JP3017367B2 - マルチポート回路のｓパラメータ測定方法 - Google Patents
マルチポート回路のｓパラメータ測定方法Info
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- JP3017367B2 JP3017367B2 JP4263063A JP26306392A JP3017367B2 JP 3017367 B2 JP3017367 B2 JP 3017367B2 JP 4263063 A JP4263063 A JP 4263063A JP 26306392 A JP26306392 A JP 26306392A JP 3017367 B2 JP3017367 B2 JP 3017367B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、夫々第１及び第２の測
定端に接続された２個の測定ポートを有するベクトルネ
ットワークアナライザを用いてマルチポート回路の真の
Ｓパラメータを測定する方法の改良に関する。
定端に接続された２個の測定ポートを有するベクトルネ
ットワークアナライザを用いてマルチポート回路の真の
Ｓパラメータを測定する方法の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、マイクロ波ミリ波機器の普及に伴
い、Ｓパラメータの測定技術が重要となっている。特
に、特願平３−９１７５４号にて開示されているよう
に、４ポート回路を低雑音増幅器の整合回路として用い
るなど、マルチポート回路の研究も盛んとなっており、
マルチポート回路のＳパラメータの正確な測定が特に重
要になっている。現在広く行なわれているＳパラメータ
の測定方法としては、図５に示すように、例えばマイク
ロストリップラインにて構成される４ポート回路５を測
定する場合、測定に利用する２つのポート１，２をベク
トルネットワークアナライザの測定端６，７に接続し、
残りの２つのポート３，４を何らかの手段で無反射終端
（１６，１７）して測定する方法がとられている。ネッ
トワーク・アナライザの測定端６，７はＴＲＬ法により
校正され、両測定端の間に挿入される被測定物のＳパラ
メータが正確に測定できるように意図している。ＴＲＬ
法は例えばＩＥＥＥ Trans. Microwave Theory Tech.,
Vol. MTT-27, No.12, Dec. 1979.p.987-993 にて開示さ
れている校正法で、マイクロストリップライン回路の測
定に適した方法である。
い、Ｓパラメータの測定技術が重要となっている。特
に、特願平３−９１７５４号にて開示されているよう
に、４ポート回路を低雑音増幅器の整合回路として用い
るなど、マルチポート回路の研究も盛んとなっており、
マルチポート回路のＳパラメータの正確な測定が特に重
要になっている。現在広く行なわれているＳパラメータ
の測定方法としては、図５に示すように、例えばマイク
ロストリップラインにて構成される４ポート回路５を測
定する場合、測定に利用する２つのポート１，２をベク
トルネットワークアナライザの測定端６，７に接続し、
残りの２つのポート３，４を何らかの手段で無反射終端
（１６，１７）して測定する方法がとられている。ネッ
トワーク・アナライザの測定端６，７はＴＲＬ法により
校正され、両測定端の間に挿入される被測定物のＳパラ
メータが正確に測定できるように意図している。ＴＲＬ
法は例えばＩＥＥＥ Trans. Microwave Theory Tech.,
Vol. MTT-27, No.12, Dec. 1979.p.987-993 にて開示さ
れている校正法で、マイクロストリップライン回路の測
定に適した方法である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】図５の例に示す従来の
測定方法は、被測定物の４つのポートのうち測定に利用
する２つのポート以外の、残りの（Ｎ−２）個のポート
を何らかの手段で無反射終端して測定しているが、一般
に精度良く無反射終端するのは非常に困難である。従っ
て、従来の方法で測定されたＳパラメータは誤差を含ん
でおり、被測定物の真のＳパラメータとはならないとい
う問題点があった。
測定方法は、被測定物の４つのポートのうち測定に利用
する２つのポート以外の、残りの（Ｎ−２）個のポート
を何らかの手段で無反射終端して測定しているが、一般
に精度良く無反射終端するのは非常に困難である。従っ
て、従来の方法で測定されたＳパラメータは誤差を含ん
でおり、被測定物の真のＳパラメータとはならないとい
う問題点があった。
【０００４】本発明の目的はベクトルネットワークアナ
ライザによって測定されたマルチポート回路のＳパラメ
ータから誤差要因を除去して真のＳパラメータを得るた
めの測定方法を提供することにある。
