JP3057653B2 - 多点信号選択装置 - Google Patents
多点信号選択装置Info
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- JP3057653B2 JP3057653B2 JP5010827A JP1082793A JP3057653B2 JP 3057653 B2 JP3057653 B2 JP 3057653B2 JP 5010827 A JP5010827 A JP 5010827A JP 1082793 A JP1082793 A JP 1082793A JP 3057653 B2 JP3057653 B2 JP 3057653B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は多点信号選択装置に関す
るものであり、詳しくは、高耐圧の半導体スイッチを用
いた多点信号選択装置における半導体スイッチの入出力
間容量に起因するアナログ入力への誤差を軽減するとと
もに、入力ＲＣフィルタ回路を有する信号処理部に取り
込む場合におけるチャンネル相互間の干渉の軽減に関す
るものである。
るものであり、詳しくは、高耐圧の半導体スイッチを用
いた多点信号選択装置における半導体スイッチの入出力
間容量に起因するアナログ入力への誤差を軽減するとと
もに、入力ＲＣフィルタ回路を有する信号処理部に取り
込む場合におけるチャンネル相互間の干渉の軽減に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】図３はレコーダなどの多点測定装置の入
力ブロックの一例を示すブロック図である。図におい
て、ＩＮ１〜ＩＮｎは複数の測定チャンネルに対応した
入力端子であり、マルチプレクサＭＰＸに接続されてい
る。マルチプレクサＭＰＸはこれら入力端子ＩＮ１〜Ｉ
Ｎｎに入力されるいずれかのアナログ信号を選択的にア
ッテネータＡＴＴに入力する。アッテネータＡＴＴの出
力信号は入力ＲＣフィルタ回路およびプリアンプＰＡを
介してＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに加えられてデジタル信号に
変換され、インターフェースＩＦを介して演算制御部Ｃ
ＰＵに加えられる。これらアッテネータＡＴＴ、入力Ｒ
Ｃフィルタ回路、プリアンプＰＡおよびＡ／Ｄ変換器Ａ
ＤＣは信号処理部を構成している。そして、マルチプレ
クサＭＰＸおよび信号処理部はインターフェースＩＦを
介して演算制御部ＣＰＵにより制御される。
力ブロックの一例を示すブロック図である。図におい
て、ＩＮ１〜ＩＮｎは複数の測定チャンネルに対応した
入力端子であり、マルチプレクサＭＰＸに接続されてい
る。マルチプレクサＭＰＸはこれら入力端子ＩＮ１〜Ｉ
Ｎｎに入力されるいずれかのアナログ信号を選択的にア
ッテネータＡＴＴに入力する。アッテネータＡＴＴの出
力信号は入力ＲＣフィルタ回路およびプリアンプＰＡを
介してＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに加えられてデジタル信号に
変換され、インターフェースＩＦを介して演算制御部Ｃ
ＰＵに加えられる。これらアッテネータＡＴＴ、入力Ｒ
Ｃフィルタ回路、プリアンプＰＡおよびＡ／Ｄ変換器Ａ
ＤＣは信号処理部を構成している。そして、マルチプレ
クサＭＰＸおよび信号処理部はインターフェースＩＦを
介して演算制御部ＣＰＵにより制御される。
【０００３】ところで、このようなマルチプレクサＭＰ
Ｘとしては、高耐圧（例えば１５００Ｖ程度）の半導体
スイッチマトリクスで構成されたものが用いられてい
る。図４はこのような半導体スイッチの一例を示す回路
図である。図において、１は選択的に駆動される発光ダ
イオードであり、その出力光は直列接続された複数のフ
ォトダイオードよりなる受光素子２で検出される。３，
４はＦＥＴよりなるスイッチング素子であり、この受光
素子２の検出出力により同時にオン，オフ駆動されるよ
