JP3125576B2 - Solder ball bonding equipment - Google Patents

Solder ball bonding equipment

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JP3125576B2
JP3125576B2 JP06097240A JP9724094A JP3125576B2 JP 3125576 B2 JP3125576 B2 JP 3125576B2 JP 06097240 A JP06097240 A JP 06097240A JP 9724094 A JP9724094 A JP 9724094A JP 3125576 B2 JP3125576 B2 JP 3125576B2
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3478Applying solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、チップや基板などのワ
ークの表面に、バンプとなる半田ボールをボンディング
する半田ボールのボンディング装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solder ball bonding apparatus for bonding a solder ball to be a bump to the surface of a work such as a chip or a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】チップや基板の表面に半田ボールをボン
ディングし、次いでこの半田ボールを加熱して溶融固化
させてバンプ(突出電極)を形成することが知られてい
る。図6は従来の半田ボールのボンディング装置の要部
側面図である。バンプの素材である半田ボール1が容器
2に貯溜されている。3は吸着ヘッドであって、昇降手
段(図示せず)に駆動されて昇降動作を行うことによ
り、その下面に開孔された吸着孔に半田ボール1を真空
吸着し、往復移動手段(図示せず)に駆動されて水平移
動することにより、クランパ44でクランプして位置決
めされた基板45などのワークの上方へ移動し、そこで
再度昇降動作を行うことにより、半田ボール1を基板の
所定位置にボンディングするようになっている。
2. Description of the Related Art It is known that solder balls are bonded to the surface of a chip or a substrate, and then the solder balls are heated and melted and solidified to form bumps (protruding electrodes). FIG. 6 is a side view of a main part of a conventional solder ball bonding apparatus. Solder balls 1 as a material of bumps are stored in a container 2. Reference numeral 3 denotes a suction head, which is driven by a lifting / lowering means (not shown) to perform a lifting / lowering operation, thereby vacuum-sucking the solder ball 1 into a suction hole opened on the lower surface thereof, and reciprocating means (not shown) ), And moves horizontally above a work such as the substrate 45 which is clamped and positioned by the clamper 44, and then moves up and down again to move the solder ball 1 to a predetermined position on the substrate. It is designed to be bonded.

【0003】吸着ヘッド3の下面には吸着孔が多数開孔
されており、すべての吸着孔に半田ボール1を真空吸着
し、基板45にボンディングしなければならない。そこ
で従来は、吸着ヘッド3の移動路の下方にカメラ7を設
置し、カメラ7により吸着ヘッド3の下面を観察して、
すべての吸着孔に半田ボール1が真空吸着されているか
どうかを画像処理により判定し、OKであればそのまま
吸着ヘッド3は基板45の上方へ移動して半田ボール1
を基板45にボンディングしていた。
Many suction holes are formed in the lower surface of the suction head 3, and the solder balls 1 must be vacuum-sucked in all the suction holes and bonded to the substrate 45. Therefore, conventionally, a camera 7 is installed below the moving path of the suction head 3, and the lower surface of the suction head 3 is observed by the camera 7.
It is determined by image processing whether or not the solder balls 1 are vacuum-sucked in all the suction holes, and if OK, the suction head 3 moves directly above the substrate 45 and moves to the solder ball 1.
Was bonded to the substrate 45.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の手段では、カメラ7の画像のちらつきやノイズなどの
ために誤判定しやすいという問題点があった。また半田
ボール1はきわめて多数個(一般に数10個以上)真空
吸着される場合が多く、このためすべての吸着孔につい
て半田ボール1が真空吸着されているかどうかを検査す
るためにかなりの時間を要し、作業能率があがらないと
いう問題点があった。
However, in the above-mentioned conventional means, there is a problem that an erroneous determination is likely to occur due to flickering of the image of the camera 7 or noise. Also, in many cases, a large number of solder balls 1 (generally several tens or more) are vacuum-sucked, so that it takes a considerable time to check whether the solder balls 1 are vacuum-sucked in all the suction holes. However, there was a problem that the work efficiency was not improved.

