JP3111270B2 - Transfer arm cleaning device - Google Patents

Transfer arm cleaning device

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JP3111270B2
JP3111270B2 JP35126993A JP35126993A JP3111270B2 JP 3111270 B2 JP3111270 B2 JP 3111270B2 JP 35126993 A JP35126993 A JP 35126993A JP 35126993 A JP35126993 A JP 35126993A JP 3111270 B2 JP3111270 B2 JP 3111270B2
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transfer
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、複数の板状被処理体を
一列に配列した状態で把持して搬送するための搬送アー
ムを洗浄する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for cleaning a transfer arm for holding and transferring a plurality of plate-like workpieces in a line.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハ洗浄装置においては、洗浄
処理能率を上げるために、多数枚たとえば25枚の半導
体ウエハを板面(ウエハ面)にほぼ垂直な方向に一列に
ほぼ等間隔で配列した状態でウエハチャック等の搬送装
置で把持しつつ一括して(一組として)洗浄処理液に浸
漬するようにしている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor wafer cleaning apparatus, a large number of semiconductor wafers, for example, 25 semiconductor wafers are arranged in a line in a direction substantially perpendicular to a plate surface (wafer surface) at substantially equal intervals in order to improve the cleaning efficiency. , The wafers are immersed in the cleaning treatment liquid at one time (as a set) while being held by a transfer device such as a wafer chuck.

【0003】図9に、この種の搬送装置を用いる半導体
ウエハ洗浄装置の構成を示す。この洗浄装置において、
処理槽100には被処理体としての半導体ウエハWを洗
浄処理するための処理液PQが入っている。搬送ロボッ
ト102は、矢印Yの方向に自走して、処理槽100と
ウエハ搬入出口(図示せず)との間で行き来するように
構成されている。搬送ロボット102には矢印Zの方向
(垂直方向)に昇降可能なチャック駆動部104が搭載
され、このチャック駆動部104にウエハチャック(搬
送装置)106が取り付けられている。
FIG. 9 shows a configuration of a semiconductor wafer cleaning apparatus using this type of transfer apparatus. In this cleaning device,
The processing bath 100 contains a processing liquid PQ for cleaning a semiconductor wafer W as an object to be processed. The transfer robot 102 is configured to run in the direction of arrow Y and move back and forth between the processing tank 100 and a wafer loading / unloading port (not shown). The transfer robot 102 is equipped with a chuck drive unit 104 that can move up and down in the direction of arrow Z (vertical direction), and a wafer chuck (transfer device) 106 is attached to the chuck drive unit 104.

【0004】ウエハチャック106は、チャック駆動部
104に伸縮・回転可能に取付された一対の水平支持杆
110A,110Bと、これらの水平支持杆110A,
110Bの先端部および基端部にそれぞれ固着された垂
直フレーム杆112A,114A,112B,114B
と、垂直フレーム杆112A,114Aの間および11
2B,114Bの間にそれぞれ横架された2本のウエハ
支持杆116A,118Aおよび116B,118B
(ウエハWの陰になって図9では見えない)とから構成
されている。水平支持杆110A、垂直フレーム杆11
2A,114Aおよびウエハ支持杆116A,118A
は一体となって一方の搬送アーム120Aを構成し、水
平支持杆110B、垂直フレーム杆112B,114B
およびウエハ支持杆116B,118Bは一体となって
他方の搬送アーム120Bを構成している。
The wafer chuck 106 has a pair of horizontal support rods 110A and 110B attached to the chuck driving unit 104 so as to be able to expand and contract and rotate.
Vertical frame rods 112A, 114A, 112B, 114B fixed to the distal end and the proximal end of 110B, respectively.
Between the vertical frame rods 112A and 114A and 11
2B and 114B, two wafer supporting rods 116A and 118A and 116B and 118B, respectively.
(Behind the wafer W and cannot be seen in FIG. 9). Horizontal support rod 110A, vertical frame rod 11
2A, 114A and wafer support rods 116A, 118A
Integrally constitute one transfer arm 120A, and include a horizontal support rod 110B and vertical frame rods 112B and 114B.
The wafer support rods 116B and 118B are integrated to form the other transfer arm 120B.

【0005】チャック駆動部104の回転駆動によって
水平支持杆110A,110Bが回転すると、両搬送ア
ーム120A,120Bは矢印CA,CB の方向に開閉し
て、1組分のウエハW1 〜W25を一括して着脱可能に把
持するようになっている。各ウエハ支持杆116A,1
18A,116B,118Bの内側にはウエハW1 〜W
25を板面に垂直な方向に一列に配列した状態で保持する
ための溝G1 〜G25がほぼ一定間隔で形成されている。
図示のように、これらのウエハW1 〜W25は、その下端
部が下部ウエハ支持杆118A,118Bよりも下には
み出るようにして、両搬送アーム120A,120Bに
把持される。
When the horizontal support rods 110A and 110B are rotated by the rotation of the chuck driving unit 104, the two transfer arms 120A and 120B are opened and closed in the directions of arrows CA and CB to collectively collect one set of wafers W1 to W25. It is designed to be detachably gripped. Each wafer support rod 116A, 1
18A, 116B, and 118B, the wafers W1 to W
Grooves G1 to G25 are formed at substantially constant intervals to hold the 25's arranged in a line in a direction perpendicular to the plate surface.
As shown, these wafers W1 to W25 are gripped by both transfer arms 120A and 120B such that their lower ends protrude below lower wafer support rods 118A and 118B.

【0006】図9では、洗浄処理の前後の状態、つまり
ウエハW1 〜W25を処理槽100の中に入れる直前、ま
たは処理槽100から出した直後の状態が示されてい
る。洗浄処理を行うときは、チャック駆動部104の下
降移動によってウエハチヤック106が処理槽100の
中へ降下する。処理槽100内には、ウエハW1 〜W25
を保持するためのウエハボート(図示せず)が処理液P
Qの液面下の所定位置に配設されており、処理液PQ中
でウエハチャック106から該ウエハボートにウエハW
1 〜W25が一括移載される。
FIG. 9 shows a state before and after the cleaning process, that is, a state immediately before the wafers W1 to W25 are put into the processing bath 100 or immediately after the wafers W1 to W25 are taken out of the processing bath 100. When performing the cleaning process, the wafer chuck 106 is lowered into the processing bath 100 by the downward movement of the chuck driving unit 104. In the processing tank 100, the wafers W1 to W25
The wafer boat (not shown) for holding the processing liquid P
Q is disposed at a predetermined position below the liquid level, and the wafer W is transferred from the wafer chuck 106 to the wafer boat in the processing liquid PQ.
1 to W25 are collectively transferred.

【0007】したがって、ウエハチャック106は、処
理槽100内でウエハW1 〜W25をウエハボートに移載
した後は、一時的に手の空いた状態となる。この手の空
いている合間に、必要に応じて搬送ロボット102が処
理槽100に近接したウエハチャック洗浄部(搬送アー
ム洗浄部)へ移動し、そこで搬送アーム120A,12
0Bの洗浄が行われる。
Therefore, after the wafer chuck 106 transfers the wafers W1 to W25 to the wafer boat in the processing tank 100, the wafer chuck 106 is temporarily left empty. While the hand is vacant, the transfer robot 102 moves to the wafer chuck cleaning unit (transfer arm cleaning unit) close to the processing tank 100 as necessary, where the transfer arms 120A and 120A are moved.
OB cleaning is performed.

【0008】一般に、搬送アーム洗浄部では、最初に搬
送アーム120A,120Bの各部に付いている処理液
やパーティクル等を洗い落とすための洗浄液たとえば純
水の吹き付けによるスプレー洗浄が行われ、次に乾燥の
ためのガスたとえばエアの吹き付けによる液切りが行わ
れる。
In general, in the transfer arm cleaning section, first, spray cleaning is performed by spraying a cleaning liquid, such as pure water, for washing off processing liquid, particles and the like attached to each section of the transfer arms 120A, 120B, and then drying. For example, liquid is removed by blowing gas such as air.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来より種々
の搬送アーム洗浄装置が知られているが、いずれも効率
や安全性、特に液切り(乾燥処理)の効率および安全性
に課題があり、たとえば液切りが不完全であったり、液
切りに比較的長い時間を要したり、あるいは液切りによ
る水滴が搬送アームの他の部分に付いたり隣の処理液槽
へ飛び散ったりする等の不具合があった。
However, various types of transfer arm cleaning devices have been conventionally known, but all have problems in efficiency and safety, particularly in efficiency and safety of liquid removal (drying processing). For example, there are problems such as incomplete drainage, a relatively long time required for drainage, or water droplets from the drainage sticking to other parts of the transfer arm or scattering to the next processing liquid tank. there were.