うに接続されている。すなわち、直列接続された受光素
子２のアノードは各スイッチング素子３，４のゲートに
接続され、直列接続された受光素子２のカソードはスイ
ッチング素子３のソースＳとスイッチング素子４のソー
スＳの接続点に接続されている。
Ｘとしては、高耐圧（例えば１５００Ｖ程度）の半導体
スイッチマトリクスで構成されたものが用いられてい
る。図４はこのような半導体スイッチの一例を示す回路
図である。図において、１は選択的に駆動される発光ダ
イオードであり、その出力光は直列接続された複数のフ
ォトダイオードよりなる受光素子２で検出される。３，
４はＦＥＴよりなるスイッチング素子であり、この受光
素子２の検出出力により同時にオン，オフ駆動されるよ
うに接続されている。すなわち、直列接続された受光素
子２のアノードは各スイッチング素子３，４のゲートに
接続され、直列接続された受光素子２のカソードはスイ
ッチング素子３のソースＳとスイッチング素子４のソー
スＳの接続点に接続されている。
【０００４】このような構成において、例えばスイッチ
ング素子３のドレインＤにアナログ信号が入力されてい
るものとすると、発光ダイオード１が選択的に点灯駆動
されることによりスイッチング素子３，４が同時にオン
になってスイッチング素子４のドレインＤにアナログ信
号が出力されることになる。図５はマルチプレクサＭＰ
Ｘの一例を示す回路図であり、図４の半導体スイッチＡ
Ｓを単なるスイッチとして表記している。図５では１Ｃ
Ｈ〜３０ＣＨの各測定チャンネルに３本の信号線を設け
ているので、各測定チャンネル毎に３個の半導体スイッ
チＡＳを設けている。そして、１ＣＨ〜１０ＣＨ，１１
ＣＨ〜２０ＣＨおよび２１ＣＨ〜３０ＣＨをそれぞれグ
ループＧ１〜Ｇ３に分けて、各グループＧ１〜Ｇ３の出
力信号線Ｌ１〜Ｌ３を共通の信号線Ｌ０に直接接続して
いる。
ング素子３のドレインＤにアナログ信号が入力されてい
るものとすると、発光ダイオード１が選択的に点灯駆動
されることによりスイッチング素子３，４が同時にオン
になってスイッチング素子４のドレインＤにアナログ信
号が出力されることになる。図５はマルチプレクサＭＰ
Ｘの一例を示す回路図であり、図４の半導体スイッチＡ
Ｓを単なるスイッチとして表記している。図５では１Ｃ
Ｈ〜３０ＣＨの各測定チャンネルに３本の信号線を設け
ているので、各測定チャンネル毎に３個の半導体スイッ
チＡＳを設けている。そして、１ＣＨ〜１０ＣＨ，１１
ＣＨ〜２０ＣＨおよび２１ＣＨ〜３０ＣＨをそれぞれグ
ループＧ１〜Ｇ３に分けて、各グループＧ１〜Ｇ３の出
力信号線Ｌ１〜Ｌ３を共通の信号線Ｌ０に直接接続して
いる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のこの
ような構成において、例えば電圧Ｖａのアナログ信号が
入力されている測定チャンネルＣＨ１を選択し他の測定
チャンネルはオフになっている場合を想定すると、電圧
Ｖａは共通の信号線Ｌ０および出力信号線Ｌ１〜Ｌ３を
介してオフになっている各測定チャンネルの合計２９組
の各スイッチの出力側にも加えられ、半導体スイッチの
入出力間容量を充電するとともに図４のドレイン，ドレ
イン間の静電容量も充電する。そして、各測定チャンネ
ルの各スイッチに充電された電荷は、測定チャンネルが
切り換わって電圧が加えられなくなることにより放電さ
れる。
ような構成において、例えば電圧Ｖａのアナログ信号が
入力されている測定チャンネルＣＨ１を選択し他の測定
チャンネルはオフになっている場合を想定すると、電圧
Ｖａは共通の信号線Ｌ０および出力信号線Ｌ１〜Ｌ３を
介してオフになっている各測定チャンネルの合計２９組
の各スイッチの出力側にも加えられ、半導体スイッチの
入出力間容量を充電するとともに図４のドレイン，ドレ
イン間の静電容量も充電する。そして、各測定チャンネ
ルの各スイッチに充電された電荷は、測定チャンネルが
切り換わって電圧が加えられなくなることにより放電さ
れる。