【0005】また吸着ヘッドがピックアップした半田ボ
ール1は、必ずしもそのすべてがワークに移載されるも
のとは限らず、移載ミスによって吸着ヘッド3の吸着孔
に残存付着したままになる半田ボール1も生じるが、そ
の場合、ワークは半田ボール1が欠落した不良品とな
る。ところが従来、このような移載ミスを自動検出する
手段はなかったため、移載ミスにともなうトラブルや、
ワークの不良品が発生しやすいものであった。
The solder balls 1 picked up by the suction head are not necessarily all transferred to the work, and the solder balls 1 remaining and adhered to the suction holes of the suction head 3 due to a transfer error. However, in this case, the work becomes a defective product in which the solder ball 1 is missing. However, in the past, there was no means for automatically detecting such a transfer error,
Defective workpieces were likely to occur.

【0006】そこで本発明は上記従来の問題点を解消
し、運転の信頼性の高い半田ボールのボンディング装置
を提供することを目的とする。詳しくは、吸着ヘッドが
半田ボールのピックアップミスをしたかどうかを的確に
判定できる手段を備えた半田ボールのボンディング装置
を提供することを目的とする。また吸着ヘッドがピック
アップした半田ボールをワークにすべて移載ミスなくボ
ンディングしたかどうかを簡単に判定できる半田ボール
のボンディング装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide a solder ball bonding apparatus with high operation reliability. More specifically, it is an object of the present invention to provide a solder ball bonding apparatus including means for accurately determining whether a suction head has made a mistake in picking up a solder ball. Another object of the present invention is to provide a solder ball bonding apparatus which can easily determine whether or not all the solder balls picked up by a suction head have been bonded to a work without any transfer error.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、吸
着ヘッドの移動路に、半田ボールが接触する電極を設
け、かつこの電極に電流を流して半田ボールを検出する
検出手段を備えたものである。
According to the present invention, an electrode for contacting a solder ball is provided on a moving path of a suction head, and a detecting means for detecting a solder ball by applying a current to the electrode is provided. Things.

【0008】[0008]

【作用】上記構成によれば、半田ボールを真空吸着して
ピックアップした吸着ヘッドを電極の上方へ移動させ
て、半田ボールを電極に接触させて導通するか否かを検
出手段で検出することにより、ピックアップミスの有無
を的確に判定できる。
According to the above arrangement, the suction head picked up by vacuum suction of the solder ball is moved above the electrode, and the solder ball is brought into contact with the electrode to detect whether or not it is conductive by the detecting means. Thus, the presence or absence of a pick-up error can be accurately determined.

【0009】[0009]

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。図1は本発明の第一実施例の半田ボールのボ
ンディング装置の側面図、図2は同半田ボールのボンデ
ィング装置の吸着ヘッドの移動路に設けられたピックア
ップミス検出ユニットの断面図である。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a side view of a solder ball bonding apparatus according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view of a pickup error detection unit provided on a moving path of a suction head of the solder ball bonding apparatus.

【0010】図1において、11は半田ボールの供給部
としての容器であり、半田ボール1が貯溜されている。
12は基台であって、弾性支持部13により容器11を
側方と下方から揺動自在に弾持している。14は超音波
振動手段としての圧電素子などの振動子であって、容器
11の下面に装着されている。この振動子14は高周波
電圧が印加されると超音波振動し、容器11も超音波振
動して、これに貯溜された半田ボール1は流動化する。
この高周波電圧の大きさを調整することにより、容器1
1の超音波振動の大きさを調整できる。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a container as a supply portion for solder balls, in which solder balls 1 are stored.
Reference numeral 12 denotes a base, which elastically supports the container 11 so as to be able to swing from the side and the lower side. Reference numeral 14 denotes a vibrator such as a piezoelectric element as an ultrasonic vibration means, which is mounted on the lower surface of the container 11. When a high-frequency voltage is applied, the vibrator 14 ultrasonically vibrates, the container 11 also ultrasonically vibrates, and the solder balls 1 stored therein are fluidized.
By adjusting the magnitude of the high frequency voltage, the container 1
(1) The magnitude of the ultrasonic vibration can be adjusted.

【0011】15は半田ボールの供給装置であって、パ
イプ16を通して半田ボール1を容器11に供給する。
容器11には光学センサ47などの半田ボール1の残量
検出センサが設けられており、容器11内の半田ボール
1の残量が少なくなったことが検出されたならば、半田
ボール1を供給する。17は供給装置15の台部であ
る。
Reference numeral 15 denotes a solder ball supply device which supplies the solder balls 1 to the container 11 through a pipe 16.
The container 11 is provided with a sensor for detecting the remaining amount of the solder ball 1 such as an optical sensor 47, and supplies the solder ball 1 when it is detected that the remaining amount of the solder ball 1 in the container 11 is low. I do. Reference numeral 17 denotes a base of the supply device 15.

【0012】吸着ヘッド3の下面には、半田ボール1の
吸着孔4がマトリスク状に多数開孔されている(図2も
参照)。この吸着ヘッド3は、支軸18、チューブ19
などを介してバキューム装置20に接続されており、バ
キューム装置20が駆動することにより半田ボール1を
吸着孔4に真空吸着し、また真空吸着状態を解除する。
53はチューブ19の吸引路を開閉するバルブ、55は
真空圧を検出する圧力センサである。
On the lower surface of the suction head 3, a large number of suction holes 4 of the solder ball 1 are formed in a matrix shape (see also FIG. 2). The suction head 3 includes a support shaft 18, a tube 19
The vacuum ball 20 is connected to the vacuum device 20 via vacuum and the like. When the vacuum device 20 is driven, the solder ball 1 is vacuum-sucked into the suction hole 4 and the vacuum suction state is released.
53 is a valve for opening and closing the suction path of the tube 19, and 55 is a pressure sensor for detecting a vacuum pressure.

【0013】21は吸着ヘッド3の保持ブロックであっ
て、吸着ヘッド3の支軸18はこの保持ブロック21に
保持されている。22は可動ブロックであって、その前
面にはガイドレール23が2本垂直に配設されており、
保持ブロック21はこのガイドレール23に昇降自在に
装着されている。保持ブロック21の側部にはナット2
4が設けられており、ナット24には垂直な送りねじ2
5が螺入されている。可動ブロック22に設けられたモ
ータ26に駆動されて送りねじ25が回転すると、保持
ブロック21や吸着ヘッド3は昇降動作を行う。すなわ
ちナット24、送りねじ25、モータ26は吸着ヘッド
3に昇降動作を行わせる昇降手段となっている。
Reference numeral 21 denotes a holding block for the suction head 3, and the support shaft 18 of the suction head 3 is held by the holding block 21. Reference numeral 22 denotes a movable block, and two guide rails 23 are vertically arranged on the front surface thereof.
The holding block 21 is mounted on the guide rail 23 so as to be able to move up and down. Nut 2 on the side of holding block 21
4 and the nut 24 has a vertical feed screw 2
5 is screwed. When the feed screw 25 is rotated by being driven by a motor 26 provided in the movable block 22, the holding block 21 and the suction head 3 perform an elevating operation. That is, the nut 24, the feed screw 25, and the motor 26 are lifting means for causing the suction head 3 to perform a lifting operation.

【0014】30は移動テーブルであって、可動ブロッ
ク22はこの移動テーブル30に横方向にスライド自在
に装着されている。移動テーブル30の側部にはモータ
31が取り付けられており、このモータ31が駆動する
と、移動テーブル30に内蔵された送りねじ32が回転
し、可動ブロック22は送りねじ32に沿って横方向に
往復移動する。すなわちこの移動テーブル30は、吸着
ヘッド3の往復移動手段となっている。
Reference numeral 30 denotes a movable table, and the movable block 22 is mounted on the movable table 30 so as to be slidable in the horizontal direction. A motor 31 is attached to the side of the moving table 30. When the motor 31 is driven, a feed screw 32 built in the moving table 30 rotates, and the movable block 22 moves sideways along the feed screw 32. Reciprocate. That is, the moving table 30 serves as a reciprocating means for moving the suction head 3.

