JP3051778B2 - 皺計測システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は皮膚表面の皺等を光学的
手段により解析する為の皺計測システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】加齢とともに皮膚表面に生じる皺が増加
する。美容上の観点から効果的な皺予防処置や皺除去処
置が望まれている。科学的に有効な処置を講ずる為に
は、その前提として皮膚の表面状態を精密に解析する必
要がある。この為、従来から様々な解析方式が提案され
ている。

【０００３】例えば、皮膚表面のレプリカを斜め入射平
行光で照明し陰影の状態を撮影するレプリカ撮影装置
と、撮影された画像を加工処理し個々の影領域を抽出し
て粒子解析を行なう画像解析装置とを組み合わせた方式
が知られている。この方式は例えば学会発表論文「皮膚
表面マイクロレリーフの画像解析，コーカフ等，第３回
生物工学及び皮膚に関する国際シンポジウム，フィラデ
ルフィア，米国，１９８１年７月」（Ｉｍａｇｅ ａｎ
ａｌｙｓｉｓ ｏｆ ｔｈｅ ｃｕｔａｎｅｏｕｓ ｍ
ｉｃｒｏｒｅｌｉｅｆ，Ｐ．Ｃｏｒｃｕｆｆ，Ｊ．Ｄｅ
Ｒｉｇａｌ ａｎｄ Ｊ．Ｌ．Ｌｅｖｅｑｕｅ，Ｔｈ
ｉｒｄ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｓｙｍｐｏｓｉ
ｕｍ ｏｎ Ｂｉｏｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ ａｎｄ
ｔｈｅ Ｓｋｉｎ，Ｐｈｉｌａｄｅｌｐｈｉａ，ＵＳ
Ａ，Ｊｕｌｙ １９８１）に開示されている。皮膚表面
から採取したネガティブなレプリカは微細な凹凸を有す
る。凸部は皮溝あるいは皺が転写された部分である。こ
のレプリカに斜め入射平行光を照明すると凸部により遮
られた部分に影領域が生じる。この影領域を粒子として
抽出し画像解析を施す事により皮膚表面状態を光学的に
検出する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】粒子解析から皮膚表面
の状態に関する有効な情報あるいはデータを得る為に
は、目的に応じて適切な解析パラメータを設定する必要
がある。しかしながら、上述した従来の装置は主として
皮膚のキメ分析用に設計されたものであり、必ずしも皮
膚の皺解析に適したものではない。従来の装置により算
出される解析パラメータは、皮溝数密度と、皮溝の平均
深さと、折り畳み係数である。皮溝数の密度はキメ解析
を行なう上で重要な情報を与えるが、このまま皺解析に
適用した場合には必ずしも有力な指標となり得ない。
又、個々の皮溝の深さの平均を取って解析パラメータと
しているが、皺解析を行なう場合には皺深さの平均を算
出しても有力な情報は得られない。折り畳み係数はレプ
リカ表面の凹凸を含んだ実表面積と測定対象となった領
域の平面積との比を表わしている。この折り畳み係数は
複雑な近似式を用いて算出されており精度が低いばかり
でなく、このまま皺解析に用いても皺量を表わす適切な
特性値とはなり得ない。

【０００５】上述した従来の技術の他にも様々な皮膚面
解析方式が提案されている。特開昭６０−５３１２１号
公報及び特開昭６１−６４２３２号公報には、皮膚レプ
リカを複数の光源で照明し皮溝のパタンを抽出して皮溝
間隔や皮溝方向等を解析する装置が開示されている。し
かしながら、この装置では異なる方向から複数の光源で
皮膚レプリカを照明している為深さ計測ができないとい
う問題点がある。特開昭６４−５９１４５号公報にはレ
プリカを用いず皮膚表面から直接画像を取り込み二値化
処理してパタン解析を行なう方式が開示されている。画
像撮影の際全周囲方向照明を行なっている為深さ解析は
困難であるという問題点がある。特開平２−４６８３３
号公報にはレプリカ撮影画像を階調処理した後画像処理
して皮溝深さに関するデータを得る方式が開示されてい
る。しかしながら、階調処理を施した二次画像は必ずし
も皮膚表面の凹凸を忠実に再現するものではない。特開
昭６０−６３０３０号公報には皮膚画像に対して閾値レ
ベルを変えながら二値化画像をモニタし皮溝又は皺深さ
を測定する方式が開示されている。しかしながらこの様
な方式では個々の皺毎に精密な深さ測定を行なう事が困
難である。

