JP3126149B2 - テスト・診断システム用インターフェースを備えた電子通信装置の構成モジュール - Google Patents
テスト・診断システム用インターフェースを備えた電子通信装置の構成モジュールInfo
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- JP3126149B2 JP3126149B2 JP09534939A JP53493997A JP3126149B2 JP 3126149 B2 JP3126149 B2 JP 3126149B2 JP 09534939 A JP09534939 A JP 09534939A JP 53493997 A JP53493997 A JP 53493997A JP 3126149 B2 JP3126149 B2 JP 3126149B2
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- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2818—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ここに記載された発明は電子通信装置に係り、特にそ
のような装置の構成モジュールに関するものである。該
構成モジュールは、構成モジュール内の所定の挿入ポイ
ント又はモニタリングポイントを介して該モジュールと
テスト・診断システムをインターフェースするための手
段を備える。該手段は、モジュール自身の上に少なくと
も一時的に非侵害的様式（non−invasive fashion）に
て取り付けることができる。このような構成モジュール
は、US−Ａ−5252914から公知である。
のような装置の構成モジュールに関するものである。該
構成モジュールは、構成モジュール内の所定の挿入ポイ
ント又はモニタリングポイントを介して該モジュールと
テスト・診断システムをインターフェースするための手
段を備える。該手段は、モジュール自身の上に少なくと
も一時的に非侵害的様式（non−invasive fashion）に
て取り付けることができる。このような構成モジュール
は、US−Ａ−5252914から公知である。
電子通信装置（例えば交換機）では、テスト段階及び
その通常動作中において装置又はその一部の挙動をチェ
ックしテストする必要がしばしばある。システム上で行
われるテストの一つは、フォールト状態を作動させて装
置の応答をモニタリングして分析することに存する。フ
ォールト状態は、モジュール上の論理回路で用いられる
製造技術に依存して、装置の幾つかのポイントに所定の
信号レベル（例えば論理０又は論理１に対応）を強制す
ることにより一般に得られる。他のテストでは電流ノイ
ズを注入することが要求されうる。
その通常動作中において装置又はその一部の挙動をチェ
ックしテストする必要がしばしばある。システム上で行
われるテストの一つは、フォールト状態を作動させて装
置の応答をモニタリングして分析することに存する。フ
ォールト状態は、モジュール上の論理回路で用いられる
製造技術に依存して、装置の幾つかのポイントに所定の
信号レベル（例えば論理０又は論理１に対応）を強制す
ることにより一般に得られる。他のテストでは電流ノイ
ズを注入することが要求されうる。
以下、用語「作動」（他の限定を伴わない）と「信号
挿入」は区別せずに用いられ、フォールト作動とノイズ
注入の両方を示す。
挿入」は区別せずに用いられ、フォールト作動とノイズ
注入の両方を示す。
テストは自動化されねばならず、このことは、テスト
されるべき装置部分（以下「モジュール」という）は少
なくとも一時的にインターフェース手段に接続され得る
ことを要求する。該インターフェース手段は、一方で
は、プログラム化された様式にて信号挿入命令を送るテ
スト・診断システムにより駆動され、他方では、モジュ
ールの応答をテスト・診断システムに転送する。テスト
中は、電気的な観点から見て、装置動作中に起こりえる
状態に正確に対応する状態を得る必要があり、装置の通
常動作は信号挿入のない場合には影響されてはならず、
逆に、挿入命令及び応答はテスト中のモジュールに存在
する信号により変えられてはならない。さらに、モジュ
ール上にインターフェース手段を取り付ける際、モジュ
ールの構成又は設計を変更することを要求してはならな
い。
されるべき装置部分（以下「モジュール」という）は少
なくとも一時的にインターフェース手段に接続され得る
ことを要求する。該インターフェース手段は、一方で
は、プログラム化された様式にて信号挿入命令を送るテ
スト・診断システムにより駆動され、他方では、モジュ
ールの応答をテスト・診断システムに転送する。テスト
中は、電気的な観点から見て、装置動作中に起こりえる
状態に正確に対応する状態を得る必要があり、装置の通
常動作は信号挿入のない場合には影響されてはならず、
逆に、挿入命令及び応答はテスト中のモジュールに存在
する信号により変えられてはならない。さらに、モジュ
ール上にインターフェース手段を取り付ける際、モジュ
ールの構成又は設計を変更することを要求してはならな
い。
一連のモジュールを備えた回路ボード上のトランシー
バに関する上記従来技術（US−Ａ−5252914）では、回
路ボードの常設コネクタの幾つかのピン、及びボード上
のモジュールの入出力ピンとの接続を行うように配置さ
れた別の圧力ピン（pressure pins）に対してテスト装
置を連結することにより診断が行われる。よって、診断
設備は、これらのピンを接触させることによりテストさ
れうるものに限定される。
バに関する上記従来技術（US−Ａ−5252914）では、回
路ボードの常設コネクタの幾つかのピン、及びボード上
のモジュールの入出力ピンとの接続を行うように配置さ
れた別の圧力ピン（pressure pins）に対してテスト装
置を連結することにより診断が行われる。よって、診断
設備は、これらのピンを接触させることによりテストさ
れうるものに限定される。
本発明により、通信用電子装置の構成モジュールが提
供され、該構成モジュールにより、モジュール設定ルー
ルに特別の拘束を課すことなく上記要求を満足するよう
にテストを行うことができる。
供され、該構成モジュールにより、モジュール設定ルー
