JP3100769B2 - 光ピックアップ調整方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ホログラムを用いた
小型の光ピックアップが必要とされる分野、特に光ディ
スク，コンパクトディスク（以下、ＣＤと略す）等の光
ピックアップを用いた電気機器において、フォーカス制
御およびトラッキング制御を最適に行えるように、光ピ
ックアップを調整するための光ピックアップ調整方法に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ホログラムグレイティングを用いた光ピ
ックアップは、光学系が簡単になり、この結果小型化，
軽量化，コストダウンが可能となり、一部で実用化され
ている。特にフォーカス検出方法として、２つのスポッ
ト径の差を利用するスポットサイズデテクション方法
（以下ＳＳＤ法と記す）を使用し、ホトディテクタ配置
として平行分割した光学系を用いて検出する方法は、そ
の組み合わせ誤差が２００μｍ程度まで許容できるた
め、量産性に優れた方法であると考えられる。このこと
について図５および図６を用いて説明を加える（Proc.I
nt.on Optical Memory,1989; Japanese Journal of App
lied Phisics, Vol.28 (1989) Supplement 28-3,pp. 18
9-192参照) 。

【０００３】これらの図において、受光素子であるホト
ディテクタ９および光源である半導体レーザー８は約１
ｍｍ立方体の銅ブロック１０の上に図に示されるように
設置されている。今、組立誤差の要因として一番大きい
ホトディテクタ９と半導体レーザー８との設置誤差につ
いて考えてみる。今、ホトディテクタ９は、銅ブロック
１０上の符号９ａの位置に配置されている。このホトデ
ィテクタ９の符号９ａの位置に対する理想的な半導体レ
ーザー８の位置はＳＳＤスポット検出用のフォーカス信
号検出部２２ａ，２２ｂおよびトラッキング信号検出部
２４ａ，２４ｂの真ん中を走る中線４１の上にある符号
８ａの位置が理想的な位置であるが、実際にはこれより
距離ｅだけずれた符号８ｂの位置にある場合について考
えてみる。今、符号８ａの位置にある半導体レーザー８
から出射された光は図６に示すように、反射型ホログラ
ム５によって反射され曲げられる。曲げられた光は対物
レンズ７によって光ディスク４上に集光される。この集
光された光、つまり光スポットは、光ディスク４によっ
て反射され反射型ホログラム５に戻される。この反射型
ホログラム５の拡大図を図７に示す。トラッキング信号
を発生させる光を分離するトラッキング部用グレイティ
ングが符号２７ａ，２７ｂで示した領域である。また、
フォーカス信号を発生するフォーカス部用グレイティン
グが符号２８ａ，２８ｂで示した領域である。トラッキ
ング部用グレイティング２７ａによって分離された光は
ホトディテクタ９上でトラッキング用光スポット２３ａ
になる。同様に、トラッキング部用グレイティング２７
ｂによって分離された光はトラッキング用光スポット２
３ｂになり、フォーカス部用グレイティング２８ａによ
って分離された光はフォーカス用光スポット２１ａにな
り、フォーカス部用グレイティング２８ｂによって分離
された光はフォーカス用光スポット２１ｂになる。

【０００４】今、フォーカス部用グレイティング２８
ａ，２８ｂには、弱い曲率が与えられているので、レン
ズ作用がある。今、フォーカス部用グレイティング２８
ａがプラス曲率、すなわちホトディテクタ９より前に集
光点ができるようになっている。また、フォーカス部用
グレイティング２８ｂは逆にホトディテクタ９より後ろ
に集光点が発生するようにマイナス曲率が与えられてい
る。当然ながら曲率を与えない場合は、半導体レーザー
８の発光面とホトディテクタ９の受光面とが同一面上に
あれば、２つの光スポットはホトディテクタ９上に作ら
れる。

