JP3098671U - 化学機械研摩用フランジ付きリテーニング・リング - Google Patents
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Abstract
【課題】移送用ステーションにより保持された基板との同心度及びキャリア・ヘッドと基板との平行度が改善され、ロード処理の信頼性が改善される化学機械研磨用フランジ付きリテーニング・リングを提供する。
【解決手段】下部105の内径部115は、直線の垂直円筒面を形成する。対照的に、下部105の外径面120は、底面110付近で開始する垂直部125と、垂直部125から上方に伸びる外側傾斜部130との両方を含む。外径部の外側傾斜部130は、リテーニング・リングの底面110に対し約60°の角度を形成してもよい。下部105の平坦な上面135は、底面110と平行になっている。この上面135は、鈍角で外径面120の傾斜部130と合い、実質的に直角で内径部115と合っている。内径部115は、リテーニング・リング100の基板受容凹部を画成する。
【選択図】図1
【解決手段】下部105の内径部115は、直線の垂直円筒面を形成する。対照的に、下部105の外径面120は、底面110付近で開始する垂直部125と、垂直部125から上方に伸びる外側傾斜部130との両方を含む。外径部の外側傾斜部130は、リテーニング・リングの底面110に対し約60°の角度を形成してもよい。下部105の平坦な上面135は、底面110と平行になっている。この上面135は、鈍角で外径面120の傾斜部130と合い、実質的に直角で内径部115と合っている。内径部115は、リテーニング・リング100の基板受容凹部を画成する。
【選択図】図1
Description
【0001】
背景
本考案は、全体的に基板の化学機械研磨、特に化学機械研磨で使用されるリテーニング・リングに関する。
【0002】
集積回路は、通常、シリコン基板上に連続して導体、半導体、絶縁体の層を堆積することによって基板上に形成される。ある製造ステップは、非平坦面にわたり充填層を堆積する工程、非平坦層が露出するまで充填層を平坦化する工程を包含する。たとえば、導電性充填層は、絶縁層内のトレンチや穴を充填する為にパターン化された絶縁層上に堆積可能である。絶縁層の隆起されたパターンが露出するまで、充填層は、その後、研磨される。平坦化の後、絶縁層の隆起したパターンの間に残っている導電層の一部が、バイア、プラグ、回線を形成し、これらは、基板上の薄膜回路間に導電路を提供する。それに加えて、平坦化技術は、フォトリソグラフィーの為に基板面を平坦化するのに必要である。
【0003】
化学機械研摩(CMP)は、認められた平坦化技術の一つである。この平坦化方法は、通常、基板がCMP装置の研磨ヘッドまたはキャリア上に取り付けられることを必要とする。基板の露出面は、回転研磨用ディスクパッド又はベルトパッドに抗して置かれる。研摩用パッドは、「標準式」パッドか固定式研磨剤パッドのいずれかである。標準式パッドは、耐久性があり、荒くされた表面を持ち、固定式研磨剤パッドは、抑制メディア内に保持された研磨粒子を有する。キャリア・ヘッドは、制御可能な負荷を基板上に与え、それを研磨用パッドに押し付ける。少なくとも一つの化学的反応剤、(標準式パッドが使用される場合には)更に研磨粒子を含む研磨用スラリーは、研磨用パッドの表面に供給されている。
【0004】
概要
本考案の一態様は、リテーニング・リングに向けられており、これは、ほぼ環状体になっており、上面、底面、内径面、外径面を有する。外径面は、外側に突き出たフランジを含み、フランジは、下面と、複数のチャネルを含む底面を有する。
【0005】
本考案の実施は、一以上の以下の特徴を含むことが可能である。下面は、上面と底面に対し実質的に平行であってもよい。外径面は、テーパ付きセクションを含んでもよく、テーパ付きセクションの周辺部は、上面より底面に向かって、より大きくなっている。外径面は、テーパ付きセクションと底面との間に垂直セクションを含んでもよい。このテーパの付いたセクションは、底面に対し60°の角度を形成してもよい。内径面は、テーパ付きセクションを含んでもよく、テーパ付きセクションの周辺部は、底面より上面に向かって、より大きくなっている。内径面は、テーパ付きセクションと底面との間に垂直セクションを含んでもよい。このテーパの付いたセクションは、上面に対し約80°の角度が形成されている。底面は、18個のチャネルを含んでもよい。上面は、内部に形成された複数の穴(例えば、18個の穴)を含んでよい。少なくとも1つのドレイン穴は、内径面から外径面に延びてもよい。内径面は、底面に隣接した約300mmの半径を有することが可能である。
【0006】
他の態様において、本考案は、基板の為の取り付け面を持つ化学機械研磨に使われるキャリア・ヘッド用リテーニング・リングに向けられている。リテーニング・リングは、研磨用パッドに接触する為の底面を有する概して環状の下部を有するが、ここで、その底面は、複数のチャネルと、下部に固定された概して環状の上部とを含み、その上部は、環状突出部を備えた外径部を有する。
【0007】
本考案の実施例は、1又は2以上の以下の特徴を含んでもよい。環状突出部は、水平の下面と、水平の上面と、下面と該上面に連結する垂直円筒外面を含んでもよい。下部は、約300mmの半径を持つ内径面を持ってもよい。外径面は、テーパの付いたセクションを含んでもよいが、ここで、テーパ付きセクションの周辺部は、下部より上部に向けて大きくなっている。下部と上部は、単体として形成されている。
【0008】
他の態様において、本考案は、基板の為の取り付け面を持つ化学機械研磨に使われるリテーニング・リングに向けられている。リテーニング・リングは、テーパの付いた内径面を有する。リテーニング・リングの内径面の周辺部は、リテーニング・リングの上面より底面に向けて小さくなっている。
【0009】
本考案の実施例は、1又は2以上の以下の特徴を含むことが可能である。内径面は、円筒状の垂直面を含んでもよい。
【0010】
本考案の1つの考えられる利点は、キャリア・ヘッドが下降して基板を移送用ステーションで受容するとき、リテーニング・リングの外径部のテーパが付いた壁は、ロードカップの内面に係合可能であり、リテーニング・リングを基板との整列状態に導く。これにより、リテーニング・リングと、移送用ステーションにより保持された基板との同心度が改善され、ロード処理の信頼性が改善される。
【0011】
本考案の他の考えられる利点は、リテーニング・リングの外径部でフランジの平らな下面が、ロードカップの上面に係合可能になり、その上に載せることができる。これにより、キャリア・ヘッドと基板との平行度が改善され、ロード処理の信頼性が改善される。それに加えて、フランジの平坦な下面は、適切にロードカップの上面と係合し、たとえリテーニング・リングの底面が摩耗されても平行を確実にする。
【0012】
詳細な説明書
図1,図4、図5を参考にすると、リテーニング・リング100は、CMP装置のキャリア・ヘッドに固定可能な、概して環状リングである。適当なCMP装置は、米国特許第5,738,574号に説明され、適切なキャリア・ヘッドは、米国特許第6,251,215号に説明されており、これらの全開示内容は、参考の為に本願に組み入れられている。リテーニング・リング100は、CMP装置の移送用ステーションで基板を位置決めし、センタリングし、保持する為のロードカップに嵌め込まれている。適当なロードカップは、本考案の譲受人に譲渡され、”EDGE CONTACT LOAD CUP”(欧州公報第1061558号)という考案の名称で、1999年10月8日に提出された、特許第09/414,907に説明されており、この全開示内容は、本願に参考の為に組み込まれている。