ルに特別の拘束を課すことなく上記要求を満足するよう
にテストを行うことができる。
本モジュールの特徴は、上記インターフェース手段が
以下のものを含むことである。すなわち、前記テスト・
診断システムにより与えられる制御信号により駆動され
てモジュールの所定の挿入ポイントにテスト信号を自動
的にプログラム挿入するための作動プローブと、モジュ
ール内に存在する信号をモニタリングポイントから収集
しこれらの信号をテスト・診断システムに転送するモニ
タリングプローブと、一方の端が前記作動プローブ及び
モニタリングプローブに接続され、もう一方の端がモジ
ュールに設けられたコネクタに接続されてコネクタとプ
ローブ間で信号を転送するためのシールド付きマイクロ
同軸ケーブルと、調整手段とを含む。該調整手段は、作
動プローブに制御信号を与えるケーブル用のコネクタに
結合し、テスト・診断システムにより与えられる同じタ
イプの制御信号を用いて異なる技術に基づいたモジュー
ル内に信号を挿入することを可能にし、そして、テスト
中のモジュールとテスト・診断システムの間にガルバニ
絶縁（直流電気絶縁）（galvanic isolation）を与え
る。
以下のものを含むことである。すなわち、前記テスト・
診断システムにより与えられる制御信号により駆動され
てモジュールの所定の挿入ポイントにテスト信号を自動
的にプログラム挿入するための作動プローブと、モジュ
ール内に存在する信号をモニタリングポイントから収集
しこれらの信号をテスト・診断システムに転送するモニ
タリングプローブと、一方の端が前記作動プローブ及び
モニタリングプローブに接続され、もう一方の端がモジ
ュールに設けられたコネクタに接続されてコネクタとプ
ローブ間で信号を転送するためのシールド付きマイクロ
同軸ケーブルと、調整手段とを含む。該調整手段は、作
動プローブに制御信号を与えるケーブル用のコネクタに
結合し、テスト・診断システムにより与えられる同じタ
イプの制御信号を用いて異なる技術に基づいたモジュー
ル内に信号を挿入することを可能にし、そして、テスト
中のモジュールとテスト・診断システムの間にガルバニ
絶縁（直流電気絶縁）（galvanic isolation）を与え
る。
さらに明瞭にするために、添付図面が参照される。
図１は、本発明に従って作動プローブとモニタリング
プローブが取り付けられた構成モジュールの概略図であ
る。
プローブが取り付けられた構成モジュールの概略図であ
る。
図２は、プローブをモジュールに接続するための手段
の好適実施態様を概略的に示す。
の好適実施態様を概略的に示す。
図３は、作動プローブの電気接続図である。
図４乃至７は、作動プローブの回路図である。
図１では、電子通信デバイスの構成モジュール１（例
えばプリント回路ボード）は、モジュール自身の上に作
られたプリント回路により相互接続されたコンポーネン
ト２を支持する。プリント回路の配線パターンは３で示
される。
えばプリント回路ボード）は、モジュール自身の上に作
られたプリント回路により相互接続されたコンポーネン
ト２を支持する。プリント回路の配線パターンは３で示
される。
ボード１は作動（又は信号挿入）プローブ４とモニタ
リングプローブ５を支持する。作動プローブ４は、図示
されてないテスト・診断システムにより制御されるフォ
ールト作動プローブ又はノイズ注入プローブとすること
ができる。それらは、装置におけるポイントを所定の電
圧レベル（プローブタイプに依存して論理レベル０又は
論理レベル１に対応）に接続し、又は調整自在な電流に
より表されるノイズをこれらのポイントに注入する。モ
ニタリングプローブ５は、フォールトの作動又はノイズ
の注入に際し、これらのポイントの電気的応答をテスト
・診断システムに向けて転送し、又は一般に装置の通常
動作をモニターする。テストされるべき各ボード上には
数十のプローブ４、５を設ける必要がある。よって、ボ
ード上に搭載されたコンポーネント間の空間内に適合し
且つプローブの無い従来ボードを受け入れる同じハウジ
ング（キャビネット及び引き出し）内にこのように装備
されたボードを収納することの妨げにならないように、
プローブは小型化ユニットとして作る必要がある。この
ように、ボード又はハウジングに対する構成変更の必要
がなく、特に、拡張カードを使用する必要がない。
リングプローブ５を支持する。作動プローブ４は、図示
されてないテスト・診断システムにより制御されるフォ
ールト作動プローブ又はノイズ注入プローブとすること
ができる。それらは、装置におけるポイントを所定の電
圧レベル（プローブタイプに依存して論理レベル０又は
論理レベル１に対応）に接続し、又は調整自在な電流に
より表されるノイズをこれらのポイントに注入する。モ
ニタリングプローブ５は、フォールトの作動又はノイズ
の注入に際し、これらのポイントの電気的応答をテスト
・診断システムに向けて転送し、又は一般に装置の通常
動作をモニターする。テストされるべき各ボード上には
数十のプローブ４、５を設ける必要がある。よって、ボ
ード上に搭載されたコンポーネント間の空間内に適合し
且つプローブの無い従来ボードを受け入れる同じハウジ
ング（キャビネット及び引き出し）内にこのように装備
されたボードを収納することの妨げにならないように、
プローブは小型化ユニットとして作る必要がある。この
ように、ボード又はハウジングに対する構成変更の必要
がなく、特に、拡張カードを使用する必要がない。
フォールト作動の場合の信号挿入プローブは、例えば
我々の以前のイタリア特許出願No.TO96A000168（1996年
３月６日提出）に記載されているプローブとできる。こ
の特許出願では、小型化されたコンポーネント（例え
ば、頭文字SMD（Surface Mounting Device）として知ら
れている技術により作られたコンポーネント）として前
記プローブを製造することも開示されている。前記プロ
ーブの模範的な実施態様が以下で開示される。
我々の以前のイタリア特許出願No.TO96A000168（1996年
３月６日提出）に記載されているプローブとできる。こ
の特許出願では、小型化されたコンポーネント（例え
ば、頭文字SMD（Surface Mounting Device）として知ら
れている技術により作られたコンポーネント）として前
記プローブを製造することも開示されている。前記プロ
