JP3020485B2 - 距離測定方法、距離測定装置及び距離測定プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents

距離測定方法、距離測定装置及び距離測定プログラムを記録した記録媒体

Info

Publication number
JP3020485B2
JP3020485B2 JP10334716A JP33471698A JP3020485B2 JP 3020485 B2 JP3020485 B2 JP 3020485B2 JP 10334716 A JP10334716 A JP 10334716A JP 33471698 A JP33471698 A JP 33471698A JP 3020485 B2 JP3020485 B2 JP 3020485B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
distribution
amount distribution
received
spot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10334716A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11241906A (ja
Inventor
丈二 中山
淳 片山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP10334716A priority Critical patent/JP3020485B2/ja
Publication of JPH11241906A publication Critical patent/JPH11241906A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3020485B2 publication Critical patent/JP3020485B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、距離測定方法およ
び距離測定装置(レンジセンサ)に関し、特に、各種の
製造加工装置、測定検査装置等における距離測定技術に
適用して有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】各種の製造加工装置、測定検査装置等に
組み込まれる距離測定装置(距離センサ)として、非接
触型の距離センサが知られている。非接触型の距離セン
サとしては、超音波センサ、レーザによるレンジセンサ
(レーザレンジセンサ)などがあるが、高速性や高精度
を要求される用途にはレーザレンジセンサが使用されて
いる。図16は、従来のレーザレンジセンサの概略構成
を示す図である。同図において、1は光源、2は光源1
から発光された光ビーム、3は測定対象物、7は測定対
象物3の表面で反射した反射光、8は光学部品、9は受
光素子、10は受光素子9の受光面である。同図に示す
ように、レーザレンジセンサは、光源1から発光された
光ビーム2を測定対象物3に照射する光照射手段と、前
記測定対象物3の表面で反射した反射光7を光学部品8
を通して受光素子9の受光面10に光点として結像させ
る受光手段を有している。
【0003】前記受光素子9は、前記受光面10に結像
した光点位置を電気信号に変換できる素子であり、例え
ば、一次元CCD(charge coupled device)や一次元
PSD(posision sensitive device)で構成される。
反射光7を案内する光学部品8としては、ミラー、プリ
ズム、レンズ等が一般に使用されるが、図16では、光
学部品としてレンズのみを使用したレーザレンジセンサ
を図示してある。また、一般に、レーザレンジセンサ
は、照射手段および受光手段を制御し、かつ受光手段に
基づく計測情報に基づいて測定対象物までの距離を算出
する制御計測手段を有している(図示せず)。
【0004】このように、レーザレンジセンサでは、光
源1から発光された光ビーム2により、測定対象物3の
表面に光点を生じさせ、この光点からの光(反射光7)
を光学部品(受光レンズ)8によって受光素子9の受光
面10に光点として結像させる。このとき、図17に示
すように、測定対象物3が近いか遠いかによって、受光
面10上の結像位置が変化する。この図17において、
測定対象物(3a,3b)までの距離と結像位置の対応
関係を、距離が分かっている測定対象物で予め調べてお
けば、未知の距離に対して、結像位置からその距離を知
ることができる。なお、レーザレンジセンサについて
は、例えば、「光学部品の使い方と留意点」(末田 哲
夫,オプトロニクス社発行)等に記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】レーザレンジセンサの
距離計測精度を決めるポイントは、受光素子9の受光面
10での光点の結像位置を精度良く知ることができるか
どうかにある。受光素子9が一次元CCDにより構成さ
れている場合は、受光面10は直線上に配置された複数
のピクセルからなり、それぞれのピクセルに受光した光
量を電気信号として得ることができる。したがって、電
気信号処埋により、光量のピーク位置か、光量の重み付
平均位置を求めれば、光点の結像位置がどのピクセル位
置に相当しているかが分かる。受光素子9が一次元PS
Dによリ構成されている場合は、PSD出力を電気信号
処理することにより、光量の重み付平均位置がPSD長
に対する割合として得られ、光点の結像位置が分かる。
この様子を図18に示す。
【0006】このように、レーザレンジセンサはその原
埋上、測定対象物3の表面で1回だけ反射した光(正規
の反射光7)を受光素子9で受けて測定対象物3までの
距離を測定している。測定対象物3の表面が光沢性の場
合は、測定対象物3の表面で反射したビーム光がさらに
他の面で反射(多重反射)した後センサに戻ることが発
生し、正規の反射光7と混合して、正規の反射光7の結
像位置を正しく知ることができなくなる場合がある。こ
の場合は、距離測定精度が著しく劣化する。この劣化の
原因をより詳しく説明するために、多重反射が測定精度
に影響する理由を説明する。多重反射がある場合は、受
光面10上に複数の光点があるため、光量のピーク位置
を使う方式では、正規の反射光7のピークが最も高いと
は限らないので、正規の反射光7の結像位置を正しく得
ることができない。また、光量の重み付平均位置を使う
方式では、多重反射光のある側へ、重み付平均がずれて
しまうので、やはり正規の反射光7の結像位置を正しく
得ることができない。この様子を図19に示す。
【0007】この多重反射は、光源1を出て受光素子9
に戻るまでに反射した回数によって、2次(2回)多重
反射、3次(3回)多重反射、4次(4回)多重反射の
ように分類される。図20に、多重反射の一例として、
2次多重反射光15が生じている様子を示す。
【0008】この内、2次多重反射光15は受光素子9
の設置方向と運用により、ある程度回避することができ
る。2次多重反射光15は、図21に示すように、測定
対象物3がL字型の場合に起こりやすい。この場合に、
受光素子9が図21の様に配置されていると、2次多重
反射光15は受光素子9に入射されるが、受光素子9が
図22の様に配置されていると、2次多重反射光15は
受光素子9には入射されない。このため、測定時の運用
により、レーザレンジセンサか測定対象物3の向きを変
えて、つまり光学系の配置を変えて、2次多重反射光1
5の影響を回避することが可能である。なお、図21、
図22において、12はスキャナミラーである。
【0009】3次多重反射光16は、図23に示すよう
に、測定対象物3が、その表面が光沢のある物体18
で、なおかつ、その物体18の近傍に他の物体19(例
えば、その表面が光沢のない物体)がある場合に発生す
る。即ち、図23に示すように、光源1から発光された
光ビーム2が、測定対象物3である光沢のある物体18
の表面で正反射(鏡面のように反射すること)し、近傍
の他の物体19の表面上で拡散反射し、その拡散反射光
が再び測定対象物3の表面で正反射して、受光素子9に
戻ることにより3次多重反射光16となる。このふるま
いを言い換えると、測定対象物3である光沢のある物体
18の表面が鏡の役目をして、他の物体19の鏡像20
を発生させ、その鏡像を測定してしまうということであ
る。この3次多重反射光16は、光を使うレーザレンジ
センサの原理上、光学系の配置を変えて回避することは
できない。
【0010】なお、4次以上の多重反射光も原理的には
存在するが、反射のたびに光強度が減衰するため、4回
以上反射するとその光強度は著しく下がり、実用上、距
離測定への影響は無視することができる。
【0011】本発明は、前記従来技術の問題点を解決す
るためになされたものであり、本発明の目的は、距離測
定方法および距離測定装置において、光学系の配置では
原理上回避できない3次多重反射光がある場合でも、高
精度に距離を測定することが可能となる技術を提供する
ことにある。
【0012】また、本発明の他の目的は、前記距離測定
方法に適用して有効な光点分離方法、光点選出方法、受
光量分布復元方法、および結像位置検出方法を提供する
ことにある。
【0013】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
にする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記の通りである。
【0015】即ち、本発明は、光源からの光ビームを測
定対象物に照射し、前記測定物の表面で反射した反射光
を光学部品を介して受光素子の受光面に光点として結像
させ、前記受光面の光点結像位置を検出して、測定対象
物までの距離を測定する際に、受光面上に光点が複数あ
る場合でも、各光点を分離して位置検出を行い、正規の
反射光の光点の位置だけを用いて距離測定を行うことを
特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
【0017】なお、実施の形態を説明するための全図に
おいて、同一機能を有するものは同一符号を付け、その
繰り返しの説明は省略する。
【0018】[実施の形態1]始めに、図2を用いて、
本発明の実施の形態1の距離測定装置の概要について説
明する。図2は、本発明の実施の形態1の距離測定装置
の概要を説明するための図である。同図において、1は
光源、2は光源1から発光された光ビーム、3は測定対
象物、9は受光素子、21は受光手段、30は光点分離
手段、31は光点選出手段、32は受光量分布復元手
段、33は光点結像位置検出手段、34は距離算出手
段、35は制御手段である。本発明の実施の形態の距離
測定装置では、光源1から発光された光ビーム2を測定
対象物3に照射し、測定対象物3の表面で反射した反射
光(図23に示す正規の反射光7と3次多重反射光1
6)を、ミラー、プリズム、レンズ等の光学部品から成
る受光手段21を通して受光素子9の受光面に光点とし
て結像させる。ここで、制御手段35は、前記照射手段
および受光手段21を制御・駆動する。
【0019】この受光素子9で得られた受光量分布か
ら、光点分離手段30で各光点を分離し、また、光点選
出手段31で正規の反射光7の光点の位置を選出する。
さらに、受光量分布復元手段32で、光点選出手段31
で選出された正規の反射光7の受光量分布を復元し、光
点結像位置検出手段33で正規の反射光7の結像位置を
求め、距離算出手段34で測定対象物3までの距離を計
算する。これにより、本実施の形態の距離測定装置で
は、多重反射光の影響下においても精度の良い計測が可
能となる。また、制御手段35は、前記各手段(30〜
34)を制御する。
【0020】図1は、本発明の実施の形態1の距離測定
装置の概略構成を示す図である。同図に示すように、本
実施の形態1の距離測定装置は、光源1から発光された
光ビーム2を測定対象物である光沢のある物体18に照
射し、物体18の表面で反射した反射光を、ミラー、プ
リズム、レンズ等の光学部品8から成る受光手段21を
通して受光素子9の受光面に光点として結像させる。ま
た、光源1から発光された光ビーム2が、光沢のある物
体18の表面で正反射し、近傍の他の物体(その表面が
光沢のない物体)19の表面上で拡散反射し、その拡散
反射光が再び物体18の表面で正反射して生じる3次多
重反射光16も受光素子9の受光面に光点として結像さ
れる。
【0021】図3は、本実施の形態において、正規の反
射光7による結像と3次多重反射光16による結像とが
両方とも受光素子9の受光面に結像している様子を示す
模式図である。この図3は、正規の反射光7と3次多重
反射光16とが受光素子9に入射された場合の受光量分
布を示す図である。なお、図3において、曲線(A2)
は正規の反射光7のみの受光量分布を示し、曲線(A
3)は3次多重反射光16のみの受光量分布を示し、曲
線(A1)は、正規の反射光7と3次多重反射光16と
による受光量分布を示す。
【0022】次に、受光素子9から図3に示す受光量分
布が得られた場合の距離測定装置の動作を図26を参照
して説明する。複数ピークがある受光量分布が取得され
る(ステップ201)と、光点分離手段30は、受光量
分布の極大値、極小値、変曲点を利用して光点の分離を
行う(ステップ202)。光点選出手段31は、受光量
分布の極大値を利用して正規の反射光の光点を分離され
た光点から選出する(ステップ203)。受光量分布復
元手段32は、ステップ203で選出された光点に関す
る極大値、変曲点を任意の分布関数に入力することで正
規の反射光の光点に関する受光量分布を復元する(ステ
ップ204)。光点像位置検出手段33は、ステップ2
04で復元された受光量分布を用いて受光素子の受光面
の結像位置を検出する(ステップ205)。そして、距
離算出手段34は、検出された結像位置から測定対象物
までの距離を三角測量の原理を用いて算出し(ステップ
206)、その距離を出力する(ステップ207)。以
下、受光素子9から図3に示す受光量分布が得られた場
合に、本実施の形態において、どのようにして距離を算
出するかを順を追って詳細に説明する。受光素子9で得
られた受光量分布は、光点分離手段30に入力される。 〔光点分離手段30〕図4は、光点分離手段30の処理
手順を示すフローチャートである。光点分離手段30
は、受光素子9で得られた受光量分布が入力されると
(ステップ100)、受光素子9で得られた受光量分布
に対して、1次微分と2次微分の計算を行って(ステッ
プ101)、受光素子9で得られた受光量分布の極値点
と変曲点を算出する(ステップ102)。次に、各光点
の受光量分布を極小値を取る受光素子9上の各点で分離
し(ステップ103)、各光点毎に受光量分布を分離す
る(ステップ104)。即ち、受光素子9で得られた受
光量分布に対して、1次微分を行うことにより、極大値
と極小値の座標が獲得でき、極大値の座標pMAX1(x
MAX1,yMAX1),pMAX2(xMAX2,yMAX2)が得られ
る。また、同様に極小値の座標pMlN1(xMlN1
MlN1),pMlN2(xMIN2,yMI N2),p
MIN3(xMIN3,yMIN3)が得られる。次に、2次微分を
行うことにより、受光量分布の変曲点plF1,plF2,p
lF3,plF4が得られる。1次微分が0となる位置が極値
で、受光量分布の極大値と極小値が分かる。また、2次
微分が0となる位置を求め、変曲点とする。次に、受光
量分布上の各光点を、極小値pMIN2(xMlN2,yMlN2
で分離する。
【0023】光点分離手段30で分離された各光点の受
光量分布は、光点選出手段31に入力される。 〔光点選出手段31〕光点選出手段31は、受光量分布
の極大値の中で閾値よリピーク値が大きく、最も距離が
近いものを、正規の反射光7のピーク位置として選出す
る。また、ピーク値に最も近い左右の変曲点を分離点と
し、分離点で受光量分布を分離し、正規の反射光7から
3次多重反射光16の受光量分布を分離する。
【0024】図5は、3次多重反射光16の経路の一例
を示す図である。図5において、正規の反射光7は、測
定対象物である光沢のある物体18上の点P1で反射し
た後に、一部はスキャナミラー12からレンズ8を通じ
て受光素子9上の点Q1に結像する。ここで、点P1の
面が光沢面であるので、点P1で反射した一部の反射光
は、近傍の他の物体19上の点に到達する。この場合
に、物体19は非光沢面であるため、点P2に到達した
レーザ光は点P2で拡散反射し、さらにその一部のレー
ザ光が、物体18上の点P1から少し離れた位置の点P
3で3度目の反射をし、受光素子9上の遠距離側の点Q
2に結像する。ここで、3次多重反射光16は、点P1
から見て点P2と等距離の、実際にはない虚像上の点
P’2で反射したかのように見え、当然受光素子9上で
見た距離も点P1−P’2の間の距離だけ遠く見える。
一般に、3次多重反射光16が発生した場合に、受光素
子9上で観測される光強度分布の重心は、実際の距離よ
りも遠い位置となる。3次多重反射光16の影響を取り
除くために、正規の反射光7の結像位置を求める必要が
ある。2次多重反射光(図20の15)への対策がされ
ていれば、4次以上の高次の多重反射光の影響は小さい
ので、正規の反射光7は、必ず3次多重反射光16より
近距離側に結像するため、最も近距離側にある光点を正
規の反射光7の光点となる。
【0025】図6は、光点選出手段31の処理手順を示
すフローチャートである。光点選出手段31は、光点分
離手段30で得られた各光点毎の受光量分布が入力され
ると(ステップ110)、極大値の閾値を決定し(ステ
ップ111)、光点分離手段30で得られたそれぞれの
極大値を正規の反射光7の極大値の候補として選出し
(ステップ112)、当該極大値が所定の閾値以上であ
るか否かを判断する(ステップ113)。前記ステップ
113で、当該極大値の値が所定の閾値以上である場合
には、当該極大値が、最も距離の近い方(受光素子9上
の右手側)にあるか否かを判断し(ステップ114)、
最も距離の近い方(受光素子9上の右手側)にある極大
値を正規の反射光7の最大値とする(ステップ11
5)。すなわち、光点選出手段31は、複数の極大値が
入力された場合、その複数の極大値の中から、ステップ
110でノイズ除去のために設定された閾値より高く
(ステップ113)、かつ、最も距離の近い方(ステッ
プ114)にある極大値を正規の反射光7の極大値とし
て選択する処理を行う。本実施の形態では、座標pMAX2
(xMAX2,yMAX2)の点が正規の反射光7の最大値とな
る。また、受光量分布の変曲点pIF3,plF4を分離点
(各光点の区切り位置)とし、分離点で受光量分布を分
離し、正規の反射光7の受光量分布の変曲点pIF3〜p
IF4以外の受光量分布を削除する。これにより、多重反
射の影響を低減することができる。
【0026】なお、各光点のピークが接近すると、極小
値pMIN2(xMIN2,yMlN2)の方が、変曲点plF3より
も極大値pMAX2(xMAX2,yMAX2)に近くなるので、こ
の場合には、極小値pMlN2(xMIN2,yMIN2)を各光点
の区切り位置として、各光点単独の受光量分布に分割す
る。これを図3、図24、図25を用いてより詳細に説
明する。図3のように3次多重反射光と正規の反射光の
重なりがごく一部の場合、光点選出部31は選択された
正規の反射光の極大値pMAX2の左側の変曲点plF3から
右側の変曲点plF4の間を正規の反射光の分布領域とす
る。また、図24のように3次多重反射光と正規の反射
光が変曲点を越えて重なっている場合、光点選出部31
は選択された正規の反射光の極大値pMAX2の左側の極小
値pMIN2から右側の変曲点plF4の間を正規の反射光の
分布領域とする。そして、図25のように3次多重反射
光と正規の反射光の大部分が重なっている場合、光点選
出部31は選択された正規の反射光の極大値pMAX2の左
側の変曲点pIF3から右側の変曲点plF4の間を正規の反
射光の分布領域とする。即ち、極大値を中心に極小値と
変曲点のうちで極大値に距離が近い方を各光点の区切り
位置として、各光点単独の受光量分布に分割する。
【0027】なお、ステップ111で極大値の閾値を決
定しているのは、光点の受光量がある程度ないと、高精
度の測定結果が得られないために、3次多重反射光16
などとは関係なく、センサを調整後、再度測定する必要
があるためである。この正規の反射光7の受光量分布の
最大値と、左右の変曲点は受光量分布復元手段32に入
力される。 〔受光量分布復元手段32〕光点選出手段31により、
正規の反射光7の受光量分布を獲得することができた
が、3次多重反射光16の受光量分布を削除したとき
に、正規の反射光7の受光量分布の一部も失われてしま
う。そこで、受光量分布復元手段32は、得られた正規
の反射光7の受光量分布から、3次多重反射光16の受
光量分布の分離によって失われた正規の反射光7の受光
量分布を、一つのピークを持つ任意の分布関数により、
例えば、最小自乗法などによる近似により受光量分布を
復元する。
【0028】本実施の形態では、一つのピークを持つ分
布関数として、図7に示す余弦分布関数(図7のA4)
を用いる。正規の反射光7の受光量分布の最大値を使っ
て、余弦分布関数に代入し、受光量分布を復元する。
【0029】同様の手法により、一つのピークを持つ任
意の分布関数により受光量分布を復元することができ
る。
【0030】この場合、左右の変曲点(plF3〜plF4
内の元の受光量分布と、一つのピークを持つ任意の分布
関数により復元された変曲点pIF3以下の部分と、変曲
点pl F4以上の部分を復元された受光量分布とする。あ
るいは、一つのピークを持つ任意の分布関数全体を復元
された受光量分布としても良い。これにより、本実施の
形態では、3次多重反射光16の影響の少ない正規の反
射光7の受光量分布を獲得することができる。
【0031】この受光量分布復元手段32で得られた正
規の反射光7の受光量分布は、光点結像位置検出手段3
3に入力される。 〔光点結像位置検出手段33〕光点結像位置検出手段3
3は、得られた正規の反射光7の受光量分布より重み付
平均位置を算出し、正規の反射光7の結像位置とする。
この光点結像位置検出手段33で得られた正規の反射光
7の結像位置は、距離算出手段34に入力される。 〔距離算出手段34〕距離算出手段34は、求められた
正規の反射光7の結像位置により、三角測量の原理を用
いて距離の計算を行う。
【0032】このように、本実施の形態によれば、3次
多重反射光16を正規の反射光7と分離できるため、多
重反射光が発生しやすい形状や、多重反射光が発生しや
すい光沢性の測定対象物に対して、高精度で距離を測定
することができる。
【0033】[実施の形態2]本発明の実施の形態2の
距離測定装置は、受光量分布復元手段32における受光
量分布復元時に、前記実施の形態1の余弦分布関数の代
りに、図7に示す正規の反射光7の受光量分布の最大値
が平均値、正規の反射光7の受光量分布の変曲点が標準
偏差値に相当する正規分布関数(図7のA5)を用い
て、受光量分布を復元するようにしたものである。
【0034】図8は、本実施の形態の受光量分布復元手
段32における、受光量分布復元時の処理手順示すフロ
ーチャートである。本実施の形態において、受光量分布
復元手段32は、その受光量分布復元時に、光点選出手
段31で得られた正規の反射光7の極大値と、変曲点と
が入力されると(ステップ120)、当該極大値と、変
曲点とを正規分布関数に代入する(ステップ121)。
前記ステップ121で得られた分布を保存し(ステップ
122)、正規の反射光7の受光分布を得る(ステップ
123)。本実施の形態では、レーザ光の受光量分布に
近い正規分布関数を用いることにより、より正確な光強
度分布の復元が可能となる。本実施の形態では、正規の
反射光7の受光量分布の重み付平均位置と正規の反射光
7の受光量分布の最大値は等しいので、光点結像位置検
出手段33で得られた正規の反射光7の結像位置を求め
る場合に、そのまま最大値を用いても良い。
【0035】[実施の形態3]本発明の実施の形態3の
距離測定装置は、受光量分布復元手段32における受光
量分布復元時に、前記実施の形態1の余弦分布関数の代
りに、図7に示す正規の反射光7の受光量分布の最大値
が平均値、正規の反射光7の受光量分布の変曲点が標準
偏差値に相当するラプラス分布関数(図7のA6)を用
いて、受光量分布を復元するようにしたものである。な
お、前記各実施の形態の受光量分布復元手段32におけ
る受光量分布復元時に、前記実施の形態1ないし実施の
形態3の分布関数以外に、正規の反射光7の受光量分布
の最大値が平均値、正規の反射光7の受光量分布の変曲
点が標準偏差値に相当する任意の分布関数を用いて、受
光量分布を復元するようにしてもよい。 レーザ光の受
光量分布に近い任意の分布関数を用いることにより、よ
り正確な光強度分布の復元が可能となる。
【0036】[実施の形態4]図9は、本発明の実施の
形態4の距離測定装置の概略構成を示す図である。本実
施の形態の距離測定装置は、受光量分布復元手段32が
省略されている点で、前記実施の形態1の距離測定装置
と相違する。即ち、本実施の形態は、受光量分布復元手
段32で正規の反射光7の受光量分布を復元することな
く、光点選出手段31で得られた正規の反射光7の受光
量分布の最大値、あるいは中央値を結像位置とするもの
である。本実施の形態によれば、受光量分布を復元し、
かつ、重み付平均位置を算出する必要がないので、高速
に結像位置を求めることができる。
【0037】[実施の形態5]図10は、本発明の実施
の形態5の距離測定装置の概略構成を示す図である。本
実施の形態の距離測定装置は、光点分離手段30と光点
選出手段31とが省略され、その代わりに、極値・変曲
点算出手段36が設けられている点で、前記実施の形態
1の距離測定装置と相違する。受光素子9で得られた受
光量分布が3次多重反射光16を含まない、正規の反射
光7のみの受光量分布の場合には、前記した光点分離手
段30、光点選出手段31は必要としない。本実施の形
態の距離測定装置は、受光素子9で得られた受光量分布
が3次多重反射光16を含まない、正規の反射光7のみ
の受光量分布の場合の実施の形態であり、本実施の形態
では、極値・変曲点算出手段36において、微分演算に
より簡単に、極大値の座標pMAX1(xMAX1,yMAX1)を
求め、また2次微分を行うことにより、受光量分布の変
曲点plF3,plF4のみを求める。この極大値と変曲点よ
り、受光量分布復元手段32で、3次多重反射光16を
含んだ場合と同様の方法により、受光量分布の復元を行
う。このとき復元された受光量分布は、元の受光量分布
の近似となるため、復元を行っても計測の誤差には影響
がない。
【0038】このように、本実施の形態によれば、受光
素子9で得られた受光量分布が3次多重反射光16を含
まない、正規の反射光7のみの受光量分布の場合に、正
規の反射光7の受光量分布の復元、光点の結像位置の算
出を精度よく行うことができる。
【0039】[実施の形態6]本発明の実施の形態6の
距離測定装置の概略構成は、前記実施の形態1の距離測
定装置と同じである。受光素子9から図3に示す受光量
分布が得られた場合に、本実施の形態において、どのよ
うにして距離を算出するかを順を追って説明する。本実
施の形態においても、光点分離手段30で、受光素子9
で得られた受光量分布に対して、微分演算を行う。この
光点分離手段30での処理手順は、図4に示す処理手順
と同じであるので、その詳細な説明は省略する。前記実
施の形態と同様、1次微分を行うことにより、極大値と
極小値の座標が獲得できる。本実施の形態では、極大値
の座標として、pMAX1(xMAX1,yMAX1),pMAX2(x
MAX2,yMAX2)が、極小値の座標として、pMlN1(x
MIN1,yMlN1),pMI N2(xMlN2,yMlN2),p
MlN3(xMlN3,yMIN3)が得られる。また、2次微分を
行うことにより、受光量分布の変曲点の座標として、p
lF1,plF2,pIF3,plF4が得られる。次に、前記実施
の形態1と同様、光点分離手段30で、受光量分布上の
各光点を、極小値pMlN2(xMIN2,yMIN2)で分離す
る。次に、前記実施の形態1と同様、光点選出手段31
で、それぞれの光点の領域内の極大値の値と、最大値の
値とを比較してある一定閾値以上にある、最も距離の近
い方(受光素子9上の右手側)にある極大値を正規の反
射光7の最大値とする。
【0040】この光点選出手段31での処理手順は、図
4に示す処理手順と同じであるので、その詳細な説明は
省略する。本実施の形態では、座標pMAX2(xMAX2,y
MAX2)の点を正規の反射光7の最大値とする。また、受
光量分布の変曲点plF3,plF4を分離点(各光点の区切
り位置)とし、分離点で受光量分布を分離し、正規の反
射光7の受光量分布の変曲点plF3〜plF4以外の受光量
分布を削除することにより、多重反射の影響を低減する
ことができる。
【0041】なお、各光点のピークが接近すると、極小
値pMIN2(xMIN2,yMlN2)の方が、変曲点plF3より
も極大値pMAX2(xMAX2,yMAX2)に近くなるので、こ
の場合には、極小値pMlN2(xMIN2,yMIN2)を各光点
の区切り位置として、各光点単独の受光量分布に分割す
る。これを図3、図24、図25を用いてより詳細に説
明する。図3のように3次多重反射光と正規の反射光の
重なりがごく一部の場合、光点選出部31は選択された
正規の反射光の極大値pMAX2の左側の変曲点plF3から
右側の変曲点plF4の間を正規の反射光の分布領域とす
る。また、図24のように3次多重反射光と正規の反射
光が変曲点を越えて重なっている場合、光点選出部31
は選択された正規の反射光の極大値pMAX2の左側の極小
値pMIN2から右側の変曲点plF4の間を正規の反射光の
分布領域とする。そして、図25のように3次多重反射
光と正規の反射光の大部分が重なっている場合、光点選
出部31は選択された正規の反射光の極大値pMAX2の左
側の変曲点pIF3から右側の変曲点plF4の間を正規の反
射光の分布領域とする。即ち、極大値を中心に極小値と
変曲点のうちで極大値に距離が近い方を各光点の区切り
位置として、各光点単独の受光量分布に分割する。
【0042】光点選出手段31により、正規の反射光7
の受光量分布を獲得することができたが、3次多重反射
光16の受光量分布を削除したときに、正規の反射光7
の受光量分布の一部も失われてしまう。そこで、受光量
分布復元手段32は、この失われた正規の反射光7の受
光量分布を復元する必要があるが、正規の反射光7の受
光量分布は、正規分布関数、あるいはそれに十分近い分
布関数をとる。ここで、光点分離手段30で得られた正
規の反射光7の極大値pMAX2(xMAX2,yMAX2)は、正
規分布関数(図7のA5)における最大値(平均)、ま
た、正規の反射光7の受光量分布の変曲点p
IF3(xlF3,ylF3),pIF4(xlF4,yl F4)は、正規
分布関数における標準偏差値にあたる。このことから、
正規の反射光7の受光量分布の最大値と左右の変曲点を
正規分布関数にあてはめることにより、正規の反射光7
の受光量分布を復元することができる。
【0043】この場合に、正規の反射光7の受光量分布
の歪度を調べると、左右非対称であることが分かる(図
3のσL,σR参照)。そのため、左右の標準偏差値は
異なる値を取るため、そのまま正規分布関数にあてはめ
ることはできない。したがって、本実施の形態の受光量
分布復元手段32では、正規の反射光7の受光量分布は
左右異なる標準偏差値をとる分布を最大値を取る部分で
張り合わせた分布とみなし、片側ずつ正規分布関数に当
てはめる。図11は、本実施の形態の受光量分布復元手
段32における、受光量分布復元時の処理手順を示すフ
ローチャートである。本実施の形態において、受光量分
布復元手段32は、その受光量分布復元時に、光点選出
手段31で得られた正規の反射光7の極大値と、変曲点
とが入力されると(ステップ130)、当該変曲点を左
側の変曲点と右側の変曲点とに分離し(ステップ13
1,132)、正規の反射光7の極大値及び左側の変曲
点とを得る(ステップ133)。
【0044】同様に、正規の反射光7の極大値及び右側
の変曲点とを得る(ステップ134)。 当該極大値
と、左側の変曲点とを正規分布関数に代入し(ステップ
135)、前記ステップ135で得られた極大値より左
半分の分布を保存する(ステップ136)。同様に、当
該極大値と、右側の変曲点とを正規分布関数に代入し
(ステップ135)、前記ステップ136で得られた極
大値より右半分の分布を保存する(ステップ137)。
【0045】前記ステップ136とステップ137とで
得られた左右の分布を結合し(ステップ138)、正規
の反射光7の受光分布を得る(ステップ139)。実際
に3次多重反射光16が発生した場合の受光量分布を、
本実施の形態により処理した結果を図12に示す。な
お、図12において、点線が元の受光量分布、実線が処
理後の受光量分布である。このように、本実施の形態に
よれば、3次多重反射光16の影響の少ない正規の反射
光7の受光量分布を獲得することができる。
【0046】次に、光点結像位置検出手段33で、得ら
れた正規の反射光7の受光量分布より重み付平均位置を
算出し、正規の反射光7の結像位置とする。最後に、距
離算出手段34は、求められた正規の反射光7の結像位
置により、三角測量の原理を用いて距離の計算を行う。
【0047】なお、本実施の形態において、前記実施の
形態4と同様、受光量分布復元手段32を省略し、即
ち、受光量分布復元手段32で正規の反射光7の受光量
分布を復元することなく、光点選出手段31で得られた
正規の反射光7の受光量分布の最大値、あるいは中央値
を結像位置としてもよい。この場合には、重み付平均位
置を算出する必要がないので、高速に結像位置を求める
ことができる。
【0048】さらに、得られた受光量分布が3次多重反
射光を含まない、正規の反射光7のみの受光量分布の場
合には、前記実施の形態5と同様に、光点分離手段30
と光点選出手段31とを省略し、その代わりに、極値・
変曲点算出手段36を設けるようにしてもよい。このよ
うな構成の場合には、極値・変曲点算出手段36におい
て、微分演算により簡単に、極大値の座標pMAX1(x
MAX1,yMAX1)を求め、また2次微分を行うことによ
り、受光量分布の変曲点plF3,plF4のみを求める。こ
の極大値と変曲点より、受光量分布復元手段32で、3
次多重反射光16を含んだ場合と同様の方法により、受
光量分布の復元を行う。このとき復元された受光量分布
は、元の受光量分布の近似となるため、復元を行っても
計測の誤差には影響がない。
【0049】[実施の形態7]本発明の実施の形態7の
距離測定装置は、受光量分布復元手段32における受光
量分布復元時に、前記実施の形態6の正規分布関数の代
りに、図7に示す正規の反射光7の受光量分布の最大値
が平均値、正規の反射光7の受光量分布の変曲点が標準
偏差値に相当するラプラス分布関数(図7のA6)を用
いて、受光量分布を復元するようにしたものである。
【0050】なお、前記実施の形態6または実施の形態
7の受光量分布復元手段32における受光量分布復元時
に、前記実施の形態6または実施の形態7の分布関数以
外に、正規の反射光7の受光量分布の最大値が平均値、
正規の反射光7の受光量分布の変曲点が標準偏差値に相
当する任意の分布関数を用いて、受光量分布を復元する
ようにしてもよい。レーザ光の受光量分布に近い任意の
分布関数を用いることにより、より正確な光強度分布の
復元が可能となる。
【0051】[実施の形態8]図13は、本発明の実施
の形態8の距離測定装置の概略構成を示す図である。本
実施の形態の距離測定装置は、同期式走査型レンジファ
インダーに本発明を適用した場合の実施の形態である。
本実施の形態では、光源1から投光された光ビーム(レ
ーザ光)2は、スキャナミラー12で反射し測定対象物
である光沢のある物体18上の点P1で反射した後に、
一部はスキャナミラー12から光学部品(レンズ)8を
通じて受光素子9上の点Q1に結像する。本実施の形態
のような構成の同期式走査型レンジファインダーでは、
2次多重反射光(図20の15)が発生した場合に、測
定対象物である光沢のある物体18からのレーザ光はス
キャナミラー12の軸上で反射しない。このため2次多
重反射光は受光素子9上に結像せず、2次多重反射光を
構造的に回避することができる。しかしながら、3次多
重反射光16の場合は、スキャナミラー12の軸上で反
射するため、受光素子9上に結像する。3次多重反射光
16が受光素子9上に結像することにより、本来の正規
の反射光7のみの受光量分布とは異なる分布となるため
に、正しい計測結果が得られなくなる。そこで、受光素
子9上に結像した結果に対して、前記各実施の形態の手
法を適用することにより、3次多重反射光16を効果的
に取り除き、正規の反射光7のみの受光量分布を得るこ
とができる。
【0052】なお、本実施の形態においても、前記実施
の形態4と同様、受光量分布復元手段32を省略し、即
ち、受光量分布復元手段32で正規の反射光7の受光量
分布を復元することなく、光点選出手段31て得られた
正規の反射光7の受光量分布の最大値、あるいは中央値
を結像位置としてもよい。さらに、得られた受光量分布
が3次多重反射光16を含まない、正規の反射光7のみ
の受光量分布の場合には、前記実施の形態5と同様に、
光点分離手段30と光点選出手段31とを省略し、その
代わりに、極値・変曲点算出手段36を設けるようにし
てもよい。 [実施の形態9]図14は、本発明の実施の形態9の距
離測定装置の概略構成を示す図である。本実施の形態の
距離測定装置は、2次元の領域の距離を測定するレンジ
センサに本発明を適用した実施の形態である。
【0053】前記実施の形態1において、受光量分布が
2次元以上の場合について考える。本実施の形態では、
一例として2次元のレンジセンサを取り扱う。図14に
示すように、走査側にX,Yの2方向に走査できるよう
に、2つのスキャナミラー(12,13)を付加し、受
光側には、1次元の受光素子9に変えて、2次元の受光
素子11を設置する。これにより、本実施の形態の距離
測定装置は、2次元の領域の距離を測定するレンジセン
サとなる。
【0054】本実施の形態では、光点分離手段30で、
受光素子11で得られた受光量分布に対して、微分演算
を行う。これにより、前記実施の形態1の時と同様に受
光量分布の極大値、極小値および変曲点の座標を得るこ
とができる。次に、前記実施の形態1と同様、光点分離
手段30で、受光量分布上の各光点を、極小値p
MIN2(xMIN2,yMlN2)で分離する。次に、前記実施の
形態1と同様、光点選出手段31で、それぞれの光点の
領域内の極大値の値が所定の閾値以上の、最も距離の近
い方(受光素子9上の右手側)にある極大値を正規の反
射光7の最大値とする。
【0055】次に、受光量分布復元手段32で、前記極
大値を用いて、n次元の余弦分布関数を使うことによ
り、n次元の受光量分布を復元することが可能である。
例えば、最大値をとる分布を正規の反射光7の受光量分
布とすると、最大値とn次元の余弦分布を用いることに
より、n次元の正規の反射光7の受光量分布を復元する
ことが可能である。同様にして、ラプラス分布関数や正
規分布関数を用いて、正規の反射光7の受光量分布を復
元することが可能である。
【0056】まだ、より高速に、正確な結像位置を得ら
れる手法として、正規の反射光7の最大値pMAX2(x
MAX2,yMAX2)を用いる方法がある。通常、受光素子
(9,11)のピクセル単位でしか正規の反射光7の受
光量分布の最大値を求めることができないが、極大値を
使用することにより、CCD受光素子のサブピクセル単
位で求めることができ、より正確な距離計測が可能とな
る。
【0057】なお、本実施の形態においても、前記実施
の形態4と同様、受光量分布復元手段32を省略し、即
ち、受光量分布復元手段32で正規の反射光7の受光量
分布を復元することなく、光点選出手段31で得られた
正規の反射光7の受光量分布の最大値、あるいは中央値
を結像位置としてもよい。さらに、得られた受光量分布
が3次多重反射光を含まない、正規の反射光7のみの受
光量分布の場合には、前記実施の形態5と同様に、光点
分離手段30と光点選出手段31とを省略し、その代わ
りに、極値・変曲点算出手段36を設けるようにしても
よい。 [実施の形態10]図15は、本発明の実施の形態10
の距離測定装置の概略構成を示す図である。 前記実施
の形態9においては、スキャナミラーをX,Yの2つ採
用していたが、本実施の形態においては、投光側のX方
向のミラー12を受光側のミラーと同期するものを採用
したものである。本実施の形態のように、投光側と受光
側のミラーを同期させることにより、前記実施の形態6
で得られたと同じく、2次多重反射光が受光素子9上に
結像することを防ぐことができる。同時に投光側と受光
側のミラーを同期させることにより、受光側の受光素子
9を1次元の受光素子で代替することができる。
【0058】なお、本実施の形態では、大きな一つのミ
ラーとしたが、投光側のミラーと受光側のミラーを2つ
に分け同期するような仕組みにすることも可能である。
さらに、3次多重反射光16の処理については、1次元
のレンジセンサと同じ処理方式で効果を得ることができ
る。
【0059】なお、本実施の形態においても、前記実施
の形態4と同様、受光量分布復元手段32を省略し、即
ち、受光量分布復元手段32で正規の反射光7の受光量
分布を復元することなく、光点選出手段31で得られた
正規の反射光7の受光量分布の最大値、あるいは中央値
を結像位置としてもよい。さらに、得られた受光量分布
が3次多重反射光16を含まない、正規の反射光7のみ
の受光量分布の場合には、前記実施の形態5と同様に、
光点分離手段30と光点選出手段31とを省略し、その
代わりに、極値・変曲点算出手段36を設けるようにし
てもよい。なお、実施の形態5以外の実施の形態で得ら
れた受光量分布が3次多重反射光16を含まない場合で
あっても、本発明は高精度な距離の測定をすることが可
能である。
【0060】なお、上記実施の形態において、図1、図
2、図9、図10、図13、図14、図15における各
手段あるいはそれら各手段のうち一部の手段の機能を実
現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な
記録媒体に記録して、コンピュータシステムはこの記録
媒体に記録されたプログラムを読み込み、実行すること
により光点分離、光点選択、受光量分布復元、結像位置
検出や距離測定といった処理を行ってもよい。なお、こ
こでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機
器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フロッピーディ
スク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬
媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディス
ク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読
み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネッ
トワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを
送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプ
ログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライア
ントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリの
ように、一定時間プログラムを保持しているものも含む
ものとする。また上記プログラムは、前述した機能の一
部を実現するためのものであっても良く、さらに前述し
た機能をコンピュータシステムにすでに記録されている
プログラムとの組み合わせで実現できるものであっても
良い。なお、リアルタイムで距離測定に関する処理を行
う場合、上述の「コンピュータシステム」には距離測定
のために必要となる照射手段や受光手段等が接続されて
いてプログラムの実行により距離測定に関する処理が行
われるものとする。また、リアルタイム処理が必要でな
ければ、照射手段や受光手段等を用いて取得した距離測
定に必要な情報を別に取得してデジタル情報として保存
し、上述の「コンピュータシステム」はそのデジタル情
報を読み込んでプログラムの実行により距離測定に関す
る処理を行っても良い。以上、本発明者によってなされ
た発明を、前記実施の形態に基づき具体的に説明した
が、本発明は、前記実施の形態に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能で
あることは勿論である。
【0061】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。
【0062】(1)本発明によれば、多重反射光を正規
の反射光と分離できるため、多重反射光が発生しやすい
形状や、多重反射光が発生しやすい光沢性の測定対象物
に対して、高精度で距離を測定することが可能となる。
【0063】(2)本発明によれば、多重反射光のある
なしに関わらず、正規の反射光の受光量分布の復元、光
点の結像位置の算出を精度よく行うことが可能である。
【0064】(3)本発明によれば、今までに多重反射
光による精度劣化のため使用できなかった分野での距離
測定が実現でき、汎用性の高い距離測定装置を得ること
が可能となる。
【0065】(4)本発明によれば、距離計測に正規の
反射光の最大値を使用する場合に、従来の距離計測に反
射光の最大値を使用するもの、および、従来の距離計測
に重心を使用するものより、高速かつ高精度で距離を測
定することが可能となる。
【0066】(5)本発明によれば、正規の反射光の復
元を行う場合に、測定対象物の表面状態などにより、受
光量分布が変わる可能性があるため、様々な分布関数を
用いて、受光量分布を復元することにより、より正確な
距離測定結果を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1の距離測定装置の概略
構成を示す図である。
【図2】 本発明の実施の形態1の距離測定装置の概要
を説明するための図である。
【図3】 本実施の形態1において、正規の反射光によ
る結像と3次多重反射光による結像とが両方とも受光素
子の受光面に結像している様子を示す模式図である。
【図4】 本実施の形態1の光点分離手段の処理手順を
示すフローチャートである。
【図5】 3次多重反射光の経路の一例を示す図であ
る。
【図6】 本実施の形態の光点選出手段の処理手順を示
すフローチャートである。
【図7】 本実施の形態の受光量分布復元手段で、正規
の反射光の受光量分布を復元する際に使用する分布関数
を示す図である。
【図8】 本実施の形態2の受光量分布復元手段におけ
る、受光量分布復元時の処理手順を示すフローチャート
である。
【図9】 本発明の実施の形態4の距離測定装置の概略
構成を示す図である。
【図10】 本発明の実施の形態5の距離測定装置の概
略構成を示す図である。
【図11】 本実施の形態6の受光量分布復元手段にお
ける、受光量分布復元時の処理手順を示すフローチャー
トである。
【図12】 実際に3次多重反射光が発生した場合の受
光量分布を、本実施の形態6により処理した結果を示す
グラフである。
【図13】 本発明の実施の形態8の距離測定装置の概
略構成を示す図である。
【図14】 本発明の実施の形態9の距離測定装置の概
略構成を示す図である。
【図15】 本発明の実施の形態10の距離測定装置の
概略構成を示す図である。
【図16】 従来のレーザレンジセンサの概略構成を示
す図である。
【図17】 従来のレーザレンジセンサの距離測定の原
理を説明するための図である。
【図18】 多重反射光がない場合に、受光量分布から
算出された結像位置を示す図である。
【図19】 多重反射光がある場合に、受光量分布から
算出された結像位置を示す図である。
【図20】 多重反射の一例として、2次多重反射光が
生じている様子を示す図である。
【図21】 2次多重反射光が発生し易い測定対象物と
して、L字型の測定対象物を示す図である。
【図22】 測定対象物がL字型である場合に、2次多
重反射光を回避する光学系の配置を示す図である。
【図23】 3次多重反射光が発生する原理を説明する
ための図である。
【図24】 正規の反射光による結像と3次多重反射光
による結像が変曲点を越えて重なっている様子を示す模
式図である。
【図25】 正規の反射光による結像と3次多重反射光
による結像の大部分が重なっている様子を示す模式図で
ある。
【図26】 距離測定装置の動作を示すフローチャート
である。
【符号の説明】
1…光源、2…光ビーム、3,3a,3b…測定対象
物、7…正規の反射光、8…光学部品、9…受光素子、
10…受光素子の受光面、11…2次元受光素子、1
2,13…スキャナミラー、15…2次多重反射光、1
6…3次多重反射光、18…光沢のある物体、19…光
沢のない物体、20…光沢のない物体の鏡像、21…受
光手段、30…光点分離手段、31…光点選出手段、3
2…受光量分布復元手段、33…光点結像位置検出手
段、34…距離算出手段、35…制御手段、36…極値
・変曲点算出手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−83654(JP,A) 特開 昭61−180102(JP,A) 特開 平10−332335(JP,A) 特開 平10−227617(JP,A) 特開 平5−46774(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01C 3/00 - 3/32

Claims (30)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1次元以上の受光面を持つ受光素子上に
    複数の光点が同時に結像し、受光素子上の受光量が複数
    のピークをもつ1次元以上の分布となる場合において、 受光量分布の極大値、極小値および変曲点を算出し、極
    大値を中心に極小値と変曲点のうちで極大値に距離が近
    い方を各光点の区切り位置として、各光点単独の受光量
    分布に分割することを特徴とする光点分離方法。
  2. 【請求項2】 1次元以上の受光面を持つ受光素子上に
    複数の光点が同時に結像する場合であって、受光素子上
    の受光量分布における複数の極大値が与えられる場合
    に、極大値が所定の閾値以上であり、かつ、前記極大値
    の受光量分布上の位置が、測定対象物までの距離に換算
    した場合に最も小さくなる極大値を正規の反射光の光点
    として選択することを特徴とする光点選出方法。
  3. 【請求項3】 1次元以上の受光面を持つ受光素子上に
    結像した各光点単独の1次元以上の受光量分布の一部ま
    たは全部が与えられている場合に、任意の分布関数を用
    いて、与えられた各光点の受光量分布により、各光点単
    独の受光量分布を復元することを特徴とする受光量分布
    復元方法。
  4. 【請求項4】 前記各光点の受光量分布の極大値と変曲
    点が与えられている場合に、前記任意の分布関数とし
    て、前記各光点の受光量分布の極大値が平均値、変曲点
    が標準偏差値となる分布関数を用い、また、前記各光点
    の受光量分布の極大値と変曲点とを、前記分布関数の最
    大値と変曲点とみなして、各光点単独の受光量分布を前
    記分布関数として復元することを特徴とする請求項3に
    記載の受光量分布復元方法。
  5. 【請求項5】 前記与えられた各光点の受光量分布が非
    対称の場合に、左側と右側で平均値が同じで、標準偏差
    値が異なる任意の分布関数を用いて復元することを特徴
    とする請求項4に記載の受光量分布復元方法。
  6. 【請求項6】 前記分布関数が、正規分布関数であるこ
    とを特徴とする請求項4に記載の受光量分布復元方法。
  7. 【請求項7】 前記与えられた各光点の受光量分布が非
    対称の場合に、左側と右側で平均値が同じで、標準偏差
    値が異なる正規分布関数を用いて復元することを特徴と
    する請求項6に記載の受光量分布復元方法。
  8. 【請求項8】 請求項1に記載の光点分離方法によって
    分離された各光点単独の受光量分布から光点の結像位置
    を算出することを特徴とする結像位置検出方法。
  9. 【請求項9】 各光点単独の受光量分布の重み付平均位
    置を結像位置とすることを特徴とする請求項8に記載の
    結像位置検出方法。
  10. 【請求項10】 各光点単独の受光量分布の最大値を結
    像位置とすることを特徴とする請求項8に記載の結像位
    置検出方法。
  11. 【請求項11】 各光点単独の受光量分布の中央値を結
    像位置とすることを特徴とする請求項8に記載の結像位
    置検出方法。
  12. 【請求項12】 光源からの光ビームを測定対象物に照
    射し、前記測定対象物の表面で反射した反射光を光学部
    品を介して受光素子の受光面に光点として結像させ、結
    像位置検出ステップにより前記受光面の光点結像位置を
    検出し、測定対象物までの距離を測定する距離測定方法
    において、 受光素子で得られた受光量分布に複数ピークがあると
    き、前記結像位置検出ステップの前に、光点分離を行う
    光点分離ステップと、分離された光点から必要な光点を
    選出する光点選出ステップとを有することを特徴とする
    距離測定方法。
  13. 【請求項13】 前記光点選出ステップは、極大値が所
    定の閾値以上であり、前記極大値の受光量分布上の位置
    が、測定対象物までの距離に換算した場合に、最も小さ
    くなる極大値を正規の反射光の光点として選択すること
    を特徴とする請求項12に記載の距離測定方法。
  14. 【請求項14】 前記光点分離ステップは、請求項1に
    記載の光点分離方法を使用して光点分離を行うことを特
    徴とする請求項12または請求項13に記載の距離測定
    方法。
  15. 【請求項15】 前記光点選出ステップの後に、前記光
    点選出ステップで選出された受光量分布を復元する受光
    量分布復元ステップを有することを特徴とする請求項1
    2ないし請求項14のいずれか1項に記載の距離測定方
    法。
  16. 【請求項16】 前記受光量分布復元ステップは、前記
    請求項3ないし請求項7に記載の受光量分布復元方法の
    いずれか一つの方法を使用して、前記光点選出ステップ
    で選出された受光量分布を復元することを特徴とする請
    求項15に記載の距離測定方法。
  17. 【請求項17】 光源からの光ビームを測定対象物に照
    射し、前記測定対象物の表面で反射した反射光を光学部
    品を介して受光素子の受光面に光点として結像させ、結
    像位置検出ステップにより前記受光面の光点結像位置を
    検出し、測定対象物までの距離を測定する距離測定方法
    において、 前記結像位置検出ステップの前に、前記受光素子上に結
    像した光点単独の1次元以上の受光量分布の一部または
    全部より、任意の分布関数を用いて、光点単独の受光量
    分布を復元する受光量分布復元ステップを有することを
    特徴とする距離測定方法。
  18. 【請求項18】 前記受光量分布復元ステップは、前記
    請求項4ないし請求項7に記載の受光量分布復元方法の
    いずれか一つの方法を使用して、前記受光素子で得られ
    た受光量分布を復元することを特徴とする請求項17に
    記載の距離測定方法。
  19. 【請求項19】 前記結像位置検出ステップは、前記請
    求項8ないし請求項11に記載の結像位置検出方法の何
    れか一つの方法を使用して、前記受光面の光点結像位置
    を検出することを特徴とする請求項12ないし請求項1
    8のいずれか1項に記載の距離測定方法。
  20. 【請求項20】 光源と、受光した光エネルギーを光の
    位置と強さに応じた電気信号に変換し得る受光素子と、
    前記光源からの光ビームが測定対象物の表面で反射され
    た反射光を前記受光素子の受光面に光点として結像させ
    る受光手段と、前記受光素子で受光された光点の結像位
    置を検出する結像位置検出手段と、前記結像位置検出手
    段で検出された結像位置から測定対象物までの距離を算
    出する距離算出手段とを有する距離測定装置であって、 前記受光素子で受光された光点の受光量分布を単独の光
    点に分離する光点分離手段と、 前記光点分離手段により分離された光点から測定に必要
    な光点だけを選出する光点選出手段と、 前記光源、前記光点分離手段、前記光点選出手段、前記
    結像位置検出手段、および前記距離算出手段を制御する
    制御手段とを有し、 前記結像位置検出手段は、前記光点選出手段で選出され
    た光点を、前記受光された光点として結像位置を検出す
    ることを特徴とする距離測定装置。
  21. 【請求項21】 前記光点選出手段で選ばれた光点の単
    独光分布を復元する受光量分布復元手段を有し、 前記結像位置検出手段は、復元した受光量分布から結像
    位置を検出し、 また、前記制御手段がさらに前記受光量分布復元手段も
    制御することを特徴とする請求項20に記載の距離測定
    装置。
  22. 【請求項22】 光源と、受光した光エネルギーを光の
    位置と強さに応じた電気信号に変換し得る受光素子と、
    前記光源からの光ビームが測定対象物の表面で反射され
    た反射光を前記受光素子の受光面に光点として結像させ
    る受光手段と、前記受光素子上に結像した光点単独の1
    次元以上の受光量分布の一部または全部より任意の分布
    関数を用いて光点単独の受光量分布を復元する受光量分
    布復元手段と、前記受光量分布復元手段で復元された光
    点の受光量分布から光点の結像位置を検出する結像位置
    検出手段と、前記結像位置検出手段で検出された結像位
    置から測定対象物までの距離を算出する距離算出手段
    と、前記光源、前記受光量分布復元手段、前記結像位置
    検出手段、および前記距離算出手段とを制御する制御手
    段とを有することを特徴とする距離測定装置。
  23. 【請求項23】 前記光源からの光ビームを、第1の回
    転ミラーにより第1軸方向に制御する第1投光制御手段
    と、前記第1投光制御手段から出た光を第2の回転ミラ
    ーにより第2軸方向に制御する第2投光制御手段とを備
    えることを特徴とする請求項20ないし請求項22のい
    ずれか1項に記載の距離測定装置。
  24. 【請求項24】 前記第2投光制御手段の第2の回転ミ
    ラーと同期した第3の回転ミラーにより、前記光源から
    の光ビームが測定対象物に照射された位置で形成される
    光スポットの受光素子上への結像を制御する受光制御手
    段を備えることを特徴とする請求項23に記載の距離測
    定装置。
  25. 【請求項25】 前記第2の回転ミラーと第3の回転ミ
    ラーが一体となっていることを特徴とする請求項24に
    記載の距離測定装置。
  26. 【請求項26】 前記距離測定装置は、同期式走査型レ
    ンジファインダーであることを特徴とする請求項20な
    いし請求項22のいずれか1項に記載の距離測定装置。
  27. 【請求項27】 1次元以上の受光面を持つ受光素子上
    に複数の光点が同時に結像し、受光素子上の受光量が複
    数のピークをもつ1次元以上の分布となる場合の光点分
    離を行う光点分離プログラムを記録したコンピュータ読
    み取り可能な記録媒体において、 前記光点分離プログラムは、 前記受光素子上の受光量分布を入力するステップと、 前記受光量分布の極大値、極小値および変曲点を算出す
    るステップと、 前記極大値を中心に極小値と変曲点のうちで該極大値に
    距離が近い方を各光点の区切り位置として、各光点単独
    の受光量分布に分割するステップとをコンピュータに実
    行させる光点分離プログラムを記録した記録媒体。
  28. 【請求項28】 1次元以上の受光面を持つ受光素子上
    に複数の光点が同時に結像し、受光素子上の受光量が複
    数のピークをもつ1次元以上の分布となる場合の正規の
    反射光の光点を選択する光点選択プログラムを記録した
    コンピュータ読み取り可能な記録媒体において、 前記光点分離プログラムは、 前記受光素子上の受光量分布における複数の極大値を入
    力するステップと、 極大値が所定の閾値以上であり、かつ、前記極大値の受
    光量分布上の位置が、測定対象物までの距離に換算した
    場合に最も小さくなる極大値を正規の反射光の光点とし
    て選択するステップとをコンピュータに実行させる光点
    選択プログラムを記録した記録媒体。
  29. 【請求項29】 1次元以上の受光面を持つ受光素子上
    に複数の光点が同時に結像し、受光素子上の受光量が複
    数のピークをもつ1次元以上の分布となる場合の光点単
    独の受光量分布を復元する受光量分布復元プログラムを
    記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体におい
    て、 前記受光量分布復元プログラムは、 前記受光素子上に結像した光点の極大値および変曲点を
    入力するステップと、 任意の分布関数を用いて、前記極大値および変曲点によ
    り、光点単独の受光量分布を復元するステップとをコン
    ピュータに実行させる受光量分布復元プログラムを記録
    した記録媒体。
  30. 【請求項30】 光源からの光ビームを測定対象物に照
    射し、前記測定対象物の表面で反射した反射光を光学部
    品を介して受光素子の受光面に光点として結像させた受
    光量分布を用いて測定対象物までの距離を測定する距離
    測定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な
    記録媒体において、 前記距離測定プログラムは、 前記受光量分布を入力するステップと、 前記受光量分布に複数ピークがあるとき、光点分離を行
    うステップと、 分離された光点から必要な光点を選出するステップと、 選出された光点から前記受光面の結像位置を検出するス
    テップと、 前記検出された結像位置から前記測定対象物までの距離
    を測定するステップとをコンピュータに実行させる距離
    測定プログラムを記録した記録媒体。
JP10334716A 1997-12-05 1998-11-25 距離測定方法、距離測定装置及び距離測定プログラムを記録した記録媒体 Expired - Fee Related JP3020485B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10334716A JP3020485B2 (ja) 1997-12-05 1998-11-25 距離測定方法、距離測定装置及び距離測定プログラムを記録した記録媒体

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33588997 1997-12-05
JP9-335889 1997-12-05
JP10334716A JP3020485B2 (ja) 1997-12-05 1998-11-25 距離測定方法、距離測定装置及び距離測定プログラムを記録した記録媒体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11241906A JPH11241906A (ja) 1999-09-07
JP3020485B2 true JP3020485B2 (ja) 2000-03-15

Family

ID=26574916

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10334716A Expired - Fee Related JP3020485B2 (ja) 1997-12-05 1998-11-25 距離測定方法、距離測定装置及び距離測定プログラムを記録した記録媒体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3020485B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4533482B2 (ja) * 1999-11-30 2010-09-01 株式会社キーエンス 光学式変位計
JP5071702B2 (ja) * 2005-07-26 2012-11-14 アイシン精機株式会社 障害物検知システム
JP4887057B2 (ja) * 2006-02-17 2012-02-29 株式会社キーエンス 光電センサ
JP5072336B2 (ja) * 2006-12-07 2012-11-14 株式会社キーエンス 光学式変位センサ及び光学式変位計
US7920247B2 (en) * 2007-11-30 2011-04-05 Nissan Motor Co., Ltd. Distance measurement system and distance measurement method
JP5320880B2 (ja) * 2007-11-30 2013-10-23 日産自動車株式会社 距離計測装置、距離計測方法および車両
JP5633058B1 (ja) * 2013-07-19 2014-12-03 株式会社三次元メディア 3次元計測装置及び3次元計測方法
JP6248887B2 (ja) * 2014-10-03 2017-12-20 Jfeスチール株式会社 フック状フランク部を有するねじ付き部材のねじ形状測定装置及び方法
JP6985087B2 (ja) * 2017-09-28 2021-12-22 株式会社Screenホールディングス インクジェット印刷装置のヘッド電圧補正方法及びそれを用いた装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11241906A (ja) 1999-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11550056B2 (en) Multiple pixel scanning lidar
JP2943499B2 (ja) 高さ測定方法および装置
CA2297611C (en) Virtual multiple aperture 3-d range sensor
EP3583384A1 (en) Lidar based 3-d imaging with structured light and integrated illumination and detection
CN107036534B (zh) 基于激光散斑测量振动目标位移的方法及系统
EP2202480A2 (en) Extended range focus detection apparatus
JP3020485B2 (ja) 距離測定方法、距離測定装置及び距離測定プログラムを記録した記録媒体
TWI411860B (zh) 聚焦定位判定方法
US6166810A (en) Method and apparatus for determining distance
JP3805791B2 (ja) 三次元カラー結像システム中のノイズの望ましくない効果を低減する方法と装置
Sabov et al. Identification and correction of flying pixels in range camera data
US10091493B2 (en) Device and method for scanning object outline image
US20020005956A1 (en) Method and device for measuring three-dimensional position
TWI428567B (zh) 測距方法、測距系統與其處理軟體
Lim et al. A novel one-body dual laser profile based vibration compensation in 3D scanning
CA2382372C (en) Light-beam multiple reflections resolution
JP2002139311A (ja) 光ビーム照射測定装置
JPS6195203A (ja) 光切断線検出装置
JP2638607B2 (ja) 測距装置
JPS6262208A (ja) 距離測定装置および距離測定方法
Fukuda et al. Accurate Range Image Generation Using Sensor Fusion of TOF and Stereo-basedMeasurement
JPH07286811A (ja) 光学装置
TW201018540A (en) Method of focus and automatic focusing apparatus and detecting module thereof
JP4611174B2 (ja) 撮像素子位置測定装置及び撮像素子位置測定方法
JP2009186216A (ja) 3次元形状測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080114

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees