JP3045567B2 - Moving object position measurement device - Google Patents

Moving object position measurement device

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JP3045567B2
JP3045567B2 JP3149041A JP14904191A JP3045567B2 JP 3045567 B2 JP3045567 B2 JP 3045567B2 JP 3149041 A JP3149041 A JP 3149041A JP 14904191 A JP14904191 A JP 14904191A JP 3045567 B2 JP3045567 B2 JP 3045567B2
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reflected
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、工作機械や光学機械や
測定機械などのように、直線運動をするテーブル機器の
位置を制御するステージ装置において、特にレーザーを
利用して被測定物の位置を測定する装置に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a stage device for controlling the position of a linearly moving table device such as a machine tool, an optical machine, a measuring machine, etc. The present invention relates to an apparatus for measuring

【0002】[0002]

【従来の技術とその課題】図4に示すように、直線運動
をするステージ上の移動体Mが例えばx軸に沿って移動
した場合、x軸方向の位置決め誤差exの他に、y軸方
向の動きに伴うy軸変位誤差ey、z軸方向の動きに伴
うezの3成分からなる変位誤差と、x軸回りのローリ
ングによるローリング誤差α、y軸回りのピッチングに
よるピッチング誤差β、z軸回りによるヨーイングによ
るヨーイング誤差γからなる3成分の角度誤差との6成
分の誤差が発生することが知られている。
[Its Problems prior art As shown in FIG. 4, when the moving body M on the stage of the linear motion, for example, moved along the x-axis, in addition to the positioning error e x in the x-axis direction, y-axis Displacement error consisting of three components of y-axis displacement error e y due to movement in the direction, ez due to movement in the z- axis, rolling error α due to rolling around the x-axis, pitching error β due to pitching around the y-axis, It is known that a six-component error occurs with a three-component angle error consisting of a yawing error γ due to yawing around the z-axis.

【0003】従来の測定器としては、例えば特開昭62
−22360号に開示されるレーザー干渉測長器が知ら
れている。この測長器では、測長の場合に被測定物体に
二枚の反射鏡が必要となる。また傾き成分(ヨーイン
グ、ピッチング)の測定には二枚のバイプリズムが必要
である上に、同時に二成分を測定することができない。
また、上記の三成分を一つの測定器で同時に測ることが
できない。
A conventional measuring instrument is disclosed in, for example,
A laser interferometer disclosed in Japanese Patent No. 22360 is known. In this length measuring device, the object to be measured requires two reflecting mirrors in the case of length measurement. In addition, two biprisms are required for measuring the tilt components (yawing, pitching), and the two components cannot be measured at the same time.
Further, the above three components cannot be measured simultaneously by one measuring instrument.

【0004】一般に直線運動をする機器にはxステー
ジ、xyステージ、xyzステージが用いられている
が、これら移動ステージの直線運動精度を高精度に測定
するには軸変位の測定にはレーザー干渉測長システム、
角度変位にはオートコリメータが普及している。
In general, an x-stage, an xy-stage, and an xyz-stage are used for a device that performs linear motion. However, in order to measure the linear motion accuracy of these moving stages with high accuracy, laser interferometry is used for measuring axial displacement. Long system,
Autocollimators are widely used for angular displacement.

【0005】例えば、xy平面内を移動するxyステー
ジ等においては、図5に示すように、二つのレーザー測
長器100,102と二つのオートコリメータ104,
106と直交ミラー108を用いて、レーザー干渉測長
器102を用いてx変位を、レーザー干渉測長器104
を用いてy変位を測定し、これと同時にオートコリメー
タ104を用いて角度誤差αとγを、オートコリメータ
106を用いて角度誤差βとγを測定する構成が知られ
ている。この構成では、二個のレーザー干渉測長器10
0,102と二個のオートコリメータ104,106を
用いて5成分の変位を同時に測定することができる。
For example, in an xy stage moving in an xy plane, as shown in FIG. 5, two laser length measuring devices 100 and 102 and two autocollimators 104 and
Using the laser interferometer 102 and the orthogonal displacement mirror 106, the x displacement is calculated using the laser interferometer 102 and the laser interferometer 104.
Is used to measure the y displacement, and at the same time, measure the angle errors α and γ using the autocollimator 104 and the angle errors β and γ using the autocollimator 106. In this configuration, two laser interferometers 10
Using 0, 102 and two autocollimators 104, 106, displacement of five components can be measured simultaneously.

