JP3077255B2 - Wiring board and its manufacturing method - Google Patents

Wiring board and its manufacturing method

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JP3077255B2 JP03145737A JP14573791A JP3077255B2 JP 3077255 B2 JP3077255 B2 JP 3077255B2 JP 03145737 A JP03145737 A JP 03145737A JP 14573791 A JP14573791 A JP 14573791A JP 3077255 B2 JP3077255 B2 JP 3077255B2
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
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    • HELECTRICITY
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    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • H05K3/425Plated through-holes or plated via connections characterised by the sequence of steps for plating the through-holes or via connections in relation to the conductive pattern
    • H05K3/427Plated through-holes or plated via connections characterised by the sequence of steps for plating the through-holes or via connections in relation to the conductive pattern initial plating of through-holes in metal-clad substrates

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、配線基板のスルーホー
ルに設けられた導電層を介し配線基板の両面に形成され
た配線層が接続された配線板とその製造方法に係り、特
に、上記配線層の線幅寸法精度が向上しかつ回路ショー
トも起こり難い配線板とその製造方法の改良に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring board in which wiring layers formed on both sides of a wiring board are connected via conductive layers provided in through holes of the wiring board, and a method of manufacturing the same. The present invention relates to a wiring board in which the line width dimensional accuracy of a wiring layer is improved and a circuit short circuit is unlikely to occur, and an improvement in a manufacturing method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の配線板として複数枚の内層用回
路板が接着性絶縁層を介し積層されて成る多層配線板を
例に挙げ説明すると、従来、この種の多層配線板は『パ
ネルメッキ法』と称される方法にて製造されている。
2. Description of the Related Art A multi-layer wiring board in which a plurality of inner-layer circuit boards are laminated via an adhesive insulating layer as an example of this type of wiring board will be described. The plating method is used.

【0003】以下その概略を説明すると、図19に示す
ように銅製配線層を有する複数枚の内層用回路板aを厚
さ35μm程度の銅箔等銅製皮膜jが一様に成膜された
外層用基板a1と共に接着性絶縁層(プリプレグ)bを
介し積層して一体化し(図26参照)、かつ、適宜穿設
手段により図20と図27に示すようなスルーホールc
を穿設(ドリリング)した後、このスルーホールcの内
壁面を銅皮膜にて覆うため銅による無電解メッキ処理を
施して図21と図28に示すような厚さ30μm程度の
銅めっき層dを上記外層用基板a1の銅製皮膜jとスル
ーホールc内壁面にそれぞれ形成する。
The outline of the method will be described below. As shown in FIG. 19, a plurality of inner layer circuit boards a having a copper wiring layer are formed on an outer layer on which a copper film j such as a copper foil having a thickness of about 35 μm is uniformly formed. 26 and an integrated insulating layer (prepreg) b together with the substrate a1 (see FIG. 26), and through holes c as shown in FIGS.
After drilling, an electroless plating treatment with copper is performed to cover the inner wall surface of the through hole c with a copper film, and a copper plating layer d having a thickness of about 30 μm as shown in FIGS. Is formed on the copper film j and the inner wall surface of the through hole c of the outer layer substrate a1.

【0004】次いで、この銅めっき層dの面上にスルー
ホールc周辺の一部と外層用基板a1の配線層形成部位
を除きフォトレジスト層eをパターン状に形成する(図
22と図29参照)と共に、このフォトレジスト層eか
ら露出する部位にはんだめっき層fを形成(図23と図
30参照)し、かつ、上記フォトレジスト層eを除去し
た(図31参照)後、このはんだめっき層fをマスクに
しこのマスクから露出する銅めっき層dと銅製皮膜jと
を図24と図32に示すように順次エッチングにより除
去して導電層kと銅製配線層mとを形成し、更にこれ等
面上にソルダー・レジスト層gを成膜して図25に示す
ような多層配線板hを求めている。
Next, a photoresist layer e is formed in a pattern on the surface of the copper plating layer d except for a part around the through hole c and a wiring layer forming portion of the outer layer substrate a1 (see FIGS. 22 and 29). ), A solder plating layer f is formed on a portion exposed from the photoresist layer e (see FIGS. 23 and 30), and the photoresist layer e is removed (see FIG. 31). Using copper as a mask, the copper plating layer d and the copper film j exposed from the mask are sequentially removed by etching as shown in FIGS. 24 and 32 to form a conductive layer k and a copper wiring layer m. A multilayered wiring board h as shown in FIG. 25 is obtained by forming a solder resist layer g on the surface.

【0005】しかし、この『パネルメッキ法』にて上記
導電層kと銅製配線層mとを形成した場合、図33に示
すように外層用基板a1とはんだめっき層fとで挟まれ
た銅めっき層dと銅製皮膜jの厚み方向の露出寸法が大
きいため(この例では厚さ65μm)、厚さ65μmの
銅めっき層dと銅製皮膜jとをエッチング処理する際に
この銅めっき層dと銅製皮膜jとがサイドエッチを受け
易くその線幅寸法精度が悪くなる欠点があり、かつ、は
んだめっき層fのはみ出し部分(この部位をオーバーハ
ングと称する)が大きいため工程途上でこの部位が切れ
易く回路ショートを引起こす欠点があった。
However, when the conductive layer k and the copper wiring layer m are formed by the "panel plating method", as shown in FIG. 33, the copper plating sandwiched between the outer layer substrate a1 and the solder plating layer f is performed. Since the exposed dimension of the layer d and the copper coating j in the thickness direction is large (in this example, the thickness is 65 μm), when the copper plating layer d and the copper coating j having a thickness of 65 μm are etched, the copper plating layer d and the copper coating j are formed. The coating j is susceptible to side etching and the line width dimensional accuracy is deteriorated. In addition, since the protruding portion of the solder plating layer f (this portion is called overhang) is large, this portion is easily cut during the process. There was a disadvantage of causing a short circuit.

【0006】そこで、この『パネルメッキ法』よりその
厚み方向のエッチング寸法が小さくなる『パターンメッ
キ法』と称される形成方法が開発されている。
Accordingly, a forming method called "pattern plating" has been developed in which the etching dimension in the thickness direction is smaller than that of "panel plating".

【0007】すなわち、この形成方法は上記スルーホー
ルcを穿設した後、図34に示すように無電解メッキ法
にて薄膜(10μm程度)の薄膜銅めっき層d1を上記
外層用基板a1の銅製皮膜jとスルーホールc内壁面に
それぞれ形成する。
That is, in this forming method, after the through hole c is formed, a thin (about 10 μm) thin film copper plating layer d1 is formed by electroless plating as shown in FIG. The film j and the inner wall surface of the through hole c are formed respectively.

【0008】次に、この薄膜銅めっき層d1の面上にス
ルーホールc周辺の一部と外層用基板a1の配線層形成
部位を除き図35に示すようにフォトレジスト層eをパ
ターン状に形成し、かつ、このフォトレジスト層eから
露出する部位にメッキ法にて厚さ20μm程度の厚膜銅
めっき層d2を形成すると共に(図36参照)この厚膜
銅めっき層d2上にはんだめっき層fを形成する(図3
7参照)。
Next, a photoresist layer e is formed in a pattern on the surface of the thin-film copper plating layer d1 as shown in FIG. 35 except for a part around the through hole c and a wiring layer forming portion of the outer layer substrate a1. In addition, a thick copper plating layer d2 having a thickness of about 20 μm is formed on a portion exposed from the photoresist layer e by a plating method (see FIG. 36), and a solder plating layer is formed on the thick copper plating layer d2. f (FIG. 3)
7).

【0009】次いで、図38に示すようにフォトレジス
ト層eを除去し上記はんだめっき層fをマスクにしてこ
のマスクから露出する薄膜銅めっき層d1と銅製皮膜j
とを図39に示すように順次エッチングにより除去し導
電層kと銅製配線層mとを形成する方法であった。
Next, as shown in FIG. 38, the photoresist layer e is removed, and the thin copper plating layer d1 exposed from the mask and the copper film j are exposed using the solder plating layer f as a mask.
Are sequentially removed by etching as shown in FIG. 39 to form a conductive layer k and a copper wiring layer m.