【0015】40は位置決め部であって、底台41と、
Xテーブル42と、Yテーブル43を段積して構成され
ている。Yテーブル43上にはクランパ44が設けられ
ており、基板45を左右からクランプして位置決めす
る。吸着ヘッド3は、移動テーブル30により、容器1
1と位置決め部40の間を往復移動する。容器11と基
板45の位置決め部40の間の吸着ヘッド3の移動路に
は、ピックアップミス検出ユニット70が設けられてい
る。69はその載置テーブルである。次に図2を参照し
てその構造を説明する。
Reference numeral 40 denotes a positioning portion,
The X table 42 and the Y table 43 are stacked. A clamper 44 is provided on the Y table 43, and positions the substrate 45 by clamping the substrate 45 from left and right. The suction head 3 is moved by the moving table 30 to the container 1.
1 and the positioning part 40 reciprocate. A pickup error detection unit 70 is provided on the movement path of the suction head 3 between the container 11 and the positioning section 40 of the substrate 45. 69 is the mounting table. Next, the structure will be described with reference to FIG.

【0016】71は絶縁性の台板であって、その上面に
は電極72が並設されている。これらの電極72は、吸
着ヘッド3の吸着孔4に対応する位置に並設されてい
る。各電極72はそれぞれ接点73a,73b,73
c,73dに接続されている。74は各接点73a〜7
3dに接触するロータリー式の可動接点であり、矢印方
向に回転することにより、各接点73a〜73dに順に
接触する。
Reference numeral 71 denotes an insulating base plate on which electrodes 72 are arranged in parallel. These electrodes 72 are juxtaposed at positions corresponding to the suction holes 4 of the suction head 3. Each electrode 72 has a contact 73a, 73b, 73
c, 73d. 74 is each contact 73a-7
This is a rotary movable contact that comes in contact with 3d, and contacts each of the contacts 73a to 73d in order by rotating in the direction of the arrow.

【0017】可動接点74は電源75、検出器76に接
続されている。また検出器76には固定端子77が接続
されており、吸着ヘッド3が下降すると、この固定端子
77は吸着ヘッド3の底面に接触する。この吸着ヘッド
3は導電性の金属により形成するか、あるいは絶縁物質
により形成しその表面に導電膜をコーティングするなど
して形成されている。吸着ヘッド3がピックアップミス
検出ユニット70の上方へ移動し、そこで下降すること
により、半田ボール1は電極72に着地して接触し、ま
た吸着ヘッド3の下面も固定端子77に接触する。そこ
で可動接点74を矢印方向に回転させて各接点73a〜
73dに順に接触させれば、各半田ボール1と電極72
を含む電気回路の閉ループが生成され、検出器76に電
流が検出される。また半田ボール1が無ければ、電流は
流れないので、半田ボール1はピックアップミスされた
ことが判る。このような判定は、コンピュータ(図外)
により行われる。
The movable contact 74 is connected to a power supply 75 and a detector 76. Further, a fixed terminal 77 is connected to the detector 76, and when the suction head 3 moves down, the fixed terminal 77 contacts the bottom surface of the suction head 3. The suction head 3 is formed by using a conductive metal or by using an insulating material and coating the surface with a conductive film. When the suction head 3 moves above the pickup error detection unit 70 and descends there, the solder ball 1 lands on and contacts the electrode 72, and the lower surface of the suction head 3 also contacts the fixed terminal 77. Then, the movable contact 74 is rotated in the direction of the arrow to make each of the contacts 73a to 73a.
73d, the solder balls 1 and the electrodes 72
Is generated, and a current is detected by the detector 76. In addition, if there is no solder ball 1, no current flows, so it can be seen that the solder ball 1 has been picked up incorrectly. Such judgment is made by computer (not shown)
It is performed by

