JPH05260385A - 固体撮像素子の欠陥画素検出回路 - Google Patents
固体撮像素子の欠陥画素検出回路Info
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- JPH05260385A JPH05260385A JP4058366A JP5836692A JPH05260385A JP H05260385 A JPH05260385 A JP H05260385A JP 4058366 A JP4058366 A JP 4058366A JP 5836692 A JP5836692 A JP 5836692A JP H05260385 A JPH05260385 A JP H05260385A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 レジスタに記憶された位置データに対応する
画素が所定回数以上連続して欠陥画素として検出されな
かった際に、レジスタに記憶された位置データを消去す
ることで、例えば温度等の検出時の条件による影響を排
除し、これによって例えば不定期に特異なレベルの信号
を出力する欠陥画素を検出できると共に、例えばノイズ
等検出対象でない出力の誤検出を防止することができる
ようにする。 【構成】 CCD素子2の出力信号に基いて、CCD素
子2の各画素の内、特異なレベルの信号を出力する欠陥
画素を検出するシステムコントローラ4、スイッチ2
0、検出前処理回路21、検出回路22と、これらによ
って検出された欠陥画素の位置データを記憶するレジス
タ14とを有し、位置データに対応する画素が10回以
上連続して欠陥画素として検出されなかった際に、レジ
スタ14に記憶された位置データを消去する。
画素が所定回数以上連続して欠陥画素として検出されな
かった際に、レジスタに記憶された位置データを消去す
ることで、例えば温度等の検出時の条件による影響を排
除し、これによって例えば不定期に特異なレベルの信号
を出力する欠陥画素を検出できると共に、例えばノイズ
等検出対象でない出力の誤検出を防止することができる
ようにする。 【構成】 CCD素子2の出力信号に基いて、CCD素
子2の各画素の内、特異なレベルの信号を出力する欠陥
画素を検出するシステムコントローラ4、スイッチ2
0、検出前処理回路21、検出回路22と、これらによ
って検出された欠陥画素の位置データを記憶するレジス
タ14とを有し、位置データに対応する画素が10回以
上連続して欠陥画素として検出されなかった際に、レジ
スタ14に記憶された位置データを消去する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば欠陥画素を検出
し、これを補正することのできるビデオカメラ等に適用
して好適な固体撮像素子の欠陥画素検出回路に関する。
し、これを補正することのできるビデオカメラ等に適用
して好適な固体撮像素子の欠陥画素検出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばCCD素子を用いたビデオカメラ
においては、CCD素子の各画素の内、光が入射してい
ない状態で特異なレベルの信号を出力するいわゆる欠陥
画素により、撮像して得た画像が画質が劣化するという
問題があった。
においては、CCD素子の各画素の内、光が入射してい
ない状態で特異なレベルの信号を出力するいわゆる欠陥
画素により、撮像して得た画像が画質が劣化するという
問題があった。
【0003】そこで、従来では、ビデオカメラに欠陥画
素が出力する信号を補正する補正回路を搭載し、ユーザ
に対してビデオカメラを出荷する前に、ビデオカメラの
CCD素子の内、どの画素が欠陥画素かを検査し、その
検査の結果得られた欠陥画素を示す情報をビデオカメラ
の補正回路の記憶エリアに記憶したりする等して、実際
にユーザの手に渡った後は、この補正回路によって欠陥
画素が出力する信号が補正回路によって補正されるよう
にしていた。
素が出力する信号を補正する補正回路を搭載し、ユーザ
に対してビデオカメラを出荷する前に、ビデオカメラの
CCD素子の内、どの画素が欠陥画素かを検査し、その
検査の結果得られた欠陥画素を示す情報をビデオカメラ
の補正回路の記憶エリアに記憶したりする等して、実際
にユーザの手に渡った後は、この補正回路によって欠陥
画素が出力する信号が補正回路によって補正されるよう
にしていた。
【0004】この補正の方法としては、いわゆる0次補
間及び1次補間等の欠陥補正方法やいわゆるRPN(残
留パターンノイズ)補正等の方法が実用化されている。
間及び1次補間等の欠陥補正方法やいわゆるRPN(残
留パターンノイズ)補正等の方法が実用化されている。
【0005】前者の補正方法の内、0次補間は、欠陥画
素から出力された信号をサンプリング回路においてホー
ルドし、欠陥画素から出力された信号を1つ前の画素の
信号に置き換える方法である。
素から出力された信号をサンプリング回路においてホー
ルドし、欠陥画素から出力された信号を1つ前の画素の
信号に置き換える方法である。
【0006】また前者の補正方法の内、1次補間は、欠
陥画素の1つ前の画素から出力される信号とこの欠陥画
素の次の画素から出力される信号の平均を得、欠陥画素
から出力される信号を平均信号に置き換える方法であ
る。
陥画素の1つ前の画素から出力される信号とこの欠陥画
素の次の画素から出力される信号の平均を得、欠陥画素
から出力される信号を平均信号に置き換える方法であ
る。
【0007】また、後者の方法、即ち、RPN(残留パ
ターンノイズ)補正は、ビデオカメラ内部で欠陥画素か
ら出力される信号に相当する信号を発生させ、欠陥画素
から出力される信号からこの発生した信号を減算して欠
陥画素から出力される信号を相殺する方法である。
ターンノイズ)補正は、ビデオカメラ内部で欠陥画素か
ら出力される信号に相当する信号を発生させ、欠陥画素
から出力される信号からこの発生した信号を減算して欠
陥画素から出力される信号を相殺する方法である。
【0008】ところで、CCD素子の構成画素は製造の
段階で欠陥となる場合のみならず、実際にユーザの手に
渡った後においても突発的に欠陥となる場合があり、更
に経年変化によって新たに光が入射していない状態で特
異なレベルの信号、即ち、残留パターンノイズを発生す
る欠陥状態となる場合がある。
段階で欠陥となる場合のみならず、実際にユーザの手に
渡った後においても突発的に欠陥となる場合があり、更
に経年変化によって新たに光が入射していない状態で特
異なレベルの信号、即ち、残留パターンノイズを発生す
る欠陥状態となる場合がある。
【0009】従って、ビデオカメラに使用しているCC
D素子の欠陥画素を検査して欠陥画素のアドレスデータ
等の情報を得、この情報をビデオカメラのメモリ等に記
憶した後にユーザの手に渡るようにした場合には、上述
した突発的な欠陥画素の発生や経年変化による欠陥画素
の発生に対応できない。
D素子の欠陥画素を検査して欠陥画素のアドレスデータ
等の情報を得、この情報をビデオカメラのメモリ等に記
憶した後にユーザの手に渡るようにした場合には、上述
した突発的な欠陥画素の発生や経年変化による欠陥画素
の発生に対応できない。
【0010】そこで、最近では、更に、ビデオカメラ内
部に欠陥画素を検出する回路を搭載し、その欠陥画素を
検出する回路によって欠陥画素を検出し、その検出によ
って得た欠陥画素の情報をビデオカメラのメモリに記憶
させ、この情報に基いてこのビデオカメラに搭載した例
えば上述のRPN補正回路で新たに発生した欠陥画素の
補正を行う方法が提案されている。
部に欠陥画素を検出する回路を搭載し、その欠陥画素を
検出する回路によって欠陥画素を検出し、その検出によ
って得た欠陥画素の情報をビデオカメラのメモリに記憶
させ、この情報に基いてこのビデオカメラに搭載した例
えば上述のRPN補正回路で新たに発生した欠陥画素の
補正を行う方法が提案されている。
【0011】欠陥画素の検出は例えば次のようにして行
われる。即ち、CCD素子に光が入射していない状態
で、CCD素子の各画素から出力された信号のレベルと
この画素の1つ前の画素から出力された信号のレベルを
比較、またはCCD素子の各画素から出力された信号の
レベルと所定のスレッシュホールドレベルを比較し、1
つ前の画素が出力した信号のレベル、またはスレッシュ
ホールドレベルより現在の画素が出力した信号のレベル
が大きい場合に、特異なレベルの信号を出力する画素
(欠陥画素)として検出し、この画素のアドレスデータ
及びその画素が出力する信号レベルに基いた傷(欠陥画
素)データを得、これらをメモリ等に記憶することによ
り行う。
われる。即ち、CCD素子に光が入射していない状態
で、CCD素子の各画素から出力された信号のレベルと
この画素の1つ前の画素から出力された信号のレベルを
比較、またはCCD素子の各画素から出力された信号の
レベルと所定のスレッシュホールドレベルを比較し、1
つ前の画素が出力した信号のレベル、またはスレッシュ
ホールドレベルより現在の画素が出力した信号のレベル
が大きい場合に、特異なレベルの信号を出力する画素
(欠陥画素)として検出し、この画素のアドレスデータ
及びその画素が出力する信号レベルに基いた傷(欠陥画
素)データを得、これらをメモリ等に記憶することによ
り行う。
【0012】一方、上述のようにして欠陥画素を検出し
た後には、メモリに記憶した欠陥画素のアドレスデータ
に基いて、CCD素子から供給される映像信号の欠陥画
素に対応する信号から、メモリから読みだしたその欠陥
画素のアドレスデータに対応するブレミッシュデータを
減算することによって、欠陥画素による特異なレベルの
信号を補正する。
た後には、メモリに記憶した欠陥画素のアドレスデータ
に基いて、CCD素子から供給される映像信号の欠陥画
素に対応する信号から、メモリから読みだしたその欠陥
画素のアドレスデータに対応するブレミッシュデータを
減算することによって、欠陥画素による特異なレベルの
信号を補正する。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで、欠陥画素の
出力は例えば温度等種々の条件によって変化することが
あり、例えば或画素が、フィールド毎、或はフレーム
毎、或は不定期に特異なレベル(欠陥としてのレベル)
の信号を出力したり、出力しなかったりすることがあ
る。
出力は例えば温度等種々の条件によって変化することが
あり、例えば或画素が、フィールド毎、或はフレーム
毎、或は不定期に特異なレベル(欠陥としてのレベル)
の信号を出力したり、出力しなかったりすることがあ
る。
【0014】従って、この場合、このような画素を欠陥
画素として補正したくとも、特異なレベルの信号を出力
していないときに検出した場合に欠陥画素としてが検出
されず、補正処理を行えない等の問題があった。
画素として補正したくとも、特異なレベルの信号を出力
していないときに検出した場合に欠陥画素としてが検出
されず、補正処理を行えない等の問題があった。
【0015】また、映像信号中に突発的に混入したノイ
ズを欠陥画素として誤検出してしまう不都合があった。
ズを欠陥画素として誤検出してしまう不都合があった。
【0016】本発明はかかる点に鑑みてなされたもの
で、例えば温度等の検出時の条件による影響を排除し、
これによって例えば不定期に特異なレベルの信号を出力
する欠陥画素を検出できると共に、例えばノイズ等検出
対象でない出力の誤検出を防止することのできる固体撮
像素子の欠陥画素検出回路を提案しようとするものであ
る。
で、例えば温度等の検出時の条件による影響を排除し、
これによって例えば不定期に特異なレベルの信号を出力
する欠陥画素を検出できると共に、例えばノイズ等検出
対象でない出力の誤検出を防止することのできる固体撮
像素子の欠陥画素検出回路を提案しようとするものであ
る。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明固体撮像素子の欠
陥画素検出回路は例えば図1〜図24に示す如く、固体
撮像素子2の出力信号に基いて、固体撮像素子2の各画
素の内、特異なレベルの信号を出力する欠陥画素を検出
する欠陥画素検出手段4、20、21、22と、欠陥画
素検出手段4、20、21、22によって検出された欠
陥画素の位置データを記憶する記憶手段14と、欠陥画
素検出手段4、20、21、22により、記憶手段14
に記憶された位置データに対応する画素が所定回数以上
連続して欠陥画素として検出されなかった際に、記憶手
段14に記憶された位置データを消去するよう消去手段
4とを備えたものである。
陥画素検出回路は例えば図1〜図24に示す如く、固体
撮像素子2の出力信号に基いて、固体撮像素子2の各画
素の内、特異なレベルの信号を出力する欠陥画素を検出
する欠陥画素検出手段4、20、21、22と、欠陥画
素検出手段4、20、21、22によって検出された欠
陥画素の位置データを記憶する記憶手段14と、欠陥画
素検出手段4、20、21、22により、記憶手段14
に記憶された位置データに対応する画素が所定回数以上
連続して欠陥画素として検出されなかった際に、記憶手
段14に記憶された位置データを消去するよう消去手段
4とを備えたものである。
【0018】また本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回
路は例えば図1〜図24に示す如く、固体撮像素子2の
出力信号に基いて、固体撮像素子2の各画素の内、特異
なレベルの信号を出力する欠陥画素を検出する欠陥画素
検出手段4、20、21、22と、欠陥画素検出手段
4、20、21、22によって検出された欠陥画素の位
置データを記憶する第1及び第2の記憶手段70r、7
0r+1、・・・・70r+n及び72r、72r+
1、・・・・72r+nと、第2の記憶手段72r、7
2r+1、・・・・72r+nに記憶された位置データ
を順次選択する選択手段73と、選択手段73によって
選択された位置データと、第2の記憶手段72r、72
r+1、・・・・72r+nに記憶された各位置データ
とを夫々比較する比較手段71c、71c+1、・・・
・71c+nと、位置データに関する時歴数を管理する
時歴管理手段4、73とを備え、欠陥画素検出の動作の
開始に先だって、第1の記憶手段70r、70r+1、
・・・・70r+nに記憶された位置データを第2の記
憶手段72r、72r+1、・・・・72r+nに転送
し、その後欠陥画素検出手段4、20、21、22によ
って新たに検出された欠陥画素に関する位置データを第
1の記憶手段70r、70r+1、・・・・70r+n
に記憶し、第2の記憶手段72r、72r+1、・・・
・72r+nに転送された位置データを順次選択手段7
3によって選択して、比較手段71c、71c+1、・
・・・71c+nによって第1の記憶手段70r、70
r+1、・・・・70r+nに記憶された各位置データ
と比較し、選択手段73によって選択された位置データ
が第1の記憶手段70r、70r+1、・・・・70r
+nに新たに記憶された全ての位置データに一致しなか
った際に、選択手段73によって選択された位置データ
の時歴数を変更して第1の記憶手段70r、70r+
1、・・・・70r+nに記憶させる制御手段4、73
と、複数回に渡る欠陥画素検出動作において所定回数連
続して選択手段73によって選択された位置データが第
1の記憶手段70r、70r+1、・・・・70r+n
に記憶された全ての位置データと一致せず、選択手段7
3によって選択された位置データの時歴数が所定数とな
った際に、その位置データを消去するようにしたもので
ある。
路は例えば図1〜図24に示す如く、固体撮像素子2の
出力信号に基いて、固体撮像素子2の各画素の内、特異
なレベルの信号を出力する欠陥画素を検出する欠陥画素
検出手段4、20、21、22と、欠陥画素検出手段
4、20、21、22によって検出された欠陥画素の位
置データを記憶する第1及び第2の記憶手段70r、7
0r+1、・・・・70r+n及び72r、72r+
1、・・・・72r+nと、第2の記憶手段72r、7
2r+1、・・・・72r+nに記憶された位置データ
を順次選択する選択手段73と、選択手段73によって
選択された位置データと、第2の記憶手段72r、72
r+1、・・・・72r+nに記憶された各位置データ
とを夫々比較する比較手段71c、71c+1、・・・
・71c+nと、位置データに関する時歴数を管理する
時歴管理手段4、73とを備え、欠陥画素検出の動作の
開始に先だって、第1の記憶手段70r、70r+1、
・・・・70r+nに記憶された位置データを第2の記
憶手段72r、72r+1、・・・・72r+nに転送
し、その後欠陥画素検出手段4、20、21、22によ
って新たに検出された欠陥画素に関する位置データを第
1の記憶手段70r、70r+1、・・・・70r+n
に記憶し、第2の記憶手段72r、72r+1、・・・
・72r+nに転送された位置データを順次選択手段7
3によって選択して、比較手段71c、71c+1、・
・・・71c+nによって第1の記憶手段70r、70
r+1、・・・・70r+nに記憶された各位置データ
と比較し、選択手段73によって選択された位置データ
が第1の記憶手段70r、70r+1、・・・・70r
+nに新たに記憶された全ての位置データに一致しなか
った際に、選択手段73によって選択された位置データ
の時歴数を変更して第1の記憶手段70r、70r+
1、・・・・70r+nに記憶させる制御手段4、73
と、複数回に渡る欠陥画素検出動作において所定回数連
続して選択手段73によって選択された位置データが第
1の記憶手段70r、70r+1、・・・・70r+n
に記憶された全ての位置データと一致せず、選択手段7
3によって選択された位置データの時歴数が所定数とな
った際に、その位置データを消去するようにしたもので
ある。
【0019】
【作用】上述せる本発明によれば、欠陥画素検出手段に
より、記憶手段14に記憶された位置データに対応する
画素が所定回数以上連続して欠陥画素として検出されな
かった際に、記憶手段14に記憶された位置データを消
去するようにしたので、例えば温度等の検出時の条件に
よる影響を排除し、これによって例えば不定期に特異な
レベルの信号を出力する欠陥画素を検出できると共に、
例えばノイズ等検出対象でない出力の誤検出を防止する
ことができる。
より、記憶手段14に記憶された位置データに対応する
画素が所定回数以上連続して欠陥画素として検出されな
かった際に、記憶手段14に記憶された位置データを消
去するようにしたので、例えば温度等の検出時の条件に
よる影響を排除し、これによって例えば不定期に特異な
レベルの信号を出力する欠陥画素を検出できると共に、
例えばノイズ等検出対象でない出力の誤検出を防止する
ことができる。
【0020】また上述せる本発明によれば、複数回に渡
る欠陥画素検出動作において所定回数連続して選択手段
73によって選択された位置データが第1の記憶手段7
0r、70r+1、・・・・70r+nに記憶された全
ての位置データと一致せず、選択手段73によって選択
された位置データの時歴数が所定数となった際に、その
位置データを消去するようにしたので、例えば温度等の
検出時の条件による影響を排除し、これによって例えば
不定期に特異なレベルの信号を出力する欠陥画素を検出
できると共に、例えばノイズ等検出対象でない出力の誤
検出を防止することができる。
る欠陥画素検出動作において所定回数連続して選択手段
73によって選択された位置データが第1の記憶手段7
0r、70r+1、・・・・70r+nに記憶された全
ての位置データと一致せず、選択手段73によって選択
された位置データの時歴数が所定数となった際に、その
位置データを消去するようにしたので、例えば温度等の
検出時の条件による影響を排除し、これによって例えば
不定期に特異なレベルの信号を出力する欠陥画素を検出
できると共に、例えばノイズ等検出対象でない出力の誤
検出を防止することができる。
【0021】
【実施例】以下に、図1〜図24を参照して本発明固体
撮像素子の欠陥画素検出回路の一実施例について詳細に
説明する。
撮像素子の欠陥画素検出回路の一実施例について詳細に
説明する。
【0022】この図1は本例固体撮像素子の欠陥画素検
出回路をビデオカメラに適用した例を示す構成図で、以
下、この図1を参照して本例固体撮像素子をビデオカメ
ラに適用した場合について説明する。
出回路をビデオカメラに適用した例を示す構成図で、以
下、この図1を参照して本例固体撮像素子をビデオカメ
ラに適用した場合について説明する。
【0023】この図1において、1はレンズやアイリス
等の光学系で、この光学系1を介して被写体からの光が
CCD素子2に供給される。本例においては例えばこの
CCD素子2を緑、赤、青成分用の3つのCCD素子で
構成するものとする。この場合は、上述の光学系1には
プリズムが含まれ、このプリズムによって被写体からの
光の内、緑の成分の光がこのCCD素子2(緑成分光
用)に供給され、赤の成分の光がこのCCD素子2(赤
成分光用)に供給され、青の成分の光がこのCCD素子
2(青成分光用)に供給される。尚、このCCD素子2
は例えば単板式でも2板式でも良い。
等の光学系で、この光学系1を介して被写体からの光が
CCD素子2に供給される。本例においては例えばこの
CCD素子2を緑、赤、青成分用の3つのCCD素子で
構成するものとする。この場合は、上述の光学系1には
プリズムが含まれ、このプリズムによって被写体からの
光の内、緑の成分の光がこのCCD素子2(緑成分光
用)に供給され、赤の成分の光がこのCCD素子2(赤
成分光用)に供給され、青の成分の光がこのCCD素子
2(青成分光用)に供給される。尚、このCCD素子2
は例えば単板式でも2板式でも良い。
【0024】このCCD素子2に供給された緑、赤、青
成分の光は、このCCD素子2(3つのCCD素子)に
おいて夫々光電変換され、タイミングジェネレータ5か
らの電荷蓄積制御信号によって電荷蓄積時間が制御され
ると共に、このタイミングジェネレータ5からの読み出
し信号によって夫々読みだされる。
成分の光は、このCCD素子2(3つのCCD素子)に
おいて夫々光電変換され、タイミングジェネレータ5か
らの電荷蓄積制御信号によって電荷蓄積時間が制御され
ると共に、このタイミングジェネレータ5からの読み出
し信号によって夫々読みだされる。
【0025】ここで、CCD素子2からの信号の読み出
し方式にはフィールド読み出しとフレーム読み出しとが
あり、本例においては、例えば欠陥画素の検出時には後
述する欠陥画素補正系からの指令により、強制的にフレ
ーム蓄積モードに切り替わるようにする。
し方式にはフィールド読み出しとフレーム読み出しとが
あり、本例においては、例えば欠陥画素の検出時には後
述する欠陥画素補正系からの指令により、強制的にフレ
ーム蓄積モードに切り替わるようにする。
【0026】欠陥画素により特異なレベルの信号が2画
素分に跨ることは非常に希なことであるので、フレーム
読み出しでは、1つの欠陥画素による出力は偶数、奇数
の何れかのフィールドに出現する。
素分に跨ることは非常に希なことであるので、フレーム
読み出しでは、1つの欠陥画素による出力は偶数、奇数
の何れかのフィールドに出現する。
【0027】一方、フィールド読み出しでは、1つの欠
陥画素による出力が偶数、奇数の何れのフィールドにも
出現する。
陥画素による出力が偶数、奇数の何れのフィールドにも
出現する。
【0028】従って、フィールド読み出しで検出を行う
と1つの欠陥画素の出力に対して2画素分のメモリ容量
が必要となる。しかしながら、1つの特異なレベルの出
力のある画素を特定するためにはこの2画素分のメモリ
の容量は必要なものなのである。
と1つの欠陥画素の出力に対して2画素分のメモリ容量
が必要となる。しかしながら、1つの特異なレベルの出
力のある画素を特定するためにはこの2画素分のメモリ
の容量は必要なものなのである。
【0029】フレーム読み出しの際、欠陥画素による出
力を正確に補正すると共に、欠陥でない画素による出力
まで補正をかけることがないようにするためには、特異
なレベルの出力のある画素の特定は必須条件である。
力を正確に補正すると共に、欠陥でない画素による出力
まで補正をかけることがないようにするためには、特異
なレベルの出力のある画素の特定は必須条件である。
【0030】ところが、この特定を行う処理は大変手間
がかかり、特にフィールド読み出しを行っているときに
欠陥画素を検出するようにした場合は、CCD素子2の
フォトセンサでの電荷の蓄積はフィールド期間だけ行わ
れるので、フィールド読み出しでの電荷の蓄積時間の2
倍の電荷の蓄積時間を行うフレーム読み出しと比較する
と欠陥画素が出力する信号レベルがフレーム読み出しの
場合の欠陥画素が出力する信号のレベルの半分となり、
フィールド読み出しを行って欠陥画素の検出を行った場
合の検出のS/Nは、フレーム読み出しを行って欠陥画
素の検出を行う場合の検出のS/Nより大幅に低くな
る。
がかかり、特にフィールド読み出しを行っているときに
欠陥画素を検出するようにした場合は、CCD素子2の
フォトセンサでの電荷の蓄積はフィールド期間だけ行わ
れるので、フィールド読み出しでの電荷の蓄積時間の2
倍の電荷の蓄積時間を行うフレーム読み出しと比較する
と欠陥画素が出力する信号レベルがフレーム読み出しの
場合の欠陥画素が出力する信号のレベルの半分となり、
フィールド読み出しを行って欠陥画素の検出を行った場
合の検出のS/Nは、フレーム読み出しを行って欠陥画
素の検出を行う場合の検出のS/Nより大幅に低くな
る。
【0031】従って本例においては、欠陥画素の検出の
モードのときには、CCD素子2からの読み出しモード
を強制的にフレーム読み出しモードとする。従って、検
出のS/Nがフィールド読み出しを行って欠陥画素検出
を行った場合よりも6dBも向上し、高精度、且つ、良
好な欠陥画素の検出を行うことができると共に、欠陥画
素の検出に必要なメモリ容量をフィールド読み出しを行
って欠陥画素検出を行う場合の半分で済ませることがで
きる。
モードのときには、CCD素子2からの読み出しモード
を強制的にフレーム読み出しモードとする。従って、検
出のS/Nがフィールド読み出しを行って欠陥画素検出
を行った場合よりも6dBも向上し、高精度、且つ、良
好な欠陥画素の検出を行うことができると共に、欠陥画
素の検出に必要なメモリ容量をフィールド読み出しを行
って欠陥画素検出を行う場合の半分で済ませることがで
きる。
【0032】このCCD素子2からの出力はサンプリン
