JP3093093B2 - 走査プローブ顕微鏡 - Google Patents

走査プローブ顕微鏡

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JP3093093B2 JP06058898A JP5889894A JP3093093B2 JP 3093093 B2 JP3093093 B2 JP 3093093B2 JP 06058898 A JP06058898 A JP 06058898A JP 5889894 A JP5889894 A JP 5889894A JP 3093093 B2 JP3093093 B2 JP 3093093B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は走査トンネル顕微鏡や
原子間力顕微鏡などの走査プローブ顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】 走査トンネル顕微鏡(STM)は、探
針を試料表面に沿うx,y方向に走査しながらトンネル
電流が一定になるように探針の高さを制御することによ
り、試料表面の凹凸像を得るものである。また、原子間
力顕微鏡(AFM)は、マイクロビーム(微小な梁)の
先端と試料表面間に働く原子間力によるマイクロビーム
の微小変形を光学的方法あるいはマイクロビームに従属
したSTMにより検出しながら、マイクロビームの変化
が一定になるように試料のz方向の位置を補正しなが
ら、試料又はマイクロビームをx,y方向に走査するこ
とにより、試料の表面形状を得るものである。
【0003】このようなSTMやAFMの装置において
は、排気装置の振動が試料や試料移動機構や探針駆動機
構等を備えたユニットに伝わらないように、ユニットは
試料室の天井からバネにより吊り下げられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】 しかし、このような
構成にするには、試料室の高さを大きくしなければなら
ず、試料室が大きくなる。そのため、試料室を排気する
のに時間がかかったり、装置の製造コストも上昇する。
【0005】本発明はこのような点に鑑みて成されたも
ので、その目的は、試料観察において排気装置の振動の
影響を受けず、しかもコンパクトな走査プローブ顕微鏡
を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】 この目的を達成する第
1の本発明の走査プローブ顕微鏡は、試料と探針を備え
るユニットと、該ユニットを支持するチャンバーと、該
チャンバーを支持するベース部材と、該ベース部材に接
続された排気手段と、前記ベース部材とチャンバー間に
配置された弾性部材を備え、前記弾性部材は前記ベース
部材とチャンバー間が非接触になるように厚みを有して
いる。第2の本発明の走査プローブ顕微鏡は、前記弾性
部材が前記ベース部材とチャンバー間の真空シール部材
として兼用されている。
【0007】
【実施例】 以下、図面を用いて本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明の実施例として示したSTMの概
略図である。図1において、1はテーブルで、孔Oを有
するベース2がテーブル1上に載置されている。3は排
気装置で、排気装置3はフランジ4を介してベース2に
取り付けられている。5はバイトンOリングである。6
はパイプであり、パイプ6の一端にはストッパー7が、
そして、他端には試料室チャンバー8が固定されてい
る。9は、図2に示すような分割されたゲル部材で、ゲ
ル部材9はベース2とストッパー7の間に挟まってい
る。10は、図3に示すようなリング状のゲル部材で、
ゲル部材10はベース2と試料室チャンバー8の間に挟
まっている。ゲル部材は他の弾性部材に比べて振動の吸
収率は非常に高い。gは隙間であり、この隙間gは前記
ゲル部材9の隙間g´に連通されており、隙間g´を経
由して排気される。11は試料や試料移動機構や探針駆
動機構等を備えたSTMユニットである。12はカバー
であり、試料交換時はこのカバー12が開けられるが、
試料室チャンバー8は前記ストッパー7により上に引き
抜けることはない。
【0008】このような構成において、排気装置3を動
作させると、その振動はフランジ4を通ってベース2に
伝わる。しかしながら、ベース2の振動はゲル部材9,
10により吸収され、また、ベース2とパイプ6との間
には隙間gが存在するため、ベース2の振動が試料室チ
ャンバー8に伝わることはない。このため、排気装置3
の振動はSTMユニット11に伝わらず、試料の観察を
振動の影響を受けずに行うことができる。また、ゲル部
材10はベース2と試料室チャンバー8間の真空シール
の役割も果たしている。
【0009】なお、以上の説明においては、ベース2と
試料室チャンバー8間にゲル部材を配置したが、ゲル部
材のかわりに、バイトンなどの弾性部材を配置してもよ
い。また、ゲル部材9,10とベース2の間、ゲル部材
9とストッパー7の間およびゲル部材10と試料室チャ
ンバー8の間にOリングを配置してもよい。
【0010】
【発明の効果】 第1の本発明の走査プローブ顕微鏡
は、ベース部材とチャンバー間に、ベース部とチャンバ
ー間が非接触になるような厚みの弾性部材が配置されて
いるので、試料観察において排気手段の振動の影響を受
けず、しかも従来に比べ装置がコンパクトとなって試料
室を排気する時間が短かくなり、また、装置の製造コス
トが下がる。また、第2の本発明の走査プローブ顕微鏡
は、弾性部材がベース部材とチャンバー間の真空シール
部材として兼用されているので、使用するOリングの数
が減り、また、Oリングを嵌め込むための溝を作る必要
がなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例として示したSTMの概略図で
ある。
【図2】ゲル部材9を説明するために示した図である。
【図3】ゲル部材10を説明するために示した図であ
る。
【符号の説明】
1 テーブル 2 ベース 3 排気装置 4 フランジ 5 バイトンOリング 6 パイプ 7 ストッパー 8 試料室チャンバー 9 ゲル部材 10 ゲル部材 11 STMユニット 12 カバー g 隙間 g´ 隙間 O 孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 13/10 - 13/24 G01B 21/30 H01J 37/28

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料と探針を備えるユニットと、該ユニ
    ットを支持するチャンバーと、該チャンバーを支持する
    ベース部材と、該ベース部材に接続された排気手段と、
    前記ベース部材とチャンバー間に配置された弾性部材を
    備え、前記弾性部材は前記ベース部材とチャンバー間が
    非接触になるように厚みを有している走査プローブ顕微
    鏡。
  2. 【請求項2】 前記弾性部材が前記ベース部材とチャン
    バー間の真空シール部材として兼用されている請求項1
    記載の走査プローブ顕微鏡。
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