【0018】この半田ボールのボンディング装置は上記
のように構成されており、次に全体の動作を説明する。
図1において、モータ26が正回転すると、吸着ヘッド
3は容器11へ向って下降する。そのとき、振動子14
が駆動することにより容器11は超音波振動して、その
内部に貯溜された半田ボール1は流動している。そこで
吸着ヘッド3が下降することにより、吸着孔4に半田ボ
ール1が真空吸着される。次にモータ26が逆回転する
ことにより、吸着ヘッド3は上昇し、半田ボール1はピ
ックアップされる。
This solder ball bonding apparatus is constructed as described above. Next, the overall operation will be described.
In FIG. 1, when the motor 26 rotates forward, the suction head 3 descends toward the container 11. At that time, the vibrator 14
Is driven, the container 11 is ultrasonically vibrated, and the solder balls 1 stored therein are flowing. Then, when the suction head 3 is lowered, the solder ball 1 is vacuum-sucked in the suction hole 4. Next, the suction head 3 is raised by the reverse rotation of the motor 26, and the solder ball 1 is picked up.

【0019】次に図1において、モータ31が正回転す
ることにより、吸着ヘッド3はピックアップミス検出ユ
ニット70の上方へ移動し、そこで停止する。そこで再
度モータ26が正回転することにより、吸着ヘッド3は
下降し、その下面に真空吸着された半田ボール1は、図
2に示すように各電極72に着地する。そこで可動接点
74を矢印方向に回転させて、電流が流れるか否かを検
出器76により検出し、ピックアップミスの有無を判定
する。
Next, in FIG. 1, when the motor 31 rotates forward, the suction head 3 moves above the pickup error detecting unit 70 and stops there. Then, when the motor 26 rotates forward again, the suction head 3 descends, and the solder ball 1 vacuum-adsorbed on its lower surface lands on each electrode 72 as shown in FIG. Then, the movable contact 74 is rotated in the direction of the arrow, and whether or not a current flows is detected by the detector 76, and it is determined whether or not there is a pickup error.

【0020】すべて電流が検出されれば、ピックアップ
ミスはないものと判定され、次いでモータ31が正回転
することにより、吸着ヘッド3は基板45の上方へ移動
する。そこでモータ26が正回転することにより、吸着
ヘッド3は下降して半田ボール1を基板45の上面に搭
載する。次にバキューム装置20による真空吸着状態を
解除して吸着ヘッド3は上昇し、モータ31が逆回転す
ることにより、吸着ヘッド3は容器11の上方へ復帰す
る。基板45の上面には図示しない手段によってフラッ
クスが予め塗布されており、このフラックスの粘着力に
より半田ボール1は基板45にボンディングされる。な
おピックアップミスがあった場合には、ブザーなどの報
知手段により作業者にその旨報知してもよく、あるいは
吸着ヘッド3を容器11の上方へ復動させ、そこで再度
昇降動作を行わせて半田ボール1を真空吸着してもよ
く、リカバリー動作の具体的手段は様々考えられる。
If all currents are detected, it is determined that there is no pick-up error, and then the suction head 3 moves above the substrate 45 by the forward rotation of the motor 31. Then, when the motor 26 rotates forward, the suction head 3 descends and mounts the solder ball 1 on the upper surface of the substrate 45. Next, the vacuum suction state by the vacuum device 20 is released, the suction head 3 is lifted, and the motor 31 rotates in the reverse direction, so that the suction head 3 returns to above the container 11. A flux is previously applied to the upper surface of the substrate 45 by means not shown, and the solder ball 1 is bonded to the substrate 45 by the adhesive force of the flux. If there is a pick-up error, the operator may be notified by a buzzer or other notifying means, or the suction head 3 may be moved upward above the container 11 and then moved up and down again to perform soldering. The ball 1 may be vacuum-sucked, and various means for the recovery operation can be considered.

【0021】以上の動作が繰り返されることにより、基
板45の上面に半田ボール1が次々にボンディングされ
る。ボンディングされた半田ボール1は、後工程で加熱
されて溶融し、バンプとなる。
By repeating the above operation, the solder balls 1 are successively bonded to the upper surface of the substrate 45. The bonded solder ball 1 is heated and melted in a later step to form a bump.

