JP3096025B2 - Glow discharge emission spectrometer - Google Patents

Glow discharge emission spectrometer

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JP3096025B2
JP3096025B2 JP33405898A JP33405898A JP3096025B2 JP 3096025 B2 JP3096025 B2 JP 3096025B2 JP 33405898 A JP33405898 A JP 33405898A JP 33405898 A JP33405898 A JP 33405898A JP 3096025 B2 JP3096025 B2 JP 3096025B2
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tube
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文夫 平本
正実 桑原
昇 山下
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理学電機工業株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、試料をスパッタ
リングしながら、発生した光を分光器で分析するグロー
放電発光分光分析装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a glow discharge emission spectrometer for analyzing generated light with a spectroscope while sputtering a sample.

【0002】[0002]

【従来の技術】気体圧力が500〜1300Pa程度の
アルゴン(Ar)雰囲気中で、二つの電極間に直流また
は高周波の高電圧を印加すると、グロー放電が起こり、
Arイオンが生成される。生成したArイオンは高電界
で加速され、陰極表面に衝突し、そこに存在する物質を
たたき出す。この現象をスパッタリングと呼ぶが、スパ
ッタされた粒子(原子、分子、イオン)はプラズマ中で
励起され、基底状態に戻る際にその元素に固有の波長の
光を放出する。この発光を分光器で分光して元素を同定
する分析法が、グロー放電発光分光分析方法と呼ばれて
いる。
2. Description of the Related Art When a DC or high-frequency high voltage is applied between two electrodes in an argon (Ar) atmosphere at a gas pressure of about 500 to 1300 Pa, a glow discharge occurs.
Ar ions are generated. The generated Ar ions are accelerated by a high electric field, collide with the surface of the cathode, and knock out substances existing there. This phenomenon is called sputtering, and the sputtered particles (atoms, molecules, and ions) are excited in the plasma and emit light having a wavelength specific to the element when returning to the ground state. An analysis method in which the emitted light is separated by a spectroscope to identify elements is called a glow discharge emission spectral analysis method.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このグロー放
電発光分光分析方法を具現化した従来の分析装置では、
試料の分析面をグロー放電管の支持部に当接させる作業
等が自動化されておらず、作業者が手作業で当接させな
ければならない等、分析が面倒であった。
However, in a conventional analyzer embodying this glow discharge emission spectroscopic analysis method,
The work of bringing the analysis surface of the sample into contact with the support of the glow discharge tube was not automated, and the analysis was troublesome, for example, the worker had to make the contact manually.

【0004】そこで本発明は、試料の支持部への当接等
を自動化したグロー放電発光分光分析装置を提供するこ
とを目的とするものである。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a glow discharge optical emission spectrometer in which the contact of a sample with a supporting portion is automated.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項1に係るグロー放電発光分光分析用
装置は、まず、試料に対し電圧が引加される陽極管と試
料が当接される支持部とを有するグロー放電管と、陽極
管が収納される内方空間を真空引きする減圧手段と、陽
極管と試料との間に電圧を印加してグロー放電を発生さ
せる給電手段と、試料の分析面を前記支持部に当接させ
た状態で試料を保持するロボット装置とを備えている。
この構成によれば、ロボット装置により、試料の支持部
への当接、保持について自動化できる。
To achieve the above object, according to the Invention The glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus according to claim 1 of the present invention, first, an anode tube and the sample voltage to the sample is引加A glow discharge tube having a supporting portion to be abutted, a decompression means for evacuating an inner space in which the anode tube is housed, and a power supply for applying a voltage between the anode tube and the sample to generate a glow discharge Means, and a robot device for holding the sample with the analysis surface of the sample in contact with the support.
According to this configuration , the robot device can automate the contact and holding of the sample with the support.

【0006】また、請求項1の装置は、前記支持部が絶
縁部であり、前記グロー放電管が、陽極管を有する陽極
ブロックと、前記支持部と、その支持部と分離した陰極
ブロックとからなる。また、前記ロボット装置が、試料
に前記陰極ブロックを導通接触させる。この構成によれ
ば、支持部が絶縁部である場合に、ロボット装置によ
り、試料への陰極ブロックの導通接触について自動化で
きる。
Further, in the apparatus according to the first aspect, the support portion is an insulating portion, and the glow discharge tube includes an anode block having an anode tube, the support portion, and a cathode block separated from the support portion. Become. Further, the robot device brings the cathode block into conductive contact with a sample. According to this configuration , when the support portion is an insulating portion, the robot device can automate the conductive contact of the cathode block with the sample.

【0007】さらに、請求項1の装置は、前記陽極ブロ
ックが、陽極ブロック本体と陽極ブロックユニット部と
からなり、その陽極ブロックユニット部と前記支持部が
ユニットとして一体に形成され、そのユニットにおい
て、前記陽極管先端面と試料の分析面が当接される面と
の間隙があらかじめ調整されている。また、単一の前記
陽極ブロック本体に、複数の前記ユニットの一つが選択
して取り付けられ、前記陽極ブロック本体が、前記ユニ
ットを着脱自在に取り付けるための係合手段を有し、前
記ユニットが、前記係合手段に係合する被係合手段を有
している。さらに、前記ロボット装置が、操作者の指示
に応じて作動し、前記ユニットを前記陽極ブロック本体
に選択的に取り付ける。この構成によれば、試料の分析
すべき所望の部位の大きさ等に応じて、ユニットの交換
により短時間に対応でき、しかもその交換をロボット装
置により自動化できる。
Further, in the apparatus according to the first aspect , the anode block includes an anode block main body and an anode block unit, and the anode block unit and the support are integrally formed as a unit. The gap between the tip surface of the anode tube and the surface where the analysis surface of the sample abuts is adjusted in advance. In addition, one of the plurality of units is selectively attached to the single anode block main body, and the anode block main body has an engagement means for detachably attaching the unit, and the unit is There is provided engaged means for engaging with the engaging means. Further, the robot apparatus operates according to an instruction of an operator, and selectively attaches the unit to the anode block body. According to this configuration , the unit can be replaced in a short time in accordance with the size of a desired portion of the sample to be analyzed, and the replacement can be automated by the robot device.

【0008】請求項に係るグロー放電発光分光分析装
置は、請求項の装置において、前記陽極管の内面およ
び先端面を切削または研磨するためのクリーニング具を
備え、前記ロボット装置が、分析前に、前記クリーニン
グ具を用いて前記陽極管の内面および先端面を切削また
は研磨する。請求項の装置によれば、分析前に定期的
に必要となる陽極管の内面および先端面のクリーニング
について、ロボット装置により自動化できる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the glow discharge optical emission spectrometer according to the first aspect, further comprising a cleaning tool for cutting or polishing an inner surface and a front end surface of the anode tube, wherein the robot device is provided with a pre-analysis device. Next, the inner surface and the distal end surface of the anode tube are cut or polished using the cleaning tool. According to the apparatus of the second aspect, the cleaning of the inner surface and the tip surface of the anode tube, which is required regularly before the analysis, can be automated by the robot device.

【0009】請求項に係るグロー放電発光分光分析装
置は、請求項1または2の装置において、周辺部に結晶
方位を示す切欠き部を有する略円板状である試料に対応
するものであって、前記試料の切欠き部の位置に基づい
て、試料をその軸心回りの所定の方向に設定して保持す
るオリフラ合わせ機を備え、さらに、前記ロボット装置
が、試料を、前記オリフラ合わせ機から、前記陽極管に
対向する分析位置へ移送する。請求項の装置によれ
ば、半導体ウエハ等の試料について、オリフラ合わせ機
とロボット装置により、所望の部位の分析について自動
化できる。
A glow discharge optical emission spectrometer according to a third aspect of the present invention corresponds to the device according to the first or second aspect , which is a substantially disk-shaped sample having a notch indicating a crystal orientation in a peripheral portion. An orientation flat aligner for setting and holding the sample in a predetermined direction around the axis thereof based on the position of the cutout portion of the sample, further comprising: Is transferred to an analysis position facing the anode tube. According to the apparatus of the third aspect , analysis of a desired portion of a sample such as a semiconductor wafer can be automated by the orientation flat aligner and the robot device.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態のグロ
ー放電発光分光分析装置を図面にしたがって説明する。
まず、この装置の構成について説明する。この装置で
は、図5に示すように、グロー放電を利用したスパッタ
リングにより元素に固有の波長の光を発生するグリムグ
ロー放電管21から放出されて、窓13aを透過した光
Sが、分光器13内に入射する。分光器13は、窓13
aのほか、入射スリット24、この入射スリット24か
ら入射した光Sを波長に応じて異った回折角度で回折す
る回折格子26、回折光を通過させる出射スリット27
および回折光の強度を測定する光電子増倍管28を備え
ている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A glow discharge optical emission spectrometer according to one embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
First, the configuration of this device will be described. In this apparatus, as shown in FIG. 5, light S emitted from a grim glow discharge tube 21 that generates light having a wavelength specific to an element by sputtering using glow discharge and transmitted through a window 13a is converted into a spectroscope 13 Incident inside. The spectroscope 13 has a window 13
a, an entrance slit 24, a diffraction grating 26 that diffracts the light S incident from the entrance slit 24 at different diffraction angles according to the wavelength, and an exit slit 27 that passes the diffracted light.
And a photomultiplier tube 28 for measuring the intensity of the diffracted light.