【0010】そして、この『パターンメッキ法』におい
ては上記導電層kと銅製配線層mとを形成する際のエッ
チング対象膜が図38に示すように厚さ10μmの薄膜
銅めっき層d1と厚さ35μmの銅製皮膜jとなりその
厚み方向のエッチング寸法が45μmとなって『パネル
メッキ法』のエッチング寸法65μmより小さくなるた
め、サイドエッチが低減しその線幅寸法精度が向上する
と共に上記オーバーハングも小さくなって回路ショート
も低減する利点があるとされていた。
In this "pattern plating method", the film to be etched when forming the conductive layer k and the copper wiring layer m is a thin film copper plating layer d1 having a thickness of 10 .mu.m as shown in FIG. A 35 μm copper film j is formed, and the etching dimension in the thickness direction is 45 μm, which is smaller than the etching dimension of “panel plating method” of 65 μm. It is said that there is an advantage that the circuit short-circuit is reduced.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかし、この『パター
ンメッキ法』においても上記外層用基板a1とはんだめ
っき層fとで挟まれた厚膜銅めっき層d2と薄膜銅めっ
き層d1と銅製皮膜jの厚み方向の露出寸法は『パネル
メッキ法』と同様65μmと大きいため、そのエッチン
グ寸法が20μm程度少なくなってもサイドエッチが起
こり易い欠点があり、図40に示すように未だその線幅
寸法精度は不十分でかつ上記オーバーハングも大きい問
題点があった。
However, in this "pattern plating method", too, the thick copper plating layer d2, the thin copper plating layer d1, and the copper coating j sandwiched between the outer layer substrate a1 and the solder plating layer f. Since the exposure dimension in the thickness direction is as large as 65 μm as in the “panel plating method”, there is a disadvantage that side etching easily occurs even when the etching dimension is reduced by about 20 μm, and as shown in FIG. However, there was a problem that the overhang was insufficient and the overhang was large.

【0012】本発明はこのような問題点に着目してなさ
れたもので、その課題とするところは、配線層の線幅寸
法精度が向上しかつ回路ショートも起こり難い配線板と
その製造方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such problems, and it is an object of the present invention to provide a wiring board in which the line width dimension accuracy of a wiring layer is improved and a circuit short circuit is unlikely to occur, and a method of manufacturing the same. To provide.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】すなわち、請求項1に係
る発明は、配線基板の両面側に各々形成された銅製配線
層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこの
内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により接
続されている配線板を前提とし、上記銅製配線層とスル
ーホール内壁面上に設けられ銅のエッチング剤に対し耐
性を有する導電性の中間層と、この中間層上に設けられ
た銅層と、この銅層上に設けられたはんだ層、とで上記
導電層が構成されていることを特徴とし、請求項2に係
る発明は、配線基板の両面側に各々形成された銅製配線
層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこの
内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により接
続されている配線板を前提とし、上記銅製配線層とスル
ーホール内壁面上に設けられ銅のエッチング剤に対し耐
性を有する導電性の中間層と、この中間層上に設けられ
た銅層、とで上記導電層が構成されていることを特徴と
するものである。
That is, according to the first aspect of the present invention, a copper wiring layer formed on both sides of a wiring board is formed through through holes provided in the wiring board, and the inner wall surface and the periphery thereof are provided. Assuming that the wiring board is connected by a conductive layer formed at the site, a conductive intermediate layer provided on the inner wall surface of the copper wiring layer and the through hole and having resistance to a copper etching agent, and the intermediate layer The conductive layer is composed of a copper layer provided thereon and a solder layer provided on the copper layer. Assuming that the formed copper wiring layer is connected to a wiring board connected to the inner wall surface and a conductive layer formed on the peripheral portion thereof through the through hole provided in the wiring board, the copper wiring layer and the through hole are provided. On the wall A conductive intermediate layer having provided resistance to the etchant of the copper, a copper layer provided on the intermediate layer, the city in which characterized in that said conductive layer is formed.

【0014】また、請求項3に係る発明は、配線基板の
両面側に各々形成された銅製配線層が上記配線基板に設
けられたスルーホールを介しこの内壁面並びにその周縁
部位に形成された導電層により接続されている配線板を
前提とし、上記銅製配線層とスルーホール内壁面上に設
けられた薄膜銅層と、この薄膜銅層上に設けられ銅のエ
ッチング剤に対し耐性を有する導電性の中間層と、この
中間層上に設けられた厚膜銅層と、この厚膜銅層上に設
けられたはんだ層、とで上記導電層が構成されているこ
とを特徴とし、請求項4に係る発明は、配線基板の両面
側に各々形成された銅製配線層が上記配線基板に設けら
れたスルーホールを介しこの内壁面並びにその周縁部位
に形成された導電層により接続されている配線板を前提
とし、上記銅製配線層とスルーホール内壁面上に設けら
れた薄膜銅層と、この薄膜銅層上に設けられ銅のエッチ
ング剤に対し耐性を有する導電性の中間層と、この中間
層上に設けられた厚膜銅層、とで上記導電層が構成され
ていることを特徴とするものである。
According to a third aspect of the present invention, a copper wiring layer formed on both sides of the wiring board is formed on the inner wall surface and the peripheral portion thereof through through holes provided in the wiring board. Assuming a wiring board connected by layers, the copper wiring layer and a thin-film copper layer provided on the inner wall surface of the through-hole, and a conductive film having a resistance to a copper etching agent provided on the thin-film copper layer 5. The conductive layer comprises an intermediate layer, a thick copper layer provided on the intermediate layer, and a solder layer provided on the thick copper layer. According to the invention, there is provided a wiring board in which copper wiring layers respectively formed on both sides of a wiring board are connected by conductive layers formed on inner wall surfaces and peripheral portions thereof through through holes provided in the wiring board. With the above copper distribution Layer and a thin-film copper layer provided on the inner wall surface of the through-hole, a conductive intermediate layer provided on the thin-film copper layer and having resistance to a copper etching agent, and a thick film provided on the intermediate layer The conductive layer is composed of a copper layer and a copper layer.

【0015】この様な技術的手段において請求項1及び
3に係る発明においてはその最外層がはんだ層となるた
め求められた配線板を『はんだスルーホール』型と称
し、他方、請求項2及び4に係る発明においてはその最
外層が銅層となるため求められた配線板を『銅スルーホ
ール』型と称する。
In such technical means, in the invention according to claims 1 and 3, the wiring board obtained since the outermost layer is a solder layer is referred to as a "solder through hole" type. In the invention according to No. 4, the wiring board obtained because the outermost layer is a copper layer is referred to as a “copper through hole” type.

【0016】また、上記配線基板としては従来技術にお
いて例示したように絶縁性接着層を介し複数の内層用回
路板が積層されて成る多層配線板でこれを構成してもよ
いし単層配線板でこれを構成してもよい。
The wiring board may be a multilayer wiring board in which a plurality of circuit boards for an inner layer are laminated via an insulating adhesive layer as exemplified in the prior art, or may be a single-layer wiring board. This may be configured as follows.

【0017】また、銅のエッチング剤に対し耐性を有す
る導電性の中間層を構成する材料としては、例えば金、
ニッケル、ロジウム、あるいはスズ等がその対象とな
る。
Materials for forming a conductive intermediate layer having resistance to a copper etching agent include, for example, gold,
Nickel, rhodium, tin, etc. are targeted.

【0018】そして、請求項5に係る発明は上記配線基
板を特定した配線板に係り、上記配線基板が絶縁性接着
層を介し複数の内層用回路板が積層されて成る多層配線
板であることを特徴とし、また、請求項6に係る発明は
上記中間層を特定した配線板に係り、上記中間層が、
金、ニッケル、ロジウム、あるいはスズで構成されてい
ることを特徴とするものである。
The invention according to claim 5 relates to a wiring board in which the wiring board is specified, wherein the wiring board is a multilayer wiring board in which a plurality of inner circuit boards are laminated via an insulating adhesive layer. The invention according to claim 6 relates to a wiring board in which the intermediate layer is specified, wherein the intermediate layer includes:
It is characterized by being composed of gold, nickel, rhodium or tin.

【0019】他方、請求項7に係る発明は、配線基板の
両面側に各々形成された銅製配線層が上記配線基板に設
けられたスルーホールを介しこの内壁面並びにその周縁
部位に形成された導電層により接続されている配線板の
製造方法を前提とし、銅製皮膜がその両面側に一様に積
層された配線基板にスルーホールを穿設するスルーホー
ル形成工程と、このスルーホールの周縁部位と配線層の
形成部位を除き上記銅製皮膜上へレジスト層をパターン
状に形成するレジスト層形成工程と、このレジスト層か
ら露出する銅製皮膜面とスルーホール内壁面に銅のエッ
チング剤に対し耐性を有する導電性の中間層を無電解メ
ッキ法により着膜する中間層形成工程と、この中間層上
へメッキ法により銅層を選択的に着膜する銅層形成工程
と、この銅層上へはんだ層を選択的に着膜するはんだ層
形成工程と、上記レジスト層を除去した後、はんだ層を
マスクにしはんだ層から露出する銅製皮膜をエッチング
処理して上記配線層と導電層とを形成するエッチング工
程、とを具備することを特徴とし、請求項8に係る発明
は、配線基板の両面側に各々形成された銅製配線層が上
記配線基板に設けられたスルーホールを介しこの内壁面
並びにその周縁部位に形成された導電層により接続され
ている配線板の製造方法を前提とし、銅製皮膜がその両
面側に一様に積層された配線基板にスルーホールを穿設
するスルーホール形成工程と、このスルーホールの周縁
部位と配線層の形成部位を除き上記銅製皮膜上へレジス
ト層をパターン状に形成するレジスト層形成工程と、こ
のレジスト層から露出する銅製皮膜面とスルーホール内
壁面に銅のエッチング剤に対し耐性を有する導電性の中
間層を無電解メッキ法により着膜する中間層形成工程
と、この中間層上へメッキ法により銅層を選択的に着膜
する銅層形成工程と、この銅層上へはんだ又は感光性樹
脂より成るマスク層を選択的に形成するマスク層形成工
程と、上記レジスト層を除去した後、マスク層から露出
する銅製皮膜をエッチング処理して上記配線層と導電層
とを形成するエッチング工程と、上記マスク層を剥離除
去して銅層を露出させる剥離工程、とを具備することを
特徴とするものである。
On the other hand, according to the present invention, the copper wiring layers formed on both sides of the wiring board are formed on the inner wall surface and the peripheral portion thereof through through holes provided in the wiring board. Assuming a method of manufacturing a wiring board connected by layers, a through-hole forming step of drilling a through-hole in a wiring board in which a copper film is uniformly laminated on both sides thereof, and a peripheral portion of the through-hole. A resist layer forming step of forming a resist layer in a pattern on the copper film except for a portion where a wiring layer is formed, and the copper film surface exposed from the resist layer and the inner wall surface of the through hole have resistance to a copper etchant. An intermediate layer forming step of depositing a conductive intermediate layer by electroless plating, a copper layer forming step of selectively depositing a copper layer on the intermediate layer by plating, and A solder layer forming step of selectively depositing a solder layer, and after removing the resist layer, etching the copper film exposed from the solder layer using the solder layer as a mask to form the wiring layer and the conductive layer. The invention according to claim 8 is characterized in that a copper wiring layer formed on each of both sides of the wiring board has an inner wall surface and a through-hole provided in the wiring board. Assuming a method of manufacturing a wiring board connected by a conductive layer formed at the peripheral portion, a through-hole forming step of drilling a through-hole in a wiring board in which a copper film is uniformly laminated on both sides thereof; A resist layer forming step of forming a resist layer in a pattern on the copper film except for a peripheral portion of the through hole and a formation portion of the wiring layer, and a copper film exposed from the resist layer An intermediate layer forming step of depositing a conductive intermediate layer having a resistance to a copper etching agent on the inner wall surface of the through hole by an electroless plating method, and selectively depositing a copper layer on the intermediate layer by a plating method. A copper layer forming step of forming a film, a mask layer forming step of selectively forming a mask layer made of solder or a photosensitive resin on the copper layer, and after removing the resist layer, forming a copper film exposed from the mask layer. It is characterized by comprising an etching step of forming the wiring layer and the conductive layer by etching, and a peeling step of peeling and removing the mask layer to expose the copper layer.

【0020】また、請求項9に係る発明は、配線基板の
両面側に各々形成された銅製配線層が上記配線基板に設
けられたスルーホールを介しこの内壁面並びにその周縁
部位に形成された導電層により接続されている配線板の
製造方法を前提とし、銅製皮膜がその両面側に一様に積
層された配線基板にスルーホールを穿設するスルーホー
ル形成工程と、配線基板両面の上記銅製皮膜面とスルー
ホールの内壁面に膜厚の小さい薄膜銅層を無電解メッキ
法により着膜する薄膜銅層形成工程と、スルーホールの
周縁部位と配線層の形成部位を除き上記薄膜銅層上へレ
ジスト層をパターン状に形成するレジスト層形成工程
と、このレジスト層から露出する薄膜銅層上へ銅のエッ
チング剤に対し耐性を有する導電性の中間層をメッキ法
により選択的に着膜する中間層形成工程と、この中間層
上へ膜厚の大きい厚膜銅層をメッキ法により選択的に着
膜する厚膜銅層形成工程と、この厚膜銅層上へはんだ層
を選択的に着膜するはんだ層形成工程と、上記レジスト
層を除去した後、はんだ層をマスクにしはんだ層から露
出する薄膜銅層と銅製皮膜とを順次エッチング処理して
上記配線層と導電層とを形成するエッチング工程、とを
具備することを特徴とし、請求項10に係る発明は、配
線基板の両面側に各々形成された銅製配線層が上記配線
基板に設けられたスルーホールを介しこの内壁面並びに
その周縁部位に形成された導電層により接続されている
配線板の製造方法を前提とし、銅製皮膜がその両面側に
一様に積層された配線基板にスルーホールを穿設するス
ルーホール形成工程と、配線基板両面の上記銅製皮膜面
とスルーホールの内壁面に膜厚の小さい薄膜銅層を無電
解メッキ法により着膜する薄膜銅層形成工程と、スルー
ホールの周縁部位と配線層の形成部位を除き上記薄膜銅
層上へレジスト層をパターン状に形成するレジスト層形
成工程と、このレジスト層から露出する薄膜銅層上へ銅
のエッチング剤に対し耐性を有する導電性の中間層をメ
ッキ法により選択的に着膜する中間層形成工程と、この
中間層上へ膜厚の大きい厚膜銅層をメッキ法により選択
的に着膜する厚膜銅層形成工程と、この厚膜銅層上へは
んだ又は感光性樹脂より成るマスク層を選択的に形成す
るマスク層形成工程と、上記レジスト層を除去した後、
マスク層から露出する薄膜銅層と銅製皮膜とを順次エッ
チング処理して上記配線層と導電層とを形成するエッチ
ング工程と、上記マスク層を剥離除去して厚膜銅層を露
出させる剥離工程、とを具備することを特徴とするもの
である。
According to a ninth aspect of the present invention, the copper wiring layers formed on both sides of the wiring board are formed on the inner wall surface and the peripheral portion thereof through through holes provided in the wiring board. Assuming a method of manufacturing a wiring board connected by layers, a through-hole forming step of forming a through-hole in a wiring board in which a copper coating is uniformly laminated on both sides thereof, and the copper coating on both sides of the wiring board A thin-film copper layer forming a thin-film copper layer on the surface and the inner wall surface of the through-hole by electroless plating, and onto the thin-film copper layer except for the peripheral portion of the through-hole and the formation portion of the wiring layer. A resist layer forming step of forming a resist layer in a pattern, and selectively depositing a conductive intermediate layer having resistance to a copper etching agent on a thin copper layer exposed from the resist layer by a plating method; An intermediate layer forming step, a thick copper layer forming step of selectively depositing a thick copper layer having a large film thickness on the intermediate layer by a plating method, and selectively forming a solder layer on the thick copper layer. Forming a wiring layer and a conductive layer by sequentially etching the thin copper layer and the copper film exposed from the solder layer using the solder layer as a mask after removing the resist layer, and forming the wiring layer and the conductive layer. The invention according to claim 10 is characterized in that a copper wiring layer formed on each of both sides of the wiring board has an inner wall surface and a through-hole provided in the wiring board. Assuming a method of manufacturing a wiring board connected by a conductive layer formed at the peripheral portion, a through-hole forming step of drilling a through-hole in a wiring board in which a copper film is uniformly laminated on both sides thereof; , Both sides of the wiring board A thin-film copper layer forming step of depositing a thin-film copper layer having a small thickness on the copper film surface and the inner wall surface of the through-hole by an electroless plating method, and excluding a peripheral portion of the through-hole and a portion where a wiring layer is formed; A resist layer forming step of forming a resist layer on the layer in a pattern, and selectively depositing a conductive intermediate layer having resistance to a copper etching agent on the thin copper layer exposed from the resist layer by a plating method. An intermediate layer forming step of forming a film, a thick copper layer forming step of selectively depositing a thick copper layer having a large film thickness on the intermediate layer by a plating method, and soldering or photosensitivity on the thick copper layer. A mask layer forming step of selectively forming a mask layer made of a resin, and after removing the resist layer,
An etching step of sequentially etching the thin film copper layer and the copper film exposed from the mask layer to form the wiring layer and the conductive layer, and a peeling step of peeling and removing the mask layer to expose the thick copper layer, And characterized in that:

【0021】また、請求項11に係る発明は請求項5に
係る発明と同様に上記配線基板を特定した配線板の製造
方法に係り、上記配線基板が絶縁性接着層を介し複数の
内層用回路板が積層されて成る多層配線板であることを
特徴とし、また、請求項12に係る発明は請求項6に係
る発明と同様に上記中間層を特定した配線板の製造方法
に係り、上記中間層が、金、ニッケル、ロジウム、ある
いはスズで構成されていることを特徴とするものであ
る。
The invention according to claim 11 relates to a method for manufacturing a wiring board in which the wiring board is specified, similarly to the invention according to claim 5, wherein the wiring board is provided with a plurality of inner layer circuits via an insulating adhesive layer. The invention according to claim 12 relates to a method for manufacturing a wiring board in which the intermediate layer is specified as in the invention according to claim 6, wherein the multilayer wiring board is formed by laminating boards. The layer is made of gold, nickel, rhodium, or tin.

【0022】尚、請求項9及び10に係る発明において
は上記中間層について銅製皮膜面とスルーホールの内壁
面に形成された薄膜銅層上に着膜する方式のため通常の
電解メッキ処理が可能であるが、請求項7及び8に係る
発明においては上記中間層を銅製皮膜面とスルーホール
の内壁面に直接着膜する方式のため無電解メッキ処理に
てこれを行うことを要する。
In the inventions according to the ninth and tenth aspects, the intermediate layer can be formed on the copper film surface and the thin film copper layer formed on the inner wall surface of the through hole, so that normal electrolytic plating can be performed. However, in the invention according to claims 7 and 8, since the intermediate layer is directly deposited on the copper coating surface and the inner wall surface of the through hole, it is necessary to perform this by electroless plating.

【0023】[0023]

【作用】請求項1〜2に係る発明によれば、導電層の一
部を構成する上記銅層と銅製配線層との間に銅のエッチ
ング剤に対し耐性を有する導電性の中間層が介在し、ま
た、請求項3〜4に係る発明によれば、導電層の一部を
構成する上記厚膜銅層と銅製配線層上に着膜された上記
薄膜銅層との間に銅のエッチング剤に対し耐性を有する
導電性の中間層が介在しているため、エッチング処理に
てこれ等導電層と銅製配線層とを形成する際、導電層の
上記銅層又は厚膜銅層についてははんだ層等のマスク層
と上記中間層に挟まれてその厚み方向の露出寸法が小さ
くなる一方、銅製配線層を構成する銅製皮膜についても
上記中間層と配線基板とに挟まれてその厚み方向の露出
寸法が小さくなりこの部位に対するエッチング剤の侵入
が起り難くなる。
According to the first and second aspects of the present invention, a conductive intermediate layer having resistance to a copper etchant is interposed between the copper layer and a copper wiring layer constituting a part of the conductive layer. According to the third and fourth aspects of the present invention, copper is etched between the thick copper layer constituting a part of the conductive layer and the thin copper layer deposited on the copper wiring layer. Since a conductive intermediate layer having resistance to the agent is interposed, when the conductive layer and the copper wiring layer are formed by etching, the copper layer or the thick copper layer of the conductive layer is soldered. While the exposure dimension in the thickness direction is reduced by being sandwiched between the mask layer such as a layer and the intermediate layer, the copper coating constituting the copper wiring layer is also exposed in the thickness direction by being sandwiched by the intermediate layer and the wiring board. The size is reduced, and the penetration of the etching agent into this portion is less likely to occur.

【0024】従って、上記銅層、厚膜銅層や銅製皮膜の
サイドエッチが起こり難くなるため銅製配線層等の線幅
寸法精度が向上し、かつ、マスク層を構成するはんだ等
の上記オーバーハングも小さくなるため切れたオーバー
ハングが原因となる回路ショートも防止でき、更に上記
導電層と銅製配線層を形成した後、配線板の製造途上に
おいて銅を溶解する適宜処理剤に上記導電層が触れた場
合においても中間層の存在により導電層及び銅製配線層
が断線されることがない。
Therefore, side etching of the copper layer, the thick copper layer and the copper film hardly occurs, so that the line width dimensional accuracy of the copper wiring layer and the like is improved, and the overhang of the solder or the like constituting the mask layer is formed. Can also prevent a circuit short circuit caused by a cut overhang, and furthermore, after forming the conductive layer and the copper wiring layer, the conductive layer comes into contact with an appropriate treating agent that dissolves copper in the course of manufacturing the wiring board. In this case, the conductive layer and the copper wiring layer are not disconnected due to the presence of the intermediate layer.

【0025】一方、請求項7〜8に係る発明によれば、
配線基板上に積層された銅製皮膜と銅層形成工程により
形成された銅層との間に銅のエッチング剤に対し耐性を
有する導電性の中間層を形成し、また、請求項9〜10
に係る発明によれば、薄膜銅層形成工程にて銅製皮膜上
に着膜された薄膜銅層と厚膜銅層形成工程にて着膜され
た厚膜銅層との間に銅のエッチング剤に対し耐性を有す
る導電性の中間層を中間層形成工程にて形成しているた
め、そのエッチング工程においてはんだ層若しくはマス
ク層から露出する銅製皮膜をエッチング処理して配線層
と導電層とを形成する際、又は、そのエッチング工程に
おいてはんだ層若しくはマスク層から露出する薄膜銅層
と銅製皮膜とを順次エッチング処理して配線層と導電層
とを形成する際、導電層を構成する上記銅層又は厚膜銅
層についてははんだ層若しくはマスク層と上記中間層に
挟まれてその厚み方向の露出寸法が小さくなる一方、銅
製配線層を構成する銅製皮膜についても上記中間層と配
線基板とに挟まれてその厚み方向の露出寸法が小さくな
りこの部位に対するエッチング剤の侵入が起り難くな
る。
On the other hand, according to the invention according to claims 7 and 8,
A conductive intermediate layer having resistance to a copper etching agent is formed between the copper film laminated on the wiring board and the copper layer formed in the copper layer forming step, and further comprising:
According to the invention according to the above, a copper etching agent between the thin copper layer deposited on the copper film in the thin copper layer forming step and the thick copper layer deposited in the thick copper layer forming step Since the conductive intermediate layer that is resistant to the resistance is formed in the intermediate layer forming step, the wiring layer and the conductive layer are formed by etching the copper film exposed from the solder layer or the mask layer in the etching step. When, or when forming a wiring layer and a conductive layer by sequentially etching the thin film copper layer and the copper film exposed from the solder layer or the mask layer in the etching step, the copper layer constituting the conductive layer or While the thick copper layer is sandwiched between the solder layer or the mask layer and the intermediate layer, the exposed dimension in the thickness direction is reduced, and the copper film constituting the copper wiring layer is also sandwiched between the intermediate layer and the wiring board. The exposed dimension in the thickness direction is reduced hardly occur penetration of the etchant for this site.

【0026】従って、上記銅層、厚膜銅層や銅製皮膜の
サイドエッチが起こり難くなるため銅製配線層等の線幅
寸法精度の向上が図れ、かつ、はんだ層若しくはマスク
層を構成するはんだの上記オーバーハングも小さくなる
ため切れたオーバーハングが原因となる回路ショートも
未然に防止することが可能となる。
Therefore, side etching of the copper layer, the thick copper layer and the copper film hardly occurs, so that the line width dimensional accuracy of the copper wiring layer and the like can be improved, and the solder forming the solder layer or the mask layer can be improved. Since the above-mentioned overhang is also reduced, it is possible to prevent a short circuit caused by the broken overhang.

【0027】[0027]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0028】[実施例1] この実施例に係る配線板は上記配線基板として表裏両面
に銅箔が貼着されたガラス・エポキシ銅貼積層板が適用
されているものである。
Embodiment 1 A wiring board according to this embodiment is one in which a glass-epoxy copper-clad laminate in which copper foil is adhered on both front and back surfaces is applied as the wiring board.

【0029】すなわち、この実施例に係る配線板は、図
1に示すように複数枚の内層用回路板と外層用基板(共
に図示せず)とが接着性絶縁層を介し積層されて成る配
線基板1と、この配線基板1に穿設されたスルーホール
2と、上記配線基板1上に形成された厚さ35μmの銅
箔製配線層3と、この銅箔製配線層3とスルーホール2
内壁面上に設けられた厚さ10μmの薄膜銅めっき層4
と、この薄膜銅めっき層4上に設けられた厚さ2〜3μ
mのニッケル製中間層5と、この中間層5上に設けられ
た厚さ20μmの厚膜銅めっき層6と、この厚膜銅めっ
き層6上に設けられたはんだ層7とでその主要部が構成
されているものである。
That is, as shown in FIG. 1, the wiring board according to this embodiment is formed by laminating a plurality of inner-layer circuit boards and an outer-layer board (both not shown) via an adhesive insulating layer. A substrate 1, a through hole 2 formed in the wiring substrate 1, a copper wiring layer 3 having a thickness of 35 μm formed on the wiring substrate 1, a copper wiring layer 3, and a through hole 2.
10 μm-thick thin-film copper plating layer 4 provided on the inner wall surface
And a thickness of 2 to 3 μm provided on the thin copper plating layer 4.
m, a nickel intermediate layer 5, a thick copper plating layer 6 having a thickness of 20 μm provided on the intermediate layer 5, and a solder layer 7 provided on the thick copper plating layer 6. Is constituted.

【0030】そして、この配線板は以下の工程を経て製
造されたものである。
The wiring board is manufactured through the following steps.

【0031】まず、図3に示すようにその表面に厚さ3
5μmの銅箔30が積層された外層用基板と内層用回路
板とを接着製絶縁層を介し積層して配線基板1を構成し
た後、図4に示すようにドリルにより直径0.35mmの
スルーホール2を穿設した。
First, as shown in FIG.
After forming the wiring board 1 by laminating the outer layer substrate and the inner layer circuit board on which the 5 μm copper foil 30 is laminated via an adhesive insulating layer, as shown in FIG. Hole 2 was drilled.

【0032】次に、上述した『パネルメッキ法』と同様
な条件で無電解メッキ法により厚さ10μmの薄膜銅め
っき膜40を図5に示すように上記銅箔30とスルーホ
ール2内壁面に成膜し、かつ、図6に示すようにこの薄
膜銅めっき膜40上のスルーホール2周縁部位と配線層
の形成部位を除きレジスト層8をパターン状に形成した
後、このレジスト層8から露出する薄膜銅めっき膜40
上に下記組成のメッキ液(50℃)を用い2.5A/d
2 の条件で図7に示すように厚さ2〜3μmのニッケ
ル製中間層5を形成した。
Next, a thin film copper plating film 40 having a thickness of 10 μm is formed on the copper foil 30 and the inner wall surface of the through hole 2 by electroless plating under the same conditions as the above-mentioned “panel plating method” as shown in FIG. After a film is formed and a resist layer 8 is formed in a pattern except for a peripheral portion of the through hole 2 and a portion where the wiring layer is formed on the thin copper plating film 40 as shown in FIG. Thin copper plating film 40
2.5 A / d using a plating solution (50 ° C.) having the following composition
Under the condition of m 2 , a nickel intermediate layer 5 having a thickness of 2 to 3 μm was formed as shown in FIG.

【0033】 (メッキ液の組成) スルファミル酸ニッケル 350g/リットル 塩化ニッケル 5g/リットル ホウ酸 40g/リットル 応力調整剤 0.5〜3ml/リットル ピット防止剤 2〜3ml/リットル 次に、この中間層5上に同じくメッキ法にて厚さ20μ
mの厚膜銅めっき層6を着膜し(図8参照)、かつ、こ
の厚膜銅めっき層6上へ図9に示すようにはんだ層7を
着膜する。
(Composition of plating solution) Nickel sulfamate 350 g / L Nickel chloride 5 g / L Boric acid 40 g / L Stress regulator 0.5-3 mL / L Pit inhibitor 2-3 mL / L Next, the intermediate layer 5 20μ thick by plating method
Then, a thick copper plating layer 6 is formed (see FIG. 8), and a solder layer 7 is deposited on the thick copper plating layer 6 as shown in FIG.

【0034】そして、図10に示すように上記レジスト
層8を薄膜銅めっき膜40から除去した後上述した『パ
ネルメッキ法』にて適用されている銅のエッチング剤に
よりエッチング処理し、上記はんだ層7から露出する厚
さ10μmの薄膜銅めっき膜40と厚さ35μmの銅箔
30とを順次エッチングして薄膜銅めっき層4と銅箔製
配線層3とを形成し、併せて上記薄膜銅めっき層4と中
間層5と厚膜銅めっき層6及びはんだ層7から成る導電
層9を形成して図1に示すような上記配線板を求めた。
Then, as shown in FIG. 10, after removing the resist layer 8 from the thin copper plating film 40, the resist layer 8 is etched with a copper etching agent applied in the above-mentioned "panel plating method" to form the solder layer. The thin copper plating film 40 having a thickness of 10 μm and the copper foil 30 having a thickness of 35 μm which are exposed from 7 are sequentially etched to form a thin copper plating layer 4 and a wiring layer 3 made of copper foil. The conductive layer 9 composed of the layer 4, the intermediate layer 5, the thick copper plating layer 6, and the solder layer 7 was formed to obtain the wiring board as shown in FIG.

【0035】この実施例に係る製造方法においてはその
エッチング工程においてはんだ層7から露出する薄膜銅
めっき膜40と銅箔30をエッチング処理して銅箔製配
線層3と導電層9とを形成する際、導電層9の一部を構
成する上記厚膜銅めっき層6についてははんだ層7と上
記中間層5に挟まれてその厚み方向の露出寸法が20μ
mと小さくなる一方、銅箔製配線層3を構成する銅箔3
0についても上記中間層5と配線基板1とに挟まれてそ
の厚み方向の露出寸法は10μmの薄膜銅めっき膜40
を加えても45μmと小さくなる。
In the manufacturing method according to this embodiment, in the etching step, the thin copper plating film 40 and the copper foil 30 exposed from the solder layer 7 are etched to form the copper foil wiring layer 3 and the conductive layer 9. At this time, the thick copper plating layer 6 constituting a part of the conductive layer 9 is sandwiched between the solder layer 7 and the intermediate layer 5 and has an exposed dimension in the thickness direction of 20 μm.
m and the copper foil 3 forming the copper foil wiring layer 3
The thickness 0 is also sandwiched between the intermediate layer 5 and the wiring board 1 and the exposed dimension in the thickness direction is 10 μm.
Is reduced to 45 μm.

【0036】従って、図2に示すように厚膜銅めっき層
6や銅箔30のサイドエッチが起こり難くなるため銅箔
製配線層3等の線幅寸法精度の向上が図れ、かつはんだ
層7のオーバーハングも小さくなるため切れたオーバー
ハングが原因となる回路ショートも未然に防止すること
が可能となる利点を有している。
Accordingly, as shown in FIG. 2, side etching of the thick copper plating layer 6 and the copper foil 30 is less likely to occur, so that the line width dimensional accuracy of the copper foil wiring layer 3 and the like can be improved, and the solder layer 7 can be formed. Has the advantage that a short circuit due to a broken overhang can be prevented beforehand.

【0037】また、上記銅箔製配線層3と導電層9を形
成した後、配線板の製造途上において銅を溶解する適宜
処理剤に導電層9が触れた場合においても中間層5の存
在により導電層9及び銅箔製配線層3が断線されること
がない利点を有している。
After the wiring layer 3 made of copper foil and the conductive layer 9 are formed, even if the conductive layer 9 comes into contact with an appropriate treating agent for dissolving copper during the production of the wiring board, the presence of the intermediate layer 5 also There is an advantage that the conductive layer 9 and the copper foil wiring layer 3 are not disconnected.

【0038】尚、変形例として下記組成のメッキ液(6
0℃)を用い2.5A/dm2 の条件で同様のニッケル
製中間層を形成したが同一の効果が得られた。
As a modification, a plating solution (6
0 ° C.) and a similar nickel intermediate layer was formed under the conditions of 2.5 A / dm 2 , but the same effect was obtained.

【0039】 (メッキ液の組成) スルファミル酸ニッケル 300g/リットル 塩化ニッケル 45g/リットル ホウ酸 45g/リットル 応力調整剤 0.5〜3ml/リットル ピット防止剤 2〜3ml/リットル [実施例2] この実施例に係る配線板も上記配線基板として表裏両面
に銅箔が貼着されたガラス・エポキシ銅貼積層板が適用
されているものである。
(Composition of plating solution) Nickel sulfamate 300 g / L Nickel chloride 45 g / L Boric acid 45 g / L Stress regulator 0.5-3 ml / L Pit inhibitor 2-3 mL / L [Example 2] The wiring board according to the example also employs a glass-epoxy copper-clad laminate in which copper foils are bonded on both front and back surfaces as the wiring board.

【0040】すなわち、この実施例に係る配線板は、図
11に示すように複数枚の内層用回路板と外層用基板
(共に図示せず)とが接着性絶縁層を介し積層されて成
る配線基板1と、この配線基板1に穿設されたスルーホ
ール2と、上記配線基板1上に形成された厚さ35μm
の銅箔製配線層3と、この銅箔製配線層3とスルーホー
ル2内壁面上に設けられた厚さ2〜3μmの金製中間層
5と、この中間層5上に設けられた厚さ30μmの銅め
っき層60と、この銅めっき層60上に設けられたはん
だ層7とでその主要部が構成されているものである。
That is, as shown in FIG. 11, the wiring board according to this embodiment is formed by laminating a plurality of inner-layer circuit boards and outer-layer boards (both not shown) via an adhesive insulating layer. A substrate 1, a through hole 2 formed in the wiring substrate 1, and a 35 μm-thickness formed on the wiring substrate 1.
Copper wiring layer 3, a gold intermediate layer 5 having a thickness of 2 to 3 μm provided on the copper foil wiring layer 3 and the inner wall surface of the through hole 2, and a thickness provided on the intermediate layer 5. The main part is composed of a copper plating layer 60 having a thickness of 30 μm and the solder layer 7 provided on the copper plating layer 60.

【0041】そして、この配線板は以下の工程を経て製
造されたものである。
This wiring board is manufactured through the following steps.

【0042】まず、図13に示すようにその表面に厚さ
35μmの銅箔30が積層された外層用基板と内層用回
路板とを接着製絶縁層を介し積層して配線基板1を構成
した後ドリルにより直径0.35mmのスルーホール2を
穿設した。
First, as shown in FIG. 13, a wiring board 1 was formed by laminating an outer layer substrate and an inner layer circuit board having a 35 μm thick copper foil 30 laminated on the surface thereof through an adhesive insulating layer. A through-hole 2 having a diameter of 0.35 mm was formed by a rear drill.

【0043】次に、図14に示すように上記銅箔30上
のスルーホール2周縁部位と配線層の形成部位を除きレ
ジスト層8をパターン状に形成した後、このレジスト層
8から露出する銅箔30上に下記組成のメッキ液を用い
た無電解メッキ法にて図15に示すように厚さ2〜3μ
mの金製中間層5を形成した。
Next, as shown in FIG. 14, the resist layer 8 is formed in a pattern except for the peripheral portion of the through hole 2 and the portion where the wiring layer is formed on the copper foil 30, and then the copper exposed from the resist layer 8 is formed. As shown in FIG. 15, a thickness of 2 to 3 μm was formed on the foil 30 by an electroless plating method using a plating solution having the following composition.
m of gold intermediate layer 5 was formed.

【0044】 (メッキ液の組成) イオン交換水 500ml シアン化第一金カリウム 4.4g GOBEL−2M 500ml (上村工業社製 商品名) 次に、この中間層5上に通常のメッキ法にて厚さ30μ
mの銅めっき層60を着膜し(図16参照)、かつ、こ
の銅めっき層60上へ図17に示すようにはんだ層7を
着膜する。
(Composition of Plating Solution) Ion-exchanged water 500 ml Potassium gold cyanide 4.4 g GOBEL-2M 500 ml (trade name, manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.) 30μ
Then, a copper plating layer 60 is formed (see FIG. 16), and a solder layer 7 is formed on the copper plating layer 60 as shown in FIG.

【0045】次いで、図18に示すように上記レジスト
層8を銅箔30から除去した後上述した『パネルメッキ
法』にて適用されている銅のエッチング剤によりエッチ
ング処理し、上記はんだ層7から露出する厚さ35μm
の銅箔30をエッチングして銅箔製配線層3を形成し、
併せて上記中間層5と銅めっき層60及びはんだ層7か
ら成る導電層9を形成して図11に示すような上記配線
板を求めた。
Next, as shown in FIG. 18, after removing the resist layer 8 from the copper foil 30, the resist layer 8 is etched with a copper etchant applied in the above-mentioned "panel plating method" to remove the resist layer 8 from the solder layer 7. Exposed thickness 35μm
Is etched to form a copper foil wiring layer 3,
In addition, a conductive layer 9 including the intermediate layer 5, the copper plating layer 60 and the solder layer 7 was formed to obtain the wiring board as shown in FIG.

【0046】そして、この実施例に係る製造方法におい
てもそのエッチング工程においてはんだ層7から露出す
る銅箔30をエッチング処理して銅箔製配線層3と導電
層9とを形成する際、導電層9の一部を構成する上記銅
めっき層60についてははんだ層7と上記中間層5に挟
まれてその厚み方向の露出寸法が30μmと小さくなる
一方、銅箔製配線層3を構成する銅箔30についても上
記中間層5と配線基板1とに挟まれてその厚み方向の露
出寸法は35μmと小さくなる。
In the manufacturing method according to this embodiment, when the copper foil 30 exposed from the solder layer 7 is etched in the etching step to form the copper foil wiring layer 3 and the conductive layer 9, the conductive layer 9, the copper plating layer 60 is sandwiched between the solder layer 7 and the intermediate layer 5 and the exposed dimension in the thickness direction is reduced to 30 μm, while the copper foil forming the copper foil wiring layer 3 is reduced. 30 is also sandwiched between the intermediate layer 5 and the wiring board 1 and its exposed dimension in the thickness direction is reduced to 35 μm.

【0047】従って、図12に示すように銅めっき層6
0や銅箔30のサイドエッチが起こり難くなるため銅箔
製配線層3等の線幅寸法精度の向上が図れ、かつ、はん
だ層7のオーバーハングも小さくなるため回路ショート
も未然に防止することが可能となる利点を有している。
Therefore, as shown in FIG.
0 and side etching of the copper foil 30 are less likely to occur, so that the line width dimensional accuracy of the copper foil wiring layer 3 and the like can be improved, and the overhang of the solder layer 7 can be reduced, thereby preventing a circuit short circuit. This has the advantage that it becomes possible.

【0048】また、上記銅箔製配線層3と導電層9を形
成した後、配線板の製造途上において銅を溶解する適宜
処理剤に導電層9が触れた場合においても中間層5の存
在により導電層9及び銅箔製配線層3が断線されること
がない利点を有している。
After the wiring layer 3 made of copper foil and the conductive layer 9 are formed, even if the conductive layer 9 comes into contact with an appropriate treating agent for dissolving copper during the production of the wiring board, the presence of the intermediate layer 5 also There is an advantage that the conductive layer 9 and the copper foil wiring layer 3 are not disconnected.

【0049】[0049]

【発明の効果】請求項1〜6に係る発明によれば、エッ
チング処理にて導電層と銅製配線層とを形成する際、こ
れ等を構成する銅層、厚膜銅層や銅製皮膜のサイドエッ
チが起こり難くなるため銅製配線層等の線幅寸法精度が
向上しその配線密度を高められる効果を有しており、か
つ、エッチング処理の際にマスク層を構成するはんだ等
のオーバーハングも小さくなるためこのオーバーハング
を原因とする回路ショートも防止することが可能とな
り、更に上記導電層と銅製配線層を形成した後、配線板
の製造途上において銅を溶解する適宜処理剤に上記導電
層が触れた場合においても中間層の存在により導電層及
び銅製配線層が断線されない効果を有している。
According to the first to sixth aspects of the present invention, when the conductive layer and the copper wiring layer are formed by the etching process, the copper layer, the thick copper layer and the side of the copper film constituting these layers are formed. Since the etch hardly occurs, the line width dimensional accuracy of the copper wiring layer and the like is improved, which has the effect of increasing the wiring density, and the overhang of the solder etc. constituting the mask layer during the etching process is also small. Therefore, it is possible to prevent a circuit short-circuit caused by this overhang, and after forming the conductive layer and the copper wiring layer, the conductive layer is appropriately treated with a processing agent that dissolves copper in the course of manufacturing the wiring board. Even when touched, the presence of the intermediate layer has the effect that the conductive layer and the copper wiring layer are not disconnected.

【0050】一方、請求項7〜12に係る発明によれ
ば、そのエッチング工程においてはんだ層若しくはマス
ク層から露出する銅製皮膜をエッチング処理して配線層
と導電層とを形成する際、又は、そのエッチング工程に
おいてはんだ層若しくはマスク層から露出する薄膜銅層
と銅製皮膜とを順次エッチング処理して配線層と導電層
とを形成する際、導電層を構成する銅層又は厚膜銅層に
ついてははんだ層若しくはマスク層と中間層に挟まれて
その厚み方向の露出寸法が小さくなる一方、銅製配線層
を構成する銅製皮膜についても中間層と配線基板とに挟
まれてその厚み方向の露出寸法が小さくなる。
On the other hand, according to the invention according to claims 7 to 12, when the copper film exposed from the solder layer or the mask layer is etched in the etching step to form the wiring layer and the conductive layer, or In the etching step, when the thin film copper layer and the copper film exposed from the solder layer or the mask layer are sequentially etched to form the wiring layer and the conductive layer, the copper layer or the thick copper layer constituting the conductive layer is soldered. While the exposed dimension in the thickness direction is reduced by being sandwiched between the layer or the mask layer and the intermediate layer, the exposed dimension in the thickness direction of the copper film constituting the copper wiring layer is also reduced by being sandwiched between the intermediate layer and the wiring board. Become.

【0051】従って、上記銅層、厚膜銅層や銅製皮膜の
サイドエッチが起こり難くなるため銅製配線層等の線幅
寸法精度が向上しその配線密度の高い銅製配線層等を簡
便にかつ確実に形成できる効果を有しており、かつ、は
んだ層若しくはマスク層を構成するはんだのオーバーハ
ングも小さくなりこのオーバーハングが原因となる回路
ショートも未然に防止できる効果を有している。
Accordingly, since the side etching of the copper layer, the thick copper layer and the copper film hardly occurs, the line width dimensional accuracy of the copper wiring layer and the like is improved, and the copper wiring layer having a high wiring density can be easily and reliably formed. In addition, the overhang of the solder constituting the solder layer or the mask layer is reduced, and the short circuit due to the overhang can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1に係る配線板の部分断面図。FIG. 1 is a partial cross-sectional view of a wiring board according to a first embodiment.

【図2】図1の部分拡大図。FIG. 2 is a partially enlarged view of FIG.

