JP3093093B2 - 走査プローブ顕微鏡 - Google Patents
走査プローブ顕微鏡Info
- Publication number
- JP3093093B2 JP3093093B2 JP06058898A JP5889894A JP3093093B2 JP 3093093 B2 JP3093093 B2 JP 3093093B2 JP 06058898 A JP06058898 A JP 06058898A JP 5889894 A JP5889894 A JP 5889894A JP 3093093 B2 JP3093093 B2 JP 3093093B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- base
- sample
- scanning probe
- probe microscope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
原子間力顕微鏡などの走査プローブ顕微鏡に関する。
針を試料表面に沿うx,y方向に走査しながらトンネル
電流が一定になるように探針の高さを制御することによ
り、試料表面の凹凸像を得るものである。また、原子間
力顕微鏡(AFM)は、マイクロビーム(微小な梁)の
先端と試料表面間に働く原子間力によるマイクロビーム
の微小変形を光学的方法あるいはマイクロビームに従属
したSTMにより検出しながら、マイクロビームの変化
が一定になるように試料のz方向の位置を補正しなが
ら、試料又はマイクロビームをx,y方向に走査するこ
とにより、試料の表面形状を得るものである。
は、排気装置の振動が試料や試料移動機構や探針駆動機
構等を備えたユニットに伝わらないように、ユニットは
試料室の天井からバネにより吊り下げられている。
構成にするには、試料室の高さを大きくしなければなら
ず、試料室が大きくなる。そのため、試料室を排気する
のに時間がかかったり、装置の製造コストも上昇する。
ので、その目的は、試料観察において排気装置の振動の
影響を受けず、しかもコンパクトな走査プローブ顕微鏡
を提供することにある。
1の本発明の走査プローブ顕微鏡は、試料と探針を備え
るユニットと、該ユニットを支持するチャンバーと、該
チャンバーを支持するベース部材と、該ベース部材に接
続された排気手段と、前記ベース部材とチャンバー間に
配置された弾性部材を備え、前記弾性部材は前記ベース
部材とチャンバー間が非接触になるように厚みを有して
いる。第2の本発明の走査プローブ顕微鏡は、前記弾性
部材が前記ベース部材とチャンバー間の真空シール部材
として兼用されている。
する。図1は、本発明の実施例として示したSTMの概
略図である。図1において、1はテーブルで、孔Oを有
するベース2がテーブル1上に載置されている。3は排
気装置で、排気装置3はフランジ4を介してベース2に
取り付けられている。5はバイトンOリングである。6
はパイプであり、パイプ6の一端にはストッパー7が、
そして、他端には試料室チャンバー8が固定されてい
る。9は、図2に示すような分割されたゲル部材で、ゲ
ル部材9はベース2とストッパー7の間に挟まってい
る。10は、図3に示すようなリング状のゲル部材で、
ゲル部材10はベース2と試料室チャンバー8の間に挟
まっている。ゲル部材は他の弾性部材に比べて振動の吸
収率は非常に高い。gは隙間であり、この隙間gは前記
ゲル部材9の隙間g´に連通されており、隙間g´を経
由して排気される。11は試料や試料移動機構や探針駆
動機構等を備えたSTMユニットである。12はカバー
であり、試料交換時はこのカバー12が開けられるが、
試料室チャンバー8は前記ストッパー7により上に引き
抜けることはない。
作させると、その振動はフランジ4を通ってベース2に
伝わる。しかしながら、ベース2の振動はゲル部材9,
10により吸収され、また、ベース2とパイプ6との間
には隙間gが存在するため、ベース2の振動が試料室チ
ャンバー8に伝わることはない。このため、排気装置3
の振動はSTMユニット11に伝わらず、試料の観察を
振動の影響を受けずに行うことができる。また、ゲル部
材10はベース2と試料室チャンバー8間の真空シール
の役割も果たしている。
試料室チャンバー8間にゲル部材を配置したが、ゲル部
材のかわりに、バイトンなどの弾性部材を配置してもよ
い。また、ゲル部材9,10とベース2の間、ゲル部材
9とストッパー7の間およびゲル部材10と試料室チャ
ンバー8の間にOリングを配置してもよい。
は、ベース部材とチャンバー間に、ベース部とチャンバ
ー間が非接触になるような厚みの弾性部材が配置されて
いるので、試料観察において排気手段の振動の影響を受
けず、しかも従来に比べ装置がコンパクトとなって試料
室を排気する時間が短かくなり、また、装置の製造コス
トが下がる。また、第2の本発明の走査プローブ顕微鏡
は、弾性部材がベース部材とチャンバー間の真空シール
部材として兼用されているので、使用するOリングの数
が減り、また、Oリングを嵌め込むための溝を作る必要
がなくなる。
ある。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 試料と探針を備えるユニットと、該ユニ
ットを支持するチャンバーと、該チャンバーを支持する
ベース部材と、該ベース部材に接続された排気手段と、
前記ベース部材とチャンバー間に配置された弾性部材を
備え、前記弾性部材は前記ベース部材とチャンバー間が
非接触になるように厚みを有している走査プローブ顕微
鏡。 - 【請求項2】 前記弾性部材が前記ベース部材とチャン
バー間の真空シール部材として兼用されている請求項1
記載の走査プローブ顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06058898A JP3093093B2 (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 走査プローブ顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06058898A JP3093093B2 (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 走査プローブ顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07270432A JPH07270432A (ja) | 1995-10-20 |
