JP3004879U - 調節輻輳近点計 - Google Patents

調節輻輳近点計

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JP3004879U JP1994007466U JP746694U JP3004879U JP 3004879 U JP3004879 U JP 3004879U JP 1994007466 U JP1994007466 U JP 1994007466U JP 746694 U JP746694 U JP 746694U JP 3004879 U JP3004879 U JP 3004879U
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Inventor
冴子 内田
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株式会社三城
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 調節近点、連続調節近点、立体視、精密輻輳
近点、輻輳近点、両眼単一視を簡単に計測できるように
した調節輻輳近点計。 【構成】 鼻に接する端部を略Ｖ字型とした測定板の中
央に表面から裏面まで突き抜けた指標移動用溝を設け、
溝の両側の測定板表面に指標位置計測用の距離測定用目
盛りを設け、この溝内を摺動する指標の支柱の距離測定
用目盛りに対向する各面に目盛り読みとり基準線を設け
た装置とした。支柱を磁石を介して指標ケース本体と分
離接続自由とした。また、測定板の裏面中央の溝の略Ｖ
字型とした端部とは逆方向の先端部縁に指標を固着し
た。略Ｖ字型端部付近の測定板表面に磁石対応金具を設
け、これに対応して接続自在となす磁石およびずれ止め
爪を底辺部に備えた立体視用メガネ枠を用いて、測定板
にずれ止め爪の受け穴を設ける。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案は、調節近点・連続調節近点・立体視・精密輻輳近点・輻輳近点・両 眼単一視を計測できるようにした、調節輻輳近点計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の輻輳近点計としては、簡単に測定できる手持ち型の輻輳近点計がある。 この装置の使用方法は、注目する指標を移動させる時、指標を手ではがして貼り なおしながら測定するものである。また、調節近点・立体視・精密輻輳近点を測 定する場合は、それぞれ別々の専用測定機器で調節近点・連続調節近点・立体視 ・精密輻輳近点が行われていた。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】
上記のような従来の手持ち型輻輳近点計は、指標の移動にはいちいち指標を貼 り直さなければならず面倒で、輻輳近点測定値の精度にも問題があった。また、 調節近点・連続調節近点・立体視・精密輻輳近点の測定に関しては、それぞれ別 々の大きな専用の測定器を使用しなければならず時間や機器の設置場所等の問題 が生じていた。
【０００４】 本考案はこのような事情に鑑みて為されたもので、その目的は簡便に調節近点 ・連続調節近点・立体視・精密輻輳近点・両眼単一視を知ることができる調節輻 輳近点計を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、鼻に接する端部を略Ｖ字型とした測定板の中央に 表面から裏面まで突き抜けた指標移動用溝を設け、溝の両側の測定板表面に指標 位置計測用の距離測定用目盛りを設け、この溝内を摺動する指標の支柱において 、距離測定用目盛りに対向する各面に目盛り読みとり基準線を設けた。支柱を磁 石を介して指標ケース本体と分離接続自由とした。また、測定板の裏面中央の溝 の略Ｖ字型とした端部とは逆方向の先端部縁に指標を固着した。
【０００６】 略Ｖ字型端部付近の測定板表面に磁石対応金具を設け、この磁石対応金具に対 応して接続自在となす磁石およびずれ止め爪を底辺部に備えた立体視用メガネ枠 を用いて、測定板にずれ止め爪の受け穴を設ける。
【０００７】
【実施例】
本考案の装置について実施例に基づいて説明する。図１に本考案の一実施例の 調節輻輳近点測定計の斜視図を示す。測定板の表面１の中央に指標ケース支柱３ の移動用の測定板の裏面まで貫通した溝５を設ける。
【０００８】 図２は図１の調節輻輳近点測定計の裏面の斜視図である。この指標ケース支柱 が溝５から脱落しないように、指標ケース支柱の底の受け穴に、測定板の裏面４ から溝５を通して指標ケース支柱が移動できる程度に固定する留め具７を取り付 ける。測定板の裏面４の溝５の先端部に、指標１０を固着する。
【０００９】 図３は図１の調節輻輳近点測定計の中央部の拡大図である。測定板の表面１の 溝５の両側に距離測定用の１ｍｍ単位の目盛り８を設け、指標ケース支柱３の目 盛り８とそれぞれ接する面の中央位置に、目盛り８読みとり用基準線９をつけ、 目盛り８のどちらの側でも同じ目盛りが読み取れるようにする。指標ケース２内 の指標１１は指標ケース２の出し入れ口１２より出し入れ自由とする。
【００１０】 図４に示すように、指標ケース２と指標ケース支柱３の接続面にはそれぞれ磁 石１９と磁石対応の金具２０を埋め込み、指標ケース２と指標ケース支柱３が分 離接続自由とした。
【００１１】 この本考案の装置を使用する時は、測定板表面の指標ケース内の調節近点測定 用指標を使用して調節近点・連続調節近点測定ができる。また、立体視用メガネ を測定板の表面に磁石を介して取付け、立体視用メガネに対応した立体視用指標 を指標ケース内に入れ替えて使用することによって立体視や精密輻輳近点を測定 することができる。
【００１２】 さらに測定版の裏面上にある指標ケース支柱固定用留め具を輻輳近点指標とす ることでも輻輳近点測定ができるだけでなく、同じ測定板裏面の先端部に設けた 指標を同時使用することで両眼単一視を簡単に測定することができる。
【００１３】 図５に示すように、測定板のＶ字型にカットされた鼻に接する面１３の中央先 端部縁に、立体視用指標対応の立体視用メガネを設ける。立体視用メガネには、 主に偏光フィルター方式、赤緑フィルター方式、プリズムレンズ方式があるが、 どの方式を使用しても、それぞれの方式にあった指標を用いれば効果は同じであ った。
【００１４】 この立体視用メガネは、図６に示すように、立体視用メガネ１４の底辺中央に 埋め込まれた磁石１５に対応する位置に磁石対応の金具１６を取り付け、立体視 用メガネ１４が脱着自由な接続ができるようにする。測定板の表面１に立体視用 メガネ１４のずれ止め爪１７を差し込む受け穴１８を設け、立体視用メガネ１４ を測定板１に磁石１５を介して接続した時、ずれないようにする。
【００１５】 以下、本考案に係わる調節輻輳近点計の使用方法を図面を参照しつつ詳細に説 明する。図７は両眼視での調節近点測定風景を示し、これを使用するには、片手 で測定板の表面１が上になるように持ち、指標ケース２のついている表面のＶ字 部１３を鼻にあて、指標ケース２を眼からいちばん遠い位置に移動したところか ら指標ケース２内の両眼視用指標１１を両眼で注目しながら、指標ケース支柱固 定用留め具を手でもって、指標ケース２を眼の方へゆっくり近づけてゆき、注目 している指標１１がぼやけて認知できなくなる直前で移動を止める。
【００１６】 この時の指標ケース２の位置が調節近点であり、指標ケース支柱３の基準線９ の位置の目盛りを読み取り、調節近点距離を測定することができる。またこれを 繰り返して連続的に測定することで、両眼視での連続調節近点も測定することが できる。
【００１７】 図８は片眼視での調節近点測定風景を示し、選定手順は両眼視での測定と同じ 要領で行い、右眼、左眼それぞれの調節近点並びに連続調節近点を測定すること ができる。また、指標１１は指標ケース２から出し入れ自由なためいろんな種類 の指標を入れ替えることができる。
【００１８】 図９は立体視用メガネを使用しての精密輻輳近点の測定風景を示す。これを使 用する時は、測定板１に磁石を介して立体視メガネ１４を装着する。そして、指 標ケース２に立体視用メガネ１４に対応して立体的に見える指標を指標ケース２ 内に差し込み、あとは両眼視調節近点測定と同じ要領で立体視メガネ１４を通し て指標ケース内の指標を見た時視標が立体的に見えるかどうかを確認、立体的に 見えれば眼の方にゆっくり移動してゆき、視標が立体的に見えなくなる直前で移 動を停止する。この時の指標ケース支柱３にある読みとり用基準線の示す位置が 精密な輻輳近点となる。
【００１９】 図１０、図１１は輻輳近点並びに両眼単一視の測定風景を示し、これを使用す る時は、測定板１の磁石１９とそれに対応する金具２０によって接続状態となっ ている指標ケース２を指標ケース支柱３を分離し、測定板の裏面４が上になるよ うにしてＶ字型にカットした部分１３に鼻を接し、測定板を片手で持ち、測定板 の裏面４の中央の溝５上の指標ケース支柱固定留め具７を両目で注目しながら、 測定板の表面１の指標ケース２を取り外した指標ケース支柱をもう一方の手の指 で摘み、眼の方にゆっくり移動し、注目している指標ケース支柱固定留め具７が ２つに見える直前で移動を止める。
【００２０】 この時、輻輳近点の位置にある固定留め具７が１つに見えている時に、同じ測 定板の裏面４の眼からいちばん遠方の溝５の先端部縁に固着した指標１０が２つ にぼんやり見えているか確認する。
【００２１】 この位置で逆にこんどは、指標１０が１つに見えるように注目している時に、 指標ケース支柱固定留め具７がぼんやり２つに見えているか確認することで両眼 単一視が測定できる。また、この時測定板の表面１にある指標ケース支柱３の目 盛り読みとり用基準線９の位置の目盛り８を読み取ることで、輻輳近点距離が測 定できる。
【００２２】
【考案の効果】
この考案は、従来のような大きな専用測定器械を使用しなくても、一枚の測定 板を使用することで調節近点、連続調節近点、輻輳近点並びに両眼単一視が簡単 に測定できるだけでなく、立体視用メガネを接続することで、精密輻輳近点を極 めて簡単にしかも早く測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本考案の調節近点測定計の斜視図である。
【図２】図１の調節輻輳近点測定計の裏面の斜視図であ
る。
【図３】図１の調節輻輳近点測定計の中央部の拡大図で
ある。
【図４】本考案の調節輻輳近点測定計の視力表ケース部
分の分解斜視図である。
【図５】立体視測定のため、立体視用メガネを接続した
本考案の調節輻輳近点測定計の斜視図である。
【図６】立体視用メガネの調節輻輳近点測定計への接続
の説明図である。
【図７】測定板の表面を使用しての両眼視での調節近点
測定の説明図である。
【図８】測定板の表面を使用しての片眼視（左眼）での
調節近点測定の説明図である。
【図９】立体視用メガネを装着しての精密輻輳近点測定
の説明図である。
【図１０】測定板の表面を使用しての輻輳近点並びに両
眼単一視測定の説明図である。
【図１１】測定板の表面を使用しての輻輳近点並びに両
眼単一視測定実施斜視図である。
【符号の説明】
１ 測定板の表面 ２ 指標ケース ３ 指標ケース支柱 ４ 測定板の裏面 ５ 溝 ６ 指標ケース支柱底辺の受け穴 ７ 指標ケース支柱固定留め具 ８ 測定板上の目盛り ９ 目盛り読みとり用基準線 １０ 指標 １１ 指標 １２ 指標差し入れ口 １３ Ｖ字型にカットした鼻に接する部分 １４ 立体視用メガネ １５ 立体視用メガネの底辺中央部埋め込み磁石 １６ 磁石対応金具 １７ 立体視用メガネずれ留め爪 １８ 立体視用メガネずれ留め爪の受け穴 １９ 指標ケースに中央底辺部に埋め込まれた磁石 ２０ 指標ケース支柱に埋め込まれた磁石対応金具 ２１ 立体視用レンズ

Claims (5)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】鼻に接する端部を略Ｖ字型とした測定板の
    中央に表面から裏面まで突き抜けた指標移動用溝を設
    け、前記指標移動用溝の両側の測定板表面に指標位置計
    測用の距離測定用目盛りを設けたことを特徴とする調節
    輻輳近点計。
  2. 【請求項２】鼻に接する端部を略Ｖ字型とした測定板の
    中央に表面から裏面まで突き抜けた指標移動用溝を設
    け、前記指標移動用溝の両側の測定板表面に指標位置計
    測用の距離測定用目盛りを設け、前記測定板の裏面中央
    の溝の前記略Ｖ字型とした端部とは逆方向の先端部縁に
    指標を固着したことを特徴とする調節輻輳近点計。
  3. 【請求項３】鼻に接する端部を略Ｖ字型とした測定板の
    中央に表面から裏面まで突き抜けた指標移動用溝を設
    け、前記指標移動用溝の両側の測定板表面に指標位置計
    測用の距離測定用目盛りを付し、前記略Ｖ字型端部付近
    の測定板表面に磁石対応金具を設け、前記磁石対応金具
    に対応して接続自在となす磁石およびずれ止め爪を底辺
    部に備えた立体視用メガネ枠、および前記ずれ止め爪の
    受け穴を前記測定板に設けたことを特徴とする調節輻輳
    近点計。
  4. 【請求項４】鼻に接する端部を略Ｖ字型とした測定板の
    中央に表面から裏面まで突き抜けた指標移動用溝を設
    け、前記指標移動用溝の両側の測定板表面に指標位置計
    測用の距離測定用目盛りを設け、前記指標移動用溝内を
    摺動する指標の支柱の前記距離測定用目盛りに対向する
    各面に目盛り読みとり基準線を設けたことを特徴とする
    調節輻輳近点計。
  5. 【請求項５】鼻に接する端部を略Ｖ字型とした測定板の
    中央に表面から裏面まで突き抜けた指標移動用溝を設
    け、前記指標移動用溝の両側の測定板表面に指標位置計
    測用の距離測定用目盛りを設け、前記指標移動用溝内を
    摺動する指標ケースを支持する支柱の前記距離測定用目
    盛りに対向する各面に目盛り読みとり基準線を設け、前
    記支柱が磁石を介して前記指標ケース本体と分離接続自
    由としたことを特徴とする調節輻輳近点計。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012010744A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Nidek Co Ltd 検眼装置
KR20190103583A (ko) * 2018-02-28 2019-09-05 춘해보건대학교 산학협력단 안과 검사용 기구

Cited By (3)

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JP2012010744A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Nidek Co Ltd 検眼装置
KR20190103583A (ko) * 2018-02-28 2019-09-05 춘해보건대학교 산학협력단 안과 검사용 기구
KR102042511B1 (ko) * 2018-02-28 2019-11-27 춘해보건대학교 산학협력단 안과 검사용 기구

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