JP3015473B2 - ガラス製品のための検査機 - Google Patents
ガラス製品のための検査機Info
- Publication number
- JP3015473B2 JP3015473B2 JP3016989A JP1698991A JP3015473B2 JP 3015473 B2 JP3015473 B2 JP 3015473B2 JP 3016989 A JP3016989 A JP 3016989A JP 1698991 A JP1698991 A JP 1698991A JP 3015473 B2 JP3015473 B2 JP 3015473B2
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- Japan
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- light
- lens
- light beam
- photodiode
- liquid crystal
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はガラス製品のための検
査機に関する。
査機に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えばガラスびんの口部や肩部における
傷を検査するために、該当部分に光を当てその反射光を
受光して光の変化によって判定を行う検査装置が使用さ
れている。
傷を検査するために、該当部分に光を当てその反射光を
受光して光の変化によって判定を行う検査装置が使用さ
れている。
【０００３】添付の図面の図２は、従来使用されている
検査機６０の概略配置図であるが、この装置では投光器
によってガラスびんＧに当てられた光の反射光が、受光
器６１の集光レンズ６２を介してその後部に設けられた
フォトダイオード６３の受光面に集光される。フォトダ
イオード６３によって受光された光信号は電気信号に変
換されて制御装置６５に送られ、制御装置ではこの信号
を増幅するとともに該信号が予め設定された値に合致す
るか否か、あるいは信号の変化量が設定された値のもの
であるかどうかを判別することによって、傷の有無およ
び製品の良否が判定される。
検査機６０の概略配置図であるが、この装置では投光器
によってガラスびんＧに当てられた光の反射光が、受光
器６１の集光レンズ６２を介してその後部に設けられた
フォトダイオード６３の受光面に集光される。フォトダ
イオード６３によって受光された光信号は電気信号に変
換されて制御装置６５に送られ、制御装置ではこの信号
を増幅するとともに該信号が予め設定された値に合致す
るか否か、あるいは信号の変化量が設定された値のもの
であるかどうかを判別することによって、傷の有無およ
び製品の良否が判定される。
【０００４】しかるに、この従来装置にあっては、被検
査物からの反射光が受光器のフォトダイオードの受光面
に正確に集光されるよう調整することが不可欠なのであ
るが、しかしながら、この調整が適正であるかどうかの
判断が極めて難しく、調整に多くの時間がかかってい
た。
査物からの反射光が受光器のフォトダイオードの受光面
に正確に集光されるよう調整することが不可欠なのであ
るが、しかしながら、この調整が適正であるかどうかの
判断が極めて難しく、調整に多くの時間がかかってい
た。
【０００５】また、この従来装置では、検査該当部分以
外からの入光に対して区別がしにくく、受光器のセット
方向を調整したり、あるいは判断の設定値をゆるやかに
するとかという小手先的な対応をせざるを得なかった。
外からの入光に対して区別がしにくく、受光器のセット
方向を調整したり、あるいは判断の設定値をゆるやかに
するとかという小手先的な対応をせざるを得なかった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この発明は上のような
状況に鑑み、被検査物からの反射光がフォトダイオード
の受光面に正確に集光されるよう調整することを極めて
容易に行うことができる装置を提供することを目的とす
るものである。
状況に鑑み、被検査物からの反射光がフォトダイオード
の受光面に正確に集光されるよう調整することを極めて
容易に行うことができる装置を提供することを目的とす
るものである。
【０００７】また、この発明は、検査該当部分のみを入
光を確実に行うための有効なマスキングをおこなうこと
ができる装置を提供することを目的とするものである。
さらに、この発明は欠陥の検出を高速かつ高性能で行う
ことができる装置を提供することを目的とする。
光を確実に行うための有効なマスキングをおこなうこと
ができる装置を提供することを目的とするものである。
さらに、この発明は欠陥の検出を高速かつ高性能で行う
ことができる装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】すなわち、この発明は、
被検査物体からの光を焦点合わせする第１レンズと、前
記第１レンズによって焦点合わせされた光束に必要なマ
スキングを行う液晶マトリックスアレイと、前記液晶マ
トリックスアレイによってマスキングされた光束を焦点
合わせする第２レンズと、前記第２レンズによって焦点
合わせされた光束を直進光と反射光の２つに光束に分割
するビームスプリッターと、前記ビームスプリッターに
よって分割された一方の光束を受光するＣＣＤ素子と、
前記ＣＣＤ素子によって受光された光信号を画像化する
モニター装置と、前記ビームスプリッターによって分割
された他方の光束を受光して電気信号に変換するフォト
ダイオードと、前記フォトダイオードによって変換され
た電気信号を設定値と比較判定して結果を出力する制御
装置とからなることを特徴とするガラス製品のための検
査機に係る。
被検査物体からの光を焦点合わせする第１レンズと、前
記第１レンズによって焦点合わせされた光束に必要なマ
スキングを行う液晶マトリックスアレイと、前記液晶マ
トリックスアレイによってマスキングされた光束を焦点
合わせする第２レンズと、前記第２レンズによって焦点
合わせされた光束を直進光と反射光の２つに光束に分割
するビームスプリッターと、前記ビームスプリッターに
よって分割された一方の光束を受光するＣＣＤ素子と、
前記ＣＣＤ素子によって受光された光信号を画像化する
モニター装置と、前記ビームスプリッターによって分割
された他方の光束を受光して電気信号に変換するフォト
ダイオードと、前記フォトダイオードによって変換され
た電気信号を設定値と比較判定して結果を出力する制御
装置とからなることを特徴とするガラス製品のための検
査機に係る。
【０００９】
【実施例】以下添付の図面に従って、この発明の実施例
を説明すると、図１はこの発明装置の一例を示す概略配
置図である。
を説明すると、図１はこの発明装置の一例を示す概略配
置図である。
【００１０】図示したように、この発明に係る検査機１
０は、被検査物体Ｂからの光Ｌを受光する第１レンズ１
５と、液晶マトリックスアレイ２０と、第２レンズ２５
と、ビームスプリッター３０と、ＣＣＤ素子３５と、モ
ニター装置４０と、フォトダイオード４５と、制御装置
５０とから構成される。なお、符号１１はレンズボック
スである。
０は、被検査物体Ｂからの光Ｌを受光する第１レンズ１
５と、液晶マトリックスアレイ２０と、第２レンズ２５
と、ビームスプリッター３０と、ＣＣＤ素子３５と、モ
ニター装置４０と、フォトダイオード４５と、制御装置
５０とから構成される。なお、符号１１はレンズボック
スである。
【００１１】第１レンズ１５は両凸レンズよりなり、被
検査物体Ｂからの光Ｌを焦点合わせするものである。
検査物体Ｂからの光Ｌを焦点合わせするものである。
【００１２】液晶マトリックスアレイ２０は前記第１レ
ンズ１５によって焦点合わせされた光束に必要なマスキ
ングを行うものであって、液晶がマトリックス上に並列
されていて各ピクセル毎に透明または不透明を外部から
指令により自由に選択することができる。例えばディス
プレーテック、インコーポレーテッド社製のハイコント
ラスト高速強誘電性液晶マトリックスアレイ（ピクセル
サイズ０．８８５×０．８８５mm、ピクセル数６×６）
が使用される。
ンズ１５によって焦点合わせされた光束に必要なマスキ
ングを行うものであって、液晶がマトリックス上に並列
されていて各ピクセル毎に透明または不透明を外部から
指令により自由に選択することができる。例えばディス
プレーテック、インコーポレーテッド社製のハイコント
ラスト高速強誘電性液晶マトリックスアレイ（ピクセル
サイズ０．８８５×０．８８５mm、ピクセル数６×６）
が使用される。
【００１３】第２レンズ２５は前記第１レンズ１５と同
様両凸レンズよりなり、前記液晶マトリックスアレイ２
０によってマスキングされた光束を焦点合わせするもの
である。
様両凸レンズよりなり、前記液晶マトリックスアレイ２
０によってマスキングされた光束を焦点合わせするもの
である。
【００１４】ビームスプリッター３０は前記第２レンズ
２５によって焦点合わせされた光束を直進光と反射光の
２つに光束に分割する公知のものである。ＣＣＤ素子３
５は固体撮像素子（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄ
ｅｖｉｃｅ）とも呼ばれるもので、例えばソニー株式会
社製のインターライン型２次元ＣＣＤ ＩＣＸ０１８Ｃ
Ｌ等が好ましく使用される。このＣＣＤ素子３５は前記
ビームスプリッター３０によって分割された一方の光束
（図では直進光）を受光する。
２５によって焦点合わせされた光束を直進光と反射光の
２つに光束に分割する公知のものである。ＣＣＤ素子３
５は固体撮像素子（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄ
ｅｖｉｃｅ）とも呼ばれるもので、例えばソニー株式会
社製のインターライン型２次元ＣＣＤ ＩＣＸ０１８Ｃ
Ｌ等が好ましく使用される。このＣＣＤ素子３５は前記
ビームスプリッター３０によって分割された一方の光束
（図では直進光）を受光する。
【００１５】モニター装置４０は前記ＣＣＤ素子３５と
一体に構成されたＣＣＤカメラよりなり、前記ＣＣＤ素
子３５によって受光された光信号を画像化するものであ
る。
一体に構成されたＣＣＤカメラよりなり、前記ＣＣＤ素
子３５によって受光された光信号を画像化するものであ
る。
【００１６】フォトダイオード４５は前記ビームスプリ
ッター３０によって分割された他方の光束（図では反射
光）を受光し、この光信号を電気信号に変換するもので
ある。フォトダイオード４５はこの種光学的検査機に多
用されているもので、例えば株式会社光電子工業研究所
製のフォトダイオードＳＰ−４５ＭＬ等が有用である。
ッター３０によって分割された他方の光束（図では反射
光）を受光し、この光信号を電気信号に変換するもので
ある。フォトダイオード４５はこの種光学的検査機に多
用されているもので、例えば株式会社光電子工業研究所
製のフォトダイオードＳＰ−４５ＭＬ等が有用である。
【００１７】制御装置５０は、図示のように、前記フォ
トダイオードによって変換された電気信号を設定値と比
較判定して結果を出力するもので、一般的にはフォトダ
イオードからの入力信号が微弱なために一旦該信号の増
幅が行なわれ、公知の手段、例えば、二値化または微分
等の手段によってその信号が欠陥かどうかが判別され
る。
トダイオードによって変換された電気信号を設定値と比
較判定して結果を出力するもので、一般的にはフォトダ
イオードからの入力信号が微弱なために一旦該信号の増
幅が行なわれ、公知の手段、例えば、二値化または微分
等の手段によってその信号が欠陥かどうかが判別され
る。
【００１８】
【発明の効果】上の構成よりなるこの発明の検査機にあ
っては、まず、液晶マトリックスアレイによって、被検
査物体からの光に必要なマスキングを外部から指令によ
り自由に選択して実施することができる。さらに、被検
査物体からの光はビームスプリッターによって直進光と
反射光の２つに分割され、その一をＣＣＤ素子を介して
モニター装置に、他をフォトダイオードを介して欠陥検
出をなす制御装置に伝達するようにしたものであるか
ら、検査のための光をそのままモニター装置によって見
ることができる。このことは、検査光の調整、チェック
を直接画像によって確認でき、それらを的確におこなう
ことができるのみならず、前記の液晶マトリックスアレ
イによるマスキングの調整も極めて簡単かつ容易に行な
うことができることを意味する。
っては、まず、液晶マトリックスアレイによって、被検
査物体からの光に必要なマスキングを外部から指令によ
り自由に選択して実施することができる。さらに、被検
査物体からの光はビームスプリッターによって直進光と
反射光の２つに分割され、その一をＣＣＤ素子を介して
モニター装置に、他をフォトダイオードを介して欠陥検
出をなす制御装置に伝達するようにしたものであるか
ら、検査のための光をそのままモニター装置によって見
ることができる。このことは、検査光の調整、チェック
を直接画像によって確認でき、それらを的確におこなう
ことができるのみならず、前記の液晶マトリックスアレ
イによるマスキングの調整も極めて簡単かつ容易に行な
うことができることを意味する。
【００１９】さらに、ＣＣＤ素子は単にモニター信号の
ためにのみ用いられ、検査のための信号はフォトダイオ
ードを介して伝達されるので、ＣＣＤ素子によるより
も、高速かつ高性能な検査をおこなうことができる。こ
のように、この発明による検査機にあっては、特に被検
査物体が変わる、いわゆる型替え時等におけるセットを
短時間で正確におこなうことができ、従来のこの種検査
機に比し多大な有利性を兼ね備えるものである。
ためにのみ用いられ、検査のための信号はフォトダイオ
ードを介して伝達されるので、ＣＣＤ素子によるより
も、高速かつ高性能な検査をおこなうことができる。こ
のように、この発明による検査機にあっては、特に被検
査物体が変わる、いわゆる型替え時等におけるセットを
短時間で正確におこなうことができ、従来のこの種検査
機に比し多大な有利性を兼ね備えるものである。
【図１】この発明装置の一例を示す検査機の概略配置図
である。
である。
【図２】従来の検査機の一例を示す概略配置図である。
１０ 検査機 １５ 第１レンズ ２０ 液晶マトリックスアレイ ２５ 第２レンズ ３０ ビームスプリッター ３５ ＣＣＤ素子 ４０ モニター装置 ４５ フォトダイオード ５０ 制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958
Claims (1)
- 【請求項１】 被検査物体からの光を焦点合わせする第
１レンズと、前記第１レンズによって焦点合わせされた
光束に必要なマスキングを行う液晶マトリックスアレイ
と、前記液晶マトリックスアレイによってマスキングさ
れた光束を焦点合わせする第２レンズと、前記第２レン
ズによって焦点合わせされた光束を直進光と反射光の２
つに光束に分割するビームスプリッターと、前記ビーム
スプリッターによって分割された一方の光束を受光する
ＣＣＤ素子と、前記ＣＣＤ素子によって受光された光信
号を画像化するモニター装置と、前記ビームスプリッタ
ーによって分割された他方の光束を受光して電気信号に
変換するフォトダイオードと、前記フォトダイオードに
よって変換された電気信号を設定値と比較判定して結果
を出力する制御装置とからなることを特徴とするガラス
製品のための検査機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3016989A JP3015473B2 (ja) | 1991-01-16 | 1991-01-16 | ガラス製品のための検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3016989A JP3015473B2 (ja) | 1991-01-16 | 1991-01-16 | ガラス製品のための検査機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04242158A JPH04242158A (ja) | 1992-08-28 |
| JP3015473B2 true JP3015473B2 (ja) | 2000-03-06 |
Family
ID=11931442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3016989A Expired - Lifetime JP3015473B2 (ja) | 1991-01-16 | 1991-01-16 | ガラス製品のための検査機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3015473B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6989857B2 (en) * | 2003-06-30 | 2006-01-24 | Emhart Glass S.A. | Container inspection machine |
-
1991
- 1991-01-16 JP JP3016989A patent/JP3015473B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04242158A (ja) | 1992-08-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
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| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 13 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080201 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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Year of fee payment: 13 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080201 |
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Year of fee payment: 14 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090201 |
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Year of fee payment: 15 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100201 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 15 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100201 |