【0010】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
もので、搬送アームの洗浄および乾燥処理を高い効率で
良好かつ安全に行えるようにした搬送アーム洗浄装置を
提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a transfer arm cleaning apparatus capable of performing the cleaning and drying of the transfer arm with good efficiency and safety.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の第1の搬送アーム洗浄装置は、複数の板
状の被処理体を所定の間隔を置いて配列した状態で一対
の搬送アームで把持して搬送する搬送装置の前記搬送ア
ームを洗浄するための搬送アーム洗浄装置において、前
記搬送アームが上面開口からほぼ垂直方向に出入りでき
るように構成された洗浄室と、前記洗浄室内で各々の吐
出口を前記搬送アームの通路上に設定された所定の高さ
の洗浄位置に向けて前記搬送アームの通路の片側または
両側にほぼ水平方向に一列または複数列に配置され多数
の洗浄ノズルと、前記洗浄ノズルに洗浄液を供給する洗
浄液供給手段と、前記洗浄室内で各々の吐出口を前記搬
送アームの通路上に設定された前記洗浄ノズルの洗浄位
置よりも高い所定の液切り位置に向けて前記搬送アーム
の通路の片側または両側にほぼ水平方向に一列または複
数列に配置され、大部分の吐出口はノズル配列方向に対
してほぼ垂直な面内で斜め下向きになっている多数のガ
スノズルと、前記ガスノズルに乾燥用のガスを供給する
ガス供給手段と、前記搬送アームが前記洗浄液または前
記乾燥用ガスを吹き付けられている間に、前記搬送アー
ムを前記洗浄ノズルまたは前記ガスノズルのノズル配列
方向と平行に移動させる手段とを具備する構成とした。
In order to achieve the above object, a first transfer arm cleaning apparatus of the present invention comprises a plurality of plate-like objects to be processed which are arranged at a predetermined interval. A transfer arm cleaning device for cleaning the transfer arm of a transfer device gripping and transferring by the transfer arm, wherein the transfer arm is configured to be able to enter and exit in a substantially vertical direction from an upper surface opening; In the room, each discharge port is arranged in a row or a plurality of rows in a substantially horizontal direction on one side or both sides of the passage of the transfer arm toward a cleaning position at a predetermined height set on the passage of the transfer arm. A cleaning nozzle, a cleaning liquid supply unit configured to supply a cleaning liquid to the cleaning nozzle, and a predetermined position higher than a cleaning position of the cleaning nozzle set on the passage of the transfer arm in each of the discharge ports in the cleaning chamber. One or both sides of the passage of the transfer arm are arranged in a row or a plurality of rows in a substantially horizontal direction toward the liquid draining position, and most of the discharge ports face obliquely downward in a plane substantially perpendicular to the nozzle arrangement direction. numerous gas nozzle has a gas supply means for supplying a drying gas into the gas nozzle, wherein the transfer arm is the cleaning solution or before
While the drying gas is being blown, the transfer
The nozzle array of the cleaning nozzle or the gas nozzle
Means for moving in parallel with the direction .

【0012】また、本発明の第2の搬送アーム洗浄装置
は、複数の板状の被処理体を所定の間隔を置いて配列し
た状態で一対の搬送アームで把持して搬送する搬送装置
の前記搬送アームを洗浄するための搬送アーム洗浄装置
において、前記搬送アームが上面開口からほぼ垂直方向
に出入りできるように構成された洗浄室と、前記洗浄室
内で各々の吐出口を前記搬送アームの通路上に設定され
た所定の高さの洗浄位置に向けて前記搬送アームの通路
の片側または両側にほぼ水平方向に一列または複数列に
配置され多数の洗浄ノズルと、前記洗浄ノズルに洗浄液
を供給する洗浄液供給手段と、前記洗浄室内で各々の吐
出口を前記搬送アームの通路上に設定された前記洗浄ノ
ズルの洗浄位置よりも高い所定の液切り位置に向けて前
記搬送アームの通路の片側または両側にほぼ水平方向に
一列または複数列に配置され、大部分の吐出口はノズル
配列方向に対してほぼ垂直な面内で斜め下向きになって
いる多数のガスノズルと、前記ガスノズルに乾燥用のガ
スを供給するガス供給手段とを具備し、前記洗浄室が室
内の中心部に設けられた仕切り板によって一方の搬送ア
ームを洗浄するための第1の洗浄室と他方の搬送アーム
を洗浄するための第2の洗浄室とに分割され、前記第1
および第2の洗浄室の各々に前記洗浄ノズルおよび前記
ガスノズルが設けられている構成とした。
In a second transfer arm cleaning apparatus of the present invention, a plurality of plate-like objects to be processed are arranged at predetermined intervals.
Transport device that grips and transports with a pair of transport arms in the upright position
Transfer arm cleaning device for cleaning the transfer arm
Wherein the transfer arm is substantially perpendicular to the upper surface opening.
A cleaning chamber configured to be able to enter and exit the
Each discharge port is set on the passage of the transfer arm within
Path of the transfer arm toward the cleaning position at a predetermined height
Nearly horizontal single or multiple rows on one or both sides
A number of cleaning nozzles arranged and a cleaning liquid
Cleaning liquid supply means for supplying
An outlet is set on the cleaning arm set on the passage of the transfer arm.
Forward to a predetermined draining position higher than the rinsing position
Almost horizontally on one or both sides of the transfer arm passage
They are arranged in one or more rows and most of the outlets are nozzles
Obliquely downward in a plane almost perpendicular to the arrangement direction
A number of gas nozzles and a drying gas
Gas supply means for supplying a gas, wherein the cleaning chamber is a chamber.
One transport door is separated by a partition plate provided at the center of
Cleaning chamber for cleaning the arm and the other transfer arm
And a second cleaning chamber for cleaning the
And the washing nozzle and the washing nozzle in each of the second washing chambers.
The configuration was such that a gas nozzle was provided.

【0013】本発明の第1または第2の搬送アーム洗浄
装置において、好ましくは、各列の前記ガスノズルのう
ち、中間部のガスノズルの吐出口はノズル配列方向に対
してほぼ垂直な面内で斜め下向きに設けられ、両端部の
ガスノズルの吐出口は前記垂直面に対して傾いた角度で
設けられている構成としてよい。 別の好ましい態様とし
て、前記洗浄ノズルは前記搬送アーム通路の片側または
両側にほぼ水平に配置された1本または複数本の洗浄ス
プレー用配管の各々に所定の間隔で設けられ、各々の前
記洗浄スプレー用配管は両端が開口し、それら開口した
両端に共通の前記洗浄液供給手段が接続されている構成
としてよい。 他の好ましい態様として、前記搬送アーム
が前記搬送アーム通路に沿って上昇する際に前記洗浄位
置で前記洗浄ノズルからの洗浄液を吹き付けられる構成
としてよい。 他の好ましい態様として、前記搬送アーム
が前記搬送アーム通路に沿って上昇する際に前記液切り
位置で前記ガスノズルからの乾燥用ガスを吹き付けられ
る構成としてよい更に他の好ましい態様として、前記
洗浄室の上面には前記搬送アームを通り抜けさせるため
の開口を有する遮蔽板が設けられている構成としてよ
い。
[0013] First or second transfer arm cleaning of the present invention
In the apparatus, preferably, each row of the gas nozzles
In other words, the discharge port of the gas nozzle in the middle
It is provided diagonally downward in a substantially vertical plane,
The outlet of the gas nozzle is inclined at an angle to the vertical plane.
The configuration may be provided. In another preferred embodiment
The washing nozzle is located on one side of the transfer arm passage or
One or more cleaning swaths arranged approximately horizontally on both sides
Provided at predetermined intervals in each of the play pipes,
The cleaning spray pipe was open at both ends and opened
A configuration in which a common cleaning liquid supply unit is connected to both ends.
It may be. In another preferred embodiment, the transfer arm
When the cleaning position rises along the transfer arm path,
Cleaning liquid can be sprayed from the cleaning nozzle
It may be. In another preferred embodiment, the transfer arm
When the liquid rises along the transfer arm path,
The drying gas is sprayed from the gas nozzle at the position
May be adopted . As still another preferred embodiment,
On the upper surface of the cleaning chamber to pass through the transfer arm
Configuration with a shielding plate with openings
No.