ーブの模範的な実施態様が以下で開示される。
ノイズ注入の場合には、作動プローブは簡単な電流発
生器（エミッタと直列な抵抗器を有するトランジスタ）
とでき、従って、それらは例えばフォールト作動プロー
ブを製造するのに用いる技術と同じ技術を用いることに
より容易に小型化できる。同じことがモニタリングプロ
ーブにも当てはまり、これらは簡単な抵抗器により作る
ことができる。
生器（エミッタと直列な抵抗器を有するトランジスタ）
とでき、従って、それらは例えばフォールト作動プロー
ブを製造するのに用いる技術と同じ技術を用いることに
より容易に小型化できる。同じことがモニタリングプロ
ーブにも当てはまり、これらは簡単な抵抗器により作る
ことができる。
以後、記載を簡単にするために、上記特許出願による
プローブを使用する際にはフォールト作動について参照
する。以下の考察はノイズ注入にも適用できる。
プローブを使用する際にはフォールト作動について参照
する。以下の考察はノイズ注入にも適用できる。
一対の導体６がプローブ４の本体の一つの側から出
て、標準ボード１上で利用可能なアクセスポイントを介
してフォールト作動ポイント及び所定の電圧に接続す
る。シールド付きマイクロ同軸ケーブル７は、該プロー
ブのもう一方の側から出ており、テスト・診断システム
により与えられる命令が、シールド付きマイクロ同軸ケ
ーブル７を介してプローブに送られる。明らかに、（上
記特許出願で記載のように）もし作動プローブが挿入ポ
イントでの電流吸収を示す信号をテスト・診断システム
に向けて送るならば、各々のプローブは一対のシールド
付きケーブル７と接続されるであろう。同様に、応答を
取得するボード１上のポイントと、応答をテスト・診断
システムに送るシールド付きマイクロ同軸ケーブル９を
接続するための導体８は、モニタリングプローブ５から
出てくる。
て、標準ボード１上で利用可能なアクセスポイントを介
してフォールト作動ポイント及び所定の電圧に接続す
る。シールド付きマイクロ同軸ケーブル７は、該プロー
ブのもう一方の側から出ており、テスト・診断システム
により与えられる命令が、シールド付きマイクロ同軸ケ
ーブル７を介してプローブに送られる。明らかに、（上
記特許出願で記載のように）もし作動プローブが挿入ポ
イントでの電流吸収を示す信号をテスト・診断システム
に向けて送るならば、各々のプローブは一対のシールド
付きケーブル７と接続されるであろう。同様に、応答を
取得するボード１上のポイントと、応答をテスト・診断
システムに送るシールド付きマイクロ同軸ケーブル９を
接続するための導体８は、モニタリングプローブ５から
出てくる。
プローブとボード間の接続に関しては、ボード１に用
いられる製造技術に依存し、アクセスポイントはコンポ
ーネントのピン若しくはプリント回路配線３上のスルー
ホール、又はボード設計で設けられてボード上の機能テ
ストを行うテストポイント（例えば、所謂「ネイルベッ
ドテスト（nail bed tests）」を行うためのパッド）で
ある。
いられる製造技術に依存し、アクセスポイントはコンポ
ーネントのピン若しくはプリント回路配線３上のスルー
ホール、又はボード設計で設けられてボード上の機能テ
ストを行うテストポイント（例えば、所謂「ネイルベッ
ドテスト（nail bed tests）」を行うためのパッド）で
ある。
コンポーネントピンを介したアクセスは、十分に広い
ピンピッチを特徴とする例えばデュアルインライン又は
ピングリッドアレイ（PGAとして公知）などの先進でな
いパッケージング技術に対して主に適用できる。
ピンピッチを特徴とする例えばデュアルインライン又は
ピングリッドアレイ（PGAとして公知）などの先進でな
いパッケージング技術に対して主に適用できる。
上述したSMD技術のようにコンポーネントピンピッチ
がより狭い先進のコンポーネント搭載技術では、一旦コ
ンポーネントがボード上に取り付けられると、ピンを介
するアクセスはより困難と（又は不可能とすら）なり、
テスト結果を歪ませボードに損傷を与えさえする短絡を
引き起こし得る。これらの条件下では、プローブとモジ
ュール間の接続は、図２に示されるように、金属化ホー
ル12（例えば通常ボードに備えられるスルーホール）内
に挿入された金属サポート（フォーク10又はピット11）
の中に導体６、８の端を挿入することにより為され得
る。この解決策により、（導体６、８をサポート10、11
にはんだ付けすることにより）プローブ４、５をボード
１に恒久的に接続すること、及び単に導体をサポート内
に挿入することにより取り外し自在に接続することの両
方が可能となる。
がより狭い先進のコンポーネント搭載技術では、一旦コ
ンポーネントがボード上に取り付けられると、ピンを介
するアクセスはより困難と（又は不可能とすら）なり、
テスト結果を歪ませボードに損傷を与えさえする短絡を
引き起こし得る。これらの条件下では、プローブとモジ
ュール間の接続は、図２に示されるように、金属化ホー
ル12（例えば通常ボードに備えられるスルーホール）内
に挿入された金属サポート（フォーク10又はピット11）
の中に導体６、８の端を挿入することにより為され得
る。この解決策により、（導体６、８をサポート10、11
にはんだ付けすることにより）プローブ４、５をボード
１に恒久的に接続すること、及び単に導体をサポート内
に挿入することにより取り外し自在に接続することの両
方が可能となる。
図２に示されたものと同一種類の取り付けが、一般に
ホールを含む上記パッドに対しても採用できる。
ホールを含む上記パッドに対しても採用できる。
従って、選択された取り付け法に関わらず、例えば新
しいバージョンの装置を開発する際に常にテストを繰り
返し利用できるようにするため、プローブの備わったボ
ードを供給できる。
しいバージョンの装置を開発する際に常にテストを繰り
返し利用できるようにするため、プローブの備わったボ
ードを供給できる。
テストの効果を保証するために、たとえ作動プローブ
が理想的（寄生パラメータが無い）であってとしても、
信号伝播現象によりフォールト挿入ポイントの下流の回
路でフォールススイッチングを引き起こし得る。このた
め、テストされるべき送信器（「ドライバ」）に対応し
て作動プローブを適用することが物理的に可能なときで
さえ、ドライバとレシーバ間の接続の中間ポイントにて
シミュレート・フォールトを生じさせることが適当であ
