JP3074888B2 - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JP3074888B2
JP3074888B2 JP04013432A JP1343292A JP3074888B2 JP 3074888 B2 JP3074888 B2 JP 3074888B2 JP 04013432 A JP04013432 A JP 04013432A JP 1343292 A JP1343292 A JP 1343292A JP 3074888 B2 JP3074888 B2 JP 3074888B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路に関
し、特に、バイポーラトランジスタで構成される差動型
の電流切替回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a differential type current switching circuit composed of bipolar transistors.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の半導体集積回路としては、図4に
示すような差動型の電流切替回路が知られている。図4
において、端子1は入力端子であり、端子2,3はそれ
ぞれ第1,第2の出力端子であり、端子4,5はそれぞ
れ第1,第2の制御信号入力端子である。図4に示すよ
うに、第1のNPNトランジスタ6は、コレクタを端子
2に接続され、ベースを端子4に接続され、エミッタを
第2のNPNトランジスタ7のエミッタと共通に端子1
に接続されている。第2のNPNトランジスタ7は、コ
レクタを端子3に接続され、ベースを端子5接続されて
いる。
2. Description of the Related Art As a conventional semiconductor integrated circuit, a differential current switching circuit as shown in FIG. 4 is known. FIG.
, Terminal 1 is an input terminal, terminals 2 and 3 are first and second output terminals, respectively, and terminals 4 and 5 are first and second control signal input terminals, respectively. As shown in FIG. 4, the first NPN transistor 6 has a collector connected to the terminal 2, a base connected to the terminal 4, and an emitter connected to the terminal 1 in common with the emitter of the second NPN transistor 7.
It is connected to the. The second NPN transistor 7 has a collector connected to the terminal 3 and a base connected to the terminal 5.

【0003】次に、上述の如く構成された図4に示す従
来の半導体集積回路の動作について説明する。端子4,
5には、それぞれ互に逆極性となるような第1,第2の
制御信号が印加され、差動接続された第1のNPNトラ
ンジスタ6及び第2のNPNトランジスタ7のベースに
これらの制御信号が入力される。端子1には、端子1よ
り外部へ流出する方向に電流I1が供給される。端子
2,3より外部へ出力される電流I2,I3は、第1,
第2の制御信号の電位をそれぞれΔV,−ΔVとし、第
1及び第2のNPNトランジスタ6,7のそれぞれのエ
ミッタ接地電流増幅率(以下hFEと記す)が等しいとす
ると、下記数式1,数式2で表わされる。
Next, the operation of the conventional semiconductor integrated circuit shown in FIG. 4 configured as described above will be described. Terminal 4,
5 are applied with first and second control signals having opposite polarities, respectively, and these control signals are applied to the bases of the first and second NPN transistors 6 and 7 which are differentially connected. Is entered. A current I1 is supplied to the terminal 1 in a direction from the terminal 1 to the outside. Currents I2 and I3 output from terminals 2 and 3 to the outside are
Assuming that the potentials of the second control signals are ΔV and −ΔV, respectively, and that the grounded emitter current amplification factors (hereinafter, referred to as hFE) of the first and second NPN transistors 6 and 7 are equal, It is represented by 2.

【0004】[0004]

【数1】 I2=(hFE/(hFE+1))×(I1/2)×{1+tanh(ΔV/VT)}I1 = (hFE / (hFE + 1)) × (I1 / 2) × {1 + tanh (ΔV / VT)}

【0005】[0005]

【数2】 I3=(hFE/(hFE+1))×(I1/2)×{1−tanh(ΔV/VT)}I3 = (hFE / (hFE + 1)) × (I1 / 2) × {1-tanh (ΔV / VT)}

【0006】数式1,数式2におけるVTは、VT=KT
/qとなる。ここでKはボルツマン定数,Tは絶対温
度,qは素電荷量であり、常温(27℃)においてVT
は約26mVである。
VT in Equations 1 and 2 is VT = KT
/ Q. Where K is the Boltzmann constant, T is the absolute temperature, q is the elementary charge, and VT at room temperature (27 ° C.).
Is about 26 mV.