JP3093093B2 true JP3093093B2 (ja) | 2000-10-03 |
Family
ID=13097624
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06058898A Expired - Fee Related JP3093093B2 (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 走査プローブ顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3093093B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6361208B1 (en) * | 1999-11-26 | 2002-03-26 | Varian Medical Systems | Mammography x-ray tube having an integral housing assembly |
-
1994
- 1994-03-29 JP JP06058898A patent/JP3093093B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07270432A (ja) | 1995-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7631547B2 (en) | Scanning probe apparatus and drive stage therefor | |
US5200616A (en) | Environment controllable scanning probe microscope | |
CN101436506A (zh) | 用于定位透射电子显微镜试样的电动操纵器 | |
JP2006506629A5 (ja) | ||
US8028567B2 (en) | AFM tweezers, method for producing AFM tweezers, and scanning probe microscope | |
JP3093093B2 (ja) | 走査プローブ顕微鏡 | |
Gotszalk et al. | Tip-based nano-manufacturing and-metrology | |
JPH0579814A (ja) | 走査プローブ型顕微鏡装置 | |
WO2018230871A1 (ko) | 나노역학적 바이오센서 및 이의 제조방법 | |
JP2001523843A (ja) | マイクロリソグラフィにおける基板を平坦に保持する装置および方法 | |
JP2984154B2 (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
JPH03251705A (ja) | アトミックプローブ顕微鏡及びこれに用いられるカンチレバーユニット | |
JP2000268768A5 (ja) | ||
Holz et al. | Parallel active cantilever AFM tool for high-throughput inspection and metrology | |
JP3020460B2 (ja) | 真空光学系構造 | |
JPH08326715A (ja) | クランプ機構付きジンバル装置 | |
JP3064335B2 (ja) | 透過型電子顕微鏡 | |
JP2711311B2 (ja) | 走査トンネル顕微鏡 | |
JPS60167245A (ja) | 試料保持装置 | |
JPH03187143A (ja) | 試料ステージ | |
JPS60189746A (ja) | 露光装置 | |
JPH05256642A (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
JP2612395B2 (ja) | 雰囲気制御探針走査型顕微鏡 | |
JPH07244056A (ja) | 表面観察装置 | |
JPH04110855A (ja) | たわみ補正機構付きマスク支持装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000711 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080728 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090728 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090728 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100728 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100728 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110728 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120728 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120728 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130728 Year of fee payment: 13 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |