JP2996279B2 - 電子式はかりの温度特性補正方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は電子式はかりの温度特性
補正方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の上記電子式はかりの回路構成を図
３，図４に示す。図３において、１は、はかりの検出手
段のロードセルであり、その励磁端子２は後述するアナ
ログ回路部Ａの電源端子３に接続され、電源が供給さ
れ、また出力端子４はアナログ回路部Ａの入力端子５に
接続され、ロードセル１の荷重検出信号ａがアナログ回
路部Ａに入力され、また励磁端子２はアナログ回路部Ａ
の基準端子６に接続され、ロードセル１の電圧信号ｂが
アナログ回路部Ａに入力されている。

【０００３】アナログ回路部Ａは、入力端子５に接続さ
れ、ロードセル１の荷重検出信号ａを増幅し、増幅され
た荷重検出信号ａ’を出力するプリアンプ11と、基準端
子６に接続されロードセル１の電圧信号ｂを増幅し、基
準電圧信号ｃを出力する基準アンプ12と、基準アンプ12
に接続され基準電圧信号ｃを調整し、はかりのムダ目に
相当するムダ目消去信号ｄを出力するムダ目消去調整回
路13（後述する）と、プリアンプ11とムダ目消去調整回
路13に接続され、荷重検出信号ａ’よりムダ目消去信号
ｄを減算し、計量信号ｅを出力する減算器14と、減算器
14に接続され、計量信号ｅを調整し、計量信号ｅ’を出
力するゲイン調整回路15（後述する）と、ゲイン調整回
路15と基準アンプ12に接続され、基準電圧信号ｃに応じ
て計量信号ｅ’をディジタル信号ｆに変換するアナログ
−ディジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略す）16か
ら構成されている。

【０００４】Ａ／Ｄ変換器16から出力された計量のディ
ジタル信号ｆは出力端子17を介してコンピュータ21へ出
力され、コンピュータ21により計量値がディジタル表示
器（図示せず）に表示される。

【０００５】ムダ目消去調整回路13の回路図を図４に示
す。ムダ目消去調整回路13は一般にオペアンプを使用し
た反転増幅回路と呼ばれる回路であり、入力側抵抗Ｒ_s
と帰還側抵抗Ｒ_f の抵抗値の比により増幅率（ゲイン）
を定めることができる。帰還側抵抗Ｒ_f は、粗調整用の
複数の固定抵抗31を直列に接続し、これら各固定抵抗31
にそれぞれ並列にディップ−スイッチ32を接続し、固定
抵抗31にさらに微調整用の可変抵抗33を直列に接続して
構成されている。

【０００６】ゲイン調整回路15の回路も同様の構成であ
り、説明を省略する。但し、微調整用の可変抵抗33は不
要である。上記構成による動作を説明する。

【０００７】ロードセル１により検出された荷重検出信
号ａは、プリアンプ11により増幅され、減算器14により
荷重検出信号ａ’からムダ目消去調整回路13により調整
されたムダ目消去信号ｄが減算されて計量信号ｅが求め
られ、この出力はゲイン調整回路15で調整され、Ａ／Ｄ
変換器16によりディジタル信号ｆに変換されてコンピュ
ータ21へ入力され、計量値がディジタル表示器に表示さ
れる。

【０００８】次に、ゲイン調整回路15とムダ目消去調整
回路13のゲインの調整方法について説明する。 錘を載せない状態でロードセル１に電源を供給する。

【０００９】そしてまず、ムダ目消去調整回路13を調
整する。すなわち、ゲイン調整回路15の出力信号（計量
信号）ｅ’のレベルを確認しながら、この出力信号ｅ’
のレベルが”０”に一致するように、ムダ目消去調整回
路13のディップ−スイッチ32を投入して粗調整し、続い
て可変抵抗33を可変する。

【００１０】ディジタル信号ｆ＝０をコンピュータ21は
計量値が零であると認識する。 はかりに、秤量の錘を載せる。 そして次に、ゲイン調整回路15を調整する。すなわ
ち、秤量の錘を載せたときのゲイン調整回路15の出力信
号ｅ’がＡ／Ｄ変換器16の入力信号の上限値以下になる
ように、ゲイン調整回路15の出力信号ｅ’のレベルを確
認しながら、ゲイン調整回路15のディップ−スイッチ32
を投入して調整する。

【００１１】調整された後のディジタル信号をｆ＝βと
すると、コンピュータ21はβを秤量であると認識する。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このように従
来のゲイン調整回路15とムダ目消去調整回路13のゲイン
を調整しても、アナログ回路部Ａでは構成する各部品の
温度特性により零点（上記錘を載せないときのＡ／Ｄ変
換値）、およびスパンβ（ゲイン調整回路15から出力さ
れる秤量の錘に対する計量値）に誤差が生じ、正確な計
量をできないという問題があった。さらに、ゲインを変
更する毎に、零点、およびスパンの温度特性が変化する
という問題があった。また、温度により影響を受けない
ように、アナログ回路部Ａの回路を形成するには、たと
えば上記抵抗Ｒ_s ，Ｒ_f では、その抵抗値が温度により
バラツキの生じない高品質で高価な抵抗を選択する必要
があり、コストがアップするという問題があった。

【００１３】本発明はこのような問題点を解決するもの
であり、温度により諸量にバラツキが生じる部品を使用
でき、温度変化の影響を受けずに正確な計量を可能とす
る電子式はかりの温度特性補正方法を提供することを目
的とするものである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の電子式はかりの温度特性補正方法は、はかりの
検出手段としてロードセルを有し、減算器においてこの
ロードセルの荷重検出信号からムダ目消去調整回路にお
いて調整されたムダ目消去信号を減算し、この減算信号
をゲイン調整回路において調整し、ディジタル信号に変
換してコンピュータへ出力するアナログ回路部を有す電
子式はかりにおける、前記アナログ回路部の温度特性補
正方法であって、前記アナログ回路部に、この回路部の
温度を検出する温度センサを設け、少なくとも２つの所
定温度において、零点に相当する上記荷重検出信号を入
力して前記ムダ目消去調整回路およびゲイン調整回路の
ゲイン毎に、前記ゲイン調整回路の出力信号を零点情報
として記憶し、零点および秤量に相当する上記荷重検出
信号を入力して前記ゲイン調整回路のゲイン毎に、ゲイ
ン調整回路の零点および秤量に相当する出力信号と上記
零点情報との差をスパン情報として記憶し、前記温度セ
ンサにより検出された温度信号を温度情報として記憶
し、前記ムダ目消去調整回路およびゲイン調整回路のゲ
イン毎に、少なくとも２つの前記零点情報と温度情報か
ら零点の温度係数を求め、前記ゲイン調整回路のゲイン
毎に、少なくとも２つの前記スパン情報と温度情報から
スパンの温度係数を求め、実際の計量時に、前記温度セ
ンサにより検出された実温度情報と前記ムダ目消去調整
回路のゲインおよびゲイン調整回路のゲインに応じた零
点の温度係数から零点を補正し、前記実温度情報と前記
ゲイン調整回路のゲインに応じたスパンの温度係数から
スパンを補正することを特徴とするものである。

【００１５】

【作用】上記方法によると、予め各ゲイン毎に零点の温
度係数とスパンの温度係数が求められ、実際の計量時、
選択されたゲインに応じた零点の温度係数とスパンの温
度係数に基づいて、温度センサにより検出された実温度
情報により零点が補正され、またスパンが補正され、よ
って正確な計量値が得られる。よって、アナログ回路部
に、たとえば温度により抵抗値がばらつく抵抗を使用す
ることが可能となり、安価な抵抗が使用でき、アナログ
回路部のコストを低減できる。

【００１６】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。なお、従来例の図３の構成と同一の構成には同
一の符号を付して説明を省略する。

【００１７】図１は本発明の温度特性補正方法を使用し
た電子式はかりの回路構成図である。図示のように、ア
ナログ回路部Ａ’には、従来のムダ目消去調整回路13に
代えて、後述するコンピュータ41から第１選択入力端子
42を介して、ムダ目消去選択信号ｇを入力し、アナログ
スイッチ（図示せず）によりゲインを調整し、はかりの
ムダ目に相当するムダ目消去信号ｄを出力するムダ目消
去調整回路43が設けられ、さらに従来のゲイン調整回路
15に代えて、コンピュータ41から第２選択入力端子44を
介して、ゲイン選択信号ｈを入力し、アナログスイッチ
（図示せず）によりゲインを調整し、計量信号ｅを調整
し、計量信号ｅ’を出力するゲイン調整回路45が設けら
れている。

【００１８】また、アナログ回路部Ａ’の温度を直接検
出する温度センサ50が設けられ、温度センサ50の温度検
出信号ｋをディジタル信号ｍに変換してコンピュータ41
へ出力端子51を介して出力するＡ／Ｄ変換器52が設けら
れている。

【００１９】コンピュータ41による、電子式はかりの温
度特性補正方法、ムダ目消去調整回路43およびゲイン調
整回路45のゲイン調整方法、実計量方法を図２のフロー
チャートにしたがって説明する。 〔ステップ−１〕まず、恒温槽にアナログ基板部Ａ’を
入れて、ロードセル１の代わりにダミーセルを接続して
給電し、アナログ基板部Ａ’に仮の荷重検出信号ａと電
圧信号ｂを入力させる。ダミーセルの出力が”０”とな
るように設定する。これにより、ゲイン調整回路45の出
力信号が、すなわち零点の信号ｅ’がＡ／Ｄ変換器16に
おいてディジタル信号ｆに変換され、コンピュータ41に
入力される。このディジタル信号ｆには、プリアンプ1
1，基準アンプ12，ムダ目消去調整回路43、減算器14、
およびゲイン調整回路45の構成部品の温度特性が複合し
て現れる。なお、Ａ／Ｄ変換器16の零点の温度特性は小
さいので無視できる。 〔ステップ−２〕ゲイン調整回路45にゲイン調整信号ｈ
を出力し、アナログスイッチ（図示せず）によりゲイン
をＧ_G １に調整する。そして恒温槽の温度を−５℃にセ
ットし、またムダ目消去調整回路43にムダ目消去選択信
号ｇを出力し、アナログスイッチ（図示せず）によりゲ
インをＧ_M １に調整する。次に、このときのＡ／Ｄ変換
値（ディジタル信号ｆ）をＺ11（−５）としてコンピュ
ータ41に入力して記憶する。続いて、ゲインをＧ_M ２，
Ｇ_M ３，Ｇ_M ４と順に選択して、そのときのＡ／Ｄ変換
値をＺ12（−５），Ｚ13（−５），Ｚ14（−５）として
コンピュータ41に入力して記憶する。また、温度センサ
50の温度検出信号ｋのＡ／Ｄ変換値Ｔ（−５）を入力し
て記憶する。

【００２０】次に、ゲイン調整回路45のゲインをＧ
_G ２，Ｇ_G ３，Ｇ_G ４に調整して、その各々のゲインに
対して、ムダ目消去調整回路43のゲインがＧ_M １，Ｇ_M
２，Ｇ_M３，Ｇ_M ４のときのディジタル信号ｆをコンピ
ュータ41に入力して記憶する。 〔ステップ−３〕恒温槽の温度を２０℃にセットし、ス
テップ−２と同一の動作を繰り返す。 〔ステップ−４〕恒温槽の温度を４５℃にセットし、ス
テップ−２と同一の動作を繰り返す。

【００２１】上記記憶した結果を表１〜表４に示す。

【００２２】

【表１】

【００２３】

【表２】

【００２４】

【表３】

【００２５】

【表４】

【００２６】〔ステップ−５〕ムダ目消去調整回路43に
ムダ目消去選択信号ｇを出力し、アナログスイッチ（図
示せず）によりゲインをＧ_M １に調整する。そして、恒
温槽の温度を−５℃にセットし、またゲイン調整回路45
にゲイン選択信号ｈを出力し、アナログスイッチ（図示
せず）によりゲインをＧ_G １に調整する。

【００２７】そして、まずダミーセルの出力が”０”と
なるように調整して、このときのディジタル信号ｆをコ
ンピュータ41にα（＝Ｚ11（−５）となる）として入力
し、次にダミーセルの出力を秤量の錘を載せたときと略
等しくなるように調整して、このときのディジタル信号
ｆをコンピュータ41にβとして入力し、（β−α）を演
算してスパン値Ｇ１（−５）としてコンピュータ41に記
憶する。続いて、同様に、ゲインをＧ_G ２，Ｇ_G ３，Ｇ
_G ４と順に選択して、それぞれの場合のスパン値を計測
してＧ２（−５），Ｇ３（−５），Ｇ４（−５）として
記憶する。また、温度センサ50の温度検出信号ｋのカウ
ント値Ｔ（−５）を入力して記憶する。スパン値Ｇ１
（−５），Ｇ２（−５），Ｇ３（−５），Ｇ４（−５）
には、アナログ回路部Ａ’の各部の感度（ゲイン）の温
度特性が複合して現れる。 〔ステップ−６〕恒温槽の温度を２０℃にセットし、ス
テップ−５と同一の動作を繰り返す。 〔ステップ−７〕恒温槽の温度を４５℃にセットし、ス
テップ−５と同一の動作を繰り返す。

【００２８】上記記憶した結果を表５に示す。

【００２９】

【表５】

【００３０】〔ステップ−８〕次に、上記表１に求めた
計測値から、ゲイン調整回路45のゲインがＧ_G １の場合
について、各ゲインＧ_M １，Ｇ_M ２，Ｇ_M ３，Ｇ_M ４毎
に、２０℃未満、以上の零点の温度係数Ｚ11（Ｌ），Ｚ
11（Ｈ），Ｚ12（Ｌ），Ｚ12（Ｈ），Ｚ13（Ｌ），Ｚ13
（Ｈ），Ｚ14（Ｌ），Ｚ14（Ｈ）を下記の式により演算
して記憶する。

【００３１】Ｚ11（Ｌ）＝｛Ｚ11（２０）−Ｚ11（−
５）｝／｛Ｔ（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ11（Ｈ）＝｛Ｚ11（４５）−Ｚ11（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ12（Ｌ）＝｛Ｚ12（２０）−Ｚ12（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ12（Ｈ）＝｛Ｚ12（４５）−Ｚ12（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ13（Ｌ）＝｛Ｚ13（２０）−Ｚ13（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ13（Ｈ）＝｛Ｚ13（４５）−Ｚ13（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ14（Ｌ）＝｛Ｚ14（２０）−Ｚ14（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ14（Ｈ）＝｛Ｚ14（４５）−Ｚ14（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ 同様に、ゲイン調整回路45のゲインがＧ_G ２，Ｇ_G ３，
Ｇ_G ４の場合についても上記表２〜表４に求めた計測値
から、各ゲインＧ_M １，Ｇ_M ２，Ｇ_M ３，Ｇ_M４毎に、
２０℃未満、以上の零点の温度係数Ｚ21（Ｌ）〜Ｚ24
（Ｈ），Ｚ31（Ｌ）〜Ｚ34（Ｈ），Ｚ41（Ｌ）〜Ｚ44
（Ｈ）を下記の式により演算して記憶する。

【００３２】Ｚ21（Ｌ）＝｛Ｚ21（２０）−Ｚ21（−
５）｝／｛Ｔ（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ21（Ｈ）＝｛Ｚ21（４５）−Ｚ21（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ22（Ｌ）＝｛Ｚ22（２０）−Ｚ22（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ22（Ｈ）＝｛Ｚ22（４５）−Ｚ22（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ23（Ｌ）＝｛Ｚ23（２０）−Ｚ23（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ23（Ｈ）＝｛Ｚ23（４５）−Ｚ23（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ24（Ｌ）＝｛Ｚ24（２０）−Ｚ24（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ24（Ｈ）＝｛Ｚ24（４５）−Ｚ24（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ31（Ｌ）＝｛Ｚ31（２０）−Ｚ31（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ31（Ｈ）＝｛Ｚ31（４５）−Ｚ31（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ32（Ｌ）＝｛Ｚ32（２０）−Ｚ32（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ32（Ｈ）＝｛Ｚ32（４５）−Ｚ32（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ33（Ｌ）＝｛Ｚ33（２０）−Ｚ33（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ33（Ｈ）＝｛Ｚ33（４５）−Ｚ33（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ34（Ｌ）＝｛Ｚ34（２０）−Ｚ34（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ34（Ｈ）＝｛Ｚ34（４５）−Ｚ34（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ41（Ｌ）＝｛Ｚ41（２０）−Ｚ41（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ41（Ｈ）＝｛Ｚ41（４５）−Ｚ41（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ42（Ｌ）＝｛Ｚ42（２０）−Ｚ42（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ42（Ｈ）＝｛Ｚ42（４５）−Ｚ42（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ43（Ｌ）＝｛Ｚ43（２０）−Ｚ43（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ43（Ｈ）＝｛Ｚ43（４５）−Ｚ43（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｚ44（Ｌ）＝｛Ｚ44（２０）−Ｚ44（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｚ44（Ｈ）＝｛Ｚ44（４５）−Ｚ44（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ 〔ステップ−９〕次に、上記表２に求めた計測値から、
各ゲインＧ_G １，Ｇ_G ２，Ｇ_G ３，Ｇ_G４毎に、２０℃
未満、以上のスパンの温度係数Ｇ１（Ｌ），Ｇ１
（Ｈ），Ｇ２（Ｌ），Ｇ２（Ｈ），Ｇ３（Ｌ），Ｇ３
（Ｈ），Ｇ４（Ｌ），Ｇ４（Ｈ）を下記の式により演算
して記憶する。

【００３３】Ｇ１（Ｌ）＝｛Ｇ１（２０）−Ｇ１（−
５）｝／｛Ｔ（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｇ１（Ｈ）＝｛Ｇ１（４５）−Ｇ１（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｇ２（Ｌ）＝｛Ｇ２（２０）−Ｇ２（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｇ２（Ｈ）＝｛Ｇ２（４５）−Ｇ２（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｇ３（Ｌ）＝｛Ｇ３（２０）−Ｇ３（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｇ３（Ｈ）＝｛Ｇ３（４５）−Ｇ３（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ Ｇ４（Ｌ）＝｛Ｇ４（２０）−Ｇ４（−５）｝／｛Ｔ
（２０）−Ｔ（−５）｝ Ｇ４（Ｈ）＝｛Ｇ４（４５）−Ｇ４（２０）｝／｛Ｔ
（４５）−Ｔ（２０）｝ 〔ステップ−10〕次に、アナログ基板部Ａ’を実際の電
子式はかりに組み込み、ロードセル１を接続して給電
し、実際の荷重検出信号ａと電圧信号ｂを入力させる。 〔ステップ−11〕次に、下記の項目を入力する。

【００３４】１．ロードセル１の印加電圧Ｖ（ｖ）， ２．ロードセル１の定格出力Ｌ（ｍｖ／ｖ）， ３．ロードセル１の定格容量Ｆ（ｋｇｆ）， ４．ロードセル１の並列接続個数Ｎ， ５．電子式はかりの秤量Ｗ（ｋｇ）， ６．電子式はかりのムダ目Ｚ（ｋｇ）， ７．Ａ／Ｄ変換器16の基準電圧Ｘ（ｖ）， ８．Ａ／Ｄ変換器16のフルスケールＳ， ９．プリアンプ11のゲインＧ_P （倍）， 10．はかりの零点の許容値Ｊ 11．はかりのスパンの基準スケールＫ 12．ムダ目消去調整回路43が選択可能なゲインＧ
_M （倍）， 13．ゲイン調整回路45が選択可能なゲインＧ_G （倍） 〔ステップ−12〕次に、下記（１）式を満たすゲイン調
整回路45のゲインＧ_G を演算する。

【００３５】 Ｖ・Ｌ・Ｗ／（Ｆ・Ｎ）・Ｇ_P ・Ｓ／Ｘ・Ｇ_G ≦Ｋ …（１） 上記（１）式は、秤量Ｗに対応する最大のＡ／Ｄ変換値
（基準スケールＫ内）を得るものである。

【００３６】たとえば、Ｖ＝12ｖ，Ｌ＝２ｍｖ／ｖ，Ｆ
＝120 ｋｇｆ，Ｎ＝１，Ｗ＝50ｋｇ，Ｘ＝２ｖ，Ｓ＝10
0000，Ｇ_P ＝100 倍，Ｋ＝60000 とすると、 ゲインＧ_G ≦1.20 が求まる。 〔ステップ−13〕上記（１）式を満たす最大のゲイン調
整回路45のゲインＧ_G を選択する。

【００３７】たとえば、Ｇ_G １＝1.00，Ｇ_G ２＝1.40，
Ｇ_G ３＝1.96，Ｇ_G ４＝2.74 が選択可能であるとする
と、 ゲインＧ_G １＝1.00 が選択される。 〔ステップ−14〕選択したゲインＧ_G １のゲイン選択信
号ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選択信
号ｈによりゲイン調整回路45においてゲインが調整され
る。 〔ステップ−15〕さらに、選択したゲインＧ_G による秤
量Ｗに対するＡ／Ｄ変換器16の変換値を演算して、記憶
する。いま、（１）式の左辺の計算値は”50000 ”とな
り、秤量Ｗに対するＡ／Ｄ変換値は”50000 ”となる。
したがって、以後コンピュータ41はディジタル信号ｆ
の、増分”50000 ”を秤量（Ｗ＝50ｋｇ）と認識する。

【００３８】上記ステップ−12〜15により、ゲイン調整
回路45のゲインＧ_G の選択によりコンピュータ41へ出力
する基準スケールＫ（＝60000 ）内で最大のＡ／Ｄ変換
値（＝50000 ）が得られる。 〔ステップ−16〕上記選択されたゲインＧ_G において、
下記（２）式を満たすムダ目調整回路43のゲインＧ_M を
演算する。

【００３９】 絶対値｛Ｖ・Ｌ・Ｚ／（Ｆ・Ｎ）・Ｇ_P ・Ｓ／Ｘ・Ｇ_G −Ｘ・Ｇ_M ・Ｓ／Ｘ・Ｇ_G ｝≦Ｊ …（２） 上記（２）式は、錘を載せない状態でのＡ／Ｄ変換値
（ディジタル信号ｆ）の絶対値が許容値Ｊ以内となるよ
うに、ムダ目調整回路43のゲインＧ_M を調整するもので
ある。

【００４０】Ｇ_G ＝1.00において、たとえば、Ｚ＝42ｋ
ｇ，Ｊ＝10000 とすると、 0.32≦ゲインＧ_M ≦0.52 が求まる。 〔ステップ−17〕上記（２）式を満たし、かつ（２）式
の左辺が最小となるムダ目調整回路43のゲインＧ_M を選
択する。