ライザによって測定されたマルチポート回路のＳパラメ
ータから誤差要因を除去して真のＳパラメータを得るた
めの測定方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の測定方法は、反射係数の大きな１ポートの
負荷と、電気長の異なる２つの伝送線路を校正用標準器
として具備し、第１の測定端と負荷を接続して反射係数
を測定し、第２の測定端と負荷を接続して反射係数を測
定し、第１の測定端と第２の測定端の間に電気長の短い
伝送線路を挿入して４個のＳパラメータを測定し、第１
の測定端と第２の測定端の間に電気長の長い伝送線路を
挿入して４個のＳパラメータを測定し、第１の測定端と
（Ｎ−２）個の無反射終端器の間に順次電気長の短い伝
送線路を挿入して反射係数を測定し、これらの測定結果
から、ベクトルネットワークアナライザの第１の測定ポ
ートから第１の測定端までの誤差要因Ｓパラメータと、
第２ポートから第２の測定端までの誤差要因Ｓパラメー
タと、（Ｎ−２）個の無反射終端器の誤差要因反射係数
を算出し、実際のＮポート回路の測定時には、Ｎ個ある
ポートのうち測定に使用しない（Ｎ−２）個のポートに
上記（Ｎ−２）個の無反射終端器を接続し、測定された
Ｓパラメータから上記誤差要因を取り除いてＮポート回
路の真のＳパラメータを得ることを要旨とする。
め、本発明の測定方法は、反射係数の大きな１ポートの
負荷と、電気長の異なる２つの伝送線路を校正用標準器
として具備し、第１の測定端と負荷を接続して反射係数
を測定し、第２の測定端と負荷を接続して反射係数を測
定し、第１の測定端と第２の測定端の間に電気長の短い
伝送線路を挿入して４個のＳパラメータを測定し、第１
の測定端と第２の測定端の間に電気長の長い伝送線路を
挿入して４個のＳパラメータを測定し、第１の測定端と
（Ｎ−２）個の無反射終端器の間に順次電気長の短い伝
送線路を挿入して反射係数を測定し、これらの測定結果
から、ベクトルネットワークアナライザの第１の測定ポ
ートから第１の測定端までの誤差要因Ｓパラメータと、
第２ポートから第２の測定端までの誤差要因Ｓパラメー
タと、（Ｎ−２）個の無反射終端器の誤差要因反射係数
を算出し、実際のＮポート回路の測定時には、Ｎ個ある
ポートのうち測定に使用しない（Ｎ−２）個のポートに
上記（Ｎ−２）個の無反射終端器を接続し、測定された
Ｓパラメータから上記誤差要因を取り除いてＮポート回
路の真のＳパラメータを得ることを要旨とする。
【０００６】
【作用】本発明の測定方法では、ベクトルネットワーク
アナライザの第１ポートから第１の測定端までの誤差要
因のＳパラメータと、第２ポートから第２の測定端まで
の誤差要因のＳパラメータと、（Ｎ−２）個の無反射終
端器の微差要因の反射係数を算出することができ、実際
のＮポート回路の測定時には、Ｎ個あるポートのうち測
定に使用しない（Ｎ−２）個のポートに上記（Ｎ−２）
個の無反射終端器を接続し、測定されたＳパラメータか
ら上記誤差要因を取り除いたＮポート回路の真のＳパラ
メータを得ることができる。
アナライザの第１ポートから第１の測定端までの誤差要
因のＳパラメータと、第２ポートから第２の測定端まで
の誤差要因のＳパラメータと、（Ｎ−２）個の無反射終
端器の微差要因の反射係数を算出することができ、実際
のＮポート回路の測定時には、Ｎ個あるポートのうち測
定に使用しない（Ｎ−２）個のポートに上記（Ｎ−２）
個の無反射終端器を接続し、測定されたＳパラメータか
ら上記誤差要因を取り除いたＮポート回路の真のＳパラ
メータを得ることができる。
【０００７】
【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。図１乃至図４は本発明の測定方法の一実施例を示
し、同図において、５は４ポート１〜４を有する４ポー
ト回路、６及び７はベクトルネットワークアナライザ１
８の第１ポート１１、第２ポート１２に夫々接続された
第１及び第２の測定端、８，９，１０は夫々ＴＲＬ校正
標準器としての負荷、電気長の短い伝送線路、電気長の
長い伝送線路である。１３及び１４は同軸型無反射終端
器、１５はコンピュータ、１６，１７は無反射終端部で
ある。
る。図１乃至図４は本発明の測定方法の一実施例を示
し、同図において、５は４ポート１〜４を有する４ポー
ト回路、６及び７はベクトルネットワークアナライザ１
８の第１ポート１１、第２ポート１２に夫々接続された
第１及び第２の測定端、８，９，１０は夫々ＴＲＬ校正
標準器としての負荷、電気長の短い伝送線路、電気長の
長い伝送線路である。１３及び１４は同軸型無反射終端
器、１５はコンピュータ、１６，１７は無反射終端部で
ある。
【０００８】まず、４ポート回路５のＳパラメータを測
定する前に、図１に示す手順でＴＲＬ（Through REFLEC
T-LINE）校正を行うため、第１の測定端６と負荷８を接
続して反射係数を測定し、第２の測定端７と負荷を接続
