JP3070521B2 - 光学部品の接合角度測定治具及び測定方法 - Google Patents
光学部品の接合角度測定治具及び測定方法Info
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- JP3070521B2 JP3070521B2 JP13602197A JP13602197A JP3070521B2 JP 3070521 B2 JP3070521 B2 JP 3070521B2 JP 13602197 A JP13602197 A JP 13602197A JP 13602197 A JP13602197 A JP 13602197A JP 3070521 B2 JP3070521 B2 JP 3070521B2
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- Japan
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- optical
- prism
- optical film
- optical component
- measuring
- Prior art date
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光分波器の製造に
関し、特に光学部品の接合角度の測定治具及び方法に関
する。
関し、特に光学部品の接合角度の測定治具及び方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】光学部品の光軸調整方法として、例えば
特開昭６２−３４３４号公報の記載が参照される。同公
報には、光学部品の光軸設定において、基準レーザー
と、ディスクに対して鉛直方向に配置された第１のカメ
ラ及びモニタと、またディスクからの反射光位置に配置
された第２のカメラ及びモニタを備えることにより、偏
光ビームスプリッターによるディスクへの入射角度の調
整とその反射光軸の位置精度の確認が容易に行え、また
ディスクに対する入射光軸を最終的に決定する光学部品
である偏光ビームスプリッターから先に光軸調整をはじ
めることにより、その他入射光学部品個々の光軸誤差を
排除して、確実な入射光軸設定がなされるようにした光
学部品の光軸調整方法が提案されている。
特開昭６２−３４３４号公報の記載が参照される。同公
報には、光学部品の光軸設定において、基準レーザー
と、ディスクに対して鉛直方向に配置された第１のカメ
ラ及びモニタと、またディスクからの反射光位置に配置
された第２のカメラ及びモニタを備えることにより、偏
光ビームスプリッターによるディスクへの入射角度の調
整とその反射光軸の位置精度の確認が容易に行え、また
ディスクに対する入射光軸を最終的に決定する光学部品
である偏光ビームスプリッターから先に光軸調整をはじ
めることにより、その他入射光学部品個々の光軸誤差を
排除して、確実な入射光軸設定がなされるようにした光
学部品の光軸調整方法が提案されている。
【０００３】従来光学膜とプリズムを接着固定した光学
部品の接合角度の測定には、工具顕微鏡を使用してい
た。
部品の接合角度の測定には、工具顕微鏡を使用してい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の測定方
法は、光学部品の接合角度の測定に、多大な作業工数を
要する、という問題点を有している。
法は、光学部品の接合角度の測定に、多大な作業工数を
要する、という問題点を有している。
【０００５】その理由は、光学部品の接合角度を工具顕
微鏡での目合せ調整により測定しており、時間がかかる
ためである。
微鏡での目合せ調整により測定しており、時間がかかる
ためである。
【０００６】したがって、本発明は、上記問題点に鑑み
てなされたものであって、その目的は、光学部品の接合
角度の測定にかかる作業工数の低減及び測定精度向上を
図る測定治具及び測定方法を提供することにある。
てなされたものであって、その目的は、光学部品の接合
角度の測定にかかる作業工数の低減及び測定精度向上を
図る測定治具及び測定方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明の接合角度測定治具は、光学膜と多角反射を
させるためのプリズムを、同一基板上に光路を一方向性
へ通過させるために接着固定する光学部品において、前
記光学膜の光路通過方向に、予め可視光レーザを照射さ
せ、その反射位置を測定することにより、前記光学膜及
び前記プリズムの接合角度を測定する、ように構成して
なることを特徴とする。
め、本発明の接合角度測定治具は、光学膜と多角反射を
させるためのプリズムを、同一基板上に光路を一方向性
へ通過させるために接着固定する光学部品において、前
記光学膜の光路通過方向に、予め可視光レーザを照射さ
せ、その反射位置を測定することにより、前記光学膜及
び前記プリズムの接合角度を測定する、ように構成して
なることを特徴とする。
【０００８】本発明の接合角度測定治具は、好ましく
は、光学膜と多角反射をさせるためのプリズムを同一基
板上に光路を一方向性へ通過させるために接着固定して
なる光学部品を保持する手段と、前記光学部品における
前記光学膜の光路通過方向に、可視光レーザを照射させ
る手段と、前記光学部品の前記光学膜と前記プリズムの
接合部分での反射により発生した反射ビームの位置を確
認するための手段と、を備え、前記反射ビームの反射位
置を測定することにより、前記光学膜と前記プリズムの
接合角度を測定する、ことを特徴とする。
は、光学膜と多角反射をさせるためのプリズムを同一基
板上に光路を一方向性へ通過させるために接着固定して
なる光学部品を保持する手段と、前記光学部品における
前記光学膜の光路通過方向に、可視光レーザを照射させ
る手段と、前記光学部品の前記光学膜と前記プリズムの
接合部分での反射により発生した反射ビームの位置を確
認するための手段と、を備え、前記反射ビームの反射位
置を測定することにより、前記光学膜と前記プリズムの
接合角度を測定する、ことを特徴とする。
【０００９】また、本発明の接合角度測定方法は、光学
膜とプリズムを接合した光学部品の光路通過方向に、可
視光レーザを照射させ、反射ビームの位置を測定するこ
とにより、前記光学膜と前記プリズムの接合角度を測定
する、ことを特徴とする。
膜とプリズムを接合した光学部品の光路通過方向に、可
視光レーザを照射させ、反射ビームの位置を測定するこ
とにより、前記光学膜と前記プリズムの接合角度を測定
する、ことを特徴とする。
【００１０】［発明の概要］本発明においては、光学膜
とプリズムを接合した光学部品の光路通過方向に、予め
可視光レーザを照射させ、その反射位置を測定すること
により、接合角度を測定する。
とプリズムを接合した光学部品の光路通過方向に、予め
可視光レーザを照射させ、その反射位置を測定すること
により、接合角度を測定する。
【００１１】光学部品の接合角度を可視光レーザの反射
ビーム位置により測定を行っているため、目合せ時間が
かかっていた工具顕微鏡測定に対し、瞬時に測定が可能
となる。
ビーム位置により測定を行っているため、目合せ時間が
かかっていた工具顕微鏡測定に対し、瞬時に測定が可能
となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して以下に説明する。
を参照して以下に説明する。
【００１３】図１は、本発明の実施の形態をなす光学部
品の接合角度測定治具の構成を示す斜視図である。図１
を参照すると、この実施の形態は、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光
源１０及びＨｅ−Ｎｅレーザ銃２からなる可視光レーザ
照射部と、プリズムと光学膜を接合した光学部品をセッ
トするワークセット部１と、反射ビーム位置を確認する
反射ビーム位置確認板３と、を備えている。
品の接合角度測定治具の構成を示す斜視図である。図１
を参照すると、この実施の形態は、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光
源１０及びＨｅ−Ｎｅレーザ銃２からなる可視光レーザ
照射部と、プリズムと光学膜を接合した光学部品をセッ
トするワークセット部１と、反射ビーム位置を確認する
反射ビーム位置確認板３と、を備えている。
【００１４】Ｈｅ−Ｎｅレーザ銃２より照射されたＨｅ
−Ｎｅレーザは、ワークセット部１の光学部品に照射さ
れる。光学部品に照射されたＨｅ−Ｎｅレーザは、光学
部品の接合部分にて反射により、ある方向に反射ビーム
が発生する。この反射ビームの位置を反射ビーム位置確
認板３で確認する。
−Ｎｅレーザは、ワークセット部１の光学部品に照射さ
れる。光学部品に照射されたＨｅ−Ｎｅレーザは、光学
部品の接合部分にて反射により、ある方向に反射ビーム
が発生する。この反射ビームの位置を反射ビーム位置確
認板３で確認する。
【００１５】本発明の実施の形態は、光学部品の接合角
度だけでなく、単体の光学部品の形状（角度）を確認に
も適用可能である。
度だけでなく、単体の光学部品の形状（角度）を確認に
も適用可能である。
【００１６】
【実施例】上記した本発明の実施の形態について更に詳
細に説明すべく、本発明の実施例を図面を参照して以下
に説明する。
細に説明すべく、本発明の実施例を図面を参照して以下
に説明する。
【００１７】図１を参照すると、本発明の実施例は、ホ