【００４１】たとえば、Ｇ_M １＝0.10，Ｇ_M ２＝0.30，
Ｇ_M ３＝0.50，Ｇ_M ４＝0.70 が選択可能であるとする
と、 ゲインＧ_M ３＝0.50 が選択される。 〔ステップ−18〕選択したゲインＧ_M ３のムダ目消去選
択信号ｇをムダ目消去調整回路43へ出力する。このムダ
目消去選択信号ｇによりムダ目消去調整回路43において
ゲインが調整される。 〔ステップ−19〕さらに、選択したゲインＧ_M による零
点のバイアス値を演算して、零点の値として記憶する。
いま、（２）式の左辺の計算値は”絶対値（−8000）”
となり、零点に対するＡ／Ｄ変換値は”−8000”とな
る。したがって、コンピュータ41はディジタル信号ｆと
して、”−8000”を入力すると、計量値を０ｋｇと認識
する。

【００４２】以後、コンピュータ41はＡ／Ｄ変換値”−
8000〜42000 （＝−8000＋50000 ）”を”０〜50ｋｇ”
と認識することになる。上記ステップ−16〜19により、
選択されたゲインＧ_G において、錘を載せない状態での
Ａ／Ｄ変換値の絶対値が最小となるムダ目調整回路のゲ
インＧ_M が選択される。 〔ステップ−20〕上記選択されたゲイン調整回路45のゲ
インＧ_G とムダ目調整回路43のゲインＧ _M に基づいて、
零点の温度係数とスパンの温度係数を選択する。

【００４３】ゲイン調整回路45のゲインＧ_G としてＧ_G
１、ムダ目調整回路43のゲインＧ_MとしてＧ_M ３が選択
されているので、零点の温度係数としてＺ13（Ｌ），Ｚ
13（Ｈ）が選択され、スパンの温度係数としてＧ１
（Ｌ），Ｇ１（Ｈ）が選択される。 〔ステップ−21〕上記選択された零点の温度係数と入力
した現在のアナログ回路部Ａ’の温度ｔ℃のＡ／Ｄ変換
値Ｔ（ｔ）から、錘を載せない状態で測定された零点Ｚ
１（ｔ）を下記の式により補正する。補正後の零点の計
量値をＺ（ｔ）とする。

【００４４】Ｔ（ｔ）＜Ｔ（２０）の場合、 Ｚ（ｔ）＝Ｚ１（ｔ）＋Ｚ13（Ｌ）・｛Ｔ（２０）−Ｔ
（ｔ）｝ Ｔ（ｔ）≧Ｔ（２０）の場合、 Ｚ（ｔ）＝Ｚ１（ｔ）−Ｚ13（Ｈ）・｛Ｔ（ｔ）−Ｔ
（２０）｝ 〔ステップ−22〕上記選択されたスパンの温度係数と入
力した現在のアナログ回路部Ａ’の温度ｔ℃のＡ／Ｄ変
換値Ｔ（ｔ）から、スパン計量値Ｇ１（ｔ）｛＝計量値
（Ａ／Ｄ変換器16のディジタル信号ｆ）−Ｚ１（ｔ）｝
を下記の式により補正する。補正後の計量値をＧ（ｔ）
とする。

【００４５】Ｔ（ｔ）＜Ｔ（２０）の場合、 Ｇ（ｔ）＝Ｇ１（ｔ）＋Ｇ１（Ｌ）・｛Ｔ（２０）−Ｔ
（ｔ）｝ Ｔ（ｔ）≧Ｔ（２０）の場合、 Ｇ（ｔ）＝Ｇ１（ｔ）−Ｇ１（Ｈ）・｛Ｔ（ｔ）−Ｔ
（２０）｝ 〔ステップ−23〕実際の計量値Ｑ（ｋｇ）を下記式によ
り演算する。

【００４６】 Ｑ＝Ｇ（ｔ）／50000 ・50（＝秤量Ｗ） （ｋｇ） このように、温度センサ50により直接求めた実際のアナ
ログ回路部Ａ’の温度により零点が補正され、またスパ
ンが補正されることによって、より正確な計量値Ｑを得
ることができる。したがって、アナログ回路部Ａ’を構
成する部品に、温度により諸量がばらつく部品を使用す
ることが可能となり、安価な部品を使用でき、コストを
低減することができる。さらにゲイン調整回路45のゲイ
ンＧ_G およびムダ目調整回路43のゲインＧ_M が変更にな
っても、ゲインに応じた温度係数が選択されることによ
り、ゲイン変更による誤差を回避でき、正確な計量値Ｑ
を得ることができる。

【００４７】

【発明の効果】以上述べたように本発明によると、予め
零点の温度係数とスパンの温度係数が求められ、実際の
計量時、これら零点の温度係数とスパンの温度係数に基
づいて、温度センサにより検出された実温度情報により
零点が補正され、またスパンが補正されることによって
正確な計量値を得ることができる。したがって、アナロ
グ回路部を構成する部品に、温度により諸量がばらつく
部品を使用することが可能となり、安価な部品を使用で
き、コストを低減することができる。さらに回路のゲイ
ンが変更になっても、ゲインに応じた温度係数が選択さ
れることにより、ゲイン変更による誤差を回避でき、正
確な計量値を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の温度特性補正方法を使用した電子式は
かりの回路構成図である。

【図２】同電子式はかりのフローチャートである。

【図３】従来の電子式はかりの回路構成図である。

【図４】従来の電子式はかりのムダ目消去調整回路の回
路構成図である。

【符号の説明】

１ ロードセル 11 プリアンプ 12 基準アンプ 14 減算器 16，52 アナログ−ディジタル変換器 41 コンピュータ 43 ムダ目消去調整回路 45 ゲイン調整回路 50 温度センサ Ａ’ アナログ回路部 ａ，ａ’ 荷重検出信号 ｂ 電圧信号 ｃ 基準電圧信号 ｄ ムダ目消去信号 ｅ，ｅ’ 計量信号 ｆ ディジタル信号 ｇ ムダ目消去選択信号 ｈ ゲイン選択信号 ｋ 温度検出信号 ｍ ディジタル信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−74461（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−28516（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−243921（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−129532（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−201996（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01G 23/48 G01G 3/18 G01G 23/01 G01G 23/36 G01G 23/37

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 はかりの検出手段としてロードセルを有
   し、減算器においてこのロードセルの荷重検出信号から
   ムダ目消去調整回路において調整されたムダ目消去信号
   を減算し、この減算信号をゲイン調整回路において調整
   し、ディジタル信号に変換してコンピュータへ出力する
   アナログ回路部を有す電子式はかりにおける、前記アナ
   ログ回路部の温度特性補正方法であって、 前記アナログ回路部に、この回路部の温度を検出する温
   度センサを設け、 少なくとも２つの所定温度において、零点に相当する上
   記荷重検出信号を入力して前記ムダ目消去調整回路およ
   びゲイン調整回路のゲイン毎に、前記ゲイン調整回路の
   出力信号を零点情報として記憶し、零点および秤量に相
   当する上記荷重検出信号を入力して前記ゲイン調整回路
   のゲイン毎に、ゲイン調整回路の零点および秤量に相当
   する出力信号と上記零点情報との差をスパン情報として
   記憶し、前記温度センサにより検出された温度信号を温
   度情報として記憶し、 前記ムダ目消去調整回路のゲイン毎およびゲイン調整回
   路のゲイン毎に、少なくとも２つの前記零点情報と温度
   情報から零点の温度係数を求め、前記ゲイン調整回路の
   ゲイン毎に、少なくとも２つの前記スパン情報と温度情
   報からスパンの温度係数を求め、 実際の計量時に、前記温度センサにより検出された実温
   度情報と前記ムダ目消去調整回路のゲインおよびゲイン
   調整回路のゲインに応じた零点の温度係数から零点を補
   正し、前記実温度情報と前記ゲイン調整回路のゲインに
   応じたスパンの温度係数からスパンを補正することを特
   徴とする電子式はかりの温度特性補正方法。