JP3057134B2 - Display panel inspection method and inspection apparatus - Google Patents
Display panel inspection method and inspection apparatusInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、液晶、EL、プラズ
マ等の平面ディスプレイパネル及び平面ディスプレイパ
ネルの駆動回路を備えた平面ディスプレイモジュール
(以下表示パネルと言う)の検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for a flat display panel (hereinafter, referred to as a display panel) provided with a flat display panel of liquid crystal, EL, plasma or the like and a driving circuit for the flat display panel.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の検査装置は、図5に示すように、
生産を行う各機種ごとに、またその中の1機種について
も各検査条件、各標準TV信号ごとに種類、位相等が異
なる駆動信号にあわせて1駆動信号群に1回路基板ユニ
ット51a、51b、51c、51d、51eを作製
し、多数の基板ユニットを準備、保管し、それを作業者
が適時手動で交換することにより、共通回路52を介し
て被検査表示パネル53に供給し、1台の検査装置で多
機種の生産に対応している。2. Description of the Related Art As shown in FIG.
One circuit board unit 51a, 51b, one drive signal group for each type of production, and also for one type of model, in accordance with each test condition, drive signal having different type, phase, etc. for each standard TV signal. 51c, 51d, and 51e are prepared, a large number of board units are prepared and stored, and are exchanged manually by an operator at appropriate times. Inspection equipment supports production of many models.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】従来の上記検査装置で
は、下記のような問題点がある。 1.被検査表示パネルの各機種に応じた検査装置の切り
替え作業にある程度の時間が必要であるため、それが作
業上のロスタイムとなり、工賃分がコストアップの要因
となる。The conventional inspection apparatus has the following problems. 1. Since a certain amount of time is required for the work of switching the inspection device according to each model of the display panel to be inspected, this results in a work loss time, and the labor cost increases the cost.
【0004】2.上記の検査装置の切り替え作業時に作
業者は多数の回路基板ユニットの中から生産しようとす
る機種に適合する1つを選び出し、それを確実に交換し
なくてはならないので、その作業が負担となり、作業ミ
スの可能性が大きくなる。[0004] 2. At the time of the above-mentioned inspection device switching work, the operator must select one suitable for the model to be produced from a large number of circuit board units, and must surely replace it. The possibility of work mistakes increases.
【0005】3.各機種、各検査条件または各標準TV
信号ごとに1台の回路基板ユニットを用意しなければな
らないので、機種数、条件数または並列で作業を行う検
査装置台数が増えるほど、準備する回路基板ユニットの
数が増え、それの必要数の作製、保守管理等の作業負担
が大きくなる。[0005] 3. Each model, each inspection condition or each standard TV
Since one circuit board unit must be prepared for each signal, the number of circuit board units to be prepared increases as the number of models, the number of conditions, or the number of inspection devices that work in parallel increases. Work load such as manufacturing and maintenance management becomes large.
【0006】4.新機種または新条件に対応する場合、
その度に新しい回路基板を設計、検討、作製しなければ
ならない 5.機種ごとの検査項目の違い、および新規検査項目
(検査条件)の追加または削除に対応する場合、該当す
るすべての回路基板ユニットを改造しなければならな
い。[0006] 4. When responding to new models or new conditions,
Each time, a new circuit board must be designed, studied, and manufactured. In order to cope with differences in inspection items for each model and addition or deletion of new inspection items (inspection conditions), all applicable circuit board units must be modified.
【0007】6.回路基板ユニットより発生する駆動信
号は基本的に1種類なので、同一被検査表示パネルの検
査時に、 いろいろな条件例えば標準条件駆動信号入力
時とワースト条件駆動信号入力時、NTSC標準TV信
号入力時とPAL標準TV信号入力時などの比較検査が
行えない。[0007] 6. Since there is basically one type of drive signal generated from the circuit board unit, various conditions, such as when a standard condition drive signal is input, when a worst condition drive signal is input, and when an NTSC standard TV signal is input, when testing the same display panel to be inspected. Comparison test cannot be performed when a PAL standard TV signal is input.
【0008】7.回路基板ユニット交換にある程度の時
間が必要なため、同一生産ライン上で多機種を連続して
検査することができない。[0008] 7. Since it takes a certain amount of time to replace the circuit board unit, it is not possible to continuously inspect many models on the same production line.
【0009】上記問題は生産機種の増加に従って、大き
な問題となる。この発明はこれらの問題点を解決するこ
とを目的としている。The above problem becomes more serious as the number of production models increases. An object of the present invention is to solve these problems.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の検査装置では、表示パネルの各種検査用信
号をメモリ素子に記憶して用意し、被検査表示パネルに
対応したメモリ素子の検査用信号を所定の順序で読み出
してプログラマブルゲートアレイに書き換えて、このプ
ログラマブルゲートアレイの出力によって検査を行うも
のである。より詳細は以下に説明する通り、表示パネル
の各機種ごとに、または同一機種でも各検査条件ごとお
よび表示パネルが使用されるであろう各標準TV信号ご
とに対応する駆動信号を発生させるため、それぞれ回路
構成、結線、部材等の内容が異なる電子回路をそれぞれ
プログラミングデータとして作成し、それを例えばEP
−ROM等の各メモリIC等にそれぞれ記録、保存す
る。そしてこの各プログラミングデータを検査装置内部
に並列に搭載する。上記各プログラミングデータを下記
(1)〜(3)に基づき、電気的に1つ選択し、そのプ
ログラミングデータをリセット(再プログラミング指
令)信号とともにプログラマブルゲートアレイ(以下P
GAと言う)に転送する。PGAは各メモリIC等から
読み出されたプログラミングデータによって、PGA内
部構造をプログラミングデータに基づいた内容に瞬時に
書き換える。In order to achieve the above object, in the inspection apparatus of the present invention, various inspection signals of a display panel are stored and prepared in a memory element, and a memory element corresponding to the display panel to be inspected is prepared. Are read out in a predetermined order, rewritten into a programmable gate array, and an inspection is performed by the output of the programmable gate array. As will be described in more detail below, in order to generate a drive signal corresponding to each type of display panel or for each inspection condition and each standard TV signal in which the display panel will be used even for the same type of display panel, Electronic circuits having different circuit configurations, connections, members, etc., are respectively created as programming data, and are created, for example, in an EP.
-Record and save in each memory IC such as ROM. Then, these pieces of programming data are mounted in parallel inside the inspection apparatus. One of the above-mentioned programming data is electrically selected based on the following (1) to (3), and the programming data is reset together with a reset (reprogramming command) signal by a programmable gate array (hereinafter referred to as P).
GA). The PGA instantly rewrites the PGA internal structure to contents based on the programming data by using the programming data read from each memory IC or the like.
【0011】(1)作業者が行う生産機種切り替えのた
めの操作 (2)被検査表示パネルの外形からその機種を判定する
撮像、画像判定装置が出力する指令データ (3)各機種ごとに検査項目数、項目順、検査条件等を
記録した検査シーケンスデータがあり、このデータは1
台の被検査表示パネルの検査が行われるたびに呼び出さ
れるが、それに含まれている検査条件、使用標準TV信
号を適時選択するための指令データ 上記PGAのプログラミングデータの書き換えは、ごく
短い時間で終了し、また何度でも連続して行うことがで
きる。その結果、検査装置を外部から見た場合、上記各
指令に基づき、瞬時に別の検査装置(回路基板ユニッ
ト)をつなぎかえたのと同じ効果が得られることにな
る。(1) Operation for switching production models performed by an operator (2) Command data output by an imaging / image determination device for determining the model from the outer shape of the display panel to be inspected (3) Inspection for each model There is inspection sequence data that records the number of items, the order of items, inspection conditions, and the like.
It is called every time the inspection of the display panel to be inspected is performed. The inspection data included in the inspection panel and the command data for timely selection of the standard TV signal to be used are rewritten in a very short time. It can be done again and again in succession. As a result, when the inspection apparatus is viewed from the outside, the same effect can be obtained as if another inspection apparatus (circuit board unit) was instantaneously reconnected based on the above commands.
【0012】[0012]
【作用】各表示パネルの機種ごと、最良駆動条件、標準
駆動条件、最悪駆動条件等の各検査条件、各検査項目、
各標準TV信号(NTSC、PAL、SECAM等)の
駆動信号は、その大半が表示画像の同期に関連したディ
ジタル信号であり、またその総数と水平方向、垂直方向
など系統的種類は実使用上の常識的範囲である程度限定
できる。上記駆動信号の大半を占めるディジタル信号
は、その発生回路を一般的な論理ゲート(NAND,O
R等)で回路図的に表現でき、また、論理ゲートICの
みを使用して実際に作製、動作させることができる。そ
こで、これら基本論理ゲートを用いて構成された各駆動
信号発生回路の回路図をもとに、回路図データからPG
Aプログラミングデータへ情報を変換する市販コンピュ
ータソフトウエアを使用し、各機種、各検査条件、各T
V方式対応のデータを作成する。完成された各プログラ
ミングデータは、小型EP−ROM等の記憶素子に書き
込み、共通回路基板ユニットに全EP−ROM・ICが
電気的に並列に接続され、検査装置内部に搭載される。[Operation] For each display panel model, each inspection condition such as a best driving condition, a standard driving condition, and a worst driving condition, each inspection item,
Most of the drive signals of each standard TV signal (NTSC, PAL, SECAM, etc.) are digital signals related to the synchronization of display images, and the total number and systematic types such as horizontal and vertical directions are different from those in actual use. It can be limited to some extent by common sense. The digital signal which occupies most of the drive signal is generated by a general logic gate (NAND, O
R etc.) and can be actually manufactured and operated using only the logic gate IC. Therefore, based on the circuit diagram of each drive signal generation circuit configured using these basic logic gates, PG
A: Using commercially available computer software that converts information into programming data, each model, each inspection condition, each T
Create data compatible with the V method. Each completed programming data is written into a storage element such as a small EP-ROM, and all EP-ROMs / ICs are electrically connected in parallel to a common circuit board unit, and are mounted inside the inspection apparatus.
【0013】前記共通回路基板ユニットはPGAを備え
て構成され、全機種、全条件で共通に使用可能なよう
に、最大限のフレキシビリティを持つように共通回路基
板ユニットを設計、作製する。各プログラミングデータ
を記録しているEP−ROM・ICは、装置外部からの
作業者による操作または検査作業中に装置内部で発生す
る指令データに従い、1つのデータ(IC)を電気的に
選択してデータ転送用ラインが結合される。その後、P
GAに現時点で組み込まれているプログラミングデータ
を破棄し、選択されたデータICから再プログラミング
のためのデータを読み込むような指示を与えるリセット
信号が発生され、指令確定後、再プログラミング動作が
行われる。これら一連の動作は瞬時に完了する。The common circuit board unit is provided with a PGA, and a common circuit board unit is designed and manufactured so as to have maximum flexibility so that it can be commonly used in all models and under all conditions. The EP-ROM / IC recording each programming data electrically selects one data (IC) according to command data generated inside the apparatus during operation or inspection work by an operator from outside the apparatus. The data transfer lines are connected. Then, P
A reset signal for giving an instruction to discard the programming data currently incorporated in the GA and to read data for reprogramming from the selected data IC is generated. After the command is determined, a reprogramming operation is performed. These series of operations are completed instantly.
【0014】撮像・画像判定装置は、生産工程等で使用
される一般的な装置でよく、これに機種別の外形の違い
による特徴を記憶させ、その記憶データと実際の映像と
の比較により、装置が作業者に代わって被検査表示パネ
ルの機種の判定および機種切り替え操作を行う。検査シ
ーケンスデータは、各機種ごとに実施する検査項目およ
びその順番を記録したデータで、上記各機種プログラミ
ングデータとセットで検査装置内部に搭載され、検査作
業時に順次呼び出され、活用されている。そこで、もし
被検査表示パネルの検査項目に駆動信号条件切り替えま
たは駆動標準TV信号切り替え等の項目が含まれる場
合、それらの項目選択時にプログラミングデータ切り換
えを行う指令を出すような検査シーケンスデータを作成
する。これにより、装置が作業者に代わって駆動信号条
件切り替えまたは駆動標準TV信号切り替え操作を行
う。これらの作用が組み合わされ、検査作業時に同時に
連続して働き続けることにより、前項で述べたような作
用が発生する。The image pickup / image determination device may be a general device used in a production process or the like. The device stores characteristics due to differences in external shape of each model, and compares the stored data with actual images. The apparatus determines the model of the display panel to be inspected and switches the model on behalf of the operator. The inspection sequence data is data that records the inspection items to be executed for each model and the order of the inspection items. The inspection sequence data is mounted inside the inspection apparatus as a set together with the programming data for each model, and is sequentially called and used during the inspection work. Therefore, if the inspection items of the display panel to be inspected include items such as driving signal condition switching or driving standard TV signal switching, inspection sequence data that issues a command to perform programming data switching when those items are selected is created. . As a result, the apparatus performs a driving signal condition switching operation or a driving standard TV signal switching operation on behalf of the worker. By combining these actions and continuously working at the same time during the inspection work, the action as described in the preceding section occurs.
【0015】[0015]
【実施例】本発明の一実施例について、回路図を用いて
説明する。図1は、本発明の回路部分のブロック図であ
る。作業者の操作、撮像・画像判定装置からの信号を入
力端子1で受け入れ、この入力信号とシーケンスデータ
5からのフィードバック信号を指令部3で判断し、適応
するプログラミングデータ4及びシーケンスデータ5を
選択するための選択信号を発生する。指令回路部3から
の指令で選択された各機種ごとのプログラミングデータ
4およびシーケンスデータ5の出力は、PGA6に転送
される。PGA6は選択されたプログラミングデータ4
及びシーケンスデータ5によってプログラム完了後、そ
のプログラミングデータに基づいた検査駆動信号を順次
発生、出力する。被検査表示パネルはプログラミングデ
ータに基づき逐次検査が実施される。検査結果は被検査
表示パネルに表示されるとともにそのデータは中央コン
ピュータに集計される。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described with reference to a circuit diagram. FIG. 1 is a block diagram of a circuit portion of the present invention. An operator's operation, a signal from the imaging / image determination device is received at the input terminal 1, the input signal and a feedback signal from the sequence data 5 are determined by the command unit 3, and appropriate programming data 4 and sequence data 5 are selected. To generate a selection signal. The output of the programming data 4 and the sequence data 5 for each model selected by the command from the command circuit unit 3 is transferred to the PGA 6. PGA 6 is the selected programming data 4
After the completion of the program by the sequence data 5, a test drive signal based on the programming data is sequentially generated and output. The inspection display panel is sequentially inspected based on the programming data. The inspection results are displayed on the display panel to be inspected, and the data is compiled in the central computer.
【0016】尚、上記プログラミングデータの各表示パ
ネルの機種ごと、最良駆動条件、標準駆動条件、最悪駆
動条件等の各検査条件、各検査項目、各標準TV信号
(NTSC、PAL、SECAM等)の駆動信号は、そ
の大半が表示画像の同期に関連したディジタル信号であ
り、またその総数と水平方向、垂直方向など系統的種類
は実使用上の常識的範囲である程度限定できるので、上
記駆動信号の大半を占めるディジタル信号は、その発生
回路を一般的な論理ゲート(NAND,OR等)で回路
図的に表現でき、また、論理ゲートICのみを使用して
実際に作製、動作させることができる。そこで、これら
基本論理ゲートを用いて構成された各駆動信号発生回路
の回路図をもとに、回路図データからPGAプログラミ
ングデータへ情報を変換する市販コンピュータソフトウ
エアを使用し、各機種、各検査条件、各TV方式対応の
データを作成する。また、シーケンスデータも同様に基
本論理ゲートを用いて各制御信号発生回路が構成され、
この回路図からシーケンスデータを作成する。このよう
にして完成された各プログラミングデータ及びシーケン
スデータは、小型EP−ROM等の記憶素子に書き込
み、共通回路基板ユニットに全EP−ROM・ICが電
気的に並列に接続され、検査装置内部に搭載される。補
助回路7は、PGA6の出力ではカバーできない駆動信
号をPGA6からの指令により、PGA6に代わって発
生、出力する部分である。補助回路7はPGA6の電源
が+5V単電源のディジタルICなので、その出力レベ
ルは0〜5Vの範囲に限られるが、検査駆動信号の中に
はこれ以外の電圧範囲をもつ信号がある可能性があるの
で、その部分を補う機能を持つ。シーケンス制御部8
は、検査作業時にシーケンスデータ5からの検査手順に
従って順次転送されるデータを受けて検査駆動信号のO
N/OFFを順次制御する。The above-mentioned programming data is displayed for each model of each display panel, each test condition such as a best drive condition, a standard drive condition, and a worst drive condition, each test item, and each standard TV signal (NTSC, PAL, SECAM, etc.). Most of the drive signals are digital signals related to the synchronization of display images, and the total number and systematic types such as horizontal and vertical directions can be limited to some extent within a common sense range in practical use. Most of digital signals can be generated by a general logic gate (NAND, OR, etc.) in a circuit diagram, and can be actually produced and operated using only a logic gate IC. Therefore, based on the circuit diagram of each drive signal generation circuit configured using these basic logic gates, commercially available computer software for converting information from circuit diagram data to PGA programming data is used, and each model and each test are used. A condition and data corresponding to each TV system are created. Similarly, each control signal generation circuit is configured using the basic logic gate for the sequence data,
Sequence data is created from this circuit diagram. The programming data and sequence data completed in this manner are written in a storage element such as a small EP-ROM, and all EP-ROMs / ICs are electrically connected in parallel to a common circuit board unit. Will be installed. The auxiliary circuit 7 generates and outputs a drive signal that cannot be covered by the output of the PGA 6 in place of the PGA 6 according to a command from the PGA 6. Since the auxiliary circuit 7 is a digital IC in which the power supply of the PGA 6 is a single power supply of +5 V, its output level is limited to the range of 0 to 5 V. However, there is a possibility that a signal having a voltage range other than this is included in the inspection drive signal. It has a function to supplement that part. Sequence control unit 8
Receives the data sequentially transferred according to the inspection procedure from the sequence data 5 during the inspection operation,
N / OFF is sequentially controlled.
【0017】図2、図3は図1で示した装置回路要素の
うち、指令回路部3、プログラミングデータ4、PGA
6、補助回路部7の詳細回路図であり、これをもとに個
々の素子の働き等をさらに詳細に説明する。図2、図3
は、この2つの図で1つの回路の構成を表していて、コ
ネクタ10により二つの回路は電気的に接続されてい
る。図2で、ROM0〜ROM9で示したメモリ11a
〜11jは、すべてプログラミングデータ4を記憶する
メモリICで、それ以外の回路要素は図1の指令回路部
3に相当する。シーケンスデータ5は図示しないが、図
2に示すプログラミングデータ4を記憶するメモリIC
とほぼ同様の回路によって構成される。FIGS. 2 and 3 show the command circuit 3, the programming data 4, and the PGA among the device circuit elements shown in FIG.
6 is a detailed circuit diagram of the auxiliary circuit unit 7, based on which the operation of each element and the like will be described in further detail. FIG. 2, FIG.
1 shows the configuration of one circuit in these two figures, and the two circuits are electrically connected by the connector 10. In FIG. 2, a memory 11a represented by ROM0 to ROM9
Reference numerals 11j to 11j denote memory ICs for storing programming data 4, and the other circuit elements correspond to the command circuit unit 3 in FIG. Although the sequence data 5 is not shown, a memory IC for storing the programming data 4 shown in FIG.
And a circuit substantially similar to the above.
【0018】この回路でのプログラム指令は、初期電源
投入時のディップスイッチ12による設定に基づくもの
と、電源投入後の作業者によるプッシュスイッチ13の
操作による順次切り替えに限定、簡略化されている。表
示パネルの外形からその機種を判定する撮像・画像判定
装置が出力するデータによる指令手段を省略している。
この初期電源投入前にあらかじめ4個のディップスイッ
チ12の設定を行い、10個のROMメモリ11a〜1
1jのうちの1つを指定する。4個のディップスイッチ
12は各スイッチ設定により4桁の2進数を表し、スイ
ッチONは0、スイッチOFFは1を表す。2進数値と
指定ROMメモリ11a〜11jは表1のように対応し
ている。The program command in this circuit is limited and simplified based on the setting by the dip switch 12 at the time of initial power-on and the sequential switching by the operation of the push switch 13 by the operator after the power is turned on. A command unit based on data output by the imaging / image determination device that determines the model based on the outer shape of the display panel is omitted.
Before turning on the initial power, the four DIP switches 12 are set in advance, and the ten ROM memories 11a to 1
1j. The four DIP switches 12 represent a 4-digit binary number according to the setting of each switch, with switch ON representing 0 and switch OFF representing 1. The binary values correspond to the specified ROM memories 11a to 11j as shown in Table 1.
【0019】[0019]
【表1】 [Table 1]
【0020】この設定後、初期電源が投入されると、カ
ウンタIC(本実施例では東芝製「74HC192」を
使用)14に設定データが取り込まれ、カウンタ14の
出力が確定し、その出力に従って、10個のプログラミ
ングデータを記憶するROM0〜9のメモリ11a〜1
1jのうちの1個のメモリ11が動作アクティブ状態と
なる。デコーダIC(本実施例では「74HC42」を
使用)15はカウンタ14の出力データである2進数値
を、多数の出力端子のうちの1本をアクティブにする動
作に変換する働きを持つ。本発明の回路では、この作用
を利用してデータの選択信号としている。After this setting, when the initial power is turned on, the setting data is taken into the counter IC (in this embodiment, a 74HC192 made by Toshiba) is used, and the output of the counter 14 is determined. Memory 11a-1 of ROM0-9 for storing 10 pieces of programming data
One memory 11 out of 1j enters an operation active state. The decoder IC (using "74HC42" in this embodiment) 15 has a function of converting a binary value, which is output data of the counter 14, into an operation for activating one of a number of output terminals. In the circuit according to the present invention, this action is used as a data selection signal.
【0021】シフトレジスタIC(本実施例では「74
HC164」を使用)16付近の回路は、初期電源投入
と同時に一定周期のパルスを発生する発振回路部分17
と、そのパルスをもとに2つの異なるタイミングをもつ
信号18と19を発生する働きをもつ。この2つの信号
18、19は図4に示すようなタイミングをもつ。信号
18は、カウンタIC14にディップスイッチ12の設
定を取り込むように指示する。信号19はコネクタ10
を経由し、PGA(本実施例では「XC3042PC8
4」を使用)6に対するリセット信号となる。つまり、
初期電源投入後、必ず先にプログラミングデータの選
択、確定を行い、その後にPGA6にリセット信号19
を送りプログラミング動作を行うようにしている。この
1回目のプログラミング完了後、PGA6からコネクタ
10のB12端子を経由し、シフトレジスタ16の出力
に関係なく、すべてのROM・ICを非アクテイブ状態
にする信号を発生する。この後、回路は読み込まれたプ
ログラミングデータに基づき動作を続ける。The shift register IC (in this embodiment, "74
HC164) is used. The circuit near 16 is an oscillation circuit part 17 that generates a pulse of a fixed cycle at the same time as initial power-on.
And generates signals 18 and 19 having two different timings based on the pulse. These two signals 18 and 19 have timings as shown in FIG. Signal 18 instructs counter IC 14 to capture the setting of DIP switch 12. Signal 19 is for connector 10
Via the PGA (“XC3042PC8
4 ") is used as the reset signal for 6. That is,
After turning on the initial power, the programming data must be selected and confirmed first, and then the reset signal 19 is sent to the PGA 6.
To perform the programming operation. After the completion of the first programming, a signal is generated from the PGA 6 via the B12 terminal of the connector 10 to deactivate all ROM / ICs regardless of the output of the shift register 16. Thereafter, the circuit continues to operate based on the read programming data.
【0022】次に、この状態から作業者がプッシュスイ
ッチ13を操作した場合の動作について説明する。プッ
シュスイッチ13が押されると同時に、カウンタIC1
4にアップカウントパルスが入力される。カウンタIC
14は現在保持しているデータ値に1を加算し、新しい
データとして出力する。ここで、保持データがもし10
01(データROM9を選択している)の場合、カウン
タIC14は10進カウンタのため新データは0000
にもどる。もし、カウンタリセット設定用のディップス
イッチ20を設定しておけば、カウンタIC14をリセ
ット、つまり新データを0000にするタイミングを決
めることになる。設定方法は例えばデータROM5の次
にデータROM0に戻りたい場合、0101(データR
OM5を選択している)に1を加算した値である011
0すなわち10進数で「6」の番号がついたスイッチの
みをONにしておけばよい。プッシュスイッチ13があ
る程度の時間(ただし人間の感覚からするとごく短い時
間、例えば6μsec程度)、押されていると、コネク
タ10のA13端子を経由してプッシュスイッチ13が
押され続けていることによる電圧の変化をPGA6が感
知し、前記のコネクタ10のB12端子の信号を、RO
M0〜9がアクティブ状態になるように変え、再プログ
ラミング動作を行う。つまり、プッシュスイッチ13の
操作と同時に、新プログラミングデータが選択、確定さ
れ、その後操作がある程度の時間続いたあとにPGA6
の再プログラミング動作がはじまることになる。PGA
6の再プログラミング指令入力端子「D/P」はオープ
ンドレイン構造のため、PNPトランジスタ21が必要
になる。Next, the operation when the operator operates the push switch 13 from this state will be described. When the push switch 13 is pressed, the counter IC 1
4 is supplied with an up-count pulse. Counter IC
Numeral 14 adds 1 to the currently held data value and outputs it as new data. Here, if the held data is 10
01 (data ROM 9 is selected), the new data is 0000 because the counter IC 14 is a decimal counter.
Go back. If the dip switch 20 for setting the counter reset is set, the timing for resetting the counter IC 14, that is, setting the new data to 0000 is determined. The setting method is, for example, to return to data ROM0 after data ROM5, 0101 (data R
011 which is a value obtained by adding 1 to OM5)
Only the switch numbered 0, that is, the number "6" in decimal, needs to be turned on. When the push switch 13 is pressed for a certain period of time (however, a very short period of time from the human sense, for example, about 6 μsec), a voltage caused by the push switch 13 being continuously pressed via the A13 terminal of the connector 10 is generated. Is detected by the PGA 6, and the signal of the B12 terminal of the connector 10 is
M0-9 are changed to the active state, and the reprogramming operation is performed. That is, the new programming data is selected and confirmed at the same time as the operation of the push switch 13, and the PGA 6
Reprogramming operation starts. PGA
The re-programming command input terminal “D / P” 6 has an open drain structure, so that the PNP transistor 21 is required.
【0023】7セグメントLEDドライバIC(本実施
例では「5022B」を使用)22と7セグメントLE
D23は現在保持しているデータの番号を視認できるよ
うにしたものである。7-segment LED driver IC ("5022B" is used in this embodiment) 22 and 7-segment LE
D23 allows the number of the currently held data to be visually recognized.
【0024】図3のPGA6より上部に示した回路は、
この回路全体の動作タイミングを決定する原クロック発
振回路25であり、動作原理はフェーズロックループ方
式を用い、多機種、多条件に対応するため、バリキャッ
プ35a〜35bと可変容量コイル36a〜36dによ
って同様な構造で発振周波数だけを変化させることが可
能な4つの回路25a〜25dを並列に搭載している。
実動作時には、プログラミングデータに基づき、このう
ちの1つの回路を選択、使用し、他の3つの回路の入出
力端子はPGA6の内部でプルアップ終端とし、回路を
休止させる。The circuit shown above the PGA 6 in FIG.
This is an original clock oscillation circuit 25 that determines the operation timing of the entire circuit. The operation principle uses a phase-locked loop system, and in order to cope with various types and conditions, varicaps 35a to 35b and variable capacitance coils 36a to 36d are used. Four circuits 25a to 25d having the same structure and capable of changing only the oscillation frequency are mounted in parallel.
At the time of actual operation, one of the circuits is selected and used based on the programming data, and the input / output terminals of the other three circuits are pulled up inside the PGA 6 to stop the circuit.
【0025】PGA6より下部に示した回路は、ディジ
タルICであるPGA6では実現または出力することの
できないアナログ的信号処理および電圧範囲の大きな
(負電源を扱う)駆動信号を発生する部分であり、図1
の補助回路7に相当する。さらに具体的に機能を説明す
る。RCローパスフィルタ回路26は可変抵抗器の抵抗
値を外部より変化させることにより、PGA6の内部信
号位相を調整する作用がある。RCローパスフィルタと
トランジスタバッファで構成されている回路27は、2
種類の異なる周波数の信号が合成された複合信号から周
波数が低い信号だけを抽出する作用がある。上記回路2
6、27はいずれもアナログ的信号処理を行う。3個の
アナログスイッチIC28a〜28cは各機種別の負電
圧バイアス信号を発生し、この回路では0V,−5V,
−6Vの3種類の値をとり得る。オペアンプIC(本実
施例では「4560」を使用)29、30、31は負電
源を使用する駆動信号を発生させている部分である。オ
ペアンプIC29はその入出力端子間に接続されている
可変抵抗器(の抵抗値)の切り替えによりゲインを切り
替えることができる反転増幅回路を構成し、この回路で
は4Vp−p、5Vp−p,6Vp−pの3種類の値を
とり得る。オペアンプIC30および31はボルテージ
フォロアバッファで、ここではオペアンプIC30から
は振幅のみの出力、回路外部よりバイアス電圧を変化で
きる出力、オペアンプIC31からはバイアス電圧を−
1.5Vに固定した出力信号を発生している。デコーダ
IC(本実施例では「74HC139」を使用)32お
よびその周辺のゲートICは、PGA6よりプログラミ
ングデータに基づいて出力される2ビットの機種データ
より前記の負電圧バイアス信号のバイアス値を選択して
切り換えるアナログスイッチIC28および負電源駆動
信号の振幅値を選択して切り換えるアナログスイッチI
C33を制御する作用がある。PGA6および各補助回
路の出力信号はコネクタ34より出力される。The circuit shown below the PGA 6 is a portion that generates analog signal processing and a drive signal with a large voltage range (handles a negative power supply) that cannot be realized or output by the PGA 6 which is a digital IC. 1
Of the auxiliary circuit 7. The function will be described more specifically. The RC low-pass filter circuit 26 has an action of adjusting the internal signal phase of the PGA 6 by changing the resistance value of the variable resistor from outside. The circuit 27 composed of an RC low-pass filter and a transistor buffer has a 2
There is an operation of extracting only a low frequency signal from a composite signal in which signals of different types are synthesized. Circuit 2 above
Both 6 and 27 perform analog signal processing. The three analog switch ICs 28a to 28c generate a negative voltage bias signal for each model, and in this circuit, 0V, -5V,
It can take three values of -6V. The operational amplifier ICs ("4560" is used in this embodiment) 29, 30, and 31 are portions that generate a drive signal using a negative power supply. The operational amplifier IC 29 constitutes an inverting amplifier circuit that can switch the gain by switching (the resistance value of) a variable resistor connected between its input / output terminals. In this circuit, 4Vp-p, 5Vp-p, and 6Vp- There are three possible values of p. The operational amplifier ICs 30 and 31 are voltage follower buffers. Here, an output of only the amplitude from the operational amplifier IC 30, an output capable of changing the bias voltage from outside the circuit, and a bias voltage from the operational amplifier IC 31 −
An output signal fixed at 1.5 V is generated. The decoder IC ("74HC139" is used in this embodiment) 32 and its peripheral gate IC select the bias value of the negative voltage bias signal from the 2-bit model data output from the PGA 6 based on the programming data. Switch IC28 for switching by switching and analog switch I for selecting and switching the amplitude value of the negative power supply drive signal
It has the effect of controlling C33. The output signals of the PGA 6 and the auxiliary circuits are output from the connector 34.
【0026】以上一実施例について説明したが、図2,
図3で示した回路をもとにデータ接続数を増やし、外部
指令入力を設け、補助回路、出力端子数を増やすことに
より簡単に現行よりもさらに多機種対応が可能になる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものではな
く、その主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。The embodiment has been described above.
By increasing the number of data connections, providing external command inputs, and increasing the number of auxiliary circuits and output terminals based on the circuit shown in FIG. 3, it is possible to easily cope with more models than the current model.
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and may be modified without departing from the scope of the invention.
【0027】[0027]
【発明の効果】本発明により、以下のような効果が期待
できる。According to the present invention, the following effects can be expected.
【0028】1.被検査表示パネルの各機種に応じた検
査装置の切り替えはすべて電気的に瞬時に行えるため、
その作業時間はゼロになる。1. Switching of inspection equipment according to each model of the display panel to be inspected can all be performed instantaneously electrically.
The working time will be zero.
【0029】2.被検査表示パネルの全機種のプログラ
ミングデータを1台の装置にすべて搭載することができ
るので、各機種に応じた切り替え作業の負担が大幅に低
減され、また作業ミスの可能性も小さくなる。2. Since the programming data of all the models of the display panel to be inspected can be all mounted on one device, the load of the switching operation according to each model is greatly reduced, and the possibility of an operation error is also reduced.
【0030】3.プログラミングデータは簡単に複製を
つくることができる。3. Programming data can be easily duplicated.
【0031】4.検査装置自体にフレキシビリティをも
たせておくことにより、新機種、新条件対応時にはデー
タの作成、追加のみでよい。4. By providing the inspection apparatus with flexibility, it is only necessary to create and add data when a new model and new conditions are satisfied.
【0032】5.新規検査項目の追加、削除、検査条件
の変更対応は、データの変更のみでよい。5. The addition / deletion of new inspection items and the change of inspection conditions need only be performed by changing data.
【0033】6.同一被検査表示パネル検査時にプログ
ラミングデータを瞬時に切り替えることができるので、
いろいろな駆動信号条件での比較検査が行える。6. Since the programming data can be switched instantaneously during the same display panel inspection,
Comparison inspection can be performed under various drive signal conditions.
【0034】7.同様に、被検査表示パネル機種を判定
する撮像・画像判定装置と組み合わせて同一生産ライン
上で多機種を連続して検査することができる。7. Similarly, multiple models can be inspected continuously on the same production line in combination with an imaging / image determination device that determines the model of the display panel to be inspected.
【図1】本発明による検査装置ブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an inspection apparatus according to the present invention.
【図2】本発明の一実施例を説明する回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram illustrating an embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施例を説明する回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram illustrating an embodiment of the present invention.
【図4】本発明の一実施例の動作を説明する波形タイミ
ング図である。FIG. 4 is a waveform timing chart for explaining the operation of one embodiment of the present invention.
【図5】従来の技術による検査装置ブロック図である。FIG. 5 is a block diagram of an inspection apparatus according to a conventional technique.
3 プログラミングデータ切り替え指令信号発生部 4 プログラミングデータ(ROM)群 5 シーケンスデータ(ROM)群 6 プログラマブルゲートアレイIC 7 PGA補助回路部 8 検査作業シーケンス制御部 9 被検査表示パネル 10 回路内ジャンパコネクタ 11 ROM 12 初期設定ディップスイッチ 13 再プログラミング操作プッシュスイッチ 14 カウンタIC 15 デコーダIC 16 シフトレジスタIC 17 発振回路部分 18 シフトレジスタ出力信号波形(カウンタリセッ
ト) 19 シフトレジスタ出力信号波形(PGAリセット) 20 カウンタリセット設定ディップスイッチ 21 PNPトランジスタ 22 7セグメントLEDドライバIC 23 7セグメントLED 25 原クロック発振回路 26 RCローパスフィルタ 27 RCローパスフィルタ,トランジスタバッファ 28 負電圧バイアス信号切り替えアナログスイッチI
C 29 オペアンプIC 30 オペアンプIC(ボルテージフォロワ) 31 オペアンプIC(ボルテージフォロワ) 32 デコーダIC 33 負電源駆動信号切り替えアナログスイッチIC 34 出力コネクタ 35 バリキャップ 36 可変容量コイル3 Programming data switching command signal generation unit 4 Programming data (ROM) group 5 Sequence data (ROM) group 6 Programmable gate array IC 7 PGA auxiliary circuit unit 8 Inspection work sequence control unit 9 Display panel to be inspected 10 Jumper connector in circuit 11 ROM 12 Initial setting DIP switch 13 Reprogramming operation push switch 14 Counter IC 15 Decoder IC 16 Shift register IC 17 Oscillator circuit part 18 Shift register output signal waveform (counter reset) 19 Shift register output signal waveform (PGA reset) 20 Counter reset setting dip Switch 21 PNP transistor 22 7-segment LED driver IC 23 7-segment LED 25 Original clock oscillation circuit 26 RC low-pass fill 27 RC lowpass filter, a transistor buffer 28 the negative voltage bias signal switching analog switches I
C 29 Operational amplifier IC 30 Operational amplifier IC (voltage follower) 31 Operational amplifier IC (voltage follower) 32 Decoder IC 33 Negative power supply driving signal switching analog switch IC 34 Output connector 35 Varcap 36 Variable capacitance coil
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 11/00 - 11/02 G09F 9/00 実用ファイル(PATOLIS) 特許ファイル(PATOLIS)──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01M 11/00-11/02 G09F 9/00 Practical file (PATOLIS) Patent file (PATOLIS)
Claims (5)
に記憶し、被検査表示パネルに対応して所定の順序で上
記メモリを読み出し、プログラマブルゲートアレイに書
き換えてこのプログラマブルゲートアレイの出力によっ
て検査を行うことを特徴とする表示パネルの検査方法。An inspection signal of a display panel is stored in each memory, the memory is read out in a predetermined order corresponding to a display panel to be inspected, rewritten to a programmable gate array, and inspected by an output of the programmable gate array. Inspection method for a display panel.
換えを、被検査表示パネルの外形から機種を判定する撮
像装置の判定結果に基づき自動的に行い、同一生産ライ
ン上で多機種を連続して検査することを可能にした請求
項1記載の表示パネルの検査方法。2. The method according to claim 1, wherein the rewriting of the programmable gate array is automatically performed based on a judgment result of an image pickup apparatus for judging a model from an outer shape of a display panel to be inspected, and a plurality of models are continuously inspected on the same production line. 2. The method for inspecting a display panel according to claim 1, wherein:
号データとワースト条件駆動信号データ等、複数の条件
データよりなり、一つの表示パネル検査時に上記データ
を順次切り替えて、複数駆動条件下での検査を可能にし
た請求項1記載の表示パネルの検査方法。3. The various inspection signals include a plurality of condition data such as a standard condition driving signal data and a worst condition driving signal data. 2. The method for inspecting a display panel according to claim 1, wherein said inspection is enabled.
(NTSC,PAL,SECAM等)用データよりな
り、一つの表示パネル検査時に上記データを順次切り替
えて、各標準TV信号での検査を可能にした請求項1記
載の表示パネルの検査方法。4. The various test signals include data for each standard TV signal (NTSC, PAL, SECAM, etc.), and the data can be sequentially switched at the time of one display panel test to enable testing with each standard TV signal. The method for inspecting a display panel according to claim 1, wherein:
記憶する複数のメモリと、被検査表示パネルに対応して
上記メモリの読出し、及びその出力をプログラマブルゲ
ートアレイに書き換えを制御する手段と、上記プログラ
マブルゲートアレイの出力を被検査表示パネルに供給し
検査を実施する手段とからなることを特徴とする表示パ
ネルの検査装置。5. A plurality of memories for respectively storing various inspection signals of a display panel, means for controlling reading of said memory corresponding to a display panel to be inspected and rewriting the output thereof to a programmable gate array, Means for supplying an output of the programmable gate array to the display panel to be inspected and performing an inspection.
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