【０００５】光学鏡筒１９は、一方の開口端面が中心軸
に直交した形で設けられ、他方の開口端面が中心軸に対
して略４５度傾斜した形で設けられ、この他方の開口に
近接して周胴に対物レンズ取付用の開口が設けられてい
る。光学鏡筒１９の一方の開口端面には、銅ブロック１
０を取りつけた支持体６ａを一方の開口端面内で回動可
能に取りつけている。また、光学鏡筒１９の他方の開口
端には、反射型ホログラム５を固定した支持体６ｂを光
学鏡筒１９の他方の開口端面内で回動可能に取りつけて
いる。２６は、光学鏡筒１９および支持体６ａ，６ｂ等
を一体化した可動部であり、駆動用コイル２５によって
上下あるいは左右に移動して、フォーカス調整あるいは
トラッキング調整を行う。

【０００６】さて、このように、光ディスク４が半導体
レーザー８の結像位置にある場合は、フォーカス用光ス
ポット２１ａ，２１ｂの集光点はホトディテクタ９の前
と後ろの位置に均等に外れて存在するから、ホトディテ
クタ９面上ではそれぞれ同一のスポット径を有すること
になる。さてこのような方式の特徴として半導体レーザ
ー８の出射位置に対して結像点は、収差のことを別にす
ると途中の光経路に関係なく半導体レーザー８から反射
型ホログラム５で設計された位置の差だけ離れた所（図
５の場合はｄ）に結像点がくる。

【０００７】いま反射型ホログラム５の設定が所定の角
度から回転した場合、半導体レーザー８が理想的な位置
８ａにあっても、図５に示されたような光スポット列２
１ａ，２１ｂ，２３ａ，２３ｂが形成される。よってこ
の例では、半導体レーザー８の位置が理想位置よりもず
れている場合に限って説明を加えることとする。

【０００８】さて、このような光学系は安定ではある
が、光源である半導体レーザー８とホトディテクタ９の
位置関係は微妙に設定する必要がある。そこで従来で
は、もし半導体レーザー８の位置が理想的な位置よりず
れている場合、ホトディテクタ９および半導体レーザー
８を支持する支持体６ａを治具で回転させることによ
り、図５に示すように、光スポット列２１ａ，２１ｂ，
２３ａ，２３ｂとホトディテクタ９とを配置し、それに
よって半導体レーザー８の理想的な位置からのずれを補
正することが可能となる。

【０００９】また、前述したように、たとえ半導体レー
ザー８が理想的位置８ａにあったとしても、光スポット
列２１ａ，２１ｂ，２３ａ，２３ｂはやはり図５のよう
になるから、この場合もホトディテクタ９および半導体
レーザー８を支持する支持体６ａを回転するか、もしく
は反射型ホログラム５を回転することによって光スポッ
ト列２１ａ，２１ｂ，２３ａ，２３ｂとホトディテクタ
９の位置関係を正常にすることが可能である。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】この原理を用いて、従
来は光学系を調整することが行われてきた。この場合の
最大の欠点は光源である半導体レーザー８の位置と支持
体６ａの回転中心がどのような関係になっているかが明
らかになっていないことである。通常、半導体レーザー
８が支持体６ａの回転中心に位置していることはほとん
ど無い。今この場合、支持体６ａを回転することによ
り、光源である半導体レーザー８自身も移動してしま
う。この半導体レーザー８の移動によって発生する最大
の問題点は、半導体レーザー８が光軸中心から外れてし
まうことにある。通常の光ピックアップ用の対物レンズ
７で光軸中心から許容されるのは、光ディスク４の傾き
等を考慮すると、高々１００μｍ程度である。この１０
０μｍ程度は回転軸中心と光軸中心とが位置しない場合
は容易に発生することが考えられる。

【００１１】また、反射型ホログラム５を回転させてこ
の補正を行う場合、さらにこの問題は重要となる。ここ
で、図３に示される光学系において、反射型ホログラム
５を回転する場合を考える。これを回転するには当然光
学鏡筒１９から反射型ホログラム５をごくわずかながら
離す必要がある。今２０μｍ程度離したとする。いま反
射型ホログラム５の直径を２ｍｍとする。このときミラ
ーは最大 0.０２／１＝0.０２Ｒａｄ＝1.１５度 傾くことになる。

【００１２】この時、反射型ホログラム５と半導体レー
ザー８との間の距離が１０ｍｍ程度であるとすると、こ
の傾きの発生だけで 0.０２×１０＝0.２ｍｍ＝２００μｍ の像高が発生することになる。よって従来考えられてい
たように単に理想的な回転だけが与えられる構造であれ
ば良いが、実際には半導体レーザー８を回転する場合の
みならず、反射型ホログラム５を回転調整するときに、
像高が発生し、なかなか理想的な調整を行うことが困難
であった。

【００１３】一方、特に小型化をねらうために光ピック
アップが一体駆動されている場合を考えてみる。この場
合、特に光学系を調整する方法としては、従来成されて
きた光ディスクを通常の再生時のように回転することに
よっては、調整することが不可能である。この場合は、
ディスク小片を微動台に乗せ上下方向（フォーカス方
向）、水平方向（トラッキング方向）に微動させながら
フォーカス信号およびトラッキング信号が最良になるよ
うに半導体レーザー８およびホトディテクタ９を支持す
る支持体６ａもしくは反射型ホログラム５を支持する支
持体６ｂを回転調整することになる。しかしこの場合、
トラッキング信号を最良にするためにはディスク小片に
はトラック信号検出用溝が必要である。一方、フォーカ
ス信号を検出するにはトラック信号用溝があった場合、
対物レンズによる集光スポットが溝上に有るか無いかに
よって、反射率が著しく異なるからこのトラック溝の存
在によって逆に正確にフォーカス信号の最良点を決定す
ることが困難であった。

【００１４】したがって、この発明の目的は、フォーカ
ス信号の最良点を容易にかつ精度良く決定することがで
きる光ピックアップ調整方法を提供することである。

【００１５】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の光ピック
アップ調整方法は、光源となる半導体レーザーと受光素
子とが回動可能でかつ移動可能な第１の支持体上に配設
され、かつ前記半導体レーザーから出射された光が、回
動可能な第２の支持体上に配設された反射型ホログラム
で反射された後対物レンズで回折限界に集光されて光デ
ィスク上に光スポットとして照射され、前記光ディスク
からの反射光が前記反射型ホログラムによって反射さ
れ、この際に反射光がトラッキング信号光およびフォー
カス信号光に分離されて前記受光素子に入射し、前記受
光素子によって電気信号に変換される光ピックアップ
の、前記フォーカス信号を最良に調整するための光ピッ
クアップ調整方法である。

【００１６】そのため、前記光ディスクの前記対物レン
ズとは反対側に配設した結像光学系によって前記対物レ
ンズによる集光点の像を形成し、かつこの集光点の像の
位置が移動しないように前記第１の支持体を移動させな
がら、前記第１および第２の支持体の何れか少なくとも
一方の回転調整を行って、前記光ディスクをフォーカス
方向に移動させたときの前記フォーカス信号の振れが最
大となるように調整する。

【００１７】請求項２記載の光ピックアップ調整方法
は、請求項１と同様にフォーカス信号を最良に調整する
ための光ピックアップ調整方法であり、前記光ディスク
として一部分に平坦な第１の反射面を有し他部分にトラ
ック溝を有する第２の反射面を有する光ディスクを準備
し、この光ディスクを前記フォーカス方向およびトラッ
キング方向に移動可能な微動台に載置し、この微動台を
操作して前記第１の反射面に前記光スポットが照射され
る状態に前記光ディスクを位置させ、前記光ディスクの
前記対物レンズとは反対側に配設した結像光学系によっ
て前記対物レンズによる集光点の像を形成し、かつこの
集光点の像の位置が移動しないように前記第１の支持体
を移動させながら、前記第１および第２の支持体の何れ
か少なくとも一方の回転調整を行って、前記光ディスク
をフォーカス方向に移動させたときの前記フォーカス信
号の振れが最大となるように調整し、つぎに前記フォー
カス信号を前記微動台の駆動部に供給することにより前
記光ディスクをフォーカス方向に駆動して前記対物レン
ズと前記光ディスクとの距離が一定となるように制御
し、前記微動台を操作して前記第２の反射面に前記光ス
ポットが照射される状態に前記光ディスクをトラッキン
グ方向に移動させ、前記第２の反射面上で前記光スポッ
トが前記トラック溝を横断するように前記光ディスクを
駆動しながら前記フォーカス信号の振れが最小となるよ
うに前記第１の支持体を回転調整する。

【００１８】

【作用】この発明の原理を図１および図２を用いて詳し
く説明する。まず半導体レーザー８およびホトディテク
タ９を支持する支持体６ａもしくは反射型ホログラム５
を支持する支持体６ｂを回転するときには、通常支持体
６ａ，６ｂの回転中心と光軸中心３１とが一致していな
いから、これを治具を用いて回転調整で調整しようとす
ると、光軸中心２９と半導体レーザー８の位置が狂って
しまう。これを防ぐために、光ディスク４に透過率をご
くわずかにもたせ、この透過光３０を顕微鏡レンズ３に
より結像させる（特許請求の範囲における結像光学系に
相当する）。この結像（集光スポット３１）を観測しな
がら支持体６ａまたは支持体６ｂを回転軸１２ａまたは
１２ｂの回りに時計方向もしくは反時計方向に回転させ
る。このとき、前述の理由から光軸中心２９と集光スポ
ット３１の位置がずれてしまう。このとき、支持体６ａ
を矢印３２ａの方向またはこれと直交する矢印３３ａの
方向に直線移動させることによって再び光軸中心２９と
集光スポット３１とを一致させることができる。このよ
うにすることにより、回転調整することにより発生する
光軸ずれは取り除くことが可能となる。このようにした
状態で、フォーカス信号３７（図４参照）を最良に調整
する。この場合、光ディスク４をトラッキング方向１５
には固定で、集光スポット３１を光ディスク４の平面部
に位置させた状態で、フォーカス方向１４にのみ光ディ
スク４を移動させたときのフォーカス信号３７の振れが
最大となるように調整する。

【００１９】フォーカス信号３７の大まかな調整におい
ては、前述したように、光ディスク４は信号溝の無いこ
とが必要である。しかし、フォーカス信号３７を最良に
するためには信号溝による溝横断信号をさらに小さくす
る必要がある。この場合、まず光ディスク４の信号溝の
無い部分でフォーカス信号３７が最良となるように半導
体レーザー８およびホトディテクタ９を支持する支持体
６ａまたは反射型ホログラム５を支持する支持体６ｂを
回転して調整する。この際、調整は、光ディスク４をフ
ォーカス方向１４に移動させたときに、フォーカス信号
３７の振れが最大になるように調整する。

【００２０】つぎに、このフォーカス信号検出部２２
ａ，２２ｂからのフォーカス信号２０，２１を可動コイ
ル１７に印加することにより、光ディスク４と対物レン
ズ７との距離を一定に保つことができる。この後、支持
棒１８もしくは光学鏡筒１９を移動させ、光ディスク４
の溝部に移動させる。そして、トラッキング可動用コイ
ル３４に低周波の電圧を加え、今度は可動コイル部（１
７，３４）をトラッキング方向１５に移動させる。こう
することにより光スポットがトラック溝部を横切ること
により、フォーカス信号に溝横断信号３５（図４参照）
が発生する。このような状態をオシロスコープ３８で観
測しながら、さらにこの溝横断信号３５が最小になるよ
う支持体６ａもしくは支持体６ｂを回転して調整する。

【００２１】

【実施例】この発明の第１の実施例を図１に示し、この
発明について詳しく説明を加える。この発明の実施例の
場合は一体駆動型の光ピックアップ光学系の調整例を用
いて説明をする。一体駆動型の光ピックアップの例を図
１に示す。この例のように一体駆動型の場合、半導体レ
ーザー８，受光用のホトディテクタ９，反射型ホログラ
ム５および対物レンズ７が一つの光学鏡筒１９に組み込
まれ、この光学鏡筒１９が駆動用コイル（図示せず、図
６では符号２５で示している）によって、フォーカス方
向１４およびトラッキング方向１５に移動させられ、こ
れによって光ディスク４上の信号溝を正確に追うことが
可能となり、光ディスク４上に刻まれた信号を正確に読
み出すことが可能となる。

【００２２】一方、別の方法としては対物レンズ７のみ
が、光ディスク４の溝を追うように作られた光ピックア
ップがある。このような光ピックアップはレンズ駆動型
光ピックアップと呼ばれる。しかし反射型ホログラム５
を用いる場合はいずれの場合も同様の調整法が必要とな
るので、この説明については、主として一体駆動型光ピ
ックアップ、特にフォーカス信号検出法としてスポット
サイズディテクション（以下ＳＳＤ法と記する。）を用
いたものについて説明するが、他の方式のトラッキング
信号方式として３ビーム法、フォーカス信号検出法とし
てＳＳＤ法をそれぞれ採用して構成された光ピックアッ
プ光学系を用いた光学系の場合も同様である。

【００２３】上記の実施例の場合、光ディスク４の下側
に光学鏡筒１９が設置されており、反対側の光ディスク
４の上部には完全に固定された顕微鏡２が設置されてい
る。この顕微鏡２によって作られた像がＣＣＤカメラ１
によって、電気信号に変換されＴＶモニタ１１に映し出
される。この像の拡大像を図２に示す。図２のように画
面上に映し出されるのは単なる集光スポット３１であ
る。特にＣＣＤカメラ１を用いる理由は通常光ピックア
ップ光源として用いられる半導体レーザー８は発光波長
が７９０ｎｍ程度であり、その光が目には見えないから
である。

【００２４】まず、顕微鏡２において光軸中心２９の決
定方法を述べる。まず、光ディスク４をトラッキング方
向１５に十分移動させ顕微鏡２によって対物レンズ７の
周辺が完全に見えるようにする。この場合、対物レンズ
７の周辺円の中心が光軸中心２９となる。ただし、顕微
鏡レンズ３の倍率によっては、対物レンズ７のレンズ円
周１３がすべて見えない場合もあるから、そのような場
合は微動台等についている目盛りから円周中心、すなわ
ち光軸中心２９を決定することができる。このように光
軸中心２９が決定できた後、再びトラッキング方向１５
に光ディスク４を引き戻す。こうすると、顕微鏡２と対
物レンズ７との間に光ディスク４が介在することになる
ので、すでにレンズ円周１３は観測できなくなる。つぎ
に、半導体レーザー８に電流を流し半導体レーザー８を
発光させる。半導体レーザー８から出射された光は対物
レンズ７によって集光される。この集光像は顕微鏡２を
上下させることによってＣＣＤカメラ１上に結像させる
ことができる。いまこの集光スポット３１と光軸中心２
９とが一致しない場合、支持体６ａを矢印３２ａもしく
は矢印３３ａの方向に移動させることによって、それら
を一致させることができる。

【００２５】図２によって示されている半導体レーザー
８およびホトディテクタ９は光ディスク４を通じて見る
ことはできないが、実質はこのように見えているのと同
様である。したがって、この図から容易に分かるよう
に、支持体６ａを矢印１２ｃで示す回転方向に回転させ
ると、集光スポット３１が移動してしまうことが容易に
理解できる。したがって、ＳＳＤ法を使用する際に回転
方法によって調整する場合、この集光スポット３１が絶
えず光軸中心２９にくるように、矢印３２ａ，３３ａの
方向に支持体６ａを移動させながら支持体６ａを治具を
用いて回転することによって、集光スポット３１の光軸
中心２９からのずれを補正することができる。いま、支
持体６ａを回転させた時、光軸中心２９から集光スポッ
ト３１がずれた場合、これを打ち消すように例えば支持
体６ａを矢印３２ａもしくは矢印３３ａの方向に移動さ
せれば良いことは簡単に理解ができる。

【００２６】また一方、反射型ホログラム５を支持する
支持体６ｂを回転させた場合も、同様に支持体６ａを移
動することによって光軸中心２９に集光スポット３１を
移動することが可能である。従来例の所でも述べたよう
に、反射型ホログラム３２を回転させて調整を行う場
合、集光スポット３１が移動するのは反射型ホログラム
５の傾きが変化するためである。したがって、これを補
正するためには、回転によって発生した傾き変化を補正
する方向に反射型ホログラム５の傾きを加えるか、もし
くは前述したように支持体６ａを移動すればよく、これ
によって反射型ホログラム５の極僅かの傾斜角変化によ
る、集光スポット３１の位置のずれを容易に補正するこ
とができる。

【００２７】よってこの発明を用いた場合、半導体レー
ザー８およびホトディテクタ９を支持する支持体６ａも
しくは反射型ホログラム５を支持する支持体６ｂを回転
させることによって発生する集光スポット３１と光軸中
心２９のずれを、支持体６ａを直線移動させることによ
って補正することにより、回転調整によって正確にフォ
ーカス信号３７が最良になるよう調整することが可能で
ある。

【００２８】以上の第１の実施例の説明が請求項１の内
容に対応するものであり、以下の第２の実施例の説明が
請求項２，３に対応するものである。さて、この発明に
よって光軸中心２９に集光スポット３１を位置しながら
フォーカス信号が最良になるように調整することが可能
となるが、このことによってＳＳＤ法による調整はすべ
て完了した訳ではない。このことを図３および図４を用
いて詳細に説明する。

【００２９】フォーカス信号検出にＳＳＤ法を用いた場
合において、上記したように、光軸中心２９を維持しな
がら図４に示されるフォーカス信号３７の振幅が最大に
なるように支持体６ａもしくは支持体６ｂを回転調整す
る。このように調整された光学鏡筒１９を図３に示され
たように配置する。この場合、光ディスク４はトラッキ
ング可動コイル３４およびフォーカス可動コイル１７よ
りなる可動コイル部に取り付けられている。このトラッ
キング可動コイル３４およびフォーカス可動コイル１７
よりなる可動コイル部はバネ３９等で支持棒１８に固定
されており、トラッキング可動コイル３４およびフォー
カス可動コイル１７に流れる電流によってトラッキング
方向１５およびフォーカス方向１４に光ディスク４を移
動させることが可能である。以上の構造が特許請求の範
囲における微動台を構成している。１６は永久磁石であ
る。

【００３０】さて光学鏡筒１９では、支持体６ａは、前
述したように図４に示されるフォーカス信号３７が出る
ように調整されているから、このフォーカス信号３７に
基づいてフォーカス可動コイル１７に電流を流すと光デ
ィスク４と対物レンズ７との間隔は一定に保たれる。こ
の場合、図４におけるフォーカス信号３７の信号状態
は、図３におけるフォーカス検出信号２０，２１をオシ
ロスコープ３８に入力することにより確認することが可
能となる。

【００３１】図４では、横軸が光ディスク４と対物レン
ズ７との距離を表している。縦軸がこのときホトディテ
クタ９に発生する電圧である。このときフォーカス信号
２０，２１と可動コイル部とを結んだ場合、フォーカス
可動コイル１７は絶えずフォーカス信号３７（２０，２
１）が零ボルトとなるよう、すなわち対物レンズ７と光
ディスク４とが一定の間隔になるようフォーカス可動コ
イル１７がフォーカス方向１４に移動するから光ディス
ク４と対物レンズ７との距離が一定に保たれる。このよ
うにして、光ディスク４上で光が絞られた状態におい
て、今度はトラッキング可動コイル３４にも電圧を加え
ることにより、トラッキング可動コイル３４をトラッキ
ング方向１５に移動し、これによって光ディスク４をト
ラッキング方向１５に移動させることが可能となり、光
スポットが光ディスク４の平坦な反射面４ａに照射され
る状態から連続したトラック溝を有する反射面４ｂに照
射される状態へ移行し、光ディスク４のトラック溝を光
スポットが横断することになる。このときに発生するフ
ォーカス信号が図４における溝横断信号３５である。こ
こまでの調整の場合、通常はフォーカス信号にトラック
溝を横断するのに相当するうねった信号が現れる。これ
はＳＳＤ法でフォーカス信号を検出した場合、ホトディ
テクタ９上で極僅かの位置ずれ、もしくはホトディテク
タ９のアンバランスがあればこのような溝横断信号３５
が現れる。このような溝横断信号３５はフォーカス誤差
の原因となる。すなわち光ディスク４と対物レンズ７と
の位置関係は一定でなければならないのに、トラック溝
の状態でフォーカス信号が変化する、すなわち光ディス
ク４と対物レンズ７との距離が僅かではあるが変動する
ことになるから、光ディスク４を読み出すときに変動成
分が読み出し信号に乗ってくるため良好な信号とはなら
ない。そこで、この発明の実施例では、このような信号
を検出しながら極僅かに支持体６ａを回転し、この溝横
断信号３５をできるだけ０に近づけるようにさらに支持
体６ａをわずかに回転することによってなされる。図４
中、符号３６で示した曲線は、光スポットがトラック溝
を横断する際にフォーカス信号に現れる溝横断信号がで
きるだけ０に近づくように調節した後のフォーカス信号
を示している。

【００３２】

【発明の効果】請求項１記載の光ピックアップ調整方法
によれば、半導体レーザーおよび受光素子を設けた第１
の支持体もしくは反射型ホログラムを設けた第２の支持
体のいずれか少なくとも一方の回転調整によって発生す
る光軸中心からの集光スポットのずれを補正することが
可能となり、光ピックアップのフォーカス調整を精度良
く行うことができ、特性の良好な光ピックアップが製造
可能となる。したがって半導体レーザーおよび受光素子
を設けた第１の支持体に対する要求精度も低減化されコ
ストも低減化することが可能となる。

【００３３】請求項２記載の光ピックアップ調整方法に
よれば、フォーカス信号検出としてＳＳＤ法を用いた場
合、さらに詳細なフォーカス調整を施すことが可能とな
る。この方式を用いた場合、光ディスクを回転せずかつ
光ピックアップを動かすことなく調整することが可能と
なるから、一体駆動光ピックアップに対しても、またレ
ンズ駆動に対しても詳細でかつ安定な調整を行うことが
可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ピックアップ調整方法の第１の実
施例を示す概略図である。

【図２】第１の実施例における顕微鏡像の一例を示す概
略図である。

【図３】この発明の光ピックアップ調整方法の第２の実
施例を示す概略図である。

【図４】オシロスコープによるフォーカス信号像を示す
波形図である。

【図５】半導体レーザーおよびホトディテクタと光スポ
ットとの位置関係を示す概略図である。

【図６】一体駆動型光ピックアップの概略図である。

【図７】反射型ホログラムの一例を示す概略図である。

【符号の説明】

１ ＣＣＤカメラ ２ 顕微鏡 ３ 顕微鏡レンズ ４ 光ディスク ５ 反射型ホログラム ６ａ，６ｂ 支持体 ７ 対物レンズ ８ 半導体レーザー ９ ホトディテクタ １０ 銅ブロック １１ ＴＶモニタ １２ａ，１２ｂ 回転軸 １３ レンズ円周 １４ フォーカス方向 １５ トラッキング方向 １６ 磁石 １７ フォーカス可動コイル １８ 支持棒 １９ 光学鏡筒 ２０ ２１ フォーカス信号 ２２ａ ２２ｂ フォーカス用スポット ２３ａ ２３ｂ トラッキング用スポット ２４ａ ２４ｂ トラッキング信号検出部 ２５ 駆動用コイル ２６ 可動部 ２７ａ ２７ｂ トラッキング部用グレイティング ２８ａ ２８ｂ フォーカス部用グレイティング ２９ 光軸中心 ３０ 透過光 ３１ 集光スポット ３４ トラッキング可動用コイル ３５ 溝横断信号 ３８ オシロスコープ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/08 G11B 7/09 G11B 7/095 G11B 7/135

