JP2991566B2 - 磁場下物性測定装置 - Google Patents
磁場下物性測定装置Info
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- JP2991566B2 JP2991566B2 JP4112335A JP11233592A JP2991566B2 JP 2991566 B2 JP2991566 B2 JP 2991566B2 JP 4112335 A JP4112335 A JP 4112335A JP 11233592 A JP11233592 A JP 11233592A JP 2991566 B2 JP2991566 B2 JP 2991566B2
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- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
- Control Of Vehicles With Linear Motors And Vehicles That Are Magnetically Levitated (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、超電導コイルをコンパ
クト化でき、その結果装置全体を小型化し、体積・重量
の低減並びに材料費の大幅低減を図り、かつＨe 消費量
の低減を可能とする磁場下物性測定装置に関するもので
ある。
クト化でき、その結果装置全体を小型化し、体積・重量
の低減並びに材料費の大幅低減を図り、かつＨe 消費量
の低減を可能とする磁場下物性測定装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】磁場と温度をパラメ−タとして物性測定
を行う装置として、図１に示す如き磁場源としての超電
導コイル・クライオスタットａと、図２に示す試料冷却
用温度可変型クライオスタットｂの組合せによる磁場下
物性測定装置が製品化されている。これは磁場源用クラ
イオスタットの磁場発生部に室温空間ｃをもち、ここへ
試料冷却用温度可変型クライオスタットｂを挿入し、試
料の温度と磁場をパラメ−タとして物性測定できるもの
である。しかし、この構成では試料の寸法に比して磁場
源としての超電導コイルｄが大きく、それに比例して装
置全体が大きくなるという欠点がある。
を行う装置として、図１に示す如き磁場源としての超電
導コイル・クライオスタットａと、図２に示す試料冷却
用温度可変型クライオスタットｂの組合せによる磁場下
物性測定装置が製品化されている。これは磁場源用クラ
イオスタットの磁場発生部に室温空間ｃをもち、ここへ
試料冷却用温度可変型クライオスタットｂを挿入し、試
料の温度と磁場をパラメ−タとして物性測定できるもの
である。しかし、この構成では試料の寸法に比して磁場
源としての超電導コイルｄが大きく、それに比例して装
置全体が大きくなるという欠点がある。
【０００３】図１の磁場下物性測定装置では、超電導コ
イル・クライオスタットａからなる磁場源と図２に示す
試料冷却用温度可変型クライオスタットｂで構成され、
磁場発生部の室温空間ｃへ試料冷却用温度可変型クライ
オスタットｂの試料部ｅを挿入する構造である。この構
成によれば超電導コイルｄを液体ヘリウムｆで冷却した
まま、任意に測定用試料を交換し、測定効率を高くとる
ことができるという利点がある。そのために、試料冷却
用温度可変型クライオスタットｂは磁場源用クライオス
タットと真空容器が全く独立している。このため試料部
ｅにおいては、それぞれのクライオスタットの真空容
器、熱シ−ルド板が２重になり、それらの設置空間を確
保するために超電導コイルｄは大きくならざるを得ない
（理想的には試料部分のみに磁場が発生すれば良い）。
その結果装置全体が大きくなる傾向にある。
イル・クライオスタットａからなる磁場源と図２に示す
試料冷却用温度可変型クライオスタットｂで構成され、
磁場発生部の室温空間ｃへ試料冷却用温度可変型クライ
オスタットｂの試料部ｅを挿入する構造である。この構
成によれば超電導コイルｄを液体ヘリウムｆで冷却した
まま、任意に測定用試料を交換し、測定効率を高くとる
ことができるという利点がある。そのために、試料冷却
用温度可変型クライオスタットｂは磁場源用クライオス
タットと真空容器が全く独立している。このため試料部
ｅにおいては、それぞれのクライオスタットの真空容
器、熱シ−ルド板が２重になり、それらの設置空間を確
保するために超電導コイルｄは大きくならざるを得ない
（理想的には試料部分のみに磁場が発生すれば良い）。
その結果装置全体が大きくなる傾向にある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、超電導コイ
ルをコンパクト化でき、その結果装置全体を小型化して
体積・重量の低減、材料費の大幅低減を可能とし、かつ
Ｈe 消費量の少い磁場下物性測定装置を提供することを
目的とする。
ルをコンパクト化でき、その結果装置全体を小型化して
体積・重量の低減、材料費の大幅低減を可能とし、かつ
Ｈe 消費量の少い磁場下物性測定装置を提供することを
目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】磁場源用超電導コイル６
のクライオスタット真空容器２の磁場発生部に空間ｃを
設け、該空間ｃに試料冷却用温度可変型クライオスタッ
トｂを側方から挿入可能にし、前記磁場発生部空間ｃの
一端は真空フランジ板１１によって真空シールし、又磁
場発生部空間ｃの他端は試料冷却用温度可変型クライオ
スタットｂの真空弁７付きの真空フランジ管９によって
磁場発生部空間ｃ内を真空シール可能とし、物性測定時
には試料冷却用温度可変型クライオスタットｂのサンプ
ルホルダ１０の外側を覆うための真空容器を不要とし
た。又、磁場発生部空間ｃはリーク弁を兼ねる真空弁７
によって真空及び大気圧とに任意に変換可能とした。さ
らに、磁場源用超電導コイル２６の内側に空間ｃを設
け、又クライオスタットの真空容器２２の側面と、液体
ヘリウム容器２５を覆う熱シールド板２４の外側をさら
に覆う熱シールド板２３の側面とにサンプルホルダ３２
のついた冷凍機２８を挿入するための開口部を設け、真
空容器２２に設けた開口部ｃ´に、ベローズ付真空フラ
ンジ３０の一端をゲート弁３１を介して接続し、ベロー
ズ２９の他端には真空フランジ３０を介して冷凍機２８
を取付ける冷凍機側真空フランジ３５を取付け、超電導
コイル２６内の空間とベローズ２９内の空間とを前記ゲ
ート弁３１の開閉によって連通・分離可能にし、サンプ
ルホルダ３２内のサンプルは冷凍機２８とヒーターによ
って任意に温度設定可能にし、物性測定時には超電導コ
イル２６内の空間とベローズ２９内の空間とを連通さ
せ、該連通空間を真空容器構造とすることを可能とし
た。サンプル交換時はゲート板３１を閉め、超電導コイ
ル２６内に設けた空間ｃをベローズ２９内の空間から分
離した真空空間として、コイル側の真空断熱を保持し、
コイル冷却状態に影響しない構成とした。
のクライオスタット真空容器２の磁場発生部に空間ｃを
設け、該空間ｃに試料冷却用温度可変型クライオスタッ
トｂを側方から挿入可能にし、前記磁場発生部空間ｃの
一端は真空フランジ板１１によって真空シールし、又磁
場発生部空間ｃの他端は試料冷却用温度可変型クライオ
スタットｂの真空弁７付きの真空フランジ管９によって
磁場発生部空間ｃ内を真空シール可能とし、物性測定時
には試料冷却用温度可変型クライオスタットｂのサンプ
ルホルダ１０の外側を覆うための真空容器を不要とし
た。又、磁場発生部空間ｃはリーク弁を兼ねる真空弁７
によって真空及び大気圧とに任意に変換可能とした。さ
らに、磁場源用超電導コイル２６の内側に空間ｃを設
け、又クライオスタットの真空容器２２の側面と、液体
ヘリウム容器２５を覆う熱シールド板２４の外側をさら
に覆う熱シールド板２３の側面とにサンプルホルダ３２
のついた冷凍機２８を挿入するための開口部を設け、真
空容器２２に設けた開口部ｃ´に、ベローズ付真空フラ
ンジ３０の一端をゲート弁３１を介して接続し、ベロー
ズ２９の他端には真空フランジ３０を介して冷凍機２８
を取付ける冷凍機側真空フランジ３５を取付け、超電導
コイル２６内の空間とベローズ２９内の空間とを前記ゲ
ート弁３１の開閉によって連通・分離可能にし、サンプ
ルホルダ３２内のサンプルは冷凍機２８とヒーターによ
って任意に温度設定可能にし、物性測定時には超電導コ
イル２６内の空間とベローズ２９内の空間とを連通さ
せ、該連通空間を真空容器構造とすることを可能とし
た。サンプル交換時はゲート板３１を閉め、超電導コイ
ル２６内に設けた空間ｃをベローズ２９内の空間から分
離した真空空間として、コイル側の真空断熱を保持し、
コイル冷却状態に影響しない構成とした。
【０００６】
【実施例１】図３に本発明による磁場下物性測定装置の
一実施例を示す。磁場源用超電導コイル６のクライオス
タット真空容器２に磁場発生部空間ｃが設けられている
点は図１の場合と同じである。しかし本発明では空間ｃ
の一端が真空フランジ板１１によって真空シールされる
構造となっている。試料冷却用温度可変型クライオスタ
ットｂの熱シールド板１２の外側には真空容器を設け
ず、磁場源用クライオスタット真空容器２との間で真空
シールできる真空フランジ管９を設ける。このフランジ
管９には真空弁７（リーク弁を兼ねる）がついている。
試料の温度可変はＧＭ型冷凍機８による冷却とサンプル
ホルダー１０の付近に設置するヒーター（図示しない）
で行う点は図２と同じである。磁場源用クライオスタッ
トは磁場源用超電導コイル６の他、液体ヘリウム容器
５、液体ヘリウム容器を囲む２重の熱シールド板３，
４、電流リード１３により構成し、外部の励磁用電源１
から超電導コイル６へ通電して磁場をサンプルホルダ１
０の部位に発生できる構成となっている。
一実施例を示す。磁場源用超電導コイル６のクライオス
タット真空容器２に磁場発生部空間ｃが設けられている
点は図１の場合と同じである。しかし本発明では空間ｃ
の一端が真空フランジ板１１によって真空シールされる
構造となっている。試料冷却用温度可変型クライオスタ
ットｂの熱シールド板１２の外側には真空容器を設け
ず、磁場源用クライオスタット真空容器２との間で真空
シールできる真空フランジ管９を設ける。このフランジ
管９には真空弁７（リーク弁を兼ねる）がついている。
試料の温度可変はＧＭ型冷凍機８による冷却とサンプル
ホルダー１０の付近に設置するヒーター（図示しない）
で行う点は図２と同じである。磁場源用クライオスタッ
トは磁場源用超電導コイル６の他、液体ヘリウム容器
５、液体ヘリウム容器を囲む２重の熱シールド板３，
４、電流リード１３により構成し、外部の励磁用電源１
から超電導コイル６へ通電して磁場をサンプルホルダ１
０の部位に発生できる構成となっている。
【０００７】さて本実施例では図２の如くサンプルホル
ダー１０を囲繞する真空容器がない。このようにサンプ
ルホルダー１０を囲む真空容器を不要とすることによっ
て、真空容器分のスペースを減少でき、その分超電導コ
イル６の内径を小さくできる。また、サンプル交換のた
めにサンプル部を大気開放する場合に、図１の従来装置
と同様に超電導コイル６側クライオスタットに何ら影響
させずにでき、物性測定の効率は変らない。
ダー１０を囲繞する真空容器がない。このようにサンプ
ルホルダー１０を囲む真空容器を不要とすることによっ
て、真空容器分のスペースを減少でき、その分超電導コ
イル６の内径を小さくできる。また、サンプル交換のた
めにサンプル部を大気開放する場合に、図１の従来装置
と同様に超電導コイル６側クライオスタットに何ら影響
させずにでき、物性測定の効率は変らない。
【０００８】このような構成であって、物性測定の手順
は次のとおりである。 １）超電導コイル６を液体ヘリウムで冷却し、磁場発生
できる状態とする。 ２）サンプルホルダー１０にサンプルを置き、これを磁
場発生部空間ｃに挿入し、真空シールする。 ３）真空弁７で排気し、サンプル部を真空に保つ。 ４）ＧＭ冷凍機８を起動してサンプルを冷却し、サンプ
ルホルダー１０付近に設けたヒーター入力の調整によっ
てサンプルを所定の温度に保持する。 ５）超電導コイル６を励磁して所定の磁場を発生させ所
定の物性を測定する。
は次のとおりである。 １）超電導コイル６を液体ヘリウムで冷却し、磁場発生
できる状態とする。 ２）サンプルホルダー１０にサンプルを置き、これを磁
場発生部空間ｃに挿入し、真空シールする。 ３）真空弁７で排気し、サンプル部を真空に保つ。 ４）ＧＭ冷凍機８を起動してサンプルを冷却し、サンプ
ルホルダー１０付近に設けたヒーター入力の調整によっ
てサンプルを所定の温度に保持する。 ５）超電導コイル６を励磁して所定の磁場を発生させ所
定の物性を測定する。
【０００９】サンプル交換は次の手順による。 １）ＧＭ冷凍機８を停止し、サンプルを昇温させ室温ま
で戻す。 ２）真空弁７を開け磁場発生部空間を大気圧とする。 ３）真空フランジ管９をクライオスタット真空容器２か
らはずし、ＧＭ冷凍機８を抜き出し、サンプルを交換す
る。
で戻す。 ２）真空弁７を開け磁場発生部空間を大気圧とする。 ３）真空フランジ管９をクライオスタット真空容器２か
らはずし、ＧＭ冷凍機８を抜き出し、サンプルを交換す
る。
【００１０】
【実施例２】図４に本発明による磁場下物性測定装置の
第２実施例を示す。磁場源用超電導コイル２６を備えた
クライオスタット３３の真空容器２２と該真空容器２２
の内側にある熱シールド板２３内にサンプルホルダー３
２のついた冷凍機２８を側方から挿入するための開口部
ｃ´が設けられている。ただし熱シールド板２３の内側
には、コイル２６を入れた液体ヘリウム容器２５を囲む
形で熱シールド板２４が配置されている。上記の真空容
器２２の側面に設けた開口部ｃ´にはゲート弁３１を介
して真空フランジ３０のついたベローズ２９が取り付け
られている。３５は真空弁（リーク弁を兼ねる）２７を
備えた冷凍器側真空フランジである。
第２実施例を示す。磁場源用超電導コイル２６を備えた
クライオスタット３３の真空容器２２と該真空容器２２
の内側にある熱シールド板２３内にサンプルホルダー３
２のついた冷凍機２８を側方から挿入するための開口部
ｃ´が設けられている。ただし熱シールド板２３の内側
には、コイル２６を入れた液体ヘリウム容器２５を囲む
形で熱シールド板２４が配置されている。上記の真空容
器２２の側面に設けた開口部ｃ´にはゲート弁３１を介
して真空フランジ３０のついたベローズ２９が取り付け
られている。３５は真空弁（リーク弁を兼ねる）２７を
備えた冷凍器側真空フランジである。
【００１１】この構成により、ゲート弁３１を開くとコ
イル用クライオスタットの真空容器２２と、ベローズ２
９、真空フランジ３０及び冷凍機側真空フランジ３５に
よって真空空間が形成される。この真空空間は、図５に
示すようにベローズ２９を伸ばしてサンプルホルダー３
２がコイル側真空容器２２の開口部ｃ´より外側へ出た
状態で前記ゲート弁３１を閉じて、コイル側空間Ａとベ
ローズ側空間Ｂに分離できる。したがって、サンプル交
換の場合、コイル側の空間Ａは真空を保持したまま、ベ
ローズ２９内の空間Ｂをリーク弁を兼ねる真空弁２７に
よって大気と通ずることができる。
イル用クライオスタットの真空容器２２と、ベローズ２
９、真空フランジ３０及び冷凍機側真空フランジ３５に
よって真空空間が形成される。この真空空間は、図５に
示すようにベローズ２９を伸ばしてサンプルホルダー３
２がコイル側真空容器２２の開口部ｃ´より外側へ出た
状態で前記ゲート弁３１を閉じて、コイル側空間Ａとベ
ローズ側空間Ｂに分離できる。したがって、サンプル交
換の場合、コイル側の空間Ａは真空を保持したまま、ベ
ローズ２９内の空間Ｂをリーク弁を兼ねる真空弁２７に
よって大気と通ずることができる。
【００１２】コイル側クライオスタット３３は、磁場用
超電導コイル２６の他、ヘリウム容器２５とこれを囲む
シールド板２４と、さらに熱シールド板２４を囲む熱シ
ールド板２４と真空容器２２と電流リード３４で構成さ
れ、励磁用電源２１によりコイル２６に通電して磁場を
発生できる。
超電導コイル２６の他、ヘリウム容器２５とこれを囲む
シールド板２４と、さらに熱シールド板２４を囲む熱シ
ールド板２４と真空容器２２と電流リード３４で構成さ
れ、励磁用電源２１によりコイル２６に通電して磁場を
発生できる。
【００１３】コイル側空間Ａ（図５）とベローズ側空間
Ｂをゲート弁３１の開閉とベローズ２９の伸縮によって
連通することもでき、又分離することもできる構造とし
たことにより、図１の従来型にあるコイル内側の真空容
器２つ分と熱シールド板２つ分を不要とでき、超電導コ
イルを大巾に小型化できる。その結果、クライオスタッ
トも大巾に小型化し、材料費，消費Ｈe量の大巾な低減
が可能になる。
Ｂをゲート弁３１の開閉とベローズ２９の伸縮によって
連通することもでき、又分離することもできる構造とし
たことにより、図１の従来型にあるコイル内側の真空容
器２つ分と熱シールド板２つ分を不要とでき、超電導コ
イルを大巾に小型化できる。その結果、クライオスタッ
トも大巾に小型化し、材料費，消費Ｈe量の大巾な低減
が可能になる。
【００１４】本実施例２による物性測定の手順は以下の
とおりである。 １）ゲート弁３１を閉じ（図５）、超電導コイル側クラ
イオスタット３３を真空引きし、液体ヘリウム冷却によ
り励磁できる状態とする。 ２）ベローズ付真空フランジ３０を、サンプルを取付後
にゲート弁３１の部位に真空シールして取り付ける。こ
のときベローズ２９は伸びた状態とする。 ３）真空弁２７から排気し、所定の真空に達した後、ゲ
ート弁３１を開として、ベローズ２９を縮め、サンプル
が磁場中心位置になるように固定する。 ４）冷凍機２８を起動して、サンプルホルダー３２付近
に設けたヒーターとの調整で、サンプルを所定の温度と
した後、コイル２６を励磁し、所定磁場で所定の物性を
測定する。
とおりである。 １）ゲート弁３１を閉じ（図５）、超電導コイル側クラ
イオスタット３３を真空引きし、液体ヘリウム冷却によ
り励磁できる状態とする。 ２）ベローズ付真空フランジ３０を、サンプルを取付後
にゲート弁３１の部位に真空シールして取り付ける。こ
のときベローズ２９は伸びた状態とする。 ３）真空弁２７から排気し、所定の真空に達した後、ゲ
ート弁３１を開として、ベローズ２９を縮め、サンプル
が磁場中心位置になるように固定する。 ４）冷凍機２８を起動して、サンプルホルダー３２付近
に設けたヒーターとの調整で、サンプルを所定の温度と
した後、コイル２６を励磁し、所定磁場で所定の物性を
測定する。
【００１５】次にサンプル交換の手順を示す。 １）ベローズ２９を伸ばしてゲート弁３１を閉じる。 ２）冷凍機８を停め、サンプルを昇温させ室温まで戻
す。 ３）真空弁２７を開けてリークさせ、前記空間Ｂを大気
圧とする。 このとき空間Ａは真空に保持され、超電導コイル２６の
冷却状態に何ら影響はない。 ４）ゲート弁３１からベローズ付真空フランジ３０を切
り離し、サンプルを交換する。
す。 ３）真空弁２７を開けてリークさせ、前記空間Ｂを大気
圧とする。 このとき空間Ａは真空に保持され、超電導コイル２６の
冷却状態に何ら影響はない。 ４）ゲート弁３１からベローズ付真空フランジ３０を切
り離し、サンプルを交換する。
【００１６】
【効果】磁場源としての超電導コイル用クライオスタッ
トと試料冷却用温度可変型クライオスタットｂとを独立
させ、磁場発生部空間ｃをその一端の真空フランジ板１
１と試料冷却用温度可変型クライオスタット側の真空フ
ランジ管９とによって真空空間とすることを可能とし、
試料冷却用温度可変型クライオスタットのサンプル部を
囲む真空容器を不要とした。
トと試料冷却用温度可変型クライオスタットｂとを独立
させ、磁場発生部空間ｃをその一端の真空フランジ板１
１と試料冷却用温度可変型クライオスタット側の真空フ
ランジ管９とによって真空空間とすることを可能とし、
試料冷却用温度可変型クライオスタットのサンプル部を
囲む真空容器を不要とした。
【００１７】超電導コイルの内側に真空空間を、又クラ
イオスタットの真空容器２２と熱シールド板２４の側面
に開口部ｃ´をもち、ベローズ付真空フランジ３０とゲ
ート弁３１の開閉によって図５に示す空間ＡとＢを一体
可能かつ分離可能にし、超電導コイル２６は液体ヘリウ
ムで冷却でき、熱シールド板２３，２４、真空容器２
２、電流リード３４等で構成するクライオスタット内で
冷却、励磁可能で、サンプルは冷凍機２８とヒーターに
よって任意に温度設定可能で、物性測定時はゲート板３
１を開けて一体化した真空容器構造とすることを可能と
した。
イオスタットの真空容器２２と熱シールド板２４の側面
に開口部ｃ´をもち、ベローズ付真空フランジ３０とゲ
ート弁３１の開閉によって図５に示す空間ＡとＢを一体
可能かつ分離可能にし、超電導コイル２６は液体ヘリウ
ムで冷却でき、熱シールド板２３，２４、真空容器２
２、電流リード３４等で構成するクライオスタット内で
冷却、励磁可能で、サンプルは冷凍機２８とヒーターに
よって任意に温度設定可能で、物性測定時はゲート板３
１を開けて一体化した真空容器構造とすることを可能と
した。
【００１８】かくしてサンプル交換の容易さ、磁場源と
の独立性、温度可変設定の容易さをもつ従来型の磁場下
測定装置の利点を生かしつつ、コイルの小型化、さらに
クライオスタットの小型化が図れ、体積・重量の減少に
より材料費を大幅に低減し、かつコイル小型化に伴うＨ
e消費量も低減することが可能となった。
の独立性、温度可変設定の容易さをもつ従来型の磁場下
測定装置の利点を生かしつつ、コイルの小型化、さらに
クライオスタットの小型化が図れ、体積・重量の減少に
より材料費を大幅に低減し、かつコイル小型化に伴うＨ
e消費量も低減することが可能となった。
【図１】公知磁場下物性測定装置を示す。
【図２】同じく公知試料冷却用温度可変型クライオスタ
ットを示す。
ットを示す。
【図３】試料冷却用クライオスタットの真空容器を不要
とする本発明装置の第１実施例を示す。
とする本発明装置の第１実施例を示す。
【図４】同じく本発明の第２実施例を示す。
【図５】図４でベロ−ズを伸した状態を示す。
１ 励磁用電源 ２ 真空容器 ３，４ 熱シ−ルド板 ５ 液体ヘリウム容
器 ６ 超電導コイル ７ 真空弁，リ−ク
弁 ８ ＧＭ型冷凍機 ９ 真空フランジ管 10 サンプルホルダ− 11 真空フランジ板 12 熱シ−ルド板 13 電流リ−ド 21 励磁用電源 22 真空容器 23,24 熱シ−ルド板 25 液体ヘリウム容
器 26 超電導コイル 27 真空弁，リ−ク
弁 28 冷凍機 29 ベロ−ズ 30 真空フランジ 31 ゲ−ト弁 32 サンプルホルダ− 33 クライオスタッ
ト 34 電流リ−ド 35 冷凍機側真空フ
ランジ
器 ６ 超電導コイル ７ 真空弁，リ−ク
弁 ８ ＧＭ型冷凍機 ９ 真空フランジ管 10 サンプルホルダ− 11 真空フランジ板 12 熱シ−ルド板 13 電流リ−ド 21 励磁用電源 22 真空容器 23,24 熱シ−ルド板 25 液体ヘリウム容
器 26 超電導コイル 27 真空弁，リ−ク
弁 28 冷凍機 29 ベロ−ズ 30 真空フランジ 31 ゲ−ト弁 32 サンプルホルダ− 33 クライオスタッ
ト 34 電流リ−ド 35 冷凍機側真空フ
ランジ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01L 39/04 B60L 13/04
Claims (4)
- 【請求項１】 磁場源用超電導コイル（６）のクライオ
スタット真空容器（２）の磁場発生部に空間（ｃ）を設
け、該空間（ｃ）に試料冷却用温度可変型クライオスタ
ット（ｂ）を側方から挿入可能にし、前記磁場発生部空
間（ｃ）の一端は真空フランジ板（１１）によって真空
シールし、又磁場発生部空間（ｃ）の他端は試料冷却用
温度可変型クライオスタット（ｂ）の真空弁（７）付き
の真空フランジ管(９)によって磁場発生部空間（ｃ）内
を真空シール可能とし、物性測定時には試料冷却用温度
可変型クライオスタット（ｂ）のサンプルホルダ（１
０）の外側を覆うための真空容器を不要としたことを特
徴とする磁場下物性測定装置。 - 【請求項２】 磁場発生部空間（ｃ）はリーク弁を兼ね
る真空弁(７)によって真空及び大気圧とに任意に変換可
能とした請求項１の磁場下物性測定装置。 - 【請求項３】 磁場源用超電導コイル（２６）の内側に
空間（ｃ）を設け、又クライオスタットの真空容器（２
２）の側面と、液体ヘリウム容器（２５）を覆う熱シー
ルド板（２４）の外側をさらに覆う熱シールド板（２
３）の側面とにサンプルホルダ（３２）のついた冷凍機
（２８）を挿入するための開口部を設け、真空容器（２
２）に設けた開口部（ｃ´）に、ベローズ付真空フラン
ジ（３０）の一端をゲート弁（３１）を介して接続し、
ベローズ（２９）の他端には真空フランジ（３０）を介
して冷凍機（２８）を取付ける冷凍機側真空フランジ
（３５）を取付け、前記超電導コイル（２６）内の空間
とベローズ（２９）内の空間とを前記ゲート弁（３１）
の開閉によって連通・分離可能にし、サンプルホルダ
（３２）内のサンプルは冷凍機（２８）とヒーターによ
って任意に温度設定可能にし、物性測定時には超電導コ
イル（２６）内の空間とベローズ（２９）内の空間とを
連通させ、該連通空間を真空容器構造とすることができ
るようにした磁場下物性測定装置。 - 【請求項４】 サンプル交換時はゲート板（３１）を閉
め、超電導コイル（２６）内に設けた空間をベローズ
（２９）内の空間から分離した真空空間として、コイル
側の真空断熱を保持し、コイル冷却状態に影響しない構
成とした請求項３の磁場下物性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4112335A JP2991566B2 (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | 磁場下物性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4112335A JP2991566B2 (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | 磁場下物性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05291631A JPH05291631A (ja) | 1993-11-05 |
| JP2991566B2 true JP2991566B2 (ja) | 1999-12-20 |
Family
ID=14584110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4112335A Expired - Lifetime JP2991566B2 (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | 磁場下物性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2991566B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2443674B (en) * | 2006-10-04 | 2008-11-26 | Oxford Instr Superconductivity | Flow-cooled magnet system |
| JP6223846B2 (ja) * | 2014-02-05 | 2017-11-01 | 住友重機械工業株式会社 | 冷却装置 |
| CN111983533B (zh) * | 2020-08-02 | 2023-03-14 | 南京大学 | 一种应用于多种低温平台的超导测试装置 |
-
1992
- 1992-04-06 JP JP4112335A patent/JP2991566B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05291631A (ja) | 1993-11-05 |
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