【０００６】以上の説明から明らかな様にいずれの従来
方式をもってしても小皺の状態について精度良く計測す
る事は困難であり、小皺発生過程を解明し且つ予防改善
化粧品の有効性を評価する上で大きな障害となってい
た。この点に鑑み、本発明は画像処理技術を応用した独
自の方式により、皺深さ、皺量及び皺分布状態を科学的
に分析し多面的な評価を可能とする皺計測システムを提
供する事を目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】従来の技術の課題を解決
し且つ本発明の目的を達成する為に講じられた手段は以
下の通りである。即ち、本発明にかかる皺計測システム
は基本的な構成要素として、小皺のレプリカを入射角α
の平行光で照明し陰影の状態を撮影するレプリカ撮影装
置と、撮影された画像を加工処理し個々の影領域を抽出
して粒子解析を行なう画像解析装置とを備えている。

【０００８】本発明の特徴的な構成要件として、該画像
解析装置は、個々の影領域の面積Ｓｉ及び長さＬｉのデ
ータを計測する手段と、計測データに基いて個々の小皺
の深さＶｉ＝Ｓｉ÷Ｌｉ×ｔａｎαを算出する手段と、
算出された深さデータから最大値を求める事により皺深
さ解析を行なう手段とを備えている。

【０００９】上述した手段に加えてあるいはこれとは別
に、該画像解析装置は、個々の影領域の面積データＳｉ
を計測する手段と、計測された面積データの垂直方向成
分Ｓｉ×ｔａｎαを合計し画像の測定領域平面積に対す
る比率を算出して皺量解析を行なう手段とを備える様に
しても良い。

【００１０】さらには上述した手段に加えてあるいはこ
れらとは別に、該画像解析装置は、算出された深さ値に
基いて個々の小皺を層別する手段と、層別毎に影領域の
面積データを合計し画像の測定領域平面積に対する比率
を算出して深さ別皺量分布解析を行なう手段とを備える
様にしても良い。

【００１１】

【作用】本発明の第１局面によれば、標本中に含まれる
個々の小皺について対応する影領域の形状から深さＶｉ
を算出している。算出された深さデータのうち最大値を
当該標本の皺深さを表わす指標として用いる。加齢によ
り一般的に皺は深くなる傾向にある。従って、最大値を
指標とする事により個々の標本の老化の進行程度を知る
事が可能になる。従来の様に個々の皺の深さを平均して
指標とした場合には有意義な情報が失われる事になる。

【００１２】本発明の第２局面によれば、個々の影領域
について計測された面積データの垂直方向成分Ｓｉ×ｔ
ａｎαを合計して画像の測定領域平面積で規格化する事
により皺量を表わす指標を得ている。従来の折り畳み係
数を用いた算出方式に比べて計算が簡便であるとともに
測定精度も向上する。

【００１３】本発明の第３局面によれば個々の小皺につ
いて算出された深さ値に基いて層別を行なっている。層
別毎に影領域の面積データを合計し画像の測定領域平面
積で規格化する事により深さ別皺量分布を得ている。皺
の状態をより正確に検出する為には、どの程度の深さの
皺がどの程度存在するかという分布状態を知る事が重要
である。深さ別皺量分布解析を行なう事により小皺の発
生過程や老化の進行程度を把握できる。

【００１４】本発明では上述した３個のパラメータを多
面的に解析し且つ総合的に評価する事により精度良く皮
膚の表面状態に関する診断を行なう事ができる。なお、
３個の解析パラメータは個々に技術的な意味を有するも
のであり、解析の目的によっては必ずしも全てのパラメ
ータを同時に評価する必要はない。