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源となる半導体レーザーと受光素子と
   が回動可能でかつ移動可能な第１の支持体上に配設さ
   れ、かつ前記半導体レーザーから出射された光が、回動
   可能な第２の支持体上に配設された反射型ホログラムで
   反射された後対物レンズで回折限界に集光されて光ディ
   スク上に光スポットとして照射され、前記光ディスクか
   らの反射光が前記反射型ホログラムによって反射され、
   この際に反射光がトラッキング信号光およびフォーカス
   信号光に分離されて前記受光素子に入射し、前記受光素
   子によって電気信号に変換される光ピックアップの、前
   記フォーカス信号を最良に調整するための光ピックアッ
   プ調整方法であって、 前記光ディスクの前記対物レンズとは反対側に配設した
   結像光学系によって前記対物レンズによる集光点の像を
   形成し、かつこの集光点の像の位置が移動しないように
   前記第１の支持体を移動させながら、前記第１および第
   ２の支持体の何れか少なくとも一方の回転調整を行っ
   て、前記光ディスクをフォーカス方向に移動させたとき
   の前記フォーカス信号の振れが最大となるように調整す
   ることを特徴とする光ピックアップ調整方法。
2. 【請求項２】 光源となる半導体レーザーと受光素子と
   が回動可能でかつ移動可能な第１の支持体上に配設さ
   れ、かつ前記半導体レーザーから出射された光が、回動
   可能な第２の支持体上に配設された反射型ホログラムで
   反射された後対物レンズで回折限界に集光されて光ディ
   スク上に光スポットとして照射され、前記光ディスクか
   らの反射光が前記反射型ホログラムによって反射され、
   この際に反射光がトラッキング信号光およびフォーカス
   信号光に分離されて前記受光素子に入射し、前記受光素
   子によって電気信号に変換される光ピックアップの、前
   記フォーカス信号を最良に調整するための光ピックアッ
   プ調整方法であって、 前記光ディスクとして一部分に平坦な第１の反射面を有
   し他部分にトラック溝を有する第２の反射面を有するも
   のを準備し、この光ディスクを前記対物レンズの方向
   （以下、フォーカス方向と呼ぶ）およびこれと直交する
   方向（以下、トラッキング方向と呼ぶ）に移動可能な微
   動台に載置し、この微動台を操作して前記第１の反射面
   に前記光スポットが照射される状態に前記光ディスクを
   位置させ、前記光ディスクの前記対物レンズとは反対側
   に配設した結像光学系によって前記対物レンズによる集
   光点の像を形成し、かつこの集光点の像の位置が移動し
   ないように前記第１の支持体を移動させながら、前記第
   １および第２の支持体の何れか少なくとも一方の回転調
   整を行って、前記光ディスクをフォーカス方向に移動さ
   せたときの前記フォーカス信号の振れが最大となるよう
   に調整し、つぎに前記フォーカス信号を前記微動台の駆
   動部に供給することにより前記光ディスクをフォーカス
   方向に駆動して前記対物レンズと前記光ディスクとの距
   離が一定となるように制御し、前記微動台を操作して前
   記第２の反射面に前記光スポットが照射される状態に前
   記光ディスクをトラッキング方向に移動させ、前記第２
   の反射面上で前記光スポットが前記トラック溝を横断す
   るように前記光ディスクを駆動しながら前記フォーカス
   信号の振れが最小となるように前記第１の支持体を回転
   調整することを特徴とする光ピックアップ調整方法。
3. 【請求項３】 フォーカス信号の検出は前記受光素子上
   のスポット形状の大きさの差から行う請求項１または請
   求項２記載の光ピックアップ調整方法。