【0014】[0014]

【作用】本発明においては、搬送アーム通路の両側また
は片側にほぼ水平方向に一列に配置された多数の液切り
用ガスノズルのほとんど(たとえば中間部)が液切り位
置に向けてノズル配列方向に対してほぼ垂直な面内で斜
め下向きに液切り用ガス(たとえばエア)を噴射するこ
とにより、搬送アームの各部、特に水平部に付いていた
液滴はその位置からほぼ垂直方向に最短経路を辿って振
り切られる。これにより、短時間で効率良く液切りが行
われる。
According to the present invention, most (for example, an intermediate portion) of a large number of liquid drain gas nozzles arranged substantially horizontally in a row on both sides or one side of the transfer arm passage (for example, an intermediate portion) move toward the liquid drain position in the nozzle arrangement direction. By injecting a liquid for draining liquid (for example, air) obliquely downward in a substantially vertical plane, the droplets attached to each part of the transfer arm, particularly the horizontal part, follow the shortest path from the position in a substantially vertical direction. Shake off. As a result, the liquid is drained efficiently in a short time.

【0015】そして、本発明の第1の搬送アーム洗浄装
置では、洗浄・乾燥動作の際に、搬送アームが洗浄ノズ
ルまたはガスノズルのノズル配列方向と平行に移動する
ことにより、洗浄ノズルからの洗浄液またはガスノズル
からの液切り用ガスがアーム各部に万遍無く当たり、洗
浄または液切りが効果的かつ効率的に行われる。
The first transfer arm cleaning device of the present invention
The transfer arm moves the cleaning nozzle during the cleaning / drying operation.
Move parallel to the nozzle or gas nozzle array direction
The cleaning liquid or gas nozzle from the cleaning nozzle
The gas for draining from
Purification or drainage is performed effectively and efficiently.

【0016】また、本発明の第2の搬送アーム洗浄装置
では、仕切り板によって互いに独立した(遮断された)
第1および第2の洗浄室が形成されているので、これら
第1および第2の洗浄室で一対の搬送アームが互いに遮
断状態で同時的または選択的に洗浄・乾燥処理を受ける
ことが可能である。
Also, a second transfer arm cleaning apparatus according to the present invention.
In, separated from each other by the partition plate (cut off)
Since the first and second cleaning chambers are formed, these
A pair of transfer arms are shielded from each other in the first and second cleaning chambers.
Receive simultaneous or selective cleaning / drying process when disconnected
It is possible.

【0017】[0017]

【実施例】以下、図1〜図8を参照して本発明の実施例
を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0018】図1〜図4は本発明の一実施例による搬送
アーム洗浄装置の主な構成を示す図であって、図1は一
部分解斜視図、図2はアーム長手方向と平行な面につい
ての縦断面図、図3はアーム長手方向と垂直な面につい
ての縦断面図および図4は横断面図である。また、図5
および図6は実施例の搬送アーム洗浄装置における液切
り用ガスノズルの吐出口の構成・向きを示す横断面図お
よび縦断面図である。図7は、実施例におけるチャック
駆動部内のX軸駆動機構を示す一部分解斜視図である。
FIGS. 1 to 4 show the main structure of a transfer arm cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a partially exploded perspective view, and FIG. 2 is a view parallel to the arm longitudinal direction. 3 is a longitudinal sectional view of a plane perpendicular to the arm longitudinal direction, and FIG. 4 is a transverse sectional view. FIG.
FIGS. 6A and 6B are a cross-sectional view and a vertical cross-sectional view illustrating the configuration and orientation of the discharge port of the liquid drain gas nozzle in the transfer arm cleaning apparatus of the embodiment. FIG. 7 is a partially exploded perspective view showing an X-axis driving mechanism in the chuck driving unit in the embodiment.

【0019】この実施例における搬送アーム洗浄装置
は、たとえば図に示したような半導体ウエハ洗浄装置
の隣または同じ並びに設置されてよい。したがって、こ
の実施例における搬送ロボット102およびウエハチャ
ック106はそれぞれ図において同一の符号を付され
たものと同じ構成・機能を有するものでよく、それらの
詳細な説明は省略する。また、チャック駆動部104も
基本的な機能については従来と共通しているので、図
のものと同一の符号を付している。
The transfer arm washing apparatus in this embodiment, for example, may be placed next to or on the same row of the semiconductor wafer cleaning apparatus as shown in FIG. Accordingly, the transfer robot 102 and the wafer chuck 106 in this embodiment may have the same configurations and functions as those denoted by the same reference numerals in FIG. 9 , and a detailed description thereof will be omitted. Further, since the common with conventional for even basic functions chuck drive unit 104, FIG. 9
The same reference numerals are given to the components.

【0020】図1〜図4に示すように、この実施例にお
ける搬送アーム洗浄装置は、ボックス状の筐体10を有
している。この筐体10は、ZX面内で延在する一対の
側板12,14と、YZ面内で延在する一対の側板1
6,18と、XY面内で延在する底板20および上板2
2とで構成される。
As shown in FIGS. 1 to 4, the transfer arm cleaning apparatus in this embodiment has a box-shaped casing 10. The housing 10 includes a pair of side plates 12 and 14 extending in the ZX plane and a pair of side plates 1 extending in the YZ plane.
6, 18 and a bottom plate 20 and a top plate 2 extending in the XY plane.
And 2.

【0021】図2および図4に示すように、相対向する
YZ面内の側板16,18よりも内側にて一対の遮蔽板
24,26が所定の間隔を置いてZX面内の側板12,
14に固着されている。これら遮蔽板24,26と側板
12,14と上板22とで、底の開いている洗浄室28
が形成されている。さらに、この洗浄室28は、室内の
中心部に設けられたZX面内で延在する仕切り板30に
よって、第1洗浄室28Aと第2洗浄室28Bとに分割
されている。
As shown in FIGS. 2 and 4, a pair of shielding plates 24 and 26 are provided at predetermined intervals inside the side plates 16 and 18 in the YZ plane opposed to each other, and the side plates 12 and
14. The shielding plates 24 and 26, the side plates 12, 14 and the upper plate 22 form a cleaning chamber 28 having an open bottom.
Are formed. Further, the cleaning room 28 is divided into a first cleaning room 28A and a second cleaning room 28B by a partition plate 30 provided in the center of the room and extending in the ZX plane.

【0022】上板22は、洗浄室28の上面で室内と室
外を遮断する遮蔽板である。この上板22には、ウエハ
チャック106の両搬送アーム120A,120Bがそ
れぞれ洗浄室28にほぼ垂直方向に出入りできるように
するための開口22A,22Bが形成されている。これ
ら開口22A,22Bの真下の空間が、洗浄室28にお
ける両搬送アーム120A,120Bの通路32A,3
2Bとなっている。
The upper plate 22 is a shielding plate on the upper surface of the cleaning chamber 28 for blocking the room from the outside. Openings 22A and 22B are formed in the upper plate 22 so that both transfer arms 120A and 120B of the wafer chuck 106 can enter and exit the cleaning chamber 28 in a substantially vertical direction. The space directly below these openings 22A, 22B is the passages 32A, 3 of the two transfer arms 120A, 120B in the cleaning chamber 28.
2B.

【0023】搬送アーム通路32A,32Bの内側で仕
切り板30の上部には、洗浄スプレー用の配管34が板
30を横断してほぼ水平(X方向)に設けられており、
この配管34の第1洗浄室28Aおよび第2洗浄室28
Bに面している両側面のそれぞれに、図4に示されるよ
うに、筒状の洗浄ノズルWZが一定ピッチで一列に多数
個取付されている。各洗浄ノズルWZの吐出口は、図3
および図4に示されるように、ノズル配列方向に対して
垂直な面内で斜め下向きであって、第1および第2洗浄
室28A,28Bにおいて搬送アーム通路32A,32
B上に設定された所定の高さの洗浄位置HW を向いてい
る。
At the upper part of the partition plate 30 inside the transfer arm passages 32A and 32B, a pipe 34 for cleaning spray is provided substantially horizontally (X direction) across the plate 30.
The first cleaning chamber 28A and the second cleaning chamber 28 of this pipe 34
As shown in FIG. 4, a large number of cylindrical cleaning nozzles WZ are mounted in a line at a constant pitch on each of both side surfaces facing B. The discharge port of each cleaning nozzle WZ is shown in FIG.
As shown in FIG. 4, the transfer arm passages 32A, 32B are obliquely downward in a plane perpendicular to the nozzle arrangement direction and in the first and second cleaning chambers 28A, 28B.
It faces the cleaning position HW of a predetermined height set on B.

【0024】洗浄スプレー用配管34は両端が開口して
おり、図2に示すように、基端側は遮蔽板26の外側の
配管36に接続され、先端側は遮蔽板24の外側の配管
38に接続されている。配管38はボックス10内で洗
浄室28の下側を迂回して配管36に接続し、配管36
はコネクタ40を介して外部配管42に接続され、ひい
ては配管42を介して洗浄液供給源(図示せず)に接続
されている。
The cleaning spray pipe 34 is open at both ends. As shown in FIG. 2, the base end is connected to a pipe 36 outside the shielding plate 26, and the tip side is a piping 38 outside the shielding plate 24. It is connected to the. The pipe 38 bypasses the lower side of the cleaning chamber 28 in the box 10 and is connected to the pipe 36.
Is connected to an external pipe 42 via a connector 40, and further connected to a cleaning liquid supply source (not shown) via the pipe 42.

【0025】洗浄液供給源からの洗浄液は、配管42、
コネクタ40および配管36,38を通って洗浄スプレ
ー用配管34に導入され、配管34の両側面の各洗浄ノ
ズルWZより第1および第2洗浄室28A,28Bの各
洗浄位置HW に向けて所定の広角たとえば150゜で噴
射されるようになっている。
The cleaning liquid from the cleaning liquid supply source is supplied to a pipe 42,
It is introduced into the cleaning spray pipe 34 through the connector 40 and the pipes 36 and 38, and is directed from the cleaning nozzles WZ on both sides of the pipe 34 to the respective cleaning positions HW of the first and second cleaning chambers 28A and 28B. Injection is performed at a wide angle, for example, 150 °.

【0026】第1および第2洗浄室28A,28Bにお
いて上記洗浄スプレー用配管34より幾分高い位置で各
搬送アーム通路32A,32Bの両側(内側および外
側)には、それぞれ一対の液切り用のガス配管(36
A,38A),(36B,38B)がほぼ水平(X方
向)に設けられている。これら液切り用ガス配管の各々
の搬送アーム通路側の側面には、図1に示されるよう
に、開口型のガスノズルDZが一定ピッチで一列に多数
個穿孔されている。
In the first and second cleaning chambers 28A and 28B, a pair of liquid drainers are provided on both sides (inside and outside) of each of the transfer arm passages 32A and 32B at a position slightly higher than the cleaning spray pipe 34. Gas piping (36
A, 38A) and (36B, 38B) are provided substantially horizontally (X direction). As shown in FIG. 1, a large number of open-type gas nozzles DZ are bored in a line at a constant pitch on the side surface of each of the liquid drain gas pipes on the side of the transfer arm passage.

【0027】図3に示すように、各ガスノズルDZの吐
出口は各搬送アーム通路32A,32B上に設定された
上記洗浄位置HW よりも高い液切り位置HD を向いてい
る。また、図5および図6に示すように、少なくとも中
間部の各ガスノズルDZの吐出口はノズル配列方向(X
方向)に対して垂直な面(YZ面)内で斜め下向きにな
っている。両端部のガスノズルDZは、垂直フレーム杆
112A,114A,112B,114Bの外周面ない
し付け根部にも液切りガスを効果的に吹き付けるようY
Z面に対して傾いた角度で設けられてもよい。
As shown in FIG. 3, the discharge port of each gas nozzle DZ faces a liquid draining position HD higher than the washing position HW set on each of the transfer arm passages 32A and 32B. Further, as shown in FIGS. 5 and 6, at least the discharge port of each gas nozzle DZ in the middle portion is in the nozzle arrangement direction (X
Direction) obliquely downward in a plane (YZ plane) perpendicular to the direction. The gas nozzles DZ at both ends are arranged so that the draining gas is effectively blown to the outer peripheral surfaces or roots of the vertical frame rods 112A, 114A, 112B, 114B.
It may be provided at an angle inclined with respect to the Z plane.

【0028】第1洗浄室28Aにおける液切り用ガス配
管(36A,38A)は、基端部が開口してガス導入バ
ッファ室44Aに接続され、先端部が閉塞して遮蔽板2
4に固定されている。バッファ室44Aは、遮蔽板26
の外側の配管46Aおよびコネクタ48Aを介して外部
配管50Aに接続され、ひいてはこの外部配管50Aを
介してガス供給源(図示せず)に接続されている。ガス
供給源からの液切り用ガスたとえばエアは、配管50
A,コネクタ48Aおよび配管46Aを介してバッファ
室44Aに導入され、そこから一対の液切り用ガス配管
(36A,38A)に送られ、各ガス配管36A,38
のガスノズルDZより液切り位置HD に向けてほぼま
っすぐに噴射されるようになっている。
The liquid drain gas pipes (36A, 38A) in the first cleaning chamber 28A are open at the base end and connected to the gas introduction buffer chamber 44A, and are closed at the front end to close the shielding plate 2A.
4 is fixed. The buffer chamber 44A is provided with the shielding plate 26.
Is connected to an external pipe 50A via a pipe 46A and a connector 48A on the outer side of the outside, and is connected to a gas supply source (not shown) via the external pipe 50A. A gas for draining liquid from a gas supply source, for example, air is supplied to the pipe 50.
A, is introduced into the buffer chamber 44A through a connector 48A and the pipe 46A, which sends it to a pair of draining gas pipe (36A, 38A), the gas pipe 36A, 38
It is adapted to be substantially straight injected toward the draining position HD than gas nozzles DZ of A.

【0029】第2洗浄室28Bにおける液切り用ガス配
管(36B,38B)も、上記第1洗浄室28Aにおけ
る液切り用ガス配管(36A,38A)と同様の配管接
続構成となっており、ガス供給源からのエアは配管50
B,コネクタ48Bおよび配管46Bを介してバッファ
室44Bに導入され、そこから一対の液切り用ガス配管
(36B,38B)に送られ、各ガス配管36B,38
BのガスノズルDZより液切り位置HD に向けて噴射さ
れるようになっている。
The liquid drain gas pipes (36B, 38B) in the second cleaning chamber 28B have the same pipe connection structure as the liquid drain gas pipes (36A, 38A) in the first cleaning chamber 28A. Air from the supply source is pipe 50
B, the connector 48B and the pipe 46B are introduced into the buffer chamber 44B and sent therefrom to a pair of liquid drain gas pipes (36B, 38B).
B is sprayed from the gas nozzle DZ toward the liquid draining position HD.

【0030】図3に示すように、筐体10の底部付近に
は排気口52および排液口54が設けられている。排気
口52は、排気管56を介して排気ポンプ(図示せず)
に接続されている。排液口54は、排液管58を介して
ドレインタンク(図示せず)に接続されている。排気管
56内には排気ダンパ60が設けられてよい。
As shown in FIG. 3, an exhaust port 52 and a drain port 54 are provided near the bottom of the casing 10. The exhaust port 52 is connected to an exhaust pump (not shown) via an exhaust pipe 56.
It is connected to the. The drain port 54 is connected to a drain tank (not shown) via a drain pipe 58. An exhaust damper 60 may be provided in the exhaust pipe 56.

【0031】次に、本実施例における搬送アーム洗浄装
置の動作を説明する。
Next, the operation of the transfer arm cleaning apparatus in this embodiment will be described.

【0032】搬送アームの洗浄を行うときは、図1に示
すように、搬送ロボット102が空になっている(半導
体ウエハWを保持していない)ウエハチャック106を
本搬送アーム洗浄装置まで運んでくる。そして、チャッ
ク駆動部104により両搬送アーム120A,120B
が互いにほぼ平行でチャック通り口22A,22Bの真
上にそれぞれ位置決めされた状態で、搬送ロボット10
2の昇降駆動部が作動してチャック駆動部104および
ウエハチャック106を一体に降下させる。これによ
り、図3に示すように、両搬送アーム120A,120
Bは、それぞれ点線120A’,120B’のように開
口22A,22Bからほぼ垂直方向に第1および第2洗
浄室28A,28Bに入り、たとえば鎖線120A”,
120B”の位置まで下ろされる。
When cleaning the transfer arm, as shown in FIG. 1, the transfer robot 102 carries the empty wafer chuck 106 (not holding the semiconductor wafer W) to the main transfer arm cleaning apparatus. come. Then, both transport arms 120A, 120B are operated by the chuck driving unit 104.
Are substantially parallel to each other and positioned just above the chuck passage openings 22A and 22B, respectively.
The two lifting drive units operate to lower the chuck drive unit 104 and the wafer chuck 106 integrally. As a result, as shown in FIG.
B enters the first and second cleaning chambers 28A and 28B substantially perpendicularly from the openings 22A and 22B as indicated by dotted lines 120A 'and 120B', respectively.
120B ".

