JP3092565B2 - Semiconductor device encapsulation method - Google Patents

Semiconductor device encapsulation method

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JP3092565B2
JP3092565B2 JP31369097A JP31369097A JP3092565B2 JP 3092565 B2 JP3092565 B2 JP 3092565B2 JP 31369097 A JP31369097 A JP 31369097A JP 31369097 A JP31369097 A JP 31369097A JP 3092565 B2 JP3092565 B2 JP 3092565B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の封入
方法に関し、特に、顆粒樹脂を使用して樹脂封止を行う
半導体装置の封入方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for encapsulating a semiconductor device, and more particularly, to a method for encapsulating a semiconductor device using a granular resin for resin encapsulation.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来例としては、特開平6−32614
5号公報に開示されたシャッターゲート付の樹脂封止用
金型がある。この樹脂封止用金型を図5に示す。
2. Description of the Related Art A conventional example is disclosed in JP-A-6-32614.
No. 5 discloses a mold for resin sealing with a shutter gate. FIG. 5 shows this resin sealing mold.

【0003】図5に示す樹脂封止用金型は、樹脂射出動
作及び型開き動作に連動してゲート口11を開閉するシ
ャッターゲート10を装備したものである。そして、ゲ
ート口11とキャビティ12との間に設けられたシャッ
ターゲート11は、シャッターゲートピンにより樹脂射
出動作及び型開き動作に連動して開閉する構造となって
いる。
The resin sealing mold shown in FIG. 5 is equipped with a shutter gate 10 for opening and closing a gate port 11 in conjunction with a resin injection operation and a mold opening operation. The shutter gate 11 provided between the gate port 11 and the cavity 12 has a structure that opens and closes in conjunction with a resin injection operation and a mold opening operation by a shutter gate pin.

【0004】また別の従来例としては、特開平6−12
4971号公報に開示された樹脂封止用金型がある。こ
の樹脂封止用金型を図6に示す。
Another conventional example is disclosed in JP-A-6-12.
There is a resin sealing mold disclosed in Japanese Patent No. 4971. This resin sealing mold is shown in FIG.

【0005】図6に示す樹脂封止用金型は、シャッター
ゲートを装備した金型であるが、シャッターゲート13
を装備するにあたっては、封止用プレスのサブプレート
15にシャッターゲート13を突き上げるためのノック
アウトロッド14を設置し、シャッターゲート13の駆
動機構を簡素化したものである。
The resin sealing mold shown in FIG. 6 is a mold equipped with a shutter gate.
In order to equip with a knockout rod 14 for pushing up the shutter gate 13 on the sub-plate 15 of the sealing press, the drive mechanism of the shutter gate 13 is simplified.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図5及
び図6に示す従来例では、シャッターゲートの採用によ
り、封止樹脂の充填性は改善されているが、封止樹脂と
してタブレット樹脂に代えて顆粒樹脂を用いた場合に、
樹脂の挙動が異なるため、顆粒樹脂を用いて樹脂封止し
た場合に、成形品にボイドが発生するという課題があっ
た。
In the prior art shown in FIGS. 5 and 6, however, the filling of the sealing resin is improved by the use of the shutter gate, but the sealing resin is replaced with a tablet resin. When using granular resin,
Since the behavior of the resin is different, there is a problem that voids are generated in the molded product when the resin is sealed using a granular resin.

【0007】本発明の目的は、顆粒樹脂を用いた樹脂封
止に適合した半導体装置の封止方法を提供することにあ
る。
An object of the present invention is to provide a semiconductor device sealing method suitable for resin sealing using a granular resin.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体装置の封入方法は、顆粒樹脂を
用いた樹脂封止型半導体装置の封入方法であって、封止
金型のポット内に顆粒樹脂を充填する工程と、ランナと
キャビティとの間に設けたシャッターゲートを閉じ、キ
ャビティ側脱気路を通じてキャビティ内の空気及びポッ
ト側脱気路を通じてランナ、カル、ポット内の空気を各
々脱気する工程と、プランジャにより加圧して樹脂を流
動化させ前記カルと前記ランナ内に流動樹脂を充填させ
る工程と、前記シャッターゲートを開き、前記キャビテ
ィ内に前記流動樹脂を充填させる工程を含み、 前記工程
を順次行うものである。
To achieve the above object, according to an aspect of a method of encapsulating a semiconductor device according to the present invention, the granules resin
A method encapsulated resin-encapsulated semiconductor device using it, sealing
Filling the granule resin into the mold pot,
Close the shutter gate provided between the cavity and the
The cavity air and air inside the cavity
Runner, cull, and air in the pot
Degassing process and pressurizing with a plunger to flow resin
Fluidized resin is filled in the cull and the runner.
Opening the shutter gate and opening the cavity
Wherein the step of filling the flow resin into I, wherein step
Are sequentially performed.

【0009】また前記ポットとキャビティとの間をシャ
ッタゲートで閉じ、そのエアベントを介してポットとキ
ャビティ内とを脱気する。
Further, the space between the pot and the cavity is closed by a shutter gate, and the pot and the inside of the cavity are evacuated through the air vent.

【0010】本発明によれば、キャビティとキャビティ
に連通するランナーと、ランナーに連通し顆粒樹脂が充
填されるポット内とを脱気し、その脱気後に顆粒樹脂間
の隙間を埋めてポットから顆粒樹脂をランナーに通して
キャビティに供給する。
According to the present invention, the cavity and the runner communicating with the cavity and the inside of the pot filled with the granular resin which communicates with the runner are degassed. The granular resin is supplied to the cavity through a runner.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
より説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】(実施形態1)図1〜図3は、本発明の実
施形態1を工程順に示す断面図である。
(First Embodiment) FIGS. 1 to 3 are sectional views showing a first embodiment of the present invention in the order of steps.

【0013】図1に示すように、樹脂封止金型の型合わ
せ面には、ポット8、カル1、ランナー2、キャビティ
3が設けられ、さらにキャビティ3に連通するエアベン
トを設けている。ポット8内には顆粒樹脂7が充填さ
れ、その顆粒樹脂7はプランジャ9にてカル1内に押し
出される。ランナー2は、カル1とキャビティ3とを連
通するものであり、カル1とキャビティ3との接続部に
は、開閉用のシャッターゲート6が設けられている。ま
た樹脂封止金型の型合わせ面には、ポット8,カル1,
ランナー2,キャビティ3を外気から遮断するシールリ
ング16が設けられている。またキャビティ側脱気路
4,ポット側脱気路5が設けられている。
As shown in FIG. 1, a pot 8, a cull 1, a runner 2, and a cavity 3 are provided on a mold mating surface of a resin sealing mold, and an air vent communicating with the cavity 3 is provided. The pot 8 is filled with the granular resin 7, and the granular resin 7 is extruded into the car 1 by the plunger 9. The runner 2 connects the cull 1 and the cavity 3, and a shutter gate 6 for opening and closing is provided at a connection portion between the cull 1 and the cavity 3. The pot 8, cull 1,
A seal ring 16 that shields the runner 2 and the cavity 3 from the outside air is provided. Further, a cavity side deaeration path 4 and a pot side deaeration path 5 are provided.

【0014】まず図1に示すように、顆粒樹脂7をポッ
ト8内に充填し、その後、ランナー2とキャビティ3と
の間のシャッターゲート6を閉じ、前記樹脂封止用金型
のエアベントのみを通してポット8内とキャビティ3内
の空気をキャビティ側脱気路4を通して脱気する。
First, as shown in FIG. 1, a granule resin 7 is filled in a pot 8, and thereafter, a shutter gate 6 between the runner 2 and the cavity 3 is closed, and only through an air vent of the resin sealing mold. Air in the pot 8 and the cavity 3 is deaerated through the cavity side deaeration passage 4.

【0015】また、ポット側脱気路5にてプランジャ9
とポット8との隙間を通してポット8内の空気を脱気す
る。
Further, the plunger 9 is provided in the pot side deaeration passage 5.
The air in the pot 8 is degassed through the gap between the pot 8 and the air.

【0016】次に図2に示すように、シャッターゲート
6を閉じた状態のまま、プランジャ9をポット8内に押
し出し、プランジャ9に圧力で顆粒樹脂7を圧密する。
これにより、顆粒樹脂のすき間に空気が残留することは
なくなる。
Next, as shown in FIG. 2, with the shutter gate 6 closed, the plunger 9 is extruded into the pot 8 and the granular resin 7 is compacted in the plunger 9 by pressure.
Thereby, air does not remain in the gap of the granular resin.

【0017】次に図3に示すように、シャッターゲート
6を開き、キャビティ3内に樹脂7を注入し、キャビテ
ィ3内にて半導体素子の樹脂封止を行う。
Next, as shown in FIG. 3, the shutter gate 6 is opened, a resin 7 is injected into the cavity 3, and the semiconductor element is sealed with the resin in the cavity 3.

【0018】図1における脱気の圧力は、−710mm
Hg〜−750mmHgに設定し、成形品でのボイド発
生をなくす。
The deaeration pressure in FIG. 1 is -710 mm
Hg to -750 mmHg to eliminate voids in molded products.

【0019】また図2においてシャッターゲート6まで
をフルに充填させるだけの圧力の下にプランジャ9で圧
密する必要があり、その圧力は、カル1及びランナー2
等の大きさで決定される。圧密が不足すれば、顆粒樹脂
の間のすき間が残り、これも成形品のボイドの原因とな
る。
In FIG. 2, it is necessary to consolidate with the plunger 9 under a pressure enough to completely fill up to the shutter gate 6. The pressure is equal to the cull 1 and the runner 2 pressure.
And so on. Insufficient consolidation leaves gaps between the granular resins, which also cause voids in the molded article.

【0020】また図1において、顆粒樹脂投入後に脱気
を開始するが、その間シャッターゲートは閉じている。
その理由は、顆粒樹脂はあたたまりやすいので、すぐに
圧密を開始し、封入までの時間を短くするためである。
In FIG. 1, deaeration starts after the granular resin is charged, during which time the shutter gate is closed.
The reason is that the granular resin easily warms up, so that the compaction starts immediately and the time until the encapsulation is shortened.

【0021】また図2において、シャッターゲートを閉
じたまま、キャビティに樹脂が流れないようにして、顆
粒樹脂を十分に圧密した後、図3のようにシャッターゲ
ートを開いて封入する。
In FIG. 2, while the shutter gate is kept closed, the resin does not flow into the cavity and the granular resin is sufficiently compacted. Then, as shown in FIG. 3, the shutter gate is opened and sealed.

【0022】(実施形態2)図4は、本発明の実施形態
2を示す図である。
(Embodiment 2) FIG. 4 is a diagram showing Embodiment 2 of the present invention.

【0023】本発明の実施形態2では、マトリクスリー
ドフレーム上での半導体素子の樹脂封止を行っている。
図4に示すようにリードフレームは、複数のキャビティ
3に亘って設置され、ランナー2からゲートの部分にシ
ャッターゲート6を設けておけば、ランナータイプのマ
トリクス封入においてランナーとリードフレーム上のラ
ンナーが容易にブレイクできる。封入方法は実施形態1
と同じように、脱気後、顆粒樹脂を圧密し、その後、キ
ャビティへの封入を行う。
In the second embodiment of the present invention, resin sealing of a semiconductor element on a matrix lead frame is performed.
As shown in FIG. 4, the lead frame is installed over a plurality of cavities 3, and if a shutter gate 6 is provided from the runner 2 to the gate, the runner and the runner on the lead frame can be enclosed in a runner type matrix. Easy to break. Enclosure method is Embodiment 1.
After degassing, the granular resin is compacted in the same manner as described above, and then sealed in the cavity.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、顆
粒樹脂封入品の成形品でのボイドが低減でき、パッケー
ジの信頼性を向上できる。
As described above, according to the present invention, voids in a molded article of a granular resin encapsulated article can be reduced, and the reliability of the package can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態1を工程順に示す断面図であ
る。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a first embodiment of the present invention in the order of steps.

【図2】本発明の実施形態1を工程順に示す断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing Embodiment 1 of the present invention in the order of steps.

【図3】本発明の実施形態1を工程順に示す断面図であ
る。
FIG. 3 is a sectional view illustrating Embodiment 1 of the present invention in the order of steps.

【図4】本発明の実施形態2を示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing Embodiment 2 of the present invention.

【図5】従来例を示す断面図である。FIG. 5 is a sectional view showing a conventional example.

【図6】他の従来例を示す断面図である。FIG. 6 is a sectional view showing another conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カル 2 ランナ 3 キャビティ 4 キャビティ側脱気路 5 ポット側脱気路 6 シャッターゲート 7 顆粒樹脂 8 ポット 9 プランジャ 10 シャッターゲート 11 ゲート口 12 キャビティ 13 シャッターゲート 14 シャッターゲート用ノックアウトロッド 15 サブプレート DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cal 2 Runner 3 Cavity 4 Cavity side deaeration path 5 Pot side deaeration path 6 Shutter gate 7 Granule resin 8 Pot 9 Plunger 10 Shutter gate 11 Gate port 12 Cavity 13 Shutter gate 14 Knockout rod for shutter gate 15 Subplate

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56 B29C 45/02 B29C 45/26 B29C 45/34 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/56 B29C 45/02 B29C 45/26 B29C 45/34

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 顆粒樹脂を用いた樹脂封止型半導体装置
の封入方法であって、封止金型のポット内に顆粒樹脂を充填する工程と、ラン
ナとキャビティとの間に設けたシャッターゲートを閉
じ、キャビティ側脱気路を通じてキャビティ内の空気及
びポット側脱気路を通じてランナ、カル、ポット内の空
気を各々脱気する工程と、プランジャにより加圧して樹
脂を流動化させ前記カルと前記ランナ内に流動樹脂を充
填させる工程と、前記シャッターゲートを開き、前記キ
ャビティ内に前記流動樹脂を充填させる工程を含み、 前記工程を順次行う ことを特徴とする半導体装置の製造
方法。
1. A method for encapsulating a resin-encapsulated semiconductor device using a granular resin, comprising the steps of: filling a granule resin into a pot of a sealing mold;
Close the shutter gate provided between the cavity and the cavity.
Air through the cavity side deaeration passage
Runners, culls, and pot empty
Degassing process and pressurizing with plunger
Fluid to fill the cal and the runner with fluid resin.
The shutter gate is opened, and the key is opened.
A method for manufacturing a semiconductor device , comprising a step of filling the cavity with the fluid resin, wherein the steps are sequentially performed .
【請求項2】 前記ポットとキャビティとの間をシャッ
タゲートで閉じ、そのエアベントを介してポットとキャ
ビティ内とを脱気することを特徴とする請求項1に記載
の半導体装置の封入方法。
2. The method according to claim 1, wherein a space between the pot and the cavity is closed by a shutter gate, and the pot and the inside of the cavity are evacuated through an air vent.
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