する手段はな
かったため、移載ミスにともなうトラブルや、ワークの
不良品が発生しやすいものであった。
Further, all the solder balls picked up by the suction head are not always transferred onto the work, and some solder balls may remain attached to the suction holes of the suction head due to a transfer error. In that case, the work becomes a defective product in which the solder balls are missing. However, conventionally, there is no means for automatically detecting such a transfer error, so that a trouble associated with the transfer error or a defective work piece is likely to occur.

【0007】そこで本発明は上記従来の問題点を解消
し、運転の信頼性の高い半田ボールのボンディング装置
およびボンディング方法を提供することを目的とする。
詳しくは、吸着ヘッドが半田ボールのピックアップミス
をしたかどうかを的確に判定できる手段を備えた半田ボ
ールのボンディング装置およびボンディング方法を提供
することを目的とする。また吸着ヘッドがピックアップ
した半田ボールをワークにすべて移載ミスなくボンディ
ングしたかどうかを簡単に判定できる半田ボールのボン
ディング装置およびボンディング方法を提供することを
目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to solve the above conventional problems and provide a solder ball bonding apparatus and bonding method with high reliability in operation.
More specifically, it is an object of the present invention to provide a solder ball bonding apparatus and a bonding method, which are provided with means for accurately determining whether or not the suction head has made a solder ball pickup error. It is another object of the present invention to provide a solder ball bonding apparatus and a bonding method capable of easily determining whether or not all the solder balls picked up by a suction head have been bonded to a work without a transfer error.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、吸
着ヘッドの下面に複数開孔された吸着孔に真空吸着され
た半田ボールにより導通する電極を吸着孔に設けるとと
もに、この電極の導通・不導通を検出する検出手段とを
設けたものである。
To this end, according to the present invention, an electrode which is electrically connected by a solder ball vacuum-adsorbed in a plurality of adsorption holes formed on the lower surface of the adsorption head is provided in the adsorption hole, and the conduction of the electrodes is achieved. A detection means for detecting non-conduction is provided.

【0009】[0009]

【作用】上記構成によれば、吸着ヘッドがすべての吸着
孔に半田ボールを真空吸着したか否かを迅速に検出で
き、ピックアップミスがないことを確認したうえで基板
などのワークへ向って移動できるので、ロスタイムを無
くし、高速度で作業性よく半田ボールのワークに対する
ボンディングを行うことができる。また吸着ヘッドが真
空吸着した半田ボールを、すべてワークに移載してボン
ディングしたか否かも簡単に判定できる。
According to the above construction, it is possible to quickly detect whether or not the suction head has vacuum-sucked the solder balls in all the suction holes, and after confirming that there is no pickup error, the suction head moves toward the work such as the substrate. Therefore, the loss time can be eliminated, and the solder ball can be bonded to the work at a high speed and with good workability. Further, it can be easily determined whether or not all the solder balls vacuum-sucked by the suction head are transferred to the work and bonded.

【0010】[0010]

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。図1は本発明の第一実施例の半田ボールのボ
ンディング装置の側面図、図2は同半田ボールのボンデ
ィング装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線された
電気回路図、図3は同吸着ヘッドの吸着孔付近の部分拡
大断面図である。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a side view of a solder ball bonding apparatus according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an electric circuit diagram wired at the bottom of a suction head provided in the solder ball bonding apparatus, and FIG. FIG. 6 is a partially enlarged cross-sectional view of the vicinity of a suction hole of a head.

【0011】図1において、11は半田ボールの供給部
としての容器であり、半田ボール1が貯溜されている。
12は基台であって、弾性支持部13により容器11を
側方と下方から揺動自在に弾持している。14は超音波
振動手段としての圧電素子などの振動子であって、容器
11の下面に装着されている。この振動子14は高周波
電圧が印加されると超音波振動し、容器11も超音波振
動して、これに貯溜された半田ボール1は流動化する。
この高周波電圧の大きさを調整することにより、容器1
1の超音波振動の大きさを調整できる。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a container serving as a solder ball supply unit, in which the solder balls 1 are stored.
Reference numeral 12 denotes a base, which elastically supports the container 11 so that the container 11 can swing from the side and the bottom. Reference numeral 14 denotes a vibrator such as a piezoelectric element as an ultrasonic vibration means, which is mounted on the lower surface of the container 11. The vibrator 14 ultrasonically vibrates when a high-frequency voltage is applied, and the container 11 also ultrasonically vibrates, and the solder balls 1 stored therein are fluidized.
By adjusting the magnitude of this high-frequency voltage, the container 1
The magnitude of ultrasonic vibration 1 can be adjusted.

【0012】15は半田ボールの供給装置であって、パ
イプ16を通して半田ボール1を容器11に供給する。
容器11には光学センサ47などの半田ボール1の残量
検出センサが設けられており、容器11内の半田ボール
1の残量が少なくなったことが検出されたならば、半田
ボール1を供給する。17は供給装置15の台部であ
る。
Reference numeral 15 denotes a solder ball supply device, which supplies the solder ball 1 to the container 11 through a pipe 16.
The container 11 is provided with a sensor for detecting the remaining amount of the solder ball 1 such as an optical sensor 47, and when it is detected that the amount of the solder ball 1 in the container 11 is low, the solder ball 1 is supplied. To do. Reference numeral 17 is a base of the supply device 15.

【0013】吸着ヘッド3の下面には、半田ボール1の
吸着孔4がマトリスク状に多数開孔されている(図2も
参照)。この吸着ヘッド3は、支軸18、チューブ19
などを介してバキューム装置20に接続されており、バ
キューム装置20が駆動することにより半田ボール1を
吸着孔4に真空吸着し、また真空吸着状態を解除する。
53はチューブ19の吸引路を開閉するバルブ、55は
真空圧を検出する圧力センサである。
A large number of suction holes 4 for the solder balls 1 are formed on the lower surface of the suction head 3 in a matrisk shape (see also FIG. 2). The suction head 3 includes a support shaft 18 and a tube 19.
The solder ball 1 is vacuum-sucked to the suction holes 4 and is released from the vacuum suction state by being driven by the vacuum device 20.
Reference numeral 53 is a valve that opens and closes the suction passage of the tube 19, and 55 is a pressure sensor that detects vacuum pressure.

【0014】21は吸着ヘッド3の保持ブロックであっ
て、吸着ヘッド3の支軸18はこの保持ブロック21に
保持されている。22は可動ブロックであって、その前
面にはガイドレール23が2本垂直に配設されており、
保持ブロック21はこのガイドレール23に昇降自在に
装着されている。保持ブロック21の側部にはナット2
4が設けられており、ナット24には垂直な送りねじ2
5が螺入されている。可動ブロック22に設けられたモ
ータ26に駆動されて送りねじ25が回転すると、保持
ブロック21や吸着ヘッド3は昇降動作を行う。すなわ
ちナット24、送りねじ25、モータ26は吸着ヘッド
3に昇降動作を行わせる昇降手段となっている。
Reference numeral 21 is a holding block of the suction head 3, and the support shaft 18 of the suction head 3 is held by the holding block 21. Reference numeral 22 denotes a movable block, and two guide rails 23 are vertically arranged on the front surface of the movable block.
The holding block 21 is mounted on the guide rail 23 so as to be vertically movable. The nut 2 is provided on the side of the holding block 21.
4 and the nut 24 has a vertical feed screw 2
5 is screwed in. When the feed screw 25 is rotated by being driven by the motor 26 provided in the movable block 22, the holding block 21 and the suction head 3 move up and down. That is, the nut 24, the feed screw 25, and the motor 26 serve as an elevating unit that causes the suction head 3 to perform an elevating operation.

【0015】30は移動テーブルであって、可動ブロッ
ク22はこの移動テーブル30に横方向にスライド自在
に装着されている。移動テーブル30の側部にはモータ
31が取り付けられており、このモータ31が駆動する
と、移動テーブル30に内蔵された送りねじ32が回転
し、可動ブロック22は送りねじ32に沿って横方向に
往復移動する。すなわちこの移動テーブル30は、吸着
ヘッド3の往復移動手段となっている。
Reference numeral 30 denotes a movable table, and the movable block 22 is mounted on the movable table 30 slidably in the lateral direction. A motor 31 is attached to a side portion of the moving table 30, and when the motor 31 is driven, a feed screw 32 incorporated in the moving table 30 rotates, and the movable block 22 moves laterally along the feed screw 32. Move back and forth. That is, the moving table 30 serves as a means for reciprocating the suction head 3.

【0016】40は位置決め部であって、底台41と、
Xテーブル42と、Yテーブル43を段積して構成され
ている。Yテーブル43上にはクランパ44が設けられ
ており、基板45を左右からクランプして位置決めす
る。吸着ヘッド3は、移動テーブル30により、容器1
1と位置決め部40の間を往復移動する。
Numeral 40 is a positioning portion, which includes a base 41 and
The X table 42 and the Y table 43 are stacked. A clamper 44 is provided on the Y table 43, and the substrate 45 is clamped from the left and right to be positioned. The suction head 3 is moved by the moving table 30 into the container 1
It reciprocates between 1 and the positioning unit 40.

【0017】次に図2および図3を参照しながら、吸着
孔4に真空吸着された半田ボール1の検出手段について
説明する。すべての吸着孔4の縁部には、それぞれ2個
の電極70aが設けられている。吸着孔4が半田ボール
1を真空吸着すれば、電極70a,70aは半田ボール
1に接触して電気的に導通し、また半田ボール1を真空
吸着していなければ電気的に不導通である。本発明の第
一実施例では、図2に示すように各々の縦列A,B,
C,Dのそれぞれ計4個の吸着孔4毎に直列回路を構成
しており、それぞれ独立したスイッチ71a,71b,
71c,71dにより電源72および検出器73に接続
されている。なお、図2において、電極70aや電気回
路は理解しやすいように模型的に描いている。
Next, with reference to FIGS. 2 and 3, a description will be given of the means for detecting the solder balls 1 vacuum-sucked in the suction holes 4. Two electrodes 70a are provided on the edges of all the adsorption holes 4, respectively. If the suction holes 4 vacuum-suck the solder balls 1, the electrodes 70a, 70a are in electrical contact with the solder balls 1 and are electrically non-conductive unless the solder balls 1 are vacuum-sucked. In the first embodiment of the invention, as shown in FIG. 2, each of the columns A, B,
A series circuit is configured for each of the four adsorption holes 4 of C and D, and independent switches 71a, 71b,
The power source 72 and the detector 73 are connected by 71c and 71d. In FIG. 2, the electrode 70a and the electric circuit are drawn in a model for easy understanding.

【0018】A列の4つの吸着孔4にすべて半田ボール
1が真空吸着されていれば、スイッチ71aを閉じる
と、A列を含む閉ループに電流が流れて検出器73に検
出され、すべての吸着孔4に半田ボール1が真空吸着さ
れていることが判る。また電流が検出されなければ、A
列の4つの吸着孔4のうちの少なくとも1つが、半田ボ
ール1を真空吸着していないことが判る。同様に、B
列、C列、D列についても、それぞれのスイッチ71
b,71c,71dを順に開閉していくことにより、半
田ボール1の真空吸着の有無を判定できる。
If the solder balls 1 are all vacuum-adsorbed in the four adsorption holes 4 in the row A, when the switch 71a is closed, a current flows in the closed loop including the row A and is detected by the detector 73. It can be seen that the solder balls 1 are vacuum-sucked in the holes 4. If no current is detected, A
It can be seen that at least one of the four suction holes 4 in the row does not vacuum-suck the solder ball 1. Similarly, B
The switches 71 for the columns C, D
By sequentially opening and closing b, 71c, 71d, the presence or absence of vacuum suction of the solder ball 1 can be determined.

【0019】この半田ボールのボンディング装置は上記
のように構成されており、次に全体の動作を説明する。
図1において、モータ26が正回転すると、吸着ヘッド
3は下降する。そのとき、振動子14が駆動することに
より容器11は超音波振動して、その内部に貯溜された
半田ボール1は流動している。そこで吸着ヘッド3が下
降することにより、吸着孔4に半田ボール1が真空吸着
される。その間、図2に示す各スイッチ71a,71
b,71c,71dを順に開閉し、検出器73で電流を
検出する。各縦列A,B,C,Dのすべての回路に電流
が流れれば、すべての吸着孔4に半田ボール1が真空吸
着されたものと判定する。このような判定は、コンピュ
ータの周知処理技術により簡単に行うことができる。そ
こでモータ26が逆回転することにより、吸着ヘッド3
は上昇し、半田ボール1はピックアップされる。
The solder ball bonding apparatus is constructed as described above. Next, the overall operation will be described.
In FIG. 1, when the motor 26 rotates forward, the suction head 3 moves down. At that time, when the vibrator 14 is driven, the container 11 is ultrasonically vibrated, and the solder balls 1 stored therein flow. Then, the suction head 3 is lowered, so that the solder ball 1 is vacuum-sucked to the suction hole 4. Meanwhile, the switches 71a and 71 shown in FIG.
b, 71c, 71d are sequentially opened and closed, and the detector 73 detects the current. If a current flows through all the circuits in each of the columns A, B, C, D, it is determined that the solder balls 1 are vacuum-sucked in all the suction holes 4. Such a determination can be easily made by a well-known processing technique of a computer. Then, the motor 26 rotates in the reverse direction, so that the suction head 3
Goes up and the solder ball 1 is picked up.