【0013】
リテーニング・リング100は、2個の部分から構成可能である。図2A、図2Bで示されるように、最初の部分(下部105)は、底面を持ち、これは、(チャネル数が異なってもよいが)18個のチャネル210又は溝を含む。直線状チャネル180は、底面110の内周部で始まり、外周部で終わっているが、リテーニング・リング100の周りで等しい角度間隔で分配可能である。チャネルは、通常、リテーニング・リング100の中心を通って伸びる半径方向セグメントに対し45°で配向されているが、他の配向角度として、30°から60°が可能である。
【0014】
図1,図4,図5を再び参照すると、下部105の内径部115は、直線の垂直円筒面を形成する。対照的に、下部105の外径面120は、底面110付近で開始する垂直部125と、垂直部125から上方に伸びる外側傾斜部130との両方を含む。外径部の外側傾斜部130は、リテーニング・リングの底面110に対し約60°の角度を形成してもよい。下部105の平坦な上面135は、底面110と平行になっている。この上面135は、鈍角で外径面120の傾斜部130と合い、実質的に直角で内径部115と合っている。内径部115は、リテーニング・リング100の基板受容凹部を画成する。
【0015】
リテーニング・リング100の下部105は、CMP処理に対し化学的に不活性である材料から形成可能である。材料は、リテーニング・リング100に対する基板縁部の接触部は基板が削れるかひび割れの原因にならないように、十分に弾性を持たなければならない。しかし、リテーニング・リング100は、キャリア・ヘッドがリテーニング・リング100に下方圧力を押し付けるとき、基板受容凹部140の中に押し出す程に弾性であるべきではない。リテーニング・リング100は、また耐久性がなければならず、低い摩耗率を有するが、すり減ることはリテーニング・リング100にとって許容可能である。たとえば、リテーニング・リング100は、プラスチック(例えばポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリブチレン・テレフタル酸塩(PBT)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリベンソイミダゾール(PBI)、ポリエーテルイミド(PEI)または複合材料)で形成可能である。
【0016】
リテーニング・リング100の第2の部分、上部145は、平坦な底面150と、底面150に対し平行である上面とを有する。上面160は、(穴の数は異なってもよいが)18個の穴165を含み、リテーニング・リング100とキャリア・ヘッドを一緒に固定する為に、ボルト、ネジ、他のハードウェアを受容する。さらに、1または2以上のアライメント用アパーチャー170は、上部145に配置可能である。リテーニング・リング100がアライメント用アパーチャー170を有する場合、キャリア・ヘッドは、キャリア・ヘッドとリテーニング・リング100が適切に整列されるとき、アライメント用アパーチャー170と組み合わさる対応ピンを有することが可能である。
【0017】
上部145の外径面175は、外側傾斜セクション190、水平セクション185、垂直セクション180を含む。外径面175の外側傾斜セクション190は、リテーニング・リングの底面110に対し、約60°の角度を形成してもよい。上部145の内径面155は、内径面155が底部より大きい径を有するように外側に傾斜されている。外側に傾斜している内径面155は、リテーニング・リングの上面165に対し、約80°の角度を形成してもよい。上面160は、実質的に直角で外径面175に合うが、底面150は、鈍角で外径面175に合う。水平なセクション185は、それぞれ、上面160と底面150に対し平行になっている。上部145の上面160、垂直セクション180、水平セクション185は、共にフランジ195を形成する。
【0018】
リテーニング・リング100の上部145は、1又は2以上のドレイン穴200(例えば、リテーニング・リングの周りに等しい角度間隔で配置された4個のドレイン穴)を含んでもよい。これらのドレイン穴200は、リテーニング・リングを通って内径面155から外径面175(例えば、傾斜セクション190)まで伸びている。ドレイン穴は傾けられてもよく、例えば、外径面より内径面で高くなっている。代替え的に、ドレイン穴は、実質的に水平でもよく、リテーニング・リングは、ドレイン穴を持たずに製造可能である。
【0019】
上部145は、金属のような堅い材料から形成してもよい。上部を形成する適切な金属には、ステンレス鋼、モリブデン、アルミニウムを含まれる。また、セラミックも使用可能である。
【0020】
下部105と上部145は、それぞれ、これらの上面135,底面150に接続され、リテーニング・リング100を形成する。上部145と下部105が整列され組み合わされるとき、リテーニング・リング100は、一定角度で外径面120,175に沿って、テーパが付けられた単一の表面130,190を有する。2つの部分は、接着剤、ネジ、圧入構成を用いて接合可能である。粘着性の層は、ジョージア州チャンブリーのマグノリアプラスチック社から入手可能なMagnobond−6375(商標)のような二部低速硬化型エポキシでもよい。
【0021】
リテーニング・リング100は、キャリア・ヘッドの底部に固定されるとき、外径部180の上部周辺は、実質的にキャリア・ヘッドの基部周辺と実質的に同一でもよく、キャリア・ヘッドの外縁に沿って間隙は存在しない。
【0022】
CMP装置の通常動作において、ロボット・アームはカセットストレージから移送用ステーションまで300mm基板を移動させる。移送用ステーションでは、基板はロードカップ内でセンタリングされる。キャリア・ヘッドは、ロードカップ上方の場所に移動する。一旦キャリア・ヘッドとロードカップが互いにほぼ一直線に並べられると、キャリア・ヘッドは基板を受ける位置へと下げられる。具体的には、キャリア・ヘッドは、リテーニング・リングの外径面120、175の底部がロードカップに嵌め込まれるように下げられる。リテーニング・リング100のセンタリングを助ける為に、リテーニング・リング100の最も狭い位置が最初にロードカップに入る。キャリア・ヘッドが下げられると、テーパ付きエッジ130、190は、ロードカップの内面に係合し、リテーニング・リング100をロードカップとの同心アライメントへと案内する。このアライメントは、(基板は適切にロードカップ内でセンタリングされていることを推定しつつ)順番に同心上で基板とリテーニング・リング100を互いに一直線に並べる。
【0023】
キャリア・ヘッドが更に下げられると、リテーニング・リングのフランジ195は、ロードカップの実質的に水平な部分と係合し、その上に載る。この平坦な環状面は、ロードカップにおける基板とリテーニング・リング100とキャリア・ヘッド間の平行変位を維持する。
【0024】