る。挿入ポイントの選択は、本発明の目的にとっては興
味のないソフトウエア手順により、ボード挙動を分析す
る間に行うことができる。もしプローブの備わったボー
ドが与えられると、後続のテストのためにテストポイン
トを識別する手順を繰り返す必要がないことは明らかで
ある。
が理想的（寄生パラメータが無い）であってとしても、
信号伝播現象によりフォールト挿入ポイントの下流の回
路でフォールススイッチングを引き起こし得る。このた
め、テストされるべき送信器（「ドライバ」）に対応し
て作動プローブを適用することが物理的に可能なときで
さえ、ドライバとレシーバ間の接続の中間ポイントにて
シミュレート・フォールトを生じさせることが適当であ
る。挿入ポイントの選択は、本発明の目的にとっては興
味のないソフトウエア手順により、ボード挙動を分析す
る間に行うことができる。もしプローブの備わったボー
ドが与えられると、後続のテストのためにテストポイン
トを識別する手順を繰り返す必要がないことは明らかで
ある。
図１に戻って、プローブとテスト・診断システムの信
号転送のためのシールド付きマイクロ同軸ケーブル７、
９を使用することにより、該ボードがその一部である装
置の通常動作の間はテスト信号とボード上に存在する信
号間の干渉がないことが保証される。さらに、制御され
たインピーダンスのお陰で、これらのケーブルは波形の
質に対してより良い制御をも行い、また、維持されるべ
きモニタリングプローブにより収集された信号のかなり
広いバンドがこれらのケーブルにより許容される。最後
に、これらのケーブルの断面サイズは、ハウジング内へ
のボードの収納に際し障害とならず、従って、各ボード
に幾つかのプローブが備わっている場合でさえ、それら
のそれぞれのハウジング内にボードを取り付けることを
妨げない。
号転送のためのシールド付きマイクロ同軸ケーブル７、
９を使用することにより、該ボードがその一部である装
置の通常動作の間はテスト信号とボード上に存在する信
号間の干渉がないことが保証される。さらに、制御され
たインピーダンスのお陰で、これらのケーブルは波形の
質に対してより良い制御をも行い、また、維持されるべ
きモニタリングプローブにより収集された信号のかなり
広いバンドがこれらのケーブルにより許容される。最後
に、これらのケーブルの断面サイズは、ハウジング内へ
のボードの収納に際し障害とならず、従って、各ボード
に幾つかのプローブが備わっている場合でさえ、それら
のそれぞれのハウジング内にボードを取り付けることを
妨げない。
プローブ４、５に接続された端の反対端では、同軸ケ
ーブル７、９はそれぞれ（従来型の）コネクタ13、14に
終端し、これらのコネクタはテストシステムに接続する
べく線15、16に接続される。プローブ４のケーブル用コ
ネクタ13は調整デバイス17と結合する。調整デバイス17
の目的は、次の２点である。
ーブル７、９はそれぞれ（従来型の）コネクタ13、14に
終端し、これらのコネクタはテストシステムに接続する
べく線15、16に接続される。プローブ４のケーブル用コ
ネクタ13は調整デバイス17と結合する。調整デバイス17
の目的は、次の２点である。
− 異なる技術（TTL、CMOS、ECL）に基づくモジュール
に対して同じタイプのフォールト作動命令を使用できる
ようにすること。挿入ポイントに論理レベル０又は論理
レベル１を強制し、所与の論理レベルに対して異なる電
圧レベルを強制することが求められる。
に対して同じタイプのフォールト作動命令を使用できる
ようにすること。挿入ポイントに論理レベル０又は論理
レベル１を強制し、所与の論理レベルに対して異なる電
圧レベルを強制することが求められる。
− テスト・診断システムとテスト中のボード間にガル
バニ絶縁を与え、異なるボードのグランド間のスプリア
ス接続又はプローブを介したラック（rack）を避けるこ
と。
バニ絶縁を与え、異なるボードのグランド間のスプリア
ス接続又はプローブを介したラック（rack）を避けるこ
と。
この構成で、作動プローブ４の電気接続図は図３に示
されているようになり、図１、図２で示された要素は同
じ参照符号で表される。VCC1、Ｍ、VCC2は、それぞれ電
源電圧、ボード１のグランド、及びテスト・診断システ
ムにより使用される電源電圧を示す。調整手段17は光ア
イソレータ18を含み、そのフォトダイオードは、制御信
号により駆動され、該制御信号は、プローブ４を駆動す
る回路21により発生される。一方、フォトトランジスタ
20（例えばｎ−ｐ−ｎトランジスタ）は、ｐ−ｎ−ｐト
ランジスタ22を含む回路を介してケーブル７に制御信号
を送る。該ｐ−ｎ−ｐトランジスタはこれらの信号を増
幅し反転する。よって、フォトダイオードが光を放つと
きにプローブが作動され、トランジスター22が存在しな
い場合でも逆方向には作動しない。このことは、フォー
ルト挿入命令がアクティブ又は非アクティブにされる度
に全てのプローブ上に一時的ノイズが入ることを防止す
るために要求される。
されているようになり、図１、図２で示された要素は同
じ参照符号で表される。VCC1、Ｍ、VCC2は、それぞれ電
源電圧、ボード１のグランド、及びテスト・診断システ
ムにより使用される電源電圧を示す。調整手段17は光ア
イソレータ18を含み、そのフォトダイオードは、制御信
号により駆動され、該制御信号は、プローブ４を駆動す
る回路21により発生される。一方、フォトトランジスタ
20（例えばｎ−ｐ−ｎトランジスタ）は、ｐ−ｎ−ｐト
ランジスタ22を含む回路を介してケーブル７に制御信号
を送る。該ｐ−ｎ−ｐトランジスタはこれらの信号を増
幅し反転する。よって、フォトダイオードが光を放つと
きにプローブが作動され、トランジスター22が存在しな
い場合でも逆方向には作動しない。このことは、フォー
ルト挿入命令がアクティブ又は非アクティブにされる度
に全てのプローブ上に一時的ノイズが入ることを防止す
るために要求される。
記載の完全を期すために、以下でプローブ４の構造と
動作がまとめられる。
動作がまとめられる。
プローブの基本コンポーネントはトランジスタ112で
あり、好ましくは図４及び図６に示された解決策ではｎ
−ｐ−ｎバイポーラトランジスタであり、図５及び図７
に示された解決策ではｐ−ｎ−ｐバイポーラトランジス
タである。トランジスタ112のコレクタは、フォールト