【0033】第1および第2洗浄室28A,28Bの中
では、水洗スプレー用配管34の両側にそれぞれ一列に
設けられた多数の水洗ノズルWZより搬送アーム通路3
2A上の洗浄位置HW に向けて洗浄液が噴射されるとと
もに、一対のガス配管(36A,38A)、(36B,
38B)の各々の内側に一列に設けられた多数のガスノ
ズルDZより搬送アーム通路32A上の液切り位置HD
に向けてエアが噴射されている。
In the first and second washing chambers 28A and 28B, a plurality of washing nozzles WZ provided in a row on both sides of the washing spray pipe 34 respectively provide the transfer arm passage 3 with a plurality of washing nozzles WZ.
The cleaning liquid is sprayed toward the cleaning position HW on 2A, and a pair of gas pipes (36A, 38A), (36B,
38B), a plurality of gas nozzles DZ provided in a line inside each of the liquid supply positions HD on the transfer arm passage 32A.
Air is being sprayed toward.

【0034】したがって、両搬送アーム120A,12
0Bがそれぞれ114A”,114B”位置まで下が
り、また、114A,114B位置へ上昇しながらHW
の位置で配管34の各ノズルWZより洗浄液を吹き付け
られる。この洗浄液スプレーによって、アームの各部に
付着している処理液やパーティクル等の一部または大部
分が洗い落とされる。
Therefore, both transfer arms 120A, 120A
0B goes down to the 114A "and 114B" positions, respectively, and HW rises to the 114A and 114B positions.
The cleaning liquid can be sprayed from each nozzle WZ of the pipe 34 at the position. With this cleaning liquid spray, part or most of the processing liquid, particles, and the like attached to each part of the arm are washed off.

【0035】両搬送アーム120A,120Bが鎖線1
20A”,120B”の位置まで下りると、次に搬送ロ
ボット102の昇降駆動部はウエハチャック106を上
方へ持ち上げて、両搬送アーム120A,120Bを第
1および第2洗浄室28A,28Bから引き上げる。両
搬送アーム120A,120Bは、引き上げられて上昇
移動する際に、先ず洗浄位置HW で洗浄ノズルWZから
の洗浄液スプレーによって処理液の残りやパーティクル
等を洗い落とし、その直後に液切り位置HD でガスノズ
ルDZからのエアナイフによって洗浄液を切る。これに
より、両搬送アーム120A,120Bは、きれいにな
って、しかも乾いた状態で第1および第2洗浄室28
A,28Bから引き上げられる。または、引き上げられ
ながら洗浄が行われ、搬送アーム120A,120Bが
もう一度114A”,114B”の位置へ下がり、もう
一度引き上げられながら乾燥が行われてもよい。(この
とき両側または片側ずつでもよい。)
The two transfer arms 120A and 120B are indicated by a chain line 1.
After descending to the position of 20A ", 120B", the lifting / lowering drive unit of the transfer robot 102 lifts the wafer chuck 106 and lifts both transfer arms 120A, 120B from the first and second cleaning chambers 28A, 28B. When the two transfer arms 120A and 120B are lifted and moved upward, first, at the cleaning position HW, the remaining processing liquid and particles are washed off by the cleaning liquid spray from the cleaning nozzle WZ, and immediately thereafter, the gas nozzle DZ at the liquid discharging position HD. Drain the cleaning solution with an air knife from As a result, the two transfer arms 120A and 120B are cleaned and dried in the first and second cleaning chambers 28.
A, 28B. Alternatively, the cleaning may be performed while being lifted, and the transfer arms 120A and 120B may be again lowered to the positions of 114A "and 114B", and the drying may be performed while being lifted again. (At this time, both sides or one side may be used.)

【0036】筐体10の底に落ちた洗浄液は排液口54
から排液管58を通ってドレインタンク側へ送られる。
また、本搬送アーム洗浄装置の上方には、洗浄室28内
に清浄な空気をダウンフローで供給する清浄空気供給装
置が備え付けられてよく、上面開口22A,22Bから
各洗浄室28A,28B内に入った空気は筐体10の底
部の排気口52から排気管56を通って排出される。
The cleaning solution fell to the bottom of the housing 10 drain port 54
Through the drain pipe 58 to the drain tank side.
Above the transfer arm cleaning device, a clean air supply device for supplying clean air into the cleaning chamber 28 in a downflow manner may be provided. The cleaning air supply device may be provided in the cleaning chambers 28A and 28B from the upper openings 22A and 22B. The air that has entered is exhausted from an exhaust port 52 at the bottom of the housing 10 through an exhaust pipe 56.

【0037】本実施例の搬送アーム洗浄装置では、各搬
送アーム通路32A,32Bの両側に各一列に設けられ
た多数のガスノズルDZのうちの少なくとも中間部のガ
スノズルDZは、液切り位置HD に向けて、ノズル配列
方向(X方向)に対してほぼ垂直な面内(YZ面内)で
斜め下向きに液切り用ガス(エア)を噴射する。このよ
うな斜め下向きのエアーナイフ効果により、図5に示す
ように、たとえば各搬送アームのウエハ支持杆118A
(118B)が上昇移動で液切り位置HD を通過すると
きには、支持杆118A(118B)の各部に付いてい
た液滴はその位置から曲線矢印LMで示すようにほぼ垂
直方向に(YZ面内で)支持杆118A(118B)の
外周面を伝わって、つまり最短経路を辿って振り切られ
る。したがって、各搬送アーム120A,120Bは、
洗浄液スプレーの直後に短時間で効率良くふき飛ばされ
る。
In the transfer arm cleaning apparatus of this embodiment, at least the middle gas nozzle DZ of the plurality of gas nozzles DZ provided in a line on both sides of each of the transfer arm passages 32A and 32B is directed toward the liquid discharge position HD. Then, the liquid draining gas (air) is jetted obliquely downward in a plane (YZ plane) substantially perpendicular to the nozzle arrangement direction (X direction). Due to such an obliquely downward air knife effect, for example, as shown in FIG.
When (118B) passes through the draining position HD due to the upward movement, the droplets attached to the respective portions of the support rod 118A (118B) are moved from that position in a substantially vertical direction (in the YZ plane) as indicated by the curved arrow LM. ) It is shaken off the outer peripheral surface of the support rod 118A (118B), that is, following the shortest path. Therefore, each transfer arm 120A, 120B
Immediately after the cleaning liquid spray, it is efficiently wiped off in a short time.

【0038】また、本実施例の搬送アーム洗浄装置で
は、洗浄室28の中央部に仕切り板30を設けて、一対
の搬送アーム120A,120Bを互いに独立した(遮
断された)第1および第2の洗浄室28A,28Bで同
時に洗浄・乾燥できるようにしている。これにより、た
とえば一方の搬送アーム120Aに対する洗浄液スプレ
ーの滴が他方の搬送アーム120Bの乾燥済みの部分に
付いたりするようなことはない。
In the transfer arm cleaning apparatus of the present embodiment, a partition plate 30 is provided at the center of the cleaning chamber 28 so that the pair of transfer arms 120A and 120B are independent (cut off) of the first and second transfer arms. Cleaning and drying at the same time in the cleaning chambers 28A and 28B. Thus, for example, the droplets of the cleaning liquid spray on one transfer arm 120A do not adhere to the dried portion of the other transfer arm 120B.

【0039】また、上記の動作では両搬送アーム120
A,120Bを同時に洗浄・乾燥したが、本実施例の搬
送アーム洗浄装置では、片側ずつ洗浄・乾燥または乾燥
を行うことも可能であり、これにより、たとえば液切り
用ガスの供給能力が小さい場合にも対応することができ
る。すなわち、液切り用ガス供給源からの液切り用ガス
配管(36A,38A),(36B,38B)に対する
ガスの供給をエアオペバルブ等の流体切換手段によって
選択的に切り換え、最初にたとえば第1の洗浄室28A
側で搬送アーム120Aを洗浄・乾燥し、次いで第2の
洗浄室28B側で搬送アーム120Bを洗浄・乾燥すれ
ばよい。このような片側乾燥によって、液切り用ガスの
ガス圧を2倍に高め、効果的な液切りを行うことができ
る。
In the above operation, the two transfer arms 120 are used.
Although A and 120B were simultaneously cleaned and dried, the transfer arm cleaning apparatus of the present embodiment can also perform cleaning, drying, or drying one by one, so that, for example, when the supply capacity of the draining gas is small. Can also be accommodated. That is, the gas supply from the liquid supply gas supply source to the liquid discharge gas pipes (36A, 38A) and (36B, 38B) is selectively switched by a fluid switching means such as an air operated valve, and the first cleaning is performed, for example. Room 28A
The transfer arm 120A may be cleaned and dried on the side, and then the transfer arm 120B may be cleaned and dried on the second cleaning chamber 28B side. By such single-sided drying, the gas pressure of the liquid for draining can be doubled, and effective draining can be performed.