【0020】次に図1において、モータ31が正回転す
ることにより、吸着ヘッド3は基板45の上方へ移動
し、そこでモータ26が正回転することにより、吸着ヘ
ッド3は下降して半田ボール1を基板45の上面に搭載
する。次にバキューム装置20による真空吸着状態を解
除して吸着ヘッド3は上昇し、モータ31が逆回転する
ことにより、吸着ヘッド3は容器11の上方へ復帰す
る。基板45の上面には図示しない手段によってフラッ
クスが予め塗布されており、このフラックスの粘着力に
より半田ボール1は基板45にボンディングされる。
Next, in FIG. 1, when the motor 31 rotates in the forward direction, the suction head 3 moves above the substrate 45, and the motor 26 rotates in the forward direction, so that the suction head 3 descends and the solder ball 1 moves. Are mounted on the upper surface of the substrate 45. Next, the vacuum suction state by the vacuum device 20 is released, the suction head 3 rises, and the motor 31 rotates in the reverse direction, whereby the suction head 3 returns to above the container 11. Flux is previously applied to the upper surface of the substrate 45 by means not shown, and the solder balls 1 are bonded to the substrate 45 by the adhesive force of this flux.

【0021】以上の動作が繰り返されることにより、基
板45の上面に半田ボール1が次々にボンディングされ
る。ボンディングされた半田ボール1は、後工程で加熱
されて溶融し、バンプとなる。なおスイッチ71a〜7
1dを開閉して半田ボール1の有無を検出するタイミン
グは、ピックアップ動作をしてから基板45に移載して
ボンディングするまでの間であればいつでもよいもので
あるが、ピックアップ動作中に行えば、ピックアップミ
スをリアルタイムで迅速に検出できるので、ピクアップ
動作中に行うことが望ましい。さらには、すべての吸着
孔4が半田ボール1を真空吸着したことを確認した後
で、吸着ヘッド4の上昇動作、あるいは基板45への移
動動作を開始することが望ましく、このようにすれば不
良品の基板45が発生するのを未然に防止できる。
By repeating the above operation, the solder balls 1 are bonded to the upper surface of the substrate 45 one after another. The bonded solder ball 1 is heated and melted in a later process to form a bump. The switches 71a to 7
The timing of detecting the presence or absence of the solder ball 1 by opening and closing 1d may be any time between the pickup operation and the time of transferring and bonding to the substrate 45 and bonding, but if it is performed during the pickup operation. Since it is possible to quickly detect a pickup error in real time, it is desirable to perform it during the pick-up operation. Furthermore, it is desirable to start the raising operation of the suction head 4 or the movement operation to the substrate 45 after confirming that all the suction holes 4 have vacuum-sucked the solder balls 1. This is not preferable. It is possible to prevent the generation of the non-defective substrate 45.

【0022】図4は本発明の第二実施例の半田ボールの
ボンディング装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線
された電気回路図である。本発明の第二実施例では、吸
着ヘッド3の吸着孔4に設けられた電極70a、スイッ
チ71、電源72、検出器73はすべて直列に接続され
ている。したがって総計16の吸着孔4のうち、何れか
一つでもピックアップミスをした場合には、電気回路は
閉じないので、検出器73には電流は流れず、ピックア
ップミスしたことを検出できる。
FIG. 4 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the second embodiment of the present invention. In the second embodiment of the present invention, the electrode 70a provided in the suction hole 4 of the suction head 3, the switch 71, the power source 72, and the detector 73 are all connected in series. Therefore, if any one of the suction holes 4 of the total 16 makes a pickup error, the electric circuit is not closed, so that no current flows through the detector 73, and it is possible to detect that a pickup error has occurred.