グ回路3に供給され、このサンプリング回路3において
は、図2に示すように、タイミングジェネレータ5及び
パルスジェネレータ8からの信号に基いてCCD素子2
からの出力信号に対して図中Pで示すサンプリングポイ
ントでサンプリングを行ってリセットノイズ等を除去
し、このサンプリングした信号、即ち、緑、赤及び青に
対応した信号を加算回路9、10及び11に夫々供給す
る。
グ回路3に供給され、このサンプリング回路3において
は、図2に示すように、タイミングジェネレータ5及び
パルスジェネレータ8からの信号に基いてCCD素子2
からの出力信号に対して図中Pで示すサンプリングポイ
ントでサンプリングを行ってリセットノイズ等を除去
し、このサンプリングした信号、即ち、緑、赤及び青に
対応した信号を加算回路9、10及び11に夫々供給す
る。
【0033】これら加算回路9、10及び11はサンプ
リング回路3からの緑、赤及び青に対応した信号に夫々
後述する補正回路16からの緑、赤及び青に対応した補
正信号を加算し、この緑、赤及び青に対応した加算信号
を夫々出力端子17、18及び19を介して図示を省略
したビデオカメラの他の映像信号処理回路等に供給する
と共に、スイッチ20の固定接点20a、20b及び2
0cに夫々供給する。
リング回路3からの緑、赤及び青に対応した信号に夫々
後述する補正回路16からの緑、赤及び青に対応した補
正信号を加算し、この緑、赤及び青に対応した加算信号
を夫々出力端子17、18及び19を介して図示を省略
したビデオカメラの他の映像信号処理回路等に供給する
と共に、スイッチ20の固定接点20a、20b及び2
0cに夫々供給する。
【0034】さて、このスイッチ20は各加算回路9、
10及び11からの緑、赤及び青に対応した信号が供給
される固定接点20a、20b、20cの他にCCD素
子2のパッケージに取り付けられ、このCCD素子2の
温度を検出する温度センサ7からの温度情報が供給され
る固定接点20dを有し、このスイッチは、可動接点2
0eをこれら各固定接点20a、20b、20c及び2
0dに接続することによって、緑、赤及び青に対応した
信号や温度情報を検出前処理回路21に供給する。
10及び11からの緑、赤及び青に対応した信号が供給
される固定接点20a、20b、20cの他にCCD素
子2のパッケージに取り付けられ、このCCD素子2の
温度を検出する温度センサ7からの温度情報が供給され
る固定接点20dを有し、このスイッチは、可動接点2
0eをこれら各固定接点20a、20b、20c及び2
0dに接続することによって、緑、赤及び青に対応した
信号や温度情報を検出前処理回路21に供給する。
【0035】この検出前処理回路21はスイッチ20か
ら供給される緑、赤及び青に対応した信号または温度情
報の内、緑、赤及び青に対応した信号のキャリア成分の
不連続な微小レベルを除去した後、このキャリア成分の
不連続な微小レベルを除去した緑、赤及び青に対応した
信号、並びに温度情報をディジタル信号に変換し、緑、
赤及び青に対応したディジタル信号を検出回路22に供
給すると共にディジタル温度データをシステムコントロ
ーラ4に供給する。
ら供給される緑、赤及び青に対応した信号または温度情
報の内、緑、赤及び青に対応した信号のキャリア成分の
不連続な微小レベルを除去した後、このキャリア成分の
不連続な微小レベルを除去した緑、赤及び青に対応した
信号、並びに温度情報をディジタル信号に変換し、緑、
赤及び青に対応したディジタル信号を検出回路22に供
給すると共にディジタル温度データをシステムコントロ
ーラ4に供給する。
【0036】この検出回路22は、検出前処理回路21
から供給された緑、赤及び青に対応したディジタル信号
に対して低域濾波処理及びいわゆる画面上で白く映出さ
れる白傷用及び画面上で黒く映出される黒傷用スレッシ
ュホールドレベルによる比較を行いその結果をシステム
コントローラ4に供給する。
から供給された緑、赤及び青に対応したディジタル信号
に対して低域濾波処理及びいわゆる画面上で白く映出さ
れる白傷用及び画面上で黒く映出される黒傷用スレッシ
ュホールドレベルによる比較を行いその結果をシステム
コントローラ4に供給する。
【0037】このシステムコントローラ4は、検出回路
22からの結果をディジタル温度データに基いたスレッ
シュホールドレベルと比較し、その比較結果により検出
回路22からの結果に対応した映像信号が欠陥画素によ
る出力信号と判断した場合に、水平/垂直カウンタ6か
らのアドレス信号と共にこの欠陥画素に関連した種々の
情報をレジスタ14に格納する。
22からの結果をディジタル温度データに基いたスレッ
シュホールドレベルと比較し、その比較結果により検出
回路22からの結果に対応した映像信号が欠陥画素によ
る出力信号と判断した場合に、水平/垂直カウンタ6か
らのアドレス信号と共にこの欠陥画素に関連した種々の
情報をレジスタ14に格納する。
【0038】そして欠陥検出が終了(例えば欠陥検出モ
ード)した後に、レジスタ14に格納されている欠陥画
素のアドレスデータや種々の情報を、読み出し/書き込
み回路12を介してメモリ(例えばEEPROMやバッ
テリバックアップ付きRAM等)13に記憶する。
ード)した後に、レジスタ14に格納されている欠陥画
素のアドレスデータや種々の情報を、読み出し/書き込
み回路12を介してメモリ(例えばEEPROMやバッ
テリバックアップ付きRAM等)13に記憶する。
【0039】一方、通常の撮影時においては、メモリ1
3に記憶した欠陥画素のアドレス信号を読み出し、この
アドレス信号と、水平/垂直カウンタ6からのアドレス
信号を比較し、一致した場合にはパルスジェネレータ8
やタイミングジェネレータ5を制御して、欠陥画素に対
応する信号部分をサンプリング回路3においてホールド
させる。
3に記憶した欠陥画素のアドレス信号を読み出し、この
アドレス信号と、水平/垂直カウンタ6からのアドレス
信号を比較し、一致した場合にはパルスジェネレータ8
やタイミングジェネレータ5を制御して、欠陥画素に対
応する信号部分をサンプリング回路3においてホールド
させる。
【0040】またこのシステムコントローラ4は、欠陥
画素の補正動作のときに、記憶された欠陥画素のレベル
が記憶されているレベル以上のときに、補正制御回路1
5から補正回路16にマスク信号を供給させるように
し、これによって、レベルの変動する欠陥画素からの出
力に対して補正回路16による補正を行わないようにす
る。
画素の補正動作のときに、記憶された欠陥画素のレベル
が記憶されているレベル以上のときに、補正制御回路1
5から補正回路16にマスク信号を供給させるように
し、これによって、レベルの変動する欠陥画素からの出
力に対して補正回路16による補正を行わないようにす
る。
【0041】また、このシステムコントローラ4は、ス
イッチsw1からの設定情報に基いて検出イネーブル信
号でシャッタイネーブル信号を供給するスイッチsw2
のオン/オフを制御すると共に、検出イネーブル信号を
検出回路22に供給し、この検出回路22による欠陥画
素の検出の制御を行う。従って、例えばスイッチsw1
を使用者が操作して欠陥画素の検出のモードとすると、
検出イネーブル信号が検出回路22に供給されて、欠陥
画素の検出モードになると共に、この検出イネーブル信
号によりスイッチsw2がオフにされ、これによってタ
イミングジェネレータ5にシャッタイネーブル信号が供
給されない。従って、CCD素子2における電荷蓄積時
間を通常の蓄積時間より短くする、いわゆるシャッタ動
作が行われなくなり、欠陥画素の検出のS/Nの劣化を
低減し、欠陥画素の検出を良好に行うことができる。
イッチsw1からの設定情報に基いて検出イネーブル信
号でシャッタイネーブル信号を供給するスイッチsw2
のオン/オフを制御すると共に、検出イネーブル信号を
検出回路22に供給し、この検出回路22による欠陥画
素の検出の制御を行う。従って、例えばスイッチsw1
を使用者が操作して欠陥画素の検出のモードとすると、
検出イネーブル信号が検出回路22に供給されて、欠陥
画素の検出モードになると共に、この検出イネーブル信
号によりスイッチsw2がオフにされ、これによってタ
イミングジェネレータ5にシャッタイネーブル信号が供
給されない。従って、CCD素子2における電荷蓄積時
間を通常の蓄積時間より短くする、いわゆるシャッタ動
作が行われなくなり、欠陥画素の検出のS/Nの劣化を
低減し、欠陥画素の検出を良好に行うことができる。
【0042】ここで、上述の欠陥画素について説明する
と、欠陥画素は図3に示すように、光量に依存しないが
温度に依存する白点(白傷)W1、光量にも温度にも依
存する白点(白傷)W2及び黒点(黒傷)B1、光量に
依存しないが温度に依存する黒点(黒傷)B2が存在す
る。従って本例においては、これらの条件を満たすこと
ができるように、温度センサ7からの温度情報に基いて
欠陥画素の検出や補正を行うようにしている。
と、欠陥画素は図3に示すように、光量に依存しないが
温度に依存する白点(白傷)W1、光量にも温度にも依
存する白点(白傷)W2及び黒点(黒傷)B1、光量に
依存しないが温度に依存する黒点(黒傷)B2が存在す
る。従って本例においては、これらの条件を満たすこと
ができるように、温度センサ7からの温度情報に基いて
欠陥画素の検出や補正を行うようにしている。
【0043】このような微小な白点や黒点共、欠陥画素
の信号出力に一定のバイアス電圧が加算または減算され
た形となっている。映像信号成分は正常に入射光量に反
応する。従って欠陥画素の位置とある温度での欠陥成分
の振幅を予め測定して記憶しておき、欠陥画素の信号出
力と同じタイミングで欠陥成分と同振幅、逆極性の補正
信号を発生させ、欠陥画素の信号出力に加算すれば、映
像信号の欠陥成分を相殺することができる。この様子を
図4に示す。
の信号出力に一定のバイアス電圧が加算または減算され
た形となっている。映像信号成分は正常に入射光量に反
応する。従って欠陥画素の位置とある温度での欠陥成分
の振幅を予め測定して記憶しておき、欠陥画素の信号出
力と同じタイミングで欠陥成分と同振幅、逆極性の補正
信号を発生させ、欠陥画素の信号出力に加算すれば、映
像信号の欠陥成分を相殺することができる。この様子を
図4に示す。
【0044】この図4は、縦軸を映像信号の振幅レベル
(V)、横軸を時間(T)とした各波形を示し、図4A
は大光量時出力信号out1及び小光量時出力信号ou
t2を示したものである。尚、破線で示す範囲が1画素
分の出力パルスに対応する。
(V)、横軸を時間(T)とした各波形を示し、図4A
は大光量時出力信号out1及び小光量時出力信号ou
t2を示したものである。尚、破線で示す範囲が1画素
分の出力パルスに対応する。
【0045】この図4Aに示すように、大光量時出力信
号out1及び小光量時出力信号out2の何れの信号
においても欠陥画素が出力する微小白点パルスW及び微
小黒点パルスBが発生している。
号out1及び小光量時出力信号out2の何れの信号
においても欠陥画素が出力する微小白点パルスW及び微
小黒点パルスBが発生している。
【0046】この図4Aに示す大光量時出力信号out
1の微小白点パルスW及び微小黒点パルスBは、図4B
に示す微小白点補正パルスWp及び微小黒点パルスBp
からなる補正信号(図1において補正回路16が出力す
る)を加算することによって、図4Cに大光量時出力信
号out1として示すように、微小白点対応パルスW及
び微小黒点対応パルスBが補正されている。
1の微小白点パルスW及び微小黒点パルスBは、図4B
に示す微小白点補正パルスWp及び微小黒点パルスBp
からなる補正信号(図1において補正回路16が出力す
る)を加算することによって、図4Cに大光量時出力信
号out1として示すように、微小白点対応パルスW及
び微小黒点対応パルスBが補正されている。
【0047】また、この図4Aに示す小光量時出力信号
out2の微小白点パルスW及び微小黒点パルスBは、
図4Bに示す微小白点補正パルスWp及び微小黒点パル
スBpからなる補正信号(図1において補正回路16が
出力する)を加算することによって、図4Cに小光量時
出力信号out2として示すように、微小白点対応パル
スW及び微小黒点対応パルスBが補正されている。
out2の微小白点パルスW及び微小黒点パルスBは、
図4Bに示す微小白点補正パルスWp及び微小黒点パル
スBpからなる補正信号(図1において補正回路16が
出力する)を加算することによって、図4Cに小光量時
出力信号out2として示すように、微小白点対応パル
スW及び微小黒点対応パルスBが補正されている。
【0048】さて、次に図1に示した本実施例の回路の
各部について以下図5〜図24を介して更に詳しく説明
する。
各部について以下図5〜図24を介して更に詳しく説明
する。
【0049】先ず、図5〜図8を順次参照して、図1に
示したサンプリング回路3について説明する。
示したサンプリング回路3について説明する。
【0050】この図5において30は相関2重サンプリ
ング回路で、この相関2重サンプリング回路30は、図
1に示したCCD素子(緑用CCD)2からの緑に対応
した信号(映像信号)が供給される入力端子31を増幅
回路32の入力端子に接続し、この増幅回路32の出力
端子をスイッチ33を介して演算増幅回路38の非反転
入力端子(+)に接続し、この演算増幅回路38の非反
転入力端子(+)をコンデンサ37を介して接地し、こ
の演算増幅回路38の出力端子を出力端子45に接続
し、また増幅回路32の出力端子をスイッチ40を介し
て増幅回路42の入力端子に接続すると共に、この増幅
回路42の入力端子をコンデンサ41を介して接地し、
この増幅回路42の出力端子をスイッチ43を介して演
算増幅回路38の反転入力端子(−)に接続すると共
に、この演算増幅回路38の反転入力端子(−)をコン
デンサ44を介して接地することによって構成される。
ング回路で、この相関2重サンプリング回路30は、図
1に示したCCD素子(緑用CCD)2からの緑に対応
した信号(映像信号)が供給される入力端子31を増幅
回路32の入力端子に接続し、この増幅回路32の出力
端子をスイッチ33を介して演算増幅回路38の非反転
入力端子(+)に接続し、この演算増幅回路38の非反
転入力端子(+)をコンデンサ37を介して接地し、こ
の演算増幅回路38の出力端子を出力端子45に接続
し、また増幅回路32の出力端子をスイッチ40を介し
て増幅回路42の入力端子に接続すると共に、この増幅
回路42の入力端子をコンデンサ41を介して接地し、
この増幅回路42の出力端子をスイッチ43を介して演
算増幅回路38の反転入力端子(−)に接続すると共
に、この演算増幅回路38の反転入力端子(−)をコン
デンサ44を介して接地することによって構成される。
【0051】そして、この相関2重サンプリング回路3
0のスイッチ40に入力端子39をを介してタイミング
ジェネレータ5からのサンプルホールド信号SHPを供
給し、この相関2重サンプリング回路30のスイッチ3
3及び43にアンド回路36からのサンプルホールド信
号SHDを供給する。
0のスイッチ40に入力端子39をを介してタイミング
ジェネレータ5からのサンプルホールド信号SHPを供
給し、この相関2重サンプリング回路30のスイッチ3
3及び43にアンド回路36からのサンプルホールド信
号SHDを供給する。
【0052】このスイッチ33及び43に供給されるサ
ンプルホールド信号SHDはサンプリング回路3の入力
端子34に供給される信号と緑に対応した信号用のタイ
ミングジェネレータ5からのフレーム信号とがアンド回
路36において論理積がとられて得られる信号である。
ンプルホールド信号SHDはサンプリング回路3の入力
端子34に供給される信号と緑に対応した信号用のタイ
ミングジェネレータ5からのフレーム信号とがアンド回
路36において論理積がとられて得られる信号である。
【0053】49は赤に対応した信号のための相関2重
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路4
9の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路49に入力端子46
を介して図1に示したCCD素子(赤用CCD)2から
の赤に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリン
グ回路49の出力を出力端子50に供給する。また、図
示は省略するも、この相関2重サンプリング回路49の
スイッチ40に入力端子39を介してタイミングジェネ
レータ5からのサンプルホールド信号SHPを供給し、
この相関2重サンプリング回路49のスイッチ33及び
43にアンド回路48からのサンプルホールド信号SH
Dを供給する。
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路4
9の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路49に入力端子46
を介して図1に示したCCD素子(赤用CCD)2から
の赤に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリン
グ回路49の出力を出力端子50に供給する。また、図
示は省略するも、この相関2重サンプリング回路49の
スイッチ40に入力端子39を介してタイミングジェネ
レータ5からのサンプルホールド信号SHPを供給し、
この相関2重サンプリング回路49のスイッチ33及び
43にアンド回路48からのサンプルホールド信号SH
Dを供給する。
【0054】この図示を省略したスイッチ33及び43
に供給されるサンプルホールド信号SHDは、サンプリ
ング回路3の入力端子34に供給される信号と赤に対応
した信号用のタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号とがアンド回路48において論理積がとられて得ら
れる信号である。
に供給されるサンプルホールド信号SHDは、サンプリ
ング回路3の入力端子34に供給される信号と赤に対応
した信号用のタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号とがアンド回路48において論理積がとられて得ら
れる信号である。
【0055】54は青に対応した信号のための相関2重
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路5
4の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路54に入力端子51
を介して図1に示したCCD素子(青用CCD)2から
の青に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリン
グ回路54の出力を出力端子55に供給する。また、図
示は省略するも、この相関2重サンプリング回路54の
スイッチ40に入力端子39をを介してタイミングジェ
ネレータ5からのサンプルホールド信号SHPを供給
し、この相関2重サンプリング回路54のスイッチ33
及び43にアンド回路53からのサンプルホールド信号
SHDを供給する。
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路5
4の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路54に入力端子51
を介して図1に示したCCD素子(青用CCD)2から
の青に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリン
グ回路54の出力を出力端子55に供給する。また、図
示は省略するも、この相関2重サンプリング回路54の
スイッチ40に入力端子39をを介してタイミングジェ
ネレータ5からのサンプルホールド信号SHPを供給
し、この相関2重サンプリング回路54のスイッチ33
及び43にアンド回路53からのサンプルホールド信号
SHDを供給する。
【0056】この図示を省略したスイッチ33及び43
に供給されるサンプルホールド信号SHDは、サンプリ
ング回路3の入力端子34に供給される信号と青に対応
した信号用のタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号とがアンド回路53において論理積がとられて得ら
れる信号である。
に供給されるサンプルホールド信号SHDは、サンプリ
ング回路3の入力端子34に供給される信号と青に対応
した信号用のタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号とがアンド回路53において論理積がとられて得ら
れる信号である。
【0057】各アンド回路36、48及び53には夫々
図6Aに示す信号が供給され、アンド回路36にはこの
信号の他に図6Bに示すような緑に対応した信号用(G
ch)である3フレームにつき1フレームアクティブと
なるタイミングジェネレータ5からのフレーム信号が供
給され、これら2つの信号の論理積がとられ、図6Eに
示す如きサンプルホールド信号SHDが生成される。
図6Aに示す信号が供給され、アンド回路36にはこの
信号の他に図6Bに示すような緑に対応した信号用(G
ch)である3フレームにつき1フレームアクティブと
なるタイミングジェネレータ5からのフレーム信号が供
給され、これら2つの信号の論理積がとられ、図6Eに
示す如きサンプルホールド信号SHDが生成される。
【0058】同様に、アンド回路48には図6Aに示し
た信号の他に図6Cに示すような赤に対応した信号用
(Rch)である3フレームにつき1フレームアクティ
ブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム信号
が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、図2
Fに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成され
る。
た信号の他に図6Cに示すような赤に対応した信号用
(Rch)である3フレームにつき1フレームアクティ
ブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム信号
が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、図2
Fに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成され
る。
【0059】そして同様に、アンド回路53には図6A
に示した信号の他に図6Dに示すような青に対応した信
号用(Bch)である3フレームにつき1フレームアク
ティブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、
図2Gに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成さ
れる。
に示した信号の他に図6Dに示すような青に対応した信
号用(Bch)である3フレームにつき1フレームアク
ティブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、
図2Gに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成さ
れる。
【0060】次に、図5に示したサンプリング回路3の
動作について図7を参照して説明する。
動作について図7を参照して説明する。
【0061】この図7Aに示すように、CCD素子2か
ら図5に示したサンプリング回路3に供給された信号
(G、R、Bchの信号)は、そのプリチャージレベル
が図7Bに示すサンプルホールド信号SHP(図5にお
いて入力端子39に供給されるタイミングジェネレータ
5からの信号)によってサンプルホールドされ、更に図
7Aに示す信号のデータレベルが図7Cに示すサンプル
ホールド信号SHD(図5においてアンド回路36、4
8及び53の出力に対応する信号で、図6においては図
6E、F及びGに夫々対応する)によってサンプルホー
ルドされる。
ら図5に示したサンプリング回路3に供給された信号
(G、R、Bchの信号)は、そのプリチャージレベル
が図7Bに示すサンプルホールド信号SHP(図5にお
いて入力端子39に供給されるタイミングジェネレータ
5からの信号)によってサンプルホールドされ、更に図
7Aに示す信号のデータレベルが図7Cに示すサンプル
ホールド信号SHD(図5においてアンド回路36、4
8及び53の出力に対応する信号で、図6においては図
6E、F及びGに夫々対応する)によってサンプルホー
ルドされる。
【0062】もし、この図7Aに示すように、データレ
ベルが異常なレベルpaとなっている場合は、通常動作
においては図7Dに示すように異常なレベルpaも出力
されることとなる。そこで図7Eに示すように、異常な
レベルpaの位置を示す信号を使用して図7Cに示すサ
ンプリング信号SHDの内、この異常なレベルpaに対
応した信号を出力しないようにする(図7F)。かくす
ると、図7Gに示すように、出力信号の異常なレベルp
aに対応する信号が1つ前の画素の出力信号のまま、即
ち、ホールドされた状態となる。従って図5に示した演
算増幅回路38に接続された相関2重サンプリング回路
30、49及び54の各出力端子45、50及び55か
らの出力は図7Gに示すように、異常レベルpaが除去
された出力となる。
ベルが異常なレベルpaとなっている場合は、通常動作
においては図7Dに示すように異常なレベルpaも出力
されることとなる。そこで図7Eに示すように、異常な
レベルpaの位置を示す信号を使用して図7Cに示すサ
ンプリング信号SHDの内、この異常なレベルpaに対
応した信号を出力しないようにする(図7F)。かくす
ると、図7Gに示すように、出力信号の異常なレベルp
aに対応する信号が1つ前の画素の出力信号のまま、即
ち、ホールドされた状態となる。従って図5に示した演
算増幅回路38に接続された相関2重サンプリング回路
30、49及び54の各出力端子45、50及び55か
らの出力は図7Gに示すように、異常レベルpaが除去
された出力となる。
【0063】また、図5に示すように、演算増幅回路3
8の非反転入力端子(+)に各画素毎のデータレベルを
サンプリングした信号を供給し、演算増幅回路38の反
転入力端子(−)に各画素毎のデータレベルをサンプリ