【0022】図3は本発明の第二実施例の半田ボールの
ボンディング装置の吸着ヘッドの移動路に設けられたピ
ックアップミス検出ユニットの断面図である。このピッ
クアップミス検出ユニット80は、上記ピックアップミ
ス検出ユニット70と同様に載置テーブル69上に設置
されるものであって、絶縁性の台板81上に電極82を
並設して構成されている。相隣る電極82はリード部8
3により接続されている。また吸着ヘッド3は絶縁物質
にて形成されているが、その下面一側部には導電部84
がコーティングするなどして設けられている。85はリ
ード部83に接触する端子、86は導電部84に接触す
る端子であり、端子85と端子86は電源75、検出器
76に接触されている。他の構成は第一実施例と同様で
ある。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a pickup error detecting unit provided on a moving path of a suction head of a solder ball bonding apparatus according to a second embodiment of the present invention. The pickup error detection unit 80 is installed on the mounting table 69 similarly to the pickup error detection unit 70, and is configured by arranging electrodes 82 on an insulating base plate 81 side by side. . Adjacent electrodes 82 are lead portions 8
3 are connected. The suction head 3 is formed of an insulating material.
Is provided by coating or the like. Reference numeral 85 denotes a terminal that contacts the lead portion 83, reference numeral 86 denotes a terminal that contacts the conductive portion 84, and the terminals 85 and 86 are in contact with the power supply 75 and the detector 76. Other configurations are the same as in the first embodiment.

【0023】したがって吸着ヘッド3がピックアップミ
ス検出ユニット80の上方で停止し、そこで下降するこ
とにより、半田ボール1は図示するように各電極82に
着地し、直列回路が生成される。ここで、すべての吸着
孔4に半田ボール1が真空吸着されていれば、回路は閉
じて検出器76に電流が流れる。また半田ボール1が1
つでもピックアップミスされて存在しなければ、回路は
開いたままであって、検出器76には電流は流れない。
したがってピックアップミスの有無を的確に判定でき
る。
Therefore, when the suction head 3 stops above the pickup error detecting unit 80 and descends there, the solder ball 1 lands on each electrode 82 as shown in the figure, and a series circuit is generated. If the solder balls 1 are vacuum-sucked in all the suction holes 4, the circuit is closed and a current flows to the detector 76. Solder ball 1 is 1
If there is no pick-up error, the circuit remains open and no current flows to the detector 76.
Therefore, the presence or absence of a pick-up error can be accurately determined.

【0024】図4は、本発明の第三実施例の半田ボール
のボンディング装置の吸着ヘッドの移動路に設けられた
移載ミス検出ユニットの平面図、図5は同側面図であ
る。この移載ミス検出ユニット90は、上記ピックアッ
プミス検出ユニット70,80と同様に載置テーブル6
9上に設けられる。この移載ミス検出ユニット90は、
吸着ヘッド3が真空吸着してピックアップしたすべて
(本実施例では16個)の半田ボール1を、基板45に
移載ミスなくすべて移載したかどうかを、移載動作の後
で判定するためのものである。
FIG. 4 is a plan view of a transfer error detecting unit provided on a moving path of a suction head of a solder ball bonding apparatus according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a side view of the same. The transfer error detection unit 90 is similar to the pickup error detection units 70 and 80, and
9. This transfer error detection unit 90
After the transfer operation, it is determined whether or not all (16 in this embodiment) solder balls 1 picked up by the suction head 3 by vacuum suction have been transferred to the substrate 45 without any transfer error. Things.

【0025】91は絶縁性の台板であり、その上面に
は、電極92が対をなして多数個(本実施例では16
対)並設されている。これらの電極92は、吸着ヘッド
3の吸着孔4に対応する位置にマトリクス状に並設され
ている。本発明の第三実施例では、4つの縦列A,B,
C,Dに分割されており、各縦列A,B,C,Dについ
て図4に示す並列回路が構成されている。また各縦列
A,B,C,Dの一方の端子a,b,c,dに接離する
スイッチ93a,93b,93c,93dが設けられて
おり、各スイッチ93a〜93dは検出器76に接続さ
れている。また各縦列A,B,C,Dの他方の端子は電
源75に接続されている。
Reference numeral 91 denotes an insulating base plate, and a large number of electrodes 92 (16 in this embodiment) are formed on the upper surface thereof in pairs.
Pairs) are juxtaposed. These electrodes 92 are arranged in a matrix at positions corresponding to the suction holes 4 of the suction head 3. In a third embodiment of the invention, four columns A, B,
C, D, and a parallel circuit shown in FIG. 4 is configured for each of the columns A, B, C, and D. Further, switches 93a, 93b, 93c, 93d are provided which are connected to and separated from one terminal a, b, c, d of each of the columns A, B, C, D. Each of the switches 93a to 93d is connected to the detector 76. Have been. The other terminals of the columns A, B, C, and D are connected to a power supply 75.

