JP2996041B2 - 固体撮像素子の自動欠陥補正回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えばフィールド読み
出しモードとフレーム読み出しモードの選択的切り換え
が可能なビデオカメラ等に適用して好適な固体撮像素子
の自動欠陥補正回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ ｃｏｕｐｌｄ
ｄｅｖｉｃｅ）等の固体撮像素子を用いたビデオカメラ
においては、ＣＣＤの各画素の内、光が入射していない
状態においても特異なレベルの信号を出力するいわゆる
欠陥画素により、撮像して得た画像の画質が劣化すると
いう問題があった。

【０００３】そこで、従来では、ビデオカメラに欠陥画
素が出力する信号を補正する補正回路を搭載し、ユーザ
に対してビデオカメラを出荷する前に、ＣＣＤのどの画
素が欠陥画素かを検査し、その検査の結果得られた欠陥
画素を示す情報をビデオカメラの補正回路の記憶エリア
に記憶したりする等して、実際にユーザの手に渡った後
は、この補正回路によって欠陥画素が出力する信号が補
正回路によって補正されるようにしていた。

【０００４】この補正の方法としては、０次補間や１次
補間といった補間によるものが考えられている。

【０００５】このうち、０次補間は、欠陥画素から出力
された信号をサンプリング回路においてホールドし、欠
陥画素から出力された信号を１つ前の画素の信号に置き
換える方法である。

【０００６】また１次補間は、欠陥画素の１つ前の画素
から出力される信号とこの欠陥画素の次の画素から出力
される信号の平均値を得、欠陥画素から出力される信号
を平均信号に置き換える方法である。

【０００７】本明細書において、上述した０次補間や１
次補間等の補間による補正方法を第１の補正方法と呼ぶ
こととする。また、補間をしない方法として、ビデオカ
メラ内部で欠陥画素から出力される信号に相当する信号
を発生させ、欠陥画素から出力される信号からこの発生
した信号を減算して欠陥画素から出力される信号を相殺
する方法も知られている。この補正方法を本明細書にお
いては第２の補正方法とする。

【０００８】ところで、ＣＣＤの構成画素は製造の段階
で欠陥となる場合のみならず、実際にユーザの手に渡っ
た後においても突発的に欠陥となる場合があり、更に経
年変化によって新たに光が入射していない状態で特異な
レベルの信号を発生する場合がある。

【０００９】従って、ビデオカメラに使用しているＣＣ
Ｄの欠陥画素を検査して欠陥画素のアドレスデータ等の
情報を得、この情報をビデオカメラのメモリ等に記憶し
た後にユーザの手に渡るようにした場合には、上述した
突発的な欠陥画素の発生や経年変化による欠陥画素の発
生に対応できない。

【００１０】そこで、最近では、更に、ビデオカメラ内
部に欠陥画素を検出する回路を搭載し、その欠陥画素を
検出する回路によって欠陥画素を検出し、その検出によ
って得た欠陥画素の情報をビデオカメラのメモリに記憶
させ、この情報に基いて新たに発生した欠陥画素の補正
を行う方法が提案されている。

【００１１】欠陥画素の検出は例えば次のようにして行
われる。即ち、ＣＣＤに光が入射していない状態で、Ｃ
ＣＤの各画素から出力された信号のレベルとこの画素の
１つ前の画素から出力された信号のレベルを比較、また
はＣＣＤの各画素から出力された信号のレベルと所定の
スレッシュホールドレベルを比較し、１つ前の画素が出
力した信号のレベル、またはスレッシュホールドレベル
より現在の画素が出力した信号のレベルが大きい場合
に、特異なレベルの信号を出力する画素（欠陥画素）と
して検出し、この画素のアドレスデータ及びその画素が
出力する信号レベルに基いた傷（欠陥画素）データを
得、これらをメモリ等に記憶することにより行う。

【００１２】一方、上述のようにして欠陥画素を検出し
た後には、メモリに記憶した欠陥画素のアドレスデータ
に基いて、ＣＣＤから供給される映像信号の欠陥画素に
対応する信号に対して上述の第１の補正方法や第２の補
正方法により、欠陥画素による特異なレベルの信号を補
正する。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、ＣＣＤから
の信号の読み出し方式には、従来からフィールド読み出
しモードと、フレーム読み出しモードがあり、最近のビ
デオカメラではこのフィールド読み出しとフレーム読み
出しの両モードを使用できるようになっているものが多
いので、このようなビデオカメラにおいても欠陥画素の
検出を正確に行えるようにしなければならない。これに
ついて図２５及び図２６を参照してこの２つの読み出し
モードについて説明する。

【００１４】フィールド読み出しモードでは、図２５に
示すように互いに隣接した２つのカラムの画素から転送
部（垂直転送レジスタ）に電荷を読み出す。そして、垂
直転送レジスタでは互いに隣接した２つのカラムの画素
からの電荷を加算した後、順次加算した電荷を水平転送
レジスタに転送するようにしている。

【００１５】即ち、図２５Ａに示すように、奇数フィー
ルドにおいては、感光部Ｉ４１（またはＩ４２）から読
み出した電荷と感光部Ｉ３１（またはＩ３２）から読み
出した電荷とを転送部で加算し、感光部Ｉ２１（または
Ｉ２２）から読み出した電荷と感光部Ｉ１１（またはＩ
１２）から読み出した電荷とを転送部で加算し、この後
図示しない水平転送レジスタに転送する。そして図２５
Ｂに示すように、偶数フィールドにおいては、感光部Ｉ
４１（またはＩ４２）から読み出した電荷を転送部に転
送し、感光部Ｉ３１（またはＩ３２）から読み出した電
荷と感光部Ｉ２１（またはＩ２２）から読み出した電荷
とを転送部で加算し、感光部Ｉ１１（またはＩ１２）か
ら読み出した電荷を転送部に転送し、この後図示しない
水平転送レジスタに転送する。このフィールド読み出し
モードでは、欠く画素での電荷の読み出しが１フィール
ド周期で行われるので、動解像度は悪いが、上下に隣接
したカラムの画素の電荷を加算しているため垂直解像度
が悪い。

【００１６】一方、フレーム読み出しモードでは、図２
６に示すように、上下方向に隣接するカラムの内、一方
のカラムの画素の電荷を奇数フィールドに読み出し、他
方のカラムの電荷を偶数フィールドに読み出す方式であ
る。即ち、図２６Ａに示すように、奇数フィールドにお
いては、感光部Ｉ３１、Ｉ１１、Ｉ３２及びＩ１２から
読み出した電荷を転送部に転送する。そして図２６Ｂに
示すように、偶数フィールドにおいては、感光部Ｉ４
１、Ｉ２１、Ｉ４２及びＩ２２から読み出した電荷を転
送部に転送する。

【００１７】以上の説明から明かなように、フィールド
読み出しモードでは、各画素での電荷の読み出しが１フ
ィールド周期で行われるので、動解像度は良いが、上下
に隣接したカラムの画素の電荷を加算しているため垂直
解像度が悪い。一方、フレーム読み出しモードでは、上
下に隣接したカラムの画素の電荷を加算しないので、垂
直解像度は良いが、各画素における電荷の読み出しが１
フレーム周期となるので動解像度が悪い。従って、一般
に使用する場合には、撮影条件によって２つのモードの
内の一方を切り換えスイッチ等によって切り換えて使用
するようにしている。

【００１８】そこで本発明はこのような点を考慮してな
されたもので、フィールド読み出しモードとフレーム読
み出しモードとを選択的に切り換え可能なビデオカメラ
において、欠陥画素の検出を正確に行うことのできる固
体撮像素子の自動欠陥補正回路を提案しようとするもの
である。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明は固体撮像素子２
からの撮像信号をフィールド及びフレーム読み出しモー
ドで読み出すための読み出し制御手段２３、４、５と、
固体撮像素子２の各画素の内特異なレベルの信号を出力
する欠陥画素を検出する欠陥検出手段４、２０、２１、
２２と、欠陥検出手段４、２０、２１、２２による固体
撮像素子２の各画素の内特異なレベルの信号を出力する
欠陥画素の検出を行う検出モード或いは通常の撮像モー
ドを選択する選択手段２４と、選択手段２４によって検
出モードが選択されたときには読み出し制御手段２３、
４、５に制御信号を供給し、固体撮像素子２からの読み
出しモードを強制的にフレーム読み出しモードにするよ
う制御すると共に、欠陥検出手段４、２０、２１、２２
に欠陥画素の情報の検出を行わせる欠陥検出制御手段
４、５と、欠陥検出手段４、２０、２１、２２によって
検出された欠陥画素の情報を記憶する記憶手段１２、１
３と、固体撮像素子２からの出力信号を所定サンプル前
の画素の信号に置き換える前置補間をして欠陥を補正す
る第１の補正手段４、５と、記憶手段１２、１３に記憶
された欠陥画素の情報に基づいて欠陥画素からの信号を
相殺する補正信号を用いて欠陥画素による特異なレベル
の信号を補正する第２の補正手段１５、１６とを備え、
検出モードにおいては第１の補正手段４、５により欠陥
画素の補正を行うようにしたものである。

【００２０】

【作用】上述せる本発明によれば、固体撮像素子２の各
画素の内特異なレベルの信号を出力する欠陥画素の情報
を検出する欠陥検出手段４、２０、２１、２２による固
体撮像素子２の各画素の内特異なレベルの信号を出力す
る欠陥画素の情報の検出を行う検出モード或いは通常の
撮像モードを選択する選択手段２４によって検出モード
が選択されたときには、欠陥検出制御手段４、５が読み
出し制御手段２３、４、５に制御信号を供給し、固体撮
像素子２からの読み出しモードを強制的に第２の読み出
しモードにするよう制御すると共に、欠陥検出手段４、
２０、２１、２２に欠陥画素の情報の検出を行わせる。

【００２１】

【実施例】以下に、図１〜図２４を参照して本発明固体
撮像素子の自動欠陥補正回路の一実施例について詳細に
説明する。

【００２２】この図１は本例固体撮像素子の自動欠陥補
正回路をビデオカメラに適用した例を示す構成図で、以
下、この図１を参照して本例固体撮像素子をビデオカメ
ラに適用した場合について説明する。

【００２３】この図１において、１はレンズやアイリス
等の光学系で、この光学系１を介して被写体からの光が
ＣＣＤ２に供給される。本例においては例えばこのＣＣ
Ｄ２を緑、赤、青成分用の３つのＣＣＤで構成するもの
とする。この場合は、上述の光学系１にはプリズムが含
まれ、このプリズムによって被写体からの光の内、緑の
成分の光がこのＣＣＤ２（緑成分光用）に供給され、赤
の成分の光がこのＣＣＤ２（赤成分光用）に供給され、
青の成分の光がこのＣＣＤ２（青成分光用）に供給され
る。尚、このＣＣＤ２は例えば単板式でも２板式でも良
い。

【００２４】このＣＣＤ２に供給された緑、赤、青成分
の光は、このＣＣＤ２（３つのＣＣＤ）において夫々光
電変換され、タイミングジェネレータ５からの電荷蓄積
制御信号によって電荷蓄積時間が制御されると共に、こ
のタイミングジェネレータ５からの読み出し信号によっ
て蓄積された電荷が夫々読みだされるようにされてい
る。

【００２５】ここで、上述したように、ＣＣＤ２の読み
出しモードには、フィールド読み出しモードとフレーム
読み出しモードがあり、読み出しモード切り換えスイッ
チ２３を操作することにより、システムコントローラ４
がこれを判断し、タイミングジェネレータ５に信号を送
ることでＣＣＤ２の読み出しモードが切り換えられるよ
うにしている。

【００２６】また、検出モードスイッチ２４が設けられ
ており、この検出モードスイッチ２４を操作することに
よって、欠陥画素を検出する欠陥検出モードと欠陥検出
モードで検出したデータや出荷前に予め検出されたＲＯ
Ｍ等に記憶されたデータに基いて欠陥補正を行いつつ映
像信号を得る動作モードとに切り換えるようにしてい
る。

【００２７】ＣＣＤの読み出しモードには、フィールド
読み出しモードとフレーム読み出しモードとがあるが、
フィールド読み出しモードでは、上下に隣接した画素に
蓄積された電荷を加算して出力し、加算する組み合わせ
をフィールド毎に切り換えているので、欠陥画素からの
出力がオッド（ＯＤＤ）、イーブン（ＥＶＥＮ）の両フ
ィールドで出力されてしまう。また、上下の画素を加算
しているので、上下に隣接した画素の一方のみが欠陥の
場合に、欠陥でない画素からの出力と加算されてから欠
陥検出が行われるので、検出精度が悪くなる。

【００２８】これに対し、フレーム読み出しモードでは
上下に隣接した画素の出力が加算されることがないの
で、フィールド読み出しモードのような問題は生じな
い。

【００２９】そこで、本例においては、検出モードとさ
れたときには、読み出しモードを強制的にフレーム読み
出しモードに切り換える。即ち、検出モードスイッチ２
４が操作され、動作モードから欠陥検出モードとされた
ときに、システムコントローラ４において読み出しモー
ドがどちらのモードになっているかを判断する。

【００３０】そして、読み出しモードがフィールド読み
出しモードとされているときには、タイミングジェネレ
ータ５に制御信号を送ることによって、ＣＣＤ２の読み
出しモードを強制的にフレーム読み出しモードに切り換
える。

【００３１】そして、フレーム読み出しモードにおい
て、ＣＣＤ２から読み出された出力はサンプリング回路
３に供給され、このサンプリング回路３においては、図
２に示すように、タイミングジェネレータ５及びパルス
ジェネレータ８からの信号に基いてＣＣＤ２からの出力
信号に対して図中ＳＨＰで示すプリチャージレベル及び
ＳＨＤで示すデータレベルでサンプリングを行ってリセ
ットノイズ等を除去し、このサンプリングした信号、即
ち、緑、赤及び青に対応した信号を加算回路９、１０及
び１１に夫々供給する。

【００３２】これら加算回路９、１０及び１１はサンプ
リング回路３からの緑、赤及び青に対応した信号に夫々
後述する補正回路１６からの緑、赤及び青に対応した補
正信号を加算し、この緑、赤及び青に対応した加算信号
を夫々出力端子１７、１８及び１９を介して図示を省略
したビデオカメラの他の映像信号処理回路等に供給する
と共に、スイッチ２０の固定接点２０ａ、２０ｂ及び２
０ｃに夫々供給する。

【００３３】さて、このスイッチ２０は各加算回路９、
１０及び１１からの緑、赤及び青に対応した信号が供給
される固定接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃの他にＣＣＤ２
のパッケージに取り付けられ、このＣＣＤ２の温度を検
出する温度センサ７からの温度情報が供給される固定接
点２０ｄを有し、このスイッチは、可動接点２０ｅをこ
れら各固定接点２０ａ、２０ｂ、２０ｃ及び２０ｄに接
続することによって、緑、赤及び青に対応した信号や温
度情報を検出前処理回路２１に供給する。

【００３４】この検出前処理回路２１はスイッチ２０か
ら供給される緑、赤及び青に対応した信号または温度情
報の内、緑、赤及び青に対応した信号のキャリア成分の
不連続な微小レベルを除去した後、このキャリア成分の
不連続な微小レベルを除去した緑、赤及び青に対応した
信号、並びに温度情報をディジタル信号に変換し、緑、
赤及び青に対応したディジタル信号を検出回路２２に供
給すると共にディジタル温度データをシステムコントロ
ーラ４に供給する。

【００３５】この検出回路２２は、検出前処理回路２１
から供給された緑、赤及び青に対応したディジタル信号
に対して低域濾波処理及びいわゆる画面上で白く映出さ
れる白傷用及び画面上で黒く映出される黒傷用スレッシ
ュホールドレベルによる比較を行いその結果をシステム
コントローラ４に供給する。

【００３６】このシステムコントローラ４は、検出回路
２２からの結果をディジタル温度データに基いたスレッ
シュホールドレベルと比較し、その比較結果により検出
回路２２からの結果に対応した映像信号が欠陥画素によ
る出力信号と判断した場合に、水平／垂直カウンタ６か
らのアドレス信号と共にこの欠陥画素に関連した種々の
情報をレジスタ１４に格納する。

【００３７】そして欠陥検出が終了した後に、レジスタ
１４に格納されている欠陥画素のアドレスデータや種々
の情報を、読み出し／書き込み回路１２を介してメモリ
（例えばＥＥＰＲＯＭやバッテリバックアップ付きＲＡ
Ｍ等）１３に記憶する。また、ユーザに対する出荷時に
は、例えばこのメモリ１３には欠陥画素のデータが記憶
される。この出荷時における欠陥画素のメモリ１３への
書き込みは、例えばＣＣＤ２の製造段階で欠陥画素を検
出した結果得られた欠陥画素データを一旦フロッピーデ
ィスク等の記録媒体に記録し、例えば製品として出荷す
る際にデータ書き込み装置を用い、例えばＬＡＮＣ通信
等によりフロッピーディスクに記録されている欠陥画素
のデータをコピーするようにしても良い。欠陥検出モー
ドで検出された欠陥画素及び製造段階で検出された欠陥
画素に対し補正を行いながら撮影を行う。そして、欠陥
検出モードで検出した欠陥画素に対しては上述の第１の
補正方法にて補正を行う。また、メモリ１３を例えば２
つのエリアに分け、一方のエリアを不揮発性メモリ、他
方のエリアをＲＡＭ等にしても良い。

【００３８】一方、通常の撮影を行う動作モードにおい
ては、メモリ１３に記憶した欠陥画素のアドレス信号を
読み出し、このアドレス信号と、水平／垂直カウンタ６
からのアドレス信号を比較し、一致した場合にはパルス
ジェネレータ８やタイミングジェネレータ５を制御し
て、欠陥画素に対応する信号部分をサンプリング回路３
においてホールドさせる。また、製造段階で検出された
欠陥画素に対しては、上述の第２の補正方法にて補正を
行う。

【００３９】また、このシステムコントローラ４は、ス
イッチｓｗ１からの設定情報に基いて検出イネーブル信
号でシャッタイネーブル信号を供給するスイッチｓｗ２
のオン／オフを制御すると共に、検出イネーブル信号を
検出回路２２に供給し、この検出回路２２による欠陥画
素の検出の制御を行う。従って、例えばスイッチｓｗ１
を使用者が操作すると、検出イネーブル信号が検出回路
２２に供給されて、欠陥検出モードになると共に、この
検出イネーブル信号によりスイッチｓｗ２がオフにさ
れ、これによってタイミングジェネレータ５にシャッタ
イネーブル信号が供給されない。従って、ＣＣＤ２にお
ける電荷蓄積時間を通常の蓄積時間より短くする、いわ
ゆるシャッタ動作が行われなくなり、欠陥画素の検出の
Ｓ／Ｎの劣化を低減し、欠陥画素の検出を良好に行うこ
とができる。

【００４０】ここで、上述の欠陥画素について説明する
と、欠陥画素は図３に示すように、光量に依存しないが
温度に依存する白点（白傷）Ｗ１、光量にも温度にも依
存する白点（白傷）Ｗ２及び黒点（黒傷）Ｂ１、光量に
依存しないが温度に依存する黒点（黒傷）Ｂ２が存在す
る。従って本例においては、これらの条件を満たすこと
ができるように、温度センサ７からの温度情報に基いて
欠陥画素の検出や補正を行うようにしている。

【００４１】このような微小な白点（ｗｈｉｔｅ ｆｌ
ａｗ ｄｅｆｅｃｔ）や黒点（ｂｌａｃｋ ｆｌａｗ
ｄｅｆｅｃｔ）共、欠陥画素の信号出力に一定のバイア
ス電圧が加算または減算された形となっている。映像信
号成分は正常に入射光量に反応する。従って欠陥画素の
位置とある温度での欠陥成分の振幅を予め測定して記憶
しておき、欠陥画素の信号出力と同じタイミングで欠陥
成分と同振幅、逆極性の補正信号を発生させ、欠陥画素
の信号出力に加算すれば、映像信号の欠陥成分を相殺す
ることができる。これが上述の第２の補正方法に対応す
る。この様子を図４に示す。

【００４２】この図４は、縦軸を映像信号の振幅レベル
（Ｖ）、横軸を時間（Ｔ）とした各波形を示し、図４Ａ
は大光量時出力信号ｏｕｔ１及び小光量時出力信号ｏｕ
ｔ２を示したものである。尚、破線で示す範囲が１画素
分の出力パルスに対応する。

【００４３】この図４Ａに示すように、大光量時出力信
号ｏｕｔ１及び小光量時出力信号ｏｕｔ２の何れの信号
においても欠陥画素が出力する微小白点パルスＷ及び微
小黒点パルスＢが発生している。

【００４４】この図４Ａに示す大光量時出力信号ｏｕｔ
１の微小白点パルスＷ及び微小黒点パルスＢは、図４Ｂ
に示す微小白点補正パルスＷｐ及び微小黒点パルスＢｐ
からなる補正信号（図１において補正回路１６が出力す
る）を加算することによって、図４Ｃに大光量時出力信
号ｏｕｔ１として示すように、微小白点対応パルスＷ及
び微小黒点対応パルスＢが補正されている。

【００４５】また、この図４Ａに示す小光量時出力信号
ｏｕｔ２の微小白点パルスＷ及び微小黒点パルスＢは、
図４Ｂに示す微小白点補正パルスＷｐ及び微小黒点パル
スＢｐからなる補正信号（図１において補正回路１６が
出力する）を加算することによって、図４Ｃに小光量時
出力信号ｏｕｔ２として示すように、微小白点対応パル
スＷ及び微小黒点対応パルスＢが補正されている。

【００４６】さて、次に図１に示した本実施例の回路の
各部について以下図５〜図２４を介して更に詳しく説明
する。

【００４７】先ず、図５〜図８を順次参照して、図１に
示したサンプリング回路３について説明する。

【００４８】この図５において３０は相関２重サンプリ
ング回路で、この相関２重サンプリング回路３０は、図
１に示したＣＣＤ（緑用ＣＣＤ）２からの緑に対応した
信号（映像信号）が供給される入力端子３１を増幅回路
３２の入力端子に接続し、この増幅回路３２の出力端子
をスイッチ３３を介して演算増幅回路３８の非反転入力
端子（＋）に接続し、この演算増幅回路３８の非反転入
力端子（＋）をコンデンサ３７を介して接地し、この演
算増幅回路３８の出力端子を出力端子４５に接続し、ま
た増幅回路３２の出力端子をスイッチ４０を介して増幅
回路４２の入力端子に接続すると共に、この増幅回路４
２の入力端子をコンデンサ４１を介して接地し、この増
幅回路４２の出力端子をスイッチ４３を介して演算増幅
回路３８の反転入力端子（−）に接続すると共に、この
演算増幅回路３８の反転入力端子（−）をコンデンサ４
４を介して接地することによって構成される。

【００４９】そして、この相関２重サンプリング回路３
０のスイッチ４０に入力端子３９をを介してタイミング
ジェネレータ５からのサンプルホールド信号ＳＨＰを供
給し、この相関２重サンプリング回路３０のスイッチ３
３及び４３にアンド回路３６からのサンプルホールド信
号ＳＨＤを供給する。

【００５０】このスイッチ３３及び４３に供給されるサ
ンプルホールド信号ＳＨＤはサンプリング回路３の入力
端子３４に供給される信号と緑に対応した信号用のタイ
ミングジェネレータ５からのフレーム信号とがアンド回
路３６において論理積がとられて得られる信号である。

【００５１】４９は赤に対応した信号のための相関２重
サンプリング回路で、この相関２重サンプリング回路４
９の構成は相関２重サンプリング回路３０と同様であ
る。この相関２重サンプリング回路４９に入力端子４６
を介して図１に示したＣＣＤ（赤用ＣＣＤ）２からの赤
に対応した信号を供給し、この相関２重サンプリング回
路４９の出力を出力端子５０に供給する。また、図示は
省略するも、この相関２重サンプリング回路４９のスイ
ッチ４０に入力端子３９を介してタイミングジェネレー
タ５からのサンプルホールド信号ＳＨＰを供給し、この
相関２重サンプリング回路４９のスイッチ３３及び４３
にアンド回路４８からのサンプルホールド信号ＳＨＤを
供給する。

【００５２】この図示を省略したスイッチ３３及び４３
に供給されるサンプルホールド信号ＳＨＤは、サンプリ
ング回路３の入力端子３４に供給される信号と赤に対応
した信号用のタイミングジェネレータ５からのフレーム
信号とがアンド回路４８において論理積がとられて得ら
れる信号である。

【００５３】５４は青に対応した信号のための相関２重
サンプリング回路で、この相関２重サンプリング回路５
４の構成は相関２重サンプリング回路３０と同様であ
る。この相関２重サンプリング回路５４に入力端子５１
を介して図１に示したＣＣＤ（青用ＣＣＤ）２からの青
に対応した信号を供給し、この相関２重サンプリング回
路５４の出力を出力端子５５に供給する。また、図示は
省略するも、この相関２重サンプリング回路５４のスイ
ッチ４０に入力端子３９をを介してタイミングジェネレ
ータ５からのサンプルホールド信号ＳＨＰを供給し、こ
の相関２重サンプリング回路５４のスイッチ３３及び４
３にアンド回路５３からのサンプルホールド信号ＳＨＤ
を供給する。

【００５４】この図示を省略したスイッチ３３及び４３
に供給されるサンプルホールド信号ＳＨＤは、サンプリ
ング回路３の入力端子３４に供給される信号と青に対応
した信号用のタイミングジェネレータ５からのフレーム
信号とがアンド回路５３において論理積がとられて得ら
れる信号である。

【００５５】各アンド回路３６、４８及び５３には夫々
図６Ａに示す信号が供給され、アンド回路３６にはこの
信号の他に図６Ｂに示すような緑に対応した信号用（Ｇ
ｃｈ）である３フレームにつき１フレームアクティブと
なるタイミングジェネレータ５からのフレーム信号が供
給され、これら２つの信号の論理積がとられ、図６Ｅに
示す如きサンプルホールド信号ＳＨＤが生成される。

【００５６】同様に、アンド回路４８には図６Ａに示し
た信号の他に図６Ｃに示すような赤に対応した信号用
（Ｒｃｈ）である３フレームにつき１フレームアクティ
ブとなるタイミングジェネレータ５からのフレーム信号
が供給され、これら２つの信号の論理積がとられ、図６
Ｆに示す如きサンプルホールド信号ＳＨＤが生成され
る。

【００５７】そして同様に、アンド回路５３には図６Ａ
に示した信号の他に図６Ｄに示すような青に対応した信
号用（Ｂｃｈ）である３フレームにつき１フレームアク
ティブとなるタイミングジェネレータ５からのフレーム
信号が供給され、これら２つの信号の論理積がとられ、
図６Ｇに示す如きサンプルホールド信号ＳＨＤが生成さ
れる。

【００５８】次に、図５に示したサンプリング回路３の
動作について図７を参照して説明する。

【００５９】この図７Ａに示すように、ＣＣＤ２から図
５に示したサンプリング回路３に供給された信号（Ｇ、
Ｒ、Ｂｃｈの信号）は、そのプリチャージレベルが図７
Ｂに示すサンプルホールド信号ＳＨＰ（図５において入
力端子３９に供給されるタイミングジェネレータ５から
の信号）によってサンプルホールドされ、更に図７Ａに
示す信号のデータレベルが図７Ｃに示すサンプルホール
ド信号ＳＨＤ（図５においてアンド回路３６、４８及び
５３の出力に対応する信号で、図６においては図６Ｅ、
Ｆ及びＧに夫々対応する）によってサンプルホールドさ
れる。

【００６０】もし、この図７Ａに示すように、データレ
ベルが異常なレベルｐａとなっている場合は、通常動作
においては図７Ｄに示すように異常なレベルｐａも出力
されることとなる。そこで図７Ｅに示すように、異常な
レベルｐａの位置を示す信号を使用して図７Ｃに示すサ
ンプリング信号ＳＨＤの内、この異常なレベルｐａに対
応した信号を出力しないようにする（図７Ｆ）。かくす
ると、図７Ｇに示すように、出力信号の異常なレベルｐ
ａに対応する信号が１つ前の画素の出力信号のまま、即
ち、ホールドされた状態となる。従って図５に示した演
算増幅回路３８に接続された相関２重サンプリング回路
３０、４９及び５４の各出力端子４５、５０及び５５か
らの出力は図７Ｇに示すように、異常レベルｐａが除去
された出力となる。

【００６１】また、図５に示すように、演算増幅回路３
８の非反転入力端子（＋）に各画素毎のデータレベルを
サンプリングした信号を供給し、演算増幅回路３８の反
転入力端子（−）に各画素毎のデータレベルをサンプリ
ングした信号を供給するようにしているので、各画素毎
のデータ電位と各画素毎のリセット電位を夫々サンプル
ホールドし、演算増幅回路３８においてこれらの差を
得、これを出力とするようにしていることとなる。

【００６２】従って、リセット電位及びデータ電位間の
同相成分であるリセットノイズ等を除去することができ
る。

【００６３】このように、このサンプリング回路３にお
いては、図６に示したように、ＣＣＤ２からの緑に対応
した信号、赤に対応した信号及び青に対応した信号、即
ち、Ｇｃｈ（チャンネル）、Ｒｃｈ（チャンネル）及び
Ｂｃｈ（チャンネル）の出力に対して夫々サンプリング
する際に、Ｇｃｈのサンプリング中にはＲｃｈ及びＢｃ
ｈのサンプリングを停止し、Ｒｃｈのサンプリング中に
はＧｃｈ及びＢｃｈのサンプリングを停止し、Ｂｃｈの
サンプリング中にはＧｃｈ及びＲｃｈのサンプリングを
停止するようにしているので、サンプリングしているチ
ャンネル以外のチャンネルからのいわゆるデータの飛び
込みによる欠陥画素検出精度の劣化を防止することがで
きる。

【００６４】図８は上述のサンプリングしているチャン
ネル以外のチャンネルからのデータの飛び込みを防止す
るための他の例を示す構成図である。この図８に示すよ
うに、この例においては、ＣＣＤ（Ｒ）２Ｒ、ＣＣＤ
（Ｇ）２Ｇ及びＣＣＤ（Ｂ）２Ｂからの出力を夫々スイ
ッチ１３０、１３１及び１３２を介してサンプリング回
路１３３に供給し、その出力を出力端子１３５から出力
するようにすると共に、別に設けた制御回路１３４から
の制御信号によりスイッチ１３０、１３１及び１３２を
例えば１フレーム期間毎に順次オンとするようにする。

【００６５】この制御回路１３４が出力する制御信号
を、例えば図６Ｂ、Ｃ及びＤに示すような信号とした場
合は、図６Ｂに示す３フレーム期間で１フレーム期間ア
クティブとなるフレーム信号がスイッチ１３１に供給さ
れ、スイッチ１３１がこのフレーム信号がアクティブと
なっている期間オンとなり、これによってＣＣＤ２Ｇか
らの出力がスイッチ１３１を介してサンプリング回路１
３３に供給され、サンプリングされる。次に、図６Ｃに
示す３フレーム期間で１フレーム期間アクティブとなる
フレーム信号がスイッチ１３０に供給され、スイッチ１
３０がこのフレーム信号がアクティブとなっている期間
オンとなり、これによってＣＣＤ２Ｒからの出力がスイ
ッチ１３０を介してサンプリング回路１３３に供給さ
れ、サンプリングされる。次に、図６Ｄに示す３フレー
ム期間で１フレーム期間アクティブとなるフレーム信号
がスイッチ１３２に供給され、スイッチ１３２がこのフ
レーム信号がアクティブとなっている期間オンとなり、
これによってＣＣＤ２Ｂからの出力がスイッチ１３２を
介してサンプリング回路１３３に供給され、サンプリン
グされる。

【００６６】従って、この場合においても、図５におい
て説明したサンプリング回路３と同様、ＣＣＤ２Ｇから
の緑に対応した信号、ＣＣＤ２Ｒからの赤に対応した信
号及びＣＣＤ２Ｂからの青に対応した信号、即ち、Ｇｃ
ｈ（チャンネル）、Ｒｃｈ（チャンネル）及びＢｃｈ
（チャンネル）の出力に対して夫々サンプリングする際
に、Ｇｃｈのサンプリング中にはＲｃｈ及びＢｃｈの信
号はサンプリング回路１３３に供給されないのでサンプ
リングはなされず、Ｒｃｈのサンプリング中にはＧｃｈ
及びＢｃｈの信号はサンプリング回路１３３に供給され
ないのでサンプリングはなされず、Ｂｃｈのサンプリン
グ中にはＧｃｈ及びＲｃｈの信号はサンプリング回路１
３３に供給されないのでサンプリングはなされず、これ
によって、サンプリングしているチャンネル以外のチャ
ンネルからのいわゆるデータの飛び込みによる画質の劣
化を防止することができる。

【００６７】次に、図９を参照して図１に示したシステ
ムコントローラ４について説明する。

【００６８】この図９に示すように、図１に示したシス
テムコントローラ４内部には、システムコントローラ４
本来の回路（図示を省略する）以外に比較回路６０を配
している。即ち、図１に示した検出回路２２からの出力
信号（比較結果信号）を入力端子６１を介してコンパレ
ータ６２に供給し、同様に図１に示した検出前処理回路
２１からのディジタル温度データを入力端子６３を介し
て乗算回路６５に供給し、スレッシュホールド回路６４
からのスレッシュホールドデータを乗算回路６５に供給
する。そしてこの乗算回路６５において、スレッシュホ
ールド回路６４からのスレッシュホールドデータに対し
て、ＣＣＤ２と熱結合された温度センサ（図１参照）７
が検出し、これを検出前処理回路２１がディジタルに変
換したディジタル温度データによって変調する。そして
更に、この変調されたスレッシュホールドデータと検出
回路２２から供給された信号をコンパレータ６２に夫々
供給し、このコンパレータ６２により比較し、その比較
結果を出力端子６６を介して図示を省略したシステムコ
ントローラ４の他の回路に供給する。

【００６９】このようにすれば、正の温度特性を持つ欠
陥画素による出力に対して、この出力を欠陥画素による
出力であると判断するためのスレッシュホールドデータ
をも正の温度特性を有するようにでき、欠陥画素が出力
する信号に対する検出の性能を一定に保つことができ
る。従って、自動欠陥画素検出系の検出性能の温度に対
する依存性を大幅に低減し、例えばその応用において不
必要であるような微小な欠陥画素の出力までも誤検出し
てしまうことを防止し、良好な欠陥画素の検出をするこ
とができる。

【００７０】次に、図１０〜図１８を参照して図１に示
したレジスタ１４の内部構成及びその動作について説明
する。

【００７１】この図１０において、７０ｒ、７０ｒ＋
１、・・・・７０ｒ＋ｎは夫々主レジスタで、これら主
レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、・・・・７０ｒ＋ｎは水
平アドレスの格納されるエリア、垂直アドレスが格納さ
れるエリア、第何フィールドかを示すフィールドフラグ
が格納されるエリア、チャンネル情報（Ｒｃｈ、Ｇｃｈ
及びＢｃｈ情報）が格納されるエリア、及び時歴データ
が格納されるエリアで構成される。これらの各エリアに
格納される情報は欠陥画素に対応した情報である。

【００７２】ここでいう時歴は、或画素が欠陥として検
出されなかった回数で、本例においては或画素が例えば
１０回欠陥として検出されなかった場合にこの画素を欠
陥画素としないようにする。このようにするのは、或画
素が、フィールド毎、或はフレーム毎、或は不定期に特
異なレベル（欠陥としてのレベル）の信号を出力した
り、出力しなかったりすることがあるためである。

【００７３】即ち、上述したように、不定期に特異なレ
ベルの信号を出力する画素が欠陥検出時において、正常
なレベルの信号を出力していた場合に、その画素が正常
な画素だとして判断されてしまう。また、欠陥画素の検
出を１回しか行わないと雑音等によって正常なレベルの
信号を出力する画素が欠陥画素であると誤検出した場合
にそのデータがいつまでも残ってしまう。

【００７４】本例においては、この不定期に特異なレベ
ルの信号を出力する画素をも欠陥画素として補正できる
ようにする。また、このようにすれば、映像信号中に突
発的に混入したノイズを欠陥画素として誤検出してしま
うことはない。

【００７５】また主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、・・
・・７０ｒ＋ｎに格納されている情報は、今回欠陥画素
の検出を開始する前、即ち、現在の時点で欠陥と判断さ
れている画素の情報である。

【００７６】７２ｒ、７２ｒ＋１、・・・・７２ｒ＋ｎ
は夫々補助レジスタで、これら補助レジスタ７２ｒ、７
２ｒ＋１、・・・・７２ｒ＋ｎは、水平アドレスの格納
されるエリア、垂直アドレスが格納されるエリア、第何
フィールドかを示すフィールドフラグが格納されるエリ
ア、チャンネル情報（Ｒｃｈ、Ｇｃｈ及びＢｃｈ情報）
が格納されるエリア、及び時歴データが格納されるエリ
ア等で構成される。これらの各エリアに格納される情報
は欠陥画素に対応した情報で、欠陥画素の検出開始前
に、上述の主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、・・・・７
０ｒ＋ｎに格納された現在の時点で欠陥と判断されてい
る欠陥画素の情報が補助レジスタ７２ｒ、７２ｒ＋１、
７２ｒ＋２、・・・・７２ｒ＋ｎに夫々転送される。

【００７７】７１ｃ、７１ｃ＋１、・・・・７１ｃ＋ｎ
は夫々コンパレータで、データセレクタ７３から順次読
みだされた補助レジスタ７２ｒ、７２ｒ＋１、・・・・
７２ｒ＋ｎからの欠陥画素情報と主レジスタ７０ｒ、７
０ｒ＋１、・・・・７０ｒ＋ｎからの位置情報の一致を
検出し、例えばこの検出結果をシステムコントローラ４
に転送する。

【００７８】次に図１１〜図１８を参照してこの図１０
に示すレジスタ１４の動作について説明する。

【００７９】図１１には現時点で欠陥と判断されている
画素情報が主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、７０ｒ＋
２、・・・・７０ｒ＋ｎに格納されている。主レジスタ
７０ｒのアドレスエリアにはアドレス（ｘ、ｘ）なる欠
陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには時
歴データ“８”が格納されている。また、主レジスタ７
０ｒ＋１のアドレスエリアにはアドレス（ｙ、ｙ）なる
欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには
時歴データ“３”が格納されている。また、主レジスタ
７０ｒ＋２のアドレスエリアにはアドレス（ｚ、ｚ）な
る欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアに
は時歴データ“０”が格納されている。

【００８０】尚、説明の都合上、図１０に示した他の情
報についての説明を省略する。

【００８１】先ず検出を行う前に、システムコントロー
ラ４からの制御信号により、主レジスタ７０ｒ、７０ｒ
＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ＋ｎの
内容を夫々図１２に示すように補助レジスタ７２ｒ、７
２ｒ＋１、７２ｒ＋２、７２ｒ＋３、・・・・７２ｒ＋
ｎに転送し、この後主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、７
０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ＋ｎの各内容を
夫々クリアする。

【００８２】また、図１１〜図１８の各図中においてア
ドレスの欄が空白とされているところは画素の情報が格
納されていないクリアされた状態を示す。

【００８３】さて、主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、７
０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ＋ｎの内容をク
リアした後、システムコントローラ４の制御により、欠
陥画素の検出が行われ、欠陥と判断された画素の情報が
主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ＋
３、・・・・７０ｒ＋ｎに夫々格納される。この場合の
例を図１３に示す。この図１３に示すように、主レジス
タ７０ｒのアドレスエリアにはアドレス（ｘ、ｘ）なる
欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアに
は、例えば時歴データ“１０”が格納される。また、主
レジスタ７０ｒ＋１のアドレスエリアにはアドレス
（ｖ、ｖ）なる欠陥画素のアドレスデータが格納され、
時歴エリアには、例えば時歴データ“１０”が格納され
る。尚、図示は省略するも、これら欠陥画素のアドレス
データや時歴データ以外の他の情報も同様に格納され
る。

【００８４】次に、図１４に斜線の信号ラインで示すよ
うに、補助レジスタ７２ｒの内容がデータセレクタ７３
によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の情報
がコンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、７１
ｃ＋３、・・・・７１ｃ＋ｎに夫々供給され、これらコ
ンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、７１＋
３、・・・・７１ｃ＋ｎにおいて、主レジスタ７０ｒ、
７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ
＋ｎから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。

【００８５】そして、補助レジスタ７２ｒ、７２ｒ＋
１、７２ｒ＋２、７２ｒ＋３、・・・・７２ｒ＋ｎに読
み出された欠陥画素のアドレスと主レジスタ７０ｒ、７
０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ＋
ｎに格納されている欠陥画素のアドレスとの一致、不一
致を判断する。尚、この際に水平アドレス、垂直アドレ
スの両方が一致していることが必要である。また、チャ
ンネルデータについても一致している必要があることは
言うまでもない。

【００８６】この図１４の例では、補助レジスタ７２ｒ
に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータが主
レジスタ７０ｒに格納されている欠陥画素の情報のアド
レスデータ（図示せずともチャンネルデータも同様であ
る）と一致しているので、コンパレータ７１ｃが検出結
果に対応した信号を例えばシステムコントローラ４に供
給する。

【００８７】次に、図１５に斜線の信号ラインで示すよ
うに、補助レジスタ７２ｒ＋１の内容がデータセレクタ
７３によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、
７１ｃ＋３、・・・・７１ｃ＋ｎに供給され、これらコ
ンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、７１＋
３、・・・・７１ｃ＋ｎにおいて、主レジスタ７０ｒ、
７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ
＋ｎから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。

【００８８】この図１５の例では、補助レジスタ７２ｒ
＋１に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
が主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ
＋３、・・・・７０ｒ＋ｎに夫々格納されている欠陥画
素の情報のアドレスデータと何れも一致していないの
で、コンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、７
１ｃ＋３、・・・・７１ｃ＋ｎが何れも反応しない。ま
たこのとき、補助レジスタ７２ｒ＋１の時歴エリアに格
納されている時歴データは“３”であるが、この補助レ
ジスタ７２ｒ＋１に格納されている時歴データ“３”か
ら“１”を減算してこの時歴データを“２”にし、この
補助レジスタ７２ｒ＋１に格納されている欠陥画素の情
報（時歴データのみ“２”にしてある）を未使用の主レ
ジスタ７０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ＋ｎの
何れかに格納する。この場合は図１６に斜線の信号ライ
ンで示すように、未使用の主レジスタ７０ｒ＋２に格納
する。

【００８９】次に、図１７に斜線の信号ラインで示すよ
うに、補助レジスタ７２ｒ＋２の内容がデータセレクタ
７３によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、
７１ｃ＋３、・・・・７１ｃ＋ｎに供給され、これらコ
ンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、７１＋
３、・・・・７１ｃ＋ｎにおいて、主レジスタ７０ｒ、
７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７０ｒ
＋ｎから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。

【００９０】この図１７の例では、補助レジスタ７２ｒ
＋２に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
が主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ
＋３、・・・・７０ｒ＋ｎに夫々格納されている欠陥画
素の情報のアドレスデータと何れも一致していないの
で、コンパレータ７１ｃ、７１ｃ＋１、７１ｃ＋２、７
１ｃ＋３、・・・・７１ｃ＋ｎが何れも反応しない。ま
たこのとき、補助レジスタ７２ｒ＋２の時歴エリアに格
納されている時歴データは“０”となっている。

【００９１】これは、欠陥画素としてレジスタに記憶さ
れていた画素が、１０回連続して欠陥画素として検出さ
れなかったことを表す。この場合は、この欠陥画素のデ
ータを主レジスタ７０ｒ、７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７
０ｒ＋３、・・・・７０ｒ＋ｎに転送しない。

【００９２】そして、次の欠陥検出時に主レジスタ７０
ｒ、７０ｒ＋１、７０ｒ＋２、７０ｒ＋３、・・・・７
０ｒ＋ｎのデータが補助レジスタ７２ｒ、７２ｒ＋１、
７２ｒ＋２、７２ｒ＋３、・・・・７２ｒ＋ｎに転送さ
れ、補助レジスタ７２ｒ、７２ｒ＋１、７２ｒ＋２、７
２ｒ＋３、・・・・７２ｒ＋ｎの内容が書き換えられる
ため、１０回連続して欠陥画素として検出されなかった
画素はレジスタから消去される。即ち、この場合アドレ
スデータ（ｚ、ｚ）で表される欠陥画素のデータが消去
されることになる。

【００９３】このように、例えば或検出時に一旦欠陥と
判断された画素について検出期間内や検出毎に例えば連
続で１０回欠陥と判断されなかった場合に、その対応画
素を欠陥画素として判断してしまうことがなく、また、
ノイズの混入によって欠陥画素と誤まって判断してしま
うことがない。

【００９４】尚、上述の例においては一旦欠陥画素と判
断した画素について時歴データを“１０”から順次減ら
し、“０”となった場合にその画素を欠陥画素としない
ようにした場合について説明したが、例えば最初に設定
する時歴データを“０”とし、欠陥と判断されない毎に
“１”を加算し、時歴データが“１０”となったときに
その時歴データを有する画素を欠陥画素ではないと判断
するようにしても良い。

【００９５】次に、図１１〜図１８を参照して説明した
図１のレジスタ１４の内容を温度に応じて処理する場合
について説明する。

【００９６】図１に示したレジスタ１４には欠陥画素の
検出処理の結果得られた欠陥画素の各種情報が格納され
る。本例においては、検出を行うにあたり、今回の検出
の前の検出によって得た欠陥画素の各種情報の取扱につ
いて２通りの方法を選択的に採用できるようにする。

【００９７】一つは前回の欠陥画素の情報を全て抹消
し、改めて検出する方法で、もう一つは前回の欠陥画素
の情報で欠陥画素の補正を行うと共に、欠陥画素の検出
を行い、新たに欠陥画素として検出された画素の各種情
報を前回に検出された欠陥画素の情報に加える方法であ
る。

【００９８】ところで、欠陥画素には正の温度特性があ
り、温度が高い程欠陥画素の出力する信号のレベルの絶
対値は増加する。従って、前者の方法は、誤検出によっ
て得られた誤ったデータは抹消されるので、誤ったデー
タが残ることがないという利点がある反面、温度が低い
ときに欠陥画素の検出を行うと、全体に欠陥画素が出力
する信号のレベルが小さいので、高温時に問題となるよ
うな欠陥画素を検出し損なう可能性がある。

【００９９】一方、後者の方法は、欠陥画素のデータの
抹消を行わないので、仮に温度が低い状態で欠陥画素の
検出を行ったとしても、前回に低い温度でない状態で検
出を行っていれば、そのデータが保持されているので、
本来欠陥である画素の情報が低温で検出を行っているた
めに検出されなくとも、前回のデータが維持され問題は
ない。しかしながら、前回のデータが誤検出によるデー
タであった場合にはデータが抹消されないため、問題と
なる。

【０１００】そこで本例においては、図１に示した温度
センサ７からの温度情報に基いてシステムコントローラ
４が上述の２つの方法の内何れの方法を採用するかを検
出の都度選択するようにする。即ち、温度が低いときに
は上述の前回の検出データに今回の検出によって得られ
た欠陥画素の情報を加える方法を採用し、温度が高いと
きには前回の検出データを抹消するようにする。

【０１０１】このようにすれば、温度が高いときには、
前回検出した欠陥画素の情報を抹消することで偶発的に
誤検出されたデータを抹消でき、温度が低いときには前
回検出した欠陥画素の情報に今回検出する欠陥画素の情
報を加えることによって低温時に欠陥画素が検出されな
いという事故を防止でき、これによって容量の限られて
いるメモリを有効に使用でき、確実、且つ、高精度の欠
陥画素検出を行い、良好な欠陥画素の補正を行うことが
できる。

【０１０２】尚、図１０〜図１８を参照して説明したレ
ジスタ１４の時歴管理方法と前回検出した欠陥画素の情
報の抹消または加入を温度に応じて行う方法とを組み合
わせて用いるようにしても良い。

【０１０３】次に、図１に示した補正制御回路１５につ
いて説明する。本例においては、図１に示した補正制御
回路１５が、温度センサ７からの温度データに基いてシ
ステムコントローラ４を介してタイミングジェネレータ
５に制御信号を供給し、ＣＣＤ２における電荷の蓄積時
間をＮ倍の範囲内で可変するようにする。

【０１０４】即ち、ＣＣＤの温度が所定温度以下のとき
に、ＣＣＤに供給するセンサーゲートパルスを数フィー
ルドに１回として通常よりも間引くことにより、電荷の
蓄積時間を長くする。これによって、出力される映像信
号は数フィールドに１回となるが、欠陥画素の検出モー
ドであるため、何の問題もない。

【０１０５】従って、本例においては、補正制御回路１
５が温度センサ７からシステムコントローラ４を介して
供給される（尚、温度センサ７または検出前処理回路２
１から直接供給されるようにしても良い）温度データを
検出し、温度が低いときには、その温度に対応して、シ
ステムコントローラ４を介してタイミングジェネレータ
５に制御信号を供給してＣＣＤ２における電荷蓄積時間
を通常より長くさせ、温度が高い場合には通常のままと
する。

【０１０６】また、この補正制御回路１５は、温度セン
サ７からシステムコントローラ４を介して供給される温
度データを基準温度データと比較し、基準温度データよ
り供給された温度データが低いときには補正回路１６に
供給する制御信号をローレベル“０”にし、基準温度デ
ータより供給された温度データが高いときには補正回路
１６に供給する制御信号をハイレベル“１”にする。

【０１０７】後述するが、この制御信号がローレベル
“０”、即ち、ＣＣＤ２の温度が低いときには、補正回
路１６の増幅回路のゲインを可変する。これによって補
正回路１６が各加算回路９、１０及び１１に供給する補
正信号のレベルを可変することができる。

【０１０８】またこの補正制御回路１５は、後述する補
正回路１６のアナログスイッチ８８（図１９参照）にマ
スク信号（アナログスイッチ８８のイネーブル信号）を
供給し、温度上昇によって欠陥画素が出力する信号のレ
ベルが補正回路１６が補正しきれないレベルとなった場
合にその欠陥画素に対する補正を行わないようにする。

【０１０９】次に、この補正回路１６について図１９を
参照して説明する。

【０１１０】この図１９において、８４は図１に示した
補正制御回路１５からの制御信号が供給される入力端子
で、この入力端子８４に供給された制御信号によってス
イッチ８５のオン／オフを制御する。また８０は温度セ
ンサ７からの温度情報が供給される入力端子で、この入
力端子８０を温度特性回路８１の入力端子に接続する。
この温度特性回路８１は、入力端子８０を介して供給さ
れた温度データを微小白点（欠陥画素の出力の内正極の
出力）特性に合致するように変換し、この変換によって
得た出力を温度変換回路８２に供給する。

【０１１１】この温度変換回路８２は、温度特性回路８
１の出力端を抵抗器Ｒ１を介して演算増幅回路８３の反
転入力端子（−）に接続し、この演算増幅回路８３の出
力端子をＤ−Ａコンバータ８７の入力端子に接続し、こ
の演算増幅回路８３の出力端子を抵抗器Ｒ１及び温度特
性回路８１の接続点に抵抗器Ｒ３、Ｒ２、スイッチ８５
の直列回路を介して接続し、更に抵抗器Ｒ３及びＲ２の
接続点を演算増幅回路８３の反転入力端子（−）に接続
し、この演算増幅回路８３の非反転入力端子（＋）を接
地して構成される。

【０１１２】この図１９から分かるように、補正制御回
路１５から入力端子８４を介して供給される制御信号が
ローレベル“０”のときには、スイッチ８５が開成さ
れ、この温度変換回路８２のゲインが大きくなり、この
制御信号がハイレベル“１”のときにはこの温度変換回
路８２のゲインは小さくなる。

【０１１３】従って温度特性回路８１からの出力はその
ときの制御信号に応じたゲインで演算増幅回路８３によ
って増幅され、この後Ｄ−Ａコンバータ８７の基準電圧
としてＤ−Ａコンバータ８７の基準電圧入力端子に供給
される。このＤ−Ａコンバータ８７はシステムコントロ
ーラ９０がメモリ（例えばＲＯＭ等）８９から読みだし
た欠陥画素のレベルデータを温度変換回路８２からの基
準電圧に基いてアナログ信号に変換し、このアナログ信
号をアナログスイッチ８８に供給する。

【０１１４】ここでメモリ８９には上述した欠陥画素の
レベルデータの他にそのレベルデータのアドレスデータ
等が記憶されており、システムコントローラ９０はこの
メモリ８９に記憶された欠陥画素のレベルデータをＤ−
Ａコンバータ８７に供給すると共に、その欠陥画素のレ
ベルデータに対応するアドレス信号、即ち、アナログス
イッチ８８にＧ、Ｒ及びＢチャンネルのどのチャンネル
の補正かを示すパルスをアナログスイッチ８８に供給す
る。

【０１１５】このアナログスイッチ８８はＤ−Ａコンバ
ータ８７から供給される補正信号をシステムコントロー
ラ９０からのアドレス信号に応じてＧチャンネル用の出
力端子９１、Ｒチャンネル用の出力端子９２またはＢチ
ャンネル用の出力端子９３の何れかを介して図１に示し
た加算回路９、１０または１１に供給すると共に、入力
端子８６を介して補正制御回路１５から供給されるマス
ク信号に従ってＤ−Ａコンバータ８７から供給される補
正信号の出力端子９１、９２または９３への供給を決定
する。

【０１１６】ここでマスク信号について説明する。図７
を参照して説明したように、サンプリング回路３におい
ては、データレベルが異常なレベルｐａとなっている場
合は、通常動作においては異常なレベルｐａも出力され
ることとなるので、異常なレベルｐａの位置を示す信号
を使用して、サンプリング信号ＳＨＤの内、この異常な
レベルｐａに対応した信号を出力しないようにしてい
る。即ち、出力信号の異常なレベルｐａに対応する信号
を１つ前の画素の出力信号のまま、即ち、ホールドした
状態としている。

【０１１７】ところで、このサンプリング回路３におい
て第１の補正方法による補正を行うよう構成した場合
は、上述した補正回路１６においては第２の補正方法に
よる補正を行うよう構成しているので、第１の補正方法
により補正した出力に対しても第２の補正方法による補
正を行ってしまうことになる。そこで、上述したように
入力端子８６を介して補正制御回路１５から供給される
マスク信号に従って、Ｄ−Ａコンバータ８７から供給さ
れる補正信号の出力端子９１、９２または９３への供給
を決定するわけである。

【０１１８】さて、この補正回路１６の動作について図
２０を参照して説明する。

【０１１９】この図２０Ａは図１に示したサンプリング
回路３からの出力を示し、この図２０Ａに示すように、
斜線で示す突出部分は温度依存性を持つ電荷のオフセッ
トであり、光電変換のための蓄積時間に比例してレベル
が大となる性質を有するものとする。即ち、これが映出
画像上において特異なレベルの出力となる欠陥画素の出
力に対応する。

【０１２０】この欠陥画素は製造時に検出されていたも
のとすると、この図２０Ａに示すＣＣＤ２の出力信号に
図２０Ｂに示す補正信号を加算する第２の補正方法によ
る補正を行うことによって欠陥画素による出力をキャン
セルすることができる。しかしながら欠陥画素には、そ
の出力レベルが時間が経過するにつれて変化するものが
あり、図２０Ａに破線で示すように、時間の経過に伴っ
て欠陥画素が出力するレベルがｐ２０のように大きくな
る場合がある。

【０１２１】このような場合は欠陥画素の出力に対する
第２の補正方法による補正を行っても図２０Ａに破線で
示すレベル増大分ｐ２０が特異なレベルの出力となって
出力に現れてしまう。ここで欠陥画素の出力の第１の補
正方法による補正を行うと、図２０Ｃに示すように、図
２０Ａに示したレベル増大分ｐ２０の対応部分を１つ前
の出力で置き換えてしまう。

【０１２２】そしてこの図２０Ｃに示すような状態で図
２０Ｂに示す波形を用いて第２の補正方法による補正を
行うと、図２０Ｄに斜線で示すように、図２０に破線で
示したレベル増大分ｐ２０に対応する逆の極性の出力が
現れることとなる。

【０１２３】そこで本例においては、図２０Ｅに示す如
きマスク信号（例えば２クロック分のパルス）を補正制
御回路１５で発生させるようにし、このマスク信号を図
１９に示した入力端子８６を介してアナログスイッチ８
８に供給する。そして、このアナログスイッチ８８によ
り、この図２０Ｅに示すマスク信号がハイレベル“１”
の場合には出力を行わないようにし、これによって図２
０Ｆに破線で示すように、図２０Ｂに示したレベル増大
分ｐ２０と逆の極性の部分ｐ２１が出力には現れないよ
うにする。

【０１２４】従って、温度によって出力レベルが変わる
欠陥画素の出力を正確に補正することができ、これによ
って欠陥画素の出力に対する補正の精度を高め、良好な
欠陥画素の補正を行うことができる。

【０１２５】また、上述したように、この補正回路１６
においては、補正制御回路１５からの制御信号（スイッ
チング信号）によって図１９に示した温度変換回路８２
のゲインを変えるようになされている。

【０１２６】これについて図２１を参照して説明する。

【０１２７】この図２１Ａは図１に示したサンプリング
回路３からの出力を示し、この図２１Ａに示されている
斜線で示す突出部分ｐ２２は、光電変換のための蓄積時
間に比例してレベルが大となる性質を有する欠陥画素の
出力を表す。

【０１２８】ここでこの図２１Ａに示す波形に図２１Ｂ
に示す波形を加算する欠陥画素補正を行うことによって
欠陥画素による出力をキャンセルすることができる。し
かしながら、図２１Ａに破線で示すように、突発的に特
異なレベル出力ｐ２３が現れたとき（突発的に通常の画
素が欠陥画素と判断される特異なレベルを出力する）、
もしここで欠陥画素の出力の補正を行うにあたり、例え
ば上述した電荷蓄積時間を通常より長くしているような
場合（例えば２倍として説明する）は、図２１あに示し
た各欠陥画素による出力ｐ２２やｐ２３のレベルは図２
１Ｃに示すように２倍のレベルとなる。

【０１２９】ここで図２１Ｂに示す波形で欠陥画素の出
力の補正を行った場合は、図２１Ｄに示すように、通常
の欠陥画素の出力に対する補正でキャンセルされていた
図２１Ａに示す既に存在していた欠陥画素の出力ｐ２２
まで出力に現れ、これらを欠陥画素として検出してしま
う。

【０１３０】そこで本例においては、補正制御回路１５
からの制御信号で図１９に示したスイッチ８５をオフに
して温度変換回路８２のゲインをアップすることによ
り、Ｄ−Ａコンバータ８７の基準電圧を例えば２倍に
し、これによってシステムコントローラ９０からの欠陥
画素の出力レベルを図２１Ｅに示すように２倍にする。

【０１３１】このようにすると、図２１Ｆに示すよう
に、新たな欠陥画素の出力ｐ２３対応部分だけが残り、
これについて補正を行うことができるようになる。従っ
て、突発的に発生した欠陥画素の出力を適切に検出で
き、この検出した欠陥画素に対して適切な補正処理を行
うことができ、これにより良好な欠陥画素の検出及びそ
の補正を行うことができる。また、検出対象外の欠陥画
素の出力を誤検出することがない。

【０１３２】次に、図２２を参照して図１に示した検出
前処理回路２１について説明する。

【０１３３】この図２２において、１００は図１のスイ
ッチ２０の可動接点２０ｅからの信号（加算回路９、１
０または１１、または温度センサ７からの温度情報）が
供給される入力端子で、この入力端子１００を介して供
給される信号が抵抗器Ｒ４を介して増幅回路１０２及び
遅延素子１０１に夫々供給される。

【０１３４】この検出前処理回路２１においては、サン
プリング周波数の成分による検出誤差の軽減を主な目的
としている。従って、上述した抵抗器Ｒ４及び遅延素子
１０１で誤検出の対象となる入力信号中のキャリア成分
を除去し、このキャリア成分を除去した入力信号を例え
ば数十倍のゲインを持つ増幅回路１０２で増幅し、この
増幅した入力信号をＡ−Ｄコンバータ１０３でディジタ
ル信号に変換し、この変換によって得たディジタル信号
を出力端子１０４を介して図１に示した検出回路２２に
供給するようにする。この検出前処理回路２１を用いた
場合は、例えば数ｍＶの検出対象レベルが１００ｍＶｐ
−ｐのキャリア成分に加算されていてもその数ｍＶの検
出対象レベルを検出回路１５に供給することができる。
尚、不連続な部分を増幅して検出する方法も考えられる
が、このようにした場合、キャリア成分をも増幅してし
まうため、増幅回路の出力電圧範囲を越えてしまう。

【０１３５】次に、図２３を参照して、この検出前処理
回路２１の動作について説明する。

【０１３６】図２２の入力端子１００を介して検出前処
理回路２１に、図２３Ａに示すような信号の一部分に斜
線で示す突出部分ｐ３０（例えば欠陥画素の出力信号に
よるものとする）がある信号が入力された場合に、も
し、図２２に示した遅延素子１０１がインピーダンスマ
ッチングされていれば、抵抗器Ｒ４を通過した信号は、
図２３Ｂに示すように、図２３Ａの波形における突出部
分ｐ３０が斜線で示す突出部分ｐ３１となる。

【０１３７】そしてこの図２３に示す信号が図２２に示
した遅延素子１０１で遅延されると図２２に矢印ｄｌで
示すポイントで位相が１８０度反転し、反射した波形は
図２３Ｃに示すように、図２３Ｂの波形における突出部
分ｐ３１の位相が反転（他の部分も同様である）し、更
に１周期分の時間だけ遅延されたものとなる。

【０１３８】従って、図２２に示す増幅回路１０２に供
給される信号は、図２３Ｂに示す波形と図２３Ｃに示す
波形を加算した波形、即ち、図２３Ｄに示す如き、図２
３Ａに斜線で示した突出部分ｐ３０だけが取り出された
波形となる。そしてこの図２３Ｄに示す波形が図２２に
示した増幅回路１０２で図２３Ｅに示すように検出回路
２２において欠陥画素であると判断するためのスレッシ
ュホールドレベルＴｈを越えたレベルを持つ電圧になさ
れ、これがＡ−Ｄコンバータ１０３でディジタル信号に
変換された後に、後述する検出回路２２に供給される。

【０１３９】従って、欠陥画素による出力だけを正確に
取り出すことができ、これによって良好な欠陥検出を行
い、良好な欠陥画素の出力に対する補正を行うことがで
きる。尚、温度センサ７からの温度情報は別に設けたＡ
−Ｄコンバータでディジタル信号にし、直接各部に供給
するようにしても良い。

【０１４０】次に、図２４を参照して図１に示した検出
回路２２について説明する。

【０１４１】この図２４において、１１０は図１に示し
た検出前処理回路２１からの検出前処理したディジタル
信号が供給される入力端子で、この入力端子１１０から
のディジタル信号は加算回路１１２及び減算回路１１１
に夫々供給される。

【０１４２】加算回路１１２は入力端子１１０を介して
供給された入力信号とフィードバックされた信号を加算
し、この加算出力を時定数回路１１３を介してフリップ
・フロップ回路１１４に供給する。このフリップ・フロ
ップ回路１１４は後述するコンパレータ１１６からの出
力信号に基いて時定数回路１１３からの出力信号を減算
回路１１１に供給すると共に、先に説明したように再び
加算回路１１２へとフィードバックさせる。またこれら
加算回路１１２、時定数回路１１３及びフリップ・フロ
ップ回路１１４でローパスフィルタを構成している。従
って、フリップ・フロップ回路１１４から出力される信
号は元の信号のいわゆるひげやノイズ成分が除去された
直流の近傍画素の平均レベルの信号となる。

【０１４３】このフリップ・フロップ回路１１４からの
出力は減算回路１１１に供給され、この減算回路１１１
において、入力端子１１０を介して供給された入力信
号、即ち、欠陥画素による出力である可能性を有する信
号からこのフリップ・フロップ回路１１４の出力信号が
減算される。この減算によって得られた信号は絶対値回
路１１５に供給される。この絶対値回路１１５は減算回
路１１１からの信号の絶対値を得る。即ち、上述した欠
陥画素の出力による白点（白傷）及び欠陥画素の出力に
よる黒点（黒傷）のレベルを同一の極性にした後にコン
パレータ１１６に供給すると共に、減算回路１１１から
供給された信号が白傷による信号か黒傷による信号かを
判別し、その判別の結果に応じて制御信号（フラグ）を
発生し、この制御信号をスイッチ１１９に供給し、スイ
ッチ１１９の切り換えを制御する。

【０１４４】このスイッチ１１９の一方の固定接点１１
９ａを正極のスレッシュホールド信号を出力するスレッ
シュホールド回路１１７の出力端子に接続し、他方の固
定接点１１９ｂを負極のスレッシュホールド信号を出力
するスレッシュホールド回路１１８の出力端子に接続
し、可動接点１１９ｃをコンパレータ１１６の一方の入
力端子に接続する。

【０１４５】このスイッチ１１９は白傷に対応したスレ
ッシュホールドレベル（正極の信号）を発生するスレッ
シュホールド回路１１７からのスレッシュホールドレベ
ル信号と、黒傷に対応したスレッシュホールドレベル
（負極の信号）を発生するスレッシュホールド回路１１
８からのスレッシュホールドレベル信号とを絶対値回路
１１５からの制御信号に応じて選択的にコンパレータ１
１６に供給するスイッチである。尚、スレッシュホール
ド回路１１７、１１８は、メモリに記憶したスレッシュ
ホールドレベルデータを読み出し回路で読み出し、これ
をＤ−Ａコンバータでアナログ信号に変換する構成で
も、単なるアナログ電圧を発生させる回路構成でも、シ
ステムコントローラ４内部の回路でも良い。

【０１４６】コンパレータ１１６は絶対値回路１１５か
らの絶対値信号とこのスイッチ１１９を介してスレッシ
ュホールド回路１７または１８から供給されるスレッシ
ュホールドレベル信号を比較し、スレッシュホールドレ
ベル信号より絶対値信号が大きい場合に対応する画素か
らの出力を欠陥画素による出力と判断し、フリップ・フ
ロップ回路１１４に制御信号を供給させて、対応する欠
陥画素の出力がフリップ・フロップ回路１１４に入力さ
れないようにする。これは欠陥画素の出力を近傍画素の
平均レベルを得るために用いると平均値に擾乱を招くこ
とになるからである。

【０１４７】ここで、上述の加算回路１１２、時定数回
路１１３及びフリップ・フロップ回路１１４で構成され
るローパスフィルタ（以下、フィルタと記述する）がど
のようにして上述した近傍画素の平均値を得るかについ
て説明する。

【０１４８】このフィルタが出力するのは、水平方向に
手前の画素の加重平均である。いま、水平アドレスがｋ
の画素に着目しているとする。ｋなるアドレスの画素の
レベルをＰｋとすると、ｋの時点でのフィルタの出力
（近傍画素の平均レベル）Ｐｋｍは（１／２Ｐｋ−１）
＋（１／４Ｐｋ−２）＋（１／８Ｐｋ−３）＋（１／１
６Ｐｋ−４）＋・・・・＋｛（１／２のｎ乗）Ｐｋ−ｎ
＋・・・・となる。従って実効的には手前数画素の加重
平均といえる。

【０１４９】さて、次に上述の検出回路２２の動作につ
いて説明する。

【０１５０】入力端子１１０を介して検出前回路２１か
らのディジタル信号が加算回路１１２及び減算回路１１
１に供給される。加算回路１１２からの出力は時定数回
路１１３を介してフリップ・フロップ回路１１４に供給
される。

【０１５１】一方、減算回路１１１の出力が絶対値回路
１１５に供給されると、この絶対値回路１１５におい
て、その入力信号の極性を検出し、この検出結果に基い
て白傷による信号か黒傷による信号かを判断し、その判
断結果に基いた制御信号をスイッチ１１９に供給すると
共に、入力信号を絶対値データに変換し、その変換デー
タをコンパレータ１２０の他方の入力端子に供給する。

【０１５２】一方、スイッチ１１９は絶対値回路１１５
からの制御信号に基いて可動接点１１９ｃを一方または
他方の可動接点１１９ａまたは１１９ｂに接続する。そ
の結果スレッシュホールド回路１１７または１１８から
の正（白傷用）または負（黒傷用）のスレッシュホール
ドレベル信号が読みだされ、この読みだされたスレッシ
ュホールドレベル信号がコンパレータ１１６の一方の入
力端子に供給される。

【０１５３】そしてこのコンパレータ１１６は絶対値回
路１１５からの絶対値データ及びスレッシュホールド回
路１１７または１１８から供給されたスレッシュホール
ドレベル信号が比較し、スレッシュホールドレベル信号
より絶対値データが大きいときには、欠陥画素と判断
し、出力端子１２０を介して欠陥画素を検出したことを
示す信号を図１に示したシステムコントローラ４に供給
すると共に、フリップ・フロップ回路１１４に制御信号
を供給し、時定数回路１１３からの信号を取り込まない
ようにする。これによって欠陥画素の出力による近傍画
素平均レベルの擾乱を防止することができる。

【０１５４】このように、検出回路２２においては検出
するべき信号が欠陥画素の負の出力による黒傷によるも
のかまたは欠陥画素の正の出力による白傷によるものか
を判断し、白傷と判断した場合には白傷用のスレッシュ
ホールドレベル信号を用いて欠陥画素による出力か否か
を判断し、黒傷と判断した場合には黒傷用のスレッシュ
ホールドレベル信号を用いて欠陥画素による出力か否か
を判断するようにしたので、いわゆるひげやノイズ等に
よる誤検出を防止し、良好な検出を行うようにすること
ができる。

【０１５５】このように、本例においては、検出モード
スイッチ２４による選択が欠陥画素の検出を示すモード
となった場合に、読み出しモード切り換えスイッチ２３
の設定がフィールド読み出しモードとなっていても、強
制的にフレーム読み出しモードに切り換えるようにして
いるので、例えば読み出しモードをフィールド読み出し
とフレーム読み出しの２つを選択できるようになってい
るビデオカメラに搭載した場合には、欠陥画素の検出時
に垂直解像度の良いフレーム読み出しモードが自動的に
選択され、これによって正確な欠陥画素の検出を行うこ
とができる。

【０１５６】また、上述の実施例は本発明の一例であ
り、本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他様々な構成
が取り得ることは勿論である。

【０１５７】

【発明の効果】上述せる本発明によれば、固体撮像素子
２の各画素の内特異なレベルの信号を出力する欠陥画素
の情報を検出する欠陥検出手段による固体撮像素子の各
画素の内特異なレベルの信号を出力する欠陥画素の情報
の検出を行う検出モード或いは通常の撮像モードを選択
する選択手段によって検出モードが選択されたときに
は、欠陥検出制御手段が読み出し制御手段に制御信号を
供給し、固体撮像素子からの読み出しモードを強制的に
第２の読み出しモードにするよう制御すると共に、欠陥
検出手段に欠陥画素の情報の検出を行わせるようにした
ので、例えば読み出しモードをフィールド読み出しとフ
レーム読み出しの２つを選択できるようになっているビ
デオカメラに搭載した場合には、欠陥画素の検出時に垂
直解像度の良いフレーム読み出しモードが自動的に選択
され、これによって正確な欠陥画素の検出を行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラを示す構成図である。

【図２】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラのサンプリング回路の説明
に供する波形図である。

【図３】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラで検出される欠陥画素の説
明に供する波形図である。

【図４】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラで行われる映像信号の欠陥
成分の相殺の説明に供する波形図である。

【図５】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラのサンプリング回路を示す
構成図である。

【図６】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラのサンプリング回路の説明
に供する波形図である。

【図７】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラのサンプリング回路の説明
に供する波形図である。

【図８】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラの他のサンプリング回路を
示す構成図である。

【図９】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一実
施例を適用したビデオカメラのシステムコントローラを
示す構成図である。

【図１０】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタを示す構成図
である。

【図１１】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１２】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１３】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１４】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１５】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１６】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１７】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１８】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラのレジスタの動作の説明
に供する説明図である。

【図１９】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラの 補正回路を示す構成図
である。

【図２０】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラの補正回路の説明に供す
る波形図である。

【図２１】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラの補正回路の説明に供す
る波形図である。

【図２２】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラの検出前処理回路を示す
構成図である。

【図２３】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラの検出前処理回路の説明
に供する波形図である。

【図２４】本発明固体撮像素子の自動欠陥補正回路の一
実施例を適用したビデオカメラの検出回路を示す構成図
である。

【図２５】フィールド読み出しの原理を示す説明図であ
る。

【図２６】フレーム読み出しの原理を示す説明図であ
る。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】固体撮像素子からの撮像信号をフィールド
   及びフレーム読み出しモードで読み出すための読み出し
   制御手段と、 上記固体撮像素子の各画素の内特異なレベルの信号を出
   力する欠陥画素を検出する欠陥検出手段と、 上記欠陥検出手段による上記固体撮像素子の各画素の内
   特異なレベルの信号を出力する欠陥画素の検出を行う検
   出モード或いは通常の撮像モードを選択する選択手段
   と、 上記選択手段によって上記検出モードが選択されたとき
   には上記読み出し制御手段に制御信号を供給し、上記固
   体撮像素子からの読み出しモードを強制的にフレーム読
   み出しモードにするよう制御すると共に、上記欠陥検出
   手段に欠陥画素の情報の検出を行わせる欠陥検出制御手
   段と、 上記欠陥検出手段によって検出された上記欠陥画素の情
   報を記憶する記憶手段と、上記固体撮像素子からの出力信号を所定サンプル前の画
   素の信号に置き換える前置補間をして欠陥を補正する第
   １の補正手段と、 上記記憶手段に記憶された上記欠陥画素の情報に基づい
   て欠陥画素からの信号を相殺する補正信号を用いて欠陥
   画素による特異なレベルの信号を補正する第２の補正手
   段と、 を備え、上記検出モードにおいては上記第１の補正手段
   により欠陥画素の補正を行うようにしたことを特徴とす
   る固体撮像素子の自動欠陥補正回路。