【0023】図5は本発明の第三実施例の半田ボールの
ボンディング装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線
された電気回路図である。後述するように、この電気回
路は、吸着ヘッド3が真空吸着してピックアップしたす
べて(本実施例では16個)の半田ボール1を、基板4
5に移載ミスなくすべて移載したかどうかを、移載動作
の後で判定するための電気回路である。本発明の第三実
施例では、電極70bは吸着孔4の両側部に設けられて
いる。また図示するように各縦列A,B,C,D毎に並
列回路が形成されている。また各縦列A,B,C,Dの
並列回路は、それぞれスイッチ71a〜71dを介して
電源72や検出器73に接続されている。したがって各
縦列A,B,C,Dの並列回路において、何れかの吸着
孔4に半田ボール1が1個でも真空吸着されていれば、
電流は流れて検出器73に検出できる。
FIG. 5 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the third embodiment of the present invention. As will be described later, in this electric circuit, all (16 in this embodiment) solder balls 1 picked up by the suction head 3 by vacuum suction are connected to the substrate 4.
5 is an electric circuit for determining whether or not all the data have been transferred without any transfer error after the transfer operation. In the third embodiment of the present invention, the electrodes 70b are provided on both sides of the adsorption hole 4. Further, as shown in the drawing, a parallel circuit is formed for each of the columns A, B, C, D. The parallel circuit of each column A, B, C, D is connected to the power source 72 and the detector 73 via the switches 71a to 71d, respectively. Therefore, in the parallel circuit of each of the columns A, B, C, D, if even one solder ball 1 is vacuum-sucked to any suction hole 4,
A current flows and can be detected by the detector 73.

【0024】この電気回路は、吸着ヘッド3が基板45
への半田ボール1の移載動作を行った後で動作する。す
なわち図1において、半田ボール1を真空吸着してピッ
クアップした吸着ヘッド3は、基板45の上方へ移動
し、そこで再度昇降動作を行って半田ボール1を基板4
5に移載してボンディングするが、その場合、すべての
半田ボール1が吸着ヘッド3から基板45へ移載される
とは限らず、吸着ヘッド3に付着したまま残存する場合
も生じる。すると基板45は半田ボール1が一部欠落し
た不良品になってしまう。
In this electric circuit, the suction head 3 is mounted on the substrate 45.
It is operated after the transfer operation of the solder ball 1 to and from. That is, in FIG. 1, the suction head 3 that picks up the solder ball 1 by vacuum suction moves to the upper side of the substrate 45, and then performs the raising / lowering operation again to hold the solder ball 1 on the substrate 4.
However, in this case, not all of the solder balls 1 are transferred from the suction head 3 to the substrate 45, and the solder balls 1 may remain attached to the suction head 3. Then, the substrate 45 becomes a defective product in which the solder balls 1 are partially missing.

【0025】そこで本発明の第三実施例では、吸着ヘッ
ド3が基板45に対する半田ボール1の移載動作を行っ
た後、スイッチ71a〜71bを順に開閉する。そして
何れの場合も検出器73が電流を検出しなければ、半田
ボール1はすべて基板45に移載されたことが判る。ま
た検出器73が電流を検出したならば、少なくとも1個
の半田ボール1が何れかの吸着孔4に残存付着してお
り、移載ミスがあったことが判る。図5において、鎖線
で示すC列の半田ボール1は、移載ミスにより吸着孔4
に付着したままのものを示している。
Therefore, in the third embodiment of the present invention, after the suction head 3 carries out the transfer operation of the solder balls 1 on the substrate 45, the switches 71a-71b are opened and closed in order. In any case, if the detector 73 does not detect the current, it can be seen that all the solder balls 1 have been transferred to the substrate 45. If the detector 73 detects a current, it can be seen that at least one solder ball 1 remains attached to any of the suction holes 4 and there is a transfer error. In FIG. 5, the solder balls 1 in the row C shown by the chain line are attracted by the suction holes 4 due to a transfer error.
The one that is still attached to is shown.