【0040】この場合、搬送アーム120Bを洗浄・乾
燥する際に、既に洗浄・乾燥済みの搬送アーム12Aも
搬送アーム120Bと一緒に再度降下することになる
が、仕切り板30が両洗浄室28A,28Bまたは両搬
送アーム通路32A,32Bを遮断しているため、搬送
アーム120Bに対する洗浄液スプレーの滴が搬送アー
ム120A側へ降りかかるおそれはない。
In this case, when the transfer arm 120B is washed and dried, the transfer arm 12A which has already been washed and dried also descends again together with the transfer arm 120B. Since the transfer arm 28B or both transfer arm passages 32A and 32B are shut off, there is no possibility that the droplets of the cleaning liquid spray on the transfer arm 120B will fall on the transfer arm 120A side.

【0041】なお、第1および第2の洗浄室28A,2
8Bに別々の洗浄スプレー用配管を引いて、それぞれの
配管に洗浄液ノズルWZを設けてもよく、その場合にも
上記と同様の片側運転(洗浄)を行うことが可能であ
り、洗浄液の使用流量を少なくすることもできる。
The first and second cleaning chambers 28A, 28A, 2
8B may be provided with separate cleaning spray pipes, and each pipe may be provided with a cleaning liquid nozzle WZ. In this case, the same one-side operation (cleaning) as described above can be performed. Can also be reduced.

【0042】また、本実施例の搬送アーム洗浄装置で
は、洗浄室28の上面に搬送アーム通り口22A,22
Bを有する遮蔽板22を設けて、室内と室外を遮断して
いるので、洗浄液スプレーの滴が装置外部へ漏れないよ
うになっている。したがって、本装置の隣に接近して薬
液槽等を配置しても、洗浄液スプレーの滴が入り込むお
それはなく、安全である。
In the transfer arm cleaning apparatus of this embodiment, the transfer arm passage openings 22A, 22
Since the shield plate 22 having B is provided to block the inside and the outside of the room, the droplets of the cleaning liquid spray are prevented from leaking to the outside of the apparatus. Therefore, even if a chemical solution tank or the like is arranged adjacent to the present apparatus, there is no danger of the cleaning liquid spray entering the apparatus, which is safe.

【0043】さらに、本実施例の搬送アーム洗浄装置で
は、洗浄・乾燥動作の際に、図2の矢印Xで示すよう
に、両搬送アーム120A,120BをガスノズルDZ
の配列方向(X方向)で一定のストロークたとえばガス
ノズルDZのピッチ分だけ繰り返し往復移動させる機能
が備えられている。このように両搬送アーム120A,
120Bが同方向に往復移動することで、ガスノズルD
Zからの液切り用ガスがアーム各部に万遍無く当たり、
ガスノズルDZの間隔が大きくても、つまりガスノズル
DZの個数が少なくても効果的な液切りを行うことが可
能である。
Further, in the transfer arm cleaning apparatus of this embodiment, during the cleaning / drying operation, as shown by the arrow X in FIG.
In the arrangement direction (X direction) of the nozzles, a function of repeatedly reciprocating a predetermined stroke, for example, the pitch of the gas nozzles DZ. Thus, both transfer arms 120A,
120B reciprocates in the same direction, so that the gas nozzle D
The draining gas from Z hits each part of the arm evenly,
Even if the interval between the gas nozzles DZ is large, that is, even if the number of the gas nozzles DZ is small, it is possible to perform effective liquid drainage.

【0044】図7に、搬送アーム120A,120Bに
そのような往復移動を行わせるためのチャック駆動部1
04内の機構を示す。一対のアーム駆動軸62A,62
Bの基端部は互いに一体に接続され、先端部はウエハチ
ャック106の両水平支持杆110A,110Bにそれ
ぞれ接続されている。取付支持板63を介して両アーム
駆動軸62A,62B側に固定されたX軸駆動モータ6
4のモータ駆動軸にボールネジ65が接続され、このボ
ールネジ65にチャックベース66側に固定されたボー
ルナット68が螺合している。X軸駆動モータ64が回
転すると、X軸駆動モータ64および両アーム駆動軸6
2A,62Bが一体に回転方向に応じてX方向に前進移
動または後退移動するようになっており、その移動量は
モータ回転角に対応している。
FIG. 7 shows a chuck driving unit 1 for causing the transfer arms 120A and 120B to perform such a reciprocating movement.
4 shows the mechanism inside. A pair of arm drive shafts 62A, 62
The base ends of B are integrally connected to each other, and the front end is connected to both horizontal support bars 110A and 110B of the wafer chuck 106, respectively. X-axis drive motor 6 fixed to both arm drive shafts 62A, 62B via mounting support plate 63
A ball screw 65 is connected to the motor drive shaft 4, and a ball nut 68 fixed to the chuck base 66 is screwed to the ball screw 65. When the X-axis drive motor 64 rotates, the X-axis drive motor 64 and both arm drive shafts 6
2A and 62B integrally move forward or backward in the X direction according to the rotation direction, and the amount of movement corresponds to the motor rotation angle.

【0045】本実施例では、搬送アームの洗浄・乾燥動
作の際に、予め設定したプログラム制御でX軸駆動モー
64を所定の回転角度で交互に正転および逆転させる
ことによって、両アーム駆動軸62A,62Bひいては
両搬送アーム120A,120Bを所定ストロークで往
復移動させるようにしてよい。
In this embodiment, during the cleaning / drying operation of the transfer arm, the X-axis drive motor 64 is alternately rotated forward and backward at a predetermined rotation angle by a preset program control, thereby making the two arm drive shafts rotate. The transfer arms 62A, 62B and thus both transfer arms 120A, 120B may be reciprocated at a predetermined stroke.

【0046】図8は、上記した実施例による搬送アーム
洗浄装置の適用可能な半導体ウエハ洗浄システムの一構
成例を示す。この洗浄システムは、インプットバッファ
機構70と洗浄装置本体72とアウトプットバッファ機
構73とで構成されている。洗浄装置本体72の両端部
にはローダ部(ウエハ搬入部)74およびアンローダ部
(ウエハ搬出部)76がそれぞれ設けられ、中間部には
一列に複数台たとえば9台の処理部78a〜78iが配
置されている。たとえば、第1の処理部78aは搬送ア
ーム洗浄・乾燥部、第2の処理部78bはウエハ薬液洗
浄部、第3および第4の処理部78c,78dはそれぞ
れウエハ水洗部、第5の処理部78eはウエハ薬液洗浄
部、第6および第7の処理部78f,78gはウエハ水
洗部、第8の処理部78hはウエハ薬液洗浄部、第9の
処理部78iは搬送アーム洗浄・乾燥部である。上記し
た実施例による搬送アーム洗浄装置は、搬送アーム洗浄
・乾燥部(第1および第9の処理部78a,78i)に
設置されてよい。
FIG. 8 shows a configuration example of a semiconductor wafer cleaning system to which the transfer arm cleaning apparatus according to the above-described embodiment is applicable. This cleaning system includes an input buffer mechanism 70, a cleaning device main body 72, and an output buffer mechanism 73. A loader section (wafer carry-in section) 74 and an unloader section (wafer carry-out section) 76 are provided at both ends of the cleaning apparatus main body 72, respectively, and a plurality of, for example, nine processing sections 78a to 78i are arranged in a line at an intermediate section. Have been. For example, the first processing section 78a is a transfer arm cleaning / drying section, the second processing section 78b is a wafer chemical cleaning section, the third and fourth processing sections 78c and 78d are a wafer water cleaning section, and a fifth processing section, respectively. Reference numeral 78e is a wafer chemical cleaning section, sixth and seventh processing sections 78f and 78g are wafer rinsing sections, eighth processing section 78h is a wafer chemical cleaning section, and ninth processing section 78i is a transfer arm cleaning and drying section. . The transfer arm cleaning apparatus according to the above-described embodiment may be installed in the transfer arm cleaning / drying unit (the first and ninth processing units 78a and 78i).

【0047】これらの処理部78a〜78iの手前に
は、ウエハチャック106,106,106aをそれぞ
れ備えた複数台たとえば3台の搬送ロボット102,1
02,102が矢印Y方向に移動可能に配置されてい
る。各々の搬送ロボット102はY方向において移動ま
たは搬送範囲を制限され、それぞれ割り当てられた処理
部78にのみアクセスするようになっている。
In front of these processing units 78a to 78i, a plurality of, for example, three transfer robots 102, 1 each having a wafer chuck 106, 106, 106a are provided.
02 and 102 are arranged so as to be movable in the arrow Y direction. Each transfer robot 102 is restricted in movement or transfer range in the Y direction, and accesses only the processing unit 78 assigned to each transfer robot 102.