【0026】次に動作を説明する。図1において、半田
ボール1を真空吸着してピックアップした吸着ヘッド3
は、基板45の上方へ移動し、そこで再度昇降動作を行
って半田ボール1を基板45に移載してボンディングす
るが、その場合、すべての半田ボール1が吸着ヘッド3
から基板45へ移載されるとは限らず、吸着ヘッド3に
付着したまま残存する場合も生じる。すると基板45は
半田ボール1が一部欠落した不良品になってしまう。
Next, the operation will be described. In FIG. 1, a suction head 3 picks up a solder ball 1 by vacuum suction.
Is moved above the substrate 45, and then moved up and down again to transfer the solder balls 1 to the substrate 45 for bonding. In this case, all the solder balls 1
Is not always transferred from the substrate 45 to the substrate 45, and sometimes remains while being attached to the suction head 3. Then, the board 45 becomes a defective product in which the solder ball 1 is partially missing.

【0027】そこで本発明の第三実施例では、吸着ヘッ
ド3が基板45に対する半田ボール1の移載動作を行っ
た後、モータ31が逆回転して吸着ヘッド3が容器11
の上方へ復帰する途中において、吸着ヘッド3を移載ミ
ス検出ユニット90の上方で停止させる。そこでモータ
26を正回転させることにより、吸着ヘッド3を下降さ
せる。図5はこのときの状態を示しており、この例では
1個の半田ボール1が吸着ヘッド3に付着残存している
(図4において、鎖線で示す半田ボール1も参照)。そ
こで、図4において、スイッチ93a〜93dを順に開
閉すれば、縦列Cでは半田ボール1により一対の電極9
2が導通しているため、検出器76に電流が検出され、
移載ミスがあったことが判明する。
Therefore, in the third embodiment of the present invention, after the suction head 3 performs the transfer operation of the solder ball 1 to the substrate 45, the motor 31 rotates in the reverse direction and the suction head 3
The suction head 3 is stopped above the transfer error detecting unit 90 during the return to the position above. Then, the suction head 3 is lowered by rotating the motor 26 forward. FIG. 5 shows the state at this time. In this example, one solder ball 1 is adhered to and remains on the suction head 3 (see also the solder ball 1 shown by a chain line in FIG. 4). Therefore, in FIG. 4, if the switches 93a to 93d are opened and closed in order, the column C
2 is conducting, a current is detected by the detector 76,
It turns out that there was a transfer error.

【0028】移載ミスがあったことが判明した場合のリ
カバリー動作は様々考えられる。すなわち、第1には、
吸着ヘッド3を基板45の上方へ再度移動させ、そこで
吸着ヘッド3に昇降動作を行わせることにより、この半
田ボール1を基板45に移載しなおす。この場合、バキ
ューム装置20から空気を吸着ヘッド3に圧送し、その
空気圧で半田ボール1を基板45に押し付けてもよい。
このようなバキューム装置20の空気流の切り替えは、
周知機構により簡単に行える。
There are various possible recovery operations when it is determined that a transfer error has occurred. That is, first,
The suction head 3 is moved again above the substrate 45, and the suction head 3 is moved up and down there, so that the solder balls 1 are transferred to the substrate 45 again. In this case, air may be sent from the vacuum device 20 to the suction head 3 and the solder ball 1 may be pressed against the substrate 45 by the air pressure.
Switching of the air flow of the vacuum device 20 is as follows.
It can be easily performed by a well-known mechanism.