【０００６】例えば続いて測定チャンネルＣＨ２が選択
された場合に放電電流が測定チャンネルＣＨ２に与える
誤差電圧Ｖは、測定チャンネルＣＨ２のスイッチのオン
抵抗をＲ、各測定チャンネルの放電電流をｉ、放電電流
が影響する測定チャンネル数をＮとすると、 Ｖ＝Ｒ×ｉ×Ｎ になる。ここで、図５の場合にはＮ＝２８になり、各測
定チャンネルのアナログ入力信号の測定結果に悪影響を
与えてしまう。
された場合に放電電流が測定チャンネルＣＨ２に与える
誤差電圧Ｖは、測定チャンネルＣＨ２のスイッチのオン
抵抗をＲ、各測定チャンネルの放電電流をｉ、放電電流
が影響する測定チャンネル数をＮとすると、 Ｖ＝Ｒ×ｉ×Ｎ になる。ここで、図５の場合にはＮ＝２８になり、各測
定チャンネルのアナログ入力信号の測定結果に悪影響を
与えてしまう。
【０００７】一方、信号処理部には入力ＲＣフィルタ回
路が接続されていることから、フィルタ回路のコンデン
サが放電し終えない状態で測定チャンネルを切り換える
とコンデンサに残っている電荷が誤差電流として流れて
他の測定チャンネルに対する測定誤差になってしまう。
このようなチャンネル相互間の干渉誤差を防止するため
には、コンデンサの容量を小さくしたり、ある測定チャ
ンネルの測定終了から次の測定チャンネルの測定開始ま
での切換時間を放電に充分なように長く設定する必要が
ある。実際には、フィルタ回路の抵抗の抵抗値を大きく
すると、この抵抗の温度係数による測定誤差やアンプの
バイアス電流による測定誤差の影響が大きくなってしま
う。従って、抵抗値をあまり大きくすることはできず、
フィルタ特性の要求に応じてコンデンサの容量をできる
かぎり大きくせざるを得ない。そこで、例えば６チャン
ネル切換形の多点記録計では、入力ＲＣフィルタ回路を
１０ｋΩの抵抗と４７００ｐＦのコンデンサで構成して
６チャンネルの切換測定を数ｍｓで行うように構成して
いるが、コンデンサの容量はなるだけ大きくしながら測
定チャンネルの測定切換時間は短縮することが望まし
い。
路が接続されていることから、フィルタ回路のコンデン
サが放電し終えない状態で測定チャンネルを切り換える
とコンデンサに残っている電荷が誤差電流として流れて
他の測定チャンネルに対する測定誤差になってしまう。
このようなチャンネル相互間の干渉誤差を防止するため
には、コンデンサの容量を小さくしたり、ある測定チャ
ンネルの測定終了から次の測定チャンネルの測定開始ま
での切換時間を放電に充分なように長く設定する必要が
ある。実際には、フィルタ回路の抵抗の抵抗値を大きく
すると、この抵抗の温度係数による測定誤差やアンプの
バイアス電流による測定誤差の影響が大きくなってしま
う。従って、抵抗値をあまり大きくすることはできず、
フィルタ特性の要求に応じてコンデンサの容量をできる
かぎり大きくせざるを得ない。そこで、例えば６チャン
ネル切換形の多点記録計では、入力ＲＣフィルタ回路を
１０ｋΩの抵抗と４７００ｐＦのコンデンサで構成して
６チャンネルの切換測定を数ｍｓで行うように構成して
いるが、コンデンサの容量はなるだけ大きくしながら測
定チャンネルの測定切換時間は短縮することが望まし
い。
【０００８】本発明は、これらの問題点を解決するもの
であり、その目的は、半導体スイッチのリーク電流や高
周波ノイズに起因する測定誤差を小さくでき、入力ＲＣ
フィルタ回路を有する信号処理部に取り込む場合におけ
るチャンネル相互間の干渉誤差を軽減できる多点信号選
択装置を実現することにある。
であり、その目的は、半導体スイッチのリーク電流や高
周波ノイズに起因する測定誤差を小さくでき、入力ＲＣ
フィルタ回路を有する信号処理部に取り込む場合におけ
るチャンネル相互間の干渉誤差を軽減できる多点信号選
択装置を実現することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の多点信号選択装
置は、入力ＲＣフィルタ回路を有する信号処理部に半導
体スイッチよりなるマルチプレクサを介して多点の入力
信号系統の入力信号を選択的に取り込む多点信号選択装