ングした信号を供給するようにしているので、各画素毎
のデータ電位と各画素毎のリセット電位を夫々サンプル
ホールドし、演算増幅回路38においてこれらの差を
得、これを出力とするようにしていることとなる。
8の非反転入力端子(+)に各画素毎のデータレベルを
サンプリングした信号を供給し、演算増幅回路38の反
転入力端子(−)に各画素毎のデータレベルをサンプリ
ングした信号を供給するようにしているので、各画素毎
のデータ電位と各画素毎のリセット電位を夫々サンプル
ホールドし、演算増幅回路38においてこれらの差を
得、これを出力とするようにしていることとなる。
【0064】従って、リセット電位及びデータ電位間の
同相成分であるリセットノイズ等を除去することができ
る。
同相成分であるリセットノイズ等を除去することができ
る。
【0065】このように、このサンプリング回路3にお
いては、図6に示したように、CCD素子2からの緑に
対応した信号、赤に対応した信号及び青に対応した信
号、即ち、Gch(チャンネル)、Rch(チャンネ
ル)及びBch(チャンネル)の出力に対して夫々サン
プリングする際に、Gchのサンプリング中にはRch
及びBchのサンプリングを停止し、Rchのサンプリ
ング中にはGch及びBchのサンプリングを停止し、
Bchのサンプリング中にはGch及びRchのサンプ
リングを停止するようにしているので、サンプリングし
ているチャンネル以外のチャンネルからのいわゆるデー
タの飛び込みによる画質の劣化を防止することができ
る。
いては、図6に示したように、CCD素子2からの緑に
対応した信号、赤に対応した信号及び青に対応した信
号、即ち、Gch(チャンネル)、Rch(チャンネ
ル)及びBch(チャンネル)の出力に対して夫々サン
プリングする際に、Gchのサンプリング中にはRch
及びBchのサンプリングを停止し、Rchのサンプリ
ング中にはGch及びBchのサンプリングを停止し、
Bchのサンプリング中にはGch及びRchのサンプ
リングを停止するようにしているので、サンプリングし
ているチャンネル以外のチャンネルからのいわゆるデー
タの飛び込みによる画質の劣化を防止することができ
る。
【0066】図8は上述のサンプリング回路3の他の例
を示す構成図である。この図8に示すように、この例に
おいては、CCD素子(R)2R、CCD素子(G)2
G及びCCD素子(B)2Bからの出力を夫々スイッチ
130、131及び132を介してサンプリング回路1
33に供給し、その出力を出力端子135から出力する
ようにすると共に、別に設けた制御回路134からの制
御信号によりスイッチ130、131及び132を例え
ば1フレーム毎に順次オンとするようにする。
を示す構成図である。この図8に示すように、この例に
おいては、CCD素子(R)2R、CCD素子(G)2
G及びCCD素子(B)2Bからの出力を夫々スイッチ
130、131及び132を介してサンプリング回路1
33に供給し、その出力を出力端子135から出力する
ようにすると共に、別に設けた制御回路134からの制
御信号によりスイッチ130、131及び132を例え
ば1フレーム毎に順次オンとするようにする。
【0067】この制御回路134が出力する制御信号
を、例えば図6B、C及びDに示すような信号とした場
合は、図6Bに示す3フレームで1フレームアクティブ
となるフレーム信号がスイッチ131に供給され、スイ
ッチ131がこのフレーム信号がアクティブとなってい
る期間オンとなり、これによってCCD素子2Gからの
出力がスイッチ131を介してサンプリング回路133
に供給され、サンプリングされる。次に、図6Cに示す
3フレームで1フレームアクティブとなるフレーム信号
がスイッチ130に供給され、スイッチ130がこのフ
レーム信号がアクティブとなっている期間オンとなり、
これによってCCD素子2Rからの出力がスイッチ13
0を介してサンプリング回路133に供給され、サンプ
リングされる。次に、図6Dに示す3フレームで1フレ
ームアクティブとなるフレーム信号がスイッチ132に
供給され、スイッチ132がこのフレーム信号がアクテ
ィブとなっている期間オンとなり、これによってCCD
素子2Bからの出力がスイッチ132を介してサンプリ
ング回路133に供給され、サンプリングされる。
を、例えば図6B、C及びDに示すような信号とした場
合は、図6Bに示す3フレームで1フレームアクティブ
となるフレーム信号がスイッチ131に供給され、スイ
ッチ131がこのフレーム信号がアクティブとなってい
る期間オンとなり、これによってCCD素子2Gからの
出力がスイッチ131を介してサンプリング回路133
に供給され、サンプリングされる。次に、図6Cに示す
3フレームで1フレームアクティブとなるフレーム信号
がスイッチ130に供給され、スイッチ130がこのフ
レーム信号がアクティブとなっている期間オンとなり、
これによってCCD素子2Rからの出力がスイッチ13
0を介してサンプリング回路133に供給され、サンプ
リングされる。次に、図6Dに示す3フレームで1フレ
ームアクティブとなるフレーム信号がスイッチ132に
供給され、スイッチ132がこのフレーム信号がアクテ
ィブとなっている期間オンとなり、これによってCCD
素子2Bからの出力がスイッチ132を介してサンプリ
ング回路133に供給され、サンプリングされる。
【0068】従って、この場合においても、図5におい
て説明したサンプリング回路3と同様、CCD素子2G
からの緑に対応した信号、CCD素子2Rからの赤に対
応した信号及びCCD素子2Bからの青に対応した信
号、即ち、Gch(チャンネル)、Rch(チャンネ
ル)及びBch(チャンネル)の出力に対して夫々サン
プリングする際に、Gchのサンプリング中にはRch
及びBchの信号はサンプリング回路133に供給され
ないのでサンプリングはなされず、Rchのサンプリン
グ中にはGch及びBchの信号はサンプリング回路1
33に供給されないのでサンプリングはなされず、Bc
hのサンプリング中にはGch及びRchの信号はサン
プリング回路133に供給されないのでサンプリングは
なされず、これによって、サンプリングしているチャン
ネル以外のチャンネルからのいわゆるデータの飛び込み
による画質の劣化を防止することができる。
て説明したサンプリング回路3と同様、CCD素子2G
からの緑に対応した信号、CCD素子2Rからの赤に対
応した信号及びCCD素子2Bからの青に対応した信
号、即ち、Gch(チャンネル)、Rch(チャンネ
ル)及びBch(チャンネル)の出力に対して夫々サン
プリングする際に、Gchのサンプリング中にはRch
及びBchの信号はサンプリング回路133に供給され
ないのでサンプリングはなされず、Rchのサンプリン
グ中にはGch及びBchの信号はサンプリング回路1
33に供給されないのでサンプリングはなされず、Bc
hのサンプリング中にはGch及びRchの信号はサン
プリング回路133に供給されないのでサンプリングは
なされず、これによって、サンプリングしているチャン
ネル以外のチャンネルからのいわゆるデータの飛び込み
による画質の劣化を防止することができる。
【0069】次に、図9を参照して図1に示したシステ
ムコントローラ4について説明する。
ムコントローラ4について説明する。
【0070】この図9に示すように、図1に示したシス
テムコントローラ4内部には、システムコントローラ4
本来の回路(図示を省略する)以外に比較回路60を配
している。即ち、図1に示した検出回路22からの出力
信号(比較結果信号)を入力端子61を介してコンパレ
ータ62に供給し、同様に図1に示した検出前処理回路
21からのディジタル温度データを入力端子63を介し
て乗算回路65に供給し、スレッシュホールド回路64
からのスレッシュホールドデータを乗算回路65に供給
する。そしてこの乗算回路65において、スレッシュホ
ールド回路64からのスレッシュホールドデータに対し
て、CCD素子2と熱結合された温度センサ(図1参
照)7が検出し、これを検出前処理回路21がディジタ
ルに変換したディジタル温度データによって変調する。
そして更に、この変調されたスレッシュホールドデータ
と検出回路22から供給された信号をコンパレータ62
に夫々供給し、このコンパレータ62により比較し、そ
の比較結果を出力端子66を介して図示を省略したシス
テムコントローラ4の他の回路に供給する。
テムコントローラ4内部には、システムコントローラ4
本来の回路(図示を省略する)以外に比較回路60を配
している。即ち、図1に示した検出回路22からの出力
信号(比較結果信号)を入力端子61を介してコンパレ
ータ62に供給し、同様に図1に示した検出前処理回路
21からのディジタル温度データを入力端子63を介し
て乗算回路65に供給し、スレッシュホールド回路64
からのスレッシュホールドデータを乗算回路65に供給
する。そしてこの乗算回路65において、スレッシュホ
ールド回路64からのスレッシュホールドデータに対し
て、CCD素子2と熱結合された温度センサ(図1参
照)7が検出し、これを検出前処理回路21がディジタ
ルに変換したディジタル温度データによって変調する。
そして更に、この変調されたスレッシュホールドデータ
と検出回路22から供給された信号をコンパレータ62
に夫々供給し、このコンパレータ62により比較し、そ
の比較結果を出力端子66を介して図示を省略したシス
テムコントローラ4の他の回路に供給する。
【0071】このようにすれば、正の温度特性を持つ欠
陥画素による出力に対して、この出力を欠陥画素による
出力であると判断するためのスレッシュホールドデータ
をも正の温度特性を有するようにでき、欠陥画素が出力
する信号に対する検出の性能を一定に保つことができ、
これによって、自動欠陥画素検出系の検出性能の温度に
対する依存性を大幅に低減し、例えばその応用において
不必要であるような微小な欠陥画素の出力までも誤検出
してしまうような事故を防止し、良好な欠陥画素の検出
をすることができる。また、ジッタ等種々の理由でスレ
ッシュホールドレベルより下のレベルの信号にノイズが
乗った場合においても、結果的にスレッシュホールドレ
ベルを上げ、感度を鈍らしているので、誤検出を防止で
きる。
陥画素による出力に対して、この出力を欠陥画素による
出力であると判断するためのスレッシュホールドデータ
をも正の温度特性を有するようにでき、欠陥画素が出力
する信号に対する検出の性能を一定に保つことができ、
これによって、自動欠陥画素検出系の検出性能の温度に
対する依存性を大幅に低減し、例えばその応用において
不必要であるような微小な欠陥画素の出力までも誤検出
してしまうような事故を防止し、良好な欠陥画素の検出
をすることができる。また、ジッタ等種々の理由でスレ
ッシュホールドレベルより下のレベルの信号にノイズが
乗った場合においても、結果的にスレッシュホールドレ
ベルを上げ、感度を鈍らしているので、誤検出を防止で
きる。
【0072】次に、図10〜図18を参照して図1に示
したレジスタ14の内部構成及びその動作について説明
する。
したレジスタ14の内部構成及びその動作について説明
する。
【0073】この図10において、70r、70r+
1、・・・・70r+nは夫々メインレジスタで、これ
らメインレジスタ70r、70r+1、・・・・70r
+nは水平アドレスの格納されるエリア、垂直アドレス
が格納されるエリア、第何フィールドかを示すフィール
ドフラグが格納されるエリア、チャンネル情報(Rc
h、Gch及びBch情報)が格納されるエリア、及び
時歴データが格納されるエリアで構成される。これらの
各エリアに格納される情報は欠陥画素に対応した情報で
ある。
1、・・・・70r+nは夫々メインレジスタで、これ
らメインレジスタ70r、70r+1、・・・・70r
+nは水平アドレスの格納されるエリア、垂直アドレス
が格納されるエリア、第何フィールドかを示すフィール
ドフラグが格納されるエリア、チャンネル情報(Rc
h、Gch及びBch情報)が格納されるエリア、及び
時歴データが格納されるエリアで構成される。これらの
各エリアに格納される情報は欠陥画素に対応した情報で
ある。
【0074】ここでいう時歴は、或画素が欠陥として検
出されなかった回数で、本例においては或画素が例えば
10回欠陥として検出されなかった場合にこの画素を欠
陥画素としないようにする。このようにするのは、或画
素が、フィールド毎、或はフレーム毎、或は不定期に特
異なレベル(欠陥としてのレベル)の信号を出力した
り、出力しなかったりすることがあり、この場合、この
ような画素を欠陥画素として補正したくとも、特異なレ
ベルの信号を出力していないときに検出した場合に欠陥
画素としてが検出されず、補正処理を行えない等の問題
が生じるからである。本例においては、この不定期に特
異なレベルの信号を出力する画素をも欠陥画素として補
正できるようにする。また、このようにすれば、映像信
号中に突発的に混入したノイズを欠陥画素として誤検出
してしまうことはない。
出されなかった回数で、本例においては或画素が例えば
10回欠陥として検出されなかった場合にこの画素を欠
陥画素としないようにする。このようにするのは、或画
素が、フィールド毎、或はフレーム毎、或は不定期に特
異なレベル(欠陥としてのレベル)の信号を出力した
り、出力しなかったりすることがあり、この場合、この
ような画素を欠陥画素として補正したくとも、特異なレ
ベルの信号を出力していないときに検出した場合に欠陥
画素としてが検出されず、補正処理を行えない等の問題
が生じるからである。本例においては、この不定期に特
異なレベルの信号を出力する画素をも欠陥画素として補
正できるようにする。また、このようにすれば、映像信
号中に突発的に混入したノイズを欠陥画素として誤検出
してしまうことはない。
【0075】またメインレジスタ70r、70r+1、
・・・・70r+nに格納されている情報は、今回欠陥
画素の検出を開始する前、即ち、現在の時点で欠陥と判
断されている画素の情報である。
・・・・70r+nに格納されている情報は、今回欠陥
画素の検出を開始する前、即ち、現在の時点で欠陥と判
断されている画素の情報である。
【0076】72r、72r+1、・・・・72r+n
は夫々サブレジスタで、これらサブレジスタ72r、7
2r+1、・・・・72r+nは、水平アドレスの格納
されるエリア、垂直アドレスが格納されるエリア、第何
フィールドかを示すフィールドフラグが格納されるエリ
ア、チャンネル情報(Rch、Gch及びBch情報)
が格納されるエリア、及び時歴データが格納されるエリ
アで構成される。これらの各エリアに格納される情報は
欠陥画素に対応した情報で、欠陥画素の検出開始前に、
上述のメインレジスタ70r、70r+1、・・・・7
0r+nに格納された現在の時点で欠陥と判断されてい
る欠陥画素の情報がサブレジスタ72r、72r+1、
72r+2、・・・・72r+nに夫々コピーされる。
は夫々サブレジスタで、これらサブレジスタ72r、7
2r+1、・・・・72r+nは、水平アドレスの格納
されるエリア、垂直アドレスが格納されるエリア、第何
フィールドかを示すフィールドフラグが格納されるエリ
ア、チャンネル情報(Rch、Gch及びBch情報)
が格納されるエリア、及び時歴データが格納されるエリ
アで構成される。これらの各エリアに格納される情報は
欠陥画素に対応した情報で、欠陥画素の検出開始前に、
上述のメインレジスタ70r、70r+1、・・・・7
0r+nに格納された現在の時点で欠陥と判断されてい
る欠陥画素の情報がサブレジスタ72r、72r+1、
72r+2、・・・・72r+nに夫々コピーされる。
【0077】71c、71c+1、・・・・71c+n
は夫々コンパレータで、データセレクタ73が読みだし
たサブレジスタ72r、72r+1、・・・・72r+
nからの欠陥画素情報とメインレジスタ70r、70r
+1、・・・・70r+nからの情報の一致を検出し、
例えばこの検出結果をシステムコントローラ4に報知す
る。
は夫々コンパレータで、データセレクタ73が読みだし
たサブレジスタ72r、72r+1、・・・・72r+
nからの欠陥画素情報とメインレジスタ70r、70r
+1、・・・・70r+nからの情報の一致を検出し、
例えばこの検出結果をシステムコントローラ4に報知す
る。
【0078】次に図11〜図18を参照してこの図10
に示すレジスタ14の動作について説明する。
に示すレジスタ14の動作について説明する。
【0079】図11には現時点で欠陥と判断されている
画素情報がメインレジスタ70r、70r+1、70r
+2、・・・・70r+nに格納されている。メインレ
ジスタ70rのアドレスエリアにはアドレス“x”(図
10における水平/垂直アドレス)なる欠陥画素のアド
レスデータが格納され、時歴エリアには時歴データ
“8”が格納されている。また、メインレジスタ70r
+1のアドレスエリアにはアドレス“y”(図10にお
ける水平/垂直アドレス)なる欠陥画素のアドレスデー
タが格納され、時歴エリアには時歴データ“3”が格納
されている。また、メインレジスタ70r+2のアドレ
スエリアにはアドレス“z”(図10における水平/垂
直アドレス)なる欠陥画素のアドレスデータが格納さ
れ、時歴エリアには時歴データ“0”が格納されてい
る。
画素情報がメインレジスタ70r、70r+1、70r
+2、・・・・70r+nに格納されている。メインレ
ジスタ70rのアドレスエリアにはアドレス“x”(図
10における水平/垂直アドレス)なる欠陥画素のアド
レスデータが格納され、時歴エリアには時歴データ
“8”が格納されている。また、メインレジスタ70r
+1のアドレスエリアにはアドレス“y”(図10にお
ける水平/垂直アドレス)なる欠陥画素のアドレスデー
タが格納され、時歴エリアには時歴データ“3”が格納
されている。また、メインレジスタ70r+2のアドレ
スエリアにはアドレス“z”(図10における水平/垂
直アドレス)なる欠陥画素のアドレスデータが格納さ
れ、時歴エリアには時歴データ“0”が格納されてい
る。
【0080】尚、説明の都合上、図10に示した他の情
報についての説明を省略する。
報についての説明を省略する。
【0081】先ず検出を行う前に、システムコントロー
ラ4からの制御信号により、メインレジスタ70r、7
0r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r+
nの内容を夫々図12に示すようにサブレジスタ72
r、72r+1、72r+2、72r+3、・・・・7
2r+nにコピーし、この後メインレジスタ70r、7
0r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r+
nの各エリアを夫々クリアする。
ラ4からの制御信号により、メインレジスタ70r、7
0r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r+
nの内容を夫々図12に示すようにサブレジスタ72
r、72r+1、72r+2、72r+3、・・・・7
2r+nにコピーし、この後メインレジスタ70r、7
0r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r+
nの各エリアを夫々クリアする。
【0082】また、図11〜図18の各図中において
“未”は画素の情報が格納されていないクリアされた状
態を示す。
“未”は画素の情報が格納されていないクリアされた状
態を示す。
【0083】さて、メインレジスタ70r、70r+
1、70r+2、70r+3、・・・・70r+nをク
リアした後、システムコントローラ4の制御により、欠
陥画素の検出が行われ、欠陥と判断された画素の情報が
メインレジスタ70r、70r+1、70r+2、70
r+3、・・・・70r+nに夫々格納される。この場
合の例を図13に示す。この図13に示すように、メイ
ンレジスタ70rのアドレスエリアにはアドレス“x”
なる欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリア
には第1回目の検出動作で検出したので、例えば時歴デ
ータ“10”が格納される。また、メインレジスタ70
r+1のアドレスエリアにはアドレス“v”なる欠陥画
素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには第1回
目の検出動作で検出したので、例えば時歴データ“1
0”が格納される。尚、図示は省略するも、これら欠陥
画素のアドレスデータや時歴データ以外の他の情報も同
様に格納される。
1、70r+2、70r+3、・・・・70r+nをク
リアした後、システムコントローラ4の制御により、欠
陥画素の検出が行われ、欠陥と判断された画素の情報が
メインレジスタ70r、70r+1、70r+2、70
r+3、・・・・70r+nに夫々格納される。この場
合の例を図13に示す。この図13に示すように、メイ
ンレジスタ70rのアドレスエリアにはアドレス“x”
なる欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリア
には第1回目の検出動作で検出したので、例えば時歴デ
ータ“10”が格納される。また、メインレジスタ70
r+1のアドレスエリアにはアドレス“v”なる欠陥画
素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには第1回
目の検出動作で検出したので、例えば時歴データ“1
0”が格納される。尚、図示は省略するも、これら欠陥
画素のアドレスデータや時歴データ以外の他の情報も同
様に格納される。
【0084】次に、図14に斜線の信号ラインで示すよ
うに、サブレジスタ72rの内容がデータセレクタ73
によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の情報
がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、71
c+3、・・・・71c+nに夫々供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71+
3、・・・・71c+nにおいて、メインレジスタ70
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較さ
れる。この一致の最低条件として、チャンネルデータ及
びアドレスデータが一致することが必要である。
うに、サブレジスタ72rの内容がデータセレクタ73
によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の情報
がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、71
c+3、・・・・71c+nに夫々供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71+
3、・・・・71c+nにおいて、メインレジスタ70
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較さ
れる。この一致の最低条件として、チャンネルデータ及
びアドレスデータが一致することが必要である。
【0085】この図14の例では、サブレジスタ72r
に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータがメ
インレジスタ70rに格納されている欠陥画素の情報の
アドレスデータ(図示せずともチャンネルデータも同様
である)と一致しているので、コンパレータ71cが検
出結果に対応した信号を例えばシステムコントローラ4
に供給する。
に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータがメ
インレジスタ70rに格納されている欠陥画素の情報の
アドレスデータ(図示せずともチャンネルデータも同様
である)と一致しているので、コンパレータ71cが検
出結果に対応した信号を例えばシステムコントローラ4
に供給する。
【0086】次に、図15に斜線の信号ラインで示すよ
うに、サブレジスタ72r+1の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71+
3、・・・・71c+nにおいて、メインレジスタ70
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較さ
れる。
うに、サブレジスタ72r+1の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71+
3、・・・・71c+nにおいて、メインレジスタ70
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較さ
れる。
【0087】この図15の例では、サブレジスタ72r
+1に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
(図示せずともチャンネルデータも同様である)がメイ
ンレジスタ70r、70r+1、70r+2、70r+
3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画素
の情報のアドレスデータ(図示せずともチャンネルデー
タも同様である)と何れも一致していないので、コンパ
レータ71c、71c+1、71c+2、71c+3、
・・・・71c+nが何れも反応しない。またこのと
き、サブレジスタ72r+1の時歴エリアに格納されて
いる時歴データは“3”であり、まだ“0”となってい
ないので、例えばシステムコントローラ4はこのサブレ
ジスタ72r+1に格納されている欠陥画素の情報を消
去しないようにし、このサブレジスタ72r+1に格納
されている時歴データ“3”から“1”を減算してこの
時歴データを“2”にし、このサブレジスタ72r+1
に格納されている欠陥画素の情報(時歴データのみ
“2”にしてある)を未使用のメインレジスタ70r+
2、70r+3、・・・・70r+nの何れかに格納す
る。この場合は図16に斜線の信号ラインで示すよう
に、未使用のメインレジスタ70r+2に格納する。
+1に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
(図示せずともチャンネルデータも同様である)がメイ
ンレジスタ70r、70r+1、70r+2、70r+
3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画素