【0029】第2には、移載ミス有りと判定された場合
には、装置の運転を停止するとともに、ブザーなどの報
知手段により作業者にその旨報知する。そこで作業者は
吸着ヘッド3に残存付着する半田ボール1をピンセット
などで作業者により除去し、基板45の欠落箇所にこの
半田ボール1を移載する。このように移載ミスがあった
場合のリカバリー動作は様々考えられる。
Secondly, when it is determined that there is a transfer error, the operation of the apparatus is stopped, and the operator is notified of this by a notification means such as a buzzer. Therefore, the worker removes the solder ball 1 remaining on the suction head 3 with tweezers or the like, and transfers the solder ball 1 to the missing portion of the substrate 45. There are various possible recovery operations when a transfer error occurs.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、吸
着ヘッドが半田ボールをピックアップミスをしなかった
かどうか、またピックアップした半田ボールを基板など
のワークにすべて移載したかどうかを、電気的に的確に
判定できる。またピックアップミスや移載ミスが発生し
た場合のリカバリーを適切に行うことが可能となり、し
たがって信頼性の高い半田ボールのボンディング装置を
実現できる。
As described above, according to the present invention, it is determined whether or not the suction head has made a mistake in picking up the solder balls and whether or not all the picked up solder balls have been transferred to a work such as a substrate. Can be accurately and accurately determined. In addition, it is possible to appropriately perform recovery when a pickup error or a transfer error occurs, and thus a highly reliable solder ball bonding apparatus can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第一実施例の半田ボールのボンディン
グ装置の側面図
FIG. 1 is a side view of a solder ball bonding apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第一実施例の半田ボールのボンディン
グ装置の吸着ヘッドの移動路に設けられたピックアップ
ミス検出ユニットの断面図
FIG. 2 is a cross-sectional view of a pickup error detection unit provided on a moving path of a suction head of the solder ball bonding apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第二実施例の半田ボールのボンディン
グ装置の吸着ヘッドの移動路に設けられたピックアップ
ミス検出ユニットの断面図
FIG. 3 is a cross-sectional view of a pickup error detection unit provided on a moving path of a suction head of a solder ball bonding apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第三実施例の半田ボールのボンディン
グ装置の吸着ヘッドの移動路に設けられた移載ミス検出
ユニットの平面図
FIG. 4 is a plan view of a transfer error detecting unit provided on a moving path of a suction head of a solder ball bonding apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第三実施例の半田ボールのボンディン
グ装置の吸着ヘッドの移動路に設けられた移載ミス検出
ユニットの側面図
FIG. 5 is a side view of a transfer error detecting unit provided on a moving path of a suction head of a solder ball bonding apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図6】従来の半田ボールのボンディング装置の要部側
面図
FIG. 6 is a side view of a main part of a conventional solder ball bonding apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半田ボール 2 容器(供給部) 3 吸着ヘッド 4 吸着孔 70,80 ピックアップミス検出ユニット 72,82,92 電極 76 検出器 90 移載ミス検出ユニット DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Solder ball 2 Container (supply part) 3 Suction head 4 Suction hole 70, 80 Pickup mistake detection unit 72, 82, 92 Electrode 76 Detector 90 Transfer misdetection unit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】半田ボールの供給部と、半田ボールをその
下面に開孔された複数の吸着孔に真空吸着する吸着ヘッ
ドと、この吸着ヘッドに昇降動作を行わせる昇降手段
と、ワークの位置決め部と、この吸着ヘッドを前記供給
部とこの位置決め部の間を往復移動させる往復移動手段
とを備えた半田ボールのボンディング装置であって、 前記吸着ヘッドの移動路に、前記吸着ヘッドに真空吸着
された半田ボールが接触する電極を設け、かつこの電極
に電流を流して半田ボールを検出する検出手段を備えた
ことを特徴とする半田ボールのボンディング装置。
A suction head for vacuum-sucking the solder ball into a plurality of suction holes formed in a lower surface of the solder ball; a lifting means for causing the suction head to perform a lifting operation; And a reciprocating means for reciprocating the suction head between the supply section and the positioning section. A bonding apparatus for a solder ball, comprising: A solder ball bonding apparatus comprising: an electrode for contacting the solder ball; and a detecting means for detecting a solder ball by applying a current to the electrode.
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