置において、前記マルチプレクサの各入力信号系統は、
高圧ラインに直列接続された第１，第２の半導体スイッ
チと、低圧ラインを介してアース電位に直列接続された
第３の半導体スイッチと、一端が第１の半導体スイッチ
と第２の半導体スイッチの接続点に接続されて他端が第
３の半導体スイッチの出力側に接続された第４の半導体
スイッチとで構成され、入力信号取り込み時には該当す
る入力信号系統の第１，第２，第３の半導体スイッチは
オンに駆動されて第４の半導体スイッチはオフに駆動さ
れるとともに他の入力信号系統の第１，第２，第３の半
導体スイッチはオフに駆動されて第４の半導体スイッチ
はオンに駆動され、入力信号を取り込む入力信号系統の
切り換えにあたっては一旦全ての入力信号系統の第１，
第３の半導体スイッチはオフに駆動されて第２，第４の
半導体スイッチはオンに駆動されることを特徴とする。
置は、入力ＲＣフィルタ回路を有する信号処理部に半導
体スイッチよりなるマルチプレクサを介して多点の入力
信号系統の入力信号を選択的に取り込む多点信号選択装
置において、前記マルチプレクサの各入力信号系統は、
高圧ラインに直列接続された第１，第２の半導体スイッ
チと、低圧ラインを介してアース電位に直列接続された
第３の半導体スイッチと、一端が第１の半導体スイッチ
と第２の半導体スイッチの接続点に接続されて他端が第
３の半導体スイッチの出力側に接続された第４の半導体
スイッチとで構成され、入力信号取り込み時には該当す
る入力信号系統の第１，第２，第３の半導体スイッチは
オンに駆動されて第４の半導体スイッチはオフに駆動さ
れるとともに他の入力信号系統の第１，第２，第３の半
導体スイッチはオフに駆動されて第４の半導体スイッチ
はオンに駆動され、入力信号を取り込む入力信号系統の
切り換えにあたっては一旦全ての入力信号系統の第１，
第３の半導体スイッチはオフに駆動されて第２，第４の
半導体スイッチはオンに駆動されることを特徴とする。
【００１０】
【作用】入力信号取り込み時には該当する入力信号系統
の第１，第２，第３の半導体スイッチはオンに駆動され
て第４の半導体スイッチはオフに駆動され、他の入力信
号系統の第１，第２，第３の半導体スイッチはオフに駆
動されて第４の半導体スイッチはオンに駆動される。そ
して、入力信号を取り込む入力信号系統の切り換えにあ
たっては一旦全ての入力信号系統の第１，第３の半導体
スイッチはオフに駆動されて第２，第４の半導体スイッ
チはオンに駆動される。
の第１，第２，第３の半導体スイッチはオンに駆動され
て第４の半導体スイッチはオフに駆動され、他の入力信
号系統の第１，第２，第３の半導体スイッチはオフに駆
動されて第４の半導体スイッチはオンに駆動される。そ
して、入力信号を取り込む入力信号系統の切り換えにあ
たっては一旦全ての入力信号系統の第１，第３の半導体
スイッチはオフに駆動されて第２，第４の半導体スイッ
チはオンに駆動される。
【００１１】これにより、入力信号が取り込まれていな
い入力信号系統の第１の半導体スイッチの出力側および
第２の半導体スイッチの入力側は第４の半導体スイッチ
を介してアース電位に接続されるので、半導体スイッチ
の系統のリーク電流や高周波ノイズはアース電位に流れ
ることになり、リーク電流や高周波ノイズに起因する測
定誤差を改善できる。
い入力信号系統の第１の半導体スイッチの出力側および
第２の半導体スイッチの入力側は第４の半導体スイッチ
を介してアース電位に接続されるので、半導体スイッチ
の系統のリーク電流や高周波ノイズはアース電位に流れ
ることになり、リーク電流や高周波ノイズに起因する測
定誤差を改善できる。
【００１２】また、あるチャンネルの測定により入力Ｒ
Ｃフィルタ回路のコンデンサに充電された電荷は、入力
信号系統の切り換えにあたってオン駆動される全ての入
力信号系統の第２，第４の半導体スイッチを介して従来
の自然放電よりも短時間でアース電位に放電され、放電
電流に起因する測定誤差も軽減できる。
Ｃフィルタ回路のコンデンサに充電された電荷は、入力
信号系統の切り換えにあたってオン駆動される全ての入
力信号系統の第２，第４の半導体スイッチを介して従来
の自然放電よりも短時間でアース電位に放電され、放電
電流に起因する測定誤差も軽減できる。
【００１３】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示す回路図であって、図
３と同一部分には同一符号を付けている。なお、図１で
はアッテネータＡＴＴは省略している。図１において、
測定すべき信号系統を選択するマルチプレクサＭＰＸの
各入力信号系統は、高圧ラインＨに直列接続された第
１，第２の半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ２と、低圧ライ
ンＬを介してアース電位に直列接続された第３の半導体
スイッチＳＷ３と、一端が第１の半導体スイッチＳＷ１
と第２の半導体スイッチＳＷ２の接続点に接続されて他
端が第３の半導体スイッチＳＷ３の出力側に接続された
第４の半導体スイッチＳＷ４とで構成されている。各入
力信号系統の第２の半導体スイッチＳＷ２の出力側は入
力ＲＣフィルタ回路を構成する抵抗Ｒの一端に接続さ
れ、この抵抗Ｒの他端は入力ＲＣフィルタ回路を構成す
るコンデンサＣを介してアース電位点に接続されてい
る。ここで、半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ３としては高
耐圧のものを用いる必要があるが、半導体スイッチＳＷ
２，ＳＷ４は耐圧の低いものでもよい。
る。図１は本発明の一実施例を示す回路図であって、図
３と同一部分には同一符号を付けている。なお、図１で
はアッテネータＡＴＴは省略している。図１において、
測定すべき信号系統を選択するマルチプレクサＭＰＸの
各入力信号系統は、高圧ラインＨに直列接続された第
１，第２の半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ２と、低圧ライ
ンＬを介してアース電位に直列接続された第３の半導体
スイッチＳＷ３と、一端が第１の半導体スイッチＳＷ１
と第２の半導体スイッチＳＷ２の接続点に接続されて他
端が第３の半導体スイッチＳＷ３の出力側に接続された
第４の半導体スイッチＳＷ４とで構成されている。各入
力信号系統の第２の半導体スイッチＳＷ２の出力側は入
力ＲＣフィルタ回路を構成する抵抗Ｒの一端に接続さ
れ、この抵抗Ｒの他端は入力ＲＣフィルタ回路を構成す
るコンデンサＣを介してアース電位点に接続されてい
る。ここで、半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ３としては高
耐圧のものを用いる必要があるが、半導体スイッチＳＷ
２，ＳＷ４は耐圧の低いものでもよい。
【００１４】このような構成において、マルチプレクサ
ＭＰＸの各入力信号系統の半導体スイッチＳＷ１〜ＳＷ
４は、演算制御部ＣＰＵの制御に従って図２に示すよう
な３つの動作モードで駆動される。図２において、
（ａ）は他の入力信号系統で入力信号が取り込まれてい
る場合の入力信号系統の状態を示し、（ｂ）は全ての入
力信号系統で入力信号が取り込まれていない場合の入力
信号系統の状態を示し、（ｃ）は入力信号を取り込んで
いる場合の入力信号系統の状態を示している。
ＭＰＸの各入力信号系統の半導体スイッチＳＷ１〜ＳＷ
４は、演算制御部ＣＰＵの制御に従って図２に示すよう
な３つの動作モードで駆動される。図２において、
（ａ）は他の入力信号系統で入力信号が取り込まれてい
る場合の入力信号系統の状態を示し、（ｂ）は全ての入
力信号系統で入力信号が取り込まれていない場合の入力
信号系統の状態を示し、（ｃ）は入力信号を取り込んで
いる場合の入力信号系統の状態を示している。
【００１５】（ａ）の動作モード 半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ３はオフ、半導体