一旦基板がキャリア・ヘッドにロードされると、キャリア・ヘッドは、ロードカップから外す為に持ち上がる。キャリア・ヘッドは、移送用ステーションから研磨用ステーションの各々まで、CMP装置上を移動することができる。CMP研磨中、キャリア・ヘッドは、基板に圧力をかけ、研磨用パッドに抗して基板を保持する。研磨のシーケンス中、基板は、受容凹部170の内部に置かれ、これが基板の逸脱を防止する。リテーニング・リング100の中にあるチャネル210は、リテーニング・リング100が研磨用パッドと接触状態にあるとき、スラリーの基板へ/からの運搬を容易にする。一旦研磨が終了すると、キャリア・ヘッドは、ロードカップ上方の一定位置に戻り、リテーニング・リング100が再びロードカップと係合するように下降する。基板は、キャリア・ヘッドから解放され、その後、研磨シーケンスの次のステップに移動される。
【0025】
本考案は、多くの実施形態に関して記載された。しかし、本考案は、描写され説明された実施形態に限定されるものではない。むしろ、本考案の範囲は、実用新案登録請求の範囲で規定されるものである。たとえば、水平セクション185の上方に、リテーニング・リング100の外径部180は、直線形状または傾斜形状を有することができる。内径部145は、直線形状、傾斜形状、又は、直線と傾斜の混合形状を持つことができる。リテーニング・リング100は、別個の上部145と下部105から形成する代わりに、例えばPPSを用いてプラスチックの単一片から構成されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本考案によるリテーニング・リングの部分的断面を有する斜視図である。
【図2A】図2Aは、図1のリテーニング・リングの下面図である。
【図2B】図2Bは、図1のリテーニング・リングの側面図である。
【図3】図3は、図1のリテーニング・リングの斜視図である。
【図4】図4は、図3での線4−4に沿ったリテーニング・リングの横断面図である。
【符号の説明】
100…リテーニング・リング、105…下部、110…底面、115…内径部、120…外径面、125…垂直部、130…外側傾斜部、テーパ付きエッジ、135…上面、140…基板受容凹部、145…上部、160…上面、170…アライメント用アパーチャー、175…外径面、180…直線上チャネル、185…水平セクション、190…外側傾斜セクション、テーパ付きエッジ、195…フランジ、200…ドレイン穴、210…チャネル。
背景
本考案は、全体的に基板の化学機械研磨、特に化学機械研磨で使用されるリテーニング・リングに関する。
【0002】
集積回路は、通常、シリコン基板上に連続して導体、半導体、絶縁体の層を堆積することによって基板上に形成される。ある製造ステップは、非平坦面にわたり充填層を堆積する工程、非平坦層が露出するまで充填層を平坦化する工程を包含する。たとえば、導電性充填層は、絶縁層内のトレンチや穴を充填する為にパターン化された絶縁層上に堆積可能である。絶縁層の隆起されたパターンが露出するまで、充填層は、その後、研磨される。平坦化の後、絶縁層の隆起したパターンの間に残っている導電層の一部が、バイア、プラグ、回線を形成し、これらは、基板上の薄膜回路間に導電路を提供する。それに加えて、平坦化技術は、フォトリソグラフィーの為に基板面を平坦化するのに必要である。
【0003】
化学機械研摩(CMP)は、認められた平坦化技術の一つである。この平坦化方法は、通常、基板がCMP装置の研磨ヘッドまたはキャリア上に取り付けられることを必要とする。基板の露出面は、回転研磨用ディスクパッド又はベルトパッドに抗して置かれる。研摩用パッドは、「標準式」パッドか固定式研磨剤パッドのいずれかである。標準式パッドは、耐久性があり、荒くされた表面を持ち、固定式研磨剤パッドは、抑制メディア内に保持された研磨粒子を有する。キャリア・ヘッドは、制御可能な負荷を基板上に与え、それを研磨用パッドに押し付ける。少なくとも一つの化学的反応剤、(標準式パッドが使用される場合には)更に研磨粒子を含む研磨用スラリーは、研磨用パッドの表面に供給されている。
【0004】
概要
本考案の一態様は、リテーニング・リングに向けられており、これは、ほぼ環状体になっており、上面、底面、内径面、外径面を有する。外径面は、外側に突き出たフランジを含み、フランジは、下面と、複数のチャネルを含む底面を有する。
【0005】
本考案の実施は、一以上の以下の特徴を含むことが可能である。下面は、上面と底面に対し実質的に平行であってもよい。外径面は、テーパ付きセクションを含んでもよく、テーパ付きセクションの周辺部は、上面より底面に向かって、より大きくなっている。外径面は、テーパ付きセクションと底面との間に垂直セクションを含んでもよい。このテーパの付いたセクションは、底面に対し60°の角度を形成してもよい。内径面は、テーパ付きセクションを含んでもよく、テーパ付きセクションの周辺部は、底面より上面に向かって、より大きくなっている。内径面は、テーパ付きセクションと底面との間に垂直セクションを含んでもよい。このテーパの付いたセクションは、上面に対し約80°の角度が形成されている。底面は、18個のチャネルを含んでもよい。上面は、内部に形成された複数の穴(例えば、18個の穴)を含んでよい。少なくとも1つのドレイン穴は、内径面から外径面に延びてもよい。内径面は、底面に隣接した約300mmの半径を有することが可能である。
【0006】
他の態様において、本考案は、基板の為の取り付け面を持つ化学機械研磨に使われるキャリア・ヘッド用リテーニング・リングに向けられている。リテーニング・リングは、研磨用パッドに接触する為の底面を有する概して環状の下部を有するが、ここで、その底面は、複数のチャネルと、下部に固定された概して環状の上部とを含み、その上部は、環状突出部を備えた外径部を有する。
【0007】
本考案の実施例は、1又は2以上の以下の特徴を含んでもよい。環状突出部は、水平の下面と、水平の上面と、下面と該上面に連結する垂直円筒外面を含んでもよい。下部は、約300mmの半径を持つ内径面を持ってもよい。外径面は、テーパの付いたセクションを含んでもよいが、ここで、テーパ付きセクションの周辺部は、下部より上部に向けて大きくなっている。下部と上部は、単体として形成されている。
【0008】
他の態様において、本考案は、基板の為の取り付け面を持つ化学機械研磨に使われるリテーニング・リングに向けられている。リテーニング・リングは、テーパの付いた内径面を有する。リテーニング・リングの内径面の周辺部は、リテーニング・リングの上面より底面に向けて小さくなっている。
【0009】
本考案の実施例は、1又は2以上の以下の特徴を含むことが可能である。内径面は、円筒状の垂直面を含んでもよい。
【0010】
本考案の1つの考えられる利点は、キャリア・ヘッドが下降して基板を移送用ステーションで受容するとき、リテーニング・リングの外径部のテーパが付いた壁は、ロードカップの内面に係合可能であり、リテーニング・リングを基板との整列状態に導く。これにより、リテーニング・リングと、移送用ステーションにより保持された基板との同心度が改善され、ロード処理の信頼性が改善される。
【0011】
本考案の他の考えられる利点は、リテーニング・リングの外径部でフランジの平らな下面が、ロードカップの上面に係合可能になり、その上に載せることができる。これにより、キャリア・ヘッドと基板との平行度が改善され、ロード処理の信頼性が改善される。それに加えて、フランジの平坦な下面は、適切にロードカップの上面と係合し、たとえリテーニング・リングの底面が摩耗されても平行を確実にする。
【0012】