【0026】この場合のリカバリー方法は種々考えられ
る。すなわち例えばこの場合、吸着ヘッド3に再度昇降
動作を行わせて残存付着している半田ボール1を基板4
5に移載し直す。このリカバリー動作は何回繰り返して
もよい。またその場合、バキューム装置20から空気を
吸着ヘッド3に圧送し、その空気圧で半田ボール1を吸
着孔4から強制的に分離させて基板45に移載するよう
にしてもよい。このようなバキューム装置20の空気流
の切り替えは、周知機構により簡単に行える。そして所
定回数繰り返しても移載ミスが解消されなければ、装置
の運転を停止し、ブザーなどの報知手段などによりその
旨作業者に報知する。そこで作業者は吸着ヘッド3に残
存付着する半田ボール1をピンセットなどを使用して作
業者により除去し、また基板45の欠落箇所に半田ボー
ル1を手作業で搭載する。
Various recovery methods can be considered in this case. That is, for example, in this case, the suction head 3 is again moved up and down to remove the remaining solder balls 1 from the substrate 4.
Reprint to 5. This recovery operation may be repeated any number of times. Further, in that case, air may be pressure-fed from the vacuum device 20 to the suction head 3, and the solder ball 1 may be forcibly separated from the suction hole 4 by the air pressure and transferred onto the substrate 45. Such switching of the air flow of the vacuum device 20 can be easily performed by a known mechanism. If the transfer error is not eliminated even after repeating a predetermined number of times, the operation of the apparatus is stopped and the operator is notified of that fact by a notification means such as a buzzer. Therefore, the operator removes the solder balls 1 remaining on the suction head 3 by using an operator such as tweezers, and manually mounts the solder balls 1 on the missing portions of the substrate 45.

【0027】図6は本発明の第四実施例の半田ボールの
ボンディング装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線
された電気回路図である。この第四実施例では、2つの
スイッチ71a,71b、電源72、検出器73が、吸
着ヘッド3側の電気回路から独立した回路となっている
点で、第三実施例と異なっている。この第四実施例で
は、スイッチ71a,71bを矢印方向へ電気的にスキ
ャンニングさせることにより、各接点a,b,c,d,
eに順に接触させて、各縦列A,B,C,Dを連続的に
開閉させ、電流が流れるか否かを検出器73で検出する
ものであり、第三実施例と同様の作用効果が得られる。
FIG. 6 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the fourth embodiment of the present invention. The fourth embodiment differs from the third embodiment in that the two switches 71a and 71b, the power supply 72, and the detector 73 are circuits independent of the electric circuit on the suction head 3 side. In the fourth embodiment, the switches 71a and 71b are electrically scanned in the direction of the arrow so that the contacts a, b, c, d, and
The column A, B, C, D is continuously opened and closed by sequentially contacting e, and whether or not a current flows is detected by the detector 73, and the same effect as the third embodiment is obtained. can get.

【0028】なお、図2および図4に示すピックアップ
ミス検出のための電気回路と、図5および図6に示す移
載ミス検出のための電気回路を吸着ヘッド3に共に組み
込めば、ピックアップミスと移載ミスの検出を共に行う
ことができる。次にその実施例を説明する。
If the electric circuit for detecting a pickup error shown in FIGS. 2 and 4 and the electric circuit for detecting a transfer error shown in FIGS. 5 and 6 are incorporated into the suction head 3, a pickup error will occur. A transfer error can be detected together. Next, an example will be described.

【0029】図7は本発明の第五実施例の半田ボールの
ボンディング装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線
された電気回路図である。吸着孔4には吸着ミス検出用
の一対の第1の電極70aと、搭載ミス検出用の一対の
第2の電極70bが設けられている。また吸着ミス検出
用の直列回路には、回路しゃ断用の第1のスイッチ群S
W1が配設されており、また搭載ミス検出用の並列回路
には、回路しゃ断用の第2のスイッチ群SW2が配設さ
れている。
FIG. 7 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the fifth embodiment of the present invention. The suction holes 4 are provided with a pair of first electrodes 70a for detecting a suction error and a pair of second electrodes 70b for detecting a mounting error. In addition, the series circuit for detecting the suction error includes the first switch group S for circuit interruption.
W1 is provided, and a second switch group SW2 for circuit interruption is provided in the parallel circuit for detection of mounting error.

【0030】ここで、吸着ミス検出の場合は、制御部8
0により第1のスイッチ群SW1をON(閉)、第2の
スイッチ群SW2をOFF(開)にすれば、図4と等価
な回路となる。また搭載ミス検出の場合は、第1のスイ
ッチ群SW1をOFF、第2のスイッチ群SW2をON
にすれば、図5と等価な回路となる。
Here, if the suction error is detected, the control unit 8
When the first switch group SW1 is turned on (closed) and the second switch group SW2 is turned off (open) by 0, a circuit equivalent to that in FIG. 4 is obtained. If a mounting error is detected, the first switch group SW1 is turned off and the second switch group SW2 is turned on.
Then, the circuit becomes equivalent to that in FIG.