【図3】実施例1の製造工程図。FIG. 3 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図4】実施例1の製造工程図。FIG. 4 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図5】実施例1の製造工程図。FIG. 5 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図6】実施例1の製造工程図。FIG. 6 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図7】実施例1の製造工程図。FIG. 7 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図8】実施例1の製造工程図。FIG. 8 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図9】実施例1の製造工程図。FIG. 9 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図10】実施例1の製造工程図。FIG. 10 is a manufacturing process diagram of the first embodiment.

【図11】実施例2に係る配線板の部分断面図。FIG. 11 is a partial cross-sectional view of a wiring board according to a second embodiment.

【図12】図11の部分拡大図。FIG. 12 is a partially enlarged view of FIG. 11;

【図13】実施例2の製造工程図。FIG. 13 is a manufacturing process diagram of the second embodiment.

【図14】実施例2の製造工程図。FIG. 14 is a manufacturing process diagram of the second embodiment.

【図15】実施例2の製造工程図。FIG. 15 is a manufacturing process diagram of the second embodiment.

【図16】実施例2の製造工程図。FIG. 16 is a manufacturing process diagram of the second embodiment.

【図17】実施例2の製造工程図。FIG. 17 is a manufacturing process diagram of the second embodiment.

【図18】実施例2の製造工程図。FIG. 18 is a manufacturing process diagram of the second embodiment.

【図19】従来の『パネルメッキ法』による配線板の製
造工程途上の斜視図。
FIG. 19 is a perspective view showing a process of manufacturing a wiring board by a conventional “panel plating method”.

【図20】従来の『パネルメッキ法』による配線板の製
造工程途上の斜視図。
FIG. 20 is a perspective view showing a process of manufacturing a wiring board by a conventional “panel plating method”.

【図21】従来の『パネルメッキ法』による配線板の製
造工程途上の斜視図。
FIG. 21 is a perspective view showing a process of manufacturing a wiring board by a conventional “panel plating method”.

【図22】従来の『パネルメッキ法』による配線板の製
造工程途上の斜視図。
FIG. 22 is a perspective view showing a process of manufacturing a wiring board by a conventional “panel plating method”.

【図23】従来の『パネルメッキ法』による配線板の製
造工程途上の斜視図。
FIG. 23 is a perspective view showing a process of manufacturing a wiring board by a conventional “panel plating method”.

【図24】従来の『パネルメッキ法』による配線板の製
造工程途上の斜視図。
FIG. 24 is a perspective view showing a process of manufacturing a wiring board by a conventional “panel plating method”.

【図25】従来の『パネルメッキ法』による配線板の製
造工程途上の斜視図。
FIG. 25 is a perspective view showing a process of manufacturing a wiring board by a conventional “panel plating method”.

【図26】図19の断面図。FIG. 26 is a sectional view of FIG. 19;

【図27】図20の断面図。FIG. 27 is a sectional view of FIG. 20;

【図28】図21の断面図。FIG. 28 is a sectional view of FIG. 21;

【図29】図22の一部断面図。FIG. 29 is a partial sectional view of FIG. 22;

【図30】図23の一部断面図。FIG. 30 is a partial sectional view of FIG. 23;

【図31】従来の製造途上の断面図。FIG. 31 is a sectional view showing a conventional manufacturing process.

【図32】図24の一部断面図。FIG. 32 is a partial sectional view of FIG. 24;

【図33】図32の部分拡大図。FIG. 33 is a partially enlarged view of FIG. 32;

【図34】従来の『パターンメッキ法』の製造工程図。FIG. 34 is a manufacturing process diagram of a conventional “pattern plating method”.

【図35】従来の『パターンメッキ法』の製造工程図。FIG. 35 is a manufacturing process diagram of a conventional “pattern plating method”.

【図36】従来の『パターンメッキ法』の製造工程図。FIG. 36 is a manufacturing process diagram of a conventional “pattern plating method”.

【図37】従来の『パターンメッキ法』の製造工程図。FIG. 37 is a manufacturing process diagram of a conventional “pattern plating method”.

【図38】従来の『パターンメッキ法』の製造工程図。FIG. 38 is a manufacturing process diagram of a conventional “pattern plating method”.

【図39】従来の『パターンメッキ法』の製造工程図。FIG. 39 is a manufacturing process diagram of a conventional “pattern plating method”.

【図40】図39の一部拡大図40 is a partially enlarged view of FIG. 39.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 配線基板 2 スルーホール 3 銅箔製配線層 4 薄膜銅めっき層 5 中間層 6 厚膜銅めっき層 7 はんだ層 9 導電層 60 銅めっき層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wiring board 2 Through hole 3 Copper foil wiring layer 4 Thin copper plating layer 5 Intermediate layer 6 Thick copper plating layer 7 Solder layer 9 Conductive layer 60 Copper plating layer