【0048】インプットバッファ機構70およびアウト
プットバッファ機構73には、ウエハキャリアCを搬送
するためのキャリア搬送アーム86、ウエハキャリアC
を一時的に保管するためのキャリア収納部88、システ
ム外部とウエハキャリアCの受け渡しを行うためのキャ
リア載置台90、空のウエハキャリアCを上昇または下
降させるためのキャリア昇降機92等が設けられてい
る。洗浄装置本体72においては、ローダ部74の上部
から搬送装置82a〜82cの上方を通ってアンローダ
部76に至るキャリア搬送機構94が設けられている。
The input buffer mechanism 70 and the output buffer mechanism 73 have a carrier transport arm 86 for transporting the wafer carrier C, and a wafer carrier C.
, A carrier mounting table 90 for transferring a wafer carrier C to and from the outside of the system, a carrier elevator 92 for raising or lowering an empty wafer carrier C, and the like. I have. In the cleaning device main body 72, a carrier transport mechanism 94 is provided from the upper portion of the loader portion 74 to the unloader portion 76 through above the transport devices 82a to 82c.

【0049】インプットバッファ機構70で空になった
ウエハキャリアCは、キャリア昇降機92によってキャ
リア搬送機構94に渡され、アウトプットバッファ機構
73まで搬送される。その搬送の途中で、ウエハキャリ
アCは、シャワー装置等の洗浄装置で洗浄され、洗浄後
に乾燥エアー吹付機等の乾燥装置によって乾かされるよ
うになっている。したがって、アウトプットバッファ機
構73においては、洗浄・乾燥された清浄なウエハキャ
リアCに洗浄処理済のウエハが移載収容されるようにな
っている。
The wafer carrier C emptied by the input buffer mechanism 70 is transferred to a carrier transport mechanism 94 by a carrier elevator 92 and transported to an output buffer mechanism 73. During the transfer, the wafer carrier C is cleaned by a cleaning device such as a shower device, and after the cleaning, is dried by a drying device such as a dry air sprayer. Therefore, in the output buffer mechanism 73, the cleaned wafer is transferred and housed in the cleaned and dried clean wafer carrier C.

【0050】以上、本発明の好適な実施例を幾つか説明
したが、本発明はそれらの実施例に限定されるものでは
なく、その技術的思想の範囲内で種々の変形・変更が可
能である。たとえば、洗浄液ノズルWZおよび水切り用
ガスノズルDZの配置位置、配置数、あるいは各ノズル
の形状・サイズ等は任意に選択可能である。したがっ
て、上記実施例では各搬送アーム通路32A,32Bの
両側に一対の水切り用ガス配管(36A,38A),
(36B,38B)を設けたが、たとえば片側だけに設
けてもよく、あるいは複数段に設けてもよい。また、洗
浄液に純水以外のものを用いてもよく、液切り用のガス
もエアに限らずたとえば窒素ガス等を用いてもよい。洗
浄・乾燥処理のために搬送アームを駆動する手段は、上
記した実施例のものに限定されるわけではなく、任意の
アーム駆動手段が可能である。
Although several preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to those embodiments, and various modifications and changes are possible within the scope of the technical idea. is there. For example, the arrangement position and number of the cleaning liquid nozzle WZ and the draining gas nozzle DZ, or the shape and size of each nozzle can be arbitrarily selected. Therefore, in the above embodiment, a pair of drainage gas pipes (36A, 38A) are provided on both sides of each transfer arm passage 32A, 32B.
Although (36B, 38B) are provided, for example, they may be provided only on one side, or may be provided in a plurality of stages. Further, a cleaning liquid other than pure water may be used, and the gas for draining the liquid is not limited to air, and for example, nitrogen gas or the like may be used. The means for driving the transfer arm for the washing / drying process is not limited to the one described in the above embodiment, and any arm driving means is possible.

【0051】また、上記した実施例は半導体ウエハを搬
送するための搬送アームを洗浄する装置に係るものであ
ったが、本発明は他の板状被処理体たとえばLCD基板
やガラス基板を搬送する搬送アームを洗浄する装置にも
適用可能である。
Although the above embodiment relates to an apparatus for cleaning a transfer arm for transferring a semiconductor wafer, the present invention transfers another plate-like object to be processed, such as an LCD substrate or a glass substrate. The present invention is also applicable to an apparatus for cleaning a transfer arm.

【0052】[0052]

【発明の効果】本発明の第1の搬送アーム洗浄装置によ
れば、洗浄・乾燥動作の際に、搬送アームを洗浄ノズル
またはガスノズルのノズル配列方向と平行に移動させる
ようにしたので、洗浄ノズルからの洗浄液またはガスノ
ズルからの液切り用ガスをアーム各部に万遍無く当たら
せ、洗浄または液切りを効果的かつ効率的に行うことが
できる。
According to the first transfer arm cleaning apparatus of the present invention,
The transfer arm during the cleaning / drying operation.
Or move in parallel with the nozzle arrangement direction of the gas nozzle
The cleaning liquid or gas nozzle from the cleaning nozzle.
If the gas for draining from the spill hits each part of the arm evenly
Cleaning and draining can be performed effectively and efficiently.
it can.

【0053】本発明の第2の搬送アーム洗浄装置によれ
ば、洗浄室を仕切り板によって互いに独立した第1およ
び第2の洗浄室に分割し、これら第1および第2の洗浄
室で一対の搬送アームに対して互いに遮断状態で同時的
または選択的に洗浄・乾燥処理を施すことが可能であ
り、洗浄液または液切り用ガスの使用効率の向上がはか
れると同時に、洗浄・乾燥処理の品質向上をはかること
もできる。
According to the second transfer arm cleaning apparatus of the present invention, the cleaning chamber is divided into the first and second cleaning chambers which are independent from each other by the partition plate, and the first and second cleaning chambers form a pair. The transfer arms can be simultaneously or selectively cleaned and dried in a state of being cut off from each other, improving the use efficiency of the cleaning liquid or gas for draining and improving the quality of the cleaning and drying processing. Can also be measured.

【0054】[0054]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例による搬送アーム洗浄装置の
主な構成を示す一部分解斜視図である。
FIG. 1 is a partially exploded perspective view showing a main configuration of a transfer arm cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】実施例における搬送アーム洗浄装置の主な構成
を示すアーム長手方向と平行な面についての縦断面図で
ある。
FIG. 2 is a vertical cross-sectional view of a main part of the transfer arm cleaning apparatus in the embodiment, taken on a plane parallel to the arm longitudinal direction.

【図3】実施例における搬送アーム洗浄装置の主な構成
を示すアーム長手方向と垂直な面についての縦断面図で
ある。
FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing a main structure of the transfer arm cleaning apparatus in the embodiment, taken on a plane perpendicular to the arm longitudinal direction.

【図4】実施例における搬送アーム洗浄装置の主な構成
を示す横断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a main configuration of a transfer arm cleaning device in the embodiment.

【図5】実施例の搬送アーム洗浄装置における液切り用
ガスノズルの吐出口の構成・向きを示す横断面図であ
る。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the configuration and orientation of a discharge port of a liquid drain gas nozzle in the transfer arm cleaning apparatus of the embodiment.

【図6】実施例の搬送アーム洗浄装置における液切り用
ガスノズルの吐出口の構成・向きを示す縦断面図であ
る。
FIG. 6 is a vertical cross-sectional view showing a configuration and an orientation of a discharge port of a liquid drain gas nozzle in the transfer arm cleaning apparatus of the embodiment.

【図7】実施例において洗浄・乾燥処理中に搬送アーム
を往復移動させるためのチャック駆動部内のX軸駆動機
構を示す一部分解斜視図である。
FIG. 7 is a partially exploded perspective view showing an X-axis drive mechanism in a chuck drive unit for reciprocating a transfer arm during a cleaning / drying process in the embodiment.

【図8】実施例による搬送アーム洗浄装置の適用可能な
半導体ウエハ洗浄システムの一構成例を示す斜視図であ
る。
FIG. 8 is a perspective view showing a configuration example of a semiconductor wafer cleaning system to which the transfer arm cleaning apparatus according to the embodiment can be applied.