【0031】図8は本発明の第六実施例の半田ボールの
ボンディング装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線
された電気回路図である。この第六実施例では、吸着孔
4に一対の電極70cを配設し、これを1個の並列回路
にて接続する。この並列回路には第2のスイッチ群SW
2を配置している。第2のスイッチ群SW2をOFF
(開)にし、第1のスイッチSW1をON(閉)にする
と、1個の直列回路となる。
FIG. 8 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the sixth embodiment of the present invention. In the sixth embodiment, a pair of electrodes 70c are arranged in the adsorption holes 4 and are connected by one parallel circuit. This parallel circuit has a second switch group SW
2 are arranged. Turn off the second switch group SW2
When set to (open) and the first switch SW1 is turned on (closed), one series circuit is formed.

【0032】そこで吸着ミス検出の場合は、第2のスイ
ッチ群SW2をOFFにし、第1のスイッチSW1をO
Nにする。また搭載ミス検出の場合は、第2のスイッチ
群SW2をON、第1のスイッチSW1をOFFにす
る。なお吸着孔4が奇数の場合は、第1のスイッチSW
1は省略される。
Therefore, in the case of detection of an adsorption error, the second switch group SW2 is turned off and the first switch SW1 is turned on.
Set to N. In the case of a mounting error detection, the second switch group SW2 is turned on and the first switch SW1 is turned off. When the suction holes 4 are odd, the first switch SW
1 is omitted.

【0033】以上説明した各実施例から明らかなよう
に、本発明の具体的構成は様々考えられるものであり、
要は吸着ヘッドの吸着孔に半田ボールによって導通する
電極を設け、半田ボールの有無を判定すればよい。また
上記各実施例では、ワークとして基板を例にとって説明
したが、ワークとしてはフリップチップとなるチップで
もよいものである。
As is clear from the embodiments described above, various concrete configurations of the present invention are conceivable.
The point is that an electrode that conducts with a solder ball is provided in the suction hole of the suction head to determine the presence or absence of the solder ball. Further, in each of the above embodiments, the substrate has been described as an example of the work, but the work may be a chip that is a flip chip.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、吸
着ヘッドが半田ボールをピックアップミスしなかったか
どうか、またピックアップした半田ボールを基板などの
ワークにすべて移載したかどうかを、電気的に的確に判
定できる。またピックアップミスや移載ミスが発生した
場合のリカバリーを適切に行うことが可能となり、した
がって信頼性の高い半田ボールのボンディング装置やボ
ンディング方法を実現できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to electrically check whether or not the suction head picks up a solder ball and whether or not the picked up solder ball is transferred to a work such as a substrate. Can be accurately determined. Further, it becomes possible to appropriately perform recovery when a pickup error or a transfer error occurs, and thus it is possible to realize a highly reliable solder ball bonding apparatus or bonding method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第一実施例の半田ボールのボンディン
グ装置の側面図
FIG. 1 is a side view of a solder ball bonding apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第一実施例の半田ボールのボンディン
グ装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線された電気
回路図
FIG. 2 is an electric circuit diagram wired at the bottom of a suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第一実施例の半田ボールのボンディン
グ装置に備えられた吸着ヘッドの吸着孔付近の部分拡大
断面図
FIG. 3 is a partially enlarged sectional view of the vicinity of a suction hole of a suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第二実施例の半田ボールのボンディン
グ装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線された電気
回路図
FIG. 4 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第三実施例の半田ボールのボンディン
グ装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線された電気
回路図
FIG. 5 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第四実施例の半田ボールのボンディン
グ装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線された電気
回路図
FIG. 6 is an electrical circuit diagram wired at the bottom of a suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the fourth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第五実施例の半田ボールのボンディン
グ装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線された電気
回路図
FIG. 7 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the fifth embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第六実施例の半田ボールのボンディン
グ装置に備えられた吸着ヘッドの底部に配線された電気
回路図
FIG. 8 is an electric circuit diagram wired at the bottom of the suction head provided in the solder ball bonding apparatus of the sixth embodiment of the present invention.