【0011】また、この装置は、図3に示すようなグロ
ー放電管21を備えている。このグロー放電管21は、
まず、試料6に対して電圧が印加される陽極管4aを有
する陽極ブロック1と、試料6が当接される支持部5
(本実施形態では同時にポリイミド、ベスペル等の樹脂
からなる絶縁部である)と、その支持部5と分離した
(別体の)陰極ブロック7とからなる。ここで、陽極ブ
ロック1は、分光室13の窓13aの下方に固定される
陽極ブロック本体2と、後述するユニット3の一部であ
る陽極ブロックユニット部4とからなる。なお、本実施
形態では、試料6は、半導体ウエハのような略円板状の
ものとして図示しているが、本発明の適用は、このよう
な試料に限定されるものではない。
The apparatus has a glow discharge tube 21 as shown in FIG. This glow discharge tube 21
First, an anode block 1 having an anode tube 4a to which a voltage is applied to a sample 6, and a supporting portion 5 to which the sample 6 contacts
(In the present embodiment, it is an insulating portion made of a resin such as polyimide or Vespel at the same time), and a supporting portion 5 and a separated (separate) cathode block 7. Here, the anode block 1 includes an anode block main body 2 fixed below the window 13a of the spectroscopic chamber 13, and an anode block unit 4 which is a part of the unit 3 described later. In the present embodiment, the sample 6 is illustrated as a substantially disk-shaped one such as a semiconductor wafer, but the application of the present invention is not limited to such a sample.

【0012】陽極ブロックユニット部4と支持部5は、
例えば周方向3か所においてスペーサ8を挟んでボルト
9で連結され、ユニット3として一体に形成され、その
ユニット3において、陽極管先端面4bと試料6の分析
面6aが当接される面5aとの間隙がスペーサ8の厚み
によりあらかじめ調整されている。なお、この間隙は、
ユニット3の各部品4,5の寸法精度が十分であれば、
厚みの異なるスペーサ8等を用いなくても単に組み上げ
るだけで適切な大きさとなるが、このような場合もここ
でいう「あらかじめ調整されている」に含まれるものと
する。また、周方向とは、陽極管4aの中心軸について
の周方向である。
The anode block unit 4 and the support 5 are
For example, it is connected at three places in the circumferential direction by bolts 9 with a spacer 8 interposed therebetween, and is integrally formed as a unit 3. In the unit 3, a surface 5a on which the anode tube tip surface 4b and the analysis surface 6a of the sample 6 are in contact. Is adjusted in advance by the thickness of the spacer 8. This gap is
If the dimensional accuracy of each part 4 and 5 of the unit 3 is sufficient,
Even if the spacers 8 having different thicknesses are not used, an appropriate size can be obtained simply by assembling, but such a case is also included in the “adjusted in advance” here. The circumferential direction is a circumferential direction about the central axis of the anode tube 4a.

【0013】さらに、この装置では、単一の陽極ブロッ
ク本体2に対し、ユニット3は複数あり、試料6の分析
すべき部位の大きさ等に応じてそのうちの一つが選択し
て取り付けられる。(図3は、選択されたひとつのユニ
ット3Aが陽極ブロック本体2に取り付けられている状
態の部分断面を示す)。そのため、まず、陽極ブロック
本体2は、ユニット3を着脱自在に取り付けるためのス
プリングプランジャ(係合手段)10を周方向に3つ有
している。ここで、スプリングプランジャ10とは、筒
状のケースの開口端部に、内部のばねで押圧される球
(係合子)10aを突出させたものである。具体的に
は、球10aが陽極管4aの中心軸に向くスプリングプ
ランジャ10を周方向に3つ有する段付きのリング状部
材2a(銅等からなる)が、下方から図示しないボルト
等で取り付けられている。一方、ユニット3は、陽極ブ
ロックユニット部4の基部(上部)の外周に、その球1
0aに係合する段部(被係合手段)3aを有している。
Further, in this apparatus, a plurality of units 3 are provided for a single anode block main body 2, and one of them is selectively attached in accordance with the size of a portion of the sample 6 to be analyzed. (FIG. 3 shows a partial cross section in a state where one selected unit 3A is attached to the anode block main body 2). Therefore, first, the anode block main body 2 has three spring plungers (engaging means) 10 for detachably attaching the unit 3 in the circumferential direction. Here, the spring plunger 10 is formed by projecting a ball (engagement element) 10a pressed by an internal spring from an open end of a cylindrical case. More specifically, a stepped ring-shaped member 2a (made of copper or the like) having three circumferentially arranged spring plungers 10 whose ball 10a faces the central axis of the anode tube 4a is attached from below by bolts or the like (not shown). ing. On the other hand, the unit 3 has the ball 1 on the outer periphery of the base (upper part) of the anode block unit 4.
It has a step (engaged means) 3a that engages with 0a.

【0014】陽極ブロック本体2は、ユニット3とのシ
ール性を高めるため、Oリング11を有している。ユニ
ット3も、陽極ブロック本体2および試料6とのシール
性を高めるため、Oリング11を有している。また、陽
極ブロック本体2とユニット3は、互いに連通する真空
排気路2b,3bを有し、それらが陽極管4aが収納さ
れる内方空間Vに連通することにより、内方空間Vは、
陽極ブロック本体2の真空排気孔2cから図示しない減
圧手段により真空引きされる。なお、陽極ブロック本体
2は、図示しないアルゴンガス供給孔を有しており、内
方空間Vがアルゴンの希ガス雰囲気(500〜1300
Pa)とされる。さらに、本実施形態の装置は、陽極管
4aと試料6との間に、陽極ブロック本体2(陽極ブロ
ック1)と陰極ブロック7を介して電圧を印加してグロ
ー放電を発生させる給電手段(電源部)12を備えてい
る。
The anode block body 2 has an O-ring 11 for improving the sealing performance with the unit 3. The unit 3 also has an O-ring 11 for improving the sealing performance between the anode block body 2 and the sample 6. In addition, the anode block body 2 and the unit 3 have vacuum exhaust paths 2b and 3b communicating with each other, and they communicate with the inner space V in which the anode tube 4a is stored, so that the inner space V is
A vacuum is drawn from a vacuum exhaust hole 2c of the anode block main body 2 by a pressure reducing means (not shown). The anode block body 2 has an argon gas supply hole (not shown), and the inner space V has a rare gas atmosphere of argon (500 to 1300).
Pa). Further, the apparatus according to the present embodiment includes a power supply unit (power supply) that generates a glow discharge by applying a voltage between the anode tube 4a and the sample 6 via the anode block body 2 (the anode block 1) and the cathode block 7. Unit 12).

【0015】また、本実施形態の装置は、試料の分析面
6aを支持部5に当接させた状態で試料6を保持する等
のためのロボット装置を備え、このロボット装置は、以
下の第1ロボットハンド14(図1)と第2ロボットハ
ンド15(図2)とで構成される。第1ロボットハンド
14は、図1の平面図に示すように、下から、基台14
a、基台14aに対し上下(紙面垂直方向)移動および
回転する第1軸14bと第1軸14bに基端部を固定さ
れた第1アーム14c、第1アーム14c先端部に対し
回転する第2軸14dと第2軸14dに基端部を固定さ
れた第2アーム14e、第2アーム14e先端部に対し
回転する第3軸14fと第3軸14fに基端部を固定さ
れた第3アーム14g、ならびに第3アーム14g先端
部に設けられ試料6を載置するハンド部14h等からな
る。
Further, the apparatus of the present embodiment includes a robot device for holding the sample 6 in a state where the analysis surface 6a of the sample is in contact with the support portion 5, and the like. It is composed of one robot hand 14 (FIG. 1) and a second robot hand 15 (FIG. 2). The first robot hand 14 is, as shown in the plan view of FIG.
a, a first shaft 14b that moves up and down (perpendicularly to the paper surface) with respect to the base 14a, a first arm 14c having a base end fixed to the first shaft 14b, and a first shaft 14b that rotates with respect to the distal end of the first arm 14c. A second arm 14e having a proximal end fixed to the two shafts 14d and 14d, a third shaft 14f rotating with respect to the distal end of the second arm 14e, and a third arm having a proximal end fixed to the third shaft 14f. The arm 14g includes a hand 14h provided on the distal end of the third arm 14g and on which the sample 6 is placed.

【0016】さらに、この装置は、載置された試料の切
欠き部6bと中心6cの位置を算出して、それらの位置
に基づいて、試料の中心6cを所定の受渡し位置Pに設
定し、かつ、試料の所望の方向6dを所定の受渡し方向
Lに設定するいわゆるオリフラ合わせ機19を備えてい
る。このオリフラ合わせ機19は、例えばXYテーブル
19aとその上に設けられ試料6が載置される回転テー
ブル19b等からなる。そして、第1ロボットハンド1
4が、試料6を、試料6が後述するカセット20に収納
される収納位置と、オリフラ合わせ機19と、陽極管4
aに対向する分析位置Oとの間で移動させ、かつ、試料
の分析面6aの所望の部位が分析位置Oに位置するよう
に、前記所定の受渡し位置Pおよび受渡し方向Lに設定
された試料6をオリフラ合わせ機19から受け取って、
所望の方向6dを分析位置Oに向けて少なくとも平行に
維持したまま試料6を移動させる。
Further, the apparatus calculates the positions of the notch 6b and the center 6c of the placed sample, and sets the center 6c of the sample at a predetermined delivery position P based on those positions. Further, a so-called orientation flat aligner 19 for setting a desired direction 6d of the sample to a predetermined delivery direction L is provided. The orientation flat aligner 19 includes, for example, an XY table 19a and a rotary table 19b provided thereon and on which the sample 6 is placed. And the first robot hand 1
Reference numeral 4 denotes a storage position where the sample 6 is stored in a cassette 20 described later, an orientation flat aligner 19, and an anode tube 4
The sample is set at the predetermined delivery position P and the delivery direction L such that the sample is moved between the analysis position O and the analysis position O, and the desired part of the analysis surface 6a of the sample is located at the analysis position O. 6 from the orientation flat aligner 19,
The sample 6 is moved while keeping the desired direction 6d at least parallel to the analysis position O.