詳細な説明書
図1,図4、図5を参考にすると、リテーニング・リング100は、CMP装置のキャリア・ヘッドに固定可能な、概して環状リングである。適当なCMP装置は、米国特許第5,738,574号に説明され、適切なキャリア・ヘッドは、米国特許第6,251,215号に説明されており、これらの全開示内容は、参考の為に本願に組み入れられている。リテーニング・リング100は、CMP装置の移送用ステーションで基板を位置決めし、センタリングし、保持する為のロードカップに嵌め込まれている。適当なロードカップは、本考案の譲受人に譲渡され、”EDGE CONTACT LOAD CUP”(欧州公報第1061558号)という考案の名称で、1999年10月8日に提出された、特許第09/414,907に説明されており、この全開示内容は、本願に参考の為に組み込まれている。
【0013】
リテーニング・リング100は、2個の部分から構成可能である。図2A、図2Bで示されるように、最初の部分(下部105)は、底面を持ち、これは、(チャネル数が異なってもよいが)18個のチャネル210又は溝を含む。直線状チャネル180は、底面110の内周部で始まり、外周部で終わっているが、リテーニング・リング100の周りで等しい角度間隔で分配可能である。チャネルは、通常、リテーニング・リング100の中心を通って伸びる半径方向セグメントに対し45°で配向されているが、他の配向角度として、30°から60°が可能である。
【0014】
図1,図4,図5を再び参照すると、下部105の内径部115は、直線の垂直円筒面を形成する。対照的に、下部105の外径面120は、底面110付近で開始する垂直部125と、垂直部125から上方に伸びる外側傾斜部130との両方を含む。外径部の外側傾斜部130は、リテーニング・リングの底面110に対し約60°の角度を形成してもよい。下部105の平坦な上面135は、底面110と平行になっている。この上面135は、鈍角で外径面120の傾斜部130と合い、実質的に直角で内径部115と合っている。内径部115は、リテーニング・リング100の基板受容凹部を画成する。
【0015】
リテーニング・リング100の下部105は、CMP処理に対し化学的に不活性である材料から形成可能である。材料は、リテーニング・リング100に対する基板縁部の接触部は基板が削れるかひび割れの原因にならないように、十分に弾性を持たなければならない。しかし、リテーニング・リング100は、キャリア・ヘッドがリテーニング・リング100に下方圧力を押し付けるとき、基板受容凹部140の中に押し出す程に弾性であるべきではない。リテーニング・リング100は、また耐久性がなければならず、低い摩耗率を有するが、すり減ることはリテーニング・リング100にとって許容可能である。たとえば、リテーニング・リング100は、プラスチック(例えばポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリブチレン・テレフタル酸塩(PBT)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリベンソイミダゾール(PBI)、ポリエーテルイミド(PEI)または複合材料)で形成可能である。
【0016】
リテーニング・リング100の第2の部分、上部145は、平坦な底面150と、底面150に対し平行である上面とを有する。上面160は、(穴の数は異なってもよいが)18個の穴165を含み、リテーニング・リング100とキャリア・ヘッドを一緒に固定する為に、ボルト、ネジ、他のハードウェアを受容する。さらに、1または2以上のアライメント用アパーチャー170は、上部145に配置可能である。リテーニング・リング100がアライメント用アパーチャー170を有する場合、キャリア・ヘッドは、キャリア・ヘッドとリテーニング・リング100が適切に整列されるとき、アライメント用アパーチャー170と組み合わさる対応ピンを有することが可能である。
【0017】
上部145の外径面175は、外側傾斜セクション190、水平セクション185、垂直セクション180を含む。外径面175の外側傾斜セクション190は、リテーニング・リングの底面110に対し、約60°の角度を形成してもよい。上部145の内径面155は、内径面155が底部より大きい径を有するように外側に傾斜されている。外側に傾斜している内径面155は、リテーニング・リングの上面165に対し、約80°の角度を形成してもよい。上面160は、実質的に直角で外径面175に合うが、底面150は、鈍角で外径面175に合う。水平なセクション185は、それぞれ、上面160と底面150に対し平行になっている。上部145の上面160、垂直セクション180、水平セクション185は、共にフランジ195を形成する。
【0018】
リテーニング・リング100の上部145は、1又は2以上のドレイン穴200(例えば、リテーニング・リングの周りに等しい角度間隔で配置された4個のドレイン穴)を含んでもよい。これらのドレイン穴200は、リテーニング・リングを通って内径面155から外径面175(例えば、傾斜セクション190)まで伸びている。ドレイン穴は傾けられてもよく、例えば、外径面より内径面で高くなっている。代替え的に、ドレイン穴は、実質的に水平でもよく、リテーニング・リングは、ドレイン穴を持たずに製造可能である。
【0019】
上部145は、金属のような堅い材料から形成してもよい。上部を形成する適切な金属には、ステンレス鋼、モリブデン、アルミニウムを含まれる。また、セラミックも使用可能である。
【0020】
下部105と上部145は、それぞれ、これらの上面135,底面150に接続され、リテーニング・リング100を形成する。上部145と下部105が整列され組み合わされるとき、リテーニング・リング100は、一定角度で外径面120,175に沿って、テーパが付けられた単一の表面130,190を有する。2つの部分は、接着剤、ネジ、圧入構成を用いて接合可能である。粘着性の層は、ジョージア州チャンブリーのマグノリアプラスチック社から入手可能なMagnobond−6375(商標)のような二部低速硬化型エポキシでもよい。
【0021】
リテーニング・リング100は、キャリア・ヘッドの底部に固定されるとき、外径部180の上部周辺は、実質的にキャリア・ヘッドの基部周辺と実質的に同一でもよく、キャリア・ヘッドの外縁に沿って間隙は存在しない。
【0022】
CMP装置の通常動作において、ロボット・アームはカセットストレージから移送用ステーションまで300mm基板を移動させる。移送用ステーションでは、基板はロードカップ内でセンタリングされる。キャリア・ヘッドは、ロードカップ上方の場所に移動する。一旦キャリア・ヘッドとロードカップが互いにほぼ一直線に並べられると、キャリア・ヘッドは基板を受ける位置へと下げられる。具体的には、キャリア・ヘッドは、リテーニング・リングの外径面120、175の底部がロードカップに嵌め込まれるように下げられる。リテーニング・リング100のセンタリングを助ける為に、リテーニング・リング100の最も狭い位置が最初にロードカップに入る。キャリア・ヘッドが下げられると、テーパ付きエッジ130、190は、ロードカップの内面に係合し、リテーニング・リング100をロードカップとの同心アライメントへと案内する。このアライメントは、(基板は適切にロードカップ内でセンタリングされていることを推定しつつ)順番に同心上で基板とリテーニング・リング100を互いに一直線に並べる。
【0023】
キャリア・ヘッドが更に下げられると、リテーニング・リングのフランジ195は、ロードカップの実質的に水平な部分と係合し、その上に載る。この平坦な環状面は、ロードカップにおける基板とリテーニング・リング100とキャリア・ヘッド間の平行変位を維持する。
【0024】
一旦基板がキャリア・ヘッドにロードされると、キャリア・ヘッドは、ロードカップから外す為に持ち上がる。キャリア・ヘッドは、移送用ステーションから研磨用ステーションの各々まで、CMP装置上を移動することができる。CMP研磨中、キャリア・ヘッドは、基板に圧力をかけ、研磨用パッドに抗して基板を保持する。研磨のシーケンス中、基板は、受容凹部170の内部に置かれ、これが基板の逸脱を防止する。リテーニング・リング100の中にあるチャネル210は、リテーニング・リング100が研磨用パッドと接触状態にあるとき、スラリーの基板へ/からの運搬を容易にする。一旦研磨が終了すると、キャリア・ヘッドは、ロードカップ上方の一定位置に戻り、リテーニング・リング100が再びロードカップと係合するように下降する。基板は、キャリア・ヘッドから解放され、その後、研磨シーケンスの次のステップに移動される。
【0025】
本考案は、多くの実施形態に関して記載された。しかし、本考案は、描写され説明された実施形態に限定されるものではない。むしろ、本考案の範囲は、実用新案登録請求の範囲で規定されるものである。たとえば、水平セクション185の上方に、リテーニング・リング100の外径部180は、直線形状または傾斜形状を有することができる。内径部145は、直線形状、傾斜形状、又は、直線と傾斜の混合形状を持つことができる。リテーニング・リング100は、別個の上部145と下部105から形成する代わりに、例えばPPSを用いてプラスチックの単一片から構成されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本考案によるリテーニング・リングの部分的断面を有する斜視図である。
【図2A】図2Aは、図1のリテーニング・リングの下面図である。
【図2B】図2Bは、図1のリテーニング・リングの側面図である。
【図3】図3は、図1のリテーニング・リングの斜視図である。
【図4】図4は、図3での線4−4に沿ったリテーニング・リングの横断面図である。
【符号の説明】
100…リテーニング・リング、105…下部、110…底面、115…内径部、120…外径面、125…垂直部、130…外側傾斜部、テーパ付きエッジ、135…上面、140…基板受容凹部、145…上部、160…上面、170…アライメント用アパーチャー、175…外径面、180…直線上チャネル、185…水平セクション、190…外側傾斜セクション、テーパ付きエッジ、195…フランジ、200…ドレイン穴、210…チャネル。
Claims (20)
- 上面、底面、内径面、外径面を有する、概して環状体であって、外径面は、外側に突き出たフランジを含み、当該フランジは、下面を有し、前記底面は複数のチャネルを含む、リテーニング・リング。
- 前記下面は、前記上面及び前記底面に対し、実質的に平行である、請求項1記載のリテーニング・リング。
- 前記外径面は、周辺部を有するテーパ付きセクションを含み、前記周辺部は、前記上面より前記底面の方が大きい、請求項1記載のリテーニング・リング。
- 外径面は、前記テーパ付きセクションと前記底面との間に垂直セクションを含む、請求項3記載のリテーニング・リング。
- テーパ付きセクションは、前記底面に対し、約60°の角度を形成する、請求項3記載のリテーニング・リング。
- 内径面は、周辺部を有するテーパ付きセクションを含み、前記周辺部は、前記底面より前記上面の方が大きい、請求項1記載のリテーニング・リング。
- 内径面は、前記テーパ付きセクションと前記底面との間に垂直セクションを含む、請求項6記載のリテーニング・リング。
- テーパ付きセクションは、前記上面に対し、約80°の角度を形成する、請求項6記載のリテーニング・リング。
- 前記底面は、18個のチャネルを含む、請求項1記載のリテーニング・リング。
- 前記上面は、内部に形成された複数の穴を含む、請求項1記載のリテーニング・リング。
- 前記上面は、18個の穴を含む、請求項10記載のリテーニング・リング。
- 前記内径面から前記外径面まで延びている少なくとも1つのドレン穴を更に備える、請求項1記載のリテーニング・リング。
- 前記内径面が、約300mmの半径を前記底面に隣接して有する、請求項1記載のリテーニング・リング。
- 基板に対する取り付け面を有する化学機械研磨で使用される為のキャリア・ヘッド用リテーニング・リングであって:
研磨用パッドと接触する為の底面を有する概して環状の下部であって、前記底面が複数のチャネルを有する、前記下部と;
前記下部に固定される概して環状の上部であって、環状の突出部を備えた外径部を有する、前記上部と;を備える、リテーニング・リング。 - 前記環状突出部は、水平な下面と、水平な上面と、前記下面と前記上面に連結される垂直円筒外面と、を備える、請求項14記載のリテーニング・リング。
- 前記下部は、約300mmの半径の内径面を有する、請求項14記載のリテーニング・リング。
- 前記外径面は、前記テーパ付きセクションの周辺部が、前記下部より前記上部に向けて大きくなっている、請求項14記載のリテーニング・リング。
- 前記下部と前記上部は、単体として形成された、請求項14記載のリテーニング・リング。
- 基板に対する取り付け表面を有する化学機械研磨に使われるキャリア・ヘッド用リテーニング・リングであって:
テーパ面を備えた内径面であって、前記リテーニング・リングの内径部の周辺部は、前記リテーニング・リングの上面より底面に向けて小さくなっている、前記リテーニング・リング。 - 前記内径面は、円筒状垂直面を含む、請求項19記載のリテーニング・リング。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018517574A (ja) * | 2015-05-29 | 2018-07-05 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 特徴を含む内面を有する保持リング |
JP2020131418A (ja) * | 2019-02-26 | 2020-08-31 | 富士紡ホールディングス株式会社 | 基板保持リング及び基板保持リング用取付部材 |
US11056350B2 (en) | 2014-04-22 | 2021-07-06 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring having inner surfaces with facets |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004033152A1 (en) * | 2002-10-11 | 2004-04-22 | Semplastics, L.L.C. | Retaining ring for use on a carrier of a polishing apparatus |
TWM255104U (en) * | 2003-02-05 | 2005-01-11 | Applied Materials Inc | Retaining ring with flange for chemical mechanical polishing |