スイッチＳＷ４はオンに駆動される。これにより、第１
の半導体スイッチＳＷ１の出力側および第２の半導体ス
イッチＳＷ２の入力側は第４の半導体スイッチＳＷ４を
介してアース電位に接続されるので、半導体スイッチの
系統のリーク電流や高周波ノイズはアース電位に流れる
ことになり、リーク電流や高周波ノイズに起因する測定
誤差を改善できる。
スイッチＳＷ４はオンに駆動される。これにより、第１
の半導体スイッチＳＷ１の出力側および第２の半導体ス
イッチＳＷ２の入力側は第４の半導体スイッチＳＷ４を
介してアース電位に接続されるので、半導体スイッチの
系統のリーク電流や高周波ノイズはアース電位に流れる
ことになり、リーク電流や高周波ノイズに起因する測定
誤差を改善できる。
【００１６】（ｂ）の動作モード 半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ３はオフ、半導体スイッチ
ＳＷ２，ＳＷ４はオンに駆動される。これにより、ある
入力信号系統の測定により入力ＲＣフィルタ回路のコン
デンサＣに充電された電荷は、全ての入力信号系統の第
２，第４の半導体スイッチＳＷ２，ＳＷ４を介してアー
ス電位に放電され、放電電流に起因する測定誤差も軽減
できる。この場合の放電は従来の自然放電よりも短時間
で行われるので、放電時間を従来と等しくして比較する
とコンデンサＣとして従来よりも容量の大きいものを用
いることができる。
ＳＷ２，ＳＷ４はオンに駆動される。これにより、ある
入力信号系統の測定により入力ＲＣフィルタ回路のコン
デンサＣに充電された電荷は、全ての入力信号系統の第
２，第４の半導体スイッチＳＷ２，ＳＷ４を介してアー
ス電位に放電され、放電電流に起因する測定誤差も軽減
できる。この場合の放電は従来の自然放電よりも短時間
で行われるので、放電時間を従来と等しくして比較する
とコンデンサＣとして従来よりも容量の大きいものを用
いることができる。
【００１７】（ｃ）の動作モード 半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ３はオン、半導体
スイッチＳＷ４はオフに駆動される。これにより、入力
信号は半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ３を介して
入力ＲＣフィルタ回路を含む信号処理系統に取り込まれ
る。実際の測定にあたっては、（ａ），（ｃ）に示す任
意の入力信号系統の入力信号を取り込み測定する動作モ
ードと（ｂ）に示す全ての入力信号系統をオフにして入
力ＲＣフィルタ回路のコンデンサＣに充電された電荷を
アース電位に放電する動作モードとを交互に切り換え
る。
スイッチＳＷ４はオフに駆動される。これにより、入力
信号は半導体スイッチＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ３を介して
入力ＲＣフィルタ回路を含む信号処理系統に取り込まれ
る。実際の測定にあたっては、（ａ），（ｃ）に示す任
意の入力信号系統の入力信号を取り込み測定する動作モ
ードと（ｂ）に示す全ての入力信号系統をオフにして入
力ＲＣフィルタ回路のコンデンサＣに充電された電荷を
アース電位に放電する動作モードとを交互に切り換え
る。
【００１８】図１では、マルチプレクサＭＰＸの入力端
子ＩＮ１の入力信号系統を図２（ｃ）に示す動作モード
にして測定信号を取り込み測定する状態を示している。
この状態では、マルチプレクサＭＰＸの他の入力端子Ｉ
Ｎ２〜ＩＮｎの入力信号系統は図２（ａ）に示す動作モ
ードに設定されている。図１の状態から入力端子ＩＮ２
の入力信号系統の測定に切り換える場合には、一旦全て
の入力端子ＩＮ１〜ＩＮｎの入力信号系統を図２（ｂ）
に示す動作モードに設定して、入力ＲＣフィルタ回路の
コンデンサＣに充電された電荷をアース電位に放電させ
るようにする。
子ＩＮ１の入力信号系統を図２（ｃ）に示す動作モード
にして測定信号を取り込み測定する状態を示している。
この状態では、マルチプレクサＭＰＸの他の入力端子Ｉ
Ｎ２〜ＩＮｎの入力信号系統は図２（ａ）に示す動作モ
ードに設定されている。図１の状態から入力端子ＩＮ２
の入力信号系統の測定に切り換える場合には、一旦全て
の入力端子ＩＮ１〜ＩＮｎの入力信号系統を図２（ｂ）
に示す動作モードに設定して、入力ＲＣフィルタ回路の
コンデンサＣに充電された電荷をアース電位に放電させ
るようにする。
【００１９】なお、上記実施例では３０チャンネルを１
０チャンネルずつの３グループに分ける例を説明した
が、これらの数は適宜変更可能である。
０チャンネルずつの３グループに分ける例を説明した
が、これらの数は適宜変更可能である。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体スイッチのリーク電流や高周波ノイズに起因する
測定誤差を小さくでき、入力ＲＣフィルタ回路を有する
信号処理部に取り込む場合におけるチャンネル相互間の
干渉誤差を軽減できる多点信号選択装置を実現できる。
半導体スイッチのリーク電流や高周波ノイズに起因する
測定誤差を小さくでき、入力ＲＣフィルタ回路を有する
信号処理部に取り込む場合におけるチャンネル相互間の
干渉誤差を軽減できる多点信号選択装置を実現できる。
【図１】本発明の一実施例を示す回路図である。
【図２】図１の動作モードの説明図である。
【図３】多点測定装置の入力ブロックの一例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図４】半導体スイッチの一例を示す回路図である。
【図５】従来のマルチプレクサの一例を示す回路図であ
る。
る。
１ 発光ダイオード ２ 受光素子（フォトダイオード） ３，４ スイッチング素子（ＦＥＴ） ＭＰＸ マルチプレクサ ＡＳ，ＳＷ 半導体スイッチ
Claims (1)
- 【請求項１】入力ＲＣフィルタ回路を有する信号処理部
に半導体スイッチよりなるマルチプレクサを介して多点
の入力信号系統の入力信号を選択的に取り込む多点信号
選択装置において、前記マルチプレクサの各入力信号系
統は、高圧ラインに直列接続された第１，第２の半導体
スイッチと、低圧ラインを介してアース電位に直列接続
された第３の半導体スイッチと、一端が第１の半導体ス
イッチと第２の半導体スイッチの接続点に接続されて他
端が第３の半導体スイッチの出力側に接続された第４の
半導体スイッチとで構成され、 入力信号取り込み時には該当する入力信号系統の第１，
第２，第３の半導体スイッチはオンに駆動されて第４の
半導体スイッチはオフに駆動されるとともに他の入力信
号系統の第１，第２，第３の半導体スイッチはオフに駆
動されて第４の半導体スイッチはオンに駆動され、入力
信号を取り込む入力信号系統の切り換えにあたっては一
旦全ての入力信号系統の第１，第３の半導体スイッチは
オフに駆動されて第２，第４の半導体スイッチはオンに
駆動されることを特徴とする多点信号選択装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5010827A JP3057653B2 (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 多点信号選択装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5010827A JP3057653B2 (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 多点信号選択装置 |
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ID=11761200
Family Applications (1)
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1993
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