【００１５】

【実施例】以下図面を参照して本発明の好適な実施例を
詳細に説明する。図１は本発明にかかる皺計測システム
の基本的な構成を示すブロック図である。皺計測システ
ムはレプリカ撮影装置１と画像解析装置２とから構成さ
れている。レプリカ撮影装置１は平行光照明光源３と試
料設置台４と小型ＣＣＤカメラ５とから構成されてい
る。試料設置台４に対して水平にセットしたレプリカを
斜め上方から平行光で照明し小皺に対応して生じた影領
域を小型ＣＣＤカメラ５で撮影する。平行光照明光源３
は発光面積が小さく輝度の高いキセノンランプからな
り、フィルタ及びレンズ系を通してレプリカを斜め入射
平行光で照明する。光の拡がりを示す拡散角度は０．２
°と非常に小さいものを用いる事が好ましい。試料設置
台４はレプリカを水平に設置する為にジャッキ機構を備
えている。ＣＣＤカメラ５の拡大レンズは交換可能であ
り撮影画像の倍率は１０倍〜６０倍まで可変である。通
常の皺測定では１７倍のレンズを使用する。

【００１６】一方画像解析装置２は、イメージプロセッ
サ６とホストコンピュータ７と光ディスク８と入出力端
末９とから構成されている。イメージプロセッサ６はＣ
ＣＤカメラ５から取り込んだ画像の処理を行なう。イメ
ージプロセッサ６はホストコンピュータ７内の皺解析プ
ログラムによって制御され、指定された手順で画像の加
工及び計測を行なう。この実施例では、イメージプロセ
ッサ６はＮＥＸＵＳ社製のイメージアナライザＮＥＸＵ
Ｘ６４００を主体として構成されている。ホストコンピ
ュータ７はシステム制御の他に、イメージプロセッサ６
から得られた計測データを演算処理して所定のパラメー
タ解析を行なう。光ディスク８は画像データベースであ
ってレプリカ撮影装置１から入力した画像あるいはイメ
ージプロセッサ６により処理された画像データを記憶す
る。入出力端末９は１４インチの画像モニタとキーボー
ド等からなる。

【００１７】次に図２を参照して本発明の皺計測原理を
簡潔に説明する。レプリカ１０の表面には個々の皺が転
写された凸条Ｗｉが形成されている。この凸条Ｗｉを斜
め入射照明光で照らすと影領域が生じる。個々の影領域
についてその影面積Ｓｉ及び長さＬｉをイメージプロセ
ッサで計測し、得られたデータと照明角度αから個々の
皺の深さＶｉを算出する。図２に示す幾何光学的な関係
から明らかな様に、皺深さＶｉはＳｉ÷Ｌｉ×ｔａｎα
で与えられる。又影面積Ｓｉの垂直方向成分Ｓｉ×ｔａ
ｎαは個々の皺によって生じた深さ方向の面積を表わし
ている。以上に説明した皺深さデータＶｉ及び影面積の
垂直方向成分あるいは個々の皺面積Ｓｉ×ｔａｎαは照
明角度αによって規格化されており照明光源の設置姿勢
や光源輝度に依存しないパラメータである。

【００１８】次に図３のフローチャートを参照して図１
に示す皺計測システムの機能を詳細に説明する。ステッ
プＳ１において、試料設置台４に水平配置されたレプリ
カを平行光照明光源３により斜め照射しながらＣＣＤカ
メラ５を動作させレプリカ撮影を行なう。続いてステッ
プＳ２において、撮影画像をイメージプロセッサ６に入
力する。イメージプロセッサ６は撮影画像を８ビットの
デジタル画像データに変換して取り込むとともに光ディ
スク８に記憶保存する。さらにステップＳ３において、
イメージプロセッサ６は画像補正を行ない画像明度の変
動及び傾斜を除去する。この画像補正は元の画像から平
滑化画像を作成し元の画像データを平滑化画像データで
除算する事により行なう。この補正により照明光の変動
等の影響が除去される。続いてステップＳ４において、
二値化処理あるいは閾値処理を行ない、個々の小皺に対
応する影領域を抽出する。この二値化処理はイメージプ
ロセッサ６により行なわれ画像のピクセル毎にその明度
を所定の閾値と比較し白色と黒色に分別するものであ
る。この分別により個々の影領域が強調抽出され所謂粒
子が得られる。