【0006】しかし、このような測定システムは構成が
複雑になる上に、その測定に必要なスペースも大きくな
る。逆に、同一サイズのステージでは、測定系にスペー
スが取られ過ぎて動作範囲が小さくなる。また測定点も
多くなり、測定誤差の要因にもなる。
However, such a measurement system has a complicated configuration and requires a large space for the measurement. Conversely, for stages of the same size, too much space is taken up in the measurement system and the operating range is reduced. In addition, the number of measurement points increases, which causes a measurement error.

【0007】本発明は、ステージなどの移動体の直線運
動を高精度に制御するためのコンパクトな構成の測定光
学系を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a compact measuring optical system for controlling the linear motion of a moving body such as a stage with high accuracy.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】 このような課題を解決
するために、本発明は、反射面を有する移動体の位置を
測定する移動体位置測定装置において、光ビームを発射
する手段と、この光ビームを、前記移動体の反射面に向
けて照射される物体光と、前記反射面により反射した前
記物体光と干渉する参照光とからなる、二本の光ビーム
に分離するビームスプリット手段と、前記反射した物体
光と参照光が干渉することにより生じる干渉信号に基づ
いて、前記移動体までの距離を検出する手段と、前記反
射した物体光の光軸に対する傾きを検出することによっ
て、前記移動体の角度変位を検出する手段とを備えたも
のである。
Means for Solving the Problems In order to solve such a problem, the present invention provides a moving object position measuring device for measuring the position of a moving object having a reflecting surface, which emits a light beam, A beam splitting unit that splits a light beam into two light beams, comprising object light irradiated toward a reflecting surface of the moving body and reference light that interferes with the object light reflected by the reflecting surface. Based on an interference signal generated by interference between the reflected object light and the reference light, means for detecting a distance to the moving object, and detecting a tilt of the reflected object light with respect to an optical axis, Means for detecting the angular displacement of the moving body.

【0009】 さらに、前記ビームスプリット手段は、
互いのビームスプリット面が直交する二個の偏光ビーム
スプリッターと、それらの間に配置された1/2波長板
とからなることを特徴とするものである。また、前記角
度変位検出手段は、前記反射面により反射した前記物体
光を受光し、その受光位置を検出する位置検出素子から
なることを特徴とするものである。
Further, the beam splitting means includes:
It is characterized by comprising two polarizing beam splitters whose beam splitting planes are orthogonal to each other, and a half-wave plate disposed between them. Further, the angular displacement detecting means comprises a position detecting element for receiving the object light reflected by the reflecting surface and detecting a light receiving position thereof.

【0010】[0010]

【作用】 ビームスプリット手段に入射した光ビーム
は、移動体の反射面に向けて照射される物体光と、前記
移動体の反射面により反射した前記物体光と干渉する参
照光とからなる、二本の光ビームに分離される。前記移
動体の反射面で反射された物体光と、この物体光と異な
る光路を通過した前記参照光が干渉することにより干渉
信号が発生する。この干渉信号の強度に基づいて前記移
動体までの距離が検出される。
The light beam incident on the beam splitting means is composed of an object light emitted toward the reflecting surface of the moving object and a reference light interfering with the object light reflected by the reflecting surface of the moving object. The light beam is separated into books. An interference signal is generated by the interference between the object light reflected by the reflecting surface of the moving body and the reference light passing through an optical path different from the object light. The distance to the moving object is detected based on the intensity of the interference signal.

【0011】一方、前記移動体の反射面で反射された物
体光は前記移動体の角度変位を検出する手段にも照射さ
れ、その照射位置に基づいて、前記移動体の角度変位が
検出される。
On the other hand, the object light reflected by the reflecting surface of the moving body is also irradiated to means for detecting the angular displacement of the moving body, and the angular displacement of the moving body is detected based on the irradiation position. .

【0012】[0012]

【実施例】本発明の測定光学系の実施例を図1に示す。
光源12はレーザーダイオード14とコリメートレンズ
16を含み、レーザーダイオード14から射出されたレ
ーザー光はコリメートレンズ16で平行ビームに整形さ
れて光源12から射出される。光源12から射出された
平行ビームはアイソレータ18を通過し、紙面に対して
45度傾いた直線偏光となり、ミラー20で反射された
後に、偏光ビームスプリッター22に入射する。偏光ビ
ームスプリッター22は紙面に平行な偏光成分を通過さ
せ、紙面に垂直な偏光成分を反射する。
FIG. 1 shows an embodiment of a measuring optical system according to the present invention.
The light source 12 includes a laser diode 14 and a collimating lens 16. The laser light emitted from the laser diode 14 is shaped into a parallel beam by the collimating lens 16 and emitted from the light source 12. The parallel beam emitted from the light source 12 passes through the isolator 18, becomes linearly polarized light inclined at 45 degrees with respect to the plane of the paper, is reflected by the mirror 20, and then enters the polarization beam splitter 22. The polarization beam splitter 22 transmits a polarization component parallel to the paper surface and reflects a polarization component perpendicular to the paper surface.

【0013】偏光ビームスプリッター22で反射された
光ビーム(物体光)は、λ/4板24を通過して、移動
体26の平面ミラー26aに達する。ここで光ビームは
反射され、λ/4板24を再度通過し、紙面に平行な直
線偏光となり、偏光ビームスプリッター22を通過し
て、レンズ28に入射する。レンズ28に入射した光ビ
ームは集束されつつ、偏光ビームスプリッター30に入
射する。偏光ビームスプリッター30は左面にハーフミ
ラー30aが、下面に全反射ミラー30bが設けられて
いて、これらはレンズ28の焦平面に位置している。偏
光ビームスプリッター30に入射した光はハーフミラー
30a上で集束し、その一部はハーフミラー30aを透
過して二次元位置検出素子32に入射し、残りの光はハ
ーフミラー30aで反射される。ハーフミラー30aで
反射された光はレンズ28に入射して平行ビームとな
り、偏光ビームスプリッター34とλ/4板36を通過
して、移動体26の平面ミラー26aに到達し反射され
る。平面ミラー26aで反射された光ビームは再びλ/
4板36を通過して紙面に垂直な直線偏光となり、偏光
ビームスプリッター34で反射され、λ/4板40に入
射する。
The light beam (object light) reflected by the polarizing beam splitter 22 passes through the λ / 4 plate 24 and reaches the plane mirror 26a of the moving body 26. Here, the light beam is reflected, passes through the λ / 4 plate 24 again, becomes linearly polarized light parallel to the paper surface, passes through the polarization beam splitter 22, and enters the lens. The light beam incident on the lens 28 is incident on the polarization beam splitter 30 while being focused. The polarization beam splitter 30 is provided with a half mirror 30a on the left side and a total reflection mirror 30b on the lower side, and these are located on the focal plane of the lens 28. The light incident on the polarization beam splitter 30 is focused on the half mirror 30a, a part of which is transmitted through the half mirror 30a and is incident on the two-dimensional position detecting element 32, and the remaining light is reflected by the half mirror 30a. The light reflected by the half mirror 30a enters the lens 28 and becomes a parallel beam, passes through the polarizing beam splitter 34 and the λ / 4 plate 36, reaches the plane mirror 26a of the moving body 26, and is reflected. The light beam reflected by the plane mirror 26a is again λ /
The light passes through the four plates 36 to become linearly polarized light perpendicular to the paper surface, is reflected by the polarization beam splitter 34, and enters the λ / 4 plate 40.

【0014】一方、偏光ビームスプリッター22を透過
した紙面に平行な直線偏光の光ビーム(参照光)は、λ
/2板38を通過して紙面に垂直な直線偏光となり、偏
光ビームスプリッター34で反射される。偏光ビームス
プリッター34で反射された光ビームは、レンズ28に
入射して集束されつつ、偏光ビームスプリッター30に
入射する。偏光ビームスプリッター30に入射した光は
ビームスプリット面30cで反射され、全反射ミラー3
0b上に集束し反射される。全反射ミラー30bで反射
された光はビームスプリット面30cで反射され、レン
ズ28に入射して平行ビームとなり、偏光ビームスプリ
ッター22に入射し反射される。偏光ビームスプリッタ
ー22で反射された光ビームはλ/2板38を通過する
際に紙面に平行な直線偏光となり、偏光ビームスプリッ
ター34を通過し、λ/4板40に入射する。
On the other hand, a linearly polarized light beam (reference light) parallel to the plane of the paper transmitted through the polarizing beam splitter 22 is λ
The light passes through the 板 plate 38 and becomes linearly polarized light perpendicular to the paper surface, and is reflected by the polarization beam splitter 34. The light beam reflected by the polarization beam splitter 34 enters the polarization beam splitter 30 while being incident on the lens 28 and being focused. The light incident on the polarization beam splitter 30 is reflected by the beam splitting surface 30c, and is reflected by the total reflection mirror 3
0b is focused and reflected. The light reflected by the total reflection mirror 30b is reflected by the beam splitting surface 30c, is incident on the lens 28, becomes a parallel beam, is incident on the polarization beam splitter 22, and is reflected. The light beam reflected by the polarization beam splitter 22 becomes linearly polarized light parallel to the paper when passing through the λ / 2 plate 38, passes through the polarization beam splitter 34, and enters the λ / 4 plate 40.

【0015】λ/4板40を通過した二本の光ビームは
共に円偏光となるとともに合成された後、偏光ビームス
プリッター42で二本のビームに分けられる。偏光ビー
ムスプリッター42を通過したビームは、λ/4板44
を通過して偏光ビームスプリッター46に入射して更に
二本のビームに分割され、偏光ビームスプリッター46
を通過したビームはフォトダイオードPD1に入射し、
偏光ビームスプリッター46で反射されたビームはフォ
トダイオードPD3に入射する。偏光ビームスプリッタ
ー42で反射されたビームはλ/4板48を通過して偏
光ビームスプリッター50に入射し、更に二本のビーム
に分割され、偏光ビームスプリッター50で反射された
ビームはフォトダイオードPD2に入射し、偏光ビーム
スプリッター50を透過したビームはフォトダイオード
PD4に入射する。
The two light beams that have passed through the λ / 4 plate 40 are both circularly polarized and combined, and then split by the polarizing beam splitter 42 into two beams. The beam that has passed through the polarizing beam splitter 42 is
, And enters the polarization beam splitter 46 to be further split into two beams.
Is incident on the photodiode PD1.
The beam reflected by the polarization beam splitter 46 enters the photodiode PD3. The beam reflected by the polarizing beam splitter 42 passes through the λ / 4 plate 48 and enters the polarizing beam splitter 50, is further divided into two beams, and the beam reflected by the polarizing beam splitter 50 is transmitted to the photodiode PD2. The beam that has entered and transmitted through the polarizing beam splitter 50 enters the photodiode PD4.

【0016】フォトダイオードPD1〜PD4で検出さ
れる干渉信号の強度S1〜S4はそれぞれ次のようにな
る。
The interference signal intensities S 1 to S 4 detected by the photodiodes PD 1 to PD 4 are as follows, respectively.

【0017】 PD1: S1=a1+b1cos(2π/λ・n・Δ
L) PD2: S2=a2+b2sin(2π/λ・n・Δ
L) PD3: S3=a3+b3cos(2π/λ・n・Δ
L) PD4: S4=a4+b4sin(2π/λ・n・Δ
L) ここに、ΔLは物体光と参照光の光路差、λはレーザー
光の波長である。差動増幅器52から出力されるS1
2がcos信号、差動増幅器54から出力されるS2
4がsin信号となる。差動増幅器52と54の出力
はそれぞれプリアンプで位相補正とオフセット調整が行
なわれ、計数器へ送られて干渉信号が計数され、平面ミ
ラー26aの変位が計測される。このとき、物体光は移
動体までの光路を二往復するため、移動体の動きに対し
て二倍の光路差が生じるので測定感度が二倍になる。し
かも、物体光と参照光がほぼ同じ光路を通るので温度環
境等の変動なども強い。
PD1: S 1 = a 1 + b 1 cos (2π / λ · n · Δ
L) PD2: S 2 = a 2 + b 2 sin (2π / λ · n · Δ)
L) PD3: S 3 = a 3 + b 3 cos (2π / λ · n · Δ)
L) PD4: S 4 = a 4 + b 4 sin (2π / λ · n · Δ)
L) Here, ΔL is the optical path difference between the object light and the reference light, and λ is the wavelength of the laser light. S 1 − output from the differential amplifier 52
S 2 is a cos signal, and S 2 − output from the differential amplifier 54
S 4 becomes the sin signal. The outputs of the differential amplifiers 52 and 54 are respectively subjected to phase correction and offset adjustment by a preamplifier, sent to a counter, where interference signals are counted, and the displacement of the plane mirror 26a is measured. At this time, since the object light makes two round trips in the optical path to the moving body, the optical path difference is twice as large as the movement of the moving body, so that the measurement sensitivity is doubled. Moreover, since the object light and the reference light pass through substantially the same optical path, fluctuations in the temperature environment and the like are strong.

【0018】次に移動体26の平面ミラー26aが傾い
たときの様子を図2に示す。図中、移動体が傾いていな
いときの光路を破線で示してある。移動体26がθ傾く
と、平面ミラー26aに入射した光ビームは、入射光に
対して2θの角度を持って反射され、レンズ28に入射
する。レンズ28を通過した光ビームは、ハーフミラー
30aで反射され、再びレンズ28に入射する。レンズ
28から射出される光ビームは、レンズ28へ入射した
光ビームに平行に射出される。この光ビームは移動体2
6の平面ミラー26aで反射され、偏光ビームスプリッ
ター34で反射される。偏光ビームスプリッター34か
ら射出されるビームは、偏光ビームスプリッター22に
入射するビームに平行に射出されるが、その光路は平面
ミラー26aが傾いていないときの光路からは僅かにず
れている。偏光ビームスプリッター34から射出された
光ビームは、上述したように、その干渉信号から移動体
26の位置が検出される。
FIG. 2 shows a state where the plane mirror 26a of the moving body 26 is tilted. In the figure, the optical path when the moving body is not inclined is shown by a broken line. When the moving body 26 is tilted by θ, the light beam incident on the plane mirror 26a is reflected at an angle of 2θ with respect to the incident light, and is incident on the lens 28. The light beam that has passed through the lens 28 is reflected by the half mirror 30a and enters the lens 28 again. The light beam emitted from the lens 28 is emitted in parallel with the light beam incident on the lens 28. This light beam is moving body 2
6 and is reflected by the polarizing beam splitter 34. The beam emitted from the polarizing beam splitter 34 is emitted in parallel with the beam incident on the polarizing beam splitter 22, but its optical path is slightly shifted from the optical path when the plane mirror 26a is not tilted. As described above, the position of the moving body 26 of the light beam emitted from the polarization beam splitter 34 is detected from the interference signal.

【0019】一方、前記移動体26の反射ミラー26a
により反射した前記光ビーム(物体光)は、ハーフミラ
ー30aを通過して二次元位置検出素子32に入射す
る。ハーフミラー30a上において、平面ミラー26a
が傾いていないときの前記反射した物体光の照射位置
と、平面ミラー26aがθ傾いているときの前記反射し
た物体光の照射位置とのずれdは、
On the other hand, the reflecting mirror 26a of the moving body 26
The light beam (object light) reflected by the light enters the two-dimensional position detecting element 32 after passing through the half mirror 30a. On the half mirror 30a, the plane mirror 26a
The deviation d between the irradiation position of the reflected object light when not tilted and the irradiation position of the reflected object light when the plane mirror 26a is tilted θ is:

【0020】[0020]

【数1】 (Equation 1)

【0021】で表される。ここにfはレンズ28の焦点
距離である。従って、変位dより傾き角θを導き出すこ
とができる。この特性は、図1において、移動体26の
平面ミラー26aが紙面に平行な軸を中心として傾いた
場合も同様である。これにより、移動体26の平面ミラ
ー26aの2方向の角度成分を同時に検出できる。
Is represented by Here, f is the focal length of the lens 28. Therefore, the inclination angle θ can be derived from the displacement d. This characteristic is the same when the plane mirror 26a of the moving body 26 in FIG. 1 is tilted about an axis parallel to the paper surface. Thereby, the angle components of the plane mirror 26a of the moving body 26 in two directions can be simultaneously detected.

【0022】本発明は上述に実施例に限定されるもので
はなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々多くの変形
が可能である。例えば、図1に示した偏光ビームスプリ
ッターの代わりに、図3に示す偏光ビームスプリッター
を用いることもできる。またλ/4板は二枚である必要
はなく、図3のようにλ/4板は一枚で済ませることも
できる。
The present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications can be made without departing from the gist of the invention. For example, the polarization beam splitter shown in FIG. 3 can be used instead of the polarization beam splitter shown in FIG. The number of the λ / 4 plates does not need to be two, and only one λ / 4 plate can be used as shown in FIG.

【0023】本発明によれば、測長と角度変位(ヨーイ
ングとピッチング)を同時に同一箇所を測定して行なえ
るため、ステージなどの移動体の直線運動を高精度に制
御するためのコンパクトな構成の測定光学系を有する移
動体位置測定装置が提供される。
According to the present invention, since the length measurement and the angular displacement (yawing and pitching) can be simultaneously performed by measuring the same location, a compact configuration for controlling the linear motion of a moving body such as a stage with high precision. The moving object position measuring device having the measuring optical system is provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の測定光学系の実施例を示す。FIG. 1 shows an embodiment of a measuring optical system according to the present invention.

【図2】移動体が傾いたときの物体光の光路を示す。FIG. 2 shows an optical path of object light when the moving body is tilted.

【図3】図1の測定光学系の変形例を示す。FIG. 3 shows a modification of the measurement optical system of FIG.

【図4】移動体に発生する6つの誤差を示す。FIG. 4 shows six errors that occur in a moving object.

【図5】従来例に係る移動体の測定装置の構成を示す。FIG. 5 shows a configuration of a moving object measuring apparatus according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12…光源、22,34,30…偏光ビームスプリッタ
ー、24,36…λ/4板、26…移動体、26a…平
面ミラー、28…レンズ、30a…ハーフミラー、30
b…全反射ミラー、38…λ/2板。
12: light source, 22, 34, 30: polarizing beam splitter, 24, 36: λ / 4 plate, 26: moving body, 26a: plane mirror, 28: lens, 30a: half mirror, 30
b: total reflection mirror, 38: λ / 2 plate.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 9/00 - 11/30 102 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01B 9/00-11/30 102

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 反射面を有する移動体の位置を測定する
移動体位置測定装置において、 光ビームを発射する手段と、 この光ビームを、前記移動体の反射面に向けて照射され
る物体光と、前記反射面により反射した前記物体光と干
渉する参照光とからなる、二本の光ビームに分離するビ
ームスプリット手段と、 前記反射した物体と参照光が干渉することにより生じる
干渉信号に基づいて、前記移動体までの距離を検出する
手段と、 前記反射した物体光の光軸に対する傾きを検出すること
によって、前記移動体の角度変位を検出する手段とを備
えており、 前記ビームスプリット手段は、互いのビームスプリット
面が直交する二個の偏光ビームスプリッターと、それら
の間に配置された1/2波長板とからなることを特徴と
する移動体位置測定装置。
1. A moving object position measuring apparatus for measuring a position of a moving object having a reflecting surface, a means for emitting a light beam, and an object beam irradiated with the light beam toward a reflecting surface of the moving object. Beam splitting means for splitting the object light reflected by the reflection surface and the reference light into two light beams, based on an interference signal generated by the interference between the reflected object and the reference light Means for detecting a distance to the moving body, and means for detecting an angular displacement of the moving body by detecting a tilt of the reflected object light with respect to an optical axis, and the beam splitting means. Is a moving object position measuring device characterized by comprising two polarizing beam splitters whose beam splitting planes are orthogonal to each other, and a half-wave plate disposed therebetween. .
【請求項2】 前記角度変位検出手段は、前記反射面に
より反射した前記物体光を受光し、その受光位置を検出
する位置検出素子からなることを特徴とする請求項1記
載の移動体位置測定装置。
2. The moving object position measuring device according to claim 1, wherein said angular displacement detecting means comprises a position detecting element for receiving said object light reflected by said reflecting surface and detecting a light receiving position thereof. apparatus.
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