US20050126708A1 (en) * | 2003-12-10 | 2005-06-16 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring with slurry transport grooves |
DE10360248A1 (de) * | 2003-12-20 | 2005-07-28 | Robert Bosch Gmbh | Einsatzwerkzeug für einen Winkelschleifer |
DE102004017789A1 (de) * | 2004-04-02 | 2005-10-20 | Ensinger Kunststofftechnologie | Haltering zum Halten von Halbleiterwafern in einer chemisch-mechanischen Poliervorrichtung |
DE102004024649B4 (de) * | 2004-05-18 | 2007-02-01 | Thallner, Erich, Dipl.-Ing. | Justiereinrichtung und Vorrichtung zum Justieren eines Wafers |
US20080076253A1 (en) * | 2004-09-30 | 2008-03-27 | Hiroshi Fukada | Adhesive Sheet,Semiconductor Device,and Process for Producing Semiconductor Device |
CN101934491B (zh) * | 2004-11-01 | 2012-07-25 | 株式会社荏原制作所 | 抛光设备 |
US7186171B2 (en) * | 2005-04-22 | 2007-03-06 | Applied Materials, Inc. | Composite retaining ring |
US20070262488A1 (en) * | 2006-05-09 | 2007-11-15 | Applied Materials, Inc. | Friction weld of two dissimilar materials |
JP2008062355A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Fujitsu Ltd | 研磨装置及び電子装置の製造方法 |
US7789736B2 (en) * | 2006-10-13 | 2010-09-07 | Applied Materials, Inc. | Stepped retaining ring |
JP4374370B2 (ja) * | 2006-10-27 | 2009-12-02 | 信越半導体株式会社 | 研磨ヘッド及び研磨装置 |
US7654888B2 (en) * | 2006-11-22 | 2010-02-02 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with retaining ring and carrier ring |
US7575504B2 (en) * | 2006-11-22 | 2009-08-18 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring, flexible membrane for applying load to a retaining ring, and retaining ring assembly |
US7699688B2 (en) * | 2006-11-22 | 2010-04-20 | Applied Materials, Inc. | Carrier ring for carrier head |
DE102006062017A1 (de) * | 2006-12-29 | 2008-07-03 | Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale | Haltering für ein chemisch-mechanisches Poliergerät |
US8033895B2 (en) * | 2007-07-19 | 2011-10-11 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring with shaped profile |
TWI574785B (zh) | 2010-08-06 | 2017-03-21 | 應用材料股份有限公司 | 內扣環及外扣環 |
WO2013022624A2 (en) * | 2011-08-05 | 2013-02-14 | Applied Materials, Inc. | Two-part plastic retaining ring |
US9193027B2 (en) * | 2012-05-24 | 2015-11-24 | Infineon Technologies Ag | Retainer ring |
US9597771B2 (en) * | 2013-12-19 | 2017-03-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Carrier head having retainer ring, polishing system including the carrier head and method of using the polishing system |
TWM504343U (zh) * | 2014-12-05 | 2015-07-01 | Kai Fung Technology Co Ltd | 化學機械研磨固定裝置 |
WO2019070757A1 (en) * | 2017-10-04 | 2019-04-11 | Applied Materials, Inc. | RING RING DESIGN |
EP3539432A1 (en) | 2018-03-16 | 2019-09-18 | CWS-boco International GmbH | Pump system for a wall-mounted fluid dispenser and method for modifying a fluid dispenser |
WO2022010687A1 (en) | 2020-07-08 | 2022-01-13 | Applied Materials, Inc. | Multi-toothed, magnetically controlled retaining ring |
US11565367B2 (en) * | 2020-07-09 | 2023-01-31 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring |
US11440159B2 (en) * | 2020-09-28 | 2022-09-13 | Applied Materials, Inc. | Edge load ring |
US20230129597A1 (en) * | 2021-10-27 | 2023-04-27 | Sch Power Tech Co., Ltd. | Retaining Ring for Wafer Polishing |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5205082A (en) | 1991-12-20 | 1993-04-27 | Cybeq Systems, Inc. | Wafer polisher head having floating retainer ring |
US5635083A (en) | 1993-08-06 | 1997-06-03 | Intel Corporation | Method and apparatus for chemical-mechanical polishing using pneumatic pressure applied to the backside of a substrate |
JP3311116B2 (ja) | 1993-10-28 | 2002-08-05 | 株式会社東芝 | 半導体製造装置 |
JP2716653B2 (ja) | 1993-11-01 | 1998-02-18 | 不二越機械工業株式会社 | ウェーハの研磨装置および研磨方法 |
US5643053A (en) | 1993-12-27 | 1997-07-01 | Applied Materials, Inc. | Chemical mechanical polishing apparatus with improved polishing control |
US5423558A (en) | 1994-03-24 | 1995-06-13 | Ipec/Westech Systems, Inc. | Semiconductor wafer carrier and method |
JP3158934B2 (ja) | 1995-02-28 | 2001-04-23 | 三菱マテリアル株式会社 | ウェーハ研磨装置 |
US5908530A (en) | 1995-05-18 | 1999-06-01 | Obsidian, Inc. | Apparatus for chemical mechanical polishing |
US6024630A (en) | 1995-06-09 | 2000-02-15 | Applied Materials, Inc. | Fluid-pressure regulated wafer polishing head |
US5643061A (en) * | 1995-07-20 | 1997-07-01 | Integrated Process Equipment Corporation | Pneumatic polishing head for CMP apparatus |
US5695392A (en) | 1995-08-09 | 1997-12-09 | Speedfam Corporation | Polishing device with improved handling of fluid polishing media |
JP3129172B2 (ja) | 1995-11-14 | 2001-01-29 | 日本電気株式会社 | 研磨装置及び研磨方法 |
JP3072962B2 (ja) | 1995-11-30 | 2000-08-07 | ロデール・ニッタ株式会社 | 研磨のための被加工物の保持具及びその製法 |
KR100485002B1 (ko) | 1996-02-16 | 2005-08-29 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 작업물폴리싱장치및방법 |
KR100195222B1 (ko) | 1996-07-23 | 1999-06-15 | 윤종용 | 웨이퍼 폴리싱 장치 |
US6183354B1 (en) | 1996-11-08 | 2001-02-06 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a flexible membrane for a chemical mechanical polishing system |
KR200284818Y1 (ko) | 1996-12-09 | 2002-10-30 | 현대자동차주식회사 | 자동차의연료캡걸이구조 |
US5851140A (en) | 1997-02-13 | 1998-12-22 | Integrated Process Equipment Corp. | Semiconductor wafer polishing apparatus with a flexible carrier plate |
US6056632A (en) * | 1997-02-13 | 2000-05-02 | Speedfam-Ipec Corp. | Semiconductor wafer polishing apparatus with a variable polishing force wafer carrier head |
US6019670A (en) * | 1997-03-10 | 2000-02-01 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for conditioning a polishing pad in a chemical mechanical polishing system |
JP2917992B1 (ja) | 1998-04-10 | 1999-07-12 | 日本電気株式会社 | 研磨装置 |
US6143127A (en) * | 1998-05-14 | 2000-11-07 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a retaining ring for a chemical mechanical polishing system |
US6251215B1 (en) * | 1998-06-03 | 2001-06-26 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a multilayer retaining ring for chemical mechanical polishing |
KR100542723B1 (ko) | 1998-09-03 | 2006-04-06 | 삼성전자주식회사 | 반도체장치 제조용 씨엠피설비의 연마헤드 |
JP2000084836A (ja) | 1998-09-08 | 2000-03-28 | Speedfam-Ipec Co Ltd | キャリア及び研磨装置 |
US6089961A (en) * | 1998-12-07 | 2000-07-18 | Speedfam-Ipec Corporation | Wafer polishing carrier and ring extension therefor |
JP3592568B2 (ja) | 1999-02-05 | 2004-11-24 | 株式会社荏原製作所 | ウェーハ研磨ヘッド、ウェーハ研磨装置ならびにウェーハの製造方法 |
US6527624B1 (en) * | 1999-03-26 | 2003-03-04 | Applied Materials, Inc. | Carrier head for providing a polishing slurry |
US6224472B1 (en) * | 1999-06-24 | 2001-05-01 | Samsung Austin Semiconductor, L.P. | Retaining ring for chemical mechanical polishing |
US6354927B1 (en) * | 2000-05-23 | 2002-03-12 | Speedfam-Ipec Corporation | Micro-adjustable wafer retaining apparatus |
US6736713B2 (en) * | 2000-08-08 | 2004-05-18 | Speedfam-Ipec Corporation | Workpiece carrier retaining element |
TWI261009B (en) | 2001-05-02 | 2006-09-01 | Hitoshi Suwabe | Polishing machine |
DE10247179A1 (de) | 2002-10-02 | 2004-04-15 | Ensinger Kunststofftechnologie Gbr | Haltering zum Halten von Halbleiterwafern in einer chemisch-mechanischen Poliervorrichtung |
DE10247180A1 (de) | 2002-10-02 | 2004-04-15 | Ensinger Kunststofftechnologie Gbr | Haltering zum Halten von Halbleiterwafern in einer chemisch-mechanischen Poliervorrichtung |
WO2004033152A1 (en) * | 2002-10-11 | 2004-04-22 | Semplastics, L.L.C. | Retaining ring for use on a carrier of a polishing apparatus |
TWM255104U (en) * | 2003-02-05 | 2005-01-11 | Applied Materials Inc | Retaining ring with flange for chemical mechanical polishing |
-
2003
- 2003-05-27 TW TW092209726U patent/TWM255104U/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-05-29 CN CNU032640234U patent/CN2760754Y/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-05-29 CN CNU2005201423781U patent/CN2841244Y/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-06-11 DE DE20309051U patent/DE20309051U1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-06-19 JP JP2003003618U patent/JP3098671U/ja not_active Expired - Lifetime
- 2003-07-11 KR KR20-2003-0022342U patent/KR200328288Y1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-09-08 US US10/659,047 patent/US7094139B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2006
- 2006-08-17 US US11/506,477 patent/US7677958B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2010
- 2010-01-14 US US12/687,804 patent/US7934979B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11056350B2 (en) | 2014-04-22 | 2021-07-06 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring having inner surfaces with facets |
US12033865B2 (en) | 2014-04-22 | 2024-07-09 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring having inner surfaces with facets |
JP2018517574A (ja) * | 2015-05-29 | 2018-07-05 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 特徴を含む内面を有する保持リング |
CN112621560A (zh) * | 2015-05-29 | 2021-04-09 | 应用材料公司 | 内表面具有特征结构的保持环 |
JP2021185013A (ja) * | 2015-05-29 | 2021-12-09 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials, Incorporated | 特徴を含む内面を有する保持リング |
KR20220150435A (ko) * | 2015-05-29 | 2022-11-10 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 피쳐들을 갖는 내측 표면들을 갖는 리테이닝 링 |
JP7232285B2 (ja) | 2015-05-29 | 2023-03-02 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 特徴を含む内面を有する保持リング |
US12048981B2 (en) | 2015-05-29 | 2024-07-30 | Applied Materials, Inc. | Retaining ring having inner surfaces with features |
JP2020131418A (ja) * | 2019-02-26 | 2020-08-31 | 富士紡ホールディングス株式会社 | 基板保持リング及び基板保持リング用取付部材 |
JP7187348B2 (ja) | 2019-02-26 | 2022-12-12 | 富士紡ホールディングス株式会社 | 基板保持リング及び基板保持リング用取付部材 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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