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】配線基板の両面側に各々形成された銅製配
線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこ
の内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により
接続されている配線板において、上記銅製配線層とスル
ーホール内壁面上に設けられ銅のエッチング剤に対し耐
性を有する導電性の中間層と、この中間層上に設けられ
た銅層と、この銅層上に設けられたはんだ層、とで上記
導電層が構成されていることを特徴とする配線板。
A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of a wiring board are connected by conductive layers formed on inner wall surfaces and peripheral portions thereof through through holes provided in the wiring board. In the above, the copper wiring layer and a conductive intermediate layer provided on the inner wall surface of the through hole and having resistance to a copper etchant, a copper layer provided on the intermediate layer, and provided on the copper layer A wiring layer, wherein the conductive layer comprises: a solder layer;
【請求項2】配線基板の両面側に各々形成された銅製配
線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこ
の内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により
接続されている配線板において、上記銅製配線層とスル
ーホール内壁面上に設けられ銅のエッチング剤に対し耐
性を有する導電性の中間層と、この中間層上に設けられ
た銅層、とで上記導電層が構成されていることを特徴と
する配線板。
2. A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of a wiring board are connected by conductive layers formed on inner wall surfaces and peripheral portions thereof through through holes provided in the wiring board. In the above, the conductive layer is composed of the copper wiring layer and a conductive intermediate layer provided on the inner wall surface of the through hole and having resistance to a copper etchant, and a copper layer provided on the intermediate layer. A wiring board, characterized in that:
【請求項3】配線基板の両面側に各々形成された銅製配
線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこ
の内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により
接続されている配線板において、上記銅製配線層とスル
ーホール内壁面上に設けられた薄膜銅層と、この薄膜銅
層上に設けられ銅のエッチング剤に対し耐性を有する導
電性の中間層と、この中間層上に設けられた厚膜銅層
と、この厚膜銅層上に設けられたはんだ層、とで上記導
電層が構成されていることを特徴とする配線板。
3. A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of a wiring board are connected by conductive layers formed on inner wall surfaces and peripheral portions thereof through through holes provided in the wiring board. In the above, the copper wiring layer and a thin-film copper layer provided on the inner wall surface of the through hole, a conductive intermediate layer provided on the thin-film copper layer and having resistance to a copper etchant, A wiring board, wherein the conductive layer is composed of the provided thick-film copper layer and a solder layer provided on the thick-film copper layer.
【請求項4】配線基板の両面側に各々形成された銅製配
線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこ
の内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により
接続されている配線板において、上記銅製配線層とスル
ーホール内壁面上に設けられた薄膜銅層と、この薄膜銅
層上に設けられ銅のエッチング剤に対し耐性を有する導
電性の中間層と、この中間層上に設けられた厚膜銅層、
とで上記導電層が構成されていることを特徴とする配線
板。
4. A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of the wiring board are connected by conductive layers formed on the inner wall surface and the peripheral portion thereof through through holes provided in the wiring board. In the above, the copper wiring layer and a thin-film copper layer provided on the inner wall surface of the through hole, a conductive intermediate layer provided on the thin-film copper layer and having resistance to a copper etchant, A thick copper layer provided,
A wiring board comprising the conductive layer described above.
【請求項5】上記配線基板が絶縁性接着層を介し複数の
内層用回路板が積層されて成る多層配線板であることを
特徴とする請求項1〜4記載の配線板。
5. The wiring board according to claim 1, wherein said wiring board is a multilayer wiring board formed by laminating a plurality of circuit boards for an inner layer via an insulating adhesive layer.
【請求項6】上記中間層が、金、ニッケル、ロジウム、
あるいはスズで構成されていることを特徴とする請求項
1〜5記載の配線板。
6. The method according to claim 1, wherein the intermediate layer is made of gold, nickel, rhodium,
The wiring board according to claim 1, wherein the wiring board is made of tin.
【請求項7】配線基板の両面側に各々形成された銅製配
線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこ
の内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により
接続されている配線板の製造方法において、銅製皮膜が
その両面側に一様に積層された配線基板にスルーホール
を穿設するスルーホール形成工程と、このスルーホール
の周縁部位と配線層の形成部位を除き上記銅製皮膜上へ
レジスト層をパターン状に形成するレジスト層形成工程
と、このレジスト層から露出する銅製皮膜面とスルーホ
ール内壁面に銅のエッチング剤に対し耐性を有する導電
性の中間層を無電解メッキ法により着膜する中間層形成
工程と、この中間層上へメッキ法により銅層を選択的に
着膜する銅層形成工程と、この銅層上へはんだ層を選択
的に着膜するはんだ層形成工程と、上記レジスト層を除
去した後、はんだ層をマスクにしはんだ層から露出する
銅製皮膜をエッチング処理して上記配線層と導電層とを
形成するエッチング工程、とを具備することを特徴とす
る配線板の製造方法。
7. A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of the wiring board are connected by conductive layers formed on the inner wall surface and the peripheral portion thereof through through holes provided in the wiring board. A method of forming a through-hole in a wiring board in which a copper film is uniformly laminated on both side surfaces thereof, and the above-described copper film except for a peripheral portion of the through-hole and a portion where a wiring layer is formed. A resist layer forming step of forming a resist layer on the upper surface in a pattern, and a conductive intermediate layer having a resistance to a copper etching agent on a copper coating surface and an inner wall surface of the through hole exposed from the resist layer by an electroless plating method. Forming a copper layer on the intermediate layer, selectively forming a copper layer on the intermediate layer by plating, and selectively forming a solder layer on the copper layer. A layer forming step, and after the resist layer is removed, an etching step of etching the copper film exposed from the solder layer using the solder layer as a mask to form the wiring layer and the conductive layer. Method for manufacturing a wiring board.
【請求項8】配線基板の両面側に各々形成された銅製配
線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこ
の内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により
接続されている配線板の製造方法において、銅製皮膜が
その両面側に一様に積層された配線基板にスルーホール
を穿設するスルーホール形成工程と、このスルーホール
の周縁部位と配線層の形成部位を除き上記銅製皮膜上へ
レジスト層をパターン状に形成するレジスト層形成工程
と、このレジスト層から露出する銅製皮膜面とスルーホ
ール内壁面に銅のエッチング剤に対し耐性を有する導電
性の中間層を無電解メッキ法により着膜する中間層形成
工程と、この中間層上へメッキ法により銅層を選択的に
着膜する銅層形成工程と、この銅層上へはんだ又は感光
性樹脂より成るマスク層を選択的に形成するマスク層形
成工程と、上記レジスト層を除去した後、マスク層から
露出する銅製皮膜をエッチング処理して上記配線層と導
電層とを形成するエッチング工程と、上記マスク層を剥
離除去して銅層を露出させる剥離工程、とを具備するこ
とを特徴とする配線板の製造方法。
8. A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of the wiring board are connected by conductive layers formed on the inner wall surface and the peripheral portion thereof through through holes provided in the wiring board. A method of forming a through-hole in a wiring board in which a copper film is uniformly laminated on both side surfaces thereof, and the above-described copper film except for a peripheral portion of the through-hole and a portion where a wiring layer is formed. A resist layer forming step of forming a resist layer on the upper surface in a pattern, and a conductive intermediate layer having a resistance to a copper etchant on a copper coating surface and a through hole inner wall surface exposed from the resist layer is formed by electroless plating. Forming a copper layer on the intermediate layer by plating, and forming a copper layer on the copper layer by using a solder or photosensitive resin. A mask layer forming step of selectively forming a mask layer, an etching step of removing the resist layer, etching a copper film exposed from the mask layer to form the wiring layer and the conductive layer, and A stripping step of stripping and removing the layer to expose the copper layer.
【請求項9】配線基板の両面側に各々形成された銅製配
線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介しこ
の内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層により
接続されている配線板の製造方法において、銅製皮膜が
その両面側に一様に積層された配線基板にスルーホール
を穿設するスルーホール形成工程と、配線基板両面の上
記銅製皮膜面とスルーホールの内壁面に膜厚の小さい薄
膜銅層を無電解メッキ法により着膜する薄膜銅層形成工
程と、スルーホールの周縁部位と配線層の形成部位を除
き上記薄膜銅層上へレジスト層をパターン状に形成する
レジスト層形成工程と、このレジスト層から露出する薄
膜銅層上へ銅のエッチング剤に対し耐性を有する導電性
の中間層をメッキ法により選択的に着膜する中間層形成
工程と、この中間層上へ膜厚の大きい厚膜銅層をメッキ
法により選択的に着膜する厚膜銅層形成工程と、この厚
膜銅層上へはんだ層を選択的に着膜するはんだ層形成工
程と、上記レジスト層を除去した後、はんだ層をマスク
にしはんだ層から露出する薄膜銅層と銅製皮膜とを順次
エッチング処理して上記配線層と導電層とを形成するエ
ッチング工程、とを具備することを特徴とする配線板の
製造方法。
9. A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of the wiring board are connected by conductive layers formed on the inner wall surface and the peripheral portion thereof through through holes provided in the wiring board. A method of forming a through hole in a wiring board having a copper film uniformly laminated on both sides thereof, and forming a film thickness on the copper film surface on both sides of the wiring board and the inner wall surface of the through hole. A thin-film copper layer forming step of depositing a thin-film copper layer having a small thickness by electroless plating, and a resist layer for forming a resist layer in a pattern on the thin-film copper layer except for a peripheral portion of a through hole and a portion for forming a wiring layer Forming an intermediate layer for selectively depositing a conductive intermediate layer having a resistance to a copper etching agent on the thin copper layer exposed from the resist layer by a plating method; A thick copper layer forming step of selectively depositing a thick copper layer having a large thickness by plating, and a solder layer forming step of selectively depositing a solder layer on the thick copper layer, An etching step of forming the wiring layer and the conductive layer by sequentially etching the thin copper layer and the copper film exposed from the solder layer using the solder layer as a mask after removing the resist layer. Characteristic method of manufacturing a wiring board.
【請求項10】配線基板の両面側に各々形成された銅製
配線層が上記配線基板に設けられたスルーホールを介し
この内壁面並びにその周縁部位に形成された導電層によ
り接続されている配線板の製造方法において、銅製皮膜
がその両面側に一様に積層された配線基板にスルーホー
ルを穿設するスルーホール形成工程と、配線基板両面の
上記銅製皮膜面とスルーホールの内壁面に膜厚の小さい
薄膜銅層を無電解メッキ法により着膜する薄膜銅層形成
工程と、スルーホールの周縁部位と配線層の形成部位を
除き上記薄膜銅層上へレジスト層をパターン状に形成す
るレジスト層形成工程と、このレジスト層から露出する
薄膜銅層上へ銅のエッチング剤に対し耐性を有する導電
性の中間層をメッキ法により選択的に着膜する中間層形
成工程と、この中間層上へ膜厚の大きい厚膜銅層をメッ
キ法により選択的に着膜する厚膜銅層形成工程と、この
厚膜銅層上へはんだ又は感光性樹脂より成るマスク層を
選択的に形成するマスク層形成工程と、上記レジスト層
を除去した後、マスク層から露出する薄膜銅層と銅製皮
膜とを順次エッチング処理して上記配線層と導電層とを
形成するエッチング工程と、上記マスク層を剥離除去し
て厚膜銅層を露出させる剥離工程、とを具備することを
特徴とする配線板の製造方法。
10. A wiring board in which copper wiring layers formed on both sides of a wiring board are connected by conductive layers formed on inner wall surfaces and peripheral portions thereof through through holes provided in the wiring board. A method of forming a through hole in a wiring board having a copper film uniformly laminated on both sides thereof, and forming a film thickness on the copper film surface on both sides of the wiring board and the inner wall surface of the through hole. A thin-film copper layer forming step of depositing a thin-film copper layer having a small thickness by electroless plating, and a resist layer for forming a resist layer in a pattern on the thin-film copper layer except for a peripheral portion of a through hole and a portion for forming a wiring layer A forming step, and an intermediate layer forming step of selectively depositing a conductive intermediate layer having resistance to a copper etching agent on the thin film copper layer exposed from the resist layer by a plating method; A thick copper layer forming step of selectively depositing a thick copper layer having a large film thickness on the layer by a plating method, and selectively forming a mask layer made of solder or a photosensitive resin on the thick copper layer. Forming a wiring layer and a conductive layer by sequentially etching the thin copper layer and the copper film exposed from the mask layer after removing the resist layer, and forming the mask layer. A stripping step of stripping off and exposing the thick copper layer to form a wiring board.
【請求項11】上記配線基板が絶縁性接着層を介し複数
の内層用回路板が積層されて成る多層配線板であること
を特徴とする請求項7〜10記載の配線板の製造方法。
11. The method for manufacturing a wiring board according to claim 7, wherein said wiring board is a multilayer wiring board in which a plurality of circuit boards for an inner layer are laminated via an insulating adhesive layer.
【請求項12】上記中間層が、金、ニッケル、ロジウ
ム、あるいはスズで構成されていることを特徴とする請
求項7〜11記載の配線板の製造方法。
12. The method for manufacturing a wiring board according to claim 7, wherein said intermediate layer is made of gold, nickel, rhodium or tin.
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