挿入ポイントPiに恒久的又は一時的に接続されたプロー
ブ４の端子に対応する。一方、トランジスタ112のエミ
ッタは、ここでも恒久的又は一時的に所定の信号レベル
に接続されたプローブ端子に対応し、該信号レベルは図
４及び図６ではグランドレベルＭに、図５及び図７では
電源VCCと仮定される。一般に、ｎ−ｐ−ｎトランジス
タを用いた実施態様（図４及び６）では２つの論理レベ
ルに対応する基準電圧レベルのうち低い方、すなわちＭ
（一般に０ボルト）又は−VCC（例えば−5V）をポイン
トPiに強制でき、ｐ−ｎ−ｐトランジスタを用いた実施
態様（図５及び７）では代わりにより高い基準電圧レベ
ル、すなわち＋VCC又はＭをそれぞれポイントPiに強制
できる。
あり、好ましくは図４及び図６に示された解決策ではｎ
−ｐ−ｎバイポーラトランジスタであり、図５及び図７
に示された解決策ではｐ−ｎ−ｐバイポーラトランジス
タである。トランジスタ112のコレクタは、フォールト
挿入ポイントPiに恒久的又は一時的に接続されたプロー
ブ４の端子に対応する。一方、トランジスタ112のエミ
ッタは、ここでも恒久的又は一時的に所定の信号レベル
に接続されたプローブ端子に対応し、該信号レベルは図
４及び図６ではグランドレベルＭに、図５及び図７では
電源VCCと仮定される。一般に、ｎ−ｐ−ｎトランジス
タを用いた実施態様（図４及び６）では２つの論理レベ
ルに対応する基準電圧レベルのうち低い方、すなわちＭ
（一般に０ボルト）又は−VCC（例えば−5V）をポイン
トPiに強制でき、ｐ−ｎ−ｐトランジスタを用いた実施
態様（図５及び７）では代わりにより高い基準電圧レベ
ル、すなわち＋VCC又はＭをそれぞれポイントPiに強制
できる。
図４及び図５では、プローブ４は同軸ケーブル（図１
のケーブル７の一つに対応）によりテスト・診断システ
ムに接続されている。この同軸ケーブルのシールド114
は、基準電圧（グランドＭ又は電源電圧±VCC）に接続
され、よって、トランジスタ112のエミッタに接続され
る。内部導体116は、例えば40オームのオーダーの抵抗
を有するバイアス抵抗器118を介してトランジスタ112の
ベースに接続される。フォールト作動が望まれるとき、
ケーブル114、116と抵抗器118を介して適当な命令信号
がトランジスタ12に飽和をもたらす。
のケーブル７の一つに対応）によりテスト・診断システ
ムに接続されている。この同軸ケーブルのシールド114
は、基準電圧（グランドＭ又は電源電圧±VCC）に接続
され、よって、トランジスタ112のエミッタに接続され
る。内部導体116は、例えば40オームのオーダーの抵抗
を有するバイアス抵抗器118を介してトランジスタ112の
ベースに接続される。フォールト作動が望まれるとき、
ケーブル114、116と抵抗器118を介して適当な命令信号
がトランジスタ12に飽和をもたらす。
図６及び図７に示された実施態様では、例えば１オー
ムのオーダーの抵抗を有する抵抗器120が、トランジス
タ112のエミッタに直列に接続される。よって、トラン
ジスタ112が飽和状態にあるとき、すなわちフォールト
挿入が行われているとき、トランジスタ112（コレクタ
とエミッタの間）を流れる電流は抵抗器120を通過す
る。抵抗器120間の電圧は、その電流の値を表す信号で
あり、この信号がシールド121及び内部導体123を有する
同軸ケーブル（図１のケーブル７のうち２番目のものに
対応）を介してテスト・診断システムに送り返される。
該シールド121は、通常122内においてトランジスタ112
のベースを駆動するケーブルのシールド114に電気接続
され、該内部導体123は、トランジスタ112のエミッタに
接続される。その結果、ケーブル121、123は、フォール
ト挿入ポイントPiに対応した電流吸収を表す信号を伝送
し、よって、フォールト挿入により装置Ａに生じた電気
的負荷についての表示を得ることができる。
ムのオーダーの抵抗を有する抵抗器120が、トランジス
タ112のエミッタに直列に接続される。よって、トラン
ジスタ112が飽和状態にあるとき、すなわちフォールト
挿入が行われているとき、トランジスタ112（コレクタ
とエミッタの間）を流れる電流は抵抗器120を通過す
る。抵抗器120間の電圧は、その電流の値を表す信号で
あり、この信号がシールド121及び内部導体123を有する
同軸ケーブル（図１のケーブル７のうち２番目のものに
対応）を介してテスト・診断システムに送り返される。
該シールド121は、通常122内においてトランジスタ112
のベースを駆動するケーブルのシールド114に電気接続
され、該内部導体123は、トランジスタ112のエミッタに
接続される。その結果、ケーブル121、123は、フォール
ト挿入ポイントPiに対応した電流吸収を表す信号を伝送
し、よって、フォールト挿入により装置Ａに生じた電気
的負荷についての表示を得ることができる。
プローブ４はさらにコンデンサ119を含む。該コンデ
ンサ119は、トランジスタ112のベースとエミッタの間に
接続され、コレクタとベース間に存在する寄生容量（C
CB）の効果を打ち消す。この寄生容量により、特にフォ
ールト挿入が為されていないとき、ポイントPiに接続さ
れたプローブ４の存在がポイントPiを通過する信号に影
響を与える。実際、例として図４を見てみると、これら
の条件下においてポイントPiに存在する信号の立ち上が
りエッジに対応して、寄生容量がコレクタとベース間に
電気的カップリングを生じさせる傾向にある。この電気
的カップリングは、トランジスタ112のベースを、少な
くとも短い間ベース−エミッタ接合を導通させるのに十
分なレベルとする程度のものである。従って、トランジ
スタ112自身のコレクタとエミッタを通る電流フローが
存在する。このことは、実際にはむしろ「歪んだ」立ち
上がりエッジを生じさせる。すなわち、ポイントPiの電
圧は急勾配で大きく（ステップ電圧）はならず、むしろ
トランジスタ112に引き起こされた導通フェーズにより
影響されて多少丸められたエッジを有する。同じ考察
が、図６の実施態様、及び図５と図７の実施態様におけ
る信号の立ち下がりエッジにも適用される。
ンサ119は、トランジスタ112のベースとエミッタの間に
接続され、コレクタとベース間に存在する寄生容量（C
CB）の効果を打ち消す。この寄生容量により、特にフォ
ールト挿入が為されていないとき、ポイントPiに接続さ
れたプローブ４の存在がポイントPiを通過する信号に影
響を与える。実際、例として図４を見てみると、これら
の条件下においてポイントPiに存在する信号の立ち上が
りエッジに対応して、寄生容量がコレクタとベース間に
電気的カップリングを生じさせる傾向にある。この電気
的カップリングは、トランジスタ112のベースを、少な
くとも短い間ベース−エミッタ接合を導通させるのに十
分なレベルとする程度のものである。従って、トランジ
スタ112自身のコレクタとエミッタを通る電流フローが
存在する。このことは、実際にはむしろ「歪んだ」立ち
上がりエッジを生じさせる。すなわち、ポイントPiの電
圧は急勾配で大きく（ステップ電圧）はならず、むしろ
トランジスタ112に引き起こされた導通フェーズにより
影響されて多少丸められたエッジを有する。同じ考察
が、図６の実施態様、及び図５と図７の実施態様におけ
る信号の立ち下がりエッジにも適用される。
上記問題点を解消するために、コンデンサ119の容量
値は、前記寄生容量（一般には1pFのオーダー）よりも
実質的に高くなければならず、好ましくは約２オーダー
の大きさだけ高くなければならない。例えば、コンデン
サ119の容量は40pFが適している。コンデンサ119は、寄
生容量性カップリング故に、トランジスタベースにより
トランジスタ112のコレクタのトラッキングを効果的に
対照（及び実際的な目的では打ち消し）できる。
値は、前記寄生容量（一般には1pFのオーダー）よりも
実質的に高くなければならず、好ましくは約２オーダー
の大きさだけ高くなければならない。例えば、コンデン
サ119の容量は40pFが適している。コンデンサ119は、寄
生容量性カップリング故に、トランジスタベースにより
トランジスタ112のコレクタのトラッキングを効果的に
対照（及び実際的な目的では打ち消し）できる。
すぐ上で記載した構造は上記要求を満たす。上記特許
出願で明瞭に説明されていたように、作動プローブの電
気的構造は、シミュレートされるフォールト又は注入ノ
イズが無い場合においてテスト中の装置の動作を実際に
妨害しないようなものである。シールド付き同軸ケーブ
ルを使用することで、通常動作中のモジュールに存在す
る信号とテスト信号間の相互の影響が防止される。製造
段階で設けられたアクセスポイントにプローブを接続し
且つ小型化プローブを使用することにより、モジュール
自身又はそれらを収容する構造のどちらかに対する設計
変更及び構造変更の必要がなくなる。最後に、光アイソ
レータを用いた調整手段により、テスト・診断システム
を介した異なるモジュールのグランド間のスプリアス接
続が防止される。
出願で明瞭に説明されていたように、作動プローブの電
気的構造は、シミュレートされるフォールト又は注入ノ
イズが無い場合においてテスト中の装置の動作を実際に
妨害しないようなものである。シールド付き同軸ケーブ
ルを使用することで、通常動作中のモジュールに存在す
る信号とテスト信号間の相互の影響が防止される。製造
段階で設けられたアクセスポイントにプローブを接続し
且つ小型化プローブを使用することにより、モジュール
自身又はそれらを収容する構造のどちらかに対する設計
変更及び構造変更の必要がなくなる。最後に、光アイソ
レータを用いた調整手段により、テスト・診断システム
を介した異なるモジュールのグランド間のスプリアス接
続が防止される。
ここで記載されたことは単に限定的でない例により与
えられており、変形、変更は本発明の範囲を逸脱しない
かぎり可能である。
えられており、変形、変更は本発明の範囲を逸脱しない
かぎり可能である。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−3642（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−192161（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−171668（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−199169（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−10981（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−11022（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−215973（ＪＰ，Ａ) 実開 平３−35471（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭58−195882（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04M 3/22 - 3/36 G01R 1/06 - 1/073 G01R 31/28 - 31/30
Claims (8)
- 【請求項１】電子通信装置の構成モジュールであって、
構成モジュール内の所定の挿入ポイント又はモニタリン
グポイントを介して該モジュールとテスト・診断システ
ムをインターフェースするための手段（４、５、６、
７、８、９）を備え、該インターフェース手段は、少な
くとも一時的にかつ該手段の不使用時に通常動作を妨害
しないように、モジュール（１）自身の上に取り付ける
ことができるものに於いて、該インターフェース手段
が、 （あ）前記テスト・診断システムによりプログラム可能
な方式にて与えられる制御信号により駆動される作動プ
ローブ（４）であって、モジュール（１）の通常動作中
に存在する電気条件を再生するように、モジュールの所
定の挿入ポイントにテスト信号を自動的に挿入するため
の前記作動プローブ（４）と、 （い）モジュール内に存在する信号をモニタリングポイ
ントから収集し、これらの信号をテスト・診断システム
に転送するモニタリングプローブ（５）と、（う）制御
信号をテスト・診断システムから受け取り、前記作動プ
ローブ（４）に送るため、及びモニタリングプローブ
（５）により収集された信号をモニタリングプローブ
（５）から受け取り、テスト・診断システムに送るた
め、モジュール（１）に設けられたコネクタ（13、14）
と、 （え）一方の側において前記作動プローブ（４）及びモ
ニタリングプローブ（５）に接続され、もう一方の側に
おいて前記コネクタ（13、14）に接続され、コネクタ
（13、14）とプローブ（４、５）間で信号を転送するた
めのシールド付きマイクロ同軸ケーブル（７、９）と、 （お）制御信号を作動プローブ（４）に送るケーブル用
のコネクタ（13）に結合し、テスト・診断システムによ
り与えられる同一タイプの制御信号を用いて異なる製造
技術に基づいたモジュール内に信号を挿入することを可
能にし、テスト・診断システムとテスト中のモジュール
（１）間にガルバニ絶縁を与える調整手段（17）と を含むことを特徴とする電子通信装置の構成モジュー
ル。 - 【請求項２】前記作動プローブ（４）が、モジュールの
所定ポイントを所定電圧レベルに接続してこれらのポイ
ントに起こりうるフォールト状態をシミュレートするた
めのプローブと、障害をシミュレートする可変電流をこ
れらのポイントに注入するためのプローブとを含むこと
を特徴とする請求の範囲第１項記載のモジュール。 - 【請求項３】前記プローブが、他のコンポーネント間に
空間に収まり且つハウジング内へのモジュールの収納の
際にも障害が生じないくらい小型のコンポーネントとし
て作られることを特徴とする請求の範囲第１項又は第２
項に記載のモジュール。 - 【請求項４】前記作動プローブ及びモニタリングプロー
ブは同一の製造技術を用いることにより実現されること
を特徴とする請求の範囲第３項記載のモジュール。 - 【請求項５】挿入及び／又はモニタリングポイントが、
モジュール（１）上に取り付けられた電子コンポーネン
ト（２）のピンから成り、前記プローブ（４、５）がこ
れらのポイントに常設固定されることを特徴とする請求
の範囲第１乃至４項のいずれか一項に記載のモジュー
ル。 - 【請求項６】挿入ポイントは、フォールトがシミュレー
トされるか又はノイズが挿入される第一コンポーネント
と第１コンポーネントから来る信号を受ける第２コンポ
ーネント間の接続における中間ポイントであることを特
徴とする請求の範囲第１乃至５項のいずれか一項に記載
のモジュール。 - 【請求項７】プローブ（４、５）が、それぞれの作動又
はモニタリングポイントと接続するための導体（６、
８）を有し、該導体の端は金属化スルーホール（12）内
又はパッド内に挿入された金属サポート（10、11）内に
収容されることを特徴とする請求の範囲第１乃至６項の
いずれか一項に記載のモジュール。 - 【請求項８】前記調整手段（17）が、光アイソレータ
（18）と、該光アイソレータ（18）のフォトトランジス
タ（19）により放たれた信号を増幅し反転するための手
段（22）とを含むことを特徴とする請求の範囲第１乃至
７項のいずれか一項に記載のモジュール。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT96TO000256A IT1286293B1 (it) | 1996-04-02 | 1996-04-02 | Modulo costruttivo di apparecchiatura elettronica per telecomunicazioni con interfaccia verso un sistema di prova e diagnosi |
| IT96A000256 | 1996-04-02 | ||
| PCT/EP1997/001632 WO1997037234A1 (en) | 1996-04-02 | 1997-04-01 | Constructive module of an electronic telecommunications equipment, with an interface towards a testing and diagnosing system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11507191A JPH11507191A (ja) | 1999-06-22 |
| JP3126149B2 true JP3126149B2 (ja) | 2001-01-22 |
Family
ID=11414519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09534939A Expired - Lifetime JP3126149B2 (ja) | 1996-04-02 | 1997-04-01 | テスト・診断システム用インターフェースを備えた電子通信装置の構成モジュール |
Country Status (12)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6194909B1 (ja) |
| EP (1) | EP0891558B1 (ja) |
| JP (1) | JP3126149B2 (ja) |
| AT (1) | ATE211262T1 (ja) |
| AU (1) | AU706919B2 (ja) |
| CA (1) | CA2250703C (ja) |
| DE (1) | DE69709329T2 (ja) |
| ES (1) | ES2170384T3 (ja) |
| IT (1) | IT1286293B1 (ja) |
| NO (1) | NO315537B1 (ja) |
| PT (1) | PT891558E (ja) |
| WO (1) | WO1997037234A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6327676B1 (en) * | 1998-03-31 | 2001-12-04 | Emc Corporation | Test equipment |
| US6684340B1 (en) * | 1999-10-07 | 2004-01-27 | Endress + Hauser Gmbh + Co. | Measuring instrument having two pairs of lines connected to two indentical pairs of terminals, via which signal current flows through one pair and supply current flows through the other pair |