【図9】本発明における搬送アームが使用される半導体
ウエハ洗浄装置の構成例を示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a configuration example of a semiconductor wafer cleaning apparatus using a transfer arm according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 筐体 22 上板(遮蔽板) 22A,22B 開口(搬送アーム通し口) 28 洗浄室 28A 第1洗浄室 28B 第2洗浄室 30 仕切り板 34 洗浄スプレー用配管 36A,38A,36B,38B 液切り用ガス配管 WZ 洗浄ノズル DZ ガスノズル 102 搬送ロボット 104 チャック駆動部 106 ウエハチャック 120A,120B 搬送アーム DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Case 22 Upper plate (shielding plate) 22A, 22B Opening (transport arm passage opening) 28 Cleaning room 28A First cleaning room 28B Second cleaning room 30 Partition plate 34 Cleaning spray piping 36A, 38A, 36B, 38B Gas pipe WZ cleaning nozzle DZ gas nozzle 102 transfer robot 104 chuck drive unit 106 wafer chuck 120A, 120B transfer arm

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304 643 H01L 21/304 651 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/304 643 H01L 21/304 651

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の板状の被処理体を所定の間隔を置
いて配列した状態で一対の搬送アームで把持して搬送す
る搬送装置の前記搬送アームを洗浄するための搬送アー
ム洗浄装置において、 前記搬送アームが上面開口からほぼ垂直方向に出入りで
きるように構成された洗浄室と、 前記洗浄室内で各々の吐出口を前記搬送アームの通路上
に設定された所定の高さの洗浄位置に向けて前記搬送ア
ームの通路の片側または両側にほぼ水平方向に一列また
は複数列に配置され多数の洗浄ノズルと、 前記洗浄ノズルに洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、 前記洗浄室内で各々の吐出口を前記搬送アームの通路上
に設定された前記洗浄ノズルの洗浄位置よりも高い所定
の液切り位置に向けて前記搬送アームの通路の片側また
は両側にほぼ水平方向に一列または複数列に配置され、
大部分の吐出口はノズル配列方向に対してほぼ垂直な面
内で斜め下向きになっている多数のガスノズルと、 前記ガスノズルに乾燥用のガスを供給するガス供給手段
と、前記搬送アームが前記洗浄液または前記乾燥用ガスを吹
き付けられている間に、前記搬送アームを前記洗浄ノズ
ルまたは前記ガスノズルのノズル配列方向と平行に移動
させる手段と を具備することを特徴とする搬送アーム洗
浄装置。
1. A transfer arm cleaning device for cleaning a transfer arm of a transfer device that holds and transfers a plurality of plate-shaped workpieces at predetermined intervals while holding the pair of transfer arms. A cleaning chamber configured so that the transfer arm can enter and exit in a substantially vertical direction from an upper surface opening; and each discharge port in the cleaning chamber at a cleaning position of a predetermined height set on a passage of the transfer arm. A large number of washing nozzles arranged in a row or a plurality of rows substantially horizontally on one or both sides of the passage of the transfer arm, washing liquid supply means for supplying a washing liquid to the washing nozzles, and respective discharge ports in the washing chamber Are aligned substantially horizontally in one or both sides of the passage of the transfer arm toward a predetermined liquid draining position higher than the washing position of the washing nozzle set on the passage of the transfer arm. Others are arranged in a plurality of rows,
Most of the discharge ports and a number of gas nozzles that is obliquely downward in a substantially vertical plane to the nozzle arrangement direction, and a gas supply means for supplying a drying gas into the gas nozzle, wherein the transfer arm is the cleaning solution Or blow the drying gas
While the transfer arm is being tightened,
Or parallel to the nozzle arrangement direction of the gas nozzle
Conveying arm cleaning apparatus characterized by comprising a means for.
【請求項2】 複数の板状の被処理体を所定の間隔を置
いて配列した状態で一対の搬送アームで把持して搬送す
る搬送装置の前記搬送アームを洗浄するための搬送アー
ム洗浄装置において、 前記搬送アームが上面開口からほぼ垂直方向に出入りで
きるように構成された洗浄室と、 前記洗浄室内で各々の吐出口を前記搬送アームの通路上
に設定された所定の高さの洗浄位置に向けて前記搬送ア
ームの通路の片側または両側にほぼ水平方向に一列また
は複数列に配置され多数の洗浄ノズルと、 前記洗浄ノズルに洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、 前記洗浄室内で各々の吐出口を前記搬送アームの通路上
に設定された前記洗浄ノズルの洗浄位置よりも高い所定
の液切り位置に向けて前記搬送アームの通路の片側また
は両側にほぼ水平方向に一列または複数列に配置され、
大部分の吐出口はノズル配列方向に対してほぼ垂直な面
内で斜め下向きになっている多数のガスノズルと、 前記ガスノズルに乾燥用のガスを供給するガス供給手段
とを具備し、 前記洗浄室が室内の中心部に設けられた仕切り板によっ
て一方の搬送アームを洗浄するための第1の洗浄室と他
方の搬送アームを洗浄するための第2の洗浄室とに分割
され、前記第1および第2の洗浄室の各々に前記洗浄ノ
ズルおよび前記ガスノズルが設けられている 搬送アーム
洗浄装置。
2. A plurality of plate-like objects to be processed are arranged at predetermined intervals.
In a state where they are arranged
Transfer arm for cleaning the transfer arm of the transfer device
In the cleaning device, the transfer arm moves in and out of the upper surface opening in a substantially vertical direction.
A cleaning chamber configured such that each discharge port is located on a passage of the transfer arm in the cleaning chamber.
To the cleaning position at a predetermined height set in
Near one side or both sides of the
Are arranged in a plurality of rows, a large number of cleaning nozzles , cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to the cleaning nozzles, and each discharge port in the cleaning chamber on the passage of the transfer arm.
Predetermined higher than the cleaning position of the cleaning nozzle set to
One side of the passage of the transfer arm or
Are arranged almost horizontally in one or more rows on both sides,
Most outlets are almost perpendicular to the nozzle arrangement direction
A number of gas nozzles that are obliquely downward in the gas supply means for supplying a gas for drying to the gas nozzles
The washing room is provided by a partition plate provided at the center of the room.
Cleaning chamber for cleaning one transfer arm
Divided into a second cleaning chamber for cleaning one transfer arm
And the cleaning chamber is provided in each of the first and second cleaning chambers.
A transfer arm cleaning device provided with a chisel and the gas nozzle .
【請求項3】 各列の前記ガスノズルのうち、中間部の
ガスノズルの吐出口はノズル配列方向に対してほぼ垂直
な面内で斜め下向きに設けられ、両端部のガスノズルの
吐出口は前記垂直面に対して傾いた角度で設けられてい
る請求項1または2に記載の搬送アーム洗浄装置。
3. The gas nozzle of each row has an intermediate portion.
Outlet of gas nozzle is almost perpendicular to nozzle arrangement direction
Are provided diagonally downward in a flat surface and the gas nozzles at both ends are
The discharge port is provided at an inclined angle with respect to the vertical plane.
The transfer arm cleaning device according to claim 1 or 2, wherein
【請求項4】 前記洗浄ノズルは前記搬送アーム通路の
片側または両側にほぼ水平に配置された1本または複数
本の洗浄スプレー用配管の各々に所定の間隔で設けら
れ、各々の前記洗浄スプレー用配管は両端が開口し、そ
れら開口した両端に共通の前記洗浄液供給手段が接続さ
れている請求項1〜3のいずれかに記載の搬送アーム洗
浄装置。
4. The transfer nozzle according to claim 1, wherein the cleaning nozzle is provided in the transfer arm passage.
One or more placed almost horizontally on one or both sides
Provided at predetermined intervals in each of the cleaning spray pipes
Each of the cleaning spray pipes is open at both ends, and
The same cleaning liquid supply means is connected to both open ends.
The transfer arm cleaning apparatus according to claim 1, wherein
【請求項5】 前記搬送アームが前記搬送アーム通路に
沿って上昇する際に前記洗浄位置で前記洗浄ノズルから
の洗浄液を吹き付けられる請求項1〜4のいずれかに記
載の搬送アーム洗浄装置。
5. The transfer arm is connected to the transfer arm passage.
From the washing nozzle at the washing position when ascending along
The cleaning liquid according to any one of claims 1 to 4, wherein the cleaning liquid is sprayed.
Placing the transfer arm washing apparatus.
【請求項6】 前記搬送アームが前記搬送アーム通路に
沿って上昇する際に前記液切り位置で前記ガスノズルか
らの乾燥用ガスを吹き付けられる請求項1〜5のいずれ
かに記載の搬送アーム洗浄装置。
6. The transfer arm passage in the transfer arm passage.
Ascending along the gas nozzle at the draining position
The drying gas according to any one of claims 1 to 5,
A transfer arm cleaning apparatus according to any one of the above.
【請求項7】 前記洗浄室の上面には前記搬送アームを
通り抜けさせるための開口を有する遮蔽板が設けられて
いる請求項1〜6のいずれかに記載の搬送アーム洗浄装
置。
7. The transfer arm is provided on an upper surface of the cleaning chamber.
There is a shielding plate with an opening for passing through
The transfer arm cleaning apparatus according to claim 1 .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD808799S1 (en) 2015-11-17 2018-01-30 Hunter Fan Company Carton with color striping
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