【0017】図2の前記第2ロボットハンド15は、ユ
ニット3の交換や、支持部5に当接された試料6に陰極
ブロック7を導通接触させる等のためのものであり、基
台15a、基台15aに対し左右方向に移動する水平移
動体15b、水平移動体15bに対し上下移動する上下
移動体15c、上下移動体15cに対し回動する回動体
15d、ならびに回動体15d先端部に設けられ開閉
し、ユニット3、陰極ブロック7等を把持するするハン
ド部15e等からなる。水平移動体15b、上下移動体
15cは、例えばボールねじ、エアシリンダーによりそ
れぞれ水平、上下に駆動される。なお、ハンド部15e
は、ユニット3や陰極ブロック7を把持しやすい形状に
形成されている。
The second robot hand 15 shown in FIG. 2 is used for exchanging the unit 3 or bringing the cathode block 7 into conductive contact with the sample 6 abutting on the support portion 5. A horizontal moving body 15b that moves in the left-right direction with respect to the base 15a, a vertical moving body 15c that moves up and down with respect to the horizontal moving body 15b, a rotating body 15d that rotates with respect to the vertical moving body 15c, and a tip of the rotating body 15d It comprises a hand unit 15e that opens and closes and grips the unit 3, the cathode block 7, and the like. The horizontal moving body 15b and the vertical moving body 15c are driven horizontally and vertically by, for example, a ball screw and an air cylinder, respectively. The hand unit 15e
Are formed in a shape that can easily hold the unit 3 and the cathode block 7.

【0018】一方、第2ロボットハンド15の基台15
aの上方で、陽極ブロック本体2の左右に、第1ストッ
カー16と、第2ストッカー17が設けられている。第
1ストッカー16は、1点鎖線の高さに前記スプリング
プランジャ(図示せず)を有し、陽極ブロック本体2が
ユニット3(3A)を保持した(図3)のと同様に、複
数のユニット3A,3B,3Cを保持する(図2では、
ユニット3Aは、陽極ブロック本体2に取り付けられて
いる。)。なお、迅速、正確な分析のためにユニット3
の表面は清浄であることが望ましいので、第1ストッカ
ー16においては、保持するユニット3の酸化防止、塵
埃付着防止および吸湿防止のために、アルゴンガス等の
不活性ガス雰囲気とするか、または真空引きすることが
望ましい。また、第2ストッカー17も、1点鎖線の高
さに前記スプリングプランジャ10(図4(a))を有
し、陰極ブロック7を同様に保持する。このために、陰
極ブロック7は、下部の外周に、スプリングプランジャ
の球10a(図4(a))に係合するV型(図3)の係
合溝7aを有している。
On the other hand, the base 15 of the second robot hand 15
Above “a”, a first stocker 16 and a second stocker 17 are provided on the left and right of the anode block body 2. The first stocker 16 has the spring plunger (not shown) at the height of the one-dot chain line, and has a plurality of units as in the case where the anode block body 2 holds the unit 3 (3A) (FIG. 3). 3A, 3B, and 3C (in FIG. 2,
The unit 3A is attached to the anode block main body 2. ). For quick and accurate analysis, unit 3
It is desirable that the surface of the first stocker 16 be in an inert gas atmosphere such as argon gas or vacuum to prevent the unit 3 to be held from being oxidized, adhering dust and preventing moisture absorption. It is desirable to pull. The second stocker 17 also has the spring plunger 10 (FIG. 4A) at the height of the one-dot chain line, and similarly holds the cathode block 7. For this purpose, the cathode block 7 has a V-shaped (FIG. 3) engaging groove 7a which engages with a spring plunger ball 10a (FIG. 4A) on the outer periphery of the lower part.

【0019】さらに、この装置は、陽極管4aの内面4
fを研磨するために、図4(a)の正面図に示すような
外形略円柱状のブラシ30を取り付けたブラシクリーニ
ング具18Bを備えている。このブラシ30は、図4
(b)の平面図に示すように、先端に球状の砥粒30c
をもつ多数の柔軟な枝30bを軸30aの周囲に螺旋状
に有している。ここで、球状の砥粒30cは例えばシリ
コンカーバイト、枝30bは例えばナイロン樹脂、軸3
0aは例えばステンレスからなることが好ましい。図4
(a)において、ブラシ30の外径(球状の砥粒30c
を有する部分であるブラシの本体30dの外径)は、陽
極管4a(図3)の内径よりもわずかに大きく設定され
ている。ブラシ30は、略円筒状のホルダー31に取り
付けられ、全体としてブラシクリーニング具18Bを構
成している。
Further, the apparatus is provided with an inner surface 4 of the anode tube 4a.
In order to polish f, a brush cleaning tool 18B to which a brush 30 having a substantially cylindrical shape as shown in the front view of FIG. This brush 30 is shown in FIG.
As shown in the plan view of FIG.
Have a plurality of flexible branches 30b spirally around the axis 30a. Here, the spherical abrasive grains 30c are, for example, silicon carbide, the branches 30b are, for example, nylon resin, the shaft 3
Oa is preferably made of, for example, stainless steel. FIG.
In (a), the outer diameter of the brush 30 (the spherical abrasive grains 30 c
Is set to be slightly larger than the inner diameter of the anode tube 4a (FIG. 3). The brush 30 is attached to a substantially cylindrical holder 31, and constitutes a brush cleaning tool 18B as a whole.

【0020】具体的には、まず、ホルダー31の上部の
孔31bに、ブラシ本体30dの下部が収納され、ブラ
シ本体30dの下方で球状の砥粒30cを有しない軸3
0aの部分である取り付け部30eが、ホルダー31の
下部の孔31cに通されている。ホルダー31の下部の
左側は上部と分断され、スリット31dを挟んで紙面垂
直方向に1対のフランジ31e,31f(片側31eの
み図示)が形成されており、一方31fに形成されたね
じ孔に、他方31eに形成した貫通孔を通した挟着用の
ボルト31gをねじ込むことにより、孔31cに通され
たブラシの取り付け部30eを締めつけ、ブラシ30を
ホルダー31に着脱自在に取り付けられる。
Specifically, first, the lower part of the brush body 30d is housed in the hole 31b on the upper part of the holder 31, and the shaft 3 having no spherical abrasive grains 30c below the brush body 30d.
A mounting portion 30e, which is a portion of 0a, is passed through a hole 31c at the lower portion of the holder 31. The lower left side of the holder 31 is separated from the upper side, and a pair of flanges 31e and 31f (only one side 31e is shown) are formed in a direction perpendicular to the paper across the slit 31d. By screwing a bolt 31g for pinching through the through hole formed in the other side 31e, the brush attaching portion 30e passed through the hole 31c is tightened, and the brush 30 is detachably attached to the holder 31.

【0021】また、この装置は、図3の陽極管4aの内
面4fおよび先端面4bを切削するための、図2に示す
ような段付きリーマ32を取り付けたリーマクリーニン
グ具18Aも備えている。ブラシクリーニング具18
B、リーマクリーニング具18Aは、使用されないとき
には、前記第2ストッカー17に保持されている。第2
ストッカー17は、図2に1点鎖線で示す高さに、図4
(a)に示すようにブラシクリーニング具18Bを着脱
自在に取り付けるための前記スプリングプランジャ10
を、ブラシクリーニング具18Bの軸30aについての
周方向に3つ有している。一方、ブラシクリーニング具
18Bのホルダー31は、上部の外周に、その球10a
に係合するV字型の係合溝31aを有している。
The apparatus also includes a reamer cleaning tool 18A having a stepped reamer 32 as shown in FIG. 2 for cutting the inner surface 4f and the tip surface 4b of the anode tube 4a in FIG. Brush cleaning tool 18
B, The reamer cleaning tool 18A is held by the second stocker 17 when not in use. Second
The stocker 17 is set at the height indicated by the one-dot chain line in FIG.
The spring plunger 10 for detachably attaching the brush cleaning tool 18B as shown in FIG.
Are provided in the circumferential direction about the shaft 30a of the brush cleaning tool 18B. On the other hand, the holder 31 of the brush cleaning tool 18B has its sphere 10a
And has a V-shaped engagement groove 31a that engages with the groove.

【0022】同様に、第2ストッカー17は、図2に1
点鎖線で示す高さに、リーマクリーニング具18Aを着
脱自在に取り付けるための前記スプリングプランジャ1
0(図4(a))を、リーマクリーニング具18Aの軸
についての周方向に3つ有し、一方、リーマクリーニン
グ具18Aのホルダー33もV字型の係合溝33aを有
している。
Similarly, the second stocker 17 is shown in FIG.
The spring plunger 1 for detachably mounting the reamer cleaning tool 18A at a height indicated by a chain line.
0 (FIG. 4 (a)) in the circumferential direction about the axis of the reamer cleaning tool 18A, while the holder 33 of the reamer cleaning tool 18A also has a V-shaped engagement groove 33a.

【0023】さて、前記第2ロボットハンド15は、分
析前に、前記段付きリーマ32およびブラシ30を用い
て、陽極管の内面4fおよび先端面4b(図3)を切削
または研磨するためのものでもある。したがって、第2
ロボットハンド15のハンド部15eは、リーマクリー
ニング具18A、ブラシクリーニング具18Bのホルダ
ー31,33をも把持しやすい形状に形成されている。
The second robot hand 15 uses the stepped reamer 32 and the brush 30 to cut or polish the inner surface 4f and the tip surface 4b (FIG. 3) of the anode tube before the analysis. But also. Therefore, the second
The hand portion 15e of the robot hand 15 is formed in a shape that can easily hold the holders 31 and 33 of the reamer cleaning tool 18A and the brush cleaning tool 18B.