| US6885203B1 (en) * | 2000-03-16 | 2005-04-26 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Wafer level burn-in using light as the stimulating signal |
| US7598747B2 (en) * | 2006-01-27 | 2009-10-06 | Ricoh Company, Ltd. | Noise injection apparatus for printed circuit board |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4498196A (en) * | 1982-07-27 | 1985-02-05 | General Electric Company | Testable optically isolated control circuit |
| US4646299A (en) * | 1983-08-01 | 1987-02-24 | Fairchild Semiconductor Corporation | Method and apparatus for applying and monitoring programmed test signals during automated testing of electronic circuits |
| DE3328335A1 (de) * | 1983-08-05 | 1985-02-14 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Datenfernueberwachungssystem |
| US4810956A (en) * | 1987-12-21 | 1989-03-07 | Northern Telecom Limited | Mounting bracket for test probes |
| US5252914A (en) | 1990-08-06 | 1993-10-12 | Ericsson Ge Mobile Communications Inc. | Method of constructing and testing a circuit board designed for early diagnostics |
-
1996
- 1996-04-02 IT IT96TO000256A patent/IT1286293B1/it active IP Right Grant
-
1997
- 1997-04-01 DE DE69709329T patent/DE69709329T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-01 PT PT97918092T patent/PT891558E/pt unknown
- 1997-04-01 JP JP09534939A patent/JP3126149B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-01 AT AT97918092T patent/ATE211262T1/de active
- 1997-04-01 US US09/117,725 patent/US6194909B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-01 CA CA002250703A patent/CA2250703C/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-01 ES ES97918092T patent/ES2170384T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-01 WO PCT/EP1997/001632 patent/WO1997037234A1/en active IP Right Grant
- 1997-04-01 EP EP97918092A patent/EP0891558B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-01 AU AU26356/97A patent/AU706919B2/en not_active Expired
-
1998
- 1998-10-01 NO NO19984598A patent/NO315537B1/no not_active IP Right Cessation
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|---|---|
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| ATE211262T1 (de) | 2002-01-15 |
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| PT891558E (pt) | 2002-06-28 |
| ES2170384T3 (es) | 2002-08-01 |
| EP0891558A1 (en) | 1999-01-20 |
| CA2250703C (en) | 2002-07-09 |
| AU706919B2 (en) | 1999-07-01 |
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| AU2635697A (en) | 1997-10-22 |
| EP0891558B1 (en) | 2001-12-19 |
| IT1286293B1 (it) | 1998-07-08 |
| DE69709329T2 (de) | 2002-08-14 |
| ITTO960256A0 (ja) | 1996-04-02 |
| WO1997037234A1 (en) | 1997-10-09 |
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