【図9】従来の半田ボールのボンディング装置の側面図FIG. 9 is a side view of a conventional solder ball bonding apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半田ボール 2 容器 3 吸着ヘッド 4 吸着孔 24 ナット 25 送りねじ 26 モータ 30 移動テーブル 40 位置決め部 45 基板(ワーク) 70a,70b,70c 電極 71,71a,71b,71c,71d スイッチ 73 検出器 1 Solder Ball 2 Container 3 Suction Head 4 Suction Hole 24 Nut 25 Feed Screw 26 Motor 30 Moving Table 40 Positioning Part 45 Substrate (Work) 70a, 70b, 70c Electrode 71, 71a, 71b, 71c, 71d Switch 73 Detector

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半田ボールを吸着ヘッドの下面に開孔され
た複数の吸着孔に真空吸着してワークにボンディングす
る半田ボールのボンディング装置であって、 前記吸着孔に真空吸着された半田ボールに接触する一対
の電極を前記吸着孔に設けるとともに、この電極へ電流
を流してこの電流の導通・不導通を検出する検出手段を
備えたことを特徴とする半田ボールのボンディング装
置。
1. A solder ball bonding apparatus for vacuum-sucking a solder ball to a plurality of suction holes formed in a lower surface of a suction head to bond to a work, the solder ball being vacuum-sucked to the suction hole. A solder ball bonding apparatus characterized in that a pair of electrodes that come into contact with each other is provided in the suction hole, and a detection means is provided for applying a current to the electrodes to detect conduction / non-conduction of the current.
【請求項2】半田ボールの供給部の上方において吸着ヘ
ッドが昇降動作を行うことによりこの吸着ヘッドの下面
に開孔された複数の吸着孔に半田ボールを真空吸着して
ピックアップし、次にこの吸着ヘッドを位置決め部に位
置決めされたワークの上方へ移動させ、そこで再度昇降
動作を行うことにより、前記半田ボールをこのワークに
移載する半田ボールのボンディング方法であって、 前記複数の吸着孔にそれぞれ設けられた一対の電極が半
田ボールに接触したか否かを検出手段により検出し、す
べての吸着孔の電極に半田ボールが接触したことを確認
した後で、前記半田ボールを前記ワークにボンディング
することを特徴とする半田ボールのボンディング方法。
2. The suction head moves up and down above the solder ball supply section to vacuum-suck the solder balls into a plurality of suction holes formed in the lower surface of the suction head and then pick up the solder balls. A solder ball bonding method for transferring the solder balls to the work by moving the suction head above the work positioned in the positioning portion, and performing the elevating operation again there. Bonding the solder balls to the work after detecting whether or not the pair of electrodes provided respectively contact the solder balls by the detection means and confirming that the solder balls have contacted the electrodes of all the suction holes. A solder ball bonding method characterized by:
【請求項3】前記検出手段による検出を、前記吸着ヘッ
ドが昇降動作を行って半田ボールをピックアップする際
に行うことを特徴とする請求項2記載の半田ボールのボ
ンディング方法。
3. The solder ball bonding method according to claim 2, wherein the detection by the detection means is performed when the suction head moves up and down to pick up a solder ball.
【請求項4】半田ボールの供給部の上方において吸着ヘ
ッドが昇降動作を行うことによりこの吸着ヘッドの下面
に開孔された複数の吸着孔に半田ボールを真空吸着して
ピックアップし、次にこの吸着ヘッドを位置決め部に位
置決めされたワークの上方へ移動させ、そこで再度昇降
動作を行うことにより、前記半田ボールをこのワークに
移載する半田ボールのボンディング方法であって、 前記吸着ヘッドが前記ワークの上方において昇降動作を
行ってワークに対して半田ボールを移載した後、前記複
数の吸着孔にそれぞれ設けられた一対の電極に半田ボー
ルが接触していないか否かを検出手段により検出し、接
触していることが検出されたならば、移載ミスがあった
ものと判定することを特徴とする半田ボールのボンディ
ング方法。
4. A suction head is raised and lowered above a solder ball supply portion to vacuum-suck and pick up solder balls in a plurality of suction holes formed in the lower surface of the suction head, and then picked up. A solder ball bonding method for transferring the solder balls to the work by moving the suction head above the work positioned in the positioning part and performing the elevating operation again there. After the solder balls are transferred to the work by moving up and down above, the detecting means detects whether or not the solder balls are in contact with the pair of electrodes provided in the suction holes. A solder ball bonding method, characterized in that if a contact is detected, it is determined that a transfer error has occurred.
【請求項5】前記半田ボールの検出は、前記一対の電極
に電流を流してこの電流の導通・不導通を検出すること
により行なうことを特徴とする請求項2又は4記載の半
田ボールのボンディング方法。
5. The solder ball bonding according to claim 2, wherein the solder ball is detected by passing a current through the pair of electrodes to detect conduction / non-conduction of the current. Method.
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