【００１９】次にステップＳ５において必要に応じ測定
領域を指定する。この測定領域の指定はイメージプロセ
ッサ６のモニタを観察しながらキーボードあるいはデジ
タイザを用いて行なう。領域指定は時系列的に採取され
たレプリカの同一部位に関して皺計測を行なう場合等に
実施する。例えば、化粧品や他の薬剤、マッサージ、エ
ステティック等の処置を施し皺に対する効果を調べる場
合、処置前後で略同一部位から採取したレプリカにおい
て、完全に重なる領域を指定して皺計測を行なう事によ
り効果の検出感度が高まる。この為に、モニタ上で処置
前後の画面を重ね合わせ、共通する領域を指定するので
ある。例えば、イメージプロセッサ６に接続されたモニ
タはＲＧＢの３原色画像に加えて作業用の画像を表示で
きる。化粧品使用前のレプリカ撮影画像をＲ（赤色）表
示し化粧品使用後のレプリカ撮影画像をＧ（緑色）表示
する。赤色画像を固定し緑色画像のみをモニタ上で上下
左右に移動させる事によって重ね合わせを行ない、共通
する領域を作業画像を参照しながら例えばデジタイザで
指定する。

【００２０】次にステップＳ６において所謂粒子解析を
行なう。即ち指定された測定領域内において抽出された
個々の影領域の面積Ｓｉ及び長さＬｉを計測する（図２
参照）。続いてステップＳ７において、ホストコンピュ
ータ７は上述した測定データをイメージプロセッサ６か
ら取り込み、個々の小皺の深さＶｉを算出する。前述し
た様に、小皺の深さＶｉは（Ｓｉ／Ｌｉ）×ｔａｎαで
与えられる。さらにステップＳ８において、算出された
深さデータから最大値Ｖ＝Ｍａｘ（Ｖｉ）を求める事に
より皺深さ解析を行なう。又これと並列してあるいは独
立してステップＳ９において、計測された面積データＳ
ｉの垂直方向成分Ｓｉ×ｔａｎαを合計し画像の測定領
域平面積Ｗに対する比率（以下皺面積比率ＲＷＡと称す
る）を算出して皺量解析を行なう。この垂直方向成分Ｓ
ｉ×ｔａｎαは皺の深さＶｉと皺の長さＬｉの積に相当
し、皺によって生じた垂直方向の面積を表わしている。
従って、皺面積比率ＲＷＡは皺量を表わすパラメータで
あり、Σ（Ｓｉ×ｔａｎα）／Ｗ×１００で与えられ
る。この皺面積比率ＲＷＡは測定面積Ｗにより規格化さ
れたデータであるので標本サイズに依存しないパラメー
タとなる。さらに、ステップＳ８及びステップＳ９と並
行してあるいは独立してステップＳ１０において、分布
解析を行なう。具体的には、算出された深さ値に基いて
個々の小皺を層別するとともに、層別毎に影領域の面積
データＳｉの垂直方向成分Ｓｉ×ｔａｎαを合計し画像
の測定領域平面積Ｗに対する比率を算出して深さ別面積
比率を求める。

【００２１】本発明にかかる皺計測システムを利用して
加齢に伴なう小皺の変化に関する解析を行なった。２０
代から７０代の被験者をサンプリングし夫々皮膚表面形
態のレプリカを採取した。レプリカ採取は皮膚の表面形
態観察用として信頼されているシリコン樹脂（ＳＩＬＦ
ＬＯ，Ｆｌｅｘｉｃｏ社製）を用いて行ない目尻の小皺
の凹凸を転写した。その際、レプリカ採取領域を一定に
すると同時に、撮影装置へのセッティングを容易にする
為に、直径１３mmの穴の開いた粘着性の台紙を用いた。
台紙の穴の一端が目尻から水平方向外側５mmの位置にく
る様に皮膚に付着させるとともに、台紙に記入した位置
決め印が目の外側で両目を通る線上に位置する様に配置
する。次に重合剤と混練したシリコン樹脂を台紙の穴の
部分に流し込み硬化後台紙毎剥して測定用標本あるいは
試料とした。

【００２２】続いてレプリカの撮影を行なった。採取し
た小皺のレプリカを測定面が水平になる様に撮影装置の
試料設置台にセットし、これをキセノン光源及びレンズ
系を用いて一定強度の平行光で照明する事により小皺の
影を生じさせた。この時、試料設置台を回転させる事に
より両目を結ぶ線と照明光が垂直になる様にレプリカを
設置した。撮影は三軸方向に移動可能な小型ＣＣＤカメ
ラを用いて上方から行ない、撮影倍率は１７倍（１４イ
ンチモニタ観察時）とした。

【００２３】次に撮影した陰影画像をイメージプロセッ
サに２５６回積算入力し、個々のピクセルについて平均
の明るさを持つ画像を作成しノイズ除去処理を行なっ
た。その後補正処理を施した画像中の影領域を一定の明
るさのレベルで閾値処理し抽出する事によって二値化画
像を得た。二値化画像に含まれる影領域の形状を計測す
る事によって、皺の深さＶ及び皺面積比率ＲＷＡを算出
した。さらに、皺深さ別の量的分布を調べる為に、皺の
深さを９区分に層別し各区分におけるＲＷＡについても
算出した。

【００２４】図４はこの様にして測定された皺深さＶと
被験者の年齢との相関を示すグラフである。グラフから
明らかな様に、皺深さＶは加齢とともに増加し、２０歳
代ないし６０歳代の各年代間において有意な差が認めら
れた。２０歳代及び３０歳代においては殆どの皺が深さ
０．１５mm以下であり個人差も比較的小さかった。一
方、４０歳代以上では皺深さが著しく増大すると同時に
個人差も非常に大きくなっていた。

【００２５】図５は皺面積比率ＲＷＡと被験者の年齢と
の相関を示すグラフである。ＲＷＡは２０歳代から６０
歳代において増加し、７０歳代においてやや低下する傾
向が観察された。特に、３０歳代前後の比較的若い年代
において大きく上昇しており、この年代における個人差
も比較的大きかった。

【００２６】図６は皺の加齢変化における深さＶと面積
比率ＲＷＡの対応関係を示すグラフである。３０歳代に
おいて主に皺面積比率が大きく上昇しており、その後４
０歳代以降において皺深さの増大が顕著になっていた。
この事は、皺が形成される過程においてまず最初に深さ
０．１mm程度の細かな凹凸の量が増大し、その後次第に
深く大きな皺に発達していく事を示唆している。即ち、
皺の形成においては深い皺が発生する本格的な変化の前
兆として、３０歳代前後における細かな凹凸の量的増加
が起っている。この時期における適切な処置が小皺の予
防及び改善に極めて重要である。この様に、本発明にか
かる皺解析システムを用いる事によって、小皺の発生す
る前兆を明確に把握する事が可能になる。

【００２７】皺の深さ別にＲＷＡの加齢変化を調べる為
に、皺の深さを９区分し各区分のＲＷＡを年代別に集計
した結果を図７のグラフに示す。各区分の範囲はμｍ単
位でレベル１が３０未満、レベル２が３０〜６０、レベ
ル３が６０〜１００、レベル４が１００〜１５０、レベ
ル５が１５０〜２００、レベル６が２００〜３００、レ
ベル７が３００〜５００、レベル８が５００〜８００、
レベル９が８００以上である。２０歳代から３０歳代に
おいては深さ０．１５mm以上の皺は殆ど観察されなかっ
た。４０歳代以降においては次第に深い皺が出現し６０
歳代では深さ０．２mm以上の皺が大部分を占めていた。
皺深さ０．１mm未満のＲＷＡは２０歳代から３０歳代に
かけて増加するが、その後加齢とともに減少していた。
深さ０．１mm〜０．１５mmの皺のＲＷＡは４０歳代で最
大となり、０．１５mm〜０．２mmの皺のＲＷＡは５０歳
代で最大となっていた。深さ０．２mm以上の皺のＲＷＡ
は加齢とともに単調に増加していた。この様に、加齢に
伴なう小皺の量的変化を深さ別に測定する事によって、
小さな皺が次第に深い大きな皺に集積されていく様子を
明瞭に把握する事ができる。

【００２８】皺の発生成長過程をより明瞭に理解する
為、上記測定結果に対応した各年代における典型的な目
尻の小皺の画像例を図８に示す。２０歳代後半から３０
歳代における皺発生の初期段階では、細かな凹凸が広範
囲に発生しており、これが皺深さよりもＲＷＡを大きく
上昇させた理由である。この様な深さ０．１５mm以下の
細かな凹凸は小皺が発生する初期段階を示す形態と考え
られる。皺形成の第２段階として、４０歳代以降におい
ては皺の深さの増大が顕著になり次第に深く大きな皺に
発達していく様子が観察される。又、高齢者においては
細かな凹凸が減少している様子も観察される。以上の説
明から明らかな様に、本発明にかかる皺計測システムに
おいて採用されている３種類の解析パラメータは皮膚表
面の形態変化を忠実且つ多面的に表わすものであり小皺
の発生成長過程等を総合的に判断する上で有力な指標と
なっている。

【００２９】最後に本発明にかかる皺計測システムを用
いた解析の他の例として美容液の小皺対策効果を評価し
た。美容液を連用した場合の皮膚表面形態変化を調べる
為に、冬期に８週間連用した前後における目尻のレプリ
カを採取した。採取したレプリカを用いて前述の方法に
従いＲＷＡを測定した。この際、形態変化を正確に評価
する為には、美容液使用前後で採取したレプリカにおい
て厳密に共通する範囲について測定する必要がある。そ
の為、使用前及び使用後の両画像をモニタに表示させ、
一方の画像を画面上で移動させて対応する部分を重ね合
わせる事により共通する範囲を指定しこの領域のみを計
測した。美容液連用前後における皺深さ別のＲＷＡの変
化を図９に示す。なお深さの区分は図７と同様である。
深さ０．１５mm以上の皺のＲＷＡは連用前後において殆
ど変化していないのに対して、深さ０．１５mm未満の小
さな皺においてはＲＷＡは有意に減少していた。美容液
を連用すると一般に角質水分量が増加する。この効果は
比較的小さな皺に影響を与える事が判明した。

【００３０】

【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、レ
プリカを斜め入射平行光で照明し撮影した画像を粒子解
析するとともに、得られた影領域の形状データを演算処
理して特徴的な解析パラメータである皺深さ（凹凸の大
きさ）、皺面積比率（凹凸の量）、深さ別面積比率分布
等を算出しているので、小皺の状態を多面的且つ総合的
に解析評価する事ができるという効果がある。発光面積
が小さく輝度の高い照明光源を用いる事により高精度の
斜め入射平行光照明が可能となり、深さ方向の計測感度
を標準的な計測時（例えば測定領域面積１．３cm² ）で
５μｍ程度まで改善できるという効果がある。撮影倍率
を上げればより高精度な測定も可能である。化粧品の使
用前後において撮影した画像をモニタ上で精密に重ね合
わせる事によって全く同一部位での評価ができ検出感度
が高くなるという効果がある。

【００３１】本発明にかかる皺計測システムは上述した
様に優れた皮膚形態分析機能を備えており種々の解析に
用いられる。例えば、本発明にかかるシステムを用いて
小皺の発生成長過程を測定した結果、小皺が発生する前
兆として２０代後半から３０代前半における小さな凹凸
の量的増加を確認する事ができた。又、小皺の深さ別に
加齢による変化を調べたところ、小さな皺が集積し次第
に深い大きな皺に成長していく過程を観察する事ができ
た。本発明にかかる皺計測システムを用いる事によっ
て、皺改善化粧品やエステティック等の効能評価研究、
光老化の研究、弾性繊維構造等の皮膚内部構造と表面形
態の対応関係の把握等が可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかる皺計測システムの基本的な構成
を示すブロック図である。

【図２】本発明にかかる皺計測の基本的な原理を説明す
る為の模式図である。

【図３】図１に示す皺計測システムの機能を説明する為
のフローチャートである。

【図４】本発明にかかる皺計測システムによって測定さ
れた皺深さＶと年齢との関係を示すグラフである。

【図５】同じく面積比率ＲＷＡと年齢との関係を示すグ
ラフである。

【図６】同じく面積比率ＲＷＡと皺深さＶとの関係を示
すグラフである。

【図７】年代毎の皺深さ別面積比率分布を示すグラフで
ある。

【図８】年齢別に撮影されたレプリカ画像の典型例を示
す模式図である。

【図９】美容液使用前後における皺深さ別面積比率分布
を示すグラフである。

【符号の説明】

１ レプリカ撮影装置 ２ 画像解析装置 ３ 平行光照明光源 ４ 試料設置台 ５ ＣＣＤカメラ ６ イメージプロセッサ ７ ホストコンピュータ ８ 光ディスク ９ 入出力端末 １０ レプリカ

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−63030（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−118036（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−64232（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−59145（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−46833（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−82947（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−53121（ＪＰ，Ａ) 週刊粧業、［1868］（平３−９−23) 株式会社週刊粧業ｐ．３ (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) A61B 5/107

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 小皺のレプリカを入射角αの平行光で照
   明し陰影の状態を撮影するレプリカ撮影装置と、撮影さ
   れた画像を加工処理し個々の影領域を抽出して粒子解析
   を行なう画像解析装置とからなる皺計測システムにおい
   て、 該画像解析装置は、個々の影領域の面積Ｓｉ及び長さＬ
   ｉのデータを計測する手段と、計測データに基いて個々
   の小皺の深さＶｉ＝Ｓｉ÷Ｌｉ×ｔａｎαを算出する手
   段と、算出された個々の小皺の深さデータから最も深い
   小皺を表す最大値を求めて指標とする事により老化の進
   行程度を求める皺深さ解析を行なう手段とを有する事を
   特徴とする皺計測システム。
2. 【請求項２】 小皺のレプリカを入射角αの平行光で照
   明し陰影の状態を撮影するレプリカ撮影装置と、撮影さ
   れた画像を加工処理し個々の影領域を抽出して粒子解析
   を行なう画像解析装置とからなる皺計測システムにおい
   て、 該画像解析装置は、個々の影領域の面積データＳｉを計
   測する手段と、計測された個々の面積データＳｉから個
   々の小皺の量を表す垂直方向成分Ｓｉ×ｔａｎαを算出
   する手段と、算出した個々の垂直方向成分を合計し画像
   の測定領域平面積で規格化して皺量解析を行なう手段と
   を有する事を特徴とする皺計測システム。
3. 【請求項３】 小皺のレプリカを平行光で照明し陰影の
   状態を撮影するレプリカ撮影装置と、撮影された画像を
   加工処理し個々の影領域を抽出して粒子解析を行なう画
   像解析装置とからなる皺計測システムにおいて、 該画像解析装置は、個々の影領域の面積及び長さのデー
   タを計測する手段と、計測データに基いて個々の小皺の
   深さを算出する手段と、算出された深さに基いて個々の
   小皺を層別する手段と、層別毎に影領域の面積データの
   垂直方向成分を合計し画像の測定領域平面積に対する比
   率を算出して深さ別皺量分布解析を行なう手段とを有す
   る事を特徴とする皺計測システム。
4. 【請求項４】 個々の小皺の深さ値から最大値を求める
   事により皺深さ解析を行なう手段を有する事を特徴とす
   る請求項３に記載の皺計測システム。
5. 【請求項５】 全影領域の面積データの垂直方向成分を
   合計し画像の測定領域平面積に対する比率を算出して皺
   量解析を行なう手段を有する事を特徴とする請求項４に
   記載の皺計測システム。