JP3005622B2

JP3005622B2 - 通信システム

Info

Publication number: JP3005622B2
Application number: JP8147912A
Authority: JP
Inventors: 貢名古屋
Original assignee: 貢名古屋
Priority date: 1996-05-17
Filing date: 1996-05-17
Publication date: 2000-01-31
Anticipated expiration: 2016-05-17
Also published as: JPH09305430A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分散配置された各
センサモジュール、各端末装置で得られるデータの収
集、各センサモジュールに対する検出条件の設定、各端
末装置に対するデータの転送などを行なう通信システム
に関する。

【０００２】

【従来の技術】分散配置された各センサモジュールや各
端末装置と、ホストコンピュータ装置とを通信回線で接
続した通信システムの１つとして、各センサモジュー
ル、各端末装置、ホストコンピュータ装置内などに通信
デバイスを搭載し、これらの各通信デバイスを使用し
て、各センサモジュールなどで得られるデータの収集、
各センサモジュールに対する検出条件の設定などを行な
うものが知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の通信システムにおいては、各センサモジュー
ルのセンサ本体で得られたデータを通信回線上に送出す
る際、センサモジュールに搭載されている通信デバイス
によって前記データを通信規約に対応するように変換し
て通信信号を生成し、これを通信回線上に送出し、また
ホストコンピュータ装置から通信回線上に送出された通
信信号を取り込む際、通信デバイスによって通信回線上
から前記通信信号を取り込んで、これを通信規約に基づ
き、ＣＰＵで処理可能なデータに変換しているので、各
センサモジュール毎に通信デバイスを搭載しなければな
らず、その分だけ各センサモジュールの製造コストが高
くなってしまうという問題があった。また、このような
通信デバイスを使用して、各センサモジュールと、ホス
トコンピュータ装置との間で、シリアル通信を行なうと
き、データの転送速度が数十Ｋｂｐｓ程度に制限されて
しまい、各センサモジュールなどで得られたデータを収
集したり、各センサモジュールに対して検出条件を設定
したりする際、時間がかかり過ぎてしまうという問題が
あった。本発明は上記の事情に鑑み、通信デバイスを使
用することなく各センサモジュールや各端末装置など
と、ホストコンピュータ装置などとを接続することがで
き、これによってシステム全体の製造コストを低減させ
ることができるとともに、各センサモジュールや各端末
装置などと、ホストコンピュータ装置などとの間のデー
タ転送速度を最大で、２０Ｍｂｐｓ程度まで高めて、各
センサモジュールや各端末装置などで得られたデータを
収集したり、各センサモジュールや各端末装置に対して
検出条件やデータを設定したりする際に要する時間を飛
躍的に短くすることができる通信システムを提供するこ
とを目的としている。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、請求項１では、分散配置された複数の電
子機器に対して、シリアルデータを転送する機能、前記
各電子機器からシリアルデータを転送させる機能を持つ
通信システムにおいて、前記各電子機器内にバウンダリ
スキャンテスト機能を持つバウンダスキャン素子を配置
し、このバウンダリスキャン素子が持つシリアルデータ
の入出力機能を使用して、シリアルデータの取込み、出
力を行なうことを特徴としている。また、請求項２で
は、請求項１に記載の通信システムにおいて、前記各電
子機器間を光ファイバケーブルによって接続し、各電子
機器間で転送されるシリアルデータとして、光信号を使
用することを特徴としている。上記の構成により、請求
項１では、分散配置された複数の電子機器に対して、シ
リアルデータを転送する機能、前記各電子機器からシリ
アルデータを転送させる機能を持つ通信システムにおい
て、前記各電子機器内にバウンダリスキャンテスト機能
を持つバウンダスキャン素子を配置し、このバウンダリ
スキャン素子が持つシリアルデータの入出力機能を使用
して、シリアルデータの取込み、出力を行なうことによ
り、通信デバイスを使用することなく各センサモジュー
ルや各端末装置などと、ホストコンピュータ装置などと
を接続可能にし、これによってシステム全体の製造コス
トを低減させるとともに、各センサモジュールや各端末
装置などと、ホストコンピュータ装置などとの間のデー
タ転送速度を最大で、２０Ｍｂｐｓ程度まで高めて、各
センサモジュールや各端末装置などで得られたデータを
収集したり、各センサモジュールや各端末装置に対して
検出条件やデータを設定したりする際に要する時間を飛
躍的に短くする。また、請求項２では、請求項１に記載
の通信システムにおいて、前記各電子機器間を光ファイ
バケーブルによって接続し、各電子機器間で転送される
シリアルデータとして、光信号を使用することにより、
請求項１と同様に、通信デバイスを使用することなく各
センサモジュールや各端末装置などと、ホストコンピュ
ータ装置などとを接続可能にし、これによってシステム
全体の製造コストを低減させるとともに、各センサモジ
ュールや各端末装置などと、ホストコンピュータ装置な
どとの間のデータ転送速度を最大で、２０Ｍｂｐｓ程度
まで高めて、各センサモジュールや各端末装置などで得
られたデータを収集したり、各センサモジュールや各端
末装置に対して検出条件やデータを設定したりする際に
要する時間を飛躍的に短くする。

【０００５】

【発明の実施の形態】

《発明の基本原理》まず、本発明による通信システムの
詳細な説明に先だって、本発明の基本原理となるバウン
ダリスキャンテスト法について説明する。本発明で使用
するバウンダリスキャンテスト法は、このテスト法をサ
ポートしている集積回路（ＩＣチップ）、例えば図６に
示す如く集積回路１１０本来の機能を実現する内部ロジ
ック回路１１１の入出力端子と、集積回路１１０の入力
端子１１２、出力端子１１３との間に、これら入力端子
１１２、出力端子１１３と１対１で対応するセル１１４
を設けるとともに、バイパスレジスタ１１５、ＩＤＣＯ
ＤＥレジスタ１１６、インストラクションレジスタ１１
７などを設け、さらにこれら各セル１１４、バイパスレ
ジスタ１１５〜インストラクションレジスタ１１７によ
って構成されるバウンダリスキャンレジスタ１１８を制
御するＴＡＰコントローラ１１９を設けた集積回路１１
０の動作状態およびこの集積回路１１０と外部機器との
接続関係をテストする方法であり、次に述べる手順で、
集積回路１１０のテストを行なう。まず、集積回路１１
０自体の良否をチェックする際には、ＴＤＩ端子１２
０、ＴＤＯ端子１２１、ＴＣＫ端子１２２、ＴＭＳ端子
１２３、ＴＲＳＴ端子１２４を図７に示す如く制御し
て、集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０にシリアルデー
タ（テストデータ）を入力しながら、これをシフトさせ
て、各入力端子１１２に対応する各セル１１４にテスト
データをセットし、この状態で、集積回路１１０を動作
させた後、各出力端子１１３に対応する各セル１１４に
セットされているデータをシフトさせて、本来、各出力
端子１１３から出力されるデータを集積回路１１０のＴ
ＤＯ端子１２１から出力させ、これによって得られたシ
リアルデータ（テスト結果データ）と、この集積回路１
１０に入力させたテストデータとの対応関係に基づき、
集積回路１１０の内部ロジック１１１が良好かどうかを
テストする。

【０００６】また、図８に示す如く基板１２６などに形
成されたプリントパターンを利用して、このようなバウ
ンダリスキャンテスト法をサポートしている集積回路１
１０を複数個、接続しているときには、１つ目の集積回
路１１０のＴＤＯ端子１２１と、２つの目の集積回路１
１０のＴＤＩ端子１２０とを接続するとともに、ホスト
コンピュータ装置１２７などに設けられたバウンダリス
キャンコントローラボード１２８の出力端子１２９と、
１つ目の集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０とを接続
し、さらにバウンダリスキャンコントローラボード１２
８の入力端子１３０と、２つ目の集積回路１１０のＴＤ
Ｏ端子１２１とを接続する。そして、テストデータ作成
ツール１３１などを使用してテストデータ（シリアルデ
ータ）を作成し、これをバウンダリスキャンコントロー
ラボード１２８の出力端子１２９から出力させ、１つ目
の集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０に入力させながら
これをシフトさせて、この集積回路１１０の各出力端子
１１３に対応する各セル１１４にセットさせる。この状
態で、図９に示す如く１つ目の集積回路１１０に設けら
れている各出力端子１１３から、これら各セル１１４に
格納されているデータを出力させるとともに、システム
バスなどを構成する各プリントパターン１３３を介し
て、２つ目の集積回路１１０の各入力端子１１２に入力
させ、これらの各入力端子１１２に対応する各セル１１
４に取り込ませる。

【０００７】この後、これらの各集積回路１１０の各セ
ル１１４に格納されているデータをシフトさせて、バウ
ンダリスキャンコントローラボード１２８の入力端子１
３０で、これを取込みながら、テスト結果解析ツール１
３２などを使用して、これを解析することにより、これ
らの各集積回路１１０を接続するプリントパターン１３
３などのテスト範囲１３５が正常かどうかをテストす
る。また、バウンダリスキャンコントローラボード１２
８によって、２つ目の集積回路１１０を図１０に示す如
くパイパス状態にした後、テストデータ作成ツール１３
１などを使用して作成したテストデータをバウンダリス
キャンコントローラボード１２８の出力端子１２９から
出力させ、１つ目の集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０
に入力させながらこれをシフトさせて、図１１に示す如
くこの集積回路１１０の各入力端子１１２に対応する各
セル１１４にセットさせる。次いで、この集積回路１１
０を動作させて、これによって得られたデータを各出力
端子１１３に対応する各セル１１４に取り込ませた後、
これらの各セル１１４に格納されているデータをシフト
させて、１つの目の集積回路１１０のＴＤＯ端子１２１
から出力させるともに、２つ目の集積回路１１０をバイ
パスさせて、バウンダリスキャンコントローラボード１
２８の入力端子１３０で、これを取込みながら、テスト
解析ツール１３２などを使用して、これを解析すること
により、１つ目の集積回路１１０が正しく動作するかど
うかをテストする。

【０００８】同様に、バウンダリスキャンコントローラ
ボード１２８によって、１つ目の集積回路１１０を、図
１０に示す如くパイパス状態にした後、テストデータ作
成ツール１３１などを使用して作成したテストデータを
バウンダリスキャンコントローラボード１２８の出力端
子１２９から出力させ、１つ目の集積回路１１０をバイ
パスさせた状態で、２つ目の集積回路１１０のＴＤＩ端
子１２０に入力させながらこれをシフトさせ、図１１に
示す如くこの集積回路１１０の各入力端子１１２に対応
する各セル１１４にセットさせる。次いで、この集積回
路１１０を動作させて、これによって得られたデータを
各出力端子１１３に対応する各セル１１４に取り込ませ
た後、これらの各セル１１４に格納されているデータを
シフトさせて、バウンダリスキャンコントローラボード
１２８の入力端子１３０で、これを取込みながら、テス
ト結果解析ツール１３２などを使用して、これを解析す
ることにより、２つ目の集積回路１１０が正しく動作す
るかどうかをテストする。このように、バウンダリスキ
ャンテスト法をサポートしている集積回路１１０を使用
している基板１２６であれば、バウンダリスキャンテス
ト法を使用して、各集積回路１１０自体の良否、各集積
回路１１０同士の接続関係などをテストすることができ
る。

【０００９】本発明は、各センサモジュールの各基板と
して、このようなバウンダリスキャンテスト法をサポー
トしている集積回路１１０を使用している基板１２６を
使用したとき、通信用集積回路などを使用することな
く、基板１２６上に搭載されている各集積回路１１０に
対して、シリアルデータの入出力を行なうことができる
ことに着目し、これらの各集積回路１１０のＴＤＩ端子
１２０、ＴＤＯ端子１２１を使用することにより、通信
デバイスなどを使用することなくホストコンピュータ装
置などと通信を行なうことを可能にしている。さらに、
これら各集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０にデータを
セットするとき、および各集積回路１１０のＴＤＯ端子
１２１からテスト結果を出力させるとき、これら各集積
回路１１０のデータ転送速度が最大で、２０Ｍｂｐｓに
なることを利用して、これらの各集積回路１１０にテス
トデータ、検出条件データなどを設定したり、各集積回
路１１０に取り込まれた測定結果や稼動状態を示すデー
タなどを出力させたりる際のデータ転送速度を最大で、
２０Ｍｂｐｓにし、これによってデータの高速転送を可
能にしている。

【００１０】《形態例の構成》以下、本発明を図面に示
した形態例に基づいて詳細に説明する。図１は上述した
基本原理を用いた本発明による通信システムの一形態例
を示すブロック図である。この図に示す通信システム１
は、各検知対象部分に配置される第１〜第Ｎセンサモジ
ュール２ａ〜２ｎと、集中管理室内などに配置されるホ
ストコンピュータ装置３と、これら第１〜第Ｎセンサモ
ジュール２ａ〜２ｎとホストコンピュータ装置３とを接
続する光ファイバケーブル４とを備えており、第１〜第
Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎで検知対象となる事象、
例えばドアの開閉、人の出入りなどを検出し、これをバ
ウンダリスキャン素子（バウンダリスキャンテスト法を
サポートしている集積回路）の入出力機能を利用して出
力信号にした後、光信号に変換して、シリアル伝送方式
でホストコンピュータ装置３に伝送する。第１〜第Ｎセ
ンサモジュール２ａ〜２ｎは各々、図２に示す如くドア
の開閉や人の出入りなどを検出するセンサ本体５と、バ
ウンダリスキャン機能を持つ１つ以上のバウンダリスキ
ャン素子によって構成され、設定されている検出条件に
基づき、前記センサ本体５を制御して、ドアの開閉や人
の出入りなどを検出する処理、バウンダリスキャン素子
が持つシリアルデータの入出力機能を利用して、前記光
ファイバケーブル４を介し、他のセンサモジュールやホ
ストコンピュータ装置３と通信する処理などを行なうバ
ウンダリスキャン素子回路６と、前記光ファイバケーブ
ル４を介して供給される光信号を電気信号に変換して、
前記バウンダリスキャン素子回路６に入力する受信用光
カプラ７と、前記バウンダリスキャン素子回路６から出
力される電気信号を光信号に変換して、光ファイバケー
ブル４内に送出する送信用光カプラ８とを備えている。

【００１１】このような構成により、これら第１〜第Ｎ
センサモジュール２ａ〜２ｎでは、光ファイバケーブル
４を介してホストコンピュータ装置３から送信された光
信号を受光し、これを電気信号に変換して、バウンダリ
スキャン素子回路６内にある各バウンダリスキャン素子
に入力し、各バウンダリスキャン素子に検出条件などの
データをセットしたり、各バウンダリスキャン素子から
出力されるシリアルデータを光信号に変換して、光ファ
イバケーブル４内に出射し、次段のセンサモジュールや
ホストコンピュータ装置３などに伝送する。ホストコン
ピュータ装置３は、図３に示す如く表示データが供給さ
れたとき、この表示データで指定された内容を画面表示
するＣＲＴ装置１０と、複数のキーを有し、オペレータ
によって操作されたとき、この操作内容に応じたキー信
号を生成するキーボード装置１１と、このキーボード装
置１１の操作内容に応じて、指定されたジョブを実行す
る処理、前記ＣＲＴ装置１０に各種の画面を表示する処
理、前記光ファイバケーブル４を介して第１〜第Ｎセン
サモジュール２ａ〜２ｎとの通信処理などを行なうデー
タ処理装置１２と、このデータ処理装置１２からプリン
トデータが出力されたとき、これを取り込んで指定され
た用紙に前記プリントデータで示される内容をプリント
し、これを排紙するプリンタ装置１３とを備えており、
キーボード装置１１から出力されるキー信号で指示され
た命令やデータなどに基づき、指定されたデータ処理な
どを行ない、この処理結果を前記ＣＲＴ装置１０上に表
示したり、プリンタ装置１３からプリントアウトしたり
する。さらに、前記キーボード装置１１で指定された指
示が送信処理であれば、第１〜第Ｎセンサモジュール２
ａ〜２ｎの検出条件などを設定するデータを生成し、こ
れを光信号に変換するとともに、光ファイバケーブル１
を介して、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎに順
次、転送して、これら第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ
〜２ｎに検出条件などを設定し、この検出条件で指定し
た検出周期などで検出動作を行なわせる。そして、予め
設定されている周期で、第１〜第Ｎセンサモジュール２
ａ〜２ｎを駆動して、これら第１〜第Ｎセンサモジュー
ル２ａ〜２ｎで得られた検出結果をシリアル信号形式の
光信号に変換させるとともに、この光信号を第１〜第Ｎ
センサモジュール２ａ〜２ｎ、各光ファイバケーブル４
を順次、転送させて取込み、これを一括して管理する。

【００１２】次に、図３、図４に示すブロック図、図５
に示す模式図を参照しながら、このホストコンピュータ
装置３を構成するデータ処理装置１２について、詳細に
説明する。まず、前記データ処理装置１２は、ＰＣＩバ
スなどバウンダリスキャンテスト法をサポートしたピン
を持つシステムバス９と、前記ＣＲＴ装置１０に対して
表示データを供給する処理、前記キーボード装置１１か
ら出力されるキー信号を取り込んで、各種の命令、各種
のデータなどを生成する処理などを行なう入出力インタ
フェース基板１４と、この入出力インタフェース基板１
４から出力される各種の命令や各種のデータで指定され
た各種のジョブを実行するＣＰＵ基板１５と、前記ＣＰ
Ｕ基板１５の基本動作を規定する基本ＯＳ、各種のデー
タなどが格納されているＲＯＭ基板１６と、前記ＣＰＵ
基板１５の作業エリアなどとして使用されるＲＡＭ基板
１７と、前記ＣＰＵ基板１５の動作を規定するマルチタ
スク機能を持つ汎用ＯＳ（例えば、ウインドウズＮＴ、
ＵＮＩＸなど）の格納エリア、各種のジョブを規定する
アプリケーションプログラムの格納エリア、処理対象と
なっているデータの格納エリア、第１〜第Ｎセンサモジ
ュール２ａ〜２ｎから伝送されたデータの格納エリア、
処理結果の格納エリアなどとして使用される大容量記憶
機構１８とを備えている。

【００１３】さらに、前記データ処理装置１２は、フロ
ッピーディスク１９がセットされたとき、このフロッピ
ーディスク１９に対して、データの書込みやデータの読
み出しを行なうフロッピーディスクディスク機構２０
と、前記ＣＰＵ基板１５から出力されるプリントデータ
を取り込んで、前記プリンタ装置１３に供給し、前記プ
リントデータの内容を指定された用紙にプリントさせ
て、排紙させるプリンタインタフェース基板２１と、前
記ＣＰＵ基板１５から送信データが出力される毎に、こ
れをシリアル信号に変換した後、光信号に変換して、光
ファイバケーブル４を介し、前記第１〜第Ｎセンサモジ
ュール２ａ〜２ｎに伝送し、これら第１〜第Ｎセンサモ
ジュール２ａ〜２ｎに対し、データの設定を行なった
り、これら第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎから
光信号を出力させて、データの収集を行なったりするバ
ウンダリスキャンコントローラ基板２２とを備えてい
る。

【００１４】この場合、前記バウンダリスキャンコント
ローラ基板２２は、図４に示す如く前記システムバス９
の電源ピンに接続された電源ライン２３から供給される
電源電圧を使用して動作するマイクロプロセッサなどに
よって構成され、バウンダリスキャンテストで必要な各
種のデータ処理を行なう中央処理回路２４と、この中央
処理回路２４で使用されるデータなどの格納場所とな
り、前記中央処理回路２４による読み出し、書込みが行
われるＥＥＰＲＯＭ回路２５と、前記電源ライン２３か
ら供給される電源電圧を使用して動作し、前記中央処理
回路２４から出力される各種の指示に基づいて、光ファ
イバケーブル４を介し、第１〜第Ｎセンサモジュール２
ａ〜２ｎに対し、バウンダリスキャン機能を使用して、
データの書込みやデータの収集を行なうバウンダリスキ
ャン通信回路２６と、前記電源ライン２３から供給され
る電源電圧を使用して動作し、システムバス９を使用し
て、前記中央処理回路２４と前記ＣＰＵ基板１５などの
間の通信をサポートする入力出力インタフェース回路２
７と、前記システムバス９から供給される電源電圧によ
って充電され、前記電源電圧の供給が停止したとき、前
記中央処理回路２４〜入出力インタフェース回路２７な
どに電源電圧を供給するバックアップ用のバッテリィ回
路２８とを備えている。

【００１５】そして、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ
〜２ｎを実際に稼動させる前に、図５に示す如くコンピ
ュータ装置（図示は省略する）によって、パターンジェ
ネレータ３０が起動されて、第１〜第Ｎセンサモジュー
ル２ａ〜２ｎで使用されている各バウンダリスキャン素
子などのコンポーネントデータシート３１、第１〜第Ｎ
センサモジュール２ａ〜２ｎを設計する際に使用された
ネットリスト３２などに基づき、前記各バウンダリスキ
ャン素子、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎを構
成するケーブルなどの接続内容、プリントパターン内容
などに応じたデータセットパターンが作成され、これが
データセットパターンファイル３３にファイルされると
ともに、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎで収集
された検出結果を通常のパラレルデータに戻すのにに必
要な解析データが作成され、これが解析データファイル
３４にファイルされ、これらデータセットパターンファ
イル３３の内容、解析データファイル３４の内容がＥＥ
ＰＲＯＭ回路２５に記憶される。

【００１６】この後、前記ＣＰＵ基板１５からの指示に
基づき、バウンダリスキャンコントローラ基板２２が起
動されたとき、中央処理回路２４によってＥＥＰＲＯＭ
回路２５に記憶されているデータセットパターンにした
がって、バウンダリ通信回路２６を制御して、前記ＣＰ
Ｕ基板１５から出力された検出条件データなどを光信号
に変換させ、これを光ファイバケーブル４内に出射させ
て、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎに転送さ
せ、これら第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎに検
出条件などを設定させる。この際、第１〜第Ｎセンサモ
ジュール２ａ〜２ｎの全てに対して、検出条件データな
どをセットするときには、バウンダリスキャン通信回路
２６によって第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎの
バウンダリスキャン素子回路６内に設けられている各バ
ウンダリスキャン素子がデータセットモードにされる。
この後、ＣＰＵ基板１５から出力される第１〜第Ｎセン
サモジュール２ａ〜２ｎに対する第１〜第ｎ検出条件デ
ータがシリアルデータに変換されながら、順次、一列に
並べられて、光信号形式で、光ファイバケーブル４内に
出射されるとともに、これが順次、シフトされて、第１
〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎにセットされる。

【００１７】また、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜
２ｎのいずれか１つ、例えば第Ｎセンサモジュール２ｎ
のみに、検出条件データなどをセットするときには、バ
ウンダリスキャン通信回路２６によって第１〜第（Ｎ−
１）センサモジュール２ａ〜２（ｎ−１）のバウンダリ
スキャン素子回路６内に設けられている各バウンダリス
キャン素子がバイパスモードにセットされるとともに、
第Ｎセンサモジュール２ｎのバウンダリスキャン素子回
路６内に設けられている各バウンダリスキャン素子がデ
ータセットモードにされる。この後、ＣＰＵ基板１５か
ら出力される第Ｎ検出条件データがシリアルデータに変
換されて、光信号形式で、光ファイバケーブル４内に出
射されるとともに、これが順次、シフトされて、第Ｎセ
ンサモジュール２ｎにセットされる。次いで、前記ＣＰ
Ｕ基板１５からの指示に基づき、第１〜第Ｎセンサモジ
ュール２ａ〜２ｎを起動させるのに必要な光信号を生成
して、これを光ファイバケーブル４を介し、第１〜第Ｎ
センサモジュール２ａ〜２ｎに転送させて、これら第１
〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎのバウンダリスキャ
ン素子回路６にセットし、これら第１〜第Ｎセンサモジ
ュール２ａ〜２ｎにドアの開閉、人の出入りなどを検出
させる。そして、前記ＣＰＵ基板１５からの指示に基づ
き、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎに設けられ
ているバウンダリスキャン素子回路６の各バウンダリス
キャン素子のＴＤＯ端子から検出結果を出力させるとと
もに、これらを光信号に変換させて、第１〜第Ｎセンサ
モジュール２ａ〜２ｎ、各光ファイバケーブル４を順
次、介し、これを取り込んで、パラレルデータに変換
し、前記ＣＰＵ基板１５に転送する。これにより、第１
〜第Ｎセンサモジュールで得られた検出結果がＣＰＵ基
板１５によって取り込まれ、これが結果ファイル３５と
して、大容量記憶機構１８に記憶されて、一括して解析
される。

【００１８】このように、この形態例においては、第１
〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎで検出対象となる事
象、例えばドアの開閉、人の出入りなどを検出し、これ
をバウンダリスキャン素子の入出力機能を利用して出力
信号をした後、光信号に変換して、シリアル伝送方式で
ホストコンピュータ装置３に伝送し、これを管理させる
ようにしたので、通信デバイスを使用することなく第１
〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎと、ホストコンピュ
ータ装置３とを接続することができ、これによって通信
デバイスを使用しない分だけ、システム全体の製造コス
トを低減させることができるとともに、第１〜第Ｎセン
サモジュール２ａ〜２ｎと、ホストコンピュータ装置３
との間のデータ転送速度を最大で、２０Ｍｂｐｓ程度ま
で高めて、第１〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎで得
られたデータを収集したり、第１〜第Ｎセンサモジュー
ル２ａ〜２ｎに対して検出条件を設定したりする際に要
する時間を飛躍的に短くすることができる。また、上述
した形態例においては、第１〜第Ｎセンサモジュール２
ａ〜２ｎとホストコンピュータ装置３とを光ファイバケ
ーブル４によって接続するようにしているが、このよう
な光ファイバケーブル４に代えて、通常の通信線や通信
回線を使用するようにしても良い。

【００１９】このようにしても、これら通常の通信線や
通信回線が充分な通信速度を持っているときには、第１
〜第Ｎセンサモジュール２ａ〜２ｎのバウンダリスキャ
ン素子回路６に設けられた各バウンダリスキャン素子が
持っている２０Ｍｂｐｓ程度のデータ転送速度で、デー
タの転送を行なうことができる。また、上述した形態例
においては、分散配置された第１〜第Ｎセンサモジュー
ル２ａ〜２ｎと、監視室内に配置されたホストコンピュ
ータ装置３とを接続して通信システム１を構築している
が、分散配置された端末装置と、監視室内に配置された
ホストコンピュータ装置３とを接続して通信システムを
構築するようにしても良い。このようにしても、各端末
装置内にバウンダリスキャン素子回路を設けていれば、
このバウンダリスキャン素子回路が持つシリアルデータ
転送機能を利用して、２０Ｍｂｐｓ程度のデータ転送速
度で、データの転送を行なうことができる。

【００２０】また、上述した形態例においては、ホスト
コンピュータ装置３内に配置したバウンダリスキャンコ
ントロール基板２２内に中央処理装置２４と、ＥＥＰＲ
ＯＭ回路２５とを設け、データセットパターンファイル
３３の内容、解析データファイル３４の内容をＥＥＰＲ
ＯＭ回路２５に記憶させて、第１センサモジュール２ａ
〜第Ｎセンサモジュール２ｎからデータを収集したり、
データを解析したりするようにしているが、ホストコン
ピュータ装置３内のＣＰＵ基板１５の処理能力、大容量
記憶機構１８の容量に余裕があるときには、データセッ
トパターンファイル３３の内容、解析データファイル３
４の内容を大容量記憶機構１８に記憶させて、ＣＰＵ基
板１５でバウンダリスキャンコントロール基板２２のバ
ウンダリスキャン通信回路２６を直接制御し、第１セン
サモジュール２ａ〜第Ｎセンサモジュール２ｎからデー
タを収集したり、データを解析したりするようにしても
良い。このようにすることにより、バウンダリスキャン
コントロール基板２２から中央処理装置２４と、ＥＥＰ
ＲＯＭ回路２５とを削除することができ、これによって
バウンダリスキャンコントロール基板２２の構成を簡単
にすることができる。

【００２１】また、ホストコンピュータ装置３を構成す
るデータ処理装置１２からプリンタ装置１３を外し、デ
ータ処理装置１２に設けられているプリンタインタフェ
ース基板２１の入出力コネクタに専用線を接続して、こ
れら専用線によりデータ処理装置１２と、第１センサモ
ジュール２ａ〜第Ｎセンサモジュール２ｎとを接続する
ようにしても良い。このようにすることにより、バウン
ダリスキャンコントロール基板２２を使用することな
く、第１センサモジュール２ａ〜第Ｎセンサモジュール
２ｎからデータを収集したり、これら第１センサモジュ
ール２ａ〜第Ｎセンサモジュール２ｎにデータをセット
したりすることができ、これによって通信システム１全
体の製造コストを大幅に低減させることができる。

【００２２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、請
求項１、２では、通信デバイスを使用することなく第１
〜第Ｎセンサモジュールや各端末装置などと、ホストコ
ンピュータ装置などとを接続することができ、これによ
ってシステム全体の製造コストを低減させることができ
るとともに、第１〜第Ｎセンサモジュールや各端末装置
などと、ホストコンピュータ装置などとの間のデータ転
送速度を最大で、２０Ｍｂｐｓ程度まで高めて、第１〜
第Ｎセンサモジュールや各端末装置などで得られたデー
タを収集したり、第１〜第Ｎセンサモジュールや各端末
装置に対して検出条件やデータを設定したりする際に要
する時間を飛躍的に短くすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による通信システムの一形態例を示すブ
ロック図である。

【図２】図１に示す第１〜第Ｎセンサモジュールの詳細
な回路構成例を示すブロック図である。

【図３】図１に示すホストコンピュータ装置の詳細な回
路構成例を示すブロック図である。

【図４】図３に示すバウンダリスキャンコントローラ基
板の詳細な回路構成例を示すブロック図である。

【図５】図４に示すＥＥＰＲＯＭ回路内にセットされる
データセットパターン、解析データの作成手順例を示す
模式図である。

【図６】本発明による通信システムで使用されるバウン
ダリスキャン機能を持つ集積回路の一例を示すブロック
図である。

【図７】図６に示す集積回路のＴＡＰコントローラに入
出力される信号の機能を説明する表である。

【図８】図６に示す集積回路のバウンダリスキャンテス
ト例を示す模式図である。

【図９】図６に示す集積回路の他のバウンダリスキャン
テスト例を示す模式図である。

【図１０】図８に示す一方の集積回路の動作例を示す模
式図である。

【図１１】図８に示す他方の集積回路の動作例を示す模
式図である。

【符号の説明】

１…通信システム、２ａ〜２ｎ…第１〜第Ｎセンサモジ
ュール（電子機器）、３…ホストコンピュータ装置、４
…光ファイバケーブル、５…センサ本体、６…バウンダ
リスキャン素子回路、７…受信用光カプラ、８…送信用
光カプラ、９…システムバス、１０…ＣＲＴ装置、１１
…キーボード装置、１２…データ処理装置、１３…プリ
ンタ装置、１４…入出力インタフェース基板、１５…Ｃ
ＰＵ基板、１６…ＲＯＭ基板、１７…ＲＡＭ基板、１８
…大容量記憶機構、１９…フロッピーディスク、２０…
フロッピーディスクディスク機構、２１…プリンタイン
タフェース基板、２２…バウンダリスキャンコントロー
ラ基板、２３…電源ライン、２４…中央処理回路、２５
…ＥＥＰＲＯＭ回路、２６…バウンダリスキャン通信回
路、２７…入力出力インタフェース回路、２８…バック
アップ用のバッテリィ回路、３０…パターンジェネレー
タ、３１…コンポーネントデータシート、３２…ネット
リスト、３３…データセットパターンファイル、３４…
解析データファイル、３５…結果ファイル

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】検知対象を検出するセンサを備え且つ分
散配置された複数の電子機器に対して、シリアルデータ
を転送する機能、前記各電子機器からシリアルデータを
転送させる機能を持つホストコンピュータを備えた通信
システムにおいて、前記ホストコンピュータは、外部状態のデータを入力す
るための検出条件及びデータ設定条件に関するシリアル
データを前記電子機器に対して転送し、前記各電子機器は、内部にバウンダリスキャンテスト機
能を持つバウンダリスキャン素子が配置され、前記検出
条件及びデータ設定条件に関するシリアルデータに基づ
いて前記バウンダリスキャン素子が持つシリアルデータ
の入出力機能を使用することにより、前記センサからの
シリアルデータの取込み、通信システムへの出力を行う
ことを特徴とする通信システム。
【請求項２】請求項１に記載の通信システムにおい
て、前記各電子機器間を光ファイバケーブルによって接続
し、各電子機器間で転送されるシリアルデータとして光
信号を使用することを特徴とする通信システム。