【0024】次に、この装置の動作について説明する。
まず、第1ロボットハンド14による試料6の移送、試
料の分析面6aの支持部5への当接等について、説明す
る。図1の第1ロボットハンド14に対向して開放した
側以外の側部内側において、試料6が載置される棚板2
0aを上下方向(紙面垂直方向)に多数有する略箱状の
カセット20に、分析面6aを上にした多数の試料6が
収納されている。今、例えば最も上の試料6についてオ
リフラ6bの方向(試料の中心6cからオリフラ6bに
直交するように向かう方向)に数カ所分析したい所望の
部位があり、試料の中心6cを中心とする部位から分析
するものとする。その旨が、図示しない入力手段から装
置に入力されると、第1ロボットハンド14が、分析す
べき最も上の試料6を、収納位置であるカセット20か
ら、ハンド部14hに載置して移動させ、オリフラ合わ
せ機19の回転テーブル19bに載置する。
Next, the operation of this device will be described.
First, the transfer of the sample 6 by the first robot hand 14, the contact of the sample with the support 5 of the analysis surface 6a, and the like will be described. The shelf 2 on which the sample 6 is placed is placed inside the side portion other than the side opened to face the first robot hand 14 in FIG.
A large number of samples 6 with the analysis surface 6a facing upward are stored in a substantially box-shaped cassette 20 having a large number of Oa in the vertical direction (perpendicular to the paper surface). Now, for example, for the uppermost sample 6, there are several desired portions to be analyzed in the direction of the orientation flat 6b (direction from the center 6c of the sample so as to be orthogonal to the orientation flat 6b). It shall be. When the effect is input to the apparatus from an input unit (not shown), the first robot hand 14 moves the uppermost sample 6 to be analyzed from the cassette 20, which is the storage position, to the hand unit 14h. Then, it is placed on the rotary table 19b of the orientation flat aligner 19.

【0025】このときには、第1ロボットハンドの第1
軸14bの回転中心Nと初期状態の回転テーブルの回転
中心19cとを結ぶ所定の受渡し方向Lに、試料の所望
の方向6dすなわちこの場合は試料のオリフラ6bの方
向は一致していない。また、所定の受渡し方向Lにおい
て第1ロボットハンドの第1軸の回転中心Nから所定の
距離にある所定の受渡し位置Pすなわち初期状態の回転
テーブルの回転中心19cに、試料の中心6cが正確に
一致しているとも限らない。
At this time, the first robot hand
The desired direction 6d of the sample, that is, the direction of the orientation flat 6b of the sample in this case, does not match the predetermined delivery direction L connecting the rotation center N of the shaft 14b and the rotation center 19c of the rotary table in the initial state. The center 6c of the sample is accurately positioned at a predetermined delivery position P at a predetermined distance from the rotation center N of the first axis of the first robot hand in the predetermined delivery direction L, that is, at the rotation center 19c of the rotary table in the initial state. They do not always match.

【0026】そこで、オリフラ合わせ機19は、回転テ
ーブル19bを1回転させ、試料6の周辺部に対向して
設けられた光学センサ19dに入射する光の強度変化か
ら、載置された試料の切欠き部6bと中心6cの位置
(所定の受渡し位置Pに対しての位置)を算出する。そ
して、それらの算出した位置に基づいて、オリフラ合わ
せ機19は、試料の中心6cを所定の受渡し位置Pに設
定し、かつ、試料の所望の方向6dを所定の受渡し方向
Lに設定する。
Therefore, the orientation flat aligner 19 rotates the rotary table 19b one rotation, and cuts the mounted sample based on the change in the intensity of light incident on the optical sensor 19d provided to face the periphery of the sample 6. The position of the notch 6b and the center 6c (the position with respect to the predetermined delivery position P) is calculated. Then, based on those calculated positions, the orientation flat aligner 19 sets the center 6c of the sample at the predetermined delivery position P, and sets the desired direction 6d of the sample as the predetermined delivery direction L.

【0027】ここで、算出した試料の中心6cの位置と
所定の受渡し位置Pにずれがない場合、すなわち、第1
ロボットハンド14が、初期状態の回転テーブルの回転
中心19cに試料の中心6cが正確に一致するように試
料6を載置した場合には、オリフラ合わせ機19は、回
転テーブル19bを回転させて、試料の所望の方向6d
を所定の受渡し方向Lに設定するのみで足りる。図1の
オリフラ合わせ機19は、この場合であって、所望の方
向6dが試料のオリフラ6bの方向であるときの状態を
示している。なお、所望の方向6dの先端(試料6の周
辺側)が、所定の受渡し方向Lにおいて第1ロボットハ
ンド14と反対側(図3では左側)を向くように設定し
ている。
Here, when there is no deviation between the calculated position of the center 6c of the sample and the predetermined delivery position P,
When the robot hand 14 places the sample 6 such that the center 6c of the sample accurately matches the center of rotation 19c of the rotary table in the initial state, the orientation flat aligner 19 rotates the rotary table 19b, Desired direction of sample 6d
Need only be set in the predetermined delivery direction L. The orientation flat aligner 19 of FIG. 1 is in this case, and shows a state when the desired direction 6d is the direction of the orientation flat 6b of the sample. The tip of the desired direction 6d (the peripheral side of the sample 6) is set so as to face the opposite side (the left side in FIG. 3) of the first robot hand 14 in the predetermined transfer direction L.

【0028】一方、算出した試料の中心6cの位置と所
定の受渡し位置Pにずれがある場合、すなわち、第1ロ
ボットハンド14が、初期状態の回転テーブルの回転中
心19cからずれた位置に試料の中心6cがくるように
試料6を載置した場合には、オリフラ合わせ機19は、
回転テーブル19bの回転とXYテーブル19aの平行
移動とにより、試料の中心6cを所定の受渡し位置Pに
設定し、かつ、試料の所望の方向6dを所定の受渡し方
向Lに設定する。この場合、オリフラ機19の回転テー
ブル19bの回転量とXYテーブル19aの平行移動量
は一義的に決まり、回転と平行移動のいずれを先に行っ
てもよく、同時に行ってもよい。
On the other hand, when there is a deviation between the calculated position of the center 6c of the sample and the predetermined delivery position P, that is, the first robot hand 14 moves the sample to a position shifted from the rotation center 19c of the rotary table in the initial state. When the sample 6 is placed so that the center 6c comes, the orientation flat aligner 19
The rotation of the rotary table 19b and the parallel movement of the XY table 19a set the center 6c of the sample at a predetermined transfer position P and set the desired direction 6d of the sample to a predetermined transfer direction L. In this case, the rotation amount of the rotary table 19b of the orientation flat machine 19 and the parallel movement amount of the XY table 19a are uniquely determined, and either the rotation or the parallel movement may be performed first or may be performed simultaneously.

【0029】次に、第1ロボットハンド14が、前述し
たように所定の受渡し位置Pおよび受渡し方向Lに設定
された試料6を、オリフラ合わせ機の回転テーブル19
bからハンド部14hに載置し、試料の分析面6aの所
望の部位(例えばここでは試料の中心6c)が陽極管4
aに対向する分析位置Oに位置するように、所望の方向
6d(例えばここでは試料のオリフラ6bの方向)を分
析位置Oに向けて維持したまま、すなわち、第1ロボッ
トハンドの第1軸14bの回転中心Nと分析位置Oとを
結ぶ所定の分析搬入方向Mに一致させながら、試料6を
直進移動させる。そして、第1ロボットハンド14は、
試料の分析面6aの所望の部位6cが分析位置Oに位置
する状態で、試料の分析面6aをグロー放電管21の支
持部5に下方から水平に当接させる(図1の右上に示す
状態)。
Next, the first robot hand 14 applies the sample 6 set at the predetermined delivery position P and delivery direction L as described above to the rotary table 19 of the orientation flat aligner.
b to the hand unit 14h, and a desired portion (for example, the center 6c of the sample in this case) on the analysis surface 6a of the sample is
a while maintaining the desired direction 6d (eg, the direction of the sample orientation flat 6b) toward the analysis position O, that is, the first axis 14b of the first robot hand. The sample 6 is moved in a straight line while matching a predetermined analysis carrying direction M connecting the rotation center N and the analysis position O. And the first robot hand 14
With the desired portion 6c of the analysis surface 6a of the sample positioned at the analysis position O, the analysis surface 6a of the sample is brought into horizontal contact with the support portion 5 of the glow discharge tube 21 from below (the state shown at the upper right of FIG. 1). ).

【0030】なお、所望の方向6dを分析位置Oに向け
て維持したままというのは、試料6をオリフラ合わせ機
19から受け取った直後から維持しつづけるという意味
ではなく、受け取る際には試料6を回転させてもよく、
受け取った後、所望の方向6dを分析位置Oに向けて、
試料の分析面6aを支持部5に当接させるために移動さ
せる際に維持したままという意味である。また、本発明
では、必ずしも、受け取った後、試料の所望の方向をい
ったん分析位置に向けて、その状態を維持し続けながら
試料を直進移動させる必要はない。すなわち、移動の結
果の試料の所望の方向と、移動中の試料の所望の方向と
が平行であれば足りる。本発明において、試料の分析面
の所望の部位が分析位置に位置するように、所定の受渡
し位置および受渡し方向に設定した試料をオリフラ合わ
せ機から受け取って、所望の方向を分析位置に向けて少
なくとも平行に維持したまま試料を移動させるというの
は、そのような意味である。
It should be noted that maintaining the desired direction 6d toward the analysis position O does not mean that the sample 6 is continuously maintained immediately after receiving the sample 6 from the orientation flat aligner 19; May be rotated,
After receiving, the desired direction 6d is directed to the analysis position O,
This means that the analysis surface 6a of the sample is maintained when it is moved to make it contact the support portion 5. Further, in the present invention, it is not always necessary to direct the desired direction of the sample to the analysis position after receiving it, and to move the sample straight while maintaining the state. That is, it suffices that the desired direction of the sample as a result of the movement is parallel to the desired direction of the moving sample. In the present invention, a sample set at a predetermined delivery position and delivery direction is received from the orientation flat aligner so that a desired portion of the analysis surface of the sample is located at the analysis position, and at least the desired direction is directed toward the analysis position. Moving the sample while keeping it parallel means that.

【0031】さて、図示しない減圧手段により図3の内
方空間Vが真空引きされ、アルゴンの希ガス雰囲気(5
00〜1300Pa)にされると、試料の分析面6a
が、背面6eにかかる大気圧により、シール部材11を
介して支持部5に押し付けられ、密着する。なお、本実
施形態では、試料の分析面6aが水平になるような状態
で支持部5に当接させたが、本発明は、これに限定され
ず、例えば、試料の分析面が鉛直になるような状態で支
持部に当接させてもよい。
The inner space V in FIG. 3 is evacuated by a pressure reducing means (not shown), and an argon rare gas atmosphere (5
00-1300 Pa), the analysis surface 6a of the sample
Is pressed against the support portion 5 via the seal member 11 by the atmospheric pressure applied to the back surface 6e, and is brought into close contact therewith. In the present embodiment, the sample is brought into contact with the support 5 in a state where the analysis surface 6a is horizontal. However, the present invention is not limited to this. For example, the analysis surface of the sample is vertical. You may make it abut on a support part in such a state.

【0032】次に、図2の第2ロボットハンド15は、
陰極ブロック7を、第2ストッカー17から支持部5に
当接された試料6の下方まで移動させ、試料6に当接さ
せて試料6を保持する。この際、第1ロボットハンドの
ハンド部14hは、図1に示すように、陰極ブロック7
(図2)に干渉しないような形状に形成されている。こ
のように、本実施形態の装置によれば、支持部5が絶縁
部である場合に、第2ロボットハンド15により、支持
部5に当接された試料6への陰極ブロック7の導通接
触、試料6の保持についても自動化できる。
Next, the second robot hand 15 of FIG.
The cathode block 7 is moved from the second stocker 17 to below the sample 6 in contact with the support portion 5, and is held in contact with the sample 6. At this time, the hand portion 14h of the first robot hand is, as shown in FIG.
(FIG. 2). As described above, according to the apparatus of the present embodiment, when the support section 5 is an insulating section, the second robot hand 15 allows the conductive contact of the cathode block 7 to the sample 6 contacted with the support section 5, The holding of the sample 6 can also be automated.

【0033】この後、第1ロボットハンド14は、次の
高電圧の引加を避けるべく、例えば図1に示すような初
期状態の姿勢に戻って待機する。なお、ハンド部14h
がセラミック等からなり絶縁が十分である場合には、第
1ロボットハンド14は、試料の分析面6aを支持部5
に下方から当接させたままの姿勢でよい。この場合に
は、第1ロボットハンド14のみで、試料の分析面6a
の支持部5への当接、保持が可能となる。なお、陰極ブ
ロック7は、中段部が絶縁体で上下が導体(金属)で形
成された3段構造になっており、図3に示すように給電
手段12はその上段部に導通するのに対し、図2に示す
ように第2ロボットハンド15は中段部から下を把持す
るので、第2ロボットハンド15には、高電圧がかかる
おそれはない。
Thereafter, the first robot hand 14 returns to the initial state as shown in FIG. 1 and stands by, for example, to avoid the application of the next high voltage. The hand unit 14h
Is made of ceramic or the like and the insulation is sufficient, the first robot hand 14 moves the analysis surface 6a of the sample to the support 5
May be kept in contact with the lower part from below. In this case, the analysis surface 6a of the sample is
Can be held in contact with and held by the support portion 5. The cathode block 7 has a three-stage structure in which the middle part is made of an insulator and the upper and lower parts are made of a conductor (metal). As shown in FIG. As shown in FIG. 2, the second robot hand 15 grips the lower part from the middle step, so there is no possibility that a high voltage is applied to the second robot hand 15.

【0034】このように、本実施形態の装置によれば、
図1の試料の中心6cがオリフラ合わせ機の回転中心1
9cからずれて載置されても、オリフラ合わせ機19が
そのずれを補正しつつ試料の所望の方向6dを第1ロボ
ットハンド14への所定の受渡し方向Lに設定し、第1
ロボットハンド14で、その試料6を受け取り分析位置
Oへ移送しつつ、所望の部位例えば試料の中心6cが分
析位置Oに位置するように所望の方向6dを分析位置O
に向けて少なくとも平行に維持したまま試料6を移動さ
せて、試料の分析面6aをグロー放電管21の支持部5
に当接させ、第2ロボットハンド15(図2)でその状
態を保持することができる。すなわち、試料の中心6c
がオリフラ合わせ機の回転中心19cからずれて載置さ
れても、正確に試料6の所望の部位の分析を自動化でき
る。
As described above, according to the apparatus of the present embodiment,
The center 6c of the sample in FIG. 1 is the rotation center 1 of the orientation flat aligner.
9c, the orientation flat aligner 19 sets the desired direction 6d of the sample to the predetermined transfer direction L to the first robot hand 14 while correcting the shift, and
The robot hand 14 receives the sample 6 and transfers the sample 6 to the analysis position O, and moves the desired direction 6 d so that the center 6 c of the sample is located at the analysis position O.
The sample 6 is moved while being kept at least parallel to the sample, so that the analysis surface 6a of the sample is
, And the state can be maintained by the second robot hand 15 (FIG. 2). That is, the center 6c of the sample
Can be accurately automated even if it is placed off the center of rotation 19c of the orientation flat aligner.

【0035】また、第1ロボットハンド14は、オリフ
ラ合わせ機19で設定された所望の方向6dを分析位置
Oに向けて少なくとも平行に維持したまま試料6を移動
させればよく、試料6の方向を調整する必要がないの
で、第1ロボットハンド14の制御が容易である。しか
も、オリフラ合わせ機19は、既存のものを用いること
ができるので、装置を容易に構成できる。
The first robot hand 14 may move the sample 6 while maintaining the desired direction 6d set by the orientation flat aligner 19 at least parallel to the analysis position O, and the direction of the sample 6 Therefore, the control of the first robot hand 14 is easy. Moreover, since the orientation flat aligner 19 can use an existing one, the apparatus can be easily configured.

【0036】なお、本実施形態では、第1ロボットハン
ド14で、試料の分析面6aの所望の部位6cが分析位
置Oに位置する状態で、試料の分析面6aを支持部5に
当接させた後、図2の第2ロボットハンド15で陰極ブ
ロック7を下方から押しつけて、試料6を保持したが、
本発明ではこのような手順に限られず、例えば、図1の
第1ロボットハンド14で、試料の分析面6aの所望の
部位6cが分析位置Oの直下に位置する状態で、試料6
aを、分析位置Oの直下で待機する図2の第2ロボット
ハンド15が把持する陰極ブロック7の上に載置した
後、第2ロボットハンド15を上昇させて、試料の分析
面6aを支持部5に当接させ、試料6を保持することも
できる。
In the present embodiment, the analysis surface 6a of the sample is brought into contact with the support 5 by the first robot hand 14 in a state where the desired portion 6c of the analysis surface 6a of the sample is located at the analysis position O. After that, the cathode block 7 was pressed from below by the second robot hand 15 in FIG.
The present invention is not limited to such a procedure. For example, the first robot hand 14 in FIG. 1 may be used in a state where a desired portion 6c of the analysis surface 6a of the sample is located immediately below the analysis position O.
a is placed on the cathode block 7 held by the second robot hand 15 in FIG. 2 which stands by immediately below the analysis position O, and then the second robot hand 15 is raised to support the analysis surface 6a of the sample. The sample 6 can be held in contact with the portion 5.

【0037】さて、試料の分析面6aは、前述したよう
に第1、第2ロボットハンド14(図1),15により
支持部5に当接保持されるのみならず、図示しない減圧
手段により図3の内方空間Vが真空引きされ、アルゴン
の希ガス雰囲気(500〜1300Pa)にされると、
試料の背面6eにかかる大気圧によっても、シール部材
11を介して支持部5に押し付けられ、密着する。
The analysis surface 6a of the sample is not only held in contact with the support portion 5 by the first and second robot hands 14 (FIG. 1) and 15 as described above, but also by a pressure reducing means (not shown). 3 is evacuated to an argon noble gas atmosphere (500-1300 Pa),
Due to the atmospheric pressure applied to the back surface 6e of the sample, the sample is pressed against the support portion 5 via the seal member 11 and closely adheres.

【0038】そして、陽極管4aと試料6との間に、陽
極ブロック本体2(陽極ブロック1)と陰極ブロック7
を介して、給電手段12により数百〜数千ボルトの高電
圧を印加すると、グロー放電を生じ、アルゴンの陽イオ
ンが生成される。このArイオンにより試料6がスパッ
タリングされ、発生した光Sは、窓13aを透過し、図
5の入射スリット24を通して、分光器13の回析格子
26に向かう。この回析格子26は、所定の波長の光を
回析させ、出射スリット27を通して、光電子増倍管2
8に入射させる。光電子増倍管28は入射した光の強度
を測定する。すなわち、試料6の所望の部位例えば図1
の試料の中心6cの分析がなされる。
Then, between the anode tube 4a and the sample 6, the anode block body 2 (anode block 1) and the cathode block 7
When a high voltage of several hundred to several thousand volts is applied by the power supply means 12 via the power supply, glow discharge is generated, and cations of argon are generated. The sample 6 is sputtered by the Ar ions, and the generated light S passes through the window 13a and travels through the entrance slit 24 of FIG. The diffraction grating 26 diffracts light of a predetermined wavelength, and passes through the exit slit 27 to the photomultiplier tube 2.
8 The photomultiplier tube 28 measures the intensity of the incident light. That is, a desired portion of the sample 6, for example, FIG.
Of the sample center 6c is performed.

