JP3057607B2 - 凍結溶液からの脱着による質量分析用試料の調製方法 - Google Patents
凍結溶液からの脱着による質量分析用試料の調製方法Info
- Publication number
- JP3057607B2 JP3057607B2 JP2503086A JP50308690A JP3057607B2 JP 3057607 B2 JP3057607 B2 JP 3057607B2 JP 2503086 A JP2503086 A JP 2503086A JP 50308690 A JP50308690 A JP 50308690A JP 3057607 B2 JP3057607 B2 JP 3057607B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- molecules
- molecule
- solution
- frozen solution
- analyzed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/42—Low-temperature sample treatment, e.g. cryofixation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0459—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for solid samples
- H01J49/0463—Desorption by laser or particle beam, followed by ionisation as a separate step
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N2030/022—Column chromatography characterised by the kind of separation mechanism
- G01N2030/027—Liquid chromatography
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/84—Preparation of the fraction to be distributed
- G01N2030/8411—Intermediate storage of effluent, including condensation on surface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7233—Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T436/00—Chemistry: analytical and immunological testing
- Y10T436/24—Nuclear magnetic resonance, electron spin resonance or other spin effects or mass spectrometry
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 発明の背景 1.発明の分野 本発明は、質量分析用試料の調製方法に係る。さらに
特定的に言えば、本発明は、質量分析のための不揮発性
または不安定な大きな分子の試料の調製方法を指向して
おり、そこでは、先ず大きな分子の溶液を凍結させ、凍
結した分子を脱着させ、そして若し脱着分子が脱着手段
によつて既にイオン化していない場合には、イオン化分
子の質量分析ゾ−ンへの導入に先立つて脱着分子をイオ
ン化するものなのである。この方法は、液体クロマトグ
ラフイ−と機械的にインタフエ−スすることが可能かつ
容易である。
特定的に言えば、本発明は、質量分析のための不揮発性
または不安定な大きな分子の試料の調製方法を指向して
おり、そこでは、先ず大きな分子の溶液を凍結させ、凍
結した分子を脱着させ、そして若し脱着分子が脱着手段
によつて既にイオン化していない場合には、イオン化分
子の質量分析ゾ−ンへの導入に先立つて脱着分子をイオ
ン化するものなのである。この方法は、液体クロマトグ
ラフイ−と機械的にインタフエ−スすることが可能かつ
容易である。
2.先行技術の記載 液体クロマトグラフイ−技術と組合せられた分子の質
量分析において、液体は、しばしば蒸発し、蒸気中の分
子は、質量分析用機器への導入に先立つてイオン化さ
れ、あるいは、溶液を蒸発させて得られた分子は、質量
分析用機器のための粒子あるいは光量子を脱着すること
によりイオン化される。しかしながら、分析用の大きな
不揮発性または熱的に不安定な分子試料の調製のため慣
用されている気化あるいは脱着技術は、溶媒和分子の不
出来な気化あるいは脱着のみならず、かような大きな分
子の制御不能な分裂あるいはクラスタリング（集合）を
招くことがある。（不信頼性） マクラッファテイ−ら（McLafferty et al）に与えら
れた米国特許第3,997,298号は、液体クロマトグラフイ
−／質量分析装置を開示しているが、それは、カラムか
ら溶離した流出液の部分（単／複数）を、充分な真空ポ
ンピングによつて、化学イオン化質量分析計のイオン化
室に直接導入するものである。
量分析において、液体は、しばしば蒸発し、蒸気中の分
子は、質量分析用機器への導入に先立つてイオン化さ
れ、あるいは、溶液を蒸発させて得られた分子は、質量
分析用機器のための粒子あるいは光量子を脱着すること
によりイオン化される。しかしながら、分析用の大きな
不揮発性または熱的に不安定な分子試料の調製のため慣
用されている気化あるいは脱着技術は、溶媒和分子の不
出来な気化あるいは脱着のみならず、かような大きな分
子の制御不能な分裂あるいはクラスタリング（集合）を
招くことがある。（不信頼性） マクラッファテイ−ら（McLafferty et al）に与えら
れた米国特許第3,997,298号は、液体クロマトグラフイ
−／質量分析装置を開示しているが、それは、カラムか
ら溶離した流出液の部分（単／複数）を、充分な真空ポ
ンピングによつて、化学イオン化質量分析計のイオン化
室に直接導入するものである。
ブル−ニ−ら（Brunee et al）に与えられた米国特許
第4,259,572号は、質量分析用イオン化試料の調製方法
を開示しているが、それは、液体クロマトグラフイ−・
カラムからの流出液を、動いているベルトコンベヤ上に
置き、物質を残して溶液中の溶媒を蒸発させ、次いでベ
ルトを、質量分析計に付随しているイオン化室の真空雰
囲気中まで動かす、そこで物質がイオン、電子あるいは
レ−ザから来る光量子の形の高度に濃縮されたエネルギ
−に暴露される。特許権者は、開示された種々の具体例
に共通の主要な概念は、コンベヤベルト上の試料の高度
に集中されたエネルギ−への暴露を、常に非常に短い間
隔、即ち数分の一秒以内に限ることを要求しており、エ
ネルギ−の集中によつて試料分子間の結合が、分子の化
学分解を生じることなにし、あるいはそれに先立つて局
部的に分離する様になされるようにしたと述べている。
第4,259,572号は、質量分析用イオン化試料の調製方法
を開示しているが、それは、液体クロマトグラフイ−・
カラムからの流出液を、動いているベルトコンベヤ上に
置き、物質を残して溶液中の溶媒を蒸発させ、次いでベ
ルトを、質量分析計に付随しているイオン化室の真空雰
囲気中まで動かす、そこで物質がイオン、電子あるいは
レ−ザから来る光量子の形の高度に濃縮されたエネルギ
−に暴露される。特許権者は、開示された種々の具体例
に共通の主要な概念は、コンベヤベルト上の試料の高度
に集中されたエネルギ−への暴露を、常に非常に短い間
隔、即ち数分の一秒以内に限ることを要求しており、エ
ネルギ−の集中によつて試料分子間の結合が、分子の化
学分解を生じることなにし、あるいはそれに先立つて局
部的に分離する様になされるようにしたと述べている。
スツ−ク（Stuke）の米国特許第4,686,366号は、パル
ス・レ−ザビ−ムが質量分析計内で分析されるべき分子
をイオン化するレ−ザ質量分析計を開示している。レ−
ザ・パルスの持続時間は、分析される分子の分裂を避け
るため、数ピコ秒に限られている。
ス・レ−ザビ−ムが質量分析計内で分析されるべき分子
をイオン化するレ−ザ質量分析計を開示している。レ−
ザ・パルスの持続時間は、分析される分子の分裂を避け
るため、数ピコ秒に限られている。
これらの特許は、いずれも分子の不所望な分裂を回避
することを意図した方法を記述しているが、現実の実施
にあたつてかような技術は部分的にしか成功していな
い、つまり分析される特定の分子（単または複数）にも
よるが、ある分子は制御不能に分裂、あるいはクラスタ
し、そしてかような方法は予測不能で、それゆえ信頼で
きないと考えられている。
することを意図した方法を記述しているが、現実の実施
にあたつてかような技術は部分的にしか成功していな
い、つまり分析される特定の分子（単または複数）にも
よるが、ある分子は制御不能に分裂、あるいはクラスタ
し、そしてかような方法は予測不能で、それゆえ信頼で
きないと考えられている。
ベッカ−ら（Becker et al）の米国特許第4,733,073
号は、本発明者らによつてなされた本発明の譲受人に譲
渡され、かつここに相互参照がなされているが、イオン
ビ−ム、電子ビ−ムあるいはレ−ザビ−ムのようなプロ
−ブ・ビ−ムが、分析される表面に対して向けられ、物
質の試料がその表面から取り除かれるようにした試料の
質量分析方法および装置を開示している。次いで、非同
期の高強度レ−ザビ−ムのような電磁放射のビ−ムが、
その表面の上の空間領域に向けられ、その放射ビ−ムの
中で、取り除かれた表面試料の非共鳴的な光イオン化を
生じさせる。イオン化された試料は次いで、質量分析に
供される。
号は、本発明者らによつてなされた本発明の譲受人に譲
渡され、かつここに相互参照がなされているが、イオン
ビ−ム、電子ビ−ムあるいはレ−ザビ−ムのようなプロ
−ブ・ビ−ムが、分析される表面に対して向けられ、物
質の試料がその表面から取り除かれるようにした試料の
質量分析方法および装置を開示している。次いで、非同
期の高強度レ−ザビ−ムのような電磁放射のビ−ムが、
その表面の上の空間領域に向けられ、その放射ビ−ムの
中で、取り除かれた表面試料の非共鳴的な光イオン化を
生じさせる。イオン化された試料は次いで、質量分析に
供される。
過去約10年にわたつて、ブル−ニ−らの特許で述べら
れたような試料の粒子または光量子のボンバ−ドを使用
する大きな不揮発性または熱的に不安定な分子の質量分
析を記述した文献の数多くの例が現れて来た。この開発
を回顧した一論文は、ブッシュおよびク−クス（K.L.Bu
sch and R.G.Cooks）による『大きな壊れ易い不揮発性
分子の質量分析』（“Mass Spectorometry of Large,Fr
agile Molecules"）と題し、サイエンス（Science）Vo
l.218,（1982）,pp.247−254に掲載されたものである。
れたような試料の粒子または光量子のボンバ−ドを使用
する大きな不揮発性または熱的に不安定な分子の質量分
析を記述した文献の数多くの例が現れて来た。この開発
を回顧した一論文は、ブッシュおよびク−クス（K.L.Bu
sch and R.G.Cooks）による『大きな壊れ易い不揮発性
分子の質量分析』（“Mass Spectorometry of Large,Fr
agile Molecules"）と題し、サイエンス（Science）Vo
l.218,（1982）,pp.247−254に掲載されたものである。
この論文に記述された方法の一つは、高速原子バンバ
−ドメント（FAB）と呼ばれる。このFAB法は、ライネハ
−ト（K.L Rhinehart,Jr.）によりサイエンス（Scienc
e,Vol.218,（1982）,pp.254−260）に掲載された『高速
原子バンボ−ドメント質量分析』（“Fast Atom Bombar
dment MassSpectorometry"）と題する論文で、より詳し
く回顧されている。FAB法では、試料は低揮発性の、普
通グリセロ−ルである液体中の溶液とされる。この溶液
は、次いでキロ電子ボルトのエネルギ−の原子によりボ
ンバ−ドされ、質量分析用のイオンを直接生み出す。FA
B技術の主要な潜在的利点の一つは、表面への試料分子
の連続的供給にある。しかしながら、表面への凝離／偏
析を避ける分子の型、表面における分裂分子の蓄積、溶
媒分子からの干渉、ならびに結果として生じる混合試料
中の相対量を定量する困難性が欠点として含まれる。
−ドメント（FAB）と呼ばれる。このFAB法は、ライネハ
−ト（K.L Rhinehart,Jr.）によりサイエンス（Scienc
e,Vol.218,（1982）,pp.254−260）に掲載された『高速
原子バンボ−ドメント質量分析』（“Fast Atom Bombar
dment MassSpectorometry"）と題する論文で、より詳し
く回顧されている。FAB法では、試料は低揮発性の、普
通グリセロ−ルである液体中の溶液とされる。この溶液
は、次いでキロ電子ボルトのエネルギ−の原子によりボ
ンバ−ドされ、質量分析用のイオンを直接生み出す。FA
B技術の主要な潜在的利点の一つは、表面への試料分子
の連続的供給にある。しかしながら、表面への凝離／偏
析を避ける分子の型、表面における分裂分子の蓄積、溶
媒分子からの干渉、ならびに結果として生じる混合試料
中の相対量を定量する困難性が欠点として含まれる。
試料溶液に関する他の質量分析的方法には、質量分析
に先立つ気化およびイオン化のため溶液を直接スプレイ
する方法が含まれる。かようなスプレイ法の第一のも
の、所謂サ−モスプレイ技術は、ベスタル（M.L.Vesta
l）によりサイエンス（Science）Vol.226,（1984）,pp.
275−281に掲載された『高性能液体クロマトグラフイ−
・質量分析』（High−Performance Liquid Chromatogra
phy−Mass Spectorometry）と題する論文に記述され、
そこで、キャピラリ−に充分な熱を加えて、液体がキャ
ピラリ−を通過する際、液体の制御された部分的な気化
が生じるようにした、連行粒子あるいは滴を伴う超音波
ジェットの生成と定義されている。
に先立つ気化およびイオン化のため溶液を直接スプレイ
する方法が含まれる。かようなスプレイ法の第一のも
の、所謂サ−モスプレイ技術は、ベスタル（M.L.Vesta
l）によりサイエンス（Science）Vol.226,（1984）,pp.
275−281に掲載された『高性能液体クロマトグラフイ−
・質量分析』（High−Performance Liquid Chromatogra
phy−Mass Spectorometry）と題する論文に記述され、
そこで、キャピラリ−に充分な熱を加えて、液体がキャ
ピラリ−を通過する際、液体の制御された部分的な気化
が生じるようにした、連行粒子あるいは滴を伴う超音波
ジェットの生成と定義されている。
スプレイ法の第二のもの、所謂エレクトロスプレイ法
は、ワングら（Wong et al）によりジャ−ナル・オブ・
フイジカル・ケミストリ−（Journal of Physical Chem
istry）Vol.92（1988）,pp.546−550に掲載された『ポ
リエチレン・グリコ−ルのエレクトロスプレイ・イオン
化におけるマルチプル・チャ−ジング』（“Multiple C
harging in Electorospray Ionization of Poly（ethyl
en glycols）”と題する論文に記述され、そこで、著者
は、溶液を、接地電位のメタライズしたキャピラリ−管
に対し高い電圧に保たれた金属の注射針を通じてエレク
トロスプレイ室に導入する方法であると述べている。針
先端の高い電場が、出現する液体の表面を荷電し、それ
を荷電滴の微細なスプレイに分散させる。その滴がキャ
ピラリ−管に向かつて進むとき、溶媒は、荷電した溶質
を残して蒸発し、溶質は次いでキャピラリ−管を通じて
質量分析計まで進む。
は、ワングら（Wong et al）によりジャ−ナル・オブ・
フイジカル・ケミストリ−（Journal of Physical Chem
istry）Vol.92（1988）,pp.546−550に掲載された『ポ
リエチレン・グリコ−ルのエレクトロスプレイ・イオン
化におけるマルチプル・チャ−ジング』（“Multiple C
harging in Electorospray Ionization of Poly（ethyl
en glycols）”と題する論文に記述され、そこで、著者
は、溶液を、接地電位のメタライズしたキャピラリ−管
に対し高い電圧に保たれた金属の注射針を通じてエレク
トロスプレイ室に導入する方法であると述べている。針
先端の高い電場が、出現する液体の表面を荷電し、それ
を荷電滴の微細なスプレイに分散させる。その滴がキャ
ピラリ−管に向かつて進むとき、溶媒は、荷電した溶質
を残して蒸発し、溶質は次いでキャピラリ−管を通じて
質量分析計まで進む。
しかしながら、上記の場合の各々において、質量分析
のための生体分子のような大きな不揮発性分子の調製
は、分子を、分子のイオン化に先立ちあるいはイオン化
中に気化させようと試みながらも、依然として大きな分
子の非特徴的分裂またはクラスタリング、あるいは大き
な分子のその他には特徴付けられない、または信頼出来
ない単離の危険を招くものである。
のための生体分子のような大きな不揮発性分子の調製
は、分子を、分子のイオン化に先立ちあるいはイオン化
中に気化させようと試みながらも、依然として大きな分
子の非特徴的分裂またはクラスタリング、あるいは大き
な分子のその他には特徴付けられない、または信頼出来
ない単離の危険を招くものである。
発明の概要 それゆえ、本発明の一目的は、分子の不所望な分裂の
危険を最小限にする手法での、１以上の型の大きな分子
の質量分析用試料の調製方法を提供することにある。
危険を最小限にする手法での、１以上の型の大きな分子
の質量分析用試料の調製方法を提供することにある。
本発明のこの他の目的は、分子の非特定的な分裂、あ
るいは分子の不明瞭で信頼不能な同定を招く危険を最小
限にする手法での、大きな分子の質量分析用純粋または
混合試料の調製方法を提供することにある。
るいは分子の不明瞭で信頼不能な同定を招く危険を最小
限にする手法での、大きな分子の質量分析用純粋または
混合試料の調製方法を提供することにある。
本発明のさらに別の目的は、分析すべき大きな分子を
溶媒中に、あるいは既に存在している適当な溶液を使用
して溶解し、続いて得られた溶液を凍結させ、次いで、
脱着工程中の分子の崩壊の危険を最小限にしながら、凍
結溶液の表面から大きな分子を脱着させることによる、
後続のイオン化のために信頼し得る一様な手法での、１
以上の型の大きな分子の質量分析用試料の調製方法を提
供することにある。
溶媒中に、あるいは既に存在している適当な溶液を使用
して溶解し、続いて得られた溶液を凍結させ、次いで、
脱着工程中の分子の崩壊の危険を最小限にしながら、凍
結溶液の表面から大きな分子を脱着させることによる、
後続のイオン化のために信頼し得る一様な手法での、１
以上の型の大きな分子の質量分析用試料の調製方法を提
供することにある。
本発明のさらに他の目的は、分析すべき大きな分子を
溶媒中に溶解し、得られた溶液を約10-5トルを越えない
蒸気圧を与える温度で凍結させ、次いで、脱着工程中の
分子の崩壊の危険を最小限にしながら、凍結溶液の表面
から大きな分子をエネルギ−源を使用して脱着させるこ
とによる、１以上の大きな分子の質量分析用試料の調製
方法を提供することにある。
溶媒中に溶解し、得られた溶液を約10-5トルを越えない
蒸気圧を与える温度で凍結させ、次いで、脱着工程中の
分子の崩壊の危険を最小限にしながら、凍結溶液の表面
から大きな分子をエネルギ−源を使用して脱着させるこ
とによる、１以上の大きな分子の質量分析用試料の調製
方法を提供することにある。
本発明のさらに別の目的は、分析すべき大きな分子を
溶媒中に溶解し、得られた溶液を凍結させ、次いで、凍
結溶液を約10-5トルを越えない蒸気圧を与える温度まで
冷却し、次いで、脱着工程中の崩壊の危険を最小限にし
ながら、凍結溶液の表面から大きな分子をレ−ザ放射、
イオンビ−ム・ボンバ−ドメントあるいは高速原子ビ−
ム・ボンバ−ドメントのようなエネルギ−源を使用して
脱着させることによる、１以上の大きな分子の質量分析
用試料の調製方法を提供することにある。
溶媒中に溶解し、得られた溶液を凍結させ、次いで、凍
結溶液を約10-5トルを越えない蒸気圧を与える温度まで
冷却し、次いで、脱着工程中の崩壊の危険を最小限にし
ながら、凍結溶液の表面から大きな分子をレ−ザ放射、
イオンビ−ム・ボンバ−ドメントあるいは高速原子ビ−
ム・ボンバ−ドメントのようなエネルギ−源を使用して
脱着させることによる、１以上の大きな分子の質量分析
用試料の調製方法を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、分析すべき大きな分子
を、この大きな分子を脱着させるのに使用するエネルギ
−を強力に吸収する溶媒中に溶解し、得られた溶液を約
10-5トルを越えない蒸気圧を与える温度で凍結させ、次
いで、脱着工程中の分子の崩壊の危険を最小限にしなが
ら、凍結溶液の表面から大きな分子をレ−ザ放射、電子
ビ−ム・ボンバ−ドメント、イオンビ−ム・ボンバ−ド
メントあるいは高速原子ビ−ム・ボンバ−ドメントのよ
うなエネルギ−源を使用して脱着させることによる、１
以上の大きな分子の質量分析用試料の調製方法を提供す
ることにある。
を、この大きな分子を脱着させるのに使用するエネルギ
−を強力に吸収する溶媒中に溶解し、得られた溶液を約
10-5トルを越えない蒸気圧を与える温度で凍結させ、次
いで、脱着工程中の分子の崩壊の危険を最小限にしなが
ら、凍結溶液の表面から大きな分子をレ−ザ放射、電子
ビ−ム・ボンバ−ドメント、イオンビ−ム・ボンバ−ド
メントあるいは高速原子ビ−ム・ボンバ−ドメントのよ
うなエネルギ−源を使用して脱着させることによる、１
以上の大きな分子の質量分析用試料の調製方法を提供す
ることにある。
本発明のさらに別の目的は、分析すべき大きな分子
を、この大きな分子を脱着させるのに使用するエネルギ
−を強力に吸収する溶媒中に溶解し、得られた溶液を凍
結させ、次いで、凍結溶液を約10-5トルを越えない蒸気
圧を与える温度まで冷却し、次いで、脱着工程中の崩壊
の危険を最小限にしながら、凍結試料の表面から大きな
分子をレ−ザ放射、イオンビ−ム・ボンバ−ドメントあ
るいは高速原子ビ−ム・ボンバ−ドメントのようなエネ
ルギ−源を使用して脱着させ、次いで、脱着分子をイオ
ン化エネルギ−源に暴露して、イオン化分子の質量分析
の準備をするよう、脱着分子をイオン化することによ
る、１以上の大きな分子の質量分析用試料の調製方法を
提供することにある。
を、この大きな分子を脱着させるのに使用するエネルギ
−を強力に吸収する溶媒中に溶解し、得られた溶液を凍
結させ、次いで、凍結溶液を約10-5トルを越えない蒸気
圧を与える温度まで冷却し、次いで、脱着工程中の崩壊
の危険を最小限にしながら、凍結試料の表面から大きな
分子をレ−ザ放射、イオンビ−ム・ボンバ−ドメントあ
るいは高速原子ビ−ム・ボンバ−ドメントのようなエネ
ルギ−源を使用して脱着させ、次いで、脱着分子をイオ
ン化エネルギ−源に暴露して、イオン化分子の質量分析
の準備をするよう、脱着分子をイオン化することによ
る、１以上の大きな分子の質量分析用試料の調製方法を
提供することにある。
本発明のこれらおよびその他の目的は、以下の説明お
よび添付図面から明らかとなるであろう。
よび添付図面から明らかとなるであろう。
図面の簡単な説明 第１図は、本発明方法を概括的に描いたフロ−・シ−
ト、 第２図は、本発明方法の実施に関して有用な装置を説
明する一部を切り開いた斜視図、また 第３図は、凍結溶液を大きな分子の真空室内での脱着
を許容するのに充分な低温に維持するのに使用される冷
却手段を示す第２図の一部の分解側断面図である。
ト、 第２図は、本発明方法の実施に関して有用な装置を説
明する一部を切り開いた斜視図、また 第３図は、凍結溶液を大きな分子の真空室内での脱着
を許容するのに充分な低温に維持するのに使用される冷
却手段を示す第２図の一部の分解側断面図である。
発明の詳細な説明 本発明によれば、大きな分子は、最初に、その後かよ
うな大きな分子を脱着させるのに使用するエネルギ−を
吸収することの出来る低分子量の溶媒中の大きな分子を
溶液とし、次いで得られた溶液を凍結させ、次いで、凍
結溶液をレ−ザ、電子ビ−ム、イオンビ−ムあるいは高
速原子ビ−ムのような脱着エネルギ−源に暴露して、か
ような大きな分子を凍結溶液の表面から脱着させること
により、その大きな分子の不所望な分裂の危険を最小限
にしながら、質量分析で分析することが出来る。
うな大きな分子を脱着させるのに使用するエネルギ−を
吸収することの出来る低分子量の溶媒中の大きな分子を
溶液とし、次いで得られた溶液を凍結させ、次いで、凍
結溶液をレ−ザ、電子ビ−ム、イオンビ−ムあるいは高
速原子ビ−ムのような脱着エネルギ−源に暴露して、か
ような大きな分子を凍結溶液の表面から脱着させること
により、その大きな分子の不所望な分裂の危険を最小限
にしながら、質量分析で分析することが出来る。
若し、この大きな分子を脱着させるのに使用するエネ
ルギ−源が同時に分子をイオン化しないならば、脱着分
子を、別の、例えばレ−ザビ−ムの光イオン化源のよう
なエネルギ−源に暴露して、質量分析装置での分子の分
析に先立つて脱着分子をイオン化させてもよい。いずれ
の場合でも、脱着工程中の分裂は避けられるか最小限に
食い止められ、非特定の、あるいは制御不能な分裂は起
こらないようになる。
ルギ−源が同時に分子をイオン化しないならば、脱着分
子を、別の、例えばレ−ザビ−ムの光イオン化源のよう
なエネルギ−源に暴露して、質量分析装置での分子の分
析に先立つて脱着分子をイオン化させてもよい。いずれ
の場合でも、脱着工程中の分裂は避けられるか最小限に
食い止められ、非特定の、あるいは制御不能な分裂は起
こらないようになる。
若し、分子（単または複数）に官能基があり、それが
存在すれば、そこで開裂が起こる特定の点での開裂によ
る、そうした官能基の分析を通じての分子（単または複
数）の同定のための追加的手段を提供するため、大きな
分子あるいは分子の混合物を分裂させることが望ましい
ならば、かような分裂崩壊は、かような分裂に使用され
るエネルギ−が非特定の分裂を避けるべく、および／ま
たは、その中で分子の官能基（複数）が隣接していると
謂う洞察のため分裂の程度をゆっくり変化させるべく注
意深く制御することが出来る別の工程でしてもよい。か
ような後続の別の分裂工程は、当技術に熟達した者に良
く知られており、本発明の一部を成すものではない。
存在すれば、そこで開裂が起こる特定の点での開裂によ
る、そうした官能基の分析を通じての分子（単または複
数）の同定のための追加的手段を提供するため、大きな
分子あるいは分子の混合物を分裂させることが望ましい
ならば、かような分裂崩壊は、かような分裂に使用され
るエネルギ−が非特定の分裂を避けるべく、および／ま
たは、その中で分子の官能基（複数）が隣接していると
謂う洞察のため分裂の程度をゆっくり変化させるべく注
意深く制御することが出来る別の工程でしてもよい。か
ような後続の別の分裂工程は、当技術に熟達した者に良
く知られており、本発明の一部を成すものではない。
凍結溶液を形成し、次いでこの溶液の表面から分子を
局部的にのみ脱着させること、即ち、好ましくは、分子
の質量にもよるが一時に約１から100層の分子、即ち一
時に約300オングストロ−ムの深さまで脱着させること
により、そうでなければ、分子の内いくらかのものの分
裂または反応を招く大量の気化エネルギ−に対する、分
子の暴露を最小限にしながら、大きな分子の制御された
気化を与えることが可能となる。
局部的にのみ脱着させること、即ち、好ましくは、分子
の質量にもよるが一時に約１から100層の分子、即ち一
時に約300オングストロ−ムの深さまで脱着させること
により、そうでなければ、分子の内いくらかのものの分
裂または反応を招く大量の気化エネルギ−に対する、分
子の暴露を最小限にしながら、大きな分子の制御された
気化を与えることが可能となる。
『大きな分子』なる用語の使用により、それに、バイ
オモレキュ−ル、即ち少なくとも500原子質量単位（am
u）の分子量を有する生命化学分子、のような分子を意
味させる。脱着工程中のかような大きな分子の分裂の危
険を最小限にしながら、本発明方法で有利に処理可能な
バイオモレキュ−ルあるいは生命化学分子のような大き
な分子の型の例には、ペプチドおよび多糖類が含まれ
る。
オモレキュ−ル、即ち少なくとも500原子質量単位（am
u）の分子量を有する生命化学分子、のような分子を意
味させる。脱着工程中のかような大きな分子の分裂の危
険を最小限にしながら、本発明方法で有利に処理可能な
バイオモレキュ−ルあるいは生命化学分子のような大き
な分子の型の例には、ペプチドおよび多糖類が含まれ
る。
この大きな分子は、好ましくは、脱着エネルギ−源か
らのエネルギ−を強力に吸収する低分子量溶媒、例えば
レ−ザの波長でのレ−ザ光を強力に吸収する低分子量の
溶媒中に溶解させられ、凍結試料の大部分には脱着エネ
ルギ−は僅かにのみ浸透して、上で議論したように凍結
溶液から、分子の表面の頂上層あるいは頂上のいくらか
が、即ち表面の約１−100層に限つて除去されることが
容易なようにする。
らのエネルギ−を強力に吸収する低分子量溶媒、例えば
レ−ザの波長でのレ−ザ光を強力に吸収する低分子量の
溶媒中に溶解させられ、凍結試料の大部分には脱着エネ
ルギ−は僅かにのみ浸透して、上で議論したように凍結
溶液から、分子の表面の頂上層あるいは頂上のいくらか
が、即ち表面の約１−100層に限つて除去されることが
容易なようにする。
『低分子量の溶媒』とは、約100amuより小さい原子量
を有する分子より本質的に成る１以上の化合物を含む溶
媒を意味する。本発明の実施に使用可能な溶媒の例に
は、水、アルコ−ル、アルデヒド、ケトンおよび有機酸
のような１−５の炭素の有機溶媒およびかような有機溶
媒のハロゲン化誘導体が含まれる。かような溶媒を使用
する理由には、容易な溶解、より豊富な脱着溶媒分子の
流れにおいて、より大きな溶媒和した分子を連行するこ
と、より軽く、より速く運動する溶媒分子との多くの衝
突による大きな分子の内部的な自由度を冷却すること、
衝突の連鎖間における急速なエネルギ−消散、および溶
媒と溶質分子との間の質量の大きな差による質量干渉の
回避が含まれる。
を有する分子より本質的に成る１以上の化合物を含む溶
媒を意味する。本発明の実施に使用可能な溶媒の例に
は、水、アルコ−ル、アルデヒド、ケトンおよび有機酸
のような１−５の炭素の有機溶媒およびかような有機溶
媒のハロゲン化誘導体が含まれる。かような溶媒を使用
する理由には、容易な溶解、より豊富な脱着溶媒分子の
流れにおいて、より大きな溶媒和した分子を連行するこ
と、より軽く、より速く運動する溶媒分子との多くの衝
突による大きな分子の内部的な自由度を冷却すること、
衝突の連鎖間における急速なエネルギ−消散、および溶
媒と溶質分子との間の質量の大きな差による質量干渉の
回避が含まれる。
好ましい実施例に従つた、脱着源からのエネルギ−の
溶媒による吸収の度合いに関して、『強力に吸収する』
なる用語は、脱着源、とりわけ脱着エネルギ−源がレ−
ザ源であるとき、それからのエネルギ−を充分に吸収
し、約70−100％のエネルギ−を凍結溶液の表面の約１
−10マイクロメ−タ以内で吸収するような溶媒を意味す
る。これは、脱着工程において、若し、凍結溶液の質量
全体が刺激されているとすれば、より容易に起き得る大
きな分子の分裂を阻止しながら、大きな分子の所望の制
御された脱着を与える。それにより、試料の不必要な加
熱が避けられ、そして脱着を分子層の極く限られた範囲
に限定することにより、脱着を、より制御され一様なも
の、即ち溶質分子とは無関係なものとすることができ
る。
溶媒による吸収の度合いに関して、『強力に吸収する』
なる用語は、脱着源、とりわけ脱着エネルギ−源がレ−
ザ源であるとき、それからのエネルギ−を充分に吸収
し、約70−100％のエネルギ−を凍結溶液の表面の約１
−10マイクロメ−タ以内で吸収するような溶媒を意味す
る。これは、脱着工程において、若し、凍結溶液の質量
全体が刺激されているとすれば、より容易に起き得る大
きな分子の分裂を阻止しながら、大きな分子の所望の制
御された脱着を与える。それにより、試料の不必要な加
熱が避けられ、そして脱着を分子層の極く限られた範囲
に限定することにより、脱着を、より制御され一様なも
の、即ち溶質分子とは無関係なものとすることができ
る。
溶媒中の大きな分子の濃度は、充分に低くして、溶質
分子の重要な相互作用を避け、刺激ビ−ム−溶媒の相互
作用が脱着プロセス全体を支配することを許容し、この
プロセスが信頼でき一様であるよう、即ち溶質分子の性
質に強くは依存しないようにすべきである。したがつ
て、溶液の濃度は、103溶媒分子につき約１を越えない
溶質分子のものとすべきであり、典型的には、濃度は、
104溶媒分子につき約１を越えない溶質分子のものとな
る。
分子の重要な相互作用を避け、刺激ビ−ム−溶媒の相互
作用が脱着プロセス全体を支配することを許容し、この
プロセスが信頼でき一様であるよう、即ち溶質分子の性
質に強くは依存しないようにすべきである。したがつ
て、溶液の濃度は、103溶媒分子につき約１を越えない
溶質分子のものとすべきであり、典型的には、濃度は、
104溶媒分子につき約１を越えない溶質分子のものとな
る。
本発明にしたがつて低分子量の溶媒に溶けた大きな分
子の溶液を作つた後、溶液は、そこから分析すべき大き
な分子が脱着しうる固体物質を与えるために凍結され
る。
子の溶液を作つた後、溶液は、そこから分析すべき大き
な分子が脱着しうる固体物質を与えるために凍結され
る。
分析すべき凍結溶液試料を作るために凍結される溶液
の量は、大きい必要はなく、より大きい量も許容しうる
が、一滴、例えば最小約１μｌの小量で構成されてよ
い。
の量は、大きい必要はなく、より大きい量も許容しうる
が、一滴、例えば最小約１μｌの小量で構成されてよ
い。
続く脱着工程自体のために、溶液の温度を、液体溶液
を固相に変えるのに充分なように低くすることだけは必
要である。しかしながら、大きな分子は脱着の後、脱着
が真空室で起こることを指令する高真空の質量分析装置
に運ばれなければならない。
を固相に変えるのに充分なように低くすることだけは必
要である。しかしながら、大きな分子は脱着の後、脱着
が真空室で起こることを指令する高真空の質量分析装置
に運ばれなければならない。
この点から、凍結溶液を、脱着に先立つて、そこでの
蒸気圧が凍結溶液を脱着工程前に真空室に入れることを
許容するような充分低い温度まで冷却することが必要で
ある。好ましくは、凍結溶液は、そこでの凍結溶液の蒸
気圧が、約10-5トルを越えない温度、さらに好ましく
は、約10-7トルを越えない温度まで冷却すべきである。
蒸気圧が凍結溶液を脱着工程前に真空室に入れることを
許容するような充分低い温度まで冷却することが必要で
ある。好ましくは、凍結溶液は、そこでの凍結溶液の蒸
気圧が、約10-5トルを越えない温度、さらに好ましく
は、約10-7トルを越えない温度まで冷却すべきである。
この冷却は、凍結溶液を脱着工程が生じる真空室に入
れる前に行なつてよく、効果的である。しかしながら、
凍結溶液を真空室に入れた後、その温度をさらに冷却す
ることも本発明の範囲内である。
れる前に行なつてよく、効果的である。しかしながら、
凍結溶液を真空室に入れた後、その温度をさらに冷却す
ることも本発明の範囲内である。
いずれの場合でも、凍結溶液を真空室の所望の低い圧
力を維持するのに充分な低い温度に維持するため、なら
びに溶媒の優先的な蒸発に由来する試料の頂部における
一様でない濃度分布を避けるため、真空室内に冷却手段
を設けることが必要である。これは、装置の説明で後述
するように、その上に凍結溶液が乗り、それを通じて外
部の冷却源からの溶媒が循環する真空室内のコ−ルド・
プレ−トを含むものであつてよい。
力を維持するのに充分な低い温度に維持するため、なら
びに溶媒の優先的な蒸発に由来する試料の頂部における
一様でない濃度分布を避けるため、真空室内に冷却手段
を設けることが必要である。これは、装置の説明で後述
するように、その上に凍結溶液が乗り、それを通じて外
部の冷却源からの溶媒が循環する真空室内のコ−ルド・
プレ−トを含むものであつてよい。
第２図および第３図を参照すると、本発明の実施に使
用するのに適した装置が概括的に示されている。この装
置のいくつかの局面は、そうしたものの詳細構成に関し
て、相互参照した上述の、ベッカ−らの米国特許第4,73
3,073号に図解し記述された装置とほぼ同様である。
用するのに適した装置が概括的に示されている。この装
置のいくつかの局面は、そうしたものの詳細構成に関し
て、相互参照した上述の、ベッカ−らの米国特許第4,73
3,073号に図解し記述された装置とほぼ同様である。
第２図に示すように、真空室２内には、試料保持具10
が設けられており、その上に凍結溶液の試料８が置かれ
あるいは乗せられている。真空室２内には、さらに慣用
の真空ポンプ手段（図示せず）に導くポ−ト６を含む室
２のための排気手段が設けられている。
が設けられており、その上に凍結溶液の試料８が置かれ
あるいは乗せられている。真空室２内には、さらに慣用
の真空ポンプ手段（図示せず）に導くポ−ト６を含む室
２のための排気手段が設けられている。
第３図でより詳細に示すように、試料保持具10は、さ
らに試料８を、少なくとも10-5トルを越えない温度、好
ましくは、約10-7トルを越えない所望の低い蒸気圧を維
持するのに充分な冷却温度に維持する手段12を含むもの
であつてよい。冷却手段12は、それを通じて外部の冷却
源22からの冷媒が流入管18および流出管20を経由し循環
する１以上の通路16を有する金属バック・プレ−ト14を
含むものであつてよい。
らに試料８を、少なくとも10-5トルを越えない温度、好
ましくは、約10-7トルを越えない所望の低い蒸気圧を維
持するのに充分な冷却温度に維持する手段12を含むもの
であつてよい。冷却手段12は、それを通じて外部の冷却
源22からの冷媒が流入管18および流出管20を経由し循環
する１以上の通路16を有する金属バック・プレ−ト14を
含むものであつてよい。
脱着エネルギ−源手段30は、真空室２の外部あるいは
内部（図示のように）のいずれに置かれてもよいが、脱
着エネルギ−源31および指向手段32を含むものである。
源31には、電子銃、イオン銃あるいはレ−ザが含まれて
よい。キロ電子ボルト・エネルギ−の中性原子あるいは
分子もまた、脱着エネルギ−源31として使用することが
できる。かようなエネルギ−源の構造は、慣用のもの
で、当技術に熟達した者に、例えば電子ビ−ム脱着、イ
オン・ビ−ム・スパツタリングあるいはレ−ザ・マイク
ロプロ−ブ技術からよく知られているものである。
内部（図示のように）のいずれに置かれてもよいが、脱
着エネルギ−源31および指向手段32を含むものである。
源31には、電子銃、イオン銃あるいはレ−ザが含まれて
よい。キロ電子ボルト・エネルギ−の中性原子あるいは
分子もまた、脱着エネルギ−源31として使用することが
できる。かようなエネルギ−源の構造は、慣用のもの
で、当技術に熟達した者に、例えば電子ビ−ム脱着、イ
オン・ビ−ム・スパツタリングあるいはレ−ザ・マイク
ロプロ−ブ技術からよく知られているものである。
脱着エネルギ−源31と結合してエネルギ−源31からの
エネルギ−・ビ−ムを試料８上に指向する指向手段32
は、荷電粒子ビ−ムに対する静電および／または電磁集
束および偏向手段、あるいは試料８の表面上にレ−ザ光
ビ−ムを指向・集束させる鏡およびレンズを含むもので
あつてよい。
エネルギ−・ビ−ムを試料８上に指向する指向手段32
は、荷電粒子ビ−ムに対する静電および／または電磁集
束および偏向手段、あるいは試料８の表面上にレ−ザ光
ビ−ムを指向・集束させる鏡およびレンズを含むもので
あつてよい。
直接イオン化、即ち脱着と同時のイオン化、が適しな
い場合について、真空室２内の脱着分子をイオン化する
ため、イオン化手段40もまた備えられている。イオン化
手段40は、イオン化ビ−ムの位置を決定するのに使用す
る高強度光源42、集束レンズ系44およびアイリス絞り46
を含むものであつてよい。イオン化ビ−ム源42は、典型
的には、高強度レ−ザあるいは分析すべき脱着した大き
な分子の効果的な光イオン化を充分に達成するために共
に結合したレ−ザと光学材料および部品との組合せによ
つて装備される。
い場合について、真空室２内の脱着分子をイオン化する
ため、イオン化手段40もまた備えられている。イオン化
手段40は、イオン化ビ−ムの位置を決定するのに使用す
る高強度光源42、集束レンズ系44およびアイリス絞り46
を含むものであつてよい。イオン化ビ−ム源42は、典型
的には、高強度レ−ザあるいは分析すべき脱着した大き
な分子の効果的な光イオン化を充分に達成するために共
に結合したレ−ザと光学材料および部品との組合せによ
つて装備される。
第２図に示す実施例において、真空室２には、そこを
通じて放射のイオン化ビ−ムが投射される直径方向で対
向している窓52および54が備えられていてよい。この実
施例では、イオン化ビ−ム源42が、真空室２の外側に設
けられ、イオン化ビ−ムは窓52を通じて分析すべき試料
８の表面に近接したイオン化領域に向けられる。イオン
化ビ−ムは、続いて窓54を通じて位置決定アイリス絞り
48を過ぎ、イオン化ビ−ム源42の光強度を監視する役割
の検出器50に受け止められる。
通じて放射のイオン化ビ−ムが投射される直径方向で対
向している窓52および54が備えられていてよい。この実
施例では、イオン化ビ−ム源42が、真空室２の外側に設
けられ、イオン化ビ−ムは窓52を通じて分析すべき試料
８の表面に近接したイオン化領域に向けられる。イオン
化ビ−ムは、続いて窓54を通じて位置決定アイリス絞り
48を過ぎ、イオン化ビ−ム源42の光強度を監視する役割
の検出器50に受け止められる。
イオン化ビ−ム源42は、非共鳴マルチ光量子イオン化
について、106から1012W/cm2の範囲のパワ−密度を有す
るレ−ザを含むものであつてよい。このレ−ザは、タイ
ム・オブ・フライト質量分析のために、約10-8秒または
それ以下の周期のパルスで、パルス駆動されるものであ
つてもよい。非共鳴シングル光量子イオン化に対して
は、より小さい光強度が要求される；しかし一般的に、
パルス当たり少なくとも約1011個の光量子を有するパル
スが効果的なイオン化のために必要とされる。
について、106から1012W/cm2の範囲のパワ−密度を有す
るレ−ザを含むものであつてよい。このレ−ザは、タイ
ム・オブ・フライト質量分析のために、約10-8秒または
それ以下の周期のパルスで、パルス駆動されるものであ
つてもよい。非共鳴シングル光量子イオン化に対して
は、より小さい光強度が要求される；しかし一般的に、
パルス当たり少なくとも約1011個の光量子を有するパル
スが効果的なイオン化のために必要とされる。
脱着時にイオン化しない脱着分子のイオン化は、真空
紫外線（VUV）放射を伴うシングル光量子イオン化を使
用して行つてもよく、これは大きな分子に対する柔軟な
方法で、非選択的であり、また極めて効果的したがつて
高感度にすることができる。非直線的に作られたコ−ヒ
レントな光ビ−ム、例えば、118ナノメ−タで約10.5電
子ボルトのエネルギ−レベルを有するものは、シングル
光量子VUV光イオン化源として便利である。シングル光
量子ビ−ム源の強度は、マルチプル・イオン化が起こら
ないように制御しなければならない。光イオン化・ビ−
ム源の強度は、それゆえ好ましくは吸収確率が、約10％
を越えないように制御される。
紫外線（VUV）放射を伴うシングル光量子イオン化を使
用して行つてもよく、これは大きな分子に対する柔軟な
方法で、非選択的であり、また極めて効果的したがつて
高感度にすることができる。非直線的に作られたコ−ヒ
レントな光ビ−ム、例えば、118ナノメ−タで約10.5電
子ボルトのエネルギ−レベルを有するものは、シングル
光量子VUV光イオン化源として便利である。シングル光
量子ビ−ム源の強度は、マルチプル・イオン化が起こら
ないように制御しなければならない。光イオン化・ビ−
ム源の強度は、それゆえ好ましくは吸収確率が、約10％
を越えないように制御される。
マルチプル光量子は、若し特定の分析すべき大きな分
子のイオン化ポテンシャルが、より短い波長即ち約130
ナノメ−タより短い波長を使用しない限りシングル光量
子エネルギ−より高い時にも脱着分子をイオン化するの
に使用してもよい。しかしながら、マルチプル光量子イ
オン化を使用した時、強度の制御はとりわけて重要とな
る、と言うのは、分子の制御不能な崩壊が生じる暴走
（runaway）吸収条件を経験することがあるからであ
る。一般的に、約107W/cm2を越えないレ−ザ・パワ−密
度が適当である。
子のイオン化ポテンシャルが、より短い波長即ち約130
ナノメ−タより短い波長を使用しない限りシングル光量
子エネルギ−より高い時にも脱着分子をイオン化するの
に使用してもよい。しかしながら、マルチプル光量子イ
オン化を使用した時、強度の制御はとりわけて重要とな
る、と言うのは、分子の制御不能な崩壊が生じる暴走
（runaway）吸収条件を経験することがあるからであ
る。一般的に、約107W/cm2を越えないレ−ザ・パワ−密
度が適当である。
しかしながら、シングルあるいはマルチプル光量子イ
オン化のいずれを使うかで、分析すべき大きな分子のイ
オン化に必要とされるエネルギ−を越えるある追加的な
エネルギ−の吸収が、大きな分子に付着しているすべて
の溶媒分子を振り払うのに使われてよい振動エネルギ−
に変換されることがあり、また追加的に吸収されたエネ
ルギ−が、単に電子除去における動力学的エネルギ−と
して消散すると言うことに注意しなければならない。
オン化のいずれを使うかで、分析すべき大きな分子のイ
オン化に必要とされるエネルギ−を越えるある追加的な
エネルギ−の吸収が、大きな分子に付着しているすべて
の溶媒分子を振り払うのに使われてよい振動エネルギ−
に変換されることがあり、また追加的に吸収されたエネ
ルギ−が、単に電子除去における動力学的エネルギ−と
して消散すると言うことに注意しなければならない。
真空室２はさらに、第２図で一般的に60で示す本発明
による凍結溶液から脱着し、イオン化した大きな分子の
質量分析のための質量分析手段を含んで（あるいは、そ
れと結合して）いてもよい。この質量分析手段60の代替
的な型は、ここに相互参照した上述の、ベッカ−らの米
国特許第4,733,073号で、より詳細に議論されている。
による凍結溶液から脱着し、イオン化した大きな分子の
質量分析のための質量分析手段を含んで（あるいは、そ
れと結合して）いてもよい。この質量分析手段60の代替
的な型は、ここに相互参照した上述の、ベッカ−らの米
国特許第4,733,073号で、より詳細に議論されている。
かように、本発明は、凍結溶液からの脱着が、脱着工
程中、大きな分子の分裂あるいはクラスタリングを最小
限に止める手法での質量分析のための大きな分子の処理
方法を提供する。イオン化は、脱着される分子にもよる
が、脱着工程と一緒に行つてもよく、また別のイオン化
工程で行つてもよい。或る特徴的な崩壊が、質量分析の
ために望ましいときがあるので、本発明のシステムは、
制御された手法での意図的崩壊工程（例えば的レ−ザ放
射あるいは衝突活性化）の追加を容易にするのに役立つ
ようにされている。このようにして、脱着、イオン化お
よび、必要なら崩壊の３プロセスは、最大の効果のため
に最大限に断結合（decouple）されていてよい。
程中、大きな分子の分裂あるいはクラスタリングを最小
限に止める手法での質量分析のための大きな分子の処理
方法を提供する。イオン化は、脱着される分子にもよる
が、脱着工程と一緒に行つてもよく、また別のイオン化
工程で行つてもよい。或る特徴的な崩壊が、質量分析の
ために望ましいときがあるので、本発明のシステムは、
制御された手法での意図的崩壊工程（例えば的レ−ザ放
射あるいは衝突活性化）の追加を容易にするのに役立つ
ようにされている。このようにして、脱着、イオン化お
よび、必要なら崩壊の３プロセスは、最大の効果のため
に最大限に断結合（decouple）されていてよい。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−95348（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−111052（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−81290（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−71353（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 27/62 - 27/70 G01N 30/72 H01J 49/00 - 49/48
Claims (21)
- 【請求項１】次記の各工程； （ａ）溶液を形成するように溶媒中に溶解させて、分析
すべき１以上の型の分子を含む溶液を与える工程、 （ｂ）溶解した分子の該溶液を、凍結溶液を形成するよ
うに連結する工程、および （ｃ）該凍結溶液を、分析すべき分子を該凍結溶液の表
面から脱着させるエネルギ−源に暴露する工程 を含む質量分析用不揮発性分子試料の調製に有用な方法
において、分析すべき１以上の分子を溶解して含む該溶
液を与える該工程が、さらに、少なくとも約500amuの質
量を有する１以上の型の分子を溶解した溶液を与えるこ
とを含み、分析すべき該１以上の分子を含む溶液を与え
る該工程が、さらに、該分子を、該大きな分子を脱着す
るのに使用するエネルギ−を強力に吸収する溶媒に溶解
させる工程を含み、該溶媒が、該分子の、該凍結溶液の
表面からの脱着を、該エネルギ−の凍結溶液の表面より
下での実質的吸収がなく、そのため溶液全体の加熱を阻
止するように許容するものであることを特徴とする前記
方法。 - 【請求項２】さらに、脱着した分子を質量分析領域に運
ぶ工程を含むことを特徴とする請求の範囲第１項記載の
方法。 - 【請求項３】分析すべき該分子を溶媒に溶解させる該工
程が、該分子の低分子量溶媒中への溶解を含むものであ
ることを特徴とする請求の範囲第２項記載の方法。 - 【請求項４】分析すべき該分子を低分子量溶媒に溶解さ
せる該工程が、さらに該分子の約100amuより小さい原子
量を有する溶媒分子より本質的になる溶媒中への溶解を
含むものであることを特徴とする請求の範囲第３項記載
の方法。 - 【請求項５】分析すべき該分子を低分子量溶媒に溶解さ
せる該工程が、さらに該分子を、水、１−５炭素原子の
有機溶媒およびその混合物よりなる群から選ばれた溶媒
への溶解を含むものであることを特徴とする請求の範囲
第３項記載の方法。 - 【請求項６】溶解した分子の該溶液を凍結させる該工程
が、さらに、10-5トルを越えない蒸気圧を有する凍結溶
液を形成させることを含むものであることを特徴とする
請求の範囲第１項記載の方法。 - 【請求項７】さらに、分析すべき該分子の該凍結溶液を
真空室に運び、該凍結溶液を、該分子を該凍結溶液の表
面から脱着させる間、10-5トルを越えない圧力に維持す
る工程を含むことを特徴とする請求の範囲第１項記載の
方法。 - 【請求項８】分析すべき該分子の該凍結溶液を、該分子
を脱着させるエネルギ−源に暴露する該工程が、該凍結
溶液を、レ−ザ放射に暴露するものであることを特徴と
する請求の範囲第１項記載の方法。 - 【請求項９】分析すべき該分子の該凍結溶液を、該分子
を脱着させるエネルギ−源に暴露する該工程が、該凍結
溶液を、イオン・ビ−ム・ボンバ−ドメントに暴露する
ものであることを特徴とする請求の範囲第１項記載の方
法。 - 【請求項１０】分析すべき該分子の該凍結溶液を、該分
子を脱着させるエネルギ−源に暴露する該工程が、該凍
結溶液を、電子ビ−ム・ボンバ−ドメントに暴露するも
のであることを特徴とする請求の範囲第１項記載の方
法。 - 【請求項１１】分析すべき該分子の該凍結溶液を、該分
子を脱着させるエネルギ−源に暴露する該工程が、該凍
結溶液を、高速原子ビ−ム・ボンバ−ドメントに暴露す
るものであることを特徴とする請求の範囲第１項記載の
方法。 - 【請求項１２】該凍結溶液を、該分子を脱着させるエネ
ルギ−源に暴露する該工程が、さらに該脱着した分子
を、イオン化エネルギ−源に暴露して、該脱着した分子
を、該イオン化分子の質量分析の準備のためイオン化さ
せる工程を含むことを特徴とする請求の範囲第１項記載
の方法。 - 【請求項１３】次記工程を含むことを特徴とする、質量
分析のための、大きな分子の処理に有用な方法； （ａ）少なくとも約500amuの分子量を有する１以上の分
析すべき分子を、続いて該分子を溶液から脱着させるの
に使用するエネルギ−を強力に吸収することのできる低
分子量溶媒に溶解させた溶液を与える工程、 （ｂ）溶解分子の該溶液を、凍結溶液を形成するように
凍結させる工程、 （ｃ）該凍結溶液を、10-5トルより小さい蒸気圧を与え
るのに充分低い温度で、真空室内に維持する工程、およ
び （ｄ）該真空室内で、該凍結溶液を、該凍結溶液の表面
から分析すべき分子を１−100分子層脱着させるのに充
分なエネルギ−源に暴露する工程。 - 【請求項１４】該凍結溶液を、該分子を脱着させるエネ
ルギ−源に暴露する該工程が、かような脱着分子のイオ
ン化を結果しないものであり、且つ該方法が、該脱着分
子を、イオン化分子の質量分析の準備のため該脱着分子
をイオン化するイオン化エネルギ−源に暴露する工程を
含むものであることを特徴とする請求の範囲第13項記載
の方法。 - 【請求項１５】該脱着分子をイオン化源に暴露して該脱
着分子をイオン化する該工程が、さらに該脱着分子を光
イオン化源に暴露する工程をも含むものであることを特
徴とする請求の範囲第14項記載の方法。 - 【請求項１６】該分子を脱着させ、該脱着分子をイオン
化する該工程が、継続的サイクルで遂行されることを特
徴とする請求の範囲第14項記載の方法。 - 【請求項１７】該継続的脱着およびイオン工程が、該脱
着エネルギ−源および該イオン化源を継続的にパルス駆
動することにより遂行されることを特徴とする請求の範
囲第16項記載の方法。 - 【請求項１８】次記工程を含むことを特徴とする、質量
分析のための、大きな分子の処理に有用な方法； （ａ）少なくとも約500amuの分子量を有する１以上の分
析すべき分子を、低分子量溶媒に溶解させて溶液とし、
該溶液を与える工程、ここで該溶媒は、続いて該分子を
該溶液から脱着させるのに使用するエネルギ−を強力に
吸収することのできるものである、 （ｂ）溶解分子の該溶液を、凍結溶液を形成するように
凍結する工程、 （ｃ）該凍結溶液を、10-5トルを越えない蒸気圧を与え
るのに充分低い温度で、真空室内に維持する工程、およ
び （ｄ）該真空室内で、該凍結溶液を、該凍結溶液の表面
から分析すべき分子を１−100分子層脱着させるのに充
分なレ−ザ放射、イオンビ−ム・ボンバ−ドメント、電
子ビ−ム・ボンバ−ドメントおよび高速原子ボンバ−ド
メントよりなる群から選ばれたエネルギ−源に暴露する
工程。 - 【請求項１９】さらに、該脱着分子を、該脱着分子のイ
オン化に充分な強度を有するイオン化源に暴露する工程
を含むことを特徴とする請求の範囲第18項記載の方法。 - 【請求項２０】該凍結溶液を、10-5トルより小さい蒸気
圧を与えるのに充分低い温度で、真空室内に維持する該
工程が、さらに、先ず該凍結溶液を該温度まで冷却し、
次いで該冷却した凍結溶液を該真空室内に導入する工程
を含むことを特徴とする請求の範囲第18項記載の方法。 - 【請求項２１】該凍結溶液を、10-5トルより小さい蒸気
圧を与えるのに充分低い温度で、真空室内に維持する該
工程が、さらに、先ず該冷却した凍結溶液を該真空室内
に導入し、次いで該凍結溶液を該温度まで冷却する工程
を含むことを特徴とする請求の範囲第18項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/298,649 US4920264A (en) | 1989-01-17 | 1989-01-17 | Method for preparing samples for mass analysis by desorption from a frozen solution |
| US298,649 | 1989-01-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03503317A JPH03503317A (ja) | 1991-07-25 |
| JP3057607B2 true JP3057607B2 (ja) | 2000-07-04 |
Family
ID=23151435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2503086A Expired - Lifetime JP3057607B2 (ja) | 1989-01-17 | 1990-01-12 | 凍結溶液からの脱着による質量分析用試料の調製方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4920264A (ja) |
| EP (1) | EP0404934B1 (ja) |
| JP (1) | JP3057607B2 (ja) |
| CA (1) | CA2025771A1 (ja) |
| DE (1) | DE69010410T2 (ja) |
| WO (1) | WO1990008398A1 (ja) |
Families Citing this family (56)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4988879A (en) * | 1987-02-24 | 1991-01-29 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior College | Apparatus and method for laser desorption of molecules for quantitation |
| GB2235529B (en) * | 1989-08-23 | 1993-07-28 | Finnigan Mat Ltd | Method of preparing samples for laser spectrometry analysis |
| US5118937A (en) * | 1989-08-22 | 1992-06-02 | Finnigan Mat Gmbh | Process and device for the laser desorption of an analyte molecular ions, especially of biomolecules |
| GB2235528B (en) * | 1989-08-23 | 1993-07-28 | Finnigan Mat Ltd | Method of preparing samples for laser spectrometry analysis |
| JP2564404B2 (ja) * | 1989-09-20 | 1996-12-18 | 株式会社日立製作所 | 質量分析方法 |
| US5135870A (en) * | 1990-06-01 | 1992-08-04 | Arizona Board Of Regents | Laser ablation/ionizaton and mass spectrometric analysis of massive polymers |
| DE4036115C2 (de) * | 1990-11-13 | 1997-12-11 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren und Einrichtung zur quantitativen nichtresonanten Photoionisation von Neutralteilchen und Verwendung einer solchen Einrichtung |
| US5210412A (en) * | 1991-01-31 | 1993-05-11 | Wayne State University | Method for analyzing an organic sample |
| WO1992013629A1 (en) * | 1991-01-31 | 1992-08-20 | Wayne State University | A method for analyzing an organic sample |
| US5208458A (en) * | 1991-11-05 | 1993-05-04 | Georgia Tech Research Corporation | Interface device to couple gel electrophoresis with mass spectrometry using sample disruption |
| US5763875A (en) * | 1991-11-12 | 1998-06-09 | Max Planck Gesellschaft | Method and apparatus for quantitative, non-resonant photoionization of neutral particles |
| US5171989A (en) * | 1992-01-24 | 1992-12-15 | Board Of Trustees Of Leland Stanford Jr. University | Method and apparatus for continuous sample ice matrix production for laser desorption in mass spectrometry |
| JPH05251408A (ja) * | 1992-03-06 | 1993-09-28 | Ebara Corp | 半導体ウェーハのエッチング装置 |
| US5382793A (en) * | 1992-03-06 | 1995-01-17 | Hewlett-Packard Company | Laser desorption ionization mass monitor (LDIM) |
| US5360976A (en) * | 1992-08-25 | 1994-11-01 | Southwest Research Institute | Time of flight mass spectrometer, ion source, and methods of preparing a sample for mass analysis and of mass analyzing a sample |
| US5397895A (en) * | 1992-09-24 | 1995-03-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Photoionization mass spectroscopy flux monitor |
| US6436635B1 (en) * | 1992-11-06 | 2002-08-20 | Boston University | Solid phase sequencing of double-stranded nucleic acids |
| US5605798A (en) | 1993-01-07 | 1997-02-25 | Sequenom, Inc. | DNA diagnostic based on mass spectrometry |
| US5547835A (en) | 1993-01-07 | 1996-08-20 | Sequenom, Inc. | DNA sequencing by mass spectrometry |
| US6194144B1 (en) | 1993-01-07 | 2001-02-27 | Sequenom, Inc. | DNA sequencing by mass spectrometry |
| US6071610A (en) * | 1993-11-12 | 2000-06-06 | Waters Investments Limited | Enhanced resolution matrix-laser desorption and ionization TOF-MS sample surface |
| US6653626B2 (en) | 1994-07-11 | 2003-11-25 | Agilent Technologies, Inc. | Ion sampling for APPI mass spectrometry |
| US7803529B1 (en) * | 1995-04-11 | 2010-09-28 | Sequenom, Inc. | Solid phase sequencing of biopolymers |
| US20060063193A1 (en) * | 1995-04-11 | 2006-03-23 | Dong-Jing Fu | Solid phase sequencing of double-stranded nucleic acids |
| US5830655A (en) | 1995-05-22 | 1998-11-03 | Sri International | Oligonucleotide sizing using cleavable primers |
| US5589685A (en) * | 1995-05-26 | 1996-12-31 | Jen Wu; Kuang | Matrix enhanced SIMS |
| US6146854A (en) * | 1995-08-31 | 2000-11-14 | Sequenom, Inc. | Filtration processes, kits and devices for isolating plasmids |
| US6051378A (en) * | 1996-03-04 | 2000-04-18 | Genetrace Systems Inc. | Methods of screening nucleic acids using mass spectrometry |
| DE19617011C2 (de) * | 1996-04-27 | 2000-11-02 | Bruker Daltonik Gmbh | Matrixkomponentengemisch für die matrixunterstützte Laserdesorption und Ionisierung sowie Verfahren zur Zubereitung eines Matrixkomponentengemisches |
| US5777324A (en) | 1996-09-19 | 1998-07-07 | Sequenom, Inc. | Method and apparatus for maldi analysis |
| AU735416B2 (en) * | 1996-11-06 | 2001-07-05 | Sequenom, Inc. | Dna diagnostics based on mass spectrometry |
| US6140053A (en) * | 1996-11-06 | 2000-10-31 | Sequenom, Inc. | DNA sequencing by mass spectrometry via exonuclease degradation |
| EP1460083B1 (en) | 1996-11-06 | 2006-01-18 | Sequenom, Inc. | Analysing method and apparatus |
| AU5794498A (en) * | 1996-12-10 | 1998-07-03 | Genetrace Systems, Inc. | Releasable nonvolatile mass-label molecules |
| US5854486A (en) * | 1996-12-27 | 1998-12-29 | R. T. Hodgson | Method and apparatus for MALDI mass spectrometry |
| US6025036A (en) * | 1997-05-28 | 2000-02-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method of producing a film coating by matrix assisted pulsed laser deposition |
| WO1998054751A1 (en) * | 1997-05-30 | 1998-12-03 | Genetrace Systems, Inc. | Volatile matrices for matrix-assisted laser desorption/ionization mass spectrometry |
| US6207370B1 (en) | 1997-09-02 | 2001-03-27 | Sequenom, Inc. | Diagnostics based on mass spectrometric detection of translated target polypeptides |
| US6723564B2 (en) | 1998-05-07 | 2004-04-20 | Sequenom, Inc. | IR MALDI mass spectrometry of nucleic acids using liquid matrices |
| US6104028A (en) | 1998-05-29 | 2000-08-15 | Genetrace Systems Inc. | Volatile matrices for matrix-assisted laser desorption/ionization mass spectrometry |
| US6225061B1 (en) | 1999-03-10 | 2001-05-01 | Sequenom, Inc. | Systems and methods for performing reactions in an unsealed environment |
| DE19934561C2 (de) * | 1999-07-22 | 2001-12-13 | Stiftung A Wegener Inst Polar | Analyseverfahren zur Detektion von räumlichen Spurenelement-Verteilungsmustern in einer Feststoffprobe und Anordnung zu seiner Druchführung |
| WO2001096607A2 (en) | 2000-06-13 | 2001-12-20 | The Trustees Of Boston University | Use of nucleotide analogs in the analysis of oligonucleotide mixtures and in highly multiplexed nucleic acid sequencing |
| EP1348123B1 (de) * | 2001-01-05 | 2005-03-16 | Stiftung Alfred-Wegener-Institut für Polar- und Meeresforschung | Analyseverfahren zur detektion von räumlichen spurenelement-verteilungsmustern und vorrichtung zur verfahrensdurchführung |
| US7618806B2 (en) * | 2003-11-14 | 2009-11-17 | Indiana University Research And Technology Corporation | Methods and apparatus for mass spectral analysis of peptides and proteins |
| WO2005104181A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2005-11-03 | Yamanashi Tlo Co., Ltd. | 質量分析のためのイオン化方法および装置 |
| US7694694B2 (en) * | 2004-05-10 | 2010-04-13 | The Aerospace Corporation | Phase-change valve apparatuses |
| US8642353B2 (en) | 2004-05-10 | 2014-02-04 | The Aerospace Corporation | Microfluidic device for inducing separations by freezing and associated method |
| US7721762B2 (en) * | 2004-06-24 | 2010-05-25 | The Aerospace Corporation | Fast acting valve apparatuses |
| JP2008185547A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Canon Inc | 情報取得方法及び情報取得装置 |
| DE102009018021B4 (de) | 2009-04-18 | 2013-09-05 | Helmholtz-Zentrum Berlin Für Materialien Und Energie Gmbh | Mikrodosiersystem mit einem gepulsten Laser |
| JP4569788B1 (ja) * | 2009-09-14 | 2010-10-27 | 京セラ株式会社 | 無線基地局及び通信制御方法 |
| US10643828B2 (en) * | 2015-09-18 | 2020-05-05 | Baylor University | High resolution imaging mass spectrometry |
| CA2937046A1 (en) * | 2016-07-25 | 2018-01-25 | Kresimir Franjic | Method for preparing thin sample layers |
| US11035807B2 (en) * | 2018-03-07 | 2021-06-15 | General Electric Company | Thermal interposer for a cryogenic cooling system |
| CN111380743B (zh) * | 2020-03-16 | 2022-09-23 | 东华理工大学 | 一种混杂样品顺次软电离装置 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3997298A (en) * | 1975-02-27 | 1976-12-14 | Cornell Research Foundation, Inc. | Liquid chromatography-mass spectrometry system and method |
| DE2654057B1 (de) * | 1976-11-29 | 1978-04-27 | Varian Mat Gmbh | Verfahren zur Ionisierung von organischen Substanzen,sowie dieses Verfahren benutzendes Analysegeraet |
| DE2819711C2 (de) * | 1978-05-05 | 1984-02-16 | Gesellschaft für Strahlen- und Umweltforschung mbH, 8000 München | Verfahren und Vorrichtung zur Analyse einer Probe mit Hilfe gepulster Laserstrahlung |
| US4230946A (en) * | 1979-03-19 | 1980-10-28 | University Of Utah | Cryogenic collimator apparatus and method |
| US4733073A (en) * | 1983-12-23 | 1988-03-22 | Sri International | Method and apparatus for surface diagnostics |
| GB2160014B (en) * | 1983-12-23 | 1987-12-16 | Stanford Res Inst Int | Method and apparatus for surface diagnostics |
| US4594506A (en) * | 1984-09-10 | 1986-06-10 | Nicolet Instrument Corporation | Gas chromatograph/mass spectrometer interface |
| DE3517667A1 (de) * | 1985-05-15 | 1986-11-20 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen | Laser-massenspektrometer |
| US4663944A (en) * | 1985-07-12 | 1987-05-12 | Cornell Research Foundation, Inc. | Cryogenic sample stage for an ion microscope |
-
1989
- 1989-01-17 US US07/298,649 patent/US4920264A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-01-12 DE DE69010410T patent/DE69010410T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-01-12 WO PCT/US1990/000229 patent/WO1990008398A1/en active IP Right Grant
- 1990-01-12 JP JP2503086A patent/JP3057607B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1990-01-12 CA CA002025771A patent/CA2025771A1/en not_active Abandoned
- 1990-01-12 EP EP90902938A patent/EP0404934B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0404934A1 (en) | 1991-01-02 |
| EP0404934B1 (en) | 1994-07-06 |
| DE69010410D1 (de) | 1994-08-11 |
| DE69010410T2 (de) | 1994-10-20 |
| JPH03503317A (ja) | 1991-07-25 |
| WO1990008398A1 (en) | 1990-07-26 |
| CA2025771A1 (en) | 1990-07-18 |
| US4920264A (en) | 1990-04-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3057607B2 (ja) | 凍結溶液からの脱着による質量分析用試料の調製方法 | |
| US7525105B2 (en) | Laser desorption—electrospray ion (ESI) source for mass spectrometers | |
| Tembreull et al. | Pulsed laser desorption with resonant two-photon ionization detection in supersonic beam mass spectrometry | |
| US9449803B2 (en) | Mass spectrometer interface | |
| EP0408487B1 (en) | Mass spectrometer method and apparatus for analyzing materials | |
| US5192865A (en) | Atmospheric pressure afterglow ionization system and method of use, for mass spectrometer sample analysis systems | |
| US5294797A (en) | Method and apparatus for generating ions from thermally unstable, non-volatile, large molecules, particularly for a mass spectrometer such as a time-of-flight mass spectrometer | |
| US6943346B2 (en) | Method and apparatus for mass spectrometry analysis of aerosol particles at atmospheric pressure | |
| US6683300B2 (en) | Method and apparatus for mass spectrometry analysis of common analyte solutions | |
| Tembreull et al. | Pulsed laser desorption of biological molecules in supersonic beam mass spectrometry with resonant two-photon ionization detection | |
| US5171989A (en) | Method and apparatus for continuous sample ice matrix production for laser desorption in mass spectrometry | |
| US20040217281A1 (en) | Ambient pressure matrix-assisted laser desorption ionization (MALDI) apparatus and method of analysis | |
| JPH08145950A (ja) | 質量分析計 | |
| GB2299445A (en) | Ionization of analyte molecules | |
| JP2002517886A (ja) | 大気圧のマトリックス補助レーザ脱着装置 | |
| WO2005083417A1 (ja) | 超臨界流体ジェット法及び超臨界流体ジェット質量分析方法と装置 | |
| JP3160050B2 (ja) | 質量分析計 | |
| JP2827010B2 (ja) | 流出液を質量分光光度計およびその他の気相もしくは粒子の検出器に導入するための方法および装置 | |
| Hiraoka | Laser spray: electric field‐assisted matrix‐assisted laser desorption/ionization | |
| US20040217277A1 (en) | Apparatus and method for surface activation and selective ion generation for MALDI mass spectrometry | |
| Belov et al. | Laser ablation of organic molecules from frozen matrices | |
| JP2001108656A (ja) | 質量分析計用インターフェイスおよび質量分析システム | |
| Kosevich et al. | ‘Bubble chamber model’of fast atom bombardment induced processes | |
| Li et al. | Pulsed fast atom bombardment sample desorption with multiphoton ionization in a supersonic jet/reflectron time-of-flight mass spectrometer | |
| JP2004294453A (ja) | イオン源、質量分析方法及び質量分析計 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S201 | Request for registration of exclusive licence |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R314201 |
|
| S211 | Written request for registration of transfer of exclusive licence |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R314213 |
|
| R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090421 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090421 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100421 Year of fee payment: 10 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100421 Year of fee payment: 10 |