の情報のアドレスデータ(図示せずともチャンネルデー
タも同様である)と何れも一致していないので、コンパ
レータ71c、71c+1、71c+2、71c+3、
・・・・71c+nが何れも反応しない。またこのと
き、サブレジスタ72r+1の時歴エリアに格納されて
いる時歴データは“3”であり、まだ“0”となってい
ないので、例えばシステムコントローラ4はこのサブレ
ジスタ72r+1に格納されている欠陥画素の情報を消
去しないようにし、このサブレジスタ72r+1に格納
されている時歴データ“3”から“1”を減算してこの
時歴データを“2”にし、このサブレジスタ72r+1
に格納されている欠陥画素の情報(時歴データのみ
“2”にしてある)を未使用のメインレジスタ70r+
2、70r+3、・・・・70r+nの何れかに格納す
る。この場合は図16に斜線の信号ラインで示すよう
に、未使用のメインレジスタ70r+2に格納する。
【0088】次に、図17に斜線の信号ラインで示すよ
うに、サブレジスタ72r+2の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71+
3、・・・・71c+nにおいて、メインレジスタ70
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較さ
れる。
うに、サブレジスタ72r+2の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71+
3、・・・・71c+nにおいて、メインレジスタ70
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較さ
れる。
【0089】この図17の例では、サブレジスタ72r
+2に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
(図示せずともチャンネルデータも同様である)がメイ
ンレジスタ70r、70r+1、70r+2、70r+
3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画素
の情報のアドレスデータ(図示せずともチャンネルデー
タも同様である)と何れも一致していないので、コンパ
レータ71c、71c+1、71c+2、71c+3、
・・・・71c+nが何れも反応しない。またこのと
き、サブレジスタ72r+2の時歴エリアに格納されて
いる時歴データは“0”となっているので、例えばシス
テムコントローラ4はこのサブレジスタ72r+2に格
納されている欠陥画素の情報をメインレジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nの何れかに格納することはない。従って、この例の
場合は次の欠陥画素の検出時の開始直前にメインレジス
タ70r+2に格納されている欠陥画素の情報が格納さ
れ、このサブレジスタ72r+2に格納されているアド
レスデータ“z”に対応する欠陥画素の情報のみ消去さ
れる。
+2に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
(図示せずともチャンネルデータも同様である)がメイ
ンレジスタ70r、70r+1、70r+2、70r+
3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画素
の情報のアドレスデータ(図示せずともチャンネルデー
タも同様である)と何れも一致していないので、コンパ
レータ71c、71c+1、71c+2、71c+3、
・・・・71c+nが何れも反応しない。またこのと
き、サブレジスタ72r+2の時歴エリアに格納されて
いる時歴データは“0”となっているので、例えばシス
テムコントローラ4はこのサブレジスタ72r+2に格
納されている欠陥画素の情報をメインレジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nの何れかに格納することはない。従って、この例の
場合は次の欠陥画素の検出時の開始直前にメインレジス
タ70r+2に格納されている欠陥画素の情報が格納さ
れ、このサブレジスタ72r+2に格納されているアド
レスデータ“z”に対応する欠陥画素の情報のみ消去さ
れる。
【0090】このような処理を終了した後には、図18
に示すように、メインレジスタ70rには時歴データが
“10”で、アドレス“x”に対応する欠陥画素の情報
が格納され、メインレジスタ70r+1には時歴データ
が“10”で、アドレス“v”に対応する欠陥画素の情
報が格納され、メインレジスタ70r+2には時歴デー
タが“2”で、アドレス“y”に対応する欠陥画素の情
報が格納され、サブレジスタ72rには時歴データが
“8”で、アドレス“x”に対応する欠陥画素の情報が
格納され、サブレジスタ72r+1には時歴データが
“3”で、アドレス“y”に対応する欠陥画素の情報が
格納され、サブレジスタ72r+2には時歴データが
“0”で、アドレス“z”に対応する欠陥画素の情報が
格納される。尚、後述するが、次回の検出時に低温であ
った場合にはこのようにサブレジスタ72r+2に格納
されている欠陥画素の情報だけクリアされ、他のサブレ
ジスタ72r、72r+1、72r+3、・・・・72
r+nに格納されている欠陥画素の情報は保持されるよ
うにしても良い。
に示すように、メインレジスタ70rには時歴データが
“10”で、アドレス“x”に対応する欠陥画素の情報
が格納され、メインレジスタ70r+1には時歴データ
が“10”で、アドレス“v”に対応する欠陥画素の情
報が格納され、メインレジスタ70r+2には時歴デー
タが“2”で、アドレス“y”に対応する欠陥画素の情
報が格納され、サブレジスタ72rには時歴データが
“8”で、アドレス“x”に対応する欠陥画素の情報が
格納され、サブレジスタ72r+1には時歴データが
“3”で、アドレス“y”に対応する欠陥画素の情報が
格納され、サブレジスタ72r+2には時歴データが
“0”で、アドレス“z”に対応する欠陥画素の情報が
格納される。尚、後述するが、次回の検出時に低温であ
った場合にはこのようにサブレジスタ72r+2に格納
されている欠陥画素の情報だけクリアされ、他のサブレ
ジスタ72r、72r+1、72r+3、・・・・72
r+nに格納されている欠陥画素の情報は保持されるよ
うにしても良い。
【0091】このように、例えば或検出時に一旦欠陥と
判断された画素について検出期間内や検出毎に例えば連
続で10回欠陥と判断されなかった場合に、その対応画
素を欠陥画素として判断しないようにしたので、上述し
た例えば温度の影響等によって不定期に特異なレベルの
信号を出力する画素を欠陥画素として判断してこの欠陥
画素に対する補正処理を行うことができ、また突発的な
ノイズの混入による特異なレベルの信号に対して欠陥画
素と誤まって判断せず、従ってこの信号の乗っている部
分に対応するチャンネル及びアドレスの画素に対して誤
って補正をかけることがなく、確実、且つ、高精度な欠
陥画素の検出及びこの欠陥画素に対する補正を行うこと
ができる。
判断された画素について検出期間内や検出毎に例えば連
続で10回欠陥と判断されなかった場合に、その対応画
素を欠陥画素として判断しないようにしたので、上述し
た例えば温度の影響等によって不定期に特異なレベルの
信号を出力する画素を欠陥画素として判断してこの欠陥
画素に対する補正処理を行うことができ、また突発的な
ノイズの混入による特異なレベルの信号に対して欠陥画
素と誤まって判断せず、従ってこの信号の乗っている部
分に対応するチャンネル及びアドレスの画素に対して誤
って補正をかけることがなく、確実、且つ、高精度な欠
陥画素の検出及びこの欠陥画素に対する補正を行うこと
ができる。
【0092】尚、上述の例においては一旦欠陥画素と判
断した画素について時歴データが“0”となった場合に
その画素を欠陥画素としないようにした場合について説
明したが、例えば最初に設定する時歴データを“0”と
し、欠陥と判断されない毎に“1”を加算し、時歴デー
タが“10”となったときにその時歴データを有する画
素を欠陥画素ではないと判断するようにしても良い。
断した画素について時歴データが“0”となった場合に
その画素を欠陥画素としないようにした場合について説
明したが、例えば最初に設定する時歴データを“0”と
し、欠陥と判断されない毎に“1”を加算し、時歴デー
タが“10”となったときにその時歴データを有する画
素を欠陥画素ではないと判断するようにしても良い。
【0093】次に、図11〜図18を参照して説明した
図1のレジスタ14の内容を温度に応じて処理する場合
について説明する。
図1のレジスタ14の内容を温度に応じて処理する場合
について説明する。
【0094】図1に示したレジスタ14には欠陥画素の
検出処理の結果得られた欠陥画素の各種情報が格納され
る。本例においては、検出を行うにあたり、今回の検出
の前の検出によって得た欠陥画素の各種情報の取扱につ
いて2通りの方法を選択的に採用できるようにする。
検出処理の結果得られた欠陥画素の各種情報が格納され
る。本例においては、検出を行うにあたり、今回の検出
の前の検出によって得た欠陥画素の各種情報の取扱につ
いて2通りの方法を選択的に採用できるようにする。
【0095】一つは前回の欠陥画素の情報を全て抹消
し、改めて検出する方法で、もう一つは前回の欠陥画素
の情報で欠陥画素の補正を行うと共に、欠陥画素の検出
を行い、新たに欠陥画素として検出された画素の各種情
報を前回に検出された欠陥画素の情報に加える方法であ
る。
し、改めて検出する方法で、もう一つは前回の欠陥画素
の情報で欠陥画素の補正を行うと共に、欠陥画素の検出
を行い、新たに欠陥画素として検出された画素の各種情
報を前回に検出された欠陥画素の情報に加える方法であ
る。
【0096】ところで、欠陥画素には正の温度特性があ
り、温度が高い程欠陥画素の出力する信号のレベルの絶
対値は増加する。従って、前者の方法は、誤検出によっ
て得られた誤ったデータは抹消されるので、誤ったデー
タが残ることがないという利点がある反面、温度が低い
ときに欠陥画素の検出を行うと、全体に欠陥画素が出力
する信号のレベルが小さいので、高温時に問題となるよ
うな欠陥画素を検出し損なう可能性がある。
り、温度が高い程欠陥画素の出力する信号のレベルの絶
対値は増加する。従って、前者の方法は、誤検出によっ
て得られた誤ったデータは抹消されるので、誤ったデー
タが残ることがないという利点がある反面、温度が低い
ときに欠陥画素の検出を行うと、全体に欠陥画素が出力
する信号のレベルが小さいので、高温時に問題となるよ
うな欠陥画素を検出し損なう可能性がある。
【0097】一方、後者の方法は、欠陥画素のデータの
抹消を行わないので、仮に低温時に欠陥画素の検出をし
損なうことがあっても、前回高温時において得たデータ
は抹消されずに残っているので、本来欠陥である画素の
情報がレジスタ14には保持され、低温時に検出した場
合においても欠陥画素を補正することができるという利
点がある反面、偶発的な誤検出等によって得られた不用
データが抹消されずにいつまでもレジスタに保持され、
余計な補正処理が行われてしまう。
抹消を行わないので、仮に低温時に欠陥画素の検出をし
損なうことがあっても、前回高温時において得たデータ
は抹消されずに残っているので、本来欠陥である画素の
情報がレジスタ14には保持され、低温時に検出した場
合においても欠陥画素を補正することができるという利
点がある反面、偶発的な誤検出等によって得られた不用
データが抹消されずにいつまでもレジスタに保持され、
余計な補正処理が行われてしまう。
【0098】そこで本例においては、図1に示した温度
センサ7からの温度情報に基いてシステムコントローラ
4が上述の2つの方法の内何れの方法を採用するかを検
出の都度選択するようにする。即ち、温度が低いときに
は上述の前回の検出データに今回の検出によって得られ
た欠陥画素の情報を加える方法を採用し、温度が高いと
きには前回の検出データを抹消するようにする。
センサ7からの温度情報に基いてシステムコントローラ
4が上述の2つの方法の内何れの方法を採用するかを検
出の都度選択するようにする。即ち、温度が低いときに
は上述の前回の検出データに今回の検出によって得られ
た欠陥画素の情報を加える方法を採用し、温度が高いと
きには前回の検出データを抹消するようにする。
【0099】このようにすれば、温度が高いときには、
前回検出した欠陥画素の情報を抹消することで偶発的に
誤検出されたデータを抹消でき、温度が低いときには前
回検出した欠陥画素の情報に今回検出する欠陥画素の情
報を加えることによって低温時に欠陥画素が検出されな
いという事故を防止でき、これによって容量の限られて
いるメモリを有効に使用でき、確実、且つ、高精度の欠
陥画素検出を行い、良好な欠陥画素の補正を行うことが
できる。
前回検出した欠陥画素の情報を抹消することで偶発的に
誤検出されたデータを抹消でき、温度が低いときには前
回検出した欠陥画素の情報に今回検出する欠陥画素の情
報を加えることによって低温時に欠陥画素が検出されな
いという事故を防止でき、これによって容量の限られて
いるメモリを有効に使用でき、確実、且つ、高精度の欠
陥画素検出を行い、良好な欠陥画素の補正を行うことが
できる。
【0100】尚、図10〜図18を参照して説明したレ
ジスタ14の時歴管理方法と前回検出した欠陥画素の情
報の抹消または加入を温度に応じて行う方法とを組み合
わせて用いるようにしても良い。
ジスタ14の時歴管理方法と前回検出した欠陥画素の情
報の抹消または加入を温度に応じて行う方法とを組み合
わせて用いるようにしても良い。
【0101】次に、図1に示した補正制御回路15につ
いて説明する。本例においては、図1に示した補正制御
回路15が、温度センサ7からの温度データに基いてシ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給し、CCD素子2における電荷の蓄
積時間を通常の蓄積時間からこの通常の蓄積時間より長
い蓄積時間の範囲内で可変するようにする。
いて説明する。本例においては、図1に示した補正制御
回路15が、温度センサ7からの温度データに基いてシ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給し、CCD素子2における電荷の蓄
積時間を通常の蓄積時間からこの通常の蓄積時間より長
い蓄積時間の範囲内で可変するようにする。
【0102】CCD素子2における電荷蓄積時間を通常
の蓄積時間より長くすると、出力する画像のコマ数が減
る代わりに、同一光量下では出力信号の振幅が大きくな
り、欠陥画素の検出時においては、これが検出のS/N
向上要因となる。特にCCD素子2は低温下においては
その出力のS/Nが高温下と比較して劣化し易いので、
このように電荷蓄積時間を通常より長くすることは非常
に有効となる。
の蓄積時間より長くすると、出力する画像のコマ数が減
る代わりに、同一光量下では出力信号の振幅が大きくな
り、欠陥画素の検出時においては、これが検出のS/N
向上要因となる。特にCCD素子2は低温下においては
その出力のS/Nが高温下と比較して劣化し易いので、
このように電荷蓄積時間を通常より長くすることは非常
に有効となる。
【0103】従って、本例においては、補正制御回路1
5が温度センサ7からシステムコントローラ4を介して
供給される(尚、温度センサ7または検出前処理回路2
1から直接供給されるようにしても良い)温度データを
検出し、温度が低いときには、その温度に対応して、シ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給してCCD素子2における電荷蓄積
時間を通常より長くさせ、温度が高い場合には通常のま
まとする。
5が温度センサ7からシステムコントローラ4を介して
供給される(尚、温度センサ7または検出前処理回路2
1から直接供給されるようにしても良い)温度データを
検出し、温度が低いときには、その温度に対応して、シ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給してCCD素子2における電荷蓄積
時間を通常より長くさせ、温度が高い場合には通常のま
まとする。
【0104】このようにすると、CCD撮像素子2が低
温下で使用されたり、また、電源投入直後でCCD素子
2が低温であっても出力のS/Nが劣化することがな
く、これによって検出精度を向上させ、良好な欠陥画素
検出を行うことができると共に、より広い温度条件下
(外気温、CCD素子2自体の温度)のもとでの検出を
行うことができる。
温下で使用されたり、また、電源投入直後でCCD素子
2が低温であっても出力のS/Nが劣化することがな
く、これによって検出精度を向上させ、良好な欠陥画素
検出を行うことができると共に、より広い温度条件下
(外気温、CCD素子2自体の温度)のもとでの検出を
行うことができる。
【0105】また、この補正制御回路15は、温度セン
サ7からシステムコントローラ4を介して供給される温
度データを基準温度データと比較し、基準温度データよ
り供給された温度データが低いときには補正回路16に
供給する制御信号をローレベル“0”にし、基準温度デ
ータより供給された温度データが高いときには補正回路
16に供給する制御信号をハイレベル“1”にする。
サ7からシステムコントローラ4を介して供給される温
度データを基準温度データと比較し、基準温度データよ
り供給された温度データが低いときには補正回路16に
供給する制御信号をローレベル“0”にし、基準温度デ
ータより供給された温度データが高いときには補正回路
16に供給する制御信号をハイレベル“1”にする。
【0106】後述するが、この制御信号がローレベル
“0”、即ち、CCD素子2の温度が低いときには、補
正回路16の増幅回路のゲインを可変する。これによっ
て補正回路16が各加算回路9、10及び11に供給す
る補正信号のレベルを可変することができる。
“0”、即ち、CCD素子2の温度が低いときには、補
正回路16の増幅回路のゲインを可変する。これによっ
て補正回路16が各加算回路9、10及び11に供給す
る補正信号のレベルを可変することができる。
【0107】またこの補正制御回路15は、後述する補
正回路16のアナログスイッチ88(図19参照)にマ
スク信号(アナログスイッチ88のイネーブル信号)を
供給し、温度上昇によって欠陥画素が出力する信号のレ
ベルが補正回路16が補正しきれないレベルとなった場
合にその欠陥画素に対する補正を行わないようにする。
正回路16のアナログスイッチ88(図19参照)にマ
スク信号(アナログスイッチ88のイネーブル信号)を
供給し、温度上昇によって欠陥画素が出力する信号のレ
ベルが補正回路16が補正しきれないレベルとなった場
合にその欠陥画素に対する補正を行わないようにする。
【0108】次に、この補正回路16について図19を
参照して説明する。
参照して説明する。
【0109】この図19において、84は図1に示した
補正制御回路15からの制御信号が供給される入力端子
で、この入力端子84に供給された制御信号によってス
イッチ85のオン/オフを制御する。また80は温度セ
ンサ7からの温度情報が供給される入力端子で、この入
力端子80を温度特性回路81の入力端子に接続する。
この温度特性回路81は、入力端子80を介して供給さ
れた温度データを微小白点(欠陥画素の出力の内正極の
出力)特性に合致するように変換し、この変換によって
得た出力を温度変換回路82に供給する。
補正制御回路15からの制御信号が供給される入力端子
で、この入力端子84に供給された制御信号によってス
イッチ85のオン/オフを制御する。また80は温度セ
ンサ7からの温度情報が供給される入力端子で、この入
力端子80を温度特性回路81の入力端子に接続する。
この温度特性回路81は、入力端子80を介して供給さ
れた温度データを微小白点(欠陥画素の出力の内正極の
出力)特性に合致するように変換し、この変換によって
得た出力を温度変換回路82に供給する。
【0110】この温度変換回路82は、温度特性回路8
1の出力端を抵抗器R1を介して演算増幅回路83の反
転入力端子(−)に接続し、この演算増幅回路83の出
力端子をD−Aコンバータ87の入力端子に接続し、こ
の演算増幅回路83の出力端子を抵抗器R1及び温度特
性回路81の接続点に抵抗器R3、R2、スイッチ85
の直列回路を介して接続し、更に抵抗器R3及びR2の
接続点を演算増幅回路83の反転入力端子(−)に接続
し、この演算増幅回路83の非反転入力端子(+)を接
地して構成される。
1の出力端を抵抗器R1を介して演算増幅回路83の反
転入力端子(−)に接続し、この演算増幅回路83の出
力端子をD−Aコンバータ87の入力端子に接続し、こ
の演算増幅回路83の出力端子を抵抗器R1及び温度特
性回路81の接続点に抵抗器R3、R2、スイッチ85
の直列回路を介して接続し、更に抵抗器R3及びR2の
接続点を演算増幅回路83の反転入力端子(−)に接続
し、この演算増幅回路83の非反転入力端子(+)を接
地して構成される。
【0111】この図から分かるように、補正制御回路1
5から入力端子84を介して供給される制御信号がロー
レベル“0”のときには、この温度変換回路82のゲイ
ンが大きくなり、この制御信号がハイレベル“1”のと
きにはこの温度変換回路82のゲインは小さくなる。
5から入力端子84を介して供給される制御信号がロー
レベル“0”のときには、この温度変換回路82のゲイ
ンが大きくなり、この制御信号がハイレベル“1”のと
きにはこの温度変換回路82のゲインは小さくなる。
【0112】従って温度特性回路81からの出力はその
ときに制御信号に応じたゲインで演算増幅回路83によ
って増幅され、この後D−Aコンバータ87の基準電圧
としてD−Aコンバータ87の基準電圧入力端子に供給
される。このD−Aコンバータ87はシステムコントロ
ーラ90がメモリ(例えばROM等)89から読みだし
た欠陥画素のレベルデータを温度変換回路82からの基
準電圧に基いてアナログ信号に変換し、このアナログ信
号をアナログスイッチ88に供給する。
ときに制御信号に応じたゲインで演算増幅回路83によ
って増幅され、この後D−Aコンバータ87の基準電圧
としてD−Aコンバータ87の基準電圧入力端子に供給
される。このD−Aコンバータ87はシステムコントロ
ーラ90がメモリ(例えばROM等)89から読みだし
た欠陥画素のレベルデータを温度変換回路82からの基
準電圧に基いてアナログ信号に変換し、このアナログ信
号をアナログスイッチ88に供給する。
【0113】ここでメモリ89には上述した欠陥画素の
レベルデータの他にそのレベルデータのアドレスデータ
等が記憶されており、システムコントローラ90はこの
メモリ89に記憶された欠陥画素のレベルデータをD−
Aコンバータ87に供給すると共に、その欠陥画素のレ
ベルデータに対応するアドレス信号、即ち、アナログス
イッチ88にG、R及びBチャンネルのどのチャンネル
の補正かを示すパルスをアナログスイッチ88に供給す
る。
レベルデータの他にそのレベルデータのアドレスデータ
等が記憶されており、システムコントローラ90はこの
メモリ89に記憶された欠陥画素のレベルデータをD−
Aコンバータ87に供給すると共に、その欠陥画素のレ
ベルデータに対応するアドレス信号、即ち、アナログス
イッチ88にG、R及びBチャンネルのどのチャンネル
の補正かを示すパルスをアナログスイッチ88に供給す
る。
【0114】このアナログスイッチ88はD−Aコンバ
ータ87から供給される補正信号をシステムコントロー
ラ90からのアドレス信号に応じてGチャンネル用の出
力端子91、Rチャンネル用の出力端子92またはBチ
ャンネル用の出力端子93の何れかを介して図1に示し
た加算回路9、10または11に供給すると共に、入力
端子86を介して補正制御回路15から供給されるマス
ク信号に従ってD−Aコンバータ87から供給される補
正信号の出力端子91、92または93への供給を決定
する。
ータ87から供給される補正信号をシステムコントロー
ラ90からのアドレス信号に応じてGチャンネル用の出
力端子91、Rチャンネル用の出力端子92またはBチ
ャンネル用の出力端子93の何れかを介して図1に示し
た加算回路9、10または11に供給すると共に、入力
端子86を介して補正制御回路15から供給されるマス
ク信号に従ってD−Aコンバータ87から供給される補
正信号の出力端子91、92または93への供給を決定
する。
【0115】さて、この補正回路16の動作について図
20を参照して説明する。
20を参照して説明する。
【0116】この図20Aは図1に示したサンプリング
回路3からの出力を示し、この図20Aに示すように、
斜線で示す突出部分は温度依存性を持つ電荷のオフセッ
トであり、光電変換のための蓄積時間に比例してレベル
が大となる性質を有する。即ち、これが映出画像上にお
いて特異なレベルの出力となる欠陥画素の一つである。
回路3からの出力を示し、この図20Aに示すように、
斜線で示す突出部分は温度依存性を持つ電荷のオフセッ
トであり、光電変換のための蓄積時間に比例してレベル
が大となる性質を有する。即ち、これが映出画像上にお
いて特異なレベルの出力となる欠陥画素の一つである。
【0117】ここでこの図20Aに示す波形に図20B
に示す波形を加算する欠陥画素補正を行うことによって
欠陥画素による出力をキャンセルすることができる。し
かしながら欠陥画素の出力レベルは時間が経過するにつ
れて変化するものがあり、図20Aに破線で示すよう
に、時間の経過に伴って波形の内1つの欠陥画素が出力
するレベルがp20のように大きくなる場合がある。
に示す波形を加算する欠陥画素補正を行うことによって
欠陥画素による出力をキャンセルすることができる。し
かしながら欠陥画素の出力レベルは時間が経過するにつ
れて変化するものがあり、図20Aに破線で示すよう
に、時間の経過に伴って波形の内1つの欠陥画素が出力
するレベルがp20のように大きくなる場合がある。
【0118】このような場合は欠陥画素の出力に対する
補正を行っても図20Aに破線で示すレベル増大分p2
0が特異なレベルの出力となって出力に現れてしまう。
ここで欠陥画素の出力の補正を行うと、図20Cに示す
ように、図20Aに示したレベル増大分p20の対応部
分を1つ前の出力で置き換えてしまう。
補正を行っても図20Aに破線で示すレベル増大分p2
0が特異なレベルの出力となって出力に現れてしまう。
ここで欠陥画素の出力の補正を行うと、図20Cに示す
ように、図20Aに示したレベル増大分p20の対応部
分を1つ前の出力で置き換えてしまう。
【0119】そしてこの図20Cに示すような状態で図
20Bに示す波形を用いて欠陥画素補正を行うと、図2
0Dに斜線で示すように、図20に破線で示したレベル
増大分p20に対応する逆の極性の出力が現れることと
なる。
20Bに示す波形を用いて欠陥画素補正を行うと、図2
0Dに斜線で示すように、図20に破線で示したレベル
増大分p20に対応する逆の極性の出力が現れることと
なる。
【0120】そこで本例においては、図20Eに示す如
きマスク信号(例えば2クロック分のパルス)を補正制
御回路15で発生させるようにし、このマスク信号を図
19に示した入力端子86を介してアナログスイッチ8
8に供給し、このアナログスイッチ88がこの図20E
に示すマスク信号がハイレベル“1”の場合には出力を
行わないようにし、これによって図20Fに破線で示す
ように、図20Bに示したレベル増大分p20と逆の極
性の部分p21をマスクする。
きマスク信号(例えば2クロック分のパルス)を補正制
御回路15で発生させるようにし、このマスク信号を図
19に示した入力端子86を介してアナログスイッチ8
8に供給し、このアナログスイッチ88がこの図20E
に示すマスク信号がハイレベル“1”の場合には出力を
行わないようにし、これによって図20Fに破線で示す
ように、図20Bに示したレベル増大分p20と逆の極
性の部分p21をマスクする。
【0121】従って、温度によって出力レベルが変わる
欠陥画素の出力を正確に補正することができ、これによ
って欠陥画素の出力に対する補正の精度を高め、良好な
欠陥画素の補正を行うことができる。
欠陥画素の出力を正確に補正することができ、これによ
って欠陥画素の出力に対する補正の精度を高め、良好な
欠陥画素の補正を行うことができる。
【0122】また、上述したように、この補正回路16
においては、補正制御回路15からの制御信号(スイッ
チング信号)によって図19に示した温度変換回路82
のゲインを変えるようにする。
においては、補正制御回路15からの制御信号(スイッ
チング信号)によって図19に示した温度変換回路82
のゲインを変えるようにする。
【0123】これについて図21を参照して説明する。
【0124】この図21Aは図1に示したサンプリング
回路3からの出力を示し、この図21Aに示すように、
斜線で示す突出部分、即ち、既に存在していた欠陥画素
の出力22は温度依存性を持つ電荷のオフセットであ
り、光電変換のための蓄積時間に比例してレベルが大と
なる性質を有する。即ち、これが映出画像上において特
異なレベルの出力となる欠陥画素の一つである。
回路3からの出力を示し、この図21Aに示すように、
斜線で示す突出部分、即ち、既に存在していた欠陥画素
の出力22は温度依存性を持つ電荷のオフセットであ
り、光電変換のための蓄積時間に比例してレベルが大と
なる性質を有する。即ち、これが映出画像上において特
異なレベルの出力となる欠陥画素の一つである。
【0125】ここでこの図21Aに示す波形に図21B
に示す波形を加算する欠陥画素補正を行うことによって
欠陥画素による出力をキャンセルすることができる。し
かしながら、図21Aに破線で示すように、突発的に特
異なレベル出力p23が現れたとき(突発的に通常の画
素が欠陥画素と判断される特異なレベルを出力する)、
もしここで欠陥画素の出力の補正を行うにあたり、例え
ば上述した電荷蓄積時間を通常より長くしているような
場合(例えば2倍として説明する)は、図21あに示し
た各欠陥画素による出力p22やp23のレベルは図2
1Cに示すように2倍のレベルとなる。
に示す波形を加算する欠陥画素補正を行うことによって
欠陥画素による出力をキャンセルすることができる。し
かしながら、図21Aに破線で示すように、突発的に特
異なレベル出力p23が現れたとき(突発的に通常の画
素が欠陥画素と判断される特異なレベルを出力する)、
もしここで欠陥画素の出力の補正を行うにあたり、例え
ば上述した電荷蓄積時間を通常より長くしているような
場合(例えば2倍として説明する)は、図21あに示し
た各欠陥画素による出力p22やp23のレベルは図2
1Cに示すように2倍のレベルとなる。
【0126】ここで図21Bに示す波形で欠陥画素の出
力の補正を行った場合は、図21Dに示すように、通常
の欠陥画素の出力に対する補正でキャンセルされていた
図21Aに示す既に存在していた欠陥画素の出力p22
まで出力に現れ、これらを欠陥画素として検出してしま
う。
力の補正を行った場合は、図21Dに示すように、通常
の欠陥画素の出力に対する補正でキャンセルされていた
図21Aに示す既に存在していた欠陥画素の出力p22
まで出力に現れ、これらを欠陥画素として検出してしま
う。
【0127】そこで本例においては、補正制御回路15
からの制御信号で図19に示したスイッチ85をオフに
して温度変換回路82のゲインをアップすることによ
り、D−Aコンバータ87の基準電圧を例えば2倍に
し、これによってシステムコントローラ90からの欠陥
画素の出力レベルを図21Eに示すように2倍にする。
からの制御信号で図19に示したスイッチ85をオフに
して温度変換回路82のゲインをアップすることによ
り、D−Aコンバータ87の基準電圧を例えば2倍に
し、これによってシステムコントローラ90からの欠陥
画素の出力レベルを図21Eに示すように2倍にする。
【0128】このようにすると、図21Fに示すよう
に、新たな欠陥画素の出力p23対応部分だけが残り、
これについて補正を行うことができるようになる。従っ
て、突発的に発生した欠陥画素の出力を適切に検出で
き、この検出した欠陥画素に対して適切な補正処理を行
うことができ、これにより良好な欠陥画素の検出及びそ
の補正を行うことができる。また、検出対象外の欠陥画
素の出力を誤検出することがない。
に、新たな欠陥画素の出力p23対応部分だけが残り、
これについて補正を行うことができるようになる。従っ
て、突発的に発生した欠陥画素の出力を適切に検出で
き、この検出した欠陥画素に対して適切な補正処理を行
うことができ、これにより良好な欠陥画素の検出及びそ
の補正を行うことができる。また、検出対象外の欠陥画
素の出力を誤検出することがない。
【0129】次に、図22を参照して図1に示した検出
前処理回路21について説明する。
前処理回路21について説明する。
【0130】この図22において、100は図1のスイ
ッチ20の可動接点20eからの信号(加算回路9、1
0または11、または温度センサ7からの温度情報)が
供給される入力端子で、この入力端子100を介して供
給される信号が抵抗器R4を介して増幅回路102及び
遅延素子101に夫々供給される。
ッチ20の可動接点20eからの信号(加算回路9、1
0または11、または温度センサ7からの温度情報)が
供給される入力端子で、この入力端子100を介して供
給される信号が抵抗器R4を介して増幅回路102及び
遅延素子101に夫々供給される。
【0131】この検出前処理回路21においては、サン
プリング周波数の成分による検出誤差の軽減を主な目的
としている。従って、上述した抵抗器R4及び遅延素子
101で誤検出の対象となる入力信号中のキャリア成分
を除去し、このキャリア成分を除去した入力信号を例え
ば数十倍のゲインを持つ増幅回路102で増幅し、この
増幅した入力信号をA−Dコンバータ103でディジタ
ル信号に変換し、この変換によって得たディジタル信号
を出力端子104を介して図1に示した検出回路22に
供給するようにする。この検出前処理回路21を用いた
場合は、例えば数mVの検出対象レベルが100mVp
−pのキャリア成分に加算されていてもその数mVの検
出対象レベルを検出回路15に供給することができる。
プリング周波数の成分による検出誤差の軽減を主な目的
としている。従って、上述した抵抗器R4及び遅延素子
101で誤検出の対象となる入力信号中のキャリア成分
を除去し、このキャリア成分を除去した入力信号を例え
ば数十倍のゲインを持つ増幅回路102で増幅し、この
増幅した入力信号をA−Dコンバータ103でディジタ
ル信号に変換し、この変換によって得たディジタル信号
を出力端子104を介して図1に示した検出回路22に
供給するようにする。この検出前処理回路21を用いた
場合は、例えば数mVの検出対象レベルが100mVp
−pのキャリア成分に加算されていてもその数mVの検
出対象レベルを検出回路15に供給することができる。
【0132】次に、図23を参照して、この検出前処理
回路21の動作について説明する。
回路21の動作について説明する。
【0133】図22の入力端子100を介して検出前処
理回路21に、図23Aに示すような信号の一部分に斜
線で示す突出部分p30(例えば欠陥画素の出力信号に
よるものとする)がある信号が入力された場合に、も
し、図22に示した遅延素子101がインピーダンスマ
ッチングされていれば、抵抗器R4を通過した信号は、
図23Bに示すように、図23Aの波形における突出部
分p30が斜線で示す突出部分p31となる。
理回路21に、図23Aに示すような信号の一部分に斜
線で示す突出部分p30(例えば欠陥画素の出力信号に
よるものとする)がある信号が入力された場合に、も
し、図22に示した遅延素子101がインピーダンスマ
ッチングされていれば、抵抗器R4を通過した信号は、
図23Bに示すように、図23Aの波形における突出部
分p30が斜線で示す突出部分p31となる。
【0134】そしてこの図23に示す信号が図22に示
した遅延素子101で遅延されると図22に矢印dlで
示すポイントで位相が180度反転し、反射した波形は
図23Cに示すように、図23Bの波形における突出部
分p31の位相が反転(他の部分も同様である)し、更
に1周期分の時間だけ遅延されたものとなる。
した遅延素子101で遅延されると図22に矢印dlで
示すポイントで位相が180度反転し、反射した波形は
図23Cに示すように、図23Bの波形における突出部
分p31の位相が反転(他の部分も同様である)し、更
に1周期分の時間だけ遅延されたものとなる。
【0135】従って、図22に示す増幅回路102に供
給される信号は、図23Bに示す波形と図23Cに示す
波形を加算した波形、即ち、図23Dに示す如き、図2
3Aに斜線で示した突出部分p30だけが取り出された
波形となる。そしてこの図23Dに示す波形が図22に
示した増幅回路102で図23Eに示すように検出回路
22において欠陥画素であると判断するためのスレッシ
ュホールドレベルThを越えたレベルを持つ電圧になさ
れ、これがA−Dコンバータ103でディジタル信号に
変換された後に、後述する検出回路22に供給される。
給される信号は、図23Bに示す波形と図23Cに示す
波形を加算した波形、即ち、図23Dに示す如き、図2
3Aに斜線で示した突出部分p30だけが取り出された
波形となる。そしてこの図23Dに示す波形が図22に
示した増幅回路102で図23Eに示すように検出回路
22において欠陥画素であると判断するためのスレッシ
ュホールドレベルThを越えたレベルを持つ電圧になさ
れ、これがA−Dコンバータ103でディジタル信号に
変換された後に、後述する検出回路22に供給される。
【0136】従って、欠陥画素による出力だけを正確に
取り出すことができ、これによって良好な欠陥検出を行
い、良好な欠陥画素の出力に対する補正を行うことがで
きる。尚、温度センサ7からの温度情報は別に設けたA
−Dコンバータでディジタル信号にし、直接各部に供給
するようにしても良い。
取り出すことができ、これによって良好な欠陥検出を行
い、良好な欠陥画素の出力に対する補正を行うことがで
きる。尚、温度センサ7からの温度情報は別に設けたA
−Dコンバータでディジタル信号にし、直接各部に供給
するようにしても良い。
【0137】次に、図24を参照して図1に示した検出
回路22について説明する。
回路22について説明する。
【0138】この図24において、110は図1に示し
た検出前処理回路21からの検出前処理したディジタル
信号が供給される入力端子で、この入力端子110から
のディジタル信号は加算回路112及び減算回路111
に夫々供給される。
た検出前処理回路21からの検出前処理したディジタル
信号が供給される入力端子で、この入力端子110から
のディジタル信号は加算回路112及び減算回路111
に夫々供給される。
【0139】加算回路112は入力端子110を介して
供給された入力信号とフィードバックされた信号を加算
し、この加算出力を時定数回路113を介してフリップ
・フロップ回路114に供給する。このフリップ・フロ
ップ回路114は後述するコンパレータ116からの出
力信号に基いて時定数回路113からの出力信号を減算
回路111に供給すると共に、先に説明したように再び
加算回路112へとフィードバックさせる。またこれら
加算回路112、時定数回路113及びフリップ・フロ
ップ回路114でローパスフィルタを構成している。従
って、フリップ・フロップ回路114から出力される信
号は元の信号のいわゆるひげやノイズ成分が除去された
直流の近傍画素の平均レベルの信号となる。
供給された入力信号とフィードバックされた信号を加算
し、この加算出力を時定数回路113を介してフリップ
・フロップ回路114に供給する。このフリップ・フロ
ップ回路114は後述するコンパレータ116からの出
力信号に基いて時定数回路113からの出力信号を減算
回路111に供給すると共に、先に説明したように再び
加算回路112へとフィードバックさせる。またこれら
加算回路112、時定数回路113及びフリップ・フロ
ップ回路114でローパスフィルタを構成している。従
って、フリップ・フロップ回路114から出力される信
号は元の信号のいわゆるひげやノイズ成分が除去された
直流の近傍画素の平均レベルの信号となる。
【0140】このフリップ・フロップ回路114からの
出力は減算回路111に供給され、この減算回路111
において、入力端子110を介して供給された入力信
号、即ち、欠陥画素による出力である可能性を有する信
号からこのフリップ・フロップ回路114の出力信号が
減算される。この減算によって得られた信号は絶対値回
路115に供給される。この絶対値回路115は減算回
路111からの信号の絶対値を得る。即ち、上述した欠
陥画素の出力による白点(白傷)及び欠陥画素の出力に
よる黒点(黒傷)のレベルを同一の極性にした後にコン
パレータ116に供給すると共に、減算回路111から
供給された信号が白傷による信号か黒傷による信号かを
判別し、その判別の結果に応じて制御信号(フラグ)を
発生し、この制御信号をスイッチ119に供給し、スイ
ッチ119の切り換えを制御する。
出力は減算回路111に供給され、この減算回路111
において、入力端子110を介して供給された入力信
号、即ち、欠陥画素による出力である可能性を有する信
号からこのフリップ・フロップ回路114の出力信号が
減算される。この減算によって得られた信号は絶対値回
路115に供給される。この絶対値回路115は減算回
路111からの信号の絶対値を得る。即ち、上述した欠
陥画素の出力による白点(白傷)及び欠陥画素の出力に
よる黒点(黒傷)のレベルを同一の極性にした後にコン
パレータ116に供給すると共に、減算回路111から
供給された信号が白傷による信号か黒傷による信号かを
判別し、その判別の結果に応じて制御信号(フラグ)を
発生し、この制御信号をスイッチ119に供給し、スイ
ッチ119の切り換えを制御する。
【0141】このスイッチ119の一方の固定接点11
9aを正極のスレッシュホールド信号を出力するスレッ
シュホールド回路117の出力端子に接続し、他方の固
定接点119bを負極のスレッシュホールド信号を出力
するスレッシュホールド回路118の出力端子に接続
し、可動接点119cをコンパレータ116の一方の入
力端子に接続する。
9aを正極のスレッシュホールド信号を出力するスレッ
シュホールド回路117の出力端子に接続し、他方の固
定接点119bを負極のスレッシュホールド信号を出力
するスレッシュホールド回路118の出力端子に接続
し、可動接点119cをコンパレータ116の一方の入
力端子に接続する。
【0142】このスイッチ119は白傷に対応したスレ
ッシュホールドレベル(正極の信号)を発生するスレッ
シュホールド回路117からのスレッシュホールドレベ
ル信号と、黒傷に対応したスレッシュホールドレベル
(負極の信号)を発生するスレッシュホールド回路11
8からのスレッシュホールドレベル信号とを絶対値回路
115からの制御信号に応じて選択的にコンパレータ1
16に供給するスイッチである。尚、スレッシュホール
ド回路117、118は、メモリに記憶したスレッシュ
ホールドレベルデータを読み出し回路で読み出し、これ
をD−Aコンバータでアナログ信号に変換する構成で
も、単なるアナログ電圧を発生させる回路構成でも、シ
ステムコントローラ4内部の回路でも良い。
ッシュホールドレベル(正極の信号)を発生するスレッ
シュホールド回路117からのスレッシュホールドレベ
ル信号と、黒傷に対応したスレッシュホールドレベル
(負極の信号)を発生するスレッシュホールド回路11
8からのスレッシュホールドレベル信号とを絶対値回路
115からの制御信号に応じて選択的にコンパレータ1
16に供給するスイッチである。尚、スレッシュホール
ド回路117、118は、メモリに記憶したスレッシュ
ホールドレベルデータを読み出し回路で読み出し、これ
をD−Aコンバータでアナログ信号に変換する構成で
も、単なるアナログ電圧を発生させる回路構成でも、シ
ステムコントローラ4内部の回路でも良い。
【0143】コンパレータ116は絶対値回路115か
らの絶対値信号とこのスイッチ119を介してスレッシ
ュホールド回路17または18から供給されるスレッシ
ュホールドレベル信号を比較し、スレッシュホールドレ
ベル信号より絶対値信号が大きい場合に対応する画素か
らの出力を欠陥画素による出力と判断し、フリップ・フ
ロップ回路114に制御信号を供給させて、対応する欠
陥画素の出力がフリップ・フロップ回路114に入力さ
れないようにする。これは欠陥画素の出力を近傍画素の
平均レベルを得るために用いると平均値に擾乱を招くこ
とになるからである。
らの絶対値信号とこのスイッチ119を介してスレッシ
ュホールド回路17または18から供給されるスレッシ
ュホールドレベル信号を比較し、スレッシュホールドレ
ベル信号より絶対値信号が大きい場合に対応する画素か
らの出力を欠陥画素による出力と判断し、フリップ・フ
ロップ回路114に制御信号を供給させて、対応する欠
陥画素の出力がフリップ・フロップ回路114に入力さ
れないようにする。これは欠陥画素の出力を近傍画素の
平均レベルを得るために用いると平均値に擾乱を招くこ
とになるからである。
【0144】ここで、上述の加算回路112、時定数回
路113及びフリップ・フロップ回路114で構成され
るローパスフィルタ(以下、フィルタと記述する)がど
のようにして上述した近傍画素の平均値を得るかについ
て説明する。
路113及びフリップ・フロップ回路114で構成され
るローパスフィルタ(以下、フィルタと記述する)がど
のようにして上述した近傍画素の平均値を得るかについ
て説明する。
【0145】このフィルタが出力するのは、水平方向に
手前の画素の加重平均である。いま、水平アドレスがk
の画素に着目しているとする。kなるアドレスの画素の
レベルをPkとすると、kの時点でのフィルタの出力
(近傍画素の平均レベル)Pkmは(1/2Pk−1)
+(1/4Pk−2)+(1/8Pk−3)+(1/1
6Pk−4)+・・・・+{(1/2のn乗)Pk−n
+・・・・となる。従って実効的には手前数画素の加重
平均といえる。
手前の画素の加重平均である。いま、水平アドレスがk
の画素に着目しているとする。kなるアドレスの画素の
レベルをPkとすると、kの時点でのフィルタの出力
(近傍画素の平均レベル)Pkmは(1/2Pk−1)
+(1/4Pk−2)+(1/8Pk−3)+(1/1
6Pk−4)+・・・・+{(1/2のn乗)Pk−n
+・・・・となる。従って実効的には手前数画素の加重
平均といえる。
【0146】さて、次に上述の検出回路22の動作につ
いて説明する。
いて説明する。
【0147】入力端子110を介して検出前回路21か
らのディジタル信号が加算回路112及び減算回路11
1に供給される。加算回路112からの出力は時定数回
路113を介してフリップ・フロップ回路114に供給
される。
らのディジタル信号が加算回路112及び減算回路11
1に供給される。加算回路112からの出力は時定数回
路113を介してフリップ・フロップ回路114に供給
される。
【0148】一方、減算回路111の出力が絶対値回路
115に供給されると、この絶対値回路115におい
て、その入力信号の極性を検出し、この検出結果に基い
て白傷による信号か黒傷による信号かを判断し、その判
断結果に基いた制御信号をスイッチ119に供給すると
共に、入力信号を絶対値データに変換し、その変換デー
タをコンパレータ120の他方の入力端子に供給する。
115に供給されると、この絶対値回路115におい
て、その入力信号の極性を検出し、この検出結果に基い
て白傷による信号か黒傷による信号かを判断し、その判
断結果に基いた制御信号をスイッチ119に供給すると
共に、入力信号を絶対値データに変換し、その変換デー
タをコンパレータ120の他方の入力端子に供給する。
【0149】一方、スイッチ119は絶対値回路115
からの制御信号に基いて可動接点119cを一方または
他方の可動接点119aまたは119bに接続する。そ
の結果スレッシュホールド回路117または118から
の正(白傷用)または負(黒傷用)のスレッシュホール
ドレベル信号が読みだされ、この読みだされたスレッシ
ュホールドレベル信号がコンパレータ116の一方の入
力端子に供給される。
からの制御信号に基いて可動接点119cを一方または
他方の可動接点119aまたは119bに接続する。そ
の結果スレッシュホールド回路117または118から
の正(白傷用)または負(黒傷用)のスレッシュホール
ドレベル信号が読みだされ、この読みだされたスレッシ
ュホールドレベル信号がコンパレータ116の一方の入
力端子に供給される。
【0150】そしてこのコンパレータ116は絶対値回
路115からの絶対値データ及びスレッシュホールド回
路117または118から供給されたスレッシュホール
ドレベル信号が比較し、スレッシュホールドレベル信号
より絶対値データが大きいときには、欠陥画素と判断
し、出力端子120を介して欠陥画素を検出したことを
示す信号を図1に示したシステムコントローラ4に供給
すると共に、フリップ・フロップ回路114に制御信号
を供給し、時定数回路113からの信号を取り込まない
ようにする。これによって欠陥画素の出力による近傍画
素平均レベルの擾乱を防止することができる。
路115からの絶対値データ及びスレッシュホールド回
路117または118から供給されたスレッシュホール
ドレベル信号が比較し、スレッシュホールドレベル信号
より絶対値データが大きいときには、欠陥画素と判断
し、出力端子120を介して欠陥画素を検出したことを
示す信号を図1に示したシステムコントローラ4に供給
すると共に、フリップ・フロップ回路114に制御信号
を供給し、時定数回路113からの信号を取り込まない
ようにする。これによって欠陥画素の出力による近傍画
素平均レベルの擾乱を防止することができる。
【0151】このように、検出回路22においては検出
するべき信号が欠陥画素の負の出力による黒傷によるも
のかまたは欠陥画素の正の出力による白傷によるものか
を判断し、白傷と判断した場合には白傷用のスレッシュ
ホールドレベル信号を用いて欠陥画素による出力か否か
を判断し、黒傷と判断した場合には黒傷用のスレッシュ
ホールドレベル信号を用いて欠陥画素による出力か否か
を判断するようにしたので、いわゆるひげやノイズ等に
よる誤検出を防止し、良好な検出を行うようにすること
ができる。
するべき信号が欠陥画素の負の出力による黒傷によるも
のかまたは欠陥画素の正の出力による白傷によるものか
を判断し、白傷と判断した場合には白傷用のスレッシュ
ホールドレベル信号を用いて欠陥画素による出力か否か
を判断し、黒傷と判断した場合には黒傷用のスレッシュ
ホールドレベル信号を用いて欠陥画素による出力か否か
を判断するようにしたので、いわゆるひげやノイズ等に
よる誤検出を防止し、良好な検出を行うようにすること
ができる。
【0152】以上説明したように、本例においては、図
10〜図18で示したように、例えば或検出時に一旦欠
陥と判断された画素について検出期間内や検出毎に例え
ば連続で10回欠陥と判断されなかった場合に、その対
応画素を欠陥画素として判断しないようにしたので、上
述した例えば温度の影響等によって不定期に特異なレベ
ルの信号を出力する画素を欠陥画素として判断してこの
欠陥画素に対する補正処理を行うことができ、また突発
的なノイズの混入による特異なレベルの信号に対して欠
陥画素と誤まって判断せず、従ってこの信号の乗ってい
る部分に対応するチャンネル及びアドレスの画素に対し
て誤って補正をかけることがなく、確実、且つ、高精度
な欠陥画素の検出及びこの欠陥画素に対する補正を行う
ことができる。
10〜図18で示したように、例えば或検出時に一旦欠
陥と判断された画素について検出期間内や検出毎に例え
ば連続で10回欠陥と判断されなかった場合に、その対
応画素を欠陥画素として判断しないようにしたので、上
述した例えば温度の影響等によって不定期に特異なレベ
ルの信号を出力する画素を欠陥画素として判断してこの
欠陥画素に対する補正処理を行うことができ、また突発
的なノイズの混入による特異なレベルの信号に対して欠
陥画素と誤まって判断せず、従ってこの信号の乗ってい
る部分に対応するチャンネル及びアドレスの画素に対し
て誤って補正をかけることがなく、確実、且つ、高精度
な欠陥画素の検出及びこの欠陥画素に対する補正を行う
ことができる。
【0153】尚、上述の実施例は本発明の一例であり、
本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他様々な構成が取
り得ることは勿論である。
本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他様々な構成が取
り得ることは勿論である。
【0154】
【発明の効果】上述せる本発明によれば、欠陥画素検出
手段により、記憶手段に記憶された位置データに対応す
る画素が所定回数以上連続して欠陥画素として検出され
なかった際に、記憶手段に記憶された位置データを消去
するようにしたので、例えば温度等の検出時の条件によ
る影響を排除し、これによって例えば不定期に特異なレ
ベルの信号を出力する欠陥画素を検出できると共に、例
えばノイズ等検出対象でない出力の誤検出を防止するこ
とができる利益がある。
手段により、記憶手段に記憶された位置データに対応す
る画素が所定回数以上連続して欠陥画素として検出され
なかった際に、記憶手段に記憶された位置データを消去
するようにしたので、例えば温度等の検出時の条件によ
る影響を排除し、これによって例えば不定期に特異なレ
ベルの信号を出力する欠陥画素を検出できると共に、例
えばノイズ等検出対象でない出力の誤検出を防止するこ
とができる利益がある。
【0155】また上述せる本発明によれば、複数回に渡
る欠陥画素検出動作において所定回数連続して選択手段
によって選択された位置データが第1の記憶手段に記憶
された全ての位置データと一致せず、選択手段によって
選択された位置データの時歴数が所定数となった際に、
その位置データを消去するようにしたので、例えば温度
等の検出時の条件による影響を排除し、これによって例
えば不定期に特異なレベルの信号を出力する欠陥画素を
検出できると共に、例えばノイズ等検出対象でない出力
の誤検出を防止することができる利益がある。
る欠陥画素検出動作において所定回数連続して選択手段
によって選択された位置データが第1の記憶手段に記憶
された全ての位置データと一致せず、選択手段によって
選択された位置データの時歴数が所定数となった際に、
その位置データを消去するようにしたので、例えば温度
等の検出時の条件による影響を排除し、これによって例
えば不定期に特異なレベルの信号を出力する欠陥画素を
検出できると共に、例えばノイズ等検出対象でない出力
の誤検出を防止することができる利益がある。
【図1】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図2】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の説明に供する波形図である。
施例の説明に供する波形図である。
【図3】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の説明に供する説明図である。
施例の説明に供する説明図である。
【図4】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の説明に供する波形図である。
施例の説明に供する波形図である。
【図5】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の要部の例を示す構成図である。
施例の要部の例を示す構成図である。
【図6】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の要部の説明に供する波形図である。
施例の要部の説明に供する波形図である。
【図7】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の要部の説明に供する波形図である。
施例の要部の説明に供する波形図である。
【図8】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の要部の他の例を示す構成図である。
施例の要部の他の例を示す構成図である。
【図9】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一実
施例の要部の例を示す構成図である。
施例の要部の例を示す構成図である。
【図10】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の例を示す構成図である。
実施例の要部の例を示す構成図である。
【図11】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図12】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図13】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図14】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図15】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図16】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図17】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図18】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
実施例の要部の動作の説明に供する説明図である。
【図19】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の例を示す構成図である。
実施例の要部の例を示す構成図である。
【図20】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の説明に供する波形図である。
実施例の要部の説明に供する波形図である。
【図21】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の説明に供する波形図である。
実施例の要部の説明に供する波形図である。
【図22】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の例を示す構成図である。
実施例の要部の例を示す構成図である。
【図23】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の説明に供する波形図である。
実施例の要部の説明に供する波形図である。
【図24】本発明固体撮像素子の欠陥画素検出回路の一
実施例の要部の例を示す構成図である。
実施例の要部の例を示す構成図である。
1 光学系 2 CCD素子 3 サンプリング回路 4 システムコントローラ 5 タイミングジェネレータ 6 水平/垂直カウンタ 7 温度センサ 8 パルスジェネレータ 9、10、11 加算回路 12 読み出し/書き込み回路 13 メモリ 14 レジスタ 15 補正制御回路 16 補正回路 20 スイッチ 21 検出前処理回路 22 検出回路 70r、70r+1、・・・・70r+n メインレジ
スタ 71c、71c+1、・・・・71c+n コンパレー
タ 72r、72r+1、・・・・72r+n サブレジス
タ 73 データセレクタ
スタ 71c、71c+1、・・・・71c+n コンパレー
タ 72r、72r+1、・・・・72r+n サブレジス
タ 73 データセレクタ
【手続補正書】
【提出日】平成5年3月15日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0002
【補正方法】変更
【補正内容】
【0002】CCD(Charge coupled
device)等の固体撮像素子を用いたビデオカメラ
においては、CCDの各画素の内、光が入射していない
状態で特異なレベルの信号を出力するいわゆる欠陥画素
により、撮像して得た画像の画質が劣化するという問題
があった。
device)等の固体撮像素子を用いたビデオカメラ
においては、CCDの各画素の内、光が入射していない
状態で特異なレベルの信号を出力するいわゆる欠陥画素
により、撮像して得た画像の画質が劣化するという問題
があった。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0003
【補正方法】変更
【補正内容】
【0003】そこで、従来では、ビデオカメラに欠陥画
素が出力する信号を補正する補正回路を搭載し、ユーザ
に対してビデオカメラを出荷する前に、CCDのどの画
素が欠陥画素かを検査し、その検査の結果得られた欠陥
画素を示す情報をビデオカメラの補正回路の記憶エリア
に記憶したりする等して、実際にユーザの手にわたった
後は、この補正回路によって欠陥画素が出力する信号が
補正回路によって補正されるようにしていた。
素が出力する信号を補正する補正回路を搭載し、ユーザ
に対してビデオカメラを出荷する前に、CCDのどの画
素が欠陥画素かを検査し、その検査の結果得られた欠陥
画素を示す情報をビデオカメラの補正回路の記憶エリア
に記憶したりする等して、実際にユーザの手にわたった
後は、この補正回路によって欠陥画素が出力する信号が
補正回路によって補正されるようにしていた。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0008
【補正方法】変更
【補正内容】
【0008】ところで、CCDの構成画素は製造の段階
で欠陥となる場合のみならず、実際にユーザの手に渡っ
た後においても突発的に欠陥となる場合があり、更に経
年変化によって新たに光が入射していない状態で特異な
レベルの信号を発生する場合がある。
で欠陥となる場合のみならず、実際にユーザの手に渡っ
た後においても突発的に欠陥となる場合があり、更に経
年変化によって新たに光が入射していない状態で特異な
レベルの信号を発生する場合がある。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】従って、ビデオカメラに使用しているCC
Dの欠陥画素を検査して欠陥画素のアドレスデータ等の
情報を得、この情報をビデオカメラのメモリ等に記憶し
た後にユーザの手に渡るようにした場合には、上述した
突発的な欠陥画素の発生や経年変化による欠陥画素の発
生に対応できない。
Dの欠陥画素を検査して欠陥画素のアドレスデータ等の
情報を得、この情報をビデオカメラのメモリ等に記憶し
た後にユーザの手に渡るようにした場合には、上述した
突発的な欠陥画素の発生や経年変化による欠陥画素の発
生に対応できない。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0011
【補正方法】変更
【補正内容】
【0011】欠陥画素の検出は例えば次のようにして行
われる。即ち、CCDに光が入射していない状態で、C
CDの各画素から出力された信号のレベルとこの画素の
1つ前の画素から出力された信号のレベルを比較、また
はCCDの各画素から出力された信号のレベルと所定の
スレッシュホールドレベルを比較し、1つ前の画素が出
力した信号のレベル、またはスレッシュホールドレベル
より現在の画素が出力した信号のレベルが大きい場合
に、特異なレベルの信号を出力する画素(欠陥画素)と
して検出し、この画素のアドレスデータ及びその画素が
出力する信号レベルに基いた傷(欠陥画素)データを
得、これらをメモリ等に記憶することにより行う。
われる。即ち、CCDに光が入射していない状態で、C
CDの各画素から出力された信号のレベルとこの画素の
1つ前の画素から出力された信号のレベルを比較、また
はCCDの各画素から出力された信号のレベルと所定の
スレッシュホールドレベルを比較し、1つ前の画素が出
力した信号のレベル、またはスレッシュホールドレベル
より現在の画素が出力した信号のレベルが大きい場合
に、特異なレベルの信号を出力する画素(欠陥画素)と
して検出し、この画素のアドレスデータ及びその画素が
出力する信号レベルに基いた傷(欠陥画素)データを
得、これらをメモリ等に記憶することにより行う。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】一方、上述のようにして欠陥画素を検出し
た後には、メモリに記憶した欠陥画素のアドレスデータ
に基いて、CCDから供給される映像信号の欠陥画素に
対応する信号から、メモリから読み出したその欠陥画素
のアドレスデータに対応するブレミッシュデータを減算
することによって、欠陥画素による特異なレベルの信号
を補正する。
た後には、メモリに記憶した欠陥画素のアドレスデータ
に基いて、CCDから供給される映像信号の欠陥画素に
対応する信号から、メモリから読み出したその欠陥画素
のアドレスデータに対応するブレミッシュデータを減算
することによって、欠陥画素による特異なレベルの信号
を補正する。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0023
【補正方法】変更
【補正内容】
【0023】この図1において、1はレンズやアイリス
等の光学系で、この光学系1を介して被写体からの光が
CCD2に供給される。本例においては例えばこのCC
D2を緑、赤、青成分用の3つのCCDで構成するもの
とする。この場合は、上述の光学系1にはプリズムが含
まれ、このプリズムによって被写体からの光の内、緑の
成分の光がこのCCD2(緑成分光用)に供給され、赤
の成分の光がこのCCD2(赤成分光用)に供給され、
青の成分の光がこのCCD2(青成分光用)に供給され
る。尚、このCCD2は例えば単板式でも2板式でも良
い。
等の光学系で、この光学系1を介して被写体からの光が
CCD2に供給される。本例においては例えばこのCC
D2を緑、赤、青成分用の3つのCCDで構成するもの
とする。この場合は、上述の光学系1にはプリズムが含
まれ、このプリズムによって被写体からの光の内、緑の
成分の光がこのCCD2(緑成分光用)に供給され、赤
の成分の光がこのCCD2(赤成分光用)に供給され、
青の成分の光がこのCCD2(青成分光用)に供給され
る。尚、このCCD2は例えば単板式でも2板式でも良
い。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0024
【補正方法】変更
【補正内容】
【0024】このCCD2に供給された緑、赤、青成分
の光は、このCCD2(3つのCCD)において夫々光
電変換され、タイミングジェネレータ5からの電荷蓄積
制御信号によって電荷蓄積時間が制御されると共に、こ
のタイミングジェネレータ5からの読み出し信号によっ
て夫々読みだされる。
の光は、このCCD2(3つのCCD)において夫々光
電変換され、タイミングジェネレータ5からの電荷蓄積
制御信号によって電荷蓄積時間が制御されると共に、こ
のタイミングジェネレータ5からの読み出し信号によっ
て夫々読みだされる。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0025
【補正方法】変更
【補正内容】
【0025】ここで、CCD2からの信号の読み出し方
式にはフィールド読み出しとフレーム読み出しとがあ
り、本例においては、例えば欠陥画素の検出時には後述
する欠陥画素補正系からの指令により、強制的にフレー
ム蓄積モード切り替わるようにする。
式にはフィールド読み出しとフレーム読み出しとがあ
り、本例においては、例えば欠陥画素の検出時には後述
する欠陥画素補正系からの指令により、強制的にフレー
ム蓄積モード切り替わるようにする。
【手続補正10】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0030
【補正方法】変更
【補正内容】
【0030】ところが、この特定を行う処理はたいへん
手間がかかり、特にフィールド読み出しを行っていると
きに欠陥画素を検出するようにした場合は、CCD2の
フォトセンサでの電荷の蓄積はフィールド期間だけ行わ
れるので、フィールド読み出しでの電荷の蓄積時間の2
倍の電荷の蓄積時間を行うフレーム読み出しと比較する
と欠陥画素が出力する信号レベルがフレーム読み出しの
場合の欠陥画素が出力する信号のレベルの半分となり、
フィールド読み出しを行って欠陥画素の検出を行った場
合の検出のS/Nは、フレーム読み出しを行って欠陥画
素の検出を行う場合の検出のS/Nより大幅に低くな
る。
手間がかかり、特にフィールド読み出しを行っていると
きに欠陥画素を検出するようにした場合は、CCD2の
フォトセンサでの電荷の蓄積はフィールド期間だけ行わ
れるので、フィールド読み出しでの電荷の蓄積時間の2
倍の電荷の蓄積時間を行うフレーム読み出しと比較する
と欠陥画素が出力する信号レベルがフレーム読み出しの
場合の欠陥画素が出力する信号のレベルの半分となり、
フィールド読み出しを行って欠陥画素の検出を行った場
合の検出のS/Nは、フレーム読み出しを行って欠陥画
素の検出を行う場合の検出のS/Nより大幅に低くな
る。
【手続補正11】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0031
【補正方法】変更
【補正内容】
【0031】従って本例においては、欠陥画素の検出の
モードのときには、CCD2からの読み出しモードを強
制的にフレーム読み出しモードとする。従って、検出の
S/Nがフィールド読み出しを行って欠陥画素検出を行
った場合よりも6dBも向上し、高精度、且つ、良好な
欠陥画素の検出を行うことができると共に、欠陥画素の
検出に必要なメモリ容量をフィールド読み出しを行って
欠陥画素検出を行う場合の半分で済ませることができ
る。
モードのときには、CCD2からの読み出しモードを強
制的にフレーム読み出しモードとする。従って、検出の
S/Nがフィールド読み出しを行って欠陥画素検出を行
った場合よりも6dBも向上し、高精度、且つ、良好な
欠陥画素の検出を行うことができると共に、欠陥画素の
検出に必要なメモリ容量をフィールド読み出しを行って
欠陥画素検出を行う場合の半分で済ませることができ
る。
【手続補正12】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】このCCD2からの出力はサンプリング回
路3に供給され、このサンプリング回路3においては、
図2に示すように、タイミングジェネレータ5及びパル
スジェネレータ8からの信号に基いてCCD2からの出
力信号に対して図中Pで示すサンプリングポイントでサ
ンプリングを行ってリセットノイズ等を除去し、このサ
ンプリングした信号、即ち、緑、赤及び青に対応した信
号を加算回路9、10及び11に夫々供給する。
路3に供給され、このサンプリング回路3においては、
図2に示すように、タイミングジェネレータ5及びパル
スジェネレータ8からの信号に基いてCCD2からの出
力信号に対して図中Pで示すサンプリングポイントでサ
ンプリングを行ってリセットノイズ等を除去し、このサ
ンプリングした信号、即ち、緑、赤及び青に対応した信
号を加算回路9、10及び11に夫々供給する。
【手続補正13】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0034
【補正方法】変更
【補正内容】
【0034】さて、このスイッチ20は各加算回路9、
10及び11からの緑、赤及び青に対応した信号が供給
される固定接点20a、20b、20cの他にCCD2
のパッケージに取り付けられ、このCCD2の温度を検
出する温度センサ7からの温度情報が供給される固定接
点20dを有し、このスイッチは、可動接点20eをこ
れら各固定接点20a、20b、20c及び20dに接
続することによって、緑、赤及び青に対応した信号や温
度情報を検出前処理回路21に供給する。
10及び11からの緑、赤及び青に対応した信号が供給
される固定接点20a、20b、20cの他にCCD2
のパッケージに取り付けられ、このCCD2の温度を検
出する温度センサ7からの温度情報が供給される固定接
点20dを有し、このスイッチは、可動接点20eをこ
れら各固定接点20a、20b、20c及び20dに接
続することによって、緑、赤及び青に対応した信号や温
度情報を検出前処理回路21に供給する。
【手続補正14】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0038
【補正方法】変更
【補正内容】
【0038】そして欠陥検出が終了した後に、レジスタ
14に格納されている欠陥画素のアドレスデータや種々
の情報を、読み出し/書き込み回路12を介してメモリ
(例えばEEPROMやバッテリバックアップ付きRA
M等)13に記憶する。また、ユーザに対する出荷時に
は、例えばこのメモリ13には欠陥画素のデータが記憶
される。この出荷時における欠陥画素のメモリ13への
書き込みは、例えばCCD2の製造段階で欠陥画素を検
出した結果得られた欠陥画素データを一旦フロッピーデ
ィスク等の記録媒体に記録し、例えば製品として出荷す
る際にデータ書き込み装置を用い、例えばLANC通信
等によりフロッピーディスクに記録されている欠陥画素
のデータをコピーするようにしても良い。また、メモリ
13を例えば2つのエリアに分け、一方のエリアを不揮
発性メモリ、他方のエリアをRAM等にしても良い。
14に格納されている欠陥画素のアドレスデータや種々
の情報を、読み出し/書き込み回路12を介してメモリ
(例えばEEPROMやバッテリバックアップ付きRA
M等)13に記憶する。また、ユーザに対する出荷時に
は、例えばこのメモリ13には欠陥画素のデータが記憶
される。この出荷時における欠陥画素のメモリ13への
書き込みは、例えばCCD2の製造段階で欠陥画素を検
出した結果得られた欠陥画素データを一旦フロッピーデ
ィスク等の記録媒体に記録し、例えば製品として出荷す
る際にデータ書き込み装置を用い、例えばLANC通信
等によりフロッピーディスクに記録されている欠陥画素
のデータをコピーするようにしても良い。また、メモリ
13を例えば2つのエリアに分け、一方のエリアを不揮
発性メモリ、他方のエリアをRAM等にしても良い。
【手続補正15】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0039
【補正方法】変更
【補正内容】
【0039】一方、通常の撮影を行う動作モードにおい
ては、メモリ13に記憶した欠陥画素のアドレス信号を
読み出し、このアドレス信号と、水平/垂直カウンタ6
からのアドレス信号を比較し、一致した場合にはパルス
ジェネレータ8やタイミングジェネレータ5を制御し
て、欠陥画素に対応する信号部分をサンプリング回路3
においてホールドさせる。
ては、メモリ13に記憶した欠陥画素のアドレス信号を
読み出し、このアドレス信号と、水平/垂直カウンタ6
からのアドレス信号を比較し、一致した場合にはパルス
ジェネレータ8やタイミングジェネレータ5を制御し
て、欠陥画素に対応する信号部分をサンプリング回路3
においてホールドさせる。
【手続補正16】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0041
【補正方法】変更
【補正内容】
【0041】また、このシステムコントローラ4は、ス
イッチsw1からの設定情報に基いて検出イネーブル信
号でシャッタイネーブル信号を供給するスイッチsw2
のオン/オフを制御すると共に、検出イネーブル信号を
検出回路22に供給し、この検出回路22による欠陥画
素の検出の制御を行う。従って、例えばスイッチsw1
を使用者が操作すると、検出イネーブル信号が検出回路
22に供給されて、欠陥画素の検出モードになると共
に、この検出イネーブル信号によりスイッチsw2がオ
フにされ、これによってタイミングジェネレータ5にシ
ャッタイネーブル信号が供給されない。従って、CCD
2における電荷蓄積時間を通常の蓄積時間より短くす
る、いわゆるシャッタ動作が行われなくなり、欠陥画素
の検出のS/Nの劣化を低減し、欠陥画素の検出を良好
に行うことができる。
イッチsw1からの設定情報に基いて検出イネーブル信
号でシャッタイネーブル信号を供給するスイッチsw2
のオン/オフを制御すると共に、検出イネーブル信号を
検出回路22に供給し、この検出回路22による欠陥画
素の検出の制御を行う。従って、例えばスイッチsw1
を使用者が操作すると、検出イネーブル信号が検出回路
22に供給されて、欠陥画素の検出モードになると共
に、この検出イネーブル信号によりスイッチsw2がオ
フにされ、これによってタイミングジェネレータ5にシ
ャッタイネーブル信号が供給されない。従って、CCD
2における電荷蓄積時間を通常の蓄積時間より短くす
る、いわゆるシャッタ動作が行われなくなり、欠陥画素
の検出のS/Nの劣化を低減し、欠陥画素の検出を良好
に行うことができる。
【手続補正17】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0043
【補正方法】変更
【補正内容】
【0043】このような微小な白点や黒点は何れも欠陥
画素の信号出力に一定のバイアス電圧が加算または減算
された形となっている。映像信号成分は正常に入射光量
に反応する。従って欠陥画素の位置とある温度での欠陥
成分の振幅を予め測定して記憶しておき、欠陥画素の信
号出力と同じタイミングで欠陥成分と同振幅、逆極性の
補正信号を発生させ、欠陥画素の信号出力に加算すれ
ば、映像信号の欠陥成分を相殺することができる。この
様子を図4に示す。
画素の信号出力に一定のバイアス電圧が加算または減算
された形となっている。映像信号成分は正常に入射光量
に反応する。従って欠陥画素の位置とある温度での欠陥
成分の振幅を予め測定して記憶しておき、欠陥画素の信
号出力と同じタイミングで欠陥成分と同振幅、逆極性の
補正信号を発生させ、欠陥画素の信号出力に加算すれ
ば、映像信号の欠陥成分を相殺することができる。この
様子を図4に示す。
【手続補正18】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0050
【補正方法】変更
【補正内容】
【0050】この図5において30は相関2重サンプリ
ング回路で、この相関2重サンプリング回路30は、図
1に示したCCD(緑用CCD)2からの緑に対応した
信号(映像信号)が供給される入力端子31を増幅回路
32の入力端子に接続し、この増幅回路32の出力端子
をスイッチ33を介して演算増幅回路38の非反転入力
端子(+)に接続し、この演算増幅回路38の非反転入
力端子(+)をコンデンサ37を介して接地し、この演
算増幅回路38の出力端子を出力端子45に接続し、ま
た増幅回路32の出力端子をスイッチ40を介して増幅
回路42の入力端子に接続すると共に、この増幅回路4
2の入力端子をコンデンサ41を介して接地し、この増
幅回路42の出力端子をスイッチ43を介して演算増幅
回路38の反転入力端子(−)に接続すると共に、この
演算増幅回路38の反転入力端子(−)をコンデンサ4
4を介して接地することによって構成される。
ング回路で、この相関2重サンプリング回路30は、図
1に示したCCD(緑用CCD)2からの緑に対応した
信号(映像信号)が供給される入力端子31を増幅回路
32の入力端子に接続し、この増幅回路32の出力端子
をスイッチ33を介して演算増幅回路38の非反転入力
端子(+)に接続し、この演算増幅回路38の非反転入
力端子(+)をコンデンサ37を介して接地し、この演
算増幅回路38の出力端子を出力端子45に接続し、ま
た増幅回路32の出力端子をスイッチ40を介して増幅
回路42の入力端子に接続すると共に、この増幅回路4
2の入力端子をコンデンサ41を介して接地し、この増
幅回路42の出力端子をスイッチ43を介して演算増幅
回路38の反転入力端子(−)に接続すると共に、この
演算増幅回路38の反転入力端子(−)をコンデンサ4
4を介して接地することによって構成される。
【手続補正19】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0053
【補正方法】変更
【補正内容】
【0053】49は赤に対応した信号のための相関2重
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路4
9の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路49に入力端子46
を介して図1に示したCCD(赤用CCD)2からの赤
に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリング回
路49の出力を出力端子50に供給する。また、図示は
省略するも、この相関2重サンプリング回路49のスイ
ッチ40に入力端子39を介してタイミングジェネレー
タ5からのサンプルホールド信号SHPを供給し、この
相関2重サンプリング回路49のスイッチ33及び43
にアンド回路48からのサンプルホールド信号SHDを
供給する。
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路4
9の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路49に入力端子46
を介して図1に示したCCD(赤用CCD)2からの赤
に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリング回
路49の出力を出力端子50に供給する。また、図示は
省略するも、この相関2重サンプリング回路49のスイ
ッチ40に入力端子39を介してタイミングジェネレー
タ5からのサンプルホールド信号SHPを供給し、この
相関2重サンプリング回路49のスイッチ33及び43
にアンド回路48からのサンプルホールド信号SHDを
供給する。
【手続補正20】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0055
【補正方法】変更
【補正内容】
【0055】54は青に対応した信号のための相関2重
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路5
4の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路54に入力端子51
を介して図1に示したCCD(青用CCD)2からの青
に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリング回
路54の出力を出力端子55に供給する。また、図示は
省略するも、この相関2重サンプリング回路54のスイ
ッチ40に入力端子39を介してタイミングジェネレー
タ5からのサンプルホールド信号SHPを供給し、この
相関2重サンプリング回路54のスイッチ33及び43
にアンド回路53からのサンプルホールド信号SHDを
供給する。
サンプリング回路で、この相関2重サンプリング回路5
4の構成は相関2重サンプリング回路30と同様であ
る。この相関2重サンプリング回路54に入力端子51
を介して図1に示したCCD(青用CCD)2からの青
に対応した信号を供給し、この相関2重サンプリング回
路54の出力を出力端子55に供給する。また、図示は
省略するも、この相関2重サンプリング回路54のスイ
ッチ40に入力端子39を介してタイミングジェネレー
タ5からのサンプルホールド信号SHPを供給し、この
相関2重サンプリング回路54のスイッチ33及び43
にアンド回路53からのサンプルホールド信号SHDを
供給する。
【手続補正21】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0058
【補正方法】変更
【補正内容】
【0058】同様に、アンド回路48には図6Aに示し
た信号の他に図6Cに示すような赤に対応した信号用
(Rch)である3フレームにつき1フレームアクティ
ブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム信号
が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、図6
Fに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成され
る。
た信号の他に図6Cに示すような赤に対応した信号用
(Rch)である3フレームにつき1フレームアクティ
ブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム信号
が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、図6
Fに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成され
る。
【手続補正22】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0059
【補正方法】変更
【補正内容】
【0059】そして同様に、アンド回路53には図6A
に示した信号の他に図6Dに示すような青に対応した信
号用(Bch)である3フレームにつき1フレームアク
ティブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、
図6Gに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成さ
れる。
に示した信号の他に図6Dに示すような青に対応した信
号用(Bch)である3フレームにつき1フレームアク
ティブとなるタイミングジェネレータ5からのフレーム
信号が供給され、これら2つの信号の論理積がとられ、
図6Gに示す如きサンプルホールド信号SHDが生成さ
れる。
【手続補正23】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0061
【補正方法】変更
【補正内容】
【0061】この図7Aに示すように、CCD2から図
5に示したサンプリング回路3に供給された信号(G、
R、Bchの信号)は、そのプリチャージレベルが図7
Bに示すサンプルホールド信号SHP(図5において入
力端子39に供給されるタイミングジェネレータ5から
の信号)によってサンプルホールドされ、更に図7Aに
示す信号のデータレベルが図7Cに示すサンプルホール
ド信号SHD(図5においてアンド回路36、48及び
53の出力に対応する信号で、図6においては図6E、
F及びGに夫々対応する)によってサンプルホールドさ
れる。
5に示したサンプリング回路3に供給された信号(G、
R、Bchの信号)は、そのプリチャージレベルが図7
Bに示すサンプルホールド信号SHP(図5において入
力端子39に供給されるタイミングジェネレータ5から
の信号)によってサンプルホールドされ、更に図7Aに
示す信号のデータレベルが図7Cに示すサンプルホール
ド信号SHD(図5においてアンド回路36、48及び
53の出力に対応する信号で、図6においては図6E、
F及びGに夫々対応する)によってサンプルホールドさ
れる。
【手続補正24】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0065
【補正方法】変更
【補正内容】
【0065】このように、このサンプリング回路3にお
いては、図6に示したように、CCD2からの緑に対応
した信号、赤に対応した信号及び青に対応した信号、即
ち、Gch(チャンネル)、Rch(チャンネル)及び
Bch(チャンネル)の出力に対して夫々サンプリング
する際に、Gchのサンプリング中にはRch及びBc
hのサンプリングを停止し、Rchのサンプリング中に
はGch及びBchのサンプリングを停止し、Bchの
サンプリング中にはGch及びRchのサンプリングを
停止するようにしているので、サンプリングしているチ
ャンネル以外のチャンネルからのいわゆるデータの飛び
込みによる欠陥画素検出精度の劣化を防止することがで
きる。
いては、図6に示したように、CCD2からの緑に対応
した信号、赤に対応した信号及び青に対応した信号、即
ち、Gch(チャンネル)、Rch(チャンネル)及び
Bch(チャンネル)の出力に対して夫々サンプリング
する際に、Gchのサンプリング中にはRch及びBc
hのサンプリングを停止し、Rchのサンプリング中に
はGch及びBchのサンプリングを停止し、Bchの
サンプリング中にはGch及びRchのサンプリングを
停止するようにしているので、サンプリングしているチ
ャンネル以外のチャンネルからのいわゆるデータの飛び
込みによる欠陥画素検出精度の劣化を防止することがで
きる。
【手続補正25】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0066
【補正方法】変更
【補正内容】
【0066】図8は上述のサンプリング回路3の他の例
を示す構成図である。この図8に示すように、この例に
おいては、CCD(R)2R、CCD(G)2G及びC
CD(B)2Bからの出力を夫々スイッチ130、13
1及び132を介してサンプリング回路133に供給
し、その出力を出力端子135から出力するようにする
と共に、別に設けた制御回路134からの制御信号によ
りスイッチ130、131及び132を例えば1フレー
ム期間毎に順次オンとするようにする。
を示す構成図である。この図8に示すように、この例に
おいては、CCD(R)2R、CCD(G)2G及びC
CD(B)2Bからの出力を夫々スイッチ130、13
1及び132を介してサンプリング回路133に供給
し、その出力を出力端子135から出力するようにする
と共に、別に設けた制御回路134からの制御信号によ
りスイッチ130、131及び132を例えば1フレー
ム期間毎に順次オンとするようにする。
【手続補正26】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0067
【補正方法】変更
【補正内容】
【0067】この制御回路134が出力する制御信号
を、例えば図6B、C及びDに示すような信号とした場
合は、図6Bに示す3フレーム期間で1フレーム期間ア
クティブとなるフレーム信号がスイッチ131に供給さ
れ、スイッチ131がこのフレーム信号がアクティブと
なっている期間オンとなり、これによってCCD2Gか
らの出力がスイッチ131を介してサンプリング回路1
33に供給され、サンプリングされる。次に、図6Cに
示す3フレーム期間で1フレーム期間アクティブとなる
フレーム信号がスイッチ130に供給され、スイッチ1
30がこのフレーム信号がアクティブとなっている期間
オンとなり、これによってCCD2Rからの出力がスイ
ッチ130を介してサンプリング回路133に供給さ
れ、サンプリングされる。次に、図6Dに示す3フレー
ム期間で1フレーム期間アクティブとなるフレーム信号
がスイッチ132に供給され、スイッチ132がこのフ
レーム信号がアクティブとなっている期間オンとなり、
これによってCCD2Bからの出力がスイッチ132を
介してサンプリング回路133に供給され、サンプリン
グされる。
を、例えば図6B、C及びDに示すような信号とした場
合は、図6Bに示す3フレーム期間で1フレーム期間ア
クティブとなるフレーム信号がスイッチ131に供給さ
れ、スイッチ131がこのフレーム信号がアクティブと
なっている期間オンとなり、これによってCCD2Gか
らの出力がスイッチ131を介してサンプリング回路1
33に供給され、サンプリングされる。次に、図6Cに
示す3フレーム期間で1フレーム期間アクティブとなる
フレーム信号がスイッチ130に供給され、スイッチ1
30がこのフレーム信号がアクティブとなっている期間
オンとなり、これによってCCD2Rからの出力がスイ
ッチ130を介してサンプリング回路133に供給さ
れ、サンプリングされる。次に、図6Dに示す3フレー
ム期間で1フレーム期間アクティブとなるフレーム信号
がスイッチ132に供給され、スイッチ132がこのフ
レーム信号がアクティブとなっている期間オンとなり、
これによってCCD2Bからの出力がスイッチ132を
介してサンプリング回路133に供給され、サンプリン
グされる。
【手続補正27】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0068
【補正方法】変更
【補正内容】
【0068】従って、この場合においても、図5におい
て説明したサンプリング回路3と同様、CCD2Gから
の緑に対応した信号、CCD2Rからの赤に対応した信
号及びCCD2Bからの青に対応した信号、即ち、Gc
h(チャンネル)、Rch(チャンネル)及びBch
(チャンネル)の出力に対して夫々サンプリングする際
に、Gchのサンプリング中にはRch及びBchの信
号はサンプリング回路133に供給されないのでサンプ
リングはなされず、Rchのサンプリング中にはGch
及びBchの信号はサンプリング回路133に供給され
ないのでサンプリングはなされず、Bchのサンプリン
グ中にはGch及びRchの信号はサンプリング回路1
33に供給されないのでサンプリングはなされず、これ
によって、サンプリングしているチャンネル以外のチャ
ンネルからのいわゆるデータの飛び込みによる画質の劣
化を防止することができる。
て説明したサンプリング回路3と同様、CCD2Gから
の緑に対応した信号、CCD2Rからの赤に対応した信
号及びCCD2Bからの青に対応した信号、即ち、Gc
h(チャンネル)、Rch(チャンネル)及びBch
(チャンネル)の出力に対して夫々サンプリングする際
に、Gchのサンプリング中にはRch及びBchの信
号はサンプリング回路133に供給されないのでサンプ
リングはなされず、Rchのサンプリング中にはGch
及びBchの信号はサンプリング回路133に供給され
ないのでサンプリングはなされず、Bchのサンプリン
グ中にはGch及びRchの信号はサンプリング回路1
33に供給されないのでサンプリングはなされず、これ
によって、サンプリングしているチャンネル以外のチャ
ンネルからのいわゆるデータの飛び込みによる画質の劣
化を防止することができる。
【手続補正28】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0070
【補正方法】変更
【補正内容】
【0070】この図9に示すように、図1に示したシス
テムコントローラ4内部には、システムコントローラ4
本来の回路(図示を省略する)以外に比較回路60を配
している。即ち、図1に示した検出回路22からの出力
信号(比較結果信号)を入力端子61を介してコンパレ
ータ62に供給し、同様に図1に示した検出前処理回路
21からのディジタル温度データを入力端子63を介し
て乗算回路65に供給し、スレッシュホールド回路64
からのスレッシュホールドデータを乗算回路65に供給
する。そしてこの乗算回路65において、スレッシュホ
ールド回路64からのスレッシュホールドデータに対し
て、CCD2と熱結合された温度センサ(図1参照)7
が検出し、これを検出前処理回路21がディジタルに変
換したディジタル温度データによって変調する。そして
更に、この変調されたスレッシュホールドデータと検出
回路22から供給された信号をコンパレータ62に夫々
供給し、このコンパレータ62により比較し、その比較
結果を出力端子66を介して図示を省略したシステムコ
ントローラ4の他の回路に供給する。
テムコントローラ4内部には、システムコントローラ4
本来の回路(図示を省略する)以外に比較回路60を配
している。即ち、図1に示した検出回路22からの出力
信号(比較結果信号)を入力端子61を介してコンパレ
ータ62に供給し、同様に図1に示した検出前処理回路
21からのディジタル温度データを入力端子63を介し
て乗算回路65に供給し、スレッシュホールド回路64
からのスレッシュホールドデータを乗算回路65に供給
する。そしてこの乗算回路65において、スレッシュホ
ールド回路64からのスレッシュホールドデータに対し
て、CCD2と熱結合された温度センサ(図1参照)7
が検出し、これを検出前処理回路21がディジタルに変
換したディジタル温度データによって変調する。そして
更に、この変調されたスレッシュホールドデータと検出
回路22から供給された信号をコンパレータ62に夫々
供給し、このコンパレータ62により比較し、その比較
結果を出力端子66を介して図示を省略したシステムコ
ントローラ4の他の回路に供給する。
【手続補正29】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0073
【補正方法】変更
【補正内容】
【0073】この図10において、70r、70r+
1、・・・・70r+nは夫々主レジスタで、これら主
レジスタ70r、70r+1、・・・・70r+nは水
平アドレスの格納されるエリア、垂直アドレスが格納さ
れるエリア、第何フィールドかを示すフィールドフラグ
が格納されるエリア、チャンネル情報(Rch、Gch
及びBch情報)が格納されるエリア、及び時歴データ
が格納されるエリアで構成される。これらの各エリアに
格納される情報は欠陥画素に対応した情報である。
1、・・・・70r+nは夫々主レジスタで、これら主
レジスタ70r、70r+1、・・・・70r+nは水
平アドレスの格納されるエリア、垂直アドレスが格納さ
れるエリア、第何フィールドかを示すフィールドフラグ
が格納されるエリア、チャンネル情報(Rch、Gch
及びBch情報)が格納されるエリア、及び時歴データ
が格納されるエリアで構成される。これらの各エリアに
格納される情報は欠陥画素に対応した情報である。
【手続補正30】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0074
【補正方法】変更
【補正内容】
【0074】ここでいう時歴は、或画素が欠陥として検
出されなかった回数で、本例においては或画素が例えば
10回欠陥として検出されなかった場合にこの画素を欠
陥画素としないようにする。このようにするのは、或画
素が、フィールド毎、或はフレーム毎、或は不定期に特
異なレベル(欠陥としてのレベル)の信号を出力した
り、出力しなかったりすることがあるためである。即
ち、上述したように、不定期に特異なレベルの信号を出
力する画素が欠陥検出時において、正常なレベルの信号
を出力していた場合に、その画素が正常な画素だとして
判断されてしまう。また、欠陥画素の検出を1回しか行
わないと雑音等によって正常なレベルの信号を出力する
画素が欠陥画素であると誤検出した場合にそのデータが
いつまでも残ってしまう。本例においては、この不定期
なレベルの信号を出力する画素をも欠陥画素として補正
できるようにする。また、このようにすれば、映像信号
中に突発的に混入したノイズを欠陥画素として誤検出し
てしまうことはない。
出されなかった回数で、本例においては或画素が例えば
10回欠陥として検出されなかった場合にこの画素を欠
陥画素としないようにする。このようにするのは、或画
素が、フィールド毎、或はフレーム毎、或は不定期に特
異なレベル(欠陥としてのレベル)の信号を出力した
り、出力しなかったりすることがあるためである。即
ち、上述したように、不定期に特異なレベルの信号を出
力する画素が欠陥検出時において、正常なレベルの信号
を出力していた場合に、その画素が正常な画素だとして
判断されてしまう。また、欠陥画素の検出を1回しか行
わないと雑音等によって正常なレベルの信号を出力する
画素が欠陥画素であると誤検出した場合にそのデータが
いつまでも残ってしまう。本例においては、この不定期
なレベルの信号を出力する画素をも欠陥画素として補正
できるようにする。また、このようにすれば、映像信号
中に突発的に混入したノイズを欠陥画素として誤検出し
てしまうことはない。
【手続補正31】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0075
【補正方法】変更
【補正内容】
【0075】また主レジスタ70r、70r+1、・・
・・70r+nに格納されている情報は、今回欠陥画素
の検出を開始する前、即ち、現在の時点で欠陥と判断さ
れている画素の情報である。
・・70r+nに格納されている情報は、今回欠陥画素
の検出を開始する前、即ち、現在の時点で欠陥と判断さ
れている画素の情報である。
【手続補正32】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0076
【補正方法】変更
【補正内容】
【0076】72r、72r+1、・・・・72r+n
は夫々補助レジスタで、これら補助レジスタ72r、7
2r+1、・・・・72r+nは、水平アドレスの格納
されるエリア、垂直アドレスが格納されるエリア、第何
フィールドかを示すフィールドフラグが格納されるエリ
ア、チャンネル情報(Rch、Gch及びBch情報)
が格納されるエリア、及び時歴データが格納されるエリ
ア等で構成される。これらの各エリアに格納される情報
は欠陥画素に対応した情報で、欠陥画素の検出開始前
に、上述の主レジスタ70r、70r+1、・・・・7
0r+nに格納された現在の時点で欠陥と判断されてい
る欠陥画素の情報が補助レジスタ72r、72r+1、
72r+2、・・・・72r+nに夫々転送される。
は夫々補助レジスタで、これら補助レジスタ72r、7
2r+1、・・・・72r+nは、水平アドレスの格納
されるエリア、垂直アドレスが格納されるエリア、第何
フィールドかを示すフィールドフラグが格納されるエリ
ア、チャンネル情報(Rch、Gch及びBch情報)
が格納されるエリア、及び時歴データが格納されるエリ
ア等で構成される。これらの各エリアに格納される情報
は欠陥画素に対応した情報で、欠陥画素の検出開始前
に、上述の主レジスタ70r、70r+1、・・・・7
0r+nに格納された現在の時点で欠陥と判断されてい
る欠陥画素の情報が補助レジスタ72r、72r+1、
72r+2、・・・・72r+nに夫々転送される。
【手続補正33】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0077
【補正方法】変更
【補正内容】
【0077】71c、71c+1、・・・・71c+n
は夫々コンパレータで、データセレクタ73から順次読
みだされた補助レジスタ72r、72r+1、・・・・
72r+nからの欠陥画素情報と主レジスタ70r、7
0r+1、・・・・70r+nからの位置情報の一致を
検出し、例えばこの検出結果をシステムコントローラ4
に転送する。
は夫々コンパレータで、データセレクタ73から順次読
みだされた補助レジスタ72r、72r+1、・・・・
72r+nからの欠陥画素情報と主レジスタ70r、7
0r+1、・・・・70r+nからの位置情報の一致を
検出し、例えばこの検出結果をシステムコントローラ4
に転送する。
【手続補正34】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0079
【補正方法】変更
【補正内容】
【0079】図11には現時点で欠陥と判断されている
画素情報が主レジスタ70r、70r+1、70r+
2、・・・・70r+nに格納されている。主レジスタ
70rのアドレスエリアにはアドレス(x、x)なる欠
陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには時
歴データ“8”が格納されている。また、主レジスタ7
0r+1のアドレスエリアにはアドレス(y、y)なる
欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには
時歴データ“3”が格納されている。また、主レジスタ
70r+2のアドレスエリアにはアドレス(z、z)な
る欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアに
は時歴データ“0”が格納されている。
画素情報が主レジスタ70r、70r+1、70r+
2、・・・・70r+nに格納されている。主レジスタ
70rのアドレスエリアにはアドレス(x、x)なる欠
陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには時
歴データ“8”が格納されている。また、主レジスタ7
0r+1のアドレスエリアにはアドレス(y、y)なる
欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアには
時歴データ“3”が格納されている。また、主レジスタ
70r+2のアドレスエリアにはアドレス(z、z)な
る欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアに
は時歴データ“0”が格納されている。
【手続補正35】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0081
【補正方法】変更
【補正内容】
【0081】先ず検出を行う前に、システムコントロー
ラ4からの制御信号により、主レジスタ70r、70r
+1、70r+2、70r+3、・・・・70r+nの
内容を夫々図12に示すように補助レジスタ72r、7
2r+1、72r+2、72r+3、・・・・72r+
nに転送し、この後主レジスタ70r、70r+1、7
0r+2、70r+3、・・・・70r+nの各内容を
夫々クリアする。
ラ4からの制御信号により、主レジスタ70r、70r
+1、70r+2、70r+3、・・・・70r+nの
内容を夫々図12に示すように補助レジスタ72r、7
2r+1、72r+2、72r+3、・・・・72r+
nに転送し、この後主レジスタ70r、70r+1、7
0r+2、70r+3、・・・・70r+nの各内容を
夫々クリアする。
【手続補正36】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0082
【補正方法】変更
【補正内容】
【0082】また、図11〜図18の各図中においてア
ドレスの欄が空白とされているところは画素の情報が格
納されていないクリアされた状態を示す。
ドレスの欄が空白とされているところは画素の情報が格
納されていないクリアされた状態を示す。
【手続補正37】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0083
【補正方法】変更
【補正内容】
【0083】さて、主レジスタ70r、70r+1、7
0r+2、70r+3、・・・・70r+nの内容をク
リアした後、システムコントローラ4の制御により、欠
陥画素の検出が行われ、欠陥と判断された画素の情報が
主レジスタ70r、70r+1、70r+2、70r+
3、・・・・70r+nに夫々格納される。この場合の
例を図13に示す。この図13に示すように、主レジス
タ70rのアドレスエリアにはアドレス(x、x)なる
欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアに
は、例えば時歴データ“10”が格納される。また、主
レジスタ70r+1のアドレスエリアにはアドレス
(v、v)なる欠陥画素のアドレスデータが格納され、
時歴エリアには、例えば時歴データ“10”が格納され
る。尚、図示は省略するも、これら欠陥画素のアドレス
データや時歴データ以外の他の情報も同様に格納され
る。
0r+2、70r+3、・・・・70r+nの内容をク
リアした後、システムコントローラ4の制御により、欠
陥画素の検出が行われ、欠陥と判断された画素の情報が
主レジスタ70r、70r+1、70r+2、70r+
3、・・・・70r+nに夫々格納される。この場合の
例を図13に示す。この図13に示すように、主レジス
タ70rのアドレスエリアにはアドレス(x、x)なる
欠陥画素のアドレスデータが格納され、時歴エリアに
は、例えば時歴データ“10”が格納される。また、主
レジスタ70r+1のアドレスエリアにはアドレス
(v、v)なる欠陥画素のアドレスデータが格納され、
時歴エリアには、例えば時歴データ“10”が格納され
る。尚、図示は省略するも、これら欠陥画素のアドレス
データや時歴データ以外の他の情報も同様に格納され
る。
【手続補正38】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0084
【補正方法】変更
【補正内容】
【0084】次に、図14に斜線の信号ラインで示すよ
うに、補助レジスタ72rの内容がデータセレクタ73
によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の情報
がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、71
c+3、・・・・71c+nに夫々供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71c+
3、・・・・71c+nにおいて、主レジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。そして、補助レジスタ72r、72r+1、72r
+2、72r+3、・・・・72r+nに読み出された
欠陥画素のアドレスと主レジスタ70r、70r+1、
70r+2、70r+3、・・・・70r+nに格納さ
れている欠陥画素のアドレスとの一致、不一致を判断す
る。尚、この際に水平アドレス、垂直アドレスの両方が
一致していることが必要である。また、チャンネルデー
タについても一致している必要があることは言うまでも
ない。
うに、補助レジスタ72rの内容がデータセレクタ73
によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の情報
がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、71
c+3、・・・・71c+nに夫々供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71c+
3、・・・・71c+nにおいて、主レジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。そして、補助レジスタ72r、72r+1、72r
+2、72r+3、・・・・72r+nに読み出された
欠陥画素のアドレスと主レジスタ70r、70r+1、
70r+2、70r+3、・・・・70r+nに格納さ
れている欠陥画素のアドレスとの一致、不一致を判断す
る。尚、この際に水平アドレス、垂直アドレスの両方が
一致していることが必要である。また、チャンネルデー
タについても一致している必要があることは言うまでも
ない。
【手続補正39】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0085
【補正方法】変更
【補正内容】
【0085】この図14の例では、補助レジスタ72r
に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータが主
レジスタ70rに格納されている欠陥画素の情報のアド
レスデータ(図示せずともチャンネルデータも同様であ
る)と一致しているので、コンパレータ71cが検出結
果に対応した信号を例えばシステムコントローラ4に供
給する。
に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータが主
レジスタ70rに格納されている欠陥画素の情報のアド
レスデータ(図示せずともチャンネルデータも同様であ
る)と一致しているので、コンパレータ71cが検出結
果に対応した信号を例えばシステムコントローラ4に供
給する。
【手続補正40】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0086
【補正方法】変更
【補正内容】
【0086】次に、図15に斜線の信号ラインで示すよ
うに、補助レジスタ72r+1の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71c+
3、・・・・71c+nにおいて、主レジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。
うに、補助レジスタ72r+1の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71c+
3、・・・・71c+nにおいて、主レジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。
【手続補正41】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0087
【補正方法】変更
【補正内容】
【0087】この図15の例では、補助レジスタ72r
+1に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
が主レジスタ70r、70r+1、70r+2、70r
+3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画
素の情報のアドレスデータと何れも一致していないの
で、コンパレータ71c、71c+1、71c+2、7
1c+3、・・・・71c+nが何れも反応しない。ま
たこのとき、補助レジスタ72r+1の時歴エリアに格
納されている時歴データは“3”であるが、この補助レ
ジスタ72r+1に格納されている時歴データ“3”か
ら“1”を減算してこの時歴データを“2”にし、この
補助レジスタ72r+1に格納されている欠陥画素の情
報(時歴データのみ“2”にしてある)を未使用の主レ
ジスタ70r+2、70r+3、・・・・70r+nの
何れかに格納する。この場合は図16に斜線の信号ライ
ンで示すように、未使用の主レジスタ70r+2に格納
する。
+1に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
が主レジスタ70r、70r+1、70r+2、70r
+3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画
素の情報のアドレスデータと何れも一致していないの
で、コンパレータ71c、71c+1、71c+2、7
1c+3、・・・・71c+nが何れも反応しない。ま
たこのとき、補助レジスタ72r+1の時歴エリアに格
納されている時歴データは“3”であるが、この補助レ
ジスタ72r+1に格納されている時歴データ“3”か
ら“1”を減算してこの時歴データを“2”にし、この
補助レジスタ72r+1に格納されている欠陥画素の情
報(時歴データのみ“2”にしてある)を未使用の主レ
ジスタ70r+2、70r+3、・・・・70r+nの
何れかに格納する。この場合は図16に斜線の信号ライ
ンで示すように、未使用の主レジスタ70r+2に格納
する。
【手続補正42】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0088
【補正方法】変更
【補正内容】
【0088】次に、図17に斜線の信号ラインで示すよ
うに、補助レジスタ72r+2の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71c+
3、・・・・71c+nにおいて、主レジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。
うに、補助レジスタ72r+2の内容がデータセレクタ
73によって読みだされ、この読みだされた欠陥画素の
情報がコンパレータ71c、71c+1、71c+2、
71c+3、・・・・71c+nに供給され、これらコ
ンパレータ71c、71c+1、71c+2、71c+
3、・・・・71c+nにおいて、主レジスタ70r、
70r+1、70r+2、70r+3、・・・・70r
+nから読みだされた欠陥画素の情報と順次比較され
る。
【手続補正43】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0089
【補正方法】変更
【補正内容】
【0089】この図17の例では、補助レジスタ72r
+2に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
が主レジスタ70r、70r+1、70r+2、70r
+3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画
素の情報のアドレスデータと何れも一致していないの
で、コンパレータ71c、71c+1、71c+2、7
1c+3、・・・・71c+nが何れも反応しない。ま
たこのとき、補助レジスタ72r+2の時歴エリアに格
納されている時歴データは“0”となっている。これ
は、欠陥画素としてレジスタに記憶されていた画素が、
10回連続して欠陥画素として検出されなかったことを
表す。この場合は、この欠陥画素のデータを主レジスタ
70r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・
・70r+nに転送しない。
+2に格納されている欠陥画素の情報のアドレスデータ
が主レジスタ70r、70r+1、70r+2、70r
+3、・・・・70r+nに夫々格納されている欠陥画
素の情報のアドレスデータと何れも一致していないの
で、コンパレータ71c、71c+1、71c+2、7
1c+3、・・・・71c+nが何れも反応しない。ま
たこのとき、補助レジスタ72r+2の時歴エリアに格
納されている時歴データは“0”となっている。これ
は、欠陥画素としてレジスタに記憶されていた画素が、
10回連続して欠陥画素として検出されなかったことを
表す。この場合は、この欠陥画素のデータを主レジスタ
70r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・
・70r+nに転送しない。
【手続補正44】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0090
【補正方法】変更
【補正内容】
【0090】そして、次の欠陥検出時に主レジスタ70
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nのデータが補助レジスタ72r、72r+1、
72r+2、72r+3、・・・・72r+nに転送さ
れ、補助レジスタ72r、72r+1、72r+2、7
2r+3、・・・・72r+nの内容が書き換えられる
ため、10回連続して欠陥画素として検出されなかった
画素はレジスタから消去される。即ち、この場合アドレ
スデータ(z、z)で表される欠陥画素のデータが消去
されることになる。
r、70r+1、70r+2、70r+3、・・・・7
0r+nのデータが補助レジスタ72r、72r+1、
72r+2、72r+3、・・・・72r+nに転送さ
れ、補助レジスタ72r、72r+1、72r+2、7
2r+3、・・・・72r+nの内容が書き換えられる
ため、10回連続して欠陥画素として検出されなかった
画素はレジスタから消去される。即ち、この場合アドレ
スデータ(z、z)で表される欠陥画素のデータが消去
されることになる。
【手続補正45】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0091
【補正方法】変更
【補正内容】
【0091】このように、例えば或検出時に一旦欠陥と
判断された画素について検出期間内や検出毎に例えば連
続で10回欠陥と判断されなかった場合に、その対応画
素を欠陥画素として判断してしまうことがなく、また、
ノイズの混入によって欠陥画素と誤まって判断してしま
うことがない。
判断された画素について検出期間内や検出毎に例えば連
続で10回欠陥と判断されなかった場合に、その対応画
素を欠陥画素として判断してしまうことがなく、また、
ノイズの混入によって欠陥画素と誤まって判断してしま
うことがない。
【手続補正46】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0101
【補正方法】変更
【補正内容】
【0101】次に、図1に示した補正制御回路15につ
いて説明する。本例においては、図1に示した補正制御
回路15が、温度センサ7からの温度データに基いてシ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給し、CCD2における電荷の蓄積時
間をN倍の範囲内で可変するようにする。
いて説明する。本例においては、図1に示した補正制御
回路15が、温度センサ7からの温度データに基いてシ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給し、CCD2における電荷の蓄積時
間をN倍の範囲内で可変するようにする。
【手続補正47】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0102
【補正方法】変更
【補正内容】
【0102】即ち、CCDの温度が所定温度以下のとき
に、CCDに供給するセンサ−ゲートパルスを数フィー
ルドに1回として通常よりも間引くことにより、電荷の
蓄積時間を長くする。これによって出力される映像信号
は数フィールドに1回となるが、欠陥画素の検出モード
であるため、何の問題もない。
に、CCDに供給するセンサ−ゲートパルスを数フィー
ルドに1回として通常よりも間引くことにより、電荷の
蓄積時間を長くする。これによって出力される映像信号
は数フィールドに1回となるが、欠陥画素の検出モード
であるため、何の問題もない。
【手続補正48】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0103
【補正方法】変更
【補正内容】
【0103】従って、本例においては、補正制御回路1
5が温度センサ7からシステムコントローラ4を介して
供給される(尚、温度センサ7または検出前処理回路2
1から直接供給されるようにしても良い)温度データを
検出し、温度が低いときには、その温度に対応して、シ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給してCCD2における電荷蓄積時間
を通常より長くさせ、温度が高い場合には通常のままと
する。
5が温度センサ7からシステムコントローラ4を介して
供給される(尚、温度センサ7または検出前処理回路2
1から直接供給されるようにしても良い)温度データを
検出し、温度が低いときには、その温度に対応して、シ
ステムコントローラ4を介してタイミングジェネレータ
5に制御信号を供給してCCD2における電荷蓄積時間
を通常より長くさせ、温度が高い場合には通常のままと
する。
【手続補正49】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0104
【補正方法】変更
【補正内容】
【0104】このようにすると、CCD2が低温下で使
用されたり、また、電源投入直後でCCD2が低温であ
っても出力のS/Nが劣化することなく、これによって
検出精度を向上させ、良好な欠陥画素検出を行うことが
できると共に、より広い温度条件下(外気温、CCD2
自体の温度)のもとでの検出を行うことができる。
用されたり、また、電源投入直後でCCD2が低温であ
っても出力のS/Nが劣化することなく、これによって
検出精度を向上させ、良好な欠陥画素検出を行うことが
できると共に、より広い温度条件下(外気温、CCD2
自体の温度)のもとでの検出を行うことができる。
【手続補正50】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】符号の説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【符号の説明】 1 光学系 2 CCD 3 サンプリング回路 4 システムコントローラ 5 タイミングジェネレータ 6 水平/垂直カウンタ 7 温度センサ 8 パルスジェネレータ 9、10、11 加算回路 12 読み出し/書き込み回路 13 メモリ 14 レジスタ 15 補正制御回路 16 補正回路 20 スイッチ 21 検出前処理回路 22 検出回路
Claims (2)
- 【請求項1】 固体撮像素子の出力信号に基いて、前記
固体撮像素子の各画素の内、特異なレベルの信号を出力
する欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、 前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の位
置データを記憶する記憶手段と、 前記欠陥画素検出手段により、前記記憶手段に記憶され
た位置データに対応する画素が所定回数以上連続して欠
陥画素として検出されなかった際に、前記記憶手段に記
憶された位置データを消去するよう消去手段とを備えた
ことを特徴とする固体撮像素子の欠陥画素検出回路。 - 【請求項2】 固体撮像素子の出力信号に基いて、前記
固体撮像素子の各画素の内、特異なレベルの信号を出力
する欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、 前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の位
置データを記憶する第1及び第2の記憶手段と、 前記第2の記憶手段に記憶された位置データを順次選択
する選択手段と、 前記選択手段によって選択された位置データと、前記第
2の記憶手段に記憶された各位置データを夫々比較する
比較手段と、 前記位置データに関する時歴数を管理する時歴管理手段
とを備え、 欠陥画素検出動作の開始に先だって、前記第1の記憶手
段に記憶された位置データを前記第2の記憶手段に転送
し、その後前記欠陥画素検出手段によって新たに検出さ
れた欠陥画素に関する位置データを前記第1の記憶手段
に記憶し、前記第2の記憶手段に転送された位置データ
を順次前記選択手段によって選択して、前記比較手段に
よって前記第1の記憶手段に記憶された各位置データと
比較し、前記選択手段によって選択された位置データが
前記第1の記憶手段に新たに記憶された全ての位置デー
タと一致しなかった際に、前記選択手段によって選択さ
れた位置データの時歴数を変更して前記第1の記憶手段
に記憶させる制御手段と、 複数回に渡る前記欠陥画素検出動作において所定回数連
続して前記選択手段によって選択された位置データが前
記第1の記憶手段に記憶された全ての位置データに一致
せず、前記選択手段によって選択された位置データの時
歴数が所定数となった際に、その位置データを消去する
ようにしたことを特徴とする固体撮像素子の欠陥画素検
出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4058366A JPH05260385A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 固体撮像素子の欠陥画素検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4058366A JPH05260385A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 固体撮像素子の欠陥画素検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05260385A true JPH05260385A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=13082326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4058366A Pending JPH05260385A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 固体撮像素子の欠陥画素検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05260385A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0762741A2 (en) * | 1995-08-29 | 1997-03-12 | SANYO ELECTRIC Co., Ltd. | Solid state image pick-up device having a high precision defective pixel detecting circuit with low power consumption |
US6002433A (en) * | 1995-08-29 | 1999-12-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
JP2003298949A (ja) * | 2002-04-05 | 2003-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 点滅欠陥検出方法、映像補正方法及び固体撮像装置 |
JP2008244868A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-09 | Canon Inc | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム及び記憶媒体 |
-
1992
- 1992-03-16 JP JP4058366A patent/JPH05260385A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0762741A2 (en) * | 1995-08-29 | 1997-03-12 | SANYO ELECTRIC Co., Ltd. | Solid state image pick-up device having a high precision defective pixel detecting circuit with low power consumption |
EP0762741A3 (en) * | 1995-08-29 | 1998-02-04 | SANYO ELECTRIC Co., Ltd. | Solid state image pick-up device having a high precision defective pixel detecting circuit with low power consumption |
US5854655A (en) * | 1995-08-29 | 1998-12-29 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
US6002433A (en) * | 1995-08-29 | 1999-12-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
JP2003298949A (ja) * | 2002-04-05 | 2003-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 点滅欠陥検出方法、映像補正方法及び固体撮像装置 |
JP2008244868A (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-09 | Canon Inc | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム及び記憶媒体 |
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