【0007】第1の制御信号の電位としたΔVをVTの
5〜10倍となるように設定した場合は、tanh(10)≒
tanh(5)≒1であるので、数式2より電流I3の値はほ
ぼ0となり、数式1より電流I2の値はほぼ(hFE/(h
FE+1))×I1となる。また、第1及び第2の制御信号
の電位の極性を反転した場合、つまり端子4,5に印加
する制御信号の極性を反転した場合には、電流I2の値
はほぼ0となり、電流I3の値はほぼ(hFE/(hFE+
1))×I1となる。つまり、端子4,5に印加する制御
信号の振幅を2ΔV(260mV〜520mV程度)と
して、端子4の電位が端子5の電位より高い場合には、
端子1に入力された電流はhFE/(hFE+1)倍されて端
子2より出力され、端子5の電位が端子4の電位より高
い場合には、端子1に入力された電流はhFE/(hFE+
1)倍されて端子3より出力される。
When ΔV, which is the potential of the first control signal, is set to be 5 to 10 times VT, tanh (10) ≒
Since tanh (5) ≒ 1, the value of the current I3 is almost 0 according to Expression 2, and the value of the current I2 is approximately (hFE / (h
FE + 1)) × I1. Further, when the polarity of the potential of the first and second control signals is inverted, that is, when the polarity of the control signal applied to the terminals 4 and 5 is inverted, the value of the current I2 becomes substantially 0, and The value is approximately (hFE / (hFE +
1)) × I1 That is, when the amplitude of the control signal applied to the terminals 4 and 5 is 2ΔV (about 260 mV to 520 mV) and the potential of the terminal 4 is higher than the potential of the terminal 5,
The current input to terminal 1 is multiplied by hFE / (hFE + 1) and output from terminal 2. When the potential of terminal 5 is higher than the potential of terminal 4, the current input to terminal 1 is hFE / (hFE +
1) Multiplied and output from terminal 3.

【0008】従って、図4に示す従来の半導体集積回路
は、端子4,5に印加する第1及び第2の制御信号によ
り端子2に電流を流すか、又は、端子3に電流を流すか
を切換える電流切換回路として動作する。
Therefore, the conventional semiconductor integrated circuit shown in FIG. 4 determines whether the current flows to the terminal 2 or the terminal 3 by the first and second control signals applied to the terminals 4 and 5. It operates as a switching current switching circuit.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の半導体集積回路では、入力された電流の全てが
それぞれの出力端子より出力されるのではなく、出力の
切換えをするトランジスタのベース電流の分だけ損失を
受けて出力される。このため、この出力電流は、トラン
ジスタのhFEに依存したhFE/(hFE+1)という係数を
入力電流に乗じた値となる。従って、上述した従来の半
導体集積回路は、hFEが半導体製造上のバラツキにより
変動した場合には、出力電流も変動してしまうという問
題点があり、また、hFE自体が温度に対する依存性を有
しているので、温度変化に応じて出力電流が変動してし
まうという問題点があるため、特に高精度,高安定度が
要求される用途においては用いることができない。
However, in the above-described conventional semiconductor integrated circuit, not all of the input current is output from the respective output terminals, but the amount of the base current of the transistor for switching the output. It is output with only loss. Therefore, the output current has a value obtained by multiplying the input current by a coefficient of hFE / (hFE + 1) depending on the hFE of the transistor. Therefore, the above-described conventional semiconductor integrated circuit has a problem that if the hFE fluctuates due to variations in semiconductor manufacturing, the output current also fluctuates, and hFE itself has a dependency on temperature. Therefore, there is a problem that the output current fluctuates in accordance with a change in temperature, so that it cannot be used particularly in applications requiring high accuracy and high stability.