【0039】次に、同じ所望の方向6dの別の所望の部
位を分析するため、第1ロボットハンド14は、試料の
分析面6aを支持部5に当接させたときの姿勢に戻り、
減圧手段による図3の内方空間Vの減圧が解かれ、陰極
ブロック7を把持した第2ロボット15(図2)が下降
すると、試料6が図1のハンド部14hにもとどおり載
置される。
Next, in order to analyze another desired portion in the same desired direction 6d, the first robot hand 14 returns to the posture when the analysis surface 6a of the sample is brought into contact with the support 5, and
When the decompression of the inner space V in FIG. 3 by the decompression means is released and the second robot 15 (FIG. 2) holding the cathode block 7 descends, the sample 6 is placed on the hand part 14h of FIG. You.

【0040】なお、続けての分析において後述のユニッ
ト3の交換が必要ない場合には、図2の第2ロボットハ
ンド15は、陰極ブロック7を第2ストッカー17に保
持させる必要はなく、陰極ブロック7を把持したまま、
試料6の支持部5への当接の障害にならないように適切
な位置に退避していればよい。後述のユニット3の交換
が必要な場合や、分析が終了した場合には、第2ロボッ
トハンド15は、陰極ブロック7を、支持部5に当接さ
れた試料6の下方から第2ストッカー17の下方まで移
動させ、第2ストッカー17に保持されるよう上昇させ
る。陰極ブロック7が第2ストッカー17に保持される
と、第2ロボットハンド15は、ハンド部15eを開い
て陰極ブロック7の把持を解き、図2に実線で示す初期
状態に戻る。
When it is not necessary to replace a unit 3 described later in the subsequent analysis, the second robot hand 15 shown in FIG. 2 does not need to hold the cathode block 7 on the second stocker 17, and While holding 7
It is sufficient that the sample 6 is retracted to an appropriate position so as not to hinder the contact of the sample 6 with the support portion 5. When the unit 3 to be described later needs to be replaced or the analysis is completed, the second robot hand 15 moves the cathode block 7 from below the sample 6 abutted on the support 5 to the second stocker 17. It is moved downward and raised so as to be held by the second stocker 17. When the cathode block 7 is held by the second stocker 17, the second robot hand 15 opens the hand portion 15e to release the grip of the cathode block 7, and returns to the initial state shown by the solid line in FIG.

【0041】さて、図1の第1ロボットハンド14は、
次に分析すべき所望の部位が分析位置Oに位置するよう
に、所望の方向6d(例えばここでは試料のオリフラ6
bの方向)を分析位置Oに向けて維持したまま、すなわ
ち、所定の分析搬入方向Mに一致させながら、試料6を
直進移動させ、所望の部位が分析位置Oに位置する状態
で、試料の分析面6aを支持部5に水平に当接させ、第
2ロボットハンド15(図2)は、この状態を保持す
る。以降の分析の手順は、前述したのと同様である。
Now, the first robot hand 14 in FIG.
The desired direction 6d (for example, the sample orientation flat 6 here) is set so that the desired portion to be analyzed next is located at the analysis position O.
The direction of b) is maintained toward the analysis position O, that is, the sample 6 is moved straight while matching the predetermined analysis carry-in direction M, and the sample is moved in a state where a desired portion is located at the analysis position O. The analysis surface 6a is brought into horizontal contact with the support portion 5, and the second robot hand 15 (FIG. 2) maintains this state. The subsequent analysis procedure is the same as described above.

【0042】同じ試料6の別の所望の方向6dの所望の
部位を分析する場合には、前回の分析終了後、ハンド部
14hに載置された試料6を、第1ロボットハンド14
が、分析位置Oから移動させ、オリフラ合わせ機19の
回転テーブル19bに再度載置する。そして、前述した
のと同様に、オリフラ合わせ機19は、試料の中心6c
を所定の受渡し位置Pに設定し、かつ、試料の新たな所
望の方向6dを所定の受渡し方向Lに設定する。以降の
手順は、前述したのと同様である。
To analyze a desired portion of the same sample 6 in another desired direction 6d, the sample 6 placed on the hand section 14h is moved to the first robot hand 14h after the previous analysis.
Is moved from the analysis position O and is mounted again on the rotary table 19b of the orientation flat aligner 19. Then, in the same manner as described above, the orientation flat aligner 19 moves the center 6c of the sample.
Is set to a predetermined delivery position P, and a new desired direction 6d of the sample is set to a predetermined delivery direction L. The subsequent procedure is the same as described above.

【0043】当該試料6において分析を終了した場合に
は、第1ロボットハンド14が、分析位置Oから、試料
6をハンド部14hに載置して移動させ、収納位置であ
るカセット20のもとの棚板20aに載置する。別の試
料6について分析を行う場合は、以上の手順を繰り返
す。このように、本実施形態の装置によれば、第1ロボ
ットハンド14が、試料6を収納位置であるカセット2
0とオリフラ合わせ機19と分析位置Oとの間で移動さ
せるので、複数の試料6の連続した分析について自動化
できる。しかも、オリフラ合わせ機19のみならず第1
ロボットハンド14、第2ロボットハンド15(図2)
も、既存のものを用いることができるので、装置を容易
に構成できる。
When the analysis has been completed for the sample 6, the first robot hand 14 places the sample 6 on the hand section 14h from the analysis position O and moves it to the position below the cassette 20 which is the storage position. On the shelf plate 20a. When performing analysis on another sample 6, the above procedure is repeated. As described above, according to the apparatus of the present embodiment, the first robot hand 14 controls the cassette 2 in which the sample 6 is stored at the storage position.
Since it is moved between 0 and the orientation flat aligner 19 and the analysis position O, continuous analysis of a plurality of samples 6 can be automated. Moreover, not only the orientation flat aligner 19 but also the first
Robot hand 14, second robot hand 15 (FIG. 2)
Also, since an existing device can be used, the device can be easily configured.

【0044】以上、まとめると、本実施形態の装置によ
れば、ロボット装置14,15により、試料6の支持部
5への当接、保持について自動化できる。また、支持部
5が絶縁部である場合に、ロボット装置14,15によ
り、試料6への陰極ブロック7の導通接触について自動
化できる。さらに、半導体ウエハ等の試料6について、
オリフラ合わせ機19とロボット装置14,15によ
り、所望の部位の分析について自動化できる。
In summary, according to the apparatus of the present embodiment, the robot apparatuses 14 and 15 can automate the contact and holding of the sample 6 with the support section 5. When the support unit 5 is an insulating unit, the robot devices 14 and 15 can automate the conductive contact of the cathode block 7 with the sample 6. Further, for a sample 6 such as a semiconductor wafer,
The analysis of a desired part can be automated by the orientation flat aligner 19 and the robot devices 14 and 15.

【0045】次に、この装置の図2のユニット3の交換
動作について説明する。例えば、今すでに陽極ブロック
本体2にユニット3Cが取り付けられているとし、分析
したい試料6の所望の部位の大きさに、ユニット3Cの
陽極管4aの内径が適合する場合には、ユニット3の交
換の必要はないが、それが適合せず、他の例えばユニッ
ト3Aの陽極管4aの内径が適合する場合には、図示し
ない入力手段からその旨を装置に入力する。このとき、
前述したように、第2ロボットハンド15は、陰極ブロ
ック7を第2ストッカー17に保持させ、図2に実線で
示す初期状態に戻っている。
Next, the replacement operation of the unit 3 in FIG. 2 of this apparatus will be described. For example, suppose that the unit 3C is already attached to the anode block body 2, and if the inner diameter of the anode tube 4a of the unit 3C matches the size of a desired portion of the sample 6 to be analyzed, the unit 3 is replaced. However, if it does not fit and the inside diameter of the anode tube 4a of the other unit 3A matches, the fact is input to the apparatus from input means (not shown). At this time,
As described above, the second robot hand 15 causes the second stocker 17 to hold the cathode block 7 and returns to the initial state shown by the solid line in FIG.

【0046】第2ロボットハンド15は、その旨すなわ
ち操作者の指示に応じて作動し、ユニット3Cをハンド
部15eで把持して、下方へ引く。これにより、図3の
スプリングプランジャの球10aが、ユニット3Cの係
合段部3aにより外側へ押しやられ、係合が解かれ、ユ
ニット3Cが陽極ブロック本体2から取り外される。図
2の第2ロボットハンド15は、そのように取り外した
ユニット3Cをハンド部15eで把持しつつ、第1スト
ッカー16の右部下方まで移動させ、上昇させる。する
と、第1ストッカー16のスプリングプランジャの球
(図示せず)が、ユニット3Cの係合段部3a(図3)
の下で内側に突出して係合し、ユニット3Cが第1スト
ッカー16の右部に保持され図2に示す状態となる。
The second robot hand 15 operates to that effect, that is, in response to an instruction from the operator, and holds the unit 3C with the hand unit 15e and pulls it downward. Thereby, the ball 10a of the spring plunger in FIG. 3 is pushed outward by the engagement step 3a of the unit 3C, the engagement is released, and the unit 3C is detached from the anode block main body 2. The second robot hand 15 in FIG. 2 moves the unit 3C thus removed to the lower right part of the first stocker 16 while holding the unit 3C with the hand unit 15e, and raises it. Then, the ball (not shown) of the spring plunger of the first stocker 16 is brought into contact with the engaging step 3a (FIG. 3) of the unit 3C.
2 and the unit 3C is held at the right side of the first stocker 16 to be in the state shown in FIG.

【0047】続けて第2ロボットハンド15は、ハンド
部15eを開いてユニット3Cの把持を解き、ハンド部
15eをわずかに下降させて、第1ストッカー16の左
部下方まで移動させる。そして、上昇させたハンド部1
5eを閉じて、ユニット3Aを把持する。以降、第2ロ
ボットハンド15は、ユニット3Cを陽極ブロック本体
2から取り外して第1ストッカー16に保持させたのと
同様に、ユニット3Aを第1ストッカー16から外して
陽極ブロック本体2に取り付ける。
Subsequently, the second robot hand 15 opens the hand portion 15e to release the grip of the unit 3C, lowers the hand portion 15e slightly, and moves it to the lower left portion of the first stocker 16. Then, the raised hand unit 1
5e is closed, and the unit 3A is gripped. Thereafter, the second robot hand 15 removes the unit 3A from the first stocker 16 and attaches it to the anode block body 2 in the same manner as removing the unit 3C from the anode block body 2 and holding the unit 3C on the first stocker 16.

【0048】このように、本実施形態の装置によれば、
試料6の分析すべき所望の部位の大きさ等に応じて、ユ
ニット3の交換により短時間に対応でき、しかもその交
換をロボット装置14,15により自動化できる。より
詳細には、陽極ブロック1が、単一の陽極ブロック本体
2と、それに選択して取り付けられる複数のユニット3
における陽極ブロックユニット部4とからなり、しか
も、各ユニット3においてあらかじめギャップ調整がな
されているので、試料6の分析すべき所望の部位の大き
さ等に応じて、陽極管4aの交換が容易で、交換にあた
りギャップ調整も不要である。さらに、交換時の脱着を
ボルト等によらず、スプリングプランジャ10およびユ
ニットの係合段部3a(図3)により、しかも、第2ロ
ボットハンド15でその交換を自動化したので、ユニッ
ト3の交換すなわち陽極管4aの交換がいっそう容易で
ある。
As described above, according to the device of the present embodiment,
In accordance with the size of the desired part of the sample 6 to be analyzed, the unit 3 can be replaced in a short time by replacing it, and the replacement can be automated by the robot devices 14 and 15. More specifically, the anode block 1 comprises a single anode block body 2 and a plurality of units 3 selectively attached thereto.
The anode tube 4a can be easily replaced according to the size of a desired portion of the sample 6 to be analyzed, etc., since the gap is adjusted in each unit 3 in advance. In addition, no gap adjustment is required for replacement. Further, since the attachment / detachment at the time of replacement is automated by the spring plunger 10 and the engagement step portion 3a (FIG. 3) of the unit without using a bolt or the like, and furthermore, the replacement is automated by the second robot hand 15. The replacement of the anode tube 4a is easier.

【0049】なお、この交換は、試料6の分析すべき所
望の部位の大きさに合わせて陽極管4aの内径を変更し
たい場合のみならず、陽極管4aが消耗して交換を要す
る場合等にも行われる。さらに、同じ部位について、最
初は大径の陽極管4aで極表層をゆっくりとスパッタリ
ングして精密に分析し、その後小径の陽極管4aに交換
してスパッタリングの速度を上げ、短時間に深層部まで
分析するような場合にも行われる。
This replacement is not only required when the inner diameter of the anode tube 4a is to be changed according to the size of a desired portion of the sample 6 to be analyzed, but also when the anode tube 4a is worn out and needs to be replaced. Is also performed. Furthermore, for the same part, first, the superficial layer is slowly sputtered with the large-diameter anode tube 4a and analyzed precisely, and then replaced with the small-diameter anode tube 4a to increase the sputtering speed, and to the deep portion in a short time. It is also performed when analyzing.

【0050】次に、この装置の陽極管4aのクリーニン
グ動作について説明する。今、前回の分析が終了して、
グロー放電管21の支持部5から試料6を取り外したと
ころであるとする。次の分析前に、陽極管4aのクリー
ニングを行うべき旨を図示しない入力手段からこの装置
に入力すると、第2ロボットハンド15は、ハンド部1
5eを、図2に示した初期状態から第2ストッカー17
に保持されたリーマクリーニング具18Aの下方まで移
動させ上昇させて、リーマクリーニング具18Aをハン
ド部15eで把持して(図2右上に2点鎖線で示す状
態)、下方へ引く。これにより、スプリングプランジャ
の球10a(図4(a))が、ホルダー33の係合溝3
3aよりも上の外周面により外側へ押しやられ、係合が
解かれ、リーマクリーニング具18Aが第2ストッカー
17から取り外される。
Next, the cleaning operation of the anode tube 4a of this apparatus will be described. Now, after the last analysis,
It is assumed that the sample 6 has just been removed from the support 5 of the glow discharge tube 21. Before the next analysis, when input to the apparatus that cleaning of the anode tube 4a should be performed is input from an input unit (not shown), the second robot hand 15
5e from the initial state shown in FIG.
The reamer cleaning tool 18A is moved to a position below the reamer cleaning tool 18A held therein, and is lifted. As a result, the ball 10a of the spring plunger (FIG. 4A) is
The outer peripheral surface above 3a is pushed outward, the engagement is released, and the reamer cleaning tool 18A is removed from the second stocker 17.

【0051】第2ロボットハンド15は、そのように取
り外したリーマクリーニング具18Aをハンド部15e
で把持しつつ、陽極管4aの下方まで移動させ、回転さ
せながら上昇させて、段付きリーマ32の上部を陽極管
4aの内部に挿入し、段部を図3の陽極管の先端面4b
に接触させ、陽極管の内面4fと先端面4bを切削す
る。ここで、図2の第2ロボットハンドのハンド部15
eと、グロー放電管21の下部たる支持部5とは、互い
に干渉しない形状に形成されている。リーマクリーニン
グ具18Aを所定時間回転させたら、第2ロボットハン
ド15は、ハンド部15eを下降させて段付きリーマ3
2を陽極管4aから抜き出し、これに連動して、陽極ブ
ロック本体2が有する図示しないアルゴンガス供給孔か
らアルゴンガスがフラッシングされる。
The second robot hand 15 removes the reamer cleaning tool 18A thus removed from the hand section 15e.
3. While holding the anode tube 4a, move it to below the anode tube 4a, raise it while rotating, insert the upper part of the stepped reamer 32 into the inside of the anode tube 4a, and insert the step into the tip surface 4b of the anode tube in FIG.
To cut the inner surface 4f and the tip surface 4b of the anode tube. Here, the hand unit 15 of the second robot hand in FIG.
e and the supporting portion 5 serving as the lower part of the glow discharge tube 21 are formed in shapes that do not interfere with each other. When the reamer cleaning tool 18A has been rotated for a predetermined time, the second robot hand 15 lowers the hand portion 15e to release the stepped reamer 3A.
2 is extracted from the anode tube 4a, and in conjunction with this, argon gas is flushed from an argon gas supply hole (not shown) of the anode block body 2.

【0052】この段付きリーマ32による切削とアルゴ
ンガスのフラッシングを所定回数繰り返すと、第2ロボ
ットハンド15は、ハンド部15eの回転を止めて、リ
ーマクリーニング具18Aを把持しつつ、第2ストッカ
ー17におけるもとの所定の位置の下方まで移動させ、
上昇させる。すると、第2ストッカー17の該当部のス
プリングプランジャの球(図示せず)が、リーマクリー
ニング具18Aのホルダーの係合溝33aで内側に突出
して係合し、リーマクリーニング具18Aが第2ストッ
カー17の所定位置にもとどおり保持され図2に示す状
態となる。第2ロボットハンド15は、ハンド部15e
を開いてリーマクリーニング具18Aの把持を解き、ハ
ンド部15eを下降させる。これで、第1段階のクリー
ニング作業が終了する。なお、次に述べる第2段階のク
リーニング作業のみで図3の陽極管の内面4fの汚れが
十分に除去できる場合には、第1段階のクリーニング作
業は、陽極管の先端面4bについてのみ行えばよい。
When the cutting by the stepped reamer 32 and the flushing of the argon gas are repeated a predetermined number of times, the second robot hand 15 stops the rotation of the hand portion 15e, and holds the second stocker 17A while holding the reamer cleaning tool 18A. Move to below the original predetermined position in,
To raise. Then, the ball (not shown) of the spring plunger at the corresponding portion of the second stocker 17 projects and engages inward with the engaging groove 33a of the holder of the reamer cleaning tool 18A, and the reamer cleaning tool 18A is engaged with the second stocker 17A. At the predetermined position, and the state shown in FIG. 2 is obtained. The second robot hand 15 is a hand unit 15e
Is opened to release the grip of the reamer cleaning tool 18A, and the hand section 15e is lowered. Thus, the first-stage cleaning operation is completed. In addition, if the dirt on the inner surface 4f of the anode tube in FIG. 3 can be sufficiently removed only by the second-stage cleaning operation described below, the first-stage cleaning operation may be performed only on the tip surface 4b of the anode tube. Good.

【0053】さて、従来の技術では、陽極管の内面4f
については、図2の段付きリーマ32では汚れが十分に
除去できないこともある。そこで、以下の第2段階のク
リーニング作業を行う。まず、第2ロボットハンド15
は、ハンド部15eを第2ストッカー17の右部下方ま
で移動させる。そして、上昇させたハンド部15eを閉
じて、ブラシクリーニング具18Bを把持する。
Now, in the conventional technique, the inner surface 4f of the anode tube
In some cases, dirt cannot be sufficiently removed by the stepped reamer 32 in FIG. Therefore, the following second stage cleaning operation is performed. First, the second robot hand 15
Moves the hand unit 15e to the lower right part of the second stocker 17. Then, the raised hand portion 15e is closed, and the brush cleaning tool 18B is gripped.

【0054】以降、第2ロボットハンド15は、第1段
階のクリーニング作業と同様に、ブラシクリーニング具
18Bを第2ストッカー17から取り外し、陽極管4a
の下方まで移動させ、回転させながら上昇させて、ブラ
シ30の上部を陽極管4aの内部に挿入し、陽極管の内
面4f(図3)を研磨する。そして、所定時間のブラシ
30による研磨とアルゴンガスのフラッシングを所定回
数繰り返した後、ブラシクリーニング具18Bを第2ス
トッカー17の右部にもとどおり保持させる。第2ロボ
ットハンド15は、ハンド部15eを開いてブラシクリ
ーニング具18Bの把持を解き、図2に示す初期状態に
戻る。これで、第2段階のクリーニング作業が終了す
る。なお、第1および第2段階のクリーニング作業は、
分析前に定期的にまたは毎回行ってもよいが、前回と異
なる種類の試料を分析する前や最表層を精密に分析する
前等に、随時行ってもよい。
Thereafter, the second robot hand 15 removes the brush cleaning tool 18B from the second stocker 17 in the same manner as in the first stage cleaning operation, and
The brush 30 is lifted while rotating, and the upper part of the brush 30 is inserted into the anode tube 4a, and the inner surface 4f (FIG. 3) of the anode tube is polished. After the polishing by the brush 30 for a predetermined time and the flushing of the argon gas are repeated a predetermined number of times, the brush cleaning tool 18B is held on the right part of the second stocker 17 as before. The second robot hand 15 opens the hand unit 15e to release the grip of the brush cleaning tool 18B, and returns to the initial state shown in FIG. This completes the second-stage cleaning operation. In addition, the cleaning work of the first and second stages includes:
It may be performed periodically or every time before the analysis, but may be performed as needed before analyzing a sample of a different type from the last time or before precisely analyzing the outermost layer.

【0055】このように、本実施形態の装置によれば、
分析前に定期的に必要となる陽極管4aの内面4fおよ
び先端面4bのクリーニングについて、ロボット装置に
より自動化できる。より詳細には、クリーニングに用い
る図4(a)に示すブラシ30の砥面(ブラシ本体30
dの円柱側面たる表面)が柔軟でしかも砥粒30cが球
状であるので、図3の陽極管の内面4fを損傷させるこ
となく適切に研磨でき、したがって、陽極管の内面4f
の汚れが十分に除去できる。しかも、クリーニング作業
全体を図2の第2ロボットハンド15により、簡単に行
える。また、本発明においては、陽極管の内径に応じた
段付きリーマやブラシを複数用意して、選択して用いる
こともでき、分析装置の第2ロボットハンド15が、分
析に用いる陽極管の内径に応じた段付きリーマやブラシ
を選択する。このようにすれば、分析に用いる陽極管の
内径が変更される場合にも対応できる。
As described above, according to the device of the present embodiment,
Cleaning of the inner surface 4f and the distal end surface 4b of the anode tube 4a, which is required regularly before analysis, can be automated by a robot device. More specifically, the abrasive surface (the brush body 30) of the brush 30 shown in FIG.
d) is soft and the abrasive grains 30c are spherical, so that it can be appropriately polished without damaging the inner surface 4f of the anode tube of FIG. 3 and, therefore, the inner surface 4f of the anode tube.
Can be sufficiently removed. Moreover, the entire cleaning operation can be easily performed by the second robot hand 15 in FIG. Further, in the present invention, a plurality of stepped reamers or brushes corresponding to the inner diameter of the anode tube can be prepared and selected for use. Select a stepped reamer or brush according to your requirements. This makes it possible to cope with a case where the inner diameter of the anode tube used for analysis is changed.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明のグ
ロー放電発光分光分析装置によれば、試料の支持部への
当接等について自動化できる。
As described above in detail, according to the glow discharge optical emission spectrometer of the present invention, the contact of the sample with the support can be automated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態のグロー放電発光分光分析
装置が備えるロボット装置等を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a robot device and the like included in a glow discharge optical emission spectrometer according to an embodiment of the present invention.

【図2】同上の分析装置が備えるロボット装置の別の部
分等を示す正面図である。
FIG. 2 is a front view showing another part of the robot device provided in the analyzer according to the first embodiment;

【図3】同上の分析装置が備えるグロー放電管を示す部
分縦断面図である。
FIG. 3 is a partial longitudinal sectional view showing a glow discharge tube provided in the analyzer according to the first embodiment.

【図4】(a)は、同上の分析装置が備えるクリーニン
グ具を示す正面図であり、(b)は、そのクリーニング
具を示す平面図である。
FIG. 4A is a front view showing a cleaning tool provided in the analyzer, and FIG. 4B is a plan view showing the cleaning tool.

【図5】同上の分析装置が備える分光器を示す正面図で
ある。
FIG. 5 is a front view showing a spectroscope included in the analyzer of the above.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…陽極ブロック、2…陽極ブロック本体、3…ユニッ
ト、3a…被係合手段(係合段部)、4…陽極ブロック
ユニット部、4a…陽極管、4b…陽極管の先端面、4
f…陽極管の内面、5…支持部、6…試料、6a…試料
の分析面、6b…試料の切欠き部、7…陰極ブロック、
10…係合手段(スプリングプランジャ)、12…給電
手段、14,15…ロボット装置(第1、第2ロボット
ハンド)、18…クリーニング具、19…オリフラ合わ
せ機、21…グロー放電管、L…所定の方向、O…分析
位置、V…内方空間。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Anode block, 2 ... Anode block main body, 3 ... Unit, 3a ... Engagement means (engaging step part), 4 ... Anode block unit part, 4a ... Anode tube, 4b ... Tip surface of anode tube, 4
f: inner surface of the anode tube, 5: support portion, 6: sample, 6a: sample analysis surface, 6b: cutout portion of the sample, 7: cathode block,
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... engagement means (spring plunger), 12 ... power supply means, 14, 15 ... robot device (first and second robot hands), 18 ... cleaning tool, 19 ... orientation flatter, 21 ... glow discharge tube, L ... Predetermined direction, O: analysis position, V: inner space.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−193953(JP,A) 特開 昭62−5156(JP,A) 特開 平5−113402(JP,A) 特開 平4−154146(JP,A) 特開 平9−229864(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/62 - 21/74 JICSTファイル(JOIS)──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-8-193953 (JP, A) JP-A-65-2156 (JP, A) JP-A-5-113402 (JP, A) JP-A-4-1992 154146 (JP, A) JP-A-9-229864 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 21/62-21/74 JICST file (JOIS)

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 試料に対し電圧が引加される陽極管と試
料が当接される支持部とを有するグロー放電管と、 前記陽極管が収納される内方空間を真空引きする減圧手
段と、 前記陽極管と試料との間に電圧を印加してグロー放電を
発生させる給電手段と、 試料の分析面を前記支持部に当接させた状態で試料を保
持するロボット装置とを備えたグロー放電発光分光分析
装置であって、 前記支持部が絶縁部であり、 前記グロー放電管が、陽極管を有する陽極ブロックと、
前記支持部と、その支持部と分離した陰極ブロックとか
らなり、 前記陽極ブロックが、陽極ブロック本体と陽極ブロック
ユニット部とからなり、 その陽極ブロックユニット部と前記支持部がユニットと
して一体に形成され、そのユニットにおいて、前記陽極
管先端面と試料の分析面が当接される面との間隙があら
かじめ調整されており、 単一の前記陽極ブロック本体に、複数の前記ユニットの
一つが選択して取り付けられ、 前記陽極ブロック本体が、前記ユニットを着脱自在に取
り付けるための係合手段を有し、 前記ユニットが、前記係合手段に係合する被係合手段を
有しており、 前記ロボット装置が、試料に前記陰極ブロックを導通接
触させるものであり、操作者の指示に応じて作動し、前
記ユニットを前記陽極ブロック本体に選択的に取り付け
るグロー放電発光分光分析装置。
1. A glow discharge tube having an anode tube to which a voltage is applied to a sample and a support portion to which the sample comes in contact, and a pressure reducing means for evacuating an inner space in which the anode tube is housed. A glow comprising power supply means for generating a glow discharge by applying a voltage between the anode tube and the sample; and a robot device for holding the sample with an analysis surface of the sample in contact with the support. A discharge emission spectrometer, wherein the support portion is an insulating portion, and the glow discharge tube has an anode block having an anode tube;
The support part includes a cathode block separated from the support part.The anode block includes an anode block body and an anode block unit part. The anode block unit part and the support part are integrally formed as a unit. In the unit, the gap between the anode tube tip surface and the surface on which the analysis surface of the sample abuts is adjusted in advance, and one of the plurality of units is selected for the single anode block body. Being mounted, the anode block main body has engaging means for detachably mounting the unit, and the unit has engaged means for engaging with the engaging means; Is for bringing the cathode block into conductive contact with the sample, which operates according to the instruction of the operator, and selectively connects the unit to the anode block body. Glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus for attaching.
【請求項2】 請求項において、 前記陽極管の内面および先端面を切削または研磨するた
めのクリーニング具を備え、 前記ロボット装置が、分析前に、前記クリーニング具を
用いて前記陽極管の内面および先端面を切削または研磨
するグロー放電発光分光分析装置。
2. The anode tube according to claim 1 , further comprising a cleaning tool for cutting or polishing an inner surface and a tip surface of the anode tube, wherein the robot apparatus uses the cleaning device to perform analysis before the analysis. Glow discharge emission spectrometer for cutting or polishing the tip surface.
【請求項3】 請求項1または2において、 試料が、周辺部に結晶方位を示す切欠き部を有する略円
板状であって、 前記試料の切欠き部の位置に基づいて、試料をその軸心
回りの所定の方向に設定して保持するオリフラ合わせ機
を備え、 前記ロボット装置が、試料を、前記オリフラ合わせ機か
ら、前記陽極管に対向する分析位置へ移送するグロー放
電発光分光分析装置。
3. The sample according to claim 1 , wherein the sample has a substantially disk shape with a notch indicating a crystal orientation in a peripheral portion, and the sample is moved based on a position of the notch in the sample. A glow discharge optical emission spectrometer, comprising: an orientation flat aligner for setting and holding the sample in a predetermined direction about an axis, wherein the robot apparatus transfers a sample from the orientation flat aligner to an analysis position facing the anode tube. .
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