ルダ１１上にプリズム１３と光学膜（フィルタ）１２が
接合された光学部品をワークセット部１にセットする。
ルダ１１上にプリズム１３と光学膜（フィルタ）１２が
接合された光学部品をワークセット部１にセットする。
【００１８】ワークセット部１に対し水平方向に位置し
たＨｅ−Ｎｅレーザ銃２より、可視光レーザを照射する
と、プリズム１３に接合されたフィルタ１２面で反射ビ
ームが発生し、反射ビーム位置確認板２にて、反射ビー
ム位置を測定する。
たＨｅ−Ｎｅレーザ銃２より、可視光レーザを照射する
と、プリズム１３に接合されたフィルタ１２面で反射ビ
ームが発生し、反射ビーム位置確認板２にて、反射ビー
ム位置を測定する。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光学部品の接合角度の測定に要する作業工数を削減する
と共に、顕微鏡測定と較べても測定精度を向上させ、作
業効率、生産性を向上することができる、という効果を
奏する。
光学部品の接合角度の測定に要する作業工数を削減する
と共に、顕微鏡測定と較べても測定精度を向上させ、作
業効率、生産性を向上することができる、という効果を
奏する。
【００２０】その理由は、本発明においては、可視光レ
ーザの反射ビーム位置の測定により、瞬時に測定が可能
となったからである。
ーザの反射ビーム位置の測定により、瞬時に測定が可能
となったからである。
【図１】本発明の光学部品の接合角度測定治具の一実施
例を示す斜視図である。
例を示す斜視図である。
１ ワークセット部 ２ Ｈｅ−Ｎｅレーザ銃 ３ 反射ビーム位置確認板 １０ Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源 １１ ホルダ １２ フィルタ １３ プリズム
Claims (2)
- 【請求項１】光学膜と多角反射をさせるためのプリズム
を、同一基板上に光路を一方向性へ通過させるために接
着固定する光学部品の接合角度測定方法であって、 前記光学膜と前記プリズムを接合した光学部品の光路通
過方向に、可視光レーザを照射させ、前記光学膜と前記
プリズムの接合部分での反射により発生した反射ビーム
の位置を測定することにより、前記光学膜及び前記プリ
ズムの接合角度を測定する、ことを特徴とする接合角度
測定方法。 - 【請求項２】光学膜と多角反射をさせるためのプリズム
を同一基板上に光路を一方向性へ通過させるために接着
固定してなる光学部品を保持する手段と、 前記光学部品における前記光学膜の光路通過方向に、可
視光レーザを照射させる手段と、 前記光学部品の前記光学膜と前記プリズムの接合部分で
の反射により発生した反射ビームの位置を確認するため
の手段と、 を備え、 前記反射ビームの反射位置を測定することにより、前記
光学膜と前記プリズムの接合角度を測定する、ことを特
徴とする接合角度測定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13602197A JP3070521B2 (ja) | 1997-05-09 | 1997-05-09 | 光学部品の接合角度測定治具及び測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13602197A JP3070521B2 (ja) | 1997-05-09 | 1997-05-09 | 光学部品の接合角度測定治具及び測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10311940A JPH10311940A (ja) | 1998-11-24 |
| JP3070521B2 true JP3070521B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=15165340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13602197A Expired - Lifetime JP3070521B2 (ja) | 1997-05-09 | 1997-05-09 | 光学部品の接合角度測定治具及び測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3070521B2 (ja) |
-
1997
- 1997-05-09 JP JP13602197A patent/JP3070521B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10311940A (ja) | 1998-11-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000425 |