【0010】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、半導体集積回路における差動回路による電
流切換回路において、この電流切換回路を構成するトラ
ンジスタのベース電流による損失を補償することができ
る半導体集積回路を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and in a current switching circuit using a differential circuit in a semiconductor integrated circuit, it is possible to compensate for a loss due to a base current of a transistor constituting the current switching circuit. It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit that can be used.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体集積
回路は、エミッタが共通接続されて差動切換回路を構成
する第1及び第2のトランジスタと、前記第1及び第2
のトランジスタのコレクタに接続された夫々第1及び第
2の電流出力端子と、前記第1及び第2のトランジスタ
のベースに夫々第1及び第2の制御信号を入力する夫々
第1及び第2の制御信号入力端子と、電源端子と、ベー
スが夫々前記第1及び第2の制御端子に接続されコレク
タがいずれも前記電源端子に接続されエミッタが共通接
続された第3及び第4のトランジスタと、ベース及びコ
レクタが前記第1及び第2のトランジスタのエミッタに
接続された第5のトランジスタと、コレクタが前記第3
及び第4のトランジスタのエミッタに接続されベースが
前記第5のトランジスタのベースに接続された第6のト
ランジスタと、前記第5及び第6のトランジスタのエミ
ッタに共通接続され外部から供給される電流を入力する
電流入力端子と、を有することを特徴とする。また、本
発明に係る他の半導体集積回路は、エミッタが共通接続
されて差動切換回路を構成する第1及び第2のトランジ
スタと、前記第1及び第2のトランジスタのコレクタに
接続された夫々第1及び第2の電流出力端子と、前記第
1及び第2のトランジスタのベースに夫々第1及び第2
の制御信号を入力する夫々第1及び第2の制御信号入力
端子と、ベース及びコレクタが前記第1及び第2のトラ
ンジスタのエミッタに接続された第5のトランジスタ
と、ベースが前記第5のトランジスタのベースに接続さ
れた第6のトランジスタと、前記第5及び第6のトラン
ジスタのエミッタに共通接続され外部から供給される電
流を入力する電流入力端子と、電源端子と、コレクタが
前記電源端子に接続されエミッタが前記第6のトランジ
スタのコレクタに接続された第7のトランジスタと、前
記第7のトランジスタのベースに接続され前記ベースに
前記第5及び第6のトランジスタのコレクタ・エミッタ
間電圧を等しくさせるバイアス電圧を印加するバイアス
入力端子と、を有することを特徴とする。
A semiconductor integrated circuit according to the present invention has first and second transistors, the emitters of which are commonly connected to form a differential switching circuit, and the first and second transistors.
First and second current output terminals connected to the collectors of the first and second transistors, respectively, and first and second current input terminals respectively inputting the first and second control signals to the bases of the first and second transistors, respectively. A third and fourth transistor having a control signal input terminal, a power supply terminal, a base connected to the first and second control terminals, a collector connected to the power supply terminal, and an emitter commonly connected, A fifth transistor having a base and a collector connected to the emitters of the first and second transistors, and a collector connected to the third transistor;
And a sixth transistor connected to the emitter of the fourth transistor and having a base connected to the base of the fifth transistor, and a current supplied from the outside commonly connected to the emitters of the fifth and sixth transistors. And a current input terminal for inputting. Further, another semiconductor integrated circuit according to the present invention includes first and second transistors having emitters commonly connected to form a differential switching circuit, and respective transistors connected to collectors of the first and second transistors. First and second current output terminals and first and second current output terminals are respectively connected to the bases of the first and second transistors.
First and second control signal input terminals for inputting the control signals of the first and second transistors, a fifth transistor having a base and a collector connected to the emitters of the first and second transistors, and a base having the fifth transistor. A sixth transistor connected to the base of the fifth transistor, a current input terminal commonly connected to the emitters of the fifth and sixth transistors for inputting a current supplied from the outside, a power supply terminal, and a collector connected to the power supply terminal. A seventh transistor connected and having an emitter connected to the collector of the sixth transistor; and a base connected to the base of the seventh transistor and having the base equalize the collector-emitter voltage of the fifth and sixth transistors. And a bias input terminal for applying a bias voltage to be applied.

【0012】[0012]

【作用】本発明に係る半導体集積回路においては、半導
体集積回路における差動切換回路において、差動切換回
路を構成する複数のトランジスタのベース電流による出
力電流の損失を補償するために、その差動切換回路のエ
ミッタの共通接続点より制御信号を入力し電流入力源を
接地点とするカレントミラー回路による補償回路を備え
ている。この補償回路は、差動切換回路のエミッタの電
位に応じた値の電流をその差動切換回路へ供給すること
により、本半導体集積回路の出力電流に与えるトランジ
スタのhFEの影響を非常に小さくすることができる。
In the semiconductor integrated circuit according to the present invention, in the differential switching circuit in the semiconductor integrated circuit, the differential switching circuit for compensating for the loss of the output current due to the base current of the plurality of transistors constituting the differential switching circuit. A compensation circuit is provided by a current mirror circuit which receives a control signal from a common connection point of the emitters of the switching circuit and uses a current input source as a ground point. The compensating circuit reduces the influence of the transistor hFE on the output current of the semiconductor integrated circuit by supplying a current having a value corresponding to the potential of the emitter of the differential switching circuit to the differential switching circuit. be able to.

【0013】[0013]

【実施例】次に、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0014】図1は、本発明の第1の実施例に係る半導
体集積回路を示す回路図である。図4に示す従来の半導
体集積回路と同一符号及び同一機能を有する部分につい
ては説明を省略する。端子12は電源端子である。第
3,第4のNPNトランジスタ8,9において、ベース
はそれぞれ端子4,5に接続され、エミッタは共通に第
6のNPNトランジスタ11に接続され、コレクタは共
通に端子12に接続されている。第5のNPNトランジ
スタ10のベース及びコレクタは、第6のNPNトラン
ジスタ11のベースと共に第1,第2のNPNトランジ
スタ6,7のエミッタの共通接続点に接続される。第
5,第6のNPNトランジスタ10,11のエミッタ
は、共通に端子1に接続される。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a first embodiment of the present invention. Descriptions of parts having the same reference numerals and functions as those of the conventional semiconductor integrated circuit shown in FIG. 4 are omitted. Terminal 12 is a power supply terminal. In the third and fourth NPN transistors 8 and 9, the bases are connected to the terminals 4 and 5, respectively, the emitters are commonly connected to the sixth NPN transistor 11, and the collectors are commonly connected to the terminal 12. The base and the collector of the fifth NPN transistor 10 are connected to the common connection point of the emitters of the first and second NPN transistors 6 and 7 together with the base of the sixth NPN transistor 11. The emitters of the fifth and sixth NPN transistors 10 and 11 are commonly connected to the terminal 1.

【0015】本第1の実施例に係る半導体集積回路にお
いて用いている全てのトランジスタは、一つの半導体基
板上の集積回路として構成されており、同一形状を有す
るトランジスタであるため、その特性もほとんど揃って
おり同一とみなすことができる。従って、その全てのト
ランジスタについて、パラメータとしてのhFEを同一と
みなすことができる。
All the transistors used in the semiconductor integrated circuit according to the first embodiment are configured as integrated circuits on one semiconductor substrate and have the same shape, and therefore have almost no characteristics. They are complete and can be considered the same. Therefore, hFE as a parameter can be regarded as the same for all the transistors.

【0016】次に、上述の如く構成された本第1の実施
例に係る半導体集積回路の動作について説明する。端子
1に外部より供給される電流I1は、第5及び第6のN
PNトランジスタ10,11のエミッタに等しく分配さ
れる。これにより、第1及び第2のNPNトランジスタ
6,7のエミッタ共通接続点に流れる電流I67と、第
3及び第4のNPNトランジスタ8,9のエミッタ共通
接続点に流れる電流I89とは、それぞれ下記数式3,
数式4で表わされる。
Next, the operation of the semiconductor integrated circuit according to the first embodiment configured as described above will be described. The current I1 supplied from the outside to the terminal 1 is the fifth and sixth N
It is equally distributed to the emitters of the PN transistors 10 and 11. As a result, the current I67 flowing to the common emitter connection point of the first and second NPN transistors 6 and 7 and the current I89 flowing to the common emitter connection point of the third and fourth NPN transistors 8 and 9 are as follows. Equation 3,
It is represented by Equation 4.

【0017】[0017]

【数3】I67=((hFE+2)/(hFE+1))×(I1/2)## EQU3 ## I67 = ((hFE + 2) / (hFE + 1)). Times. (I1 / 2)

【0018】[0018]

【数4】I89=(hFE/(hFE+1))×(I1/2)## EQU4 ## I89 = (hFE / (hFE + 1)). Times. (I1 / 2)

【0019】端子4,5に印加される第1,第2の制御
信号の電位をそれぞれΔV,−ΔVとした場合におい
て、端子2,3より外部へ出力される電流I2,I3
は、数式1,数式2におけるI1を数式3に示すI67
と置き換えることにより、それぞれ下記数式5,数式6
で表わされる。
When the potentials of the first and second control signals applied to the terminals 4 and 5 are ΔV and −ΔV, respectively, the currents I 2 and I 3 output to the outside from the terminals 2 and 3
Is given by I67, which represents I1 in Expressions 1 and 2 in Expression 3.
By replacing the following equations (5) and (6), respectively.
Is represented by

【0020】[0020]

【数5】I2={((hFE+1)2-1)/((hFE+1)2 )}×(I1/4)×
{1+tanh(ΔV×VT)}
## EQU5 ## I2 = {((hFE + 1) 2 -1) / ((hFE + 1) 2 )) × (I1 / 4) ×
{1 + tanh (ΔV × VT)}

【0021】[0021]

【数6】I3={((hFE+1)2-1)/((hFE+1)2 )}×(I1/4)×
{1-tanh(ΔV×VT)}
## EQU6 ## I3 = {((hFE + 1) 2 -1) / ((hFE + 1) 2 ) } × (I1 / 4) ×
{1-tanh (ΔV × VT)}

【0022】数式1と数式5を比較すると、数式1の係
数hFE/(hFE+1)が数式5において係数{((hFE+1)2-1)/
((hFE+1)2 )}×(1/2)に置き換えられていることがわか
る。通常、hFEは約100であるので、hFE/(hFE+1)
≒0.9910となり、{((hFE+1)2-1)/((hFE+1)2 )}≒0.999
9となる。従って、従来の半導体集積回路の出力電流
は、その出力電流の0.9%程度の損失をトランジスタ
のベース電流により受けているが、本第1の実施例に係
る半導体集積回路の出力電流は、その出力電流の0.0
%程度を損失するだけである。
Comparing Equation 1 with Equation 5, the coefficient hFE / (hFE + 1) in Equation 1 is calculated by the coefficient に お い て ((hFE + 1) 2 -1) /
It can be seen that ((hFE + 1) 2 ) has been replaced by} × (1/2). Usually, since hFE is about 100, hFE / (hFE + 1)
≒ 0.9910, {((hFE + 1) 2 -1) / ((hFE + 1) 2 )} ≒ 0.999
It becomes 9 . Therefore, the output current of the conventional semiconductor integrated circuit suffers a loss of about 0.9% of the output current due to the base current of the transistor, but the output current of the semiconductor integrated circuit according to the first embodiment is 0.0 of its output current
It only loses about 1 %.

【0023】これにより、本第1の実施例に係る半導体
集積回路は、hFEが有限値であることにより生じる出力
電流の損失が小さくなるので、温度変化に伴うhFEの変
動による出力電流に対する影響も小さくなる。
As a result, in the semiconductor integrated circuit according to the first embodiment, since the loss of the output current caused by the finite hFE is reduced, the influence on the output current by the fluctuation of the hFE due to the temperature change is also reduced. Become smaller.

【0024】第3,第4のNPNトランジスタ8,9
は、第5のNPNトランジスタ10と第6のNPNトラ
ンジスタ11のコレクタ・エミッタ間電圧を等しくし
て、第5,第6のNPNトランジスタ10,11のアー
リ電圧の影響をなくすことにより、第5,第6のNPN
トランジスタ10,11のhFEを実質的に等しくするた
めの、カレントミラー回路を構成する補償用トランジス
タである。
Third and fourth NPN transistors 8, 9
Is designed to equalize the collector-emitter voltages of the fifth NPN transistor 10 and the sixth NPN transistor 11 and eliminate the influence of the Early voltage of the fifth and sixth NPN transistors 10 and 11, thereby reducing the fifth and fifth NPN transistors 10 and 11. Sixth NPN
This is a compensating transistor constituting a current mirror circuit for making the hFE of the transistors 10 and 11 substantially equal.

【0025】なお、数式5においては、数式1より係数
1/2が余分に掛けられているため、出力電流は入力電
流に対して1/2の値になってしまうが、電流切替回路
の特性としては入力電流と出力電流の比が常に一定であ
ることが主に求められるので、この出力電流の減衰は問
題とならない。
In equation (5), the output current is 1 / of the input current, because the coefficient is multiplied by 1/2 compared to equation (1). Since it is mainly required that the ratio between the input current and the output current is always constant, the attenuation of the output current does not matter.

【0026】次に、本発明の第2の実施例について添付
の図面を参照して説明する。図2は、本発明の第2の実
施例に係る半導体集積回路を示す回路図である。図1に
示す本発明の第1の実施例に係る半導体集積回路と同一
符号及び同一機能を有する部分については説明を省略す
る。端子13はバイアスの入力端子であり、第3のNP
Nトランジスタ8のベースに接続されている。また、端
子13に印加されるバイアスは、第1のNPNトランジ
スタ6又は第2のNPNトランジスタ7のどちらか一方
が導通している状態において、第5のNPNトランジス
タ10と第6のNPNトランジスタ11のコレクタ・エ
ミッタ間電圧を等しくさせるためのバイアスであり、端
子4,5に印加する制御信号の高レベル電位と等しい値
の電圧である。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 2 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a second embodiment of the present invention. Descriptions of parts having the same reference numerals and functions as those of the semiconductor integrated circuit according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. 1 are omitted. Terminal 13 is a bias input terminal, and the third NP
It is connected to the base of N transistor 8. Also, the bias applied to the terminal 13 is such that the fifth NPN transistor 10 and the sixth NPN transistor 11 are in a state where either the first NPN transistor 6 or the second NPN transistor 7 is conducting. This is a bias for equalizing the collector-emitter voltage, and has a value equal to the high-level potential of the control signal applied to the terminals 4 and 5.

【0027】以上の構成により、本第2の実施例におい
ては、第1の実施例におけるアーリ電圧補償用トランジ
スタを1個減らすことができる。
With the above configuration, in the second embodiment, the number of the transistors for early voltage compensation in the first embodiment can be reduced by one.

【0028】次に、本発明の第3の実施例について添付
の図面を参照して説明する。図3は、本発明の第3の実
施例に係る半導体集積回路を示す回路図である。図1及
び図2に示す本発明の第1及び第2の実施例に係る半導
体集積回路と同一符号及び同一機能を有する部分につい
ては説明を省略する。端子14は第3の出力端子であ
り、端子15は第3の制御信号入力端子である。端子1
4は第7のNPNトランジスタ16のコレクタに接続さ
れ、端子15は第7のNPNトランジスタ16のベース
に接続される。第7のNPNトランジスタ16のエミッ
タは、第1,第2のNPNトランジスタ6,7のエミッ
タと共通に接続される。端子4,5,15は制御信号入
力端子であり、これらの端子の内の1個を高電位にし
て、残りの2個の端子を同一の低電位とすることによ
り、端子2,3,14の内の1個の端子より電流を出力
することができる。端子4,5,15に印加される高電
位と低電位の電位差は、第1及び第2の実施例と同様に
260mV〜520mV程度にすればよい。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 3 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a third embodiment of the present invention. Descriptions of parts having the same reference numerals and functions as those of the semiconductor integrated circuits according to the first and second embodiments of the present invention shown in FIGS. 1 and 2 are omitted. The terminal 14 is a third output terminal, and the terminal 15 is a third control signal input terminal. Terminal 1
4 is connected to the collector of the seventh NPN transistor 16, and the terminal 15 is connected to the base of the seventh NPN transistor 16. The emitter of the seventh NPN transistor 16 is commonly connected to the emitters of the first and second NPN transistors 6, 7. Terminals 4, 5, and 15 are control signal input terminals. One of these terminals is set to a high potential, and the remaining two terminals are set to the same low potential. Current can be output from one of the terminals. The potential difference between the high potential and the low potential applied to the terminals 4, 5, and 15 may be about 260 mV to 520 mV, as in the first and second embodiments.

【0029】上述のように、本第3の実施例に係る半導
体集積回路は、電流切換回路に用いる差動トランジスタ
に更にトランジスタを追加することにより、切換えるこ
とができる出力の数を容易に増加させることができる。
As described above, the semiconductor integrated circuit according to the third embodiment can easily increase the number of outputs that can be switched by adding a transistor to the differential transistor used in the current switching circuit. be able to.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る半導体
集積回路によれば、半導体集積回路における差動回路に
よる電流切換回路において、差動回路を構成するトラン
ジスタのベース電流による損失を補償するために、カレ
ントミラー回路に基づく補償回路を備えているので、出
力電流に与えるトランジスタのhFEの影響を非常に小さ
くすることができる。これにより、本発明に係る半導体
集積回路は、hFEのバラツキ及び温度変動に対しても高
い安定度を有する出力電流を得ることができる。
As described above, according to the semiconductor integrated circuit of the present invention, in the current switching circuit using the differential circuit in the semiconductor integrated circuit, the loss due to the base current of the transistor constituting the differential circuit is compensated. In addition, since a compensation circuit based on a current mirror circuit is provided, the effect of the transistor hFE on the output current can be extremely reduced. As a result, the semiconductor integrated circuit according to the present invention can obtain an output current having high stability even with respect to hFE variation and temperature fluctuation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例に係る半導体集積回路を
示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施例に係る半導体集積回路を
示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施例に係る半導体集積回路を
示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a semiconductor integrated circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図4】従来の半導体集積回路の一例を示す回路図であ
る。
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a conventional semiconductor integrated circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2,3,4,5,12 ;端子 6,7,8,9,10,11 ;NPNトランジスタ 1, 2, 3, 4, 5, 12; terminal 6, 7, 8, 9, 10, 11; NPN transistor

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 エミッタが共通接続されて差動切換回路
を構成する第1及び第2のトランジスタと、前記第1及
び第2のトランジスタのコレクタに接続された夫々第1
及び第2の電流出力端子と、前記第1及び第2のトラン
ジスタのベースに夫々第1及び第2の制御信号を入力す
る夫々第1及び第2の制御信号入力端子と、電源端子
と、ベースが夫々前記第1及び第2の制御端子に接続さ
れコレクタがいずれも前記電源端子に接続されエミッタ
が共通接続された第3及び第4のトランジスタと、ベー
ス及びコレクタが前記第1及び第2のトランジスタのエ
ミッタに接続された第5のトランジスタと、コレクタが
前記第3及び第4のトランジスタのエミッタに接続され
ベースが前記第5のトランジスタのベースに接続された
第6のトランジスタと、前記第5及び第6のトランジス
タのエミッタに共通接続され外部から供給される電流を
入力する電流入力端子と、を有することを特徴とする半
導体集積回路。
1. A first and a second transistor having emitters connected in common to form a differential switching circuit, and a first and a second transistor respectively connected to collectors of the first and second transistors.
And a second current output terminal, a first and second control signal input terminal for inputting first and second control signals to the bases of the first and second transistors, respectively, a power supply terminal, and a base. Are connected to the first and second control terminals, respectively, are collectors connected to the power supply terminal, and emitters are commonly connected to the third and fourth transistors. The base and the collector are the first and second transistors, respectively. A fifth transistor connected to the emitter of the transistor, a sixth transistor having a collector connected to the emitters of the third and fourth transistors, and a base connected to the base of the fifth transistor; And a current input terminal commonly connected to the emitter of the sixth transistor and receiving a current supplied from the outside.
【請求項2】 エミッタが共通接続されて差動切換回路
を構成する第1及び第2のトランジスタと、前記第1及
び第2のトランジスタのコレクタに接続された夫々第1
及び第2の電流出力端子と、前記第1及び第2のトラン
ジスタのベースに夫々第1及び第2の制御信号を入力す
る夫々第1及び第2の制御信号入力端子と、ベース及び
コレクタが前記第1及び第2のトランジスタのエミッタ
に接続された第5のトランジスタと、ベースが前記第5
のトランジスタのベースに接続された第6のトランジス
タと、前記第5及び第6のトランジスタのエミッタに共
通接続され外部から供給される電流を入力する電流入力
端子と、電源端子と、コレクタが前記電源端子に接続さ
れエミッタが前記第6のトランジスタのコレクタに接続
された第7のトランジスタと、前記第7のトランジスタ
のベースに接続され前記ベースに前記第5及び第6のト
ランジスタのコレクタ・エミッタ間電圧を等しくさせる
バイアス電圧を印加するバイアス入力端子と、を有する
ことを特徴とする半導体集積回路。
2. A first and second transistor having emitters connected in common to form a differential switching circuit, and a first and second transistor respectively connected to collectors of the first and second transistors.
And a second current output terminal; first and second control signal input terminals for inputting first and second control signals to the bases of the first and second transistors, respectively; A fifth transistor connected to the emitters of the first and second transistors, and a base connected to the fifth transistor.
A sixth transistor connected to the base of the third transistor, a current input terminal commonly connected to the emitters of the fifth and sixth transistors for inputting a current supplied from the outside, a power terminal, and a collector connected to the power source. A seventh transistor connected to a terminal and having an emitter connected to the collector of the sixth transistor; and a collector-emitter voltage of the fifth and sixth transistors connected to the base of the seventh transistor and connected to the base. And a bias input terminal for applying a bias voltage for making the same.
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