JP2994213B2 - 空冷式システムの異常状態判断装置および異常状態判断方法 - Google Patents

空冷式システムの異常状態判断装置および異常状態判断方法

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JP2994213B2
JP2994213B2 JP6229320A JP22932094A JP2994213B2 JP 2994213 B2 JP2994213 B2 JP 2994213B2 JP 6229320 A JP6229320 A JP 6229320A JP 22932094 A JP22932094 A JP 22932094A JP 2994213 B2 JP2994213 B2 JP 2994213B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、送風されることで冷却
される電子部品群を内部に収容し、かつ、送風する空気
を取り入れるための取入れ口と、前記内部の空気を排出
するための排出口とが形成された筐体を有する空冷式シ
ステムの異常状態判断装置および異常状態判断方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子計算機に用いられる電子部品
(例えば、ICやLSI)は、面積当たりの発熱量が大
きくなってきており、強制的に冷却する必要が出てきて
いる。その冷却方法の一つとしては、図3に示すような
ものがある。図3では、電子計算機101の筐体104
の内部に送風機108、109を備え、これを用いて基
板103上の電子部品を冷却している。筐体104に
は、送風する空気を取り入れるための取入れ口106、
107と、筐体内部の空気を排出するための排出口12
2が形成されている。そして、送風機108、109が
作動すると、取入口106、107から空気が吸い込ま
れ、当該空気は、前記電子部品の熱を奪ったのち、排出
口122から排出される。また、電子計算機によって
は、図3に示すような、金網(以下、パンチングメタル
と呼ぶ)110、111を設けているものもある。これ
らのパンチングメタルは、筐体内に埃や塵が入り込まな
いようフィルタの役目を果たす。また、特に、下方のパ
ンチングメタル110については、漏電等による火災が
発生したときに、燃焼物が床に落下しないようこれを受
け止める。
【0003】ところで、前述したICやLSIは、自身
を含め周囲の温度が高くなると、正常な動作をしなくな
る。つまり、電子計算機の稼働中、何らかの原因で筐体
内の温度が上昇した場合、電子計算機の機能が停止して
しまうことになる。もちろん、温度上昇が進めば、計算
機能が停止するだけでなく、各種電子部品の破損にもつ
ながる。
【0004】したがって、従来では、電子計算機内部に
温度センサを取付けて、筐体内部の温度上昇を監視する
方法がとられていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の方法では、電子計算機外部の温度によって、その計
測値が左右されてしまい、正確な判断が難しかった。ま
た、筐体内部の温度上昇を知ることはできても、その原
因を突き止めるためには、人の手に頼らざるを得なかっ
た。
【0006】例えば、筐体内の温度上昇の原因の一つと
しては、前述のパンチングメタルの目詰まりがあるが、
これを確認するための作業は困難であった。具体的に
は、図3のパンチングメタル110の目詰まり具合を確
認する場合、接続ケ−ブル等が確認作業の邪魔になって
いた。また、専用の覗き眼鏡を用いた場合でも、その視
野が限られてしまっていた。
【0007】このような問題点を考慮して、本発明の目
的は、送風されることで冷却される電子部品群を内部に
収容する筐体を有する空冷式システムにおいて、その筐
体内部で発生する異常状態を判断する異常状態判断装置
および異常状態判断方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めの第1の態様によれば、送風されることで冷却される
電子部品群を内部に収容し、かつ、送風する空気を取り
入れるための取入れ口と、前記内部の空気を排出するた
めの排出口とが形成された筐体を有する空冷式システム
の、前記取入れ口から取り入れられる空気の温度、およ
び、前記排出口から排出される空気の温度のそれぞれを
測定する2つの温度測定器と、前記2つの温度測定器の
それぞれが測定した温度の差(以下、測定温度差と呼
ぶ)を求める温度差算出部と、前記測定温度差の上限値
となる温度差(以下、上限温度差と呼ぶ)を示す情報を
記憶する記憶部と、前記温度差算出部で求めた測定温度
差が前記上限温度差よりも大きいか否かを判定し、前記
測定温度差が前記上限温度差よりも大きいと判定した場
合には、警告出力を行う異常状態判断部とを備えること
を特徴とする異常状態判断装置が提供される。
【0009】上記問題点を解決するための第2の態様に
よれば、送風されることで冷却される電子部品群を内部
に収容し、かつ、送風する空気を取り入れるための取入
れ口と、前記内部の空気を排出するための排出口とが形
成された筐体を有する空冷式システムの、前記取入れ口
から取り入れられる空気の温度、および、前記排出口か
ら排出される空気の温度のそれぞれを測定する2つの温
度測定器と、前記2つの温度測定器のそれぞれが測定し
た温度の差(以下、測定温度差と呼ぶ)を求める温度差
算出部と、前記温度差算出部で求めた測定温度差の変化
の度合いから、前記筐体内部で発生した異常状態の内容
を判断する異常状態判断部と、前記異常状態判断部で判
断された異常状態の内容を示す情報を出力する出力部と
を備えることを特徴とする異常状態判断装置が提供され
る。
【0010】上記問題点を解決するための第3の態様に
よれば、第2の態様において、与えられた指示にしたが
って時間計測を開始する計時部と、前記測定温度差の上
限値となる温度差(以下、上限温度差と呼ぶ)を示す情
報、および、前記計時部の計測時間に対応する、予め定
めた複数の前記異常状態の内容を示す情報を記憶する記
憶部とをさらに備え、前記異常状態判断部は、前記温度
差算出部で求めた測定温度差が前記上限温度差よりも大
きいか否かを判定し、前記測定温度差が前記上限温度差
よりも大きいと判定した場合には、前記計時部が時間計
測を開始した時点から、当該判定を行った時点までの、
前記計時部の計測時間を求め、求めた計測時間に対応す
る異常状態の内容を、前記複数の異常状態の内容の中か
ら選択することを特徴とする異常状態判断装置が提供さ
れる。
【0011】上記問題点を解決するための第4の態様に
よれば、第3の態様において、前記記憶部は、前記測定
温度差の基準となる温度差(以下、基準温度差と呼ぶ)
を示す情報をさらに記憶し、前記異常状態判断部は、前
記温度差算出部で求めた測定温度差が前記基準温度差よ
りも大きいか否かを判定し、前記測定温度差が前記基準
温度差よりも大きいと判定した場合には、前記計時部に
時間計測を開始するよう指示を与えることを特徴とする
異常状態判断装置が提供される。
【0012】上記問題点を解決するための第5の態様に
よれば、第2、第3、または、第4の態様において、前
記温度差算出部で求めた測定温度差を前記記憶部に順次
記憶し、与えられた指示にしたがって、前記記憶部に記
憶されている複数の測定温度差を時系列的に前記出力部
に出力させる手段をさらに備えることを特徴とする異常
状態判断装置が提供される。
【0013】上記問題点を解決するための第6の態様に
よれば、送風されることで冷却される電子部品群を内部
に収容し、かつ、送風する空気を取り入れるための取入
れ口と、前記内部の空気を排出するための排出口とが形
成された筐体を有する空冷式システムの、前記取入れ口
から取り入れられる空気の温度、および、前記排出口か
ら排出される空気の温度のそれぞれを測定し、測定した
それぞれの温度の差(以下、測定温度差と呼ぶ)を求
め、求めた測定温度差の変化の度合いから、前記筐体内
部で発生した異常状態の内容を判断し、判断した異常状
態の内容を示す情報を出力することを特徴とする異常状
態判断方法が提供される。
【0014】
【作用】前記第1の態様によれば、前記2つの温度測定
器のうちの一方は、前記取入れ口から取り入れられる空
気の温度を測定し、他方は、前記排出口から排出される
空気の温度のそれぞれを測定する。前記温度差算出部
は、前記2つの温度測定器のそれぞれが測定した温度の
差(以下、測定温度差と呼ぶ)を求める。前記記憶部
は、前記測定温度差の上限値となる温度差(以下、上限
温度差と呼ぶ)を示す情報を記憶する。前記異常状態判
断部は、前記温度差算出部で求めた測定温度差が前記上
限温度差よりも大きいか否かを判定し、前記測定温度差
が前記上限温度差よりも大きいと判定した場合には、警
告出力を行う。
【0015】前記第2の態様によれば、前記2つの温度
測定器のうちの一方は、前記取入れ口から取り入れられ
る空気の温度を測定し、他方は、前記排出口から排出さ
れる空気の温度のそれぞれを測定する。前記温度差算出
部は、前記2つの温度測定器のそれぞれが測定した温度
の差(以下、測定温度差と呼ぶ)を求める。前記異常状
態判断部は、前記温度差算出部で求めた測定温度差の変
化の度合いから、前記筐体内部で発生した異常状態の内
容を判断する。前記出力部は、前記異常状態判断部で判
断された異常状態の内容を示す情報を出力する。
【0016】前記第3の態様によれば、前記計時部は、
与えられた指示にしたがって時間計測を開始する。前記
記憶部は、前記測定温度差の上限値となる温度差(以
下、上限温度差と呼ぶ)を示す情報、および、前記計時
部の計測時間に対応する、予め定めた複数の前記異常状
態の内容を示す情報を記憶する。前記異常状態判断部
は、前記温度差算出部で求めた測定温度差が前記上限温
度差よりも大きいか否かを判定し、前記測定温度差が前
記上限温度差よりも大きいと判定した場合には、前記計
時部が時間計測を開始した時点から、当該判定を行った
時点までの、前記計時部の計測時間を求め、求めた計測
時間に対応する異常状態の内容を、前記複数の異常状態
の内容の中から選択する。
【0017】前記第4の態様によれば、前記記憶部は、
前記測定温度差の基準となる温度差(以下、基準温度差
と呼ぶ)を示す情報をさらに記憶する。前記異常状態判
断部は、前記温度差算出部で求めた測定温度差が前記基
準温度差よりも大きいか否かを判定し、前記測定温度差
が前記基準温度差よりも大きいと判定した場合には、前
記計時部に時間計測を開始するよう指示を与える。
【0018】前記第5の態様によれば、前記温度差算出
部で求めた測定温度差を前記記憶部に順次記憶し、与え
られた指示にしたがって、前記記憶部に記憶されている
複数の測定温度差を時系列的に前記出力部に出力させ
る。
【0019】前記第6の態様によれば、前記取入れ口か
ら取り入れられる空気の温度、および、前記排出口から
排出される空気の温度のそれぞれを測定し、測定したそ
れぞれの温度の差(以下、測定温度差と呼ぶ)を求め、
求めた測定温度差の変化の度合いから、前記筐体内部で
発生した異常状態の内容を判断し、判断した異常状態の
内容を示す情報を出力する。
【0020】
【実施例】以下、本発明に係る異常状態判断装置を、空
冷式の電子計算機に適用した場合の実施例について説明
する。
【0021】図1には、空冷式の電子計算機1と、本実
施例の異常状態判断装置2とが示されている。当該電子
計算機1は、電子部品群(例えば、基板3に設けれらた
IC、LSI等)を内部に収容する筐体4を有して構成
されている。筐体3の脚は、床5に固定されている。ま
た、筐体4の脚の側面部には、筐体4の内部に空気を取
り入れるための取入れ口6、7が形成されている。な
お、電子計算機によっては、当該取入れ口が電子計算機
の真下に位置する床5に設けられているものもある。こ
の場合、床下を流れる空気が、筐体内部に取り入れられ
る。
【0022】筐体4の内部には、電子部品群のほか、当
該電子部品群に向かって送風する送風機8、9と、送風
機8、9と床5との間に配置された金網(以下、パンチ
ングメタルと呼ぶ)10とが設けられている。なお、こ
のパンチングメタルは、筐体内部の空気を外へ排出する
ための排出口22にも設けられている(図1のパンチン
グメタル11)。
【0023】送風機8、9のそれぞれには、図示しない
が、送風用のファンと、当該ファンを回転させるモ−タ
が設けられている。パンチングメタル10、11は、筐
体内部への埃や塵の侵入を防ぎ、また、パンチングメタ
ル10に関しては、筐体内部で漏電が発生した場合等の
火災物の落下による二次災害を防止する。
【0024】そして、当該空冷式電子計算機1は、送風
機8、9が作動すると、取入れ口6、7から空気が強制
的に吸込まれ、この空気は、これらの送風機によって前
記電子部品群に送風される。電子部品群を通過した空気
は、当該電子部品群が発する熱を奪うとともに、筐体内
部の上方に流れ、その後、前記排出口22から排出され
る。
【0025】異常状態判断装置2は、取入れ口6に吸い
込まれる空気の温度を測定する第1の温度測定器12
と、排出口22から排出される空気の温度を測定する第
2の温度測定器13と、これらの測定器の測定結果に基
づいて筐体内部の異常を検知し、その原因を判断する装
置本体14とから構成されている。第1の温度測定器1
2は、取入れ口6の側方に配置されている。第2の温度
測定器13は、排出口22の上方に配置されている。な
お、第2の温度測定器13が排出口22から離れ過ぎて
いると室温を測定しまうので、当該第2の温度測定器1
3は、これを考慮した位置に配される。また、各温度測
定器には、一般的な温度センサを用いることができる。
本実施例では、測定した温度に応じたアナログ信号を出
力する温度センサを用いている。
【0026】装置本体14は、A/D変換部15と、演
算制御部16と、記憶部17と、計時部18と、出力部
(本実施例では表示部)19とを備えている。A/D変
換部15は、各温度測定器からのアナログ信号をデジタ
ル信号に変換して演算制御部16に出力するものであ
る。演算制御部16は、2つの温度測定器のそれぞれが
測定した温度の差(以下、測定温度差と呼ぶ)を求める
温度差算出部20と、当該温度差算出部20で求めた測
定温度差の変化の度合いから、筐体内部で発生した異常
状態の内容を判断する異常状態判断部21とを備えてい
る。記憶部17には、前記測定温度差の上限値となる温
度差(以下、上限温度差と呼ぶ)を示す情報や予め定め
た複数の、前記筐体内部の異常状態の内容を示す情報等
が記憶されている。計時部18は、与えられた指示にし
たがって時間計測を開始するもので、例えば、所定の間
隔でクロックを発生させるクロック発生装置を有して構
成される。また、装置本体14は、図示されていない
が、計時部18に時間計測を開始させるための操作部材
も備えている。
【0027】演算制御部16は、例えば、CPUを用い
て構成される。記憶部17は、前述した情報のほか、前
記CPUが動作するために必要なプログラムやCPUの
動作時に生成される各種デ−タを記憶するための記憶素
子、例えば、ROM、RAMを用いて構成される。な
お、演算制御部16が有する各部は、前記CPUで所定
のプログラムが実行されることにより実現される。
【0028】ところで、前記温度差算出部20で求めら
れる測定温度差は、電子計算機1の通常の稼働状態で
は、一定となる値であるが、筐体内部に何らかの異常が
生じた場合、その異常状態の内容によっては、当該測定
温度差が大きくなることがある。測定温度差が大きくな
ることは、すなわち、筐体内部の温度の上昇を意味す
る。このような温度上昇が起こると、基板3上に設けら
れたICやLSIは、正常に動作しなくなる。例えば、
通常時の測定温度差が5°程度である場合、これが15
°程度になったときには、ICやLSIの動作異常が発
生することが考えられる。
【0029】測定温度差が大きくなる原因としては、図
1に示すような電子計算機の場合、例えば、パンチング
メタル10、11の目詰まりや、送風機8、9のモ−タ
の動作不良、そして、基板3上のIC、LSIの異常に
よる発熱等が挙げられる。そして、測定温度差の変化の
度合いは、これらの原因毎に異なっており、例えば、以
下のように分類することができる。
【0030】まず、パンチングメタルの目詰まりについ
て説明する。パンチングメタルの目詰まりは、通常、急
に発生するものではなく、パンチングメタルを清掃した
のち、徐々に進んでいく。したがって、測定温度差も、
この目詰まりにともなって、ゆるやかに大きくなってい
く。具体的には、通常の測定温度差から、ICやLSI
の動作異常が発生してしまう測定温度差になるまでに6
か月程度かかるものもある。また、送風機のモ−タの動
作不良においては、これよりも短く、1か月程度であ
る。一方、ICやLSI自体の異常よる発熱の場合は、
測定温度差が急激に変化し、数分で高温になる。もちろ
ん、このような測定温度差の変化の度合いは、計算機が
配置されている室内の状況や、計算機の構成によって異
なるものである。
【0031】そして、前述した、記憶部17に記憶され
ている異常状態の内容を示す情報は、以上のような対応
関係に基づいて決定されている。すなわち、測定温度差
が、通常時の温度差から、測定温度差の上限値となる上
限温度差(LSIやICが動作異常を起こすことが予想
される温度差よりも若干低い温度差)に達するまでの所
要時間と、それに対応する異常状態の内容との関係を定
義している。もちろん、電子計算機の構成によっては、
上記以外の原因も考えられるので、当該異常状態に関す
る情報は、これを考慮して決定される。
【0032】つぎに、図1および図2を用いて、本実施
例の異常状態判断装置の動作について説明する。
【0033】まず、図2のS101において、計時部1
8に時間計測を開始させる。具体的には、前記操作部材
による操作を受け付けて、計時部18に時間計測を開始
させる。一方、第1の温度測定器12は、取入れ口6に
吸い込まれる空気の温度を測定して、測定結果をアナロ
グ信号として出力する。また、第2の温度測定器13
は、排出口22から排出される空気の温度を測定して、
測定結果をアナログ信号として出力する。S102にお
いて、温度差算出部20は、A/D変換部15を介し
て、これらを取り込み、測定温度差を求める。S103
において、異常状態判断部21は、この測定温度差が記
憶部17に記憶されている上限温度差よりも大きいか否
かを判定する。なお、この上限温度差は、電子計算機が
配置されている環境や当該電子計算機の特性を考慮し
て、各種ICが動作不良を起こすことが予想される温度
よりも低い温度に予め設定されている。
【0034】そして、前記測定温度差が前記上限温度差
よりも大きいと判定した場合には、異常状態判断部21
は、S104において、計時部18が時間計測を開始し
た時点から、当該判定を行った時点までの、前記計時部
の計測時間を求め、S105において、求めた計測時間
に対応する異常状態の内容を判断する。具体的には、記
憶部17に記憶されている、異常状態の内容を示す情報
を参照して、その中から、求めた計測時間に対応する異
常状態の内容(例えば、パンチングメタルの目詰まり)
を選び出す。そして、表示部19は、S106におい
て、異常状態の内容を示す情報を表示する。電子計算機
1の保守担当者は、この情報を見ることで、異常状態の
内容を確認することができる。すなわち、この異常状態
の内容に対する適切な処置(例えば、パンチングメタル
の清掃)を行うことができる。なお、S102、S10
3は、所定の周期で繰り返される処理である。
【0035】以上、本実施例の異常状態判断装置の動作
について記述したが、例えば、計時部18の時間計測を
自動的に開始させるように構成してもよい。具体的に
は、まず、前記記憶部17に、前記測定温度差の基準と
なる温度差(以下、基準温度差と呼ぶ)を予め記憶させ
る。その後、異常状態判断部21に、温度差算出部20
で求めた測定温度差が前記基準温度差よりも大きいか否
かを判定させる。そして、前記測定温度差が前記基準温
度差よりも大きいと判定された場合には、異常状態判断
部21に、計時部18の時間計測を開始させる。このよ
うに構成すれば、測定温度差が変化を開始した時点、す
なわち、電子計算機が稼働を開始してからの計測を行う
ことが可能である。
【0036】また、温度差算出部20で求めた測定温度
差を記憶部17に順次記憶し、与えられた指示にしたが
って、前記表示部19に、記憶部17に記憶されている
複数の測定温度差を時系列的に出力(例えば、折線グラ
フ表示)させるように構成してもよい。
【0037】また、本発明に係る異常状態判断装置は、
前述したように、2つの温度測定器の測定温度差から異
常を検知している。つまり、計算機外部の温度に影響さ
れることがなく、検知精度が高まることになる。したが
って、異常状態判断装置に異常状態の内容の判断を行わ
せず、異常が発生したことを警告出力させるように構成
したとしても、十分な効果を発揮することができる。
【0038】
【発明の効果】本発明によれば、空冷式システムの筐体
内部の異常状態の発生を、システム外部の温度に影響さ
れずに精度よく検知することができる。さらに、その異
常状態の内容を判断することができる。したがって、異
常状態の内容に対応した適切な処理を行うことが可能で
ある。
【0039】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る空冷式システムの異常状態判断装
置に関する説明図。
【図2】本発明に係る空冷式システムの異常状態判断装
置に関するフロ−チャ−ト。
【図3】従来の空冷式システムに関する説明図
【符号の説明】
1、101:電子計算機、 2:異常状態判断装置、
3、103:基板、4、104:筐体、 5:床、
6、7、106、107:取入れ口、 8、9、10
8、109:送風機、 10、11、110、111:
パンチングメタル、 12:第1の温度測定器、 1
3:第2の温度測定器、 14:装置本体、15:A/
D変換部、 16:演算制御部、 17:記憶部、 1
8:計時部、 19:表示部、 20:温度差算出部、
21:異常状態判断部、 22、122:排出口、
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−123413(JP,A) 特開 昭64−61998(JP,A) 特開 昭62−211997(JP,A) 実開 平1−138113(JP,U) 実開 平1−91920(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 1/20 G06F 11/00 350 G06F 11/22 310 H05K 7/20 G05D 23/00 - 23/32

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】送風されることで冷却される電子部品群を
    内部に収容し、かつ、送風する空気を取り入れるための
    取入れ口と、前記内部の空気を排出するための排出口と
    が形成された筐体を有する空冷式システムの、前記取入
    れ口から取り入れられる空気の温度、および、前記排出
    口から排出される空気の温度のそれぞれを測定する2つ
    の温度測定器と、 前記2つの温度測定器のそれぞれが測定した温度の差
    (以下、測定温度差と呼ぶ)を求める温度差算出部と、 前記測定温度差の上限値となる温度差(以下、上限温度
    差と呼ぶ)を示す情報を記憶する記憶部と、 前記温度差算出部で求めた測定温度差が前記上限温度差
    よりも大きいか否かを判定し、前記測定温度差が前記上
    限温度差よりも大きいと判定した場合には、前記温度差
    算出部で求めた測定温度差の変化の度合いから、前記筐
    体内部で発生した異常状態の内容を判断する異常状態判
    断部と 前記異常状態判断部で判断された異常状態の内容を示す
    情報を出力する出力部と を備えることを特徴とする異常
    状態判断装置。
  2. 【請求項2】送風されることで冷却される電子部品群を
    内部に収容し、かつ、送風する空気を取り入れるための
    取入れ口と、前記内部の空気を排出するための排出口と
    が形成された筐体を有する空冷式システムの、前記取入
    れ口から取り入れられる空気の温度、および、前記排出
    口から排出される空気の温度のそれぞれを測定する2つ
    の温度測定器と、 前記2つの温度測定器のそれぞれが測定した温度の差
    (以下、測定温度差と呼ぶ)を求める温度差算出部と、 前記温度差算出部で求めた測定温度差の変化の度合いか
    ら、前記筐体内部で発生した異常状態の内容を判断する
    異常状態判断部と、 前記異常状態判断部で判断された異常状態の内容を示す
    情報を出力する出力部とを備えることを特徴とする異常
    状態判断装置。
  3. 【請求項3】空冷システムにおける冷却対象に送られる
    空気、冷却対象を通過した空気の温度差(以下、測
    定温度差という)を受け付ける手段と、 前記受け付けた測定温度差が、予め設定された上限温度
    差よりも大きいか否かを判定する手段と、 前記測定温度差が上限温度差よりも大きいと判定された
    場合には、前記測定温度差の変化の度合いを求める手段
    と、当該 変化の度合いから異常状態の内容を判断当該
    常状態の内容を示す情報を出力する手段と、 を備える ことを特徴とする異常状態判断装置。
  4. 【請求項4】空冷システムにおける冷却対象に送られる
    空気、冷却対象を通過した空気の温度差(以下、測
    定温度差という)を受け付ける手段と、 前記受け付けた測定温度差の変化の度合いを求める手段
    と、当該 変化の度合いから異常状態の内容を判断当該
    常状態の内容を示す情報を出力する手段と、を備える ことを特徴とする異常状態判断装置。
  5. 【請求項5】請求項1から4のいずれか一項記載の異常
    状態判断装置において、 前記温度差算出部で求めた測定温度差を前記記憶部に順
    次記憶し、与えられた指示にしたがって、前記記憶部に
    記憶されている複数の測定温度差を時系列的に前記出力
    部に出力させる手段をさらに備えることを特徴とする異
    常状態判断装置。
  6. 【請求項6】送風されることで冷却される電子部品群を
    内部に収容し、かつ、送風する空気を取り入れるための
    取入れ口と、前記内部の空気を排出するための排出口と
    が形成された筐体を有する空冷式システムの、前記取入
    れ口から取り入れられる空気の温度、および、前記排出
    口から排出される空気の温度のそれぞれを測定し、 測定したそれぞれの温度の差(以下、測定温度差と呼
    ぶ)を求め、 求めた測定温度差の変化の度合いから、前記筐体内部で
    発生した異常状態の内容を判断し、 判断した異常状態の内容を示す情報を出力することを特
    徴とする異常状態判断方法。
  7. 【請求項7】 送風されることで冷却される電子部品群を
    内部に収容し、かつ、送風する空気を取り入れるための
    取入れ口と、前記内部の空気を排出するための排出口と
    が形成された筐体を有する空冷式システムの、前記取入
    れ口から取り入れられる空気の温度、および、前記排出
    口から排出される空気の温度のそれぞれを測定し、 測定したそれぞれの温度の差(以下、測定温度差と呼
    ぶ)を求め、 前記測定温度差が、予め設定された上限温度差よりも大
    きいか否かを判定し、前記測定温度差が前記上限温度差
    よりも大きいと判定した場合には、前記測定温度差の変
    化の度合いを求め、求めた測定温度差の変化の度合いか
    ら、前記筐体内部で発生した異常状態の内容を判断し、
    前記判断した異常状態の内容を示す情報を出力すること
    を特徴とする異常状態判断方法。
  8. 【請求項8】 請求項1から5のいずれか一項記載の異常
    状態判断装置を備えることを特徴とする空冷システム。
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