して反射係数を測定し、第１の測定端６と第２の測定端
７の間に電気長の短い伝送線路９を挿入して４個のＳパ
ラメータを測定し、第１の測定端６と第２の測定端７の
間に電気長の長い伝送線路１０を挿入して４個のＳパラ
メータを測定する。これらの測定結果から、コンピュー
タ１５によりベクトルネットワークアナライザ１８の第
１ポート１１から第１の測定端６までの誤差要因Ｓパラ
メータと、第２ポート１２から第２の測定端７までの誤
差要因のＳパラメータがＴＲＬ法で算出される。
定する前に、図１に示す手順でＴＲＬ（Through REFLEC
T-LINE）校正を行うため、第１の測定端６と負荷８を接
続して反射係数を測定し、第２の測定端７と負荷を接続
して反射係数を測定し、第１の測定端６と第２の測定端
７の間に電気長の短い伝送線路９を挿入して４個のＳパ
ラメータを測定し、第１の測定端６と第２の測定端７の
間に電気長の長い伝送線路１０を挿入して４個のＳパラ
メータを測定する。これらの測定結果から、コンピュー
タ１５によりベクトルネットワークアナライザ１８の第
１ポート１１から第１の測定端６までの誤差要因Ｓパラ
メータと、第２ポート１２から第２の測定端７までの誤
差要因のＳパラメータがＴＲＬ法で算出される。
【０００９】また、図３に示す手順で無反射終端部の校
正を行うため、測定に利用する第１の測定端６と２個の
無反射終端器１３，１４の間に順次電気長の短い伝送線
路９を挿入して反射係数を測定する。これらの結果か
ら、コンピュータ１５によって２個の無反射終端器１
３，１４の誤差要因の反射係数が算出される。
正を行うため、測定に利用する第１の測定端６と２個の
無反射終端器１３，１４の間に順次電気長の短い伝送線
路９を挿入して反射係数を測定する。これらの結果か
ら、コンピュータ１５によって２個の無反射終端器１
３，１４の誤差要因の反射係数が算出される。
【００１０】次に図３に示すように４ポート回路５のＳ
パラメータを測定するため、測定に利用する２つのポー
ト１，２をベクトルネットワークアナライザ１８の測定
端６，７に接続し、残りの２つのポート３，４には同軸
型の無反射終端器１３，１４を接続してＳパラメータが
測定される。測定されたＳパラメータから、コンピュー
タ１５等の外部計算手段を用いて、上記誤差要因のＳパ
ラメータ、反射係数を取り除く。このようにして、被測
定物である４ポート回路５の真のＳパラメータが算出さ
れる。
パラメータを測定するため、測定に利用する２つのポー
ト１，２をベクトルネットワークアナライザ１８の測定
端６，７に接続し、残りの２つのポート３，４には同軸
型の無反射終端器１３，１４を接続してＳパラメータが
測定される。測定されたＳパラメータから、コンピュー
タ１５等の外部計算手段を用いて、上記誤差要因のＳパ
ラメータ、反射係数を取り除く。このようにして、被測
定物である４ポート回路５の真のＳパラメータが算出さ
れる。
【００１１】図４は上述した本発明の測定方法の各手順
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【００１２】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の測定方法に
よれば、ベクトルネットワークアナライザの第１ポート
から第１の測定端までの誤差要因のＳパラメータと、第
２ポートから第２の測定端までの誤差要因のＳパラメー
タと、（Ｎ−２）個の無反射終端器の誤差要因の反射係
数と、を算出して、実際のＮポート回路の測定時には、
Ｎ個あるポートのうち測定に使用しない（Ｎ−２）個の
ポートに上記（Ｎ−２）個の無反射終端器を接続し、測
定されたＳパラメータから上記誤差要因を取り除いてＮ
ポート回路の真のＳパラメータを得ることができる。
よれば、ベクトルネットワークアナライザの第１ポート
から第１の測定端までの誤差要因のＳパラメータと、第
２ポートから第２の測定端までの誤差要因のＳパラメー
タと、（Ｎ−２）個の無反射終端器の誤差要因の反射係
数と、を算出して、実際のＮポート回路の測定時には、
Ｎ個あるポートのうち測定に使用しない（Ｎ−２）個の
ポートに上記（Ｎ−２）個の無反射終端器を接続し、測
定されたＳパラメータから上記誤差要因を取り除いてＮ
ポート回路の真のＳパラメータを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１はＴＲＬ校正の手順を示す説明図である。
【図２】本発明の方法による無反射終端部の校正の手順
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図３】本発明の実施例を示すブロック図である。
【図４】本発明の測定方法のフローチャートである。
【図５】従来の４ポート回路の測定方法を示すブロック
図である。
図である。
１ ポート１ ２ ポート２ ３ ポート３ ４ ポート４ ５ ４ポート回路 ６ 第１の測定端 ７ 第２の測定端 ８ 負荷（ＴＲＬ校正標準器） ９ 電気長の短い伝送線路（ＴＲＬ校正用標準器） １０ 電気長の長い伝送線路（ＴＲＬ校正用標準器） １１ ベクトルネットワークアナライザの第１ポート １２ ベクトルネットワークアナライザの第２ポート １３ 同軸型無反射終端器１ １４ 同軸型無反射終端器２ １５ コンピュータ １６ 無反射終端部１ １７ 無反射終端部２
Claims (1)
- 【請求項１】 第１及び第２の測定端に接続された第１
及び第２の測定ポートを有するベクトルネットワークア
ナライザを用いてＮ（３以上の整数）ポート回路のＳパ
ラメータを測定する方法において、 反射係数の大きな１ポートの負荷と、電気長の異なる２
つの伝送線路を校正用標準器として具備し、 第１の測定端と上記負荷を接続して反射係数を測定し、
上記第２の測定端と上記負荷を接続して反射係数を測定
し、 上記第１の測定端と第２の測定端の間に電気長の短い伝
送線路を挿入して４個のＳパラメータを測定し、 上記第１の測定端と第２の測定端の間に電気長の長い伝
送線路を挿入して４個のＳパラメータを測定し、 前記第１の測定端と（Ｎ−２）個の無反射終端器の間に
順次電気長の短い伝送線路を挿入して反射係数を測定
し、 これらの測定結果から、前記ベクトルネットワークアナ
ライザの第１の測定ポートから第１の測定端までの誤差
要因Ｓパラメータと、第２ポートから第２の測定端まで
の誤差要因Ｓパラメータと、（Ｎ−２）個の無反射終端
器の誤差要因反射係数を算出し、 前記Ｎポート回路のＮ個あるポートのうち測定に使用し
ない（Ｎ−２）個のポートに上記（Ｎ−２）個の無反射
終端器を接続して、該回路のＳパラメータを測定し、 測定されたＳパラメータから上記誤差要因のＳパラメー
タ及び反射係数を取り除いてＮポート回路の真のＳパラ
メータを得ることを特徴とするマルチポート回路のＳパ
ラメータ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4263063A JP3017367B2 (ja) | 1992-09-04 | 1992-09-04 | マルチポート回路のｓパラメータ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4263063A JP3017367B2 (ja) | 1992-09-04 | 1992-09-04 | マルチポート回路のｓパラメータ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0688844A JPH0688844A (ja) | 1994-03-29 |
| JP3017367B2 true JP3017367B2 (ja) | 2000-03-06 |
Family
ID=17384335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4263063A Expired - Fee Related JP3017367B2 (ja) | 1992-09-04 | 1992-09-04 | マルチポート回路のｓパラメータ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3017367B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3404238B2 (ja) * | 1997-01-10 | 2003-05-06 | 京セラ株式会社 | 高周波測定の校正標準器および校正法ならびに高周波用伝送線路の伝送損失の測定方法 |
| JP4274462B2 (ja) * | 2003-09-18 | 2009-06-10 | 株式会社アドバンテスト | 誤差要因取得用装置、方法、プログラムおよび記録媒体 |
| JP2005274373A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Fujitsu Ltd | Ｓパラメータ算出装置，ｓパラメータ算出方法，ｓパラメータ算出プログラムおよびそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| KR101852484B1 (ko) * | 2016-10-17 | 2018-04-26 | 한국표준과학연구원 | 전자파 임피던스 측정 장치 및 전자파 임피던스 교정 방법 |
-
1992
- 1992-09-04 JP JP4263063A patent/JP3017367B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0688844A (ja) | 1994-03-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |